JP2001237337A - Plastic package and manufacturing method thereof - Google Patents
Plastic package and manufacturing method thereofInfo
- Publication number
- JP2001237337A JP2001237337A JP2000045940A JP2000045940A JP2001237337A JP 2001237337 A JP2001237337 A JP 2001237337A JP 2000045940 A JP2000045940 A JP 2000045940A JP 2000045940 A JP2000045940 A JP 2000045940A JP 2001237337 A JP2001237337 A JP 2001237337A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- plating
- hole
- solder ball
- ball connection
- resin substrate
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W72/00—Interconnections or connectors in packages
- H10W72/851—Dispositions of multiple connectors or interconnections
- H10W72/874—On different surfaces
- H10W72/884—Die-attach connectors and bond wires
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/731—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors
- H10W90/734—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of die-attach connectors between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10W—GENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
- H10W90/00—Package configurations
- H10W90/701—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts
- H10W90/751—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires
- H10W90/754—Package configurations characterised by the relative positions of pads or connectors relative to package parts of bond wires between a chip and a stacked insulating package substrate, interposer or RDL
Landscapes
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 スルーホールに導電性ペーストが充填され、
導電性ペーストの上に直接Niめっき及びAuめっきが
施されているプラスチックパッケージ及びその製造方法
を提供する。
【解決手段】 銅張り樹脂基板11の孔埋めされたスル
ーホール22の開口部位置に半田ボール接続パッド28
が形成されたプラスチックパッケージであって、スルー
ホール22の孔埋めは、壁面に無電解Cuめっき23及
び電解Cuめっき24からなるCuめっき層が形成され
たスルーホール22の内部に導電性ペースト25を充填
することによって行われ、しかも、半田ボール接続パッ
ド28は、導電性ペースト25の露出面及びその周囲に
形成された配線パターンの一部からなり、更に、半田ボ
ール接続パッド28にはNiめっき29及びAuめっき
30が施されている。
(57) [Summary] [PROBLEMS] A through-hole is filled with a conductive paste,
Provided are a plastic package in which Ni plating and Au plating are directly provided on a conductive paste, and a method of manufacturing the same. A solder ball connection pad (28) is provided at an opening position of a through hole (22) in a copper-clad resin substrate (11).
Is formed, and the through-hole 22 is filled with a conductive paste 25 inside the through-hole 22 in which a Cu plating layer composed of electroless Cu plating 23 and electrolytic Cu plating 24 is formed on the wall surface. The solder ball connection pad 28 is formed by filling the solder ball connection pad 28 with an exposed surface of the conductive paste 25 and a part of a wiring pattern formed therearound. And Au plating 30 is applied.
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、銅張り樹脂基板の
孔埋めしたスルーホールの開口部位置に半田ボール接続
パッドを形成するプラスチックパッケージ及びその製造
方法に係り、より詳細には、スルーホールに導電性ペー
ストを充填し、導電性ペーストの露出面及びその周囲に
直接金属膜を施して形成するプラスチックパッケージ及
びその製造方法に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a plastic package for forming a solder ball connection pad at an opening position of a through hole filled in a hole in a copper-clad resin substrate, and a method of manufacturing the same. The present invention relates to a plastic package formed by filling a conductive paste and applying a metal film directly to an exposed surface of the conductive paste and the periphery thereof, and a method of manufacturing the same.
【0002】[0002]
【従来の技術】近年の半導体素子の高性能化、小型化に
ともない、半導体素子を搭載するためのプラスチックパ
ッケージには、外部接続端子の多端子化、半導体素子の
実装性、低コスト化、放熱特性、低インピーダンス化等
の観点から、ボールグリッドアレイタイプのプラスチッ
クパッケージ(PBGA)が多く用いられている。この
PBGAは、両面にCu箔を熱圧着して形成した導体層
を備えたBT樹脂(ビスマイレイミドトリアジンを主成
分にした樹脂)やポリイミド樹脂等からなる1層又は多
層の高耐熱性の銅張り樹脂基板を基板として用いて、こ
の銅張り樹脂基板にヒートスラグを接合したキャビティ
ダウンタイプや、直接モールディングするタイプがあ
る。そして、表層にはエッチング等によって導体パター
ンが形成してあり、また、両面表層の導体パターンとに
導通を取るためのスルーホール導体を形成し、裏面には
半田ボール接続パッドを形成し、半田ボールを介して各
種配線板に接続する。なお、半田ボール接続パッドは表
面側に形成する場合もある。ここで、半田ボール接続パ
ッドを銅張り樹脂基板のスルーホールの開口部位置に形
成する場合があり、その形成方法としては、一般的に
は、先ず銅張り樹脂基板にスルーホールを複数軸ドリル
等で穿設し、パラジウム等の触媒付与後に無電解Cuめ
っきを施し、この無電解Cuめっきの上に電解Cuめっ
きの厚付けめっきを行っている。そして、スルーホール
に絶縁性樹脂からなる孔埋めペーストを印刷で充填し、
硬化した後、スルーホールからはみ出している孔埋めペ
ーストを削除するために、ベルトサンダー等で平滑化し
ている。次いで、再度、絶縁性樹脂基板全体に無電解C
uめっき及び電解Cuめっきを施した後、フォトリソグ
ラフィ法を用いたCu層のエッチングで配線パターンと
半田ボール接続パッドを形成し、ソルダーレジストを印
刷形成した後に、Niめっき及びAuめっきを行ってい
る(図3参照)。また、他の形成方法としては、Cu箔
が貼られていない絶縁性樹脂基板を用い、スルーホール
の孔埋めペーストとして導電性ペーストを用いて充填
し、熱硬化して、次いで、スルーホールの孔埋めペース
トの部分も含めた絶縁性樹脂基板表面にCu箔を熱圧着
し、フォトリソグラフィ法を用いてCu箔をエッチング
して、配線パターンと半田ボール接続パッドを形成し、
ソルダーレジストを印刷形成した後に、Niめっき及び
Auめっきを行っている(図4参照)。2. Description of the Related Art In recent years, as semiconductor devices have become higher in performance and smaller in size, plastic packages for mounting semiconductor devices have increased the number of external connection terminals, mountability of semiconductor devices, lower cost, and heat dissipation. A ball grid array type plastic package (PBGA) is often used from the viewpoints of characteristics and low impedance. This PBGA is a single-layer or multi-layer highly heat-resistant copper made of BT resin (resin containing bismaileimide triazine as a main component) or polyimide resin having a conductor layer formed by thermocompression bonding of Cu foil on both surfaces. There are a cavity-down type in which a heat slug is bonded to the copper-clad resin substrate using a resin-clad substrate as a substrate, and a direct molding type. A conductor pattern is formed on the surface layer by etching or the like, a through-hole conductor is formed to establish conduction with the conductor pattern on both surface layers, and a solder ball connection pad is formed on the back surface. To various wiring boards through In some cases, the solder ball connection pads are formed on the front side. Here, the solder ball connection pad may be formed at the position of the opening of the through hole of the copper-clad resin substrate. In general, the method of forming the through-hole is to first form a through-hole in the copper-clad resin substrate with a multi-axis drill or the like. And electroless Cu plating is performed after a catalyst such as palladium is applied. Thick plating of electrolytic Cu plating is performed on the electroless Cu plating. Then, the through-hole is filled with a hole filling paste made of insulating resin by printing,
After hardening, it is smoothed with a belt sander or the like in order to remove the filling paste protruding from the through holes. Next, the electroless C
After performing u plating and electrolytic Cu plating, a wiring pattern and a solder ball connection pad are formed by etching a Cu layer using a photolithography method, and after a solder resist is printed and formed, Ni plating and Au plating are performed. (See FIG. 3). Further, as another forming method, an insulating resin substrate to which no Cu foil is stuck is used, and a conductive paste is filled as a paste for filling the through-holes, heat-cured, and then the holes of the through-holes are filled. The Cu foil is thermocompression bonded to the surface of the insulating resin substrate including the filling paste portion, and the Cu foil is etched using a photolithography method to form a wiring pattern and a solder ball connection pad,
After printing and forming the solder resist, Ni plating and Au plating are performed (see FIG. 4).
【0003】[0003]
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前述し
たような従来のスルーホールの上に半田ボール接続パッ
ドが形成されるプラスチックパッケージでは、未だ解決
すべき次のような問題があった。 (1)無電解Cuめっき及び電解Cuめっきを2回行う
場合には、Cu層の厚さが厚くなり過ぎ、Cu層のエッ
チングでの配線パターンと半田ボール接続パッドのパタ
ーン解像度を低下させて、精巧なパターンが得られな
い。従って、高密度配線パターンが要求される半導体素
子の高性能化、小型化に対応できない。 (2)また、Cu層の厚みが厚くなり過ぎると、精巧な
パターンが得られないので、配線パターンに断線や、シ
ョートが発生し歩留の低下をきたす。 (3)そこで、この対策として、パターン形成前にCu
層を薄くすることで精巧なパターンを得ているが、この
Cu層を薄くする作業として、研磨を必要とし、生産効
率を低下させている。 (4)Cu箔が貼られていない絶縁性樹脂基板を使用す
る場合には、途中工程でCu箔を貼る工程があるので、
その作業に技術を要する。本発明は、このような事情に
鑑みてなされたものであって、スルーホールに導電性ペ
ーストを充填し、熱硬化し、次いで、導電性ペーストの
上に金属膜例えば、Niめっき及びAuめっきを施すこ
とで、高密度配線パターンが要求される半導体素子の高
性能化、小型化に対応できるプラスチックパッケージ及
びその製造方法を提供することを目的とする。However, the conventional plastic package in which the solder ball connection pad is formed on the through hole as described above has the following problems to be solved. (1) When performing the electroless Cu plating and the electrolytic Cu plating twice, the thickness of the Cu layer becomes too thick, and the pattern resolution of the wiring pattern and the solder ball connection pad in the etching of the Cu layer is reduced. Elaborate patterns cannot be obtained. Therefore, it cannot cope with high performance and miniaturization of a semiconductor element which requires a high density wiring pattern. (2) Further, if the thickness of the Cu layer is too large, a precise pattern cannot be obtained, so that a disconnection or short circuit occurs in the wiring pattern, resulting in a decrease in yield. (3) Therefore, as a countermeasure against this, Cu is formed before pattern formation.
Although an elaborate pattern is obtained by thinning the layer, the work of thinning the Cu layer requires polishing, which lowers the production efficiency. (4) When using an insulating resin substrate to which the Cu foil is not attached, there is a step of attaching the Cu foil in an intermediate step.
The work requires skill. The present invention has been made in view of such circumstances, and fills a conductive paste into a through-hole, is thermally cured, and then forms a metal film such as Ni plating and Au plating on the conductive paste. An object of the present invention is to provide a plastic package capable of coping with high performance and miniaturization of a semiconductor element requiring a high-density wiring pattern and a method of manufacturing the same.
【0004】[0004]
【課題を解決するための手段】前記目的に沿う本発明に
係るプラスチックパッケージは、銅張り樹脂基板の孔埋
めされたスルーホールの開口部位置に半田ボール接続パ
ッドが形成されたプラスチックパッケージであって、ス
ルーホールの孔埋めは、壁面に無電解Cuめっき及び電
解CuめっきからなるCuめっき層が形成されたスルー
ホールの内部に導電性ペーストを充填することによって
行われ、しかも、半田ボール接続パッドは、導電性ペー
ストの露出面及びその周囲に形成された配線パターンの
一部からなり、更に、半田ボール接続パッドには金属膜
が施されている。これにより、無電解Cuめっき及び、
電解Cuめっきは1回のみ施すことで済み、Cu厚みを
薄く設定することができるので、エッチングする時に精
巧なパターンを得ることができる。従って、高密度配線
パターンが要求される半導体素子の高性能化、小型化に
対応できる。また、精巧なパターンが得られないことか
ら起因する、配線パターンの断線や、ショート等の不良
を発生させることがない。さらには、途中工程でCu箔
を貼着する必要がないので、安価なプラスチックパッケ
ージを提供できる。According to the present invention, there is provided a plastic package in which a solder ball connection pad is formed at an opening position of a through hole filled in a hole in a copper-clad resin substrate. The filling of the through-hole is performed by filling a conductive paste into the through-hole in which a Cu plating layer made of electroless Cu plating and electrolytic Cu plating is formed on the wall surface. And a part of a wiring pattern formed on the exposed surface of the conductive paste and the periphery thereof. Further, a metal film is applied to the solder ball connection pad. Thereby, the electroless Cu plating and
The electrolytic Cu plating needs to be performed only once, and the Cu thickness can be set thin, so that a fine pattern can be obtained at the time of etching. Therefore, it is possible to cope with high performance and miniaturization of a semiconductor element requiring a high density wiring pattern. In addition, there is no occurrence of a defect such as disconnection of a wiring pattern or a short circuit due to a failure to obtain a sophisticated pattern. Further, since there is no need to attach a Cu foil in an intermediate step, an inexpensive plastic package can be provided.
【0005】前記目的に沿う本発明に係るプラスチック
パッケージの製造方法は、銅張り樹脂基板の孔埋めした
スルーホールの上に半田ボール接続パッドを形成するプ
ラスチックパッケージの製造方法において、銅張り樹脂
基板にスルーホールを穿設する工程と、銅張り樹脂基板
の表面及びスルーホールの壁面に無電解Cuめっき及び
電解Cuめっきを施す工程と、半田ボール接続パッド用
のスルーホールに導電性ペーストを充填し、硬化する工
程と、銅張り樹脂基板の表面に半田ボール接続パッドを
含む配線パターンを形成する工程と、半田ボール接続パ
ッドを除く必要箇所にソルダーレジストパターンを形成
する工程と、半田ボール接続パッドを含む必要箇所に金
属膜を施す工程とを有している。これにより、銅張り樹
脂基板への無電解Cuめっき及び電解Cuめっきは1回
で済むので、Cu層の厚さを厚くし過ぎることがなくな
り、Cu層のエッチングでの配線パターンと半田ボール
接続パッドのパターン解像度の低下をおこすことがな
い。従って、精巧なパターンを得ることができ、高密度
配線パターンが要求される半導体素子の高性能化、小型
化に対応できるプラスチックパッケージを製造すること
ができる。また、配線パターンの断線や、ショートも発
生しないので、歩留の低下をおこさせない。また、Cu
箔を途中工程で貼る必要がなく特別な技術も要すること
なくプラスチックパッケージを製造することができる。[0005] A method of manufacturing a plastic package according to the present invention, which meets the above object, is a method of manufacturing a plastic package in which a solder ball connection pad is formed on a through-hole filled in a hole of a copper-clad resin substrate. A step of forming a through hole, a step of performing electroless Cu plating and an electrolytic Cu plating on the surface of the copper-clad resin substrate and the wall surface of the through hole, and filling a conductive paste into the through hole for the solder ball connection pad, Including a curing step, a step of forming a wiring pattern including solder ball connection pads on the surface of the copper-clad resin substrate, a step of forming a solder resist pattern in necessary places excluding the solder ball connection pads, and including a solder ball connection pad Applying a metal film to a necessary portion. As a result, the electroless Cu plating and the electrolytic Cu plating on the copper-clad resin substrate need only be performed once, so that the thickness of the Cu layer is not excessively increased, and the wiring pattern and the solder ball connection pad in the etching of the Cu layer are eliminated. Does not lower the pattern resolution. Therefore, a fine pattern can be obtained, and a plastic package capable of responding to high performance and miniaturization of a semiconductor element requiring a high density wiring pattern can be manufactured. Further, since no disconnection or short circuit of the wiring pattern occurs, the yield is not reduced. Also, Cu
A plastic package can be manufactured without the necessity of attaching foil in an intermediate step and without requiring any special technique.
【0006】[0006]
【発明の実施の形態】続いて、添付した図面を参照しつ
つ、本発明を具体化した実施の形態につき説明し、本発
明の理解に供する。ここに、図1(A)、(B)は本発
明の一実施の形態に係るプラスチックパッケージの側断
面図及び、半田ボール接続部の部分拡大側断面図、図2
は本発明の一実施の形態に係るプラスチックパッケージ
の製造方法を説明するための部分拡大側断面図である。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings to provide an understanding of the present invention. 1A and 1B are a side sectional view of a plastic package according to an embodiment of the present invention, and a partially enlarged side sectional view of a solder ball connection portion.
FIG. 2 is a partially enlarged side sectional view for illustrating a method for manufacturing a plastic package according to one embodiment of the present invention.
【0007】先ず、図1(A)、(B)を参照して、本
発明の一実施の形態に係るプラスチックパッケージ10
の構造を説明する。プラスチックパッケージ10の基板
として、銅張り樹脂基板11は、両面にCu箔21を接
合して形成した導体層を備えたBT樹脂(ビスマイレイ
ミドトリアジンを主成分にした樹脂)やポリイミド樹脂
等の高耐熱性、誘電特性、絶縁特性、加工性に優れた樹
脂を基材とする1層又は、多層の樹脂基板から形成され
ている。その両面には、Cu箔21、無電解Cuめっき
23及び、電解Cuめっき24よりなる導体パターン
や、さらに金属膜の一例であるNiめっき29及びAu
めっき30を施こしたワイヤボンドパッド、半田ボール
接続パッド28等の配線パターンが形成されている。そ
して、この銅張り樹脂基板11の下面には、半田ボール
接続パッド28を介して、接続端子電極としての多数の
半田ボール12が形成されている。First, referring to FIGS. 1A and 1B, a plastic package 10 according to an embodiment of the present invention will be described.
The structure of will be described. As a substrate of the plastic package 10, a copper-clad resin substrate 11 is made of a high-temperature resin such as BT resin (resin containing bismaileimide triazine as a main component) or polyimide resin having a conductor layer formed by bonding Cu foils 21 on both surfaces. It is formed from a single-layer or multi-layer resin substrate made of a resin having excellent heat resistance, dielectric properties, insulation properties, and workability. On both surfaces thereof, a conductor pattern composed of a Cu foil 21, an electroless Cu plating 23, and an electrolytic Cu plating 24, and a Ni plating 29, which is an example of a metal film, and Au
A wiring pattern such as a wire bond pad plated with 30 and a solder ball connection pad 28 is formed. A large number of solder balls 12 as connection terminal electrodes are formed on the lower surface of the copper-clad resin substrate 11 via solder ball connection pads 28.
【0008】ドリル形成及びCuめっき形成され、壁面
に無電解Cuめっき23、電解Cuめっき24のCuめ
っき層が施されたスルーホール22内に導電性ペースト
25が充填され、その導電性ペースト25の露出面及び
その周囲に形成された配線パターンの一部からなる(す
なわち、孔埋めされたスルーホール22の開口部位置に
形成された)半田ボール接続パッド28と、その上に施
されたNiめっき29、Auめっき30とを介して、銅
張り樹脂基板11の上面表層の配線パターンと、銅張り
樹脂基板11の下面の半田ボール12とが電気的に接続
されている。銅張り樹脂基板11の上面の配線パターン
領域のうちのボンディングワイヤ15で接続するワイヤ
ボンディングパッド部分、封止樹脂16を注入するとき
に使用する鋳込み口部分等には、Niめっき29及びA
uめっき30が施され、これらのパターン以外の部分に
は、ソルダーレジスト17が形成されている。また、銅
張り樹脂基板11の下面の半田ボール接続パッド28以
外の露出面には、ソルダーレジスト13が形成されてい
る。A conductive paste 25 is filled in a through hole 22 in which a drill is formed and a Cu plating is formed, and a wall is provided with a Cu plating layer of an electroless Cu plating 23 and an electrolytic Cu plating 24. A solder ball connection pad 28 formed of an exposed surface and a part of a wiring pattern formed around the exposed surface (that is, formed at an opening position of the filled through hole 22), and Ni plating applied thereon The wiring patterns on the upper surface of the copper-clad resin substrate 11 and the solder balls 12 on the lower surface of the copper-clad resin substrate 11 are electrically connected to each other via the Au plating 30 and the Au plating 30. In the wiring pattern area on the upper surface of the copper-clad resin substrate 11, a wire bonding pad portion connected by the bonding wire 15, a casting opening portion used when the sealing resin 16 is injected, and the like are provided with Ni plating 29 and A
U plating 30 is applied, and a solder resist 17 is formed in portions other than these patterns. Further, a solder resist 13 is formed on an exposed surface other than the solder ball connection pads 28 on the lower surface of the copper-clad resin substrate 11.
【0009】ダイボンディング領域に形成されたソルダ
ーレジスト18の上には、半導体素子14がAgペース
ト等で接着され、半導体素子14の電極と、銅張り樹脂
基板11のワイヤボンディングパッドとはAu線等から
なるボンディングワイヤ15で電気的に導通状態になっ
ている。そして、半導体素子14やボンディングワイヤ
15は、エポキシ樹脂等の封止樹脂16でトランスファ
ーモールド成形で封止されている。On the solder resist 18 formed in the die bonding region, a semiconductor element 14 is bonded with an Ag paste or the like, and the electrodes of the semiconductor element 14 and the wire bonding pads of the copper-clad resin substrate 11 are connected to an Au wire or the like. Are electrically connected by a bonding wire 15 made of The semiconductor element 14 and the bonding wires 15 are sealed with a sealing resin 16 such as an epoxy resin by transfer molding.
【0010】本発明の一実施の形態に係るプラスチック
パッケージの製造方法は、図2に示すように、概略する
と、(1)銅張り樹脂基板にスルーホールを穿設するド
リル工程、(2)無電解Cuめっき及び電解Cuめっき
を施すCuめっき工程、(3)スルーホール内に導電性
ペーストを充填する孔埋め工程、(4)半田ボール接続
パッドを含む配線パターンを形成するパターンニング工
程、(5)ソルダーレジスト層を印刷形成する印刷工
程、(6)金属膜形成工程、の各工程を有している。以
下、各工程について詳細に説明する。As shown in FIG. 2, the method for manufacturing a plastic package according to an embodiment of the present invention is, as shown in FIG. 2, schematically (1) a drilling step for drilling a through hole in a copper-clad resin substrate, and (2) a drilling step. (3) a hole filling step of filling a conductive paste in a through hole, (4) a patterning step of forming a wiring pattern including solder ball connection pads, (5) And (6) a step of forming a metal film. Hereinafter, each step will be described in detail.
【0011】(1)銅張り樹脂基板にスルーホールを穿
設するドリル工程 先ず、銅張り樹脂基板11を準備する。この銅張り樹脂
基板11は、両面にCu箔21を接合して形成した導体
層を備えたBT樹脂(ビスマイレイミドトリアジンを主
成分にした樹脂)やポリイミド樹脂等からなる1層又は
多層の高耐熱性の樹脂基板から成る。Cu箔21の厚み
は通常18〜70μmのものがあり、Cuの純度は9
9.8%以上のものを使用する。そして、銅張り樹脂基
板11に、単軸のボール盤や単軸又は複数軸の数値制御
方式ボール盤(NCドリルマシン)を使用して、超硬合
金等からなる孔あけドリルを高速回転(例えば、150
00rpm程度〜100000rpm程度)させてスル
ーホール22を穿設する。(1) Drilling step for drilling a through hole in a copper-clad resin substrate First, a copper-clad resin substrate 11 is prepared. The copper-clad resin substrate 11 has a single-layer or multi-layer structure made of a BT resin (a resin containing bismaileimide triazine as a main component) or a polyimide resin having a conductor layer formed by bonding Cu foils 21 on both surfaces. It is made of a heat-resistant resin substrate. The thickness of the Cu foil 21 is usually 18 to 70 μm, and the purity of Cu is 9
Use 9.8% or more. Then, using a single-axis drilling machine or a single-axis or multiple-axis numerical control type drilling machine (NC drill machine), a hole drill made of cemented carbide or the like is rotated at high speed on the copper-clad resin substrate 11 (for example, 150 mm).
(About 00 rpm to about 100000 rpm) to form the through hole 22.
【0012】(2)無電解Cuめっき及び電解Cuめっ
きを施すCuめっき工程 スルーホール22を穿設した銅張り樹脂基板11にパラ
ジウム等の触媒付与を行い、ホルマリンを還元剤とする
強アルカリ浴中で無電解Cuめっき23被膜を形成す
る。ここで、スルーホール22の壁面に形成したCu導
体膜を介して銅張り樹脂基板11の両面表層は電気的に
導通状態となる。次に、無電解Cuめっき23を施した
銅張り樹脂基板11に電解Cuめっき24を形成する。
めっき槽の中にめっき浴、例えば、硫酸銅浴、ピロリン
酸浴等を充たし、陽極(アノード)側に取付けられたC
u板を、陰極(カソード)側に取付けられた被めっき物
である銅張り樹脂基板11の両面それぞれに対向して2
枚配設する。そして、直流電源装置に電圧を印加するこ
とで、被めっき物である銅張り樹脂基板11の無電解C
uめっき23を施している表層及びスルーホール22の
壁面に金属銅を析出させ、電解Cuめっき24被膜を形
成する。(2) Cu plating step of applying electroless Cu plating and electrolytic Cu plating A catalyst such as palladium is applied to the copper-clad resin substrate 11 in which the through holes 22 are formed, and the copper plating resin substrate is placed in a strong alkaline bath using formalin as a reducing agent. To form an electroless Cu plating 23 film. Here, both surface layers of the copper-clad resin substrate 11 are electrically connected via the Cu conductor film formed on the wall surface of the through hole 22. Next, an electrolytic Cu plating 24 is formed on the copper-clad resin substrate 11 on which the electroless Cu plating 23 has been applied.
The plating bath is filled with a plating bath, for example, a copper sulfate bath, a pyrophosphoric acid bath, and the like.
The u-plate is opposed to each side of the copper-clad resin substrate 11 which is a plating object attached to the cathode (cathode) side.
Arrange them. Then, by applying a voltage to the DC power supply device, the electroless C
Metal copper is deposited on the surface layer provided with the u plating 23 and the wall surface of the through hole 22 to form an electrolytic Cu plating 24 film.
【0013】(3)スルーホール内に導電性ペーストを
充填する孔埋め工程 無電解Cuめっき23及び電解Cuめっき24を施した
銅張り樹脂基板11のスルーホール22に導電性ペース
ト25をスクリーン印刷手法で充填し、加熱硬化する。
導電性ペースト25は、例えば、Cu紛80%とバイン
ダーとして熱硬化性樹脂を用いて混練したものを使用す
る。孔埋め後、必要に応じて、スルーホール22の表面
から突出した導電性ペースト25を研磨することで取り
除き、スルーホール22の表面の平滑化を行なってもよ
い。(3) Hole-filling step of filling conductive paste in through-holes Screen-printing method of conductive paste 25 in through-holes 22 of copper-clad resin substrate 11 on which electroless Cu plating 23 and electrolytic Cu plating 24 have been applied. And heat-cured.
As the conductive paste 25, for example, a paste kneaded using 80% of Cu powder and a thermosetting resin as a binder is used. After filling the holes, if necessary, the conductive paste 25 protruding from the surface of the through hole 22 may be removed by polishing, and the surface of the through hole 22 may be smoothed.
【0014】(4)半田ボール接続パッドを含む配線パ
ターンを形成するパターンニング工程 エッチングレジスト26となるドライフィルムを電解C
uめっき24被膜及び導電性ペースト25の露出部及び
その周囲に貼付する。このフォトレジストからなるドラ
イフィルムはカバーフィルム、フォトレジスト、キャリ
アフィルムの3層構造となっており、カバーフィルムを
剥がしながら銅張り樹脂基板11の電解Cuめっき24
被膜及び導電性ペースト25の上に形成していく。次い
で、半田ボール接続パッド28を含む配線パターン形成
のためのパターンマスクを合わせ、紫外線露光を行い、
その後、キャリアフィルムを剥がし、現像を行って、半
田ボール接続パッド28を含む配線パターン以外の部分
のドライフィルムを削除する。残されたドライフィルム
がエッチングレジスト26となる。次に、塩化第二鉄溶
液、塩化第二銅溶液、アルカリエッチャント、過酸化水
素−硫酸系エッチャント等のエッチング液を使用して、
銅張り樹脂基板11上のエッチングレジスト26の開口
部27のCuめっき層(無電解Cuめっき23及び電解
Cuめっき24)及び銅箔21をエッチングする。ここ
で、Cuめっき(無電解Cuめっき23及び電解Cuめ
っき24)及びCu箔21をエッチングするのに、Cu
めっきの厚みを薄くしておく(無電解Cuめっき23及
び電解Cuめっき24の回数を1回とする)ことで、エ
ッチングファクタの影響を少なくして、精巧なパターン
を形成する。そして、半田ボール接続パッド28を含む
配線パターンを覆っているフォトレジストからなるエッ
チングレジスト26は、表面に剥離液をスプレーで噴射
し、フォトレジストを膨潤させながら洗い流すことで、
剥離し、除去する。これによって、半田ボール接続パッ
ド28を含む配線パターンを形成する。(4) A patterning step for forming a wiring pattern including solder ball connection pads A dry film to be an etching resist 26 is subjected to electrolytic C
The coating is applied to the u plating 24 coating and the exposed portion of the conductive paste 25 and the periphery thereof. The dry film made of the photoresist has a three-layer structure of a cover film, a photoresist, and a carrier film.
It is formed on the coating and the conductive paste 25. Next, a pattern mask for forming a wiring pattern including the solder ball connection pads 28 is aligned, and ultraviolet light exposure is performed.
After that, the carrier film is peeled off and development is performed to remove the dry film other than the wiring pattern including the solder ball connection pads 28. The remaining dry film becomes the etching resist 26. Next, using an etching solution such as a ferric chloride solution, a cupric chloride solution, an alkaline etchant, and a hydrogen peroxide-sulfuric acid-based etchant,
The Cu plating layer (electroless Cu plating 23 and electrolytic Cu plating 24) in the opening 27 of the etching resist 26 on the copper-clad resin substrate 11 and the copper foil 21 are etched. Here, Cu etching (electroless Cu plating 23 and electrolytic Cu plating 24) and Cu foil 21
By reducing the thickness of the plating (the number of times of the electroless Cu plating 23 and the electrolytic Cu plating 24 is set to one), the influence of the etching factor is reduced, and a fine pattern is formed. Then, the etching resist 26 made of the photoresist covering the wiring pattern including the solder ball connection pads 28 is sprayed on the surface by spraying a stripping solution, and the photoresist is swollen and washed away.
Peel and remove. Thus, a wiring pattern including the solder ball connection pads 28 is formed.
【0015】(5)ソルダーレジスト層を印刷形成する
印刷工程 銅張り樹脂基板11の半田ボール接続パッド28及び、
配線パターンの内の半導体素子とボンディングワイヤで
接続するワイヤボンディングパッドの部分等を除く露出
面にソルダーレジスト13、17をスクリーン印刷法、
例えば、ソルダーペーストの粘度を300ポイズ、印刷
圧力を3.5kgf、スクリーン版を150メッシュ、
印刷厚みを40〜50μmで印刷形成(ソルダーレジス
トパターンの形成)する。ソルダーレジスト13、17
は、後工程の金属膜の一例であるNiめっき29及びA
uめっき30を施す時のめっきレジストとなる、半田付
け作業で半田を付けない、及び、Cu導体表面を外部環
境から保護するという役目を果たしている。また、ソル
ダーペーストのポリマーに加熱硬化型エポキシ樹脂や紫
外線硬化型アクリレート系樹脂を使用して、ソルダーレ
ジスト13、17が要求される永久マスクとしての各種
特性(密着性、半田耐熱性、耐湿性、耐薬品性、電気絶
縁特性等)を確保している。(5) Printing Step of Printing and Forming a Solder Resist Layer The solder ball connection pads 28 of the copper-clad resin substrate 11 and
A screen printing method of solder resists 13 and 17 is applied to the exposed surface excluding a portion of a wire bonding pad connected to a semiconductor element with a bonding wire in a wiring pattern.
For example, the viscosity of the solder paste is 300 poise, the printing pressure is 3.5 kgf, the screen plate is 150 mesh,
A print thickness (formation of a solder resist pattern) is formed at a print thickness of 40 to 50 μm. Solder resist 13, 17
Are Ni plating 29 and A, which are examples of a metal film in a later process.
It serves as a plating resist when applying u-plating 30, does not solder during the soldering operation, and protects the Cu conductor surface from the external environment. In addition, using a heat-curable epoxy resin or an ultraviolet-curable acrylate-based resin as the polymer of the solder paste, the solder resists 13 and 17 are required for various properties as a permanent mask (adhesion, solder heat resistance, moisture resistance, Chemical resistance, electrical insulation properties, etc.).
【0016】(6)金属膜形成工程 銅張り樹脂基板11のソルダーレジスト13、17の開
口部である半田ボール接続パッド28及び配線パターン
の内の半導体素子とボンディングワイヤで接続するワイ
ヤボンディングパッドの部分等には、めっき用引き回し
配線パターンに通電して電解のNiめっき29及びAu
めっき30を施す。Niめっき29はAuめっき30の
下地めっきであり、約2〜5μm形成し、Auめっき3
0はフラッシュめっきにより0.05〜0.8μm程度
の厚さに形成する。めっき浴は、Niにスルファミン酸
浴を使用し、Auに硬質金の各種めっき浴を使用する。
また、Niめっきが無電解Niめっきの場合には、次亜
燐酸によるNi−Pめっきを用いる。金属膜として、N
iめっき、Auめっき以外にNiCoめっき、Ptめっ
き等種々の金属膜形成が可能である。また、半田ボール
接続パッド28に半田めっきを行なうことも可能であ
る。(6) Metal film forming step A solder ball connection pad 28 which is an opening of the solder resists 13 and 17 of the copper-clad resin substrate 11 and a portion of a wire bonding pad which is connected to a semiconductor element in a wiring pattern by a bonding wire. For example, the plating wiring pattern is energized and electrolytic Ni plating 29 and Au are applied.
Plating 30 is applied. The Ni plating 29 is a base plating of the Au plating 30 and is formed to a thickness of about 2 to 5 μm.
No. 0 is formed to a thickness of about 0.05 to 0.8 μm by flash plating. As the plating bath, a sulfamic acid bath is used for Ni, and various plating baths of hard gold are used for Au.
When the Ni plating is electroless Ni plating, Ni-P plating using hypophosphorous acid is used. N as a metal film
Various metal films such as NiCo plating and Pt plating can be formed in addition to i-plating and Au plating. It is also possible to perform solder plating on the solder ball connection pads 28.
【0017】[0017]
【発明の効果】請求項1記載のプラスチックパッケージ
においては、半田ボール接続パッドはスルーホールの壁
面に無電解Cuめっき及び電解CuめっきのCuめっき
層を施し、スルーホール内に導電性ペーストを充填し、
スルーホールの開口部位置に金属膜を施こしているの
で、無電解Cuめっき及び電解Cuめっきは1回で済
み、Cu厚みを薄く設定できる。従って、精巧なパター
ンを得ることができるので、高密度配線パターンが要求
される半導体素子の高性能化、小型化に対応できる。ま
た、配線パターンの断線や、ショート等の不良の発生が
ない。さらには、Cu層を薄くするための研磨作業の必
要がないので、安価なプラスチックパッケージを提供で
きる。According to the plastic package of the present invention, the solder ball connection pad is formed by applying a Cu plating layer of electroless Cu plating or electrolytic Cu plating on the wall surface of the through hole, and filling the through hole with a conductive paste. ,
Since the metal film is applied to the position of the opening of the through hole, the electroless Cu plating and the electrolytic Cu plating only need to be performed once, and the Cu thickness can be set thin. Therefore, since a sophisticated pattern can be obtained, it is possible to cope with high performance and miniaturization of a semiconductor element requiring a high density wiring pattern. Further, there is no occurrence of defects such as disconnection of the wiring pattern and short circuit. Furthermore, since there is no need for polishing work for thinning the Cu layer, an inexpensive plastic package can be provided.
【0018】請求項2記載のプラスチックパッケージの
製造方法においては、スルーホールの上に半田ボール接
続パッドを形成する方法として、銅張り樹脂基板にスル
ーホールを穿設する工程と、銅張り樹脂基板の表面及び
スルーホールの壁面に無電解Cuめっき及び電解Cuめ
っきを施す工程と、半田ボール接続パッド用のスルーホ
ールに導電性ペーストを充填し、硬化する工程と、銅張
り樹脂基板の表面に半田ボール接続パッドを含む配線パ
ターンを形成する工程と、半田ボール接続パッドを含む
必要箇所にソルダーレジストパターンを形成する工程
と、半田ボール接続パッドを除く必要箇所に金属膜を施
す工程とを有しているので、無電解Cuめっき及び電解
Cuめっきは1回で済み、Cu層の厚さを厚くせず、エ
ッチングでの配線パターンと半田ボール接続パッドのパ
ターン解像度の低下がない。従って、精巧なパターンを
得ることができ、高密度配線パターンが要求される半導
体素子の高性能化、小型化に対応できるプラスチックパ
ッケージを製造することができる。また、配線パターン
の断線や、ショートも発生しないので、歩留の低下はお
こらない。さらには、Cu層を研磨する必要がなく、生
産効率を低下させない。また、Cu箔を途中工程で貼る
必要がなく特別な技術も要さないプラスチックパッケー
ジの製造方法を提供できる。According to a second aspect of the present invention, there is provided a method for forming a solder ball connection pad on a through-hole, the method comprising: forming a through-hole in a copper-clad resin substrate; A step of applying electroless Cu plating and electrolytic Cu plating to the surface and the wall surface of the through-hole, a step of filling the through-hole for the solder ball connection pad with a conductive paste and curing, and a step of applying a solder ball to the surface of the copper-clad resin substrate A step of forming a wiring pattern including connection pads, a step of forming a solder resist pattern in necessary locations including solder ball connection pads, and a step of applying a metal film to required locations excluding solder ball connection pads. Therefore, electroless Cu plating and electrolytic Cu plating only need to be performed once, and the thickness of the Cu layer is not increased. There is no reduction in the pattern resolution of over emissions and the solder ball connection pad. Therefore, a fine pattern can be obtained, and a plastic package capable of responding to high performance and miniaturization of a semiconductor element requiring a high density wiring pattern can be manufactured. Further, since no disconnection or short circuit of the wiring pattern occurs, the yield does not decrease. Further, there is no need to polish the Cu layer, and the production efficiency is not reduced. In addition, it is possible to provide a method of manufacturing a plastic package which does not need to attach a Cu foil in an intermediate step and does not require any special technique.
【図1】(A)、(B)はそれぞれ本発明の一実施の形
態に係るプラスチックパッケージの側断面図及び半田ボ
ール接続部の部分拡大側断面図である。FIGS. 1A and 1B are a side sectional view of a plastic package and a partially enlarged side sectional view of a solder ball connection portion according to an embodiment of the present invention, respectively.
【図2】本発明の一実施の形態に係るプラスチックパッ
ケージの製造方法を説明するための部分拡大側断面図で
ある。FIG. 2 is a partially enlarged side sectional view for explaining a method of manufacturing a plastic package according to one embodiment of the present invention.
【図3】従来例のプラスチックパッケージの製造方法を
説明するための部分拡大側断面図である。FIG. 3 is a partially enlarged side sectional view for explaining a method of manufacturing a conventional plastic package.
【図4】他の従来例のプラスチックパッケージの製造方
法を説明するための部分拡大側断面図である。FIG. 4 is a partially enlarged side sectional view for explaining a method of manufacturing another conventional plastic package.
10:プラスチックパッケージ、11:銅張り樹脂基
板、12:半田ボール、13:ソルダーレジスト、1
4:半導体素子、15:ボンディングワイヤ、16:封
止樹脂、17:ソルダーレジスト、18:ソルダーレジ
スト、21:Cu箔、22:スルーホール、23:無電
解Cuめっき、24:電解Cuめっき、25:導電性ペ
ースト、26:エッチングレジスト、27:開口部、2
8:半田ボール接続パッド、29:Niめっき、30:
Auめっき10: plastic package, 11: copper-clad resin substrate, 12: solder ball, 13: solder resist, 1
4: semiconductor element, 15: bonding wire, 16: sealing resin, 17: solder resist, 18: solder resist, 21: Cu foil, 22: through hole, 23: electroless Cu plating, 24: electrolytic Cu plating, 25 : Conductive paste, 26: etching resist, 27: opening, 2
8: Solder ball connection pad, 29: Ni plating, 30:
Au plating
Claims (2)
ールの開口部位置に半田ボール接続パッドが形成された
プラスチックパッケージであって、前記スルーホールの
孔埋めは、壁面に無電解Cuめっき及び電解Cuめっき
からなるCuめっき層が形成された前記スルーホールの
内部に導電性ペーストを充填することによって行われ、
しかも、前記半田ボール接続パッドは、前記導電性ペー
ストの露出面及びその周囲に形成された配線パターンの
一部からなり、更に、該半田ボール接続パッドには金属
膜が施されていることを特徴とするプラスチックパッケ
ージ。1. A plastic package in which a solder ball connection pad is formed at an opening position of a through hole in a copper-clad resin substrate, wherein the through hole is filled by electroless Cu plating on a wall surface. It is performed by filling a conductive paste into the inside of the through hole where the Cu plating layer made of electrolytic Cu plating is formed,
In addition, the solder ball connection pad is composed of an exposed surface of the conductive paste and a part of a wiring pattern formed therearound, and the solder ball connection pad is further provided with a metal film. And plastic package.
ルの上に半田ボール接続パッドを形成するプラスチック
パッケージの製造方法において、前記銅張り樹脂基板に
前記スルーホールを穿設する工程と、前記銅張り樹脂基
板の表面及び前記スルーホールの壁面に無電解Cuめっ
き及び電解Cuめっきを施す工程と、前記半田ボール接
続パッド用の前記スルーホールに導電性ペーストを充填
し、硬化する工程と、前記銅張り樹脂基板の表面に前記
半田ボール接続パッドを含む配線パターンを形成する工
程と、前記半田ボール接続パッドを除く必要箇所にソル
ダーレジストパターンを形成する工程と、前記半田ボー
ル接続パッドを含む必要箇所に金属膜を施す工程と、を
有することを特徴とするプラスチックパッケージの製造
方法。2. A method of manufacturing a plastic package in which a solder ball connection pad is formed on a through-hole filled in a hole of a copper-clad resin substrate, wherein the step of piercing the through-hole in the copper-clad resin substrate includes the steps of: A step of applying electroless Cu plating and an electrolytic Cu plating on the surface of the resin substrate and the wall surfaces of the through holes, a step of filling the through holes for the solder ball connection pads with a conductive paste, and curing, and A step of forming a wiring pattern including the solder ball connection pads on the surface of the resin substrate; a step of forming a solder resist pattern in necessary places excluding the solder ball connection pads; A method for manufacturing a plastic package, comprising: a step of applying a metal film.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000045940A JP2001237337A (en) | 2000-02-23 | 2000-02-23 | Plastic package and manufacturing method thereof |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000045940A JP2001237337A (en) | 2000-02-23 | 2000-02-23 | Plastic package and manufacturing method thereof |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001237337A true JP2001237337A (en) | 2001-08-31 |
Family
ID=18568448
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000045940A Pending JP2001237337A (en) | 2000-02-23 | 2000-02-23 | Plastic package and manufacturing method thereof |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001237337A (en) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7566969B2 (en) | 2005-01-05 | 2009-07-28 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device with improved arrangement of a through-hole in a wiring substrate |
| KR20160039752A (en) * | 2014-10-01 | 2016-04-12 | 주식회사 네패스 | Semiconductor package and method of manufacturing the same |
| WO2017135624A1 (en) * | 2016-02-04 | 2017-08-10 | 주식회사 네패스 | Sensor package and method for preparing same |
| US9735090B2 (en) | 2014-10-06 | 2017-08-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Integrated circuit devices having through-silicon vias and methods of manufacturing such devices |
-
2000
- 2000-02-23 JP JP2000045940A patent/JP2001237337A/en active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7566969B2 (en) | 2005-01-05 | 2009-07-28 | Renesas Technology Corp. | Semiconductor device with improved arrangement of a through-hole in a wiring substrate |
| KR20160039752A (en) * | 2014-10-01 | 2016-04-12 | 주식회사 네패스 | Semiconductor package and method of manufacturing the same |
| KR101634067B1 (en) * | 2014-10-01 | 2016-06-30 | 주식회사 네패스 | Semiconductor package and method of manufacturing the same |
| US9653397B2 (en) | 2014-10-01 | 2017-05-16 | Nepes Co., Ltd. | Semiconductor package and method of manufacturing the same |
| US9735090B2 (en) | 2014-10-06 | 2017-08-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Integrated circuit devices having through-silicon vias and methods of manufacturing such devices |
| WO2017135624A1 (en) * | 2016-02-04 | 2017-08-10 | 주식회사 네패스 | Sensor package and method for preparing same |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5081562A (en) | Circuit board with high heat dissipations characteristic | |
| US20040173375A1 (en) | Package substrate manufactured using electrolytic leadless plating process, and method for manufacturing the same | |
| JP2004193549A (en) | Package substrate plated without plating drop-in wire and method of manufacturing the same | |
| JP2004207745A (en) | Ball grid array substrate and manufacturing method thereof | |
| JP4282777B2 (en) | Semiconductor device substrate and semiconductor device manufacturing method | |
| JP2004095972A (en) | Manufacturing method for plastic package | |
| JP3855320B2 (en) | Semiconductor device substrate manufacturing method and semiconductor device manufacturing method | |
| CN101192550A (en) | Semiconductor package and fabrication method thereof | |
| CN108878373A (en) | The manufacturing method of circuit board, circuit board | |
| JP2001237337A (en) | Plastic package and manufacturing method thereof | |
| JP2002198461A (en) | Plastic package and manufacturing method thereof | |
| JP2001298117A (en) | Manufacturing method of plastic package | |
| JP2004165238A (en) | Plastic package and its manufacturing method | |
| JP2000114412A (en) | Circuit board manufacturing method | |
| JP2002270714A (en) | Manufacturing method for plastic package | |
| JP2003224230A (en) | Plastic package and manufacturing method thereof | |
| JP2005079129A (en) | Plastic package and manufacturing method thereof | |
| JP2001230507A (en) | Plastic package and its manufacturing method | |
| JP2001250877A (en) | Manufacturing method of plastic package | |
| JP2004349414A (en) | Circuit board and its manufacturing method | |
| JPH1074859A (en) | QFN semiconductor package | |
| JPH08139225A (en) | Semiconductor package and manufacturing method thereof | |
| KR100688697B1 (en) | Manufacturing Method of Package Substrate | |
| JP3777687B2 (en) | Chip carrier | |
| JPH08330472A (en) | Semiconductor device and manufacturing method thereof |