JP3411415B2 - 光パワーモニター方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】（目次） 産業上の利用分野 従来の技術（図２７〜図２９） 発明が解決しようとする課題 課題を解決するための手段（図１〜図１６） 作用（図１〜図１６） 実施例（図１７〜図２６） 発明の効果

【０００２】

【産業上の利用分野】本発明は、光増幅器を用いた光通
信システムの確実な管理を行なうための手段として用い
て好適な、光パワーモニター方法に関する。

【０００３】

【従来の技術】近年、長距離間の光通信等に用いるべ
く、光増幅器が開発され実用化の段階を迎えつつある。
この光増幅器は信号を一般に増幅する機能（１Ｒ）のみ
をそなえており、１Ｒ中継器として利用されている。と
ころで、従来の中継器は３Ｒ機能をそなえており、この
点で光増幅器と異なっている。ここで３Ｒ機能をそなえ
た中継器（３Ｒ中継器）は、増幅機能、波形整形機能お
よびタイミング調整機能をそなえており、その他に、誤
り率の監視機能も装備可能なものである。

【０００４】ところが、１Ｒ機能のみの光増幅器では誤
り率の監視機能を付加することが出来ず、これに代わる
機能として雑音指数ＮＦの監視が考えられる。一般に、
増幅器は、その入出力および増幅に際し内部で発生する
雑音量を表す雑音指数ＮＦにより、動作パラメータを決
定される。したがって、光通信システムの管理にあたっ
ては、入力、出力および雑音指数ＮＦが主要監視項目と
なる。

【０００５】ここで、光増幅器の雑音指数ＮＦは、次式
で与えられる。 ＮＦ（ｄＢ）＝１０Ｌｏｇ（Ｐ_ASE,S ／ｈνＧΔν） ・・・・・・（１） Ｐ_ASE,S ：波長λ_S のＡＳＥ光パワー ｈ：プランク定数 ν：周波数 Ｇ：光増幅器の利得 Δν：フィルタ帯域幅 ところで、図２７に示すように光増幅器の出力光は、各
光増幅器で発生したＡＳＥ（Amplified Spontaneous Em
ission) の累積による広いスペクトル特性（Ｐ _ASE ）を
有するＡＳＥ光と、波長λ_S に輝線スペクトルを持つ信
号光とで構成されている。

【０００６】そして、波長λ_S におけるＡＳＥ光が所定
量を超える状態になった場合は、信号光の雑音成分に対
する相対的レベルが低下することとなり、通信を正常な
状態で行なえない可能性があるのであって、通信システ
ムにおける異常時であると考えられる。そこで、波長λ
_S におけるＡＳＥ光のパワーＰ_ASE,S を計測し、雑音指
数ＮＦを算出して、雑音成分を監視する必要がある。

【０００７】したがって、信号光と同一波長のＡＳＥ光
パワーを測定することは重要な課題であったが、従来は
その方法として、光フィルタにより信号光を抑圧して信
号光近傍波長のＡＳＥ光パワー密度を測定することが考
えられている。すなわち、図２８（ａ）に示すように信
号光波長λ_S 近傍の波長λ_C にパス特性をそなえたフィ
ルタを用いれば、主信号λ_S 減衰させ、近傍の波長λ_C
におけるＡＳＥ光パワー密度を測定することが可能とな
る。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
フィルタ特性は図２８（ｂ）に示すようなものであり、
十分に急峻な特性ではないため、信号光を十分に減衰さ
せることができない。また、図２８（ａ）に示すような
特性のフィルタが得られた場合であっても、図２９に示
す状況となる。

【０００９】すなわち、図２９（ａ）に示すようなスペ
クトル特性の信号が、図２９（ｂ）に示す特性のフィル
タに入力されると、図２９（ｃ）に示すような出力が得
られ、波長λ_C の出力と、信号光による波長λ_S の出力
とが表れる。このように、信号光は例えば４０ｄＢ程度
抑圧されるものの、信号光波長λ_Sにおいて漏れが生
じ、信頼性の高い状態での監視を行なうことができな
い。

【００１０】一方、信号光と逆方向に伝播するＡＳＥ光
をモニタし、それを順方向のＡＳＥ光パワーに換算する
方法もあったが、換算に必要な補正値に対する信頼性が
問題となっており、精度良く信号光と同一波長のＡＳＥ
光パワーを測定することは、困難な課題となっている。
本発明は、このような課題に鑑み創案されたもので、信
号光の波長におけるＡＳＥ光のパワーを確実に検出でき
るようにするとともに、その検出に際して必要となる急
峻なフィルタ特性を容易に実現できるようにした、光パ
ワーモニター方法を提供することを目的とする。

【００１１】

【課題を解決するための手段】このため、本発明の光パ
ワーモニター方法は、図１（ａ）に示すような第１の波
長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有する第
１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広いス
ペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波され
た光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）における上
記第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を求めるに
あたり、次のような手順で処理を行なうように構成され
ている。

【００１２】手順１：第２の光（ＡＳＥ）における上記
第１の波長（λ_S ）と異なる波長（λ₁ ，λ₂ ）の複数
測定点について光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定
する。 手順２：第２の光（ＡＳＥ）のスペクトル特性を上記複
数点の測定値に適用して、上記第２の光（ＡＳＥ）にお
ける上記第１の波長（λ_S ）の光パワー（Ｐ_{AS E,S} ）を
近似算出する。

【００１３】また、本発明に関連する光パワーモニター
装置は、図１（ｂ）に示すような各手段をそなえてい
る。すなわち、図１（ｂ）において、１０１はパワー検
出手段で、このパワー検出手段１０１は、第１の波長
（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有する第１
の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広いスペ
クトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波された
光（ＳＡ）について、第２の光（ＡＳＥ）における第１
の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を求めるものであ
る。

【００１４】さらに、パワー検出手段１０１は次のよう
に構成されている。１０２は光パワー計測手段で、この
光パワー計測手段１０２は、第２の光（ＡＳＥ）におけ
る第１の波長（λ_S ）と異なる波長（λ₁ ，λ₂ ）の複
数測定点について光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測
定するものである。１０３は近似算出手段で、この近似
算出手段１０３は、光パワー計測手段１０２の検出信号
を受けて第２の光（ＡＳＥ）のスペクトル特性を複数点
の測定値（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）に適用し第２の光（Ａ
ＳＥ）における第１の波長（λ_S ）の光パワー（Ｐ
_ASE,S ）を近似算出するものである。

【００１５】さらに、本発明の光パワーモニター方法
は、第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特
性を有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を
含んだ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）
とを合波された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳ
Ｅ）における上記第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ
_ASE,S）を求めるにあたり、上述した手順（手順１、手
順２）に加えて、次のような手順で処理を行なうように
構成されている（図２参照）。

【００１６】手順３：第２の光（ＡＳＥ）における第１
の波長（λ_S ）と異なる波長（λ₁，λ₂ ）の複数測定
点について光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定する
に際し、被測定光を分岐器９で複数の光波に分岐する。 手順４：分岐された各光波を、複数測定点それぞれの波
長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各透過特性をそなえた各バ
ンドパスフィルタ１０，１３に透過させる。

【００１７】手順５：各バンドパスフィルタ１０，１３
の透過光についてパワー計測（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を行
なう。そして、本発明の光パワーモニター方法は、第１
の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有す
る第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広
いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波
された光（ＳＡ）において、第２の光における上記第１
の波長（λ_S）の光パワーを求めるにあたり、上述した
手順（手順１、手順２）に加えて、次のような手順で処
理を行なうように構成されている（図３参照）。

【００１８】手順６：第２の光（ＡＳＥ）における第１
の波長（λ_S ）と異なる波長（λ₁，λ₂ ）の複数測定
点について光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定する
に際し、被測定光を分岐点９で複数の光波に分岐する。 手順７：分岐された各光波を、複数測定点それぞれの波
長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各透過特性を同一のバンド
パスフィルタ３２に対する入射角により設定して透過さ
せる。

【００１９】手順８：バンドパスフィルタ３２の透過光
のそれぞれについてパワー計測（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を
行なう。また、本発明の光パワーモニター方法は、第１
の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有す
る第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広
いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波
された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）におけ
る上記第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるにあた
り、上述した手順（手順１、手順２）に加えて、次のよ
うな手順で処理を行なうように構成されている（図４参
照）。

【００２０】手順９：第２の光（ＡＳＥ）における第１
の波長（λ_S ）と異なる波長（λ₁，λ₂ ）の複数測定
点について光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定する
に際し、複数測定点それぞれの波長（λ₁ ，λ₂ ）に依
存する各透過特性を同一のバンドパスフィルタ４０にお
ける時分割の特性変更により設定する。手順１０：バン
ドパスフィルタ４０の透過光について時分割のパワー計
測（Ｐ _ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を行なう。

【００２１】さらに、本発明の光パワーモニター方法
は、第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特
性を有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を
含んだ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）
とを合波された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳ
Ｅ）における第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるに
あたり、上述した手順（手順１、手順２、手順３、手順
４、手順５）に加えて、次のような手順で処理を行なう
ように構成されている（図５参照）。

【００２２】手順１１：各バンドパスフィルタ１０，１
３の透過光に対応して発生する各バンドパスフィルタ１
０，１３からの反射光（Ｈ１０，Ｈ１３）のパワーをそ
れぞれ測定する。 手順１２：各測定値から複数測定点波長（λ₁ ，λ₂ ）
と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ₁ ，λ₂ −
λ_S ）を算出する。

【００２３】手順１３：複数測定点波長（λ₁，λ₂）と
信号光波長（λ_S）との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）と第
２の光（ＡＳＥ）の特性とから第２の光（ＡＳＥ）にお
ける第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似算
出する。また、本発明の光パワーモニター方法は、第１
の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有す
る第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広
いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波
された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）におけ
る第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるにあたり、上
述した手順（手順１、手順２、手順６〜８）に加えて、
次のような手順で処理を行なうように構成されている
（図６参照）。

【００２４】手順１４：バンドパスフィルタ３２の各方
向への透過光に対応して発生するバンドパスフィルタ３
２からの各方向への反射光（Ｈ３０，Ｈ３１）のパワー
をそれぞれ測定する。 手順１５：各測定値から複数測定点波長（λ₁ ，λ₂ ）
と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ₁ ，λ₂ −
λ_S ）を算出する。

【００２５】手順１６：複数測定点波長（λ₁，λ₂）と
信号光波長（λ_S）との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）と第
２の光（ＡＳＥ）の特性とから第２の光（ＡＳＥ）にお
ける第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似算
出する。さらに、本発明の光パワーモニター方法は、第
１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有
する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ
広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合
波された光（ＳＡ）において、第２の光における第１の
波長（λ_S）の光パワーを求めるにあたり、上述した手
順（手順１、手順２、手順９、手順１０）に加えて、次
のような手順で処理を行なうように構成されている（図
７参照）。

【００２６】手順１７：バンドパスフィルタ４０の透過
光に対応して発生する時分割の反射光（Ｈ４０）のパワ
ーをそれぞれ測定する。 手順１８：各測定値から複数測定点波長（λ₁ ，λ₂ ）
と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ₁ ，λ₂ −
λ_S ）を算出する。 手順１９：複数測定点波長（λ₁ ，λ₂ ）と信号光波長
（λ_S ）との差（λ_S−λ₁ ，λ₂ −λ_S ）と第２の光
（ＡＳＥ）の特性とから第２の光（ＡＳＥ）における第
１の波長（λ_S ）の光パワー（Ｐ_ASE,S ）を近似算出す
る。

【００２７】そして、本発明の光パワーモニター方法
は、第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特
性を有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を
含んだ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）
とを合波された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳ
Ｅ）における第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるに
あたり、上述した手順（手順１〜５）に加えて、次のよ
うな手順で処理を行なうように構成されている（図８参
照）。

【００２８】手順２０：被測定光の分岐を分岐器９で行
なう。 手順２１：分岐された各光波を、複数測定点それぞれの
波長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各透過特性をそなえた各
バンドパスフィルタ１０，１３に往復透過させる。 手順２２：バンドパスフィルタ１０，１３の急峻なフィ
ルタ特性を実現する。

【００２９】また、本発明の光パワーモニター方法は、
第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を
有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含ん
だ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを
合波された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）に
おける第１の波長の光パワーを求めるにあたり、上述し
た手順（手順１、手順２、手順６〜８）に加えて、次の
ような手順で処理を行なうように構成されている（図９
参照）。

【００３０】手順２３：被測定光の分岐を分岐器９で行
なう。 手順２４：分岐された各光波を、複数測定点それぞれの
波長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各透過特性を同一のバン
ドパスフィルタ３２に対する入射角により設定して透過
させる。 手順２５：バンドパスフィルタ３２を反射部１１，１４
により往復透過させ、急峻なフィルタ特性による透過光
を得る。

【００３１】さらに、本発明の光パワーモニター方法
は、第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特
性を有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を
含んだ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）
とを合波された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳ
Ｅ）における第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるに
あたり、上述した手順（手順１、手順２、手順９、手順
１０）に加えて、次のような手順で処理を行なうように
構成されている（図１０参照）。

【００３２】手順２６：第２の光（ＡＳＥ）における第
１の波長（λ_S ）と異なる波長（λ ₁ ，λ₂ ）の複数測
定点について光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定す
るに際し、複数測定点それぞれの波長に依存する各透過
特性を同一のバンドパスフィルタ４０における時分割の
特性変更により設定し透過させる。 手順２７：反射部１１によりバンドパスフィルタ４０を
往復透過させる。

【００３３】手順２８：復路透過光について時分割のパ
ワー計測を行ない急峻なフィルタ特性による透過光を得
る。その後、この透過光は分岐器９から取り出す。そし
て、本発明の光パワーモニター方法は、第１の波長（λ
_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有する第１の光
（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広いスペクト
ル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波された光
（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）における第１の
波長（λ_S）の光パワーを求めるにあたり、上述した手
順（手順１〜５）に加えて、次のような手順で処理を行
なうように構成されている（図１１参照）。

【００３４】手順２９：分岐された各光波を複数測定点
それぞれの波長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各透過特性を
そなえた各バンドパスフィルタ１０，１３に反射部１
１，１４を介し往復透過させる。 手順３０：急峻なフィルタ特性による透過光を得る。 手順３１：各バンドパスフィルタ１０，１３の透過光に
対応して発生する各バンドパスフィルタ１０，１３から
の反射光（Ｈ１０，Ｈ１３）のパワーをそれぞれ測定す
る。

【００３５】手順３２：各測定値から上記複数測定点波
長（λ₁ ，λ₂ ）と信号光波長（λ _S ）との差（λ_S −
λ₁ ，λ₂ −λ_S ）を算出する。 手順３３：複数測定点波長（λ₁ ，λ₂ ）と信号光波長
との差（λ_S −λ₁ ，λ₂ −λ_S ）と、第２の光（ＡＳ
Ｅ）の特性と、分岐器９を経由して取り出された各透過
光の合波パワー（Ｇ９）とから第２の光（ＡＳＥ）にお
ける第１の波長（λ_S ）の光パワー（Ｐ_ASE,S ）を近似
算出する。

【００３６】また、本発明の光パワーモニター方法は、
第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を
有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含ん
だ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを
合波された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）に
おける第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるにあた
り、上述した手順（手順１、手順２、手順６〜８）に加
えて、次のような手順で処理を行なうように構成されて
いる（図１２参照）。

【００３７】手順３４：分岐器９で分岐された各光波を
複数測定点それぞれの波長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各
透過特性を同一のバンドパスフィルタ３２に対する入射
角により設定して透過させる。 手順３５：バンドパスフィルタ３２を反射部１１，１４
により往復透過させて急峻なフィルタ特性による透過光
をそれぞれ得る。

【００３８】手順３６：バンドパスフィルタ３２の透過
光に対応して発生するバンドパスフィルタ３２からの反
射光のパワー（Ｈλ１，Ｈλ２）をそれぞれ測定する。
手順３７：各測定値から複数測定点波長（λ₁，λ₂）と
信号光波長（λ_S）との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）を算
出する。手順３８：複数測定点波長（λ₁，λ₂）と信号
光波長（λ_S）との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）と、第２
の光（ＡＳＥ）の特性と，各透過光の合波パワー（Ｇ
９）とから、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長
（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似算出する。そし
て、本発明の光パワーモニター方法は、第１の波長（λ
_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有する第１の光
（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広いスペクト
ル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波された光
（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）における第１の
波長（λ_S）の光パワーを求めるにあたり、上述した手
順（手順１、手順２、手順９、手順１０）に加えて、次
のような手順で処理を行なうように構成されている（図
１３）。

【００３９】手順３９：光波を複数測定点それぞれの波
長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各透過特性を同一のバンド
パスフィルタ４０における時分割の特性変更により設定
し透過させる。 手順４０：バンドパスフィルタ４０を反射部１１により
往復透過させる。 手順４１：復路透過光について時分割のパワー計測を行
ない急峻なフィルタ特性による透過光の複数測定点（λ
₁ ，λ₂ ）についての各パワー値（Ｐ_ASE,1 ，
Ｐ_ASE,2 ）を順次得る。

【００４０】手順４２：バンドパスフィルタ４０の透過
光に対応して発生するバンドパスフィルタ４０からの反
射光（Ｈ４０）のパワーを時分割でそれぞれ測定する。 手順４３：各測定値から複数測定点波長（λ₁ ，λ₂ ）
と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ₁ ，λ₂ −
λ_S ）を算出する。 手順４４：複数測定点波長（λ₁ ，λ₂ ）と信号光波長
（λ_S ）との差（λ_S−λ₁ ，λ₂ −λ_S ）と、第２の
光（ＡＳＥ）の特性と、複数測定点（λ₁ ，λ ₂ ）につ
いての各パワー値（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）とから第２の
光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S ）の光パワー
（Ｐ_ASE,S ）を近似算出する。

【００４１】また、本発明の光パワーモニター方法は、
第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を
有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含ん
だ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを
合波された光（ＳＡ）において、第２の光（ＡＳＥ）に
おける第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるにあた
り、上述した手順（手順１〜５、手順２０〜２２）に加
えて、次のような手順で処理を行なうように構成されて
いる（図１４参照）。

【００４２】手順４５：分岐器９と各バンドパスフィル
タ１０，１３との間にそれぞれ光サーキュレータ２４，
２５を設け、バンドパスフィルタ１０，１３における復
路透過光を各光サーキュレータ２４，２５を介し出力さ
せて、各出力により第１の波長（λ_S ）と異なる複数測
定点波長（λ₁ ，λ₂ ）のそれぞれにおけるパワー（Ｐ
_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定する。

【００４３】手順４６：測定値（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）と
第２の光（ＡＳＥ）の特性とから第２の光（ＡＳＥ）に
おける第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似
算出する。さらに、本発明の光パワーモニター方法は、
第１の波長（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を
有する第１の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含ん
だ広いスペクトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを
合波された光において、第２の光（ＡＳＥ）における第
１の波長（λ_S）の光パワーを求めるにあたり、上述し
た手順（手順１、手順２、手順６〜８、手順２３〜２
５）に加えて、次のような手順で処理を行なうように構
成されている（図１５参照）。

【００４４】手順４７：分岐器９からバンドパスフィル
タ３２へ至る各光路に光サーキュレータ２４，２５をそ
れぞれ設け、バンドパスフィルタ３２における復路透過
光を各光サーキュレータ２４，２５を介し出力させて、
各出力により第１の波長（λ _S ）と異なる複数測定点波
長（λ₁ ，λ₂ ）のそれぞれにおけるパワー
（Ｐ_{ASE, 1} ，Ｐ_ASE,2 ）を測定する。

【００４５】手順４８：同測定値と第２の光（ＡＳＥ）
の特性とから第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長
（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似算出する。そし
て、本発明に関連する光パワーモニター方法は、光増幅
器２０１の監視を行なうにあたり、次のような手順で処
理を行なうように構成されている（図１６参照）。

【００４６】手順４９：光増幅器２０１における入力側
信号レベル（２２）と出力側信号レベル（１２）とを比
較して利得（Ｇ）を算出する。 手順５０：光増幅器２０１の出力側から分岐した被測定
光の雑音量（Ｐ_ASE,S）を算出する。 手順５１：利得（Ｇ）と雑音量（Ｐ_ASE,S ）とを基礎と
した雑音指数（ＮＦ）による光増幅器２０１の監視を行
なう。

【００４７】そして、被測定光の雑音量（Ｐ_ASE,S ）算
出に際しては、被測定光における狭いスペクトル特性を
そなえた主信号成分としての第１の光（Ｓ）と、被測定
光における広いスペクトル特性をそなえた雑音成分とし
ての第２の光（ＡＳＥ）とについて、第２の光（ＡＳ
Ｅ）における第１の光（Ｓ）の波長（λ_S ）の光パワー
（Ｐ_ASE,S ）を求めるにあたり、 手順５２：第２の光（ＡＳＥ）における第１の光の波長
（λ_S ）と異なる波長（λ₁ ，λ₂ ）の複数測定点につ
いて光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定する。

【００４８】手順５３：第２の光（ＡＳＥ）のスペクト
ル特性を複数点の測定値（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2 ）に適用
して、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S ）
の光パワー（Ｐ_ASE,S ）を雑音量として近似算出する。

【００４９】

【作用】上述の本発明の光パワーモニター方法では、図
１（ａ）に示すような第１の波長（λ_S）を基本とした
狭いスペクトル特性を有する第１の光（Ｓ）と、同第１
の波長（λ_S）を含んだ広いスペクトル特性を有する第
２の光（ＡＳＥ）とを合波された光（ＳＡ）において、
第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の光パ
ワー（Ｐ_ASE,S）を求めるにあたり、次のような処理が
行なわれる。

【００５０】まず、第２の光（ＡＳＥ）における第１の
波長（λ_S ）と異なる波長（λ₁ ，λ₂ ）の複数測定点
について光パワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を測定し、つ
いで、第２の光（ＡＳＥ）のスペクトル特性を複数点の
測定値に適用して、第２の光（ＡＳＥ）における第１の
波長（λ_S ）の光パワー（Ｐ_ASE,S ）が近似算出され
る。

【００５１】また、上述した光パワーモニター装置で
は、図１（ｂ）に示すような各手段によりモニター動作
が行なわれ、パワー検出手段１０１により、第１の波長
（λ_S）を基本とした狭いスペクトル特性を有する第１
の光（Ｓ）と、同第１の波長（λ_S）を含んだ広いスペ
クトル特性を有する第２の光（ＡＳＥ）とを合波された
光（ＳＡ）について、第２の光（ＡＳＥ）における第１
の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）が求められる。そ
して、パワー検出手段１０１は次のようにその作動を行
なう。すなわち、光パワー計測手段１０２が、第２の光
（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）と異なる波長
（λ₁，λ₂）の複数測定点について光パワー
（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を測定する。そして、近似算出手
段１０３は、光パワー計測手段１０２の検出信号を受け
て第２の光（ＡＳＥ）のスペクトル特性を複数点の測定
値（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）に適用し第２の光（ＡＳＥ）に
おける第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似
算出する。

【００５２】さらに、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光における上記第１の波長の光パワーを求め
るにあたり、上述した処理に加えて、次のような処理が
行なわれる（図２参照）。すなわち、第２の光（ＡＳ
Ｅ）における第１の波長（λ_S）と異なる波長（λ₁，λ
₂）の複数測定点について光パワー（Ｐ_ASE,1，
Ｐ_ASE,2）を測定するに際し、被測定光を分岐器９で複
数の光波に分岐し、ついで、分岐された各光波を、複数
測定点それぞれの波長に依存する各透過特性をそなえた
各バンドパスフィルタ１０，１３に透過させ、各バンド
パスフィルタ１０，１３の透過光についてパワー（Ｐ
_ASE,1，Ｐ_ASE,2）の計測を行なう。

【００５３】そして、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における上記第１の波長
（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を求めるにあ
たり、上述した処理に加えて、次のような処理が行なわ
れる（図３参照）。すなわち、第２の光（ＡＳＥ）にお
ける第１の波長（λ_S）と異なる波長（λ₁，λ₂）の複
数測定点について光パワー（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を測定
するに際し、被測定光を複数の光波に分岐し、ついで、
分岐された各光波を、複数測定点それぞれの波長
（λ₁，λ₂）に依存する各透過特性を同一のバンドパス
フィルタ３２に対する入射角により設定して透過させ、
バンドパスフィルタ３２の透過光のそれぞれについてパ
ワー（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）の計測を行なう。

【００５４】また、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における上記第１の波長
（λ_S）の光パワーを求めるにあたり、上述した処理に
加えて、次のような処理が行なわれる（図４参照）。す
なわち、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長
（λ_S）と異なる波長（λ₁，λ₂）の複数測定点につい
て光パワー（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を測定するに際し、複
数測定点それぞれの波長（λ₁，λ₂）に依存する各透過
特性を同一のバンドパスフィルタ４０における時分割の
特性変更により設定し、バンドパスフィルタ４０の透過
光について時分割のパワー（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）の計測
を行なう。

【００５５】さらに、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような処理が行なわれる（図５参照）。すなわち、各
バンドパスフィルタ１０，１３の透過光に対応して発生
する各バンドパスフィルタ１０，１３からの反射光（Ｈ
１０，Ｈ１３）のパワーをそれぞれ測定し、ついで、各
測定値から複数測定点波長（λ₁，λ₂）と信号光波長
（λ_S）との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）を算出し、さら
に、複数測定点波長（λ₁，λ₂）と信号光波長（λ_S）
との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）と第２の光（ＡＳＥ）の
特性とから第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ
_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似算出する。

【００５６】また、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような処理が行なわれる（図６参照）。すなわち、バ
ンドパスフィルタ３２の各方向への透過光に対応して発
生するバンドパスフィルタ３２からの各方向への反射光
（Ｈ３０，Ｈ３１）のパワーをそれぞれ測定し、つい
で、各測定値から複数測定点波長（λ₁，λ₂）と信号光
波長（λ_S）との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）を算出し、
さらに、複数測定点波長（λ₁，λ₂）と信号光波長（λ
_S）との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）と第２の光（ＡＳ
Ｅ）の特性とから第２の光（ＡＳＥ）における第１の波
長（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似算出する。さら
に、本発明の光パワーモニター方法では、第２の光（Ａ
ＳＥ）における第１の波長（λ_S）の光パワーを求める
にあたり、上述した処理に加えて、次のような処理が行
なわれる（図７参照）。

【００５７】すなわち、バンドパスフィルタ４０の透過
光に対応して発生する時分割の反射光（Ｈ４０）のパワ
ーをそれぞれ測定し、各測定値から複数測定点波長（λ
₁ ，λ₂ ）と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ₁ ，
λ₂ −λ_S ）を算出して、複数測定点波長（λ₁ ，
λ₂ ）と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ₁ ，λ₂
−λ_S ）と第２の光（ＡＳＥ）の特性とから第２の光
（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S ）の光パワー（Ｐ
_ASE,S ）を近似算出する。

【００５８】そして、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような処理が行なわれる（図８参照）。すなわち、被
測定光の分岐を分岐器９で行ない、分岐された各光波
を、複数測定点それぞれの波長（λ₁，λ₂）に依存する
各透過特性をそなえた各バンドパスフィルタ１０，１３
に往復透過させ、バンドパスフィルタ１０，１３の急峻
なフィルタ特性を実現する。

【００５９】また、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて次の
ような処理が行なわれる（図９参照）。すなわち、被測
定光の分岐を分岐器９で行ない、分岐された各光波を、
複数測定点それぞれの波長（λ₁，λ₂）に依存する各透
過特性を同一のバンドパスフィルタ３２に対する入射角
により設定して透過させ、バンドパスフィルタ３２を反
射部１１，１４により往復透過させ、急峻なフィルタ特
性による透過光を得る。

【００６０】さらに、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような処理が行なわれる（図１０参照）。すなわち、
第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）と異な
る波長（λ₁，λ₂）の複数測定点について光パワー（Ｐ
_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を測定するに際し、複数測定点それぞ
れの波長に依存する各透過特性を同一のバンドパスフィ
ルタ４０における時分割の特性変更により設定し透過さ
せ、反射部１１によりバンドパスフィルタ４０を往復透
過させて、復路透過光についての時分割のパワー計測を
行ない急峻なフィルタ特性による透過光を得る。

【００６１】そして、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような手順で処理が行なわれる（図１１参照）。すな
わち、分岐された各光波を複数測定点それぞれの波長
（λ₁，λ₂）に依存する各透過特性をそなえた各バンド
パスフィルタ１０，１３に往復透過させ、急峻なフィル
タ特性による透過光を得て、各バンドパスフィルタ１
０，１３の透過光に対応して発生する各バンドパスフィ
ルタ１０，１３からの反射光（Ｈ１０，Ｈ１３）のパワ
ーをそれぞれ測定し、各測定値から上記複数測定点波長
（λ₁，λ₂）と信号光波長（λ_S）との差（λ_S−λ₁，
λ₂−λ_S）を算出して、複数測定点波長と信号光波長と
の差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）と、第２の光（ＡＳＥ）の
特性と、各透過光の合波パワー（Ｇ９）とから第２の光
（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ
_ASE,S）を近似算出する。

【００６２】また、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような処理が行なわれる（図１２参照）。すなわち、
分岐された各光波を複数測定点それぞれの波長（λ₁，
λ₂）に依存する各透過特性を同一のバンドパスフィル
タ３２に対する入射角により設定して透過させ、バンド
パスフィルタ３２を反射部１１，１４により往復透過さ
せて急峻なフィルタ特性による透過光をそれぞれ得る。
そして、バンドパスフィルタ３２の透過光に対応して発
生するバンドパスフィルタ３２からの反射光のパワー
（Ｈλ１，Ｈλ２）をそれぞれ測定し、各測定値から複
数測定点波長（λ₁，λ₂）と信号光波長（λ_S）との差
（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）を算出し、複数測定点波長と信
号光波長との差（λ_S−λ₁，λ₂−λ_S）と、第２の光
（ＡＳＥ）の特性と、各透過光の合波パワー（Ｇ９）と
から、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）
の光パワー（Ｐ_ASE,S）を近似算出する。そして、本発
明の光パワーモニター方法では、第２の光（ＡＳＥ）に
おける第１の波長（λ_S）の光パワーを求めるにあた
り、上述した処理に加えて、次のような処理が行なわれ
る（図１３）。

【００６３】すなわち、光波を複数測定点それぞれの波
長（λ₁ ，λ₂ ）に依存する各透過特性を同一のバンド
パスフィルタ４０における時分割の特性変更により設定
し透過させ、バンドパスフィルタ４０を反射部１１によ
り往復透過させて、復路透過光について時分割のパワー
計測を行ない、急峻なフィルタ特性による透過光の複数
測定点（λ₁ ，λ₂ ）についての各パワー値
（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を順次得る。ついで、バンドパ
スフィルタ４０の透過光に対応して発生するバンドパス
フィルタ４０からの反射光（Ｈ４０）のパワーを時分割
でそれぞれ測定し、各測定値から複数測定点波長
（λ₁ ，λ₂ ）と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ
₁，λ₂ −λ_S ）を算出して、複数測定点波長（λ₁ ，
λ₂ ）と信号光波長（λ_S）との差（λ_S −λ₁ ，λ₂
−λ_S ）と、第２の光（ＡＳＥ）の特性と、複数測定点
（λ₁ ，λ₂ ）についての各パワー値（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ
_ASE,2 ）とから第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長
（λ_S ）の光パワー（Ｐ_ASE,S ）を近似算出する。

【００６４】また、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような処理が行なわれる（図１４参照）。すなわち、
バンドパスフィルタ１０，１３における復路透過光を、
分岐器９と各バンドパスフィルタ１０，１３との間にそ
れぞれ設けた光サーキュレータ２４，２５を介し出力さ
せて、各出力により第１の波長（λ_S）と異なる複数測
定点波長（λ₁，λ₂）のそれぞれにおけるパワー（Ｐ
_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を測定し、測定値（Ｐ_ASE,1，
Ｐ_ASE,2）と第２の光（ＡＳＥ）の特性とから第２の光
（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の光パワー（Ｐ
_ASE,S）を近似算出する。

【００６５】さらに、本発明の光パワーモニター方法で
は、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長（λ_S）の
光パワーを求めるにあたり、上述した処理に加えて、次
のような処理が行なわれる（図１５参照）。すなわち、
バンドパスフィルタ３２における復路透過光を、分岐器
９からバンドパスフィルタ３２へ至る各光路にそれぞれ
設けた各光サーキュレータ２４，２５を介し出力させ、
各出力により第１の波長（λ_S）と異なる複数測定点波
長（λ₁，λ₂）のそれぞれにおけるパワーを測定し、同
測定値と第２の光（ＡＳＥ）の特性とから第２の光（Ａ
ＳＥ）における第１の波長（λ_S）の光パワー
（Ｐ_ASE,S）を近似算出する。

【００６６】そして、本発明に関連する光パワーモニタ
ー方法では、光増幅器２０１の監視を行なうにあたり、
次のような処理が行なわれる（図１６参照）。まず、光
増幅器２０１における入力側信号レベル（２２）と出力
側信号レベル（１２）とを比較して利得（Ｇ）を算出
し、光増幅器２０１の出力側から分岐した被測定光の雑
音量（Ｐ_ASE,S）を算出して、算出された利得（Ｇ）と
雑音量（Ｐ_ASE,S）とを基礎とした雑音指数（ＮＦ）に
より光増幅器の監視が行なわれる。そして、被測定光の
雑音量（Ｐ_ASE,S）算出に際しては、被測定光における
狭いスペクトル特性をそなえた主信号成分としての第１
の光（Ｓ）と、被測定光における広いスペクトル特性を
そなえた雑音成分としての第２の光（ＡＳＥ）とについ
て、第２の光（ＡＳＥ）における第１の光（Ｓ）の波長
（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）を求めるにあたり、第２
の光（ＡＳＥ）における第１の光の波長（λ_S）と異な
る波長（λ₁，λ₂）の複数測定点について光パワー（Ｐ
_ASE,1，Ｐ_ASE,2）を測定し、第２の光（ＡＳＥ）のスペ
クトル特性を複数点の測定値（Ｐ_ASE,1，Ｐ_ASE,2）に適
用して、第２の光（ＡＳＥ）における第１の波長
（λ_S）の光パワー（Ｐ_ASE,S）が雑音量として近似算出
される。

【００６７】

【実施例】以下、図面を参照して本発明の実施例を説明
する。 （ａ）第１実施例の説明 図１７は本発明の第１実施例にかかるシステム構成を示
す摸式的ブロック図であるが、光通信システムの中継点
においては、同図に示すような光増幅器が装備されてい
る。そして、この図１７において、２は合波器で、この
合波器２は、信号光源（レーザー光源）１からの信号光
に、励起光源（レーザー光源）３からの励起光を合波
し、信号光のレベルを高めるように構成されている。

【００６８】４は分岐器で、この分岐器４は、合波器２
からの光を、エルビュームドープファイバー（ＥＤＦ）
５への出力光と、ダイオード２２へのモニタ用出力光と
に分岐するもので、この分岐器４として、ディレクショ
ナルカプラ、サーキュレータ、ＷＤＭカプラ等が使用さ
れる。また、エルビュームドープファイバー（ＥＤＦ）
５からの出力は分岐器６に入力され、この分岐器６にお
いて分岐器７への出力側モニタ出力光が取り出されるよ
うになっている。なお、分岐器６，７としてもディレク
ショナルカプラ、サーキュレータ、ＷＤＭカプラ等が使
用される。

【００６９】そして、分岐器６の出力は、増幅された状
態で次の光通信路に出力され、所要数の増幅器（中継
器）を経て受信部２３に達するように構成されている。
ところで、分岐器４において得られた入力側モニタ光お
よび分岐器６において得られた出力側モニタ光は以下の
ようにして処理され、システムの監視が行なわれるよう
になっている。

【００７０】まず、１７はＧ演算部で、このＧ演算部１
７は、分岐器７からフィルタ８を経て得られた増幅器出
力側の信号光パワーを電流（または電圧）として検出す
るダイオード１２の出力と、分岐器４で得られた増幅器
入力側の信号光パワーを電流（または電圧）として検出
するダイオード２２の出力とを入力されるように構成さ
れており、これらの入力により、光増幅器の利得Ｇが算
出されるようになっている。

【００７１】１８はＮＦ算出部で、このＮＦ算出部１８
は、Ｇ演算部１７からの出力およびＰ_ASE,S 演算部１９
からの出力により、前述の式（１）を用いて雑音指数Ｎ
Ｆが算出されるようになっている。そして、算出された
雑音指数ＮＦは、光通信システムの終端に設けられた受
信部２３へ常時伝達され、当該光増幅器の運転状態が受
信部２３で常に監視されるようになっている。

【００７２】ところで、ＮＦ算出に必要なＡＳＥ光パワ
ーＰ_ASE,S は、Ｐ_ASE,S 演算部１９において算出される
が、その算出に際しての信号検出等は次のような構成に
より行なわれるようになっている。まず、１０および１
３はバンドパスフィルタで、分岐器７を経由し分岐され
た増幅出力光が、さらに分岐器９により分岐され、バン
ドパスフィルタ１０およびバンドパスフィルタ１３に向
かうように構成されている。ここで、分岐器９としても
ディレクショナルカプラ、サーキュレータ、ＷＤＭカプ
ラ等が使用される。

【００７３】バンドパスフィルタ１０は、信号光の基本
波長λ_S と異なる波長λ₁ （λ₁ ＜λ_S ）以外の光を制
限するもので構成されており、入射光のうち波長λ₁ を
基本とした近傍波長の光が通過するようになっている。
また、バンドパスフィルタ１３は、信号光の基本波長λ
_S と異なる波長λ₂ （λ₂ ＞λ_S ）以外の光を制限する
もので構成されており、入射光のうち波長λ₂を基本と
した近傍波長の光が通過するようになっている。

【００７４】ここで、バンドパスフィルタ１０、バンド
パスフィルタ１３は所要の積層（ＴｉＯ₂ 層、ＳｉＯ₂
層）により、上記の所定の波長光（λ₁ ，λ₂ ）のみを
通過させるべく形成されている。そして、１１および１
４は反射鏡（反射部）であるが、反射鏡１１は、バンド
パスフィルタ１０からの入射光を反射し、反射光を再度
バンドパスフィルタ１０に入射させるように構成されて
いる。これにより、反射光はバンドパスフィルタ１０に
より再度フィルタリングを行なわれ、急峻なフィルタリ
ングが行なわれて、確実に波長λ₁ のみの光となるよう
に構成されている。

【００７５】また、反射鏡１４はバンドパスフィルタ１
３からの入射光を反射し、反射光を再度バンドパスフィ
ルタ１３に入射させるように構成されている。これによ
り、反射光はバンドパスフィルタ１３により再度フィル
タリングを行なわれ、急峻なフィルタリングが行なわれ
て、確実に波長λ₂ のみの光となるように構成されてい
る。

【００７６】そして、図１９に示すように、バンドパス
フィルタ１０を２回通過した波長λ ₁ の透過光およびバ
ンドパスフィルタ１３を２回通過した波長λ₂ の透過光
は、分岐器９に再度入射し、合波されるように構成され
ている。さらに、２１はフォトダイオードで、このフォ
トダイオード２１は分岐器９において合波された波長λ
₁ の透過光および波長λ₂ の透過光を入射され、合波の
光パワーを電気量に変換すべく装備されている。

【００７７】そして、フォトダイオード２１の出力信号
はＰ_ASE,S 演算部１９に入力されるように構成されてい
る。Ｐ_ASE,S 演算部１９は、合波光の光パワーから所定
の手段により波長λ₁ の透過光の光パワーと波長λ₂ の
透過光の光パワーとに配分し、信号光の基本波長λ _S と
異なる波長λ₁ の透過光の光パワーと波長λ₂ の透過光
の光パワーとを算出するように構成されている。

【００７８】ここで、この第１実施例における配分の手
段は、予め検出されたＡＳＥ光パワーＰ_ASE,S のスペク
トル特性から波長λ₁ の透過光のＡＳＥ光パワーＰ
_ASE,1 と波長λ₂ の透過光のＡＳＥ光パワーＰ_ASE,2 と
の比を算出しておき、その比を用いて配分するように構
成されている。さらに、Ｐ_ASE,S 演算部１９は、波長λ
₁ の透過光のＡＳＥ光パワーＰ_ASE,1と波長λ₂ の透過
光のＡＳＥ光パワーＰ_ASE,2 とから、信号光の基本波長
λ_S におけるＡＳＥ光パワーＰ_ASE,S を近似算出するよ
うに構成されている。

【００７９】ここで、近似計算はＡＳＥ光のスペクトル
特性を直線とみなしうる場合は、線型近似計算により行
なうように構成されている。また、ＡＳＥ光のスペクト
ル特性を直線とみなしえない場合は、曲線近似計算によ
り行なうように構成されている。なお、本実施例では、
波長λ₁ ，波長λ₂ および信号光の基本波長λ_S が、予
め設定されていることを前提に構成されている。

【００８０】本発明の第１実施例は上述のように構成さ
れているので、光通信システムにおける端局装置から発
信された基本波長λ_S の信号光は、信号光源１から光増
幅器に入力されるが、この入力光は、合波器２において
励起光源３からの励起光と合波される。合波された信号
光は分岐器４を介しエルビュームドープファイバー（Ｅ
ＤＦ）５に入力され、光増幅された出力光が分岐器６を
介し次の光増幅器へ向け出力される。

【００８１】このような光増幅を繰り返しながら、所要
の信号レベルを確保し、端局から発信された信号が受信
部２３に的確に伝達される。ところで、光通信システム
における各要素について、故障等が発生すると、雑音指
数ＮＦが増加する。この状態を検出すべく、エルビュー
ムドープファイバー（ＥＤＦ）５の入力側と出力側との
それぞれについて、分岐器４，６によるモニタ出力の分
岐が行なわれる。

【００８２】これらのモニタ出力のうち入力側の出力
は、ダイオード２２により電気量に変換した後、Ｇ演算
部１７に入力されて、光増幅器の利得Ｇを算出するため
に用いられる。モニタ出力のうち出力側は、分岐器７に
より分岐されて、その一方がダイオード１２により電気
量に変換された後、Ｇ演算部１７に入力されて、光増幅
器の利得Ｇを算出するために用いられる。

【００８３】また、分岐器７により分岐された他方は、
分岐器９に入力されて、さらに２方向に分岐される。分
岐された２出力（図２０（ａ）の参照）は、いずれも
図２０（ｂ）に示すようなスペクトル特性をそなえてお
り、波長λ_S の信号光が、累積されたＡＳＥパワーに乗
った状態になっている。

【００８４】そして、一方の出力がバンドパスフィルタ
１０に入射するが、バンドパスフィルタ１０を通過した
透過光（図２０（ａ）の参照）は，バンドパスフィル
タ１０が波長λ₁ を基本とする透過特性をそなえている
ため、図２０（ｃ）に示すように、波長λ₁ の光を多く
透過させた特性となり、波長λ_S の信号光成分はかなり
弱められる。

【００８５】ついで、透過光は反射鏡１１に入射し、反
射されて、再度バンドパスフィルタ１０に入力される。
これにより、バンドパスフィルタ１０によるフィルタリ
ングが再度行なわれ、波長λ₁ 以外の波長の成分はさら
に弱められて、バンドパスフィルタ１０からの出力（図
２０（ａ）の参照）は、図２０（ｄ）に示すように、
波長λ₁ のみにピークを持ち、波長λ_S の信号光成分に
ほとんど影響を受けないスペクトル特性となる。

【００８６】すなわち、バンドパスフィルタ１０からの
出力における波長λ₁ における出力パワーは、波長λ₁
における純粋なＡＳＥパワーの量を示しており、信号光
に影響されない波長λ₁ におけるＡＳＥパワーが正確に
抽出される。ここで、バンドパスフィルタ１０から出力
される透過光は、反射鏡１１の反射によりバンドパスフ
ィルタ１０を２回通過し、２回のフィルタリングが行な
われることになる。同一のバンドパスフィルタ１０であ
るため、光軸が完全に同一であり、また透過特性も同一
であるため、同一の波長λ₁ を基本とする急峻なフィル
タリングが正確に行なわれる。したがって、バンドパス
フィルタ１０にバンドパスフィルタ１０とほぼ同機能の
フィルタを重ねて使用する場合に比べ、より確実なフィ
ルタリングが行なわれるとともに、光軸を一致させるた
めに行なうべきフィルタ相互の取り付け位置調整が不要
であり、性能、コストともに向上する。

【００８７】ところで、分岐器９で分岐された他方の出
力はバンドパスフィルタ１３に入射するが、バンドパス
フィルタ１３を通過した透過光（図２０（ａ）の参
照）は、バンドパスフィルタ１３が波長λ₂ を基本とす
る透過特性をそなえているため、図２０（ｅ）に示すよ
うに、波長λ₂ の光を多く透過させた特性となり、波長
λ_S の信号光成分はかなり弱められる。

【００８８】ついで、透過光は反射鏡１４に入射し、反
射されて、再度バンドパスフィルタ１３に入力される。
これにより、バンドパスフィルタ１３によるフィルタリ
ングが再度行なわれ、波長λ₂ 以外の波長の成分はさら
に弱められて、バンドパスフィルタ１３からの出力（図
２０（ａ）の参照）は、図２０（ｆ）に示すように、
波長λ₂ のみにピークを持ち、波長λ_S の信号光成分に
ほとんど影響を受けないスペクトル特性となる。

【００８９】これにより、バンドパスフィルタ１３から
の出力における波長λ₂ における出力パワーは、波長λ
₂ における純粋なＡＳＥパワーの量を示しており、信号
光に影響されない波長λ₂ におけるＡＳＥパワーが正確
に抽出される。ここで、透過光が同一のバンドパスフィ
ルタ１３を２回通ることによりフィルタリングされるこ
とに関する効果はバンドパスフィルタ１０におけるもの
と同様である。

【００９０】このようにして抽出された波長λ₁ におけ
るＡＳＥパワーと波長λ₂ におけるＡＳＥパワーとが分
岐器９に入力され、図２０（ｇ）に示すような特性の出
力（図２０（ａ）の参照）となって、フォトダイオー
ド２１で電気量に変換される。この電気量は、波長λ₁
と波長λ₂ とにおけるＡＳＥパワーを加え合わせた量を
示しており、図１７に示すようにＰ_ASE,S 演算部１９に
入力される。

【００９１】Ｐ_ASE,S 演算部１９では、上述のようにし
て検出されたＡＳＥパワー量を、予め設定された波長λ
_1,λ₂ の値と、この値に対応するＡＳＥ特性の値を参照
して算出した、波長λ₁ のＡＳＥ特性値と波長λ₂ のＡ
ＳＥ特性値との比で上述のＡＳＥパワー量を配分するこ
とにより、波長λ₁ のＡＳＥ特性値Ｐ_ASE,1 と波長λ ₂
のＡＳＥ特性値Ｐ_ASE,2 とを求める（図１８参照）。

【００９２】そして、図１８に示すように、これらの値
Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 とＡＳＥパワー特性とを用いた補間
近似により、信号光の波長λ_S におけるＡＳＥパワーＰ
_{ASE, S} が算出される。補間近似の方法は、ＡＳＥパワー
特性がどのような曲線もしくは直線に乗っているかによ
り設定され、線型の特性に近い場合は直線補間が用いら
れ、図１８に示すような特性の場合には、次式における
ような曲線近似による算出が行なわれる。 P _ASE,S ＝(1+ X) P_ASE,1+(P_ASE,2/X-P _ASE,1)( λ_S - λ₁)/(λ₂-λ₁) ・・・・（２） ここで、Ｘは被測定光分岐比（１：Ｘ）を示している。

【００９３】このようにして算出されたＰ_ASE,S を用い
て、ＮＦ算出部１８における演算が行なわれ、前述した
式と同一の次式により、光増幅器の雑音指数ＮＦが算出
される。 ＮＦ（ｄＢ）＝１０Ｌｏｇ（Ｐ_ASE,S ／ｈνＧΔν） ・・・・（１） Ｐ_ASE,S ：波長λ_S のＡＳＥ光パワー ｈ：プランク定数 ν：周波数 Ｇ：光増幅器の利得（Ｇ演算部１７で算出） Δν：フィルタ帯域幅 ここで、フィルタ帯域幅Δνは、被測定光を反射部（反
射鏡１１，１４）を通じ、同じバンドパスフィルタ１
０，１３に２回通過させた後の光のスペクトルを測定し
て算出し、上式に適用する。

【００９４】算出された雑音指数ＮＦは、逐次受信部２
３に伝達され、所定以上の値となるかどうかが常時監視
され、雑音指数ＮＦが所定値以上になった場合は、光増
幅器の故障であるとの判断をして、所要の処置がとられ
る。このようにして、第１の光（信号光）の波長におけ
る第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）を、第１
の光（信号光）に影響されず算出出来るようになり、更
には第１の光（信号光）の波長における第２の光（雑音
分）のパワー（雑音成分量）算出に際しての、複数測定
点における測定値をより確実なものとすることができる
ようになり、これにより光増幅器の監視を容易にかつ確
実に行なえるようになる利点がある。

【００９５】また、第１の光（信号光）の波長における
第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）を、安定し
た確実な状態で算出できるようになり、これを用いて算
出された雑音指数により光増幅器の監視を行なうため、
簡素な構成で確実に監視を行なえる。 （ｂ）第２実施例の説明 次に本発明の第２実施例について説明する。

【００９６】図２１は本発明の第２実施例にかかるシス
テム構成を示す摸式的ブロック図であるが、この実施例
においても、光通信システムの中継点において、この
（２）図に示すような光増幅器が装備されている。そし
て、この図２１においても、合波器２は、信号光源（レ
ーザー光源）１からの信号光に、励起光源（レーザー光
源）３からの励起光を合波し、信号光のレベルを高める
ように構成されている。

【００９７】また、分岐器４は、合波器２からの光を、
エルビュームドープファイバー（ＥＤＦ）５への出力光
と、ダイオード２２へのモニタ用出力光とに分岐するも
のであり、エルビュームドープファイバー（ＥＤＦ）５
からの出力は分岐器６に入力され、この分岐器６におい
て分岐器７への出力側モニタ出力光が取り出されるよう
になっている。

【００９８】そして、分岐器６の出力は、増幅された状
態で次の光通信路に出力され、所要数の増幅器（中継
器）を経て受信部２３に達するように構成されている。
ところで、この実施例においても、分岐器４において得
られた入力側モニタ光および分岐器６において得られた
出力側モニタ光は以下のようにして処理され、システム
の監視が行なわれるようになっている。

【００９９】まず、Ｇ演算部１７は、分岐器７からフィ
ルタ８を経て得られた増幅器出力側の信号光パワーを電
流（または電圧）として検出するダイオード１２の出力
と、分岐器４で得られた増幅器入力側の信号光パワーを
電流（または電圧）として検出するダイオード２２の出
力とを入力されるように構成されており、これらの入力
により、光増幅器の利得Ｇが算出されるようになってい
る。

【０１００】さらに、ＮＦ算出部１８は、Ｇ演算部１７
からの出力およびＰ_ASE,S 演算部１９からの出力によ
り、前述の式（１）を用いて雑音指数ＮＦが算出される
ようになっている。そして、算出された雑音指数ＮＦ
は、光通信システムの終端に設けられた受信部２３へ常
時伝達され、当該光増幅器の運転状態が受信部２３で常
に監視されるようになっている。

【０１０１】ところで、ＮＦ算出に必要なＡＳＥ光パワ
ーＰ_ASE,S は、Ｐ_ASE,S 演算部１９において算出される
が、その算出に際しての信号検出等は次のような構成に
より行なわれるようになっている。まず、バンドパスフ
ィルタ１０，１３で、分岐器７を経由し分岐された増幅
出力光が、さらに分岐器９により分岐され、バンドパス
フィルタ１０およびバンドパスフィルタ１３に向かうよ
うに構成されている。

【０１０２】ここで、この分岐器９やその他の分岐器
４，６，７としても、ディレクショナルカプラ、サーキ
ュレータ、ＷＤＭカプラ等が使用される。バンドパスフ
ィルタ１０は、信号光の基本波長λ_S と異なる波長λ₁
（λ₁ ＜λ_S ）以外の光を制限するもので構成されてお
り、入射光のうち波長λ₁ を基本とした近傍波長の光が
通過するようになっていて、バンドパスフィルタ１３
は、信号光の基本波長λ_S と異なる波長λ₂ （λ₂ ＞λ
_S ）以外の光を制限するもので構成されており、入射光
のうち波長λ₂ を基本とした近傍波長の光が通過するよ
うになっている。

【０１０３】なお、バンドパスフィルタ１０、バンドパ
スフィルタ１３も、所要の積層（ＴｉＯ₂ 層、ＳｉＯ₂
層）により、上記の所定の波長光（λ₁ ，λ₂ ）のみを
通過させるべく形成されている。反射鏡１１は、バンド
パスフィルタ１０からの入射光を反射し、反射光を再度
バンドパスフィルタ１０に入射させるように構成され、
反射鏡１４はバンドパスフィルタ１３からの入射光を反
射し、反射光を再度バンドパスフィルタ１３に入射させ
るように構成されている。これにより、反射光はバンド
パスフィルタ１０，１３により再度フィルタリングを行
なわれ、急峻なフィルタリングが行なわれて、確実に波
長λ₁ ，λ₂ のみの光となるように構成されている。そ
して、バンドパスフィルタ１０を２回通過した波長λ₁
の透過光およびバンドパスフィルタ１３を２回通過した
波長λ₂ の透過光は、分岐器９に再度入射し、合波され
るように構成されている。

【０１０４】さらに、フォトダイオード２１は分岐器９
において合波された波長λ₁ の透過光および波長λ₂ の
透過光を入射され、合波の光パワーを電気量に変換すべ
く装備されている。そして、フォトダイオード２１の出
力信号はＰ_ASE,S 演算部１９に入力されるように構成さ
れている。

【０１０５】Ｐ_ASE,S 演算部１９は、合波光の光パワー
から所定の手段により波長λ₁ の透過光の光パワーと波
長λ₂ の透過光の光パワーとに配分し、信号光の基本波
長λ _S と異なる波長λ₁ の透過光の光パワーと波長λ₂
の透過光の光パワーとを算出するように構成されてい
る。ここで、この第２実施例における配分の手段は、バ
ンドパスフィルタ１０，１３からの反射光Ｈ１０，Ｈ１
３を用いて行なうように構成されている。すなわち反射
光Ｈ１０，Ｈ１３は、バンドパスフィルタ１０，１３そ
れぞれの透過光に対応して発生するもので、透過光を除
いた部分の光で構成される。

【０１０６】そして、反射光Ｈ１０は、バンドパスフィ
ルタ１０の透過光である波長λ₁ の成分を除いた部分で
構成され、反射光Ｈ１３は、バンドパスフィルタ１３の
透過光である波長λ₂ の成分を除いた部分で構成され
る。フォトダイオード１５，１６は、反射光Ｈ１０，Ｈ
１３を受けて、その光量（パワー）を電気量に変換する
ように構成されており、更に演算部２０はフォトダイオ
ード１５，１６の検出信号を受けて、複数測定点波長
（λ₁ ，λ₂ ）と信号光波長（λ_S ）との差（λ_S −λ
₁ ，λ₂ −λ_S ）を算出するように構成されている。

【０１０７】さらに、Ｐ_ASE,S 演算部１９は、演算部２
０における算出結果（λ_S −λ₁ ，λ₂ −λ_S ）を用い
て、フォトダイオード２１の検出信号である透過光の合
波パワー（Ｐ_ASE,1 ＋Ｐ_ASE,2 ）を配分し、測定点（λ
₁ ，λ₂ ）のそれぞれにおける透過光量（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ
_ASE,2 ）を算出するとともに、第２の光（雑音成分）の
スペクトル特性（ＡＳＥ）を用いて、第２の光（雑音成
分）における第１の光（主信号成分）の波長に対応した
雑音量としてのパワー（Ｐ_ASE,S ）を近似算出するよう
に構成されている。

【０１０８】すなわち、Ｐ_ASE,S 演算部１９は、波長λ
₁ の透過光のＡＳＥ光パワーＰ_{ASE, 1} と波長λ₂ の透過
光のＡＳＥ光パワーＰ_ASE,2 とから、信号光の基本波長
λ_SにおけるＡＳＥ光パワーＰ_ASE,S を近似算出するよ
うに構成されている。ここで、近似計算はＡＳＥ光のス
ペクトル特性を直線とみなしうる場合は線型近似計算に
より行なうように構成されている。また、ＡＳＥ光のス
ペクトル特性を直線とみなしえない場合は曲線近似計算
により行なうように構成されている。

【０１０９】また、ＮＦ算出部１８は、Ｐ_ASE,S 演算部
１９において算出された雑音量（Ｐ _ASE,S ）と、Ｇ演算
部１７において算出された入出力間の利得Ｇを用いて、
雑音指数ＮＦを算出するように構成されている。このよ
うにしてＮＦ算出部１８で算出された雑音指数ＮＦが、
受信部２３において監視され、システム管理が行なわれ
るように構成されているのである。

【０１１０】本発明の第２実施例は、上述のように構成
されているので、光通信システムにおける端局装置から
発信された基本波長λ_S の信号光は、信号光源１から光
増幅器に入力されるが、この入力光は、合波器２におい
て励起光源３からの励起光と合波される。合波された信
号光は分岐器４を介しエルビュームドープファイバー
（ＥＤＦ）５に入力され、光増幅された出力光が分岐器
６を介し次の光増幅器受信部２３へ向け出力される。

【０１１１】このような光増幅を繰り返しながら、所要
の信号レベルを確保し、端局から発信された信号が受信
部２３に的確に伝達される。ところで、光通信システム
における各要素について、故障等が発生すると、雑音指
数ＮＦが増加する。この状態を検出すべく、エルビュー
ムドープファイバー（ＥＤＦ）５の入力側と出力側との
それぞれについて、分岐器４，６によるモニタ出力の分
岐が行なわれる。

【０１１２】これらのモニタ出力のうち入力側の出力
は、ダイオード２２により電気量に変換した後、Ｇ演算
部１７に入力されて、光増幅器の利得Ｇを算出するため
に用いられる。モニタ出力のうち出力側は、分岐器７に
より分岐されて、その一方がダイオード１２により電気
量に変換された後、Ｇ演算部１７に入力されて、光増幅
器の利得Ｇを算出するために用いられる。

【０１１３】また、分岐器７により分岐された他方の光
は、分岐器９に入力されて、さらに２方向に分岐され
る。分岐された２出力（図２０（ａ）の参照）は、第
１実施例と同様に、いずれも図２０（ｂ）に示すような
スペクトル特性をそなえており、波長λ_S の信号光が、
累積されたＡＳＥパワーに乗った状態になっている。

【０１１４】そして、一方の出力がバンドパスフィルタ
１０に入射するが、バンドパスフィルタ１０を通過した
透過光（図２０（ａ）の参照）は，バンドパスフィル
タ１０が波長λ₁ を基本とする透過特性をそなえている
ため、図２０（ｃ）に示すように、波長λ₁ の光を多く
透過させた特性となり、波長λ_S の信号光成分はかなり
弱められる。

【０１１５】ついで、透過光は反射鏡１１に入射し、反
射されて、再度バンドパスフィルタ１０に入力される。
これにより、バンドパスフィルタ１０によるフィルタリ
ングが再度行なわれ、波長λ₁ 以外の波長の成分はさら
に弱められて、バンドパスフィルタ１０からの光（図２
０（ａ）の参照）は、、図２０（ｄ）に示すように、
波長λ₁ のみにピークを持ち、波長λ_S の信号光成分に
ほとんど影響を受けないスペクトル特性となる。

【０１１６】すなわち、バンドパスフィルタ１０からの
出力における波長λ₁ における出力パワーは、波長λ₁
における純粋なＡＳＥパワーの量を示しており、信号光
に影響されない波長λ₁ におけるＡＳＥパワーが正確に
抽出される。ここで、バンドパスフィルタ１０から出力
される透過光は、反射鏡１１の反射によりバンドパスフ
ィルタ１０を２回通過し、２回のフィルタリングが行な
われることになる。同一のバンドパスフィルタ１０であ
るため、光軸が完全に同一であり、また透過特性も同一
であるため、同一の波長λ₁ を基本とする急峻なフィル
タリングが正確に行なわれる。したがって、バンドパス
フィルタ１０にバンドパスフィルタ１０とほぼ同機能の
フィルタを重ねて使用する場合に比べ、より確実なフィ
ルタリングが行なわれるとともに、光軸を一致させるた
めに行なうべきフィルタ相互の取り付け位置調整が不要
となり、これにより性能、コストともに向上する。

【０１１７】ところで、分岐器９で分岐された他方の出
力はバンドパスフィルタ１３に入射するが、バンドパス
フィルタ１３を通過した透過光（図２０（ａ）の参
照）は、バンドパスフィルタ１３が波長λ₂ を基本とす
る透過特性をそなえているため、図２０（ｅ）に示すよ
うに、波長λ₂ の光を多く透過させた特性となり、波長
λ_S の信号光成分はかなり弱められる。

【０１１８】ついで、透過光は反射鏡１４に入射し、反
射されて、再度バンドパスフィルタ１３に入力される。
これにより、バンドパスフィルタ１３によるフィルタリ
ングが再度行なわれ、波長λ₂ 以外の波長の成分はさら
に弱められて、バンドパスフィルタ１３からの光（図２
０（ａ）の参照）は、図２０（ｆ）に示すように、波
長λ₂ のみにピークを持ち、波長λ_S の信号光成分にほ
とんど影響を受けないスペクトル特性となる。

【０１１９】これにより、バンドパスフィルタ１３から
の出力における波長λ₂ における出力パワーは、波長λ
₂ における純粋なＡＳＥパワーの量を示しており、信号
光に影響されない波長λ₂ におけるＡＳＥパワーが正確
に抽出される。ここで、透過光が同一のバンドパスフィ
ルタ１３により２回フィルタリングされることに関する
効果はバンドパスフィルタ１０におけるものと同様であ
る。

【０１２０】このようにして抽出された波長λ₁ におけ
るＡＳＥパワーと波長λ₂ におけるＡＳＥパワーとが分
岐器９に入力され、図２０（ｇ）に示すような特性の出
力（図２０（ａ）の参照）となって、フォトダイオー
ド２１で電気量に変換される。この電気量は、波長λ₁
と波長λ₂ とにおけるＡＳＥパワーを加え合わせた量を
示しており、図２１に示すようにＰ_ASE,S 演算部１９に
入力される。

【０１２１】ところで、バンドパスフィルタ１０および
バンドパスフィルタ１３からは反射光Ｈ１０，Ｈ１３が
フォトダイオード１５およびフォトダイオード１６のそ
れぞれに向け出力される。この作動をバンドパスフィル
タ１０について、図２５（ａ）〜（ｄ）を用いて説明す
ると、入射光の一部が透過光となり、透過されない部分
が反射光となる。すなわち、図２５（ｂ）に示すように
波長λ_S の主信号光がＡＳＥ光に乗った状態の光が入射
し、波長λ₁ を基本とするフィルタリングを行なわれた
透過光は図２５（ｃ）に示すように波長λ_S と波長λ₁
にピークを持つ特性となる。

【０１２２】一方、反射光は、図２５（ｄ）に示すよう
に波長λ₁ の成分がほとんどなくなり、波長λ_S の主信
号成分と、波長λ₁ に対応する部分以外のＡＳＥ成分と
が反射されることとなる。この反射光のパワーがフォト
ダイオード１５およびフォトダイオード１６により電気
量に変換され、電気量が図２１に示す演算部２０へ入力
される。

【０１２３】演算部２０では、波長λ₁ ，λ_S ，λ₂ の
相互関係が、図２６で示す原理により算出される。すな
わち、フォトダイオード１５で検出される中心波長λ₁
フィルタからの反射光パワーＰ₁ と、フォトダイオード
１６で検出される中心波長λ ₂ フィルタからの反射光パ
ワーＰ₂ との比を考えると、次式の関係が成立する。Ｐ
₁ ／Ｐ₂ ＝（λ₂ −λ_S ）／（λ_S −λ₁ ）この式によ
り、λ₁ およびλ₂ が間接的に特定され、Ｐ_ASE,S 演算
部１９において、特定された波長λ₁ ，λ₂ についての
ＡＳＥ特性を用いて、Ｐ_ASE,S が算出される。そして、
前述の第１実施例における場合と同様にして、図１８に
示すように、これらの値Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 と、フォト
ダイオード２１で検出された分岐光の合波パワーと、Ａ
ＳＥパワー特性を用いた補間近似により、信号光の波長
λ_S におけるＡＳＥパワーＰ_ASE,S が算出される。補間
近似の方法は、ＡＳＥパワー特性がどのような曲線もし
くは直線に乗っているかにより設定され、線型の特性に
近い場合は直線補間が用いられ、図１８に示すような特
性の場合には、次式におけるような曲線近似による算出
が行なわれる。 P _ASE,S ＝(1+ X) P_ASE,1+(P_ASE,2/X-P _ASE,1)( λ_S - λ₁)/(λ₂-λ₁) ・・・・（２） ここで、Ｘは被測定光分岐比（１：Ｘ）を示している。

【０１２４】このようにして算出されたＰ_ASE,S を用い
て、ＮＦ算出部１８における演算が行なわれ、前述した
式と同一の次式により、光増幅器の雑音指数ＮＦが算出
される。 ＮＦ（ｄＢ）＝１０Ｌｏｇ（Ｐ_ASE,S ／ｈνＧΔν） ・・・・（１） この場合も、フィルタ帯域幅Δνは、被測定光を反射部
（反射鏡１１，１４）を通じ、同じバンドパスフィルタ
１０，１３に２回通過させた後の光のスペクトルを測定
して算出し、上式に適用する。

【０１２５】算出された雑音指数ＮＦは、逐次受信部２
３に伝達され、所定以上の値となるかどうかが常時監視
され、雑音指数ＮＦが所定値以上になった場合は、光増
幅器の故障であるとの判断をして、所要の処置がとられ
る。このようにして、第１の光（信号光）の波長におけ
る第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）を、第１
の光（信号光）に影響されず算出出来るようになり、又
第１の光（信号光）の波長における第２の光（雑音分）
のパワー（雑音成分量）算出に際しての、複数測定点に
おける測定値をより確実なものとすることができるよう
になり、更には第１の光（信号光）の波長における第２
の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）算出について、
第２の光（雑音分）の複数測定点波長を、その経時変化
を許容した状態で認識できるようになり、これにより光
増幅器の監視を容易にかつ確実に行なえるようになる利
点がある。

【０１２６】また、第１の光（信号光）の波長における
第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）を、安定し
た確実な状態で算出できるようになり、これを用いて算
出された雑音指数により光増幅器の監視を行なうため、
簡素な構成で確実に監視を行なえる。 （ｃ）第３実施例の説明 次に本発明の第３実施例について説明すると、この第３
実施例は、その一般的構成の部分については第２実施例
と同様であり、第２実施例と異なる部分について、図２
２により以下に説明する。

【０１２７】まず、図２２において、２４はサーキュレ
ータで、このサーキュレータ２４は、Ａ〜Ｃポートをそ
なえており、Ａポートに分岐器９の出力側が接続され、
分岐器９の出力を入力されるようになっている。また、
サーキュレータ２４のＢポートにはバンドパスフィルタ
１０が連結されており、サーキュレータ２４の出力がバ
ンドパスフィルタ１０に入力されて、波長λ₁ によるフ
ィルタリングが行なわれるように構成されている。

【０１２８】そして、バンドパスフィルタ１０には、第
２実施例と同様に反射鏡１１が接続されている。さら
に、サーキュレータ２４のＣポートは、フォトダイオー
ド２６に連結されており、バンドパスフィルタ１０でフ
ィルタリングされた透過光をフォトダイオード２６に入
射させて、波長λ₁ の透過光の光パワーＰ_ASE,1 を電気
量に変換するように構成されている。

【０１２９】一方、フォトダイオード１５は、バンドパ
スフィルタ１０の光軸から所定角傾斜した光軸上に配設
されている。これにより、所定角傾斜した方向への反射
光パワーを電気量に変換するように構成されている。と
ころで、分岐器９における分岐光の他方はサーキュレー
タ２５に入力されるようになっている。

【０１３０】このサーキュレータ２５もＡ〜Ｃポートを
そなえており、Ａポートに分岐器９の出力側が接続さ
れ、分岐器９の出力を入力されるようになっている。ま
た、サーキュレータ２５のＢポートにはバンドパスフィ
ルタ１３が連結されており、サーキュレータ２５の出力
がバンドパスフィルタ１３に入力されて、波長λ₂ によ
るフィルタリングが行なわれるように構成されている。

【０１３１】そして、バンドパスフィルタ１３には第２
実施例と同様に反射鏡１４が接続されている。さらに、
サーキュレータ２５のＣポートは、フォトダイオード２
７に連結されており、バンドパスフィルタ１３でフィル
タリングされた透過光をフォトダイオード２７に入射さ
せて、波長λ₂ の透過光の光パワーＰ_ASE,2 を電気量に
変換するように構成されている。

【０１３２】一方、フォトダイオード１６は、バンドパ
スフィルタ１３の光軸から所定角傾斜した光軸上に配設
されている。これにより、所定角傾斜した方向への反射
光パワーを電気量に変換するように構成されている。上
述のような構成により、分岐器９に入射した被測定光は
分岐され、その一方がサーキュレータ２４に、また他方
がサーキュレータ２５に入力される。

【０１３３】サーキュレータ２４では、Ａポートから入
力された被測定光がＢポートを通じ、バンドパスフィル
タ１０に出力される。バンドパスフィルタ１０への入力
は、図２０（ｂ）に示すようなスペクトル特性をそなえ
ており、波長λ_S の信号光が、累積されたＡＳＥパワー
に乗った状態になっている。

【０１３４】そして、一方の出力がバンドパスフィルタ
１０に入射するが、バンドパスフィルタ１０を通過した
透過光は，バンドパスフィルタ１０が波長λ₁ を基本と
する透過特性をそなえているため、図２０（ｃ）に示す
ように、波長λ₁ の光を多く透過させた特性となり、波
長λ_S の信号光成分はかなり弱められる。ついで、透過
光は反射鏡１１に入射し、反射されて、再度バンドパス
フィルタ１０に入力される。

【０１３５】これにより、バンドパスフィルタ１０によ
るフィルタリングが行なわれ、波長λ₁ 以外の波長の成
分はさらに弱められて、図２０（ｄ）に示すように、波
長λ ₁ のみにピークを持ち、波長λ_S の信号光成分にほ
とんど影響を受けないスペクトル特性となる。すなわ
ち、バンドパスフィルタ１０からの出力における波長λ
₁ における出力パワーは、波長λ₁ における純粋なＡＳ
Ｅパワーの量を示しており、信号光に影響されない波長
λ₁ におけるＡＳＥパワーが正確に抽出される。

【０１３６】ここで、バンドパスフィルタ１０から出力
される透過光は、反射鏡１１の反射によりバンドパスフ
ィルタ１０を２回通過し、２回のフィルタリングが行な
われることになる。同一のバンドパスフィルタ１０であ
るため、光軸が完全に同一であり、また透過特性も同一
であるため、同一の波長λ₁ を基本とする急峻なフィル
タリングが正確に行なわれる。したがって、バンドパス
フィルタ１０にバンドパスフィルタ１０とほぼ同機能の
フィルタを重ねて使用する場合に比べ、より確実なフィ
ルタリングが行なわれるとともに、光軸を一致させるた
めに行なうべきフィルタ相互の取り付け位置調整が不要
であり、性能、コストともに向上する。

【０１３７】ところで、分岐器９で分岐された他方の出
力はサーキュレータ２５に入力されるが、サーキュレー
タ２５では、Ａポートから入力された被測定光がＢポー
トを通じ、バンドパスフィルタ１３に出力される。バン
ドパスフィルタ１３への入力は、バンドパスフィルタ１
３および反射鏡１４により処理され、上述のバンドパス
フィルタ１０および反射鏡１１における場合とほぼ同様
の、波長λ₂ についての作動が行なわれる。

【０１３８】ところで、バンドパスフィルタ１０および
バンドパスフィルタ１３からは反射光がフォトダイオー
ド１５およびフォトダイオード１６のそれぞれに向け出
力される。この作動をバンドパスフィルタ１０につい
て、図２５（ａ）〜（ｄ）により説明すると、入射光の
一部が透過光となり、透過されない部分が反射光とな
る。すなわち、図２５（ｂ）に示すように波長λ_S の主
信号光がＡＳＥ光に乗った状態の光が入射し、波長λ₁
を基本とするフィルタリングを行なわれた透過光は図２
５（ｃ）に示すように波長λ_S と波長λ₁ にピークを持
つ特性となる。

【０１３９】一方、反射光は、図２０（ｄ）に示すよう
に波長λ₁ の成分がほとんどなくなり、波長λ_S の主信
号成分と、波長λ₁ に対応する部分以外のＡＳＥ成分と
が反射されることとなる。この反射光のパワーがフォト
ダイオード１５およびフォトダイオード１６により電気
量に変換され、電気量が図２１に示す演算部２０へ入力
される。

【０１４０】演算部２０では、波長λ₁ ，λ_S ，λ₂ の
相互関係が、図２６で示す原理により算出される。すな
わち、フォトダイオード１５で検出される中心波長λ₁
フィルタからの反射光パワーＰ₁ と、フォトダイオード
１６で検出される中心波長λ₂ フィルタからの反射光パ
ワーＰ₂ との比を考えると、次式の関係が成立する。

【０１４１】 Ｐ₁ ／Ｐ₂ ＝（λ₂ −λ_S ）／（λ_S −λ₁ ） この式から、λ₁ およびλ₂ が間接的に特定され、Ｐ
_ASE,S 演算部１９において、特定された波長λ₁ ，λ₂
についてのＡＳＥ特性を用いて、Ｐ_ASE,S が算出され
る。この算出に際し、波長（λ₁ ，λ₂ ）のそれぞれに
対応した第２の光（雑音成分）のパワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ
_ASE,2 ）は、サーキュレータ２４，２５からの出力をフ
ォトダイオード２６，２７で電気量に変換して求められ
る。

【０１４２】そして、算出されたＰ_ASE,S によるＮＦ算
出部１８の演算が行なわれ、第１実施例と同様のシステ
ム監視が行なわれる。このように、第２の光（雑音成
分）のパワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を、個別に独立し
た状態で検出することにより、信号光波長（λ_S ）にお
ける第２の光（雑音成分）のパワー（雑音量：
Ｐ_ASE,S ）をより確実に検出できるようになり、雑音量
の監視を、より確実に安定して行なえるようになる利点
がある。

【０１４３】すなわち、第１の光（信号光）の波長にお
ける第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）を、第
１の光（信号光）に影響されず算出出来るようになり、
又第１の光（信号光）の波長における第２の光（雑音
分）のパワー（雑音成分量）算出に際しての、複数測定
点における測定値をより確実なものとすることができる
ようになり、更には第１の光（信号光）の波長における
第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）算出につい
て、第２の光（雑音分）の複数測定点波長を、その経時
変化を許容した状態で認識できるようになり、これによ
り光増幅器の監視を容易にかつ確実に行なえる。

【０１４４】また、第１の光（信号光）の波長における
第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）を、安定し
た確実な状態で算出できるようになり、これを用いて算
出された雑音指数により光増幅器の監視を行なうため、
簡素な構成で確実に監視を行なえるのである。さらに、
複数測定点におけるパワーを直接測定検出するため、雑
音分の算出がさらに安定して確実に行なわれるようにな
る利点もある。

【０１４５】（ｄ）第４実施例の説明 次に本発明の第４実施例について説明すると、この第４
実施例も、その一般的構成の部分については第２実施例
と同様である。また、この第４実施例では、分岐器９、
サーキュレータ２４、フォトダイオード２６、サーキュ
レータ２５、フォトダイオード２７については、第３実
施例と同様に構成されている。

【０１４６】ところで、この第４実施例では、サーキュ
レータ２４およびサーキュレータ２５からの出力の処理
手段が図２３のように構成されている。まず、３０は反
射鏡で、この反射鏡３０はサーキュレータ２４からの入
射光を所要の方向に導くべく装備されている。また、３
２はバンドパスフィルタで、バンドパスフィルタ３２は
入射角に依存して異なった波長のフィルタリングを行な
うフィルタ特性を得られるように構成されている。

【０１４７】すなわち、反射鏡３０の傾斜角調整により
バンドパスフィルタ３２が波長λ₁を中心波長とするフ
ィルタリングを行なうフィルタとして機能するように構
成されている。この傾斜角調整については、例えば入射
角度を０°から１０°に変更すると、通過波長が１０ｎ
ｍほどずれるように調整される。そして、バンドパスフ
ィルタ３２でフィルタリングされた透過光は反射鏡１４
により反射されて、再度バンドパスフィルタ３２に入射
し、バンドパスフィルタ３２による２回目のフィルタリ
ングが行なわれるようになっている。

【０１４８】また、バンドパスフィルタ３２の反射光
は、前述の第３実施例と同様にフォトダイオード１５に
入力され、反射光のパワーが電気量に変換されるように
構成されている。一方、サーキュレータ２５からの出力
は、反射鏡３１へ入力されるように構成されているが、
反射鏡３１はサーキュレータ２４からの入射光を所要の
方向に導くべく装備されている。

【０１４９】また、バンドパスフィルタ３２は反射鏡３
１からの入射角に依存して異なった波長のフィルタリン
グを行なうフィルタ特性を得られるようにも構成されて
いる。すなわち、反射鏡３１の傾斜角調整によりバンド
パスフィルタ３２が波長λ₂を中心波長とするフィルタ
リングを行なうフィルタとして機能するように構成され
ている。

【０１５０】そして、バンドパスフィルタ３２でフィル
タリングされた透過光は反射鏡１１により反射されて、
再度バンドパスフィルタ３２に入射し、バンドパスフィ
ルタ３２による２回目のフィルタリングが行なわれるよ
うになっている。また、バンドパスフィルタ３２の反射
光は、第３実施例と同様に、フォトダイオード１６に入
力され、反射光のパワーが電気量に変換されるように構
成されている。

【０１５１】本実施例は上述のように構成されているの
で、分岐器９に入射した被測定光は分岐され、その一方
がサーキュレータ２４に、また他方がサーキュレータ２
５に入力される。サーキュレータ２４では、Ａポートか
ら入力された被測定光がＢポートを通じ、反射鏡３０へ
向け出力される。そして、反射鏡３０の反射光はバンド
パスフィルタ３２に入力される。

【０１５２】これにより、第３実施例と同様の作動が行
なわれる。ついで、透過光は反射鏡１１に入射し、反射
されて、再度バンドパスフィルタ３２に入力される。こ
れにより、バンドパスフィルタ３２によるフィルタリン
グが行なわれ、波長λ₁ 以外の波長の成分はさらに弱め
られて、図２５（ｃ）に示すように、波長λ ₁ のみにピ
ークを持ち、波長λ_S の信号光成分にほとんど影響を受
けないスペクトル特性となる。

【０１５３】すなわち、バンドパスフィルタ３２からの
出力における波長λ₁ における出力パワーは、波長λ₁
における純粋なＡＳＥパワーの量を示しており、信号光
に影響されない波長λ₁ におけるＡＳＥパワーが正確に
抽出される。ここで、バンドパスフィルタ３２から出力
される透過光は、反射鏡１１の反射によりバンドパスフ
ィルタ３２を２回通過し、２回のフィルタリングが行な
われて、急峻なフィルタリング特性による透過光が得ら
れることになる。そして、フィルタが同一のバンドパス
フィルタ３２であるため、光軸が完全に同一であり、ま
た透過特性も同一であるため、同一の波長λ₁ を基本と
するフィルタリングが正確に行なわれる。したがって、
バンドパスフィルタ３２にバンドパスフィルタ３２とほ
ぼ同機能のフィルタを重ねて使用する場合に比べ、より
確実なフィルタリングが行なわれるとともに、光軸を一
致させるために行なうべきフィルタ相互の取り付け位置
調整が不要であり、性能、コストともに向上する。

【０１５４】ところで、分岐器９で分岐された他方の出
力はサーキュレータ２５に入力されるが、サーキュレー
タ２５では、Ａポートから入力された被測定光がＢポー
トを通じ、反射鏡３１に出力される。反射鏡３１の反射
光は所要の入射角でバンドパスフィルタ３２に入力さ
れ、入射角に対応した波長λ₂ についてのフィルタリン
グが行なわれる。

【０１５５】ついで、バンドパスフィルタ３２および反
射鏡１４により処理が行なわれ、上述のバンドパスフィ
ルタ１０および反射鏡１１における場合とほぼ同様の、
波長λ₂ についての作動が行なわれる。そして、バンド
パスフィルタ３２からの反射光はフォトダイオード１
５，１６に向かい、反射光パワーの電気量への変換が行
なわれる。

【０１５６】フォトダイオード１５およびフォトダイオ
ード１６により反射光のパワーを変換された電気量は図
２１に示す演算部２０へ入力され、波長λ₁ ，λ_S ，λ
₂ の相互関係が、図２６で示す原理により第３実施例と
同様にして算出される。すなわち、フォトダイオード１
５で検出される中心波長λ₁ フィルタからの反射光パワ
ーＰ₁ と、フォトダイオード１６で検出される中心波長
λ₂ フィルタからの反射光パワーＰ₂ との比を考える
と、次式の関係が成立する。

【０１５７】 Ｐ₁ ／Ｐ₂ ＝（λ₂ −λ_S ）／（λ_S −λ₁ ） この式から、λ₁ およびλ₂ が間接的に特定され、Ｐ
_ASE,S 演算部１９において、特定された波長λ₁ ，λ₂
についてのＡＳＥ特性を用いて、Ｐ_ASE,S が算出され
る。この算出に際し、波長（λ₁ ，λ₂ ）のそれぞれに
対応した第２の光（雑音成分）のパワー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ
_ASE,2 ）は、サーキュレータ２４，２５からの出力をフ
ォトダイオード２６，２７で電気量に変換して求められ
る。

【０１５８】そして、算出されたＰ_ASE,S によるＮＦ算
出部１８の演算が行なわれ、前述の第３実施例と同様の
システム監視が行なわれる。このように、この第４実施
例では、前述の実施例で得られる効果ないし利点が得ら
れるほか、第２の光（雑音成分）のパワー（Ｐ_ASE,1 ，
Ｐ_ASE,2 ）を、個別に独立した状態で検出することによ
り、信号光波長（λ_S ）における第２の光（雑音成分）
のパワー（雑音量：Ｐ_ASE,S ）をより確実に検出できる
ようになり、雑音量の監視を、より確実に安定して行な
えるようになる利点がある。

【０１５９】また、バンドパスフィルタ３２が単一のも
ので構成され、入射角により透過特性を容易に調整でき
るため、安価に安定したシステムが得られるとともに、
設定後の透過特性の調整も容易に行なえるようになる利
点もある。 （ｅ）第５実施例の説明 次に本発明の第５実施例を図２４を用いて説明すると、
この第５実施例においても、その一般的構成は前述の第
２実施例と同様に構成されている。

【０１６０】そして、本実施例では、第２実施例におけ
るバンドパスフィルタ１３に代えて、チューナブルフィ
ルタ４０が装備されている。このチューナブルフィルタ
４０は、コントローラ４１による制御により、その透過
特性を変更可能に構成されており、複数測定点の波長
（λ₁ ，λ₂ ）それぞれのフィルタリング特性を時分割
で得られるように構成されている。

【０１６１】したがって、第２実施例において、他の波
長をフィルタリングの対象とした透過光を得るべく装備
されているバンドパスフィルタ１０、反射鏡１１および
フォトダイオード１５は不要であり、装備されていな
い。そして、チューナブルフィルタ４０からの反射光Ｈ
４０は、波長λ₁ の透過光に対応するものと、波長λ₂
の透過光に対応するものとが、時分割で得られるように
構成されている。

【０１６２】さらに、フォトダイオード２７で得られる
電気量は、波長λ₁ のフィルタリングを行なわれた透過
光に対応するパワー（Ｐ_ASE,1 ）と、波長λ₂ のフィル
タリングを行なわれた透過光に対応するパワー（Ｐ
_ASE,2 ）とに対応する量を、時分割で得られるように構
成されている。本実施例は上述のように構成されている
ので、分岐器９に入射した被測定光はチューナブルフィ
ルタ４０に入力される。

【０１６３】そして、チューナブルフィルタ４０は、コ
ントローラ４１による制御により、時分割で、波長（λ
₁ ）に対応するフィルタリング特性をそなえた状態と、
波長（λ₂ ）に対応するフィルタリング特性をそなえた
状態とを交互に順次繰り返して実現される。したがっ
て、反射光Ｈ４０は、波長（λ₁ ）のフィルタリング特
性による透過光に対応した状態と、波長（λ₂ ）のフィ
ルタリング特性による透過光に対応した状態とに時分割
で変化し、反射光のパワーを変換された電気量は、図２
１に示す演算部２０へ時分割で入力され、波長λ₁ ，λ
_S ，λ₂ の相互関係が、図２６で示す原理により前述の
第２実施例と同様にして算出される。

【０１６４】すなわち、中心波長λ₁ に対応したフィル
タからの反射光パワーＰ₁ と、中心波長λ₂ に対応した
フィルタからの反射光パワーＰ₂ との比が、２回の切り
換えサイクルごとに検出され、次式の関係による演算が
行なわれる。 Ｐ₁ ／Ｐ₂ ＝（λ₂ −λ_S ）／（λ_S −λ₁ ） この式から、λ₁ およびλ₂ が間接的に特定され、Ｐ
_ASE,S 演算部１９において、特定された波長λ₁ ，λ₂
についてのＡＳＥ特性を用いて、Ｐ_ASE,S が算出され
る。

【０１６５】この算出に際し、波長（λ₁ ，λ₂ ）のそ
れぞれに対応した第２の光（雑音成分）のパワー（Ｐ
_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）は、分岐器９からの時分割出力をフ
ォトダイオード２７で電気量に変換して求められる。そ
して、算出されたＰ_ASE,S によるＮＦ算出部１８の演算
が行なわれ、第２実施例と同様のシステム監視が行なわ
れる。

【０１６６】このように、第２の光（雑音成分）のパワ
ー（Ｐ_ASE,1 ，Ｐ_ASE,2 ）を、個別に独立した状態で検
出することにより、信号光波長（λ_S ）における第２の
光（雑音成分）のパワー（雑音量：Ｐ_ASE,S ）をより確
実に検出できるようになり、雑音量の監視を、より確実
に安定して行なえるようになる利点がある。また、バン
ドパスフィルタ３２が単一のもので構成され、入射角に
より透過特性を容易に調整できるため、安価に安定した
システムが得られるとともに、設定後の透過特性の調整
も容易に行なえるようになる利点もある。

【０１６７】さらに、他の波長のフィルタリングに対応
させるための装備が不要になり、構造が簡素化されると
ともに、調整部分が減少することにより、調整コストお
よび装備コストが削減され、また、同一のフィルタによ
る作動によるため、一連の動作が安定して確実に行なわ
れるようになる利点もある。

【０１６８】

【発明の効果】以上詳述したように、本発明の光パワー
モニター方法によれば、第１の波長を基本とした狭いス
ペクトル特性を有する第１の光と、同第１の波長を含ん
だ広いスペクトル特性を有する第２の光とを合波された
光において、第２の光における上記第１の波長の光パワ
ーを求めるにあたり、第２の光における上記第１の波長
と異なる波長の複数測定点について光パワーを測定し、
第２の光のスペクトル特性を上記複数点の測定値に適用
して、上記第２の光における上記第１の波長の光パワー
を近似算出するという簡素な構成で、第１の光（信号
光）の波長における第２の光（雑音分）のパワー（雑音
成分量）を、第１の光（信号光）に影響されず算出出来
るようになり、光増幅器の監視を容易にかつ確実に行な
えるようになる利点がある。

【０１６９】さらに、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、第２の光における第
１の波長と異なる波長の複数測定点について光パワーを
測定するに際し、被測定光を複数の光波に分岐し、分岐
された各光波を、複数測定点それぞれの波長に依存する
各透過特性をそなえた各バンドパスフィルタに透過させ
て、各バンドパスフィルタの透過光についてパワー計測
を行なうため、第１の光（信号光）の波長における第２
の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）を、第１の光
（信号光）に影響されず算出出来るようになり、光増幅
器の監視を容易にかつ確実に行なえるようになる利点が
ある。

【０１７０】そして、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、第２の光における第
１の波長と異なる波長の複数測定点について光パワーを
測定するに際し、分岐された各光波を、複数測定点それ
ぞれの波長に依存する各透過特性を同一のバンドパスフ
ィルタに対する入射角により設定して透過させることに
より、単一のバンドパスフィルタのみで、第１の光（信
号光）の波長における第２の光（雑音分）のパワー（雑
音成分量）を、第１の光（信号光）に影響されず算出出
来るようになり、光増幅器の監視を容易にかつ確実に行
なえるようになる利点がある。

【０１７１】また、本発明の光パワーモニター方法によ
れば、上記の作用効果に加えて、第２の光における第１
の波長と異なる波長の複数測定点について光パワーを測
定するに際し、複数測定点それぞれの波長に依存する各
透過特性を同一のバンドパスフィルタにおける時分割の
特性変更により設定し、時分割のパワー計測を行なうこ
とにより、単一のバンドパスフィルタのみで、第１の光
（信号光）の波長における第２の光（雑音分）のパワー
（雑音成分量）を、第１の光（信号光）に影響されず算
出出来るようになり、光増幅器の監視を容易にかつ確実
に行なえるようになる利点がある。

【０１７２】そして、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、各バンドパスフィル
タの透過光に対応して発生する各バンドパスフィルタか
らの反射光のパワーをそれぞれ測定し、各測定値から複
数測定点波長と信号光波長との差を算出し、複数測定点
波長と信号光波長との差と第２の光の特性とから第２の
光における第１の波長の光パワーを近似算出することに
より、第１の光（信号光）の波長における第２の光（雑
音分）のパワー（雑音成分量）算出について、第２の光
（雑音分）の複数測定点波長を、その経時変化を許容し
た状態で認識できるようになり、光増幅器の監視を容易
にかつ確実に行なえるようになる利点がある。

【０１７３】また、本発明の光パワーモニター方法によ
れば、上記の作用効果に加えて、バンドパスフィルタの
各方向への透過光に対応して発生する同バンドパスフィ
ルタからの各方向への反射光のパワーをそれぞれ測定
し、各測定値から複数測定点波長と信号光波長との差を
算出し、複数測定点波長と信号光波長との差と第２の光
の特性とから第２の光における第１の波長の光パワーを
近似算出することにより、第１の光（信号光）の波長に
おける第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）算出
について、第２の光（雑音分）の複数測定点波長を、そ
の経時変化を許容した状態で認識できるようになり、単
一のバンドパスフィルタで光増幅器の監視を容易にかつ
確実に行なえるようになる利点がある。

【０１７４】さらに、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、バンドパスフィルタ
の透過光に対応して発生する時分割の反射光のパワーを
それぞれ測定し、各測定値から複数測定点波長と信号光
波長との差を算出し、複数測定点波長と信号光波長との
差と第２の光の特性とから第２の光における第１の波長
の光パワーを近似算出することにより、第１の光（信号
光）の波長における第２の光（雑音分）のパワー（雑音
成分量）算出について、第２の光（雑音分）の複数測定
点波長を、その経時変化を許容した状態で認識できるよ
うになり、単一のバンドパスフィルタで光増幅器の監視
を容易にかつ確実に行なえるようになる利点がある。

【０１７５】そして、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、被測定光の分岐を分
岐器で行ない、分岐された各光波を、複数測定点それぞ
れの波長に依存する各透過特性をそなえた各バンドパス
フィルタに往復透過させ、バンドパスフィルタの急峻な
フィルタ特性を実現することにより、第１の光（信号
光）の波長における第２の光（雑音分）のパワー（雑音
成分量）算出に際しての、複数測定点における測定値を
より確実なものとすることができるようになり、光増幅
器の監視を容易にかつ確実に行なえるようになる利点が
ある。

【０１７６】また、本発明の光パワーモニター方法によ
れば、上記の作用効果に加えて、被測定光の分岐を分岐
器で行ない、分岐された各光波を、複数測定点それぞれ
の波長に依存する各透過特性を同一のバンドパスフィル
タに対する入射角により設定して透過させ、バンドパス
フィルタを反射部により往復透過させ、急峻なフィルタ
特性による透過光を得ることにより、第１の光（信号
光）の波長における第２の光（雑音分）のパワー（雑音
成分量）算出に際しての、複数測定点における測定値を
より確実なものとすることができるようになり、光増幅
器の監視を容易にかつ確実に行なえるようになる利点が
ある。

【０１７７】さらに、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、第２の光における第
１の波長と異なる波長の複数測定点について光パワーを
測定するに際し、複数測定点それぞれの波長に依存する
各透過特性を同一のバンドパスフィルタにおける時分割
の特性変更により設定し透過させ、バンドパスフィルタ
を反射部により往復透過させ、復路透過光について時分
割のパワー計測を行ない急峻なフィルタ特性による透過
光を得ることにより、第１の光（信号光）の波長におけ
る第２の光（雑音分）のパワー（雑音成分量）算出に際
しての、複数測定点における測定値をより確実なものと
することができるようになり、光増幅器の監視を容易に
かつ確実に行なえるようになる利点がある。

【０１７８】そして、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、分岐された各光波を
複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性をそな
えた各バンドパスフィルタに往復透過させ、急峻なフィ
ルタ特性による透過光を得て、各バンドパスフィルタの
透過光に対応して発生する各バンドパスフィルタからの
反射光のパワーをそれぞれ測定し、各測定値から上記複
数測定点波長と信号光波長との差を算出して、複数測定
点波長と信号光波長との差と第２の光の特性と各透過光
の合波パワーとから第２の光における第１の波長の光パ
ワーを近似算出することにより、複数測定点における測
定値をより確実なものとすることができるようになると
ともに、第１の光（信号光）の波長における第２の光
（雑音分）のパワー（雑音成分量）算出について、第２
の光（雑音分）の複数測定点波長を、その経時変化を許
容した状態で算出できるようになり、光増幅器の監視を
容易にかつ確実に行なえるようになる利点がある。

【０１７９】また、本発明の光パワーモニター方法によ
れば、上記の作用効果に加えて、分岐された各光波を、
複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を同一
のバンドパスフィルタに対する入射角により設定して透
過させるとともに、同バンドパスフィルタを反射部によ
り往復透過させ、急峻なフィルタ特性による透過光をそ
れぞれ得て、バンドパスフィルタの透過光に対応して発
生するバンドパスフィルタからの反射光のパワーをそれ
ぞれ測定し、各測定値から複数測定点波長と信号光波長
との差を算出して、複数測定点波長と信号光波長との差
と第２の光の特性と各透過光の合波パワーとから第２の
光における第１の波長の光パワーを近似算出することに
より、複数測定点における測定値をより確実なものとす
ることができるようになるとともに、第１の光（信号
光）の波長における第２の光（雑音分）のパワー（雑音
成分量）算出について第２の光（雑音分）の複数測定点
波長を、その経時変化を許容した状態で算出できるよう
になり、単一のバンドパスフィルタで光増幅器の監視を
容易にかつ確実に行なえるようになる利点がある。

【０１８０】そして、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、複数測定点それぞれ
の波長に依存する各透過特性を同一のバンドパスフィル
タにおける時分割の特性変更により設定し透過させると
ともに、同バンドパスフィルタを反射部により往復透過
させて、復路透過光について時分割のパワー計測を行な
い急峻なフィルタ特性による透過光の複数測定点につい
ての各パワー値を得るとともに、バンドパスフィルタの
透過光に対応して発生する上記バンドパスフィルタから
の反射光のパワーを時分割でそれぞれ測定し、各測定値
から複数測定点波長と信号光波長との差を算出して、複
数測定点波長と信号光波長との差と第２の光の特性と複
数測定点についての各パワー値とから第２の光における
第１の波長の光パワーを近似算出することにより、第１
の光（信号光）の波長における第２の光（雑音分）のパ
ワー（雑音成分量）算出について、第２の光（雑音分）
の複数測定点波長を、その経時変化を許容した状態で算
出できるようになり、単一のバンドパスフィルタで光増
幅器の監視を容易にかつ確実に行なえるようになる利点
があるほか、複数測定点におけるパワーを直接測定検出
するため、雑音分の算出がさらに安定して確実に行なわ
れるようになる利点もある。

【０１８１】さらに、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、分岐器と各バンドパ
スフィルタとの間にそれぞれ光サーキュレータを設け、
バンドパスフィルタにおける復路透過光を各光サーキュ
レータを介し出力させて、各出力により信号光波長と異
なる複数測定点波長のそれぞれにおけるパワーを測定
し、同測定値と上記第２の光の特性とから上記第２の光
における上記第１の波長の光パワーを近似算出すること
により、複数測定点の波長の経時変化を許容した状態で
算出を行なわれるようになり、光増幅器の監視を容易に
かつ確実に行なえるようになる利点があるほか、複数測
定点におけるパワーを直接測定検出するため、雑音分の
算出がさらに安定して確実に行なわれるようになる利点
もある。

【０１８２】

【０１８３】

【０１８４】そして、本発明の光パワーモニター方法に
よれば、上記の作用効果に加えて、分岐器からバンドパ
スフィルタへ至る各光路に光サーキュレータをそれぞれ
設け、バンドパスフィルタにおける復路透過光を各光サ
ーキュレータを介し出力させて、各出力により信号光波
長と異なる複数測定点波長のそれぞれにおけるパワーを
測定し、同測定値と第２の光の特性とから第２の光にお
ける第１の波長の光パワーを近似算出することにより、
複数測定点の波長の経時変化を許容した状態で算出が行
なわれるようになり、光増幅器の監視を単一のバンドパ
スフィルタを用いて、より容易にかつ確実に行なえるよ
うになる利点があるほか、複数測定点におけるパワーを
直接測定検出するため、雑音分の算出がさらに安定して
確実に行なわれるようになる利点もある。

【図面の簡単な説明】

【図１】（ａ）は本発明の原理説明図、（ｂ）は本発明
の関連技術の説明図である。

【図２】本発明の原理ブロック図である。

【図３】本発明の原理ブロック図である。

【図４】本発明の原理ブロック図である。

【図５】本発明の原理ブロック図である。

【図６】本発明の原理ブロック図である。

【図７】本発明の原理ブロック図である。

【図８】本発明の原理ブロック図である。

【図９】本発明の原理ブロック図である。

【図１０】本発明の原理ブロック図である。

【図１１】本発明の原理ブロック図である。

【図１２】本発明の原理ブロック図である。

【図１３】本発明の原理ブロック図である。

【図１４】本発明の原理ブロック図である。

【図１５】本発明の原理ブロック図である。

【図１６】本発明の関連技術を示すブロック図である。

【図１７】本発明の第１実施例のシステム構成を示すブ
ロック図である。

【図１８】本発明の第１実施例のシステムについて、そ
の作動特性を説明するためのグラフである。

【図１９】本発明の第１実施例のシステムについて、そ
の急峻度を向上した光フィルタの動作原理を示す摸式図
である。

【図２０】（ａ）〜（ｇ）は本発明の第１実施例のシス
テムについて、その急峻度を向上した光フィルタの動作
原理を示す摸式図である。

【図２１】本発明の第２実施例のシステム構成を示すブ
ロック図である。

【図２２】本発明の第３実施例のシステム構成を示す要
部ブロック図である。

【図２３】本発明の第４実施例のシステム構成を示す要
部ブロック図である。

【図２４】本発明の第５実施例のシステム構成を示す要
部ブロック図である。

【図２５】（ａ）〜（ｄ）は本発明の第２〜５実施例の
システムについて、反射光の特性を説明するための摸式
図である。

【図２６】本発明の第２〜５実施例のシステムについ
て、反射光の特性を説明するための摸式図である。

【図２７】光パワーモニター手法を説明するためのグラ
フである。

【図２８】（ａ），（ｂ）は光パワーモニター手法を説
明するためのグラフである。

【図２９】（ａ）〜（ｃ）は光パワーモニター手法を説
明するためのグラフである。

【符号の説明】

１ 信号光源 ２ 合波器 ３ 励起光源 ４ 分岐器 ５ エルビュームドープファイバー（ＥＤＦ） ６，７ 分岐器 ８ バンドパスフィルタ ９ 分岐器 １０ バンドパスフィルタ １１ 反射鏡（反射部） １２ ダイオード １３ バンドパスフィルタ １４ 反射鏡（反射部） １５，１６ フォトダイオード １７ Ｇ演算部 １８ ＮＦ算出部 １９ Ｐ_ASE,S 演算部 ２０ 演算部 ２１ フォトダイオード ２２ ダイオード ２３ 受信部 ２４，２５ サーキュレータ ２６，２７ フォトダイオード ３０，３１ 反射鏡 ３２ バンドパスフィルタ ４０ チューナブルフィルタ ４１ コントローラ １０１ パワー検出手段 １０２ 光パワー計測手段 １０３ 近似算出手段 ２０１ 光増幅器

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 菅谷 靖 神奈川県川崎市中原区上小田中1015番地 富士通株式会社内 (72)発明者 相田 一夫 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (72)発明者 宮本 裕 東京都千代田区内幸町一丁目１番６号 日本電信電話株式会社内 (56)参考文献 特開 平６−132905（ＪＰ，Ａ) 特開 平６−224492（ＪＰ，Ａ) (58)調査した分野(Int.Cl.⁷，ＤＢ名) H04B 10/00 - 10/28 H04J 14/00 - 14/08 G01M 11/00 G02F 1/35 501 ＪＩＣＳＴファイル（ＪＯＩＳ)

Claims (13)

(57)【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 第１の波長を基本とした狭いスペクトル
   特性を有する第１の光と、同第１の波長を含んだ広いス
   ペクトル特性を有する第２の光とを合波された光におい
   て、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを求め
   るにあたり、 上記第２の光における上記第１の波長と異なる波長の複
   数測定点について光パワーを測定するために、被測定光を複数の光波に分岐し、 分岐された各光波を、 上記複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を
   そなえた各バンドパスフィルタに透過させ、 上記の各バンドパスフィルタの透過光に対応して発生す
   る上記各バンドパスフィルタからの反射光のパワーをそ
   れぞれ測定し、 各測定値から上記複数測定点波長と信号光波長との差を
   算出して、 上記複数測定点波長と信号光波長との差と上記第２の光
   の特性とから 上記第２の光における上記第１の波長の光
   パワーを近似算出するように構成されたことを特徴とす
   る、光パワーモニター方法。
2. 【請求項２】 第１の波長を基本とした狭いスペクトル
   特性を有する第１の光と、同第１の波長を含んだ広いス
   ペクトル特性を有する第２の光とを合波された光におい
   て、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを求め
   るにあたり、 上記第２の光における上記第１の波長と異なる波長の複
   数測定点について光パワーを測定するために、 被測定光を分岐器で複数の光波に分岐し、 分岐された各光波を、 上記複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を
   そなえた各バンドパスフィルタに往復透過させ、 上記各バンドパスフィルタの透過光についてパワー計測
   を行ない、 上記第２の光のスペクトル特性を上記複数点の測定値に
   適用して、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを近似
   算出する ように構成されたことを特徴とする、光パワー
   モニター方法。
3. 【請求項３】 第１の波長を基本とした狭いスペクトル
   特性を有する第１の光と、同第１の波長を含んだ広いス
   ペクトル特性を有する第２の光とを合波された光におい
   て、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを求め
   るにあたり、 上記第２の光における上記第１の波長と異なる波長の複
   数測定点について光パワーを測定するために、 被測定光を複数の光波に分岐し、 分岐された各光波を複数測定点それぞれの波長に依存す
   る各透過特性をそなえた各バンドパスフィルタに往復透
   過させるとともに、 上記の各バンドパスフィルタの透過光に対応して発生す
   る上記各バンドパスフィルタからの反射光のパワーをそ
   れぞれ測定し、 各測定値から上記複数測定点波長と信号光波長との差を
   算出して、 上記複数測定点波長と信号光波長との差と上記第２の光
   の特性と上記各透過光の合波パワーとから上記第２の光
   における上記第１の波長の光パワーを近似算出するよう
   に構成されたことを特徴とする、光パワーモニター方
   法。
4. 【請求項４】 第１の波長を基本とした狭いスペクトル
   特性を有する第１の光と、同第１の波長を含んだ広いス
   ペクトル特性を有する第２の光とを合波された光におい
   て、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを求め
   るにあたり、 上記第２の光における上記第１の波長と異なる波長の複
   数測定点について光パワーを測定するために、 被測定光を複数の光波に分岐し、 分岐された各光波を、 上記複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を
   同一のバンドパスフィルタに対する入射角により設定し
   て透過させ、 上記バンドパスフィルタの透過光のそれぞれについてパ
   ワー計測を行ない、 上記第２の光のスペクトル特性を上記複数点の測定値に
   適用して、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを近似
   算出する ように構成されたことを特徴とする、光パワー
   モニター方法。
5. 【請求項５】 第１の波長を基本とした狭いスペクトル
   特性を有する第１の光と、同第１の波長を含んだ広いス
   ペクトル特性を有する第２の光とを合波された光におい
   て、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを求め
   るにあたり、 上記第２の光における上記第１の波長と異なる波長の複
   数測定点について光パワーを測定するために、 上記複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を
   同一のバンドパスフィルタにおける時分割の特性変更に
   より設定し、 上記バンドパスフィルタの透過光について時分割のパワ
   ー計測を行ない、 上記第２の光のスペクトル特性を上記複数点の測定値に
   適用して、 上記第２の光における上記第１の波長の光パワーを近似
   算出する ように構成されたことを特徴とする、光パワー
   モニター方法。
6. 【請求項６】 上記の同一のバンドパスフィルタの各方
   向への透過光に対応して発生する同バンドパスフィルタ
   からの各方向への反射光のパワーをそれぞれ測定し、 各測定値から上記複数測定点波長と信号光波長との差を
   算出して、 上記複数測定点波長と信号光波長との差と上記第２の光
   の特性とから上記第２の光における上記第１の波長の光
   パワーを近似算出するように構成されたことを特徴とす
   る、請求項４記載の光パワーモニター方法。
7. 【請求項７】 上記バンドパスフィルタの透過光に対応
   して発生する時分割の反射光のパワーをそれぞれ測定
   し、 各測定値から上記複数測定点波長と信号光波長との差を
   算出して、 上記複数測定点波長と信号光波長との差と上記第２の光
   の特性とから上記第２の光における上記第１の波長の光
   パワーを近似算出するように構成されたことを特徴とす
   る、請求項５記載の光パワーモニター方法。
8. 【請求項８】 被測定光の分岐を分岐器で行ない、 分岐された各光波を、 上記複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を
   上記同一のバンドパスフィルタに対する入射角により設
   定して透過させるとともに、 同バンドパスフィルタを反射部により往復透過させるよ
   うに構成されたことを特徴とする、請求項４記載の光パ
   ワーモニター方法。
9. 【請求項９】 上記第２の光における上記第１の波長と
   異なる波長の複数測定点について光パワーを測定するに
   際し、 上記複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を
   上記同一のバンドパスフィルタにおける時分割の特性変
   更により設定し透過させるとともに、 同バンドパスフィルタを反射部により往復透過させて、 同復路透過光について時分割のパワー計測を行ない急峻
   なフィルタ特性による透過光を得られるように構成され
   たことを特徴とする、請求項５記載の光パワーモニター
   方法。
10. 【請求項１０】 分岐された各光波を、 上記複数測定点それぞれの波長に依存する各透過特性を
    上記同一のバンドパスフィルタに対する入射角により設
    定して透過させるとともに、 同バンドパスフィルタを反射部により往復透過させると
    ともに、 上記バンドパスフィルタの透過光に対応して発生する上
    記バンドパスフィルタからの反射光のパワーをそれぞれ
    測定し、 各測定値から上記複数測定点波長と信号光波長との差を
    算出して、 上記複数測定点波長と信号光波長との差と上記第２の光
    の特性と上記各透過光の合波パワーとから上記第２の光
    における上記第１の波長の光パワーを近似算出するよう
    に構成されたことを特徴とする、請求項４記載の光パワ
    ーモニター方法。
11. 【請求項１１】 上記複数測定点それぞれの波長に依存
    する各透過特性を上記同一のバンドパスフィルタにおけ
    る時分割の特性変更により設定し透過させるとともに、 同バンドパスフィルタを反射部により往復透過させて、 同復路透過光について時分割のパワー計測を行ない急峻
    なフィルタ特性による透過光の上記複数測定点について
    の各パワー値を得るとともに、 上記バンドパスフィルタの透過光に対応して発生する上
    記バンドパスフィルタからの反射光のパワーを時分割で
    それぞれ測定し、 各測定値から上記複数測定点波長と信号光波長との差を
    算出して、 上記複数測定点波長と信号光波長との差と上記第２の光
    の特性と上記複数測定点についての各パワー値とから上
    記第２の光における上記第１の波長の光パワーを近似算
    出するように構成されたことを特徴とする、請求項５記
    載の光パワーモニター方法。
12. 【請求項１２】 上記分岐器と上記各バンドパスフィル
    タとの間にそれぞれ光サーキュレータを設け、 上記バンドパスフィルタにおける復路透過光を各光サー
    キュレータを介し出力させて、 各出力により信号光波長と異なる複数測定点波長のそれ
    ぞれにおけるパワーを測定し、 同測定値と上記第２の光の特性とから上記第２の光にお
    ける上記第１の波長の光パワーを近似算出するように構
    成されたことを特徴とする、請求項２記載の光パワーモ
    ニター方法。
13. 【請求項１３】 上記分岐器から上記バンドパスフィル
    タへ至る各光路に光サーキュレータをそれぞれ設け、 上記バンドパスフィルタにおける復路透過光を各光サー
    キュレータを介し出力させて、 各出力により信号光波長と異なる複数測定点波長のそれ
    ぞれにおけるパワーを測定し、 同測定値と上記第２の光の特性とから上記第２の光にお
    ける上記第１の波長の光パワーを近似算出するように構
    成されたことを特徴とする、請求項８記載の光パワーモ
    ニター方法。