JP2001291798A - 電子制御装置 - Google Patents
電子制御装置Info
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- JP2001291798A JP2001291798A JP2000109135A JP2000109135A JP2001291798A JP 2001291798 A JP2001291798 A JP 2001291798A JP 2000109135 A JP2000109135 A JP 2000109135A JP 2000109135 A JP2000109135 A JP 2000109135A JP 2001291798 A JP2001291798 A JP 2001291798A
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
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- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/151—Die mounting substrate
- H01L2924/153—Connection portion
- H01L2924/1531—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface
- H01L2924/15311—Connection portion the connection portion being formed only on the surface of the substrate opposite to the die mounting surface being a ball array, e.g. BGA
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
- Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】電子部品数の増加や小型化に対応することが可
能となる電子制御装置を提供する。 【解決手段】自動車用のエンジン制御用ECUにおい
て、回路基板2には所望の導体パターンが形成されてい
る。回路基板2にはPBGA3、パワー素子4等の電子
部品が搭載され、電子部品3,4と導体パターンとが電
気的に接続されている。PBGA3において、基板10
上にチップ11が実装されるとともに基板10の下面に
電極を有する。基板10の上面に延設した導体パターン
14の一部にチェックランド15が形成されている。
能となる電子制御装置を提供する。 【解決手段】自動車用のエンジン制御用ECUにおい
て、回路基板2には所望の導体パターンが形成されてい
る。回路基板2にはPBGA3、パワー素子4等の電子
部品が搭載され、電子部品3,4と導体パターンとが電
気的に接続されている。PBGA3において、基板10
上にチップ11が実装されるとともに基板10の下面に
電極を有する。基板10の上面に延設した導体パターン
14の一部にチェックランド15が形成されている。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は電子制御装置に係
り、詳しくは電子制御装置のチェックランドに関するも
のである。
り、詳しくは電子制御装置のチェックランドに関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】図5には電子制御装置の一例を示す。ケ
ーシング20内に配置された回路基板21において、回
路基板21上のモールドIC22やパワー素子23等の
電子部品を用いた回路が形成されている。この回路は外
部コネクタ24により外部の機器(アクチュエータや電
源等)と接続される。また、電子制御装置(製品)の機
能検査を行うために、製品の外部コネクタ24だけでな
く、内部回路の信号を計測する必要があり、そのため、
回路基板21上の導体パターン25の一部にチェックラ
ンド26と呼ばれるパターンを別に作り、これに計測用
のプローブを接触させることによって回路内の電気信号
を計測し、製品の機能検査を行っている。
ーシング20内に配置された回路基板21において、回
路基板21上のモールドIC22やパワー素子23等の
電子部品を用いた回路が形成されている。この回路は外
部コネクタ24により外部の機器(アクチュエータや電
源等)と接続される。また、電子制御装置(製品)の機
能検査を行うために、製品の外部コネクタ24だけでな
く、内部回路の信号を計測する必要があり、そのため、
回路基板21上の導体パターン25の一部にチェックラ
ンド26と呼ばれるパターンを別に作り、これに計測用
のプローブを接触させることによって回路内の電気信号
を計測し、製品の機能検査を行っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかし、最近の電子制
御装置の制御処理内容の高度化で、電子回路を構成して
いる素子数(電子部品数)の増加が進んできた。
御装置の制御処理内容の高度化で、電子回路を構成して
いる素子数(電子部品数)の増加が進んできた。
【0004】回路基板21にスペース的に十分な余裕が
ある場合は、回路基板21上にチェックランド26を設
けることができるが、製品の小型化が求められている現
在、回路基板21を大きくして、チェックランド26の
スペースを確保することもできない。逆に、製品の小型
化によって回路基板21をより小さくすることが求めら
れ、チェックランド26のスペースを確保するのが困難
である問題が生じる。
ある場合は、回路基板21上にチェックランド26を設
けることができるが、製品の小型化が求められている現
在、回路基板21を大きくして、チェックランド26の
スペースを確保することもできない。逆に、製品の小型
化によって回路基板21をより小さくすることが求めら
れ、チェックランド26のスペースを確保するのが困難
である問題が生じる。
【0005】そこで、この発明の目的は、電子部品数の
増加や小型化に対応することが可能となる電子制御装置
を提供することにある。
増加や小型化に対応することが可能となる電子制御装置
を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、電子部品における導体パターンの一部に、チェック
ランドを形成したことを特徴としている。よって、チェ
ックランドを回路基板に設けるのではなく、電子部品に
設けることにより、電子部品数の増加や小型化に対応す
ることが可能となる。
は、電子部品における導体パターンの一部に、チェック
ランドを形成したことを特徴としている。よって、チェ
ックランドを回路基板に設けるのではなく、電子部品に
設けることにより、電子部品数の増加や小型化に対応す
ることが可能となる。
【0007】ここで、請求項2に記載のように、前記電
子部品として、基板上にチップを実装するとともに基板
の下面に電極を有するものを用い、基板の上面に延設し
た導体パターンの一部に、チェックランドを形成する
と、実用上好ましいものとなる。具体的には、請求項3
に記載のように、電子部品をPBGAとする。
子部品として、基板上にチップを実装するとともに基板
の下面に電極を有するものを用い、基板の上面に延設し
た導体パターンの一部に、チェックランドを形成する
と、実用上好ましいものとなる。具体的には、請求項3
に記載のように、電子部品をPBGAとする。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、この発明を具体化した実施
の形態を図面に従って説明する。本実施形態における電
子制御装置を図1に示す。この電子制御装置は自動車用
のエンジン制御用ECU(ECU;電子制御ユニット)
である。なお、図1はケーシングのカバーを取り外して
おり、内部が見える状態となっている。
の形態を図面に従って説明する。本実施形態における電
子制御装置を図1に示す。この電子制御装置は自動車用
のエンジン制御用ECU(ECU;電子制御ユニット)
である。なお、図1はケーシングのカバーを取り外して
おり、内部が見える状態となっている。
【0009】図1において、ケーシング1の内部には回
路基板2がビスにより固定されている。この回路基板2
には所望の導体パターン(回路パターン)が形成される
とともに、プラスチックタイプのBGA(PBGA)3
やパワー素子4等の電子部品が搭載され、各電子部品は
導体パターンと電気的に接続されている。PBGA3や
パワー素子4等の電子部品を用いたエンジン制御のため
の回路が形成されている。また、ケーシング1にはコネ
クタ5が設けられ、コネクタピン6を介してコネクタ5
とエンジン制御回路とが電気的に接続されている。コネ
クタ5に対し相手方のコネクタを嵌合することによりエ
ンジン制御回路が外部機器と接続される。外部機器はバ
ッテリやセンサ類やアクチュエータ(インジェクタ、イ
グナイタ)等である。そして、ECUはエンジン運転状
態を検出する各種のセンサからの信号を入力して最適な
燃料噴射量、点火時期等を算出してアクチュエータ(イ
ンジェクタ、イグナイタ)を駆動制御するようになって
いる。
路基板2がビスにより固定されている。この回路基板2
には所望の導体パターン(回路パターン)が形成される
とともに、プラスチックタイプのBGA(PBGA)3
やパワー素子4等の電子部品が搭載され、各電子部品は
導体パターンと電気的に接続されている。PBGA3や
パワー素子4等の電子部品を用いたエンジン制御のため
の回路が形成されている。また、ケーシング1にはコネ
クタ5が設けられ、コネクタピン6を介してコネクタ5
とエンジン制御回路とが電気的に接続されている。コネ
クタ5に対し相手方のコネクタを嵌合することによりエ
ンジン制御回路が外部機器と接続される。外部機器はバ
ッテリやセンサ類やアクチュエータ(インジェクタ、イ
グナイタ)等である。そして、ECUはエンジン運転状
態を検出する各種のセンサからの信号を入力して最適な
燃料噴射量、点火時期等を算出してアクチュエータ(イ
ンジェクタ、イグナイタ)を駆動制御するようになって
いる。
【0010】なお、図1においては、回路基板2に搭載
する全電子部品のうちの一部のみを示している。前述の
PBGA(ICパッケージ)3の詳細な構成を、図2〜
図4を用いて説明する。図2にはPBGA3の平面図
を、図3には正面図を、図4には下面図を示す。
する全電子部品のうちの一部のみを示している。前述の
PBGA(ICパッケージ)3の詳細な構成を、図2〜
図4を用いて説明する。図2にはPBGA3の平面図
を、図3には正面図を、図4には下面図を示す。
【0011】PBGA3は、電子制御装置に多く使われ
ている。図2,3に示すように、PBGA3は回路基板
10を有し、回路基板10には導体パターンが形成され
ている。回路基板10の上にはICチップ11が実装さ
れており、ICチップ11はボンディングワイヤー12
により回路基板10上の導体パターンと接続されてい
る。回路基板10には樹脂材料(プラスチック)が用い
られている。
ている。図2,3に示すように、PBGA3は回路基板
10を有し、回路基板10には導体パターンが形成され
ている。回路基板10の上にはICチップ11が実装さ
れており、ICチップ11はボンディングワイヤー12
により回路基板10上の導体パターンと接続されてい
る。回路基板10には樹脂材料(プラスチック)が用い
られている。
【0012】また、図3,4に示すように、回路基板1
0の下面には多数のはんだボール(電極)13が並設さ
れている。このはんだボール13にて図1の回路基板2
と接続することができる。さらに、図2に示すように、
回路基板10の上面において導体パターン(パターン配
線)14がボンディングワイヤー12aにてICチップ
11と接続されるとともに、導体パターン14の一部に
はチェックランド15が形成されている。なお、回路基
板10の上のICチップ11やボンディングワイヤー1
2等はモールド樹脂(図示略)にて覆われるが、チェッ
クランド15の形成領域は樹脂は無くチェックランド1
5が露出している。
0の下面には多数のはんだボール(電極)13が並設さ
れている。このはんだボール13にて図1の回路基板2
と接続することができる。さらに、図2に示すように、
回路基板10の上面において導体パターン(パターン配
線)14がボンディングワイヤー12aにてICチップ
11と接続されるとともに、導体パターン14の一部に
はチェックランド15が形成されている。なお、回路基
板10の上のICチップ11やボンディングワイヤー1
2等はモールド樹脂(図示略)にて覆われるが、チェッ
クランド15の形成領域は樹脂は無くチェックランド1
5が露出している。
【0013】そして、図1に示すように、電子部品3,
4等を搭載した回路基板2をケーシング1内に収納した
後において、チェックランド15に計測用のプローブを
接触させて回路内の電気信号を計測し、製品の機能検査
が行われる。つまり、製品の外部コネクタ5だけでな
く、チェックランド15を用いて内部回路の信号を計測
して電子制御装置(製品)の機能検査を行う。この際、
PBGA3における基板10の上面にチェックランド1
5を設けることによりメインの回路基板2のスペースの
有効活用を図ることができる。つまり、素子数(電子部
品数)が増加してもチェックランドのスペースを確保で
き、また、メインの回路基板2をより小さくして製品
(ECU)の小型化を図ることができる。
4等を搭載した回路基板2をケーシング1内に収納した
後において、チェックランド15に計測用のプローブを
接触させて回路内の電気信号を計測し、製品の機能検査
が行われる。つまり、製品の外部コネクタ5だけでな
く、チェックランド15を用いて内部回路の信号を計測
して電子制御装置(製品)の機能検査を行う。この際、
PBGA3における基板10の上面にチェックランド1
5を設けることによりメインの回路基板2のスペースの
有効活用を図ることができる。つまり、素子数(電子部
品数)が増加してもチェックランドのスペースを確保で
き、また、メインの回路基板2をより小さくして製品
(ECU)の小型化を図ることができる。
【0014】また、チェックランドは、特に制御処理素
子のパターン配線周りに集中しているため、制御処理素
子をPBGAにした場合、この回路基板10にチェック
ランド15を設けることは、スペースメリットを考える
と効果的である。
子のパターン配線周りに集中しているため、制御処理素
子をPBGAにした場合、この回路基板10にチェック
ランド15を設けることは、スペースメリットを考える
と効果的である。
【0015】このように、本実施の形態は下記の特徴を
有する。 (イ)図1に示すごとく、電子部品3における導体パタ
ーン14の一部に、チェックランド15を形成したの
で、チェックランドを回路基板2に設けるのではなく電
子部品3に設けることにより、電子部品数の増加や小型
化に対応することが可能となる。 (ロ)電子部品として、図2〜図4に示すごとく、基板
10上にチップ11を実装するとともに基板10の下面
に電極13を有するPBGAを用い、基板10の上面に
延設した導体パターン14の一部にチェックランド15
を形成したので、もともと基板10の上面には導体パタ
ーンが延設されており、その一部にチェックランドを設
けるだけでよく、実用上好ましいものである。
有する。 (イ)図1に示すごとく、電子部品3における導体パタ
ーン14の一部に、チェックランド15を形成したの
で、チェックランドを回路基板2に設けるのではなく電
子部品3に設けることにより、電子部品数の増加や小型
化に対応することが可能となる。 (ロ)電子部品として、図2〜図4に示すごとく、基板
10上にチップ11を実装するとともに基板10の下面
に電極13を有するPBGAを用い、基板10の上面に
延設した導体パターン14の一部にチェックランド15
を形成したので、もともと基板10の上面には導体パタ
ーンが延設されており、その一部にチェックランドを設
けるだけでよく、実用上好ましいものである。
【0016】これまでの説明においてはチェックランド
を形成する電子部品はPBGAであったが、これに限る
ことなく、例えば、TBGA等であってもよい。
を形成する電子部品はPBGAであったが、これに限る
ことなく、例えば、TBGA等であってもよい。
【図1】 実施の形態における電子制御装置の平面図。
【図2】 PBGAの平面図。
【図3】 PBGAの正面図。
【図4】 PBGAの下面図。
【図5】 従来技術を説明するための電子制御装置の平
面図。
面図。
2…回路基板、3…PBGA、10…基板、11…IC
チップ、14…導体パターン、15…チェックランド。
チップ、14…導体パターン、15…チェックランド。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) H01L 25/18
Claims (3)
- 【請求項1】 所望の導体パターンが形成された回路基
板に対し電子部品が搭載され、当該電子部品と前記導体
パターンとが電気的に接続された電子制御装置であっ
て、 前記電子部品における導体パターンの一部に、チェック
ランドを形成したことを特徴とする電子制御装置。 - 【請求項2】 前記電子部品として、基板上にチップを
実装するとともに基板の下面に電極を有するものを用
い、基板の上面に延設した導体パターンの一部に、チェ
ックランドを形成したことを特徴とする請求項1に記載
の電子制御装置。 - 【請求項3】 前記電子部品はPBGAであることを特
徴とする請求項2に記載の電子制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000109135A JP2001291798A (ja) | 2000-04-11 | 2000-04-11 | 電子制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000109135A JP2001291798A (ja) | 2000-04-11 | 2000-04-11 | 電子制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001291798A true JP2001291798A (ja) | 2001-10-19 |
Family
ID=18621869
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000109135A Pending JP2001291798A (ja) | 2000-04-11 | 2000-04-11 | 電子制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001291798A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017096903A (ja) * | 2015-11-20 | 2017-06-01 | インクス株式会社 | パワー半導体検査用コンタクトプローブ |
-
2000
- 2000-04-11 JP JP2000109135A patent/JP2001291798A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2017096903A (ja) * | 2015-11-20 | 2017-06-01 | インクス株式会社 | パワー半導体検査用コンタクトプローブ |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060630 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20061213 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070327 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20070724 |