JP2001305196A - 制御回路 - Google Patents

制御回路

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JP2001305196A
JP2001305196A JP2000126276A JP2000126276A JP2001305196A JP 2001305196 A JP2001305196 A JP 2001305196A JP 2000126276 A JP2000126276 A JP 2000126276A JP 2000126276 A JP2000126276 A JP 2000126276A JP 2001305196 A JP2001305196 A JP 2001305196A
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JP
Japan
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clock
output
signal
gate
control circuit
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JP2000126276A
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Yoshihiro Hata
芳広 秦
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Advantest Corp
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Advantest Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 本発明は、外部発振回路を使用しないで、制
御に必要な期間のみクロックを生成することにより周辺
のアナログ回路に影響を与えないようにした安定に動作
する制御回路を提供する。 【解決手段】 クロックを受けて、クロックに同期して
コントロール信号と、エンド信号を出力するシーケンサ
と、外部信号によりスタート信号を生成し、該スタート
信号を一端に受けてゲート出力するANDゲートと、該
ANDゲートの出力を受けて信号を所定の時間遅延出力
する遅延手段と、該遅延手段の遅延出力を受けて反転出
力するインバータと、該インバータの反転出力を前記A
NDゲートの他端にフィードバックしてクロックを発生
し、前記エンド信号でクロックを停止して、前記シーケ
ンサのクロックとして与えている解決手段。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、クロックによりコ
ントロール信号を制御出力する制御回路に関する。とく
に本発明は、アナログ回路とデジタル回路とが混在する
半導体試験装置における制御回路に関する。
【0002】
【従来の技術】従来技術の例について、図4と、図5を
参照して構成と動作について説明する。図4に示すよう
に、従来の制御回路の一例は、インバータ21、22、
23と、ANDゲート32と、フリップフロップ41、
42と、シーケンサ50と、発振回路90とで構成して
いる。そして、外部のメモリ60等にコントロール信号
を供給している。ここで、発明の対象としている制御回
路は主に半導体試験装置に使用されるが、半導体試験装
置の構成と動作については、アナログ回路とデジタル回
路を含む一般の場合を対象としているので説明を省略す
る。
【0003】次に、図5に示すタイミングチャートを参
照して、図4に示す従来の制御回路の動作について説明
をする。例えば、半導体試験装置の試験プログラムを実
行することにより、図5の(a)に示すコマンド信号C
OMを図4に示すフリップフロップ42のクロック入力
に与える。また、コマンド信号COMをインバータ21
を介してフリップフロップ41のクリア入力に与えてい
る。従って、コマンド信号COMがロー(Low)から
ハイ(High)となるとフリップフロップ41のクリ
ヤ入力がハイからローとなるので、フリップフロップ4
1の出力のストップ信号STOPは、図5の(d)に示
すように、ハイからローとなる。
【0004】一方、フリップフロップ42のデータ入力
がハイ(Hi)なので、出力のスタート信号START
は、図5の(b)に示すように、コマンド信号COMの
立ち下がりによりローからハイとなる。
【0005】図4に示す発振回路90の出力のクロック
CLK3は、ANDゲート32の一端に接続されて、ス
タート信号STARTがANDゲート32の他端に接続
され、スタート信号がハイレベルの期間クロックCLK
4のがシーケンサ50のクロックパルスとして入力され
る。
【0006】シーケンサ50は、クロックを受けて制御
信号を発生する回路で、例えばコントロール信号として
外部のメモリ60に供給するアドレス信号ADRと、ラ
イトイネーブル信号/WEと、チップセレクト信号/C
Sを発生し、また制御信号の終了を知らせるエンド信号
ENDを発生する。
【0007】ここで、シーケンサ50から、外部のメモ
リ60に供給するコントロール信号の出力例について箇
条書きで説明する。 (1)クロックCLK4の1サイクル目で、図5の
(g)と(j)とに示すように、アドレスADRと、チ
ップセレクト/CSを設定する。 (2)クロックCLK4の2サイクル目で、図5の
(i)に示すように、ライトイネーブル信号/WEをロ
ーに設定する。 (3)クロックCLK4の3サイクル目で、図5の
(i)に示すように、ライトイネーブル信号/WEをハ
イに設定する。 (4)クロックCLK4の4サイクル目で、図5の
(g)と(j)とに示すように、アドレスADRと、チ
ップセレクト/CSを解除する。
【0008】そして、図5の(c)に示すように、クロ
ックCLK4の4サイクル目に同期してエンド信号EN
Dのパルスを出力し、図4に示すように、インバータ2
3で反転してフリップフロップ41のクロックに入力す
る。従って、エンド信号ENDのパルスの立ち下がりで
フリップフロップ41の出力のストップ信号STOP
は、図5の(d)に示すように、ローからハイになる。
【0009】また、図4に示すように、ストップ信号S
TOPをインバータ22で反転してフリップフロップ4
2のクリヤに入力しているので、図5の(b)に示すよ
うに、スタート信号STARTは、ハイからローにな
る。従って、図5の(f)に示すように、ANDゲート
32の出力のクロックCLK4の6サイクル目以降のパ
ルスは出力されない。
【0010】従来、発振回路90は常に動作状態である
ため、制御信号を出力していないときでもクロックCL
K3を出力しているので、発振回路90周辺のアナログ
回路にノイズとして影響を与えることがある。そのた
め、コントロール信号を生成しない期間は、発振回路9
0自体の発振を止めればよいが、従来の発振回路では出
力のみON/OFFしている。
【0011】さらに、発振回路90自体の発振を止めた
としても、発振回路90のクロック出力と、その制御を
するスタート信号STARTとが同期していないため、
ANDゲート32のゲート出力のクロックCLK4の1
つ目のパルス幅が狭くなったり、余分なノイズパルスが
発生したりするので、シーケンサ50の出力のコントロ
ール信号を安定して生成するためには、待ち時間が必要
となる。
【0012】ところで、制御回路としてコントロール信
号を出力するデバイスは、メモリとしたが、レジスタや
パラレル・シリアル変換器等であっても同様である。
【0013】
【発明が解決しようとする課題】上記説明のように、発
振回路90は動作状態であるためクロックCLK3は常
に出力しているので、発振回路90周辺のアナログ回路
にノイズとして影響を与えることがある。また、発振回
路90自体の発振を止めたとしても、発振回路90のク
ロック出力と、その制御をするスタート信号START
とが同期していないため、ANDゲート32の出力のク
ロックCLK4のパルス幅が狭くなったり、余分なノイ
ズパルスが発生したりするので、シーケンサ50の出力
のコントロール信号を安定に動作させるためには、待ち
時間が必要となる実用上の問題があった。そこで、本発
明は、こうした問題に鑑みなされたもので、その目的
は、外部発振回路を使用しないで、制御に必要な期間の
みクロックを生成することにより周辺のアナログ回路に
影響を与えないようにした安定に動作する制御回路を提
供することにある。
【0014】
【課題を解決するための手段】即ち、上記目的を達成す
るためになされた本発明は、クロックを受けて、クロッ
クに同期してコントロール信号と、エンド信号を出力す
るシーケンサと、外部信号によりスタート信号を生成
し、該スタート信号を一端に受けてゲート出力するAN
Dゲートと、該ANDゲートの出力を受けて信号を所定
の時間遅延出力する遅延手段と、該遅延手段の遅延出力
を受けて反転出力するインバータと、該インバータの反
転出力を前記ANDゲートの他端にフィードバックして
クロックを発生し、前記エンド信号でクロックを停止し
て、前記シーケンサのクロックとして与えていることを
特徴とする制御回路を要旨としている。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態は、下記の実
施例において説明する。
【0016】
【実施例】(実施例1)本発明の実施例について、図1
と、図2を参照して構成と動作について説明する。図1
に示すように、本発明の実施例1の制御回路は、インバ
ータ21、22、23と、フリップフロップ41、42
と、シーケンサ50と、ANDゲート31と、インバー
タ24と、遅延素子70とで構成している。つまり、イ
ンバータ21、22、23と、フリップフロップ41、
42と、シーケンサ50とは従来と同じ構成である。そ
して、外部のメモリ60等にコントロール信号を供給し
ている。ここで、従来同様に発明の対象としている制御
回路は主に半導体試験装置に使用されるが、半導体試験
装置の構成と動作については、アナログ回路とデジタル
回路を含む一般の場合を対象としているので説明を省略
する。
【0017】次に、図2に示すタイミングチャートを参
照して、図1に示す本発明の制御回路の動作について説
明をする。例えば、半導体試験装置の試験プログラムを
実行することにより、図2の(a)に示すコマンド信号
COMを図1に示すフリップフロップ42のクロック入
力に与える。また、コマンド信号COMをインバータ2
1を介してフリップフロップ41のクリア入力に与えて
いる。従って、コマンド信号COMがロー(Low)か
らハイ(High)となるとフリップフロップ41のク
リヤ入力がハイからLowとなるので、フリップフロッ
プ41の出力のストップ信号STOPは、図2の(d)
に示すように、ハイからローとなる。
【0018】一方、フリップフロップ42のデータ入力
がハイ(Hi)なので、出力のスタート信号START
は、図2の(b)に示すように、コマンド信号COMの
立ち下がりによりローからハイとなる。
【0019】スタート信号STARTは、ANDゲート
31の一端に接続されて、ANDゲート31の他端がイ
ンバータ24により反転入力しているので、図2の
(e)に示すように、ANDゲート31の出力のCLK
1の1つ目のパルスが立ち上がり、図2の(f)に示す
ように、遅延素子70により遅延してCLK2の立ち上
がり、インバータ24でハイからローへ反転してAND
ゲート31にもどり、CLK1の1つ目のパルスが立ち
下がる。従って、ANDゲート31の出力のCLK1の
1つ目のパルスが立ち下がり、遅延素子70により遅延
してCLK2となり、インバータ24でローからハイへ
反転してANDゲート31にもどり、CLK1の2つ目
のパルスが立ち上がる。以下、同様の動作を繰り返すこ
とでクロックCLK2のパルスが周期的に生成される。
従って、このときのクロックの周期はクロックCLK2
の1つ目と2つ目のパルスの立ち上がりの期間となる。
従って、遅延手段である遅延素子70の遅延時間を適宜
選定することで、所望のクロック周期が得られる。
【0020】次に、シーケンサ50から、外部のメモリ
60に供給するコントロール信号は、図2の(g)〜
(j)に示すように従来と同じ出力例で説明する。 (1)クロックCLK2の1サイクル目で、図2の
(g)と(j)とに示すように、アドレスADRと、チ
ップセレクト/CSを設定する。 (2)クロックCLK2の2サイクル目で、図2の
(i)に示すように、ライトイネーブル信号/WEをロ
ーに設定する。 (3)クロックCLK2の3サイクル目で、図2の
(i)に示すように、ライトイネーブル信号/WEをハ
イに設定する。 (4)クロックCLK2の4サイクル目で、図2の
(g)と(j)とに示すように、アドレスADRと、チ
ップセレクト/CSを解除する。
【0021】そして、図2の(c)に示すように、クロ
ックCLK2の4サイクル目に同期してエンド信号EN
Dのパルスを出力し、図1に示すように、インバータ2
3で反転してフリップフロップ41のクロックに入力す
る。従って、エンド信号ENDのパルスの立ち下がりで
フリップフロップ41の出力のストップ信号STOP
は、図2の(d)に示すように、ローからハイになる。
また、図1に示すように、ストップ信号STOPをイン
バータ22で反転してフリップフロップ42のクリヤに
入力しているので、図2の(b)に示すように、スター
ト信号STARTは、ハイからローになる。
【0022】クロックCLK2の5つ目のパルスがハイ
からローとなってANDゲート31に戻ってきてもスタ
ート信号STARTがローなので、図1の(e)と
(f)とに示すように、クロックCLK1の6つ目のパ
ルスとしてローからハイにならずローのままとなる。従
って、図2の(f)に示すように、ANDゲート32の
出力のクロックCLK2の6サイクル目以降のパルスは
出力されない。つまり、本発明の制御回路では、シーケ
ンサ50をコントロール信号を出力するために発生する
クロックCLK1とCLK2は、制御期間以外はクロッ
クパルスを生成しない。
【0023】ところで、制御回路の制御信号として出力
する信号は、コントロール信号と、エンド信号として説
明したが、その他の制御信号であっても同様に実現でき
る。また、制御回路としてコントロール信号を出力する
デバイスは、メモリとしたが、レジスタやパラレル・シ
リアル変換器等であっても同様にできる。
【0024】(実施例2)本発明の本実施例2は、図3
に示すように、制御回路をFPGAなどで実現する場
合、内部のゲート素子などによる遅延回路80を遅延手
段とした場合である。従って、遅延時間の設定分解能が
ゲート素子により制限される以外は実施例1と同様とな
るので他の説明を省略する。
【0025】
【発明の効果】本発明は、以上説明したような形態で実
施され、以下に記載されるような効果を奏する。即ち、
外部の発信回路を用いずに、スタート信号でクロックを
発生し、エンド信号でクロックを停止して、制御信号を
生成している期間のみクロックを発生させる制御回路と
したので、他のアナログ回路にノイズ等の影響を少なく
し、安定な動作をするコントロール信号を制御出力する
制御回路が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例1の制御回路の回路図である。
【図2】本発明の実施例1の制御回路のタイミングチャ
ートである
【図3】本発明の実施例2の制御回路の回路図である
【図4】従来の制御回路の回路図である。
【図5】従来の制御回路のタイミングチャートである。
【符号の説明】
21、22、23 インバータ 31、32 ANDゲート 41、42 フリップフロップ 50 シーケンサ 60 メモリ 70 遅延素子 80 遅延回路 90 発振回路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 クロックを受けて、クロックに同期して
    コントロール信号と、エンド信号を出力するシーケンサ
    と、 外部信号によりスタート信号を生成し、該スタート信号
    を一端に受けてゲート出力するANDゲートと、 該ANDゲートの出力を受けて信号を所定の時間遅延出
    力する遅延手段と、 該遅延手段の遅延出力を受けて反転出力するインバータ
    と、 該インバータの反転出力を前記ANDゲートの他端にフ
    ィードバックしてクロックを発生し、前記エンド信号で
    クロックを停止して、前記シーケンサのクロックとして
    与えていることを特徴とする制御回路。
JP2000126276A 2000-04-20 2000-04-20 制御回路 Pending JP2001305196A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008298465A (ja) * 2007-05-29 2008-12-11 Advantest Corp 波形発生装置、設定周期補正方法及び半導体試験装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008298465A (ja) * 2007-05-29 2008-12-11 Advantest Corp 波形発生装置、設定周期補正方法及び半導体試験装置

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