JP2001338448A - 光磁気記録媒体 - Google Patents
光磁気記録媒体Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 消去磁場及び再生磁場を共に低減できる光磁
気記録媒体。 【解決手段】 光磁気ディスク1は基板11上に下地誘
電体層12、希土類遷移金属合金の再生層13、中間層
14、記録層15及び補助記録層16、中間誘電体層1
7、希土類遷移金属合金の磁場発生層18、SiNの保
護層19及びAlCrの熱伝導層20を順に積層して構
成されている。光磁気ディスク1に情報を記録する以前
に、レーザ光を照射しつつ記録方向と同方向の磁場を印
加して磁場発生層18の初期消去を行なう。これによ
り、再生時に磁場発生層18から記録方向の漏洩磁場が
発生する。
気記録媒体。 【解決手段】 光磁気ディスク1は基板11上に下地誘
電体層12、希土類遷移金属合金の再生層13、中間層
14、記録層15及び補助記録層16、中間誘電体層1
7、希土類遷移金属合金の磁場発生層18、SiNの保
護層19及びAlCrの熱伝導層20を順に積層して構
成されている。光磁気ディスク1に情報を記録する以前
に、レーザ光を照射しつつ記録方向と同方向の磁場を印
加して磁場発生層18の初期消去を行なう。これによ
り、再生時に磁場発生層18から記録方向の漏洩磁場が
発生する。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光磁気記録媒体に
関し、特に磁気超解像(Magnetically Indused Super R
esolution,MSR)再生が可能な光磁気記録媒体に関す
る。
関し、特に磁気超解像(Magnetically Indused Super R
esolution,MSR)再生が可能な光磁気記録媒体に関す
る。
【0002】
【従来の技術】光磁気ディスクのマーク記録の方法とし
て光変調記録方式と磁界変調記録方式とが知られてい
る。光変調記録方式では、記録前に磁化の方向を例えば
下向きに揃えた(消去)後、記録すべき情報に応じたパ
ルス状にレーザ光を照射しつつ上向きに外部磁場を加え
ることにより記録が行なわれる。レーザ光照射により温
度上昇した領域に上向きの外部磁場を印加することによ
り、この領域のみの磁化を上向きにすることができ、記
録すべき情報に対応する記録マークがこの領域に形成さ
れる。一方、磁界変調記録方式では、レーザ光を連続的
に照射してディスクの温度を保磁力が低下する程度まで
上昇させておき、保磁力以上の外部磁場を上向き及び下
向きに変調しつつ加えることにより記録が行なわれる。
外部磁場を記録すべき情報に応じて変調することによっ
て、その領域の磁化を上向き又は下向きにすることがで
き、記録すべき情報に対応する記録マークが形成され
る。
て光変調記録方式と磁界変調記録方式とが知られてい
る。光変調記録方式では、記録前に磁化の方向を例えば
下向きに揃えた(消去)後、記録すべき情報に応じたパ
ルス状にレーザ光を照射しつつ上向きに外部磁場を加え
ることにより記録が行なわれる。レーザ光照射により温
度上昇した領域に上向きの外部磁場を印加することによ
り、この領域のみの磁化を上向きにすることができ、記
録すべき情報に対応する記録マークがこの領域に形成さ
れる。一方、磁界変調記録方式では、レーザ光を連続的
に照射してディスクの温度を保磁力が低下する程度まで
上昇させておき、保磁力以上の外部磁場を上向き及び下
向きに変調しつつ加えることにより記録が行なわれる。
外部磁場を記録すべき情報に応じて変調することによっ
て、その領域の磁化を上向き又は下向きにすることがで
き、記録すべき情報に対応する記録マークが形成され
る。
【0003】光磁気ディスクの情報記録の高密度化に伴
い記録周波数は高くなる。上述した磁界変調記録方式で
は記録周波数が高くなるに従い磁気ヘッドは高周波損失
による実効電流の低下を伴い、大きな磁場を発生できな
くなる。その結果、低い記録磁場で記録可能な媒体が磁
界変調記録方式では要求される。また、記録されたマー
クは同程度の磁場で消去されなければならないので同様
に低い消去磁場で消去が可能な媒体が要求される。ま
た、光変調記録方式においても記録磁場及び消去磁場が
大きいときは消費電力が増大し、磁場発生回路も大型に
なる等の問題が生じるため、記録磁場及び消去磁場は可
及的に小さいことが望まれている。
い記録周波数は高くなる。上述した磁界変調記録方式で
は記録周波数が高くなるに従い磁気ヘッドは高周波損失
による実効電流の低下を伴い、大きな磁場を発生できな
くなる。その結果、低い記録磁場で記録可能な媒体が磁
界変調記録方式では要求される。また、記録されたマー
クは同程度の磁場で消去されなければならないので同様
に低い消去磁場で消去が可能な媒体が要求される。ま
た、光変調記録方式においても記録磁場及び消去磁場が
大きいときは消費電力が増大し、磁場発生回路も大型に
なる等の問題が生じるため、記録磁場及び消去磁場は可
及的に小さいことが望まれている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】ところで本願出願人は
特開平7−244877号公報,特開平11−297381号公報など
において、少なくとも3層の積層構造を有する磁気超解
像再生可能な媒体(MSR媒体)及び磁気超解像再生方
法を提案している。磁気超解像再生はビームスポットよ
りも小さな記録マークの読出しが可能な再生方式であ
り、本願出願人によるMSR媒体を用いて数百Oeとい
う低い再生磁場の印加でMSR再生が可能となる。この
MSR媒体は希土類−遷移金属合金からなる再生層,中
間層及び記録層を積層してなる。再生層は遷移金属磁化
優勢(以下、TMリッチという)であり、垂直方向即ち
積層方向に磁化容易軸を有している。中間層は希土類磁
化優勢(以下、REリッチという)であり、室温(10
℃〜35℃)では面内方向に磁化容易軸を有し、室温よ
り高い所定温度以上になると磁化容易軸が面内から垂直
方向に変化する。記録層はTMリッチであり、垂直方向
に磁化容易軸を有している。また、再生層,中間層及び
記録層のキュリー温度を夫々Tc1,Tc2及びTc3
とした場合、Tc2<Tc1,Tc2<Tc3の関係を
満たしている。また再生層及び記録層の室温における保
磁力を夫々Hc1及びHc3とした場合、Hc3>Hc
1の関係を満たしている。
特開平7−244877号公報,特開平11−297381号公報など
において、少なくとも3層の積層構造を有する磁気超解
像再生可能な媒体(MSR媒体)及び磁気超解像再生方
法を提案している。磁気超解像再生はビームスポットよ
りも小さな記録マークの読出しが可能な再生方式であ
り、本願出願人によるMSR媒体を用いて数百Oeとい
う低い再生磁場の印加でMSR再生が可能となる。この
MSR媒体は希土類−遷移金属合金からなる再生層,中
間層及び記録層を積層してなる。再生層は遷移金属磁化
優勢(以下、TMリッチという)であり、垂直方向即ち
積層方向に磁化容易軸を有している。中間層は希土類磁
化優勢(以下、REリッチという)であり、室温(10
℃〜35℃)では面内方向に磁化容易軸を有し、室温よ
り高い所定温度以上になると磁化容易軸が面内から垂直
方向に変化する。記録層はTMリッチであり、垂直方向
に磁化容易軸を有している。また、再生層,中間層及び
記録層のキュリー温度を夫々Tc1,Tc2及びTc3
とした場合、Tc2<Tc1,Tc2<Tc3の関係を
満たしている。また再生層及び記録層の室温における保
磁力を夫々Hc1及びHc3とした場合、Hc3>Hc
1の関係を満たしている。
【0005】このような構成の光磁気ディスクに記録さ
れた記録マークを再生する際は、光磁気ディスクに相対
移動を伴って再生用レーザ光を照射し、光磁気ディスク
に温度分布を生ぜしめ、同時に上向き(記録方向と同方
向)の再生磁場を印加する。温度分布により光磁気ディ
スクには低温領域,中温度領域及び高温領域が形成され
る。低温領域では中間層と記録層との間に作用する交換
結合力よりも再生磁場の方が大きいときに、中間層の磁
化方向が再生磁場と同方向に揃う。その結果、低温領域
の再生層の磁化方向は記録マークと無関係に再生磁場と
逆方向に揃い、これによりフロントマスクが形成され
る。高温領域では、再生層と中間層との間に作用する交
換結合力が切断され、再生層の磁化方向が記録マークと
無関係に再生磁場と同方向に揃うことによりリアマスク
が形成される。中間温度領域では、再生層,中間層及び
記録層間に再生磁場よりも大きな交換結合力が働いてお
り、記録層の磁化方向が再生層に転写される。
れた記録マークを再生する際は、光磁気ディスクに相対
移動を伴って再生用レーザ光を照射し、光磁気ディスク
に温度分布を生ぜしめ、同時に上向き(記録方向と同方
向)の再生磁場を印加する。温度分布により光磁気ディ
スクには低温領域,中温度領域及び高温領域が形成され
る。低温領域では中間層と記録層との間に作用する交換
結合力よりも再生磁場の方が大きいときに、中間層の磁
化方向が再生磁場と同方向に揃う。その結果、低温領域
の再生層の磁化方向は記録マークと無関係に再生磁場と
逆方向に揃い、これによりフロントマスクが形成され
る。高温領域では、再生層と中間層との間に作用する交
換結合力が切断され、再生層の磁化方向が記録マークと
無関係に再生磁場と同方向に揃うことによりリアマスク
が形成される。中間温度領域では、再生層,中間層及び
記録層間に再生磁場よりも大きな交換結合力が働いてお
り、記録層の磁化方向が再生層に転写される。
【0006】光磁気ディスクの磁気光学出力を検出した
とき、レーザスポット内において低温領域にはフロント
マスクが、高温領域にはリアマスクが形成されているの
でこれらの領域から光磁気信号を読出すことはなく中間
温度領域のみから光磁気信号を読出すことができる。以
上の如く、再生時の数百Oeの磁場の印加で、実質的に
ビームスポットよりも小さい領域から記録マークを高分
解能で読出すことができる。また、本願出願人は特開平
11−297381号公報において、上述したようなMSR媒体
の磁性層を所定の飽和磁化,所定のキュリー温度で構成
することにより、さらに微細な寸法の記録マークのMS
R再生を可能とする光磁気記録媒体を提案している。
とき、レーザスポット内において低温領域にはフロント
マスクが、高温領域にはリアマスクが形成されているの
でこれらの領域から光磁気信号を読出すことはなく中間
温度領域のみから光磁気信号を読出すことができる。以
上の如く、再生時の数百Oeの磁場の印加で、実質的に
ビームスポットよりも小さい領域から記録マークを高分
解能で読出すことができる。また、本願出願人は特開平
11−297381号公報において、上述したようなMSR媒体
の磁性層を所定の飽和磁化,所定のキュリー温度で構成
することにより、さらに微細な寸法の記録マークのMS
R再生を可能とする光磁気記録媒体を提案している。
【0007】本願発明者らは以上の如き構成のMSR媒
体について、記録層側に種々の磁性膜を補助層として積
層した媒体を作成し、記録磁場感度,必要消去磁場及び
必要再生磁場の大きさを調べ、補助層がない媒体と比較
した。
体について、記録層側に種々の磁性膜を補助層として積
層した媒体を作成し、記録磁場感度,必要消去磁場及び
必要再生磁場の大きさを調べ、補助層がない媒体と比較
した。
【0008】まず、補助層としてTMリッチでキュリー
温度が350 ℃の GdFeCo 面内磁化層を形成した媒体につ
いて光変調方式の記録磁場依存性を調べた。その結果、
補助層がない媒体と比べて記録磁場感度に差は見られ
ず、100 Oe程度の記録磁場で記録が可能であった。図
17はその記録消去磁場依存性を示すグラフである。縦
軸はCNRを示している。横軸は磁場の大きさを示し、
正側は記録方向の磁場を示し、負側は消去方向の磁場を
示している。グラフから判るように、記録方向の磁場10
0 OeでCNRが記録可能な値を示しているが、零磁
場、即ち磁場を印加せずにレーザ光を照射した場合には
略40dBのCNR値が検出されている。これは、レーザ
光照射領域の回りの磁化領域から記録方向の漏洩磁場が
生じていることを示し、消去時には記録磁場よりも大き
な消去磁場が必要となることが判る。例えば図17に示
す場合は、CNRが零に近くなる400 Oeの消去方向の
磁場を印加しなければ、100 Oeで記録方向に向いた磁
化を消去方向に揃えられない。このように3層構成のM
SR媒体は、TMリッチの補助層を加えることにより記
録磁場感度は変わらないが、必要消去磁場が増大するこ
とが判った。
温度が350 ℃の GdFeCo 面内磁化層を形成した媒体につ
いて光変調方式の記録磁場依存性を調べた。その結果、
補助層がない媒体と比べて記録磁場感度に差は見られ
ず、100 Oe程度の記録磁場で記録が可能であった。図
17はその記録消去磁場依存性を示すグラフである。縦
軸はCNRを示している。横軸は磁場の大きさを示し、
正側は記録方向の磁場を示し、負側は消去方向の磁場を
示している。グラフから判るように、記録方向の磁場10
0 OeでCNRが記録可能な値を示しているが、零磁
場、即ち磁場を印加せずにレーザ光を照射した場合には
略40dBのCNR値が検出されている。これは、レーザ
光照射領域の回りの磁化領域から記録方向の漏洩磁場が
生じていることを示し、消去時には記録磁場よりも大き
な消去磁場が必要となることが判る。例えば図17に示
す場合は、CNRが零に近くなる400 Oeの消去方向の
磁場を印加しなければ、100 Oeで記録方向に向いた磁
化を消去方向に揃えられない。このように3層構成のM
SR媒体は、TMリッチの補助層を加えることにより記
録磁場感度は変わらないが、必要消去磁場が増大するこ
とが判った。
【0009】次に、補助層としてREリッチでキュリー
温度が300 ℃の GdFeCo 面内磁化層を形成した媒体につ
いて光変調方式の記録磁場依存性を調べた。その結果、
補助層がない媒体と比べて記録磁場感度は大差なく、必
要消去磁場は低減されたが、必要再生磁場が増大した。
図18は再生磁場と消去磁場との関係を示したグラフで
ある。縦軸は必要再生磁場の大きさを示し、横軸は必要
消去磁場の大きさを示している。グラフ中、実線は補助
層を加えた媒体で、補助層の組成をREリッチからTM
リッチまで異ならせた場合を示し、破線は補助層を加え
ない媒体で、記録層の組成をREリッチからTMリッチ
まで異ならせた場合を示している。図18の破線で示す
ように、記録層の希土類金属の割合が増えた場合に必要
再生磁場は増大し、必要消去磁場は減少していることが
判る。これは、記録層がREリッチで補償組成である場
合は室温での飽和磁化の値が小さくなるためである。ま
た記録層がTMリッチである場合は、逆に必要再生磁場
が減少し、必要消去磁場は増大する。また図18の実線
から、補助層を加えた媒体でも同様の現象が生じている
ことが判る。
温度が300 ℃の GdFeCo 面内磁化層を形成した媒体につ
いて光変調方式の記録磁場依存性を調べた。その結果、
補助層がない媒体と比べて記録磁場感度は大差なく、必
要消去磁場は低減されたが、必要再生磁場が増大した。
図18は再生磁場と消去磁場との関係を示したグラフで
ある。縦軸は必要再生磁場の大きさを示し、横軸は必要
消去磁場の大きさを示している。グラフ中、実線は補助
層を加えた媒体で、補助層の組成をREリッチからTM
リッチまで異ならせた場合を示し、破線は補助層を加え
ない媒体で、記録層の組成をREリッチからTMリッチ
まで異ならせた場合を示している。図18の破線で示す
ように、記録層の希土類金属の割合が増えた場合に必要
再生磁場は増大し、必要消去磁場は減少していることが
判る。これは、記録層がREリッチで補償組成である場
合は室温での飽和磁化の値が小さくなるためである。ま
た記録層がTMリッチである場合は、逆に必要再生磁場
が減少し、必要消去磁場は増大する。また図18の実線
から、補助層を加えた媒体でも同様の現象が生じている
ことが判る。
【0010】すなわち、補助層として記録層側に、RE
リッチでキュリー温度が300 ℃と比較的高い面内磁化層
を積層した場合は必要消去磁場を低く抑えることができ
るが必要再生磁場が増大し、TMリッチの面内磁化層を
積層した場合は必要再生磁場を低く抑えることができる
が必要消去磁場が増大する。なお、REリッチの面内磁
化層であってもキュリー温度が200 ℃程度で比較的低い
場合は、この面内磁化層がない媒体と比べて必要記録磁
場及び必要消去磁場ともに変わりがない。従って、必要
消去磁場を低減するためにはキュリー温度を記録層より
も高くする必要があることが判った。これは消去磁場が
漏洩磁場の影響のみでなく、高温での記録層との交換磁
場にも関与しているためである。
リッチでキュリー温度が300 ℃と比較的高い面内磁化層
を積層した場合は必要消去磁場を低く抑えることができ
るが必要再生磁場が増大し、TMリッチの面内磁化層を
積層した場合は必要再生磁場を低く抑えることができる
が必要消去磁場が増大する。なお、REリッチの面内磁
化層であってもキュリー温度が200 ℃程度で比較的低い
場合は、この面内磁化層がない媒体と比べて必要記録磁
場及び必要消去磁場ともに変わりがない。従って、必要
消去磁場を低減するためにはキュリー温度を記録層より
も高くする必要があることが判った。これは消去磁場が
漏洩磁場の影響のみでなく、高温での記録層との交換磁
場にも関与しているためである。
【0011】以上の如く、上述したようなMSR媒体で
は消去時に必要な消去磁場と、再生時に必要な再生磁場
はその両方を低減することができないという問題があっ
た。
は消去時に必要な消去磁場と、再生時に必要な再生磁場
はその両方を低減することができないという問題があっ
た。
【0012】また、上述した磁気超解像再生はフロント
マスク及びリアマスクが形成されるダブルマスク形式で
あり、フロントマスクとリアマスクとの間にある中間温
度領域から記録マークが検出されるが、再生レーザパワ
ーを大きくした場合に、再生すべきトラックを挟む両側
のトラックから生じるクロストークが大きくなるという
問題があった。
マスク及びリアマスクが形成されるダブルマスク形式で
あり、フロントマスクとリアマスクとの間にある中間温
度領域から記録マークが検出されるが、再生レーザパワ
ーを大きくした場合に、再生すべきトラックを挟む両側
のトラックから生じるクロストークが大きくなるという
問題があった。
【0013】本発明は、かかる事情に鑑みてなされたも
のであり、第1の目的は、消去磁場及び再生磁場の両方
を低減できる磁気超解像再生が可能な光磁気記録媒体を
提供することにあり、第2の目的は、高パワーの光ビー
ムを用いて再生した場合でもクロストークを低減できる
磁気超解像再生が可能な光磁気記録媒体を提供すること
にある。
のであり、第1の目的は、消去磁場及び再生磁場の両方
を低減できる磁気超解像再生が可能な光磁気記録媒体を
提供することにあり、第2の目的は、高パワーの光ビー
ムを用いて再生した場合でもクロストークを低減できる
磁気超解像再生が可能な光磁気記録媒体を提供すること
にある。
【0014】
【課題を解決するための手段】第1発明に係る光磁気記
録媒体は、少なくとも記録層及び再生層を含む積層磁性
膜の再生層よりも記録層に近い側に、磁性体からなる磁
場発生層を備えることを特徴とする。
録媒体は、少なくとも記録層及び再生層を含む積層磁性
膜の再生層よりも記録層に近い側に、磁性体からなる磁
場発生層を備えることを特徴とする。
【0015】第1発明にあっては、記録層及び再生層を
含む積層磁性膜に積層された磁場発生層に磁場を印加す
ることにより所定の方向に磁化が揃い、再生時に媒体内
温度分布により漏洩磁場を生じる。磁場発生層への磁場
の印加は初期時に一回のみでよく、例えば漏洩磁場が再
生磁場と略同方向になる向きの磁場を印加した場合は、
外部から印加する再生磁場に加えて同方向の漏洩磁場が
積層磁性膜に作用するので、外部から印加する再生磁場
を低減できる。
含む積層磁性膜に積層された磁場発生層に磁場を印加す
ることにより所定の方向に磁化が揃い、再生時に媒体内
温度分布により漏洩磁場を生じる。磁場発生層への磁場
の印加は初期時に一回のみでよく、例えば漏洩磁場が再
生磁場と略同方向になる向きの磁場を印加した場合は、
外部から印加する再生磁場に加えて同方向の漏洩磁場が
積層磁性膜に作用するので、外部から印加する再生磁場
を低減できる。
【0016】第2発明に係る光磁気記録媒体は、第1発
明において、前記磁場発生層と前記記録層との間に非磁
性層を介在せしめてあることを特徴とする。
明において、前記磁場発生層と前記記録層との間に非磁
性層を介在せしめてあることを特徴とする。
【0017】第2発明にあっては、非磁性層の介在によ
り前記磁場発生層と前記記録層との間で互いに及ぼす磁
化の影響をなくすことができる。即ち、情報が記録され
た記録層の磁化の向きが磁場発生層の磁化の向きに影響
しない。
り前記磁場発生層と前記記録層との間で互いに及ぼす磁
化の影響をなくすことができる。即ち、情報が記録され
た記録層の磁化の向きが磁場発生層の磁化の向きに影響
しない。
【0018】第3発明に係る光磁気記録媒体は、第1又
は第2発明において、前記記録層は補償組成を有してお
り、前記磁場発生層は積層方向の磁化容易特性を有し、
前記記録層よりも高いキュリー温度と大きな保磁力とを
有することを特徴とする。
は第2発明において、前記記録層は補償組成を有してお
り、前記磁場発生層は積層方向の磁化容易特性を有し、
前記記録層よりも高いキュリー温度と大きな保磁力とを
有することを特徴とする。
【0019】第3発明にあっては、補償組成を有する記
録層は消去磁場を低減し、再生磁場を増大させるが、磁
場発生層が漏洩磁場を積層磁性膜に作用させるので外部
から印加する再生磁場を低減できる。磁場発生層は記録
層よりもキュリー温度が高く、保磁力も高いので、記録
時及び消去時に光ビームが照射されても磁場発生層の磁
化の向きは変わらず、また再生時には低温領域で漏洩磁
場が大きくなる。
録層は消去磁場を低減し、再生磁場を増大させるが、磁
場発生層が漏洩磁場を積層磁性膜に作用させるので外部
から印加する再生磁場を低減できる。磁場発生層は記録
層よりもキュリー温度が高く、保磁力も高いので、記録
時及び消去時に光ビームが照射されても磁場発生層の磁
化の向きは変わらず、また再生時には低温領域で漏洩磁
場が大きくなる。
【0020】第4発明に係る光磁気記録媒体は、第2発
明において、前記記録層と非磁性層との間に補助記録層
を介在せしめてあることを特徴とする。
明において、前記記録層と非磁性層との間に補助記録層
を介在せしめてあることを特徴とする。
【0021】第4発明にあっては、補助記録層により消
去磁場が低減され再生磁場が増大するが、磁場発生層が
漏洩磁場を積層磁性膜に作用させるので、外部から印加
する再生磁場を低減できる。
去磁場が低減され再生磁場が増大するが、磁場発生層が
漏洩磁場を積層磁性膜に作用させるので、外部から印加
する再生磁場を低減できる。
【0022】第5発明に係る光磁気記録媒体は、第4発
明において、前記磁場発生層は積層方向の磁化容易特性
を有し、前記補助記録層よりも高いキュリー温度と前記
記録層よりも大きな保磁力とを有することを特徴とす
る。
明において、前記磁場発生層は積層方向の磁化容易特性
を有し、前記補助記録層よりも高いキュリー温度と前記
記録層よりも大きな保磁力とを有することを特徴とす
る。
【0023】第5発明にあっては、磁場発生層が漏洩磁
場を発生し、外部から印加する再生磁場を低減できる。
また磁場発生層は補助記録層よりもキュリー温度が高
く、記録層よりも保磁力が高いので、記録時及び消去時
に光ビームが照射されても磁場発生層の磁化の向きは変
わらず、また再生時には低温領域で漏洩磁場が大きくな
る。
場を発生し、外部から印加する再生磁場を低減できる。
また磁場発生層は補助記録層よりもキュリー温度が高
く、記録層よりも保磁力が高いので、記録時及び消去時
に光ビームが照射されても磁場発生層の磁化の向きは変
わらず、また再生時には低温領域で漏洩磁場が大きくな
る。
【0024】第6発明に係る光磁気記録媒体は、少なく
とも記録層及び再生層を含む積層磁性膜の夫々が、再生
時に温度分布の低温領域又は高温領域のいずれかに積層
膜間の界面磁壁を生ぜしめる組成を有することを特徴と
する。
とも記録層及び再生層を含む積層磁性膜の夫々が、再生
時に温度分布の低温領域又は高温領域のいずれかに積層
膜間の界面磁壁を生ぜしめる組成を有することを特徴と
する。
【0025】第6発明にあっては、媒体内温度分布の低
温領域か又は高温領域のいずれか一方に界面磁壁が生じ
る。例えば低温領域のみにマスクが形成された場合は、
記録層の磁化方向が隠されることにより、再生すべきト
ラックの両側トラックに形成されたマスク領域の媒体径
方向の広がりが抑えられる。その結果、クロストークが
低減される。
温領域か又は高温領域のいずれか一方に界面磁壁が生じ
る。例えば低温領域のみにマスクが形成された場合は、
記録層の磁化方向が隠されることにより、再生すべきト
ラックの両側トラックに形成されたマスク領域の媒体径
方向の広がりが抑えられる。その結果、クロストークが
低減される。
【0026】第7発明に係る光磁気記録媒体は、第6発
明において、前記記録層及び再生層間にある中間層と、
前記再生層よりも記録層に近い側の補助記録層と、磁場
発生層とを備えることを特徴とする。
明において、前記記録層及び再生層間にある中間層と、
前記再生層よりも記録層に近い側の補助記録層と、磁場
発生層とを備えることを特徴とする。
【0027】第7発明にあっては、クロストークの低減
効果に加えて、補助記録層による消去磁場の低減、及び
磁場発生層による再生磁場の低減が実現する。
効果に加えて、補助記録層による消去磁場の低減、及び
磁場発生層による再生磁場の低減が実現する。
【0028】第8発明に係る光磁気記録媒体は、少なく
とも記録層及び再生層を含む積層磁性膜の前記記録層に
接触して熱伝導層を備えることを特徴とする。
とも記録層及び再生層を含む積層磁性膜の前記記録層に
接触して熱伝導層を備えることを特徴とする。
【0029】第8発明にあっては、熱伝導層を記録層に
接触して形成してあるので、再生時のレーザ光照射によ
る熱を熱伝導層がレーザスポットの外側にすばやく逃が
し、その結果レーザスポット内の温度分布がディスク径
方向に急峻になるので、再生時に高パワーの光ビームを
使用してもクロストークが増大しない。
接触して形成してあるので、再生時のレーザ光照射によ
る熱を熱伝導層がレーザスポットの外側にすばやく逃が
し、その結果レーザスポット内の温度分布がディスク径
方向に急峻になるので、再生時に高パワーの光ビームを
使用してもクロストークが増大しない。
【0030】第9発明に係る光磁気記録媒体は、第8発
明において、前記熱伝導層上に形成された非磁性層と、
該非磁性層上に形成された磁場発生層とを備えることを
特徴とする。
明において、前記熱伝導層上に形成された非磁性層と、
該非磁性層上に形成された磁場発生層とを備えることを
特徴とする。
【0031】第9発明にあっては、磁場発生層による再
生磁場を低減することができると共に、熱伝導層によ
り、再生時に高パワーの光ビームを使用してもクロスト
ークが増大することはない。
生磁場を低減することができると共に、熱伝導層によ
り、再生時に高パワーの光ビームを使用してもクロスト
ークが増大することはない。
【0032】
【発明の実施の形態】以下、本発明をその実施の形態を
示す図面に基づき具体的に説明する。 実施の形態1.図1は、本発明の実施の形態1の光磁気
ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディスク
1は、ポリカーボネート製の基板11上に、SiNから
なる90nmの厚みの下地誘電体層12、GdFeCoから
なる40nmの厚みの再生層13、GdFeCoSiからな
る40nmの厚みの中間層14、TbFeCoからなる50nm
の厚みの記録層15、GdFeCoからなる15nmの厚み
の補助記録層16、SiNからなる5nm の厚みの中間誘
電体層17、TbCoからなる50nmの厚みの磁場発生層
18、SiNからなる60nmの厚みの保護層19及びAl
Crからなる15nmの厚みの熱伝導層18を順に積層して
構成されている。
示す図面に基づき具体的に説明する。 実施の形態1.図1は、本発明の実施の形態1の光磁気
ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディスク
1は、ポリカーボネート製の基板11上に、SiNから
なる90nmの厚みの下地誘電体層12、GdFeCoから
なる40nmの厚みの再生層13、GdFeCoSiからな
る40nmの厚みの中間層14、TbFeCoからなる50nm
の厚みの記録層15、GdFeCoからなる15nmの厚み
の補助記録層16、SiNからなる5nm の厚みの中間誘
電体層17、TbCoからなる50nmの厚みの磁場発生層
18、SiNからなる60nmの厚みの保護層19及びAl
Crからなる15nmの厚みの熱伝導層18を順に積層して
構成されている。
【0033】再生層13はTMリッチのGdFeCo膜
で、垂直方向即ち積層方向に磁化容易軸を有している。
室温(10℃〜35℃)での飽和磁化の値は100 emu/cc
より低く、170 ℃付近まで温度とともに上昇する。また
キュリー温度は略270 ℃であり、室温での保磁力の値は
1.5 kOe以内である。中間層14はキュリー温度まで
補償温度が見られないREリッチのGdFeCoSi膜
で、室温(10℃〜35℃)では面内方向に磁化容易軸
を有しており、室温より高い所定温度以上になると磁化
容易軸が面内方向から垂直方向に変化する。室温での飽
和磁化の値は250 emu/cc以内であり、略180 ℃のキュリ
ー温度まで単調に減少する。キュリー温度を低く設定す
るために中間層14には非磁性元素であるSiが添加さ
れている。Siの替わりにAl又はCr等の元素を添加
してあっても良い。記録層15はTMリッチのTbFe
Co膜であり、垂直方向に磁化容易軸を有している。室
温での飽和磁化の値は150 emu/cc以内であり、150 ℃程
度まで温度とともに上昇する。キュリー温度は略270 ℃
であり、室温での保磁力の値は10kOe以上である。
で、垂直方向即ち積層方向に磁化容易軸を有している。
室温(10℃〜35℃)での飽和磁化の値は100 emu/cc
より低く、170 ℃付近まで温度とともに上昇する。また
キュリー温度は略270 ℃であり、室温での保磁力の値は
1.5 kOe以内である。中間層14はキュリー温度まで
補償温度が見られないREリッチのGdFeCoSi膜
で、室温(10℃〜35℃)では面内方向に磁化容易軸
を有しており、室温より高い所定温度以上になると磁化
容易軸が面内方向から垂直方向に変化する。室温での飽
和磁化の値は250 emu/cc以内であり、略180 ℃のキュリ
ー温度まで単調に減少する。キュリー温度を低く設定す
るために中間層14には非磁性元素であるSiが添加さ
れている。Siの替わりにAl又はCr等の元素を添加
してあっても良い。記録層15はTMリッチのTbFe
Co膜であり、垂直方向に磁化容易軸を有している。室
温での飽和磁化の値は150 emu/cc以内であり、150 ℃程
度まで温度とともに上昇する。キュリー温度は略270 ℃
であり、室温での保磁力の値は10kOe以上である。
【0034】補助記録層16はREリッチのGdFeC
o膜であり、キュリー温度は320 ℃である。磁場発生層
18はREリッチのTb30Co70膜であり、キュリー温
度が400 ℃で補助記録層16よりも高く、保磁力は記録
層15より大きい。これらの再生層13,中間層14,
記録層15,補助記録層16及び磁場発生層18のキュ
リー温度を夫々Tc1,Tc2,Tc3,Tc4及びT
c5とした場合に、Tc2<Tc1,Tc2<Tc3<
Tc4<Tc5の関係を満たしている。キュリー温度T
c3<Tc4<Tc5の関係により、記録時及び消去時
にレーザ光を照射した際に達する温度までの範囲内で磁
場発生層18の磁化が反転することがない。また、再生
層13,記録層15及び磁場発生層18の室温における
保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5とした場合に、
Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係を満たしてい
る。
o膜であり、キュリー温度は320 ℃である。磁場発生層
18はREリッチのTb30Co70膜であり、キュリー温
度が400 ℃で補助記録層16よりも高く、保磁力は記録
層15より大きい。これらの再生層13,中間層14,
記録層15,補助記録層16及び磁場発生層18のキュ
リー温度を夫々Tc1,Tc2,Tc3,Tc4及びT
c5とした場合に、Tc2<Tc1,Tc2<Tc3<
Tc4<Tc5の関係を満たしている。キュリー温度T
c3<Tc4<Tc5の関係により、記録時及び消去時
にレーザ光を照射した際に達する温度までの範囲内で磁
場発生層18の磁化が反転することがない。また、再生
層13,記録層15及び磁場発生層18の室温における
保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5とした場合に、
Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係を満たしてい
る。
【0035】これらの積層膜はDCスパッタ法により順
次形成してある。スパッタ条件はSiNからなる層を形
成する際はガス圧0.8 Pa, 投入電力0.8kW で行い、磁性
層及び熱伝導層を形成する際はガス圧0.5 Pa〜0.8 Pa,
投入電力0.5 kW〜0.8 kWで行い、到達真空度5×10-5Pa
以下の真空槽内で形成した。なお、再生層13,中間層
14,記録層15,補助記録層16及び磁場発生層18
は上述した飽和磁化の値を有するように予め成膜装置及
び成膜条件を設定してある。また、ターゲットの磁化寿
命についても予めテストしておき、上述した飽和磁化の
値を有する磁性膜が確実に成膜されるように設定されて
いる。
次形成してある。スパッタ条件はSiNからなる層を形
成する際はガス圧0.8 Pa, 投入電力0.8kW で行い、磁性
層及び熱伝導層を形成する際はガス圧0.5 Pa〜0.8 Pa,
投入電力0.5 kW〜0.8 kWで行い、到達真空度5×10-5Pa
以下の真空槽内で形成した。なお、再生層13,中間層
14,記録層15,補助記録層16及び磁場発生層18
は上述した飽和磁化の値を有するように予め成膜装置及
び成膜条件を設定してある。また、ターゲットの磁化寿
命についても予めテストしておき、上述した飽和磁化の
値を有する磁性膜が確実に成膜されるように設定されて
いる。
【0036】以上のような膜構成の光磁気ディスク1に
情報を記録及び再生する場合について説明する。光磁気
ディスク1に情報を記録する以前に、例えばディスク出
荷時に、レーザ光を照射しつつ記録方向(上向き)と同
方向の磁場を印加して磁場発生層18の初期消去を行な
う。これにより、再生時に磁場発生層18から記録方向
の漏洩磁場が発生する。そのときのレーザ光のパワーは
通常の消去パワーよりも高いパワーであり、これにより
通常の消去時に磁場発生層18が磁化反転を生じること
はない。この作業はディスク出荷時に一度だけ行なう操
作であり、出荷後は行なう必要はない。
情報を記録及び再生する場合について説明する。光磁気
ディスク1に情報を記録する以前に、例えばディスク出
荷時に、レーザ光を照射しつつ記録方向(上向き)と同
方向の磁場を印加して磁場発生層18の初期消去を行な
う。これにより、再生時に磁場発生層18から記録方向
の漏洩磁場が発生する。そのときのレーザ光のパワーは
通常の消去パワーよりも高いパワーであり、これにより
通常の消去時に磁場発生層18が磁化反転を生じること
はない。この作業はディスク出荷時に一度だけ行なう操
作であり、出荷後は行なう必要はない。
【0037】情報を記録する際には、回転している光磁
気ディスク1にまずレーザ光を消去用パワーで照射しつ
つ記録方向と逆方向(下向き)の外部磁場を印加して記
録層15を消去する。この消去動作は光磁気ディスク1
のデータを書き換えるときに毎回行なう操作である。そ
の後、記録方向(上向き)の外部磁場を印加しつつ、記
録すべき情報に応じて記録用パワーのレーザ光の照射を
オン又はオフする。なお記録手順は光変調記録方式の場
合を説明しているが、磁界変調記録方式であっても良
く、その場合は記録層15の消去操作は行なわない。
気ディスク1にまずレーザ光を消去用パワーで照射しつ
つ記録方向と逆方向(下向き)の外部磁場を印加して記
録層15を消去する。この消去動作は光磁気ディスク1
のデータを書き換えるときに毎回行なう操作である。そ
の後、記録方向(上向き)の外部磁場を印加しつつ、記
録すべき情報に応じて記録用パワーのレーザ光の照射を
オン又はオフする。なお記録手順は光変調記録方式の場
合を説明しているが、磁界変調記録方式であっても良
く、その場合は記録層15の消去操作は行なわない。
【0038】情報を再生する際には、回転している光磁
気ディスク1に記録方向(上向き)の外部磁場を印加し
つつ、記録時よりも低い再生用パワーでレーザ光を照射
する。図2は光磁気ディスクの再生時の磁化状態を示す
説明図である。光磁気ディスク1にはレーザ光の照射に
よりレーザスポットS内において温度分布が生じ、低温
領域、中間温度領域及び高温領域が形成されている。低
温領域では中間層14と記録層15との間に作用する交
換結合力よりも再生磁場の方が大きいので、中間層14
の磁化方向が再生磁場と同方向に揃う。中間層14と交
換結合した再生層13の磁化方向は記録層15の磁化方
向とは無関係に再生磁場と逆方向に揃い、これによりフ
ロントマスクが形成される。
気ディスク1に記録方向(上向き)の外部磁場を印加し
つつ、記録時よりも低い再生用パワーでレーザ光を照射
する。図2は光磁気ディスクの再生時の磁化状態を示す
説明図である。光磁気ディスク1にはレーザ光の照射に
よりレーザスポットS内において温度分布が生じ、低温
領域、中間温度領域及び高温領域が形成されている。低
温領域では中間層14と記録層15との間に作用する交
換結合力よりも再生磁場の方が大きいので、中間層14
の磁化方向が再生磁場と同方向に揃う。中間層14と交
換結合した再生層13の磁化方向は記録層15の磁化方
向とは無関係に再生磁場と逆方向に揃い、これによりフ
ロントマスクが形成される。
【0039】このとき、低温領域には中間層14と記録
層15との間に界面磁壁が形成されている。界面磁壁は
磁性原子の磁気モーメントが磁性層間で平行逆向きにな
った状態を言い、図2では低温領域で2箇所の界面磁壁
を示している。なお、希土類原子及び遷移金属原子の磁
気モーメントは互いに逆向きであり、図2の各磁性層の
矢符は、希土類原子及び遷移金属原子の優勢な磁気モー
メントの方向で示している。従って、REリッチな中間
層14とTMリッチな記録層15とは、磁化方向が同方
向であるときに界面磁壁が形成されている。
層15との間に界面磁壁が形成されている。界面磁壁は
磁性原子の磁気モーメントが磁性層間で平行逆向きにな
った状態を言い、図2では低温領域で2箇所の界面磁壁
を示している。なお、希土類原子及び遷移金属原子の磁
気モーメントは互いに逆向きであり、図2の各磁性層の
矢符は、希土類原子及び遷移金属原子の優勢な磁気モー
メントの方向で示している。従って、REリッチな中間
層14とTMリッチな記録層15とは、磁化方向が同方
向であるときに界面磁壁が形成されている。
【0040】高温領域では、再生層13と中間層14と
の間に作用する交換結合力が切断され、再生層13の磁
化方向が再生磁場と同方向に揃うことによりリアマスク
が形成される。このとき、高温領域には中間層14と再
生層13との間に界面磁壁が形成されている。中間温度
領域では、再生層13,中間層14及び記録層15間に
再生磁場よりも大きな交換結合力が働いており、記録層
15及び補助記録層16の磁化方向が再生層13に転写
される。
の間に作用する交換結合力が切断され、再生層13の磁
化方向が再生磁場と同方向に揃うことによりリアマスク
が形成される。このとき、高温領域には中間層14と再
生層13との間に界面磁壁が形成されている。中間温度
領域では、再生層13,中間層14及び記録層15間に
再生磁場よりも大きな交換結合力が働いており、記録層
15及び補助記録層16の磁化方向が再生層13に転写
される。
【0041】また、上述した如く初期消去された磁場発
生層18は、再生時の光磁気ディスク1の温度分布によ
り磁場発生層18の低温領域の磁化の値が大きくなって
漏洩磁場を発生する。この漏洩磁場は再生磁場と同方向
であるので再生磁場を助ける方向に働く。即ち、外部か
ら印加する再生磁場に磁場発生層18からの漏洩磁場を
加えた磁場が記録層15,中間層14及び再生層13に
作用する。
生層18は、再生時の光磁気ディスク1の温度分布によ
り磁場発生層18の低温領域の磁化の値が大きくなって
漏洩磁場を発生する。この漏洩磁場は再生磁場と同方向
であるので再生磁場を助ける方向に働く。即ち、外部か
ら印加する再生磁場に磁場発生層18からの漏洩磁場を
加えた磁場が記録層15,中間層14及び再生層13に
作用する。
【0042】光磁気ディスクの磁気光学出力を検出した
とき、レーザスポットS内において低温領域及び高温領
域には夫々マスクが形成されるのでこれらの領域から光
磁気信号を読出すことはなく、中間温度領域のみから光
磁気信号が読出される。
とき、レーザスポットS内において低温領域及び高温領
域には夫々マスクが形成されるのでこれらの領域から光
磁気信号を読出すことはなく、中間温度領域のみから光
磁気信号が読出される。
【0043】図3は実施の形態1の光磁気ディスクの記
録消去磁場依存性を示すグラフであり、縦軸はCNRを
示している。横軸は磁場の大きさを示し、正側は記録方
向の磁場を、負側は消去方向の磁場を示している。グラ
フ中、実線は実施の形態1の光磁気ディスクの結果を示
し、破線は補助記録層16及び磁場発生層18が無い従
来の光磁気ディスクの結果を示している。グラフから、
実施の形態1の光磁気ディスクは200 Oeの磁場で消去
が可能であり、一方、従来例は400 Oeの消去磁場が必
要であることが判る。このことから、本実施の形態の光
磁気ディスク1は補助記録層16により必要消去磁場が
低減されたと言える。
録消去磁場依存性を示すグラフであり、縦軸はCNRを
示している。横軸は磁場の大きさを示し、正側は記録方
向の磁場を、負側は消去方向の磁場を示している。グラ
フ中、実線は実施の形態1の光磁気ディスクの結果を示
し、破線は補助記録層16及び磁場発生層18が無い従
来の光磁気ディスクの結果を示している。グラフから、
実施の形態1の光磁気ディスクは200 Oeの磁場で消去
が可能であり、一方、従来例は400 Oeの消去磁場が必
要であることが判る。このことから、本実施の形態の光
磁気ディスク1は補助記録層16により必要消去磁場が
低減されたと言える。
【0044】図4は実施の形態1の光磁気ディスクの再
生磁場依存性を示すグラフである。縦軸はCNRを示
し、横軸は再生時に印加した外部磁場を示している。グ
ラフからCNRが飽和する再生磁場は300 Oeであり、
従来と同程度であることが判る。前述したように補助記
録層16の形成により必要再生磁場は増大するが、再生
磁場と同方向の漏洩磁場が磁場発生層18から発生され
るので、外部から加える再生磁場は漏洩磁場分を低減す
ることができ、従って光磁気ディスク1の再生磁場が増
大することはない。
生磁場依存性を示すグラフである。縦軸はCNRを示
し、横軸は再生時に印加した外部磁場を示している。グ
ラフからCNRが飽和する再生磁場は300 Oeであり、
従来と同程度であることが判る。前述したように補助記
録層16の形成により必要再生磁場は増大するが、再生
磁場と同方向の漏洩磁場が磁場発生層18から発生され
るので、外部から加える再生磁場は漏洩磁場分を低減す
ることができ、従って光磁気ディスク1の再生磁場が増
大することはない。
【0045】以上の如く実施の形態1の光磁気ディスク
1は、再生時の数百Oeの磁場の印加で、実質的にビー
ムスポットよりも小さい領域から記録マークを高分解能
で読出すことができ、消去消去磁場及び印加すべき再生
磁場の両方を低減できた。
1は、再生時の数百Oeの磁場の印加で、実質的にビー
ムスポットよりも小さい領域から記録マークを高分解能
で読出すことができ、消去消去磁場及び印加すべき再生
磁場の両方を低減できた。
【0046】実施の形態2.図5は実施の形態2の光磁
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク2は、再生層13から熱伝導層20までの積層膜につ
いては実施の形態1と同様であり、対応する部分に対応
する符号を付してその説明を省略する。これらの積層膜
の最外層として、熱伝導層20の側にポリカーボネート
製の基板11が積層され、再生層13の側にSiNから
なる90nmの厚みの上地誘電体層22が形成されている。
なお、保護層19の厚みは25nmである。
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク2は、再生層13から熱伝導層20までの積層膜につ
いては実施の形態1と同様であり、対応する部分に対応
する符号を付してその説明を省略する。これらの積層膜
の最外層として、熱伝導層20の側にポリカーボネート
製の基板11が積層され、再生層13の側にSiNから
なる90nmの厚みの上地誘電体層22が形成されている。
なお、保護層19の厚みは25nmである。
【0047】このような構成の光磁気ディスク2は、記
録時及び再生時にはレーザ光を上地誘電体層22側から
照射する。光磁気ディスク2について、実施の形態1と
同様、補助記録層16により必要消去磁場が低減され、
磁場発生層18により印加すべき再生磁場が低減される
効果が確認できた。
録時及び再生時にはレーザ光を上地誘電体層22側から
照射する。光磁気ディスク2について、実施の形態1と
同様、補助記録層16により必要消去磁場が低減され、
磁場発生層18により印加すべき再生磁場が低減される
効果が確認できた。
【0048】なお、このような光磁気ディスク2の構成
では保護層19は必ずしも必要ではなく、熱伝導層20
上に直接に磁場発生層18が形成されても良い。この場
合、熱伝導層20は記録再生時のパワー感度が最適にな
るように薄く調整する。さらに光磁気ディスク2の熱伝
導層20はAlCrに限らず、熱伝導率が高い銀系合金
などの金属を用いても良い。
では保護層19は必ずしも必要ではなく、熱伝導層20
上に直接に磁場発生層18が形成されても良い。この場
合、熱伝導層20は記録再生時のパワー感度が最適にな
るように薄く調整する。さらに光磁気ディスク2の熱伝
導層20はAlCrに限らず、熱伝導率が高い銀系合金
などの金属を用いても良い。
【0049】実施の形態3.図6は実施の形態3の光磁
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク3は、記録層15の中間層14と反対の側に中間誘電
体層17が直接形成されており、実施の形態1に示した
補助記録層は形成されていない。また記録層15はTb
FeCoで形成されたREリッチの磁性膜であり、50nm
の厚みを有している。これらの再生層13,中間層1
4,記録層15及び磁場発生層18のキュリー温度を夫
々Tc1,Tc2,Tc3及びTc5とした場合に、T
c2<Tc1,Tc2<Tc3<Tc5の関係を満たし
ている。キュリー温度Tc3<Tc5の関係により、記
録時及び消去時にレーザ光を照射した際に達する温度ま
での範囲内で磁場発生層18の磁化が反転することがな
い。また、再生層13,記録層15及び磁場発生層18
の室温における保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5
とした場合に、Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係
を満たしている。その他の構成は実施の形態1と同様で
あり、対応する部分に対応する符号を付して説明を省略
する。
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク3は、記録層15の中間層14と反対の側に中間誘電
体層17が直接形成されており、実施の形態1に示した
補助記録層は形成されていない。また記録層15はTb
FeCoで形成されたREリッチの磁性膜であり、50nm
の厚みを有している。これらの再生層13,中間層1
4,記録層15及び磁場発生層18のキュリー温度を夫
々Tc1,Tc2,Tc3及びTc5とした場合に、T
c2<Tc1,Tc2<Tc3<Tc5の関係を満たし
ている。キュリー温度Tc3<Tc5の関係により、記
録時及び消去時にレーザ光を照射した際に達する温度ま
での範囲内で磁場発生層18の磁化が反転することがな
い。また、再生層13,記録層15及び磁場発生層18
の室温における保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5
とした場合に、Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係
を満たしている。その他の構成は実施の形態1と同様で
あり、対応する部分に対応する符号を付して説明を省略
する。
【0050】以上の構成の光磁気ディスク3の必要消去
磁場及び必要再生磁場を測定したところ、必要消去磁場
は200 Oeであり、必要再生磁場は300 Oeであった。
記録層15をREリッチ組成とすることにより、即ち補
償組成を有することにより必要消去磁場を低減でき、磁
場発生層18を形成することにより印加すべき再生磁場
を低減できた。
磁場及び必要再生磁場を測定したところ、必要消去磁場
は200 Oeであり、必要再生磁場は300 Oeであった。
記録層15をREリッチ組成とすることにより、即ち補
償組成を有することにより必要消去磁場を低減でき、磁
場発生層18を形成することにより印加すべき再生磁場
を低減できた。
【0051】実施の形態4.図7は実施の形態4の光磁
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク4は、再生層13から熱伝導層20までの積層膜につ
いては実施の形態3と同様であり、対応する部分に対応
する符号を付してその説明を省略する。これらの積層膜
の最外層として、熱伝導層20の側にポリカーボネート
製の基板11が積層され、再生層13の側にSiNから
なる90nmの厚みの上地誘電体層22が形成されている。
なお、保護層19の厚みは25nmである。
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク4は、再生層13から熱伝導層20までの積層膜につ
いては実施の形態3と同様であり、対応する部分に対応
する符号を付してその説明を省略する。これらの積層膜
の最外層として、熱伝導層20の側にポリカーボネート
製の基板11が積層され、再生層13の側にSiNから
なる90nmの厚みの上地誘電体層22が形成されている。
なお、保護層19の厚みは25nmである。
【0052】このような構成の光磁気ディスク4は、記
録時及び再生時にはレーザ光を上地誘電体層22側から
照射する。光磁気ディスク4について、実施の形態3と
同様、記録層15がREリッチであることにより必要消
去磁場が低減され、磁場発生層18により印加すべき再
生磁場が低減される効果が確認できた。
録時及び再生時にはレーザ光を上地誘電体層22側から
照射する。光磁気ディスク4について、実施の形態3と
同様、記録層15がREリッチであることにより必要消
去磁場が低減され、磁場発生層18により印加すべき再
生磁場が低減される効果が確認できた。
【0053】実施の形態5.実施の形態1(図1参照)
と同様の膜構成で、磁場発生層をTbFeCoで形成し
た媒体を作成した。磁場発生層はTMリッチのTb22F
e53Co25膜であり、キュリー温度が390 ℃で補助記録
層よりも高く、保磁力は記録層より大きい。その他の膜
構成は実施の形態1と同様であり、図面及びその説明を
省略する。
と同様の膜構成で、磁場発生層をTbFeCoで形成し
た媒体を作成した。磁場発生層はTMリッチのTb22F
e53Co25膜であり、キュリー温度が390 ℃で補助記録
層よりも高く、保磁力は記録層より大きい。その他の膜
構成は実施の形態1と同様であり、図面及びその説明を
省略する。
【0054】再生層,中間層,記録層,補助記録層及び
磁場発生層のキュリー温度を夫々Tc1,Tc2,Tc
3,Tc4及びTc5とした場合に、Tc2<Tc1,
Tc2<Tc3<Tc4<Tc5の関係を満たしてい
る。また、再生層,記録層及び磁場発生層の室温におけ
る保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5とした場合
に、Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係を満たして
いる。磁場発生層の初期消去は通常パワーよりも高いレ
ーザパワーを照射しつつ記録方向の磁場を印加して行っ
た。キュリー温度Tc3<Tc4<Tc5の関係によ
り、記録時及び消去時にレーザ光を照射した際に達する
温度までの範囲内で磁場発生層の磁化が反転することは
ない。
磁場発生層のキュリー温度を夫々Tc1,Tc2,Tc
3,Tc4及びTc5とした場合に、Tc2<Tc1,
Tc2<Tc3<Tc4<Tc5の関係を満たしてい
る。また、再生層,記録層及び磁場発生層の室温におけ
る保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5とした場合
に、Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係を満たして
いる。磁場発生層の初期消去は通常パワーよりも高いレ
ーザパワーを照射しつつ記録方向の磁場を印加して行っ
た。キュリー温度Tc3<Tc4<Tc5の関係によ
り、記録時及び消去時にレーザ光を照射した際に達する
温度までの範囲内で磁場発生層の磁化が反転することは
ない。
【0055】以上の構成の光磁気ディスクの必要消去磁
場及び必要再生磁場を測定したところ、必要消去磁場は
200 Oeであり、必要再生磁場は300 Oeであった。実
施の形態1と同様、補助記録層により必要消去磁場が低
減され、磁場発生層により印加すべき再生磁場が低減さ
れる効果が確認できた。
場及び必要再生磁場を測定したところ、必要消去磁場は
200 Oeであり、必要再生磁場は300 Oeであった。実
施の形態1と同様、補助記録層により必要消去磁場が低
減され、磁場発生層により印加すべき再生磁場が低減さ
れる効果が確認できた。
【0056】なお、実施の形態5の光磁気ディスクは、
基板が実施の形態2(図5参照)に示す如く熱伝導層側
に積層してあっても実施の形態5と同様の効果を得るこ
とができる。
基板が実施の形態2(図5参照)に示す如く熱伝導層側
に積層してあっても実施の形態5と同様の効果を得るこ
とができる。
【0057】実施の形態6.実施の形態3(図6参照)
と同様の膜構成で、磁場発生層をTbFeCoで形成し
た媒体を作成した。磁場発生層はTMリッチのTb22F
e53Co25膜であり、キュリー温度が390 ℃で記録層よ
りも高く、保磁力は記録層より大きい。その他の膜構成
は実施の形態3と同様であり、図面及びその説明を省略
する。
と同様の膜構成で、磁場発生層をTbFeCoで形成し
た媒体を作成した。磁場発生層はTMリッチのTb22F
e53Co25膜であり、キュリー温度が390 ℃で記録層よ
りも高く、保磁力は記録層より大きい。その他の膜構成
は実施の形態3と同様であり、図面及びその説明を省略
する。
【0058】以上の構成の光磁気ディスクの必要消去磁
場及び必要再生磁場を測定したところ、必要消去磁場は
200 Oeであり、必要再生磁場は300 Oeであった。実
施の形態3と同様、REリッチの記録層により必要消去
磁場が低減され、磁場発生層により印加すべき再生磁場
が低減される効果が確認できた。
場及び必要再生磁場を測定したところ、必要消去磁場は
200 Oeであり、必要再生磁場は300 Oeであった。実
施の形態3と同様、REリッチの記録層により必要消去
磁場が低減され、磁場発生層により印加すべき再生磁場
が低減される効果が確認できた。
【0059】なお、実施の形態6の光磁気ディスクは、
基板が実施の形態4(図7参照)に示す如く熱伝導層側
に積層してあっても実施の形態6と同様の効果を得るこ
とができる。
基板が実施の形態4(図7参照)に示す如く熱伝導層側
に積層してあっても実施の形態6と同様の効果を得るこ
とができる。
【0060】実施の形態7.図8は実施の形態7の光磁
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク5はトラックピッチが0.6 μmのランドグルーブ基板
上に磁性膜を積層した媒体であり、中間層24をキュリ
ー温度が略260 ℃のGd30Fe58Co12で形成してい
る。本実施の形態7の記録層15はTb22Fe60Co18
で、再生層13はGd26Fe61Co13で実施の形態1の
再生層よりもGd量を略1%多くしている。中間層24
のキュリー温度は記録層15のキュリー温度とほぼ同じ
高さである。これにより再生時に生じる光磁気ディスク
5の温度分布の高温領域では、記録層15−中間層24
−再生層13間に交換結合力が働き、リアマスクが形成
されない。
気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディス
ク5はトラックピッチが0.6 μmのランドグルーブ基板
上に磁性膜を積層した媒体であり、中間層24をキュリ
ー温度が略260 ℃のGd30Fe58Co12で形成してい
る。本実施の形態7の記録層15はTb22Fe60Co18
で、再生層13はGd26Fe61Co13で実施の形態1の
再生層よりもGd量を略1%多くしている。中間層24
のキュリー温度は記録層15のキュリー温度とほぼ同じ
高さである。これにより再生時に生じる光磁気ディスク
5の温度分布の高温領域では、記録層15−中間層24
−再生層13間に交換結合力が働き、リアマスクが形成
されない。
【0061】これらの再生層13,中間層24,記録層
15,補助記録層16及び磁場発生層18のキュリー温
度を夫々Tc1,Tc2,Tc3,Tc4及びTc5と
した場合、Tc2<Tc1,Tc2≒Tc3,Tc3<
Tc4<Tc5の関係を満たしている。キュリー温度T
c3<Tc4<Tc5の関係により、記録時及び消去時
にレーザ光を照射した際に達する温度までの範囲内で磁
場発生層18の磁化が反転することがない。また、再生
層13,記録層15及び磁場発生層18の室温における
保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5とした場合に、
Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係を満たしてい
る。その他の膜構成は実施の形態1と同様であり、対応
する部分を対応する符号で示し、その説明を省略する。
なお、光磁気ディスク5の出荷時の磁場発生層18の初
期消去、情報の記録操作及び再生操作は実施の形態1と
同様に行なう。
15,補助記録層16及び磁場発生層18のキュリー温
度を夫々Tc1,Tc2,Tc3,Tc4及びTc5と
した場合、Tc2<Tc1,Tc2≒Tc3,Tc3<
Tc4<Tc5の関係を満たしている。キュリー温度T
c3<Tc4<Tc5の関係により、記録時及び消去時
にレーザ光を照射した際に達する温度までの範囲内で磁
場発生層18の磁化が反転することがない。また、再生
層13,記録層15及び磁場発生層18の室温における
保磁力を夫々Hc1,Hc3及びHc5とした場合に、
Hc3>Hc1,Hc3<Hc5の関係を満たしてい
る。その他の膜構成は実施の形態1と同様であり、対応
する部分を対応する符号で示し、その説明を省略する。
なお、光磁気ディスク5の出荷時の磁場発生層18の初
期消去、情報の記録操作及び再生操作は実施の形態1と
同様に行なう。
【0062】図9はレーザスポットS内のマスクの形成
状態を示す説明図であり、図9(a)は本実施の形態7
の光磁気ディスク7を示し、図9(b)は従来の光磁気
ディスクを示している。図中Tは再生すべきトラックで
あり、t1 及びt2 はその両側のトラックを示す。図9
(b)に示すように、従来の光磁気ディスクではレーザ
スポットS内にフロントマスクFとリアマスクRが形成
された所謂ダブルマスク形式であり、その間の開口領域
Oから情報が読出されるようになっているが、図9
(a)の本実施の形態7ではフロントマスクFのみが形
成されており、開口領域Oの両側トラックt1 ,t2 へ
の広がりはダブルマスク形式よりも小さいことが判る。
即ち、実施の形態7の光磁気ディスク5は、低温領域で
は中間層24と記録層との間の界面磁壁は生じるが、高
温領域では記録層13と中間層24との間の界面磁壁が
生じないためにリアマスクが形成されず、フロントマス
クFのみが生じている。リアマスクが生じないために、
フロントマスクFはレーザスポットSのリア側に広が
り、従って開口部Oの領域が光磁気ディスク5の径方向
に狭くなっている。
状態を示す説明図であり、図9(a)は本実施の形態7
の光磁気ディスク7を示し、図9(b)は従来の光磁気
ディスクを示している。図中Tは再生すべきトラックで
あり、t1 及びt2 はその両側のトラックを示す。図9
(b)に示すように、従来の光磁気ディスクではレーザ
スポットS内にフロントマスクFとリアマスクRが形成
された所謂ダブルマスク形式であり、その間の開口領域
Oから情報が読出されるようになっているが、図9
(a)の本実施の形態7ではフロントマスクFのみが形
成されており、開口領域Oの両側トラックt1 ,t2 へ
の広がりはダブルマスク形式よりも小さいことが判る。
即ち、実施の形態7の光磁気ディスク5は、低温領域で
は中間層24と記録層との間の界面磁壁は生じるが、高
温領域では記録層13と中間層24との間の界面磁壁が
生じないためにリアマスクが形成されず、フロントマス
クFのみが生じている。リアマスクが生じないために、
フロントマスクFはレーザスポットSのリア側に広が
り、従って開口部Oの領域が光磁気ディスク5の径方向
に狭くなっている。
【0063】図10は実施の形態7の光磁気ディスクの
温度に対するマスク形成磁場の関係を示すグラフであ
る。縦軸はマスク形成に必要な磁場の大きさを示し、横
軸は温度を示している。グラフ中、実線は実施の形態7
の光磁気ディスクについて、破線は従来のMSR媒体に
ついて示し、‘○’はフロントマスクを、‘◇ ’はリ
アマスクを夫々示している。グラフから、リアマスクを
形成するために必要な磁場が実施の形態7は従来例より
も高温側にシフトしていることが判る。これは従来例と
同程度の再生磁場の印加ではリアマスクが形成されない
ことを示している。
温度に対するマスク形成磁場の関係を示すグラフであ
る。縦軸はマスク形成に必要な磁場の大きさを示し、横
軸は温度を示している。グラフ中、実線は実施の形態7
の光磁気ディスクについて、破線は従来のMSR媒体に
ついて示し、‘○’はフロントマスクを、‘◇ ’はリ
アマスクを夫々示している。グラフから、リアマスクを
形成するために必要な磁場が実施の形態7は従来例より
も高温側にシフトしていることが判る。これは従来例と
同程度の再生磁場の印加ではリアマスクが形成されない
ことを示している。
【0064】本実施の形態7の光磁気ディスク5につい
て、消去磁場特性及び再生磁場特性を調べた。結果を図
11及び図12に示す。図11は実施の形態7の光磁気
ディスクの記録消去磁場依存性を示すグラフである。縦
軸はCNRを示している。横軸は記録(消去)磁場の大
きさを示し、正側は記録磁場を、負側は消去磁場を示し
ている。また図12は実施の形態7の光磁気ディスクの
再生磁場依存性を示すグラフである。縦軸はCNRを横
軸は再生磁場を示している。図11及び図12から、光
磁気ディスク5に必要な消去磁場は200Oe以下であ
り、再生時に印加する外部磁場は300Oe以下で良い
ことが判る。
て、消去磁場特性及び再生磁場特性を調べた。結果を図
11及び図12に示す。図11は実施の形態7の光磁気
ディスクの記録消去磁場依存性を示すグラフである。縦
軸はCNRを示している。横軸は記録(消去)磁場の大
きさを示し、正側は記録磁場を、負側は消去磁場を示し
ている。また図12は実施の形態7の光磁気ディスクの
再生磁場依存性を示すグラフである。縦軸はCNRを横
軸は再生磁場を示している。図11及び図12から、光
磁気ディスク5に必要な消去磁場は200Oe以下であ
り、再生時に印加する外部磁場は300Oe以下で良い
ことが判る。
【0065】また、本実施の形態7の光磁気ディスクの
クロストークの大きさについて調べた。光磁気ディスク
5はトラックTの両側のトラックt1 ,t2 のみにクロ
ストーク測定用の信号が記録されており、レーザビーム
をトラックTに照射してクロストーク値を測定した。そ
の結果を図13に示す。図13は、実施の形態7の光磁
気ディスクの再生パワーに対するクロストークの大きさ
を示すグラフである。縦軸はクロストークを示し、横軸
はレーザ光の再生パワーを示している。グラフ中、
‘○’はグルーブからの漏れ込みを示し、‘△’はラン
ドからの漏れ込みを示している。グラフから判るよう
に、再生パワーが高くなっても光磁気ディスク5のクロ
ストークは許容値である−20dBよりも小さい値を示
しており、クロストークが低減されていると言える。
クロストークの大きさについて調べた。光磁気ディスク
5はトラックTの両側のトラックt1 ,t2 のみにクロ
ストーク測定用の信号が記録されており、レーザビーム
をトラックTに照射してクロストーク値を測定した。そ
の結果を図13に示す。図13は、実施の形態7の光磁
気ディスクの再生パワーに対するクロストークの大きさ
を示すグラフである。縦軸はクロストークを示し、横軸
はレーザ光の再生パワーを示している。グラフ中、
‘○’はグルーブからの漏れ込みを示し、‘△’はラン
ドからの漏れ込みを示している。グラフから判るよう
に、再生パワーが高くなっても光磁気ディスク5のクロ
ストークは許容値である−20dBよりも小さい値を示
しており、クロストークが低減されていると言える。
【0066】以上の如く、本実施の形態7の光磁気ディ
スク5は、磁場発生層18により再生時に印加する外部
磁場の大きさを増大させずに必要消去磁場を低減するこ
とができるという実施の形態1と同様の効果を示し、さ
らに加えて、再生時にリアマスクRを形成せずにフロン
トマスクFのみを形成してMSR再生を行なうことによ
り、クロストークを低減できる効果を得る。
スク5は、磁場発生層18により再生時に印加する外部
磁場の大きさを増大させずに必要消去磁場を低減するこ
とができるという実施の形態1と同様の効果を示し、さ
らに加えて、再生時にリアマスクRを形成せずにフロン
トマスクFのみを形成してMSR再生を行なうことによ
り、クロストークを低減できる効果を得る。
【0067】なお、実施の形態7では、中間層24のキ
ュリー温度を記録層15とほぼ同程度まで上げることに
よりフロントマスクFのみを形成する記録層15−中間
層24−再生層13の積層磁性膜構成に磁場発生層18
を加えた媒体を例に挙げて説明しているが、磁場発生層
18を形成していない膜構成であっても、クロストーク
の低減の効果は得ることができる。
ュリー温度を記録層15とほぼ同程度まで上げることに
よりフロントマスクFのみを形成する記録層15−中間
層24−再生層13の積層磁性膜構成に磁場発生層18
を加えた媒体を例に挙げて説明しているが、磁場発生層
18を形成していない膜構成であっても、クロストーク
の低減の効果は得ることができる。
【0068】また実施の形態7の光磁気ディスクは、補
助記録層16により消去磁場を低減する構成としている
が、補助記録層16を形成する替わりに記録層15を補
償組成を有する磁性膜とすることにより同様の効果を得
ることができる。即ち、記録層15により消去磁場を低
減し、且つ、磁場発生層により再生磁場を低減し、さら
にクロストークを低減できる。
助記録層16により消去磁場を低減する構成としている
が、補助記録層16を形成する替わりに記録層15を補
償組成を有する磁性膜とすることにより同様の効果を得
ることができる。即ち、記録層15により消去磁場を低
減し、且つ、磁場発生層により再生磁場を低減し、さら
にクロストークを低減できる。
【0069】さらに、実施の形態7の光磁気ディスク
は、基板が実施の形態2(図5参照)に示す如く熱伝導
層側に積層してあっても実施の形態5と同様の効果を得
ることができる。
は、基板が実施の形態2(図5参照)に示す如く熱伝導
層側に積層してあっても実施の形態5と同様の効果を得
ることができる。
【0070】実施の形態8.図14は実施の形態8の光
磁気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディ
スク6はトラックピッチが0.6 μm、溝深さが40nm
のランドグルーブ基板上に磁性膜を積層した媒体であ
り、記録層15上にAgPdCuからなる10nmの厚
みの中間熱伝導層20aを積層し、該中間熱伝導層20
a上に中間誘電体層17、磁場発生層18、保護層19
及び熱伝導層20bを順次積層している。中間熱伝導層
20aの他の積層膜の組成及び膜厚は実施の形態3と同
様であり、対応する部分に対応する符号を付して説明を
省略する。
磁気ディスクの膜構成を示す断面図である。光磁気ディ
スク6はトラックピッチが0.6 μm、溝深さが40nm
のランドグルーブ基板上に磁性膜を積層した媒体であ
り、記録層15上にAgPdCuからなる10nmの厚
みの中間熱伝導層20aを積層し、該中間熱伝導層20
a上に中間誘電体層17、磁場発生層18、保護層19
及び熱伝導層20bを順次積層している。中間熱伝導層
20aの他の積層膜の組成及び膜厚は実施の形態3と同
様であり、対応する部分に対応する符号を付して説明を
省略する。
【0071】このような構造の光磁気ディスク6につい
て消去磁場と再生時に印加すべき外部磁場とを測定した
結果、消去磁場は200 Oeであり、再生時に印加する外
部磁場は300 Oeであった。これは実施の形態3と同様
の結果であり、再生時に印加すべき磁場を増大すること
なく必要消去磁場を低減できたことが判る。
て消去磁場と再生時に印加すべき外部磁場とを測定した
結果、消去磁場は200 Oeであり、再生時に印加する外
部磁場は300 Oeであった。これは実施の形態3と同様
の結果であり、再生時に印加すべき磁場を増大すること
なく必要消去磁場を低減できたことが判る。
【0072】次に上述した光磁気ディスク6を中間熱伝
導層20aの膜厚を1nm,3nm,5nmの3種類に
異ならせて作成した。これらについて再生パワーに対す
るクロストークの値を測定した結果、記録パワー感度は
若干低下したものの、いずれの膜厚の中間熱伝導層20
aを有する光磁気ディスクも高い再生パワーを使用して
もクロストークが低減されることが判った。結果を図1
5及び図16に示す。光磁気ディスク6はランドの両側
のグルーブのみにクロストーク測定用の8T信号を記録
しており、ランドに漏れ込んでくる信号を測定した。図
15は実施の形態8の光磁気ディスクの再生パワーに対
するクロストークの大きさを示すグラフである。縦軸は
クロストークを示し、横軸はレーザ光の再生パワーを示
している。グラフ中、‘○’は実施の形態8の光磁気デ
ィスク6を示し、‘●’は中間熱伝導層20aが形成さ
れていない従来の光磁気ディスクを示している。グラフ
から、従来例は再生パワーが4mW未満でクロストーク
が許容値の20dBを超えていることが判る。これに対
して本実施の形態8では再生パワーが5mWを超えても
許容値の20dB以下であり、高い再生パワーでもクロ
ストークが低減されることが判る。
導層20aの膜厚を1nm,3nm,5nmの3種類に
異ならせて作成した。これらについて再生パワーに対す
るクロストークの値を測定した結果、記録パワー感度は
若干低下したものの、いずれの膜厚の中間熱伝導層20
aを有する光磁気ディスクも高い再生パワーを使用して
もクロストークが低減されることが判った。結果を図1
5及び図16に示す。光磁気ディスク6はランドの両側
のグルーブのみにクロストーク測定用の8T信号を記録
しており、ランドに漏れ込んでくる信号を測定した。図
15は実施の形態8の光磁気ディスクの再生パワーに対
するクロストークの大きさを示すグラフである。縦軸は
クロストークを示し、横軸はレーザ光の再生パワーを示
している。グラフ中、‘○’は実施の形態8の光磁気デ
ィスク6を示し、‘●’は中間熱伝導層20aが形成さ
れていない従来の光磁気ディスクを示している。グラフ
から、従来例は再生パワーが4mW未満でクロストーク
が許容値の20dBを超えていることが判る。これに対
して本実施の形態8では再生パワーが5mWを超えても
許容値の20dB以下であり、高い再生パワーでもクロ
ストークが低減されることが判る。
【0073】また、図16は実施の形態8の光磁気ディ
スクの再生磁場に対するクロストークの大きさを示すグ
ラフである。縦軸はクロストークを示し、横軸は再生時
に印加する外部磁場を示している。グラフ中、‘○’は
実施の形態8の光磁気ディスク6を示し、‘●’は中間
熱伝導層20aが形成されていない従来の光磁気ディス
クを示している。グラフから、従来例は再生磁場が350
Oeを超えると許容値の20dBを超えるが、本実施の
形態8では再生磁場が500 Oeでも許容値を大きく下回
っており、クロストークが許容値以下を示す再生磁場の
範囲が広くなっていることが判る。
スクの再生磁場に対するクロストークの大きさを示すグ
ラフである。縦軸はクロストークを示し、横軸は再生時
に印加する外部磁場を示している。グラフ中、‘○’は
実施の形態8の光磁気ディスク6を示し、‘●’は中間
熱伝導層20aが形成されていない従来の光磁気ディス
クを示している。グラフから、従来例は再生磁場が350
Oeを超えると許容値の20dBを超えるが、本実施の
形態8では再生磁場が500 Oeでも許容値を大きく下回
っており、クロストークが許容値以下を示す再生磁場の
範囲が広くなっていることが判る。
【0074】以上の如く、本実施の形態8の光磁気ディ
スク6は再生時に消去磁場及び再生磁場を共に低減でき
るという実施の形態1と同様の効果を示し、さらに加え
て、再生時に高レーザパワーを使用してもクロストーク
を低減できるという効果を得る。クロストークの低減
は、再生時のレーザ光照射による熱を中間熱伝導層20
aがレーザスポットの外側にすばやく逃がすので、レー
ザスポット内の温度分布がディスク径方向に急峻になる
ためと考えられる。
スク6は再生時に消去磁場及び再生磁場を共に低減でき
るという実施の形態1と同様の効果を示し、さらに加え
て、再生時に高レーザパワーを使用してもクロストーク
を低減できるという効果を得る。クロストークの低減
は、再生時のレーザ光照射による熱を中間熱伝導層20
aがレーザスポットの外側にすばやく逃がすので、レー
ザスポット内の温度分布がディスク径方向に急峻になる
ためと考えられる。
【0075】なお、本実施の形態8の光磁気ディスク6
の最外層の熱伝導層20bが形成されていない媒体につ
いても同様に、再生磁場且つ消去磁場の低減、及びクロ
ストークの改善効果が得られ、記録パワー感度も向上で
きることが判った。
の最外層の熱伝導層20bが形成されていない媒体につ
いても同様に、再生磁場且つ消去磁場の低減、及びクロ
ストークの改善効果が得られ、記録パワー感度も向上で
きることが判った。
【0076】また、上述した中間熱伝導層20aはAg
PdCu合金を例に挙げて説明しているが、これに限る
ものではなく、AlCr,AlTiなどのAl合金,A
l単体など、再生層13,中間層14及び記録層15よ
りも熱伝導率が高い材料であれば同様の効果を得ること
ができる。また最外層の熱伝導層20bについても同様
のことが言える。
PdCu合金を例に挙げて説明しているが、これに限る
ものではなく、AlCr,AlTiなどのAl合金,A
l単体など、再生層13,中間層14及び記録層15よ
りも熱伝導率が高い材料であれば同様の効果を得ること
ができる。また最外層の熱伝導層20bについても同様
のことが言える。
【0077】さらに実施の形態8では、記録層15−中
間層14−再生層15の積層磁性膜構成の記録層15上
に直接中間熱伝導層20aを積層し、さらに中間熱伝導
層20a上に中間誘電体層17を介して磁場発生層18
を加えた媒体を例に挙げて説明しているが、磁場発生層
18を形成しない膜構成であっても、クロストークの低
減の効果を得ることができる。
間層14−再生層15の積層磁性膜構成の記録層15上
に直接中間熱伝導層20aを積層し、さらに中間熱伝導
層20a上に中間誘電体層17を介して磁場発生層18
を加えた媒体を例に挙げて説明しているが、磁場発生層
18を形成しない膜構成であっても、クロストークの低
減の効果を得ることができる。
【0078】さらにまた、実施の形態8の光磁気ディス
クは、基板が実施の形態4(図7参照)に示す如く熱伝
導層側に積層してあっても実施の形態6と同様の効果を
得ることができる。
クは、基板が実施の形態4(図7参照)に示す如く熱伝
導層側に積層してあっても実施の形態6と同様の効果を
得ることができる。
【0079】さらにまた、実施の形態8の光磁気ディス
クは、記録層15と中間熱伝導層20aとの間に補助記
録層を形成してあっても同様の効果を得る。即ち、クロ
ストークを低減でき、補助記録層により消去磁場を低減
でき、且つ、磁場発生層により再生磁場も低減できる。
補助記録層は希土類遷移金属合金で形成され、キュリー
温度まで補償温度を有さず、記録層よりも高いキュリー
温度のREリッチ組成を有する。
クは、記録層15と中間熱伝導層20aとの間に補助記
録層を形成してあっても同様の効果を得る。即ち、クロ
ストークを低減でき、補助記録層により消去磁場を低減
でき、且つ、磁場発生層により再生磁場も低減できる。
補助記録層は希土類遷移金属合金で形成され、キュリー
温度まで補償温度を有さず、記録層よりも高いキュリー
温度のREリッチ組成を有する。
【0080】以上の如く、実施の形態1〜実施の形態8
では、MSR再生のために記録層,中間層及び再生層の
3層構成の媒体を例に挙げて説明しているが、これに限
るものではなく、他の磁性膜を加えて構成してあっても
良く、MSR再生が可能な他の膜構成であれば良い。
では、MSR再生のために記録層,中間層及び再生層の
3層構成の媒体を例に挙げて説明しているが、これに限
るものではなく、他の磁性膜を加えて構成してあっても
良く、MSR再生が可能な他の膜構成であれば良い。
【0081】(付記1)少なくとも記録層及び再生層を
含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光ビ
ームを照射して前記記録層に情報を記録し、再生時に磁
場を印加しつつ光ビームを照射してビームスポット径よ
り小さい領域からの前記情報の読出しが可能な光磁気記
録媒体において、前記積層磁性膜の再生層よりも記録層
に近い側に、磁性体からなる磁場発生層を備えることを
特徴とする光磁気記録媒体。
含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光ビ
ームを照射して前記記録層に情報を記録し、再生時に磁
場を印加しつつ光ビームを照射してビームスポット径よ
り小さい領域からの前記情報の読出しが可能な光磁気記
録媒体において、前記積層磁性膜の再生層よりも記録層
に近い側に、磁性体からなる磁場発生層を備えることを
特徴とする光磁気記録媒体。
【0082】(付記2)少なくとも記録層、中間層及び
再生層を含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加し
つつ光ビームを照射して前記記録層に情報が記録され、
再生時に磁場を印加しつつ光ビームを照射して生じた媒
体内温度分布の低温領域の積層膜間及び高温領域の積層
膜間に界面磁壁を生ぜしめ、中間温度領域から前記情報
の読出しが可能な光磁気記録媒体において、前記積層磁
性膜の再生層よりも記録層に近い側に、磁性体からなる
磁場発生層を備えることを特徴とする光磁気記録媒体。
再生層を含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加し
つつ光ビームを照射して前記記録層に情報が記録され、
再生時に磁場を印加しつつ光ビームを照射して生じた媒
体内温度分布の低温領域の積層膜間及び高温領域の積層
膜間に界面磁壁を生ぜしめ、中間温度領域から前記情報
の読出しが可能な光磁気記録媒体において、前記積層磁
性膜の再生層よりも記録層に近い側に、磁性体からなる
磁場発生層を備えることを特徴とする光磁気記録媒体。
【0083】(付記3)前記磁場発生層と前記記録層と
の間に非磁性層を介在せしめてある付記1又は2記載の
光磁気記録媒体。
の間に非磁性層を介在せしめてある付記1又は2記載の
光磁気記録媒体。
【0084】(付記4)前記記録層は補償組成を有して
おり、前記磁場発生層は積層方向の磁化容易特性を有
し、前記記録層よりも高いキュリー温度と大きな保磁力
とを有する付記1,2又は3記載の光磁気記録媒体。
おり、前記磁場発生層は積層方向の磁化容易特性を有
し、前記記録層よりも高いキュリー温度と大きな保磁力
とを有する付記1,2又は3記載の光磁気記録媒体。
【0085】(付記5)前記記録層と前記非磁性層との
間に、希土類遷移金属からなり、キュリー温度まで補償
温度を有さず、前記記録層よりも高いキュリー温度を有
する希土類金属磁化優勢の補助記録層を介在せしめてあ
る付記3記載の光磁気記録媒体。
間に、希土類遷移金属からなり、キュリー温度まで補償
温度を有さず、前記記録層よりも高いキュリー温度を有
する希土類金属磁化優勢の補助記録層を介在せしめてあ
る付記3記載の光磁気記録媒体。
【0086】(付記6)前記磁場発生層は積層方向の磁
化容易特性を有し、前記補助記録層よりも高いキュリー
温度と前記記録層よりも大きな保磁力とを有する希土類
遷移金属である付記5記載の光磁気記録媒体。
化容易特性を有し、前記補助記録層よりも高いキュリー
温度と前記記録層よりも大きな保磁力とを有する希土類
遷移金属である付記5記載の光磁気記録媒体。
【0087】(付記7)少なくとも記録層及び再生層を
含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光ビ
ームを照射して前記記録層に情報を記録し、再生時に磁
場を印加しつつ光ビームを照射して生じた媒体内温度分
布により特定される領域からの前記情報の読出しが可能
な光磁気記録媒体において、前記積層磁性膜の夫々は、
再生時に前記温度分布の低温領域又は高温領域のいずれ
かに積層膜間の界面磁壁を生ぜしめる組成を有すること
を特徴とする光磁気記録媒体。
含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光ビ
ームを照射して前記記録層に情報を記録し、再生時に磁
場を印加しつつ光ビームを照射して生じた媒体内温度分
布により特定される領域からの前記情報の読出しが可能
な光磁気記録媒体において、前記積層磁性膜の夫々は、
再生時に前記温度分布の低温領域又は高温領域のいずれ
かに積層膜間の界面磁壁を生ぜしめる組成を有すること
を特徴とする光磁気記録媒体。
【0088】(付記8)前記記録層は補償組成で積層方
向の磁化容易特性を有し、前記再生層は積層方向の磁化
容易特性を有しており、さらに、前記記録層及び再生層
間にあり、室温で面内方向の磁化容易特性を有し、前記
記録層と略同等のキュリー温度を有する中間層と、該記
録層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に形成さ
れ、積層方向の磁化容易特性を有し、前記記録層よりも
高いキュリー温度と大きな保磁力とを有する磁性体から
なる磁場発生層とを備える付記7記載の光磁気記録媒
体。
向の磁化容易特性を有し、前記再生層は積層方向の磁化
容易特性を有しており、さらに、前記記録層及び再生層
間にあり、室温で面内方向の磁化容易特性を有し、前記
記録層と略同等のキュリー温度を有する中間層と、該記
録層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に形成さ
れ、積層方向の磁化容易特性を有し、前記記録層よりも
高いキュリー温度と大きな保磁力とを有する磁性体から
なる磁場発生層とを備える付記7記載の光磁気記録媒
体。
【0089】(付記9)前記記録層及び前記再生層は積
層方向の磁化容易特性を有しており、さらに、前記記録
層及び再生層間にあり、室温で面内方向の磁化容易特性
を有し、前記記録層と略同等のキュリー温度を有する中
間層と、前記積層磁性膜の再生層よりも記録層に近い側
に形成され、キュリー温度まで補償温度を有さず、前記
記録層よりも高いキュリー温度を有する希土類金属磁化
優勢の希土類遷移金属からなる補助記録層と、該補助記
録層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に形成さ
れ、積層方向の磁化容易特性を有し、前記補助記録層よ
りも高いキュリー温度と前記記録層よりも大きな保磁力
とを有する磁性体からなる磁場発生層とを備える付記7
記載の光磁気記録媒体。
層方向の磁化容易特性を有しており、さらに、前記記録
層及び再生層間にあり、室温で面内方向の磁化容易特性
を有し、前記記録層と略同等のキュリー温度を有する中
間層と、前記積層磁性膜の再生層よりも記録層に近い側
に形成され、キュリー温度まで補償温度を有さず、前記
記録層よりも高いキュリー温度を有する希土類金属磁化
優勢の希土類遷移金属からなる補助記録層と、該補助記
録層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に形成さ
れ、積層方向の磁化容易特性を有し、前記補助記録層よ
りも高いキュリー温度と前記記録層よりも大きな保磁力
とを有する磁性体からなる磁場発生層とを備える付記7
記載の光磁気記録媒体。
【0090】(付記10)少なくとも記録層及び再生層
を含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光
ビームを照射して前記記録層に情報を記録し、再生時に
磁場を印加しつつ光ビームを照射して生じた媒体内温度
分布により特定される領域からの前記情報の読出しが可
能な光磁気記録媒体において、前記記録層に接触して熱
伝導層を備えることを特徴とする光磁気記録媒体。
を含む積層磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光
ビームを照射して前記記録層に情報を記録し、再生時に
磁場を印加しつつ光ビームを照射して生じた媒体内温度
分布により特定される領域からの前記情報の読出しが可
能な光磁気記録媒体において、前記記録層に接触して熱
伝導層を備えることを特徴とする光磁気記録媒体。
【0091】(付記11)前記記録層は補償組成で積層
方向の磁化容易特性を有し、前記再生層は積層方向の磁
化容易特性を有しており、さらに、前記記録層及び再生
層間にあり、室温で面内方向の磁化容易特性を有し、前
記記録層と略同等のキュリー温度を有する中間層と、前
記熱伝導層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に
形成され、積層方向の磁化容易特性を有し、前記記録層
よりも高いキュリー温度と大きな保磁力とを有する磁性
体からなる磁場発生層とを備える付記10記載の光磁気
記録媒体。
方向の磁化容易特性を有し、前記再生層は積層方向の磁
化容易特性を有しており、さらに、前記記録層及び再生
層間にあり、室温で面内方向の磁化容易特性を有し、前
記記録層と略同等のキュリー温度を有する中間層と、前
記熱伝導層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に
形成され、積層方向の磁化容易特性を有し、前記記録層
よりも高いキュリー温度と大きな保磁力とを有する磁性
体からなる磁場発生層とを備える付記10記載の光磁気
記録媒体。
【0092】(付記12)前記記録層及び前記再生層は
積層方向の磁化容易特性を有しており、さらに、前記記
録層及び再生層間にあり、室温で面内方向の磁化容易特
性を有し、前記記録層と略同等のキュリー温度を有する
中間層と、前記積層磁性膜の再生層よりも記録層に近い
側に形成され、キュリー温度まで補償温度を有さず、前
記記録層よりも高いキュリー温度を有する希土類金属磁
化優勢の希土類遷移金属からなる補助記録層と、該補助
記録層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に形成
され、積層方向の磁化容易特性を有し、前記補助記録層
よりも高いキュリー温度と前記記録層よりも大きな保磁
力とを有する磁性体からなる磁場発生層とを備える付記
10記載の光磁気記録媒体。
積層方向の磁化容易特性を有しており、さらに、前記記
録層及び再生層間にあり、室温で面内方向の磁化容易特
性を有し、前記記録層と略同等のキュリー温度を有する
中間層と、前記積層磁性膜の再生層よりも記録層に近い
側に形成され、キュリー温度まで補償温度を有さず、前
記記録層よりも高いキュリー温度を有する希土類金属磁
化優勢の希土類遷移金属からなる補助記録層と、該補助
記録層上に形成された非磁性層と、該非磁性層上に形成
され、積層方向の磁化容易特性を有し、前記補助記録層
よりも高いキュリー温度と前記記録層よりも大きな保磁
力とを有する磁性体からなる磁場発生層とを備える付記
10記載の光磁気記録媒体。
【0093】(付記13)前記熱伝導層は、前記磁性膜
よりも高い熱伝導率を有し、10nm以下の厚みを有す
る付記10,11又は12記載の光磁気記録媒体。
よりも高い熱伝導率を有し、10nm以下の厚みを有す
る付記10,11又は12記載の光磁気記録媒体。
【0094】
【発明の効果】以上のように本発明においては、少なく
とも記録層及び再生層を含む積層磁性膜に付加した磁場
発生層が再生時に磁場を生じ、磁性積層膜に作用するの
で、外部から印加する再生磁場をその分低減できる。ま
た、補償組成の記録層又は補助記録層は消去磁場を低減
すると共に再生磁場を増大させるが、磁場発生層により
再生磁場を低減することができる。さらに、低温領域又
は高温領域のいずれか一方にのみ界面磁壁を形成するこ
とにより、マスク領域の媒体径方向の広がりを抑えてク
ロストークを低減でき、さらに磁場発生層を付加するこ
とにより再生磁場も低減できる。さらにまた、記録層上
に熱伝導層を直接形成することによりビームスポット内
の温度分布が急峻になり、クロストークを低減でき、さ
らに磁場発生層を付加することにより再生磁場も低減で
きる等、本発明は優れた効果を奏する。
とも記録層及び再生層を含む積層磁性膜に付加した磁場
発生層が再生時に磁場を生じ、磁性積層膜に作用するの
で、外部から印加する再生磁場をその分低減できる。ま
た、補償組成の記録層又は補助記録層は消去磁場を低減
すると共に再生磁場を増大させるが、磁場発生層により
再生磁場を低減することができる。さらに、低温領域又
は高温領域のいずれか一方にのみ界面磁壁を形成するこ
とにより、マスク領域の媒体径方向の広がりを抑えてク
ロストークを低減でき、さらに磁場発生層を付加するこ
とにより再生磁場も低減できる。さらにまた、記録層上
に熱伝導層を直接形成することによりビームスポット内
の温度分布が急峻になり、クロストークを低減でき、さ
らに磁場発生層を付加することにより再生磁場も低減で
きる等、本発明は優れた効果を奏する。
【図1】本発明の実施の形態1の光磁気ディスクの膜構
成を示す断面図である。
成を示す断面図である。
【図2】実施の形態1の光磁気ディスクの再生時の磁化
状態を示す説明図である。
状態を示す説明図である。
【図3】実施の形態1の光磁気ディスクの記録消去磁場
依存性を示すグラフである。
依存性を示すグラフである。
【図4】実施の形態1の光磁気ディスクの再生磁場依存
性を示すグラフである。
性を示すグラフである。
【図5】実施の形態2の光磁気ディスクの膜構成を示す
断面図である。
断面図である。
【図6】実施の形態3の光磁気ディスクの膜構成を示す
断面図である。
断面図である。
【図7】実施の形態4の光磁気ディスクの膜構成を示す
断面図である。
断面図である。
【図8】実施の形態7の光磁気ディスクの膜構成を示す
断面図である。
断面図である。
【図9】実施の形態7の光磁気ディスクのマスク形成の
状態を従来例と共に示した説明図である。
状態を従来例と共に示した説明図である。
【図10】実施の形態7の光磁気ディスクの温度に対す
るマスク形成磁場の関係を示すグラフである。
るマスク形成磁場の関係を示すグラフである。
【図11】実施の形態7の光磁気ディスクの記録消去磁
場依存性を示すグラフである。
場依存性を示すグラフである。
【図12】実施の形態7の光磁気ディスクの再生磁場依
存性を示すグラフである。
存性を示すグラフである。
【図13】実施の形態7の光磁気ディスクの再生パワー
に対するクロストークの大きさを示すグラフである。
に対するクロストークの大きさを示すグラフである。
【図14】実施の形態8の光磁気ディスクの膜構成を示
す断面図である。
す断面図である。
【図15】実施の形態8の光磁気ディスクの再生パワー
に対するクロストークの大きさを示すグラフである。
に対するクロストークの大きさを示すグラフである。
【図16】実施の形態8の光磁気ディスクの再生磁場に
対するクロストークの大きさを示すグラフである。
対するクロストークの大きさを示すグラフである。
【図17】従来の光磁気ディスクの記録消去磁場依存性
を示すグラフである。
を示すグラフである。
【図18】従来の光磁気ディスクの消去磁場と再生磁場
との関係を示すグラフである。
との関係を示すグラフである。
1,2,3,4,5,6 光磁気ディスク 11 基板 13 再生層 14,24 中間層 15 記録層 16 補助記録層 17 中間誘電体層 18 磁場発生層 20,20b 熱伝導層 20a 中間熱伝導層
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G11B 11/105 563 G11B 11/105 563G
Claims (9)
- 【請求項1】 少なくとも記録層及び再生層を含む積層
磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光ビームを照
射して前記記録層に情報を記録し、再生時に磁場を印加
しつつ光ビームを照射してビームスポット径より小さい
領域からの前記情報の読出しが可能な光磁気記録媒体に
おいて、 前記積層磁性膜の再生層よりも記録層に近い側に、磁性
体からなる磁場発生層を備えることを特徴とする光磁気
記録媒体。 - 【請求項2】 前記磁場発生層と前記記録層との間に非
磁性層を介在せしめてある請求項1記載の光磁気記録媒
体。 - 【請求項3】 前記記録層は補償組成を有しており、前
記磁場発生層は積層方向の磁化容易特性を有し、前記記
録層よりも高いキュリー温度と大きな保磁力とを有する
請求項1又は2記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項4】 前記記録層と前記非磁性層との間に、希
土類遷移金属からなり、キュリー温度まで補償温度を有
さず、前記記録層よりも高いキュリー温度を有する希土
類金属磁化優勢の補助記録層を介在せしめてある請求項
2記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項5】 前記磁場発生層は積層方向の磁化容易特
性を有し、前記補助記録層よりも高いキュリー温度と前
記記録層よりも大きな保磁力とを有する希土類遷移金属
である請求項4記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項6】 少なくとも記録層及び再生層を含む積層
磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光ビームを照
射して前記記録層に情報を記録し、再生時に磁場を印加
しつつ光ビームを照射して生じた媒体内温度分布により
特定される領域からの前記情報の読出しが可能な光磁気
記録媒体において、 前記積層磁性膜の夫々は、再生時に前記温度分布の低温
領域又は高温領域のいずれかに積層膜間の界面磁壁を生
ぜしめる組成を有することを特徴とする光磁気記録媒
体。 - 【請求項7】 前記記録層及び前記再生層は積層方向の
磁化容易特性を有しており、さらに、 前記記録層及び再生層間にあり、室温で面内方向の磁化
容易特性を有し、前記記録層と略同等のキュリー温度を
有する中間層と、 前記積層磁性膜の再生層よりも記録層に近い側に形成さ
れ、キュリー温度まで補償温度を有さず、前記記録層よ
りも高いキュリー温度を有する希土類金属磁化優勢の希
土類遷移金属からなる補助記録層と、 該補助記録層上に形成された非磁性層と、 該非磁性層上に形成され、積層方向の磁化容易特性を有
し、前記補助記録層よりも高いキュリー温度と前記記録
層よりも大きな保磁力とを有する磁性体からなる磁場発
生層とを備える請求項6記載の光磁気記録媒体。 - 【請求項8】 少なくとも記録層及び再生層を含む積層
磁性膜を有し、記録時に磁場を印加しつつ光ビームを照
射して前記記録層に情報を記録し、再生時に磁場を印加
しつつ光ビームを照射して生じた媒体内温度分布により
特定される領域からの前記情報の読出しが可能な光磁気
記録媒体において、 前記記録層に接触して熱伝導層を備えることを特徴とす
る光磁気記録媒体。 - 【請求項9】 前記記録層は補償組成で積層方向の磁化
容易特性を有し、前記再生層は積層方向の磁化容易特性
を有しており、さらに、 前記記録層及び再生層間にあり、室温で面内方向の磁化
容易特性を有し、前記記録層と略同等のキュリー温度を
有する中間層と、 前記熱伝導層上に形成された非磁性層と、 該非磁性層上に形成され、積層方向の磁化容易特性を有
し、前記記録層よりも高いキュリー温度と大きな保磁力
とを有する磁性体からなる磁場発生層とを備える請求項
8記載の光磁気記録媒体。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000155491A JP2001338448A (ja) | 2000-05-25 | 2000-05-25 | 光磁気記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000155491A JP2001338448A (ja) | 2000-05-25 | 2000-05-25 | 光磁気記録媒体 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001338448A true JP2001338448A (ja) | 2001-12-07 |
Family
ID=18660427
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000155491A Pending JP2001338448A (ja) | 2000-05-25 | 2000-05-25 | 光磁気記録媒体 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001338448A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003003363A1 (en) * | 2001-06-29 | 2003-01-09 | Sony Corporation | sAGNETO-OPTICAL RECORDING MEDIUM AND ITS PRODUCTION METHOD |
-
2000
- 2000-05-25 JP JP2000155491A patent/JP2001338448A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2003003363A1 (en) * | 2001-06-29 | 2003-01-09 | Sony Corporation | sAGNETO-OPTICAL RECORDING MEDIUM AND ITS PRODUCTION METHOD |
US7173884B2 (en) | 2001-06-29 | 2007-02-06 | Sony Corporation | Magnetooptic recording medium and its manufacturing method |
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