JP2001339009A - 配線基板 - Google Patents
配線基板Info
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- JP2001339009A JP2001339009A JP2001084428A JP2001084428A JP2001339009A JP 2001339009 A JP2001339009 A JP 2001339009A JP 2001084428 A JP2001084428 A JP 2001084428A JP 2001084428 A JP2001084428 A JP 2001084428A JP 2001339009 A JP2001339009 A JP 2001339009A
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
Landscapes
- Ceramic Capacitors (AREA)
- Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 ノイズを確実に除去でき、しかも、チップコ
ンデンサの側面端子に生じるインダクタンスをも低くし
た配線基板を提供する。 【解決手段】 配線基板100は、コア基板110に多
数のチップコンデンサ113を内蔵している。このコン
デンサ113は縦横格子状に配置され、コンデンサが充
放電する際に、隣り合うコンデンサ113の対向して隣
り合う側面端子115に流れる電流の向きが互いに逆向
きになるよう配置されている。このため、側面端子11
5に生じるインダクタンスを互いに打ち消し合わせるこ
とができるので、インダクタンスを低減させることがで
きる。
ンデンサの側面端子に生じるインダクタンスをも低くし
た配線基板を提供する。 【解決手段】 配線基板100は、コア基板110に多
数のチップコンデンサ113を内蔵している。このコン
デンサ113は縦横格子状に配置され、コンデンサが充
放電する際に、隣り合うコンデンサ113の対向して隣
り合う側面端子115に流れる電流の向きが互いに逆向
きになるよう配置されている。このため、側面端子11
5に生じるインダクタンスを互いに打ち消し合わせるこ
とができるので、インダクタンスを低減させることがで
きる。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、チップコンデンサ
を内蔵する配線基板に関し、特に、チップコンデンサに
発生するインダクタンスを低減した配線基板に関する。
を内蔵する配線基板に関し、特に、チップコンデンサに
発生するインダクタンスを低減した配線基板に関する。
【0002】
【従来の技術】集積回路技術の進歩によりますますIC
チップの動作が高速化されているが、それに伴い、電源
配線等にノイズが重畳されて、誤動作を引き起こすこと
がある。そこでノイズ除去のため、例えば図12に示す
ように、ICチップ1を搭載する配線基板2の主面2A
あるいは裏面2Bに、別途、チップコンデンサ3を搭載
し、コンデンサ3の2つの電極とそれぞれ接続するコン
デンサ接続配線4を配線基板2の内部に設ける。これに
より、コンデンサ接続配線4及びフリップチップパッド
5を経由してチップコンデンサ3をICチップ1に接続
することが行われている。
チップの動作が高速化されているが、それに伴い、電源
配線等にノイズが重畳されて、誤動作を引き起こすこと
がある。そこでノイズ除去のため、例えば図12に示す
ように、ICチップ1を搭載する配線基板2の主面2A
あるいは裏面2Bに、別途、チップコンデンサ3を搭載
し、コンデンサ3の2つの電極とそれぞれ接続するコン
デンサ接続配線4を配線基板2の内部に設ける。これに
より、コンデンサ接続配線4及びフリップチップパッド
5を経由してチップコンデンサ3をICチップ1に接続
することが行われている。
【0003】一方、積層セラミックタイプのチップコン
デンサとしては、図13(a)に示すチップコンデンサ
6のように、コンデンサ本体7の対向する2つの側面7
a,7bに形成した側面端子8a,8bにより、それぞ
れの内部電極9a,9bを取り出すものが知られてい
る。また、近時では、図13(b)に示すコンデンサ1
0のように、コンデンサ本体11の4つの側面11a,
11b,11c,11dにそれぞれ側面端子12a〜1
2jを形成し、図13(c)に示すようにして、内部電
極13a,13bと接続させたものも提案されている。
なお、側面11b,11dには側面端子が形成されない
ものもある。
デンサとしては、図13(a)に示すチップコンデンサ
6のように、コンデンサ本体7の対向する2つの側面7
a,7bに形成した側面端子8a,8bにより、それぞ
れの内部電極9a,9bを取り出すものが知られてい
る。また、近時では、図13(b)に示すコンデンサ1
0のように、コンデンサ本体11の4つの側面11a,
11b,11c,11dにそれぞれ側面端子12a〜1
2jを形成し、図13(c)に示すようにして、内部電
極13a,13bと接続させたものも提案されている。
なお、側面11b,11dには側面端子が形成されない
ものもある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記の
ようにチップコンデンサ3を配線基板2に搭載する場合
には、配線基板2の主面2Aや裏面2Bにチップコンデ
ンサ3を搭載する領域を予め確保しておく必要があり、
他の電子部品の搭載や配線基板の補強のための補強部材
の固着の自由度を低下させる。さらに、他の配線等に制
限されて、ICチップ1とチップコンデンサ3とを結ぶ
コンデンサ接続配線4の長さが長くなり、また細くなり
やすいため、コンデンサ接続配線4自身の持つ抵抗やイ
ンダクタンスが大きくなりがちで、低抵抗、低インダク
タンスの要請に十分に応えられない。
ようにチップコンデンサ3を配線基板2に搭載する場合
には、配線基板2の主面2Aや裏面2Bにチップコンデ
ンサ3を搭載する領域を予め確保しておく必要があり、
他の電子部品の搭載や配線基板の補強のための補強部材
の固着の自由度を低下させる。さらに、他の配線等に制
限されて、ICチップ1とチップコンデンサ3とを結ぶ
コンデンサ接続配線4の長さが長くなり、また細くなり
やすいため、コンデンサ接続配線4自身の持つ抵抗やイ
ンダクタンスが大きくなりがちで、低抵抗、低インダク
タンスの要請に十分に応えられない。
【0005】そこで、配線基板内にチップコンデンサを
内蔵させることが考えられる。ところで、上記したチッ
プコンデンサ6,10では、コンデンサへの充放電の
際、側面端子8a,8b,11a〜11jの図中上下方
向にも電流が流れるため、側面端子にもインダクタンス
が発生する。従って、このインダクタンスをさらに低減
させることができれば都合がよい。
内蔵させることが考えられる。ところで、上記したチッ
プコンデンサ6,10では、コンデンサへの充放電の
際、側面端子8a,8b,11a〜11jの図中上下方
向にも電流が流れるため、側面端子にもインダクタンス
が発生する。従って、このインダクタンスをさらに低減
させることができれば都合がよい。
【0006】本発明は、上記着想に基づいてなされたも
のであって、ノイズを確実に除去でき、しかも、チップ
コンデンサの側面端子に生じるインダクタンスをも低く
した配線基板を提供することを目的とする。
のであって、ノイズを確実に除去でき、しかも、チップ
コンデンサの側面端子に生じるインダクタンスをも低く
した配線基板を提供することを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段、作用及び効果】その解決
手段は、主面と裏面とを有する配線基板であって、一方
の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電位に
それぞれ接続される複数のチップコンデンサを内蔵し、
上記チップコンデンサは、側面上を上記主面側から上記
裏面側に向かって延びる側面端子を有するチップコンデ
ンサであり、一の上記チップコンデンサの上記共通第1
電位に接続される上記側面端子と、他の上記チップコン
デンサの上記共通第2電位に接続される上記側面端子と
が対向し隣り合って配置されてなる配線基板である。
手段は、主面と裏面とを有する配線基板であって、一方
の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電位に
それぞれ接続される複数のチップコンデンサを内蔵し、
上記チップコンデンサは、側面上を上記主面側から上記
裏面側に向かって延びる側面端子を有するチップコンデ
ンサであり、一の上記チップコンデンサの上記共通第1
電位に接続される上記側面端子と、他の上記チップコン
デンサの上記共通第2電位に接続される上記側面端子と
が対向し隣り合って配置されてなる配線基板である。
【0008】本発明の配線基板では、複数のチップコン
デンサを内蔵しているので、チップコンデンサを主面等
に搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げるこ
とが無い。また、搭載するICチップなどとの距離を小
さくすることができるので、低抵抗、低インダクタンス
で接続することができ、ノイズを確実に除去することが
できる。また、本発明に用いるチップコンデンサの側面
端子は、上述のように、側面上を主面側から裏面側に向
かって延びているので、コンデンサの充放電に際し、こ
の側面端子を電流が流れるため、側面端子にインダクタ
ンスが発生する。これに対し、本発明では、隣り合うチ
ップコンデンサの隣り合う側面端子同士を違う電位(一
方を共通第1電位、他方を共通第2電位)にしたので、
対向する側面端子に流れる電流の向きが逆方向になるか
ら、それぞれに発生するインダクタンスを打ち消し合わ
せることができ、結局インダクタンスを低減できる。
デンサを内蔵しているので、チップコンデンサを主面等
に搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げるこ
とが無い。また、搭載するICチップなどとの距離を小
さくすることができるので、低抵抗、低インダクタンス
で接続することができ、ノイズを確実に除去することが
できる。また、本発明に用いるチップコンデンサの側面
端子は、上述のように、側面上を主面側から裏面側に向
かって延びているので、コンデンサの充放電に際し、こ
の側面端子を電流が流れるため、側面端子にインダクタ
ンスが発生する。これに対し、本発明では、隣り合うチ
ップコンデンサの隣り合う側面端子同士を違う電位(一
方を共通第1電位、他方を共通第2電位)にしたので、
対向する側面端子に流れる電流の向きが逆方向になるか
ら、それぞれに発生するインダクタンスを打ち消し合わ
せることができ、結局インダクタンスを低減できる。
【0009】なお、チップコンデンサとしては、配線基
板内に内蔵できるものであればいずれのものでも良い
が、例えば、積層セラミックタイプや、電解コンデンサ
タイプ、フィルムコンデンサタイプのものなどが挙げら
れる。特に、積層セラミックタイプのチップコンデンサ
は、周波数特性も良好である点、また、内蔵させた後の
配線基板の製造工程内で熱が掛かるなどしても特性が比
較的安定で、配線基板の製造が容易になり歩留まりが向
上する点で好ましい。
板内に内蔵できるものであればいずれのものでも良い
が、例えば、積層セラミックタイプや、電解コンデンサ
タイプ、フィルムコンデンサタイプのものなどが挙げら
れる。特に、積層セラミックタイプのチップコンデンサ
は、周波数特性も良好である点、また、内蔵させた後の
配線基板の製造工程内で熱が掛かるなどしても特性が比
較的安定で、配線基板の製造が容易になり歩留まりが向
上する点で好ましい。
【0010】さらに、配線基板としては、チップコンデ
ンサを内蔵できるものであればいずれでも良いが、エポ
キシ樹脂、ポリイミド樹脂、BT樹脂、PPE樹脂など
の樹脂や、これらの樹脂とガラス繊維やポリエステル繊
維などの繊維との複合材料、三次元網目構造のフッ素樹
脂にエポキシ樹脂などを含浸させた樹脂複合材料を用い
たもの、さらに、アルミナ、ムライト、窒化アルミニウ
ム、ガラスセラミックなどのセラミック基板とこれらの
樹脂や複合材料とを組み合わせたものなどが挙げられ
る。また、チップコンデンサを内蔵する、配線基板内に
他種類のチップ状電子部品を内蔵させることもきる。こ
のようなチップ状電子部品としては、チップ抵抗、チッ
プインダクタ、チップフィルタなどのチップ状受動部品
や、トランジスタ、ローノイズアンプ、アクティブフィ
ルタ、ICチップ、メモリ素子、FETなどのチップ状
能動素子、SAWフィルタ、LCフィルタ、アンテナス
イッチモジュール、カプラ、ダイプレクサや、これらを
組み合わせたものなどが挙げられる。
ンサを内蔵できるものであればいずれでも良いが、エポ
キシ樹脂、ポリイミド樹脂、BT樹脂、PPE樹脂など
の樹脂や、これらの樹脂とガラス繊維やポリエステル繊
維などの繊維との複合材料、三次元網目構造のフッ素樹
脂にエポキシ樹脂などを含浸させた樹脂複合材料を用い
たもの、さらに、アルミナ、ムライト、窒化アルミニウ
ム、ガラスセラミックなどのセラミック基板とこれらの
樹脂や複合材料とを組み合わせたものなどが挙げられ
る。また、チップコンデンサを内蔵する、配線基板内に
他種類のチップ状電子部品を内蔵させることもきる。こ
のようなチップ状電子部品としては、チップ抵抗、チッ
プインダクタ、チップフィルタなどのチップ状受動部品
や、トランジスタ、ローノイズアンプ、アクティブフィ
ルタ、ICチップ、メモリ素子、FETなどのチップ状
能動素子、SAWフィルタ、LCフィルタ、アンテナス
イッチモジュール、カプラ、ダイプレクサや、これらを
組み合わせたものなどが挙げられる。
【0011】なお、主面と裏面とを有する配線基板であ
って、側面上を上記主面側から上記裏面側に向かって延
びる側面端子を有するチップコンデンサであって、一方
の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電位に
それぞれ接続されるチップコンデンサを複数内蔵し、一
の上記チップコンデンサに形成され、上記共通第1電位
に接続される上記側面端子と、上記一のチップコンデン
サと隣り合って配置された他の上記チップコンデンサに
形成され、上記共通第2電位に接続される上記側面端子
とが対向して隣り合って配置されてなる配線基板として
も、同様にチップコンデンサのインダクタンスを低減さ
せることができる。
って、側面上を上記主面側から上記裏面側に向かって延
びる側面端子を有するチップコンデンサであって、一方
の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電位に
それぞれ接続されるチップコンデンサを複数内蔵し、一
の上記チップコンデンサに形成され、上記共通第1電位
に接続される上記側面端子と、上記一のチップコンデン
サと隣り合って配置された他の上記チップコンデンサに
形成され、上記共通第2電位に接続される上記側面端子
とが対向して隣り合って配置されてなる配線基板として
も、同様にチップコンデンサのインダクタンスを低減さ
せることができる。
【0012】さらに他の解決手段は、主面と裏面とを有
する配線基板であって、一方の電極が共通第1電位に、
他方の電極が共通第2電位にそれぞれ接続される複数の
チップコンデンサを内蔵し、上記チップコンデンサは、
平面状側面と、上記平面状側面上を上記主面側から上記
裏面側に向かって延びる複数の側面端子と、を有し、上
記側面端子は、上記平面状側面に沿う上記主面と平行な
方向に、上記共通第1電位に接続される第1電位側面端
子と上記共通第2電位に接続される第2電位側面端子と
が交互に配置されてなるチップコンデンサであり、一の
上記チップコンデンサの上記平面状側面と他の上記チッ
プコンデンサの上記平面状側面とが対向して配置され、
上記一のチップコンデンサと上記他のチップコンデンサ
との間で対向して隣り合う上記側面端子は、それぞれ、
一方が上記第1電位側面端子であり、他方が上記第2電
位側面端子である配線基板である。
する配線基板であって、一方の電極が共通第1電位に、
他方の電極が共通第2電位にそれぞれ接続される複数の
チップコンデンサを内蔵し、上記チップコンデンサは、
平面状側面と、上記平面状側面上を上記主面側から上記
裏面側に向かって延びる複数の側面端子と、を有し、上
記側面端子は、上記平面状側面に沿う上記主面と平行な
方向に、上記共通第1電位に接続される第1電位側面端
子と上記共通第2電位に接続される第2電位側面端子と
が交互に配置されてなるチップコンデンサであり、一の
上記チップコンデンサの上記平面状側面と他の上記チッ
プコンデンサの上記平面状側面とが対向して配置され、
上記一のチップコンデンサと上記他のチップコンデンサ
との間で対向して隣り合う上記側面端子は、それぞれ、
一方が上記第1電位側面端子であり、他方が上記第2電
位側面端子である配線基板である。
【0013】本発明の配線基板では、複数のチップコン
デンサを内蔵しているので、主面や裏面にチップコンデ
ンサを搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げ
ることが無い。また、搭載するICチップなどとの距離
を小さくすることができるので、低抵抗、低インダクタ
ンスで接続することができ、ノイズを確実に除去するこ
とができる。本発明に用いるチップコンデンサの複数の
側面端子は、それぞれ平面状側面上を主面側から裏面側
に向かって延びいるので、コンデンサの充放電に際し
て、この側面端子を電流が流れるため、インダクタンス
が発生する。これに対し、本発明では、隣り合うチップ
コンデンサの対向して隣り合う側面端子同士を違う電位
(一方を共通第1電位、他方を共通第2電位)にしたの
で、対向する側面端子に流れる電流の向きが逆方向にな
るため、それらに発生するインダクタンスを低減でき
る。しかも、各チップコンデンサについてみると、平板
状側面に第1電位側面端子と第2電位側面端子とが交互
に配置されているので、対向する2つのチップコンデン
サの側面端子は、いずれも一方が上記第1電位側面端子
であり、他方が上記第2電位側面端子となる。従って、
この平面上側面に形成され対向する側面端子それぞれに
ついてインダクタンスを低減させることができるから、
全体としてさらにインダクタンスを低減させることがで
きる。
デンサを内蔵しているので、主面や裏面にチップコンデ
ンサを搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げ
ることが無い。また、搭載するICチップなどとの距離
を小さくすることができるので、低抵抗、低インダクタ
ンスで接続することができ、ノイズを確実に除去するこ
とができる。本発明に用いるチップコンデンサの複数の
側面端子は、それぞれ平面状側面上を主面側から裏面側
に向かって延びいるので、コンデンサの充放電に際し
て、この側面端子を電流が流れるため、インダクタンス
が発生する。これに対し、本発明では、隣り合うチップ
コンデンサの対向して隣り合う側面端子同士を違う電位
(一方を共通第1電位、他方を共通第2電位)にしたの
で、対向する側面端子に流れる電流の向きが逆方向にな
るため、それらに発生するインダクタンスを低減でき
る。しかも、各チップコンデンサについてみると、平板
状側面に第1電位側面端子と第2電位側面端子とが交互
に配置されているので、対向する2つのチップコンデン
サの側面端子は、いずれも一方が上記第1電位側面端子
であり、他方が上記第2電位側面端子となる。従って、
この平面上側面に形成され対向する側面端子それぞれに
ついてインダクタンスを低減させることができるから、
全体としてさらにインダクタンスを低減させることがで
きる。
【0014】なお、上記平面状側面を有するチップコン
デンサは、平面状側面が対向する2つのチップコンデン
サの側面端子の数が異なっていても、対向している側面
端子同士について上記のようになっていれば、インダク
タンス低減の効果を得ることができる。
デンサは、平面状側面が対向する2つのチップコンデン
サの側面端子の数が異なっていても、対向している側面
端子同士について上記のようになっていれば、インダク
タンス低減の効果を得ることができる。
【0015】また、上記配線基板であって、前記一のチ
ップコンデンサと前記他のチップコンデンサとの間で対
向して隣り合う側面端子同士の間隔を、チップコンデン
サ内で隣り合う上記側面端子同士の間隔よりも小さくし
てなる配線基板とすると良い。
ップコンデンサと前記他のチップコンデンサとの間で対
向して隣り合う側面端子同士の間隔を、チップコンデン
サ内で隣り合う上記側面端子同士の間隔よりも小さくし
てなる配線基板とすると良い。
【0016】本発明の配線基板について、例えば、1つ
の側面端子に着目して説明する。チップコンデンサ内で
この側面端子とこれに隣り合う側面端子との間隔(ピッ
チ)は、チップコンデンサが成形された時点で固定され
ており、変更することはできないので、両者間に生じる
相互インダクタンスは一定である。このため、単独のチ
ップコンデンサで考えた場合には、各側面端子のインダ
クタンスも一定である。しかし、一のチップコンデンサ
と他のチップコンデンサとを近接させると、着目してい
る側面端子と、これに対向して隣り合う側面端子との間
隔(ピッチ)は調整できる。従って、本発明のように、
対向して隣り合う側面端子同士の間隔を、チップコンデ
ンサ内で隣り合う側面端子同士の間隔よりも小さくすれ
ば、対向して隣り合う側面端子同士の結合が大きくな
り、相互インダクタンスが大きくなるから、各側面端子
についてインダクタンスをさらに効率よく低減させるこ
とができる。しかも、平面状側面の複数の側面端子同士
の関係にいずれも当てはまるので、全体として特にイン
ダクタンスを低減させることができる。
の側面端子に着目して説明する。チップコンデンサ内で
この側面端子とこれに隣り合う側面端子との間隔(ピッ
チ)は、チップコンデンサが成形された時点で固定され
ており、変更することはできないので、両者間に生じる
相互インダクタンスは一定である。このため、単独のチ
ップコンデンサで考えた場合には、各側面端子のインダ
クタンスも一定である。しかし、一のチップコンデンサ
と他のチップコンデンサとを近接させると、着目してい
る側面端子と、これに対向して隣り合う側面端子との間
隔(ピッチ)は調整できる。従って、本発明のように、
対向して隣り合う側面端子同士の間隔を、チップコンデ
ンサ内で隣り合う側面端子同士の間隔よりも小さくすれ
ば、対向して隣り合う側面端子同士の結合が大きくな
り、相互インダクタンスが大きくなるから、各側面端子
についてインダクタンスをさらに効率よく低減させるこ
とができる。しかも、平面状側面の複数の側面端子同士
の関係にいずれも当てはまるので、全体として特にイン
ダクタンスを低減させることができる。
【0017】さらに他の解決手段は、主面と裏面とを有
する配線基板であって、一方の電極が共通第1電位に、
他方の電極が共通第2電位にそれぞれ接続される複数の
同一形状のチップコンデンサを内蔵し、上記チップコン
デンサは、略直方体状で、側面上を上記主面側から上記
裏面側に向かって延びる側面端子を有し、上記側面端子
は、4つの上記側面のうち、第1側面とこれに対向する
第3側面とに同数形成され、上記第1側面に隣接し互い
に対向する第2側面と第4側面とには、形成されない
か、同数形成され、上記第1側面、第2側面、第3側面
及び第4側面の順に巡る周方向に、上記共通第1電位に
接続される第1電位側面端子と上記共通第2電位に接続
される第2電位側面端子とが交互に配置されてなるチッ
プコンデンサであり、上記各チップコンデンサは、隣り
合うチップコンデンサの上記第1側面と第3側面とが、
または第2側面と第4側面とが対向して隣り合う縦横格
子状に配置され、隣り合うチップコンデンサ間で対向し
て隣り合う上記側面端子は、それぞれ、一方が上記第1
電位側面端子であり、他方が上記第2電位側面端子であ
る配線基板である。
する配線基板であって、一方の電極が共通第1電位に、
他方の電極が共通第2電位にそれぞれ接続される複数の
同一形状のチップコンデンサを内蔵し、上記チップコン
デンサは、略直方体状で、側面上を上記主面側から上記
裏面側に向かって延びる側面端子を有し、上記側面端子
は、4つの上記側面のうち、第1側面とこれに対向する
第3側面とに同数形成され、上記第1側面に隣接し互い
に対向する第2側面と第4側面とには、形成されない
か、同数形成され、上記第1側面、第2側面、第3側面
及び第4側面の順に巡る周方向に、上記共通第1電位に
接続される第1電位側面端子と上記共通第2電位に接続
される第2電位側面端子とが交互に配置されてなるチッ
プコンデンサであり、上記各チップコンデンサは、隣り
合うチップコンデンサの上記第1側面と第3側面とが、
または第2側面と第4側面とが対向して隣り合う縦横格
子状に配置され、隣り合うチップコンデンサ間で対向し
て隣り合う上記側面端子は、それぞれ、一方が上記第1
電位側面端子であり、他方が上記第2電位側面端子であ
る配線基板である。
【0018】本発明の配線基板では、複数のチップコン
デンサを内蔵しているので、チップコンデンサを主面等
に搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げるこ
とが無い。また、搭載するICチップなどとの距離を小
さくすることができるので、低抵抗、低インダクタンス
で接続することができ、ノイズを確実に除去することが
できる。また、本発明に用いるチップコンデンサの側面
端子は、上述のように、側面上を主面側から裏面側に向
かって延びているので、コンデンサの充放電に際し、こ
の側面端子を電流が流れるため、側面端子にインダクタ
ンスが発生する。これに対し、本発明では、隣り合うチ
ップコンデンサの隣り合う側面端子同士を違う電位(一
方を共通第1電位、他方を共通第2電位)にしたので、
流れる電流の向きが逆方向になるから、各側面端子に発
生するインダクタンスを低減できる。しかも、同一形状
の各チップコンデンサを縦横格子状に並べているので、
各チップコンデンサの側面端子について、隣り合うチッ
プコンデンサとの間でインダクタンスを低減できるの
で、複数のチップコンデンサ全体としてもインダクタン
スの低減を図ることができ、その低減効果がさらに大き
くなる。
デンサを内蔵しているので、チップコンデンサを主面等
に搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げるこ
とが無い。また、搭載するICチップなどとの距離を小
さくすることができるので、低抵抗、低インダクタンス
で接続することができ、ノイズを確実に除去することが
できる。また、本発明に用いるチップコンデンサの側面
端子は、上述のように、側面上を主面側から裏面側に向
かって延びているので、コンデンサの充放電に際し、こ
の側面端子を電流が流れるため、側面端子にインダクタ
ンスが発生する。これに対し、本発明では、隣り合うチ
ップコンデンサの隣り合う側面端子同士を違う電位(一
方を共通第1電位、他方を共通第2電位)にしたので、
流れる電流の向きが逆方向になるから、各側面端子に発
生するインダクタンスを低減できる。しかも、同一形状
の各チップコンデンサを縦横格子状に並べているので、
各チップコンデンサの側面端子について、隣り合うチッ
プコンデンサとの間でインダクタンスを低減できるの
で、複数のチップコンデンサ全体としてもインダクタン
スの低減を図ることができ、その低減効果がさらに大き
くなる。
【0019】また、上記配線基板であって、前記隣り合
うチップコンデンサ間で対向して隣り合う側面端子同士
の間隔を、チップコンデンサ内で隣り合う上記側面端子
同士の間隔よりも小さくしてなる配線基板とすると良
い。
うチップコンデンサ間で対向して隣り合う側面端子同士
の間隔を、チップコンデンサ内で隣り合う上記側面端子
同士の間隔よりも小さくしてなる配線基板とすると良
い。
【0020】本発明の配線基板について、例えば、1つ
の側面端子に着目して説明する。チップコンデンサ内で
この側面端子とこれに隣り合う側面端子との間隔(ピッ
チ)は、チップコンデンサが成形された時点で固定され
ており、変更することはできないので、両者間に生じる
相互インダクタンスは一定である。このため、単独のチ
ップコンデンサで考えた場合には、各側面端子のインダ
クタンスも一定である。 しかし、一のチップコンデン
サと他のチップコンデンサとを近接させると、着目して
いる側面端子と、これに対向して隣り合う側面端子との
ピッチは調整できる。従って、本発明のように、対向し
て隣り合う側面端子同士の間隔を、チップコンデンサ内
で隣り合う側面端子同士の間隔よりも小さくすれば、対
向して隣り合う側面端子同士の結合が大きくなり、相互
インダクタンスが大きくなるから、これら間でインダク
タンスをさらに低減させることができる。しかも、縦横
格子状に配列したチップコンデンサのいずれの側面端子
同士にも当てはまるので、全体として特にインダクタン
スを低減させることができる。
の側面端子に着目して説明する。チップコンデンサ内で
この側面端子とこれに隣り合う側面端子との間隔(ピッ
チ)は、チップコンデンサが成形された時点で固定され
ており、変更することはできないので、両者間に生じる
相互インダクタンスは一定である。このため、単独のチ
ップコンデンサで考えた場合には、各側面端子のインダ
クタンスも一定である。 しかし、一のチップコンデン
サと他のチップコンデンサとを近接させると、着目して
いる側面端子と、これに対向して隣り合う側面端子との
ピッチは調整できる。従って、本発明のように、対向し
て隣り合う側面端子同士の間隔を、チップコンデンサ内
で隣り合う側面端子同士の間隔よりも小さくすれば、対
向して隣り合う側面端子同士の結合が大きくなり、相互
インダクタンスが大きくなるから、これら間でインダク
タンスをさらに低減させることができる。しかも、縦横
格子状に配列したチップコンデンサのいずれの側面端子
同士にも当てはまるので、全体として特にインダクタン
スを低減させることができる。
【0021】さらに、上記いずれかに記載の配線基板で
あって、チップコンデンサ同士の間には、絶縁樹脂体を
介設してなる配線基板とすると良い。
あって、チップコンデンサ同士の間には、絶縁樹脂体を
介設してなる配線基板とすると良い。
【0022】本発明の配線基板では、チップコンデンサ
同士の間に絶縁樹脂体を介設しているので、側面端子同
士がショートすることが無く、確実に絶縁することがで
きる。逆に、絶縁樹脂体を介設しているので、チップコ
ンデンサの間隔を小さくすることができ、小さな面積に
多くのチップコンデンサを並べて配置することができ
る。
同士の間に絶縁樹脂体を介設しているので、側面端子同
士がショートすることが無く、確実に絶縁することがで
きる。逆に、絶縁樹脂体を介設しているので、チップコ
ンデンサの間隔を小さくすることができ、小さな面積に
多くのチップコンデンサを並べて配置することができ
る。
【0023】さらに、上記いずれかに記載の配線基板で
あって、前記チップコンデンサは、誘電体層を介して第
1電極層と第2電極層とが交互に前記主面に平行に積層
されたチップ積層セラミックコンデンサである配線基板
とすると良い。
あって、前記チップコンデンサは、誘電体層を介して第
1電極層と第2電極層とが交互に前記主面に平行に積層
されたチップ積層セラミックコンデンサである配線基板
とすると良い。
【0024】本発明の配線基板では、チップコンデンサ
にチップ積層セラミックコンデンサを用いる。積層セラ
ミックコンデンサは周波数特性が良好であるので高周波
成分のノイズをキャンセルすることができる。また、チ
ップコンデンサを内蔵させた配線基板を製作するに当た
って、耐熱性が高いので、製造工程内で掛かる温度にも
確実に耐え、特性変化が僅少に抑えられる。従って、信
頼性の高い配線基板とすることができる。
にチップ積層セラミックコンデンサを用いる。積層セラ
ミックコンデンサは周波数特性が良好であるので高周波
成分のノイズをキャンセルすることができる。また、チ
ップコンデンサを内蔵させた配線基板を製作するに当た
って、耐熱性が高いので、製造工程内で掛かる温度にも
確実に耐え、特性変化が僅少に抑えられる。従って、信
頼性の高い配線基板とすることができる。
【0025】さらに上記いずれかに記載の配線基板であ
って、前記側面端子は、前記チップコンデンサのうち前
記主面側を向いた上面の周縁部に上面部を有し、この上
面部から上記上面の周縁を越えて前記側面上を前記主面
側から前記裏面側に向かって延びる側面端子である配線
基板とすると良い。
って、前記側面端子は、前記チップコンデンサのうち前
記主面側を向いた上面の周縁部に上面部を有し、この上
面部から上記上面の周縁を越えて前記側面上を前記主面
側から前記裏面側に向かって延びる側面端子である配線
基板とすると良い。
【0026】本発明の配線基板では、側面端子に上面部
を有するので、この上面部からビアや配線を通じて、共
通第1電位及び共通第2電位を主面側に容易に引き出す
ことができる。なお、上面部としては、チップコンデン
サの上面に平板状(パッド状)に形成しても良いが、主
面側に盛り上がったバンプ形状としても良い。
を有するので、この上面部からビアや配線を通じて、共
通第1電位及び共通第2電位を主面側に容易に引き出す
ことができる。なお、上面部としては、チップコンデン
サの上面に平板状(パッド状)に形成しても良いが、主
面側に盛り上がったバンプ形状としても良い。
【0027】さらに他の解決手段は、主面と裏面とを有
する配線基板であって、1または複数のコア絶縁層から
なり、厚さ方向に貫通するコンデンサ用貫通孔を備える
コア基板本体と、上記コンデンサ用貫通孔に内蔵され、
一方の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電
位にそれぞれ接続される複数の同一形状のチップコンデ
ンサと、上記コア基板本体及び複数のチップコンデンサ
の主面側及び裏面側にそれぞれ少なくとも1層ずつ積層
された樹脂絶縁層と、を備え、上記チップコンデンサ
は、略直方体状で、側面上を上記主面側から上記裏面側
に向かって延びる側面端子を有し、上記側面端子は、4
つの上記側面のうち、第1側面とこれに対向する第3側
面とに同数形成され、上記第1側面に隣接し互いに対向
する第2側面と第4側面とには、形成されないか、同数
形成され、上記第1側面、第2側面、第3側面及び第4
側面の順に巡る周方向に、上記共通第1電位に接続され
る第1電位側面端子と上記共通第2電位に接続される第
2電位側面端子とが交互に配置されてなるチップコンデ
ンサであり、上記各チップコンデンサは、隣り合うチッ
プコンデンサの上記第1側面と第3側面とが、または第
2側面と第4側面とが対向して隣り合う縦横格子状に配
置され、隣り合うチップコンデンサ間で対向して隣り合
う上記側面端子は、それぞれ、一方が上記第1電位側面
端子であり、他方が上記第2電位側面端子である配線基
板である。
する配線基板であって、1または複数のコア絶縁層から
なり、厚さ方向に貫通するコンデンサ用貫通孔を備える
コア基板本体と、上記コンデンサ用貫通孔に内蔵され、
一方の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電
位にそれぞれ接続される複数の同一形状のチップコンデ
ンサと、上記コア基板本体及び複数のチップコンデンサ
の主面側及び裏面側にそれぞれ少なくとも1層ずつ積層
された樹脂絶縁層と、を備え、上記チップコンデンサ
は、略直方体状で、側面上を上記主面側から上記裏面側
に向かって延びる側面端子を有し、上記側面端子は、4
つの上記側面のうち、第1側面とこれに対向する第3側
面とに同数形成され、上記第1側面に隣接し互いに対向
する第2側面と第4側面とには、形成されないか、同数
形成され、上記第1側面、第2側面、第3側面及び第4
側面の順に巡る周方向に、上記共通第1電位に接続され
る第1電位側面端子と上記共通第2電位に接続される第
2電位側面端子とが交互に配置されてなるチップコンデ
ンサであり、上記各チップコンデンサは、隣り合うチッ
プコンデンサの上記第1側面と第3側面とが、または第
2側面と第4側面とが対向して隣り合う縦横格子状に配
置され、隣り合うチップコンデンサ間で対向して隣り合
う上記側面端子は、それぞれ、一方が上記第1電位側面
端子であり、他方が上記第2電位側面端子である配線基
板である。
【0028】本発明の配線基板では、複数のチップコン
デンサを内蔵しているので、チップコンデンサを主面等
に搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げるこ
とが無い。また、搭載するICチップなどとの距離を小
さくすることができるので、低抵抗、低インダクタンス
で接続することができ、ノイズを確実に除去することが
できる。しかも、コア基板に内蔵されている また、本
発明に用いるチップコンデンサの側面端子は、上述のよ
うに、側面上を主面側から裏面側に向かって延びている
ので、コンデンサの充放電に際し、この側面端子を電流
が流れるため、側面端子にインダクタンスが発生する。
これに対し、本発明では、隣り合うチップコンデンサの
隣り合う側面端子同士を違う電位(一方を共通第1電
位、他方を共通第2電位)にしたので、流れる電流の向
きが逆方向になるから、各側面端子に発生するインダク
タンスを低減できる。しかも、同一形状の各チップコン
デンサを縦横格子状に並べているので、各チップコンデ
ンサの側面端子について、隣り合うチップコンデンサと
の間でインダクタンスを低減できるので、複数のチップ
コンデンサ全体としてもインダクタンスの低減を図るこ
とができ、その低減効果がさらに大きくなる。
デンサを内蔵しているので、チップコンデンサを主面等
に搭載するのとは異なり、主面や裏面の利用を妨げるこ
とが無い。また、搭載するICチップなどとの距離を小
さくすることができるので、低抵抗、低インダクタンス
で接続することができ、ノイズを確実に除去することが
できる。しかも、コア基板に内蔵されている また、本
発明に用いるチップコンデンサの側面端子は、上述のよ
うに、側面上を主面側から裏面側に向かって延びている
ので、コンデンサの充放電に際し、この側面端子を電流
が流れるため、側面端子にインダクタンスが発生する。
これに対し、本発明では、隣り合うチップコンデンサの
隣り合う側面端子同士を違う電位(一方を共通第1電
位、他方を共通第2電位)にしたので、流れる電流の向
きが逆方向になるから、各側面端子に発生するインダク
タンスを低減できる。しかも、同一形状の各チップコン
デンサを縦横格子状に並べているので、各チップコンデ
ンサの側面端子について、隣り合うチップコンデンサと
の間でインダクタンスを低減できるので、複数のチップ
コンデンサ全体としてもインダクタンスの低減を図るこ
とができ、その低減効果がさらに大きくなる。
【0029】
【発明の実施の形態】(実施形態1)本発明の第1の実
施形態を、図1〜図5を参照しつつ説明する。図1に示
す配線基板100は、チップコンデンサ113を多数内
蔵したコア基板110と、その上下にそれぞれ積層され
たエポキシ樹脂からなる樹脂絶縁層121〜125、1
41〜145とを有する。配線基板100の主面100
Aの中央部には、バンプ134が多数形成され、破線で
示すICチップCHの下面CHAに多数形成された接続
端子CHTとそれぞれフリップチップ接続可能とされて
いる。また、図中裏面100Bの略全面にはパッド15
4が多数形成され、破線で示すマザーボードなどの他の
配線基板WBに多数形成された接続端子WBTと図示し
ないハンダボールなどによりそれぞれ接続可能とされて
いる。
施形態を、図1〜図5を参照しつつ説明する。図1に示
す配線基板100は、チップコンデンサ113を多数内
蔵したコア基板110と、その上下にそれぞれ積層され
たエポキシ樹脂からなる樹脂絶縁層121〜125、1
41〜145とを有する。配線基板100の主面100
Aの中央部には、バンプ134が多数形成され、破線で
示すICチップCHの下面CHAに多数形成された接続
端子CHTとそれぞれフリップチップ接続可能とされて
いる。また、図中裏面100Bの略全面にはパッド15
4が多数形成され、破線で示すマザーボードなどの他の
配線基板WBに多数形成された接続端子WBTと図示し
ないハンダボールなどによりそれぞれ接続可能とされて
いる。
【0030】コア基板110は、図5にも示すように、
31mm×31mmの矩形板状で、厚さ1.0mmのガ
ラス−エポキシ樹脂複合材料からなるコア基板本体11
1を有している。その主面111Aと下面111Bとの
間には、これを貫通する大きな(7.5×8.0mm)
略矩形状のコンデンサ用貫通孔111CH、及びその周
囲に形成された多数のスルーホール用貫通孔111Hと
が穿孔されている。このコンデンサ用貫通孔111CH
内には、上述したように、本体部が略直方体状(3.2
mm×1.6mm×0.8mm)のチップコンデンサ1
13が多数(本実施形態では8ヶ=4×2)内蔵され、
エポキシ樹脂からなる絶縁樹脂体116で互いに、また
コンデンサ用貫通孔111CHに固着している。このた
め、個々のチップコンデンサ113同士は、コンデンサ
用貫通孔111CH内では、絶縁樹脂体116で互いに
絶縁された状態となっている。一方、スルーホール用貫
通孔111H内には、公知のスルーホール導体112が
形成されている。
31mm×31mmの矩形板状で、厚さ1.0mmのガ
ラス−エポキシ樹脂複合材料からなるコア基板本体11
1を有している。その主面111Aと下面111Bとの
間には、これを貫通する大きな(7.5×8.0mm)
略矩形状のコンデンサ用貫通孔111CH、及びその周
囲に形成された多数のスルーホール用貫通孔111Hと
が穿孔されている。このコンデンサ用貫通孔111CH
内には、上述したように、本体部が略直方体状(3.2
mm×1.6mm×0.8mm)のチップコンデンサ1
13が多数(本実施形態では8ヶ=4×2)内蔵され、
エポキシ樹脂からなる絶縁樹脂体116で互いに、また
コンデンサ用貫通孔111CHに固着している。このた
め、個々のチップコンデンサ113同士は、コンデンサ
用貫通孔111CH内では、絶縁樹脂体116で互いに
絶縁された状態となっている。一方、スルーホール用貫
通孔111H内には、公知のスルーホール導体112が
形成されている。
【0031】バンプ134のうち、一部は樹脂絶縁層1
24と125との間、あるいは樹脂絶縁層123と12
4との間に形成された配線層128,129によって、
それぞれ周縁側(図1中、右または左方向)にファンア
ウトし、ビア導体133、スルーホール導体112、ビ
ア導体153を通じて裏面100Bに形成されたパッド
154に接続している。これらは、例えば、信号用配線
として使用される。
24と125との間、あるいは樹脂絶縁層123と12
4との間に形成された配線層128,129によって、
それぞれ周縁側(図1中、右または左方向)にファンア
ウトし、ビア導体133、スルーホール導体112、ビ
ア導体153を通じて裏面100Bに形成されたパッド
154に接続している。これらは、例えば、信号用配線
として使用される。
【0032】バンプ134のうち、残りは樹脂絶縁層1
25〜122あるいは125〜123をそれぞれ貫通す
るビア導体132によって、樹脂絶縁層121と122
との間、あるいは樹脂絶縁層122と123との間に形
成された略平板状のベタ導体層126,127に接続す
る。なお、次述するように本実施形態では、第1ベタ導
体層126は+の電源電位(共通第1電位)に、第2ベ
タ導体層127は接地電位(共通第2電位)に接続され
る。さらに、第1ベタ導体層126は樹脂絶縁層121
を貫通するビア導体130によって、チップコンデンサ
113の一方の側面端子115aに接続し、第2ベタ導
体層127は樹脂絶縁層121、122をそれぞれ貫通
するビア導体131によって、チップコンデンサ113
の他方の側面端子115bに接続する。これによって、
ICチップCH搭載時には、コンデンサ113とICチ
ップCHとが極めて近い距離で接続され、また電源電位
及び接地電位が供給される。
25〜122あるいは125〜123をそれぞれ貫通す
るビア導体132によって、樹脂絶縁層121と122
との間、あるいは樹脂絶縁層122と123との間に形
成された略平板状のベタ導体層126,127に接続す
る。なお、次述するように本実施形態では、第1ベタ導
体層126は+の電源電位(共通第1電位)に、第2ベ
タ導体層127は接地電位(共通第2電位)に接続され
る。さらに、第1ベタ導体層126は樹脂絶縁層121
を貫通するビア導体130によって、チップコンデンサ
113の一方の側面端子115aに接続し、第2ベタ導
体層127は樹脂絶縁層121、122をそれぞれ貫通
するビア導体131によって、チップコンデンサ113
の他方の側面端子115bに接続する。これによって、
ICチップCH搭載時には、コンデンサ113とICチ
ップCHとが極めて近い距離で接続され、また電源電位
及び接地電位が供給される。
【0033】チップコンデンサ113の側面端子115
a,115bは、それぞれビア導体148,149によ
って、樹脂絶縁層141と142の間、あるいは樹脂絶
縁層142と143の間に形成された変換配線146,
147によって、配置を調整した上、樹脂絶縁層142
〜145を貫通するビア導体151,152によって各
パッド154に接続している。このパッド154を通じ
て、一方の側面端子(第1電位側面端子)115a、及
び一方の電極層114aが+の電源電位になり、他方の
側面端子(第2電位側面端子)115b、及び他方の電
極層114bが接地電位となるように、配線基板WBか
ら給電される。なお、配線基板WBのうち電源電位
(「+」の記号で表す)及び接地電位(「G」の記号で
表す)とする接続端子WBTの電位を図1に示してお
く。従って、この配線基板100を用いれば、電源配線
に重畳されたノイズを、各チップコンデンサ113によ
って吸収しつつ、ごく短いビア導体132等でICチッ
プCHに、給電することができる。
a,115bは、それぞれビア導体148,149によ
って、樹脂絶縁層141と142の間、あるいは樹脂絶
縁層142と143の間に形成された変換配線146,
147によって、配置を調整した上、樹脂絶縁層142
〜145を貫通するビア導体151,152によって各
パッド154に接続している。このパッド154を通じ
て、一方の側面端子(第1電位側面端子)115a、及
び一方の電極層114aが+の電源電位になり、他方の
側面端子(第2電位側面端子)115b、及び他方の電
極層114bが接地電位となるように、配線基板WBか
ら給電される。なお、配線基板WBのうち電源電位
(「+」の記号で表す)及び接地電位(「G」の記号で
表す)とする接続端子WBTの電位を図1に示してお
く。従って、この配線基板100を用いれば、電源配線
に重畳されたノイズを、各チップコンデンサ113によ
って吸収しつつ、ごく短いビア導体132等でICチッ
プCHに、給電することができる。
【0034】内蔵されたチップコンデンサ113は、図
5下方の拡大図に示すように、BaTiO3系の高誘電
体セラミックからなる積層セラミックコンデンサであ
る。このうちコンデンサ本体114は、略直方形状
(3.2×1.6×0.8mm)であり、配線基板10
0の主面100A側を向きコンデンサ上面113uであ
る上面114u、下面110B側を向きコンデンサ下面
113dである下面114d、及び4つの側面114S
(114S1,114S2,114S3,114S4)
を有している(図2参照)。その内部には、一方の電極
層114aと他方の電極層114bとが、セラミック高
誘電体層114cを介して交互に、上面114uに平行
に(側面114Sに垂直に)、従って、主面100Aに
平行に多数積層されている。これらの電極層114a,
114bはNiからなる。各電極層114a,114b
の一部が、図13(c)に示したコンデンサと同様に、
それぞれ第1側面114S1及び第3側面114S3に
引き出されて、Cuからなる側面端子115に接続して
いる。具体的には一方の電極層114aが一方の側面端
子115aに、他方の電極層114bが他方の側面端子
115bに接続している。
5下方の拡大図に示すように、BaTiO3系の高誘電
体セラミックからなる積層セラミックコンデンサであ
る。このうちコンデンサ本体114は、略直方形状
(3.2×1.6×0.8mm)であり、配線基板10
0の主面100A側を向きコンデンサ上面113uであ
る上面114u、下面110B側を向きコンデンサ下面
113dである下面114d、及び4つの側面114S
(114S1,114S2,114S3,114S4)
を有している(図2参照)。その内部には、一方の電極
層114aと他方の電極層114bとが、セラミック高
誘電体層114cを介して交互に、上面114uに平行
に(側面114Sに垂直に)、従って、主面100Aに
平行に多数積層されている。これらの電極層114a,
114bはNiからなる。各電極層114a,114b
の一部が、図13(c)に示したコンデンサと同様に、
それぞれ第1側面114S1及び第3側面114S3に
引き出されて、Cuからなる側面端子115に接続して
いる。具体的には一方の電極層114aが一方の側面端
子115aに、他方の電極層114bが他方の側面端子
115bに接続している。
【0035】側面端子115a,115bは、それぞれ
上面114uに上面部115au,115buを、下面
114dに下面部115ad,115bdをそれぞれ有
している。従って、側面端子115a,115bは、こ
の上面部115au,115buから上面114uの周
縁を越えて、側面114Sを上面114u(つまり主面
100A側)から下面114d(つまり裏面100B
側)に向かって延び、さらに、下面114dの周縁を越
えて下面部115ad,115bdに接続している。な
お、本実施形態では、上面部115au,115bu
は、コア基板本体の上面111Aよりも突出している。
また、下面部115ad,115bdは、コア基板本体
の下面111Bよりも引き下がっているが、これに形成
された下面バンプ117a,117bが下面111Bよ
りも突出している。
上面114uに上面部115au,115buを、下面
114dに下面部115ad,115bdをそれぞれ有
している。従って、側面端子115a,115bは、こ
の上面部115au,115buから上面114uの周
縁を越えて、側面114Sを上面114u(つまり主面
100A側)から下面114d(つまり裏面100B
側)に向かって延び、さらに、下面114dの周縁を越
えて下面部115ad,115bdに接続している。な
お、本実施形態では、上面部115au,115bu
は、コア基板本体の上面111Aよりも突出している。
また、下面部115ad,115bdは、コア基板本体
の下面111Bよりも引き下がっているが、これに形成
された下面バンプ117a,117bが下面111Bよ
りも突出している。
【0036】本実施形態のチップコンデンサ113で
は、第1側面114S1とこれに対向する第3側面11
4S3に、それぞれ4つの側面端子115が形成されて
おり、第2側面114S2及び第4側面114S4には
側面端子115は形成されていない。また、図2に示す
ように、1つのチップコンデンサ113について、第1
側面114S1から時計回りに第2側面114S2、第
3側面114S3、第4側面114S4の順に見ると、
側面端子115a,115bは交互に並んで配置されて
いる。つまり、後述するように、電極層114a,11
4bをのいずれか一方を+の電源電位(図2に「+」で
示す)に、他方を接地電位(図2に「G」で示す)にす
ると、「+」で示す電源電位に接続する側面端子115
aと、「G」で示す接地電位に接続する側面端子115
bとが交互に並ぶ構造とされている。
は、第1側面114S1とこれに対向する第3側面11
4S3に、それぞれ4つの側面端子115が形成されて
おり、第2側面114S2及び第4側面114S4には
側面端子115は形成されていない。また、図2に示す
ように、1つのチップコンデンサ113について、第1
側面114S1から時計回りに第2側面114S2、第
3側面114S3、第4側面114S4の順に見ると、
側面端子115a,115bは交互に並んで配置されて
いる。つまり、後述するように、電極層114a,11
4bをのいずれか一方を+の電源電位(図2に「+」で
示す)に、他方を接地電位(図2に「G」で示す)にす
ると、「+」で示す電源電位に接続する側面端子115
aと、「G」で示す接地電位に接続する側面端子115
bとが交互に並ぶ構造とされている。
【0037】さらに、チップコンデンサ113は、図2
及び図3に示すように、隣り合うチップコンデンサ11
3の第1側面114S1と第3側面113S3同士、及
び第2側面114S2と第4側面114S4同士が対向
するように、主面100Aから見て、縦横格子状に配置
されている。このため、電源電位と接地電位とを各チッ
プコンデンサ113への接続を考慮することにより、図
2に示すように、隣り合って対向する側面端子115同
士を、別の電位にする、つまり一方の側面端子115a
を電源電位に、他方の側面端子115bを接地電位にす
ることができる。
及び図3に示すように、隣り合うチップコンデンサ11
3の第1側面114S1と第3側面113S3同士、及
び第2側面114S2と第4側面114S4同士が対向
するように、主面100Aから見て、縦横格子状に配置
されている。このため、電源電位と接地電位とを各チッ
プコンデンサ113への接続を考慮することにより、図
2に示すように、隣り合って対向する側面端子115同
士を、別の電位にする、つまり一方の側面端子115a
を電源電位に、他方の側面端子115bを接地電位にす
ることができる。
【0038】ところで、このチップコンデンサ113に
ついて充放電させると、前記したように、側面端子11
5に電流が流れる(図1及び図3参照)。この電流によ
って、側面114S1などを上下方向に延びる側面端子
115には、自己インダクタンスが発生する。なお、図
中の矢印は電流の方向を示す。1つのチップコンデンサ
113についてみると、隣の側面端子115との関係で
は、接続される電位が異なるので、充放電の際に流れる
電流の向きが逆になる。従って、両者の結合によって発
生する相互インダクタンスの分だけ、自己インダクタン
スを減少させることができる。
ついて充放電させると、前記したように、側面端子11
5に電流が流れる(図1及び図3参照)。この電流によ
って、側面114S1などを上下方向に延びる側面端子
115には、自己インダクタンスが発生する。なお、図
中の矢印は電流の方向を示す。1つのチップコンデンサ
113についてみると、隣の側面端子115との関係で
は、接続される電位が異なるので、充放電の際に流れる
電流の向きが逆になる。従って、両者の結合によって発
生する相互インダクタンスの分だけ、自己インダクタン
スを減少させることができる。
【0039】しかも、隣り合ったチップコンデンサ11
3同士についてみると、隣り合って対向する側面端子1
15同士の関係でも、接続される電位が異なるので、充
放電の際に流れる電流の向きが逆になる。従って、両者
の結合によって発生する相互インダクタンスの分だけ、
自己インダクタンスを減少させることができる。本実施
形態では、チップコンデンサ113を縦横格子状に配置
している。このため、対向する第1側面114S1と隣
のコンデンサの第3側面114S3の側面端子同士につ
いて、さらには、対向して隣り合う側面端子115のい
ずれについても、上記のようにインダクタンスを抑制す
ることができるので、全体としてさらにインダクタンス
を低下させることができる
3同士についてみると、隣り合って対向する側面端子1
15同士の関係でも、接続される電位が異なるので、充
放電の際に流れる電流の向きが逆になる。従って、両者
の結合によって発生する相互インダクタンスの分だけ、
自己インダクタンスを減少させることができる。本実施
形態では、チップコンデンサ113を縦横格子状に配置
している。このため、対向する第1側面114S1と隣
のコンデンサの第3側面114S3の側面端子同士につ
いて、さらには、対向して隣り合う側面端子115のい
ずれについても、上記のようにインダクタンスを抑制す
ることができるので、全体としてさらにインダクタンス
を低下させることができる
【0040】その上、本実施形態では、図2に示すよう
に、チップコンデンサ113内で隣り合う側面端子11
5同士の間隔(ピッチ)P1=0.8mmよりも、隣り
合うチップコンデンサ113同士の隣り合って対向する
側面端子115同士の間隔(ピッチ)P2=0.4mm
の方が小さくされている。このため、隣り合って対向す
る側面端子115同士の結合が大きくなり、インダクタ
ンスをより小さくすることができる。なお、上記したよ
うに、チップコンデンサ113同士の間には絶縁樹脂体
116が充填されて介在しているので、側面端子115
同士の絶縁は保たれている。
に、チップコンデンサ113内で隣り合う側面端子11
5同士の間隔(ピッチ)P1=0.8mmよりも、隣り
合うチップコンデンサ113同士の隣り合って対向する
側面端子115同士の間隔(ピッチ)P2=0.4mm
の方が小さくされている。このため、隣り合って対向す
る側面端子115同士の結合が大きくなり、インダクタ
ンスをより小さくすることができる。なお、上記したよ
うに、チップコンデンサ113同士の間には絶縁樹脂体
116が充填されて介在しているので、側面端子115
同士の絶縁は保たれている。
【0041】次いで、本実施形態の配線基板100の製
造方法について説明する。まず、コア基板110の製造
方法について説明する。まず、図4(a)に示すよう
に、31×31mmの矩形状で厚さ1.0mmのガラス
−エポキシ樹脂複合材料からなり、主面111Aと下面
111Bとの間を貫通する7.5×8.0mmの大きな
略矩形状のコンデンサ用貫通孔111CH、及びその周
囲に形成された多数のスルーホール用貫通孔111Hと
を有するコア基板本体111を用意する。これらの貫通
孔111CH,111Hは、例えば、ドリル、ルータ、
レーザ等によって穿孔する。
造方法について説明する。まず、コア基板110の製造
方法について説明する。まず、図4(a)に示すよう
に、31×31mmの矩形状で厚さ1.0mmのガラス
−エポキシ樹脂複合材料からなり、主面111Aと下面
111Bとの間を貫通する7.5×8.0mmの大きな
略矩形状のコンデンサ用貫通孔111CH、及びその周
囲に形成された多数のスルーホール用貫通孔111Hと
を有するコア基板本体111を用意する。これらの貫通
孔111CH,111Hは、例えば、ドリル、ルータ、
レーザ等によって穿孔する。
【0042】次いで、図4(b)に示すように、コア基
板本体111の上面111Aに粘着テープTPを貼り付
け、下面111Bを上にした状態で、平面台PLの平坦
な上面PLA上に載置する。その後、図示しないチップ
マウンタを用いて、チップコンデンサ113をその上面
113u(114u)を下向きにして、コンデンサ用貫
通孔111CH内に所定の間隔で配置する。チップコン
デンサ113は、粘着テープTPに粘着されるので、次
工程でチップコンデンサ113の位置がずれることが防
止される。なお、コア基板本体111の厚さよりもチッ
プコンデンサ113の高さが低いので、チップコンデン
サ113は、裏面111Bよりも低位に位置することに
なる。
板本体111の上面111Aに粘着テープTPを貼り付
け、下面111Bを上にした状態で、平面台PLの平坦
な上面PLA上に載置する。その後、図示しないチップ
マウンタを用いて、チップコンデンサ113をその上面
113u(114u)を下向きにして、コンデンサ用貫
通孔111CH内に所定の間隔で配置する。チップコン
デンサ113は、粘着テープTPに粘着されるので、次
工程でチップコンデンサ113の位置がずれることが防
止される。なお、コア基板本体111の厚さよりもチッ
プコンデンサ113の高さが低いので、チップコンデン
サ113は、裏面111Bよりも低位に位置することに
なる。
【0043】その後、流動性の良好な熱硬化性のエポキ
シ樹脂をコンデンサ用貫通孔111CH内に充填し、加
熱(100〜120℃、1〜3時間程)して硬化させる
と、エポキシ樹脂からなる絶縁樹脂体116を介してコ
ア基板本体111とチップコンデンサ113、及び、チ
ップコンデンサ113同士が固着される。その後、粘着
テープTPを剥がし、裏面111B側をベルトサンダに
よって研磨し余分な絶縁樹脂体116を除去する。な
お、チップコンデンサ113の側面端子115の上面部
115au,115buを確実に露出させるため、必要
に応じて、上面111A側も若干研磨しても良い。
シ樹脂をコンデンサ用貫通孔111CH内に充填し、加
熱(100〜120℃、1〜3時間程)して硬化させる
と、エポキシ樹脂からなる絶縁樹脂体116を介してコ
ア基板本体111とチップコンデンサ113、及び、チ
ップコンデンサ113同士が固着される。その後、粘着
テープTPを剥がし、裏面111B側をベルトサンダに
よって研磨し余分な絶縁樹脂体116を除去する。な
お、チップコンデンサ113の側面端子115の上面部
115au,115buを確実に露出させるため、必要
に応じて、上面111A側も若干研磨しても良い。
【0044】その後、図5に示すように、下面111B
側から側面端子115の下面部115ad,115bd
上の絶縁樹脂体116に貫通孔116Hを、例えばレー
ザ加工によって穿孔する。その後、公知の無電解Cuメ
ッキ、電解Cuメッキ及びエッチングによって、この貫
通孔116H内から下面111Bよりも突出する下面バ
ンプ117a,117bを形成し、上面部115au,
115buの厚さを厚くして上面111Aから突出さ
せ、スルーホール用貫通孔111H内にスルーホール導
体112を形成し、上面111A及び下面111Bに必
要な配線層を形成して、コア基板111を形成する。な
お、図5上部の拡大図bに示すように、スルーホール導
体112としては、スルーホール用貫通孔111Hの内
周に内周スルーホール導体112THを形成するほか、
その中心部に充填樹脂112Rを充填し、さらに蓋状導
体層112Cを形成した。
側から側面端子115の下面部115ad,115bd
上の絶縁樹脂体116に貫通孔116Hを、例えばレー
ザ加工によって穿孔する。その後、公知の無電解Cuメ
ッキ、電解Cuメッキ及びエッチングによって、この貫
通孔116H内から下面111Bよりも突出する下面バ
ンプ117a,117bを形成し、上面部115au,
115buの厚さを厚くして上面111Aから突出さ
せ、スルーホール用貫通孔111H内にスルーホール導
体112を形成し、上面111A及び下面111Bに必
要な配線層を形成して、コア基板111を形成する。な
お、図5上部の拡大図bに示すように、スルーホール導
体112としては、スルーホール用貫通孔111Hの内
周に内周スルーホール導体112THを形成するほか、
その中心部に充填樹脂112Rを充填し、さらに蓋状導
体層112Cを形成した。
【0045】その後、公知のビルドアップ配線基板の形
成手法によって、各樹脂絶縁層121〜125,141
〜145を形成すると共に、各層間には、第1ベタ導体
層126、第2ベタ導体層127、配線層128,12
9、変換配線146,147を形成し、また各樹脂絶縁
層を貫通するビア導体130,131,132,13
3,151,152,153,154を形成して配線基
板100を完成する。この配線基板100は、上記のよ
うにチップコンデンサ113を多数内蔵しているため、
ノイズを確実に除去できる上、複数のチップコンデンサ
113を並列に接続しているので、内蔵するコンデンサ
全体としてのインダクタンスも低減させることができ
る。しかも、各チップコンデンサ113について見る
と、隣り合って対向する側面端子115同士の極性が異
なり、流れる電流の向きが逆向きになる。このため、イ
ンダクタンスをさらに減少させることができ、より一
層、低インダクタンスでICチップCHとコンデンサ1
13とを接続することができる。
成手法によって、各樹脂絶縁層121〜125,141
〜145を形成すると共に、各層間には、第1ベタ導体
層126、第2ベタ導体層127、配線層128,12
9、変換配線146,147を形成し、また各樹脂絶縁
層を貫通するビア導体130,131,132,13
3,151,152,153,154を形成して配線基
板100を完成する。この配線基板100は、上記のよ
うにチップコンデンサ113を多数内蔵しているため、
ノイズを確実に除去できる上、複数のチップコンデンサ
113を並列に接続しているので、内蔵するコンデンサ
全体としてのインダクタンスも低減させることができ
る。しかも、各チップコンデンサ113について見る
と、隣り合って対向する側面端子115同士の極性が異
なり、流れる電流の向きが逆向きになる。このため、イ
ンダクタンスをさらに減少させることができ、より一
層、低インダクタンスでICチップCHとコンデンサ1
13とを接続することができる。
【0046】また、チップコンデンサ113の側面端子
115には、上面部115au,115buを形成して
いるので、コア基板110の上面110Aに積層した樹
脂絶縁層121に形成したビア導体130,131と側
面端子115(115a,115b)との接続が容易に
なる。一方、側面端子115には、下面部115ad,
115bdを形成し、さらに下面バンプ117a,11
7bを形成しているので、コア基板110の下面110
Bに積層した樹脂絶縁層121に形成したビア導体14
8,149と側面端子115(115a,115b)と
の接続も容易になる。
115には、上面部115au,115buを形成して
いるので、コア基板110の上面110Aに積層した樹
脂絶縁層121に形成したビア導体130,131と側
面端子115(115a,115b)との接続が容易に
なる。一方、側面端子115には、下面部115ad,
115bdを形成し、さらに下面バンプ117a,11
7bを形成しているので、コア基板110の下面110
Bに積層した樹脂絶縁層121に形成したビア導体14
8,149と側面端子115(115a,115b)と
の接続も容易になる。
【0047】(変形形態1)上記実施形態1では、コア
基板本体111に内蔵させたチップコンデンサ113の
うち、下面部115ad,115bdは、下面111B
よりも引き下がっており、バンプ117a,117bの
部分を除いて、その上部を絶縁樹脂体116で覆われて
いた。しかし、側面端子の上面部がコア基板本体の上面
から突出している他、下面部もコア基板本体の下面から
突出するように形成することもできる。
基板本体111に内蔵させたチップコンデンサ113の
うち、下面部115ad,115bdは、下面111B
よりも引き下がっており、バンプ117a,117bの
部分を除いて、その上部を絶縁樹脂体116で覆われて
いた。しかし、側面端子の上面部がコア基板本体の上面
から突出している他、下面部もコア基板本体の下面から
突出するように形成することもできる。
【0048】本変形形態1のコア基板210は、図6
(a)に示すように、コンデンサ用貫通孔211CH内
に内蔵されたチップコンデンサ213のうち、側面端子
215a,215bの上面部215au,215buが
厚くされて、コア基板本体211の上面211Aより突
出している。また、下面部215ad,215bdも厚
くされており、コア基板本体211の下面211Bより
突出している。従って、実施形態1のように、バンプ1
17a,117bを形成する必要がない。このようなコ
ア基板210を用いても、同様にして配線基板200
(図7参照)を形成することができる。即ち、この配線
基板200は、実施形態1の配線基板100におけるコ
ア基板110に代えて、コア基板210を用い、実施形
態1と同様、その上下に樹脂絶縁層121〜125、1
41〜145、第1ベタ導体層126、第2ベタ導体層
127等を形成してなる配線基板である。なお、チップ
コンデンサ213は実施形態1のチップコンデンサ11
3と同様の構造を有し、実施形態1と同様、コンデンサ
用貫通孔211CH内に縦横格子状に配置されている
(図5の拡大図、図2、図3参照)。
(a)に示すように、コンデンサ用貫通孔211CH内
に内蔵されたチップコンデンサ213のうち、側面端子
215a,215bの上面部215au,215buが
厚くされて、コア基板本体211の上面211Aより突
出している。また、下面部215ad,215bdも厚
くされており、コア基板本体211の下面211Bより
突出している。従って、実施形態1のように、バンプ1
17a,117bを形成する必要がない。このようなコ
ア基板210を用いても、同様にして配線基板200
(図7参照)を形成することができる。即ち、この配線
基板200は、実施形態1の配線基板100におけるコ
ア基板110に代えて、コア基板210を用い、実施形
態1と同様、その上下に樹脂絶縁層121〜125、1
41〜145、第1ベタ導体層126、第2ベタ導体層
127等を形成してなる配線基板である。なお、チップ
コンデンサ213は実施形態1のチップコンデンサ11
3と同様の構造を有し、実施形態1と同様、コンデンサ
用貫通孔211CH内に縦横格子状に配置されている
(図5の拡大図、図2、図3参照)。
【0049】この配線基板200においても、隣り合う
チップコンデンサ213の対向して隣り合う側面端子2
15(215a,215b)を流れる電流の向きが互い
に逆向きとなるので、側面端子215に発生するインダ
クタンスを低下させることができる。
チップコンデンサ213の対向して隣り合う側面端子2
15(215a,215b)を流れる電流の向きが互い
に逆向きとなるので、側面端子215に発生するインダ
クタンスを低下させることができる。
【0050】なお、この配線基板200に使用するコア
基板210は、図6(b)に示すように、実施形態1の
コア基板本体111よりもやや厚さの薄いコア基板本体
211を用いて、そのコンデンサ用貫通孔211CH内
にチップコンデンサ213を配置し、絶縁樹脂体216
を充填し固定した後、その上下面211A,211Bを
研磨してチップコンデンサ213の上面部215au,
215bu及び下面部215ad,215bdを露出さ
せる。その後、無電解Cuメッキ、電解Cuメッキ及び
エッチングにより、スルーホール用貫通孔211H内に
スルーホール導体212を形成すると共に、上面部21
5au,215bu及び下面部215ad,215bd
の厚さを増やすことで、図6(a)に示すコア基板21
0を形成する。
基板210は、図6(b)に示すように、実施形態1の
コア基板本体111よりもやや厚さの薄いコア基板本体
211を用いて、そのコンデンサ用貫通孔211CH内
にチップコンデンサ213を配置し、絶縁樹脂体216
を充填し固定した後、その上下面211A,211Bを
研磨してチップコンデンサ213の上面部215au,
215bu及び下面部215ad,215bdを露出さ
せる。その後、無電解Cuメッキ、電解Cuメッキ及び
エッチングにより、スルーホール用貫通孔211H内に
スルーホール導体212を形成すると共に、上面部21
5au,215bu及び下面部215ad,215bd
の厚さを増やすことで、図6(a)に示すコア基板21
0を形成する。
【0051】その後は、実施形態1と同様、公知のビル
ドアップ配線基板の形成手法に従って配線基板200を
形成すればよい。実施形態1と同様、側面端子215に
は、上面部215au,215buを形成しているの
で、主面200A側に側面端子215(コンデンサ21
3)の電位を引き出すのに、接続が容易となり都合がよ
い。また、下面部215ad,215bdを形成してい
るので、裏面200B側に側面端子215(コンデンサ
213)の電位を引き出すのにも都合がよい。
ドアップ配線基板の形成手法に従って配線基板200を
形成すればよい。実施形態1と同様、側面端子215に
は、上面部215au,215buを形成しているの
で、主面200A側に側面端子215(コンデンサ21
3)の電位を引き出すのに、接続が容易となり都合がよ
い。また、下面部215ad,215bdを形成してい
るので、裏面200B側に側面端子215(コンデンサ
213)の電位を引き出すのにも都合がよい。
【0052】(変形形態2)上記実施形態1及び変形形
態1においては、コア基板110,210に用いるコア
基板本体111,211として、ガラス−エポキシ樹脂
複合材料からなる1層のコア絶縁層からなるものを用い
た。しかし、コア基板本体としては、複数のコア絶縁層
を積層したものでも良い。例えば、図8に示す配線基板
500では、コア基板510は、コア基板本体511と
これを貫通するスルーホール導体512とを備える。し
かも、このコア基板本体511は、ガラス−エポキシ樹
脂複合材料からなるコア絶縁層513のほか、この主面
500A側及び裏面500B側に積層されたエポキシ樹
脂からなるコア絶縁層514,515を有する合計3層
のコア絶縁層を含み、さらにコア絶縁層513と514
との間には導体層516が、コア絶縁層513と515
との間には、導体層517が形成されている。なお、本
変形形態2では、導体層516,517は、図中左方に
示すように、スルーホール導体512を経由して電源電
位あるいは接地電位に接続されている。
態1においては、コア基板110,210に用いるコア
基板本体111,211として、ガラス−エポキシ樹脂
複合材料からなる1層のコア絶縁層からなるものを用い
た。しかし、コア基板本体としては、複数のコア絶縁層
を積層したものでも良い。例えば、図8に示す配線基板
500では、コア基板510は、コア基板本体511と
これを貫通するスルーホール導体512とを備える。し
かも、このコア基板本体511は、ガラス−エポキシ樹
脂複合材料からなるコア絶縁層513のほか、この主面
500A側及び裏面500B側に積層されたエポキシ樹
脂からなるコア絶縁層514,515を有する合計3層
のコア絶縁層を含み、さらにコア絶縁層513と514
との間には導体層516が、コア絶縁層513と515
との間には、導体層517が形成されている。なお、本
変形形態2では、導体層516,517は、図中左方に
示すように、スルーホール導体512を経由して電源電
位あるいは接地電位に接続されている。
【0053】なお、実施形態1及び変形形態1と同様、
コア基板本体511には、これを貫通する大きな略矩形
状のコンデンサ用貫通孔511CHが穿孔され、その内
部には、実施形態1と同様にして、チップコンデンサ1
13が内蔵されている。上記コア基板510及び配線基
板500は、導体層516,517に相当する導体パタ
ーンを形成したコア絶縁層513に公知のビルドアップ
手法によってコア絶縁層514,515を積層し、次い
で、スルーホール用貫通孔511H及びコンデンサ用貫
通孔511CHを形成する。その後は、前記した実施形
態1と同様の手法で形成すればよい。このように複数の
コア絶縁層を含むコア基板本体を用いても、同様にチッ
プコンデンサを内蔵する配線基板を構成することができ
る。なお、複数のコア絶縁層を含むコア基板本体として
は、導体層516,517を含まないものとしても良
い。また、上記したコア絶縁層513と他のコア絶縁層
514,515のように、コア絶縁層の材質を異ならせ
ても良いが、複数のコア絶縁層のいずれもが同種材料か
らなるコア基板本体を用いることもできる。また、図8
に示すように、コア絶縁層513は、他のコア絶縁層5
14,515よりも厚くしたが、複数のコア絶縁層のい
ずれもがほぼ同じ厚さで有るコア基板本体を用いること
もできる。
コア基板本体511には、これを貫通する大きな略矩形
状のコンデンサ用貫通孔511CHが穿孔され、その内
部には、実施形態1と同様にして、チップコンデンサ1
13が内蔵されている。上記コア基板510及び配線基
板500は、導体層516,517に相当する導体パタ
ーンを形成したコア絶縁層513に公知のビルドアップ
手法によってコア絶縁層514,515を積層し、次い
で、スルーホール用貫通孔511H及びコンデンサ用貫
通孔511CHを形成する。その後は、前記した実施形
態1と同様の手法で形成すればよい。このように複数の
コア絶縁層を含むコア基板本体を用いても、同様にチッ
プコンデンサを内蔵する配線基板を構成することができ
る。なお、複数のコア絶縁層を含むコア基板本体として
は、導体層516,517を含まないものとしても良
い。また、上記したコア絶縁層513と他のコア絶縁層
514,515のように、コア絶縁層の材質を異ならせ
ても良いが、複数のコア絶縁層のいずれもが同種材料か
らなるコア基板本体を用いることもできる。また、図8
に示すように、コア絶縁層513は、他のコア絶縁層5
14,515よりも厚くしたが、複数のコア絶縁層のい
ずれもがほぼ同じ厚さで有るコア基板本体を用いること
もできる。
【0054】(実施形態2)上記実施形態1及び変形形
態1,2では、配線基板100,200の主面100
A,200A側及び裏面100B,200B側のいずれ
からも、チップコンデンサ113,213の側面端子1
15,215に接続できる構造としていた。しかし、主
面側でのみチップコンデンサと接続するように配線基板
を構成することもできる。
態1,2では、配線基板100,200の主面100
A,200A側及び裏面100B,200B側のいずれ
からも、チップコンデンサ113,213の側面端子1
15,215に接続できる構造としていた。しかし、主
面側でのみチップコンデンサと接続するように配線基板
を構成することもできる。
【0055】即ち、本実施形態の配線基板300で使用
するコア基板310は、図9に示すように、コア基板本
体311のコンデンサ用貫通孔311CH内に多数のチ
ップコンデンサ313を内蔵し、その側面端子315
(315a,315b)は、その上面部315au,3
15buがコア基板本体311の上面311Aより突出
している。しかし、下面311B側は、コンデンサの下
面313d、及び側面端子315の下面部315ad,
315bdが絶縁樹脂体316で覆われており、下面3
11B側からチップコンデンサ313(側面端子31
5)に接続することができない構造となっている。
するコア基板310は、図9に示すように、コア基板本
体311のコンデンサ用貫通孔311CH内に多数のチ
ップコンデンサ313を内蔵し、その側面端子315
(315a,315b)は、その上面部315au,3
15buがコア基板本体311の上面311Aより突出
している。しかし、下面311B側は、コンデンサの下
面313d、及び側面端子315の下面部315ad,
315bdが絶縁樹脂体316で覆われており、下面3
11B側からチップコンデンサ313(側面端子31
5)に接続することができない構造となっている。
【0056】なお、コンデンサ用貫通孔311CHの周
囲には、実施形態1のコア基板110(図5参照)と同
様に、スルーホール導体312を有するほか、次述する
ように、電源電位や接地電位をコア基板310の上下に
通すためのスルーホール導体318,319も形成され
ている。また、チップコンデンサ313は実施形態1の
チップコンデンサ113と同様の構造を有し、実施形態
1と同様にコンデンサ用貫通孔311CH内に縦横格子
状に配置されている(図5の拡大図、図2、図3参
照)。
囲には、実施形態1のコア基板110(図5参照)と同
様に、スルーホール導体312を有するほか、次述する
ように、電源電位や接地電位をコア基板310の上下に
通すためのスルーホール導体318,319も形成され
ている。また、チップコンデンサ313は実施形態1の
チップコンデンサ113と同様の構造を有し、実施形態
1と同様にコンデンサ用貫通孔311CH内に縦横格子
状に配置されている(図5の拡大図、図2、図3参
照)。
【0057】このようなコア基板310を用いた配線基
板300の断面図を図10に示す。この配線基板300
は、実施形態1の配線基板100とほぼ同様な構造を有
している。即ち、チップコンデンサ313を多数内蔵し
たコア基板310と、その上下に積層された樹脂絶縁層
321〜325、341〜345をそれぞれ有する。配
線基板300の主面300Aの中央部には、バンプ33
4が多数形成され、破線で示すICチップCHの下面C
HAの接続端子CHTと接続可能とされている。また、
裏面300Bの略全面にはパッド354が多数形成さ
れ、破線で示す他の配線基板WBに形成された接続端子
WBTと図示しないハンダボールなどによりそれぞれ接
続可能である。
板300の断面図を図10に示す。この配線基板300
は、実施形態1の配線基板100とほぼ同様な構造を有
している。即ち、チップコンデンサ313を多数内蔵し
たコア基板310と、その上下に積層された樹脂絶縁層
321〜325、341〜345をそれぞれ有する。配
線基板300の主面300Aの中央部には、バンプ33
4が多数形成され、破線で示すICチップCHの下面C
HAの接続端子CHTと接続可能とされている。また、
裏面300Bの略全面にはパッド354が多数形成さ
れ、破線で示す他の配線基板WBに形成された接続端子
WBTと図示しないハンダボールなどによりそれぞれ接
続可能である。
【0058】バンプ334の一部は配線層328,32
9によって、それぞれ周縁側にファンアウトして、ビア
導体333、スルーホール導体312、ビア導体353
を通じて裏面300Bに形成されたパッド354に接続
している。これらは例えば、信号用配線として使用され
る。
9によって、それぞれ周縁側にファンアウトして、ビア
導体333、スルーホール導体312、ビア導体353
を通じて裏面300Bに形成されたパッド354に接続
している。これらは例えば、信号用配線として使用され
る。
【0059】バンプ334のうち残りは、ビア導体33
2によって、略平板状の第1ベタ導体層326あるいは
第2ベタ導体層327に接続する。なお、次述するよう
に、第1ベタ導体層326は+の電源電位(共通第1電
位)に、第2ベタ導体層327は接地電位(共通第2電
位)に接続される。さらに、第1ベタ導体層326はビ
ア導体330により、チップコンデンサ313の一方の
側面端子(第1電位側面端子)315aに接続し、第2
ベタ導体層327はビア導体331により、チップコン
デンサ313の他方の側面端子(第2電位側面端子)3
15bに接続する。これによって、ICチップCH搭載
時には、コンデンサ313とICチップCHとが極めて
近い距離で接続され、また電源電位及び接地電位が供給
される。なお、上記したように、実施形態1の配線基板
100と異なり、チップコンデンサ313の側面端子3
15は直接裏面300B側に引き出されることがない。
2によって、略平板状の第1ベタ導体層326あるいは
第2ベタ導体層327に接続する。なお、次述するよう
に、第1ベタ導体層326は+の電源電位(共通第1電
位)に、第2ベタ導体層327は接地電位(共通第2電
位)に接続される。さらに、第1ベタ導体層326はビ
ア導体330により、チップコンデンサ313の一方の
側面端子(第1電位側面端子)315aに接続し、第2
ベタ導体層327はビア導体331により、チップコン
デンサ313の他方の側面端子(第2電位側面端子)3
15bに接続する。これによって、ICチップCH搭載
時には、コンデンサ313とICチップCHとが極めて
近い距離で接続され、また電源電位及び接地電位が供給
される。なお、上記したように、実施形態1の配線基板
100と異なり、チップコンデンサ313の側面端子3
15は直接裏面300B側に引き出されることがない。
【0060】そこで、さらに第1ベタ導体層326から
は、ビア導体335、コア基板本体311内のスルーホ
ール導体318、及びビア導体348を介して、変換配
線346に接続する経路が設けられている。同様に、第
2ベタ導体層327からは、ビア導体336、コア基板
本体311内のスルーホール導体319、及びビア導体
349を介して、変換配線347に接続する経路も設け
られている。その後は、実施形態1の配線基板100と
同様に、変換配線346,347によって、配置を調整
した上、樹脂絶縁層342〜345を貫通するビア導体
351,352によって各パッド354に接続する。
は、ビア導体335、コア基板本体311内のスルーホ
ール導体318、及びビア導体348を介して、変換配
線346に接続する経路が設けられている。同様に、第
2ベタ導体層327からは、ビア導体336、コア基板
本体311内のスルーホール導体319、及びビア導体
349を介して、変換配線347に接続する経路も設け
られている。その後は、実施形態1の配線基板100と
同様に、変換配線346,347によって、配置を調整
した上、樹脂絶縁層342〜345を貫通するビア導体
351,352によって各パッド354に接続する。
【0061】このパッド354を通じて、第1ベタ導体
層326及び一方の側面端子315a(及びそれにつな
がる一方の電極層)が+の電源電位になり、第2ベタ導
体層327及び他方の側面端子315b(及びそれにつ
ながる他方の電極層)が接地電位となるように、配線基
板WBから給電される。従って、この配線基板300を
用いれば、電源配線に重畳されたノイズは、各チップコ
ンデンサ313によって吸収しつつ、ごく短いビア導体
332等でICチップCHに、給電することができる。
層326及び一方の側面端子315a(及びそれにつな
がる一方の電極層)が+の電源電位になり、第2ベタ導
体層327及び他方の側面端子315b(及びそれにつ
ながる他方の電極層)が接地電位となるように、配線基
板WBから給電される。従って、この配線基板300を
用いれば、電源配線に重畳されたノイズは、各チップコ
ンデンサ313によって吸収しつつ、ごく短いビア導体
332等でICチップCHに、給電することができる。
【0062】しかも、この配線基板300においても、
例えばチップコンデンサ313に充電した場合には、そ
の側面端子315に図10に矢印で示した方向の電流が
流れる。なお、放電の場合にはこの逆になることは言う
までもない。従って、隣り合うチップコンデンサ313
の対向して隣り合う側面端子315には互いに逆向きの
電流が流れる構造となっているので、側面端子315で
生じるインダクタンスをより低減することができる。な
お、実施形態1と同様、側面端子315には、上面部3
15au,315buを形成しているので、実施形態1
と同様、主面300A側に側面端子315(コンデンサ
313)の電位を引き出すのに接続が容易となり都合が
よい。
例えばチップコンデンサ313に充電した場合には、そ
の側面端子315に図10に矢印で示した方向の電流が
流れる。なお、放電の場合にはこの逆になることは言う
までもない。従って、隣り合うチップコンデンサ313
の対向して隣り合う側面端子315には互いに逆向きの
電流が流れる構造となっているので、側面端子315で
生じるインダクタンスをより低減することができる。な
お、実施形態1と同様、側面端子315には、上面部3
15au,315buを形成しているので、実施形態1
と同様、主面300A側に側面端子315(コンデンサ
313)の電位を引き出すのに接続が容易となり都合が
よい。
【0063】本実施形態の配線基板300に用いるコア
基板310は、実施形態1のコア基板110の製法と同
様に、コア基板本体311のコンデンサ用貫通孔内31
1CHにチップコンデンサ313を配置し、エポキシ樹
脂を充填し硬化させて絶縁樹脂体316とした後、下面
311Bを研磨する(図4(a)参照)。その後、実施
形態1と異なり、貫通孔116Hを穿孔することなく、
メッキにより側面端子315の上面部315au,31
5buの厚さを増加させると共に、スルーホール用貫通
孔311H内にスルーホール導体312,318,31
9を形成して、コア基板310とすればよい。以降は、
公知のビルドアップ配線基板の製法により、配線基板3
00を形成することができる。
基板310は、実施形態1のコア基板110の製法と同
様に、コア基板本体311のコンデンサ用貫通孔内31
1CHにチップコンデンサ313を配置し、エポキシ樹
脂を充填し硬化させて絶縁樹脂体316とした後、下面
311Bを研磨する(図4(a)参照)。その後、実施
形態1と異なり、貫通孔116Hを穿孔することなく、
メッキにより側面端子315の上面部315au,31
5buの厚さを増加させると共に、スルーホール用貫通
孔311H内にスルーホール導体312,318,31
9を形成して、コア基板310とすればよい。以降は、
公知のビルドアップ配線基板の製法により、配線基板3
00を形成することができる。
【0064】以上において、本発明を実施形態及び変形
形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態等に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、
適宜変更して適用できることはいうまでもない。例え
ば、上記実施形態1,2及び変形形態1,2において
は、チップコンデンサの第1側面と第3側面にそれぞれ
同数(実施形態では4つずつ)、側面端子115等が形
成されたコンデンサを用いた。しかし、例えば、図11
に示すチップコンデンサ413のように、第1側面41
3S1と第3側面413S3だけでなく、第2側面41
3S2及び第4側面413S4にも側面端子415(4
15a,415b)を同数(図では2ヶずつ)形成した
ものを用いても良い。この際、隣り合う側面端子415
の電位を、図11に示すように、共通第1電位(例え
ば、「+」で示す電源電位)と共通第2電位(例えば
「G]で示す接地電位)とが交互に現れる配置とする。
このようにしたチップコンデンサ415を用いても、対
向して隣り合う側面端子415同士でインダクタンスを
打ち消し合うので、より低インダクタンスでチップコン
デンサとICチップ等とを接続することができるように
なる。
形態に即して説明したが、本発明は上記実施形態等に限
定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で、
適宜変更して適用できることはいうまでもない。例え
ば、上記実施形態1,2及び変形形態1,2において
は、チップコンデンサの第1側面と第3側面にそれぞれ
同数(実施形態では4つずつ)、側面端子115等が形
成されたコンデンサを用いた。しかし、例えば、図11
に示すチップコンデンサ413のように、第1側面41
3S1と第3側面413S3だけでなく、第2側面41
3S2及び第4側面413S4にも側面端子415(4
15a,415b)を同数(図では2ヶずつ)形成した
ものを用いても良い。この際、隣り合う側面端子415
の電位を、図11に示すように、共通第1電位(例え
ば、「+」で示す電源電位)と共通第2電位(例えば
「G]で示す接地電位)とが交互に現れる配置とする。
このようにしたチップコンデンサ415を用いても、対
向して隣り合う側面端子415同士でインダクタンスを
打ち消し合うので、より低インダクタンスでチップコン
デンサとICチップ等とを接続することができるように
なる。
【0065】さらに、チップコンデンサ413同士を密
集して配置し、1つのチップコンデンサにおいて隣り合
う側面端子415同士の間隔P1,P3よりも、隣り合
うチップコンデンサ413同士の対向する側面端子41
5同士の間隔P2,P4を小さくすると、さらに低イン
ダクタンスにすることができる。また、上記実施形態等
では、いずれもチップコンデンサとして同一形状のもの
を用い、これらを縦横格子状に配置した。しかし、隣り
合うコンデンサの側面端子同士が対向して隣り合ってお
り、それらの極性が異なるように接続されていれば良
い。少なくともこれらの側面端子同士の間ではインダク
タンスの低減を図ることができるからである。
集して配置し、1つのチップコンデンサにおいて隣り合
う側面端子415同士の間隔P1,P3よりも、隣り合
うチップコンデンサ413同士の対向する側面端子41
5同士の間隔P2,P4を小さくすると、さらに低イン
ダクタンスにすることができる。また、上記実施形態等
では、いずれもチップコンデンサとして同一形状のもの
を用い、これらを縦横格子状に配置した。しかし、隣り
合うコンデンサの側面端子同士が対向して隣り合ってお
り、それらの極性が異なるように接続されていれば良
い。少なくともこれらの側面端子同士の間ではインダク
タンスの低減を図ることができるからである。
【0066】また、上記実施形態等では、チップコンデ
ンサ113等をコア基板本体111内に内蔵させたが、
チップコンデンサは配線基板に内蔵されていれば良く、
例えば、コア基板上や樹脂絶縁層上に載置するようにし
ても良い。また、チップコンデンサがコア基板内に収ま
る厚さのコア基板本体を使用するものにも限定されるも
のでもない。さらに、コア基板本体内に内蔵する場合に
も、実施形態等のようにする他、コア基板本体に形成し
た凹部内にチップコンデンサを配置し内蔵しても良い。
ンサ113等をコア基板本体111内に内蔵させたが、
チップコンデンサは配線基板に内蔵されていれば良く、
例えば、コア基板上や樹脂絶縁層上に載置するようにし
ても良い。また、チップコンデンサがコア基板内に収ま
る厚さのコア基板本体を使用するものにも限定されるも
のでもない。さらに、コア基板本体内に内蔵する場合に
も、実施形態等のようにする他、コア基板本体に形成し
た凹部内にチップコンデンサを配置し内蔵しても良い。
【0067】さらに、上記実施形態等では、チップコン
デンサ113等と主面100A等との間に、第1ベタ導
体層126,第2ベタ導体層127などを形成した。こ
のようにすると、一般に側面端子115等の間隔などに
比して、間隔の狭くされているバンプ134との接続が
容易にできるメリットがある。しかし、各バンプ134
のうち所定のバンプとチップコンデンサ113の側面端
子115a,115bとを適切に接続できれば良く、樹
脂絶縁層121〜125の層間に形成した配線層や樹脂
絶縁層121等を貫通するビア導体によって、側面端子
115と各々のバンプ134とを接続するようにしても
良い。また第1ベタ導体層126や第2ベタ導体層12
7として平板状の導体層を形成したが、これらに代えて
格子状(メッシュ状)の導体層を用いることもできる。
また、例えば、樹脂絶縁層121と122の層間やコア
基板本体の主面111A上に縞状(ストライプ状)の導
体層を設け、各縞状導体層が交互に共通第1電位(電源
電位)及び共通第2電位(接地電位)となるように、個
々の縞状導体層と側面端子115a,115bを接続す
る。さらにこの縞状導体層と各バンプ134とを接続す
るという構造にしても良い。
デンサ113等と主面100A等との間に、第1ベタ導
体層126,第2ベタ導体層127などを形成した。こ
のようにすると、一般に側面端子115等の間隔などに
比して、間隔の狭くされているバンプ134との接続が
容易にできるメリットがある。しかし、各バンプ134
のうち所定のバンプとチップコンデンサ113の側面端
子115a,115bとを適切に接続できれば良く、樹
脂絶縁層121〜125の層間に形成した配線層や樹脂
絶縁層121等を貫通するビア導体によって、側面端子
115と各々のバンプ134とを接続するようにしても
良い。また第1ベタ導体層126や第2ベタ導体層12
7として平板状の導体層を形成したが、これらに代えて
格子状(メッシュ状)の導体層を用いることもできる。
また、例えば、樹脂絶縁層121と122の層間やコア
基板本体の主面111A上に縞状(ストライプ状)の導
体層を設け、各縞状導体層が交互に共通第1電位(電源
電位)及び共通第2電位(接地電位)となるように、個
々の縞状導体層と側面端子115a,115bを接続す
る。さらにこの縞状導体層と各バンプ134とを接続す
るという構造にしても良い。
【図1】実施形態1にかかる配線基板の断面図である。
【図2】縦横格子状に配列させたチップコンデンサの各
側面端子の電位を示す説明図である。
側面端子の電位を示す説明図である。
【図3】縦横格子状に配列させたチップコンデンサの様
子及び側面端子を流れる電流の方向を示す斜視説明図で
ある。
子及び側面端子を流れる電流の方向を示す斜視説明図で
ある。
【図4】実施形態1にかかる配線基板の製造方法の説明
図であり、(a)は使用するコア基板本体を示し、
(b)はコア基板本体内にチップコンデンサを配置する
様子を示す。
図であり、(a)は使用するコア基板本体を示し、
(b)はコア基板本体内にチップコンデンサを配置する
様子を示す。
【図5】実施形態1にかかる配線基板の製造方法の断面
説明図であり、コア基板が完成した状態を示す、なお、
上方の円内は、スルーホール部分を拡大して示す説明
図、下方の円内はチップコンデンサ部分を拡大して示す
説明図である。
説明図であり、コア基板が完成した状態を示す、なお、
上方の円内は、スルーホール部分を拡大して示す説明
図、下方の円内はチップコンデンサ部分を拡大して示す
説明図である。
【図6】変形形態1にかかる配線基板に使用するコア基
板の断面を示す説明図であり、(a)はメッキを施して
コア基板が完成した状態、(b)はコア基板を配置し樹
脂を充填を研磨した状態を示す。
板の断面を示す説明図であり、(a)はメッキを施して
コア基板が完成した状態、(b)はコア基板を配置し樹
脂を充填を研磨した状態を示す。
【図7】変形形態1にかかる配線基板の断面図である。
【図8】実施形態2にかかる配線基板の断面図である。
【図9】実施形態2にかかる配線基板に使用するコア基
板の断面図である。
板の断面図である。
【図10】実施形態2にかかる配線基板の断面図であ
る。
る。
【図11】チップコンデンサの他の配列例及び各側面端
子の電位を示すを示す説明図である。
子の電位を示すを示す説明図である。
【図12】基板の主面や裏面にチップコンデンサを搭載
した従来の配線基板を示す説明図である。
した従来の配線基板を示す説明図である。
【図13】チップコンデンサの形状及び構造を示す説明
図であり、(a)は対向する2つの側面からそれぞれの
電極を取り出すタイプ、(b)は側面に多数の端子を形
成して電極を取り出すタイプ、(c)は(b)に示すチ
ップコンデンサの構造を示す。
図であり、(a)は対向する2つの側面からそれぞれの
電極を取り出すタイプ、(b)は側面に多数の端子を形
成して電極を取り出すタイプ、(c)は(b)に示すチ
ップコンデンサの構造を示す。
100,200,300,500 配線基板 100A,200A,300A,500A 主面 100B,200B,300B,500B 裏面 110,210,310,510 コア基板 111,211,311,511 コア基板本体 111,211,311,513,514,515 コ
ア絶縁層 112,212,312,512 スルーホール導体 113,213,313 チップコンデンサ 113u チップコンデンサの上面 115a,215a,315a,415a 側面端子
(第1電位側面端子) 115b,215b,315b,415b 側面端子
(第2電位側面端子) 115au,115bu,215au,215bu,3
15au,315bu上面部 116,216,316 絶縁樹脂体 126,127,326,327 ベタ導体層
ア絶縁層 112,212,312,512 スルーホール導体 113,213,313 チップコンデンサ 113u チップコンデンサの上面 115a,215a,315a,415a 側面端子
(第1電位側面端子) 115b,215b,315b,415b 側面端子
(第2電位側面端子) 115au,115bu,215au,215bu,3
15au,315bu上面部 116,216,316 絶縁樹脂体 126,127,326,327 ベタ導体層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 23/12 E
Claims (9)
- 【請求項1】主面と裏面とを有する配線基板であって、 一方の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電
位にそれぞれ接続される複数のチップコンデンサを内蔵
し、 上記チップコンデンサは、 側面上を上記主面側から上記裏面側に向かって延びる側
面端子を有するチップコンデンサであり、 一の上記チップコンデンサの上記共通第1電位に接続さ
れる上記側面端子と、他の上記チップコンデンサの上記
共通第2電位に接続される上記側面端子とが対向し隣り
合って配置されてなる配線基板。 - 【請求項2】主面と裏面とを有する配線基板であって、 一方の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電
位にそれぞれ接続される複数のチップコンデンサを内蔵
し、 上記チップコンデンサは、 平面状側面と、 上記平面状側面上を上記主面側から上記裏面側に向かっ
て延びる複数の側面端子と、を有し、 上記側面端子は、上記平面状側面に沿う上記主面と平行
な方向に、上記共通第1電位に接続される第1電位側面
端子と上記共通第2電位に接続される第2電位側面端子
とが交互に配置されてなるチップコンデンサであり、 一の上記チップコンデンサの上記平面状側面と他の上記
チップコンデンサの上記平面状側面とが対向して配置さ
れ、 上記一のチップコンデンサと上記他のチップコンデンサ
との間で対向して隣り合う上記側面端子は、それぞれ、
一方が上記第1電位側面端子であり、他方が上記第2電
位側面端子である配線基板。 - 【請求項3】請求項2に記載の配線基板であって、 前記一のチップコンデンサと前記他のチップコンデンサ
との間で対向して隣り合う側面端子同士の間隔を、チッ
プコンデンサ内で隣り合う上記側面端子同士の間隔より
も小さくしてなる配線基板。 - 【請求項4】主面と裏面とを有する配線基板であって、 一方の電極が共通第1電位に、他方の電極が共通第2電
位にそれぞれ接続される複数の同一形状のチップコンデ
ンサを内蔵し、 上記チップコンデンサは、 略直方体状で、 側面上を上記主面側から上記裏面側に向かって延びる側
面端子を有し、 上記側面端子は、4つの上記側面のうち、 第1側面とこれに対向する第3側面とに同数形成され、 上記第1側面に隣接し互いに対向する第2側面と第4側
面とには、形成されないか、同数形成され、 上記第1側面、第2側面、第3側面及び第4側面の順に
巡る周方向に、上記共通第1電位に接続される第1電位
側面端子と上記共通第2電位に接続される第2電位側面
端子とが交互に配置されてなるチップコンデンサであ
り、 上記各チップコンデンサは、隣り合うチップコンデンサ
の上記第1側面と第3側面とが、または第2側面と第4
側面とが対向して隣り合う縦横格子状に配置され、 隣り合うチップコンデンサ間で対向して隣り合う上記側
面端子は、それぞれ、一方が上記第1電位側面端子であ
り、他方が上記第2電位側面端子である配線基板。 - 【請求項5】請求項4に記載の配線基板であって、 前記隣り合うチップコンデンサ間で対向して隣り合う側
面端子同士の間隔を、チップコンデンサ内で隣り合う上
記側面端子同士の間隔よりも小さくしてなる配線基板。 - 【請求項6】請求項1〜請求項5のいずれかに記載の配
線基板であって、 チップコンデンサ同士の間には、絶縁樹脂体を介設して
なる配線基板。 - 【請求項7】請求項1〜請求項6のいずれかに記載の配
線基板であって、 前記チップコンデンサは、誘電体層を介して第1電極層
と第2電極層とが交互に前記主面に平行に積層されたチ
ップ積層セラミックコンデンサである配線基板。 - 【請求項8】請求項1〜請求項7のいずれかに記載の配
線基板であって、 前記側面端子は、前記チップコンデンサのうち前記主面
側を向いた上面の周縁部に上面部を有し、この上面部か
ら上記上面の周縁を越えて前記側面上を前記主面側から
前記裏面側に向かって延びる側面端子である配線基板。 - 【請求項9】主面と裏面とを有する配線基板であって、 1または複数のコア絶縁層からなり、厚さ方向に貫通す
るコンデンサ用貫通孔を備えるコア基板本体、及び上記
コンデンサ用貫通孔に内蔵され、一方の電極が共通第1
電位に、他方の電極が共通第2電位にそれぞれ接続され
る複数の同一形状のチップコンデンサ、 を含むコア基板と、 上記コア基板の上記主面側及び裏面側にそれぞれ少なく
とも1層ずつ積層された樹脂絶縁層と、を備え、 上記チップコンデンサは、 略直方体状で、 側面上を上記主面側から上記裏面側に向かって延びる側
面端子を有し、 上記側面端子は、4つの上記側面のうち、 第1側面とこれに対向する第3側面とに同数形成され、 上記第1側面に隣接し互いに対向する第2側面と第4側
面とには、形成されないか、同数形成され、 上記第1側面、第2側面、第3側面及び第4側面の順に
巡る周方向に、上記共通第1電位に接続される第1電位
側面端子と上記共通第2電位に接続される第2電位側面
端子とが交互に配置されてなるチップコンデンサであ
り、 上記各チップコンデンサは、隣り合うチップコンデンサ
の上記第1側面と第3側面とが、または第2側面と第4
側面とが対向して隣り合う縦横格子状に配置され、 隣り合うチップコンデンサ間で対向して隣り合う上記側
面端子は、それぞれ、一方が上記第1電位側面端子であ
り、他方が上記第2電位側面端子である配線基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001084428A JP2001339009A (ja) | 2000-03-24 | 2001-03-23 | 配線基板 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000-83455 | 2000-03-24 | ||
JP2000083455 | 2000-03-24 | ||
JP2001084428A JP2001339009A (ja) | 2000-03-24 | 2001-03-23 | 配線基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001339009A true JP2001339009A (ja) | 2001-12-07 |
Family
ID=26588232
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001084428A Pending JP2001339009A (ja) | 2000-03-24 | 2001-03-23 | 配線基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001339009A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005159354A (ja) * | 2003-11-25 | 2005-06-16 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 高性能チップ・キャリア基板 |
JP2007258542A (ja) * | 2006-03-24 | 2007-10-04 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 配線基板 |
JP2007288179A (ja) * | 2006-03-24 | 2007-11-01 | Ngk Spark Plug Co Ltd | 配線基板、埋め込み用セラミックチップ |
WO2020158808A1 (ja) * | 2019-01-30 | 2020-08-06 | 京セラ株式会社 | 電子部品実装用基体および電子装置 |
CN115665983A (zh) * | 2022-11-14 | 2023-01-31 | 惠州市金百泽电路科技有限公司 | 一种埋置器件pcb板及其制作方法 |
-
2001
- 2001-03-23 JP JP2001084428A patent/JP2001339009A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2005159354A (ja) * | 2003-11-25 | 2005-06-16 | Internatl Business Mach Corp <Ibm> | 高性能チップ・キャリア基板 |
JP4528098B2 (ja) * | 2003-11-25 | 2010-08-18 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 高性能チップ・キャリア基板 |
US7863526B2 (en) | 2003-11-25 | 2011-01-04 | International Business Machines Corporation | High performance chip carrier substrate |
US7886435B2 (en) | 2003-11-25 | 2011-02-15 | International Business Machines Corporation | High performance chip carrier substrate |
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JP4668940B2 (ja) * | 2006-03-24 | 2011-04-13 | 日本特殊陶業株式会社 | 配線基板、埋め込み用セラミックチップ |
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CN115665983A (zh) * | 2022-11-14 | 2023-01-31 | 惠州市金百泽电路科技有限公司 | 一种埋置器件pcb板及其制作方法 |
CN115665983B (zh) * | 2022-11-14 | 2023-10-10 | 惠州市金百泽电路科技有限公司 | 一种埋置器件pcb板及其制作方法 |
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