JP2001517316A - フィルタを有するx線検査装置 - Google Patents

フィルタを有するx線検査装置

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Abstract

(57)【要約】 X線検査装置(1)はX線源(2)と、X線検出器(5)と、X線源とX線検出器との間に配置されたX線フィルタ(6)とを含む。該X線フィルタ(6)は、それぞれのフィルタ要素内のX線吸収液体(14)の量を制御することにより調節可能であるX線吸収率を有する複数のフィルタ要素(7)を含み、それぞれのフィルタ要素は第一の端によりX線吸収液体と連通し、それぞれのフィルタ要素は第二の端によりX線透過液体(12)と連通する。X線フィルタは好ましくはそれぞれの行ダクト(11)及び列ダクト(13)の液圧のそれぞれの制御をするために圧力制御システムを設けられる。それぞれのフィルタ要素は好ましくはX線吸収液体とX線透過液体を分離するピストンを設けられる。

Description

【発明の詳細な説明】 フィルタを有するX線検査装置 本発明は − X線源と、 − X線検出器と、 − X線源とX線検出器との間に配置されたX線フィルタとを含み、 − 該X線フィルタは、 − それぞれのフィルタ要素内のX線吸収液体の量を制御することにより調節 可能であるX線吸収率を有する複数のフィルタ要素を含み、 − それぞれのフィルタ要素は第一の端によりX線吸収液体と連通するX線検 査装置に関する。 この種のX線検査装置はフランス国特許出願FR2599886から知られて いる。 知られているX線検査装置は輝度値の両極端の間の差であるX線画像のダイナ ミックレンジを制限するX線フィルタからなる。X線画像はX線源とX線検出器 との間で例えば検査される患者である対象を配置することにより、及びX線源に より出射されたX線により該対象を照射することによりX線検出器上に形成され る。予防しない場合には、X線画像の大きなダイナミックレンジが生ずる。一方 で、例えば肺の組織のような対象のある部分で、X線透過性が高く、他方で、例 えば骨のような対象の他の部分ではX線はほとんど透過しない。故に、更なる予 防策がなされない場合には大きなダイナミックレンジを有するX線画像が発生し 、他方で例えばX線画像の医学的に問題となる情報がずっと小さなダイナミック レンジでの輝度の変化に汚染される。何故ならば、そのようなX線画像の描出の 適切に見ることが可能な低コントラストの詳細を形成することが容 易でなくなるからであり、そのようなX線画像は診断をなすために非常に適切で あるというわけではない。X線画像がビデオカメラによりピックアップされた光 画像に画像増倍器ピックアップ連鎖を用いて変換されるときに、光画像のダイナ ミックレンジは電子画像信号を乱すことなしにビデオカメラにより取り扱いうる 輝度値の範囲よりはるかに大きい。 X線画像のダイナミックレンジを制限するために、知られているX線検査装置 は平行な毛細管の束を設けられたフィルタ要素を有するX線フィルタを含み、そ れらの各々はバルブを介して毛細管の内壁を適切に濡らすX線吸収液体を含むリ ザーバに接続される。毛細管の一つをX線吸収液体で満たすために、問題の毛細 管のバルブが開かれた後に毛細管は毛細管現象によりX線吸収液体で満たされる 。そのような充填された毛細管はその長手方向に概略平行に充填された毛細管を 通過するX線に対して高いX線吸収を有する。バルブは毛細管のX線吸収液体の 量が対象フィルタ要素の低吸収率の部分を通過するX線ビームの一部分が高X線 吸収率に調整され、対象の高い吸収率の部分を通過する、又は鉛のシャッターに より遮られるX線ビームの部分のフィルタ要素は低いX線吸収率に調整される。 知られているX線検査装置のフィルタの調整の変更のためにまず、充填された毛 細管を空にする必要がある。故に磁界を印加することにより毛細管の外に排出さ れる常磁性X線吸収液体が使用される。全ての毛細管が空にされた後に、X線フ ィルタが磁界を不作動にするよう、及びこれらの間を高X線吸収率に調整するた めに、新たなフィルタ調整用のX線吸収液体で見られるよう毛細管のバルブを実 質的に開くことによりあらためて調整される。従って、例えば一秒のような短時 間に、知られたX線装置の調整を変更することはうまくできない。故に、知られ たX線装置は連続したX線画像の形成の間でフィルタの調整を変更する間に高画 像レートで連続X線画像を形成するために適切ではない。 毛細管内のX線吸収液体の量を制御するためにバルブが開かれている間の時間 が正確に制御される必要があるが、例えば慣性や遊びを示すバルブの機械的な駆 動は毛細管内のX線吸収液体の量の正確で迅速な制御を妨げる。 本発明の目的は、知られているフィルタより迅速に調整可能なX線フィルタを 含むX線検査装置を提供することである。 この目的はそれぞれのフィルタ要素は第二の端によりX線透過液体と連通する ことを特徴とする本発明のX線検査装置により達成される。 それぞれのフィルタ要素は部分的にX線吸収液体で充填され、その残りはX線 透過液体で満たされる。本明細書の文脈では、X線透吸収体は例えば鉛塩溶液の ようなかなりX線吸収率を有する液体を意味する。本明細書の文脈ではX線透過 液体は例えば油のような全く、又はほとんどX線を吸収しない液体を意味する。 それぞれのフィルタ要素のX線吸収液体の量は例えば、X線吸収及びX線透過液 体の圧力に基づき、流体圧力的に制御される。非常に少ない可動部品しか要求さ れない故に、X線フィルタの調整を変更するために非常に短時間しか要求されな い。液圧に基づくX線吸収液体の量の制御はまた知られたX線フィルタと比較し て、より早い応答時間を提供する。 本発明のこれら及び他の特徴は従属請求項に規定される実施例を参照して詳細 に説明される。 フィルタ要素は好ましくはマトリックスに配置される。それぞれのフィルタ要 素はそれぞれ列ダクト及び行ダクトの交差で配置される。行ダクト及び列ダクト は行方向及び列方向の液体ダクトである。 行及び列方向は通常相互に実質的に直交するよう延在する異なる方向である。行 及び列という用語はX線フィルタの動作に影響することなく相互交換可能である ことは明らかである。問題の列ダクトと問題の行ダクトの液圧との間の差に基づ き、問題のフィルタ要素が 満たされたか否か、又は問題のフィルタ要素のX線吸収は液圧に基づいて調整さ れるために多少のX線吸収液体で満たされる。それへの所定の適切な液圧を印加 するために、与えられた列ダクト及び与えられた行ダクトを選択することにより 、問題の行ダクト及び列ダクトの交差でフィルタ要素が選択され、そのなかのX 線吸収液体の量が制御される。 更にまた両端で圧力制御システムに行及び/又は列ダクトを接続することが好 ましい。従って、ダクトでの若干の圧力低下の発生するだけで、フィルタ要素が 迅速かつ正確に所望のX線吸収率に簡単に調整される。行及び列のダクトが相互 に概略60°の角度をなすことが好ましい。フィルタ要素は稠密に詰まった六角 形のパターンを形成する。表面領域のユニット毎に多数のフィルタ要素からなる フィルタは円形の断面を有する円箇形フィルタにより実現される。 行及び/又は列ダクトの圧力は圧力制御システムにより制御されるバルブを用 いて相互に独立に制御され、この場合に隣接するフィルタ要素のような各々の間 の相互の影響はほとんど存在しない。X線フィルタにより短距離にわたる変動を 有するX線吸収の空間分布を形成することが非常に良好に可能となり、これはX 線フィルタが高空間解像度を有することを意味する。 多数のバルブがフィルタ要素の数の平方根に近い量だけ必要とされる。斯くし て、例えば高空間解像度を達成するために、極めて大量のフィルタ要素が用いら れた場合でも、必要とされるバルブの数はなお適切な範囲である。例えば数万の フィルタ要素からなるX線フィルタは数百のバルブのみを必要とする。 好ましくは、X線吸収液体はピストンによりそれぞれのフィルタ要素でX線透 過液体から分離される。ピストンはX線透過液体とX線吸収液体との混合を防ぐ 。故に、これらの液体の親和性は極めて小さくなくても良い。更にまた、そのよ うなピストンはフィルタ要素が液体の一つで完全に満たされたときに問題のフィ ルタ要素を行 ダクトから又は列ダクトから隔離する。ピストンとフィルタ要素の壁との間の摩 擦の故に、X線フィルタの調整は維持され、液圧を連続的に印加する必要はない 。X線フィルタの設計のために、液圧はピストンと壁との間の摩擦を克服すると いう事実が考慮される。 好ましくはコーティング層はX線フィルタの問題のフィルタ要素の壁に向いた システムの部分に特に設けられる。コーティング層の使用の結果として、壁とピ ストンの間の液漏れを防ぐことが達成される。特に酸化アルミニウム(Al23 )及びポリイミドがそのようなコーティング層を形成するために適切な材料であ る。 高空間解像度は好ましくは約5mmより小さな断面を有するフィルタ要素であ る小さなフィルタ要素により達成される。 混合しない又はほとんど混合しないX線吸収液体とX線透過液体を用いること により、2つの液体の混合は自然に回避され、それによりピストンのシール作用 に関して付与されるべき要求はより緩和される。ピストンをなくすることさえも 可能となる。 本発明のこれらの及び他の特徴は以下に図面を参照して実施例による詳細な説 明により明らかとなる。 図1は本発明によるX線検査装置1の概略を示す。 図2は本発明によるX線検査装置のX線フィルタの概略を示す。 図1は本発明によるX線検査装置1の概略を示す。X線源2は対象4を照射す るためにX線ビーム3を出射する。例えば放射線的に検査される患者のような、 対象4のX線吸収の差の結果としてX線画像がX線源と対向するX線検出器5の X線検知面15上に形成される。高電圧電源ユニット51は高電圧をX線源2に 供給する。本実施例のX線検出器5は画像増倍器ピックアップ連鎖であり、これ はX線画像を出射窓17上で光画像に変換するX線画像増倍器16を含み、また 光画像をピックアップするビデオカメラ18を含む。 入射スクリーン19は入射X線を電子光システム20により出射窓 上に画像化される電子ビームに変換するX線画像増倍器のX線感応面として動作 する。入射電子は出射窓17の蛍光層22上の光画像を発生する。ビデオカメラ 18は例えばレンズ系又は光ファイバー結合のような光結合22によりX線画像 増倍器16に結合される。ビデオカメラ18は光画像から電子画像信号を得、該 画像信号はX線画像の画像情報を視覚化するためにモニタ23に印加される。電 子画像信号はまた更なる処理のために画像処理ユニット24に印加される。 X線源2と対象4との間で、X線ビームの局部的な減衰用のX線フィルタ6が 配置される。X線フィルタ6のそれぞれのフィルタ要素7のX線吸収率は調整ユ ニット50により調整される。調整ユニット50は高電圧電源ユニット51に結 合され、それによりX線フィルタ6がX線源により出射されたX線ビーム3の強 度に基づいて調整される。 図2は本発明によるX線検査装置のX線フィルタの概略を示す。X線フィルタ はX線透過液体12で満たされた概略平行な行ダクト11のシステムを含む。X 線フィルタはまたX線吸収液体14で満たされた概略平行な列ダクト13のシス テムを含む。行ダクトは示された例では列ダクトに概略直交する。適切なX線吸 収液体は例えば脱ミネラル水中の硝酸鉛、ジチオネート(dithionate )鉛又は過塩素酸鉛のような鉛塩の溶液、液体水銀である。適切なX線透過液体 は例えば水とほとんど混合しない油である。毛細管の形のフィルタ要素7はフィ ルタ要素が行ダクト11に端30により接続され、列ダクト13の他の端31に より接続される度毎に行ダクト11と列ダクト13との間に設けられる。より詳 細には、それぞれの毛細管は第一のバルブ32により、問題の行ダクト11を介 して第一のポンプ41に接続され、第二のバルブ33により、問題の列ダクト1 3を介して第二のポンプ42に接続される。毛細管のそれぞれはX線透過液体か ら分離するようX線吸収液体を保持す るピストン34を設けられる。毛細管は約1mmの寸法を有する断面を有する。 例が図2に示されるピストンは小さなボールにより形成されるが、ほかのもので もピストンとして用いうる。ピストンは問題の毛細管に正確に適合され、それに より毛細管の壁とピストンの間でのX線透過液体、X線吸収液体の漏洩が回避さ れる。ピストンは例えばガラス、酸化アルミニウム(Al23)、二酸化シリコ ン(SiO2)のような無機酸化物、又はポリカーボネートのようなポリマーで ある。 液体に対する適切なシーリング及び/又は適切な摩擦の程度を達成するために ピストンに例えば酸化アルミニウム(Al23)又はポリイミドの層をコーティ ングすることが好ましい。行ダクト11及び列ダクトは圧力制御システム40に 接続される。圧力制御システムは第一のポンプ41、これを介して第一のポンプ 41がそれぞれの行ダクト11に接続される行バルブ32、これを介して第二の ポンプ43がそれぞれの列ダクト13に接続される列バルブ33を含む。好まし くは電子的に制御可能な行及び列バルブが用いられる。ポンプ41、42及び列 及び行バルブ31、32は制御ユニット43により制御される。この目的のため に制御ユニット43はバス接続44、45を介して行及び列バルブの制御入力に 接続される。更にまた、制御ユニットはポンプ41、42の制御入力に接続され る。しかしながら、2つの別のポンプの代わりに、単一のポンプを用いることが 可能であるが、この場合には制御ユニット43は行バルブ32は、列ダクト13 が加圧されたときのみ閉鎖され、列バルブ33は、行ダクト11が加圧されたと きのみ閉鎖される。それぞれの行及び列のダクトのX線吸収液体及びX線透過液 体がポンプ、制御ユニット43、行及び列バルブにより加圧される。毛細管内の X線吸収液体は問題の毛細管が接続された行及び列ダクトの液圧に基づいて調整 される。ポンプ41、42及び制御ユニット43は調整ユニット50の一部分を 形成する。時間の小さな部分のみがX線 フィルタを調整するためにバルブを開き、ピストンを液圧の影響下で変位するた めに要求される。X線フィルタは液圧に依存して40から50ms又は10ms 以内でも調整可能である。X線フィルタの調整は図2に示されている例では行ダ クト11であるX線透過液体を含むダクトの全てのバルブを開くことにより容易 に取り消すことが可能である。 毛細管はX線ビームに概略平行に延在する。5モルの鉛塩溶液及び概略5から 6mmの長さを有する毛細管を用いることにより、X線ビームの100倍の減衰 が達成され、それぞれの毛細管のX線吸収は20倍変更可能である。 円筒形ピストンもまたボール型の代わりに使用可能である。そのような円筒形 ピストンは毛細管の壁に関してしばしば若干より摩擦を有する。この摩擦の故に 、ピストンは液圧が加わるまでそのそれぞれの位置にとどまる。 行及び列ダクトは化学的なエッチングによりガラス、水晶、シリコン又はポリ マーの板で比較的簡単に形成される。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 フォッキンク,ランベルトゥス ヘー イ ェー オランダ国,5656 アーアー アインドー フェン プロフ・ホルストラーン 6

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1. − X線源と、 − X線検出器と、 − X線源とX線検出器との間に配置されたX線フィルタとを含み、 − 該X線フィルタは、 − それぞれのフィルタ要素内のX線吸収液体の量を制御することにより調節 可能であるX線吸収率を有する複数のフィルタ要素を含み、 − それぞれのフィルタ要素は第一の端によりX線吸収液体と連通するX線検 査装置であって、 − それぞれのフィルタ要素は第二の端によりX線透過液体と連通することを特 徴とするX線検査装置。 2. − フィルタ要素はマトリックス構成の行及び列に配置され、 − フィルタ要素は第一の端でX線吸収液体を含む行ダクトと行毎に連通し、 − フィルタ要素は第二の端でX線透過液体を含む列ダクトと列毎に連通し、 − それぞれの行ダクト及びそれぞれの列ダクトで独立に液圧を調整する圧力制 御システムを設けられた ことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 3. − それぞれの行ダクト及びそれぞれの列ダクトはそれぞれバルブを設けられ、 − 圧力制御システムはバルブを制御するために配置される ことを特徴とする請求項2記載のX線検査装置。 4. − それぞれのフィルタ要素はX線吸収液体をX線透過液体から分離するために ピストンを設けられる ことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 5. − ピストンはコーティング層を設けられる ことを特徴とする請求項4記載のX線検査装置。 6. − それぞれのフィルタ要素は5mmより小さな径の断面を有する円筒により形 成される ことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 7. − X線吸収液体及びX線透過液体はほとんど混和しない ことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016113906A1 (ja) * 2015-01-16 2016-07-21 三菱重工業株式会社 放射線照射装置

Families Citing this family (24)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000038198A1 (en) * 1998-12-22 2000-06-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus
WO2001029846A1 (en) * 1999-10-18 2001-04-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray apparatus including a filter with filter elements having an adjustable absorptivity
EP1153399A1 (en) * 1999-12-08 2001-11-14 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray apparatus with filter comprising filter elements with adjustable x-ray absorption and x-ray absorption sensor
DE19962281A1 (de) * 1999-12-23 2001-06-28 Philips Corp Intellectual Pty Röntgenuntersuchungsgerät
JP2003522328A (ja) * 2000-02-04 2003-07-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 調節可能な吸収を有するフィルタ要素が備えられたフィルタを有するx線装置
JP2003531386A (ja) 2000-04-17 2003-10-21 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 動的に調整可能な吸収率を有するフィルタを備えたx線機器
WO2002025671A1 (en) * 2000-09-21 2002-03-28 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination device comprising a manually adjustable filter
US6920203B2 (en) * 2002-12-02 2005-07-19 General Electric Company Method and apparatus for selectively attenuating a radiation source
US7254216B2 (en) * 2005-07-29 2007-08-07 General Electric Company Methods and apparatus for filtering a radiation beam and CT imaging systems using same
US7400434B2 (en) * 2005-08-16 2008-07-15 C-Rad Innovation Ab Radiation modulator
US7308073B2 (en) * 2005-10-20 2007-12-11 General Electric Company X-ray filter having dynamically displaceable x-ray attenuating fluid
US8129701B2 (en) * 2007-02-27 2012-03-06 Al-Sadah Jihad H Areal modulator for intensity modulated radiation therapy
DE102008055921B4 (de) * 2008-11-05 2010-11-11 Siemens Aktiengesellschaft Modulierbarer Strahlenkollimator
DE102011087590B3 (de) 2011-12-01 2013-06-06 Siemens Aktiengesellschaft Konturkollimator mit einer für Röntgenstrahlung undurchlässigen Flüssigkeit und zugehöriges Verfahren
DE102012206953B3 (de) 2012-04-26 2013-05-23 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter und Verfahren zur adaptiven Schwächung einer Röntgenstrahlung
DE102012207627B3 (de) * 2012-05-08 2013-05-02 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
DE102012209150B3 (de) 2012-05-31 2013-04-11 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Röntgenfilter und Verfahren zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
US9241679B2 (en) * 2012-06-26 2016-01-26 Siemens Aktiengesellschaft Method and apparatus for filtering high-frequency electromagnetic beams and irradiation apparatus or device for irradiating an object
DE102012217616B4 (de) * 2012-09-27 2017-04-06 Siemens Healthcare Gmbh Anordnung und Verfahren zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
DE102012223748A1 (de) * 2012-12-19 2014-06-26 Siemens Aktiengesellschaft Adaptives Bow-Tie-Röntgenfilter und Verfahren zur Veränderung der lokalen Intensität einer Röntgenstrahlung
US9431141B1 (en) * 2013-04-30 2016-08-30 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Reconfigurable liquid attenuated collimator
US9615812B2 (en) 2013-06-19 2017-04-11 Koninklijke Philips N.V. Calibration of imagers with dynamic beam shapers
DE102015200431B4 (de) * 2015-01-14 2023-02-23 Siemens Healthcare Gmbh Blendenanordnung für ein Röntgengerät und zugehöriges Röntgengerät
US11235173B2 (en) * 2017-03-07 2022-02-01 Yossi Haran Intensity modulation device and methods for radiation therapy, radiation surgery and diagnostics

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4335327A (en) * 1978-12-04 1982-06-15 The Machlett Laboratories, Incorporated X-Ray tube target having pyrolytic amorphous carbon coating
US4972458A (en) * 1986-04-14 1990-11-20 The University Of Rochester Scanning equalization radiography
FR2599886B1 (fr) * 1986-06-06 1988-08-19 Thomson Csf Dispositif d'affichage d'image a fluide paramagnetique et son utilisation pour la realisation de filtres spatiaux de rayons x en imagerie medicale
FR2601544A1 (fr) * 1986-07-08 1988-01-15 Thomson Csf Diaphragme pour faisceau de radiations electromagnetiques et son utilisation dans un dispositif de collimation de ce faisceau
WO1996000967A1 (en) * 1994-06-30 1996-01-11 Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus comprising a filter
JP3663212B2 (ja) 1994-10-25 2005-06-22 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ フィルターを有するx線装置
WO1997003449A2 (en) 1995-07-13 1997-01-30 Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus comprising a filter
WO1997003450A2 (en) 1995-07-13 1997-01-30 Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus comprising a filter
WO1997030459A1 (en) 1996-02-14 1997-08-21 Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus with x-ray filter
WO1997038629A1 (en) * 1996-04-15 1997-10-23 Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus including a collimator
JP2000504424A (ja) * 1996-11-12 2000-04-11 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線フィルタを含むx線検査装置
WO1998052468A2 (en) * 1997-05-23 1998-11-26 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus including a filter
JP2001509899A (ja) * 1997-10-06 2001-07-24 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ X線フィルタを含むx線検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2016113906A1 (ja) * 2015-01-16 2016-07-21 三菱重工業株式会社 放射線照射装置

Also Published As

Publication number Publication date
WO1999038172A3 (en) 1999-09-30
EP0970479B1 (en) 2003-06-04
EP0970479A2 (en) 2000-01-12
WO1999038172A2 (en) 1999-07-29
DE69908494D1 (de) 2003-07-10
US6188749B1 (en) 2001-02-13
DE69908494T2 (de) 2004-05-06

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