JP2001311755A - ジッタ検出回路 - Google Patents

ジッタ検出回路

Info

Publication number
JP2001311755A
JP2001311755A JP2000130163A JP2000130163A JP2001311755A JP 2001311755 A JP2001311755 A JP 2001311755A JP 2000130163 A JP2000130163 A JP 2000130163A JP 2000130163 A JP2000130163 A JP 2000130163A JP 2001311755 A JP2001311755 A JP 2001311755A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
jitter
detection circuit
pulse width
voltage
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000130163A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3419384B2 (ja
Inventor
Shinichi Yamane
真一 山根
Seiji Watanabe
誠司 渡辺
Kazuhiko Nishikawa
和彦 西川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP2000130163A priority Critical patent/JP3419384B2/ja
Publication of JP2001311755A publication Critical patent/JP2001311755A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3419384B2 publication Critical patent/JP3419384B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Manipulation Of Pulses (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、MOSプロセスによる電流、容
量、抵抗のばらつきに出力が依存せず、さらに高周波の
入力に対しても十分な出力電圧を得ることのできるジッ
タ検出回路を提供する。 【解決手段】 ジッタを含む入力信号Dataとクロッ
ク信号clkとの位相を比較し、ジッタ量を2つのup
/down信号U、Dのパルス幅の差によって出力する
位相比較器1と、入力信号Dataがクロック信号cl
kに対して遅れているか進んでいるかを検出する遅れ/
進み検出回路2と、遅れ/進み検出回路2の検出結果に
より、2つのup/down信号U、Dのいずれか一つ
を選択するマルチプレクサ3、4と、マルチプレクサ
3、4の選択したup/down信号U、Dのパルス幅
の差を電圧に変換するパルス幅変調回路5と、パルス幅
変調回路5の出力電圧を積分するLPフィルタ6とを備
える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、クロック信号に同
期した入力信号のジッタを検出するジッタ検出回路に関
する。
【0002】
【従来の技術】入力信号のジッタを検出するジッタ検出
回路において、バイポーラ技術により構成されたもので
は、出力電圧はサンプルホールドにより生成される構成
を有していた。
【0003】図3は、この構成をCMOS化した従来の
ジッタ検出回路の構成の一例を示す図である。図3で示
される従来のジッタ検出回路は、位相比較器11と、N
OR回路12と、チャージポンプ回路13と、サンプル
ホールド回路14と、LPF(Low Pass Filter:以下、
LPフィルタと称す)15と、容量16と、スイッチ1
7とを備える。また、チャージポンプ回路13は、チャ
ージポンプ内の電流を決定する電流源18と、MOSト
ランジスタ19とを備える。さらに、サンプルホールド
回路14は、バッファ20と、スイッチ21と、容量2
2とを備える。
【0004】位相比較器11は、入力信号Dataと、
PLL(Phase Locked Loop)23の出力であるクロック
信号clkとの位相を比較して、up/down信号
U、Dを出力する。NOR回路12は、位相比較器11
からのup/down信号U、Dを入力とするNOR型
の論理回路である。チャージポンプ回路13は、ジッタ
量を電流に変換する。サンプルホールド回路14は、チ
ャージポンプ回路13のMOSトランジスタ19と容量
16との接続ノードAの電圧(以下、電圧Aと称す)を
ラッチし、スイッチ21と容量22との接続ノードBの
電圧(以下、電圧Bと称す)から出力する。LPフィル
タ15は、電圧Bを積分し、最終出力Voを出力する。
容量16は、チャージポンプ回路13により電流に変換
されたジッタ量を電圧Aとして充電する。その充電され
た電圧Aの値は、位相比較器11の出力であるup/d
own信号U、Dのパルス幅で制御され、電流源18と
容量16にも依存する。位相比較器11の出力であるu
p/down信号U、Dを遅延したパルスがパルスS
1、S2であり、スイッチ21、17は、それぞれパル
スS1、S2により制御される。
【0005】次に、従来のジッタ検出回路の動作につい
て説明する。入力信号Dataのジッタ量は、位相比較
器11により、up/down信号U、Dに変換され
る。そして、up/down信号U、Dが、NOR回路
12と、チャージポンプ回路13とにより電流に変換さ
れる。その電流により容量16が充電され、ジッタ量が
電圧Aとして得られる。その電圧Aをサンプルホールド
回路14がラッチして電圧Bとし、電圧BがLPフィル
タ15によって積分されることにより、最終出力Voが
得られる。この最終出力Voを計測することにより、ジ
ッタ量を測定することができる。
【0006】図4は、位相比較器11のup/down
信号U、D、それらの遅延されたパルスS1、S2、電
圧A、B、及び最終出力Voの関係を示すタイミングチ
ャートである。
【0007】ここでは、チャージポンプ回路13の後段
への出力電圧Aは、up/down信号U、Dのいずれ
か一方、あるいは両方がHレベルのときに充電され、u
p/down信号U、Dの両方がLレベルに変わると、
その充電電圧が保持される。そして、電圧Aの値は、u
p/down信号U、Dがそれぞれ遅延されて論理和が
とられたパルスS1によりサンプルされ電圧Bとなる。
次に、パルスS1が反転すると、電圧Bの値が保持さ
れ、同時に2つ目の遅延されたパルスS2がHレベルと
なり、電圧AはLレベルへとリセットされる。そして、
再びup/down信号U、DのいずれかがHレベルに
なると電圧Aは新たな値へ充電される。このジッタ検出
回路の最終出力Voは電圧BがLPフィルタ15によっ
て積分された値となる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】従来のジッタ検出回路
は、以上のように構成されており、バイポーラ技術によ
るジッタ検出回路をそのままMOS化したにすぎないた
め、MOSプロセスにより電流源と容量値が大きくばら
つき、正しいチャージポンプ電流と出力電圧Aが得られ
ず、最終的な出力がMOSプロセスのばらつきの影響を
受けてしまう、という問題があった。
【0009】また、入力信号の位相差(ジッタ)が少な
く、かつ高周波の場合、位相比較器のup/down信
号U、Dに対して、サンプルホールド回路14内のパル
スS1を制御信号とするMOSスイッチ21が大きな抵
抗を有しているため、出力電圧Bに十分な立上がり、あ
るいは立下り時間が得られないという問題もあった。
【0010】本発明は上記の問題点を解決するためにな
されたものであり、MOSプロセスによる電流源、容量
の値のばらつきに出力が依存せず、さらに高周波の入力
に対しても出力電圧に十分な変化時間を与えることので
きるジッタ検出回路を提供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明のジッタ検出回路は、ジッタを含む入力信号
とクロック信号との位相を比較し、前記ジッタの量を、
2つのアップ/ダウン信号のパルス幅の差によって示す
位相比較器と、前記入力信号が前記クロック信号に対し
て遅れているか進んでいるかを検出する遅れ/進み検出
回路と、前記遅れ/進み検出回路の検出結果により、前
記アップ/ダウン信号のいずれか一つを排他的に選択す
る2つのマルチプレクサと、前記2つのマルチプレクサ
の選択したアップ/ダウン信号のパルス幅の差を電圧に
変換するパルス幅変調回路と、前記パルス幅変調回路の
出力電圧を積分するロウパスフィルタとを備えたことを
特徴とするものである。
【0012】また、本発明のジッタ検出回路は、前記ジ
ッタ検出回路において、前記位相比較器の出力であるア
ップ/ダウン信号のパルス幅が、ともに前記クロック信
号の半周期以上であることを特徴とするものである。
【0013】また、本発明のジッタ検出回路は、前記ジ
ッタ検出回路において、前記パルス幅変調回路は、前記
2つのマルチプレクサの選択したアップ/ダウン信号の
それぞれをゲート電圧とする2つのMOSトランジスタ
を有することを特徴とするものである。
【0014】また、本発明のジッタ検出回路は、前記ジ
ッタ検出回路において、前記パルス幅変調回路は、さら
に、前記2つのMOSトランジスタの一方に接続された
プルアップ抵抗と、前記2つのMOSトランジスタの他
方に接続されたプルダウン抵抗とを有し、前記プルアッ
プ抵抗、及び前記プルダウン抵抗が前記クロック信号の
周波数にしたがって可変されることを特徴とするもので
ある。
【0015】
【発明の実施の形態】実施の形態1.以下、本発明の実
施の形態1によるジッタ検出回路について、図面を参照
しながら説明する。図1は本実施の形態1によるジッタ
検出回路を示す回路図である。図1において、ジッタ検
出回路は、位相比較器1と、遅れ/進み検出回路2と、
マルチプレクサ3、4と、パルス幅変調回路5と、LP
フィルタ6とを備える。このパルス幅変調回路5は、プ
ルアップ抵抗R1と、プルダウン抵抗R2と、MOSト
ランジスタ7a、7bと、容量8とを備える。
【0016】位相比較器1は、光ディスクを再生した信
号である入力信号Dataと、入力信号Dataを同期
させるPLL10の出力であるクロック信号clkとの
位相を比較することにより、ジッタ量を測定する。そし
て、その結果をup/down信号U、Dとして出力す
る。up/down信号Dは、クロック1周期分(1
T)の一定のパルス幅を出力する。up/down信号
Uは、入力信号Dataのクロック信号clkに対する
進みが多いほど1Tより長いパルス幅となる。また、ジ
ッタ量が0のときのパルス幅は1Tとなり、遅れが最大
のときのパルス幅はT/2となる。
【0017】遅れ/進み検出回路2は入力信号Data
がクロック信号clkに対して遅れているか進んでいる
かを検出して、進んでいるときはHレベル、遅れている
ときはLレベルを、出力Selとして出力する。なお、
遅れ/進み検出回路2はジッタ量が0の場合も微妙なタ
イミングの差でHレベルかLレベルのいずれかを出力す
る。
【0018】マルチプレクサ3,4は遅れ/進み検出回
路2の出力Selに応じてup/down信号U,Dの
いずれか一方を排他的に出力する。
【0019】即ち、マルチプレクサ3は、遅れ/進み検
出回路2の出力SelがHレベルのときに、up/do
wn信号Uを出力し、出力SelがLレベルのときに、
up/down信号Dを出力する。
【0020】また、マルチプレクサ4は、遅れ/進み検
出回路2の出力SelがHレベルのときに、up/do
wn信号Dを出力し、出力SelがLレベルのときに、
up/down信号Uを出力する。
【0021】パルス幅変調回路5はマルチプレクサ3、
4の出力を受けて、up/down信号U、Dのパルス
幅の差を電圧に変換して出力電圧Aとする。ここで、ジ
ッタ量が0のとき、出力電圧Aは電源電圧の約半分の値
となり、ジッタ量が多いほど出力電圧Aの電位は高くな
る。LPフィルタ6は、出力電圧Aを積分し、最終出力
Voを出力する。
【0022】次に、本実施の形態1によるジッタ検出回
路の動作について説明する。光ディスクを再生する等に
より得られた入力信号Dataのジッタ量は、位相比較
器1により、up/down信号U、Dに変換される。
上述のように、このup/down信号Dは、クロック
1周期分(1T)の一定のパルス幅であり、up/do
wn信号Uは、入力信号Dataのクロック信号clk
に対する進みが多いほど長いパルスとなる。そして、u
p/down信号U、Dが、遅れ/進み検出回路2の出
力Selにより制御されるマルチプレクサ3、4により
選択され、パルス幅変調回路5に出力される。上述のよ
うに、遅れ/進み検出回路2の出力SelがHレベルの
時、マルチプレクサ3,4は位相比較器1の出力U,D
を出力し、遅れ/進み検出回路2の出力SelがLレベ
ルの時、マルチプレクサ3,4は位相比較器1の出力
D,Uを出力する。
【0023】マルチプレクサ3、4の出力により、パル
ス幅変調回路5のMOSトランジスタ7a、7bが、o
n、あるいはoffとなることにより、容量8が充電、
あるいは放電され、出力電圧Aの値が変化する。ここ
で、ジッタ量が0の時、Aは電源電圧の約半分の値とな
り、ジッタ量が多いほどAの電圧は高くなる。この出力
電圧Aの値がLPフィルタ6により積分されることによ
り、最終出力Voが得られ、この最終出力Voを計測す
ることにより、ジッタ量を測定することができる。
【0024】図2は、up/down信号U、D、出力
電圧A、最終出力Vo、及び遅れ/進み検出回路2の出
力Selの関係を示すタイミングチャートである。ま
ず、出力SelがHレベルのときは、ジッタの進み時間
に対応した最終出力Voが得られる。この場合、up/
down信号UがHレベルときに出力電圧Aは充電さ
れ、up/down信号DがHレベルときに出力電圧A
は放電される。また、出力SelがLレベルのときは、
ジッタの遅れ時間に対応した最終出力Voが得られる。
この場合、up/down信号UがHレベルときに出力
電圧Aは放電され、up/down信号DがHレベルと
きに出力電圧Aは充電される。パルス幅変調回路5の出
力電圧Aは、LPフィルタ6により平均(積分)され、
最終出力Voとして出力される。
【0025】以上のように、本実施の形態1によるジッ
タ検出回路によれば、ジッタ量は入力信号Dataとク
ロック信号clkの位相差を比較する位相比較器1によ
るup/down信号U、Dのパルス幅の差となり、そ
れがパルス幅変調回路5によって電圧変換される構成と
しており、このパルス幅変調回路5をNチャンネルMO
Sトランジスタ7aとPチャンネルMOSトランジスタ
7bの両方の導電型のトランジスタを用い、かつそれぞ
れのトランジスタ7aと7bに抵抗を1つずつ(R1と
R2)用いて構成したことにより、プロセスのばらつき
変動によるパラメータの変化が相殺される。また、電圧
Aを決定する容量8に対し充電と放電の両方が行われる
ため、図2に示すように、プロセスのばらつき変動によ
る充電時の電圧Aの上昇度のばらつきと放電時の電圧A
の下降度のばらつきとが同等となり、LPフィルタ6で
平均をとる際にこれらのばらつきが相殺されるため、図
4に示すように充電のみを行っていた従来の容量16と
は異なり、プロセスのばらつき変動の影響を受けること
なく、電圧Aの値を決定できる。
【0026】これらのことにより、抵抗値と容量値のば
らつき変動への依存性はなくなる。
【0027】また、位相比較器1として、2つの出力パ
ルスU,Dがともにクロック信号clkの例えば半周期
以下にならないものを用いることにより、パルス幅変調
回路5の出力電圧Aに十分な立上がり、あるいは立下り
の時間を与えることができる。
【0028】この位相比較器1は、例えば、出力パルス
Uに関しては、例えば位相比較器1の入力信号Data
とクロック信号clkとのEXOR(排他的論理和)を
とり、その出力のパルス幅をT/2以上に規制する回路
を設けることにより、また、出力パルスDに関しては、
例えばこの出力パルスUの立ち下がりをトリガとしこれ
より一定時間後にパルス幅Tのパルスを発生する回路を
設けることにより、構成可能である。
【0029】さらに、パルス幅変調回路5内のプルアッ
プ抵抗R1とプルダウン抵抗R2とは可変であるため、
光ディスク倍速切替制御器9が、ディスクの回転倍率を
増加し、クロック周波数を高くしたときには、それと同
時にプルアップ抵抗R1とプルダウン抵抗R2との抵抗
値を下げることで、高速の入力信号に対してもパルス幅
変調回路5の出力Aが十分に立上がる、あるいは立下が
るようにできる。逆に、光ディスク倍速切替制御器9が
クロック周波数を低くしたときには、それと同時にプル
アップ抵抗R1とプルダウン抵抗R2との抵抗値を上げ
ることで、パルス幅変調回路5の出力電圧Aが飽和しな
いようにすることができる。
【0030】また、入力信号Dataとクロック信号c
lkとの位相の遅れ/進みを検出し、その検出結果に応
じてマルチプレクサ3,4により位相比較器1のU信号
とD信号のいずれか一方を排他的に選択してパルス幅変
調回路5のトランジスタ7a,7bに与えるようにして
おり、パルス幅に応じた遅延が必要な従来の制御信号S
1,S2に比べ、制御信号の発生が、簡単な構成で可能
になる。
【0031】これらのことで、デジタル・アナログ混載
のCMOS回路にも高速信号に対応したジッタ検出回路
が搭載可能となり、低コストの製造技術を使用でき、か
つ回路の小面積化にも大きな効果をもたらす。
【0032】なお、図1では、プルアップ抵抗R1、及
びプルダウン抵抗R2は、可変抵抗としているが、PL
L10のクロック周波数が変更されない場合には、プル
アップ抵抗R1、及びプルダウン抵抗R2の抵抗値は固
定でもよく、また、特に、プルアップ抵抗R1、及びプ
ルダウン抵抗R2を設けない構成としてもよい。
【0033】また、本実施の形態1では光ディスク再生
信号を用いてそのジッタ量を検出するとしたが、これは
一例であって、例えば、光ディスク以外でも、DVC(D
igital Video Camcorder)の再生信号のようなジッタを
持つデータパルスに対しても同様の効果を得ることがで
き、本実施の形態1での説明に本発明の適用が限定され
るものではない。
【0034】また、本実施の形態1ではマルチプレクサ
3、4と遅れ/進み検出回路2によりパルス幅変調回路
5の入力を切り替えているが、このマルチプレクサ3、
4と遅れ/進み検出回路2は他の同じ働きをする回路で
あってもよい。この場合も、MOSプロセスのばらつき
に依存せず、高速パルスへも対応できるという固有の効
果が得られる。
【0035】また、本実施の形態1では、up/dow
n信号Uのパルス幅は、最低でT/2であるとしたが、
これは一例であって、例えば、up/down信号Uの
最低のパルス幅が、2T/3、T/3などでもよく、T
/2に限定されるものではない。
【0036】
【発明の効果】以上のように、本発明のジッタ検出回路
によれば、ジッタを含む入力信号とクロック信号との位
相を比較し、前記ジッタの量を2つの信号のパルス幅の
差によって示すアップ/ダウン信号を出力する位相比較
器と、前記入力信号が前記クロック信号に対して遅れて
いるか進んでいるかを検出する遅れ/進み検出回路と、
前記遅れ/進み検出回路の検出結果により、前記アップ
/ダウン信号のいずれか一つを排他的に選択する2つの
マルチプレクサと、前記2つのマルチプレクサの選択し
たアップ/ダウン信号のパルス幅の差を電圧に変換する
パルス幅変調回路と、前記パルス幅変調回路の出力電圧
を積分するロウパスフィルタとを備えるようにしたの
で、パルス幅変調回路を用いることで、MOSプロセス
技術による容量値と電流値のばらつきに起因する出力変
動を回避することができ、適切なジッタ検出出力が得ら
れる効果がある。
【0037】また、本発明のジッタ検出回路によれば、
前記ジッタ検出回路において、前記位相比較器の出力で
あるアップ/ダウン信号のパルス幅が、ともに前記クロ
ック信号の半周期以上であるものとしたので、高速の入
力信号にも十分に反応するジッタ検出出力が得られる効
果がある。
【0038】また、本発明のジッタ検出回路によれば、
前記ジッタ検出回路において、前記パルス幅変調回路
は、前記2つのマルチプレクサの選択したアップ/ダウ
ン信号のそれぞれをゲート電圧とする2つのMOSトラ
ンジスタを有するものとしたので、MOSプロセス技術
による容量値と電流値のばらつきに起因する出力変動を
回避することができ、適切なジッタ検出出力が得られる
効果がある。
【0039】また、本発明のジッタ検出回路によれば、
前記ジッタ検出回路において、前記パルス幅変調回路
は、さらに、前記2つのMOSトランジスタの一方に接
続されたプルアップ抵抗と、前記2つのMOSトランジ
スタの他方に接続されたプルダウン抵抗とを有し、前記
プルアップ抵抗、及び前記プルダウン抵抗が前記クロッ
ク信号の周波数にしたがって可変されるようにしたの
で、MOSプロセス技術による電流値のばらつきに起因
する出力変動を回避することができ、しかも、パルス幅
変調回路内のプルアップ抵抗と、プルダウン抵抗とを可
変にすることで、高速の入力信号にも十分に反応するジ
ッタ検出出力が得られる効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の形態1によるジッタ検出回路を
示す回路図である。
【図2】本発明の実施の形態1によるジッタ検出回路に
おけるタイミングチャートである。
【図3】従来のジッタ検出回路を示す回路図である。
【図4】従来のジッタ検出回路におけるタイミングチャ
ートである。
【符号の説明】
1 位相比較器 2 遅れ/進み検出回路 3、4 マルチプレクサ 5 パルス幅変調回路 6 LPフィルタ 7a、7b MOSトランジスタ 8 容量 9 光ディスク倍速切替制御器 R1 プルアップ抵抗 R2 プルダウン抵抗
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 西川 和彦 大阪府門真市大字門真1006番地 松下電器 産業株式会社内 Fターム(参考) 5J039 JJ07 JJ14 JJ19 JJ20 KK20 KK29 KK33 MM10

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ジッタを含む入力信号とクロック信号と
    の位相を比較し、前記ジッタの量を、2つのアップ/ダ
    ウン信号のパルス幅の差によって示す位相比較器と、 前記入力信号が前記クロック信号に対して遅れているか
    進んでいるかを検出する遅れ/進み検出回路と、 前記遅れ/進み検出回路の検出結果により、前記アップ
    /ダウン信号のいずれか一方を排他的に選択する2つの
    マルチプレクサと、 前記2つのマルチプレクサの選択したアップ/ダウン信
    号のパルス幅の差を電圧に変換するパルス幅変調回路
    と、 前記パルス幅変調回路の出力電圧を積分しジッタ量に応
    じた電圧信号を出力するロウパスフィルタと、 を備えたことを特徴とするジッタ検出回路。
  2. 【請求項2】 請求項1記載のジッタ検出回路におい
    て、 前記位相比較器の出力であるアップ/ダウン信号のパル
    ス幅が、ともに前記クロック信号の半周期以上の値を有
    することを特徴とするジッタ検出回路。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載のジッタ検出回路
    において、 前記パルス幅変調回路は、前記2つのマルチプレクサの
    選択したアップ/ダウン信号のそれぞれをゲート電圧と
    する2つのMOSトランジスタを有することを特徴とす
    るジッタ検出回路。
  4. 【請求項4】 請求項3記載のジッタ検出回路におい
    て、 前記パルス幅変調回路は、さらに、前記2つのMOSト
    ランジスタの一方に接続されたプルアップ抵抗と、前記
    2つのMOSトランジスタの他方に接続されたプルダウ
    ン抵抗とを有し、 前記プルアップ抵抗、及び前記プルダウン抵抗が前記ク
    ロック信号の周波数にしたがって可変されることを特徴
    とするジッタ検出回路。
JP2000130163A 2000-04-28 2000-04-28 ジッタ検出回路 Expired - Fee Related JP3419384B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000130163A JP3419384B2 (ja) 2000-04-28 2000-04-28 ジッタ検出回路

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2000130163A JP3419384B2 (ja) 2000-04-28 2000-04-28 ジッタ検出回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2001311755A true JP2001311755A (ja) 2001-11-09
JP3419384B2 JP3419384B2 (ja) 2003-06-23

Family

ID=18639313

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000130163A Expired - Fee Related JP3419384B2 (ja) 2000-04-28 2000-04-28 ジッタ検出回路

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3419384B2 (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006227009A (ja) * 2005-02-14 2006-08-31 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP2006329987A (ja) * 2005-05-25 2006-12-07 Advantest Corp ジッタ測定装置、及びジッタ測定方法
DE102005042710A1 (de) * 2005-09-09 2007-03-22 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und Verfahren zur spektralen Formung eines Referenztaktsignals
JP2007127645A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP2007127644A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP2013034119A (ja) * 2011-08-02 2013-02-14 Mitsubishi Electric Corp 位相比較装置

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006227009A (ja) * 2005-02-14 2006-08-31 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP2006329987A (ja) * 2005-05-25 2006-12-07 Advantest Corp ジッタ測定装置、及びジッタ測定方法
DE102005042710A1 (de) * 2005-09-09 2007-03-22 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und Verfahren zur spektralen Formung eines Referenztaktsignals
DE102005042710B4 (de) * 2005-09-09 2007-04-26 Infineon Technologies Ag Vorrichtung und Verfahren zur spektralen Formung eines Referenztaktsignals
US7379005B2 (en) 2005-09-09 2008-05-27 Infineon Technologies Ag Apparatus and method for spectrally shaping a reference clock signal
JP2007127645A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP2007127644A (ja) * 2005-11-04 2007-05-24 Advantest Corp ジッタ測定装置、ジッタ測定方法、試験装置、及び電子デバイス
JP2013034119A (ja) * 2011-08-02 2013-02-14 Mitsubishi Electric Corp 位相比較装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP3419384B2 (ja) 2003-06-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7206370B2 (en) Clock recovery circuit
US4922141A (en) Phase-locked loop delay line
US5783956A (en) Semiconductor device realizing internal operation factor corresponding to an external operational factor stably regardless of fluctuation of the external operational factor
US7417479B2 (en) Duty detection circuit and method for controlling the same
US7642830B2 (en) Method and delay circuit with accurately controlled duty cycle
US20020075039A1 (en) Method and system for controlling the duty cycle of a clock signal
KR100272170B1 (ko) 동작영역이 넓은 전압제어발진기 및 이를 사용하는 위상고정루프
JP4392678B2 (ja) Dll回路
JP2000261315A (ja) アナログ混用ディジタルdll
JP2011055048A (ja) 多相クロック生成回路
JP2898957B1 (ja) 位相比較回路
KR100843002B1 (ko) 듀티 사이클 보정 회로 및 이를 갖는 지연 고정 루프
US20230238966A1 (en) Duty-cycle corrector circuit
JP2016005267A (ja) ホールドタイム最適化回路およびその受信機
JP2001311755A (ja) ジッタ検出回路
US20070229118A1 (en) Phase Comparator
JP2917892B2 (ja) 半導体集積回路
KR102614794B1 (ko) 듀티 오프셋에 둔감한 차동 듀티 사이클 보정 회로 및 그 동작방법
JPH04207521A (ja) 時定数調整回路
JPH1093406A (ja) タイミング発生装置
JP2001195149A (ja) 内部クロック信号発生回路
JP2746727B2 (ja) 位相同期回路、半導体集積回路および記録再生装置
US20040120437A1 (en) Power supply dependent delay compensation
JP2002140819A (ja) ジッタ検出回路および光ディスク記録再生装置
JP2005150890A (ja) 位相比較器、位相同期ループ回路、およびクロック・データ・リカバリ回路

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080418

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090418

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100418

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110418

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120418

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees