JPH05296831A - Ｓｎｒ測定装置 - Google Patents
Ｓｎｒ測定装置Info
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- JPH05296831A JPH05296831A JP10105992A JP10105992A JPH05296831A JP H05296831 A JPH05296831 A JP H05296831A JP 10105992 A JP10105992 A JP 10105992A JP 10105992 A JP10105992 A JP 10105992A JP H05296831 A JPH05296831 A JP H05296831A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明はＳＮＲ測定装置に関し、光増幅器に適
し構成が簡単な上記装置の提供を目的とする。 【構成】受けた光を信号光と雑音光とに波長分離（１
１）し、信号光及び雑音光をそれぞれ第１の受光手段１
２と第２の受光手段１３で受光し、各受光手段からの電
気信号の比に基づいてＳＮＲを演算（１４）するように
して構成する。
し構成が簡単な上記装置の提供を目的とする。 【構成】受けた光を信号光と雑音光とに波長分離（１
１）し、信号光及び雑音光をそれぞれ第１の受光手段１
２と第２の受光手段１３で受光し、各受光手段からの電
気信号の比に基づいてＳＮＲを演算（１４）するように
して構成する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光増幅器の入力光及び
／又は出力光のＳＮＲ（信号対雑音比）を測定するのに
適したＳＮＲ測定装置に関する。
／又は出力光のＳＮＲ（信号対雑音比）を測定するのに
適したＳＮＲ測定装置に関する。
【０００２】光をそのまま増幅する光増幅器は、（イ）
高速の電子回路が不要である、（ロ）多数の波長（周波
数）の光を一括して増幅することができる、（ハ）信号
のビットレートにかかわらず一定の増幅特性を得ること
ができる、といった優れた特性を有しており、光増幅器
の種々なシステムへの適用が検討されている。光増幅器
を中継器として備えた長距離光伝送システムを構築する
場合、各光増幅器で発生する自然放出光によりＳＮＲが
劣化していく。そこで、この種の長距離光伝送システム
を構築する上では、各光増幅器における実際のＳＮＲを
測定することが重要になる。
高速の電子回路が不要である、（ロ）多数の波長（周波
数）の光を一括して増幅することができる、（ハ）信号
のビットレートにかかわらず一定の増幅特性を得ること
ができる、といった優れた特性を有しており、光増幅器
の種々なシステムへの適用が検討されている。光増幅器
を中継器として備えた長距離光伝送システムを構築する
場合、各光増幅器で発生する自然放出光によりＳＮＲが
劣化していく。そこで、この種の長距離光伝送システム
を構築する上では、各光増幅器における実際のＳＮＲを
測定することが重要になる。
【０００３】
【従来の技術】従来、光増幅器を光中継器として用いた
伝送システムを構築する場合、予め知られた各光増幅器
の雑音指数等を用いて伝送途中又は伝送後のＳＮＲを計
算により求めており、実際のシステムの運用に使用する
ことができるＳＮＲ測定器は知られていない。
伝送システムを構築する場合、予め知られた各光増幅器
の雑音指数等を用いて伝送途中又は伝送後のＳＮＲを計
算により求めており、実際のシステムの運用に使用する
ことができるＳＮＲ測定器は知られていない。
【０００４】尚、光増幅器単体のＳＮＲの劣化量は、そ
の入力側の信号対雑音比（ＳＮＲ） inと出力側の信号対
雑音比（ＳＮＲ）out を用いて雑音指数〔（ＳＮＲ）in
／（ＳＮＲ）out 〕として表される。
の入力側の信号対雑音比（ＳＮＲ） inと出力側の信号対
雑音比（ＳＮＲ）out を用いて雑音指数〔（ＳＮＲ）in
／（ＳＮＲ）out 〕として表される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】光増幅器を光中継器と
して用いた光伝送システムの運用に際して、各中継点で
のＳＮＲをモニタリングすることができるとすれば、Ｓ
ＮＲの劣化によるシステムダウンに際して、どの場所が
不良であるかを特定することができ便利である。
して用いた光伝送システムの運用に際して、各中継点で
のＳＮＲをモニタリングすることができるとすれば、Ｓ
ＮＲの劣化によるシステムダウンに際して、どの場所が
不良であるかを特定することができ便利である。
【０００６】本発明の目的は、光増幅器に適した簡単な
構成のＳＮＲ測定装置を提供することである。
構成のＳＮＲ測定装置を提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】図１は請求項１のクレー
ム対応図である。本発明のＳＮＲ測定装置は、受けた光
を予め定められた波長の信号光と該信号光の波長以外の
波長の雑音光とに波長分離する分波手段１１と、分波手
段１１からの信号光を受け、その光強度を電気信号に変
換する第１の受光手段１２と、分波手段１１からの雑音
光を受け、その光強度を電気信号に変換する第２の受光
手段１３と、第１の受光手段１２及び第２の受光手段１
３からの電気信号をそれぞれ受け、これらの電気信号の
比に基づいてＳＮＲを演算するＳＮＲ演算手段１４とを
備えている。
ム対応図である。本発明のＳＮＲ測定装置は、受けた光
を予め定められた波長の信号光と該信号光の波長以外の
波長の雑音光とに波長分離する分波手段１１と、分波手
段１１からの信号光を受け、その光強度を電気信号に変
換する第１の受光手段１２と、分波手段１１からの雑音
光を受け、その光強度を電気信号に変換する第２の受光
手段１３と、第１の受光手段１２及び第２の受光手段１
３からの電気信号をそれぞれ受け、これらの電気信号の
比に基づいてＳＮＲを演算するＳＮＲ演算手段１４とを
備えている。
【０００８】図２は請求項４のクレーム対応図である。
本発明の他のＳＮＲ測定装置は、光増幅器２１に入力す
る光の一部を分岐する第１の光分岐手段２２と、第１の
光分岐手段２２により分岐された光が入力する第１のＳ
ＮＲ測定装置２３と、光増幅器２１から出力する光の一
部を分岐する第２の光分岐手段２４と、第２の光分岐手
段２４により分岐された光が入力する第２のＳＮＲ測定
装置２５と、第１のＳＮＲ測定装置２３のＳＮＲ測定値
と第２のＳＮＲ測定装置２５のＳＮＲ測定値の比に基づ
き雑音指数を演算する雑音指数演算手段２６とを備えて
いる。尚、第１及び第２のＳＮＲ測定装置２３及び２５
は、それぞれ、図１により説明した構成を有している。
本発明の他のＳＮＲ測定装置は、光増幅器２１に入力す
る光の一部を分岐する第１の光分岐手段２２と、第１の
光分岐手段２２により分岐された光が入力する第１のＳ
ＮＲ測定装置２３と、光増幅器２１から出力する光の一
部を分岐する第２の光分岐手段２４と、第２の光分岐手
段２４により分岐された光が入力する第２のＳＮＲ測定
装置２５と、第１のＳＮＲ測定装置２３のＳＮＲ測定値
と第２のＳＮＲ測定装置２５のＳＮＲ測定値の比に基づ
き雑音指数を演算する雑音指数演算手段２６とを備えて
いる。尚、第１及び第２のＳＮＲ測定装置２３及び２５
は、それぞれ、図１により説明した構成を有している。
【０００９】
【作用】図１により説明した構成において、ＳＮＲを測
定すべき光が入力すると、この光は、分波手段１１によ
って、所定波長の信号光とそれ以外の雑音光（例えば光
増幅器において生じた自然放出光）とに波長分離され
る。分離された信号光及び雑音光はそれぞれ第１及び第
２の受光手段により電気信号に変換される。変換された
電気信号光には信号光及び雑音光の強度（電力）が反映
される。従って、ＳＮＲ演算手段によりこれら電気信号
の比を演算することによって、その値に基づいてＳＮＲ
を知ることができる。
定すべき光が入力すると、この光は、分波手段１１によ
って、所定波長の信号光とそれ以外の雑音光（例えば光
増幅器において生じた自然放出光）とに波長分離され
る。分離された信号光及び雑音光はそれぞれ第１及び第
２の受光手段により電気信号に変換される。変換された
電気信号光には信号光及び雑音光の強度（電力）が反映
される。従って、ＳＮＲ演算手段によりこれら電気信号
の比を演算することによって、その値に基づいてＳＮＲ
を知ることができる。
【００１０】図２により説明した構成によると、光増幅
器の入力側及び出力側においてＳＮＲをそれぞれ測定
し、これらの測定値に基づいて雑音指数を演算するよう
にしているので、光増幅器の入出力側におけるＳＮＲの
みならず光増幅器におけるＳＮＲの劣化量を雑音指数と
して知ることができる。
器の入力側及び出力側においてＳＮＲをそれぞれ測定
し、これらの測定値に基づいて雑音指数を演算するよう
にしているので、光増幅器の入出力側におけるＳＮＲの
みならず光増幅器におけるＳＮＲの劣化量を雑音指数と
して知ることができる。
【００１１】
【実施例】以下本発明の実施例を説明する。図３は本発
明の第１実施例を示すＳＮＲ測定装置のブロック図であ
る。この実施例では、分波手段として、誘電体多層膜等
の干渉膜を備えた光学フィルタ３１を用いている。光学
フィルタ３１は、所定波長の信号光は透過させ、この信
号光の波長以外の波長の雑音光は反射させる。
明の第１実施例を示すＳＮＲ測定装置のブロック図であ
る。この実施例では、分波手段として、誘電体多層膜等
の干渉膜を備えた光学フィルタ３１を用いている。光学
フィルタ３１は、所定波長の信号光は透過させ、この信
号光の波長以外の波長の雑音光は反射させる。
【００１２】光学フィルタ３１を透過した信号光はフォ
トダイオード等からなる受光器３２に入射し、この受光
器３２は入射した信号光の強度に応じた電気信号を出力
する。一方、光学フィルタ３１で反射された雑音光は同
じくフォトダイオード等からなる受光器３３に入射し、
この受光器３３は入射した雑音光の強度に応じた電気信
号を出力する。
トダイオード等からなる受光器３２に入射し、この受光
器３２は入射した信号光の強度に応じた電気信号を出力
する。一方、光学フィルタ３１で反射された雑音光は同
じくフォトダイオード等からなる受光器３３に入射し、
この受光器３３は入射した雑音光の強度に応じた電気信
号を出力する。
【００１３】受光器３２及び３３からの電気信号は演算
回路３４に入力し、この演算回路３４では入力した各電
気信号の比に基づいてＳＮＲが演算される。図４は本発
明の第２実施例を示すＳＮＲ測定装置のブロック図であ
る。この実施例では、分波手段として、回折格子４１を
用いている。
回路３４に入力し、この演算回路３４では入力した各電
気信号の比に基づいてＳＮＲが演算される。図４は本発
明の第２実施例を示すＳＮＲ測定装置のブロック図であ
る。この実施例では、分波手段として、回折格子４１を
用いている。
【００１４】回折格子４１においては、回折角（入射光
路と出射光路がなす角）が入射光の波長に依存するの
で、受光器３２，３３及び回折格子４１の相対的な位置
関係を適当に設定しておくことによって、回折格子４１
で回折した信号光を受光器３２に入射させるとともに回
折格子４１で回折した雑音光を受光器３３に入射させる
ことができる。
路と出射光路がなす角）が入射光の波長に依存するの
で、受光器３２，３３及び回折格子４１の相対的な位置
関係を適当に設定しておくことによって、回折格子４１
で回折した信号光を受光器３２に入射させるとともに回
折格子４１で回折した雑音光を受光器３３に入射させる
ことができる。
【００１５】尚、図示された例では回折格子４１におけ
る反射による回折作用を用いているが、回折格子におけ
る透過の回折作用を用いてもよい。図５は本発明の第３
実施例を示すＳＮＲ測定装置のブロック図である。この
実施例では、分波手段として、光方向性結合部における
分岐比の波長依存性を用いたファイバ融着型光合分波器
５１を用いている。
る反射による回折作用を用いているが、回折格子におけ
る透過の回折作用を用いてもよい。図５は本発明の第３
実施例を示すＳＮＲ測定装置のブロック図である。この
実施例では、分波手段として、光方向性結合部における
分岐比の波長依存性を用いたファイバ融着型光合分波器
５１を用いている。
【００１６】このファイバ融着型光合分波器５１は、入
力ポート５１Ａ及び５１Ｂと出力ポート５１Ｃ及び５１
Ｄと光方向性結合部（融着・延伸部）５１Ｅとからな
る。光方向性結合部５１Ｅにおける融着長さやコア間隔
等の構造パラメータは、入力ポート５１Ａに光を入射さ
せたときに、出力ポート５１Ｃから信号光が出力し、出
力ポート５１Ｄから雑音光が出力するように設定され
る。尚、入力ポート５１Ｂはデッドエンドとされる。
力ポート５１Ａ及び５１Ｂと出力ポート５１Ｃ及び５１
Ｄと光方向性結合部（融着・延伸部）５１Ｅとからな
る。光方向性結合部５１Ｅにおける融着長さやコア間隔
等の構造パラメータは、入力ポート５１Ａに光を入射さ
せたときに、出力ポート５１Ｃから信号光が出力し、出
力ポート５１Ｄから雑音光が出力するように設定され
る。尚、入力ポート５１Ｂはデッドエンドとされる。
【００１７】図６は本発明の第４実施例を示すＳＮＲ測
定装置のブロック図である。この実施例では、分波手段
として、光ファイバカプラ６１とファブリ・ペロー干渉
器６２とからなるものとを用いている。
定装置のブロック図である。この実施例では、分波手段
として、光ファイバカプラ６１とファブリ・ペロー干渉
器６２とからなるものとを用いている。
【００１８】ファブリ・ペロー干渉器６２は、光ファイ
バ６３の両端面に半透過膜６４及び６５を形成して構成
され、このファブリ・ペロー干渉器６２の一端は光ファ
イバカプラ６１の１つのポートに光学的に接続される。
バ６３の両端面に半透過膜６４及び６５を形成して構成
され、このファブリ・ペロー干渉器６２の一端は光ファ
イバカプラ６１の１つのポートに光学的に接続される。
【００１９】光ファイバカプラ６１を介して入力した光
のうち信号光はファブリ・ペロー干渉器６２を透過して
受光器３２で電気信号に変換され、ファブリ・ペロー干
渉器６２を透過せずに半透過膜６４で反射した雑音光は
再び光ファイバカプラ６１を介して受光器３３で電気信
号に変換される。
のうち信号光はファブリ・ペロー干渉器６２を透過して
受光器３２で電気信号に変換され、ファブリ・ペロー干
渉器６２を透過せずに半透過膜６４で反射した雑音光は
再び光ファイバカプラ６１を介して受光器３３で電気信
号に変換される。
【００２０】２波以上の光波長多重伝送システムにおい
ては、各信号光波長の間隔が狭く（例えば２〜５ｎ
ｍ）、それぞれの信号光とその間の波長の雑音光を波長
分離するには、波長選択性の鋭い分波手段が必要であ
り、このような場合に図６の第４実施例は優れている。
ては、各信号光波長の間隔が狭く（例えば２〜５ｎ
ｍ）、それぞれの信号光とその間の波長の雑音光を波長
分離するには、波長選択性の鋭い分波手段が必要であ
り、このような場合に図６の第４実施例は優れている。
【００２１】このように本発明の第１乃至第４実施例に
よると、簡単な構成のＳＮＲ測定装置の実現が可能にな
る。図７は本発明の第５実施例を示すＳＮＲ測定装置の
ブロック図である。この実施例では、光増幅器の入出力
部におけるＳＮＲを測定し、これらの測定値に基づき雑
音指数を演算するようにしている。
よると、簡単な構成のＳＮＲ測定装置の実現が可能にな
る。図７は本発明の第５実施例を示すＳＮＲ測定装置の
ブロック図である。この実施例では、光増幅器の入出力
部におけるＳＮＲを測定し、これらの測定値に基づき雑
音指数を演算するようにしている。
【００２２】光増幅器７１に入力する光は、その一部
（例えば光増幅器７１に入力する光の１％）をハーフミ
ラー等からなる光分岐部７２で分岐され、この分岐され
た光は、例えば本発明の第１乃至第４実施例において説
明した分波機能を有する分波器７３で信号光と雑音光に
波長分離される。分離された信号光は受光器７４で電気
信号に変換され、分離された雑音光は受光器７５で電気
信号に変換される。受光器７４及び７５からの電気信号
はＳＮＲ演算回路７６に入力し、ここでＳＮＲが演算さ
れる。
（例えば光増幅器７１に入力する光の１％）をハーフミ
ラー等からなる光分岐部７２で分岐され、この分岐され
た光は、例えば本発明の第１乃至第４実施例において説
明した分波機能を有する分波器７３で信号光と雑音光に
波長分離される。分離された信号光は受光器７４で電気
信号に変換され、分離された雑音光は受光器７５で電気
信号に変換される。受光器７４及び７５からの電気信号
はＳＮＲ演算回路７６に入力し、ここでＳＮＲが演算さ
れる。
【００２３】光増幅器７１から出力される光は、入力部
におけるのと同じようにして光分岐部７７でその一部を
分岐され、分岐された光は分波器７８で信号光と雑音光
に波長分離される。信号光は受光器７９で電気信号に変
換され、雑音光は受光器８０で電気信号に変換される。
受光器７９及び８０からの電気信号はＳＮＲ演算回路８
１に入力し、ここでＳＮＲが演算される。ＳＮＲ演算回
路７６及び８１でそれぞれ演算された入力側及び出力側
のＳＮＲの演算結果は監視制御回路８２に入力し、ここ
でＳＮＲ測定値の比に基づいて雑音指数が演算される。
におけるのと同じようにして光分岐部７７でその一部を
分岐され、分岐された光は分波器７８で信号光と雑音光
に波長分離される。信号光は受光器７９で電気信号に変
換され、雑音光は受光器８０で電気信号に変換される。
受光器７９及び８０からの電気信号はＳＮＲ演算回路８
１に入力し、ここでＳＮＲが演算される。ＳＮＲ演算回
路７６及び８１でそれぞれ演算された入力側及び出力側
のＳＮＲの演算結果は監視制御回路８２に入力し、ここ
でＳＮＲ測定値の比に基づいて雑音指数が演算される。
【００２４】監視制御回路８２に入力した入力側及び出
力側のＳＮＲ測定値並びにこれらに基づいて演算された
雑音指数は、図示しない端局からの要請に応じて光増幅
器７１を介して図示しない端局へ伝達される。このよう
な伝達は、例えば、光増幅器７１を介して伝送される主
信号の振幅を、主信号のビットレートよりも十分小さい
ビットレートで振幅変調することにより行うことができ
る。
力側のＳＮＲ測定値並びにこれらに基づいて演算された
雑音指数は、図示しない端局からの要請に応じて光増幅
器７１を介して図示しない端局へ伝達される。このよう
な伝達は、例えば、光増幅器７１を介して伝送される主
信号の振幅を、主信号のビットレートよりも十分小さい
ビットレートで振幅変調することにより行うことができ
る。
【００２５】本実施例によると、多段光中継伝送を実施
する場合において、いずれかの光中継器におけるＳＮＲ
の劣化に起因するシステムダウンが生じたときに、どの
光中継器が不良になったかを端局において特定すること
ができる。
する場合において、いずれかの光中継器におけるＳＮＲ
の劣化に起因するシステムダウンが生じたときに、どの
光中継器が不良になったかを端局において特定すること
ができる。
【００２６】尚、一般的に、光増幅器を備えた光中継器
においては、利得の制御等の要請から光増幅器に入力す
る光の一部と光増幅器から出力する光の一部とを分岐し
ているので、ＳＮＲの測定にはこれらの分岐光を用いる
ことができ、ＳＮＲの測定を行う上で主信号系の損失が
増大する恐れがない。
においては、利得の制御等の要請から光増幅器に入力す
る光の一部と光増幅器から出力する光の一部とを分岐し
ているので、ＳＮＲの測定にはこれらの分岐光を用いる
ことができ、ＳＮＲの測定を行う上で主信号系の損失が
増大する恐れがない。
【００２７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によると、
光増幅器に適した簡単な構成のＳＮＲ測定装置の提供が
可能になるという効果を奏する。
光増幅器に適した簡単な構成のＳＮＲ測定装置の提供が
可能になるという効果を奏する。
【図１】請求項１のクレーム対応図である。
【図２】請求項４のクレーム対応図である。
【図３】本発明の第１実施例を示すＳＮＲ測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図４】本発明の第２実施例を示すＳＮＲ測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図５】本発明の第３実施例を示すＳＮＲ測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図６】本発明の第４実施例を示すＳＮＲ測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
【図７】本発明の第５実施例を示すＳＮＲ測定装置のブ
ロック図である。
ロック図である。
１１ 分波手段 １２ 第１の受光手段 １３ 第２の受光手段 １４ ＳＮＲ演算手段 ２１ 光増幅器 ２２ 第１の光分岐手段 ２３ 第１のＳＮＲ測定装置 ２４ 第２の光分岐手段 ２５ 第２のＳＮＲ測定装置 ２６ 雑音指数演算手段
Claims (4)
- 【請求項１】 受けた光を予め定められた波長の信号光
と該信号光の波長以外の波長の雑音光とに波長分離する
分波手段(11)と、 該分波手段からの信号光を受け、その光強度を電気信号
に変換する第１の受光手段(12)と、 上記分波手段(11)からの雑音光を受け、その光強度を電
気信号に変換する第２の受光手段(13)と、 該第１及び第２の受光手段(12,13) からの電気信号をそ
れぞれ受け、該電気信号の比に基づいてＳＮＲを演算す
るＳＮＲ演算手段(14)とを備えたことを特徴とするＳＮ
Ｒ測定装置。 - 【請求項２】 光増幅器に入力する光の一部を分岐する
光分岐手段をさらに備え、 該光分岐手段で分岐された光が上記分波手段に入力する
ことを特徴とする請求項１に記載のＳＮＲ測定装置。 - 【請求項３】 光増幅器から出力する光の一部を分岐す
る光分岐手段をさらに備え、 該光分岐手段で分岐された光が上記分波手段に入力する
ことを特徴とする請求項１に記載のＳＮＲ測定装置。 - 【請求項４】 光増幅器(21)に入力する光の一部を分岐
する第１の光分岐手段(22)と、 該第１の光分岐手段により分岐された光を上記分波手段
が受ける請求項１に記載の第１のＳＮＲ測定装置(23)
と、 上記光増幅器(21)から出力する光の一部を分岐する第２
の光分岐手段(24)と、 該第２の光分岐手段により分岐された光を上記分波手段
が受ける請求項１に記載の第２のＳＮＲ測定装置(25)
と、 上記第１のＳＮＲ測定装置(23)のＳＮＲ測定値と上記第
２のＳＮＲ測定装置(25)のＳＮＲ測定値の比に基づき雑
音指数を演算する雑音指数演算手段(26)とを備えたこと
を特徴とするＳＮＲ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10105992A JPH05296831A (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | Ｓｎｒ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10105992A JPH05296831A (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | Ｓｎｒ測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05296831A true JPH05296831A (ja) | 1993-11-12 |
Family
ID=14290547
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10105992A Withdrawn JPH05296831A (ja) | 1992-04-21 | 1992-04-21 | Ｓｎｒ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05296831A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006085375A1 (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-17 | Fujitsu Limited | 波長分割多重装置 |
-
1992
- 1992-04-21 JP JP10105992A patent/JPH05296831A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006085375A1 (ja) * | 2005-02-10 | 2006-08-17 | Fujitsu Limited | 波長分割多重装置 |
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