JP2001332206A - 電子ビーム利用機器 - Google Patents

電子ビーム利用機器

Info

Publication number
JP2001332206A
JP2001332206A JP2000154353A JP2000154353A JP2001332206A JP 2001332206 A JP2001332206 A JP 2001332206A JP 2000154353 A JP2000154353 A JP 2000154353A JP 2000154353 A JP2000154353 A JP 2000154353A JP 2001332206 A JP2001332206 A JP 2001332206A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
stage
electron microscope
vibration
vibration absorber
weight
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2000154353A
Other languages
English (en)
Inventor
Masaki Kurihara
雅樹 栗原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP2000154353A priority Critical patent/JP2001332206A/ja
Publication of JP2001332206A publication Critical patent/JP2001332206A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
  • Vibration Prevention Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】電子顕微鏡のステージに動吸振器を用いた制振
装置を設けることにより、空調等の音圧振動によるステ
ージの共振振動を低減して、電子顕微鏡の画像揺れを防
止する電子顕微鏡を提供することにある。 【解決手段】本発明は、電子顕微鏡のステージに、みぞ
形枠部材と、その内側に納められた錘と、板ばねと、板
ばねの変形可能な部分の長さを調整する調整部材と、板
ばねと錘を固定する固定板と、錘を支持するゴム部材と
から構成し、電子顕微鏡本体に直接、音圧振動が作用し
ても電子顕微鏡のステージと対物レンズとの相対変位を
低減することができることにより、画像揺れを防止する
ことができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子顕微鏡及び電子
ビーム加工機等の電子ビーム利用機器において、そのス
テージに作用する振動を減衰させるのに好適な制振装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】電子ビーム利用機器のうち、ここでは電
子顕微鏡を例にとって以下説明する。走査型電子顕微鏡
では、除振装置で支持された定盤上にチャンバが搭載さ
れ、チャンバ内には試料を任意の位置に移動を可能にす
る片持ち状に支持されたステージが設けられている。ス
テージによる試料の移動は、ステージが支持されるステ
ージケースに設けられた操作軸により行われる。ステー
ジのL型テーブルはステージケース内に設けられたリニ
アガイドにより上下方向に移動でき、L形テーブル上に
設けられたX,Yテーブルは水平2次元方向に移動でき
る。これにより、Yテーブル上に設けられた試料台を任
意の位置に移動させることができる。
【0003】また、チャンバの上部には電子ビームを出
す電子銃と電子ビームを収束させる電磁レンズが設けら
れるレンズホルダが配置され、さらに、レンズホルダ内
及びチャンバ内を真空に引く真空ポンプが、それぞれレ
ンズホルダと定盤に設けられている。
【0004】除振装置は、機器が設置される床面の振動
が原因で画像精度が低下するのを防ぐために設けられ、
水平方向及び上下方向に剛性の低い弾性体のばね部材と
減衰効果を有する粘性ダンパ等の振動減衰部材とから構
成される。また、特開平9−223477号公報に記載
されているように、チャンバに設けられた空気シリンダ
でL形テーブルを押し付けて、L形テーブルを両持ち状
に支持することによって、ステージの高剛性化を図り、
床振動によるステージの振動をさらに、低減することが
可能である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、最近で
は、クリーンルーム等において、ファン等による音圧振
動が増加しており、この音圧振動により、チャンバが直
接加振され、このチャンバの振動がステージに伝えられ
て、ステージを構成するL形テーブル,X,Yテーブ
ル,試料台が共振し、この試料台と対物レンズとの間の
相対変位が生じることによる画像揺れが問題になってき
ている。
【0006】音圧振動により加振されるチャンバの振動
振幅レベルは振動数が増加すると共に、振動数の二乗に
反比例して減少する傾向がある。従って、ステージを高
剛性化して固有振動数を高くすることによって、音圧振
動のレベルが小さくなる高振動数側にステージの固有振
動数をづらす方法である。しかしながら、ステージの固
有振動数はステージを支持する軸受け剛性の影響を大き
く受けることがあり、本方法が十分な効果を発揮できな
い場合が考えられる。
【0007】上述した特開平9−223477号公報の
ように、空気シリンダ等を用いてステージのL形テーブ
ルを両側から支持し、かつL形テーブルを支持している
軸受に予圧を与えることによってL形テーブルの高剛性
化が図れるが、XテーブルやYテーブルについてはこれ
らが軸受とボールネジのみの支持であるため、高剛性化
を図ることができないという課題がある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、ステー
ジのXテーブルとYテーブルに直接、可変剛性機構を有
する動吸振器を設けることによって、電子顕微鏡等の電
子ビーム利用機器のステージに作用する振動を減衰させ
るのに好適な制振装置を提供することである。
【0009】この課題に対する解決手段は、みぞ形枠部
材と、この内側に納められた錘と、両端をみぞ形枠部材
の2つのつば部に固定された板ばねと、板ばねの変形可
能な部分の長さを調整する調整部材と、板ばねと錘を固
定する固定板と、みぞ形枠部材の2つのつば部に設けら
れたネジ部にねじ込まれた押し付けネジによって錘に加
圧されるゴム部材とから構成された動吸振器によって達
成される。
【0010】以下、本発明の作用を説明する。Xテーブ
ルやYテーブルを一方向になめらかに移動可能にするた
め、一般に、クロスローラ等の軸受とボールネジが用い
られる。この場合、特に可動方向の軸受剛性は大きく取
ることは困難である。さらに、このような軸受では予圧
のかけ方によって軸受剛性が変化してしまう。動吸振器
を効果的に用いるためには、主振動系であるXテーブル
やYテーブルの固有振動数に応じて、動吸振器の固有振
動数を調整することが重要である。
【0011】そのためには、本発明ではばね剛性を可変
にする方法を採用した。本発明は、板ばねの両端はみぞ
形枠部材の2つのつば部に拘束されており、また、錘は
みぞ形枠部材のつば部に設けられたネジ部にねじ込まれ
た押し付けネジによってゴム部材を介して支持される。
また、調整部材は2つのスペーサと、錘の両側面をガイ
ドにしてスペーサを移動可能にするガイド部材から構成
され、2つのスペーサの間に板ばねを挟み、2組の調整
部材を錘と固定板との間に設け、錘の中央部と固定板と
をネジで固定する。この時、板ばねの剛性として寄与す
る板ばねの変形可能な部分の長さを2組の調整部材によ
り最適な剛性が得られるように調整する。この板ばねに
よる最適な剛性は、板ばねによる剛性と、錘及びこれと
一緒に可動する部分の質量とからきまる固有振動数が各
テーブルの固有振動数に対して最適な動吸振器を構成す
るように決定される。
【0012】また、動吸振器における最適な減衰比は通
常10%程度であり、この減衰はみぞ形枠部材の両側か
ら押し付けネジで錘に押し付けられるゴム部材の減衰効
果による。さらに、このゴム部材で錘を支持することに
より、板ばねの面外方向が重力方向と直角方向になるよ
うに設けられた場合にも錘の自重により板ばねがねじら
れることを防止し、動吸振器として所期の性能を発揮さ
せることが可能となる。質量−ばね−減衰要素からなる
本発明の動吸振器は、主振動系から伝達された振動によ
り、ばね要素に支持された動吸振器の質量要素である錘
が振動し、その際、減衰要素により振動エネルギが消費
されることによって主振動系の振動を低減させるもので
ある。
【0013】なお、本発明の制振装置は、走査型電子顕
微鏡のほか、透過型電子顕微鏡及び電子ビームを用いて
加工する電子ビーム加工機などの電子ビーム利用機器に
も適用することができる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、本発明のいくつかの実施例
を、図面を参照して説明する。まず、本発明の一実施例
を図1,図2と図4により説明する。図4の実施例は電
子ビーム利用機器のうち走査型電子顕微鏡50に本発明
の制振装置である動吸振器を適用した例である。この実
施例では、床1あるいはベース上に設置された架台2上
に複数個の除振装置3が設けられ、この除振装置3で支
持された定盤4上に走査型電子顕微鏡50の本体が搭載
されている。走査型電子顕微鏡50の電磁レンズホルダ
14内には電子ビームを放射する電子銃16と電子ビー
ムを収束させる電磁レンズであるコンデンサレンズ15
aと対物レンズ15bが設けられており、電磁レンズホ
ルダ14内は真空ポンプ17aにより真空にされる。ま
た、チャンバ5内には片持ち状に支持されたステージ4
0が設けられており、チャンバ5内は定盤4の下部に設
けられた真空ポンプ16bにより真空にされる。
【0015】ステージ40はL形テーブル7,Xテーブ
ル8,Yテーブル9,試料台10から構成され、ステー
ジ40による試料の移動は、ステージ40が支持される
ステージケース6に設けられた操作軸13により行われ
る。ステージ40のL形テーブル7はステージケース6
内に設けられたリニアガイドにより上下方向に移動で
き、L形テーブル7上に設けられたXテーブル8とYテ
ーブル9は水平2次元方向に移動でき、これらによっ
て、Yテーブル9上に設けられた試料台10は任意の位
置に移動することができる。
【0016】試料の画像を見る際には例えば、アクチュ
エータ12等を操作して、アクチュエータ12のロッド
をL形テーブル7に設けた荷重受け板11に押し当て
て、L形テーブル7を両持ち支持すると共に、L形テー
ブル7を支持する軸受に予圧を加えることによって、高
剛性化を図る。電子銃15から放射された電子ビームが
電磁レンズで収束され、試料に当たると、試料から2次
電子が放出され、この2次電子をチャンバ5に設けられ
た2次電子検出器18で検出して、この情報に基づいて
画像処理された試料の画像が画像表示装置19に表示さ
れる。
【0017】図1は本発明の動吸振器をXテーブルとY
テーブルに設けた配置例の側面図であり、図2は本発明
の一実施例である縦断面図である。図1と図2を用いて
本発明の動吸振器の構造を説明する。
【0018】図2の実施例では、みぞ形枠部材21の内
側に錘22が納められており、みぞ形枠部材21の2つ
のつば部に板ばね23の両端が第1の固定板24aと第
1の固定ネジ25bによって固定される。また、板ばね
23の変形可能な部分の長さを調整する2組の調整部材
30が錘22と第2の固定板24bの間に設けられ、各
調整部材30は2つのスペーサ26を有しており、この
2つのスペーサ26aと26bは板ばね23を挟むよう
に配置される。さらに、第2の固定板24bと錘22は
第2の固定ネジ25bにより固定されることによって、
板ばね23は錘22に固定される。また、みぞ形枠部材
21の2つのつば部に設けられたネジ部にねじ込まれた
押し付けネジ27によってゴム部材28は錘22に押し
付けられる。
【0019】図1に示すXテーブル8はXテーブル8と
L形テーブル7との間にクロスローラ軸受により支持さ
れて紙面の左右方向に移動可能になっており、Yテーブ
ル9はYテーブル9とXテーブル8との間にクロスロー
ラ軸受により支持されて紙面に対して垂直方向に移動可
能になっている。Xテーブル8とYテーブル9はこの図
では省略されているボールネジ系によって移動させられ
る。X,Yテーブル8,9は共に可動方向が最も剛性が
低くなるので、可動方向に制振効果が発揮されるよう
に、動吸振器20を設けることになる。
【0020】従って、図1ではこの動吸振器20は取り
付けネジ29によってXテーブル8とYテーブル9に、
板ばね23の面外方向が各テーブルの可動方向と一致す
るように取り付けられる。この時、錘22はみぞ形枠部
材21のつば部にねじ込まれた押し付けネジ27とゴム
部材28によって支持され、錘22の自重による板ばね
23のねじり変形は防止される。
【0021】図1と図2を用いて、この実施例の作用を
説明する。動吸振器20における最適剛性の調整は、動
吸振器20がチャンバ5に設けられる前に行っておく。
すなわち、除振装置で支持されたチャンバ模擬体にステ
ージケース6を固定し、荷重受け板11に実際と同様な
荷重を掛けておく。この状態でランダム加振もしくはス
イープ加振を行える加振器をチャンバ模擬体に取り付け
て加振し、チャンバ模擬体と試料台10に加速度センサ
を配置して、Xテーブル8とYテーブル9の伝達関数を
求め、それぞれのテーブルの可動方向の固有振動数を求
める。
【0022】次に、これらの固有振動数に対して、動吸
振器20の錘22に連結されている可動部質量(以下、
簡単のため、錘22の質量と呼ぶ)と2つの調整部材3
0で調整された板ばね23による剛性から決まる固有振
動数を最適化する。実際には、動吸振器20の調整部材
30の移動量と動吸振器20の固有振動数の関係を予め
調べておくと良い。動吸振器20の固有振動数の調整は
錘22の中央に設けられた第2の固定ネジ25bに対し
て調整部材30を対称に動かして行う。2つの調整部材
30の間隙を広げるほど板ばね23の変形可能な長さが
短くなるため、板ばね23による剛性が大きくなり、動
吸振器20の固有振動数が増加する。テーブルの質量を
M、動吸振器20の錘22の質量をm、これらの質量比
をμ(=m/M)とし、また、テーブルの固有振動数を
Ωnとするとき、一般に、動吸振器20の最適固有振動
数ωoptは、次式で与えられる。
【0023】
【数1】 ωopt=Ωn/(1+μ) …(数1) 動吸振器の制振効果は質量比が大きいほど大きくなる
が、錘の大きさに制限がある場合には錘の材料としてタ
ンタル材のような比重の大きい材料を用いると有利であ
る。
【0024】また、動吸振器20の減衰係数をcとし、
この減衰比をζ=c/(2√mk)で定義すれば、最適
減衰比ζopt は次式で与えられる。
【0025】
【数2】
【0026】ただし、本実施例の動吸振器20の減衰効
果はゴム部材29によって与えられるが、通常この最適
減衰比は10%程度であり、人工ゴム部材では10%前
後の減衰比が得られるので、好都合である。なお、真空
中で用いるにはフッ素ゴムが適している。
【0027】Xテーブル8とYテーブル9の固有振動数
に対して、上述のように調整した動吸振器20を各テー
ブルに取り付け、加振器により動吸振器20の制振効果
を確認する。もしさらに調整が必要な場合は、テーブル
に取り付けた状態で加振試験を繰り返して、最適調整を
行っても良い。このように最適調整された動吸振器20
を設けたステージ40を有するステージケース6を走査
型電子顕微鏡50本体に取り付ける。
【0028】走査型電子顕微鏡50に悪影響を与える外
部振動のうち、音圧振動は直接、走査型電子顕微鏡50
のチャンバ5及び電磁レンズホルダ14を振動させる。
チャンバ5からステージ40に、振動が伝達されると、
動吸振器20が設けられていない場合には、ステージ4
0のXテーブル8及びYテーブル9の固有振動数近傍の
振動成分により、Xテーブル8とYテーブル9は共振を
起こして、Yテーブル9上に設けられた試料台10には
大きな振動が発生するが、最適調整された動吸振器20
が設けられていると、各テーブルに伝達された振動は動
吸振器20の錘22を振動させて、この振動により動吸
振器20のゴム部材28が有する減衰効果により振動エ
ネルギが消費され、Xテーブル8及びYテーブル9の振
動が抑制される。従って、ステージ40の試料台10と
対物レンズ15bと間の相対変位が減少して、画像揺れ
が抑えられることになる。なお、本動吸振器20は、
X,Yテーブルだけでなく、必要があれば、L形テーブ
ル7制振用にも用いることが可能である。
【0029】図4は調整部材30の別の実施例である。
この調整部材30は、2つのスペーサ26と、この2つ
のスペーサ26の両側面を包み、しかも錘22の両側面
の一部まで伸びたつば部と、さらに、2つのスペーサ2
6の移動方向の前後を拘束するつめ部材32を有するガ
イド部材31から構成される。このガイド部材31を有
する調整部材30においては、ガイド部材31を移動さ
せることによって、2つのスペーサ26はつめ部材32
により保持されているので、2つのスペーサ26を同時
に移動させることができ、しかもガイド部材31のつば
部により錘22の側面をガイドにしているので、調整部
材30は錘22から外れることがなく、容易に調整部材
30全体を移動させることができる。
【0030】
【発明の効果】上述のとおり、本発明によれば、音圧振
動によるステージのXテーブルとYテーブルの可動方向
の振動を動吸振器により抑制して、画像揺れのない走査
型電子顕微鏡を提供することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の動吸振器をステージに配置した実施例
の立面図である。
【図2】本発明の動吸振器の一実施例の縦断面図であ
る。
【図3】本発明の動吸振器の調整部材の別の実施例の縦
断面図である。
【図4】本発明の実施例を走査型電子顕微鏡に適用した
縦断面図である。
【符号の説明】
1…床、2…架台、3…除振装置、4…定盤、5…チャ
ンバ、6…ステージケース、7…L形テーブル、8…X
テーブル、9…Yテーブル、10…試料台、11…荷重
受け板、12…アクチュエータ、13…操作軸、14…
レンズホルダ、15…電磁レンズ、16…電子銃、17
…真空ポンプ、18…2次電子検出器、19…画像表示
装置、20…動吸振器、21…みぞ形枠部材、22…
錘、23…板ばね、24…固定部材、25…固定ネジ、
26…スペーサ、27…押し付けネジ、28…ゴム部
材、29…取り付けネジ、30…調整部材、31…ガイ
ド部材、32…つめ部材、40…ステージ、50…走査
型電子顕微鏡。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】チャンバ内に設置されたステージを有する
    電子ビーム利用機器において、ステージを構成するテー
    ブルに動吸振器を設けることを特徴とする電子ビーム利
    用機器。
JP2000154353A 2000-05-22 2000-05-22 電子ビーム利用機器 Pending JP2001332206A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000154353A JP2001332206A (ja) 2000-05-22 2000-05-22 電子ビーム利用機器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000154353A JP2001332206A (ja) 2000-05-22 2000-05-22 電子ビーム利用機器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001332206A true JP2001332206A (ja) 2001-11-30

Family

ID=18659458

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000154353A Pending JP2001332206A (ja) 2000-05-22 2000-05-22 電子ビーム利用機器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001332206A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6598545B2 (en) * 2001-04-10 2003-07-29 Newport Corporation Vibration damper for optical tables and other structures
JP2017015261A (ja) * 2010-12-29 2017-01-19 ニューポート・コーポレイションNewport Corporation 同調可能振動ダンパならびに製造および同調方法

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6598545B2 (en) * 2001-04-10 2003-07-29 Newport Corporation Vibration damper for optical tables and other structures
JP2017015261A (ja) * 2010-12-29 2017-01-19 ニューポート・コーポレイションNewport Corporation 同調可能振動ダンパならびに製造および同調方法
KR20180071381A (ko) * 2010-12-29 2018-06-27 뉴포트 코포레이션 동조 가능한 진동 댐퍼,및 제조 및 동조 방법
US10024381B2 (en) 2010-12-29 2018-07-17 Newport Corporation Tunable vibration dampers and methods of manufacture and tuning
KR101950160B1 (ko) * 2010-12-29 2019-02-19 뉴포트 코포레이션 동조 가능한 진동 댐퍼,및 제조 및 동조 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10208742B2 (en) Arrangement and method for damping vibrations during microscopic examinations
EP0019426B2 (en) A structure for vibration isolation in an apparatus with a vacuum system
JP5476087B2 (ja) 荷電粒子線装置の物体位置決め装置
JP2000504087A (ja) 調整可能減衰と減摩転動質量塊を有する質量緩衝装置
JP7150848B2 (ja) 振動絶縁システム
WO2011043391A1 (ja) 荷電粒子線装置
JP6676407B2 (ja) 荷電粒子線装置、及び荷電粒子線装置用制振ダンパ
WO2018225546A1 (ja) 荷電粒子線装置
JP2001332206A (ja) 電子ビーム利用機器
JP2003130132A (ja) 除振機構
JP2007078122A (ja) 除振装置
JP6362941B2 (ja) 荷電粒子線装置
US8927930B2 (en) Charged particle device
JP2002122788A (ja) 顕微鏡のための振動減衰装置および振動減衰装置を備えた顕微鏡
KR101364289B1 (ko) 주사 전자 현미경
JPH08273570A (ja) 試料に対する精密作業を行う装置
WO2000016371A1 (fr) Equipement d'exploitation d'un faisceau
JP2008052946A (ja) ビーム応用装置
JP2004068914A (ja) 除振機構
JP2000323079A (ja) 電子顕微鏡および試料ステージ
JP2000230604A (ja) 防振用ベースプレート
JPH08128498A (ja) アクティブ除振装置
JP2001076660A (ja) 荷電粒子ビーム装置
US20220240003A1 (en) Acoustic device
JP2003288856A (ja) 荷電粒子ビーム装置