JP2002006357A - 光信号を加算および減算するための電気光学的装置 - Google Patents
光信号を加算および減算するための電気光学的装置Info
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- G02F2203/07—Polarisation dependent
Abstract
(57)【要約】
【課題】 光信号を加算、減算し、結果を合計信号に変
換できる電気光学的相互接続装置を提供する。 【解決手段】 電気光学装置１０は、複数のオプトエレ
クトロニクス検出器１２を備えており、該オプトエレク
トロニクス検出器１２はそれぞれ光信号に応答し且つ電
気信号を発生させるように動作する。プローブ・レーザ
２４は光プローブ・ビームを発生させる。電気光学結晶
２０は、電気信号を感知し且つ光プローブの偏光回転又
は位相を変化させる。第二検出器１２は、プローブ・ビ
ームの変化した特性に応答しおよび出力すなわち光信号
の合計を表わす合成信号を発生させる。
換できる電気光学的相互接続装置を提供する。 【解決手段】 電気光学装置１０は、複数のオプトエレ
クトロニクス検出器１２を備えており、該オプトエレク
トロニクス検出器１２はそれぞれ光信号に応答し且つ電
気信号を発生させるように動作する。プローブ・レーザ
２４は光プローブ・ビームを発生させる。電気光学結晶
２０は、電気信号を感知し且つ光プローブの偏光回転又
は位相を変化させる。第二検出器１２は、プローブ・ビ
ームの変化した特性に応答しおよび出力すなわち光信号
の合計を表わす合成信号を発生させる。
Description
【０００１】[関連出願の相互参照]本出願は、本発明の
譲受人と同一人に譲渡された、ステファン・パレス（Ｓ
ｔｅｐｈｅｎ Ｐａｌｅｓｅ）による、本出願と同時に
出願された、「加算／減算を行うことのできる光学的相
互接続（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｉｎｔｅｒｃｏｎｎｅｃｔ
Ｃａｐａｂｌｅ Ｏｆ Ｐｅｒｆｏｒｍｉｎｇ Ａｄｄ
ｉｔｉｏｎ／Ｓｕｂｔｒａｃｔｉｏｎ）」という名称の
出願であって、その内容がここに参考として組み入れら
れている同時出願係属中の米国特許出願第 号
（ＴＲＷ事件番号第１１−０９８６号）に関連する。
譲受人と同一人に譲渡された、ステファン・パレス（Ｓ
ｔｅｐｈｅｎ Ｐａｌｅｓｅ）による、本出願と同時に
出願された、「加算／減算を行うことのできる光学的相
互接続（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｉｎｔｅｒｃｏｎｎｅｃｔ
Ｃａｐａｂｌｅ Ｏｆ Ｐｅｒｆｏｒｍｉｎｇ Ａｄｄ
ｉｔｉｏｎ／Ｓｕｂｔｒａｃｔｉｏｎ）」という名称の
出願であって、その内容がここに参考として組み入れら
れている同時出願係属中の米国特許出願第 号
（ＴＲＷ事件番号第１１−０９８６号）に関連する。
【０００２】また、本出願は、本発明の譲受人と同一人
に譲渡された、ステファン・パレスによる、本出願と同
時に出願された、「光信号のタイミングを制御するため
の時間補償アーキテクチャ（Ｔｉｍｅ Ｃｏｍｐｅｎｓ
ａｔｉｏｎ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅｓ Ｆｏｒ Ｃ
ｏｎｔｒｏｌｌｉｎｇ Ｔｉｍｉｎｇ Ｏｆ Ｏｐｔｉ
ｃａｌ Ｓｉｇｎａｌｓ）」という名称の出願であっ
て、その内容がここに参考として組み入れられている同
時出願係属中の米国特許出願第 号（ＴＲＷ事件
番号第１１−０９８４号）に関連する。
に譲渡された、ステファン・パレスによる、本出願と同
時に出願された、「光信号のタイミングを制御するため
の時間補償アーキテクチャ（Ｔｉｍｅ Ｃｏｍｐｅｎｓ
ａｔｉｏｎ Ａｒｃｈｉｔｅｃｔｕｒｅｓ Ｆｏｒ Ｃ
ｏｎｔｒｏｌｌｉｎｇ Ｔｉｍｉｎｇ Ｏｆ Ｏｐｔｉ
ｃａｌ Ｓｉｇｎａｌｓ）」という名称の出願であっ
て、その内容がここに参考として組み入れられている同
時出願係属中の米国特許出願第 号（ＴＲＷ事件
番号第１１−０９８４号）に関連する。
【０００３】また、本出願は、本発明の譲受人と同一人
に譲渡された、ステファン・パレスによる、本出願と同
時に出願された、「光検出器アレー及び時間補償を有す
るうず巻き媒体におけるオプトエレクトロニクス通信シ
ステム（Ｏｐｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｃｏｍｍｕｎ
ｉｃａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎ Ｔｕｒｂｕｌｅ
ｎｔ Ｍｅｄｉｕｍ Ｈａｖｉｎｇ Ａｒｒａｙ ｏｆ
Ｐｈｏｔｏｄｅｔｅｃｔｏｒｓ ａｎｄ Ｔｉｍｅ
Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ）」という名称の出願であっ
て、その内容がここに参考として組み入れられている同
時出願係属中の米国特許出願第 号（ＴＲＷ事件
番号第１１−０９６３号）にも関連する。
に譲渡された、ステファン・パレスによる、本出願と同
時に出願された、「光検出器アレー及び時間補償を有す
るうず巻き媒体におけるオプトエレクトロニクス通信シ
ステム（Ｏｐｔｏｅｌｅｃｔｒｏｎｉｃ Ｃｏｍｍｕｎ
ｉｃａｔｉｏｎ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎ Ｔｕｒｂｕｌｅ
ｎｔ Ｍｅｄｉｕｍ Ｈａｖｉｎｇ Ａｒｒａｙ ｏｆ
Ｐｈｏｔｏｄｅｔｅｃｔｏｒｓ ａｎｄ Ｔｉｍｅ
Ｃｏｍｐｅｎｓａｔｉｏｎ）」という名称の出願であっ
て、その内容がここに参考として組み入れられている同
時出願係属中の米国特許出願第 号（ＴＲＷ事件
番号第１１−０９６３号）にも関連する。
【０００４】また、本出願は、本発明の譲受人と同一人
に譲渡された、ステファン・パレスによる、本出願と同
時に出願された、「光学的転写材料を使用する光通信シ
ステム（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ
Ｓｙｓｔｅｍ ＵｓｉｎｇＯｐｔｉｃａｌ Ｓｔｒａ
ｎｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｍａｔｅｒｉａｌ）」という名
称の出願であって、その内容がここに参考として組み入
れられている同時出願係属中の米国特許出願第
号（ＴＲＷ事件番号第１１−０９６４号）にも関連す
る。
に譲渡された、ステファン・パレスによる、本出願と同
時に出願された、「光学的転写材料を使用する光通信シ
ステム（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ
Ｓｙｓｔｅｍ ＵｓｉｎｇＯｐｔｉｃａｌ Ｓｔｒａ
ｎｓｃｒｉｐｔｉｏｎ Ｍａｔｅｒｉａｌ）」という名
称の出願であって、その内容がここに参考として組み入
れられている同時出願係属中の米国特許出願第
号（ＴＲＷ事件番号第１１−０９６４号）にも関連す
る。
【０００５】
【発明の属する技術分野】本発明は、一般的に、オプト
エレクトロニクス装置に関し、より詳細には、光信号を
加算及び減算するために構成されうる電気光学的相互接
続に関する。
エレクトロニクス装置に関し、より詳細には、光信号を
加算及び減算するために構成されうる電気光学的相互接
続に関する。
【０００６】
【従来の技術】電気通信産業は、通信システムの動作帯
域幅を拡大するために電子システムから、エレクトロニ
クス及び光通信学の双方を利用するハイブリッド・プラ
ットフォームに急激に切り換っている。今日の通信シス
テムは、光ファイバ・ネットワーク、ファイバ増幅器、
光ダイオード送信機および高速半導体受信機から成って
いる。
域幅を拡大するために電子システムから、エレクトロニ
クス及び光通信学の双方を利用するハイブリッド・プラ
ットフォームに急激に切り換っている。今日の通信シス
テムは、光ファイバ・ネットワーク、ファイバ増幅器、
光ダイオード送信機および高速半導体受信機から成って
いる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかし、該産業界は、
満足し得るオプトエレクトロ二クス相互接続、特に、受
信された光信号を処理するとき、光信号を直接に加算し
又は減算するために使用可能なオプトエレクトロ二クス
相互接続を有しないという点に問題がある。
満足し得るオプトエレクトロ二クス相互接続、特に、受
信された光信号を処理するとき、光信号を直接に加算し
又は減算するために使用可能なオプトエレクトロ二クス
相互接続を有しないという点に問題がある。
【０００８】従って、光信号を加算し且つ／又は減算し
且つその結果を合計信号に変換することのできる電気光
学的相互接続装置が必要とされている。
且つその結果を合計信号に変換することのできる電気光
学的相互接続装置が必要とされている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】従来技術の上述した欠点
及びその他の欠点は、一般的に、電気光学的相互接続を
提供する本発明によって取り組まれ且つ本発明により克
服される。該電気光学的相互接続は、光信号を選択的に
加算し又は減算するためのプローブ・ビームと共に構成
され得る。電気光学装置は、複数のオプトエレクトロニ
クス検出器を備えており、該オプトエレクトロニクス検
出器はそれぞれ光信号に応答し且つ電気信号を発生させ
るように動作する。プローブ・レーザは光プローブ・ビ
ームを発生させる。電気光学結晶は、電気信号を感知し
且つ光プローブの偏光回転又は位相を変化させる。第二
の検出器は、プローブ・ビームの変化した特性に応答し
および出力すなわち光信号の合計を表わす合成信号を発
生させる。変調器は、異なる相互接続位置における関連
したプローブ・ビームを加算させるというよりは、むし
ろ減算させるように調節することができる。
及びその他の欠点は、一般的に、電気光学的相互接続を
提供する本発明によって取り組まれ且つ本発明により克
服される。該電気光学的相互接続は、光信号を選択的に
加算し又は減算するためのプローブ・ビームと共に構成
され得る。電気光学装置は、複数のオプトエレクトロニ
クス検出器を備えており、該オプトエレクトロニクス検
出器はそれぞれ光信号に応答し且つ電気信号を発生させ
るように動作する。プローブ・レーザは光プローブ・ビ
ームを発生させる。電気光学結晶は、電気信号を感知し
且つ光プローブの偏光回転又は位相を変化させる。第二
の検出器は、プローブ・ビームの変化した特性に応答し
および出力すなわち光信号の合計を表わす合成信号を発
生させる。変調器は、異なる相互接続位置における関連
したプローブ・ビームを加算させるというよりは、むし
ろ減算させるように調節することができる。
【００１０】代替的に、第二の検出器を省き且つプロー
ブ・ビームの直接的な光学的処理を実現し得る。その他
の面において、関連した光信号を減算するために、光検
出器におけるバイアス電圧の極性を逆にし、又は電気光
学結晶の向きを変化させることができる。出力信号は、
電気的又は光学的でありうる。
ブ・ビームの直接的な光学的処理を実現し得る。その他
の面において、関連した光信号を減算するために、光検
出器におけるバイアス電圧の極性を逆にし、又は電気光
学結晶の向きを変化させることができる。出力信号は、
電気的又は光学的でありうる。
【００１１】本発明の上記及びその追加的な特徴及び有
利な点は、以下の詳細な説明及び添付図面から明らかに
なるであろう。図面及び記載された説明において、数字
は本発明の様々な構成要素を示し、図面及び記載された
説明の双方の全体を通じて、同じ数字は同じ構成要素に
ついての言及している。
利な点は、以下の詳細な説明及び添付図面から明らかに
なるであろう。図面及び記載された説明において、数字
は本発明の様々な構成要素を示し、図面及び記載された
説明の双方の全体を通じて、同じ数字は同じ構成要素に
ついての言及している。
【００１２】
【発明の実施の形態】図１のブロック図に図示するよう
に、本発明は、一般的に参照番号１０で示される、電気
光学的相互接続又は装置を提供する。
に、本発明は、一般的に参照番号１０で示される、電気
光学的相互接続又は装置を提供する。
【００１３】先ず、図１について言及すると、電気光学
的相互接続１０は、光信号を、入射する光量に依存した
大きさを有する電気信号へ変換し、５ｐｓの固有応答時
間を有する小面積の高速光検出器１２を備えている。ガ
ードレール１７により分離された電極１３、１５を跨っ
てバイアス電圧＋Ｖが印加される。
的相互接続１０は、光信号を、入射する光量に依存した
大きさを有する電気信号へ変換し、５ｐｓの固有応答時
間を有する小面積の高速光検出器１２を備えている。ガ
ードレール１７により分離された電極１３、１５を跨っ
てバイアス電圧＋Ｖが印加される。
【００１４】代替的に、該検出器は、光電陰極マイクロ
チャネル、超伝導検出器又は任意のその他の光活性化合
物装置であり得る。該装置１０は、２つのオプトエレク
トロニクス検出器１２を備えている。図２には、オプト
エレクトロニクス検出器１２の１つを詳細に図示してい
る。光ファイバ１４は、該検出器に取り付けられ且つ光
ビーム即ち信号１６を検出器１２上へ伝搬する。
チャネル、超伝導検出器又は任意のその他の光活性化合
物装置であり得る。該装置１０は、２つのオプトエレク
トロニクス検出器１２を備えている。図２には、オプト
エレクトロニクス検出器１２の１つを詳細に図示してい
る。光ファイバ１４は、該検出器に取り付けられ且つ光
ビーム即ち信号１６を検出器１２上へ伝搬する。
【００１５】電気光学結晶２０あるいは導波管は、検出
器１２に対して直角の方向である長手方向に伸びてい
る。該結晶２０は、電気光学材料（例えば、ＬｉＴａＯ
3、ＬｉＮｉＯ3、ＧａＡｓ又は複屈折ポリマー）にて形
成され、以下に説明するように、矢印２２で概略的に示
すような、電界及び光プローブ・ビームに対して適切に
傾いた複屈折軸を有する。プローブ・レーザ２４は、単
一モード光ファイバ２６及び結晶２０を通してプローブ
・ビーム、すなわち読取りビームを長手方向に発生させ
る。該プローブ・ビームは、リアルタイムの信号処理を
提供するために持続波ビームであることが好ましい。非
導電性基板３２の上に形成されたマイクロ波ストリップ
線路３０は、結晶２０に対して垂直に伸び且つ該結晶２
０を支持し、光検出器１２により発生された電気信号
を、光プローブ・ビーム２２と相互作用させるために伝
搬する。該ストリップ線路３０は、反射光が該ストリッ
プ線路を逆方向に伝搬して、時間分解能を劣化させるこ
とを防止し得るように５０オームの負荷３４において終
結している。基板３２は、ノイズ又は外部信号がストリ
ップ線路３０上の電気信号と干渉するのを防止するため
にグランドに接続されている。
器１２に対して直角の方向である長手方向に伸びてい
る。該結晶２０は、電気光学材料（例えば、ＬｉＴａＯ
3、ＬｉＮｉＯ3、ＧａＡｓ又は複屈折ポリマー）にて形
成され、以下に説明するように、矢印２２で概略的に示
すような、電界及び光プローブ・ビームに対して適切に
傾いた複屈折軸を有する。プローブ・レーザ２４は、単
一モード光ファイバ２６及び結晶２０を通してプローブ
・ビーム、すなわち読取りビームを長手方向に発生させ
る。該プローブ・ビームは、リアルタイムの信号処理を
提供するために持続波ビームであることが好ましい。非
導電性基板３２の上に形成されたマイクロ波ストリップ
線路３０は、結晶２０に対して垂直に伸び且つ該結晶２
０を支持し、光検出器１２により発生された電気信号
を、光プローブ・ビーム２２と相互作用させるために伝
搬する。該ストリップ線路３０は、反射光が該ストリッ
プ線路を逆方向に伝搬して、時間分解能を劣化させるこ
とを防止し得るように５０オームの負荷３４において終
結している。基板３２は、ノイズ又は外部信号がストリ
ップ線路３０上の電気信号と干渉するのを防止するため
にグランドに接続されている。
【００１６】より詳細には、ストリップ線路３０により
運ばれた電気信号は、カーブした矢印３８により概略的
に図示した電界を発生させる。該電界は、電気光学結晶
２０の下側に侵入し、プローブビーム２２の上に時間依
存した偏光回転又は位相変化を引き起こす。該変化は、
電界の強度、従って、光検出器に入射する光の強度と共
に変化する。回転は、ストリップ線路の信号により発生
された電界３８に対する結晶軸の傾きに依存する。
運ばれた電気信号は、カーブした矢印３８により概略的
に図示した電界を発生させる。該電界は、電気光学結晶
２０の下側に侵入し、プローブビーム２２の上に時間依
存した偏光回転又は位相変化を引き起こす。該変化は、
電界の強度、従って、光検出器に入射する光の強度と共
に変化する。回転は、ストリップ線路の信号により発生
された電界３８に対する結晶軸の傾きに依存する。
【００１７】図２に関しては、オプトエレクトロニクス
検出器のアレーが図示されている。このアレー中のオプ
トエレクトロニクス検出器は、図１に示した光検出器と
同一である。参照番号１からｍで図示するように、この
アレー中にはｍ個の検出器が存在し、その各々は、光フ
ァイバ・アレー５２の１つのファイバ１４に取り付けら
れた末端部を有している。各ファイバ１４は、光ビーム
を１つの検出器１２上へ伝送する。
検出器のアレーが図示されている。このアレー中のオプ
トエレクトロニクス検出器は、図１に示した光検出器と
同一である。参照番号１からｍで図示するように、この
アレー中にはｍ個の検出器が存在し、その各々は、光フ
ァイバ・アレー５２の１つのファイバ１４に取り付けら
れた末端部を有している。各ファイバ１４は、光ビーム
を１つの検出器１２上へ伝送する。
【００１８】２つの光検出器１２からの各信号は、プロ
ーブ・ビーム２２の全体的な偏光回転に寄与する。これ
らの加法的又は減法的変化は、λ／２波長板４２及び偏
光器４４によりファイバ２２上の振幅変調信号に変換さ
れる。λ／２波長板４２は、ホモダイン受信又はヘテロ
ダイン受信のいずれかに対し調節することができる。ヘ
テロダイン動作においては、波長板４２は、非変調プロ
ーブ・ビーム２２の幾つかが波長板を通過するのを許容
するように調節される。これは、信号と混合する局部電
界を引き起こし、線形動作のために使用される。
ーブ・ビーム２２の全体的な偏光回転に寄与する。これ
らの加法的又は減法的変化は、λ／２波長板４２及び偏
光器４４によりファイバ２２上の振幅変調信号に変換さ
れる。λ／２波長板４２は、ホモダイン受信又はヘテロ
ダイン受信のいずれかに対し調節することができる。ヘ
テロダイン動作においては、波長板４２は、非変調プロ
ーブ・ビーム２２の幾つかが波長板を通過するのを許容
するように調節される。これは、信号と混合する局部電
界を引き起こし、線形動作のために使用される。
【００１９】偏光器４４は、プローブ・ビーム２２上に
引き起こされた偏光回転を時間依存振幅変調に変換す
る。ホモダイン動作のため、光検出器１２上に発生した
電圧が存在しないとき、光が漏れないように、波長板４
２は調節されそして偏光器４４はクロスされる。ヘテロ
ダイン動作及びホモダイン動作の双方のため、偏光器４
４は、電気光学効果により発生されたプローブビーム２
２の位相及び偏光の変化を分析する。プローブ高速光検
出器５１は、導電体５２上で振幅変調プローブビームを
合成電気信号に変換し、該信号は信号処理装置５６へ適
用するために出力５４へ出力される。これは、ファイバ
１４を通って投射された同相光信号１６の合計を表わ
す。各信号光検出器１２は、プローブ・ビーム２２の全
体的な偏光回転に寄与する。
引き起こされた偏光回転を時間依存振幅変調に変換す
る。ホモダイン動作のため、光検出器１２上に発生した
電圧が存在しないとき、光が漏れないように、波長板４
２は調節されそして偏光器４４はクロスされる。ヘテロ
ダイン動作及びホモダイン動作の双方のため、偏光器４
４は、電気光学効果により発生されたプローブビーム２
２の位相及び偏光の変化を分析する。プローブ高速光検
出器５１は、導電体５２上で振幅変調プローブビームを
合成電気信号に変換し、該信号は信号処理装置５６へ適
用するために出力５４へ出力される。これは、ファイバ
１４を通って投射された同相光信号１６の合計を表わ
す。各信号光検出器１２は、プローブ・ビーム２２の全
体的な偏光回転に寄与する。
【００２０】動作において、光ファイバ１４上は、光信
号をオプトエレクトロニクス検出器１２に伝送する。該
検出器１２は、光信号を電気信号に変換する。この電気
信号は、ストリップ線路３０の下方へ、５０オームの負
荷３４へ伝搬される。伝搬している電気信号は、ストリ
ップ線路３０の外側に電界３８を発生させる。この電界
は、電気光学結晶２０の表面へ侵入し、プローブ・ビー
ム２２上に時間依存偏光回転又は位相変化を引き起こ
す。各検出器１２は、光ファイバによって、該検出器ま
で運ばれた受信光信号に対応した、加法的または減法的
である回転又は位相変化を引き起こす。該λ／２波長板
４２及び偏光器４４は、合成プローブ・ビームに対する
回転又は位相変化の合計を時間依存変調光信号へ変換し
得るように調節される。プローブ高速検出器５０は、該
信号を光信号を表わす電気信号へ変換する。該電気信号
は、所望に応じて電気信号を復調し且つ更なる処理をす
る信号プロセッサ５６へ適用される。
号をオプトエレクトロニクス検出器１２に伝送する。該
検出器１２は、光信号を電気信号に変換する。この電気
信号は、ストリップ線路３０の下方へ、５０オームの負
荷３４へ伝搬される。伝搬している電気信号は、ストリ
ップ線路３０の外側に電界３８を発生させる。この電界
は、電気光学結晶２０の表面へ侵入し、プローブ・ビー
ム２２上に時間依存偏光回転又は位相変化を引き起こ
す。各検出器１２は、光ファイバによって、該検出器ま
で運ばれた受信光信号に対応した、加法的または減法的
である回転又は位相変化を引き起こす。該λ／２波長板
４２及び偏光器４４は、合成プローブ・ビームに対する
回転又は位相変化の合計を時間依存変調光信号へ変換し
得るように調節される。プローブ高速検出器５０は、該
信号を光信号を表わす電気信号へ変換する。該電気信号
は、所望に応じて電気信号を復調し且つ更なる処理をす
る信号プロセッサ５６へ適用される。
【００２１】光検出器を加算モード又は減算モードの何
れかにおいて構成するかを選択するための別の技術は、
光検出器におけるバイアス電圧の極性を変化することに
よる。図１を参照すると、バイアス電圧＋Ｖは、光検出
器の電極１３および１５に印加される。非導電性のガー
ドレール１７が電極を分離する。光信号を加算するため
には、２つの光検出器は等しくバイアスされる。光検出
器を減算モードに変化させるためには、バイアス電圧の
極性が逆にされる。さらにこれには、光検出器をｐｎｐ
型装置からｎｐｎ型装置に変化させることを必要としう
る。
れかにおいて構成するかを選択するための別の技術は、
光検出器におけるバイアス電圧の極性を変化することに
よる。図１を参照すると、バイアス電圧＋Ｖは、光検出
器の電極１３および１５に印加される。非導電性のガー
ドレール１７が電極を分離する。光信号を加算するため
には、２つの光検出器は等しくバイアスされる。光検出
器を減算モードに変化させるためには、バイアス電圧の
極性が逆にされる。さらにこれには、光検出器をｐｎｐ
型装置からｎｐｎ型装置に変化させることを必要としう
る。
【００２２】電気光学的相互接続の代替的な実施形態
は、図３に示されている。該相互接続７０の多くの構成
要素は、上述した図２に示した相互接続における同じ部
分と同一であり、従って図３の相互接続の各部分には、
上述し且つ図２に図示した相互接続の同じ部分に適用し
た参照番号に相当する参照番号が適用されている。
は、図３に示されている。該相互接続７０の多くの構成
要素は、上述した図２に示した相互接続における同じ部
分と同一であり、従って図３の相互接続の各部分には、
上述し且つ図２に図示した相互接続の同じ部分に適用し
た参照番号に相当する参照番号が適用されている。
【００２３】図３に図示した相互接続と図２に図示した
相互接続との間の根本的な相違点は、前者がマッハツェ
ンダー干渉計７２を備え、従って位相変調を利用する点
にある。従って、λ／２波長板又は偏光器は組みこんで
いない。各信号光検出器は、プローブ・ビーム２２の位
相変化の合計に寄与する。ファイバ・ベースのマッハツ
ェンダー干渉計７２は、基準脚部７４と、電気光学結晶
２０を通るプローブ・ビームの経路を有する可調節脚部
７６とを備えている。上述したように、結晶を通るプロ
ーブ・ビームの通路は、オプトエレクトロニクス検出器
およびそれらのストリップ線路により発生された電気信
号に依存して変化する。
相互接続との間の根本的な相違点は、前者がマッハツェ
ンダー干渉計７２を備え、従って位相変調を利用する点
にある。従って、λ／２波長板又は偏光器は組みこんで
いない。各信号光検出器は、プローブ・ビーム２２の位
相変化の合計に寄与する。ファイバ・ベースのマッハツ
ェンダー干渉計７２は、基準脚部７４と、電気光学結晶
２０を通るプローブ・ビームの経路を有する可調節脚部
７６とを備えている。上述したように、結晶を通るプロ
ーブ・ビームの通路は、オプトエレクトロニクス検出器
およびそれらのストリップ線路により発生された電気信
号に依存して変化する。
【００２４】本発明のシステム及び方法は、他の多くの
種類の光干渉計を利用することができる。光干渉計は、
光を２つの別個の光路へ分割し、それからこの光を光干
渉的に再結合し、強め合う干渉及び弱め合う干渉を提示
することの可能な光出力を作りだす。光の波長及び干渉
計の２つの脚部の相対的光路長は、光が結合された時に
生じる特定の干渉状態を決定する。この干渉状態により
出力が決定され、弱め合う干渉の場合には光強度出力は
存在しない。干渉計の２つの光路長の一つが調節可能の
場合、干渉状態は、強め合う干渉と弱め合う干渉状態の
間で連続的に変化され得る。干渉計７２は、この位相変
化をプローブ高速光検出器５１によって検出される時間
依存振幅変調へ変換する。
種類の光干渉計を利用することができる。光干渉計は、
光を２つの別個の光路へ分割し、それからこの光を光干
渉的に再結合し、強め合う干渉及び弱め合う干渉を提示
することの可能な光出力を作りだす。光の波長及び干渉
計の２つの脚部の相対的光路長は、光が結合された時に
生じる特定の干渉状態を決定する。この干渉状態により
出力が決定され、弱め合う干渉の場合には光強度出力は
存在しない。干渉計の２つの光路長の一つが調節可能の
場合、干渉状態は、強め合う干渉と弱め合う干渉状態の
間で連続的に変化され得る。干渉計７２は、この位相変
化をプローブ高速光検出器５１によって検出される時間
依存振幅変調へ変換する。
【００２５】動作において、光ファイバ１４により伝搬
されたオプトエレクトロニクス検出器１２上の光は、今
度はプローブ・ビームに位相遅れを生じさせる。検出器
１２上に光が存在しない場合、位相遅れは発生しない。
これは結果として、干渉計７２をアンバランスにし、光
検出器５１に信号を提供する。
されたオプトエレクトロニクス検出器１２上の光は、今
度はプローブ・ビームに位相遅れを生じさせる。検出器
１２上に光が存在しない場合、位相遅れは発生しない。
これは結果として、干渉計７２をアンバランスにし、光
検出器５１に信号を提供する。
【００２６】基本的なオプトエレクトロニクス相互接続
１０の代替的な実施形態は図４に示され、参照番号１０
０によって指定されている。これは、電気光学的な速度
適合構成として知られている。その構成要素の多くは、
上述した図１及び図２の相互接続１０の同じ部分と等し
いものであり、従って、図４の相互接続の各部分には上
述しおよび図１で示した相互接続の同じ部分に適応され
た参照番号に対応する参照番号が適応されている。
１０の代替的な実施形態は図４に示され、参照番号１０
０によって指定されている。これは、電気光学的な速度
適合構成として知られている。その構成要素の多くは、
上述した図１及び図２の相互接続１０の同じ部分と等し
いものであり、従って、図４の相互接続の各部分には上
述しおよび図１で示した相互接続の同じ部分に適応され
た参照番号に対応する参照番号が適応されている。
【００２７】図４に示した装置と図１に示した構造の間
の根本的な相違は、電気信号１０２及びプローブ・ビー
ム２２が同じ方向に伝送される点、好適にはロチェスタ
ー大学から入手可能であるである速度適合光検出器１０
４を備え且つ光信号により後方から照射される点であ
る。この信号は、光ファイバ１４及び基盤３２を通って
検出器１０４へ伝送されることに注意すべきである。こ
れにより、光ファイバの検出器への接続が容易になる。
一般的に、可能な限り検出器の近くにファイバを有する
ことが望ましい。信号ビームの紫外線波長に対して、後
方照射が最良に働くことが理解されており、その他の場
合には、前方照射が使用される。
の根本的な相違は、電気信号１０２及びプローブ・ビー
ム２２が同じ方向に伝送される点、好適にはロチェスタ
ー大学から入手可能であるである速度適合光検出器１０
４を備え且つ光信号により後方から照射される点であ
る。この信号は、光ファイバ１４及び基盤３２を通って
検出器１０４へ伝送されることに注意すべきである。こ
れにより、光ファイバの検出器への接続が容易になる。
一般的に、可能な限り検出器の近くにファイバを有する
ことが望ましい。信号ビームの紫外線波長に対して、後
方照射が最良に働くことが理解されており、その他の場
合には、前方照射が使用される。
【００２８】この実施形態においては、信号ビームは光
ファイバ１４及び基盤材料３２を通って光検出器１０４
に伝送される。これは、マイクロ波ストリップ線路３０
を下って終端３４へ伝播する電気パルスを発生させる。
伝播する電界３８は、電子光学結晶２０内に侵入し、プ
ローブ・ビーム上に時間依存偏光回転又は位相変化を引
き起こす。速度適合された構成において、電気信号１０
２及び光プローブ・ビーム２２は同じ方向に伝搬され、
より小さな走行時間の広がり（高周波数応答）及び／又
はより長い有効結晶長（増加されたプローブ・ビームの
変調度差）を導く。
ファイバ１４及び基盤材料３２を通って光検出器１０４
に伝送される。これは、マイクロ波ストリップ線路３０
を下って終端３４へ伝播する電気パルスを発生させる。
伝播する電界３８は、電子光学結晶２０内に侵入し、プ
ローブ・ビーム上に時間依存偏光回転又は位相変化を引
き起こす。速度適合された構成において、電気信号１０
２及び光プローブ・ビーム２２は同じ方向に伝搬され、
より小さな走行時間の広がり（高周波数応答）及び／又
はより長い有効結晶長（増加されたプローブ・ビームの
変調度差）を導く。
【００２９】２つの時間補償アーキテクチャが図５及び
図６に図示されており、引き続いて述べられる。時間補
償方法は、読み取り光ビームが伝播するための必要時間
により、連続読み取りビーム・ジオメトリーにおいて発
生する光学的遅延を補正するための手段を提供する。
図６に図示されており、引き続いて述べられる。時間補
償方法は、読み取り光ビームが伝播するための必要時間
により、連続読み取りビーム・ジオメトリーにおいて発
生する光学的遅延を補正するための手段を提供する。
【００３０】この伝播時間は、ｔ＝ｎｄ／ｃであり、こ
こで、ｎは材料の屈折率、ｄは距離、ｃは光の速度であ
る。大きいアレーにとって、この伝播遅れは、受信機の
時間応答を著しく劣化させる可能性がある。例えば、直
径１５μｍの検出器の１０００個の構成要素のアレー
は、読み取りに９０ｐｓかかる。これは、典型的な光検
出器の時間応答よりも２０倍遅い。時間補償されたアー
キテクチャの場合、伝播遅延が蓄積しないように、光検
出器への光信号の到達は、読取り（プローブ）ビームの
到達と同期的にされている（図５に示すように列ごと又
は図６に示すように要素ごとに）。これは、帯域幅の劣
化を回避する。これは、上述された方法で、信号ビーム
に等価的（補償）光学遅延を挿入することにより達成さ
れる。
こで、ｎは材料の屈折率、ｄは距離、ｃは光の速度であ
る。大きいアレーにとって、この伝播遅れは、受信機の
時間応答を著しく劣化させる可能性がある。例えば、直
径１５μｍの検出器の１０００個の構成要素のアレー
は、読み取りに９０ｐｓかかる。これは、典型的な光検
出器の時間応答よりも２０倍遅い。時間補償されたアー
キテクチャの場合、伝播遅延が蓄積しないように、光検
出器への光信号の到達は、読取り（プローブ）ビームの
到達と同期的にされている（図５に示すように列ごと又
は図６に示すように要素ごとに）。これは、帯域幅の劣
化を回避する。これは、上述された方法で、信号ビーム
に等価的（補償）光学遅延を挿入することにより達成さ
れる。
【００３１】図５は、参照番号２００で一般的に示され
るような、連続的オプトエレクトロニクス読取り装置の
ための一次元的時間補償システムを示す。システム２０
０の多くの部分は、上述した図２に図示した相互接続に
おける同じ部分と構造が等しく、従って、図５の装置の
各部分に同じ参照番号が適用されている。光信号は、時
間補償要素（ＴＣＥ）２０２に到達する。該ＴＣＥ２０
２は、様々な光学装置製造業者から商業的に入手可能な
種類の光学的ウエッジを備えている。該光学ウエッジは
ｍ×ｉマトリックスとして構成されている。ＴＣＥ２０
２は、光ファイバ・アレー５２の前に横たわっている。
光信号は時間ｔs＝ｔosに、ＴＣＥ２０２を通って伝送
し、且つの時間ｔs＝ｔos＋ｔcm＋ｎfｄfmi／ｃに、フ
ァイバの終端のオプトエレクトロニクス検出器（図示せ
ず）へ伝播する。ここで、ｔcmはＴＣＥ２０２のｍ列の
時間遅延、ｎfは光ファイバ１４の屈折率、ｄfmiは横列
ｍ及び縦列ｉにおける光ファイバの長さ、ｃは光の速度
である。
るような、連続的オプトエレクトロニクス読取り装置の
ための一次元的時間補償システムを示す。システム２０
０の多くの部分は、上述した図２に図示した相互接続に
おける同じ部分と構造が等しく、従って、図５の装置の
各部分に同じ参照番号が適用されている。光信号は、時
間補償要素（ＴＣＥ）２０２に到達する。該ＴＣＥ２０
２は、様々な光学装置製造業者から商業的に入手可能な
種類の光学的ウエッジを備えている。該光学ウエッジは
ｍ×ｉマトリックスとして構成されている。ＴＣＥ２０
２は、光ファイバ・アレー５２の前に横たわっている。
光信号は時間ｔs＝ｔosに、ＴＣＥ２０２を通って伝送
し、且つの時間ｔs＝ｔos＋ｔcm＋ｎfｄfmi／ｃに、フ
ァイバの終端のオプトエレクトロニクス検出器（図示せ
ず）へ伝播する。ここで、ｔcmはＴＣＥ２０２のｍ列の
時間遅延、ｎfは光ファイバ１４の屈折率、ｄfmiは横列
ｍ及び縦列ｉにおける光ファイバの長さ、ｃは光の速度
である。
【００３２】ファイバ１４が同一長で、時間補償要素が
含まれていない場合、プローブ・ビーム２２及び信号ビ
ーム１６は、ｎ1ｄ11mi／ｃに等しいアレーの時間的分
解能を劣化させる時間誤差を蓄積する。ｔcm＝ｎ1ｄ
m1miを満たす時間補償光学要素２０２は、時間劣化が減
少されるようにアレーの各横列におけるポイントでプロ
ーブ・ビーム２２及び光信号ビーム１６を同期化させる
働きをする。
含まれていない場合、プローブ・ビーム２２及び信号ビ
ーム１６は、ｎ1ｄ11mi／ｃに等しいアレーの時間的分
解能を劣化させる時間誤差を蓄積する。ｔcm＝ｎ1ｄ
m1miを満たす時間補償光学要素２０２は、時間劣化が減
少されるようにアレーの各横列におけるポイントでプロ
ーブ・ビーム２２及び光信号ビーム１６を同期化させる
働きをする。
【００３３】このように、横列の各々が補償される。よ
り詳細には、各横列における中心要素はプローブ・ビー
ム２２と同期化される。各横列中の他の要素は同期化さ
れないことに注目すべきである。このように、この技術
は、時間ジッターと類似した、多少の関連した時間分解
能誤差を有する。四角ファイバ束５２の場合、一次元的
時間補償方法は、同一の時間分解能（周波数帯域幅）で
ファイバ数を二乗することを許容する（すなわち、１０
本のファイバは１００本のファイバとなる）。
り詳細には、各横列における中心要素はプローブ・ビー
ム２２と同期化される。各横列中の他の要素は同期化さ
れないことに注目すべきである。このように、この技術
は、時間ジッターと類似した、多少の関連した時間分解
能誤差を有する。四角ファイバ束５２の場合、一次元的
時間補償方法は、同一の時間分解能（周波数帯域幅）で
ファイバ数を二乗することを許容する（すなわち、１０
本のファイバは１００本のファイバとなる）。
【００３４】図６には、要素毎の時間補償アーキテクチ
ャが図示されている。光信号ビームは、時間ｔS＝ｔOS
にてファイバアレー５２に到達し且つ時間ｔS＝ｔOS＋
ｎfｄf m／ｃにてファイバの端部まで伝播する。この式
において、ｎfはファイバ１４の屈折率、ｄfmはファイ
バｍの長さ及びｃは光の速度である。
ャが図示されている。光信号ビームは、時間ｔS＝ｔOS
にてファイバアレー５２に到達し且つ時間ｔS＝ｔOS＋
ｎfｄf m／ｃにてファイバの端部まで伝播する。この式
において、ｎfはファイバ１４の屈折率、ｄfmはファイ
バｍの長さ及びｃは光の速度である。
【００３５】ファイバ１４は長さが等しく、時間補償要
素が何ら含まれていないならば、プローブ・ビーム２２
及び信号ビーム１６は、アレーに対する時間的分解能を
劣化させるｎ1ｄ1m／ｃに等しい時間誤差を蓄積する。
しかし、本発明によれば、ファイバ長さは、ｎf（ｄfm
−ｄf1）＝ｎ1ｄ1mとなるように調節されるので、プロ
ーブ及び信号ビームは、アレー中の各ポイントにて同期
化される。従って、この実施形態は、プローブ・ビーム
の光学的読取りを劣化させない。
素が何ら含まれていないならば、プローブ・ビーム２２
及び信号ビーム１６は、アレーに対する時間的分解能を
劣化させるｎ1ｄ1m／ｃに等しい時間誤差を蓄積する。
しかし、本発明によれば、ファイバ長さは、ｎf（ｄfm
−ｄf1）＝ｎ1ｄ1mとなるように調節されるので、プロ
ーブ及び信号ビームは、アレー中の各ポイントにて同期
化される。従って、この実施形態は、プローブ・ビーム
の光学的読取りを劣化させない。
【００３６】図７を参照すると、オプトエレクトロニク
ス相互接続３００が図示されている。図示するように、
別個のオプトエレクトロニックスアレーが存在し、一つ
は加算用のアレー３０２で、一つは減算用のアレー３０
４である。
ス相互接続３００が図示されている。図示するように、
別個のオプトエレクトロニックスアレーが存在し、一つ
は加算用のアレー３０２で、一つは減算用のアレー３０
４である。
【００３７】変調器１８が１つのアームに含まれてお
り、光信号に対し位相又は偏光を提供する。従って、変
調は信号を同相または１８０°違相するように調節され
得る。同相信号は加法的であり、違相信号は減法的であ
る。
り、光信号に対し位相又は偏光を提供する。従って、変
調は信号を同相または１８０°違相するように調節され
得る。同相信号は加法的であり、違相信号は減法的であ
る。
【００３８】アレー３０２とアレー３０４の機能の相違
は、光検出器伝播電界３８に対する結晶２０の電気光学
方向の変化、バイアス電圧の反転（正電圧から負電圧
へ）を可能とするための光検出器１２の半導体構造の変
化、または光検出器アレー３０２の１つの前方及び／又
はその後方への電気光学変調器１８（位相又は偏光）を
挿入によりもたらされる。アレー５２内の独立した各フ
ァイバ１４上の信号は、電気光学変調器３０６及び偏光
器３０８により正又は負の光検出器アレーの何れかへル
ートされる。相互接続３００内の各ポイントにおいてプ
ローブ２２と光検出器電界３８を同期化させるために、
受動的時間補償アーキテクチャを信号ファイバアアレー
内に組み込ませる必要がある。能動的時間または非同期
式受動的補償アーキテキチャが、さらなる機能的性能
（例えば、ダイナミック制御されたプローブ・シーケン
サ）または環境補正を提供し得るように実現され得る。
相互接続は、振幅又は位相／偏光回転の実施形態と共に
動作し得る。
は、光検出器伝播電界３８に対する結晶２０の電気光学
方向の変化、バイアス電圧の反転（正電圧から負電圧
へ）を可能とするための光検出器１２の半導体構造の変
化、または光検出器アレー３０２の１つの前方及び／又
はその後方への電気光学変調器１８（位相又は偏光）を
挿入によりもたらされる。アレー５２内の独立した各フ
ァイバ１４上の信号は、電気光学変調器３０６及び偏光
器３０８により正又は負の光検出器アレーの何れかへル
ートされる。相互接続３００内の各ポイントにおいてプ
ローブ２２と光検出器電界３８を同期化させるために、
受動的時間補償アーキテクチャを信号ファイバアアレー
内に組み込ませる必要がある。能動的時間または非同期
式受動的補償アーキテキチャが、さらなる機能的性能
（例えば、ダイナミック制御されたプローブ・シーケン
サ）または環境補正を提供し得るように実現され得る。
相互接続は、振幅又は位相／偏光回転の実施形態と共に
動作し得る。
【００３９】図８は、電気光学的演算相互接続３５０を
示す。この実施形態において、独立した各光検出器の要
素間に電気光学変調器１８（位相又は偏光）が挿入され
ている。これら追加的な変調器は、適切な結晶軸に沿っ
て電極３５２、３５４を有し、結晶２０を跨いで電圧を
印加することができる。これらの追加的な変調器１８
は、共鳴又は進行波装置の何れかであることができる。
これらの電極３５２および３５４を跨がった電圧の印加
は、プローブ・ビーム２２の偏光（位相）を実質的に変
化させるため、加算又は減算が独立した各光検出器１２
において発生しうる。相互接続内の各ポイントにおいて
プローブ及び光検出器の電界を同期化させ得るために、
図５及び図６に示された受動的時間補償アーキテクチャ
を、信号ファイバ・アレーに組み込ませる必要がある。
さらなる機能的能力（例えば、ダイナミック制御された
プローブ・シーケンサ）又は環境補正を提供するため
に、能動的又は非同期式受動的時間補償アーキテクチャ
が実現され得る。相互接続は、振幅又は位相／偏光回転
を操作可能であり得る。
示す。この実施形態において、独立した各光検出器の要
素間に電気光学変調器１８（位相又は偏光）が挿入され
ている。これら追加的な変調器は、適切な結晶軸に沿っ
て電極３５２、３５４を有し、結晶２０を跨いで電圧を
印加することができる。これらの追加的な変調器１８
は、共鳴又は進行波装置の何れかであることができる。
これらの電極３５２および３５４を跨がった電圧の印加
は、プローブ・ビーム２２の偏光（位相）を実質的に変
化させるため、加算又は減算が独立した各光検出器１２
において発生しうる。相互接続内の各ポイントにおいて
プローブ及び光検出器の電界を同期化させ得るために、
図５及び図６に示された受動的時間補償アーキテクチャ
を、信号ファイバ・アレーに組み込ませる必要がある。
さらなる機能的能力（例えば、ダイナミック制御された
プローブ・シーケンサ）又は環境補正を提供するため
に、能動的又は非同期式受動的時間補償アーキテクチャ
が実現され得る。相互接続は、振幅又は位相／偏光回転
を操作可能であり得る。
【００４０】従って、光信号を加算および減算するため
に構成され得る電気光学的相互接続が提供される。上記
の教示の観点から、本発明の多くの変形及び変更が可能
であることが明らかである。従って、本発明は、添付さ
れた特許請求の範囲内において、特に上述した方法とは
別の方法で実践可能であるということが理解されるべき
である。
に構成され得る電気光学的相互接続が提供される。上記
の教示の観点から、本発明の多くの変形及び変更が可能
であることが明らかである。従って、本発明は、添付さ
れた特許請求の範囲内において、特に上述した方法とは
別の方法で実践可能であるということが理解されるべき
である。
【図１】本発明に従って使用される、電気光学的相互接
続の図である。
続の図である。
【図２】本発明に従って使用される、別の代替的な電気
光学的相互接続を示す図である。
光学的相互接続を示す図である。
【図３】本発明に従った、電気光学的相互接続の別の代
替的な実施形態を示す図である。
替的な実施形態を示す図である。
【図４】本発明に従った、速度整合構成において使用す
るための電気光学の代替的な実施の形態の図である。
るための電気光学の代替的な実施の形態の図である。
【図５】本発明に従った、連続読取り技術と共に使用す
るために時間補償を提供するための構成を示す図であ
る。
るために時間補償を提供するための構成を示す図であ
る。
【図６】本発明に従った、二次元的時間補償を提供する
ための別の実施形態の図である。
ための別の実施形態の図である。
【図７】本発明に従った、信号ビームを加算及び減算す
るために配アレーされた電気光学的相互接続の図であ
る。
るために配アレーされた電気光学的相互接続の図であ
る。
【図８】本発明に従った、信号ビームを加算及び減算す
るための代替的な実施形態において配置された電気光学
的相互接続の図である。
るための代替的な実施形態において配置された電気光学
的相互接続の図である。
１０ 電気光学的相互接続 １２ 高速光検出器 １４ 光ファイバ １７ ガードレール １８ 電気光学変調器 ２０ 電気光学結晶 ２４ プローブ・レーザ ２６ 単一モード光ファイバ ３０ マイクロ波ストリップ線路 ３２ 非導電性基盤 ３４ ５０オーム負荷 ４２ λ／２波長板 ４４ 偏光器 ５１ プローブ高速検出器 ５２ ファイバ・アレー ５６ 信号プロセッサ ７０ 相互接続 ７２ マッハツェンダー干渉計 ７４ 基準脚部 ７６ 可調節脚部 １００ オプトエレクトロニクス相互接続 １０４ 速度適合光検出器 ２００ 連続的オプトエレクトロニクス読取り装置のた
めの一次元的時間補償システム ２０２ 時間補償要素（ＴＣＥ） ３００ オプトエレクトロニクス相互接続 ３０２ 加算用のアレー ３０４ 減算用のアレー ３０６ 電気光学変調器 ３０８ 偏光器 ３５０ 電気光学的演算相互接続
めの一次元的時間補償システム ２０２ 時間補償要素（ＴＣＥ） ３００ オプトエレクトロニクス相互接続 ３０２ 加算用のアレー ３０４ 減算用のアレー ３０６ 電気光学変調器 ３０８ 偏光器 ３５０ 電気光学的演算相互接続
Claims (7)
- 【請求項１】 各々が光信号に応答し且つ第一の電気信
号を発生するように動作する、複数の第一のオプトエレ
クトロニクス検出器と、 プローブビームを伝播し且つ電気信号に応答して変化す
る伝播特性を有し、伝播特性を変化させる複数の前記第
一の電気信号に応答し、且つ受信された光信号に含まれ
る情報に対応した第二の信号を発生させるように動作す
る電気光学装置と、を備える、プローブ・ビーム及び光
信号と共に使用するための電気光学的相互接続。 - 【請求項２】 情報を含んでいる光信号とプローブ・ビ
ームを受信するための電気光学的相互接続であって、 それぞれ光信号に応答し、各々が前記情報の部分を表し
ている複数の電気信号を発生するように動作する複数の
第一のオプトエレクトロニック検出器手段と、光プロー
ブ・ビームを発生させる手段と、 複数の前記電気信号に応答し且つ前記情報に相当する前
記光プローブ・ビームの特性を変化するように動作する
手段と、 変化された前記特性に応答し且つ前記光信号に保持され
た前記情報を表わす出力電気信号を発生させるように動
作する第二のオプトエレクトロニック検出器と、を備え
る電気光学的相互接続。 - 【請求項３】 複数の前記電気信号に応答する前記手段
が前記光プローブ・ビームを伝播するための手段を備え
ることを特徴とする、請求項２に記載の電気光学的相互
接続。 - 【請求項４】 前記伝播手段が電気光学結晶を備えるこ
とを特徴とする、請求項３に記載の電気光学的相互接
続。 - 【請求項５】 複数の前記第一のオプトエレクトロニッ
ク検出器手段の前記各々が、オプトエレクトロニック検
出器及びストリップ線路を備えることを特徴とする、請
求項２に記載の電気光学的相互接続。 - 【請求項６】 前記光プローブビームを受信する可調節
脚部及び基準脚部を有する干渉計をさらに備え、前記可
調節脚部が、前記複数の電気信号に応答して、前記基準
脚部を通って伝播する前記光プローブビームの位相に関
係して前記光プローブ・ビームの位相を変化させること
を特徴とする請求項２に記載の電気光学的相互接続。 - 【請求項７】 複数の前記第一のオプトエレクトロニッ
ク検出器手段が前記光信号を加算する作用をし、伝播さ
れた前記光信号を減算するために構成される複数の第三
のオプトエレクトロニック検出器手段を更に備える、請
求項２に記載の電気光学的相互接続。
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| US09/586014 | 2000-06-02 |
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| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
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Family Applications (1)
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|---|---|
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| JP (1) | JP2002006357A (ja) |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| KR100830251B1 (ko) * | 2002-06-20 | 2008-05-16 | 인텔 코오퍼레이션 | 이동 장치의 음성 인식 개선 |
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2000
- 2000-06-02 US US09/586,014 patent/US6624922B1/en not_active Expired - Fee Related
-
2001
- 2001-05-21 EP EP01111970A patent/EP1160615A3/en not_active Withdrawn
- 2001-05-25 JP JP2001156276A patent/JP2002006357A/ja active Pending
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1160615A3 (en) | 2003-11-19 |
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