JP2000304655A - 伝送特性測定システム - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 受信側での波長分離を不要にする。
【解決手段】 測定端局装置１０は、基準周波数ｆｒで
光強度変調した基準波長λｒの基準信号光と、基準周波
数ｆｒのＮ倍の測定周波数ｆｓで光強度変調した測定波
長λｓの測定信号光を波長多重して被測定線路１２に出
力する。光受信装置１４の光受信器４０は、被測定線路
１２を伝送した光（基準信号光と測定信号光）を電気信
号に変換する。帯域フィルタ４２は、受光器４０の出力
から基準周波数ｆｒの成分のみを抽出し、位相同期発振
回路４４は、帯域フィルタ４２の出力の周波数をＮ倍し
た周波数Ｎ×ｆｒ（＝ｆｓ）の正弦波信号を出力する。
同期検波回路４６は、位相同期発振回路４４の出力に従
い、受光器４０の出力を同期検波する。演算回路４８
は、回路４６の出力を波長で微分することで、波長分散
特性を算出し、表示装置５２の画面上に表示する。
光強度変調した基準波長λｒの基準信号光と、基準周波
数ｆｒのＮ倍の測定周波数ｆｓで光強度変調した測定波
長λｓの測定信号光を波長多重して被測定線路１２に出
力する。光受信装置１４の光受信器４０は、被測定線路
１２を伝送した光（基準信号光と測定信号光）を電気信
号に変換する。帯域フィルタ４２は、受光器４０の出力
から基準周波数ｆｒの成分のみを抽出し、位相同期発振
回路４４は、帯域フィルタ４２の出力の周波数をＮ倍し
た周波数Ｎ×ｆｒ（＝ｆｓ）の正弦波信号を出力する。
同期検波回路４６は、位相同期発振回路４４の出力に従
い、受光器４０の出力を同期検波する。演算回路４８
は、回路４６の出力を波長で微分することで、波長分散
特性を算出し、表示装置５２の画面上に表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、伝送特性測定シス
テムに関し、より具体的には、光ファイバ線路及び光素
子などの群遅延特性（及び波長分散特性）を測定する伝
送特性測定システムに関する。
テムに関し、より具体的には、光ファイバ線路及び光素
子などの群遅延特性（及び波長分散特性）を測定する伝
送特性測定システムに関する。
【０００２】
【従来の技術】光ファイバ伝送路の波長分散特性は伝送
特性に多大な影響を与える。波長分散は、単位波長当た
りの群遅延量であるので、波長分散特性は、群遅延特性
を更に波長で微分（計算）して得ることができる。従っ
て、通常、波長分散特性測定システムは、直接的には各
波長の群遅延特性を測定し、その結果から波長分散を計
算することになる。
特性に多大な影響を与える。波長分散は、単位波長当た
りの群遅延量であるので、波長分散特性は、群遅延特性
を更に波長で微分（計算）して得ることができる。従っ
て、通常、波長分散特性測定システムは、直接的には各
波長の群遅延特性を測定し、その結果から波長分散を計
算することになる。
【０００３】群遅延自体は、波長毎の伝搬時間差から測
定できる。長尺光ファイバの場合、単パルスの到達時間
差を用いた方法、及び、正弦波などの周期信号の位相変
化を検出する位相シフト方法がある。位相シフト法で
は、位相比較するための基準位相が必要であり、基準信
号と測定信号の２つの信号がある。光ファイバの入力端
と出力端が同一場所に存在する場合、基準信号を直接、
位相比較器に入力し、測定信号のみを被測定光ファイバ
を伝搬させて位相比較器に入力すればよく、その状態
で、測定信号の波長を掃引することにより群遅延特性
（伝搬時間差対波長）を測定できる。他方、敷設済みの
光ファイバ（光増幅システムも含む。）などのように、
光信号の入力端と出力端が別々の場所にある場合、基準
信号を遠端側に伝送する必要が生じる。
定できる。長尺光ファイバの場合、単パルスの到達時間
差を用いた方法、及び、正弦波などの周期信号の位相変
化を検出する位相シフト方法がある。位相シフト法で
は、位相比較するための基準位相が必要であり、基準信
号と測定信号の２つの信号がある。光ファイバの入力端
と出力端が同一場所に存在する場合、基準信号を直接、
位相比較器に入力し、測定信号のみを被測定光ファイバ
を伝搬させて位相比較器に入力すればよく、その状態
で、測定信号の波長を掃引することにより群遅延特性
（伝搬時間差対波長）を測定できる。他方、敷設済みの
光ファイバ（光増幅システムも含む。）などのように、
光信号の入力端と出力端が別々の場所にある場合、基準
信号を遠端側に伝送する必要が生じる。
【０００４】被測定ファイバに基準信号と測定信号を通
して波長分散を測定するシステムは、例えば、例えば、
平成７年特許出願公告第９３８６号公報及び米国特許第
４，９８４，８８４号明細書に記載されている。当然で
はあるが、基準信号の光波長と測定信号の光波長を異な
るものにする必要があるので、被測定ファイバの入力側
に測定信号光と基準信号光を波長多重する波長多重素子
を配置し、被測定ファイバの出力側には、測定信号光と
基準信号光を波長分離する波長分離素子を配置する。基
準信号光と測定信号光は、共通の発振器の出力により変
調されている。波長分離素子により分離された基準信号
光と測定信号光をそれぞれ電気信号に変換し、その電気
信号を位相比較することで、測定信号の群遅延量を測定
できる。測定信号光の波長を掃引することで、群遅延の
波長特性、従って波長分散特性を得ることができる。
して波長分散を測定するシステムは、例えば、例えば、
平成７年特許出願公告第９３８６号公報及び米国特許第
４，９８４，８８４号明細書に記載されている。当然で
はあるが、基準信号の光波長と測定信号の光波長を異な
るものにする必要があるので、被測定ファイバの入力側
に測定信号光と基準信号光を波長多重する波長多重素子
を配置し、被測定ファイバの出力側には、測定信号光と
基準信号光を波長分離する波長分離素子を配置する。基
準信号光と測定信号光は、共通の発振器の出力により変
調されている。波長分離素子により分離された基準信号
光と測定信号光をそれぞれ電気信号に変換し、その電気
信号を位相比較することで、測定信号の群遅延量を測定
できる。測定信号光の波長を掃引することで、群遅延の
波長特性、従って波長分散特性を得ることができる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】しかし、光増幅伝送シ
ステムは、伝送波長帯域が狭いので、その波長分散特性
を測定するには、分光特性に優れた波長分離素子を使用
する必要があり、装置コストが高くなる。波長分離素子
の分光波長を固定すると、測定できる波長帯が制限さ
れ、分光波長を可変にすると、基準信号と測定信号を分
光波長に追従させる必要があり、更にコストが増加す
る。
ステムは、伝送波長帯域が狭いので、その波長分散特性
を測定するには、分光特性に優れた波長分離素子を使用
する必要があり、装置コストが高くなる。波長分離素子
の分光波長を固定すると、測定できる波長帯が制限さ
れ、分光波長を可変にすると、基準信号と測定信号を分
光波長に追従させる必要があり、更にコストが増加す
る。
【０００６】本発明は、より簡易に群遅延特性又は波長
分散特性を精度良く測定できる伝送特性測定システムを
提示することを目的とする。
分散特性を精度良く測定できる伝送特性測定システムを
提示することを目的とする。
【０００７】本発明は更に、波長分離素子を必要としな
い伝送特性測定システムを提示することを目的とする。
い伝送特性測定システムを提示することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明に係る伝送特性測
定システムは、基準周波数ｆｒで光強度変調された測定
波長λｒの基準信号光を発生する基準信号光発生手段
と、当該基準周波数ｆｒに同期する測定周波数ｆｓで光
強度変調された測定波長λｓの測定信号光を発生する測
定信号光発生手段と、当該基準信号光発生手段及び当該
測定信号光発生手段により生成された基準信号光及び測
定信号光を合波して被測定光線路に出力する合波手段
と、当該被測定線路を伝搬した光を電気信号に変換する
受光手段と、当該受光手段の出力から当該基準周波数ｆ
ｒの成分を抽出する基準周波数抽出手段と、当該基準周
波数抽出手段の出力に従い、当該受光手段の出力に含ま
れる当該測定周波数ｆｓに相当する周波数成分の位相を
検出する位相検出手段とを具備することを特徴とする。
定システムは、基準周波数ｆｒで光強度変調された測定
波長λｒの基準信号光を発生する基準信号光発生手段
と、当該基準周波数ｆｒに同期する測定周波数ｆｓで光
強度変調された測定波長λｓの測定信号光を発生する測
定信号光発生手段と、当該基準信号光発生手段及び当該
測定信号光発生手段により生成された基準信号光及び測
定信号光を合波して被測定光線路に出力する合波手段
と、当該被測定線路を伝搬した光を電気信号に変換する
受光手段と、当該受光手段の出力から当該基準周波数ｆ
ｒの成分を抽出する基準周波数抽出手段と、当該基準周
波数抽出手段の出力に従い、当該受光手段の出力に含ま
れる当該測定周波数ｆｓに相当する周波数成分の位相を
検出する位相検出手段とを具備することを特徴とする。
【０００９】このような構成により、基準信号光（基準
波長）と測定信号光（測定波長）を波長分離せずに、測
定波長での伝送特性を測定できる。波長分離が不要にな
るので、基準波長と測定波長を近接配置できる。
波長）と測定信号光（測定波長）を波長分離せずに、測
定波長での伝送特性を測定できる。波長分離が不要にな
るので、基準波長と測定波長を近接配置できる。
【００１０】位相検出手段は好ましくは、基準周波数抽
出手段の出力に同期し、且つ、測定周波数ｆｓに相当す
る周波数の信号を生成する位相同期発振手段と、位相同
期発振手段の出力に従い当該受光手段の出力に含まれる
測定周波数ｆｓに相当する周波数成分の位相を検出する
検出手段とからなる。検出手段は好ましくは同期検波手
段である。
出手段の出力に同期し、且つ、測定周波数ｆｓに相当す
る周波数の信号を生成する位相同期発振手段と、位相同
期発振手段の出力に従い当該受光手段の出力に含まれる
測定周波数ｆｓに相当する周波数成分の位相を検出する
検出手段とからなる。検出手段は好ましくは同期検波手
段である。
【００１１】基準周波数ｆｒ及び測定周波数ｆｓの一方
に、測定波長λｓを示す信号及びその波長変更のタイミ
ングを示すトリガー信号の少なくとも一方を重畳して伝
送することにより、測定信号光の受信側で、測定波長の
変更を知ることができる。
に、測定波長λｓを示す信号及びその波長変更のタイミ
ングを示すトリガー信号の少なくとも一方を重畳して伝
送することにより、測定信号光の受信側で、測定波長の
変更を知ることができる。
【００１２】本発明に係る伝送特性測定システムはま
た、測定周波数ｆｓで発振する基準発振手段と、測定周
波数ｆｓで光強度変調された第１波長λａの第１信号光
を発生し、第１光線路に出力する第１信号光発生手段
と、当該第１光線路を伝搬した当該第１信号光を受光
し、当該測定周波数に対応する周波数の信号を出力する
第１受光手段と、当該受光手段から出力される周波数信
号により光強度変調された第２波長λｂの第２信号光を
発生し、第２光線路に出力する第２信号光発生手段と、
当該第２光線路を伝搬した当該第２信号光を受光する第
２受光手段と、当該基準発振手段の出力に従い当該第２
受光手段の出力に含まれる当該測定周波数の成分の位相
を検出する位相検出手段とからなることを特徴とする。
た、測定周波数ｆｓで発振する基準発振手段と、測定周
波数ｆｓで光強度変調された第１波長λａの第１信号光
を発生し、第１光線路に出力する第１信号光発生手段
と、当該第１光線路を伝搬した当該第１信号光を受光
し、当該測定周波数に対応する周波数の信号を出力する
第１受光手段と、当該受光手段から出力される周波数信
号により光強度変調された第２波長λｂの第２信号光を
発生し、第２光線路に出力する第２信号光発生手段と、
当該第２光線路を伝搬した当該第２信号光を受光する第
２受光手段と、当該基準発振手段の出力に従い当該第２
受光手段の出力に含まれる当該測定周波数の成分の位相
を検出する位相検出手段とからなることを特徴とする。
【００１３】このような構成により、第１波長及び第２
波長を制御することで、第１光線路及び第２光線路の各
伝送特性を個別に測定できる。しかも、一方の端局装置
で測定できる。
波長を制御することで、第１光線路及び第２光線路の各
伝送特性を個別に測定できる。しかも、一方の端局装置
で測定できる。
【００１４】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の実施例を詳
細に説明する。
細に説明する。
【００１５】図１は、本発明の一実施例の概略構成ブロ
ック図を示す。１０は、被測定線路１２に基準信号光及
び測定信号光を出力する光送信装置、１４は、被測定線
路１２を伝搬した基準信号光及び測定信号光を受信し、
その位相差を測定する光受信装置である。
ック図を示す。１０は、被測定線路１２に基準信号光及
び測定信号光を出力する光送信装置、１４は、被測定線
路１２を伝搬した基準信号光及び測定信号光を受信し、
その位相差を測定する光受信装置である。
【００１６】光送信装置１０の構成と動作を説明する。
基準発振器２０は基準周波数ｆｒで発振する。基準光源
２２が基準波長λｒの光を発生し、波長可変光源２４
は、測定波長λｓの光を発生する。制御回路２６は、測
定波長範囲で、波長可変光源２４の発振波長λｓを段階
的（又は連続的）に変化させる。基準波長λｒ、測定波
長λｓ及び測定波長範囲の関係を図２に示す。横軸は波
長である。基準光源２２の基準波長λｒは、少なくとも
測定中は一定である必要がある。詳細は後述するが、本
実施例では、受信側において基準波長λｒと測定波長λ
ｓを波長分離しないので、基準波長λｒと測定波長λｓ
は、相互に干渉しない程度に近接させることが可能であ
り、それだけ測定精度が高まる。
基準発振器２０は基準周波数ｆｒで発振する。基準光源
２２が基準波長λｒの光を発生し、波長可変光源２４
は、測定波長λｓの光を発生する。制御回路２６は、測
定波長範囲で、波長可変光源２４の発振波長λｓを段階
的（又は連続的）に変化させる。基準波長λｒ、測定波
長λｓ及び測定波長範囲の関係を図２に示す。横軸は波
長である。基準光源２２の基準波長λｒは、少なくとも
測定中は一定である必要がある。詳細は後述するが、本
実施例では、受信側において基準波長λｒと測定波長λ
ｓを波長分離しないので、基準波長λｒと測定波長λｓ
は、相互に干渉しない程度に近接させることが可能であ
り、それだけ測定精度が高まる。
【００１７】光強度変調器２８は、基準発振器２０から
出力される周波数ｆｒの正弦波信号に従って、基準光源
２２の出力光（波長λｒ）を強度変調する。
出力される周波数ｆｒの正弦波信号に従って、基準光源
２２の出力光（波長λｒ）を強度変調する。
【００１８】位相同期発振回路３０は、基準発振器２０
からの基準周波数をＮ倍（Ｎ＞１）した測定周波数ｆｓ
を生成し、変調器３２に供給する。変調器３２にはま
た、制御回路２６から波長可変光源２４の波長及び波長
変更のタイミングを示すトリガー等を示す信号が供給さ
れる。変調器３２は、制御回路２６からの信号により位
相同期発振回路３０からの正弦波信号をＡＭ変調して、
光強度変調器３４に印加する。光強度変調器３４は、変
調器３２の出力に従い可変波長光源２４の出力光（波長
λｓ）を光強度変調する。
からの基準周波数をＮ倍（Ｎ＞１）した測定周波数ｆｓ
を生成し、変調器３２に供給する。変調器３２にはま
た、制御回路２６から波長可変光源２４の波長及び波長
変更のタイミングを示すトリガー等を示す信号が供給さ
れる。変調器３２は、制御回路２６からの信号により位
相同期発振回路３０からの正弦波信号をＡＭ変調して、
光強度変調器３４に印加する。光強度変調器３４は、変
調器３２の出力に従い可変波長光源２４の出力光（波長
λｓ）を光強度変調する。
【００１９】合波器３６は、光強度変調器２８から出力
される基準信号光と、光強度変調器３４から出力される
測定信号光を合波し、そのほとんどを被測定線路１２
に、残りを波長計３８に供給する。波長計３８は、合波
器３６の出力光に含まれる基準信号光の波長（基準波長
λｒ）と測定信号光の波長（測定波長λｓ）を測定し、
測定結果を制御回路２６に通知する。測定波長λｓは、
測定された群遅延から波長分散を求めるのに必要であ
る。制御回路２６は、測定波長λｓを示す情報を変調器
３４に供給する。これにより、測定波長λｓの情報が、
測定信号光に載せて光受信装置１４に搬送される。この
観点では、波長計３８に相当する波長計を光受信装置１
４に設けた方がよい場合もある。基準光源２２及び波長
可変光源２４の波長精度が充分に高い場合には、波長計
３８は不要であるが、基準波長λｒ及び測定波長λｓの
監視に役立つ。
される基準信号光と、光強度変調器３４から出力される
測定信号光を合波し、そのほとんどを被測定線路１２
に、残りを波長計３８に供給する。波長計３８は、合波
器３６の出力光に含まれる基準信号光の波長（基準波長
λｒ）と測定信号光の波長（測定波長λｓ）を測定し、
測定結果を制御回路２６に通知する。測定波長λｓは、
測定された群遅延から波長分散を求めるのに必要であ
る。制御回路２６は、測定波長λｓを示す情報を変調器
３４に供給する。これにより、測定波長λｓの情報が、
測定信号光に載せて光受信装置１４に搬送される。この
観点では、波長計３８に相当する波長計を光受信装置１
４に設けた方がよい場合もある。基準光源２２及び波長
可変光源２４の波長精度が充分に高い場合には、波長計
３８は不要であるが、基準波長λｒ及び測定波長λｓの
監視に役立つ。
【００２０】なお基準光源２２を周波数ｆｒの信号で直
接、変調できる場合には、光強度変調器２８を省略でき
る。同様に、波長可変光源２４を周波数ｆｓの信号で直
接、変調できる場合には、光強度変調器３４を省略でき
る。
接、変調できる場合には、光強度変調器２８を省略でき
る。同様に、波長可変光源２４を周波数ｆｓの信号で直
接、変調できる場合には、光強度変調器３４を省略でき
る。
【００２１】合波器３６から被測定線路１２に入射した
光（基準信号光と測定信号光）は、被測定線路１２を伝
搬して、光受信装置１４に入力する。
光（基準信号光と測定信号光）は、被測定線路１２を伝
搬して、光受信装置１４に入力する。
【００２２】光受信装置１４の構成と動作を説明する。
被測定線路１２を伝送した光（基準信号光と測定信号
光）は、受光器４０に入射し、ここで電気信号に変換さ
れる。受光器４０の出力は、基準周波数ｆｒの成分と測
定周波数ｆｓの成分からなる。
被測定線路１２を伝送した光（基準信号光と測定信号
光）は、受光器４０に入射し、ここで電気信号に変換さ
れる。受光器４０の出力は、基準周波数ｆｒの成分と測
定周波数ｆｓの成分からなる。
【００２３】帯域フィルタ４２は、受光器４０の出力か
ら基準周波数ｆｒの成分のみを抽出して、位相同期発振
回路４４に供給する。位相同期発振回路４４は、帯域フ
ィルタ４２の出力の周波数をＮ倍した周波数Ｎ×ｆｒ
（＝ｆｓ）の正弦波信号を出力する。同期検波回路４６
は、位相同期発振回路４４の出力に従い、受光器４０の
出力を同期検波する。すなわち、位相同期発振回路４４
の出力周波数がＮ×ｆｒ（＝ｆｓ）であるので、同期検
波回路４６は、受光器４０の出力から周波数ｆｓ成分を
抽出し、その位相値を示す信号を出力する。測定波長λ
ｓを掃引すると、被測定線路１２の群遅延特性による位
相の、波長に対する変化を測定できる。同期検波回路４
６の検波結果は演算回路４８に供給される。
ら基準周波数ｆｒの成分のみを抽出して、位相同期発振
回路４４に供給する。位相同期発振回路４４は、帯域フ
ィルタ４２の出力の周波数をＮ倍した周波数Ｎ×ｆｒ
（＝ｆｓ）の正弦波信号を出力する。同期検波回路４６
は、位相同期発振回路４４の出力に従い、受光器４０の
出力を同期検波する。すなわち、位相同期発振回路４４
の出力周波数がＮ×ｆｒ（＝ｆｓ）であるので、同期検
波回路４６は、受光器４０の出力から周波数ｆｓ成分を
抽出し、その位相値を示す信号を出力する。測定波長λ
ｓを掃引すると、被測定線路１２の群遅延特性による位
相の、波長に対する変化を測定できる。同期検波回路４
６の検波結果は演算回路４８に供給される。
【００２４】復調器５０は、受光器４０の出力の内の測
定周波数ｆｓの成分から、変調器３２で付加された信号
（測位波長λｓ、及び波長変更のタイミングを示すトリ
ガー等を示す信号等）を復調し、演算回路４８に供給す
る。演算回路４８は、復調器５０の出力から現在測定中
の測定波長λｓを知ることができる。演算回路４８は、
一連の測定波長に対して、同期検波回路４６の出力から
得られる群遅延、及び、復調器５０の出力から得られる
測定波長を内部メモリに記憶し、群遅延を波長で微分す
ることで、波長分散を求める。得られた波長分散特性
は、表示装置５２の画面上にグラフとして表示される。
勿論、得られた波長分散特性を数値として出力しても良
い。
定周波数ｆｓの成分から、変調器３２で付加された信号
（測位波長λｓ、及び波長変更のタイミングを示すトリ
ガー等を示す信号等）を復調し、演算回路４８に供給す
る。演算回路４８は、復調器５０の出力から現在測定中
の測定波長λｓを知ることができる。演算回路４８は、
一連の測定波長に対して、同期検波回路４６の出力から
得られる群遅延、及び、復調器５０の出力から得られる
測定波長を内部メモリに記憶し、群遅延を波長で微分す
ることで、波長分散を求める。得られた波長分散特性
は、表示装置５２の画面上にグラフとして表示される。
勿論、得られた波長分散特性を数値として出力しても良
い。
【００２５】同期検波器は通常、測定周波数ｆｓの位相
だけでなく、信号振幅も検出できる。この振幅検出機能
は復調器５０と等価である。従って、同期検波回路４６
が、測定周波数ｆｓの振幅検出出力を具備する場合に
は、復調器５０を省略できる。
だけでなく、信号振幅も検出できる。この振幅検出機能
は復調器５０と等価である。従って、同期検波回路４６
が、測定周波数ｆｓの振幅検出出力を具備する場合に
は、復調器５０を省略できる。
【００２６】測定周波数ｆｓ成分の位相を検出するのに
同期検波を使用することにより、信号対雑音電力比の高
い測定が可能となり、また、測定周波数ｆｓを抽出する
帯域フィルタを具備する必要がない。これは、測定周波
数ｆｓを容易に変更できることを意味する。
同期検波を使用することにより、信号対雑音電力比の高
い測定が可能となり、また、測定周波数ｆｓを抽出する
帯域フィルタを具備する必要がない。これは、測定周波
数ｆｓを容易に変更できることを意味する。
【００２７】図３は、位相同期発振回路３０の概略構成
ブロック図を示す。基準発振器２０の出力は入力端子６
０を介して位相比較器６２に入力する。位相比較器６２
は、入力端子６０からの基準周波数ｆｒの信号と、発振
器３０の出力をＮ分周した結果とを比較し、その位相差
を示す電圧信号を出力する。位相比較器６２の出力はル
ープフィルタ６４により平滑化されて電圧制御発振器６
６に印加される。電圧制御発振器６６は、ループフィル
タ６４からの電圧信号の電圧値に応じた周波数で発振す
る。電圧制御発振器６６の出力は出力端子６８を介して
変調器３２に印加されると共に、分周器７０にも印加さ
れる。分周器７０は、電圧制御発振器６６の出力を１／
Ｎに分周し、その出力は、位相比較器６２の比較対象と
して位相比較器６２に印加される。位相同期発振回路３
０のこのような構成自体は周知である。
ブロック図を示す。基準発振器２０の出力は入力端子６
０を介して位相比較器６２に入力する。位相比較器６２
は、入力端子６０からの基準周波数ｆｒの信号と、発振
器３０の出力をＮ分周した結果とを比較し、その位相差
を示す電圧信号を出力する。位相比較器６２の出力はル
ープフィルタ６４により平滑化されて電圧制御発振器６
６に印加される。電圧制御発振器６６は、ループフィル
タ６４からの電圧信号の電圧値に応じた周波数で発振す
る。電圧制御発振器６６の出力は出力端子６８を介して
変調器３２に印加されると共に、分周器７０にも印加さ
れる。分周器７０は、電圧制御発振器６６の出力を１／
Ｎに分周し、その出力は、位相比較器６２の比較対象と
して位相比較器６２に印加される。位相同期発振回路３
０のこのような構成自体は周知である。
【００２８】帯域フィルタ４２の代わりに、図４に示す
ような位相同期ループ回路を用いても良い。受光器４０
の出力が入力端子７２を介して位相比較器７４に入力す
る。位相比較器７４は、入力端子７２からの信号と、こ
の位相同期ループ回路の出力信号との間で位相を比較
し、その位相差を示す電圧信号を出力する。位相比較器
７４の出力はループフィルタ７６により平滑化されて電
圧制御発振器７８に印加される。電圧制御発振器７８
は、ループフィルタ７６からの電圧信号の電圧値に応じ
た周波数で発振し、その出力は、出力端子８０から位相
同期発振回路４４に印加されると共に、入力端子７２か
らの入力信号との比較対象として位相比較器７４にも印
加される。電圧制御発振器７８の出力信号の周波数は、
入力端子７２に入力する信号の周波数と同じである。電
圧制御発振器７８を基準周波数ｆｒの範囲で発振するよ
うに調整しておくことで、受光器４０の出力が測定周波
数ｆｓ成分を具備しても、電圧制御発振器７８を基準周
波数ｆｒに同期して発振させることができるので、基準
周波数ｆｒ成分のみを抽出する機能を実現できる。
ような位相同期ループ回路を用いても良い。受光器４０
の出力が入力端子７２を介して位相比較器７４に入力す
る。位相比較器７４は、入力端子７２からの信号と、こ
の位相同期ループ回路の出力信号との間で位相を比較
し、その位相差を示す電圧信号を出力する。位相比較器
７４の出力はループフィルタ７６により平滑化されて電
圧制御発振器７８に印加される。電圧制御発振器７８
は、ループフィルタ７６からの電圧信号の電圧値に応じ
た周波数で発振し、その出力は、出力端子８０から位相
同期発振回路４４に印加されると共に、入力端子７２か
らの入力信号との比較対象として位相比較器７４にも印
加される。電圧制御発振器７８の出力信号の周波数は、
入力端子７２に入力する信号の周波数と同じである。電
圧制御発振器７８を基準周波数ｆｒの範囲で発振するよ
うに調整しておくことで、受光器４０の出力が測定周波
数ｆｓ成分を具備しても、電圧制御発振器７８を基準周
波数ｆｒに同期して発振させることができるので、基準
周波数ｆｒ成分のみを抽出する機能を実現できる。
【００２９】この構成では、基準周波数ｆｒが変更され
ても、自動追従するので、基準周波数ｆｒを変更する可
能性がある場合に便利である。また、基準周波数ｆｒの
波形を綺麗にできるという効果もある。
ても、自動追従するので、基準周波数ｆｒを変更する可
能性がある場合に便利である。また、基準周波数ｆｒの
波形を綺麗にできるという効果もある。
【００３０】基準周波数ｆｒが固定される場合、電圧制
御発信器７８に温度安定化した水晶発振器を用いること
で、非常に安定性の高い、基準周波数ｆｒの再生回路を
実現できる。一方、位相同期発振器４４は、基準周波数
ｆｒを基準として位相同期を確立するので、帯域フィル
タ４２の機能を兼ねることが多い。位相同期発振器４４
の周波数選択性（Ｑ）が高い場合には、帯域フィルタ４
２を省略できる。
御発信器７８に温度安定化した水晶発振器を用いること
で、非常に安定性の高い、基準周波数ｆｒの再生回路を
実現できる。一方、位相同期発振器４４は、基準周波数
ｆｒを基準として位相同期を確立するので、帯域フィル
タ４２の機能を兼ねることが多い。位相同期発振器４４
の周波数選択性（Ｑ）が高い場合には、帯域フィルタ４
２を省略できる。
【００３１】本実施例では、基準信号光と測定信号光が
同じ被測定線路１２を伝搬するので、被測定線路１２が
周囲温度等の影響で伸縮しても、その影響が基準信号光
と測定信号光に同様に作用する。その結果、被測定線路
１２の伸縮の影響は相殺され、測定結果に影響しない。
同じ被測定線路１２を伝搬するので、被測定線路１２が
周囲温度等の影響で伸縮しても、その影響が基準信号光
と測定信号光に同様に作用する。その結果、被測定線路
１２の伸縮の影響は相殺され、測定結果に影響しない。
【００３２】上記実施例では、波長可変光源２４の波長
及び波長変更のタイミングを示すトリガー等を示す信号
を、測定周波数ｆｓに載せて光受信装置１４に搬送した
が、基準周波数ｆｒに載せて光受信装置１４に搬送して
も良い。しかし、基準周波数ｆｒに上述の信号を載せる
と、これらはＡＭ変調で伝送されるので、位相同期発振
器４４の出力位相を安定に出力できなくなる。出力位相
が安定するまでの期間、測定が不能になるなどの問題が
生じるので、測定周波数ｆｓを利用するのが好ましい。
及び波長変更のタイミングを示すトリガー等を示す信号
を、測定周波数ｆｓに載せて光受信装置１４に搬送した
が、基準周波数ｆｒに載せて光受信装置１４に搬送して
も良い。しかし、基準周波数ｆｒに上述の信号を載せる
と、これらはＡＭ変調で伝送されるので、位相同期発振
器４４の出力位相を安定に出力できなくなる。出力位相
が安定するまでの期間、測定が不能になるなどの問題が
生じるので、測定周波数ｆｓを利用するのが好ましい。
【００３３】次に、一方の端局で上り光線路と下り光線
路の群遅延特性、従って波長分散特性を個別に測定でき
る測定システムの実施例を説明する。図５は、その実施
例の概略構成図を示す。
路の群遅延特性、従って波長分散特性を個別に測定でき
る測定システムの実施例を説明する。図５は、その実施
例の概略構成図を示す。
【００３４】測定端局装置１１０が、波長λａの測定信
号光を下り光線路１１２に出力する。測定信号光は、詳
細は後述するが、群遅延測定のための所定の測定周波数
ｆｓで強度変調されている。波長λａの測定信号光は、
下り光線路１１２を伝搬して折り返し端局装置１１４に
入力する。折り返し端局装置１１４は、下り光線路１１
２から入力する測定信号光を電気信号に変換し、同じ測
定周波数ｆｓで強度変調された波長λｂの測定信号光を
上り光線路１１６に出力する。波長λｂの測定信号光は
上り光線路１１６を伝搬して測定端局装置１１０に入力
する。
号光を下り光線路１１２に出力する。測定信号光は、詳
細は後述するが、群遅延測定のための所定の測定周波数
ｆｓで強度変調されている。波長λａの測定信号光は、
下り光線路１１２を伝搬して折り返し端局装置１１４に
入力する。折り返し端局装置１１４は、下り光線路１１
２から入力する測定信号光を電気信号に変換し、同じ測
定周波数ｆｓで強度変調された波長λｂの測定信号光を
上り光線路１１６に出力する。波長λｂの測定信号光は
上り光線路１１６を伝搬して測定端局装置１１０に入力
する。
【００３５】下り光線路１１２及び上り光線路１１６
は、一般的には、光ファイバと光増幅器からなるが、光
ファイバのみの無中継光伝送線路であってもよい。。
は、一般的には、光ファイバと光増幅器からなるが、光
ファイバのみの無中継光伝送線路であってもよい。。
【００３６】測定端局装置１１０から下り光線路１１２
に出力される測定信号光の波長λａ、及び、折り返し端
局装置１１４から上り光線路１１６出力される測定信号
光の波長λｂは、下り光線路１１２及び上り光線路１１
６のどちらの群遅延を測定するかに応じて、測定波長λ
ｓ又は基準波長λｒに切り換えられる。この詳細な後述
する。
に出力される測定信号光の波長λａ、及び、折り返し端
局装置１１４から上り光線路１１６出力される測定信号
光の波長λｂは、下り光線路１１２及び上り光線路１１
６のどちらの群遅延を測定するかに応じて、測定波長λ
ｓ又は基準波長λｒに切り換えられる。この詳細な後述
する。
【００３７】本実施例の動作を説明する。測定端局装置
１１０では、基準発振器１２０が、群遅延の測定に使用
する測定周波数ｆｓで発振し、測定周波数ｆｓのトーン
信号を変調器１２２に供給する。波長可変光源１２４
は、図２に示す基準波長λ及び測定波長範囲内のレーザ
発振波長を変更可能であり、制御演算回路１２６がその
発振波長λａを制御する。制御演算回路１２６は、折り
返し端局装置１１４から上り光線路１１６に送出される
測定信号光の波長λｂを指定する信号を変調回路１２２
に供給する。変調器１２２は、制御演算回路１２６から
の信号により基準発振器１２０の出力するトーン信号を
ＡＭ変調して、光強度変調器１２８に印加する。光強度
変調器１２８は、変調器１２２の出力に従い波長可変光
源１２４の出力光（波長λａ）を光強度変調する。
１１０では、基準発振器１２０が、群遅延の測定に使用
する測定周波数ｆｓで発振し、測定周波数ｆｓのトーン
信号を変調器１２２に供給する。波長可変光源１２４
は、図２に示す基準波長λ及び測定波長範囲内のレーザ
発振波長を変更可能であり、制御演算回路１２６がその
発振波長λａを制御する。制御演算回路１２６は、折り
返し端局装置１１４から上り光線路１１６に送出される
測定信号光の波長λｂを指定する信号を変調回路１２２
に供給する。変調器１２２は、制御演算回路１２６から
の信号により基準発振器１２０の出力するトーン信号を
ＡＭ変調して、光強度変調器１２８に印加する。光強度
変調器１２８は、変調器１２２の出力に従い波長可変光
源１２４の出力光（波長λａ）を光強度変調する。
【００３８】光強度変調器１２８の出力光（測定信号
光）は下り光線路１１２に供給されると共に、その一部
が波長計１３０に印加される。波長計１３０は、光強度
変調器１２８の出力光の波長を計測し、計測結果を制御
演算回路１２６に供給する。波長可変光源１２４の波長
精度が充分に高い場合には、波長計１３０は不要である
が、波長可変光光源１２４の監視に役立つ。
光）は下り光線路１１２に供給されると共に、その一部
が波長計１３０に印加される。波長計１３０は、光強度
変調器１２８の出力光の波長を計測し、計測結果を制御
演算回路１２６に供給する。波長可変光源１２４の波長
精度が充分に高い場合には、波長計１３０は不要である
が、波長可変光光源１２４の監視に役立つ。
【００３９】折り返し端局装置１１４の受光器１３２
は、下り光線路１１２を伝搬した測定信号光（波長λ
ａ）を電気信号に変換する。受光器１３２の出力は、位
相同期発振回路１３４及び復調回路１３６に印加され
る。位相同期発振回路１３４は、位相同期発振回路４４
と同様の構成からなり、入力の測定周波数ｆｓに位相同
期した、同じ周波数ｆｓのトーン信号を生成する。復調
回路１３６は、受光器１３２の出力をＡＭ復調し、復調
結果を制御回路１３８に供給する。復調回路１３６の出
力信号は、制御演算回路１２６から変調器１２２に供給
される信号である。制御回路１３８は、復調回路１３６
の出力に従い、波長可変光源１４０の発振波長λｂを制
御する。すなわち、波長可変光源１４０は、制御回路１
３８により指定される波長λｂでレーザ発振する。光強
度変調器１４２は、光強度変調器１２８は、位相同期発
振回路１３４の出力に従い波長可変光源１４０の出力光
（波長λｂ）を光強度変調する。光強度変調器１４２の
出力光は、上り光線路１１６に送出され、上り光線路１
１６を伝搬して測定端局装置１１０に入力する。
は、下り光線路１１２を伝搬した測定信号光（波長λ
ａ）を電気信号に変換する。受光器１３２の出力は、位
相同期発振回路１３４及び復調回路１３６に印加され
る。位相同期発振回路１３４は、位相同期発振回路４４
と同様の構成からなり、入力の測定周波数ｆｓに位相同
期した、同じ周波数ｆｓのトーン信号を生成する。復調
回路１３６は、受光器１３２の出力をＡＭ復調し、復調
結果を制御回路１３８に供給する。復調回路１３６の出
力信号は、制御演算回路１２６から変調器１２２に供給
される信号である。制御回路１３８は、復調回路１３６
の出力に従い、波長可変光源１４０の発振波長λｂを制
御する。すなわち、波長可変光源１４０は、制御回路１
３８により指定される波長λｂでレーザ発振する。光強
度変調器１４２は、光強度変調器１２８は、位相同期発
振回路１３４の出力に従い波長可変光源１４０の出力光
（波長λｂ）を光強度変調する。光強度変調器１４２の
出力光は、上り光線路１１６に送出され、上り光線路１
１６を伝搬して測定端局装置１１０に入力する。
【００４０】測定端局装置１１０の受光器１４４は、上
り光線路１１６から入力する測定信号光（波長λｂ）を
電気信号に変換し、その電気信号を同期検波回路１４６
に供給する。同期検波回路１４６には、更に、基準発振
器１２０の出力（周波数ｆｓ）が供給されている。同期
検波回路１４６は、基準発振器１２０の出力に従い、受
光器１４４の出力を同期検波し、検波結果を制御演算回
路１２６に供給する。
り光線路１１６から入力する測定信号光（波長λｂ）を
電気信号に変換し、その電気信号を同期検波回路１４６
に供給する。同期検波回路１４６には、更に、基準発振
器１２０の出力（周波数ｆｓ）が供給されている。同期
検波回路１４６は、基準発振器１２０の出力に従い、受
光器１４４の出力を同期検波し、検波結果を制御演算回
路１２６に供給する。
【００４１】波長計１４８は、上り光線路１１６から入
力する測定信号光（波長λｂ）の波長λｂを計測し、計
測結果を制御演算回路１２６に供給する。波長可変光源
１４０の波長精度が充分に高い場合には、波長計１４８
は不要であるが、波長可変光光源１４０の監視に役立
つ。
力する測定信号光（波長λｂ）の波長λｂを計測し、計
測結果を制御演算回路１２６に供給する。波長可変光源
１４０の波長精度が充分に高い場合には、波長計１４８
は不要であるが、波長可変光光源１４０の監視に役立
つ。
【００４２】制御演算回路１２６は、一連の測定波長に
対して、同期検波回路１４６の出力から得られる群遅延
を内部メモリに記憶し、群遅延を波長で微分すること
で、波長分散を求める。得られた波長分散特性は、表示
装置１５０の画面上にグラフとして表示される。勿論、
得られた波長分散特性を数値として出力しても良い。
対して、同期検波回路１４６の出力から得られる群遅延
を内部メモリに記憶し、群遅延を波長で微分すること
で、波長分散を求める。得られた波長分散特性は、表示
装置１５０の画面上にグラフとして表示される。勿論、
得られた波長分散特性を数値として出力しても良い。
【００４３】下り光線路１１２の群遅延を測定する場合
には、波長可変光源１２４の発振波長λａを測定波長範
囲内で掃引される測定波長λｓとし、折り返し端局装置
１１４の波長可変光源１４０の発振波長λｂを一定の基
準波長λｒとする。なお、この実施例では、基準波長λ
ｒは、測定波長範囲内の波長であっても良い。この例で
は、基準波長λｒは、単に、測定周波数ｆｓの位相情報
を折り返し端局装置１１４から測定端局装置１１０に伝
送するのに利用されるだけである。
には、波長可変光源１２４の発振波長λａを測定波長範
囲内で掃引される測定波長λｓとし、折り返し端局装置
１１４の波長可変光源１４０の発振波長λｂを一定の基
準波長λｒとする。なお、この実施例では、基準波長λ
ｒは、測定波長範囲内の波長であっても良い。この例で
は、基準波長λｒは、単に、測定周波数ｆｓの位相情報
を折り返し端局装置１１４から測定端局装置１１０に伝
送するのに利用されるだけである。
【００４４】同期検波回路１４６の検波結果は、一般的
に、下り光線路１１２における波長λａでの測定周波数
ｆｓの群遅延と上り光線路１１６における一定波長λｂ
での測定周波数ｆｓの群遅延を加算したものになる。し
かし、下り光線路１１２を伝送する測定信号光の波長λ
ａを測定波長範囲内で掃引し、上り光線路１１６を伝搬
する測定信号光の波長λｂを一定の基準波長λｒとする
ことで、上り光線路１１６での群遅延は、測定波長λｓ
に関わらず一定になる。制御演算回路１２６は、波長可
変光源１２４の波長λａを測定波長範囲内で変化させた
ときに生じる下り光線路１１２のみの群遅延量を抽出で
き、下り光線路１１２の波長分散特性を算出できる。算
出結果は、表示装置１５０の画面上に表示される。第１
実施例と同様に、制御演算回路１２６が、得られた波長
分散特性を数値として出力しても良いことは勿論であ
る。
に、下り光線路１１２における波長λａでの測定周波数
ｆｓの群遅延と上り光線路１１６における一定波長λｂ
での測定周波数ｆｓの群遅延を加算したものになる。し
かし、下り光線路１１２を伝送する測定信号光の波長λ
ａを測定波長範囲内で掃引し、上り光線路１１６を伝搬
する測定信号光の波長λｂを一定の基準波長λｒとする
ことで、上り光線路１１６での群遅延は、測定波長λｓ
に関わらず一定になる。制御演算回路１２６は、波長可
変光源１２４の波長λａを測定波長範囲内で変化させた
ときに生じる下り光線路１１２のみの群遅延量を抽出で
き、下り光線路１１２の波長分散特性を算出できる。算
出結果は、表示装置１５０の画面上に表示される。第１
実施例と同様に、制御演算回路１２６が、得られた波長
分散特性を数値として出力しても良いことは勿論であ
る。
【００４５】逆に、上り光線路１１６の群遅延を測定す
る場合には、折り返し端局装置１１４の波長可変光源１
４０の発振波長λｂを測定波長範囲内で掃引される測定
波長λｓとし、測定端局装置１１０の波長可変光源１２
４の発振波長λａを一定の基準波長λｒとする。この場
合にも、基準波長λｒは測定波長範囲内の波長であって
も良い。この例では、基準波長λｒは、単に、測定周波
数ｆｓの位相情報を測定端局装置１１０から折り返し端
局装置１１４に伝送するのに利用されるだけである。折
り返し端局装置１１４に、測定周波数ｆｓの発振器を設
ける場合に比べて、測定端局装置１１０の基準発振器１
２０を利用することにより測定周波数ｆｓを測定端局装
置１１０において自在に選択し得るという利点がある。
る場合には、折り返し端局装置１１４の波長可変光源１
４０の発振波長λｂを測定波長範囲内で掃引される測定
波長λｓとし、測定端局装置１１０の波長可変光源１２
４の発振波長λａを一定の基準波長λｒとする。この場
合にも、基準波長λｒは測定波長範囲内の波長であって
も良い。この例では、基準波長λｒは、単に、測定周波
数ｆｓの位相情報を測定端局装置１１０から折り返し端
局装置１１４に伝送するのに利用されるだけである。折
り返し端局装置１１４に、測定周波数ｆｓの発振器を設
ける場合に比べて、測定端局装置１１０の基準発振器１
２０を利用することにより測定周波数ｆｓを測定端局装
置１１０において自在に選択し得るという利点がある。
【００４６】上り光線路１１６を伝送する測定信号光の
波長λｂを測定波長範囲内で掃引し、下り光線路１１２
を伝搬する測定信号光の波長λａを一定の基準波長λｒ
とすることで、下り光線路１１２での群遅延は、測定波
長λｓに関わらず一定になる。制御演算回路１２６は、
変調器１２２、復調器１３６及び制御回路１３８を介し
て波長可変光源１４０の波長λｂを測定波長範囲内で変
化させたときに生じる上り光線路１１６のみの群遅延量
を抽出でき、上り光線路１１６の波長分散特性を算出で
きる。算出結果は、表示装置１５０の画面上に表示され
る。第１実施例と同様に、制御演算回路１２６が、得ら
れた波長分散特性を数値として出力しても良いことは勿
論である。
波長λｂを測定波長範囲内で掃引し、下り光線路１１２
を伝搬する測定信号光の波長λａを一定の基準波長λｒ
とすることで、下り光線路１１２での群遅延は、測定波
長λｓに関わらず一定になる。制御演算回路１２６は、
変調器１２２、復調器１３６及び制御回路１３８を介し
て波長可変光源１４０の波長λｂを測定波長範囲内で変
化させたときに生じる上り光線路１１６のみの群遅延量
を抽出でき、上り光線路１１６の波長分散特性を算出で
きる。算出結果は、表示装置１５０の画面上に表示され
る。第１実施例と同様に、制御演算回路１２６が、得ら
れた波長分散特性を数値として出力しても良いことは勿
論である。
【００４７】図５に示す実施例では、測定端局装置１１
０の光源１２４及び折り返し端局装置１１４の光源１４
０が共に、波長可変であるが、その一方を固定波長光源
としても良い。例えば、折り返し端局装置１１４の光源
１４０を固定波長とした場合には、下り光線路１１２の
群遅延及び波長分散のみを測定できることになる。逆
に、測定端局装置１１０の光源１２４を０固定波長と
し、折り返し端局装置１１４の光源１４０を波長可変式
とした場合には、上り光線路１１６の群遅延及び波長分
散を測定できる。
０の光源１２４及び折り返し端局装置１１４の光源１４
０が共に、波長可変であるが、その一方を固定波長光源
としても良い。例えば、折り返し端局装置１１４の光源
１４０を固定波長とした場合には、下り光線路１１２の
群遅延及び波長分散のみを測定できることになる。逆
に、測定端局装置１１０の光源１２４を０固定波長と
し、折り返し端局装置１１４の光源１４０を波長可変式
とした場合には、上り光線路１１６の群遅延及び波長分
散を測定できる。
【００４８】理解を容易にするために、光源とは別に光
強度変調器を設ける実施例を説明したが、光源を測定周
波数ｆｓ又は基準周波数ｆｒで直接、光強度変調しても
よいことは明らかである。
強度変調器を設ける実施例を説明したが、光源を測定周
波数ｆｓ又は基準周波数ｆｒで直接、光強度変調しても
よいことは明らかである。
【００４９】基準周波数ｆｒ及び測定周波数ｆｓの信号
は、一般的には正弦波信号であるが、本発明では、周波
数を搬送すればよいので、各周波数成分を有する交番信
号（例えば、矩形波）であってもよいことはいうまでも
ない。
は、一般的には正弦波信号であるが、本発明では、周波
数を搬送すればよいので、各周波数成分を有する交番信
号（例えば、矩形波）であってもよいことはいうまでも
ない。
【００５０】
【発明の効果】以上の説明から容易に理解できるよう
に、本発明によれば、簡単な構成で光線路の群遅延特
性、従って波長分散特性を測定できる。しかも、基準波
長光と測定波長光を受信側で分離する必要が無いので、
基準波長として測定波長に近い波長を使用できる。
に、本発明によれば、簡単な構成で光線路の群遅延特
性、従って波長分散特性を測定できる。しかも、基準波
長光と測定波長光を受信側で分離する必要が無いので、
基準波長として測定波長に近い波長を使用できる。
【００５１】また、下り光線路と上り光線路をループ構
成で信号光を伝搬させ、各線路上での波長を基準波長又
は測定波長とすることで、下り光線路及び上り光線路の
各群遅延を個別に測定できる。すなわち、一方の端局装
置から上り光線路と下り光線路の波長分散特性を個別に
測定できるようになる。
成で信号光を伝搬させ、各線路上での波長を基準波長又
は測定波長とすることで、下り光線路及び上り光線路の
各群遅延を個別に測定できる。すなわち、一方の端局装
置から上り光線路と下り光線路の波長分散特性を個別に
測定できるようになる。
【図１】 本発明の第１実施例の概略構成ブロック図で
ある。
ある。
【図２】 図１に示す実施例における基準波長λｒと測
定波長λｓの関係を示す模式図である。
定波長λｓの関係を示す模式図である。
【図３】 位相同期発振回路３０の概略構成ブロック図
である。
である。
【図４】 帯域フィルタ４２に代わる位相同期ループ回
路の概略構成ブロック図である。
路の概略構成ブロック図である。
【図５】 本発明の第２実施例の概略構成ブロック図で
ある。
ある。
１０：光送信装置 １２：被測定線路 １４：光受信装置 ２０：基準発振器 ２２：基準光源 ２４：波長可変光源 ２６：制御回路 ２８：光強度変調器 ３０：位相同期発振回路 ３２：変調器 ３４：光強度変調器 ３６：合波器 ３８：波長計 ４０：受光器 ４２：帯域フィルタ ４４：位相同期発振回路 ４６：同期検波回路 ４８：演算回路 ５０：復調器 ５２：表示装置 ６０：入力端子 ６２：位相比較器 ６２：ループフィルタ ６６：電圧制御発振器 ６８：出力端子 ７０：分周器 ７２：入力端子 ７４：位相比較器 ７６：ループフィルタ ７８：電圧制御発振器 ８０：出力端子 １１０：測定端局装置 １１２：下り光線路 １１４：折り返し端局装置 １１６：上り光線路 １２０：基準発振器 １２２：変調器 １２４：波長可変光源 １２６：制御演算回路 １２８：光強度変調器 １３０：波長計 １３２：受光器 １３４：位相同期発振回路 １３６：復調回路 １３８：制御回路 １４０：波長可変光源 １４２：光強度変調器 １４４：受光器 １４６：同期検波回路 １４８：波長計 １５０：表示装置
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 川澤 俊夫 東京都新宿区西新宿２丁目３番２号ケイデ ィディ海底ケーブルシステム株式会社内 Ｆターム(参考） 5K002 AA02 AA04 BA02 BA05 CA09 DA42 EA06 FA02 GA03
Claims (13)
- 【請求項１】 基準周波数ｆｒで光強度変調された測定
波長λｒの基準信号光を発生する基準信号光発生手段
と、 当該基準周波数ｆｒに同期する測定周波数ｆｓで光強度
変調された測定波長λｓの測定信号光を発生する測定信
号光発生手段と、 当該基準信号光発生手段及び当該測定信号光発生手段に
より生成された基準信号光及び測定信号光を合波して被
測定光線路に出力する合波手段と、 当該被測定線路を伝搬した光を電気信号に変換する受光
手段と、 当該受光手段の出力から当該基準周波数ｆｒの成分を抽
出する基準周波数抽出手段と、 当該基準周波数抽出手段の出力に従い、当該受光手段の
出力に含まれる当該測定周波数ｆｓに相当する周波数成
分の位相を検出する位相検出手段とを具備することを特
徴とする伝送特性測定システム。 - 【請求項２】 当該位相検出手段が、当該基準周波数抽
出手段の出力に同期し、且つ、当該測定周波数ｆｓに相
当する周波数の信号を生成する位相同期発振手段と、当
該位相同期発振手段の出力に従い当該受光手段の出力に
含まれる当該測定周波数ｆｓに相当する周波数成分の位
相を検出する検出手段とからなる請求項１に記載の伝送
特性測定システム。 - 【請求項３】 当該検出手段が同期検波手段である請求
項２に記載の伝送特性測定システム。 - 【請求項４】 当該測定信号光発生手段は、発振波長を
変更自在な波長可変光源を具備する請求項１に記載の伝
送特性測定システム。 - 【請求項５】 当該測定信号光発生手段は、当該基準周
波数ｆｒから当該測定周波数ｆｓを生成する位相同期発
振手段と、発振波長を変更自在な波長可変光源と、当該
位相同期発振手段の出力により当該波長可変光源の出力
光を光強度変調する光強度変調手段とからなる請求項４
に記載の伝送特性測定システム。 - 【請求項６】 当該基準信号光発生手段は、当該基準周
波数ｆｒで発振する基準発振手段と、当該基準波長λｒ
でレーザ発振する基準光源と、当該基準発振手段の出力
により当該基準光源の出力光を光強度変調する光強度変
調手段とからなる請求項１乃至５の何れか１項に記載の
伝送特性測定システム。 - 【請求項７】 当該基準周波数ｆｒ及び当該測定周波数
ｆｓの一方に、当該測定波長λｓを示す信号及びその波
長変更のタイミングを示すトリガー信号の少なくとも一
方を重畳する信号重畳手段と、当該受光手段の出力から
当該信号重畳手段で重畳された信号を復調する復調手段
と、当該復調手段の出力及び当該同期検波手段の出力か
ら波長分散特性を算出する演算手段とを具備する請求項
１乃至６の何れか１項に記載の伝送特性測定システム。 - 【請求項８】 更に、当該基準信号光及び当該測定信号
光の少なくとも一方の波長を計測する波長計を具備する
請求項１に記載の伝送特性測定システム。 - 【請求項９】 測定周波数ｆｓで発振する基準発振手段
と、 測定周波数ｆｓで光強度変調された第１波長λａの第１
信号光を発生し、第１光線路に出力する第１信号光発生
手段と、 当該第１光線路を伝搬した当該第１信号光を受光し、当
該測定周波数に対応する周波数の信号を出力する第１受
光手段と、 当該受光手段から出力される周波数信号により光強度変
調された第２波長λｂの第２信号光を発生し、第２光線
路に出力する第２信号光発生手段と、 当該第２光線路を伝搬した当該第２信号光を受光する第
２受光手段と、 当該基準発振手段の出力に従い当該第２受光手段の出力
に含まれる当該測定周波数の成分の位相を検出する位相
検出手段とからなることを特徴とする伝送特性測定シス
テム。 - 【請求項１０】 当該位相検出手段が同期検波手段であ
る請求項９に記載の伝送特性測定システム。 - 【請求項１１】 当該第１波長λａ及び当該第２波長λ
ｂの少なくとも一方が変更自在である請求項９に記載の
伝送特性測定システム。 - 【請求項１２】 当該第１波長λａを制御する第１制御
手段と、当該第２波長λｂを制御する第２制御手段を具
備する請求項９に記載の伝送特性測定システム。 - 【請求項１３】 更に、当該基準発振手段の出力に当該
第２波長λｂを指定する波長制御信号を重畳して当該第
１信号光発生手段に供給する信号重畳手段と、当該第１
受光手段の出力から当該波長制御信号を復調して当該第
２制御手段に供給する復調手段を具備する請求項１２に
記載の伝送特性測定システム。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11114960A JP2000304655A (ja) | 1999-04-22 | 1999-04-22 | 伝送特性測定システム |
| CA002306019A CA2306019A1 (en) | 1999-04-22 | 2000-04-18 | Measuring system of transmission characteristics |
| US09/553,066 US6594003B1 (en) | 1999-04-22 | 2000-04-20 | Measuring system of transmission characteristics |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11114960A JP2000304655A (ja) | 1999-04-22 | 1999-04-22 | 伝送特性測定システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000304655A true JP2000304655A (ja) | 2000-11-02 |
Family
ID=14650907
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11114960A Withdrawn JP2000304655A (ja) | 1999-04-22 | 1999-04-22 | 伝送特性測定システム |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6594003B1 (ja) |
| JP (1) | JP2000304655A (ja) |
| CA (1) | CA2306019A1 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001349804A (ja) * | 2000-06-06 | 2001-12-21 | Advantest Corp | 光特性測定装置、方法、記録媒体 |
| JP2002257632A (ja) * | 2001-03-06 | 2002-09-11 | Advantest Corp | 光波長測定装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体 |
| US6614511B1 (en) | 1999-10-29 | 2003-09-02 | Ando Electric Co., Ltd. | Light wavelength dispersion measuring apparatus and light wavelength dispersion measuring method |
| JP2004274238A (ja) * | 2003-03-06 | 2004-09-30 | Japan Telecom Co Ltd | 動的な制御を行う光通信路の分散補償方法及びシステム |
| JP2011106992A (ja) * | 2009-11-18 | 2011-06-02 | Yokogawa Electric Corp | 光損失測定方法および光損失測定装置 |
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1999
- 1999-04-22 JP JP11114960A patent/JP2000304655A/ja not_active Withdrawn
-
2000
- 2000-04-18 CA CA002306019A patent/CA2306019A1/en not_active Abandoned
- 2000-04-20 US US09/553,066 patent/US6594003B1/en not_active Expired - Fee Related
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
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