JP2001523827A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2001523827A5
JP2001523827A5 JP2000521393A JP2000521393A JP2001523827A5 JP 2001523827 A5 JP2001523827 A5 JP 2001523827A5 JP 2000521393 A JP2000521393 A JP 2000521393A JP 2000521393 A JP2000521393 A JP 2000521393A JP 2001523827 A5 JP2001523827 A5 JP 2001523827A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light beam
dimensional imaging
irradiation position
brightness
scanning light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000521393A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001523827A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from PCT/IL1997/000370 external-priority patent/WO1999026083A1/en
Publication of JP2001523827A publication Critical patent/JP2001523827A/ja
Publication of JP2001523827A5 publication Critical patent/JP2001523827A5/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Description

【特許請求の範囲】
【請求項1】 対象物を画像化するための装置であって、
様々な照射位置から前記対象物に対して光を照射する移動可能な走査光ビームを生成するビーム発生器と、ここで、夫々の照射位置は、前記走査光ビームの位置、方向の少なくともいずれか1つによって定義され、前記走査光ビームは、夫々の異なる照射位置で前記対象物の異なる局部表面領域を照射し、
前記対象物表面を走査するように連続する複数の照射位置に前記ビームを位置させるコントローラと、ここで、前記コントローラは、夫々の照射位置で、前記ビームに照射位置を求めるのに有用な照射位置データを符号化し、
少なくとも一つの光電イメージャの複数の局部イメージ区域上に、前記走査光ビームによって照射される前記対象物の複数の局部表面区域を夫々画像化する該少なくとも一つの光電イメージャを備える画像化システムと、ここで、前記局部イメージ区域では、照射位置データを検出可能であり、
前記少なくとも一つの光電イメージャによって画像化される局部表面区域の3つの空間座標を、前記局部表面区域が画像化された前記局部イメージ区域の位置から求める座標演算回路とを備え、
前記照射位置データは、前記局部イメージ区域で検出されること、
を特徴とする三次元画像化装置。
【請求項2】 前記走査光ビームは、輝度制御可能なビームであり、
前記コントローラは、複数の照射位置の夫々で輝度が異なるように前記走査光ビームの輝度を制御することによって、前記走査光ビームに照射位置データを符号化すること、を特徴とする請求項1に記載の三次元画像化装置。
【請求項3】 前記走査光ビームは、少なくとも二つの波長の帯域を有し、
前記コントローラは、該少なくとも二つの波長帯域の相対的な輝度を制御することによって、前記走査光ビームを符号化すること、
を特徴とする請求項2に記載の三次元画像化装置。
【請求項4】 前記走査光ビーム中の異なる波長帯域の光に対する前記対象物表面の反射率は、概ね同一であること、を特徴とする請求項3に記載の三次元画像化装置。
【請求項5】 前記コントローラは、一つの波長帯域の光の輝度を照射位置変数に対する線形な増加関数とするための輝度変化制御と、もう一つの波長帯域の光の輝度を前記照射位置変数に対する線形な減少関数とするための輝度変化制御とによって、前記走査光ビームを符号化すること、を特徴とする請求項3または請求項4に記載の三次元画像化装置。
【請求項6】 前記少なくとも1つの光電イメージャは、単一の光電イメージャであること、を特徴とする請求項3から請求項5のいずれかに記載の三次元画像化装置。
【請求項7】 前記単一の光電イメージャは、照射位置データで符号化された複数の波長帯域夫々の波長を持つ光によって前記対象物を画像化し、
異なる波長帯域の光は、前記単一の光電イメージャ中の異なる位置で夫々画像化されること、
を特徴とする請求項6に記載の三次元画像化装置。
【請求項8】 前記少なくとも一つの光電イメージャは、照射位置データで符号化された複数の波長帯域夫々のための一つの光電イメージャを含むこと、を特徴とする請求項3から請求項7のいずれかに記載の三次元画像化装置。
【請求項9】 前記少なくとも一つの光電イメージャは、単一の光電イメージャであること、を特徴とする請求項1又は請求項2に記載の三次元画像化装置。
【請求項10】 前記光電イメージャは、前記光電イメージャの全てのイメージ区域で、同一の波長の光によって前記対象物を画像化すること、を特徴とする請求項9に記載の三次元画像化装置。
【請求項11】 同一の照射位置に対応する前記対象物の画像は、前記単一の光電イメージャの第1の画像フレームの第1の輝度と第2の画像フレームの第2の輝度によって記録され、
前記第1画像フレーム中の前記対象物の画像と前記第2画像フレーム中の前記対象物の画像との間の比は、該画像が光を照射される前記照射位置を決定すること、
を特徴とする請求項10に記載の三次元画像化装置。
【請求項12】 前記走査光ビームは、概ねペンシルビーム状であること、を特徴とする請求項1から請求項11のいずれかに記載の三次元画像化装置。
【請求項13】 前記走査光ビームは、薄い平面扇型ビームであること、を特徴とする請求項1から請求項12のいずれかに記載の三次元画像化装置。
【請求項14】 前記扇型ビームの照射位置は、前記扇型ビームの面内にある軸の位置及び方向と走査角とによって定義され、
該走査角は、該軸の周りでの前記扇型ビームの回転角度であること、
を特徴とする請求項13に記載の三次元画像化装置。
【請求項15】 前記走査光ビームは、少なくとも一つのレーザビームを含むこと、を特徴とする請求項1から請求項14のいずれかに記載の三次元画像化装置。
【請求項16】 複数の照射位置での前記扇型ビームの反射光をもとにする前記対象物の画像は、前記少なくとも一つの光電イメージャの一つの画像フレーム中に記録されること、を特徴とする請求項1から請求項15のいずれかに記載の三次元画像化装置。
【請求項17】 前記少なくとも一つの光電イメージャの多数のイメージ区域で検出された照射位置データを復号することにより前記対象物の多数の局部表面区域夫々について三つの空間座標を求める処理装置を更に備え、
該処理装置は、前記対象物の3次元画像を提供するために該求められた空間座標を用いること、
を特徴とする請求項1から請求項16のいずれかに記載の三次元画像化装置。
【請求項18】 対象物の3次元画像化のための方法であって、
(a)少なくとも一つの波長の光を含む走査光ビームで前記対象物を走査し、照射位置から前記対象物の局部表面領域を照射し、ここで、照射位置は、前記走査光ビームの位置、方向の少なくともいずれか一つを含み、前記走査光ビームにはその照射位置に応じたデータが符号化され、
(b)前記対象物表面で、前記走査光ビームの多数の連続する照射位置からの前記走査光ビームを反射し、
(c)少なくとも一つの光電イメージャ上に前記反射光の多数の光線を画像化し、ここで、該多数の光線の夫々は前記対象物表面上の局部領域から反射され、概ね異なる位置で反射される光線は前記少なくとも一つの光電イメージャの異なる局部イメージ領域で画像化され、
(d)前記反射光が画像化される前記局部イメージ領域において、前記反射光に符号化して含められた照射位置データを検出し、
(e)前記少なくとも一つの光電イメージャ上の前記局部イメージ領域の位置と前記照射位置データとを用いることで、光線が反射される前記対象物表面上の局部領域に対する3つの空間座標を求めること、
を特徴とする三次元画像化方法。
【請求項19】 前記ビームの照射位置に対応するデータを符号化された前記走査光ビームの提供は、異なる照射位置で前記走査光ビームの輝度を異ならせる制御を含むこと、を特徴とする請求項18に記載の三次元画像化方法。
【請求項20】 前記照射位置のデータの記録は、画像化された光線の輝度の検出を含むこと、を特徴とする請求項19に記載の三次元画像化方法。
【請求項21】 前記走査光ビームの輝度の制御は、前記走査光ビーム中の光の輝度を波長の関数として制御すること含むこと、を特徴とする請求項20に記載の三次元画像化方法。
【請求項22】 前記走査光ビームは、少なくとも2つの波長帯域の光を含み、
前記走査光ビームの輝度の制御は、前記走査光ビームの前記少なくとも2つの波長帯域についていずれかの光の輝度と他の一つの光の輝度とを独立に輝度制御することを含むこと、
を特徴とする請求項21に記載の三次元画像化方法。
【請求項23】 前記輝度制御は、前記異なる複数の波長帯域の光の輝度間の比が、異なる照射位置で夫々異なることを目的とする、前記波長帯域の光の制御を含むこと、を特徴とする請求項22に記載の三次元画像化方法。
【請求項24】 前記輝度制御は、
前記少なくとも二つの帯域のうちの一つの輝度が照射位置パラメータに対する線形の増加関数となることを目的とする前記少なくとも二つの帯域のうちの一つの光の輝度の制御と、
前記少なくとも二つの帯域のうちの別の一つの輝度が前記照射位置パラメータに対する線形の減少関数とすることを目的とする前記少なくとも二つの帯域のうちの別の一つの帯域の光の制御とを含むこと、
を特徴とする請求項23に記載の三次元画像化方法。
【請求項25】 前記少なくとも一つの光電イメージャは、一つの光電イメージャであること、を特徴とする請求項22から請求項24のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項26】 前記光電イメージャの異なる局部イメージ位置における、前記走査光ビームの異なる波長帯域中に波長を有する光線の画像化を含むこと、を特徴とする請求項25に記載の三次元画像化方法。
【請求項27】 前記少なくとも一つの光電イメージャは、少なくとも二つの光電イメージャであること、を特徴とする請求項22から請求項24のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項28】 前記少なくとも二つの光電イメージャのいずれの一組の光電イメージャについても、少なくとも一つの波長帯域が存在し、該少なくとも一つの波長帯域中に波長を有する光線が、該一組の光電イメージャのみによって画像化されるように、前記走査光ビームの異なる波長帯域中に波長を有する多数の反射光の光線を画像化することを含むこと、を特徴とする請求項27に記載の三次元画像化方法。
【請求項29】 前記少なくとも一つの光電イメージャは、前記走査光ビームの前記波長帯域の一つのみに波長を持つ光線を画像化すること、を特徴とする請求項27に記載の三次元画像化方法。
【請求項30】 前記少なくとも一つの光電イメージャは、単一の光電イメージャであること、を特徴とする請求項18から請求項21のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項31】 前記反射光の画像化は、前記少なくとも一つの照射位置夫々対する二度の反射光画像化を含むこと、を特徴とする請求項18から請求項21又は請求項30のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項32】 前記走査光ビームは、概ねペンシルビーム状であること、を特徴とする請求項18から請求項31のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項33】 前記走査光ビームは、薄い平面扇型ビームであること、を特徴とする請求項18から請求項31のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項34】 前記扇型ビームの前記照射位置は、前記扇型ビームの平面の中の軸の位置、走査角の少なくとも一つによって定義され、
該走査角は、該軸の周りでの前記扇型ビームの回転の角度であり、
前記扇型ビームは、該走査角を符号化されること、
を特徴とする請求項33に記載の三次元画像化方法。
【請求項35】 前記走査光ビームの少なくとも一つの照射位置についての前記対象物表面からの光の反射は、一つの走査角での前記対象物表面からの光の反射を含むこと、を特徴とする請求項34に記載の三次元画像化方法。
【請求項36】 前記走査光ビーム中の異なる波長の光についての前記対象物表面の反射率は、概ね同一であること、を特徴とする請求項18から請求項35のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項37】 前記少なくとも一つの光電イメージャの一つの画像フレーム上にある、前記多数の照射位置の少なくとも二つからの反射光の画像の記録を含むこと、を特徴とする請求項18から請求項36のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項38】 多数の光線の反射と画像化は、
(i)光線が反射される前記少なくとも一つの照射位置夫々について前記走査光ビームの輝度は等しい状態で実行される、前記対象物の局部表面領域から反射された光線の第1の画像化と、
(ii)光線が反射される前記少なくとも一つの照射位置夫々について前記走査光ビームの輝度が異なる状態で実行される、前記対象物の局部表面領域から反射された光線の第2の画像化とを含み、
前記3つの空間座標の決定は、前記第2の画像化での前記対象物の局部表面領域から反射された光線の輝度を、前記第1の画像化での前記対象物表面の前記局部表面領域から反射された光線の輝度で除算することを含むこと、
を特徴とする請求項19から請求項37のいずれかに記載の三次元画像化方法。
【請求項39】 多数の光線の反射と画像化は、
(i)前記対象物に光を照射する周辺光源によって前記対象物の局部表面領域から反射された光線の第1の画像化の実行と、
(ii)前記走査光ビーム中の光によって前記対象物の局部表面領域から反射された光線の第2の画像化の実行とを含み、
前記3つの空間座標の決定は、前記第1の画像化での前記対象物の局部表面領域から反射された光線の輝度から、前記第2の画像化での前記対象物表面の前記局部表面領域から反射された光線の輝度を引く減算を含むこと、
を特徴とする請求項19から請求項38のいずれかに記載の三次元画像化方法。
JP2000521393A 1997-11-13 1997-11-13 二波長光を用いた三角測量による三次元画像化 Pending JP2001523827A (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/IL1997/000370 WO1999026083A1 (en) 1997-11-13 1997-11-13 Three dimension imaging by dual wavelength triangulation

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001523827A JP2001523827A (ja) 2001-11-27
JP2001523827A5 true JP2001523827A5 (ja) 2005-12-22

Family

ID=11062022

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000521393A Pending JP2001523827A (ja) 1997-11-13 1997-11-13 二波長光を用いた三角測量による三次元画像化

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6765606B1 (ja)
EP (1) EP1031047A1 (ja)
JP (1) JP2001523827A (ja)
AU (1) AU4882797A (ja)
WO (1) WO1999026083A1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE69840608D1 (de) 1998-12-16 2009-04-09 3Dv Systems Ltd Selbsttastende photoempfindliche oberfläche
DE19939617A1 (de) * 1999-08-20 2001-03-29 Deltamed Medizinprodukte Gmbh Vorrichtung und Verfahren zum Herstellen eines dreidimensionalen Objekts
JP4010753B2 (ja) * 2000-08-08 2007-11-21 株式会社リコー 形状計測システムと撮像装置と形状計測方法及び記録媒体
DE10336085A1 (de) * 2003-08-06 2005-03-10 Siemens Ag Bestimmung der Postion eines Transportgutes durch Kombination lokaler, absoluter Positionsmessung und relativer Positionsmessung
US7698068B2 (en) 2004-06-17 2010-04-13 Cadent Ltd. Method for providing data associated with the intraoral cavity
US7963448B2 (en) * 2004-12-22 2011-06-21 Cognex Technology And Investment Corporation Hand held machine vision method and apparatus
US9552506B1 (en) 2004-12-23 2017-01-24 Cognex Technology And Investment Llc Method and apparatus for industrial identification mark verification
US8108176B2 (en) 2006-06-29 2012-01-31 Cognex Corporation Method and apparatus for verifying two dimensional mark quality
US7835015B1 (en) * 2007-03-05 2010-11-16 Kla-Tencor Corporation Auto focus system for reticle inspection
EP2201774A4 (en) * 2007-10-13 2012-02-29 Samsung Electronics Co Ltd APPARATUS AND METHOD FOR GENERATING THREE DIMENSIONAL STEREOSCOPIC IMAGE / VIDEO CONTENT ON TERMINAL FROM LIGHT APPLICATION SCENIC REPRESENTATION
US9734376B2 (en) 2007-11-13 2017-08-15 Cognex Corporation System and method for reading patterns using multiple image frames
US20090287427A1 (en) * 2008-05-16 2009-11-19 Lockheed Martin Corporation Vision system and method for mapping of ultrasonic data into cad space
CA2771727C (en) 2009-11-04 2013-01-08 Technologies Numetrix Inc. Device and method for obtaining three-dimensional object surface data
US8330804B2 (en) 2010-05-12 2012-12-11 Microsoft Corporation Scanned-beam depth mapping to 2D image
US8593644B2 (en) * 2010-12-13 2013-11-26 Southwest Research Institute White light optical profilometer for measuring complex surfaces
TWI480508B (zh) * 2013-09-16 2015-04-11 Ind Tech Res Inst 物體位置資訊的量測方法及裝置
CN103512636B (zh) * 2013-10-24 2016-06-29 江苏大学 一种基于激光扫描的水面检测方法
US10145942B2 (en) * 2015-03-27 2018-12-04 Intel Corporation Techniques for spatio-temporal compressed time of flight imaging
EP3433577B1 (de) 2016-03-22 2020-08-12 Fraunhofer Gesellschaft zur Förderung der Angewand Vorrichtung und verfahren zum verknüpfen von messsignalen aus beleuchtungssignalen
US10799998B2 (en) * 2016-10-17 2020-10-13 Virtek Vision International Ulc Laser projector with flash alignment
US11493633B2 (en) * 2019-02-05 2022-11-08 United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Range-enabled three-dimensional imaging system and associated methods
FR3106404B1 (fr) * 2020-01-22 2022-03-04 Ecole Normale Superieure Paris Saclay Dispositif de detection de reliefs a la surface du sol pour dispositif roulant electrique et dispositif roulant electrique associe

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4264208A (en) * 1978-10-25 1981-04-28 Semperit Aktiengesellschaft Method and apparatus for measuring the surface of an object
US4725146A (en) * 1983-09-30 1988-02-16 Novon, Inc. Method and apparatus for sensing position
US5056914A (en) * 1990-07-12 1991-10-15 Ball Corporation Charge integration range detector
US5057681A (en) * 1990-07-27 1991-10-15 Range Vision Inc. Long range triangulating coordinate finder
US5157451A (en) * 1991-04-01 1992-10-20 John Taboada Laser imaging and ranging system using two cameras
US5434612A (en) * 1992-09-25 1995-07-18 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Duo-frame normalization technique
US5334848A (en) * 1993-04-09 1994-08-02 Trw Inc. Spacecraft docking sensor system
JPH08313215A (ja) 1995-05-23 1996-11-29 Olympus Optical Co Ltd 2次元距離センサ
DE69635891T2 (de) 1995-06-22 2006-12-14 3Dv Systems Ltd. Verbesserte optische kamera zur entfernungsmessung
US6181411B1 (en) * 1997-08-14 2001-01-30 R. Brooks Associates, Inc. Apparatus for inspecting difficult to access objects

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2001523827A5 (ja)
JP3714063B2 (ja) 3次元形状計測装置
CN103053167B (zh) 扫描投影机及用于3d映射的图像捕获模块
US6765606B1 (en) Three dimension imaging by dual wavelength triangulation
JP2002213931A (ja) 3次元形状計測装置および3次元形状計測方法
JPH0355765B2 (ja)
JP2008116919A (ja) 撮像システム、方法及びこれらのアクセサリ
US8437009B2 (en) System and method for three dimensional reconstruction of an anatomical impression
JP2021025914A (ja) 三次元形状測定装置、三次元形状測定方法、三次元形状測定プログラム及びコンピュータで読み取り可能な記録媒体並びに記録した機器
US8261989B2 (en) Method for generating image information
WO2018037604A1 (ja) 画像処理システム及び画像処理方法
JP3818028B2 (ja) 3次元画像撮像装置および3次元画像撮像方法
KR100383816B1 (ko) 적응적 영역분할기를 이용한 3차원 표면 형상 측정 방법및 장치
CN111982022B (zh) 空间结构检测方法及系统
CN113446993A (zh) 测量装置、信息处理装置和计算机可读介质
JPS61198009A (ja) 三次元形状の認識装置
WO2010133921A1 (en) Surface scanning system
JP3538009B2 (ja) 形状計測装置
JPH05340725A (ja) 外観検査装置
JP4028118B2 (ja) 繊維潜り角測定方法およびシステム
JPH0432567Y2 (ja)
WO2003014665A1 (en) Device and method for 3d imaging
KR20020068725A (ko) 3차원 영상 데이터 획득 센서
JP4319738B2 (ja) 繊維潜り角算出方法およびシステム
JPH06109424A (ja) 計測対象物撮像装置