JP2001356075A - 光特性測定装置、方法、記録媒体 - Google Patents

光特性測定装置、方法、記録媒体

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JP2001356075A
JP2001356075A JP2000179716A JP2000179716A JP2001356075A JP 2001356075 A JP2001356075 A JP 2001356075A JP 2000179716 A JP2000179716 A JP 2000179716A JP 2000179716 A JP2000179716 A JP 2000179716A JP 2001356075 A JP2001356075 A JP 2001356075A
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optical line
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Eiji Kimura
栄司 木村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 １ファイバペアのみで波長分散特性等を測定
できる装置を提供する。 【解決手段】 波長を変化させられる可変波長光を生成
する可変波長光源１２と、可変波長光を入力された電気
信号の周波数で変調した第一入射光を第一光ファイバ線
路３２に入射する第一光変調器１５と、第一光ファイバ
線路３２を透過した第一出射光を光電変換する第一光電
変換器２２と、波長が固定された固定波長光を生成する
固定波長光源２１と、所定の周波数の基準電気信号を発
生する電源（信号源）２５と、固定波長光を基準電気信
号の周波数ｆｍで変調した第二入射光を第二光ファイバ
線路３４に入射する第二光変調器２３と、を第二光ファ
イバ線路３４を透過した第二出射光を光電変換して、第
一光変調器１５に出力する第二光電変換器１６と、を備
える。そこで、第一出射光を光電変換したものと、基準
電気信号とを得れば、それらの位相を比較して、波長分
散特性等が計算できる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ファイバペアなど
のDUT（Device Under Test）の波長分散特性の測定に関
し、特にDUTの両端に別々の測定機を接続しての波長分
散特性の測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】長距離にわたって光を伝送する場合は、
光ファイバのみによって光を伝送すると損失が大きい。
そこで、光ファイバに、光信号を増幅する光アンプ（ED
FA）とを組み合わせた光ファイバ線路を用いて、損失を
防ぐ。光アンプは、ある一方向にのみ光を通す。そこ
で、双方向通信を行うためには、ある一方向に光を伝送
する一本の光ファイバ線路と、ある一方向とは反対の方
向に光を伝送する一本の光ファイバ線路と、をまとめて
ケーブルとする。このケーブルを１ファイバペアとい
う。
【０００３】１ファイバペアの構成を図６（ａ）に示
す。光ファイバ１１２に光アンプ１１４が組み合わさっ
て光ファイバ線路１１０が形成される。光ファイバ線路
１１０は右方向に光を通す。光ファイバ１２２に光アン
プ１２４が組み合わさって光ファイバ線路１２０が形成
される。光ファイバ線路１２０は左方向に光を通す。光
ファイバ線路１１０と光ファイバ線路１２０とが１ファ
イバペア１００ａを形成する。なお、１ファイバペアを
２組用意したものを２ファイバペアといい、図６（ｂ）
に示す。１ファイバペア１００ａ、１００ｂが２ファイ
バペア１００を形成する。
【０００４】２ファイバペアの波長分散特性を測定する
ときの測定系の構成を図７に示す。２ファイバペア１０
０の有する１ファイバペア１００ａの一端に波長可変光
源２０２、他端にO/E（光電）変換器３０２を接続す
る。２ファイバペア１００の有する１ファイバペア１０
０ｂの一端に波長固定光源２０４、他端にO/E（光電）
変換器３０４を接続する。なお、波長可変光源２０２、
２０４と１ファイバペア１００ａ、１００ｂとの間に光
変調器を設けてもよい。
【０００５】波長分散特性の測定にあたっては、波長可
変光源２０２の波長λｘを掃引（一定速度で変化）し、
その一方で波長固定光源２０４の波長λ０を固定する。
このときのO/E変換器３０２の出力信号とO/E変換器３０
４の出力信号との位相の差を位相比較器３０６で測定し
て、２ファイバペアの波長分散特性を測定する。
【０００６】ここで、幹線系の大容量伝送線路において
は、２ファイバペアを確保できる可能性もある。しか
し、大部分の敷設済み線路においては、１ファイバペア
しか確保できない場合が多い。そこで、１ファイバペア
の波長分散特性をも測定する必要がある。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような波長分散特性の測定法は、１ファイバペアには適
用できない。なぜなら、同じ向きに光を通す、固定波長
光の通る線路と可変波長光の通る線路との二本の線路を
１ファイバペアでは用意できなからである。
【０００８】さらに、上記のような波長分散特性の測定
法を、２ファイバペア１００に適用しても、測定結果の
誤差が生ずる場合がある。すなわち、伝送線路の温度変
化や応力変化などの物理量変化によって、１ファイバペ
ア１００ａと１ファイバペア１００ｂとを透過する光の
位相差が波長に依存しない成分で変化する場合がある。
このような場合には、測定結果の誤差が生ずる。よっ
て、２ファイバペアを使用することなく、１ファイバペ
アのみで波長分散特性を測定できることが望ましい。
【０００９】そこで、本発明は、１ファイバペアのみで
波長分散特性等を測定できる装置等を提供することを課
題とする。
【００１０】
【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、光をある一方向にのみ通す第一光線路と、光を一方
向の反対方向にのみ通す第二光線路と、を有する被計測
物の特性を測定する装置であって、波長を変化させられ
る可変波長光を生成する可変波長光源と、可変波長光を
入力された電気信号の周波数で変調した第一入射光を第
一光線路に入射する第一光変調手段と、第一光線路を透
過した第一出射光を光電変換する第一光電変換手段と、
波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源
と、所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源と、
固定波長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射
光を第二光線路に入射する第二光変調手段と、第二光線
路を透過した第二出射光を光電変換して、第一光変調手
段に出力する第二光電変換手段と、を備えるように構成
される。
【００１１】上記のように構成された光特性測定装置に
よれば、第二光線路において波長分散が小さくなるよう
に、固定波長光の波長を設定しておけば、第二出射光を
光電変換したものは、第二入射光と比べて位相のずれ等
が小さい。そこで、第二出射光を光電変換したものと、
基準電気信号とは周波数および位相とが同一とみなせ
る。よって、第一入射光は、基準電気信号で可変波長光
を変調したものとみなせる。そこで、第一出射光を光電
変換したものと、基準電気信号とを得れば、それらの位
相を比較して第一光線路に関する位相差が得られる。そ
して、位相差から波長分散特性等が計算できる。
【００１２】請求項２に記載の発明は、光をある一方向
にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にのみ
通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定する
装置であって、波長が固定された固定波長光を生成する
固定波長光源と、固定波長光を入力された電気信号の周
波数で変調した第一入射光を第一光線路に入射する第一
光変調手段と、第一光線路を透過した第一出射光を光電
変換する第一光電変換手段と、波長を変化させられる可
変波長光を生成する可変波長光源と、所定の周波数の基
準電気信号を発生する信号源と、可変波長光を基準電気
信号の周波数で変調した第二入射光を第二光線路に入射
する第二光変調手段と、第二光線路を透過した第二出射
光を光電変換して、第一光変調手段に出力する第二光電
変換手段と、を備えるように構成される。
【００１３】上記のように構成された光特性測定装置に
よれば、第二出射光を光電変換したものは、第二光線路
に関する位相差を含んだ電気信号となる。そこで、第一
光線路において波長分散が小さくなるように、固定波長
光の波長を設定してやれば、第二光線路に関する位相差
を含み、かつ第一光線路に関する誤差のない第一出射光
が得られる。そこで、第一出射光を光電変換したもの
と、基準電気信号とを得れば、位相を比較して第二光線
路に関する位相差が得られる。そして、位相差から波長
分散特性等が計算できる。
【００１４】請求項３に記載の発明は、光をある一方向
にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にのみ
通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定する
装置であって、波長を変化させられる第一可変波長光を
生成する第一可変波長光源と、第一可変波長光を入力さ
れた電気信号の周波数で変調した第一入射光を第一光線
路に入射する第一光変調手段と、第一光線路を透過した
第一出射光を光電変換する第一光電変換手段と、波長を
変化させられる第二可変波長光を生成する第二可変波長
光源と、所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源
と、第二可変波長光を基準電気信号の周波数で変調した
第二入射光を第二光線路に入射する第二光変調手段と、
第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、第一
光変調手段に出力する第二光電変換手段と、を備えるよ
うに構成される。
【００１５】上記のように構成された光特性測定装置に
よれば、第一可変波長光源と第二可変波長光源とを用い
ることで、第一光線路と第二光線路との波長分散特性等
が計算できる。
【００１６】請求項４に記載の発明は、請求項２または
３に記載の発明であって、第二光変調手段が第二光線路
に第二入射光を入射した時の反射光を光電変換する第三
光電変換手段を備えるように構成される。
【００１７】請求項５に記載の発明は、請求項１ないし
３のいずれか一項に記載の発明であって、第一光電変換
手段の出力する計測用電気信号と基準電気信号との位相
差を計測する位相差を計測する位相比較手段と、位相差
を使用して、被計測物の群遅延特性または分散特性を計
算する特性計算手段と、を備えるように構成される。
【００１８】請求項６に記載の発明は、請求項４に記載
の発明であって、第三光電変換手段の出力する反射計測
用電気信号と基準電気信号との位相差を計測する位相差
を計測する位相比較手段と、位相差を使用して、被計測
物の群遅延特性または分散特性を計算する特性計算手段
と、を備えるように構成される。
【００１９】請求項７に記載の発明は、光をある一方向
にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にのみ
通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定する
装置に用いられる光生成装置であって、波長を変化させ
られる可変波長光を生成する可変波長光源と、可変波長
光を入力された電気信号の周波数で変調した第一入射光
を第一光線路に入射する第一光変調手段と、第二光線路
を透過した第二出射光を光電変換して、第一光変調手段
に出力する第二光電変換手段と、を備えるように構成さ
れる。
【００２０】請求項８に記載の発明は、光をある一方向
にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にのみ
通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定する
装置であって、第一光線路を透過した第一出射光を光電
変換する第一光電変換手段と、波長が固定された固定波
長光を生成する固定波長光源と、所定の周波数の基準電
気信号を発生する信号源と、固定波長光を基準電気信号
の周波数で変調した第二入射光を第二光線路に入射する
第二光変調手段と、を備えるように構成される。
【００２１】請求項９に記載の発明は、光をある一方向
にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にのみ
通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定する
装置に用いられる光生成装置であって、波長が固定され
た固定波長光を生成する固定波長光源と、固定波長光を
入力された電気信号の周波数で変調した第一入射光を第
一光線路に入射する第一光変調手段と、第二光線路を透
過した第二出射光を光電変換して、第一光変調手段に出
力する第二光電変換手段と、を備えるように構成され
る。
【００２２】請求項１０に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る装置であって、第一光線路を透過した第一出射光を光
電変換する第一光電変換手段と、波長を変化させられる
可変波長光を生成する可変波長光源と、所定の周波数の
基準電気信号を発生する信号源と、可変波長光を基準電
気信号の周波数で変調した第二入射光を第二光線路に入
射する第二光変調手段と、を備えるように構成される。
【００２３】請求項１１に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る装置に用いられる光生成装置であって、波長を変化さ
せられる第一可変波長光を生成する第一可変波長光源
と、第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
調した第一入射光を第一光線路に入射する第一光変調手
段と、第二光線路を透過した第二出射光を光電変換し
て、第一光変調手段に出力する第二光電変換手段と、を
備えるように構成される。
【００２４】請求項１２に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る装置であって、第一光線路を透過した第一出射光を光
電変換する第一光電変換手段と、波長を変化させられる
第二可変波長光を生成する第二可変波長光源と、所定の
周波数の基準電気信号を発生する信号源と、第二可変波
長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射光を第
二光線路に入射する第二光変調手段と、を備えるように
構成される。
【００２５】請求項１３に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法であって、波長を変化させられる可変波長光を生
成する可変波長光生成工程と、可変波長光を入力された
電気信号の周波数で変調した第一入射光を第一光線路に
入射する第一光変調工程と、第一光線路を透過した第一
出射光を光電変換する第一光電変換工程と、波長が固定
された固定波長光を生成する固定波長光生成工程と、所
定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程と、
固定波長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射
光を第二光線路に入射する第二光変調工程と、第二光線
路を透過した第二出射光を光電変換して、第一光変調工
程に出力する第二光電変換工程と、を備えるように構成
される。
【００２６】請求項１４に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法であって、波長が固定された固定波長光を生成す
る固定波長光生成工程と、固定波長光を入力された電気
信号の周波数で変調した第一入射光を第一光線路に入射
する第一光変調工程と、第一光線路を透過した第一出射
光を光電変換する第一光電変換工程と、波長を変化させ
られる可変波長光を生成する可変波長光生成工程と、所
定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程と、
可変波長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射
光を第二光線路に入射する第二光変調工程と、第二光線
路を透過した第二出射光を光電変換して、第一光変調工
程に出力する第二光電変換工程と、を備えるように構成
される。
【００２７】請求項１５に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法であって、波長を変化させられる第一可変波長光
を生成する第一可変波長光生成工程と、第一可変波長光
を入力された電気信号の周波数で変調した第一入射光を
第一光線路に入射する第一光変調工程と、第一光線路を
透過した第一出射光を光電変換する第一光電変換工程
と、波長を変化させられる第二可変波長光を生成する第
二可変波長生成工程と、所定の周波数の基準電気信号を
発生する信号発生工程と、第二可変波長光を基準電気信
号の周波数で変調した第二入射光を第二光線路に入射す
る第二光変調工程と、第二光線路を透過した第二出射光
を光電変換して、第一光変調工程に出力する第二光電変
換工程と、を備えるように構成される。
【００２８】請求項１６に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法に用いられる光生成方法であって、波長を変化さ
せられる可変波長光を生成する可変波長光生成工程と、
可変波長光を入力された電気信号の周波数で変調した第
一入射光を第一光線路に入射する第一光変調工程と、第
二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、第一光
変調工程に出力する第二光電変換工程と、を備えるよう
に構成される。
【００２９】請求項１７に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法であって、第一光線路を透過した第一出射光を光
電変換する第一光電変換工程と、波長が固定された固定
波長光を生成する固定波長光生成工程と、所定の周波数
の基準電気信号を発生する信号発生工程と、固定波長光
を基準電気信号の周波数で変調した第二入射光を第二光
線路に入射する第二光変調工程と、を備えるように構成
される。
【００３０】請求項１８に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法に用いられる光生成方法であって、波長が固定さ
れた固定波長光を生成する固定波長光生成工程と、固定
波長光を入力された電気信号の周波数で変調した第一入
射光を第一光線路に入射する第一光変調工程と、第二光
線路を透過した第二出射光を光電変換して、第一光変調
工程に出力する第二光電変換工程と、を備えるように構
成される。
【００３１】請求項１９に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法であって、第一光線路を透過した第一出射光を光
電変換する第一光電変換工程と、波長を変化させられる
可変波長光を生成する可変波長光生成工程と、所定の周
波数の基準電気信号を発生する信号発生工程と、可変波
長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射光を第
二光線路に入射する第二光変調工程と、を備えるように
構成される。
【００３２】請求項２０に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法に用いられる光生成方法であって、波長を変化さ
せられる第一可変波長光を生成する第一可変波長光生成
工程と、第一可変波長光を入力された電気信号の周波数
で変調した第一入射光を第一光線路に入射する第一光変
調工程と、第二光線路を透過した第二出射光を光電変換
して、第一光変調工程に出力する第二光電変換工程と、
を備えるように構成される。
【００３３】請求項２１に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る方法であって、第一光線路を透過した第一出射光を光
電変換する第一光電変換工程と、波長を変化させられる
第二可変波長光を生成する第二可変波長光生成工程と、
所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程
と、第二可変波長光を基準電気信号の周波数で変調した
第二入射光を第二光線路に入射する第二光変調工程と、
を備えるように構成される。
【００３４】請求項２２に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを
記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体
であって、波長を変化させられる可変波長光を生成する
可変波長光生成処理と、可変波長光を入力された電気信
号の周波数で変調した第一入射光を第一光線路に入射す
る第一光変調処理と、第一光線路を透過した第一出射光
を光電変換する第一光電変換処理と、波長が固定された
固定波長光を生成する固定波長光生成処理と、所定の周
波数の基準電気信号を発生する信号発生処理と、固定波
長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射光を第
二光線路に入射する第二光変調処理と、第二光線路を透
過した第二出射光を光電変換して、第一光変調処理に出
力する第二光電変換処理と、を備えた記録媒体である。
【００３５】請求項２３に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを
記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体
であって、波長が固定された固定波長光を生成する固定
波長光生成処理と、固定波長光を入力された電気信号の
周波数で変調した第一入射光を第一光線路に入射する第
一光変調処理と、第一光線路を透過した第一出射光を光
電変換する第一光電変換処理と、波長を変化させられる
可変波長光を生成する可変波長光生成処理と、所定の周
波数の基準電気信号を発生する信号発生処理と、可変波
長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射光を第
二光線路に入射する第二光変調処理と、第二光線路を透
過した第二出射光を光電変換して、第一光変調処理に出
力する第二光電変換処理と、を備えた記録媒体である。
【００３６】請求項２４に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを
記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体
であって、波長を変化させられる第一可変波長光を生成
する第一可変波長光生成処理と、第一可変波長光を入力
された電気信号の周波数で変調した第一入射光を第一光
線路に入射する第一光変調処理と、第一光線路を透過し
た第一出射光を光電変換する第一光電変換処理と、波長
を変化させられる第二可変波長光を生成する第二可変波
長生成処理と、所定の周波数の基準電気信号を発生する
信号発生処理と、第二可変波長光を基準電気信号の周波
数で変調した第二入射光を第二光線路に入射する第二光
変調処理と、第二光線路を透過した第二出射光を光電変
換して、第一光変調処理に出力する第二光電変換処理
と、を備えた記録媒体である。
【００３７】請求項２５に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録したコンピュータによって
読み取り可能な記録媒体であって、波長を変化させられ
る可変波長光を生成する可変波長光生成処理と、可変波
長光を入力された電気信号の周波数で変調した第一入射
光を第一光線路に入射する第一光変調処理と、第二光線
路を透過した第二出射光を光電変換して、第一光変調処
理に出力する第二光電変換処理と、を備えた記録媒体で
ある。
【００３８】請求項２６に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを
記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体
であって、第一光線路を透過した第一出射光を光電変換
する第一光電変換処理と、波長が固定された固定波長光
を生成する固定波長光生成処理と、所定の周波数の基準
電気信号を発生する信号発生処理と、固定波長光を基準
電気信号の周波数で変調した第二入射光を第二光線路に
入射する第二光変調処理と、を備えた記録媒体である。
【００３９】請求項２７に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録したコンピュータによって
読み取り可能な記録媒体であって、波長が固定された固
定波長光を生成する固定波長光生成処理と、固定波長光
を入力された電気信号の周波数で変調した第一入射光を
第一光線路に入射する第一光変調処理と、第二光線路を
透過した第二出射光を光電変換して、第一光変調処理に
出力する第二光電変換処理と、を備えた記録媒体であ
る。
【００４０】請求項２８に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを
記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体
であって、第一光線路を透過した第一出射光を光電変換
する第一光電変換処理と、波長を変化させられる可変波
長光を生成する可変波長光生成処理と、所定の周波数の
基準電気信号を発生する信号発生処理と、可変波長光を
基準電気信号の周波数で変調した第二入射光を第二光線
路に入射する第二光変調処理と、を備えた記録媒体であ
る。
【００４１】請求項２９に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理に用いられる光生成処理をコンピュータに実行さ
せるためのプログラムを記録したコンピュータによって
読み取り可能な記録媒体であって、波長を変化させられ
る第一可変波長光を生成する第一可変波長光生成処理
と、第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
調した第一入射光を第一光線路に入射する第一光変調処
理と、第二光線路を透過した第二出射光を光電変換し
て、第一光変調処理に出力する第二光電変換処理と、を
備えた記録媒体である。
【００４２】請求項３０に記載の発明は、光をある一方
向にのみ通す第一光線路と、光を一方向の反対方向にの
み通す第二光線路と、を有する被計測物の特性を測定す
る処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを
記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体
であって、第一光線路を透過した第一出射光を光電変換
する第一光電変換処理と、波長を変化させられる第二可
変波長光を生成する第二可変波長光生成処理と、所定の
周波数の基準電気信号を発生する信号発生処理と、第二
可変波長光を基準電気信号の周波数で変調した第二入射
光を第二光線路に入射する第二光変調処理と、を備えた
記録媒体である。
【００４３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
を参照して説明する。
【００４４】第一の実施形態 図１は、本発明の第一の実施形態にかかる光特性測定装
置の構成を示すブロック図である。第一の実施形態にか
かる光特性測定装置は、１ファイバペア３０の一端に接
続される光源システム１０と、１ファイバペア３０の他
端に接続される特性測定システム２０と、を有する。
【００４５】１ファイバペア３０は、第一光ファイバ線
路３２と、第二光ファイバ線路３４と、を有する。光フ
ァイバ線路３２は、光ファイバ３２ａと、光ファイバ３
２ａの途中に接続され、光を増幅する光アンプ３２ｂ
と、を有する。光ファイバ線路３２は、右方向に光を通
す。光ファイバ線路３４は、光ファイバ３４ａと、光フ
ァイバ３４ａの途中に接続され、光を増幅する光アンプ
３４ｂと、を有する。光ファイバ線路３４は、左方向に
光を通す。
【００４６】第一の実施形態においては、第一光ファイ
バ線路３２の測定を想定しており、第一光ファイバ線路
３２の入射側（左側）に光源システム１０を、出射側
（右側）に特性測定システム２０を接続している。
【００４７】光源システム１０は、可変波長光源１２、
第一光変調器１５、第二光電変換器１６、増幅器（アン
プ）１８を備える。可変波長光源１２は、波長を変化さ
せられる可変波長光を生成する。可変波長光源１２によ
って、可変波長光の波長λｘを掃引することができる。
第一光変調器１５は、可変波長光を第二光電変換器１６
が出力する電気信号の周波数で変調する。第一光変調器
１５は、リチウム・ナイオベート（ＬＮ）を有すること
が一般的であるが、変調ができればＬＮを有していなく
てもよい。第一光変調器１５の出力した光（第一入射
光）は、第一光ファイバ線路３２に入射される。第二光
電変換器１６は、第二光ファイバ線路３４から出射され
た第二出射光を光電変換する。増幅器（アンプ）１８
は、第二光電変換器１６の出力した電気信号を増幅し
て、第一光変調器１５に入力する。
【００４８】第一光ファイバ線路３２に入射された第一
入射光は、第一光ファイバ線路３２を透過する。第一光
ファイバ線路３２を透過した光を第一出射光という。
【００４９】特性測定システム２０は、固定波長光源２
１、第一光電変換器２２、第二光変調器２３、増幅器
（アンプ）２４、電源（信号源）２５、位相比較器２
６、特性計算部２８を備える。
【００５０】固定波長光源２１は、波長が固定された固
定波長光を生成する。固定波長光の波長は、第二光ファ
イバ線路３４において波長分散が最小になる波長λ０に
固定しておくことが望ましい。
【００５１】第一光電変換器２２は、第一出射光を光電
変換する。電源（信号源）２５は、周波数ｆｍの電気信
号（基準電気信号）を発生する。第二光変調器２３は、
固定波長光を電源（信号源）２５が出力する電気信号の
周波数ｆｍで変調する。第二光変調器２３は、リチウム
・ナイオベート（ＬＮ）を有する。第二光変調器２３の
出力した光（第二入射光）は、第二光ファイバ線路３４
に入射される。なお、第二入射光は、第二光ファイバ線
路３４を透過する。第二光ファイバ線路３４を透過した
光を第二出射光という。増幅器（アンプ）２４は、第一
光電変換器２２の出力を増幅する。
【００５２】位相比較器２６は、電源（信号源）２５の
発生する電気信号を端子Ref_Inに、増幅器（アンプ）２
４の出力する電気信号を端子Prob_Inに受ける。位相比
較器２６は、端子Ref_Inにて受け取った電気信号を基準
として、端子Prob_Inにて受け取った電気信号の位相を
計測する。
【００５３】特性計算部２８は、位相比較器２６が計測
した位相を記録しておき、記録された位相に基づき、第
一光ファイバ線路３２の群遅延特性や波長分散特性を計
算する。群遅延特性は、位相比較器２６が計測した位相
と、変調周波数ｆｍとの関係から計算できる。波長分散
特性は、群遅延特性を波長で微分してもとめることがで
きる。
【００５４】次に、本発明の第一の実施形態の動作を図
２のフローチャートを用いて説明する。左側には特性測
定システム２０の動作を、右側には光源システム１０の
動作を、示す。まず、左側を参照して、固定波長光源２
１から固定波長光（λ＝λ０）を発生する（Ｓ２０）。
次に、固定波長光を、電源（信号源）の発生する基準電
気信号の周波数ｆｍで変調する（Ｓ２２）。そして、固
定波長光の発生（Ｓ２０）に戻る。
【００５５】周波数ｆｍで変調された固定波長光は第二
入射光である。第二入射光は、第二光ファイバ線路３４
を透過して第二出射光として、光源システム１０に入射
される。
【００５６】ここで、図２の右側を参照する。可変波長
光の波長λｘを変更する（Ｓ１０）。次に、可変波長光
源１２から可変波長光（λ＝λｘ）を発生する（Ｓ１
２）。第二出射光は、第二光電変換器１６により光電変
換される（Ｓ１４）。
【００５７】ここで、固定波長光の波長λ０は、第二光
ファイバ線路３４において波長分散が最小になるように
設定されている。よって、第二出射光を光電変換したも
のは、第二入射光と比べて位相のずれ等が小さい。そこ
で、第二出射光を光電変換したものと、基準電気信号と
は周波数および位相とが同一とみなせる。
【００５８】そして、第二光電変換器１６の出力は増幅
器１８により増幅される（Ｓ１６）。次に、可変波長光
は、第一光変調器１５により、第二光電変換器１６の出
力した電気信号の周波数で変調される（Ｓ１８）。第二
光電変換器１６の出力した電気信号の周波数は、基準電
気信号の周波数ｆｍに等しいとみなせる。なお、第一光
変調器１５が変調した光（第一入射光）は、第一光ファ
イバ線路３２に入射する。
【００５９】そして、可変波長光の波長λｘの変更（掃
引）（Ｓ１０）に戻る。なお、任意の時点に電源を断つ
（Ｓ１９）ことにより、終了する。
【００６０】次に、図２の左側を参照する。第一入射光
は第一光ファイバ線路３２を透過して第一出射光とな
る。第一出射光は、第一光電変換器２２により光電変換
される（Ｓ２４）。第一光電変換器２２の出力する電気
信号は、増幅器（アンプ）２４により増幅される（Ｓ２
６）。次に、位相比較器２６は、電源（信号源）２５の
発生する基準電気信号を端子Ref_Inに、増幅器（アン
プ）２４の出力する計測用電気信号を端子Prob_Inに受
ける。位相比較器２６は、端子Ref_Inにて受け取った基
準電気信号を基準として、端子Prob_Inにて受け取った
計測用電気信号の位相を計測する（Ｓ２８）。そして、
計測された位相を特性計算部２８に記録する。
【００６１】端子Prob_Inにて受け取った計測用電気信
号の位相は、第一光ファイバ線路３２による波長分散の
影響を受けている。しかし、端子Ref_Inにて受け取った
基準電気信号の位相は、第一光ファイバ線路３２による
波長分散の影響を受けていない。よって、端子Ref_Inに
て受け取った基準電気信号を基準として、端子Prob_In
にて受け取った計測用電気信号の位相を計測すること
で、第一光ファイバ線路３２の特性の計算が可能とな
る。
【００６２】光源システム１０が動作を終了すると、特
性計算部２８は、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性
や波長分散特性を計算する（Ｓ２９）。群遅延特性は、
位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆｍとの
関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波
長で微分したものである。
【００６３】第一の実施形態によれば、１ファイバペア
しか確保できなくても、第一光ファイバ線路３２の波長
分散等の計測が可能である。
【００６４】第二の実施形態 第二の実施形態にかかる光特性測定装置は、第一の実施
形態と比較して、特性測定システム２０が波長可変光源
を有する点、特性測定システム２０が、第二入射光の反
射光を光電変換および増幅して、基準電気信号と位相を
比較する点が異なる。
【００６５】図３は、第二の実施形態にかかる光特性測
定装置の構成の概略を示すブロック図である。以下、第
一の実施形態と同様な部分は、同一の符号を付して説明
を省略する。
【００６６】光源システム１０は、固定波長光源１１、
第一光変調器１５、第二光電変換器１６、増幅器（アン
プ）１８を備える。固定波長光源１１は、波長が固定さ
れた固定波長光を生成する。固定波長光の波長は、第一
光ファイバ線路３２において波長分散が最小になる波長
λ０に固定しておくことが望ましい。
【００６７】特性測定システム２０は、可変波長光源２
９、第一光電変換器２２ａ、第三光電変換器２２ｂ、第
二光変調器２３、増幅器（アンプ）２４ａ、ｂ、電源
（信号源）２５、位相比較器２６、特性計算部２８を備
える。
【００６８】可変波長光源２９は、波長を変化させられ
る可変波長光を生成する。可変波長光源２１によって、
可変波長光の波長λｙを掃引することができる。第三光
電変換器２２ｂは、第二入射光の反射光を光電変換す
る。増幅器（アンプ）２４ｂは、第三光電変換器２２ｂ
の出力する電気信号を増幅する。
【００６９】位相比較器２６は、電源（信号源）２５の
発生する電気信号を端子Ref_Inに、増幅器（アンプ）２
４ａの出力する計測用電気信号を端子Prob_In１に、増
幅器（アンプ）２４ｂの出力する反射計測用電気信号を
端子Prob_In２に、受ける。位相比較器２６は、端子Ref
_Inにて受け取った電気信号を基準として、端子Prob_In
１および端子Prob_In２にて受け取った電気信号の位相
を計測する。
【００７０】第二の実施形態の動作を図４のフローチャ
ートを参照して説明する。左側には特性測定システム２
０の動作を、右側には光源システム１０の動作を、示
す。まず、左側を参照して、可変波長光の波長λｙを変
更する（Ｓ２０）。次に、可変波長光源１２から可変波
長光（λ＝λｙ）を発生する（Ｓ２１）。次に、可変波
長光を、電源（信号源）の発生する基準電気信号の周波
数ｆｍで変調する（Ｓ２２）。そして、可変波長光の発
生（Ｓ２０）に戻る。
【００７１】周波数ｆｍで変調された固定波長光は第二
入射光である。第二入射光は、第二光ファイバ線路３４
を透過して第二出射光として、光源システム１０に入射
される。
【００７２】ここで、図４の右側を参照する。まず、固
定波長光源２１から固定波長光（λ＝λ０）を発生する
（Ｓ１０）。第二出射光は、第二光電変換器１６により
光電変換される（Ｓ１４）。
【００７３】ここで、第二出射光を光電変換したもの
は、第二光ファイバ線路３４の波長分散の影響を受けて
いる。
【００７４】そして、第二光電変換器１６の出力は増幅
される（Ｓ１６）。次に、可変波長光は、第一光変調器
１５により、第二光電変換器１６の出力した電気信号の
周波数で変調される（Ｓ１８）。なお、第一光変調器１
５が変調した光（第一入射光）は、第一光ファイバ線路
３２に入射する。
【００７５】ここで、固定波長光の波長λ０は、第一光
ファイバ線路３２において波長分散が最小になるように
設定されている。よって、第一出射光を光電変換したも
のは、第一光ファイバ線路３２の波長分散の影響を受け
ずに、第二光ファイバ線路３４の波長分散の影響のみを
受けていることになる。
【００７６】そして、固定波長光の発生（Ｓ１０）に戻
る。なお、任意の時点に電源を断つ（Ｓ１９）ことによ
り、終了する。
【００７７】次に、図４の左側を参照する。第一入射光
は第一光ファイバ線路３２を透過して第一出射光とな
る。第一出射光は、第一光電変換器２２ａにより光電変
換される（Ｓ２４）。また、第三光電変換器２２ｂは、
第二入射光の反射光を光電変換する（Ｓ２４）。次に、
第一光電変換器２２ａ、第三光電変換器２２ｂの出力す
る電気信号は、それぞれ増幅器（アンプ）２４ａ、ｂに
より増幅される（Ｓ２６）。次に、位相比較器２６は、
電源（信号源）２５の発生する基準電気信号を端子Ref_
Inに、増幅器（アンプ）２４ａの出力する計測用電気信
号を端子Prob_In１に、増幅器（アンプ）２４ｂの出力
する反射計測用電気信号を端子Prob_In２に、受ける。
位相比較器２６は、端子Ref_Inにて受け取った基準電気
信号を基準として、端子Prob_In１および端子Prob_In２
にて受け取った電気信号の位相を計測する（Ｓ２８）。
そして、計測された位相を特性計算部２８に記録する。
【００７８】端子Prob_In１および端子Prob_In２にて受
け取った電気信号の位相は、第二光ファイバ線路３４に
よる波長分散の影響を受けている。しかし、端子Ref_In
にて受け取った基準電気信号の位相は、第二光ファイバ
線路３４による波長分散の影響を受けていない。よっ
て、端子Ref_Inにて受け取った基準電気信号を基準とし
て、端子Prob_In１および端子Prob_In２にて受け取った
電気信号の位相を計測することで、第二光ファイバ線路
３４の特性の計算が可能となる。
【００７９】光源システム１０が動作を終了すると、特
性計算部２８は、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性
や波長分散特性を計算する（Ｓ２９）。群遅延特性は、
位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆｍとの
関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波
長で微分したものである。
【００８０】第二の実施形態によれば、１ファイバペア
しか確保できなくても、第二光ファイバ線路３４の波長
分散等の計測が可能である。
【００８１】第三の実施形態 第三の実施形態にかかる光特性測定装置は、光源システ
ム１０が可変波長光源を有する点で第二の実施形態と異
なる。
【００８２】第三の実施形態の構成を図３を参照して説
明する。光源システム１０は、可変波長光源１２、第一
光変調器１５、第二光電変換器１６、増幅器（アンプ）
１８を備える。第一可変波長光源１２は、波長を変化さ
せられる第一可変波長光を生成する。第一可変波長光源
１２によって、第一可変波長光の波長λｘを掃引するこ
とができる。他の部分の構成は第二の実施形態と同様で
ある。また、特性測定システム２０の構成も第二の実施
形態と同様である。ただし、第二の実施形態における可
変波長光源２１は、第三の実施形態においては第二可変
波長光源２１である。
【００８３】次に、本発明の第三の実施形態を図５のフ
ローチャートを用いて説明する。左側には特性測定シス
テム２０の動作を、右側には光源システム１０の動作
を、示す。まず、左側を参照して、第二可変波長光の波
長λｙを変更する（Ｓ２０）。次に、可変波長光源１２
から第二可変波長光（λ＝λｙ）を発生する（Ｓ２
１）。次に、第二可変波長光を、電源（信号源）の発生
する基準電気信号の周波数ｆｍで変調する（Ｓ２２）。
そして、第二可変波長光の発生（Ｓ２０）に戻る。
【００８４】周波数ｆｍで変調された固定波長光は第二
入射光である。第二入射光は、第二光ファイバ線路３４
を透過して第二出射光として、光源システム１０に入射
される。
【００８５】ここで、図５の右側を参照する。第一可変
波長光の波長λｘを変更する（Ｓ１０）。なお、λｘの
変更（掃引）は、λｙの変更（掃引）に同期して行う。
次に、第一可変波長光源１２から第一可変波長光（λ＝
λｘ）を発生する（Ｓ１２）。第二出射光は、第二光電
変換器１６により光電変換される（Ｓ１４）。
【００８６】そして、第二光電変換器１６の出力は増幅
される（Ｓ１６）。次に、第一可変波長光は、第一光変
調器１５により、第二光電変換器１６の出力した電気信
号の周波数で変調される（Ｓ１８）。なお、第一光変調
器１５が変調した光（第一入射光）は、第一光ファイバ
線路３２に入射する。
【００８７】そして、第一可変波長光の発生（Ｓ１０）
に戻る。なお、任意の時点に電源を断つ（Ｓ１９）こと
により、終了する。
【００８８】次に、図５の左側を参照する。第一入射光
は第一光ファイバ線路３２を透過して第一出射光とな
る。第一出射光は、第一光電変換器２２ａにより光電変
換される（Ｓ２４）。また、第三光電変換器２２ｂは、
第二入射光の反射光を光電変換する（Ｓ２４）。次に、
第一光電変換器２２ａ、第三光電変換器２２ｂの出力す
る電気信号は、それぞれ増幅器（アンプ）２４ａ、ｂに
より増幅される（Ｓ２６）。次に、位相比較器２６は、
電源（信号源）２５の発生する基準電気信号を端子Ref_
Inに、増幅器（アンプ）２４ａの出力する計測用電気信
号を端子Prob_In１に、増幅器（アンプ）２４ｂの出力
する反射計測用電気信号を端子Prob_In２に、受ける。
位相比較器２６は、端子Ref_Inにて受け取った基準電気
信号を基準として、端子Prob_In１および端子Prob_In２
にて受け取った電気信号の位相を計測する（Ｓ２８）。
そして、計測された位相を特性計算部２８に記録する。
【００８９】光源システム１０が動作を終了すると、特
性計算部２８は、第一光ファイバ線路３２の群遅延特性
や波長分散特性を計算する（Ｓ２９）。群遅延特性は、
位相比較器２６が計測した位相と、変調周波数ｆｍとの
関係から計算できる。波長分散特性は、群遅延特性を波
長で微分したものである。
【００９０】第三の実施形態によれば、１ファイバペア
しか確保できなくても、第一光ファイバ線路３２および
第二光ファイバ線路３４の波長分散等の計測が可能であ
る。
【００９１】また、上記の実施形態は、以下のようにし
て実現できる。ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フ
ロッピー（登録商標）ディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読
み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装
置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメ
ディアを読み取らせて、ハードディスクにインストール
する。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【００９２】
【発明の効果】本発明によれば、被測定物が１ファイバ
ペアであったとしても群遅延特性等が測定可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の第一の実施形態にかかる光特性測定装
置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施形態の動作を示すフローチ
ャートである。
【図３】本発明の第二および第三の実施形態にかかる光
特性測定装置の構成を示すブロック図である。
【図４】本発明の第二の実施形態の動作を示すフローチ
ャートである。
【図５】本発明の第三の実施形態の動作を示すフローチ
ャートである。
【図６】従来技術の１ファイバペアの構成を示す図であ
る。
【図７】従来技術の２ファイバペアの波長分散特性を測
定するときの測定系の構成を示す図である。
【符号の説明】
１０ 光源システム １２ 可変波長光源 １５ 第一光変調器 １６ 第二光電変換器 １８ 増幅器（アンプ） ２０ 特性測定システム ２１ 固定波長光源 ２２ａ 第一光電変換器 ２２ｂ 第三光電変換器 ２３ 第二光変調器 ２４、２４ａ、ｂ 増幅器（アンプ） ２５ 電源（信号源） ２６ 位相比較器 ２８ 特性計算部 ２９ 可変波長光源 ３０ １ファイバペア ３２ 第一光ファイバ線路 ３４ 第二光ファイバ線路

Claims (30)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】光をある一方向にのみ通す第一光線路と、
    光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路と、を
    有する被計測物の特性を測定する装置であって、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    源と、 前記可変波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調手
    段と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換手段と、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源
    と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源と、 前記固定波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調手段
    と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調手段に出力する第二光電変換手段と、 を備えた光特性測定装置。
  2. 【請求項２】光をある一方向にのみ通す第一光線路と、
    光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路と、を
    有する被計測物の特性を測定する装置であって、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源
    と、 前記固定波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調手
    段と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換手段と、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    源と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源と、 前記可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調手段
    と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調手段に出力する第二光電変換手段と、 を備えた光特性測定装置。
  3. 【請求項３】光をある一方向にのみ通す第一光線路と、
    光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路と、を
    有する被計測物の特性を測定する装置であって、 波長を変化させられる第一可変波長光を生成する第一可
    変波長光源と、 前記第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
    調した第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変
    調手段と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換手段と、 波長を変化させられる第二可変波長光を生成する第二可
    変波長光源と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源と、 前記第二可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調
    した第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調
    手段と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調手段に出力する第二光電変換手段と、 を備えた光特性測定装置。
  4. 【請求項４】前記第二光変調手段が前記第二光線路に前
    記第二入射光を入射した時の反射光を光電変換する第三
    光電変換手段を備えた請求項２または３に記載の光特性
    測定装置。
  5. 【請求項５】前記第一光電変換手段の出力する計測用電
    気信号と前記基準電気信号との位相差を計測する位相差
    を計測する位相比較手段と、 前記位相差を使用して、被計測物の群遅延特性または分
    散特性を計算する特性計算手段と、 を備えた請求項１ないし３のいずれか一項に記載の光特
    性測定装置。
  6. 【請求項６】前記第三光電変換手段の出力する反射計測
    用電気信号と前記基準電気信号との位相差を計測する位
    相差を計測する位相比較手段と、 前記位相差を使用して、被計測物の群遅延特性または分
    散特性を計算する特性計算手段と、 を備えた請求項４に記載の光特性測定装置。
  7. 【請求項７】光をある一方向にのみ通す第一光線路と、
    光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路と、を
    有する被計測物の特性を測定する装置に用いられる光生
    成装置であって、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    源と、 前記可変波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調手
    段と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調手段に出力する第二光電変換手段と、 を備えた光生成装置。
  8. 【請求項８】光をある一方向にのみ通す第一光線路と、
    光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路と、を
    有する被計測物の特性を測定する装置であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換手段と、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源
    と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源と、 前記固定波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調手段
    と、 を備えた光特性測定装置。
  9. 【請求項９】光をある一方向にのみ通す第一光線路と、
    光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路と、を
    有する被計測物の特性を測定する装置に用いられる光生
    成装置であって、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光源
    と、 前記固定波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調手
    段と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調手段に出力する第二光電変換手段と、 を備えた光生成装置。
  10. 【請求項１０】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する装置であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換手段と、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    源と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源と、 前記可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調手段
    と、 を備えた光特性測定装置。
  11. 【請求項１１】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する装置に用いられ
    る光生成装置であって、 波長を変化させられる第一可変波長光を生成する第一可
    変波長光源と、 前記第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
    調した第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変
    調手段と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調手段に出力する第二光電変換手段と、 を備えた光生成装置。
  12. 【請求項１２】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する装置であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換手段と、 波長を変化させられる第二可変波長光を生成する第二可
    変波長光源と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号源と、 前記第二可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調
    した第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調
    手段と、 を備えた光特性測定装置。
  13. 【請求項１３】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法であって、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成工程と、 前記可変波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調工
    程と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換工程と、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    工程と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程
    と、 前記固定波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調工程
    と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調工程に出力する第二光電変換工程と、 を備えた光特性測定方法。
  14. 【請求項１４】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法であって、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    工程と、 前記固定波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調工
    程と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換工程と、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成工程と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程
    と、 前記可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調工程
    と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調工程に出力する第二光電変換工程と、 を備えた光特性測定方法。
  15. 【請求項１５】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法であって、 波長を変化させられる第一可変波長光を生成する第一可
    変波長光生成工程と、 前記第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
    調した第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変
    調工程と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換工程と、 波長を変化させられる第二可変波長光を生成する第二可
    変波長生成工程と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程
    と、 前記第二可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調
    した第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調
    工程と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調工程に出力する第二光電変換工程と、 を備えた光特性測定方法。
  16. 【請求項１６】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法に用いられ
    る光生成方法であって、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成工程と、 前記可変波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調工
    程と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調工程に出力する第二光電変換工程と、 を備えた光生成方法。
  17. 【請求項１７】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換工程と、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    工程と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程
    と、 前記固定波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調工程
    と、 を備えた光特性測定方法。
  18. 【請求項１８】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法に用いられ
    る光生成方法であって、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    工程と、 前記固定波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調工
    程と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調工程に出力する第二光電変換工程と、 を備えた光生成方法。
  19. 【請求項１９】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換工程と、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成工程と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程
    と、 前記可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調工程
    と、 を備えた光特性測定方法。
  20. 【請求項２０】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法に用いられ
    る光生成方法であって、 波長を変化させられる第一可変波長光を生成する第一可
    変波長光生成工程と、 前記第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
    調した第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変
    調工程と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調工程に出力する第二光電変換工程と、 を備えた光生成方法。
  21. 【請求項２１】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する方法であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換工程と、 波長を変化させられる第二可変波長光を生成する第二可
    変波長光生成工程と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生工程
    と、 前記第二可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調
    した第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調
    工程と、 を備えた光特性測定方法。
  22. 【請求項２２】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理をコンピュ
    ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
    ータによって読み取り可能な記録媒体であって、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成処理と、 前記可変波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調処
    理と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換処理と、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    処理と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生処理
    と、 前記固定波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調処理
    と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調処理に出力する第二光電変換処理と、 を備えた記録媒体。
  23. 【請求項２３】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理をコンピュ
    ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
    ータによって読み取り可能な記録媒体であって、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    処理と、 前記固定波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調処
    理と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換処理と、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成処理と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生処理
    と、 前記可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調処理
    と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調処理に出力する第二光電変換処理と、 を備えた記録媒体。
  24. 【請求項２４】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理をコンピュ
    ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
    ータによって読み取り可能な記録媒体であって、 波長を変化させられる第一可変波長光を生成する第一可
    変波長光生成処理と、 前記第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
    調した第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変
    調処理と、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換処理と、 波長を変化させられる第二可変波長光を生成する第二可
    変波長生成処理と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生処理
    と、 前記第二可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調
    した第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調
    処理と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調処理に出力する第二光電変換処理と、 を備えた記録媒体。
  25. 【請求項２５】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理に用いられ
    る光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログ
    ラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記
    録媒体であって、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成処理と、 前記可変波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調処
    理と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調処理に出力する第二光電変換処理と、 を備えた記録媒体。
  26. 【請求項２６】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理をコンピュ
    ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
    ータによって読み取り可能な記録媒体であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換処理と、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    処理と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生処理
    と、 前記固定波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調処理
    と、 を備えた記録媒体。
  27. 【請求項２７】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理に用いられ
    る光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログ
    ラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記
    録媒体であって、 波長が固定された固定波長光を生成する固定波長光生成
    処理と、 前記固定波長光を入力された電気信号の周波数で変調し
    た第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変調処
    理と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調処理に出力する第二光電変換処理と、 を備えた記録媒体。
  28. 【請求項２８】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理をコンピュ
    ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
    ータによって読み取り可能な記録媒体であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換処理と、 波長を変化させられる可変波長光を生成する可変波長光
    生成処理と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生処理
    と、 前記可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調した
    第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調処理
    と、 を備えた記録媒体。
  29. 【請求項２９】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理に用いられ
    る光生成処理をコンピュータに実行させるためのプログ
    ラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記
    録媒体であって、 波長を変化させられる第一可変波長光を生成する第一可
    変波長光生成処理と、 前記第一可変波長光を入力された電気信号の周波数で変
    調した第一入射光を前記第一光線路に入射する第一光変
    調処理と、 前記第二光線路を透過した第二出射光を光電変換して、
    前記第一光変調処理に出力する第二光電変換処理と、 を備えた記録媒体。
  30. 【請求項３０】光をある一方向にのみ通す第一光線路
    と、光を前記一方向の反対方向にのみ通す第二光線路
    と、を有する被計測物の特性を測定する処理をコンピュ
    ータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュ
    ータによって読み取り可能な記録媒体であって、 前記第一光線路を透過した第一出射光を光電変換する第
    一光電変換処理と、 波長を変化させられる第二可変波長光を生成する第二可
    変波長光生成処理と、 所定の周波数の基準電気信号を発生する信号発生処理
    と、 前記第二可変波長光を前記基準電気信号の周波数で変調
    した第二入射光を前記第二光線路に入射する第二光変調
    処理と、を備えた記録媒体。
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