JP2001507867A - 半導体装置用セラミックコンポジットワイヤ構造体及び製造方法 - Google Patents

半導体装置用セラミックコンポジットワイヤ構造体及び製造方法

Info

Publication number
JP2001507867A
JP2001507867A JP53025098A JP53025098A JP2001507867A JP 2001507867 A JP2001507867 A JP 2001507867A JP 53025098 A JP53025098 A JP 53025098A JP 53025098 A JP53025098 A JP 53025098A JP 2001507867 A JP2001507867 A JP 2001507867A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
composite structure
network
conductor
dielectric
ceramic
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
JP53025098A
Other languages
English (en)
Inventor
デロシェモント,エル.ピエール
ファーマー,ピーター,エイチ.
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of JP2001507867A publication Critical patent/JP2001507867A/ja
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/48Manufacture or treatment of parts, e.g. containers, prior to assembly of the devices, using processes not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326
    • H01L21/4814Conductive parts
    • H01L21/4846Leads on or in insulating or insulated substrates, e.g. metallisation
    • H01L21/4857Multilayer substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/367Cooling facilitated by shape of device
    • H01L23/3677Wire-like or pin-like cooling fins or heat sinks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/34Arrangements for cooling, heating, ventilating or temperature compensation ; Temperature sensing arrangements
    • H01L23/36Selection of materials, or shaping, to facilitate cooling or heating, e.g. heatsinks
    • H01L23/373Cooling facilitated by selection of materials for the device or materials for thermal expansion adaptation, e.g. carbon
    • H01L23/3735Laminates or multilayers, e.g. direct bond copper ceramic substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/488Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
    • H01L23/498Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers
    • H01L23/49833Leads, i.e. metallisations or lead-frames on insulating substrates, e.g. chip carriers the chip support structure consisting of a plurality of insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/58Structural electrical arrangements for semiconductor devices not otherwise provided for, e.g. in combination with batteries
    • H01L23/64Impedance arrangements
    • H01L23/642Capacitive arrangements
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68377Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support with parts of the auxiliary support remaining in the finished device
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/10Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/15Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
    • H01L2224/16Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L2224/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/45001Core members of the connector
    • H01L2224/45099Material
    • H01L2224/451Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
    • H01L2224/45138Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof the principal constituent melting at a temperature of greater than or equal to 950°C and less than 1550°C
    • H01L2224/45147Copper (Cu) as principal constituent
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/4847Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond
    • H01L2224/48472Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a wedge bond the other connecting portion not on the bonding area also being a wedge bond, i.e. wedge-to-wedge
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/44Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
    • H01L24/45Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01015Phosphorus [P]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01078Platinum [Pt]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/095Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00 with a principal constituent of the material being a combination of two or more materials provided in the groups H01L2924/013 - H01L2924/0715
    • H01L2924/097Glass-ceramics, e.g. devitrified glass
    • H01L2924/09701Low temperature co-fired ceramic [LTCC]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/12Passive devices, e.g. 2 terminal devices
    • H01L2924/1204Optical Diode
    • H01L2924/12042LASER
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/11Device type
    • H01L2924/14Integrated circuits
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/15Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/181Encapsulation
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/19Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1901Structure
    • H01L2924/1904Component type
    • H01L2924/19041Component type being a capacitor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Cooling Or The Like Of Semiconductors Or Solid State Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 少なくとも一体の半導体装置(16)と共に使用するコンポジットワイヤ構造体(10)が開示されている。コンポジットワイヤ構造体は半導体装置を通電状態で搭載させることができる第1導電部材(12)を含んでいる。セラミックあるいは有機セラミック‐セラミックコンポジット材料で提供される誘電部材(20)は第1導電部材(12)にボンドされており、埋設された導電ネットワーク(24)と熱分散ネットワーク(26)とを含んでいる。第2導電部材(32)の利用も可能である。キャパシタ(64)は導電ネットワーク(24)と第2導電部材(32)との間で電気的に接続される。誘電部材と導電部材との間には、導電ネットワークと熱分散ネットワークとの構造一体性に悪影響を及ぼすことのない温度にて直接共有結合が提供される。

Description

【発明の詳細な説明】 半導体装置用セラミックコンポジットワイヤ構造体及び製造方法 関連出願 本願は1996年12月30日出願の米国特許仮出願第60/033983号 の優先権を主張する。 発明の背景 本願発明は一般的に回路ワイヤボードに関し、特には、セラミックコンポジツ ト回路ワイヤボード(ceramic compsite circuit wiring board)及び/又はマルチ チップ型モジュール(multichip module)並びにそれらの製造方法に関する。 半導体集積回路("SIC")あるいは半導体チップはデータの高速処理及び大量 処理を目的として開発されている。この目的のため、半導体チップと大型電子シ ステムとの電気コネクションは益々過密化してきている。この超大型集積傾向は SICの物理的サイズに影響を及ぼさずにはいない。限られた空間に大量の電気 コネクションを必要とするSICは技術的限界に近づいており、SICの性能は チップを大型電子システムに接続する回路ボード/パッケージの技術限界によっ て益々限定されつつある。 一般的には、SICをプリント回路ボード("PCB")に電気的に接続させるリ ードフレームが利用されており、それらチップとリードフレームをセラミックラ ミネートパッケージ化させている。パッケージされたSICはPCBにソケット 接続される。PCBはSICを大型電子システムに電気的に接続する。近年のさ らに複雑化したSICは以前にも増して大量の熱を発生させる。この熱はSIC から発散されないかぎり回路の性能を低下させる。ロバストリードフレーム(rob ust lead frame)は電気コネクションとヒートシンクとの両方の機能を発揮する が、リードの密度が増大しているため、個別のリードの物理的寸法は縮小されな ければならない。縮小されたリードはヒートシンクとして の機能が急激に低下する。このため、システム製造業者はSICに取り付けた非 常に大型のヒートシンクを介して熱を放散させなければならず、小型化の要求に 充分に応えられない。 加えて、さらに複雑化しているSICの作動速度はプリント回路ボードによっ て規制される。従来のPCBは電気信号を、半導体チップを搭載しているPCB 表面にパターン化されている電極ネットワークを介してシステムとSICとの間 で交信させている。SICを高速作動させるには、半導体チップと電子システム との接続は低抵抗でなければならない。低抵抗電気接触は電極長を短縮させ、電 極抵抗を減少させることで提供される。短い電極は表面にパターン化されたもの よりも回路ボード内に電気コネクションネットワークを埋設(embed)させること で提供される。従来には、多層セラミックコンポジットプリント回路ボードを回 路ボードに埋設された電気コネクションネットワークで構築させていた。しかし 、この方法には限界があった。なぜなら、埋設電極ネットワークは、導電性金属 ワイヤよりも電気抵抗が一段と高い金属膜あるいは導電性ペースト、またはそれ ら両方で提供されているからである。高信号周波数での低抵抗は、低誘電率の材 料でワイヤボードを形成させることでも提供されてきた。従って、シリカあるい はアルミナのごとき低誘電性セラミック内に埋設された導電性金属の電極ネット ワークで成り、SICによって発生される熱を放散させるためにそのセラミック 内に埋設されたヒートシンクを含む回路ワイヤボードとマルチチップモジュール のデザインが望ましい。 関連する従来技術には以下記載の特許が存在する。フジタ他の米国特許第53 96034号は、薄膜セラミック多層ワイヤハイブリッドボードの製法を開示す る。ボンハム他の米国特許第5396032は2セットのリードフレームを含ん だマルチチップモジュール("MCM")の構造を開示する。その一方は入力/出力ボ ンドパッドを供給し、他方は独立セットであり、そのMCMの孔部内でサブスト レート(基板)に搭載された装置(パッドにワイヤボンドされている)を隔離さ せてその性能検査に使用が可能なテストピンへの電気コンタクトを提供する。M CMパッケージを提供する材料はセラミック、プラスチック、ラミネート、ある いは金属であるが、装置を搭載するサブストレートは内蔵電 気コンタクトやヒートシンクを含まない。ウィーザの米国特許第5375039 号はボードに搭載されたパワーユニットからの熱をヒートシンクに伝達させる内 蔵ヒート放散手段を備えたプリント回路ボードの構造を開示する。このプリント 回路ボードのコアはガラス繊維布で提供されている。チョボット他の米国特許第 5363280号は多層セラミック回路ボードの製造方法を開示する。複数の金 属膜層が電極ネットワークとして作用し、ヒートシンクとして機能する他の金属 膜層とは分離されている。オオタキ他の米国特許第5300163号は多層セラ ミック回路ボードの製造プロセスを開示する。この回路ボードはセラミック基板 (サブストレート)と、導電性ペーストパターンが内蔵されたグリーンテープの 多層部と、層間を電気的に接続させる導電性ペーストが提供されたバイアホール とを含んでいる。チェルクリ他の米国特許第5256469号は、セラミックグ リーンテープと、低温高膨張性のガラスセラミックのシステムとを使用して製造 される多層共焼成セラミックオンメタル回路ボード(co-fired ceraomic-on-meta l circuit board)を開示する。キャップ他の米国特許第5113315号はセラ ミック回路ボード構造体の製法を開示する。セラミック部材内にレーザでホール を設け、金属デポジション技術を利用してそれらのホールを導電金属で充填する ことでセラミック部材に熱放散延長体が埋設される。プロンスキーの米国特許第 4679321号は、集積回路を搭載する主表面とは反対側のボードサブストレ ートの外面上で共軸ワイヤコネクションを備えたコネクションボードを製造する 方法を開示する。ウシフサ他の米国特許第4598167号は複数の集積的にボ ンドされたセラミック層で成る多層セラミック回路ボードを開示する。それぞれ のセラミック層はパターン化された導電性ペースト層と、それぞれのセラミック 層上のパターン化導電性ペースト層を接続して所定のワイヤ回路を提供するため の導電物体が充填されたスルーホールとを有している。タケウチの米国特許第4 551357号はセラミック回路ボード製造法を開示する。これは有機性バイン ダーで、グリーンステートセラミック表面上の有機体含有導電性ペーストから形 成された回路パターンを焼成させるステップを含んでいる。 本願発明の1目的は、SIC性能を向上させるコンポジットワイヤ構造体を 提供することである。 本願発明の別目的は、コンポジット構造体内の圧縮ストレス及びせん断ストレ スを低減させることである。 本願発明の別目的は、その誘電部材がセラミックあるいは有機セラミックコン ポジットであるコンポジット回路ワイヤボード構造体を提供することである。 本願発明の別目的は、SIC用の優れた性能を備えたセラミックコンポジット ワイヤ構造体と、その製造方法を提供することである。 発明の概要 本願発明の前述の目的及び他の目的並びに利点は、以下に説明する本願発明の 好適実施態様によって達成される。 これら好適実施態様はコンポジット回路ワイヤ構造体を含んでいる。この構造 体は誘電部材の1面に電極を備えており、半導体集積回路("SIC")はそれら電 極と電気的に接触するように提供される。それら電極は誘電セラミック部材内の 電気コネクションネットワークを介して外部の入力/出力信号ドライバと電気的 に接触する。 好適実施態様では、誘電部材が埋設熱分散ネットワークをも含んでいるコンポ ジット回路ワイヤ構造体が提供される。 好適実施態様では、誘電部材の1表面に電極を備えたコンポジット回路ワイヤ 構造体が提供され、少なくとも1体のSICが搭載エリアに配置され、導電ワイ ヤ手段を介して少なくとも1つの電極と電気的に接触している。 好適実施態様では、回路ワイヤボードの誘電部材と埋設電気コネクションネッ トワークまたは埋設熱分散ネットワークとの間の熱によって発生される圧縮スト レスあるいはせん断ストレスが、湾曲ジョイントのネットワークの利用によって 低減される。 本願発明はさらに、回路ワイヤボードの誘電部材と埋設電気コネクションネッ トワークまたは埋設熱分散ネットワークとの間の熱によって発生される圧縮スト レスあるいはせん断ストレスを、それらネットワークをセラミック部材に埋設さ せる前に高温分解温度で有機系樹脂をそれらネットワークに適用するこ とで低減させる。 本願発明はさらに、コンポジットワイヤ構造体の誘電部材とのブロックキャパ シタの利用をも可能にしている。 本願発明はさらに、前出の実施態様を、コンポジットワイヤ構造体の誘電部材 としてのセラミックあるいは有機セラミック材料で構築させる。 さらに特定するならば、本願発明の好適実施態様は、セラミック部材の1面上 に電極を備えた誘電(セラミックあるいは有機セラミック)コンポジット回路ワ イヤボードに関している。ここで、半導体集積回路は("SIC")はそれら電極と 直接的電気接触状態に置かれる。SICは、好適には銅ワイヤである導電ワイヤ で成る電気コネクションネットワークを介して回路ボード面上の他の電極と電気 接触している他のSICと電気接触しており、及び/又は、セラミック回路ワイ ヤボードと電気接触している外部入力/出力信号ドライバと電気接触している。 この電気接触は、回路ワイヤボードのさらに別の電極を介し、あるいは、電気コ ネクションネットワークと電気接続状態で、回路ワイヤボードの誘電部材の副表 面を通過して突起する導電ワイヤの一部を介して提供される。この誘電部材は、 金属等の長形熱伝導材料で形成されたヒートシンクの埋設熱分散ネットワーク、 または、熱吸収液が循環する中空管体をも含んでいる。この埋設熱分散ネットワ ークはSICとの直接電気接続を提供する電極の周囲で非直接接触状態にて提供 されており、埋設ヒートシンクの熱ポイントはセラミック部材の副表面を貫通し て延びており、別のヒートシンクあるいは回路ワイヤボードの外側に提供された 熱貯蔵体と熱的に接触する。 1例を挙げると、誘電部材はアルミン酸塩あるいはケイ酸塩セラミック相を含 んでいる。シリカセラミック相は高信号周波数での誘電損失メカニズムを介した 信号減衰のレベル低減に特に好適である。別の金属部材が、SICを電極に接触 させている主表面とは反対側の回路ワイヤボードのセラミック部材の主表面にボ ンドされている。本願発明はさらに、低温処理法による回路ワイヤボード構造の 製造法をも含んでいる。 成型材料、搭載サポート及びベース金属材料を液体プレカーサで充填し、化学 反応でその液体プレカーサを対応固相セラミックに変成させる溶液プレカー サの使用でセラミックはネットワークアセンブリ周囲に形成される。 好適には、本願発明は金属有機プレカーサ(metalorganic precursor)の使用を 想定する。そのセラミック酸化物への金属プレカーサを、例えば2−エチルヘキ サン酸のごときカルボキシル酸でまず反応させ、有機酸溶液内でカルボキシル酸 の塩溶液を準備する。しかし、ゾル-ゲル技術(sol-gel technique)のごとき他の 溶液処理技術でも利用が可能であり、本願発明の精神と範囲に含まれる。 液体プレカーサで充填されたエリアは変成化学反応が完了した後にセラミック で満たされる。以下に述べるように、この変成化学反応はセラミックをネットワ ークアセンブリ、金属部材、及びボーダーの成型材料の壁及び/又は搭載サポー トにボンドさせる。溶液の液体特性によってプレカーサ材料はネットワークアセ ンブリを均等に包み込む。金属有機プレカーサが使用されるとき、熱分解作用に よってカルボキシル酸の塩は対応する金属酸化物に分解する。不安定な金属酸化 物基(radical)も他の分解している金属酸化物基と結合してセラミックネットワ ークを形成する。 分解(あるいは不都合な反応)産物は除去されているため、固相セラミックの 体積部分は溶液プレカーサ容積よりも小さい。従って、通常は非常に粘性が高い 固体含有量の大きなプレカーサ溶液の利用が有利である。あるいは、プレカーサ が既に加熱されているアセンブリ上にスプレーピロリシス(spray pyrolysis)さ れる場合のようにプレカーサを熱処理(pyrolyze)する。 スプレーピロリシス作用は、セラミックプレカーサが利用され、同時的にセラ ミックに形成される場合よりも、プレカーサ溶剤や分解産物のごとき不都合な反 応副産物を各段に速く物理的に排除する。 よって、スプレーピロリシスは固相状態のセラミックの高体積部分にそれが適 用されているエリアを占領させる。 本願発明は、もし望まれるなら、溶解金属有機セラミックプレカーサの不完全 分解を介して有機セラミック誘電体の形成をも提供する。本願発明は、金属ブレ カーサをカルボキシル酸溶剤と直接的あるいは間接的に反応させ、カルボキシル 酸内に溶解したカルボキシル酸の塩溶液を提供することで金属有機プレ カーサを製造する。2‐エチルヘキサン酸は好適な溶剤であり、210℃の引火 点を有している。2‐エチルヘキサン酸塩プレカーサ塩は典型的には、塩の金属 の化学性質によって異なるが、225℃から375℃以上の範囲で分解を開始す る。通常、熱分解は400℃から475℃以上で完了する。コンポジット有機セ ラミック誘電体は、溶解カルボキシル酸の塩の当初分解温度(225℃から37 5℃)以上であって、その塩の有機リガンドが完全に分解する温度(400℃か ら475℃)以下に加熱された回路ワイヤボードアセンブリ上で溶液をスプレー ピロリシスさせることで形成が可能である。スプレーピロリシス中に、カルボキ シル酸は蒸発し、本来場所で分解するワックス状のカルボキシル酸の塩を積層さ せる。回路ワイヤボードアセンブリが適当な温度に加熱されると、得られた誘電 材料は不完全に分解した有機材料で充分に燃焼したマトリックスであり、有機セ ラミック誘電部材を製造する。 本願発明の別実施例は、電極と搭載エリアをセラミック部材の主表面上に含ん だ金属部材で成る誘電(例えば、“純粋”なセラミックあるいは有機セラミック )コンポジット回路ワイヤボードに関する。少なくとも1つのSICは搭載エリ アに配置され、導電ワイヤ手段を介して少なくとも1つの電極と電気的に接触す る。SICは電気コネクションネットワークを介して誘電回路ワイヤボードの主 表面上の他の電極と電気接触にある他のSICと、あるいは回路ワイヤボードの 主表面上のさらに別の電極を介して、または電気コネクションネットワークと接 続状態であり、回路ワイヤボードの誘電部材の副表面を貫通して突起する、好適 には銅ワイヤである導電ワイヤの一部を介して誘電回路ワイヤボードと電気接触 する外部入力/出力信号ドライバと電気接触状態にある。誘電部材は埋設熱分散 ネットワークをも含んでいる。このネットワークは、金属のごとき長形導熱材料 で形成されたヒードシンク、あるいは、熱吸収性液体が内部を循環する中空管体 を含んでいる。この熱分散ネットワークは搭載エリアを介してSICと熱的接触 状態にあっても、熱的接触状態になくても構わない。埋設ヒートシンクの熱ポイ ントは誘電部材の副表面を貫通して突起し、回路ワイヤボードの外側に提供され る熱貯蔵体と熱的に接触している。この誘電部材はアルミン酸塩あるいはケイ酸 塩セラミック相で提供されている。別の金 属部材が、SICを搭載エリアと電極とに接触させている主表面と反対側の回路 ワイヤボードの誘電部材の主表面にボンドされている。 2方法が本願発明に採用されており、誘電部材と埋設ネットワーク構造体上へ のストレスの悪影響を低減させる。一方の方法では、埋設ネットワーク構造体の デザインによる鋭利なエッジ構造の結果である高ストレスポイントを湾曲させる 。ネットワーク構造体がL形ジョイントやT形ジョイントではなく曲線でデザイ ンされると、ストレスは円弧に沿って均等に配分され、ネットワークの鋭利なポ イントにストレスを集中させない。他方の方法では、圧縮圧力は、金属(銅)ワ イヤをコーティングして電気コネクションネットワークを形成させ、ヒートパイ プをコーティングして有機樹脂での熱分散ネットワークを形成させることで低減 される。 本願発明及び他の目的のさらなる理解を助けるため、以下において添付の図面 を利用して本願発明を解説する。しかしながら、本願発明のスコープは末尾の「 特許請求の範囲」に記載されたものである。 図面の簡単な説明 図1Aは本願発明の誘電コンポジットワイヤ構造体の1好適実施例の平面図で ある。 図1Bは図1Aに示す好適実施例の正面図であり、一部は断面で示されている 。 図2Aは本願発明の誘電コンポジットワイヤ構造体の別好適実施例の平面図で ある。 図2Bは図2Aに示す好適実施例の正面図であり、一部は断面で示されている 。 図3A(分解図)、図3B及び図3Cは本願発明の誘電コンポジットワイヤ構 造体の製造方法を詳細に示している。 図3D(分解図)、図3E及び図3Fは本願発明の誘電コンポジットワイヤ構 造体の製造方法をさらに詳細に示している。 図4Aは本願発明の誘電コンポジットワイヤ構造体の別実施例の平面図であ る。 図4Bは図4AのIV‐IV線に沿った本願発明の実施例の断面側面図であり 、説明を容易化するために熱分散ネットワークは外されている。 図5Aと図5Bは本願発明の誘電コンポジットワイヤ構造体で利用される、誘 電体内に埋設された湾曲ネットワーク部材の一部の概略図である。 好適実施例の詳細な説明 図1A、図1B、図2A及び図2Bに関して説明する。これらは本願発明の好 適実施例によるコンポジット構造体(あるいはコンポジットワイヤ構造体)10 と10’を図示している。図3Aから図3Fはコンポジットの誘電部材に内蔵さ れた電気コネクションネットワーク及びヒートシンクでコンポジット構造体を製 造するのに使用されるステップを図示している。本願発明の理解を容易にするた め、図中の同じ番号は同じ部材を表すものとする。 コンポジット回路ワイヤ構造体10は、限定はされないが、主として回路ワイヤ ボードとして、あるいはマルチチップモジュールとして使用される。図1Aと図 1Bで示す本願発明の好適実施例においては、コンポジット構造体10は、好適 には金属部材12である主外面14を備えたトップ導電体を有している。この主 外面14には少なくとも1体のSIC16が搭載される。一連の導電部材18は トップ金属部材12とSIC16の集積回路との間に電気コンタクトを形成する 。図1Aと図1Bで示す本願発明の好適実施例においては、トップ金属部材12 は電極コンタクトとして機能する。本願発明のコンポジット構造体10は、好適 には共有結合でトップ金属部材電極12の主内面22に結合されているセラミッ クあるいは有機セラミック誘電部材20と、電気コネクションネットワーク24 とをさらに含んでいる。電気コネクションネットワーク24は少なくとも1本の 導電ワイヤ(好適には銅のごとき金属)がセラミックあるいは有機セラミック部 材20(誘電部材20とも呼称)に埋設されて提供されている。銅ワイヤは少な くとも一個所、すなわち、トップ金属部材がSIC16と電気接触する個所)で トップ金属部材電極12の主内面22の1端に接合されている。電気コネクショ ンネットワーク24を形成するこの少なく とも1本のワイヤはオプションで、誘電部材20の副外面を貫通して突起し、ト ップ金属部材電極12と、回路ワイヤボードの外側の少なくとも1つの入力/出 力信号ドライバ25との間で電気コネクションネットワーク24を通過して電気 コンタクトを形成するワイヤ端部24Aも有している。コネクションネットワー ク24と共に利用する搭載サポートの使用法を解説する本願発明の別実施例は、 図4Aと図4Bで図示されている。SIC16と外部信号入力/出力ドライバと の間の電気コンタクトは、電気コネクションネットワーク24の、好適には銅で ある金属ワイヤでリンクされた2つのトップ金属部材電極間でも提供できる。 本願発明のコンポジットワイヤ構造体10は誘電部材20に埋設され、電気コ ネクションネットワーク24から電気的に絶縁されている熱分散ネットワーク2 6をも含んでいる。熱分散ネットワーク26は、トップ金属部材12がSICと 電気接触する個所でトップ金属部材12の主内面22の周囲で非接触状態に提供 されている少なくとも1つのヒートシンクを含んでいる。熱分散ネットワーク2 6を形成するヒートシンク28は、例えば銅のごとき高熱伝導性材料の長形体で 提供できる。あるいは、熱吸収性液体が内部を循環する中空管で提供できる。熱 分散ネットワーク26を提供するヒートシンク28はセラミックあるいは有機セ ラミック誘電部材20の少なくとも1つの副外面を貫通して突起し、熱貯蔵体3 0と熱的に接触する。 熱貯蔵体30は、回路ワイヤボードを電気アースに接続する部品として共用が 可能であり、あるいはそのような部品に接続される。本願発明のコンポジットワ イヤ構造体10と10’の両方の好適実施例は、誘電部材20の反対側主表面に ボンドされたボトム金属部材32をも含んでいる。誘電部材20はアルミン酸塩 (Al2O3)あるいはケイ酸塩ベースのセラミックまたは有機セラミックコン ポジットで提供が可能である。本願発明のコンポジットワイヤ構造体10は1体 のSICを外部信号入力/出力ドライバと電気的に接続させるか、トップ金属部 材上に搭載された複数のSICを相互接続し、外部入力/出力信号ドライバとも 接続させるようにデザインすることが可能である。 本願発明の別の好適実施例は図2Aと図2Bに示されている。コンポジット ワイヤ構造体10’は電極エリアと少なくとも1つの搭載エリアとに分割提供さ れたトップ金属部材12を有している。本願発明のこの実施例においては、電気 コネクションネットワーク24は誘電部材20内に埋設され、好適には銅のごと き金属である少なくとも1本の導電性ワイヤを介してトップ金属部材12の電極 エリア34を外部信号入力/出力ドライバに接続する。トップ金属部材12の搭 載エリア36にボンドされたSIC16はワイヤコンダクタ38を介して少なく とも1つの電極エリア34に電気的に接続されている。電気コネクションネット ワーク24は、誘電部材20の副表面を貫通して突起する少なくとも1本の金属 ワイヤを介して、あるいは、トップ金属部材12の一部である別の自由電極エリ ア34を介してSIC16を外部信号入力/出力ドライバに電気的に接続する。 加えて、本願発明のこの実施例では、熱分散ネットワーク26の少なくとも1つ のヒートシンク28はオプションで、トップ金属部材12の搭載エリア36を回 路ワイヤボードの外部の熱貯蔵体30(40で図示)に誘電部材20の副表面を 貫通して突起するヒートシンクを介して直接的に接続することもできる。ボトム 金属部材32はトップ金属部材12にボンドされている主表面の反対側の誘電部 材20の主外面にボンドされている。 図3Aから図3Fには前出のセラミックコンポジットワイヤ構造体10と10 ’を実用状態にする方法が詳細に図示されている。図3Aに示すように、好適に は0.5mmから3mm厚の銅シートであるトップ金属部材12が当初にはサブ ストレートとして使用され、その上部に電気コネクションネットワーク24、熱 分散ネットワーク26及び誘電部材20が提供される。図2Aと図2Bの実施例 に示されるデザインが搭載エリア36として提供される場合には、互いに反対側 のエリアは電極エリア34として主外面14と主内面22の両方に指定される。 トップ金属部材12上の指定エリア44の一部ではない残りのエリア42を、サ ブストレートとして銅シートあるいは金属部材12を使用する前に選択的に刻印 し、エッチングを施し、あるいはプレスし、主外面14となるトップ金属部材1 2の主表面上の指定エリアよりも薄くすることができる。製造時に主外面14を 裏返し(図3Aから図3Fを上下反対に観察)、回路ワイヤボードの一部として 機能的に無用な残りエリア42の領域の主内面上に、 除去可能な搭載エリアを配置することは好適である。 搭載サポート46(好適には除去可)は、熱分配ネットワーク26あるいは場 合によっては電気ネットワーク24のワイヤの形成に使用されるヒートシンク2 8のセグメントの端子ポイントを固定させるのに適当な径の貫通孔を有した固体 材料製であってもよい。図4Aと図4Bに示す搭載サポート54はオプションで 除去可能であり、誘電部材20の副表面から突起する電気コネクションネットワー ク25の形成に使用される金属ワイヤに対して利用が可能である。搭載サポート の実際の形態は図4Aと図4Bに関する説明で述べられている。 あるいは、除去可能な搭載サポート46は、(好適には銅あるいは他の熱伝導 材料の)ヒートシンク28及び/又は金属ワイヤが埋設された後に固形あるいは 半固形化するゲル状のプラスチック材料の形態であっても、あるいは固形材料と プラスチック材料の組み合わせ形態であっても構わない。選択された材料が銅製 サブストレートと永久固着せず、225℃から475℃の範囲の処理温度で固形 あるいは半固形形態を維持し、好適には、誘電部材20、金属部材12と32、 及びネットワーク部材24と26を侵食しない溶剤手段で容易に除去できる条件 で、多様なプラスチック、ガラス、セラミック、あるいは金属材料が除去可能な 搭載サポート46として利用できよう。好都合な除去可能な成型材料には、ホロ ーシリカ(hollow silica)と高温有機接着剤で結合(load)されたポリビニルメチ ラルあるいはポリビニルブチラルのプラスチックコンポジットがある。適した高 温接着剤には、限定はされないが、ブンジミダゾールポリマーのごとき芳香族複 素環式ポリマー、またはエチニル基の熱反応を妨害するために少量のヒドロキノ ンを添加したエチニルターミネートされたポリイミド(ethynyl-terminated poly imides)、あるいはPolymer360またはAstrel360として市販 されているアリレンエーテル(arylene-ether)が存在する。除去可能な成型材料 とは、典型的には350℃から470℃で、50psiから2000psiで成型され 、セラミック処理温度(225℃から475℃)に耐えることができ、金属部材 12と32の残余エリア42を除去するのに使用されるエッチング液に抵抗性で あり、誘電部材20、金属部材12及び電気コネクションネットワーク24と熱 分散ネットワーク2 6を提供する材料に対して不活性である溶剤での分散に高感度なもの等である。 電気コネクションネットワーク24と熱分散ネットワーク26が最終的には互 いに電気的に絶縁されていることが回路ワイヤボードの適正な機能には重要であ る。従って、誘電部材20の適用後に電気コネクションネットワーク24の熱分 散ネットワークと物理的に接触していてはならない。また、電気コネクションネ ットワーク24と熱分散ネットワーク26が、両者間に誘電部材20が挿入され た後にも予想電圧下で電気的絶縁状態を提供するように物理的に離れて提供され ていることが重要である。理想的には、熱分散ネットワーク26はアースされて いるべきである。 複数の搭載サポート46が、部分的に最終回路ボードの一部を形成しない除去 可能な材料と、熱分配ネットワーク26が誘電部材20に埋設され、誘電部材2 0の副表面を貫通して突起するヒートシンク28を介して接続される熱貯蔵体3 0とで提供されていれば製造効率は向上する。ヒートシンク/搭載サポートは、 熱分配ネットワークに接続されたヒートシンク28のみが貫通して突起する誘電 部材20の副表面に隣接した残余エリア42内にのみ配置できる。 電気コネクションネットワーク24の形成に使用される銅ワイヤのセグメント 50と、回路ワイヤボードが完成したときに誘電部材20から突起する熱分散ネ ットワーク26の形成に使用されるヒートシンク28のセグメントは搭載サポー ト46内に埋設される。熱貯蔵体30が搭載サポート46の一部として提供され ると、誘電部材20の副表面から突起するヒートシンクのセグメントは搭載サポ ートの材料48を介して熱貯蔵体30に取り付けられる。埋設された銅ワイヤと ヒートシンクのセグメントを備えた搭載サポート30は、図3Bに示すようにコ ンポジットワイヤボードの一部として機能しないトップ金属部材12の内面22 上の残余エリア42の部分に配置される。 図3Bに示すように、電気コネクションネットワーク24を形成する金属ワイ ヤの端子ポイントは図2Aに関して説明した電極エリア34として指定されてい るサブストレートエリアで金属シートの内面22にボンドされる。金属シートへ の金属ワイヤのボンディングは、周知な様々なブレイズ溶接材料、電気溶接、ア ーク溶接あるいは超音波ボンディング等で提供できる。望まれる回路 ワイヤボードの電気特性に適したボンディング技術の利用が好ましい。本願発明 の好適な方法は、限定はしないが、電気コネクションネットワーク24と(銅) 金属シートの指定電極エリア34との金属ボンディングにアーク溶接技術を使用 する。 電気コネクションネットワーク24は、ボンドされた金属ワイヤを曲げて、そ れを、SICのための回路ワイヤパターン及び外部入力/出力信号ドライバと共 立するように提供された別の金属ワイヤに電気的に接触させることで提供される 。好適には銅製である金属ワイヤ間で電気コネクションを提供するにはアーク溶 接が好適ではあるが、他の従来技術でも利用できる。本願発明はブラインドバイ ア(blind via)を、そのように提供された銅ワイヤを他の銅ワイヤでボンドしな いように選択し、そのブラインドバイア金属ワイヤを別の電極エリアで終結させ るか、除去可能な搭載サポートで終結させるように提供することができる。銅シ ートサブストレートの電極エリア34内にドリル加工されたインサート52内へ 、端子ポイントにてプレスフィットされる電気コネクションネットワーク24を 形成させるのに使用されるワイヤ格子(wire lattice)を、例えば真空成型でも用 意することもできる。電気コネクションネットワークの製造法は図3Bに図示さ れている。図2Aと図2Bに図示された好適実施例に従って電極エリアと搭載エ リアとを備えた回路ワイヤボードを製造するとき、熱分散ネットワーク26を含 んだヒートシンク28のコンタクトセクションを、電気コネクションネットワー ク24の端子ポイントを電極エリア34と接触させるための前述の方法を使用し て搭載エリア36にボンドさせることができる。 前述のごとく、搭載サポート46は回路ワイヤボード“CWB”が完成した後 に除去することもできる。あるいは、搭載サポートをコンポーネントとして製品 CWBに永久的に残すこともできる。図4Aと図4Bで示すように、搭載サポー ト54は電気コンタクトネットワーク24を形成する導電ワイヤ50をCWBの 外部の入力/出力信号ドライバ(図示せず)に電気的に接続させる。電気的に接 続する永久搭載サポートを含んだこの実施例の完成状態は図4Aと図4Bに図示 されている。 電気コネクションネットワーク24と熱分散ネットワーク26とが図3Bに示 すように金属サブストレートに固定されると、誘電部材20を形成する誘電材料2 0Aは、図3Cに示すように、金属部材とセラミックあるいは有機セラミックコ ンポジット誘電体との間の直接共有結合を提供する方法を使用した溶液処理によ って金属サブストレートとネットワーク構造部とに適用される。セラミックプレ カーサはゾル‐ゲル技術あるいは金属有機分解("MOD")を使用して溶液内で溶 解が可能である。前記したゾル−ゲル技術は、アルコールコンデンセーション反 応を介して無機セラミックネットワークをポリマライズするためにアルコキシド プレカーサを利用する。相当に粘性であるプレカーサ溶液は、プレカーサ液を除 去可能な搭載サポート46で定義される井戸に注いだり、スプレーしたり、スプ レーピロリシスあるいはスクリーンプリント技術で金属サブストレートとネット ワークの提供に利用できる。プレカーサ液は酸化雰囲気中で反応あるいは分解し 、MODで準備されたセラミックの場合には分解温度(好適には225℃から4 75℃)以上に金属有機プレカーサを加熱することで、あるいは、ポリマー化及 びゾル−ゲルで得られたセラミックからアルコール蒸発を促進させるために加熱 することで望むセラミック相が形成される。 相対誘電率10であるアルミナと相対誘電率3,8であるシリカは好適なセラ ミック材料である。なぜなら、誘電損失を押さえることができ、純粋シリカセラ ミック部材の場合には、1.2GHzから1.5GHzのような高周波の電気信 号を電気コネクションネットワーク24を介して拡散させるからである。 セラミック部材が当初に形成された後に存在するかもしれない誘電体(セラミ ック)20Aの孔部を充填するために徐々に粘性が低下する溶液を使用すること でセラミックプレカーサは再適用が可能であり、反応/分解処理は反復が可能で ある。このような孔部を、ポリビニルメチラルのごとき低誘電性あるいはストレ ス解放有機溶液でセラミック部材を含浸させて充填させ、有機セラミックコンポ ジット誘電体を形成させることもできる。ポリビニルメチラルは誘電率3、誘電 正接0.02及び誘電強度(1/8厚)300ボルト/mmを有している。誘電率 2.6で誘電正接0.027のポリビニルブチラルは別の適した含浸剤(impregn ant)である。カルボキシル酸の塩プレカーサやMODプロ セスの使用は本願発明の好適実施例である。アルミナ2‐エチルヘキサン酸塩(e thylhexanoate)はアルミナセラミック部材に対して好適な金属有機プレカーサで あり、シリコン2‐エチルヘキサン酸塩はシリカセラミック部材に対して好適な 金属有機プレカーサである。 有機セラミックコンポジット誘電材料は、溶解カルボキシル酸の塩の当初分解 温度(225℃から375℃)以上で、塩の有機リガンドが完全に分解する温度 (400℃から474℃)以下に加熱された回路ワイヤボードアセンブル上に溶 液をスプレーピロリシスすることで形成させることもできる。カルボキシル酸は スプレーピロリシス中に蒸発し、ワックス状のカルボキシル酸の塩が堆積する。 回路ワイヤボードアセンブリが適当な温度に加熱されると、得られた誘電材料は 、完全に燃焼した酸化セラミックと不完全に分解した有機材料とのマトリックス となり、有機セラミック誘電部材が製造される。この有機セラミックコンポジッ ト材料は、提供された誘電及び回路ワイヤアセンブリが有機部分を急速に分解さ せるであろう400℃以上の温度に露出されなければ維持されるであろう。これ らスプレーピロリシス処理された有機セラミックコンポジット誘電体の有機部分 は、カルボキシル酸の塩("MOD")溶液中に、ポリビニルブチラルのごとき低揮発 性樹脂を加えたり、及び/又はポリビニルブチラルと共立できる高温接着剤を加 える等で増加させることができる。ポリビニルブチラルは450℃以上で分解し 、225℃から375℃でのスプレーピロリシス処理で提供される一部が分解し たカルボキシル酸の塩のマトリックスに接着する。 誘電材料20Aが、電気コネクションネットワーク24と、埋設された熱分散 ネットワーク26を完全に方位するように形成されると、その上面は粗研磨処理 され、微粗面、すなわち、35ミクロン以上の粗面を有した表面が提供される。 図3Dに示すように、電気コネクションネットワーク及び熱分散ネットワークを 内蔵させている必要はないが、ボトム金属部材32と誘電部材20Bを含んだ、 同様に準備された金属セラミックコンポジットのセラミック面の主表面は誘電部 材20Aにボンドされる。このことは、低溶解温度の酸化ガラス66(シリカ‐ ホウ酸塩、シリカ‐リン酸塩、あるいはアルミナ‐シリカ‐リ ン酸塩、またはアルミナ‐シリカ‐ホウ酸塩相)またはポリマー接着剤によって 達成される。低温溶解性接着剤はガラス相の軟化点以上の温度で誘電部材20A と20Bのいずれか一方の、あるいは両方の主表面に適用され、2つのコンポジ ットの誘電面同士を互いに押し付け、ガラスの軟化点以下で冷却する。2つの誘 電部材20Aと20Bは低溶解温度ガラスの代わりに適当なポリマーでも互いを 接着させることができる。コンポジットの接着に有機接着剤が使用される場合に は、搭載サポート46の除去可能な部分の除去材料48の分散に使用される溶剤 に対して抵抗性のあるものでなければならない。従って。高温で優れた接着特性 を有しており、溶剤に対して抵抗力のあるクロスリンクしたエチニルターミネー トされた接着剤の使用が勧められる。 図3Eに示すようにコンポジットが形成されれば、製品の一部とはならない残 余エリア42が、トップ金属部材12とボトム金属部材32の薄くなった部分を エッチング処理することで除去される。トップ金属部材12とボトム金属部材3 2の残余エリアがそれぞれ分散された後に、半製品のコンポジットは搭載サポー ト46の除去可能な材料48を露出させるようにデザインされる必要がある。搭 載サポート46の除去可能な材料部分48は分散され、図3Eに示すように銅ワ イヤ電気コネクションネットワークと熱分散ネットワークとを内蔵させた完成コ ンポジット回路ワイヤボードが製造される。 本願発明の別実施例においては、好適には固体状あるいはセラミックキャパシ タ(キャパシタ60A及び60Bに指定)である少なくとも1つの内蔵ブロック キャパシタは電気コネクションネットワーク24の少なくとも1本の導電ワイヤ 50をアースに接続させる。内蔵ブロックキャパシタ60Aと60Bの静電容量 は、SICと、CWBの外部の入力/出力信号ドライブ(図示せず)との間で電 気コネクションネットワーク24を通過する電気信号の寄生的電気信号(ノイズ )を減少させ、信号‐ノイズ比を改善させるように選択される。内蔵ブロックキ ャパシタの採用は図4Bに示されている。SICが配置される金属部材12の反 対側の金属部材32はアースとして機能するように設計されている。 内蔵ブロックキャパシタ60Aは、内蔵ブロックキャパシタ60Aを包囲す る誘電部材20の部分の適用に先立って金属部材32上に内蔵ブロックキャパシ タ60Aを固定させることで誘電部材20内に埋設される。内蔵ブロックキャパ シタ60Aの上方に位置する誘電部材20にホールあるいはバイア62を提供し 、少なくとも1本の導電ワイヤ50と電気的に接触するハンダあるいは金属ペー ストのごとき電気的に導電性である物質64でそのホールあるいはバイア62を 充填することで、キャパシタ60Aを電気コネクションネットワーク24内の少 なくとも1本の導電ワイヤ50と電気的に接続させることができる。 本願発明では内蔵ブロックキャパシタ60Bを、CWBの永久部品として残る 搭載サポート54内に収容させることが可能である。キャパシタ60Aの場合と 同様に、導電性物質64が充填されたホールあるいはバイア62も少なくとも1 本の導電ワイヤ50と通電状態に置かれる。キャパシタ60BはSICを、CW Bの外部の入力/出力信号ドライバと電気コネクションネットワーク24を介し て電気的に接触させるのに使用される。本願発明のこの好適実施例は図4Bにも 図示されている。本願発明に使用できるブロックキャパシタの1例は、限定はし ないが、好適には多層セラミックキャパシタであるセラミックキャパシタである 。 誘電部材内に金属ワイヤあるいはパイプネットワークを取り入れる場合の基本 的な問題は、コンポジット体が熱的にサイクルされるとき発生する、金属とセラ ミック誘電コンポジションとの間の熱膨張率の大きな不適合性と、内部ストレス 、亀裂、あるいは変形である。これは、銅(熱膨張率16.5x10***/℃ )が純粋シリカ(熱膨張率0.5x10***/℃)内に埋設されている場合に 特に問題となる。アルミナセラミック(熱膨張率8.8x10***/℃)と銅 とのミスマッチはそれほどではない。SIC16で発生される熱は回路ワイヤボ ード内へ分散される。熱分散ネットワーク26がこの熱を回路ワイヤボードの外 部のヒートシンクに伝達させるとき、誘電部材を加熱し、膨張させ、コンプレス する。 セラミック部材と埋設ネットワーク構造に対するストレスの悪影響を軽減させ るために本願発明は2つの方法を採用する。一方は、埋設ネットワーク構造 の鋭角構造を原因とする高ストレスポイントに湾曲形状を与えることである。図 5Aや図5Bに図示するように、ネットワーク構造が湾曲形状で提供されると、 鋭角のLジョイントやTジョイントとは異なって、ストレスは円弧状に分散し、 ネットワークの鋭角部に集中しない。ネットワークジョイントの最良曲率や、こ れらネットワークの形成に使用される銅ワイヤやヒートシンクの特定の断面形状 はSICによって発生される熱量によって異なり、有限エレメント法(finite el ement method)等のコンピュータシミュレーション技術の専門家によって決定さ れるものである。他方の方法は、ネットワークの圧縮ストレスは、電気コネクシ ョンネットワーク24を提供する(銅)金属ワイヤと、熱分散ネットワーク26 を提供するヒートパイプ28を図3Aのごとく、部分的に高温接着剤を含んだ4 30℃以上で分解するポリビニルメチラルのごとき有機樹脂56でコーティング させる。この樹脂は、トップ金属部材12及び/又は搭載サポート46に固定さ せる前の、準備されたネットワークを樹脂浴槽内に含浸コーティング処理させる ときに適用される。本願発明においては、“引き抜き(pultrusion)”法で有機樹 脂を適用させることが好適である。この方法では、金属ワイヤ部材は、金属シー トサブストレート表面上での電気コネクションネットワーク24の製造時に樹脂 を供給するコーティング装置内で引っ張られる。樹脂の高温分解性は樹脂にネッ トワーク部材の隣接部の場所を占領させる。セラミック部材は樹脂の分解温度以 下で有機樹脂の表面に形成されて硬化する。“ソフトタイプ”有機樹脂は、金属 ネットワーク部材とセラミック部材との間の異なる横方向のずれに対処するバッ ファとして作用する。 使用される樹脂化合物は、コンポジットの集積部材として残るのであれば、搭 載サポート46の除去可能な材料48を分散させるのに使用される溶剤に対して 抵抗性がなければならない。あるいは、樹脂をコンポジットを酸化雰囲気内でそ の分解温度を越えるまで加熱して除去することもできる。あるいは、適当な分散 剤内で溶解させることもできる。樹脂が除去されたら、硬化セラミック部材と金 属ワイヤ及び/又はヒートシンクとの間に空間が創出される。この空間は、金属 ネットワーク部材が周囲の誘電部材よりも大きく膨張したり収縮するときにネッ トワーク部材を周囲の誘電部材に対してスリップさせる。空間 の深さ、すなわち有機樹脂コーティングの厚みは、所定のSICに対する最大作 動サオクル時の金属ネットワーク部材と周囲の誘電体との間に必要な遊びの相対 的程度によって決定される。 本願発明をいくつかの実施例をもとに説明した。本願発明には「特許請求の範 囲」に記載された精神とスコープ内でこれら以外にも多様な実施態様が可能であ ることは理解されよう。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ファーマー,ピーター,エイチ. アメリカ合衆国 ニューハンプシャー州 03843―0057 ハンプトン,ピー.オー. ボックス 57,シーツー テクノロジーズ 内

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1.少なくとも1体の半導体装置からの導電及び熱伝導をコントロールするた めのコンポジット構造体であって、 電気ネットワークの一部を構築する少なくとも一本の導電体と、熱ネットワ ークの一部を構築する少なくとも一本の熱伝導体とを有しているコンポジットで あって、該導電体は電気絶縁性誘電部材にボンドされており、該誘電部材は前記 電気ネットワークと熱ネットワークとを包容している形態のコンポジットを含ん でおり、 前記導電体と熱伝導体及び電気ネットワークと熱ネットワークは相互に絶縁 状態で前記誘電体内に内蔵アレンジされており、 本コンポジット構造体は全体として前記電気ネットワークと半導体装置とか らの熱を前記熱ネットワークへ伝導させて放散させるように構築されていること を特徴とするコンポジット構造体。 2.前記電気ネットワークと熱ネットワークの構造一体性に悪影響を及ぼさな い温度で該電気ネットワークと熱ネットワークの周囲に誘電体を形成させること を特徴とする請求項1記載のコンポジット構造体。 3.前記誘電体は475℃以下の温度で提供される共有結合によって前記少な くとも一本の導電体にボンドされていることを特徴とする請求項2記載のコンポ ジット構造体。 4.前記セラミック体は475℃以下の温度で提供される共有結合によって前 期少なくとも一本の導電体と熱伝導体及び電気ネットワークと熱ネットワークと にボンドされていることを特徴とする請求項2記載のコンポジット構造体。 5.前記電気ネットワークと熱ネットワークとは475℃以上の温度で分解 する有機樹脂でコーティングされたコンポーネントで提供されていることを特徴 とする請求項3記載のコンポジット構造体。 6.前記電気ネットワークは複数の相互接続された導電ワイヤセグメントで提 供されており、該ワイヤセグメントの一部は前記少なくとも1体の半導体装置と 電気的に接続するために前記誘電体の主表面を貫通して突起していることを特徴 とする請求項1記載のコンポジット構造体。 7.前記熱ネットワークのための熱貯蔵体を提供するために該熱ネットワーク に接続された前記誘電体外部の手段をさらに含んでいることを特徴とする請求項 1記載のコンポジット構造体。 8.前記電気ネットワークを前記少なくとも一体の半導体装置と電気的に接続 するための追加的導電体をさらに含んでいることを特徴とする請求項1記載のコ ンポジット構造体。 9.前記誘電体内に埋設され、前記電気ネットワークと、別の電気導電体との 間で電気的に接続されている少なくとも一体のキャパシタをさらに含んでいるこ とを特徴とする請求項1記載のコンポジット構造体。 10.前記電気ネットワークと熱ネットワークとは湾曲コンポーネントで提供さ れていることを特徴とする請求項1記載のコンポジット構造体。 11.サポート構造体をさらに含んでおり、前記電気ネットワークと熱ネットワ ークとは該サポート構造体に固定されていることを特徴とする請求項1記載のコ ンポジット構造体。 12.前記サポート構造体は前記熱ネットワークのための熱貯蔵体を含んでいる ことを特徴とする請求項11記載のコンポジット構造体。 13.前記熱ネットワークは少なくとも一体のヒートシンクで提供されており、 該ヒートシンクの一部は前記少なくとも一本の導電体と接続されていることを特 徴とする請求項1記載のコンポジット構造体。 14.前記少なくとも一体の半導体装置は前記少なくとも一本の導電体と組み合 わされていることを特徴とする請求項1記載のコンポジット構造体。 15.前記少なくとも一体の半導体装置は前記少なくとも一本の導電体及び熱伝 導体と組み合わされていることを特徴とする請求項1記載のコンポジット構造体 。 16.前記誘電体はセラミックであることを特徴とする請求項1記載のコンポジ ット構造体。 17.前記誘電体は有機セラミックであることを特徴とする請求項1記載のコン ポジット構造体。 18.少なくとも一体の半導体装置と共に使用するコンポジット構造体であって 、 主外面と主内面とを有した導電手段を含んでおり、 該主外面は前記少なくとも一体の半導体装置を通電状態で搭載することがで き、本コンポジット構造体は、 前記導電手段の主内面にボンドされた主表面を有した電気絶縁手段と、 該電気絶縁手段に埋設された少なくとも一本の導電ワイヤセグメントで提供 される導電ネットワークと、 前記電気絶縁手段に埋設され、前記導電手段及び導電ネットワークとは電気 的に絶縁されており、前記少なくとも一体の半導体装置の利用時に発生する熱を 効果的に発散させることができる熱分散手段と、 をさらに含んでいることを特徴とするコンポジット構造体。 19.前記導電手段は複数の相互接続された導電ワイヤセグメントで提供されて おり、該ワイヤセグメントの一部は、前記少なくとも一体の半導体装置と電気的 に接続するために前記電気絶縁手段の主表面を貫通して突起していることを特徴 とする請求項18記載のコンポジット構造体。 20.前記電気絶縁手段に埋設されており、前記導電ネットワークと導電体との 間で電気的に接続されている少なくとも一体のキャパシタをさらに含んでいるこ とを特徴とする請求項19記載のコンポジット構造体。 21.前記電気絶縁手段はセラミックであり、前記導電手段にボンドされている ことを特徴とする請求項19記載のコンポジット構造体。 22.前記電気絶縁手段は有機セラミックであり、前記導電手段にボンドされて いることを特徴とする請求項19記載のコンポジット構造体。 23.前記熱分散手段のための熱貯蔵体を提供するために該熱分散手段に接続さ れた前記電気絶縁手段外部の手段をさらに含んでいることを特徴とする請求項1 9記載のコンポジット構造体。 24.前記導電ネットワークと熱分散手段とは湾曲コンポーネントで提供されて いることを特徴とする請求項19記載のコンポジット構造体。 25.前記導電ネットワークと熱分散手段とは475℃以上の温度で分解する有 機樹脂でコーティングされたコンポーネントで提供されていることを特徴とする 請求項24記載のコンポジット構造体。 26.サポート構造体をさらに含んでおり、前記熱分散手段は該サポート構造 体に固定されていることを特徴とする請求項25記載のコンポジット構造体。 27.前記サポート構造体は前記熱分散手段のための熱貯蔵体を含んでいること を特徴とする請求項26記載のコンポジット構造体。 28.前記電気絶縁手段はセラミックであり、475℃以下の温度で提供される 共有結合によって前記導電手段にボンドされていることを特徴とする請求項18 記載のコンポジット構造体。 29.前記電気絶縁手段は有機セラミックであり、475℃以下の温度で提供さ れる共有結合によって前記導電手段にボンドされていることを特徴とする請求項 20記載のコンポジット構造体。 30.前記熱分散手段は少なくとも一体のヒートシンクで提供されており、該ヒ ートシンクの一部は前記少なくとも一体の半導体装置に接続されていることを特 徴とする請求項29記載のコンポジット構造体。 31.前記少なくとも一体の半導体装置は前記導電手段と組み合わされているこ とを特徴とする請求項18記載のコンポジット構造体。 32.前記少なくとも一体の半導体装置は前記導電手段及び熱分散手段と組み合 わされていることを特徴とする請求項16記載のコンポジット構造体。 33.少なくとも一体の半導体装置と共に使用するコンポジット構造体の製造方 法であって、 少なくとも一本の導電体を提供して電気ネットワークの一部を構築するステ ップと、 少なくとも一本の熱伝導体を提供して熱ネットワークの一部を構築するステ ップと、 前記導電体との直接的共有結合を提供することで該導電体に誘電材料を適用 し、前記熱ネットワークと電気ネットワークとを該誘電材料で包容させるステッ プと、 を含んでいることを特徴とする製造方法。 34.前記誘電材料の適用に先立って該誘電材料内に少なくとも一体のキャパシ タを提供するステップをさらに含んでおり、該少なくとも一体のキャパシタは前 記電気ネットワークと導電体との間で電気的に接続されていることを特徴とする 請求項33記載の製造方法。 35.前記電気ネットワークに少なくとも一本のワイヤセグメントを提供し、該 電気ネットワークと前記熱ネットワークとを電気的に絶縁させるステップをさら に含んでいることを特徴とする請求項33記載の製造方法。 36.前記誘電材料を適用するステップに先立って前記熱ネットワークを搭載サ ポートに固定するステップをさらに含んでいることを特徴とする請求項33記載 の製造方法。 37.前記導電体の主表面の一部を選択的に除去し、半導体装置を搭載させる少 なくとも1つの電極エリアを定義させるステップをさらに含んでいることを特徴 とする請求項33記載の製造方法。 38.前記誘電材料はアルミナベースのセラミックを含んでいることを特徴とす る請求項33記載の製造方法。 39.前記誘電材料は有機セラミックを含んでいることを特徴とする請求項33 記載の製造方法。 40.ポリビニルブチラルを含有するカルボキシル酸プレカーサ溶液のスプレ ーピロリシス処理によってコンポジット構造体を形成させるステップをさらに含 んでいることを特徴とする請求項33記載の製造方法。 40.前記誘電材料はシリカベースのセラミックを含んでいることを特徴とする 請求項33記載の製造方法。 41.前記少なくとも一体の半導体装置を前記導電体に電気的に接続するステッ プをさらに含んでいることを特徴とする請求項33記載の製造方法。 42.前記少なくとも一体の半導体装置を前記導電体及び熱伝導体と接続させる ステップをさらに含んでいることを特徴とする請求項33記載の製造方法。 43.前記誘電体はアルミナベースのセラミック材料を含んでいることを特徴と する請求項1記載のコンポジット構造体。 44.前記誘電体はシリカベースのセラミック材料を含んでいることを特徴とす る請求項1記載のコンポジット構造体。 45.少なくとも一体の半導体装置と共に使用するコンポジット構造体であって 、 前記少なくとも一体の半導体装置を通電状態で搭載させる表面を有した第1 導電体と、 該第1導電体にボンドされた主表面を有した誘電部材と、 該セラミック部材に埋設され、前記第1導電体と電気的に接続された少なく とも一本の導電ワイヤセグメントで提供される導電ネットワークと、 該セラミック部材に埋設され、該導電ネットワークとは電気的絶縁状態にあ り、半導体装置の使用時に発生する熱を効果的に発散させることができる熱分散 ネットワークと、 前記第1導電体の反対側で前記誘電部材にボンドされた第2導電体と、 を含んでいることを特徴とするコンポジット構造体。 46.前記誘電部材はセラミックであることを特徴とする請求項45記載のコン ポジット構造体。 47.前記誘電部材は有機セラミックであることを特徴とする請求項45記載の コンポジット構造体。
JP53025098A 1996-12-30 1997-12-29 半導体装置用セラミックコンポジットワイヤ構造体及び製造方法 Ceased JP2001507867A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US3398396P 1996-12-30 1996-12-30
US60/033,983 1996-12-30
PCT/US1997/023976 WO1998030072A1 (en) 1996-12-30 1997-12-29 Ceramic composite wiring structures for semiconductor devices and method of manufacture

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001507867A true JP2001507867A (ja) 2001-06-12

Family

ID=21873603

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP53025098A Ceased JP2001507867A (ja) 1996-12-30 1997-12-29 半導体装置用セラミックコンポジットワイヤ構造体及び製造方法

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP0948879A4 (ja)
JP (1) JP2001507867A (ja)
CN (1) CN1112838C (ja)
CA (1) CA2275972A1 (ja)
WO (1) WO1998030072A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6346743B1 (en) * 2000-06-30 2002-02-12 Intel Corp. Embedded capacitor assembly in a package
DE10232788B4 (de) * 2001-07-18 2010-01-14 Infineon Technologies Ag Elektronisches Bauteil mit einem Halbleiterchip auf einem Systemträger, Systemträger und Verfahren zur Herstellung eines elektronischen Bauteils
DE102008001414A1 (de) * 2008-04-28 2009-10-29 Robert Bosch Gmbh Substrat-Schaltungsmodul mit Bauteilen in mehreren Kontaktierungsebenen
CN102210844B (zh) * 2010-04-07 2012-10-31 北京亚东生物制药有限公司 一种治疗慢性肝炎的中药组合物及其制备方法
CN102314526B (zh) * 2010-07-02 2013-09-25 中国科学院微电子研究所 一种优化集成电路版图热分布的方法
JP5488540B2 (ja) * 2011-07-04 2014-05-14 トヨタ自動車株式会社 半導体モジュール
CN111328189A (zh) * 2020-03-17 2020-06-23 万安裕维电子有限公司 一种耐盐雾型pcb板

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3676292A (en) * 1970-10-07 1972-07-11 Olin Corp Composites of glass-ceramic-to-metal,seals and method of making same
JPS6028296A (ja) * 1983-07-27 1985-02-13 株式会社日立製作所 セラミツク多層配線回路板
EP0357759A1 (en) * 1988-02-29 1990-03-14 Digital Equipment Corporation Alignment of leads for ceramic integrated circuit packages
US5336532A (en) * 1989-02-21 1994-08-09 Dow Corning Corporation Low temperature process for the formation of ceramic coatings
US5113315A (en) * 1990-08-07 1992-05-12 Cirqon Technologies Corporation Heat-conductive metal ceramic composite material panel system for improved heat dissipation
JP3026465B2 (ja) * 1992-03-10 2000-03-27 株式会社日立製作所 セラミック薄膜混成配線基板および製造方法
US5506755A (en) * 1992-03-11 1996-04-09 Kabushiki Kaisha Toshiba Multi-layer substrate
DE4222474A1 (de) * 1992-07-09 1994-01-13 Bosch Gmbh Robert Montageeinheit für Mehrlagenhybrid mit Leistungsbauelementen
US5444298A (en) * 1993-02-04 1995-08-22 Intel Corporation Voltage converting integrated circuit package
JPH06255019A (ja) * 1993-03-08 1994-09-13 Hitachi Ltd セラミック複合積層板とそれを用いた多層配線基板の製法

Also Published As

Publication number Publication date
CA2275972A1 (en) 1998-07-09
CN1112838C (zh) 2003-06-25
CN1245629A (zh) 2000-02-23
EP0948879A1 (en) 1999-10-13
EP0948879A4 (en) 2003-08-27
WO1998030072A1 (en) 1998-07-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7047637B2 (en) Method of manufacture of ceramic composite wiring structures for semiconductor devices
US6522555B2 (en) Thermally conductive board, method of manufacturing the same, and power module with the same incorporated therein
US6689471B2 (en) Thermal management device and method of making such a device
US6922339B2 (en) Heat dissipating structure of printed circuit board and fabricating method thereof
JPH0213958B2 (ja)
JPH08236628A (ja) 半導体チップ上のエアブリッジを損傷から保護するための構造
JPH05267511A (ja) 電子装置パッケージおよびその作製方法
JP2004158545A (ja) 多層基板及びその製造方法
JP2002151846A (ja) 配線基板およびその製造方法
JP2001507867A (ja) 半導体装置用セラミックコンポジットワイヤ構造体及び製造方法
US5139851A (en) Low dielectric composite substrate
US5139852A (en) Low dielectric composite substrate
TWI294638B (en) Integrated circuit die and substrate coupling
JP3677301B2 (ja) セラミック回路基板及びセラミック回路基板の製造方法
WO1998030072A9 (en) Ceramic composite wiring structures for semiconductor devices and method of manufacture
JPH10509277A (ja) 追加の印刷回路のための熱制御
JP3872360B2 (ja) 多層配線基板
JP4097054B2 (ja) 半導体装置の実装体及び半導体装置の実装方法
JP2005050884A (ja) 保護フィルム及び保護フィルム付き絶縁層並びに配線基板の製造方法
JP3292620B2 (ja) 配線基板及びその製造方法
JP2002141628A (ja) 配線基板
JPH1117047A (ja) 電子部品搭載用基板
JP2003218160A (ja) 絶縁フィルムおよびこれを用いた多層配線基板
JP2000357770A (ja) 光素子電気素子搭載セラミック基板
JP2003163460A (ja) 絶縁フィルムおよびこれを用いた多層配線基板

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20041224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20060411

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20060710

A072 Dismissal of procedure

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A073

Effective date: 20070320

A313 Final decision of rejection without a dissenting response from the applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A313

Effective date: 20070420

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20070612