JP2001274233A - イオン注入による伝導領域の形成方法 - Google Patents
イオン注入による伝導領域の形成方法Info
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Abstract
方法に関する。 【解決手段】 本発明によるイオン注入による伝導領域
の形成方法は、高分子化合物で制作された対象物の表面
に加速されたイオンを注入することで伝導領域を形成す
ることを特徴とする。従って、対象物母材の軽量化で物
流運送費用を節減し、対象物固有の透明性を維持するこ
とができるようにし、表面に全体的に均一な伝導領域を
形成することができるし、対象物の表面硬度を増大させ
ることができるし、高価なカーボン及びカーボンファイ
バー等を使用しないので製造経費を節減する効果があ
る。
Description
伝導領域の形成方法に関するもので、より詳しくは高分
子化合物からなる対象物の表面にイオン注入工程によっ
て伝導領域を形成するイオン注入による伝導領域の形成
方法に関するものである。
素子は設計図面によって順次的な素子製造工程を遂行す
ることで完成され、完成された回路素子は移送道具とし
ての運搬箱に積載されて目的地に移送される。そして、
移送過程の回路素子が運搬箱の内面と接触するようにな
って回路素子と運搬箱の境界面には静電気が発生し、発
生した静電気によって回路素子は致命的な損傷を受ける
ようになる。
導性が加えられた高分子化合物で制作している。ここ
で、移送道具は、CSPタイプの半導体キャリアテープ
(Chipscale package type Semiconductor carrier tap
e)、半導体ウェーハ移送用キャリア、印刷回路基板運
搬箱、電子モジュール製品運搬箱、LCD(Liquid Cry
stal Display)運搬箱、LCD薄膜フィルム運搬箱、L
CDモジュール運搬箱、回路素子包装容器及びトレー
(Tray)などがある。
による影響が排除されるフィルム、シート(Sheet)、
板材、真空成形物及びプラスチック射出物等も伝導性が
加えられた高分子化合物で制作している。そして、電子
波による影響が排除されるフィルム等もその上部に伝導
性物質を蒸着して伝導膜を形成している。
材、真空成形物及びプラスチック射出物等は移送の便宜
性のために荷重が軽く、成形が簡単である透明な樹脂系
の高分子化合物に伝導性を加えるために高価なカーボン
(Carbon)及びカーボンファイバー(Carbon fiber)等
の添加物を混合して圧縮成形することで制作される。前
述したような方法からなる回路素子の移送道具とシー
ト、板材、真空成形物及びプラスチック射出物等の荷重
は添加物の添加によって高分子化合物の荷重が重くなる
ことでやはり重くなる。そして、移送道具とシート、板
材、真空成形物及びプラスチック射出物等は添加物の添
加によって高分子化合物が不透明なので不透明になる。
から制作された移送道具、シート、板材、真空成形物及
びプラスチック射出物等は添加物の添加によって全体の
荷重が重くなって移送道具の物流運送費用が高くなると
いう問題点があった。
物の材質が不透明になって高分子化合物から制作された
移送道具もやはり不透明になるので、作業者は移送道具
に積載された製品の形状、規格、特性等を示す文字を容
易に認識することができなかった。従って、現在は移送
道具の下部のみ伝導性不透明な材料で制作し、上部は非
伝導性である一般の透明な材料で制作することで移送製
品が非伝導性の上部と接触して静電気によって損傷を受
ける問題点があった。
伝導性を加えることで、高分子化合物で制作した移送道
具の特定部位の伝導度と他の特定部位の伝導度が相違で
あるので移送道具に積載された製品が移送道具の伝導度
の差によってかえって致命的な静電気を受けるという問
題点があった。
バー等の添加材を使用して伝導性を加えることで移送道
具の制作費用が高いという問題点があった。そして、移
送道具、シート、板材、真空成形物及びプラスチックの
射出物等を形成する高分子化合物の内部には添加物が混
合されているので容易にリサイクルできなかったし、使
用過程で移送道具の添加物は移送道具から外部の方へ離
れてきて移送製品を汚染させ、離れてきた添加物が静電
気の発生源として作用し、移送製品が静電気によって損
傷されるという問題があった。
ィルム等の蒸着品は元の材料に伝導性物質を蒸着するこ
とでフィルムの界面を伝導膜の間の接着力の低下によっ
て伝導膜がはがれ、蒸着物質の化学反応でその表面が化
学的に変性するという問題点があった。
は、高分子化合物で制作された移送道具、フィルム等の
対象物に3次元的なイオン注入工程を遂行して伝導領域
を形成することで、対象物の荷重を従来よりさらに軽量
化することができるイオン注入による伝導領域の形成方
法を提供することにある。
作された移送道具、フィルム等の対象物に3次元的なイ
オン注入工程を遂行して伝導領域を形成することで、対
象物が固有の透明性を維持することができるようにする
イオン注入による伝導領域の形成方法を提供することに
ある。
作された移送道具、フィルム等の対象物に3次元的なイ
オン注入工程を遂行することで対象物の表面に全体的に
均一な伝導領域を形成することができるイオン注入によ
る伝導領域の形成方法を提供することにある。
作された移送道具、フィルム等の対象物に3次元的はイ
オン注入工程を遂行して伝導領域を形成することで、対
象物の表面に蒸着された伝導膜がはがれ、その性質が変
成する従来の問題点を解決することができるイオン注入
による伝導領域の形成方法を提供することにある。
作された移送道具、フィルム等の対象物に単一工程とし
て簡単に3次元的に伝導領域を形成することができるイ
オン注入による伝導領域の形成方法を提供することにあ
る。
イオン注入による伝導領域の形成方法は、高分子化合物
からなる対象物の表面に加速されたイオンを注入するこ
とで伝導領域を形成する。
伝導領域の形成方法によると、イオンを冷プラズマ状態
で注入する。
伝導領域の形成方法によると、高分子化合物として透明
性ポリマー、汎用ポリマー、エンジニアリングプラスチ
ック、前記汎用ポリマー及びエンジニアリングプラスチ
ックにフィラー(Filler)等の添加物を添加して機能性
を与えた機能性コンパウンドプラスチックの中からいず
れか一つを使用する。
伝導領域の形成方法によると、対象物はLCDモジュー
ル運搬箱、チップトレー、半導体キャリア用テープ、半
導体ウェーハ移送用キャリア、印刷回路基板運搬箱、電
子モジュール製品運搬箱、LCD、LCD薄膜フィル
ム、シート及び半導体運搬用ソケット電子波及び静電気
防止用自動車部品の中からいずれか一つである。
を、添付した図面を参照して詳しく説明する。図1は、
本発明による3次元的なプラズマイオン注入によってL
CDモジュール運搬箱の表面に伝導領域を形成する方法
を説明するための装置の概略図で、図2は、図1に図示
された内部チャンバーと外部チャンバーの斜視図であ
る。
LCDモジュール運搬箱、即ち対象物に伝導領域を形成
する装置はパーティクルの個数が制限されるクリーンル
ーム内部に設置されるし、図1に図示されたように高分
子化合物で制作されたLCDモジュール運搬箱4が順次
的に積層されたローディング部2を備える。
リエチレン)、PP(ポリプロピレン)、PET(ポリ
エチレンテレフタレート)、HIPS(ハイ−インパク
ト−ポリスチレン)、ABS(アクリロニトリル−ブタ
ジエン−スチレン)等の汎用ポリマー、PC(ポリカー
ボネイト)、N6(ナイロン 6)、N66(ナイロン
66)、MPPO(改質酸化ポリペニレン)、PSU
(ポリスルホン)、PES(ポリエーテルスルホン)、
PEEK(ポリエーテル−エーテルケトン)等のエンジ
ニアリングプラスチック及び汎用ポリマー又はエンジニ
アリングプラスチックに機能性を与えるためのフィラー
等を混合した機能性コンパウンドプラスチック等を使用
することができる。
ル運搬箱4が移送手段によって投入されて工程の進行の
ために所定の時間待機する第1予備チャンバー6を備え
る。第1予備チャンバー6は第1低真空ポンプ8のポン
ピングによって10-4Torr程度の内部圧力を維持する。
マ状態でイオン注入工程が進行される工程チャンバー1
1がゲートバルブ10を間に互いに連結されている。工
程チャンバー11は図2に図示したように円筒形状の外
部チャンバー12とこれに収容された内部チャンバー1
4からなる。ここで、内部チャンバー14の表面には複
数の流通ホール15が形成されており、その内部には第
1予備チャンバー6から投入されたLCDモジュール運
搬箱4の両端の端部をもって90°回転することができ
るホルダー26が備えられている。
ー12には外部チャンバー12と内部チャンバー14の
間の離隔空間の内部圧力を10-6Torr程度で形成するこ
とができる高真空ポンプ16が連結されている。
バー12の一側には窒素ガス、アルゴンガス、ヘリウム
ガス、水素ガス等の反応ガスを外部チャンバー12と内
部チャンバー14の間の離隔空間に供給することができ
るガス供給源20が連結されており、工程チャンバー1
1の外部チャンバー12の他の一側には窒素ガス、アル
ゴンガス、ヘリウムガス、水素ガス等によって発生され
たイオンをやはり外部チャンバー12と内部チャンバー
14の間の離隔空間に供給することができるイオンガン
22が連結されている。
ー14にはパルスジェネレーター(図示せず)によって
調節された高周波電力を与えることができる電源28が
連結されているし、電源28、外部チャンバー12及び
内部チャンバー14は同一地点に接地されている。
30がゲートバルブ32を間に互いに連結されている。
第2予備チャンバー30は第2低真空ポンプ34のポン
ピングによって10-4 Torrの程度の内部圧力を維持す
る。
ン注入設備を利用してLCDモジュール運搬箱に伝導領
域を形成する方法を図3を参照して詳しく説明する。本
発明による3次元的なプラズマイオン注入による伝導領
域を形成する方法はS2段階で工程チャンバー11の内
部チャンバー14に伝導領域形成対象物であるLCDモ
ジュール運搬箱4を投入することから始まる。
段によってローディング部2で第1低真空ポンプ8によ
って10-4Torr程度の内部圧力を維持している第1予備
チャンバー6に移送された後、再び移送手段によってゲ
ートバルブ10を通じて内部チャンバー14に移送され
ることになる。
ンプ16によって10-6Torr程度の内部圧力を維持する
ようになる。
チャンバー12と内部チャンバー14の離隔空間の内部
に反応ガスを供給し、電源28ではパルスジェネレータ
ーによって調節された特定電流、電圧、及び周波数等を
持つ高周波電力を内部チャンバー28に与えて外部チャ
ンバー12と内部チャンバー14の間の離隔空間に磁場
を形成することによって反応ガスは磁場によってエネル
ギーを受けて冷プラズマ(Cold plasma)状態に転換す
る。
ス、アルゴンガス、ヘリウムガス、水素ガス等から発生
したイオンを外部チャンバー12と内部チャンバー14
の間の離隔空間に供給する。
ンバー12と内部チャンバー14の間の離隔空間に存在
する冷プラズマ状態のイオンが内部チャンバー14の流
通ホール15を通じて内部チャンバー14に供給されて
LCDモジュール運搬箱4の全表面に3次元的に1次イ
オン注入されて伝導領域を形成する。
て、イオンエネルギーは30KeV乃至2GeVである
し、前記イオンは数百Å乃至数μmの厚さで10E4Ω
/Square乃至10E13Ω/Squareの領域で表面抵抗
を、例えば10E8Ω/Square乃至10E9Ω/Square
のように精密に制御されて注入されるし、イオンドーズ
量は1×102ions/cm2乃至5×1020ions/cm2
以上も可能である。
箱4をホルダー26を利用して90°回転するか、所定
の角度連続往復回転する。続いて、S12段階で再びL
CDモジュール運搬箱4の全表面に3次元的にイオンを
注入する2次イオン注入工程を遂行して再び伝導領域を
強化する。
次イオン注入によってLCDモジュール運搬箱4の一部
の表面にイオン注入量が一定でないかもしれないのでま
た対象物を90°回転するか、所定角度往復回転させて
イオン注入工程を遂行することでLCDモジュール運搬
箱4の全表面にイオン注入量が均一になるようにする。
面は前述した1次及び2次イオン注入工程によって図4
の(a)に図示したようにボンド(Bond)が飽和する
か、図4の(b)に図示したようにチェーン(Chain)
の分裂が発生するか、図4の(c)に図示したように各
チェーンのクロスリンキング(Cross−linking)が発生
する等によって好ましい電気伝導性を有する伝導領域が
形成されるし、また、付加的に表面の硬度はさらに向上
する。
等を調節することでLCDモジュール運搬箱4の表面が
親水性又は疎水性を有するように調節することができる
し、イオン注入によって防塩処理も向上させることがで
きる。そして、イオン注入工程に伝導領域が形成するこ
とでLCDモジュール運搬箱4が固有の透明性を維持し
て作業者がLCDモジュール運搬箱4に積載されるLC
Dモジュールの記載事項を容易に判読することができ
る。
4は自体の荷重を維持することで従来のLCDモジュー
ル運搬箱より軽い。
の内部チャンバー14の内部で伝導領域が形成されたL
CDモジュール運搬箱4を外部に放出する。LCDモジ
ュール運搬箱4の放出はLCDモジュール運搬箱4が移
送手段によってゲートバルブ32を通じて第2低真空ポ
ンプ34によって10−4Torr程度の内部圧力を維持す
る第2予備チャンバー30に移送されることでなる。
して説明したが、当業者は、透明性ポリマー、PE(ポ
リエチレン)、PP(ポリプロピレン)、PET(ポリ
エチレンテレフタレート)、HIPS(ハイ−インパク
ト−ポリスチレン)、ABS(アクリロニトリル−ブタ
ジエン−スチレン)等の汎用ポリマー、PC(ポリカー
ボネイト)、N6(ナイロン 6)、N66(ナイロン
66)、MPPO(改質酸化ポリペニレン)、PSU
(ポリスルホン)、PES(ポリエーテルスルホン)、
PEEK(ポリエーテル−エーテルケトン)等のエンジ
ニアリングプラスチック及び汎用ポリマー又はエンジニ
アリングプラスチックに機能性を与えるためのフィラー
等を混合した機能性コンパウンドプラスチック等の高分
子化合物を使用して制作されたチップトレー、半導体キ
ャリア用テープ、半導体ウェーハ移送用キャリア、印刷
回路基板運搬箱、電子モジュール製品運搬箱、LCD、
LCD薄膜フィルム、LCDモジュール運搬箱、シー
ト、半導体運搬用ソケット及び電子波及び静電気防止用
自動車部品等に幅広く応用して実施することができるの
は明白である。
制作された対象物の表面に加速されたイオンを冷プラズ
マの領域で3次元的に注入して伝導領域を均一に形成す
ることで既存のカーボン及びカーボンファイバー等の添
加物が混合された母材よりさらに母材を軽量化すること
で物流運送費用を節減し、対象物固有の透明性を維持す
ることができるようにし、表面全体的に均一な伝導領域
を形成することができるようにする効果がある。
にフィルム上に蒸着された伝導膜がはがれたり、その性
質が化学的に変成することを防止する効果がある。
ができるし、高価なカーボン及びカーボンファイバー等
を全然使用しないので製造経費を節減することができる
という効果がある。
物を母材として使用しないのでカーボン及びカーボンフ
ァイバーを混合した母材が有する臭性及び加工性、不透
明性及び低いリサイクル率等の問題点を解決することが
できるし、表面のカーボン粒子が移送製品の汚染源とし
て作用することを防止する効果がある。
てのみ詳細に説明したが、本発明の技術思想範囲内で多
様な変形および修正が可能であることは当業者にとって
明白なことであり、このような変形および修正が添付さ
れた特許請求範囲に属するのは当然である。
よって伝導領域を形成する方法を説明するためのイオン
注入装置の概略図である。
ーの斜視図である。
よってLCDモジュール運搬箱表面に伝導領域を形成す
る方法の一実施例を説明するための工程図である。
元的なプラズマイオン注入工程を遂行することで現れる
LCDモジュール運搬箱表面の分子鎖の変化を説明する
ための図面である。
Claims (4)
- 【請求項1】 高分子化合物からなる対象物の表面に加
速されたイオンを注入することで伝導領域を形成するこ
とを特徴とするイオン注入による伝導領域の形成方法。 - 【請求項2】 前記イオンを冷プラズマ状態で注入する
ことを特徴とする請求項1に記載のイオン注入による伝
導領域の形成方法。 - 【請求項3】 前記高分子化合物として透明性ポリマ
ー、汎用ポリマー、エンジニアリングプラスチック、前
記汎用ポリマー及びエンジニアリングプラスチックにフ
ィラー等の添加物を添加して機能性を与えた機能性コン
パウンドプラスチックの中からいずれか一つを使用する
ことを特徴とする請求項1に記載のイオン注入による伝
導領域の形成方法。 - 【請求項4】 前記対象物はLCDモジュール運搬箱、
チップトレー、半導体キャリア用テープ、半導体ウェー
ハ移送用キャリア、印刷回路基板運搬箱、電子モジュー
ル製品運搬箱、LCD、LCD薄膜フィルム、シート及
び半導体運搬用ソケット電子波及び静電気防止用自動車
部品の中からいずれか一つであることを特徴とする請求
項1に記載のイオン注入による伝導領域の形成方法。
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101572156B1 (ko) | 2010-11-09 | 2015-11-26 | 삼성전자 주식회사 | 플라즈마 발생 장치 및 플라즈마 발생 방법 |
KR20210087574A (ko) * | 2019-12-16 | 2021-07-13 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치, 이에 사용되는 고분자 소재 및 이의 제조 방법 |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100442309B1 (ko) * | 2003-07-22 | 2004-07-30 | 주식회사 에폰 | 필름상 중합체의 연속 표면처리장치 및 연속 표면처리방법 |
JP2013161969A (ja) * | 2012-02-06 | 2013-08-19 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | 太陽電池の製造方法および太陽電池の製造装置 |
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Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS61287147A (ja) * | 1985-06-13 | 1986-12-17 | Oki Electric Ind Co Ltd | 多層配線の形成方法 |
JP2704438B2 (ja) * | 1989-09-04 | 1998-01-26 | 東京エレクトロン株式会社 | イオン注入装置 |
JP3047138B2 (ja) * | 1991-09-06 | 2000-05-29 | グローリー工業株式会社 | 湿度センサの製造方法 |
JPH07249394A (ja) * | 1994-03-14 | 1995-09-26 | Hitachi Ltd | イオン注入方法及び装置 |
JP3060876B2 (ja) * | 1995-02-15 | 2000-07-10 | 日新電機株式会社 | 金属イオン注入装置 |
KR100252782B1 (ko) * | 1995-12-28 | 2000-04-15 | 김덕중 | 전도성 고분자 박막 제조방법 및 제조장치 |
JPH11195397A (ja) * | 1998-01-05 | 1999-07-21 | Masanobu Nunogaki | 低エネルギー重イオン立体照射法 |
-
2000
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- 2001-03-08 KR KR20010012069A patent/KR100415013B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101572156B1 (ko) | 2010-11-09 | 2015-11-26 | 삼성전자 주식회사 | 플라즈마 발생 장치 및 플라즈마 발생 방법 |
KR20210087574A (ko) * | 2019-12-16 | 2021-07-13 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치, 이에 사용되는 고분자 소재 및 이의 제조 방법 |
KR102292851B1 (ko) * | 2019-12-16 | 2021-08-24 | 세메스 주식회사 | 기판 처리 장치, 이에 사용되는 고분자 소재 및 이의 제조 방법 |
Also Published As
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