JP2001527377A - 磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電気回路装置 - Google Patents

磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電気回路装置

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JP2001527377A JP2000525963A JP2000525963A JP2001527377A JP 2001527377 A JP2001527377 A JP 2001527377A JP 2000525963 A JP2000525963 A JP 2000525963A JP 2000525963 A JP2000525963 A JP 2000525963A JP 2001527377 A JP2001527377 A JP 2001527377A
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Abstract

(57)【要約】 磁場エネルギー(M)を電場エネルギー(E)に変換(W)するための電気回路装置(G)は、少なくとも、磁場エネルギー(M)に対する第1の蓄積要素(L)と、電場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)と、半導体弁要素(D)と、電気的スイッチング要素(S)とを有する。本発明によれば、半導体弁要素(D)の半導体材料は少なくとも2eVの禁制帯(VB)および少なくとも5* 10^5V/cmの降伏電界強度(EK)を有する。半導体弁要素(D)の半導体材料は特に炭化シリコン(SiC)、窒化ガリウム(GaN)またはダイアモンド(Cdia)を含んでいる。半導体弁要素(D)は特に半導体ダイオード、好ましくはショットキーダイオードである。半導体弁要素(D)の本発明によるわずかなダイナミックなスイッチング損失に基づいて、最小の構成部分の大きさを有する電気回路装置(G)が高い作動電圧においても高いスイッチング周波数においても使用可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】 本発明は、磁場エネルギーに対する第1の蓄積要素と、電場エネルギーに対す
る第2の蓄積要素と、半導体弁要素と、少なくとも第1および第2のスイッチン
グ状態を取り得る電気的スイッチング要素とを少なくとも備え、これらの要素が
、スイッチング要素の第1のスイッチング状態で磁場エネルギーが第1の蓄積要
素のなかに蓄積可能であり、スイッチング要素の第2のスイッチング状態で磁場
エネルギーが第1の蓄積要素から、半導体弁要素を経て導かれて、電場エネルギ
ーに対する第2の蓄積要素のなかに変換可能であるように互いに接続されている
磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電気回路装置に関する。
【0002】 磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するためのこのような公知の電気回路
装置における弱点は半導体弁要素である。エネルギー変換過程ごとに半導体弁要
素が一方では近似的に回路装置の入力電圧の高さの高い電圧変動に曝される。他
方では半導体弁要素は阻止方向に回路装置の入力電圧の何倍かの電圧に耐えなけ
ればならない。その際に半導体弁要素は導通状態と阻止状態との間の高い交番負
荷に曝される。こうして半導体弁要素の負荷能力が回路装置全体の負荷能力を決
定的に制限する。
【0003】 従来通常の半導体弁要素は一般にシリコンSiから製造されている。これらは
、高い阻止電圧が半導体弁要素のなかの相応に厚い半導体移行層によってしか達
成可能でないという欠点を有する。しかし厚い半導体移行層は、ダイナミックな
スイッチング損失が大きいという欠点を有する。ダイナミックなスイッチング損
失は主に半導体弁要素の阻止状態から導通状態への移行およびその逆の移行の際
に特に少数または多数キャリアのビルドアップおよび崩壊により生ずる。ダイナ
ミックなスイッチング損失は相応に高い熱的な損失を惹起し、これらの熱的な損
失が半導体弁要素の不安定化に通じ得る。さらに、半導体弁要素から最大に導き
出し得る損失電力がそれらの最大の耐熱性に基づいて回路装置のスイッチング要
素のスイッチング周波数を、従ってまたその可能出力を制限する。スイッチング
周波数に逆比例して、特に磁場エネルギーに対する第1の蓄積要素および電場エ
ネルギーに対する第2の蓄積要素が設定可能である。より高いスイッチング周波
数によりそれに応じてそれらの大きさが小さくなる。
【0004】 本発明の課題は、磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電気回路
装置において、上記の欠点を顕著に減ずることである。
【0005】 この課題は請求項1、5、7および9にあげられている電気回路装置ならびに
請求項16ないし21に従って使用される電気回路装置により解決される。
【0006】 本発明による電気回路装置の利点は、半導体弁要素の半導体材料が少なくとも
2eVの禁制帯および少なくとも5* 10^5V/cmの降伏電界強度を有する
ことである。
【0007】 本発明による電気回路装置の別の実施態様の利点は、半導体弁要素の半導体材
料が炭化シリコン、窒化ガリウムまたはダイアモンドを含んでいることである。
【0008】 本発明による電気回路装置の別の実施態様の利点は、半導体弁要素の半導体材
料が炭化シリコンを含み、約3eVの禁制帯および約25* 10^5V/cmの
降伏電界強度を有することである。
【0009】 本発明による電気回路装置の別の実施態様の利点は、半導体弁要素の半導体材
料が窒化ガリウムを含み、約3.2eVの禁制帯および約30* 10^5V/c
mの降伏電界強度を有することである。
【0010】 本発明による電気回路装置の別の実施態様の利点は、半導体弁要素の半導体材
料がダイアモンドを含み、約5.5eVの禁制帯および約100* 10^5V/
cmの降伏電界強度を有することである。
【0011】 本発明による電気回路装置の半導体弁要素のそれぞれの半導体材料がシリコン
と比較して大きい禁制帯を有することにより、有利な仕方で半導体弁要素が高い
熱的な安定性を有する。こうして半導体弁要素が高い作動温度においても完全に
よく機能し、安全な作動状態にある。さらに本発明による電気回路装置は半導体
弁要素のそれぞれの半導体材料のシリコンと比較して高い降伏電界強度により高
い作動電圧においても作動可能である。それにより本発明による電気回路装置は
有利に高い阻止電圧を有する電力回路としても作動可能である。
【0012】 高い降伏電界強度により特に半導体弁要素の半導体材料厚みが減ぜられる。そ
れにより有利に半導体弁要素のなかのダイナミックおよび熱的な損失が減少する
。一方ではこれはそれによってより小さい負荷に曝され、他方では電気回路装置
のスイッチング要素のスイッチング周波数が高くされる。より高いスイッチング
周波数は特に、構成部品、特に磁場エネルギーに対する第1の蓄積要素および電
場エネルギーに対する第2の蓄積要素をより小さく設定することを可能にする。
それと一方では電気回路装置全体の可能出力の増大が結び付けられている。他方
では電気回路装置の外形寸法が減ぜられる。
【0013】 本発明の実施態様で、半導体弁要素がダイオードまたは特にショットキーダイ
オードであることは特に有利である。上記の特性を有する半導体材料から成るシ
ョットキーダイオードは顕著な利点を有する。ショットキーダイオードは少なく
とも技術的な特性に関して過大設定を有する必要がなく、またはその必要がわず
かしかない。ショットキーダイオードの阻止電圧は、本発明による電気回路装置
を高い作動電圧においても使用するために十分に高い。他方においてショットキ
ーダイオードの半導体‐金属接合は、その阻止電圧が高いにもかかわらず、薄く
設定されるので、ダイナミックな損失がスイッチング要素の高いスイッチング周
波数の際にもわずかである。このことは、ショットキーダイオードの有利な特性
を高い作動電圧の際にも高いスイッチング周波数の際にも本発明による電気回路
装置の半導体弁要素として使用することを可能にする。
【0014】 本発明の他の実施態様では、本発明による回路装置は昇圧コンバータ回路、降
圧コンバータ回路、フォワードコンバータ回路または力率コントローラ回路のな
かで使用されている。
【0015】 本発明の他の有利な実施態様は相応の従属請求項にあげられている。
【0016】 以下、図面に示されている実施例により本発明を一層詳細に説明する。
【0017】 図1には例として磁場エネルギーMを電場エネルギーEに変換Wするための電
気回路装置Gが示されている。電気回路装置Gは特に入力電圧UEを供給され、
磁場エネルギーMに対する第1の蓄積要素Lおよび電場エネルギーEに対する第
2の蓄積要素Cを少なくとも有する。さらに電気回路装置Gは半導体弁要素Dお
よび電気的スイッチング要素Sを有する。電気的スイッチング要素Sは少なくと
も第1および第2のスイッチング状態S1、S2を取り得る。第1の蓄積要素L
、第2の蓄積要素C、半導体弁要素Dおよび電気的スイッチング要素Sは、スイ
ッチング要素Sの第1のスイッチング状態S1で磁場エネルギーMが第1の蓄積
要素Lのなかに蓄積可能であり、スイッチング要素Sの第2のスイッチング状態
S2で磁場エネルギーMが第1の蓄積要素Lから、半導体弁要素Dを経て導かれ
て、電場エネルギーEに対する第2の蓄積要素Cのなかに変換可能であるように
互いに接続されている。磁場エネルギーMを電場エネルギーEに変換する際に生
ずるエネルギーフローは半導体弁要素Dを経て導かれる。その際に半導体弁要素
Dは特に導通‐および阻止方向を有するので、導通方向に電場エネルギーEへの
磁場エネルギーMの変換が可能にされるが、第2の蓄積要素Cのなかに蓄積され
た電場エネルギーEは半導体弁要素Dの阻止方向に基づいて第1の蓄積要素Lに
逆作用し得ない。
【0018】 図1の例ではスイッチング要素Sの第1のスイッチング状態S1で、入力電圧
UEから供給された電流I1が第1の蓄積要素Lを通って流れ、それによってこ
の第1の蓄積要素Lのなかに磁場エネルギーMがビルドアップされる。入力電圧
UEは交流電圧であっても直流電圧であってもよい。第2のスイッチング状態S
2へのスイッチング要素Sの移行により電流I1は遮断され、それによって少な
くとも第1の蓄積要素Lから供給され、半導体弁要素Dを経てその導通方向に流
れる電流I2が生ずる。電流I2は第2の蓄積要素Cのなかを流れ、この第2の
蓄積要素Cのなかに電場エネルギーEを特に電圧UCの形態でビルドアップさせ
る。
【0019】 図1に既に例として示されているように、本発明の実施例では第1の蓄積要素
Lは好ましくは誘導性の要素、たとえばコイルである。本発明の別の実施例では
第2の蓄積要素Cは好ましくは容量性の要素、たとえばコンデンサである。本発
明の別の実施例では電気的なスイッチング要素Sは好ましくは半導体スイッチン
グ要素、たとえば電界効果トランジスタである。本発明の別の実施例では半導体
弁要素Dに少なくとも1つの別の、特に同形式の半導体弁要素D′が並列に接続
されている。並列回路は有利に別の追加措置なしに可能である。なぜならば、後
でまた説明される半導体弁要素DまたはD′は正の温度係数を有するからである
。これは特にダイオード、好ましくはショットキーダイオードの形態で存在する
。以下では本発明をここで例としてあげた構成要素により続けて説明する。
【0020】 図2および3に示されている例では、本発明による半導体弁要素Dの半導体材
料は少なくとも2eV(電子ボルト)の禁制帯VBおよび少なくとも5* * 10
^5V/cm(センチメートルあたりボルト)の降伏電界強度を有する。“10
^5”という表示は“1E+5”という表示に相当する。
【0021】 図2には例としてシンボル化されて本発明により少なくとも2eVを有する半
導体弁要素Dの半導体材料の禁制帯VBが示されている。その際に禁制帯VBは
価電子帯EVのエネルギーレベルと伝導帯ECのエネルギーレベルとの間のエネ
ルギー差である。補助的に追加的にフェルミレベルのエネルギーレベルが記入さ
れている。図2は例として金属のショットキー接触への半導体接合が縦座標の方
向に示されている。図3には例としてシンボル化されて本発明により少なくとも
* * 10^5V/cmを有する半導体弁要素Dの半導体材料の降伏電界強度E
Kが示されている。図3の横座標には例としてドーピングの値が1/cm^3の
単位で示されている。このドーピングの大きさは単に例として選ばれた大きさで
示されている。
【0022】 本発明による電気回路装置Gの種々の実施例のなかで半導体弁要素Dの半導体
材料は特に炭化シリコンSiC、窒化ガリウムGaNまたはダイアモンドCdi
aすなわちダイアモンド結晶構造を有する炭素を含み、その際に半導体材料は少
なくとも2eVの禁制帯VBおよび少なくとも5* 10^5V/cmの降伏電界
強度EKを有する。
【0023】 本発明の別の変形実施例では半導体弁要素Dの半導体材料は特に炭化シリコン
SiC、窒化ガリウムGaNまたはダイアモンドCdiaを含んでいる。
【0024】 本発明による電気回路装置Gの実施例または本発明の変形実施例の半導体弁要
素Dの半導体材料が炭化シリコンSiCを含んでいるならば、これは、図2およ
び3に例として示されているように、特に約3eVの禁制帯VBおよび約25*
10^5V/cmの降伏電界強度EKを有する。
【0025】 本発明による電気回路装置Gの実施例または本発明の変形実施例の半導体弁要
素Dの半導体材料が窒化ガリウムGaNを含んでいるならば、これは、図2およ
び3に例として示されているように、特に約3.2eVの禁制帯VBおよび約3
* 10^5V/cmの降伏電界強度EKを有する。
【0026】 本発明による電気回路装置Gの実施例または本発明の変形実施例の半導体弁要
素Dの半導体材料がダイアモンドCdiaを含んでいるならば、これは、図2お
よび3に例として示されているように、特に約5.5eVの禁制帯VBおよび約
100* 10^5V/cmの降伏電界強度EKを有する。
【0027】 図4ないし7には例として本発明が使用されている有利な回路装置が示されて
いる。
【0028】 図4には例として、入力電圧UE1を供給され出力電圧UA1を有する本発明
による電気回路装置Gを備えた昇圧コンバータ回路Hが示されている。昇圧コン
バータ回路HはたとえばコイルL11、電界効果トランジスタS11、半導体ダ
イオード(特にショットキーダイオード)D11、およびコンデンサC11を有
する。コイルL11は直列に入力電圧UE1と接続されている。入力電圧UE1
に対して並列にコイルL11の後に電界効果トランジスタS11およびコンデン
サC11が配置されている。電界効果トランジスタS11とコンデンサC11と
の間にコイルL11に対して直列に半導体ダイオードD11が導通方向に配置さ
れている。半導体ダイオードD11は本発明により本発明による半導体材料を有
する。電界効果トランジスタS11のスイッチオンおよびスイッチオフの際に磁
場エネルギーがコイルL11からコンデンサC11のなかに電場エネルギーとし
て変換される。
【0029】 図5には例として、入力電圧UE2を供給され出力電圧UA2を有する本発明
による電気回路装置Gを備えた降圧コンバータ回路Tが示されている。降圧コン
バータ回路TはたとえばコイルL21、電界効果トランジスタS21、半導体ダ
イオード(特にショットキーダイオード)D21、およびコンデンサC21を有
する。電界効果トランジスタS21は直列に入力電圧UE2と接続されている。
入力電圧UE2に対して並列に電界効果トランジスタS21の後に阻止方向に半
導体ダイオードD21が、またコンデンサC21が配置されている。半導体ダイ
オードD21とコンデンサC21との間に電界効果トランジスタS21に対して
直列にコイルL21が配置されている。半導体ダイオードD21は本発明により
本発明による半導体材料を有する。電界効果トランジスタS21のスイッチオン
およびスイッチオフの際に磁場エネルギーがコイルL21からコンデンサC21
のなかに電場エネルギーとして変換される。
【0030】 図6には例として、入力電圧UE3を供給され出力電圧UA3を有する本発明
による電気回路装置Gを備えたフォワードコンバータ回路DWが示されている。
その際にフォワードコンバータ回路DWの一次回路DW1および(または)二次
回路DW2は本発明による電気回路装置Gを有する。一次および二次回路DW1
またはDW2は好ましくは変圧器T3により互いに脱結合されている。一次回路
DW1はたとえば第1のコンデンサC31、第1のコイルL31、第1の半導体
ダイオード(特にショットキーダイオード)D31、および第1の電界効果トラ
ンジスタS31を有する。通常その際に第1のコイルL31は変圧器T3の一次
コイル巻線の部分巻線いわゆる減磁巻線である。二次回路DW2はたとえば第2
の半導体ダイオード(特にショットキーダイオード)D32、第3の半導体ダイ
オードD33、第2のコイルL32および第2のコンデンサC32を有する。電
界効果トランジスタS31のスイッチオンおよびスイッチオフの際に磁場エネル
ギーがコイルL31からコンデンサC31のなかに電場エネルギーとして変換さ
れる。
【0031】 一次回路DW1のなかには、入力電圧UE3に対して並列にコンデンサC31
と、第1の半導体ダイオードD31と直列に阻止方向に接続されている第1のコ
イルL31と、変圧器T3の一次側と直列に接続されている第1の電界効果トラ
ンジスタS31とが配置されている。電界効果トランジスタS31のスイッチオ
ンおよびスイッチオフの際に磁場エネルギーが第1のコイルL31から第1のコ
ンデンサC31のなかに電場エネルギーとして変換される。
【0032】 二次回路DW2のなかには、変圧器T3の二次側と直列に導通方向に第3の半
導体ダイオードD33が接続されている。変圧器T3の二次側に対して並列に第
3の半導体ダイオードD33の後に阻止方向に第2の半導体ダイオードD32が
、また第2のコンデンサC32が配置されている。第2の半導体ダイオードD3
2と第2のコンデンサC32との間に第3の半導体ダイオードD33に対して直
列に第2のコイルL32が配置されている。電界効果トランジスタS31のスイ
ッチオンおよびスイッチオフの際に磁場エネルギーが第2のコイルL32から第
2のコンデンサC32のなかに電場エネルギーとして変換される。
【0033】 第1および(または)第2の半導体ダイオードD31またはD32は好ましく
は両方とも本発明により本発明による半導体材料を有する。第3の半導体ダイオ
ードD33は同じく本発明による半導体材料を有し得る。
【0034】 図7には例として、特に入力電圧UE4を供給され出力電圧UA4を有する本
発明による電気回路装置Gを備えた力率コントローラ回路PFCが示されている
。その際に力率コントローラ回路PFCの外側カスケード回路PAおよび(また
は)内側カスケード回路PIは本発明による電気回路装置Gを有する。外側カス
ケード回路PAはたとえば第1のコイルL41、第1の電界効果トランジスタS
41および第1の半導体ダイオード(特にショットキーダイオード)D41を有
する。内側カスケード回路PIはたとえば第2のコイルL42、第2の電界効果
トランジスタS42、第2の半導体ダイオード(特にショットキーダイオード)
D42、および第3の半導体ダイオードD43を有する。第1および第2の電界
効果トランジスタS41またはS42のスイッチオンおよびスイッチオフの際に
第1のコイルL41からの磁場エネルギーおよび第2のコイルL42からの磁場
エネルギーコンデンサC41のなかに電場エネルギーとして変換される。
【0035】 外側カスケード回路PAのなかでは第1のコイルL41が入力電圧UE4と直
列に接続されている。入力電圧UE4に対して並列に第1のコイルL41の後に
第1の電界効果トランジスタS41およびコンデンサC41が配置されている。
第1の電界効果トランジスタS41とコンデンサC41との間に第1のコイルL
41に対して直列に第1の半導体ダイオードD41が導通方向に配置されている
。第1の電界効果トランジスタS41のスイッチオンおよびスイッチオフの際に
磁場エネルギーが第1のコイルL41からコンデンサC41のなかに電場エネル
ギーとして変換される。
【0036】 内側カスケード回路PIのなかでは第1のコイルL41と第1の電界効果トラ
ンジスタS41と第1の半導体ダイオードD41との共通接続点に第2のコイル
L42が接続されている。第1の電界効果トランジスタS41に対して並列に第
2のコイルL42の後に、導通方向に接続されている第3の半導体ダイオードD
43と直列に接続されている第2の電界効果トランジスタS42およびコンデン
サC41が配置されている。第2の電界効果トランジスタS42とコンデンサC
41との間に第2のコイルL42に対して直列に第2の半導体ダイオードD42
が導通方向に配置されている。
【0037】 第1および(または)第2の半導体ダイオードD41またはD42は好ましく
は両方とも本発明により本発明による半導体材料を有する。第3の半導体ダイオ
ードD43は同じく本発明による半導体材料を有し得る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための本発明による電気回路装置
を示す回路図。
【図2】 たとえば金属のショットキー接触への接合を有する半導体弁要素の半導体材料
の少なくとも2eVを有する禁制帯を示す図。
【図3】 半導体弁要素の半導体材料の少なくとも5* 10^5V/cmを有する降伏電
界強度を示す図。
【図4】 本発明による電気回路装置を有する昇圧コンバータ回路を示す回路図。
【図5】 本発明による電気回路装置を有する降圧コンバータ回路を示す回路図。
【図6】 本発明による電気回路装置を有するフォワードコンバータ回路を示す回路図。
【図7】 本発明による電気回路装置を有する力率コントローラ回路を示す回路図。
【符号の説明】
C 電場エネルギーに対する第2の蓄積要素 D 半導体弁要素 E 電場エネルギー EK 降伏電界強度 L 磁場エネルギーに対する第1の蓄積要素 M 磁場エネルギー S 電気的スイッチング要素 UE 入力電圧 VB 禁制帯
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ムンツ、ディーター ドイツ連邦共和国 デー‐91315 ヘヒシ ュタット チルマン‐リーメンシュナイダ ー‐シュトラーセ 19 (72)発明者 シュミット、リヒアルト ドイツ連邦共和国 デー‐91083 バイエ ルスドルフ ハウプトシュトラーセ 33 (72)発明者 シュテファニ、ディートリッヒ ドイツ連邦共和国 デー‐91088 ブーベ ンロイト ハンス‐ビルクマイル‐シュト ラーセ 7 Fターム(参考) 4M104 AA03 AA04 AA10 CC03 GG03 5H730 AA10 AS01 AS04 AS05 BB13 BB14 BB23 BB51 CC01 CC05 DD04 EE02 EE07 EE08 EE10 ZZ15

Claims (21)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁場エネルギー(M)に対する第1の蓄積要素(L)と、電
    場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)と、半導体弁要素(D)と、
    少なくとも第1および第2のスイッチング状態(S1、S2)を取り得る電気的
    スイッチング要素(S)とを少なくとも備え、 a)これらの要素が、 a1)スイッチング要素(S)の第1のスイッチング状態(S1)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)のなかに蓄積可能であり、 a2)スイッチング要素(S)の第2のスイッチング状態(S2)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)から、半導体弁要素(D)を経て導かれて、
    電場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)のなかに変換可能である(
    図1) ように互いに接続されている磁場エネルギー(M)を電場エネルギー(E)に変
    換(W)するための電気回路装置(G)において、 b)半導体弁要素(D)が少なくとも2eVの禁制帯(VB)および少なくとも
    * 10^5V/cmの降伏電界強度(EK)を有する(図2、図3) ことを特徴とする磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電気回路装
    置。
  2. 【請求項2】 半導体弁要素(D)の半導体材料が炭化シリコン(SiC)
    を含んでいることを特徴とする請求項1記載の電気回路装置。
  3. 【請求項3】 半導体弁要素(D)の半導体材料が窒化ガリウム(GaN)
    を含んでいることを特徴とする請求項1記載の電気回路装置。
  4. 【請求項4】 半導体弁要素(D)の半導体材料がダイアモンド(C‐ダイ
    アモンド)を含んでいることを特徴とする請求項1記載の電気回路装置。
  5. 【請求項5】 磁場エネルギー(M)に対する第1の蓄積要素(L)と、電
    場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)と、半導体弁要素(D)と、
    少なくとも第1および第2のスイッチング状態(S1、S2)を取り得る電気的
    スイッチング要素(S)とを少なくとも備え、 a)これらの要素が、 a1)スイッチング要素(S)の第1のスイッチング状態(S1)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)のなかに蓄積可能であり、 a2)スイッチング要素(S)の第2のスイッチング状態(S2)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)から、半導体弁要素(D)を経て導かれて、
    電場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)のなかに変換可能である(
    図1) ように互いに接続されている磁場エネルギー(M)を電場エネルギー(E)に変
    換(W)するための電気回路装置(G)において、 b)半導体弁要素(D)の半導体材料が炭化シリコン(SiC)を含んでいるこ
    とを特徴とする磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電気回路装置
  6. 【請求項6】 半導体弁要素(D)が約3eVの禁制帯(VB)および約2
    * 10^5V/cmの降伏電界強度(EK)を有する(図2、図3、SiC)
    ことを特徴とする請求項1、2、5の1つに記載の電気回路装置。
  7. 【請求項7】 磁場エネルギー(M)に対する第1の蓄積要素(L)と、電
    場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)と、半導体弁要素(D)と、
    少なくとも第1および第2のスイッチング状態(S1、S2)を取り得る電気的
    スイッチング要素(S)とを少なくとも備え、 a)これらの要素が、 a1)スイッチング要素(S)の第1のスイッチング状態(S1)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)のなかに蓄積可能であり、 a2)スイッチング要素(S)の第2のスイッチング状態(S2)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)から、半導体弁要素(D)を経て導かれて、
    電場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)のなかに変換可能である(
    図1) ように互いに接続されている磁場エネルギー(M)を電場エネルギー(E)に変
    換(W)するための電気回路装置(G)において、 b)半導体弁要素(D)の半導体材料が窒化ガリウム(GaN)を含んでいるこ
    とを特徴とする磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電気回路装置
  8. 【請求項8】 半導体弁要素(D)が約3.2eVの禁制帯(VB)および
    約30* 10^5V/cmの降伏電界強度(EK)を有する(図2、図3、Ga
    N)ことを特徴とする請求項1、3、7の1つに記載の電気回路装置。
  9. 【請求項9】 磁場エネルギー(M)に対する第1の蓄積要素(L)と、電
    場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)と、半導体弁要素(D)と、
    少なくとも第1および第2のスイッチング状態(S1、S2)を取り得る電気的
    スイッチング要素(S)とを少なくとも備え、 a)これらの要素が、 a1)スイッチング要素(S)の第1のスイッチング状態(S1)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)のなかに蓄積可能であり、 a2)スイッチング要素(S)の第2のスイッチング状態(S2)で磁場エネル
    ギー(M)が第1の蓄積要素(L)から、半導体弁要素(D)を経て導かれて、
    電場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)のなかに変換可能である(
    図1) ように互いに接続されている磁場エネルギー(M)を電場エネルギー(E)に変
    換(W)するための電気回路装置(G)において、 b)半導体弁要素(D)の半導体材料がダイアモンド(C‐ダイアモンド)を含
    んでいることを特徴とする磁場エネルギーを電場エネルギーに変換するための電
    気回路装置。
  10. 【請求項10】 半導体弁要素(D)が約5.5eVの禁制帯(VB)およ
    び約100* 10^5V/cmの降伏電界強度(EK)を有する(図2、図3、
    C‐ダイアモンド)ことを特徴とする請求項1、4、9の1つに記載の電気回路
    装置。
  11. 【請求項11】 磁場エネルギー(M)に対する第1の蓄積要素(L)が誘
    導性要素、特にコイルであることを特徴とする請求項1ないし10の1つに記載
    の電気回路装置。
  12. 【請求項12】 電場エネルギー(E)に対する第2の蓄積要素(C)が容
    量性要素、特にコンデンサであることを特徴とする請求項1ないし11の1つに
    記載の電気回路装置。
  13. 【請求項13】 電気的スイッチング要素(S)が半導体スイッチング要素
    (S)、特に電界効果トランジスタであることを特徴とする請求項1ないし12
    の1つに記載の電気回路装置。
  14. 【請求項14】 半導体弁要素(D)に少なくとも1つの別の半導体弁要素
    (D′)が並列に接続されていることを特徴とする請求項1ないし13の1つに
    記載の電気回路装置。
  15. 【請求項15】 半導体弁要素(D)および(または)別の半導体弁要素(
    D′)がショットキーダイオードであることを特徴とする請求項1ないし14の
    1つに記載の電気回路装置。
  16. 【請求項16】 昇圧コンバータ回路(H、D11;図4)において使用さ
    れている請求項1ないし15の1つに記載の電気回路装置。
  17. 【請求項17】 降圧コンバータ回路(D、D21;図5)において使用さ
    れている請求項1ないし15の1つに記載の電気回路装置。
  18. 【請求項18】 フォワードコンバータ回路(DW;図6)の一次回路(D
    W1、D31)において使用されている請求項1ないし15の1つに記載の電気
    回路装置。
  19. 【請求項19】 フォワードコンバータ回路(DW;図6)の一次回路(D
    W2、D32)において使用されている請求項1ないし15の1つに記載の電気
    回路装置。
  20. 【請求項20】 力率コントローラ回路(PFC;図7)の外側カスケード
    回路(PA、D41)において使用されている請求項1ないし15の1つに記載
    の電気回路装置。
  21. 【請求項21】 力率コントローラ回路(PFC;図7)の内側カスケード
    回路(PI、D42)において使用されている請求項1ないし15の1つに記載
    の電気回路装置。
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