JP2002015479A

JP2002015479A - 光磁気ディスクに対する記録パワーの設定方法、及び情報記録方法

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Publication number: JP2002015479A
Application number: JP2000193440A
Authority: JP
Inventors: Mitsugi Imai; 貢今井
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2000-06-27
Filing date: 2000-06-27
Publication date: 2002-01-18

Abstract

(57)【要約】【課題】光磁気ディスクに照射するレーザ光の記録パ
ワーを高精度に設定する。【解決手段】ＰＲ法とＲＬＬ法とを組み合わせた記録
符号化方式を用いて、光磁気ディスク１００に対して光
変調方式により情報信号を記録するときに、光磁気ディ
スク１００におけるレーザ光パワー校正領域に対して試
し書きを行う。この試し書きを行う際に用いる記録パタ
ーンとして、ＰＲ法における状態遷移が略々均等となる
とともに、ＲＬＬ法で用いられる記録マーク長のうちで
比較的長い記録マークを含む記録パターンを用いる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、ＰＲ法とＲＬＬ法
とを組み合わせた記録符号化方式を用いて、光磁気ディ
スクに対して光変調方式により情報信号を記録するとき
に、当該光磁気ディスクに照射するレーザ光の記録パワ
ーの設定する設定方法に関する。また、このようにして
情報信号を記録する情報記録方法に関する。

【０００２】

【従来の技術】情報信号の書き換えが可能な記録媒体の
ひとつとして、光磁気ディスクが知られている。光磁気
ディスクは、ディスク基板上に信号記録層を備えてお
り、この信号記録層に対して、記録トラックに沿って情
報信号の記録及び／又は再生（以下、記録再生とい
う。）が行われる。光磁気ディスクに対する記録方式と
しては、光変調方式と磁界変調方式とが知られている。

【０００３】これらの記録方式のうち、光変調方式で
は、所定の方向に磁化が揃えられて初期化された信号記
録層に対して、一定のバイアスによる外部磁界を印加し
た上で、記録する情報信号に応じて変調されたパルス状
のレーザ光を記録トラックに沿って照射する。これによ
り、レーザ光が照射されて昇温された部分の信号記録層
に、外部磁界に対応した磁化方向とされた記録マークが
形成され、記録が行われる。

【０００４】また、光磁気ディスクを再生する際には、
光磁気ディスクの記録トラックに沿って、記録時よりも
小さい出力でレーザ光を照射し、信号記録層に反射して
戻ってくる戻り光を検出する。このとき、いわゆる磁気
カー効果により信号記録層でレーザ光の偏光面が回転す
ることから、戻り光の光量差を検出することによって信
号記録層に形成された記録マークを検出し、再生が行わ
れる。

【０００５】ところで、近年では、記録媒体の小型化・
大容量化に対する要求が一層高まってきており、光磁気
ディスクにおいても高記録密度化を達成することが重要
となってきている。しかしながら、従来の光磁気ディス
クは、レーザ光の出力を制御することにより記録マーク
の微小化を実現することが容易である一方で、この微小
な記録マークを高いＳ／Ｎで検出することが困難であ
る。

【０００６】そこで、従来の光磁気記録方式における再
生限界を打破するために、磁気超解像（ＭＳＲ：Magnet
ically induced Super Resolution）方式による記録再
生技術が提案されている。磁気超解像方式では、温度に
より磁気特性が異なる複数の磁性層を備えた信号記録層
を有する光磁気ディスクを用いることにより、照射する
レーザ光のスポット径よりも幅狭の記録マークに対する
再生を可能とされている。磁気超解像方式においては、
光磁気ディスクにおける信号記録層の積層構造や、記録
マークの再生方法などについて、様々な実現方法が提案
されている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】ところで、一般に、光
磁気ディスクに対して記録を行うときには、この光磁気
ディスクに設けられたレーザ光パワー校正領域に対して
試し書きを行うことによって、記録時におけるレーザ光
のパワー、すなわち記録パワーを決定している。この試
し書きを行うときに用いる記録パターンは、実際に記録
再生を行ったときに形成される記録マークのパターンと
似せるために、様々な記録マーク長がランダムに含まれ
るパターン、いわゆるインクリメントパターン（Increm
ent Pattern）が用いられている。

【０００８】一般に、光磁気ディスクに対する記録再生
には、ＰＲ（Partial Responce）法とＲＬＬ（Run Leng
th Limited）法とを組み合わせた記録符号化方式が用い
られている。しかしながら、上述したように、インクリ
メントパターンを用いて試し書きを行うと、ＰＲ法にお
ける状態遷移に偏りが生じてしまい、ジッター値とエラ
ーレートとの相関にずれが生じてしまうといった問題が
あった。

【０００９】また、光磁気ディスクに対して記録再生を
行うに際して、例えば、ＰＲ（１，２，１）と１−７Ｒ
ＬＬとを組み合わせた記録符号化方式を用いる場合に
は、従来、試し書きを行う際に用いる記録パターンとし
て、３Ｔ（ただし、Ｔはビット間隔である。）の繰り返
しとなるように記録マークを形成していた。しかしなが
ら、１−７ＲＬＬを用いる場合には、実際の情報信号の
記録再生時に現れる記録マークは、２Ｔ〜８Ｔの長さで
形成される。したがって、３Ｔの繰り返しパターンで試
し書きを行うと、この試し書きパターンに実際の記録再
生時に形成される記録マークのうちの比較的長い記録マ
ークが含まれていないため、ジッターへの影響が鈍いも
のとなってしまう。

【００１０】したがって、従来のような試し書き方法で
は、レーザ光の記録パワーを高精度に設定することが困
難であり、記録再生時の信頼性が劣化してしまうといっ
た問題があった。また、従来のような試し書き方法で信
頼性を向上させるためには、試し書きを幾度も繰り返す
ことが必要となり、記録パワー設定時の処理に多くの時
間がかかってしまうといった問題があった。

【００１１】また、特に、光磁気ディスクに対して磁気
超解像方式により記録再生を行う場合には、上述したよ
うに、信号記録層における磁気特性が温度に大きく依存
するため、記録時に照射すべきレーザ光のパワーが、再
生時に照射するレーザ光のパワーに大きく依存する。こ
のため、記録パワーを高精度に調整することが重要とな
る。したがって、レーザ光の記録パワーを高精度に設定
することが困難であると、この磁気超解像方式による光
磁気ディスクに対して安定して確実に記録再生を行うこ
とができず、記録再生時における信頼性の劣化が顕著と
なってしまうといった問題があった。

【００１２】そこで、本発明は、光磁気ディスクに対し
て情報信号を記録する際に、この光磁気ディスクに照射
するレーザ光の記録パワーを高精度に設定することが可
能な、光磁気ディスクに対する記録パワーの設定方法を
提供することを目的とする。また、このような設定方法
を用いて光磁気ディスクに対して情報信号を記録する情
報記録方法を提供することを目的とする。

【００１３】

【課題を解決するための手段】本発明に係る光磁気ディ
スクに対する記録パワーの設定方法は、ＰＲ法とＲＬＬ
法とを組み合わせた記録符号化方式を用いて、光磁気デ
ィスクに対して光変調方式により情報信号を記録すると
きに、当該光磁気ディスクに照射するレーザ光の記録パ
ワーを設定する際に適用され、試し書きステップと、記
録パワー設定ステップとを有する。試し書きステップに
おいては、上記光磁気ディスクにおけるレーザ光パワー
校正領域に対して、上記ＰＲ法における状態遷移が略々
均等となるとともに、上記ＲＬＬ法で用いられる記録マ
ーク長のうちで比較的長い記録マークを含む記録パター
ンを用いて試し書きを行う。記録パワー設定ステップに
おいては、上記試し書きステップにおける試し書きの結
果に基づいて、レーザ光の記録パワーを設定する。

【００１４】また、本発明に係る情報記録方法は、ＰＲ
法とＲＬＬ法とを組み合わせた記録符号化方式を用い
て、光磁気ディスクに対して光変調方式により情報信号
を記録する際に適用され、試し書きステップと、記録パ
ワー設定ステップと、記録ステップとを有する。試し書
きステップにおいては、上記光磁気ディスクにおけるレ
ーザ光パワー校正領域に対して、上記ＰＲ法における状
態遷移が略々均等となるとともに、上記ＲＬＬ法で用い
られる記録マーク長のうちで比較的長い記録マークを含
む記録パターンを用いて試し書きを行う。記録パワー設
定ステップにおいては、上記試し書きステップにおける
試し書きの結果に基づいて、レーザ光の記録パワーを設
定する。記録ステップにおいては、上記光磁気ディスク
に対して、設定された記録パワーでレーザ光を照射する
ことにより情報信号を記録する。

【００１５】以上のような本発明に係る光磁気ディスク
に対する記録パワーの設定方法、及び情報記録方法によ
れば、ＰＲ法における状態遷移に偏りが生じない記録パ
ターンを用いて試し書きを行うことから、ジッター値と
エラーレートとの相関にずれが生じてしまうことを抑制
することができる。また、ＲＬＬ法で用いられる記録マ
ーク長のうちで比較的長い記録マークを含む記録パター
ンを用いて試し書きを行うことから、ジッターへの影響
が鋭利となり、高精度に記録パワーを設定することがで
きる。このようにして設定した記録パワーでレーザ光を
照射して情報信号を記録することにより、安定して確実
に記録再生を行うことが可能となり、記録再生時におけ
る信頼性を向上させることが可能となる。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る光磁気ディス
クに対する記録パワーの設定方法、及び情報記録方法に
ついて、図面を参照しながら説明する。なお、本発明
は、ＰＲ（Partial Responce）法とＲＬＬ（Run Length
Limited）法とを組み合わせた記録符号化方式を用い
て、光磁気ディスクに対して光変調方式により情報信号
を記録する際に広く適用することができる。

【００１７】まず、ＰＲ法とは、符号間干渉を許容し
て、隣接ビットからの干渉を整数比の関係にすることに
より、識別点での干渉をゼロとしなくてもデータを判別
できるようにした記録符号化方式である。例えば、従来
から光磁気ディスクの記録再生に用いられているＰＲ
（１，２，１）においては、孤立波を等化後のサンプル
値が、「・・・０，０，１，２，１，０，０，・・・」
となる。

【００１８】また、ＲＬＬ法とは、符号変調方式のひと
つであり、情報ビット［１］同士の間に挟まれたラン
（Run：情報ビット［０］の数）を制限する方式であ
る。例えば、従来から光磁気ディスクの記録再生に用い
られている１−７ＲＬＬにおいては、ランの数が１〜７
となるように制限を施す。すなわち、ビット間隔をＴと
すると、光磁気ディスクに形成される記録マーク長は、
２Ｔ〜８Ｔとなる。この場合、２ビットの情報が３ビッ
トに変調されていることから、２−３変調とも称されて
いる。

【００１９】なお、本発明は、ＰＲ法やＲＬＬ法の詳細
に限定されることなく、広く適用することができるが、
以下の説明においては、記録符号化方式として、ＰＲ
（１，２，１）と１−７ＲＬＬを採用した場合について
説明する。

【００２０】また、以下の説明では、図１に示すような
記録再生装置１を用いて光磁気ディスク１００に対する
記録再生を行う場合に本発明を適用した場合について説
明する。

【００２１】記録再生装置１は、図１に示すように、光
磁気ディスク１００を所定の速度で回転駆動するスピン
ドルモータ２と、光磁気ディスク１００に対してレーザ
光を照射する光学ピックアップ３と、光磁気ディスク１
００に対して所定の磁界を印加するバイアスマグネット
４と、光磁気ディスク１００から読み出された信号の２
値化を行う２値化部５と、記録再生を行う信号に対して
各種処理を行う信号処理部６と、外部に接続されたホス
ト装置１１０との信号の入出力や各種信号のエンコード
／デコードを行うＯＤＣ（Optical Disc Controller）
部７と、記録再生装置１全体の動作を制御する制御部８
と、光学ピックアップ３により出力されるレーザ光の照
射パワーを制御するパワー制御部９とを備える。

【００２２】光学ピックアップ３は、例えばレーザダイ
オードなどの光源（図１においては図示せず。）と、こ
の光源から出射したレーザ光が光磁気ディスク１００に
反射して戻ってきた戻り光を検出する光検出部（図１に
おいては図示せず。）とを備えている。光検出部は、例
えばフォトダイオードなどにより構成されており、光電
変換及び電流電圧変換によって戻り光に応じた電圧信号
を２値化部５とパワー制御部９とに出力する。また、光
学ピックアップ３は、光検出部で検出した戻り光に基づ
いて、フォーカスサーボ信号やトラッキングサーボ信号
を生成し、これらを信号処理部６に出力する。これらフ
ォーカスサーボ信号及びトラッキングサーボ信号は、そ
れぞれ、光磁気ディスク１００に照射したレーザ光の光
スポットの記録トラックに対するデフォーカス量やデト
ラッキング量を示す信号である。

【００２３】また、光学ピックアップ３は、図示しない
駆動機構により、光磁気ディスク１００の径方向に移動
自在とされており、光磁気ディスク１００の任意の位置
にレーザ光を照射することが可能とされている。

【００２４】バイアスマグネット４は、光磁気ディスク
１００を介して光学ピックアップ３と対向する位置に配
設されており、光磁気ディスク１００に所定の強度のバ
イアス磁界を印加する。

【００２５】２値化部５は、光磁気ディスク１００に対
して記録再生する情報信号に対し、ＰＲ法を用いて
「０」と「１」との２値に符号化する処理を行う。２値
化部５には、光磁気ディスク１００の再生時に、この光
磁気ディスク１００からの戻り光に応じて光学ピックア
ップ３から出力される電圧信号に対して２値化処理を施
し、信号処理部６及びＯＤＣ部７に出力する。また、記
録時には、信号処理部６から入力された信号に対して２
値化処理を施し、処理後の信号を信号処理部６に出力す
る。

【００２６】信号処理部６は、光学ピックアップ３から
出力されるフォーカスサーボ信号及びトラッキングサー
ボ信号に基づき、光学ピックアップ３に対して、レーザ
光のフォーカス制御及びトラッキング制御を行う。ま
た、信号処理部６は、スピンドルモータ２に対するサー
ボ制御や、光学ピックアップ３を駆動する駆動機構の制
御を行うことにより、光磁気ディスク１００の回転数の
制御、及び光学ピックアップ３の位置決めの制御を行
う。さらに、信号処理部６は、バイアスマグネット４に
より光磁気ディスク１００に印加する磁界の大きさの制
御、及び、パワー制御部９の動作を行う。

【００２７】ＯＤＣ部７は、外部に接続されたホスト装
置１１０に対する各種信号の入出力を行う。また、ＯＤ
Ｃ部７は、光磁気ディスク１００に対して記録再生を行
う情報信号のエンコード／デコード処理を行う。さら
に、ＯＤＣ部７は、ホスト装置１１０から入力される光
磁気ディスク１００に対する記録再生の要求に応じて、
２値化部５における動作モードの切り替えや、パワー制
御部９でパルス波形を生成する際に用いる発光タイミン
グとしての記録用クロックの生成を行う。

【００２８】制御部８は、記録再生装置１の各部に接続
されており、各部の動作を制御することにより、記録再
生装置１全体としての動作を集中して制御する機能を有
する。制御部８は、例えばＣＰＵ（Central Processing
Unit）やＲＡＭ（Random Access Memory）、ＲＯＭ（R
ead Only Memory）といった各種の半導体チップなどに
より構成されており、例えばＲＯＭに記録された動作プ
ログラムに従って、記録再生装置１全体の動作を制御す
る。

【００２９】パワー制御部９は、光学ピックアップ３に
より出力されるレーザ光の照射パワーを制御する機能を
有しており、記録再生を行う光磁気ディスク１００の種
類や特性に応じて照射パワーが最適となるように制御し
たり、光磁気ディスク１００に対する記録動作及び再生
動作、或いは初期化動作などの動作状況に応じて照射パ
ワーが最適となるように制御する機能を有している。

【００３０】ところで、本発明を適用した記録再生装置
１では、ＰＲ法による入力信号の等化と、ビタビ復号化
とを組み合わせた信号処理技術であるＰＲＭＬ（Partia
l Responce Maximum Likelihood）を再生系に利用した
場合に、特に有効である。ＰＲＭＬを利用すると、光磁
気ディスク１に記録マークとして記録されたデータをデ
コードする際に、その記録データのＣＨＱとアシンメト
リとを得ることができるからである。

【００３１】ＣＨＱは、ジッターに相当し、再生系に入
力された波形データが、どれだけＰＲ波形からずれてい
るかを示している。したがって、ＣＨＱを観察すること
により、ビタビ復号化において誤ったデコードが発生す
る頻度を推量することができる。また、アシンメトリ
は、記録マークのＤＣオフセット比を示しており、記録
時におけるレーザ光の照射パワー、すなわち記録パワー
に依存する。

【００３２】一般に、光磁気ディスクにおける記録符号
化方式では、ＰＲ（１，２，１）と１−７ＲＬＬが広く
利用されている。そこで、以下では、この場合を例に挙
げて、ＣＨＱ（ジッター）とアシンメトリの詳しい説明
を行う。

【００３３】まず、記録再生装置１において、光磁気デ
ィスク１００に対して記録再生を行う情報信号の流れに
ついて、図２を参照しながら説明する。なお、図２は、
情報信号に対して施す各種処理を機能的に示すブロック
図であり、各機能ブロックで示す処理は、例えば、図１
に示した２値化部５、信号処理部６、或いはＯＤＣ部７
などにおいて情報信号に対して施される。

【００３４】図２に示すように、光磁気ディスク１００
に対して情報信号を記録する際には、記録再生装置１に
入力されたＮＲＺ（Non-Return-to-Zero）方式のデータ
が、１−７ＲＬＬ変調器２０に入力される。１−７ＲＬ
Ｌ変調器２０は、入力されたデータに対して１−７ＲＬ
Ｌ方式により符号変調を施し、プリコーダ２１に出力す
る。プリコーダ２１は、入力されたデータを、光磁気記
録に適したＮＲＺＩ（Non-Return-to-Zero Inverted）
方式のデータに変換し、このデータを光学ピックアップ
３に出力する。光学ピックアップ３は、パワー制御部９
により制御された記録パワーに基づいて、プリコーダ２
１から入力されたデータに応じて、レーザ光をパルス照
射し、光磁気ディスク１００に記録マークを形成する。

【００３５】また、光磁気ディスク１００に記録された
情報信号を再生する際には、光学ピックアップ３が、検
出した記録マークに応じた出力の再生信号を低域通過フ
ィルタ２２に入力する。低域通過フィルタ２２は、入力
された再生信号に含まれる高周波成分を除去し、ＰＬＬ
回路２３とＡ／Ｄ変換器２４とに出力する。ＰＬＬ回路
２３は、入力された再生信号からクロック成分を抽出
し、Ａ／Ｄ変換器、適応型波形等化器２５、ビタビ復号
化器２６、１−７ＲＬＬ復調器２７に対してクロック信
号を分配する。

【００３６】一方、Ａ／Ｄ変換器２４は、入力された再
生信号に対してＡ／Ｄ変換を施し、適応型等化器２５に
出力する。適応型等化器２５は、再生信号に対して、Ｐ
Ｒ（１，２，１）により適応等化を施し、ビタビ復号化
器２６に出力する。ビタビ復号化器２６は、入力された
再生信号に対してビタビ復号化を施し、１−７ＲＬＬ復
調器２７に出力する。１−７ＲＬＬ復調器２７は、入力
された再生信号に対して１−７ＲＬＬ方式により復調を
施す。これにより、ＮＲＺ方式の出力データが得られ
る。

【００３７】ところで、ＰＲ（１，２，１）は、記録時
におけるデータ波形が非対称性を有していることから、
一般的にＰＲ（ａ，ｂ，ｃ）と表すことができる。ここ
で、ビタビ復号化を行う前のデータをａ_k＝｛０，
１｝、光磁気ディスク１００に記録マークをマークエッ
ジ方式で形成する場合の記録データをｂ_k＝｛０，１｝
とすると、これらａ_kとｂ_kとは、以下の式１に示すよう
な関係となる。

【００３８】

【数１】

【００３９】また、このとき、記録マークを再生した時
に得られるデータ、すなわちリードデータｙ_kは、以下
の式２に示すような関係を満足する。

【００４０】

【数２】

【００４１】したがって、ビタビ複合化により、このと
きの状態遷移は、６値４状態となる。しかしながら、符
号変調方式として１−７ＲＬＬを用いることから、状態
遷移は、図３に示すように、４値４状態となる。なお、
図３中において、Ｃ_ijkはｙ_kが取り得る値を示し、各々
の状態から次の状態に遷移するときの振幅基準値を示し
ている。また、ｉ，ｊ，ｋは、それぞれ、ｂ_k-2，
ｂ_k-1，ｂ_kを表している。

【００４２】ここで、記録再生装置１に備えられる典型
的なビタビ復号化器２６の一例を、図４に示す。ビタビ
復号化器２６は、図４に示すように、ＢＭＣ部３０と、
ＡＣＳ部３１と、ＳＭＵ部３２と、マージ部３３とを備
える。そして、各部には、ＰＬＬ回路２３からクロック
信号が入力されている。

【００４３】ＢＭＣ部３０には、適応型等化器２５によ
ってＰＲ（１，２，１）で等化されたデジタル信号（入
力信号ｚ_[k]）が入力される。ＢＭＣ部３０は、この入
力信号ｚ_[k]と振幅基準値Ｃ_ijkとのユークリッド距離の
相対値（ブランチメトリック）を計算し、ＡＣＳ部３１
に出力する。このとき、ＢＭＣ部３０から出力されるブ
ランチメトリックの値ｂｍ_ijkは、図３に示すＣ_ijkの値
に応じて、以下の６値を取り得る。

【００４４】ｂｍ₀₀₀＝（ｚ_[k]−Ｃ₀₀₀）２ｂｍ₀₀₁＝（ｚ_[k]−Ｃ₀₀₁）２ｂｍ₀₁₁＝（ｚ_[k]−Ｃ₀₁₁）２ｂｍ₁₁₀＝（ｚ_[k]−Ｃ₁₁₀）２ｂｍ₁₀₀＝（ｚ_[k]−Ｃ₁₀₀）２ｂｍ₁₁₁＝（ｚ_[k]−Ｃ₁₁₁）２ＡＣＳ部３１は、ＢＭＣ部３０から入力されるブランチ
メトリックと、これ以前に入力されたブランチメトリッ
クとの総和であるパスメトリックｍ_jk[k]を算出する。
また、このパスメトリックｍ_jk[k]から最尤パスを選択
して、新たなパスメトリックを算出する。なお、ｍ
_jk[k]は、時刻ｔ＝ｋにおける、状態Ｓ_ijのパスメトリ
ックであり、どの状態からどの状態に遷移したかを示し
ている。そして、ＡＣＳ部３１は、このパスメトリック
ｍ_jk[k]から選択した最尤パスを示すセレクト信号をＳ
ＭＵ部３２に出力する。このとき、ＡＣＳ部３１により
算出されるパスメトリックｍ_jk[k]は、以下の４値を取
り得る。なお、ｍｉｎ｛ｘ，ｙ｝は、値ｘ，ｙのうち小
さい方を選択することを示す。

【００４５】ｍ_10[k]＝ｍ_11[k]＋ｂｍ₁₁₀ ｍ_11[k]＝ｍｉｎ｛ｍ_11[k-1]＋ｂｍ₁₁₁，ｍ_01[k-1]＋ｂ
ｍ₀₁₁｝ｍ_01[k]＝ｍ_00[k-1]＋ｂｍ₀₀₁ ｍ_00[k]＝ｍｉｎ｛ｍ_00[k-1]＋ｂｍ₀₀₀，ｍ_10[k-1]＋ｂ
ｍ₁₀₀｝ＳＭＵ部３２は、図５に示すように、図３に示したビタ
ビ復号化における状態の数と同数のサブブロックを備え
る。すなわち、ここでは、４状態のビタビ復号化なの
で、４つのサブブロックＳＭ００，ＳＭ０１，ＳＭ１
１，ＳＭ１０を備える。そして、ＳＭＵ部３２では、Ａ
ＣＳ部３１から入力されたセレクト信号に応じて状態遷
移が行われる。これらサブブロックＳＭ００，ＳＭ０
１，ＳＭ１１，ＳＭ１０におけるパスの動きは、図３に
示す状態遷移に対応している。

【００４６】ここで、ＳＭＵ部３２における各サブブロ
ックの内部は、図６及び図７に一例として示すように、
ｎ段のレジスタ構造とされている。なお、図６は、サブ
ブロックＳＭ００の構成を示し、図７は、サブブロック
ＳＭ１０の構成を示す。各レジスタは、状態数に対応す
るビット幅を有しており、この場合には２ビットであ
る。そして、ｋ段目のレジスタは、ｋ時間前の入力に対
する最尤の状態を示している。このとき、各サブブロッ
クにおけるレジスタの段数ｎが十分に大きい場合には、
４つのサブブロックにおけるｎ段目のレジスタ値が一致
する。

【００４７】各サブブロックにおいて、ｋ段目のレジス
タは、その前段のサブブロックにおけるｋ−１段目のレ
ジスタからシフト入力される。例えば、サブブロックＳ
Ｍ０１，ＳＭ１０におけるｋ段目の入力は、それぞれ、
サブブロックＳＭ００，ＳＭ１１におけるｋ−１段目の
レジスタからシフト入力される。また、サブブロックＳ
Ｍ１１，ＳＭ００への入力は、ＡＣＳ部３１からのセレ
クト信号により決定する。

【００４８】ここで、レジスタの段数ｎ、すなわちパス
の長さが十分に大きい場合には、ｎ段目における４つの
サブブロックのレジスタ値が全て一致するので、どの最
終段のデータであっても復号することができる。図５に
示す例では、サブブロックＳＭ１０からの出力値ｓｍ
_[k+n]とｓｍ_[k+n+1]とをマージ部３３に出力している。

【００４９】マージ部３３では、ＳＭＵ部３２から出力
される値ｓｍ_[k+n]とｓｍ_[k+n+1]とを用いて復号を行
う。この復号は、値ｓｍ_[k+n]から値ｓｍ_[k+n+1]への状
態遷移に対応して行われる。

【００５０】ビタビ復号化器２６においては、以上で説
明したように、適応型等化器２５から入力信号の振幅基
準値Ｃ_ijkに応じて、この適応型等化器２５におけるＰ
Ｒ（パーシャルレスポンス）の状態を予想しながらビタ
ビ復号化が行われる。

【００５１】このように、記録再生装置１においては、
振幅基準値Ｃ_ijkが適応型等化器２５におけるＰＲの状
態を予想するための重要なパラメータとされている。し
かしながら、この振幅基準値Ｃ_ijkは、例えば、光磁気
ディスク１００における記録マークの形状や、レーザ光
スポットのデフォーカス量などのような様々な要因によ
って変動してしまうという性質を有している。

【００５２】そこで、ビタビ復号化器２６では、振幅基
準値Ｃ_ijkに対して適応化制御を行い、変動を吸収する
処理が施している。このような適応化制御の方法として
は、振幅基準値Ｃ_ijkを、入力信号ｚ_[k]の振幅と、この
ビタビ復号化器２６における復号結果の組み合わせとに
応じて逐次比較すること方法を挙げることができる。具
体的には、以下で説明するようにして適応化制御を行
う。

【００５３】いま、入力信号ｚ_[k]に対して、ビタビ復
号化を行った結果の最尤パスの遷移が、ｓｍ_[k+n]＝０
１，ｓｍ_[k+n+1]＝１１であったとすると、このときに
対応する振幅基準値Ｃ_ijkは、図３からも明らかである
とおり、Ｃ₀₁₁である。そこで、以下の式３に示すよう
にして、入力信号ｚ_[k]に応じて振幅基準値Ｃ_ijkに補正
を施して更新する。ただし、式３中のａは、補正係数で
ある。

【００５４】

【数３】

【００５５】このようにして入力信号ｚ_[k]の更新を続
けると、最終的に、振幅基準値Ｃ_ijkは、入力信号ｚ_[k]
の波形と同等になる。

【００５６】ここで、更新された振幅基準値Ｃ_ijkの結
果から、アシンメトリＡｓｍは、以下の式４に示すよう
にして定義することができる。なお、式４中のＡｍｐ
は、正規化するための振幅を示し、以下の式５に示すよ
うに表される。そして、アシンメトリＡｓｍの値が良好
であれば、光磁気ディスク１００に形成された記録マー
クのマークエッジ形状が良好であることを示している。

【００５７】

【数４】

【００５８】

【数５】

【００５９】また、ＣＨＱ、すなわちジッターは、入力
信号ｚ_[k+n]と、ビタビ復号化された時に適応化された
振幅基準値Ｃ_ijk[k+n]との差の絶対値を総和したもので
ある。したがって、ジッターＪｔｔは、以下の式６に示
すように表される。そして、ジッターＪｔｔが小さけれ
ば、入力信号ｚ_[k]の波形状態や、ビタビ復号化の動作
が良好であることを示している。

【００６０】

【数６】

【００６１】したがって、記録再生装置１においては、
ジッターとアシンメトリとが良好な状態を示していれ
ば、安定して確実な記録再生が行われていることを意味
する。そこで、本発明者は、これらジッターとアシンメ
トリとを良好な状態とするべく鋭意検討を重ねた末に、
光磁気ディスク１００におけるレーザ光パワー構成領域
に対してレーザ光を照射して試し書きを行い、記録時の
レーザ光の出力、すなわち記録パワーを設定するに際し
て、特定の記録パターンを選択して試し書きを行うこと
により、これらジッターとアシンメトリとを良好な状態
とすることができるという知見を得るに至った。

【００６２】具体的には、試し書きを行う際に、ＰＲ法
における状態遷移が略々均等となるとともに、ＲＬＬ法
で用いられる記録マーク長のうちで比較的長い記録マー
クを含むような記録パターンを用いる。これにより、ビ
タビ復号化器２６に入力される入力信号ｚ_[k]の変化が
好適となり、試し書きをしたときの記録マーク形状の善
し悪しを確実に判断することができ、試し書き時の信頼
性が向上する。したがって、高精度に記録パワーを設定
することができる。

【００６３】また、このようにして設定した記録パワー
でレーザ光を照射して情報信号を記録することにより、
安定して確実に記録再生を行うことが可能となり、記録
再生時における信頼性を向上させることが可能となる。
したがって、例えば、記録マークを微細化して高記録密
度化を図ることが容易となる。また、特に、磁気超解像
方式により記録再生を行う場合のように、記録パワーを
高精度に設定することが重要となる記録再生方式を用い
る場合であっても、安定して確実に記録再生を行うこと
が可能となる。

【００６４】以下では、本発明の利点について、さらに
詳細に説明する。

【００６５】従来から、光磁気ディスクに対する記録パ
ワーを設定するために試し書きを行うに際しては、実際
に記録再生を行ったときに形成される記録マークのパタ
ーンと似せるために、様々な記録マーク長がランダムに
含まれるパターン、いわゆるインクリメントパターン
（Increment Pattern）が用いられている。しかしなが
ら、インクリメントパターンにより試し書きを行うと、
アシンメトリの変化をある程度得ることができ、記録マ
ークのマークエッジ形状の判断を行うことができるが、
ＰＲ法における状態遷移に偏りが生じてしまい、ジッタ
ー値を正確に判断することができない。このため、ジッ
ター値とエラーレートとの相関にずれが生じてしまい、
記録パワーを高精度に設定することが困難である。

【００６６】また、従来から、例えばＰＲ（１，２，
１）と１−７ＲＬＬとを組み合わせた記録符号化方式を
用いるに際して、試し書きを行うときに３Ｔの繰り返し
で記録マークを形成するような記録パターンが用いられ
ている。しかしながら、このような記録パターンでは、
アシンメトリの変化を期待することができず、記録マー
クのマークエッジ形状の判断を正確に行うことが困難で
ある。言い換えると、記録パワーを高精度に設定するこ
とが困難である。

【００６７】ところが、本発明では、ＰＲ法における状
態遷移が略々均等となる記録パターンを選択して用いて
試し書きを行うことにより、ジッターの値を正確に判断
することが可能である。また、このとき、ＲＬＬ法で用
いられる記録マーク長のうちで比較的長い記録マークを
含む記録パターンを選択して用いて試し書きを行うこと
により、アシンメトリの変化を大とすることができ、記
録マークのマークエッジ形状の判断を正確に行うことが
可能である。したがって、記録パワーを高精度に設定す
ることができる。

【００６８】なお、「ＲＬＬ法で用いられる記録マーク
長のうちで比較的長い記録マーク」としては、形成した
記録マークを再生したときに得られる信号のアシンメト
リを観察するに十分な長さの記録マークとすればよい。
具体的には、例えば１−７ＲＬＬを用いるとした場合
に、ビット間隔をＴとして、記録マークの長さは２Ｔ〜
８Ｔの範囲となるが、必ずしも７Ｔや８Ｔの長さの記録
マークを含むような記録パターンを用いて試し書きを行
う必要はなく、アシンメトリの変化を観察するに十分で
あれば４Ｔや５Ｔの長さであってもよい。

【００６９】なお、このようにアシンメトリの変化を十
分に観察することができる記録マークの長さは、光磁気
ディスク１００の線密度に応じて決定される。すなわ
ち、光磁気ディスク１００の線密度が粗であれば、例え
ば６Ｔや７Ｔなどのように、より長い記録マークを用い
なければ、アシンメトリの変化を十分に観察することが
できないこととなる。したがって、本発明を適用するシ
ステムにおいて、採用するＰＲ法や光磁気ディスクの線
密度に応じて、アシンメトリの変化を十分に観察するこ
とができる長さの記録マークを選択して用いるとすれば
よい。なお、「アシンメトリの変化を観察するに十分」
とは、記録パワーの設定精度よりもアシンメトリの変化
量が大きいことをいう。

【００７０】また、本発明において、「ＰＲ法における
状態遷移が略々均等となる記録パターン」としては、例
えば図３に示したような状態遷移図において、各状態間
の遷移パターンが出現する確率が、略々同程度となるよ
うな記録パターンを選べばよい。具体的には、例えば８
Ｔなどの長い記録マークを用いると、状態Ｓ₀₀から再び
状態Ｓ₀₀に戻るという遷移パターンや状態Ｓ₁₁から再び
状態Ｓ₁₁に戻るという遷移パターンが連続して出現して
しまう。したがって、この場合には、他の遷移パター
ン、すなわち、状態Ｓ₁₀から状態Ｓ₀₀への遷移パター
ン、状態Ｓ₀₀から状態Ｓ₀₁への遷移パターン、状態Ｓ₀₁
から状態Ｓ₁₁への遷移パターン、状態Ｓ₁₁から状態Ｓ₁₀
への遷移パターンなども同程度の確率で出現するよう
に、２Ｔや３Ｔなどの短い記録マークを含むような記録
パターンを選択すればよい。

【００７１】また、本発明に係る記録パターンとして
は、例えば、ＰＲ（１，２，１）と１−７ＲＬＬとを組
み合わせた記録符号化方式を用いるとした場合に、２Ｔ
−２Ｔ−４Ｔ、又は２Ｔ−２Ｔ−５Ｔなる記録パターン
を挙げることができる。このような記録パターンを用い
ることにより、ＰＲ（１，２，１）で等化を行ったとき
に状態遷移が略々均等となる。また、１−７ＲＬＬで用
いられる記録マーク、すなわち２Ｔ〜８Ｔの長さの記録
マークのうち、４Ｔや５Ｔの長さの記録マークを含み、
アシンメトリの変化を十分に観察することができる。

【００７２】なお、本発明は、ＰＲ（１，２，１）と１
−７ＲＬＬとを用いることに限定されるものではなく、
ＰＲ法とＲＬＬ法とを組み合わせた記録符号化方式を用
いる場合に広く適用することができる。このときには、
用いるＰＲ法やＲＬＬ法に応じて、このＰＲ法における
状態遷移が略々均等となるとともに、ＲＬＬ法で用いら
れる記録マーク長のうちで比較的長い記録マークを含む
記録パターンを用いて試し書きを行うとすればよい。

【００７３】ここで、記録再生装置１を用いて、実際に
本発明に係る方法により試し書きを行い、アシンメトリ
とを観察した結果について説明する。なお、以下では、
光磁気ディスク１００に対して、ＰＲ（１，２，１）と
１−７ＲＬＬとを組み合わせた記録符号化方式を用いて
記録再生するとし、試し書きを行うときの記録パターン
としては、２Ｔ−２Ｔ−４Ｔを用いるとした。

【００７４】そして、光磁気ディスク１００に対して記
録時に照射するレーザ光の出力（記録パワー）と、再生
時に照射するレーザ光の出力（再生パワー）とを変化さ
せ、再生信号におけるアシンメトリを測定した。このと
きの測定結果を、図８に示す。なお、図８において、横
軸は記録パワーを示し、縦軸は測定されたアシンメトリ
を示す。また、再生パワーに応じてプロットを行った。

【００７５】また、同様にして、従来から用いられてい
るようなインクリメントパターンを用いて試し書きを行
い、再生信号におけるアシンメトリを測定した。このと
きの測定結果を図９に示す。

【００７６】図８及び図９に示す結果から明らかである
ように、２Ｔ−２Ｔ−４Ｔなる記録パターンで試し書き
を行った場合の方が、インクリメントパターンで試し書
きを行った場合と比較して、アシンメトリの傾きが急峻
となっている。したがって、所定のアシンメトリ値が得
られるように記録パワーを設定したときに、再生パワー
が多少変動した場合であっても、目的としたアシンメト
リ値を確実に得ることができる。

【００７７】また、図８及び図９に示す結果から明らか
であるように、２Ｔ−２Ｔ−４Ｔなる記録パターンで試
し書きを行った場合の方が、インクリメントパターンで
試し書きを行った場合と比較して、再生パワーを変化さ
せたときに得られるアシンメトリ値のばらつきが少な
い。

【００７８】以上の結果から、本発明を適用して試し書
きを行い、記録パワーを設定することによって、記録パ
ワーを高精度に設定することができることが判る。

【００７９】

【発明の効果】以上で説明したように、本発明に係る光
磁気ディスクに対する記録パワーの設定方法、及び情報
記録方法によれば、ＰＲ法における状態遷移に偏りが生
じない記録パターンを用いて試し書きを行うことから、
ジッター値とエラーレートとの相関にずれが生じてしま
うことを抑制することができる。また、ＲＬＬ法で用い
られる記録マーク長のうちで比較的長い記録マークを含
む記録パターンを用いて試し書きを行うことから、ジッ
ターへの影響が鋭利となり、高精度に記録パワーを設定
することができる。このようにして設定した記録パワー
でレーザ光を照射して情報信号を記録することにより、
安定して確実に記録再生を行うことが可能となり、記録
再生時における信頼性を向上させることが可能となる。
したがって、例えば、記録マークを微細化して高記録密
度化を図ることが容易となる。また、特に、磁気超解像
方式により記録再生を行う場合のように、記録パワーを
高精度に設定することが重要となる記録再生方式を用い
る場合であっても、安定して確実に記録再生を行うこと
が可能となる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用して光磁気ディスクに記録再生を
行う記録再生装置の一構成例を示す概略ブロック図であ
る。

【図２】同記録再生装置における情報信号の流れを説明
する機能ブロック図である。

【図３】同記録再生装置において、ＰＲ（１，２，１）
と１−７ＲＬＬを用いた場合における再生信号の状態遷
移を示す状態遷移図である。

【図４】同記録再生装置におけるビタビ復号化器の一構
成例を示す概略ブロック図である。

【図５】同ビタビ復号化器におけるＳＭＵ部の一構成例
を示す概略ブロック図である。

【図６】同ＳＭＵ部におけるサブブロックＳＭ００のレ
ジスタ構造の一構成例を示す概略回路図である。

【図７】同ＳＭＵ部におけるサブブロックＳＭ１０のレ
ジスタ構造の一構成例を示す概略回路図である。

【図８】本発明を適用した記録パターンによって光磁気
ディスクに対する記録再生を行った場合に測定されたア
シンメトリを示す図である。

【図９】従来から用いられている記録パターンによって
光磁気ディスクに対する記録再生を行った場合に測定さ
れたアシンメトリを示す図である。

【符号の説明】

１記録再生装置、２スピンドルモータ、３光学ピ
ックアップ、２０１−７ＲＬＬ変調器、２１プリコ
ーダ、２２低域通過フィルタ、２３ＰＬＬ回路、２
４Ａ／Ｄ変換器、２５適応型等化器、２６ビタビ
復号化器、２７１−７ＲＬＬ復調器、１００光磁気デ
ィスク

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】ＰＲ（Partial Responce）法とＲＬＬ
（Run Length Limited）法とを組み合わせた記録符号化
方式を用いて、光磁気ディスクに対して光変調方式によ
り情報信号を記録するときに、当該光磁気ディスクに照
射するレーザ光の記録パワーを設定するに際して、上記光磁気ディスクにおけるレーザ光パワー校正領域に
対して、上記ＰＲ法における状態遷移が略々均等となる
とともに、上記ＲＬＬ法で用いられる記録マーク長のう
ちで比較的長い記録マークを含む記録パターンを用いて
試し書きを行う試し書きステップと、上記試し書きステップにおける試し書きの結果に基づい
て、レーザ光の記録パワーを設定する記録パワー設定ス
テップとを有することを特徴とする光磁気ディスクに対
する記録パワーの設定方法。
【請求項２】上記試し書きステップにおいては、形成
した記録マークを再生した信号におけるアシンメトリの
変化を観察するに十分な長さの記録マークを含む記録パ
ターンを用いることを特徴とする請求項１記載の光磁気
ディスクに対する記録パワーの設定方法。
【請求項３】上記記録符号化方式として、ＰＲ（１，
２，１）と１−７ＲＬＬとを組み合わせた記録符号化方
式を用いるとともに、上記試し書きステップにおいて用いる記録パターンとし
ては、２Ｔ−２Ｔ−４Ｔ、又は２Ｔ−２Ｔ−５Ｔ（ただ
し、Ｔはビット間隔である。）を用いることを特徴とす
る請求項１記載の光磁気ディスクに対する記録パワーの
設定方法。
【請求項４】ＰＲ（Partial Responce）法とＲＬＬ
（Run Length Limited）法とを組み合わせた記録符号化
方式を用いて、光磁気ディスクに対して光変調方式によ
り情報信号を記録する情報記録方法において、上記光磁気ディスクにおけるレーザ光パワー校正領域に
対して、上記ＰＲ法における状態遷移が略々均等となる
とともに、上記ＲＬＬ法で用いられる記録マーク長のう
ちで比較的長い記録マークを含む記録パターンを用いて
試し書きを行う試し書きステップと、上記試し書きステップにおける試し書きの結果に基づい
て、レーザ光の記録パワーを設定する記録パワー設定ス
テップと、上記光磁気ディスクに対して、設定された記録パワーで
レーザ光を照射することにより情報信号を記録する記録
ステップとを有することを特徴とする情報記録方法。
【請求項５】上記試し書きステップにおいては、形成
した記録マークを再生した信号におけるアシンメトリの
変化を観察するに十分な長さの記録マークを含む記録パ
ターンを用いることを特徴とする請求項４記載の情報記
録方法。
【請求項６】上記記録符号化方式として、ＰＲ（１，
２，１）と１−７ＲＬＬとを組み合わせた記録符号化方
式を用いるとともに、上記試し書きステップにおいて用いる記録パターンとし
ては、２Ｔ−２Ｔ−４Ｔ、又は２Ｔ−２Ｔ−５Ｔ（ただ
し、Ｔはビット間隔である。）を用いることを特徴とす
る請求項４記載の情報記録方法。