JP2001291594A - 導電性液晶素子 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 メモリー性を有し、同一電圧で駆動しても発
光輝度の異なる発光が得られる導電性液晶素子を提供す
る。 【解決手段】 基板1上に透明電極(陽極)2を設け、
該透明電極2の上に液晶性有機物層3と発光層5および
金属電極(陰極)6をこの順に形成してなり、該液晶性
有機層3が導電性の低い液晶非配向部分5aと導電性の
高い液晶配向部分5bからなる導電性の異なる複数の領
域で形成されている導電性液晶素子。
光輝度の異なる発光が得られる導電性液晶素子を提供す
る。 【解決手段】 基板1上に透明電極(陽極)2を設け、
該透明電極2の上に液晶性有機物層3と発光層5および
金属電極(陰極)6をこの順に形成してなり、該液晶性
有機層3が導電性の低い液晶非配向部分5aと導電性の
高い液晶配向部分5bからなる導電性の異なる複数の領
域で形成されている導電性液晶素子。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は導電性液晶素子に関
し、特に導電性液晶を用いた有機エレクトロルミネッセ
ンス素子(以下、有機EL素子と記す)に関するもので
ある。
し、特に導電性液晶を用いた有機エレクトロルミネッセ
ンス素子(以下、有機EL素子と記す)に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】有機EL素子は1960年代にアントラ
セン単結晶などの有機固体でのキャリア注入型ELが詳
しく研究されていた。これらは単層型のものだったが、
その後Tang等は正孔注入電極と電子注入電極の間に
発光層と正孔輸送層を有する積層型有機EL素子を提案
した。これらの注入型ELの発光メカニズムは、(1)
陰極からの電子注入と陽極からの正孔注入、(2)電子
と正孔の固体中の移動、(3)電子と正孔の再結合、
(4)生成された一重項励起子からの発光という段階を
経る点で共通する。
セン単結晶などの有機固体でのキャリア注入型ELが詳
しく研究されていた。これらは単層型のものだったが、
その後Tang等は正孔注入電極と電子注入電極の間に
発光層と正孔輸送層を有する積層型有機EL素子を提案
した。これらの注入型ELの発光メカニズムは、(1)
陰極からの電子注入と陽極からの正孔注入、(2)電子
と正孔の固体中の移動、(3)電子と正孔の再結合、
(4)生成された一重項励起子からの発光という段階を
経る点で共通する。
【0003】積層型有機EL素子の代表例としては、陽
極としてガラス基板上にITO膜を形成し、その上にT
PD(N,N’−ジフェニル−N,N’−ジ(3−メチ
ルフェニル)−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジア
ミン)を約50nmの厚みで形成し、その上部にAlq
3(トリス(8−キノラリト)アルミニウム)を約50
nmの厚みで形成し、さらに陰極としてAl,Li合金
を蒸着することで素子を構成する。陽極に用いるITO
の仕事関数を4.4〜5.0eVにすることでTPDに
対して正孔を注入し易くし、陰極には仕事関数の出来る
だけ小さな金属で安定な物を用いる。例えば、AlとL
iの合金やMgとAgの合金などである。この構成によ
ると5Vないし10Vの直流電圧を印加すると緑色の発
光が得られる。
極としてガラス基板上にITO膜を形成し、その上にT
PD(N,N’−ジフェニル−N,N’−ジ(3−メチ
ルフェニル)−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジア
ミン)を約50nmの厚みで形成し、その上部にAlq
3(トリス(8−キノラリト)アルミニウム)を約50
nmの厚みで形成し、さらに陰極としてAl,Li合金
を蒸着することで素子を構成する。陽極に用いるITO
の仕事関数を4.4〜5.0eVにすることでTPDに
対して正孔を注入し易くし、陰極には仕事関数の出来る
だけ小さな金属で安定な物を用いる。例えば、AlとL
iの合金やMgとAgの合金などである。この構成によ
ると5Vないし10Vの直流電圧を印加すると緑色の発
光が得られる。
【0004】また、キャリア輸送層として導電性液晶が
存在することも知られている。例えば、D.Adam
et al、“Natur”,Vol.371,P14
1には、長鎖トリフェニレン系化合物である、ディスコ
ティック液晶の液晶相(Dh相)の移動度が10-3〜1
0-2cm2 /Vsecであり、メゾフェーズ(中間相、
液晶相ではない)での移動度が10-1cm2 /Vsec
である事が報告されている。さらに、棒状液晶において
も、半那純一“応用物理”、第68巻、第1号、p26
によると、フェニルナフタレン系のスメクティックB相
における移動度が10-3cm2 /Vsec以上である事
が報告されている。
存在することも知られている。例えば、D.Adam
et al、“Natur”,Vol.371,P14
1には、長鎖トリフェニレン系化合物である、ディスコ
ティック液晶の液晶相(Dh相)の移動度が10-3〜1
0-2cm2 /Vsecであり、メゾフェーズ(中間相、
液晶相ではない)での移動度が10-1cm2 /Vsec
である事が報告されている。さらに、棒状液晶において
も、半那純一“応用物理”、第68巻、第1号、p26
によると、フェニルナフタレン系のスメクティックB相
における移動度が10-3cm2 /Vsec以上である事
が報告されている。
【0005】このような液晶をエレクトロルミネッセン
ス(EL)に利用する試みとしては、INGAH.ST
APFF et al、“Liquid Crysta
ls”,1997,Vol.23,No4,pp613
〜617にはトリフェニレン系のディスコティック液晶
を用いた有機ELデバイスが報告されている。他に“P
OLYMERS FOR ADVNCED TECHN
OLOGIES”,Vol.9,443〜460頁,1
998年や、“ADVANCED MATERIAL
S”Vol.9,No.1,48頁、l997年、にも
示されている。
ス(EL)に利用する試みとしては、INGAH.ST
APFF et al、“Liquid Crysta
ls”,1997,Vol.23,No4,pp613
〜617にはトリフェニレン系のディスコティック液晶
を用いた有機ELデバイスが報告されている。他に“P
OLYMERS FOR ADVNCED TECHN
OLOGIES”,Vol.9,443〜460頁,1
998年や、“ADVANCED MATERIAL
S”Vol.9,No.1,48頁、l997年、にも
示されている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】これまでの有機EL素
子はモノマーを使用したものは結晶状態を用いるために
幾つかの問題点があった。第一の問題点としては、IT
O等の電極からの有機層ヘの電子、正孔の注入効率が低
いことがあった。これは有機分子が結晶状態をとる場合
には微小結晶粒界がキャリアの伝導障害となるので、通
常はアモルファス状態で使われるが、この場合のキャリ
ア注入効率は低く、有機EL素子が電流量を確保できな
い大きな原因となっていた。
子はモノマーを使用したものは結晶状態を用いるために
幾つかの問題点があった。第一の問題点としては、IT
O等の電極からの有機層ヘの電子、正孔の注入効率が低
いことがあった。これは有機分子が結晶状態をとる場合
には微小結晶粒界がキャリアの伝導障害となるので、通
常はアモルファス状態で使われるが、この場合のキャリ
ア注入効率は低く、有機EL素子が電流量を確保できな
い大きな原因となっていた。
【0007】有機EL素子の電子構造はエネルギーギャ
ップが約3eV以上と大きいために熱励起型の自由キャ
リアは存在せず、電極からの注入キヤリアが電流(空間
電荷制限電流)を形成することになるので、電極からの
キャリア注入効率は重大な問題になっていた。注入効率
が低いために電流量を確保するためには印加電圧を大き
くしなければならず、ひいてはそれが素子層厚の薄膜化
につながり、電極間の電気的短絡や容量性負荷を増大さ
せる原因となっていた。
ップが約3eV以上と大きいために熱励起型の自由キャ
リアは存在せず、電極からの注入キヤリアが電流(空間
電荷制限電流)を形成することになるので、電極からの
キャリア注入効率は重大な問題になっていた。注入効率
が低いために電流量を確保するためには印加電圧を大き
くしなければならず、ひいてはそれが素子層厚の薄膜化
につながり、電極間の電気的短絡や容量性負荷を増大さ
せる原因となっていた。
【0008】さらに、有機EL素子の第二の問題点とし
ては水の侵入や水分の影響による発光特性の劣化、有機
層間の化学反応などによる劣化、駆動劣化などの耐久性
の悪いことが問題となっていた。通常の有機EL素子に
おいては有機物積層の後に金属膜を蒸着することによっ
て陰極を形成するが、陰極に適するような仕事関数の小
さな金属は酸化され易く、耐久性が低い。また、スパッ
タによる保獲膜を形成する場合もその形成温度が高い場
合(一般には100℃が限界である)は有機層の劣化を
もたらし、また膜の応力による素子構造の破壊なども問
題となっていた。
ては水の侵入や水分の影響による発光特性の劣化、有機
層間の化学反応などによる劣化、駆動劣化などの耐久性
の悪いことが問題となっていた。通常の有機EL素子に
おいては有機物積層の後に金属膜を蒸着することによっ
て陰極を形成するが、陰極に適するような仕事関数の小
さな金属は酸化され易く、耐久性が低い。また、スパッ
タによる保獲膜を形成する場合もその形成温度が高い場
合(一般には100℃が限界である)は有機層の劣化を
もたらし、また膜の応力による素子構造の破壊なども問
題となっていた。
【0009】また、キャリア輸送層として導電性液晶を
用いる場合の問題点としてはオーダーの高い液晶層は配
向させにくことが挙げられる。液晶分子がそのπ電子供
役面を配列させてスタックすることで、高次の導電性が
得られるため、その「配向性」は導電性液晶の導電性に
直接影響する。配向性が悪い場合には電子やホールの導
電に関して液晶層中にトラップサイトを形成してしま
い、導電性を全く失ってしまう事もある。
用いる場合の問題点としてはオーダーの高い液晶層は配
向させにくことが挙げられる。液晶分子がそのπ電子供
役面を配列させてスタックすることで、高次の導電性が
得られるため、その「配向性」は導電性液晶の導電性に
直接影響する。配向性が悪い場合には電子やホールの導
電に関して液晶層中にトラップサイトを形成してしま
い、導電性を全く失ってしまう事もある。
【0010】本発明は、この様な従来技術の問題点を解
決するためになされたものであり、電極上に導電性液晶
性有機物層を形成し、該導電性液晶性有機物層の一部ま
たは全部の配向状態を制御することで、導電率を変化さ
せ、メモリー性を有し、同一電圧で駆動しても発光輝度
の異なる発光が得られる導電性液晶素子を提供すること
を目的とするものである。
決するためになされたものであり、電極上に導電性液晶
性有機物層を形成し、該導電性液晶性有機物層の一部ま
たは全部の配向状態を制御することで、導電率を変化さ
せ、メモリー性を有し、同一電圧で駆動しても発光輝度
の異なる発光が得られる導電性液晶素子を提供すること
を目的とするものである。
【0011】
【課題を解決するための手段】即ち、本発明は、二枚の
対向した電極間に液晶性有機物層を形成した導電性液晶
素子において、該液晶性有機物層が導電性の異なる複数
の領域で形成されていることを特徴とする導電性液晶素
子である。
対向した電極間に液晶性有機物層を形成した導電性液晶
素子において、該液晶性有機物層が導電性の異なる複数
の領域で形成されていることを特徴とする導電性液晶素
子である。
【0012】前記液晶性有機物層の導電性の異なる領域
が液晶分子の配向状態を変化させることによって形成さ
れていることが好ましい。前記液晶性有機物層の配向状
態の変化をレーザーの照射によって形成したことが好ま
しい。前記液晶性有機物層の配向状態の変化を電圧印加
によって形成したことが好ましい。
が液晶分子の配向状態を変化させることによって形成さ
れていることが好ましい。前記液晶性有機物層の配向状
態の変化をレーザーの照射によって形成したことが好ま
しい。前記液晶性有機物層の配向状態の変化を電圧印加
によって形成したことが好ましい。
【0013】また、本発明は、二枚の対向した電極間に
液晶性有機物層を形成した導電性液晶素子において、該
液晶性有機物層に配向状態の異なる領域を形成し、該配
向状態の変化を発光量の変化に変換して表示することを
特徴とする導電性液晶素子である。
液晶性有機物層を形成した導電性液晶素子において、該
液晶性有機物層に配向状態の異なる領域を形成し、該配
向状態の変化を発光量の変化に変換して表示することを
特徴とする導電性液晶素子である。
【0014】さらに、本発明は、二枚の対向した電極間
に二層以上の有機物層を形成した導電性液晶素子におい
て、少なくとも一つの有機物層が液晶性有機物層であ
り、該液晶性有機物層に導電性の異なる領域を形成し、
該液晶性有機物層の導電性の変化を発光量の変化に変換
して表示することを特徴とする導電性液晶素子である。
に二層以上の有機物層を形成した導電性液晶素子におい
て、少なくとも一つの有機物層が液晶性有機物層であ
り、該液晶性有機物層に導電性の異なる領域を形成し、
該液晶性有機物層の導電性の変化を発光量の変化に変換
して表示することを特徴とする導電性液晶素子である。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明は、電極上に導電性液晶性
有機物層を形成し、旦つ該導電性液晶性有機物層の一部
または全部の配向状態を制御することで、上記導電性液
晶性有機物層の一部または全部の導電率を変化させるこ
とにより発光特性を変化させたことを特徴とした導電性
液晶素子、特に有機EL素子である。
有機物層を形成し、旦つ該導電性液晶性有機物層の一部
または全部の配向状態を制御することで、上記導電性液
晶性有機物層の一部または全部の導電率を変化させるこ
とにより発光特性を変化させたことを特徴とした導電性
液晶素子、特に有機EL素子である。
【0016】有機EL素子の駆動に高電界10V/10
0nmが必要な理由は、有機層のキャリア(正孔およ
び、電子)の移動度が低いことと、電極から有機層へ
のキャリアの注入効率が悪いことが原因となっている。
有機EL素子に用いる有機物はバンドギャップが約3.
0eVと広いために伝導帯(LUMO)に熱励起型の自
由電子が存在せず、電流はもっぱら電極より注入される
トンネル電流によって賄われる。この電極からの注入効
率は電極の仕事関数と有機物のLUMO,HOMOの準
位ギャップだけではなく、有機物の分子配列やその構造
に大きく依存する面がある事が知られているが、通常の
有機EL素子に用いられる有機化合物(例えば、TPD
(N,N’−ジフェニル−N,N’−ジ(3−メチルフ
ェニル)−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジアミ
ン),α−NPD[ビス(N−(ナフチル)−N−フェ
ニル)ベンジジン],TAZ−01[3−(4−ビフェ
ニルイル)−4−フェニル−5−(4−tert―ブチ
ルフェニル)−1,2,4−トリアゾール]、Alq3
など)は電流量をとるためには有機−電極接合界面に1
0V/100nm程度の高電界を印加する必要がある。
さらに有機物の移動度は10-6〜10-3cm2 /Vs程
度のものなので電流を確保するためにも素子に印加する
電界は高電界が要求されていた。既に本出願人が出願し
た特願平11−255007号、特願平11−2738
79号では導電性液晶を液晶性電荷注入層として採用す
ることで上記問題点を改善している。
0nmが必要な理由は、有機層のキャリア(正孔およ
び、電子)の移動度が低いことと、電極から有機層へ
のキャリアの注入効率が悪いことが原因となっている。
有機EL素子に用いる有機物はバンドギャップが約3.
0eVと広いために伝導帯(LUMO)に熱励起型の自
由電子が存在せず、電流はもっぱら電極より注入される
トンネル電流によって賄われる。この電極からの注入効
率は電極の仕事関数と有機物のLUMO,HOMOの準
位ギャップだけではなく、有機物の分子配列やその構造
に大きく依存する面がある事が知られているが、通常の
有機EL素子に用いられる有機化合物(例えば、TPD
(N,N’−ジフェニル−N,N’−ジ(3−メチルフ
ェニル)−1,1’−ビフェニル−4,4’−ジアミ
ン),α−NPD[ビス(N−(ナフチル)−N−フェ
ニル)ベンジジン],TAZ−01[3−(4−ビフェ
ニルイル)−4−フェニル−5−(4−tert―ブチ
ルフェニル)−1,2,4−トリアゾール]、Alq3
など)は電流量をとるためには有機−電極接合界面に1
0V/100nm程度の高電界を印加する必要がある。
さらに有機物の移動度は10-6〜10-3cm2 /Vs程
度のものなので電流を確保するためにも素子に印加する
電界は高電界が要求されていた。既に本出願人が出願し
た特願平11−255007号、特願平11−2738
79号では導電性液晶を液晶性電荷注入層として採用す
ることで上記問題点を改善している。
【0017】これに対して、本発明では液晶層の配向を
制御するために液晶層を部分的に加熱して液晶層の相転
移を制御することで行っている。その機能をつぎに箇条
書きで説明する。
制御するために液晶層を部分的に加熱して液晶層の相転
移を制御することで行っている。その機能をつぎに箇条
書きで説明する。
【0018】これは導電性液晶層の配向性を制御する一
方法で、他の方法としては配向させない部分の電極形状
を粗面化処理をほどこすなどの表面処理の手法が考えら
れる。
方法で、他の方法としては配向させない部分の電極形状
を粗面化処理をほどこすなどの表面処理の手法が考えら
れる。
【0019】 導電性液晶は移動度としては10-2c
m2 /Vsを超えるものが存在する。(文献“Natu
re”,Vol.371,P141,D.Adam e
tal) 導電性液晶は温度によって相転移してネマティック
相もしくはディスコティックディスオーダード相などの
低次の液晶相を持つために配向性をもち電極面上で液晶
分子を配向させることができる。
m2 /Vsを超えるものが存在する。(文献“Natu
re”,Vol.371,P141,D.Adam e
tal) 導電性液晶は温度によって相転移してネマティック
相もしくはディスコティックディスオーダード相などの
低次の液晶相を持つために配向性をもち電極面上で液晶
分子を配向させることができる。
【0020】 ディスコティック液晶はトリフェニレ
ンなどのコアの周囲に側鎖を構成する事で液晶性を発現
させているが、この側鎖は金属基板表面(ITOを含
む)に対して濡れ性が悪く液晶状態ではトリフェニレン
などのコアが電極表面に対して配向するために、コア部
分のπ電子供役面が電極表面で配向し、電極からのキャ
リアの受け渡しを容易にする効果がある。この事で通常
のアモルファス状態の有機物に比べて注入効率を高める
ことができる。このように疎水系の側鎖を持つディスコ
ティック液晶を金属表面(ITOを含む)で配向させる
ことによりキャリアの電極から有機層への注入効率を改
善することができる。この効果は通常の棒状液晶におい
てもフェニル基やナフタレン基の配向によって同様に期
待できる。
ンなどのコアの周囲に側鎖を構成する事で液晶性を発現
させているが、この側鎖は金属基板表面(ITOを含
む)に対して濡れ性が悪く液晶状態ではトリフェニレン
などのコアが電極表面に対して配向するために、コア部
分のπ電子供役面が電極表面で配向し、電極からのキャ
リアの受け渡しを容易にする効果がある。この事で通常
のアモルファス状態の有機物に比べて注入効率を高める
ことができる。このように疎水系の側鎖を持つディスコ
ティック液晶を金属表面(ITOを含む)で配向させる
ことによりキャリアの電極から有機層への注入効率を改
善することができる。この効果は通常の棒状液晶におい
てもフェニル基やナフタレン基の配向によって同様に期
待できる。
【0021】 また、液晶をキャリア輸送層として用
いる場合には蒸着法は他にないメリットがある。蒸着時
の薄膜の状態が粗であるために、蒸着によって形成した
薄膜液晶層は配向させ易い。とくに蒸着基板の温度が分
子のTg(ガラス転移温度)以下になるような条件で蒸
着した液晶膜は安定に粗な膜構造をとるので、加熱する
ことによって液晶分子が再配列し易いものと考えられ
る。
いる場合には蒸着法は他にないメリットがある。蒸着時
の薄膜の状態が粗であるために、蒸着によって形成した
薄膜液晶層は配向させ易い。とくに蒸着基板の温度が分
子のTg(ガラス転移温度)以下になるような条件で蒸
着した液晶膜は安定に粗な膜構造をとるので、加熱する
ことによって液晶分子が再配列し易いものと考えられ
る。
【0022】 秩序度の高い高次の液晶相は流動性も
低く配向が難しいが、液晶層の両側をπ電子供役面に対
し平行配向性のある膜で挟むことによって配向性を上げ
ることができる。等方相まで加熱する再配向は液体状態
の液晶材料の他の材料に対する溶解性が強いために素子
構成上望ましくないが、金属膜との間では溶解性はな
い。ただ、両側を金属膜で覆ってしまうと液晶層から他
の有機層へのキャリアの受け渡しができなくなるので、
一方の金属は光透過性の膜厚に設定しておく必要があ
る。金などの場合には細かく見れば島状の膜になってし
まうが配向性から見るとない場合に比べて改善されてい
る。
低く配向が難しいが、液晶層の両側をπ電子供役面に対
し平行配向性のある膜で挟むことによって配向性を上げ
ることができる。等方相まで加熱する再配向は液体状態
の液晶材料の他の材料に対する溶解性が強いために素子
構成上望ましくないが、金属膜との間では溶解性はな
い。ただ、両側を金属膜で覆ってしまうと液晶層から他
の有機層へのキャリアの受け渡しができなくなるので、
一方の金属は光透過性の膜厚に設定しておく必要があ
る。金などの場合には細かく見れば島状の膜になってし
まうが配向性から見るとない場合に比べて改善されてい
る。
【0023】 液晶性を持つ分子は再配向処理(後処
理)によって電極表面での分子配置を再構成することが
できるので注入効率を改善できる。後処理は液晶相温度
へ加熱するだけでも粘性の低い場合には効果が大きい
が、等方相温度まで加熱しても改善効果がある。等方相
まで加熱する場合には、用いる有機物質のTg以上にな
らないことが必要である。
理)によって電極表面での分子配置を再構成することが
できるので注入効率を改善できる。後処理は液晶相温度
へ加熱するだけでも粘性の低い場合には効果が大きい
が、等方相温度まで加熱しても改善効果がある。等方相
まで加熱する場合には、用いる有機物質のTg以上にな
らないことが必要である。
【0024】 発光層と液晶層、中間金属層の間には
保護層として同種のキャリアを導電する物質を用いるこ
とが有効である。
保護層として同種のキャリアを導電する物質を用いるこ
とが有効である。
【0025】このような本発明の導電性液晶キャリア輸
送層およびその構成は、光センサ、光導電体(複写機ド
ラム)、有機半導体素子(有機TFT)、温度センサ、
空間変調素子などの種々の用途に応用して用いることが
できる。
送層およびその構成は、光センサ、光導電体(複写機ド
ラム)、有機半導体素子(有機TFT)、温度センサ、
空間変調素子などの種々の用途に応用して用いることが
できる。
【0026】図1は、本発明の導電性液晶素子の実施態
様を示す概略断面図である。図1において、本発明の導
電性液晶素子は、基板1上に透明電極(陽極)2を設
け、該透明電極2の上に液晶性有機物層3と発光層5お
よび金属電極(陰極)6をこの順に形成してなり、該液
晶性有機物層3が導電性の低い液晶非配向部分5aと導
電性の高い液晶配向部分5bからなる導電性の異なる複
数の領域で形成されていることを特徴とする。
様を示す概略断面図である。図1において、本発明の導
電性液晶素子は、基板1上に透明電極(陽極)2を設
け、該透明電極2の上に液晶性有機物層3と発光層5お
よび金属電極(陰極)6をこの順に形成してなり、該液
晶性有機物層3が導電性の低い液晶非配向部分5aと導
電性の高い液晶配向部分5bからなる導電性の異なる複
数の領域で形成されていることを特徴とする。
【0027】本発明に用いられる液晶性有機物層には、
いずれかの温度において液晶相を有する液晶性化合物が
用いられ、例えば導電性液晶、導電性高分子液晶が用い
られる。導電性液晶のπ電子共鳴構造としてはトリフェ
ニレン、ナフタレン、ベンゼン環などのほかに、例えば
ピリジン環、ピリミジン環、ピリダジン環、ピラジン
環、トロボロン環、アズレン環、ベンゾフラン環、イン
ドール環、インダゾール環、ベンゾチアゾール環、ベン
ゾオキサゾール環、ベンゾイミダゾール環、キノリン
環、イソキノリン環、キナゾリン環、キノキサリン環、
フェナントレン環、アントラセン環等が挙げられる。
いずれかの温度において液晶相を有する液晶性化合物が
用いられ、例えば導電性液晶、導電性高分子液晶が用い
られる。導電性液晶のπ電子共鳴構造としてはトリフェ
ニレン、ナフタレン、ベンゼン環などのほかに、例えば
ピリジン環、ピリミジン環、ピリダジン環、ピラジン
環、トロボロン環、アズレン環、ベンゾフラン環、イン
ドール環、インダゾール環、ベンゾチアゾール環、ベン
ゾオキサゾール環、ベンゾイミダゾール環、キノリン
環、イソキノリン環、キナゾリン環、キノキサリン環、
フェナントレン環、アントラセン環等が挙げられる。
【0028】また、ディスコティック液晶のコア構造と
してはトリフエニレン構造や上記構造のほかに、トルク
セン骨格、メタル−フタロシアニン骨格、フタロシアニ
ン骨格、ジベンゾピレン骨格、メタル−ナフタロシアニ
ン骨格、ジベンゾピレン骨格、ヘキサベンゾコロネン骨
格などが挙げられる。
してはトリフエニレン構造や上記構造のほかに、トルク
セン骨格、メタル−フタロシアニン骨格、フタロシアニ
ン骨格、ジベンゾピレン骨格、メタル−ナフタロシアニ
ン骨格、ジベンゾピレン骨格、ヘキサベンゾコロネン骨
格などが挙げられる。
【0029】陽極材料としては実施例で用いているIT
Oの他に酸化インジウム、酸化すず、Cd2 SnO4 、
酸化亜鉛、沃化銅、金、白金などが挙げられ、陰極材料
としてはアルカリ金属、アルカリ土類金属およびその合
金であるナトリウム、カリウム、マグネシウム、リチウ
ム、ナトリウムカリウム合金、マグネシウムインジウム
合金、マグネシウム銀合金、アルミニウム、アルミニウ
ムリチウム合金、アルミニウム銅合金、アルミニウム銅
シリコン合金などが挙げられる。
Oの他に酸化インジウム、酸化すず、Cd2 SnO4 、
酸化亜鉛、沃化銅、金、白金などが挙げられ、陰極材料
としてはアルカリ金属、アルカリ土類金属およびその合
金であるナトリウム、カリウム、マグネシウム、リチウ
ム、ナトリウムカリウム合金、マグネシウムインジウム
合金、マグネシウム銀合金、アルミニウム、アルミニウ
ムリチウム合金、アルミニウム銅合金、アルミニウム銅
シリコン合金などが挙げられる。
【0030】発光層材料としてはAlq3の他にBeB
q,DTVBi,Eu(DBM)3(Phen)、さら
にはジフェニルエチレン誘導体、トリフェニルアミン誘
導体、ジアミノカルバゾール誘導体、ビススチリル誘導
体、ベンゾチアゾール誘導体、ベンゾオキサゾール誘導
体、芳香性ジアミン誘導体、キナクリドン系化合物、ペ
リレン系化合物、オキサジアゾール誘導体クマリン系化
合物、アントラキノン誘導体などが挙げられる。
q,DTVBi,Eu(DBM)3(Phen)、さら
にはジフェニルエチレン誘導体、トリフェニルアミン誘
導体、ジアミノカルバゾール誘導体、ビススチリル誘導
体、ベンゾチアゾール誘導体、ベンゾオキサゾール誘導
体、芳香性ジアミン誘導体、キナクリドン系化合物、ペ
リレン系化合物、オキサジアゾール誘導体クマリン系化
合物、アントラキノン誘導体などが挙げられる。
【0031】保護層の材料としては、使用する液晶材料
への拡散の少ない材料が望ましいので、分子体積の大き
いものが望ましく、また使用温度ではディスオーダード
相以下の液晶相を持たないことで、非液晶性材料であれ
ばさらに望ましい。
への拡散の少ない材料が望ましいので、分子体積の大き
いものが望ましく、また使用温度ではディスオーダード
相以下の液晶相を持たないことで、非液晶性材料であれ
ばさらに望ましい。
【0032】実施例に用いた材料以外の例としては下記
のものなどがある。 1−TANTA(4,4’,4″−トリ(1−ナフチル
フェニルアミノ)トリフェニルアミン) 2−TANTA(4,4’,4″−トリ(2−ナフチル
フェニルアミノ)トリフェニルアミン) TCTA(4,4’,4″−トリ(N−カルバゾール)
トリフェニルアミン) p−DPA−TDAB(1,3,5−トリ[N−(4−
ジフェニルアミノフェニル)フェニルアミノ]ベンゼ
ン) TDAB(1,3,5−トリ(ジフェニルアミノ)ベン
ゼン) TDTA(4,4’,4″−トリ(ジフェニルアミノ)
トリフェニルアミン) TDAPB(1,3,5−トリ[(ジフェニルアミノ)
フェニル]ベンゼン) さらに発光層材料としてはジスチリルアリーレン祷導体
(DPVBi)やオリゴチオフェン誘導体(BMA−3
T)などが考えられる。
のものなどがある。 1−TANTA(4,4’,4″−トリ(1−ナフチル
フェニルアミノ)トリフェニルアミン) 2−TANTA(4,4’,4″−トリ(2−ナフチル
フェニルアミノ)トリフェニルアミン) TCTA(4,4’,4″−トリ(N−カルバゾール)
トリフェニルアミン) p−DPA−TDAB(1,3,5−トリ[N−(4−
ジフェニルアミノフェニル)フェニルアミノ]ベンゼ
ン) TDAB(1,3,5−トリ(ジフェニルアミノ)ベン
ゼン) TDTA(4,4’,4″−トリ(ジフェニルアミノ)
トリフェニルアミン) TDAPB(1,3,5−トリ[(ジフェニルアミノ)
フェニル]ベンゼン) さらに発光層材料としてはジスチリルアリーレン祷導体
(DPVBi)やオリゴチオフェン誘導体(BMA−3
T)などが考えられる。
【0033】
【実施例】実施例1 第一の実施例としては図2に示す概略図により、ガラス
基板上のITO電極上に導電性液晶を真空蒸着してなる
発光デバイス構造を示す。図2(a)は底面図、図2
(b)はAA’線断面図を示す。
基板上のITO電極上に導電性液晶を真空蒸着してなる
発光デバイス構造を示す。図2(a)は底面図、図2
(b)はAA’線断面図を示す。
【0034】図2において、11は陽極側のガラス基板
であり、12は正孔注入用の陽極電極としてのITO層
を示し、13は二つの電極間に真空蒸着によって形成さ
れる導電性液晶層の導電性の低い液晶非配向部分を示
し、14は導電性液晶層の導電性の高い液晶配向部分、
15は発光層で、16は陰極電極である。
であり、12は正孔注入用の陽極電極としてのITO層
を示し、13は二つの電極間に真空蒸着によって形成さ
れる導電性液晶層の導電性の低い液晶非配向部分を示
し、14は導電性液晶層の導電性の高い液晶配向部分、
15は発光層で、16は陰極電極である。
【0035】ここで、12のITO電極はIn90wt
%,Sn10wt%のターゲットとを用いてArガスを
200sccm,O2 ガスを3sccmで200℃の基
板加熱のもとでスパッタ成膜を行った。スパッタ成膜後
の仕事関数は約4.35eVであるが、この膜を低圧水
銀ランプUV光照射して仕事関数を約4.6eVに高め
て用いた。ITO膜厚は70nmに設定した。
%,Sn10wt%のターゲットとを用いてArガスを
200sccm,O2 ガスを3sccmで200℃の基
板加熱のもとでスパッタ成膜を行った。スパッタ成膜後
の仕事関数は約4.35eVであるが、この膜を低圧水
銀ランプUV光照射して仕事関数を約4.6eVに高め
て用いた。ITO膜厚は70nmに設定した。
【0036】13,14の導電性液晶層は下記の構造式
に示すHHOT(ヘキサキスヘキシロキシトリフェニレ
ン)を用いた。HHOTは図2のITO基板を作成後、
真空槽中で内部を2.67×10-3Pa(2×10-5t
orr)以下に減圧した後に抵抗加熱蒸着法で蒸着し
た。HHOTの膜厚は約35nmの厚さに形成した。蒸
着圧力は1.33×10-3Pa(1×10-5torr)
で約0.1nm/secの蒸着レートで蒸着した。HH
OTの移動度はタイムオブフライト法によると約70℃
以下では1×10-4cm2 /Vsの移動度を持つ。
に示すHHOT(ヘキサキスヘキシロキシトリフェニレ
ン)を用いた。HHOTは図2のITO基板を作成後、
真空槽中で内部を2.67×10-3Pa(2×10-5t
orr)以下に減圧した後に抵抗加熱蒸着法で蒸着し
た。HHOTの膜厚は約35nmの厚さに形成した。蒸
着圧力は1.33×10-3Pa(1×10-5torr)
で約0.1nm/secの蒸着レートで蒸着した。HH
OTの移動度はタイムオブフライト法によると約70℃
以下では1×10-4cm2 /Vsの移動度を持つ。
【0037】
【化1】
【0038】15の発光層は下記の構造式に示すAlq
3を用いた。この発光層の膜厚は60nmに設定して真
空蒸着によってHHOT上に形成した。蒸着圧力は1.
33×10-3Pa(1×10-5torr)で約0.1n
m/secの蒸着レートで蒸着した。
3を用いた。この発光層の膜厚は60nmに設定して真
空蒸着によってHHOT上に形成した。蒸着圧力は1.
33×10-3Pa(1×10-5torr)で約0.1n
m/secの蒸着レートで蒸着した。
【0039】
【化2】
【0040】16の陰極電極としては第一層にAlLi
(1.8wt%)合金膜を真空蒸着によって50nm形
成し、その上に第二層としてAl電極層を150nmの
厚さに真空蒸着によって形成して用いた。
(1.8wt%)合金膜を真空蒸着によって50nm形
成し、その上に第二層としてAl電極層を150nmの
厚さに真空蒸着によって形成して用いた。
【0041】13および14の導電性液晶層の配向部分
と非配向部分は蒸着後すべての導電性液晶部分がアモル
フアス状態で非配向状態になっているものに対して、G
aAlAsレーザー(ビーム径約20μm、10mW)
を部分的に照射して照射部分の液晶層の配向を変化させ
導電率を向上させた。
と非配向部分は蒸着後すべての導電性液晶部分がアモル
フアス状態で非配向状態になっているものに対して、G
aAlAsレーザー(ビーム径約20μm、10mW)
を部分的に照射して照射部分の液晶層の配向を変化させ
導電率を向上させた。
【0042】このようにして、ITO電極上にHHOT
(13の非配向層と14の配向層)、発光層、陰極金属
を逐次蒸着して電極間に有機層を多層構成した素子を作
成し、一定電圧を印加することで素子を流れる電流量が
導電性液晶層の配向部分14と非配向部分13で異なり
配向部分のみで発光するエレクトロルミネッセンス発光
素子を実現することができた。図2において17に発光
部位、18に非発光部位を示す。
(13の非配向層と14の配向層)、発光層、陰極金属
を逐次蒸着して電極間に有機層を多層構成した素子を作
成し、一定電圧を印加することで素子を流れる電流量が
導電性液晶層の配向部分14と非配向部分13で異なり
配向部分のみで発光するエレクトロルミネッセンス発光
素子を実現することができた。図2において17に発光
部位、18に非発光部位を示す。
【0043】照射部分と非照射部分での12V/100
nmの電界印加時の電流量、発光量の違いを次の表1に
示す。
nmの電界印加時の電流量、発光量の違いを次の表1に
示す。
【0044】
【表1】
【0045】実施例2 第二の実施例としては図3に示すガラス基板上のITO
電極とAlLi合金が交差した1画素の導電性液晶部の
液晶分子を高電圧印加によって配向させ導電性を向上さ
せた構成を示す。
電極とAlLi合金が交差した1画素の導電性液晶部の
液晶分子を高電圧印加によって配向させ導電性を向上さ
せた構成を示す。
【0046】図3において51は陽極側のガラス基板で
あり、52は正孔注入用の陽極電極としてのITO層を
示し、53、54は二つの電極間に真空蒸着によって形
成される導電性液晶層を示し、53は非配向性導電性液
晶層であり、54は配向性導電性液晶層である。55は
保護層、56は発光層、57は陰極電極である。
あり、52は正孔注入用の陽極電極としてのITO層を
示し、53、54は二つの電極間に真空蒸着によって形
成される導電性液晶層を示し、53は非配向性導電性液
晶層であり、54は配向性導電性液晶層である。55は
保護層、56は発光層、57は陰極電極である。
【0047】ここで、52のITOはIn90wt%,
Sn10wt%のターゲットとを用いてArガスを20
0sccm,O2 ガスを3sccmで200℃の基板加
熱のもとでスパッタ成膜を行った。スパッタ成膜後の仕
事関数は約4.35eVであるがこの膜を低圧水銀ラン
プUV光照射して仕事関数を約4.6eVに高めて用い
た。ITO膜厚は70nmに設定した。
Sn10wt%のターゲットとを用いてArガスを20
0sccm,O2 ガスを3sccmで200℃の基板加
熱のもとでスパッタ成膜を行った。スパッタ成膜後の仕
事関数は約4.35eVであるがこの膜を低圧水銀ラン
プUV光照射して仕事関数を約4.6eVに高めて用い
た。ITO膜厚は70nmに設定した。
【0048】53,54の導電性液晶層はHHOT(ヘ
キサキスヘキシロキシトリフェニレン)を用いた。HH
OTは図3のITO基板を作成後、真空槽中で内部を
2.67×10-3Pa(2×10-5torr)以下に減
圧した後に抵抗加熱蒸着法で蒸着した。HHOTの膜厚
は約35nmの厚さに形成した。蒸着圧力は1.33×
10-3Pa(1×10-5torr)で約0.1nm/s
ecの蒸着レートで蒸着した。HHOTの移動度はタイ
ムオブフライト法によると約70℃以下では1×10-4
cm2 /Vsの移動度を持つ。
キサキスヘキシロキシトリフェニレン)を用いた。HH
OTは図3のITO基板を作成後、真空槽中で内部を
2.67×10-3Pa(2×10-5torr)以下に減
圧した後に抵抗加熱蒸着法で蒸着した。HHOTの膜厚
は約35nmの厚さに形成した。蒸着圧力は1.33×
10-3Pa(1×10-5torr)で約0.1nm/s
ecの蒸着レートで蒸着した。HHOTの移動度はタイ
ムオブフライト法によると約70℃以下では1×10-4
cm2 /Vsの移動度を持つ。
【0049】56の発光層と53、54の液晶層の間に
保護層として下記の構造式に示すαNPDの蒸着層を厚
さ60nmに蒸着圧力は1.33×10-3Pa(1×1
0-5torr)で約0.1nm/secの蒸着レートで
真空蒸着により形成した。
保護層として下記の構造式に示すαNPDの蒸着層を厚
さ60nmに蒸着圧力は1.33×10-3Pa(1×1
0-5torr)で約0.1nm/secの蒸着レートで
真空蒸着により形成した。
【0050】
【化3】
【0051】56の発光層は複数の発光波長を取れるよ
うにマスク蒸着により異なる有機層を用いた。有機層の
ホスト材料としては下記の構造式に示すAlq3(
wt%)を用いて、ドーピング材料として下記の構造式
に示すペリレン(5wt%)を用いて発光波長を短波長
側にシフトさせた層と、下記の構造式に示すDCM(ス
チリル系色素)(5wt%)を用いて発光波長を長波長
側にシフトさせた層、そして中心波長にはドーパントを
用いないAlq3層を用いた。この発光層の膜厚は60
nmに設定して真空蒸着によってHHOT上に形成し
た。蒸着圧力は1.33×10-3Pa(1×10-5to
rr)で約0.1nm/secの蒸着レートで蒸着し
た。
うにマスク蒸着により異なる有機層を用いた。有機層の
ホスト材料としては下記の構造式に示すAlq3(
wt%)を用いて、ドーピング材料として下記の構造式
に示すペリレン(5wt%)を用いて発光波長を短波長
側にシフトさせた層と、下記の構造式に示すDCM(ス
チリル系色素)(5wt%)を用いて発光波長を長波長
側にシフトさせた層、そして中心波長にはドーパントを
用いないAlq3層を用いた。この発光層の膜厚は60
nmに設定して真空蒸着によってHHOT上に形成し
た。蒸着圧力は1.33×10-3Pa(1×10-5to
rr)で約0.1nm/secの蒸着レートで蒸着し
た。
【0052】
【化4】
【0053】57の陰極電極としては第一層にAlLi
(1.8wt%)合金膜を真空蒸着によって50nm形
成し、その上に第二層としてAl電極層を150nmの
厚さに真空蒸着によって形成して用いた。
(1.8wt%)合金膜を真空蒸着によって50nm形
成し、その上に第二層としてAl電極層を150nmの
厚さに真空蒸着によって形成して用いた。
【0054】このようにして、ITO電極上にHHO
T、導電性液晶層、保護層、発光層、陰極金属を逐次蒸
着して電極間に有機層を多層構成した素子を作成した後
に、素子の温度を75℃に昇温することで素子を流れる
電流量を増加させエレクトロルミネッセンス発光を実現
することができた。
T、導電性液晶層、保護層、発光層、陰極金属を逐次蒸
着して電極間に有機層を多層構成した素子を作成した後
に、素子の温度を75℃に昇温することで素子を流れる
電流量を増加させエレクトロルミネッセンス発光を実現
することができた。
【0055】本実施例では、導電性液晶層の電導度を変
化させるために高電界の印加によるEL発光しきい値の
変化を利用した。駆動電界を5V/100nmに設定し
て、15V/100nmの電界を3分印加する部分と、
印加しない部分で5V/100nmでの導電性を変化さ
せた。15V/100nmの電界を3分印加した部分で
導電性が上がり、発光量を増大させることができる。次
の表2に電流量及び発光量の値を示す。(処理、測定と
も30℃)
化させるために高電界の印加によるEL発光しきい値の
変化を利用した。駆動電界を5V/100nmに設定し
て、15V/100nmの電界を3分印加する部分と、
印加しない部分で5V/100nmでの導電性を変化さ
せた。15V/100nmの電界を3分印加した部分で
導電性が上がり、発光量を増大させることができる。次
の表2に電流量及び発光量の値を示す。(処理、測定と
も30℃)
【0056】
【表2】
【0057】実施例3 第三の実施例としては、図3に示す構成で、液晶物質を
ディスコティックディスオーダード相を有する下記の構
造式に示すHPOT(ヘキサキスペンチロキシトリフェ
ニレン)を用いた。本構成では導電性液晶層の導電性の
選択的改善を実施例1と同様にGaAlAsレーザー
(ビーム径約20μm、10mW)を部分的に照射する
ことで行った。この二点以外は実施例2と本実施例は同
様である。
ディスコティックディスオーダード相を有する下記の構
造式に示すHPOT(ヘキサキスペンチロキシトリフェ
ニレン)を用いた。本構成では導電性液晶層の導電性の
選択的改善を実施例1と同様にGaAlAsレーザー
(ビーム径約20μm、10mW)を部分的に照射する
ことで行った。この二点以外は実施例2と本実施例は同
様である。
【0058】
【化5】
【0059】このようにして、ITO電極上にHPOT
(図3、53の非配向層と54の配向層)、発光層、陰
極金属を逐次蒸着して電極間に有機層を多層構成した素
子を作成し、一定電圧を印加することで素子を流れる電
流量が導電性液晶層の配向部分54と非配向部分53で
異なり配向部分のみで発光するエレクトロルミネッセン
ス発光素子を実現することができた。
(図3、53の非配向層と54の配向層)、発光層、陰
極金属を逐次蒸着して電極間に有機層を多層構成した素
子を作成し、一定電圧を印加することで素子を流れる電
流量が導電性液晶層の配向部分54と非配向部分53で
異なり配向部分のみで発光するエレクトロルミネッセン
ス発光素子を実現することができた。
【0060】照射部分と非照射部分での12V/100
nmの電界印加時の電流量、発光量の違いを次の表3に
示す。
nmの電界印加時の電流量、発光量の違いを次の表3に
示す。
【0061】
【表3】
【0062】また、照射部分と非照射部分での10V/
100nmの電界印加時の電流量、発光量の違いを次の
表4に示す。
100nmの電界印加時の電流量、発光量の違いを次の
表4に示す。
【0063】
【表4】
【0064】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
導電率の異なる、導電性液晶層を電極上に作り込むこと
でメモリー性のEL発光素子を作ることができる。従来
のEL発光素子は描画内容の記録性(メモリー性)を有
していなかったが、本発明によると同一電圧で駆動して
も発光輝度の異なる発光が得られ、記録性EL発光素子
が実現できた。この効果は表示素子だけでなく、メモリ
ー素子としても用いることができる。
導電率の異なる、導電性液晶層を電極上に作り込むこと
でメモリー性のEL発光素子を作ることができる。従来
のEL発光素子は描画内容の記録性(メモリー性)を有
していなかったが、本発明によると同一電圧で駆動して
も発光輝度の異なる発光が得られ、記録性EL発光素子
が実現できた。この効果は表示素子だけでなく、メモリ
ー素子としても用いることができる。
【図1】本発明の導電性液晶素子の一実施態様を示す概
略断面図である。
略断面図である。
【図2】本発明の実施例1のEL発光素子を示す概略断
面図である。
面図である。
【図3】本発明の実施例2のEL発光素子を示す概略断
面図である。
面図である。
1 基板 2 透明電極(陽極) 3 液晶性有機物層 5 発光層 5a 液晶非配向部分 5b 液晶配向部分 6 金属電極(陰極) 11 ガラス基板 12 ITO層 13 液晶非配向部分 14 液晶配向部分 15 発光層 16 陰極電極 17 発光部位 18 非発光部位 51 ガラス基板 52 ITO層 53 非配向性導電性液晶層 54 配向性導電性液晶層 55 保護層 56 発光層 57 陰極電極
フロントページの続き (72)発明者 滝口 隆雄 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 (72)発明者 森山 孝志 東京都大田区下丸子3丁目30番2号 キヤ ノン株式会社内 Fターム(参考) 3K007 AB00 AB17 AB18 CA01 CB01 DA01 DB03 EA02 EB00 FA00
Claims (6)
- 【請求項1】 二枚の対向した電極間に液晶性有機物層
を形成した導電性液晶素子において、該液晶性有機物層
が導電性の異なる複数の領域で形成されていることを特
徴とする導電性液晶素子。 - 【請求項2】 前記液晶性有機物層の導電性の異なる領
域が液晶分子の配向状態を変化させることによって形成
されていることを特徴とする請求項1記載の導電性液晶
素子。 - 【請求項3】 前記液晶性有機物層の配向状態の変化を
レーザーの照射によって形成したことを特徴とする請求
項2記載の導電性液晶素子。 - 【請求項4】 前記液晶性有機物層の配向状態の変化を
電圧印加によって形成したことを特徴とする請求項2記
載の導電性液晶素子。 - 【請求項5】 二枚の対向した電極間に液晶性有機物層
を形成した導電性液晶素子において、該液晶性有機物層
に配向状態の異なる領域を形成し、該配向状態の変化を
発光量の変化に変換して表示することを特徴とする導電
性液晶素子。 - 【請求項6】 二枚の対向した電極間に二層以上の有機
物層を形成した導電性液晶素子において、少なくとも一
つの有機物層が液晶性有機物層であり、該液晶性有機物
層に導電性の異なる領域を形成し、該液晶性有機物層の
導電性の変化を発光量の変化に変換して表示することを
特徴とする導電性液晶素子。
Priority Applications (2)
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JP2000106380A JP2001291594A (ja) | 2000-04-07 | 2000-04-07 | 導電性液晶素子 |
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Applications Claiming Priority (1)
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JP2000106380A JP2001291594A (ja) | 2000-04-07 | 2000-04-07 | 導電性液晶素子 |
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Family Applications (1)
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JP2006332609A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-12-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 記憶装置および半導体装置 |
JP2007318099A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-12-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 記憶素子及び半導体装置 |
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TW583466B (en) * | 2002-12-09 | 2004-04-11 | Hannstar Display Corp | Structure of liquid crystal display |
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CN107452630B (zh) * | 2010-07-02 | 2020-11-27 | 株式会社半导体能源研究所 | 半导体装置 |
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JPH0375686A (ja) * | 1989-08-17 | 1991-03-29 | Alps Electric Co Ltd | エレクトロルミネッセンス素子 |
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JP2775527B2 (ja) | 1991-02-01 | 1998-07-16 | キヤノン株式会社 | カイラルスメクチック液晶素子 |
JPH04258924A (ja) | 1991-02-13 | 1992-09-14 | Canon Inc | カイラルスメクチック液晶素子およびその製造方法 |
JPH06102485A (ja) | 1992-09-21 | 1994-04-15 | Canon Inc | 強誘電性液晶表示素子 |
JP3456493B2 (ja) * | 1992-10-24 | 2003-10-14 | ソニー株式会社 | 液晶素子 |
US5932136A (en) | 1995-10-20 | 1999-08-03 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid crystal device and liquid crystal apparatus |
US6221444B1 (en) | 1998-06-10 | 2001-04-24 | Canon Kabushiki Kaisha | Liquid crystal device |
US6858271B1 (en) | 1999-09-09 | 2005-02-22 | Canon Kabushiki Kaisha | Conductive organic compound device, conductive liquid crystal device, and organic electroluminescence device |
EP1089596A3 (en) | 1999-09-28 | 2003-02-05 | Canon Kabushiki Kaisha | Conductive liquid crystal device, and organic electroluminescence device |
-
2000
- 2000-04-07 JP JP2000106380A patent/JP2001291594A/ja not_active Withdrawn
-
2001
- 2001-04-05 US US09/825,991 patent/US6870583B2/en not_active Expired - Fee Related
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JP4684543B2 (ja) * | 2002-08-28 | 2011-05-18 | 財団法人工業技術研究院 | 分子配列を有する有機半導体層の製造方法 |
JP2006332609A (ja) * | 2005-04-28 | 2006-12-07 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 記憶装置および半導体装置 |
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KR101261030B1 (ko) | 2005-04-28 | 2013-05-06 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 기억 장치 및 반도체 장치 |
JP2007318099A (ja) * | 2006-04-28 | 2007-12-06 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 記憶素子及び半導体装置 |
Also Published As
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---|---|
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US6870583B2 (en) | 2005-03-22 |
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20081225 |