JP2001330568A - コンピュータ断層撮影方法および装置 - Google Patents

コンピュータ断層撮影方法および装置

Info

Publication number
JP2001330568A
JP2001330568A JP2000148407A JP2000148407A JP2001330568A JP 2001330568 A JP2001330568 A JP 2001330568A JP 2000148407 A JP2000148407 A JP 2000148407A JP 2000148407 A JP2000148407 A JP 2000148407A JP 2001330568 A JP2001330568 A JP 2001330568A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
rotation
radiation
dimensional
subject
transmission data
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000148407A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001330568A5 (ja
JP4087547B2 (ja
Inventor
Masaji Fujii
正司 藤井
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Teruo Yamamoto
輝夫 山本
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba FA Systems Engineering Corp
Original Assignee
Toshiba FA Systems Engineering Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba FA Systems Engineering Corp filed Critical Toshiba FA Systems Engineering Corp
Priority to JP2000148407A priority Critical patent/JP4087547B2/ja
Publication of JP2001330568A publication Critical patent/JP2001330568A/ja
Publication of JP2001330568A5 publication Critical patent/JP2001330568A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4087547B2 publication Critical patent/JP4087547B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】撮影の高速化あるいは画像の高品質化に寄与す
ること。 【解決手段】放射線ビームを放射する放射線源1と、放
射線源1からの放射線ビーム2を2次元の空間分解能をも
って検出する放射線検出器3と、放射線ビーム2内で被検
体4を相対回転させる回転手段5,6と、回転手段5,6によ
る回転中に放射線検出器3で得られた被検体4の多方向か
らの2次元透過データを、それぞれ3次元像の各体積素
に回転面にほぼ平行な少なくとも一つの方向の計算ルー
プの内側に回転軸方向の計算ループをもって逆投影して
被検体4の3次元像を作成する再構成手段9とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、非破壊検査装置の
うちのコンピュータ断層撮影方法および装置に係り、特
に撮影の高速化、あるいは画像の高品質化に寄与し得る
ようにしたコンピュータ断層撮影方法および装置に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】近年、小型電子部品等を高分解能で検査
することを目的として、高分解能型の産業用のコンピュ
ータ断層撮影装置(以下、CTスキャナ)が製作される
ようになってきている。
【0003】図13は、この種の従来の高分解能型CT
スキャナのシステム構成例を示す概要図であり、これは
透過像と断面像の両方が得られるものである。
【0004】図13において、X線管101と、このX線
管101から放射されるコーン状のX線ビーム102を2次元
の空間分解能をもって検出する検出器103が対向して配
置され、このX線ビーム102中の被検体104の透過像を得
るようになっている。
【0005】透過像は、リアルタイムで動画像として表
示することもできれば、データ処理部109で加算してノ
イズを低減させて表示することもできる。
【0006】回転テーブル105および回転昇降機構106
は、シフト機構107によりX線管101に近づけたり遠ざけ
たりされ、撮影距離が変更され、撮影距離を小さくした
場合、撮影倍率を上げることができる。
【0007】断面像を撮影する場合には、回転テーブル
105上の被検体104を回転昇降機構106により回転させな
がら多数の透過像を得る。
【0008】この多数の透過像をデータ処理部109で処
理して、回転軸112に直交する撮影面111を通る透過像か
ら、この撮影面111上の断面像を得る。
【0009】その再構成法としては、主に例えば「CT
スキャナ」(岩井喜典編:コロナ社)等に示されている
フィルタ補正逆投影法(FBP法)が用いられる。
【0010】被検体104の断面像位置の変更は、被検体1
04を回転軸112方向に昇降させて行なうが、回転テーブ
ル105を同時に回転および昇降させるヘリカルスキャン
を行なって、1回の撮影で撮影面111にほぼ平行な複数
の断面像(3次元像)を得る方法もある。
【0011】さらに、ヘリカルスキャンを行ない、なお
かつ撮影面111の外を通る透過像も使って撮影断層面111
にほぼ平行な複数の断面像を得る方法もある。
【0012】この時の再構成法としては、FBP法の応
用として、例えば次のような文献に記載されている。
【0013】(文献1)「CT装置」(株)東芝 荒舘
博、南部 恭二郎、“特開平4-224736号公報” ここにある第1の再構成法は、撮影面111の外を通る透
過像面が撮影面111に対して傾斜するのを平行面と見な
して逆投影しているため、若干、回転軸112方向の分解
能が低下するのに対して、同文献にある第2の再構成法
は、傾斜に従って逆投影しているため、回転軸112方向
の分解能を上げることができる。
【0014】この第2の再構成法は、下記の文献に記載
されている方法(フェルドカンプ法)をヘリカルスキャ
ンに対して適用したものと言える。
【0015】(文献2)“Practica1 cone-beam algori
thm”L.A.Fe1dkamp, L.C.Davis,and J.W.Kress J.0
pt.Soc.Am./Vol.1,No.6,pp.612-619/June1984
【0016】
【発明が解決しようとする課題】ところで、最近では、
CTスキャナを用いた検査に対する要求が強く、被検体
の種類や検査内容も拡大しつつある。このため、画質の
高品質化の要求や撮影の高速化の要求が、益々高くなる
傾向にある。
【0017】しかしながら、上述した従来の高分解能型
CTスキャナで、コーン状のX線ビーム102を用いて、
複数の断面像を一回のスキャンで得る場合、断面像の再
構成に要する時間が長く、撮影の高速化のネックになる
という問題がある。
【0018】また、前述した文献1、文献2等には、コ
ーン状のX線ビーム102を用いた(また同時にヘリカルス
キャンした)場合の具体的な再構成の高速化の手法につ
いては記載されていない。
【0019】一方、上述した従来の高分解能型CTスキ
ャナでは、被検体104をX線の焦点に近づけることで、
高分解能の画像が得られる特徴を有しているが、他方フ
ァン状ではなくコーン状のX線ビーム102が被検体104に
照射されることから、被検体104で散乱されて検出器103
に入射する散乱X線が増加し、被検体104によっては断
面像が不鮮明になり、十分な検査が行なえないという問
題がある。
【0020】また、被検体104により、柔らかく変形し
易い場合等があり、撮影中に動きが生じて断面像が不鮮
明になるという問題がある。
【0021】さらに、任意に選択した撮影条件によって
は、再構成のフィルタ関数が不適当で、ノイズの大きい
画像になってしまうことがある。そして、このような場
合には、フィルタ関数を再度選択して再構成し直してい
る。
【0022】本発明の目的は、撮影の高速化あるいは画
像の高品質化に寄与することが可能なコンピュータ断層
撮影方法および装置を提供することにある。
【0023】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めに、請求項1に対応する発明のコンピュータ断層撮影
装置は、放射線ビームを放射する放射線源と、放射線源
からの放射線ビームを2次元の空間分解能をもって検出
する放射線検出器と、放射線ビーム内で被検体を相対回
転させる回転手段と、回転手段による回転中に放射線検
出器で得られた被検体の多方向からの2次元透過データ
を、それぞれ3次元像の各体積素に回転面にほぼ平行な
少なくとも一つの方向の計算ループの内側に回転軸方向
の計算ループをもって逆投影して被検体の3次元像を作
成する再構成手段とを備えている。
【0024】従って、請求項1に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、回転面にほぼ平行な面
内での一つの体積素への逆投影係数が、その体積素を通
る回転軸にほぼ平行な線上の複数の体積素への逆投影に
共通に使用できるため、再構成を高速で行なうことがで
きる。
【0025】また、請求項2に対応する発明のコンピュ
ータ断層撮影装置は、上記請求項1に対応する発明のコ
ンピュータ断層撮影装置において、再構成手段は、2次
元透過データを3次元像の体積素の回転軸にほぼ平行な
一つの面にほぼ平行なセンタリング面上に逆投影(2次
元センタリング)し、当該センタリング面上の値を当該
センタリング面にほぼ平行な体積素の集合毎に各体積素
に逆投影するようにしている。
【0026】従って、請求項2に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、第2の逆投影が平行面
間の逆投影となるため、逆投影係数の計算時間が短縮で
き、再構成を高速で行なうことができる。
【0027】さらに、請求項3に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置は、上記請求項1または請求項2に
対応する発明のコンピュータ断層撮影装置において、放
射線ビーム内で被検体を回転の軸方向に相対移動(並
進)させる並進手段を付加し、回転手段による回転と並
進手段による並進とをほぼ同時に行ないながら透過デー
タを収集するようにしている。
【0028】従って、請求項3に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、被検体の回転軸方向の
広い領域にわたる3次元像を一度に得ることができる。
【0029】さらにまた、請求項4に対応する発明で
は、上記請求項1乃至請求項3のいずれか1項に対応す
る発明のコンピュータ断層撮影装置において、再構成手
段は、2次元透過データを回転の軸位置で0.5、当該
回転の軸に直交する左右側に傾きが対称な0から1まで
変化する傾斜部を有し、当該傾斜部の外は片側が0逆側
が1である窓関数を掛ける窓関数掛け部を有している。
【0030】従って、請求項4に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、大きな被検体を撮影す
る目的で、放射線検出器の検出する放射線ビームの端部
に回転中心を設定して、この端部側のビーム外に被検体
をはみ出させて透過データを得る(オフセットスキャン)
場合に、窓関数を掛けることで投影データの急激な変化
が避けられ、偽像(リング状)の少ない3次元像を得るこ
とができる。また、データ列を再編成(パラレルデータ
への変換等)することが不要となり、再構成を高速で行
なうことができる。
【0031】一方、請求項5に対応する発明のコンピュ
ータ断層撮影装置は、放射線ビームを放射する放射線源
と、放射線源からの放射線ビームを2次元の空間分解能
をもって検出する放射線検出器と、放射線ビーム内で被
検体を相対回転させる回転手段と、回転手段による回転
中に放射線検出器で得られた被検体の多方向からの2次
元透過データから被検体の断面像を作成する再構成手段
と、放射線ビームを回転面に沿ったファンビームに制限
するコリメータと、コリメータにより遮られた通路の透
過データを用いて、遮られなかった透過データの散乱放
射線の補正を行なう散乱線補正手段とを備えている。
【0032】従って、請求項5に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、遮られた通路の透過デ
ータから散乱放射線のみの強度が得られ、遮られなかっ
た透過データからこの透過データの2次元位置に近い遮
られた通路の透過データを差し引くことで散乱線補正が
でき、高品質な断面像を得ることができる。
【0033】一方、請求項6に対応する発明のコンピュ
ータ断層撮影方法は、放射線ビームを放射する放射線源
と、放射線源からの放射線ビームを2次元の空間分解能
をもって検出する放射線検出器と、放射線ビーム内で被
検体を回転させる回転手段と、回転手段による回転中に
放射線検出器で得られた被検体の多方向からの2次元透
過データから被検体の断面像を作成する再構成手段とを
備えたコンピュータ断層撮影装置を用いて、撮影前に被
検体に一定速度の回転を行なわせる工程と、一定速度の
回転を保ったまま2次元透過データを収集して3次元像
あるいは断面像の撮影を行なう工程とを備えている。
【0034】従って、請求項6に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影方法においては、一定速度回転を続け
て、その後に回転速度を変えずに撮影するため、変形し
易い被検体でも動きを終息させて撮影でき、高品質な3
次元像を得ることができる。
【0035】一方、請求項7に対応する発明のコンピュ
ータ断層撮影装置は、放射線ビームを放射する放射線源
と、放射線源からの放射線ビームを空間分解能をもって
検出する放射線検出器と、放射線ビーム内で被検体を回
転させる回転手段と、回転手段による回転中に放射線検
出器で得られた被検体の多方向からの透過データから被
検体の断面像を作成する再構成手段とを備え、再構成手
段は、透過データの信号ノイズ比に基づいてフィルタ関
数を選択しフィルタ補正逆投影して3次元像を作成する
ようにしている。
【0036】従って、請求項7に対応する発明のコンピ
ュータ断層撮影装置においては、撮影倍率や管電圧、管
電流、スキャン時間等の撮影条件を任意に変更しても、
透過データの信号ノイズ比でフィルタ関数を選択するた
め、画像ノイズと空間分解能との関係が最適な断面像を
得ることができる。
【0037】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態につい
て図面を参照して詳細に説明する。
【0038】(第1の実施の形態)図1は、本実施の形
態によるCTスキャナのシステム構成例を示す概要図で
ある。
【0039】図1において、放射線源であるX線管1と
しては、放射するX線ビーム2の焦点Fが数ないし数十
μmのマイクロフォーカスX線管を用い、放射線検出器
3にはフォトダイオードアレイにシンチレータを貼り付
けたX線平面固体検出器(またはX線l.l.(像増強管)
とテレビカメラのもの)を用いている。
【0040】X線管1および放射線検出器3は対向して配
置され、フロアに図示しない支持部材で支持されてい
る。
【0041】被検体4は、回転テーブル5上に載置され、
回転・昇降機構6でX線ビーム2内で撮影面11に沿って回
転されると共に、撮影面11に直角に昇降される。
【0042】また、被検体4は、回転テーブル5と回転・
昇降機構6と共にフロアに支持されたシフト機構7によ
り、撮影面11に沿ってX線管1と放射線検出器3との間を
移動して、撮影倍率が変更される。
【0043】なお、図示していないが、上記機構の部分
はX線遮蔽で囲われている。
【0044】一方、構成要素として、他に、放射線検出
器3からの透過像を処理するデータ処理部9と、処理結果
等を表示する表示部10と、データ処理部9からの指令で
機構部を制御する機構制御部8と、X線管1の管電圧、管
電流を制御するX線制御部13等を備えている。
【0045】データ処理部9および表示部10は通常のコ
ンピュータで、CPU、メモリ、ディスク、キーボー
ド、インターフェース等からなり、断層撮影のシークェ
ンスやデータから3次元像を再構成するソフトウエア等
を記憶している。
【0046】操作者は、データ処理部9および表示部10
を用いて、メニュー選択や条件設定、機構部手動操作、
断層撮影の開始、装置のステータス読取、3次元像の表
示、3次元像の解析等を行なう。
【0047】データ処理部9は、放射線検出器3からのデ
ジタルデータを処理する空気補正部14と、LOG変換部
15と、再構成部16とを備えてなり、さらに再構成部16
は、フィルタ掛け部16aと体積BP部16bとからなる。
【0048】次に、以上のように構成した本実施の形態
によるCTスキャナの作用について説明する。
【0049】図1において、透過像を得る場合には、操
作者は被検体4をテーブル5に載せ、管電圧と管電流を設
定してX線をONし、透過像を表示部10に表示させる。
【0050】3次元像の場合には、回転・昇降機構6で
被検体4を昇降させ、検査位置中心を撮影面11に合わせ
る。
【0051】これは、透過像を見ながら行なうこともで
きる。
【0052】断層撮影を開始すると、回転テーブル5が
回転し、この間にデータ処理部9により透過像が収集さ
れ、360°方向で△φ間隔で得られた撮影面11近傍の透
過データから、この面近傍の3次元像が再構成され、表
示部10に表示される。
【0053】まず、透過像は空気補正部14で、あらかじ
め収集してある被検体4のない場合のデータdaとの比が
取られることで、チャンネル毎に利得補正がなされる。
【0054】 h=(d−doff)/(da−doff) ・・・(1) ここで、doffはX線OFF時のデータである。
【0055】次に、チャンネル毎にLOG変換部15で対
数変換され、吸収係数の線積分に相当する投影データp
に変換される。
【0056】p=LOG(1/h) ・・・(2) 回転角φでのn,mチャンネルの投影データをpφ
(n,m)と記載して、次にフィルタ掛け部16aで撮影
面11に沿ったn方向に高域強調のフィルタを掛ける。
【0057】これは、n方向にフーリエ変換して周波数
空間で周波数にほぼ比例するフィルタ関数を掛け、逆フ
ーリエ変換で戻すことで行なわれる。
【0058】次に、体積BP部16bで、各体積素(ボク
セル)に逆投影される。
【0059】この逆投影処理について、図2に示す幾何
図、および図3に示すフロー図を用いて説明する。
【0060】なお、既出の符号および図より明らかな符
号の説明については省略する。
【0061】図2(a)および(b)は、被検体4に固
定した座標x,y,zで見たX線焦点Fと検出面17の位置
である。Fの回転角をφとする。
【0062】再構成する体積の各ボクセルをi,j,kで番
号づけ、ボクセルサイズを△x,△y,△zとする。
【0063】ここで、△yは△xと等しく設定し、△zも
△xと等しくすることが好ましい。
【0064】次に、図3において、ステップS1で360°
分のφループとなり、ステップS2でFのx,y座標xF,
yFが計算され、 xF=FCD・sinφ ・・・(3) yF=FCD・cosφ ・・・(4) FCD:焦点、回転中心間距離ステップS3,S4でボクセル
j,iのループに入り、ステップS5でnij,△mij, L2を求
める。
【0065】 nij,mijk:ボクセルi,j,kにBPされるチャンネル番号 △mij:kが1増加したときのmijkの増分 1/L2:BPウエイト x=(i−ic)・△x ・・・(5) y=(jc−j)・△y ・・・(6) △x,△y,△z:ボクセルサイズ φ'=arctan((xF−x)/(yF−y)) ・・・(7) θ=φ−φ' ・・・(8) nij=nc+FDD・tanθ/d ・・・(9) L2=((xF−x)2+(yF−y)2)/FCD2 ・・・(10) △mij=FDD/(√(L2)・FCD・cosθ)・△z/d ・・・(11 ) d:チャンネル間隔 FDD:焦点、検出面間距離 ステップS5で、さらにmijkの初期値を設定する。
【0066】 mijk=mc+(ks−kc)・△mij ・・・(12) 次に、ステップS6でkループに入り、ステップS7でボク
セルi,j,kへのたし込みを行なう。
【0067】 pbp(i,j,k)=pbp(i,j,k)+pφ(nij,mijk) /(L2+(kc−k)2・△z2/FCD2) ≒pbp(i,j,k)+pφ(nij,mijk)/L2 ・・・(13) ここで、nijとmijkは一般に整数とならないので、補
間計算を行なう。
【0068】次に、ステップS8で、次のkのためにmij
kを更新する。
【0069】mijk=mijk+△mij ・・・(14) ステップS9,S10,S11でk,i,jについて繰り返すことで
体積全体についてたし込み、ステップS12でφを繰り返
し一つの体積に逆投影をたし込んで逆投影処理が終わ
り、体積の3次元像ができる。
【0070】以上の逆投影処理の説明では、説明をわか
り易くするため最速な計算式になっておらず、式はルー
プ外に出せる部分を多く含んでいる。
【0071】上述したように、本実施の形態によるCT
スキャナでは、回転軸12方向のボクセルのループ、すな
わちkループを最内としているので、対応チャンネルn
ij,mijk(あるいは△mij)の計算をkループ内で共通
にできるため、前述した従来のように、kループをi,j
ループの外側にする場合よりも計算に無駄が無くなる。
【0072】また、データを収集した順に他のデータを
待つことなく再構成できるため、再構成速度を上げるこ
とが可能となる。
【0073】さらに、撮影面11からの傾斜に従って逆投
影しているため、回転軸12方向の分解能を上げることが
可能となる。
【0074】(第1の実施の形態の変形例)BPウエイ
トは、1/L2以外にさらに図4で示すように、回転角
によるウエイトw(φ)を掛けるようにしてもよい。
【0075】この場合、360°+2αの回転の間、デー
タ収集を行なう。このウェイトを掛けると、360°の回
転の前後が平均されるため、撮影中に被検体4が回転テ
ーブル5上で微動しても偽像が生じ難くなる。
【0076】ウェイトw(φ)は、傾斜部が曲線でもよ
い。すなわち、360°ずらしたものと加算した時1にな
るようになっていればよい。
【0077】(第2の実施の形態)本実施の形態による
CTスキャナのシステム構成は前記図1と同様であり、
体積BP部16bによる逆投影処理の方法のみが異なって
いる。
【0078】従ってここでは、本実施の形態のCTスキ
ャナの逆投影処理(作用)について、図5および図6に
示す幾何図、および図7に示すフロー図を用いて説明す
る。
【0079】なお、既出の符号および図より明らかな符
号の説明については省略する。
【0080】図5は、被検体4に固定した座標x,y,zで
見たX線焦点Fと検出面17の位置である。Fの回転角を
φとする。
【0081】図6も同様で、再構成する体積の各ボクセ
ルをi,j,kで番号づけ、ボクセルサイズを△x,△y,△z
とする(△y=△x)。
【0082】次に、図7において、ステップS1で360°
分の投影データpは90°分ずつのクオータに分けられ、
ステップS2で最初の90°分のφc(計算回転角)ループ
となり、ステップS3でデータ収集回転角φを計算する. φ=φc+nq・π/2 ・・・(15) nq:クオータ番号 ステップS4で、φが収集中のφであるか判定して頭だ
し、あるいは終了を行なう。
【0083】ステップS5で、Fのx,y座標xF,yFが
計算される。
【0084】 xF=FCD・sinφc ・・・(16) yF=FCD・cosφc ・・・(17) 次に、ステップS6〜ステップS11でセンタリングを行な
う。
【0085】図5において、センタリングは検出面17上
のデータをxz平面上のpqマトリックスに逆投影する
処理である。
【0086】ステップS6でpループに入り、ステップS7
でnpを求める。
【0087】 xo=(p−pc)・cp ・・・(18) x1=xo・cosφc ・・・(19) mag1=FDD/√((xF−xo)2+yF2−x12)) ・・・(20) np=nc+x1・mag1/d ・・・(21) np,mpq:マトリックスp,qにBPされるチャンネル番号 cp,cq:センタリングピッチ 次に、ステップS8でqループに入り、ステップS9でmp
q、ステップS10でセンタリングデータpc(p,q)を求め
る。
【0088】 mpq=mc+(q−qc)・cq・mag1/d ・・・(22) pc(p,q)=pφ(np,mpq) ・・・(23) ここで、npとmpqは一般に整数とならないので、補間
計算を行なう。
【0089】次に、ステップS11で、次のq,pを繰り
返す。
【0090】次に、ステップS12〜ステップS22でBPを
行なう。
【0091】図6において、ステップS12でjループに入
り、ステップS13でpoj、△pj、△qjを求める。
【0092】 mag2=yF/(yF+(j−jc)・△y) ・・・(24) poj=pc+(xF−mag2・(xF+ic・△x))/cp ・・(25) △pj=mag2・△x/cp ・・・(26) △qj=mag2・△y/cp ・・・(27) pij,qjk:ボクセルi,j,kにBPされるマトリックス番
号 △pj:iが1増加したときのpijの増分 △qj:kが1増加したときのqjkの増分 ステップS13で、さらにpijの初期値を設定する。
【0093】pij=poj ・・・(28) 次に、Sステップ14でiループに入り、ステップS15でL
2を計算する。
【0094】 x=(i−ic)・△x ・・・(29) y=(jc−j)・△y ・・・(30) L2=((xF−x)2+(yF−y)2)/FCD2 ・・・(31) ステップS15で、さらにqjkの初期値を設定する。
【0095】 qjk=qc+(ks−kc)・△qj ・・・(32) 次に、ステップS16でkループに入り、ステップS17でボ
クセルi,j,kへのたし込みを行なう。
【0096】 pbp(i,j,k)=pbp(i,j,k)+pc(pij,qjk) /(L2+(kc−k)2・△z2/FCD2) ≒pbp(i,j,k)+pc(pij,qjk)/L2 ・・・(33) ここで、pijとqjkは一般に整数とならないので、補間
計算を行なうか、最近傍pcを選択する。
【0097】次に、ステップS18で、次のkのためにqj
kを更新する。
【0098】qjk=qjk+△qj ・・・(34) ステップS19でkループを繰り返し、ステップS20で次の
iのためにpijを更新する。
【0099】pij=pij+△Pj (35) ステップS21,S22でi,jについて繰り返すことで体積全
体についてたし込み、ステップS23でφcを繰り返し一つ
の体積に逆投影をだし込んで行く。
【0100】ステップS24で画像を90度回転し、ステッ
プS25でクオータについて繰り返して逆投影処理が終わ
り、体積の3次元像ができる。
【0101】以上の逆投影処理の説明では、説明をわか
り易くするため最速な計算式になっておらず、式はルー
プ外に出せる部分を多く含んでいる。
【0102】上述したように、本実施の形態によるCT
スキャナでは、まず、各回転位置φで検出面17上のデー
タをxz平面に逆投影してセンタリングデータpcを求
めると、pcはボクセルの一つの面ik平面に平行な面
上で等間隔で得られるため、ik面への逆投影計算(具
体的には、pij,qjkの計算)を著しく簡略化すること
ができ、再構成速度を上げることが可能となる。
【0103】また、前述した第1の実施の形態と同様
に、回転軸12方向のボクセルのループ、すなわちkルー
プを最内としているので、対応チャンネルpij,qjk
(あるいは△qj)の計算をkループ内で共通にできる
ため、前述した従来のように、kループをi,jループの
外側にする場合よりも計算に無駄が無くなり、再構成速
度を上げることが可能となる。
【0104】さらに、データを収集した順に他のデータ
を待つことなく再構成できるため、再構成速度を上げる
ことが可能となる。
【0105】さらにまた、撮影面11からの傾斜に従って
逆投影しているため、回転軸12方向の分解能を上げるこ
とが可能となる。
【0106】(第2の実施の形態の変形例)前述した第
1の実施の形態の変形例と同様に、BPウエイトは、1
/L2以外にさらに図4で示すように、回転角によるウ
エイトw(φ)を掛けるようにしてもよい。この場合に
も、同様の作用効果を得ることができる。
【0107】第2の実施の形態において、体積のk方向
がij方向と比較して同等のサイズの場合には、iルー
プをkループの内側にするようにしてもよい。この場
合、式(33)は略計算でなく1行目の計算を行なう。
【0108】(第3の実施の形態)本実施の形態による
CTスキャナのシステム構成は前記第2の実施の形態と
同様であり、透過像収集時の機構動作と体積BP部16b
による逆投影処理の方法のみが異なっている。
【0109】従ってここでは、本実施の形態のCTスキ
ャナの透過像収集時の作用と、逆投影処理(作用)につ
いて、図7に示すフロー図を用いて説明する。
【0110】本実施の形態の場合には、断層撮影を開始
すると、回転テーブル5が回転と同時に昇降され(ヘリカ
ルスキャン)、この間に透過像が収集され、360度以上の
方向の透過データから体積の3次元像が再構成され、表
示部10に表示される。
【0111】また、本実施の形態の体積BPは、前述し
た第2の実施の形態の場合とほぼ同様であり、図7に示
すフロー図、および式(15)〜(35)を用いて説明す
る。
【0112】すなわち、前述した第2の実施の形態の場
合と異なる点は、kcが定数でなくφの関数であるこ
と、および式(33)が異なることである。
【0113】 kc=kc(φ)=zp/△z・(φ−φ0)/2π ・・・(36) pbp(i,j,k)=pbp(i,j,k)+wφ(k)・pc(pij,qjk) /(L2+(kc−k)2・△z2/FCD2) ≒pbp(i,j,k)+wφ(k)・pc(pij,qjk)/L2 ・・・(33’) ここで、図8(a)を参照して各式について説明する。
【0114】まず、式(36)でkc(φ)は、回転角φの
時の撮影面11が横切るマトリックスのk位置である。
【0115】この式で、zpは1回転中に昇降する高さ
(ヘリカルビッチ)で、△zは高さ方向のボクセルサイ
ズ、φOはk=0を横切る時の回転角である。
【0116】図8(a)で、wφ(z)は回転角φの時
のz方向のボクセルのBPのウェイトで半値幅zpの台
形状となる。
【0117】この台形の斜面においては、360°異なる
φからのBPが合成される(点線)。
【0118】wφ(z)をk目盛に変更したウエイトがw
φ(k)で、図8(b)に示す中心がkc(φ)、半値幅zp
/△zの台形である。
【0119】kでのzp/△zは回転角で、360°に相当
する。
【0120】ここで、斜面の半長kαは角度αと、 kα=Zp/△z・α/2π ・・・(37) の関係があり、補間合成する角度半幅αを設定するとk
αが決まる。
【0121】式(33')においては、BPウェイトにw
φ(k)を用いるため、ヘリカルスキャンを行なった場
合に、φについて連続してBPを行なっても、各ボクセ
ルに360°分のBPがなされる。
【0122】上述したように、本実施の形態によるCT
スキャナでは、前述した第2の実施の形態と同様に、再
構成速度を上げること、および回転軸12方向の分解能を
上げることが可能となる。
【0123】また、ヘリカルスキャンで効率よく、かつ
撮影面11からのビームの傾斜を大きくせずに撮影できる
ため、回転軸12方向に広くかつ高品質の3次元像を得る
ことができる。
【0124】さらに、ヘリカルスキャンで回転、昇降を
一定速度で滑らかに広い範囲をスキャンできるため、被
検体4に加速度がかからず、動き易い被検体4でも高品質
の画像を得ることができる。
【0125】また、台形のウェイトwφ(k)を掛けてB
Pしているので、360°の回転の前後が平均されるた
め、撮影中に被検体4が動いても偽像が生じ難くなる。
【0126】(第3の実施の形態の変形例)ウエイトw
φ(k)は、図8(c)に示すように、傾斜部が曲線であ
ってもよい。すなわち、zp/△zずらしたもの(点線)と
加算した時に1になるようになっていればよい。
【0127】(第4の実施の形態)本実施の形態による
CTスキャナのシステム構成は前記第3の実施の形態と
ほぼ同様であり、LOG変換部15と再構成部16との間に
窓関数掛け部を備えている点、および回転中心が上から
見てX線ビーム2の中心からずれて設定されている点が
異なっている。
【0128】図9は、回転中心CとX線ビーム2との位
置関係を示す概要図である。
【0129】これは、回転テーブル5をずらして設定し
て、被検体4をX線ビーム2から片側にはみ出させて載置
し、大きな被検体4も撮影可能としたCTスキャナであ
り、この撮影法はオフセットスキャンと呼ばれる。
【0130】本実施の形態によるCTスキャナにおける
作用は、前記第3の実施の形態と同様であり、LOG変
換後の投影データpφ(n,m)に対して、図10に示す
ような窓関数w(n)を掛ける点のみが異なっている。
【0131】窓関数w(n)は中心ch,ncで、0.5
でここを中心に傾斜しており、傾斜領域の外側の一方は
0もう一方は1である。
【0132】再構成部16は、前記第3の実施の形態と同
様に再構成を行なう。
【0133】上述したように、本実施の形態によるCT
スキャナでは、オフセットスキャンの場合でも、データ
列を再編成(パラレルデータヘの変換等)することが不
要となるため、高速で再構成することができ、さらに中
心chを挟んで滑らかなウエイトが掛かるため、投影デ
ータの急激な変化が避けられ、偽像(リング状)の少な
い3次元像を得ることができる。
【0134】さらに、ヘリカルスキャンを行ないながら
オフセットスキャンを実施することができ、前述した第
3の実施の形態と同様の効果を得ることができるのに加
えて、大きな被検体4に対応できるCTスキャナを実現
することが可能となる。
【0135】(第4の実施の形態の変形例)第4の実施
の形態によるオフセットスキャンは、前述した第1また
は第2の実施の形態に対して適用することもできる。
【0136】また、窓関数w(n)は傾斜部が曲線であっ
てもよい。すなわち、中心chで0.5、軸に直交する
左右側に傾きが対称な0から1まで変化する傾斜部を有
し、傾斜部の外は片側が0逆側が1であればよい。
【0137】(第5の実施の形態)図11は、本実施の
形態によるCTスキャナのシステム構成例を示す概要図
で、前記第1の実施の形態とほぼ同様であり、空気補正
部14とLOG変換部15との間に散乱線補正部19を備えて
いる点、およびX線ビーム2を撮影面11を挟んだ薄厚コ
ーン状に制限する可動のコリメータ18を備えている点が
異なっている。
【0138】本実施の形態によるCTスキャナにおける
作用は、前記第1の実施の形態と同様であり、断層撮影
時にX線ビーム2を薄厚コーン状に制限する点と、空気
補正後のデータh(n,m)に対して散乱線補正を行な
う点が異なっている。
【0139】図12は、散乱線補正の内容を説明するた
めの図である。
【0140】図12は、検出面17上のデータh(n,
m)を示している。
【0141】X線ビーム2の照射部20以外はコリメータ1
8で遮られる部分で、被検体4等からの散乱線のみ検出し
ている。
【0142】照射部20内のデータh(n,m)に対し
て、散乱線補正 h'(n,m)=h(n,m)−((m2−m)・h(n,m1) +(m−n1)・h(n,m2))/(m2−m1) ・・・(38) を加える。
【0143】ここでは、h(n,m)に近い上下の2チ
ャンネルを1次補間して散乱線を求め、減算している。
【0144】上述したように、本実施の形態によるCT
スキャナでは、散乱線測定の専用の検出器を用いること
なく、2次元検出器のコリメータ18で遮られる部分のデ
ータを用いて散乱線補正をすることができる。
【0145】また、専用の検出器に対して、2次元検出
器は全チャンネルが一度に製造されるため、特性が均質
である。
【0146】さらに、測定点に近い位置で、同時にしか
も均質な条件で散乱線が測定できるため、正確に補正を
行なうことが可能となる。
【0147】(第5の実施の形態の変形例)第5の実施
の形態において、補正を行なうに当たっては、2チャン
ネルのデータでなく、もっと多数のチャンネルデータを
用いてもよく、1次補間でなくてもよい。
【0148】この多数のチャンネルデータを用いること
により、統計精度を上げることが可能となる。
【0149】第5の実施の形態における散乱線補正は、
前記第1の実施の形態に付加するだけでなく、前記第2
乃至第4の実施の形態に対しても付加することができ、
さらに単独で図13に示すような従来の2次元検出器を用
いるCTスキャナに対しても付加することができる. (第6の実施の形態)本実施の形態によるCTスキャナ
のシステム構成は前記第1の実施の形態とほぼ同様であ
り、やわらかな変形し易い被検体4の撮影に適用される
点が異なっている。
【0150】本実施の形態の場合、被検体4をテーブル5
に設定し、準備回転として、滑らかな一定速度の回転を
行なわせ、十分に被検体4を安定させた後に、断層撮影
を開始する。
【0151】装置は、そのまま同じ回転速度を保ったま
まX線をONさせ、透過像を収集して3次元像を作成す
る。
【0152】ヘリカルスキャンの場合は、同様に準備回
転を行なわせておき、断層撮影開始時に昇降を徐々に開
始させて透過像を収集開始する。
【0153】また、準備回転の時間が短くてよい場合に
は、準備昇降をいっしょに行なってもよい。
【0154】上述したように、本実施の形態によるCT
スキャナでは、回転始動時に生じた被検体4の動きを一
定速度回転を続けて終息させ、その後に回転速度を変え
ずに撮影するため、変形し易い被検体4でも動きを終息
させて撮影でき、高品質な3次元像を得ることができ
る。
【0155】(第7の実施の形態)本実施の形態による
CTスキャナのシステム構成は前記第1の実施の形態と
ほぼ同様であり、フィルタ関数の自動選択を行なう点が
異なっている。
【0156】すなわち、データ処理部9は、フィルタ掛
け前のデータ(pあるいはh)の信号ノイズ比(平均)を
計算して、フィルタ関数を自動選択する。
【0157】信号ノイズ比は、低周波数成分を信号、高
周波数成分をノイズとして、その比である信号/ノイズ
を求める。
【0158】信号ノイズ比の小さな場合、フィルタ関数
は低いカットオフ周波数のものを選択して、空間分解能
を少し低下させる代りに画像ノイズを少なくさせる。
【0159】上述したように、本実施の形態によるCT
スキャナでは、撮影倍率や管電圧、管電流、スキャン時
間等の撮影条件を任意に変更しても、透過データの信号
ノイズ比でフィルタ関数を選択するため、画像ノイズと
空間分解能との関係が最適な断面像を得ることができ
る。
【0160】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のコンピュ
ータ断層撮影方法および装置によれば、撮影の高速化あ
るいは画像の高品質化に寄与することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明によるCTスキャナの第1の実施の形態
を示す概要図。
【図2】同第1の実施の形態のCTスキャナにおける作
用を説明するための幾何図。
【図3】同第1の実施の形態のCTスキャナにおける作
用を説明するためのフロー図。
【図4】本発明によるCTスキャナの第1の実施の形態
の変形例を示す図。
【図5】本発明の第2の実施の形態のCTスキャナにお
ける作用を説明するための幾何図。
【図6】本発明の第2の実施の形態のCTスキャナにお
ける作用を説明するための幾何図。
【図7】本発明の第2の実施の形態および第3の実施の
形態のCTスキャナにおける作用を説明するためのフロ
ー図。
【図8】本発明の第3の実施の形態およびその変形例の
CTスキャナにおける作用を説明するための図。
【図9】本発明によるCTスキャナの第4の実施の形態
を示す部分概要図。
【図10】同第4の実施の形態のCTスキャナにおける
作用を説明するための図。
【図11】本発明によるCTスキャナの第5の実施の形
態を示す部分概要図。
【図12】同第5の実施の形態のCTスキャナにおける
作用を説明するための図。
【図13】従来の高分解能型CTスキャナのシステム構
成例を示す概要図。
【符号の説明】
1…X線管 2…X線ビーム 3…放射線検出器 4…被検体 5…回転テーブル 6…回転・昇降機構 7…シフト機構 8…機構制御部 9…データ処理部 10…表示部 11…撮影面 12…回転軸 13…X線制御部 17…検出面 18…コリメータ 19…散乱線補正部 20…照射部。
フロントページの続き (72)発明者 宇山 喜一郎 東京都府中市晴見町2丁目24番地の1 東 芝エフエーシステムエンジニアリング株式 会社内 (72)発明者 山本 輝夫 東京都府中市晴見町2丁目24番地の1 東 芝エフエーシステムエンジニアリング株式 会社内 Fターム(参考) 2G001 AA01 BA11 CA01 DA09 FA01 FA06 FA08 GA05 GA08 GA13 HA13 JA02 JA07 LA11 PA11 PA12 PA14 SA02

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 放射線ビームを放射する放射線源と、 前記放射線源からの放射線ビームを2次元の空間分解能
    をもって検出する放射線検出器と、 前記放射線ビーム内で被検体を相対回転させる回転手段
    と、 前記回転手段による回転中に前記放射線検出器で得られ
    た被検体の多方向からの2次元透過データを、それぞれ
    3次元像の各体積素に回転面にほぼ平行な少なくとも一
    つの方向の計算ループの内側に回転軸方向の計算ループ
    をもって逆投影して前記被検体の3次元像を作成する再
    構成手段と、 を備えて成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装
    置。
  2. 【請求項2】 前記請求項1に記載のコンピュータ断層
    撮影装置において、 前記再構成手段は、前記2次元透過データを3次元像の
    体積素の回転軸にほぼ平行な一つの面にほぼ平行なセン
    タリング面上に逆投影(2次元センタリング)し、当該
    センタリング面上の値を当該センタリング面にほぼ平行
    な体積素の集合毎に各体積素に逆投影するようにしたこ
    とを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
  3. 【請求項3】 前記請求項1または請求項2に記載のコ
    ンピュータ断層撮影装置において、 前記放射線ビーム内で被検体を前記回転の軸方向に相対
    移動(並進)させる並進手段を付加し、 前記回転手段による回転と前記並進手段による並進とを
    ほぼ同時に行ないながら透過データを収集するようにし
    たことを特徴とするコンピュータ断層撮影装置。
  4. 【請求項4】 前記請求項1乃至請求項3のいずれか1
    項に記載のコンピュータ断層撮影装置において、 前記再構成手段は、前記2次元透過データを回転の軸位
    置で0.5、当該回転の軸に直交する左右側に傾きが対
    称な0から1まで変化する傾斜部を有し、当該傾斜部の
    外は片側が0逆側が1である窓関数を掛ける窓関数掛け
    部を有することを特徴とするコンピュータ断層撮影装
    置。
  5. 【請求項5】 放射線ビームを放射する放射線源と、 前記放射線源からの放射線ビームを2次元の空間分解能
    をもって検出する放射線検出器と、 前記放射線ビーム内で被検体を相対回転させる回転手段
    と、 前記回転手段による回転中に前記放射線検出器で得られ
    た被検体の多方向からの2次元透過データから前記被検
    体の断面像を作成する再構成手段と、 前記放射線ビームを回転面に沿ったファンビームに制限
    するコリメータと、 前記コリメータにより遮られた通路の透過データを用い
    て、遮られなかった透過データの散乱放射線の補正を行
    なう散乱線補正手段と、 を備えて成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影装
    置。
  6. 【請求項6】 放射線ビームを放射する放射線源と、前
    記放射線源からの放射線ビームを2次元の空間分解能を
    もって検出する放射線検出器と、前記放射線ビーム内で
    被検体を回転させる回転手段と、前記回転手段による回
    転中に前記放射線検出器で得られた被検体の多方向から
    の2次元透過データから前記被検体の断面像を作成する
    再構成手段とを備えたコンピュータ断層撮影装置を用い
    て、撮影前に前記被検体に一定速度の前記回転を行なわ
    せる工程と、 前記一定速度の回転を保ったまま前記2次元透過データ
    を収集して3次元像あるいは断面像の撮影を行なう工程
    と、 を備えて成ることを特徴とするコンピュータ断層撮影方
    法。
  7. 【請求項7】 放射線ビームを放射する放射線源と、 前記放射線源からの放射線ビームを空間分解能をもって
    検出する放射線検出器と、 前記放射線ビーム内で被検体を回転させる回転手段と、 前記回転手段による回転中に前記放射線検出器で得られ
    た被検体の多方向からの透過データから前記被検体の断
    面像を作成する再構成手段とを備え、 前記再構成手段は、前記透過データの信号ノイズ比に基
    づいてフィルタ関数を選択しフィルタ補正逆投影して3
    次元像を作成するようにしたことを特徴とするコンピュ
    ータ断層撮影装置。
JP2000148407A 2000-05-19 2000-05-19 コンピュータ断層撮影装置 Expired - Lifetime JP4087547B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000148407A JP4087547B2 (ja) 2000-05-19 2000-05-19 コンピュータ断層撮影装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000148407A JP4087547B2 (ja) 2000-05-19 2000-05-19 コンピュータ断層撮影装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005243099A Division JP4264079B2 (ja) 2005-08-24 2005-08-24 コンピュータ断層撮影方法および装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001330568A true JP2001330568A (ja) 2001-11-30
JP2001330568A5 JP2001330568A5 (ja) 2005-10-27
JP4087547B2 JP4087547B2 (ja) 2008-05-21

Family

ID=18654445

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000148407A Expired - Lifetime JP4087547B2 (ja) 2000-05-19 2000-05-19 コンピュータ断層撮影装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4087547B2 (ja)

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004132709A (ja) * 2002-10-08 2004-04-30 Sony Corp 画像情報処理装置および方法、記録媒体、並びにプログラム
JP2005308633A (ja) * 2004-04-23 2005-11-04 Toshiba It & Control Systems Corp コンピュータ断層撮影装置
JP2005351747A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Toshiba It & Control Systems Corp コンピュータ断層撮影装置
JP2006322799A (ja) * 2005-05-18 2006-11-30 Shimadzu Corp X線撮影装置
JP2007508559A (ja) * 2003-10-14 2007-04-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 扇ビーム・コヒーレント散乱コンピュータ断層撮影法
JP2007114164A (ja) * 2005-10-24 2007-05-10 Shimadzu Corp コンピュータ断層撮影方法
JP2007121094A (ja) * 2005-10-27 2007-05-17 Shimadzu Corp コンピュータ断層撮影装置
US7532750B2 (en) 2002-04-17 2009-05-12 Sony Corporation Image processing apparatus and method, program, and image processing system
US7551710B2 (en) 2003-10-20 2009-06-23 Hitachi, Ltd. X-ray CT apparatus and X-ray CT imaging method
ES2341833A1 (es) * 2008-12-26 2010-06-28 Universidade De Santiago De Compostela Sistema de magnificacion variable para inspeccion radiografica y tomografica en el campo de los ensayos no destructivos.
WO2012070762A2 (ko) * 2010-11-26 2012-05-31 한국지질자원연구원 컴퓨터 단층촬영장치를 이용한 지질시료 코어 내 이질물질 부피측정장치 및 그 방법
JP2013223643A (ja) * 2012-04-23 2013-10-31 Rigaku Corp 3次元x線ct装置、3次元ct画像再構成方法、及びプログラム
CN117455977A (zh) * 2023-09-27 2024-01-26 杭州市交通工程集团有限公司 一种基于三维激光扫描的堆料体积计算方法及系统

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102590243B (zh) * 2012-02-17 2013-09-04 重庆大学 一种铁路铸件全身ct扫描成像方法

Cited By (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7532750B2 (en) 2002-04-17 2009-05-12 Sony Corporation Image processing apparatus and method, program, and image processing system
JP2004132709A (ja) * 2002-10-08 2004-04-30 Sony Corp 画像情報処理装置および方法、記録媒体、並びにプログラム
JP2007508559A (ja) * 2003-10-14 2007-04-05 コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ 扇ビーム・コヒーレント散乱コンピュータ断層撮影法
US7551710B2 (en) 2003-10-20 2009-06-23 Hitachi, Ltd. X-ray CT apparatus and X-ray CT imaging method
JP4505256B2 (ja) * 2004-04-23 2010-07-21 東芝Itコントロールシステム株式会社 コンピュータ断層撮影装置
JP2005308633A (ja) * 2004-04-23 2005-11-04 Toshiba It & Control Systems Corp コンピュータ断層撮影装置
JP2005351747A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Toshiba It & Control Systems Corp コンピュータ断層撮影装置
JP4504740B2 (ja) * 2004-06-10 2010-07-14 東芝Itコントロールシステム株式会社 コンピュータ断層撮影装置
JP2006322799A (ja) * 2005-05-18 2006-11-30 Shimadzu Corp X線撮影装置
JP4561990B2 (ja) * 2005-05-18 2010-10-13 株式会社島津製作所 X線撮影装置
JP2007114164A (ja) * 2005-10-24 2007-05-10 Shimadzu Corp コンピュータ断層撮影方法
JP4662047B2 (ja) * 2005-10-24 2011-03-30 株式会社島津製作所 コンピュータ断層撮影方法
JP4711066B2 (ja) * 2005-10-27 2011-06-29 株式会社島津製作所 コンピュータ断層撮影装置
JP2007121094A (ja) * 2005-10-27 2007-05-17 Shimadzu Corp コンピュータ断層撮影装置
WO2010072873A1 (es) * 2008-12-26 2010-07-01 Universidade De Santiago De Compostela Sistema de magnificación variable para inspección radiográfica y tomográfica en el campo de los ensayos no destructivos.
ES2341833A1 (es) * 2008-12-26 2010-06-28 Universidade De Santiago De Compostela Sistema de magnificacion variable para inspeccion radiografica y tomografica en el campo de los ensayos no destructivos.
WO2012070762A2 (ko) * 2010-11-26 2012-05-31 한국지질자원연구원 컴퓨터 단층촬영장치를 이용한 지질시료 코어 내 이질물질 부피측정장치 및 그 방법
WO2012070762A3 (ko) * 2010-11-26 2012-07-19 한국지질자원연구원 컴퓨터 단층촬영장치를 이용한 지질시료 코어 내 이질물질 부피측정장치 및 그 방법
JP2013223643A (ja) * 2012-04-23 2013-10-31 Rigaku Corp 3次元x線ct装置、3次元ct画像再構成方法、及びプログラム
US10101284B2 (en) 2012-04-23 2018-10-16 Rigaku Corporation 3 Dimensional X-ray CT apparatus, 3 dimensional CT image reconstruction method, and program
CN117455977A (zh) * 2023-09-27 2024-01-26 杭州市交通工程集团有限公司 一种基于三维激光扫描的堆料体积计算方法及系统

Also Published As

Publication number Publication date
JP4087547B2 (ja) 2008-05-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5598453A (en) Method for X-ray fluoroscopy or radiography, and X-ray apparatus
JP4598880B1 (ja) Ct装置およびct装置の撮影方法
US7424089B2 (en) System and method for reconstructing image by using straight-line trajectory scan
JP4675753B2 (ja) X線ct装置
JP2007236662A (ja) X線ct装置およびそのx線ct画像再構成方法、x線ct画像撮影方法。
JP4993163B2 (ja) 傾斜円錐形ビームデータの再構成のための方法及び装置
US8964933B2 (en) X-ray computed tomography apparatus, medical image processing apparatus, X-ray computed tomography method, and medical image processing method
JPH03103229A (ja) 投影データを収集する装置
JP2007000406A (ja) X線ct撮影方法およびx線ct装置
JPH11325A (ja) 対象物の画像データを作成する方法およびシステム
US11009449B2 (en) Scanning trajectories for region-of-interest tomograph
JP2007089673A (ja) X線ct装置
JP4612294B2 (ja) X線コンピュータ断層装置、x線コンピュータ断層装置制御方法、及びx線コンピュータ断層撮影プログラム
JP4087547B2 (ja) コンピュータ断層撮影装置
JPH07128258A (ja) 断層撮影装置
JP4347061B2 (ja) 逐次コンピュータ断層撮影方法
JP5060862B2 (ja) 断層撮影装置
JPH06181918A (ja) 透過型三次元断層撮影装置
JP4884765B2 (ja) X線ct装置
JP2011220982A (ja) Ct装置
JP2008012129A (ja) X線ct装置
JP2003159244A (ja) 画像再構成方法およびx線ct装置
JP4264079B2 (ja) コンピュータ断層撮影方法および装置
JP2004113271A (ja) 断層撮影装置
JP2002224099A (ja) 螺旋状の相対運動を含むコンピュータ断層撮影方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20050824

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20050824

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070516

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070612

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070810

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070904

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071101

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080205

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080221

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110228

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Ref document number: 4087547

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130228

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140228

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term