JP2001215186A - 光ファイバ及びその製造方法 - Google Patents
光ファイバ及びその製造方法Info
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Abstract
がなく、検出効率が高い光ファイバを提供する。 【解決手段】 光を伝搬させるコア12と、このコアを
覆ってコア内を伝搬する光を遮光するクラッド13とか
らなる光ファイバである。この光ファイバは、コア12
の一端を先細り状に先鋭化した先鋭部14と、この先鋭
部14の表面に形成された遮光性の被覆層15と、先鋭
部の先端か遮光性の被覆層15から露出した開口部16
とを有する。この光ファイバでは、遮光性の被覆層15
か開口部以外に照射される光を遮断する遮断部として機
能し、開口部16からのみ光を入出力する。
Description
アと、このコアを覆ってコア内を伝搬する光を遮光する
クラッドとからなり、光を入出力するための先鏡部を有
する光ファイバ及びその製造方法に関する。
い領域に局在するエバネッセント光を検出して物体の形
状を測定するフォトン走査型顕微鏡は、従来の光学顕微
鏡の回折限界を超えた分解能をもつ超高分解能光学顕微
鏡として知られている。
試料1の裏面から試料表面を照射すると試料表面には表
面形状に応じてエバネッセント光の場が発生する。
示すよるに、エバネッセント光の波長程度以下の開口を
もつ検出端部2を形成した光プローブ3でこのエバネッ
セント場の強度を測定することにより、従来の光学顕微
鏡の回折限界を超えた分解能を得ることかできる。
ン走査型顕微鏡の分解能は、光プローブの実効的な開口
径によって決定される。一方、エバネッセント光の強度
は、試料表面からの距離とともに指数関数的に減少する
ことから、光プローブは、単に先端を鋭くするだけでも
等価的に開口径を小さくすることができる。したがっ
て、フォトン走査型顕微鏡の分解能を向上させるために
は、光プローブの先端を鋭くすることが重要である。
ローブは、クラッド径D(90μm程度)が検出端部2
の長さL(2〜6μm程度)よりもずっと大きいので、
クラッドの周端部4が試料1の表面に衝突して、試料あ
るいは光プローブ5自体を破損する虞れがあった。
課題を解法するための光ファイバを提案し、先に特願平
5−291829号、特願平6−53626号、特願平
6−55697号、PCT/JP 94/00906と
して出願している。これらの出願では、光ファイバの一
端のクラッドから突出したコアを先端先細り状に先鋭化
した検出端部の基端にクラッドの径を径小とした径小部
を形成し、あるいは検出端部とクラッドを共に先端先細
り状に先鋭化してクラッドの周端部が試料表面に衝突す
ることを防止している。
は、エバネッセント光の強度が極めて小さいので、散乱
光の影響を避け、エバネッセント光の検出効率を高くす
る必要がある。例えば光プローブの検出端部の表面に遮
光性の被覆層を形成し、該被覆層の先端に検出光の波長
程度以下の微小な開口を形成し、検出するエバネッセン
ト光を開口からのみ入射させることにより、開口以外の
領域に照射される散乱光等を遮光し、散乱光等の影響を
低減させることが考えられる。
は、検出効率を向上させるために、真空中で光ファイバ
を、その中心軸を中心として回転させ、検出端部の側方
あるいは後方から遮光性の物質の蒸気を供給することに
より、検出端部の表面に、遮光性の被覆層を形成すると
ともに、検出端部の先端が遮光性の被覆層から露出した
開口部を形成するようになっている。
成し、なおかつ、波長程度以下の微小な開口を再現性よ
く形成することか困難である問題があった。
に応じて光学特性か変化する機能性物質、例えば蛍光
体、試薬等を付着させた光ファイバセンサか知られてい
る。このような光ファイバセンサは、例えば図3に示す
ように、光ファイバの一端にコアを先鋭化した先鋭部6
を形成し、該先鋭部6の表面に遮光性の被覆層7を形成
し、先鋭部6の先端が遮光性の被覆層7から鍵出した開
口部に蛍光体、試薬等の機能性物質8を付着させて形成
されている(eds.W.Pohl&D.Courjon:Near Field opti
cs(Book)1993,17-24)。
部6の先端の機能性物質8は、例えば周囲の光強度、p
H等の環境に応じて光学特性が変化し、例えば発光ある
いは吸光スペクトル等が変化する。そして、このような
光学特性の変化を、先鋭部6の他端において検出するこ
とにより、先鋭部6の周囲の環境を検出するようになっ
ている。このような光ファイバセンサ5では、先鋭部6
の先端に付着させる機能性物質8のサイズを小さくする
ことかでき、従来の電気的センサと比較して検出の空間
解像度を向上させ、また、応答時間を高速化することか
できる。
サでは、機能性物質を、剥離強度が高い状態で光ファイ
バの先端に付着させることが困難であるため、耐久性を
向上させることが困難であった。
解決するために、クラッドの周端部か試料表面に衝突す
ることがなく、検出効率が高い光ファイバを提供するこ
とにある。
表面に衝突することがなく、検出効率か高い光ファイバ
を容易に形成することができる光ファイバの製造方法を
提供することを目的とする。
させ、耐久性の高い光ファイバを提供することを目的と
する。
解決するために提案されたものであって、本発明の光フ
ァイバは、光を伝搬させるコアと、このコアを覆ってコ
ア内を伝搬する光を遮光するクラッドとからなる光ファ
イバの一端にクラッドの外周からコアの中心にかけて先
鋭化した先鋭部を有し、先鋭部の表面に遮光性の被覆層
を有し、先鋭部の先端か遮光性の被覆層から露出した開
口部を有する。
を伝搬する光を集光する集光部として機能し、遮光性の
被覆層が開口部以外からの光を遮断する遮光部として機
能する。そして、開口部から光を入出力するようになっ
ている。
を伝搬させるコアと、このコアを覆ってコア内を伝搬す
る光を遮光するクラッドとからなる光ファイバの一端
に、クラッドを肉薄とした径小部を有し、該径小部の先
端から突出したコアを先細り状に先鋭化した先鋭部を有
し、該先鋭部の表面に遮光性の被覆層を有し、先鋭部の
先端が遮光性の被覆層から露出した検出光の波長程度以
下の開口部を有することを特徴とするものである。
する光を集光する集光部として機能し、遮光性の被覆層
か遮光部として機能する。このため、コア中を伝搬する
光を集光して開口部から効率よく出射することかでき
る。
被覆層か開口部以外に照射された光を遮光する遮光部と
して機能し、先鋭部か開口部から入射した光をコア中に
導く結合部として機能する。この光ファイバは、例えば
物質の表面の光の波長より小さい領域に局在するエバネ
ッセント光を検出するフォトン走査型顕微鏡等におい
て、物質表面に近接させてエバネッセント光を散乱させ
て検出する光プローブとして使用される。
を物質表面に近接させて使用され、遮光性の被覆層から
露出した先鋭部の先端で、物質表面のエバネッセント光
を数乱させてコアに導く。また、この光ファイバの開口
部以外に照射される検出光は、遮光性の被覆層によって
遮断される。このため、この光ファイバは、先鋭部の先
鋭角か小さく、また開口部からのみ検出光を検出するこ
とができるので検出効率の高い光プローブとなる。
は、クラッドの先端から突出したコアが先鋭化された先
鋭部を有し、先鋭部の表面に遮光性の被覆層を有し、該
遮光性の被覆層から先鋭部の先端が露出するとともに、
遮光性の被覆層に対して先鋭部の先端が陥没したピット
を有する。また、このピットに蛍光体あるいは試薬等の
周囲の環境に応じて光学特性が変化する機能性物質を付
設している。
能性物質が周囲の環境に反応して、光学特性が変化す
る。この光学特性の変化は、光ファイバの他端において
検出することかできる。このため、測定の空間解像度を
向上させた検出を行うことかできる。また、このような
機能性物質は、遮光性の被覆層の先端より陥没したピッ
ト内部に付着されているため、光ファイバの先端が被測
定物に衝突した場合等において、色素か直接被測定物に
衝突せずに保護される。このため、耐久性を向上させる
ことができる。
造する本発明の光ファイバの製造は、コアの先端を先鋭
化して先鋭部を形成し、先鋭部の表面に遮光性の被覆層
を形成し、遮光性の被覆層をエッチングして先鋭部の先
端が遮光性の被覆層から露出した開口部を形成すること
を特徴とするものである。
被覆層の先端に、先鋭部の先端か遮光性の被覆層から完
全に露出した開口部を容易に形成することかてき、検出
効率か高い光ファイバを容易に形成することができる。
造する本発明の他の光ファイバの製造方法は、酸化ゲル
マニウムを添加した石英からなり光を伝搬させるコアと
石英からなりコアを覆ってコア内を伝搬する光を遮光す
るクラッドより構成される光ファイバの一端をフッ化ア
ンモニウム水溶液、フッ酸及び水からなるエッチング液
でエッチングすることにより石英クラッドを肉薄として
径小部を形成する第1エッチング工程と、径小部の先端
をフッ化アンモニウム水溶液、フッ酸及び水からなるエ
ッチング液でエッチングすることによりコアを突出させ
た突出部を形成するとともに、該突出部の先端を先細り
状に先鋭化して先鋭部を形成する第2エッチング工程
と、突出部の表面に遮光性の被覆層を形成する第1コー
ティング工程と、遮光性の被覆層の先端以外の部分の表
面に耐腐食性の被覆層を形成する第2コーティング工程
と、突出部の遮光性の被覆層をエッチングして突出部の
先端か遮光性の被覆層から露出した開口部を形成する開
口工程とを有することを特徴とするものである。
被覆層の先端に、先鋭部の先端が遮光性の被覆層から露
出した開口部を容易に形成することかでき、検出効率か
高い光ファイバを容易に形成することができる。
て図面を参照して詳細に説明する。
有し、このコアを覆ってクラッドか設けられて、長尺状
の線状体として形成されている。そして、光ファイバの
一端にコアの先端を先鋭化した先鋭部か設けられてお
り、先鋭部の表面に遮光性の被覆層を有し、先鋭部の先
端が遮光性の被覆層から露出した開口部を有している、
この光ファイバでは、遮光性の被覆層か開口部以外に照
射される光を遮断する遮断部として機能し、開口部から
のみ光を入出力するようになっている。
との境界で反射を繰り返してコア内を伝搬し、上記先鋭
部において集光されて、開口部から外部に照射される。
また、開口部から先鋭部に入射した光は先鋭部を介して
コア中に導かれ、コア中を伝搬する。この伝搬光は、光
ファイバの他端において検出される。
例えば図4に示すよるに、コア12径がdcでクラッド
13径がd0の光ファイバ11の一端にクラッド13の
外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化した先
端角がθ1である先鋭部14を有している。そして、こ
の光ファイバ10は、先鋭部14の表面に遮光性の被覆
層15を有し、先鋭部14の先端が遮光性の被覆層15
から露出した開口部16を有する。
4μmで、クラッド13径doは125μmで、コア1
2は、酸化ゲルマニウムGeO2を添加した石英SiO
2からなり、クラッド13は、石英SiO2からなる。
上記先鋭部14の先鋭角θ1は、例えば20度乃至25
度程度となっている。また、遮光性の被覆層15は、例
えば金、銀、アルミニウム等の遮光性に優れた物質から
なり、図5に先鋭部14の先端の拡大図を示すように、
100nm程度の厚さで形成されている。また、上記開
口部16の直径は、30nmとなっており、検出光の波
長より小さくなっている。また、先鋭部14の先端の曲
率半径は、5nm以下(すなわち、先鋭部14の先端の
直径が10nm以下)となっている。
ばエバネッセント光を検出して物体の形状を測定するフ
ォトン走査型顕微鏡においてエバネッセント光を検出す
る光プローブとして使用される。このフォトン走査型顕
微鏡では、先鋭部14を物質表面に近接させた状態で、
光ファイバ10で物質表面上を走査する。物質表面付近
に存在するエバネッセント光は、先鋭部14の先端で数
乱され、先鋭部14を介してコア12中に導かれる。そ
して、このフォトン走査型顕微鏡は、コア12に導かれ
た光を先鋭部14の他端において検出する。
表面からの距離に応じて減衰するため、先鋭部14の先
端で散乱されるエバネッセント光の強度は、物質表面と
先鋭部14の先端との距離に応じて変化する。したがっ
て、上記走査に応じたエバネッセント光の検出出力の強
度分布を求めることにより、物質表面の形状を測定する
ことかできる。
層15が光を遮る遮光部として機能するため、開口部1
6以外に照射される光がコア12に入射することを防止
できる。このため、先鋭部14の先端の開口部16から
開口部16の大きさに近い波長の検出光を選択的に取り
込むことかできる。これにより、散乱光の影響を減少さ
せて検出効率を高くすることかでき、強度か極めて弱い
エバネッセント光を確実に検出することかできる。
3の外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化し
た先鋭部14を設けているため、光ファイバ10により
試料表面上を走査する際に、クラッド13の終端部が試
料表面に衝突することなく、試料表面あるいは光ファイ
バ10を損傷することを防止することかできる。
は、図6に示すように、上述の第1実施例の光ファイバ
10と同様に、光ファイバ11の一端にクラッド13の
外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化した先
鋭部24を有している。そして、この光ファイバ20
は、先鋭部24の表面に遮光性の被覆層25を有し、遮
光性の被覆層25の表面の先端以外の部分に耐腐食性の
被覆層26を有し、先鋭部24の先端か遮光性の被覆層
25及び耐腐食性の被覆層26から露出した開口部27
を有する。
鋭部24の先端の拡大図を示すよるに、5nm以下であ
る。遮光性の被覆層25は、例えばアルミニウム等から
なり、800nm程度の厚さで形成されている。耐腐食
性の被覆層26は、例えば金などからなり、80nm程
度の厚さで形成されている。また、上記開口部27の直
径は、例えば40nmとなっている。
の第1実施例の光ファイバ10と同様に、フォトン走査
トンネル顕微鏡においてエバネッセント光を検出する光
プローブとして使用される。上記遮光性の被覆層25を
構成するアルミニウムは、遮光性か高く、さらに導電性
か高いため、外乱によるノイズに影響されずに測定を行
うことかできる。また、アルミニウムは、安価に入手で
きるため、遮光性の被覆層25として適当であるが、使
用遮光性の被覆層25として使用することかできる材質
は、アルミニウムだけでなく、遮光性が高く、導電性が
高い材質であれば、金、銀、白金等でもよい。
すように、光ファイバ11の先端に円錐状の先鋭部33
を有し、光ファイバ11の基端にクラッド13が先細り
状とされた先細り部34を有し、上記先鋭部33と先細
り部34との間にクラッド13径がd1(dc<d1<
d0)とされた径小部35を有する。
うに長さL0の径小部35のクラッド13の径が細くな
っているため、わずかな力によっても光ファイバ30の
径方向にたわむようになっている。
例えば物質を構成する原子間に働く力を検出する原子間
力顕微鏡において原子間力を測定するプローブとして使
用し、共振周波数で共振させた状態で、物質表面に近接
させ、原子間力による振幅の変化を測定すれば、検出感
度の高い原子間力の検出を行うことができる。
のフォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブしても用い
ることができる。この場合、光ファイバ30の一端から
の検出光を上述のフォトン走査トンネル顕微鏡の検出部
に供給することにより、上述の原子間力の検出と、エバ
ネッセント光の検出を同時に行うことができる。
に示すように、上述の第3実施例の光ファイバ30と同
様に、光ファイバ11の先端に円錐状の先鋭部43を有
し、光ファイバ11の基端にクラッド13が先細り状と
された先細り部44を有し、上記先鋭部43と先細り部
44との間にクラッド13径がd1(dc<d1<d
0)とされた径小部45を有する。また、この光ファイ
バ40は、上記先鋭部43の表面に遮光性の被覆層46
を有し、該遮光性の被覆層47の先端に、コア12の先
端が露出した開口部47を有する。
に示す光ファイバ30と同様に原子間力顕微鏡において
原子間力を測定するプローブとして使用することがで
き、光ファイバ40の一端からの検出光を上述のフォト
ン走査トンネル顕微鏡の検出部に供給することにより、
原子間力の測定と同時にエバネッセント光の測定を行う
光プローブとして使用することができる。この場合、遮
光性の被覆層47が、開口部47以外からコア12に入
射する光を遮断する遮光部として機能するため、エバネ
ッセント光の検出感度を向上させることができる。
は、例えば図10に示すように、上記第1及び第2実施
例の光ファイバと同様に、光ファイバ11の一端にクラ
ッド13を先細り状に先鋭化した先鋭部51を有し、こ
の先鋭部51の先端から突出したコア12を先鋭化した
突出部52を有し、突出部52の表面に遮光性の被覆層
53を有し、突出部52の先端が遮光性の被覆層53か
ら露出した開口部54を有する。
は、上記図4及び図6に示すように、コア12の先鋭角
θ1が、クラッド13の先鋭角θ2とほほ等しくなって
いるが、この光ファイバ50では、コア12の先鋭角θ
1か、クラッド13の先鋭角θ2より小さくなってい
る。
フォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブとして用いる
ことができる。この光ファイバ50では、遮光性の被覆
層53を設けているため、開口部54からのみ検出光を
入射させることができ、検出効率を向上させることがで
きる。
は、例えば図11に示すように、上記第1及び第2実施
例の光ファイバと同様に、光ファイバ11の一端にクラ
ッド13を先細り状に先鋭化した先鋭部51を有し、こ
の先鋭部15の先端から突出したコア12を先鋭化した
突出部52を有し、突出部52の表面に遮光性の被覆層
53を有し、突出部52の先端か遮光性の被覆層53か
ら露出した開口部54を有する。
記図10に示すように、コア12の先鋭角θ1か、クラ
ッド13の先鋭角θ2より小さくなっているが、この光
ファイバ55では、コア12の先鋭角θ1が、クラッド
13の先鋭角θ2より大きくなっている。
第5実施例の光ファイバ50と同様に、フォトン走査ト
ンネル顕微鏡の光プローブとして用いることができる。
この光ファイバ55では、遮光性の被覆層53を設けて
いるため、開口部54からのみ検出光を入射させること
ができ、検出効率を向上させることができる。
コア12径が光の波長程度以下となると、コア12中に
閉じこめておくことかてきなくなる。このため、このよ
うな光ファイバの表面に導電性の被覆層が形成されてい
ると、コア12から洩れ出た光が導電性の被覆層によっ
て吸収されてしまい、伝搬効率か低下する。
コア12の先鋭角θ1が、クラッド13の先鋭角θ2よ
り大きくなっているために、突出部52のコア12の径
が検出光の波長程度以下になる位置から、突出部の先端
までの距離が短くなっている。このため、この光ファイ
バ55では、突出部52での光の吸収を低減させること
ができ、光の伝搬効率を向上させて、光検出効率を向上
させることができる。
は、例えば図12に示すように、光ファイバ11の一端
にクラッド13を径小とした径小部64を有し、この径
小部64の先端にコア12を先鋭化した突出部65を有
する。そして、この光ファイバ60は、上記突出部65
の表面に金等からなる遮光性の被覆層66を有し、該遮
光性の被覆層66の先端以外の表面に合成樹脂等からな
る耐腐食性の被覆層67を形成した後、上記遮光性の被
覆層66をエッチングすることにより形成され、上記突
出部65の先端か遮光性の被覆層66から露出した開口
部68を有する。
トン走査型トンネル顕微鏡においてエバネッセント光を
検出する光プローブとして使用され、突出部65を物質
表面に近接させて突出部65でエバネッセント光を散乱
させ、この散乱した光をコア12に導いて検出するよう
になっている。この光ファイバ60では、遮光性の被覆
層66が光を遮る遮光部として機能し、突出部65の先
端の開口部68が検出光を散乱させて突出部65に導く
検出部として機能し、開口部68から検出光を選択的に
取り込むことができる。そして、突出部65に取り込ま
れた検出光は、突出部65からコア12に導かれる。
部68以外から散乱光がコア12に入射されることがな
く、散乱光の影響をなくして検出効率を高くすることが
でき、パワーが極めて小さいエバネッセント光を確実に
検出することができる。
うに光ファイバ11の一端に径小部64を形成し、径小
部64の先端に突出部65を形成したため、該径小部6
4が突出部65を延長する延長部材として機能する。こ
のため、フォトン走査トンネル顕微鏡において試料表面
を走査させたときに、クラッド13の周端部が試料表面
に衝突することがなく、試料表面又は光ファイバ60の
先端を損傷することを防止することができる。
の径d2を径小部64の長さに対して小さく設定したた
め、わずかな外力によっても光ファイバ11の径方向に
たわむよるになる。
60を、例えば物質を構成する原子間に働く力を検出す
る原子間力顕微鏡において原子間力を測定するプローブ
として使用すれば、検出感度の高い原子間力の検出を行
うことができる。この場合、光ファイバ60の一端を上
述のフォトン走査トンネル顕微鏡の検出部に供給するこ
とにより、原子間力の測定と同時にエバネッセントの測
定を行うことができる。
いはネオジウムNd3+等を添加することができる。こ
のような組成とすることにより、エルピウムEr3 ある
いはネオジウムNd3+等によってコア12中を伝搬す
る光を増幅させることができ、コア12自体に光増幅機
能を持たせることができる。
せた光ファイバを用いて構成した光ファイバを上述のフ
ォトン走査トンネル顕微鏡等に使用した場合には、開口
部68から入射した検出光をコア12内で増幅すること
ができ、光検出感度を飛躍的に向上させることができ、
感度の高い光検出を行うことができる。
iO2からなるコア12と、フッ素Fを添加した石英S
iO2からなるクラッド13を有するシングルモードフ
ァイバを用いて形成してもよい。
は、例えば図13に示すように、コア12とクラッド1
3からなる光ファイバ11の一端にクラッド13が先細
り形状に形成されたテーパー部71を有し、テーパー部
71の先端にクラッドが平坦とされた平坦部74を有
し、円錐形状に先鋭化されたコア12が平坦部74から
突出した突出部75を有する。また、この光ファイバ7
0は、突出部75の表面に遮光性の被覆層76及び耐腐
食性の被覆層77を有し、突出部75の先端が遮光性の
被覆層76及び耐腐食性の被覆層77から露出した開口
部78を有している。
部75の基端にクラッド13が先細り状とされたテーパ
ー部71が形成されているために、突出部75の基端の
強度を高くすることができ、上述のフォトン走査トンネ
ル顕微鏡に使用した場合に、試料表面に衝突したときな
どに破壊されにくく、耐久性を向上させることができ
る。
は、例えば図14に示すように、第7実施例の光ファイ
バ60と同様に、光ファイバ11の一端にクラッド13
を径小とした径小部84を有し、この径小部84の先端
にコア12を先鋭化した突出部85を有する。そして、
この光ファイバ80は、上記突出部85の表面に金等か
らなる遮光性の被覆層86を有し、突出部85の先端が
遮光性の被覆層86から露出した開口部87を有する。
表面に感光体層を形成した後、エバネッセント光により
該感光体層の先端のみを選択的に露光し、露光した感光
体層を除去して感光体層の先端に露出部を形成した後、
露出部より露出した遮光性の被覆層86をエッチングす
ることにより形成されている。このため、この開口部8
7は、例えば図15に示すように、50nm程度の極め
て小さい径を有する開口となっている。
7実施例の光ファイバ60と同様に、フォトン走査型ト
ンネル顕微鏡においてエバネッセント光を検出する光プ
ローブとして使用され、突出部85の先端の開口部87
か検出光を散乱させて突出部85に導く検出部として機
能し、開口部87から検出光を選択的に取り込むことか
できるため、散乱光の影響をなくして検出効率を高くす
ることかでき、パワーが極めて小さいエバネッセント光
を確実に検出することができる。
と同様に試料表面又は光ファイバ60の先端を損傷する
ことを防止することかできる。
は、例えば図16に示すように、上述の第7及び第9実
施例の光ファイバ60、70と同様に、クラッド13径
を径小とした径小部94と、コア12を先鋭化した突出
部95と、突出部95の表面に形成された遮光性の被覆
層96とを有する。
覆層96の先端部か除去された開口部91と、開口部9
1の遮光性の被覆層96の先端に対して突出部95の先
端か陥没したピット93を有する。このピットの径93
は、50nm程度となっており、このピット93の中に
色素あるいは試薬などの周囲の環境に応じて光学特性が
変化する物質92を有する。
ト93に上記物質92として色素あるいは蛍光体等を付
着させておき、ピット93の反対側のコア12にレーザ
光等の光を入射すると、コア12を伝搬した光か突出部
95により集光されてピット93中の色素あるいは蛍光
体等を発光させる。そして、この発光によりピット93
外の被測定物等を照射することにより、微小な光源とし
て機能する。
は、ビット93に色素あるいは試薬等の周囲の環境に応
じて光学特性か変化する物質92を付着させることによ
り、例えば発光、pH、特定の物質等のピット93の周
囲の環境に応じて物質92の光学特性が変化する。この
物質92の光学特性の変化をコア12を介して伝搬され
る光によってビット93の反対側で検出することによ
り、ピット93の周囲の環境を検出する光ファイバセン
サとして機能する。
スペクトルか変化するフルオレセイナミン(fluorescei
namine)等の色素を使用すると、この光ファイバはpH
を検出するpHセンサとして機能する。すなわち、この
ような光ファイバ90は、上述のように開口部91の径
か50nm程度であるため、空間解像度を向上させたp
Hセンサとして使用することかできる。
囲の環境を検出するための物質92がピット93の内部
に形成されているため、光ファイバの先端が被測定物に
衝突したときでも、上記物92か遮光性の被覆層96の
先端によって保護されているため剥離しにくい。このた
め、このような光ファイバ90は、色素などの検出部の
剥離強度を向上させて耐久性を向上させることができ
る。
は、例えば図17に示すよるに、コア12と、クラッド
13を共に先細り状に先鋭化した先鋭部104を有し、
先鋭部104の先端のクラッド13から突出したコア1
2か円錐状に先鋭化された突出部105を有する。この
突出部105の基端の径は、100nm程度となってい
る。上記コア12は、酸化ゲルマニウムGeO2を高鍵
度に添加した石英SiO2からなり、クラッド13は、
石英SiO2からなる。
光ファイバ11中を伝搬する光は、コア12径が徐々に
減少すると、光か伝搬する領域の径か減少してパワー密
度か増加する。したがって、コア12径を徐々に減少さ
せることにより、コア12中を伝搬する光を集光させる
ことができる。
以下になると、コア12とクラッド13の境界を越えて
クラッドモードて伝搬するため、伝搬光の強度が減少す
る。このため、コア12径か波長程度以下となる位置か
らコア12の先端までの距離を短くして光の減衰を低減
させることが望ましい。
突出部105の基端の径が100nm程度と、検出光の
波長程度以下となっているため、コア12中を伝搬する
光がクラッド13中に伝搬せず、光の減衰を低減するこ
とかできる。
は、例えば図18に示すうるに、コア12と、クラッド
13か共に先細り状に先鋭化した先鋭部114を有し、
先鋭部114のクラッド13の先端から円錐状に先鋭化
したコア12が突出した突出部115を有し、該突出部
115の表面に遮光性の被覆層116を有し、該被覆層
116の先端から突出部115の先端が露出した開口部
117を有する。該開口部117の直径は、30nm程
度と検出光の波長より小さくなっている。
述のフォトン走査トンネル顕微鏡においてエバネッセン
ト光を検出する光ファイバとして使用される。
ム120上の試料121の裏面からレーザ光を、該プリ
ズム120の全反射角で入射させる。このとき、レーザ
光はプリズム120表面で反射されるか、プリズム12
0表面には、物質表面の光の波長程度以下の領域を伝搬
するエバネッセント光が発生する。このエバネッセント
光は、試料121を介して伝搬し、試料121表面の光
の波長程度以下の領域にエバネッセント光の場が発生す
る。
度以下の距離の位置に、上記光ファイバ110の先端の
開口部117を近接させると、開口部117の先端でエ
バネッセント光が散乱されてコア12中に入射する。そ
して、コア12中に入射した光はコア12中を伝搬し、
開口部117の他端に設けられている受光部122に入
射する。
層116を設けているために開口部117以外からは、
光ファイバ11中にエバネッセント光が入射しない。こ
のため、検出感度及び空間解像度を向上させることがで
きる。
フォトン走査顕微鏡のコレクションモードの動作と呼ば
れる。これに対し、フォトン走査トンネル顕微鏡のイル
ミネーションモードの動作では、図20に示すように、
開口部117の他端からコア12中にレーザ光を入射さ
せる。そして、上述の図17に示す光ファイバ100と
同様に、先鋭部114でコア12中の光が集光される。
先鋭部114で集光された光は、開口部117の径が光
の波長程度以下となっているため、開口部117からエ
バネッセント光として試料121表面に照射される。そ
して、エバネッセント光により試料121を照射し、透
過光をレンズ123により集光して受光部124で受光
する。
示す光ファイバ100と同様に、先鋭部114でコア1
2の伝搬光を集光させるため、開口部117から試料1
21表面に照射される光の強度を増加させることができ
る。
出射する光は遮光性の被覆層116により遮断されるた
め、開口部117からのみ試料121表面に検出光を照
射させることができる。このため、このような光ファイ
バ110をフォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブと
して用いることにより、測定の検出感度及び空間解像度
を向上させることができる。
は、例えば図21に示すように、光ファイバ11の一端
に、クラッド13径を肉薄とした径小部126を有し、
該径小部123の先端から露出したコア12を先鋭化し
た突出部125を有し、該突出部124の表面に遮光性
の被覆層126を有し、突出部125の先端が遮光性の
被覆層126から露出した開口部127を有する。
は、突出部125の先端ほど小さくなっている。突出部
125の長さLと突出部125の先端の先鋭角θは、例
えば図74に示すように、それぞれ2.1μmと28度
程度となっている。あるいは、この長さLと先鋭角θ
は、例えば図75に示すように、それぞれ1.52μm
と36.5度程度となっている。
突出部125の長さが小さくなっているために、開口部
127から入射した光が突出部125と遮光性の被覆層
126の境界で反射する際の遮光他の被覆層126によ
る吸収を低減させて、損失を低下させることができる。
このため、このような光ファイバ120を上述のフォト
ン走査トンネル顕微鏡の光プローブとして用いた場合
に、検出効率を向上させることができる。
は、例えは図22に示すように、クラッド133の一端
から突出したコア132が円錐状に先鋭化した突出部1
34を有し、該突出部134の表面に遮光性の被覆層1
35を有し、突出部134の先端か遮光性の被覆層13
5から露出した開口部136を有する。
示すように、マルチモードファイバから構成されてお
り、コア132のクラッド133に対する比屈折率差△
nが1%で、屈折率が徐々に変化するグレーデッドイン
デックス型の屈折率分布を有する。また、上記突出部1
34の先鋭角は、50°程度で、その先端の曲率半径
は、例えば図24に示すように、5nm程度となってい
る。
バ60において、例えば図25に示すように、開口部6
8から突出部65に入射した検出光は、1つの伝搬モー
ドでコア12中を伝搬する。このとき、突出部65に入
射した光は必ずしも効率よく1つの伝搬モードに結合で
きるわけではなく、損失を生じる。
13Oでは、マルチモードファイバを用いており、複数
の伝搬モードの光を伝搬することかできるため、例えば
図26に示すように、開口部136からコア132とク
ラッド133との境界での反射の臨界角以内で突出部1
34に入射した光であれば、伝搬することかできる。こ
れにより、結合効率を向上させて検出光のピックアップ
効率を向上させることができる。
同様に、突出部135の基端のクラッド133を径小と
した径小部を設けてもよい。この場合、上述のフォトン
走査トンネル顕微鏡に用いた場合に、クラッド133が
試料表面に衝突することを防止することができる。
は、例えば図27に示すように、コア12中の添加物質
(ドーパント)を徐々にクラッド13中に拡散させ、等
価的にコア12径を徐々に増加させたコア径増加部14
4を有する。そして、この光ファイバ14Oは、コア径
増加部144の先端に、クラッド13から突出したコア
12を円錐状に先鋭化した突出部145を有し、該突出
部145の表面に遮光性の被覆層146を有し、突出部
145の先端が遮光性の被覆層146から露出した開口
部147を有する。
コア径増加部144及び突出部145がマルチモードフ
ァイバと同様の屈折率分布を有する。このため、上述の
図22に示す光ファイバ130と同様に臨界角を大きく
することができ、検出光のピックアップ効率を向上させ
ることができる。
は、例えば図28に示すように、上述の図14に示す第
9実施例の光ファイバ80と同様に、径小部154と、
突出部155と、合成樹脂等からなる疎水性の被覆層1
56を有する。また、この光ファイバ150は、突出部
155の先端が疎水性の被覆層156から露出した開口
部の表面に、色素を添加した石英等の被覆層157を有
する。この被覆層157は、図29に示すように、突出
部155の表面に40nm程度の厚さで形成されてい
る。
覆層157中の色素が被覆層157に入射した光に応じ
て発光し、この光が突出部155を介してコア12に入
射するため、光を検出する検出部として機能する。この
ような光ファイバ150では、突出部155の先端の表
面に色素を添加した石英等を付着させて被覆層157を
形成しているため、単に突出部155の先端の表面に色
素を付着させた場合に比して色素の剥離強度が高くなっ
ている。このため、耐久性の高い光ファイバ150とな
る。
述の色素の代わりに、pH等の周囲の環境に応じて光学
特性が変化する物質を上記被覆層157を構成する石英
等に添加することにより、被覆層157の周囲の環境を
検出する光ファイバセンサとして機能する。
は、例えば図30に示すように、上述の図28に示す第
16実施例の光ファイバ150と同様に、径小部164
と、突出部165とを有する。また、この光ファイバ1
60は、突出部165の表面に遮光性の被覆層166を
有し、該遮光性の被覆層166の表面に合成樹脂等から
なる疎水性の被覆層167を有し、突出部165の先端
が遮光性の被覆層166、疎水性の被覆層167から露
出した開口部の表面に、色素等を添加した石英等の被覆
層158を有する。この被覆層158は、上述の図29
に示す光ファイバ150と同様に、突出部165の表面
に40nm程度の厚さで形成されている。
ファイバ150と同様に光を検出する検出部として機能
する。また、このような光ファイバ160では、遮光性
の被覆層166を形成しているため、光ファイバ160
の被覆層168以外に照射される光を遮断する遮光部と
して機能するため、外乱光の影響を低減させて検出効率
を向上させることができる。
は、例えば図31に示すように、屈折率の異なる2種類
のコア172、173とクラッド174を有するダブル
コアの光ファイバ171からなる。そして、この実施例
の光ファイバ170は、このような光ファイバ171の
一端にコア173がクラッド174から露出した露出部
175を有し、該露出部175の先端にコア173が先
端先細り状とされた先細り部176を有し、該先細り部
176の先端から突出したコア172が円錐状に先鋭化
された突出部177を有する。
が純石英からなり、コア172、173が酸化ゲルマニ
ウムを添加した石英からなる。そして、コア172、1
73の酸化ゲルマニウムの添加率は、それぞれ0.9モ
ル%、0.2モル%となっており、内側のコア172の
方が酸化ゲルマニウムの添加率が高くなっている。そし
て、先細り部176、突出部177の先鋭角は、それぞ
れ130°、62°となっている。
述の第1及び第2実施例の光ファイバ10、20と同様
に、フォトン走査トンネル顕微鏡においてエバネッセン
ト光を検出する光プローブとして機能し、クラッド17
4の周端部が試料表面に衝突することがなく、試料表面
あるいは光ファイバ170を損傷することを防止するこ
とができる。
は、コア172、173及びクラッド174の組成に応
じて、エッチング液の組成比を変更することにより、1
回のエッチングにより形成することができるため、容易
に製造することができる。
は、例えば図32に示すように、第18実施例の光ファ
イバ170と同様に、ダブルコアの光ファイバ171の
一端にコア173がクラッド174から露出した露出部
185を有し、該露出部185の先端にコア173が先
端先細り状とされた先細り部186を有し、該先細り部
186の先端から突出したコア172が円錐状に先鋭化
された突出部187を有する。また、この光ファイバ1
70は、上記突出部187の表面に遮光性の被覆層18
8を有し、突出部187の先端が遮光性の被覆層188
から露出した開口部189を有する。
述の第19実施例と同様に、フォトン走査顕微鏡におい
てエバネッセント光を検出する光プローブとして機能
し、クラッド174の周端部か試料表面に衝突すること
かなく、試料表面あるいは光ファイバ170を損傷する
ことを防止することかできる。
87の表面の遮光性の被覆層188か検出光を遮断する
遮光部として機能するため、開口部189からのみ検出
光を入射させることかでき、検出効率を向上させること
かできる。
は、例えば図33に示すように、光ファイバ11の一端
にクラッド13から突出したコア12を先鋭化した突出
部194を有し、該突出部194の先端に先鋭角を大き
くした検出端部195を有し、突出部194の表面に遮
光性の被覆層196を有し、検出請部195の先端か遮
光性の被覆層196から露出した開口部197を有して
いる。あるいは、図34に示すように、上記遮光性の被
覆層196を突出部194の表面の第1の被覆層198
と、検出端部195の表面の第2の被覆層199から構
成し、検出端部195の先端か第2の被覆層199から
露出した開口部197を有する構成としてもよい。上記
突出部194の先鋭角は20°程度であり、検出端部1
95の基端の直径は400〜600nm程度であり、検
出端部195の先鋭角は50°〜90°程度である。
形状の光ファイバ80において開口部87の直径を変化
させて、開口部87から入出力する検出光の伝達係数を
求めると、例えば図35に示すような関係になる。突出
部85の先鋭角が20°、50°の光ファイバ80につ
いてこのような関係を求めると、開口部87の直径がコ
ア12中の検出光の波長(λ/n、n:コア12の比屈
折率)程度以上の領域では、突出部85の先鋭角が20
゜、50゜の場合で伝達係数がほぼ等しいことがわか
る。
径がコア12中の検出光の波長程度以下となると、突出
部85の先鋭角が20°の場合の伝達係数が、先鋭角が
50°の場合の伝達係数より大幅に小さくなることがわ
かる。これは、突出部85の先鋭角が20°の場合で
は、先鋭角が50°の場合に比して突出部85の直径が
検出光の波長程度以下になる位置から突出部85の先端
までの距離が長くなり、先鋭部75の直径が検出光の波
長程度以下となる部分での光の損失が大きくなるためで
ある。
では、上述のように検出端部195の基端部の直径d1
を、検出光の波長である400nmより大きい600n
m程度とし、検出端部195の先鋭角を50゜〜90゜
程度とすることにより、突出部194の直径が検出光の
波長程度以下となる位置から検出端部195の先端まで
の距離を遠くしている。ここで、開口部197の直径d
3がそれぞれ200nm、250nmの場合の伝達係数
は、上記図35中に符号#1、#2で示すように、それ
ぞれ、10X1 0−3、9.0X10−4程度となっ
ている。このため、この光ファイバ190では、検出光
の減衰を低減させることができ、光検出感度を向上させ
てS/Nの高い測定を行うことができる。
ように突出部194の先鋭角を20°程度としているた
め、クラッド13の先端から検出端部195の先端まで
を隔離して、クラッド13の先端と、被検出物とが接触
することを防止することができる。
は、例えば図36に示すように、上述の図14に示す第
9実施例の光ファイバ80と同様に、径小部204と、
突出部205とを有する。また、この光ファイバ150
は、突出部205の表面にゲル層あるいは該ゲル層を加
熱して形成した非晶質層等からなる被覆層206を有
し、突出部205の先端か被覆層206から露出した開
口部207を有する。
部205中を伝搬する光は、コア12と被覆層206の
境界で反射されて開口部207から放射される。このた
め、被覆層206を設けない場合に比して、突出部の境
界での光の反射率を高くすることかでき、伝達効率を向
上させることかできる。
は、例えば図37に示すように、上述の図36に示す第
21実施例の光ファイバ200と同様に、径小部214
と、突出部215とを有する。また、この光ファイバ2
10は、突出部215の表面に石英等の非晶質の被覆層
216を有し、該非晶質の被覆層216の表面に遮光性
の被覆層217を有し、突出部215の先端か上記非晶
質の被覆層216及び遮光性の被覆層217から露出し
た開口部218を有する。
外に洩れた光は、金等の導電性の材質からなる遮光性の
被覆層217との境界で反射し、その一部か吸収され
る。突出部215内で、このような反射を繰り返すこと
により光の強度か減衰する。これに対し、この光ファイ
バ210では、突出部215の表面に非晶質の被覆層2
16を設けているため、突出部215の境界での光の反
射率を高くすることができるため、突出部215中を伝
搬する光か外に洩れにくい。これにより、この光ファイ
バ210では、被覆層216を設けない場合に比して、
突出部215の境界での光の吸収を低減させることかで
き、突出部215中を伝搬する光の減衰を低減させて光
の伝達効率を向上させることかできる。
イバは、上記先鋭部あるいは突出部かコア中を伝搬する
光を集光するレンズとして機能し、集光した光を開口部
から出力させて光導波路に入射する際等に使用され、光
結合効率の高い光学結合素子として機能する。
部あるいは突出部により集光した光を有機薄膜等に照射
することにより、記録用光源として機能し、有機薄膜等
に情報等を高密度に記録することかできる。
では、コアとクラッドからなる光ファイバの一端をエッ
チングしてコアの先端を先鋭化した先鋭部を形成し、先
鋭部の表面に遮光性の被覆層を形成し、遮光性の被覆層
をエッチングして先鋭部の先端か遮光性の被覆層から露
出した開口部を形成する。
製造方法は、クラッド径かd0でコア径かdcの光ファ
イバを出発材料として、図38に示す処理手順で上述の
図4に示す形状の光ファイバを製造する。
の一端をエッチングして、クラッドの外周からコアの中
心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成する先鋭化
工程と、先鋭部の表面に遮光性の素材をコーティングし
て遮光性の被覆層を形成するコーティング工程と、該コ
ーティング工程により形成された遮光性の被覆走路エッ
チングして、先鋭部の先端か露出した開口部を形成する
開口工程とからなる。
端にクラッドを先細り状としたテーパー部を形成する第
1エッチング工程と、コアがテーパー部のクラッドの先
端に対して窪んだ凹部を形成する第2エッチング工程
と、コアの先端とテーパー部の先端を面一とした平坦部
を形成する第3エッチング工程と、クラッドの外周から
コアの中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成す
る第4エッチング工程とからなる。
4エッチング工程について説明する。
コア12径dcが3.4μmでコア中の酸化ゲルマニウ
ムGeO2の添加率が25モル%である添加率が比較的
高い光ファイバを用いた場合について説明する。
8(A)に示す光ファイバ11の一端22Oをフッ酸と
フッ酸より比重の軽い液体、例えばスピンドルオイル、
シリコンオイル等との界面で、例えば室温の場合では、
22分から30分間程度エッチングする。
ァイバの一端22Oをエッチングすると、図39(A)
に示すように、フッ酸とオイルの表面張力によって光フ
ァイバ11の周囲の界面23Oが上昇し、メニスカスが
形成される。そして、このメニスカスの部分では、フッ
酸に接触しているクラッド13がエッチングされて円柱
状の形状を保ったままで径が減少する。このメニスカス
の高さHmは、同図(B)に示すように、光ファイバ1
1がエッチングされて、クラッド13の径が減少すると
高さが低くなる。したがって、クラッド13がすべてエ
ッチングされるまで、メニスカスの高さHmが減少し、
同図(C)に示すように、テーパー部221が形成され
る。
2がクラッド13から露出すると、フッ酸中のコア12
のエッチング速度がクラッド13に対して速いため、露
出したコア12が、すぐにエッチングされて、上記図3
8(B)に示すように、光ファイバ11の一端に円錐状
のテーパー部221が形成される。
鋭角θ2は、比重が0.833g/cm3のスピンドル
オイルを使用した場合は24度程度で、比重が0.93
5g/cm3のシリコンオイルを使用した場合は20度
程度となっている。この先鋭角θ2は、フッ酸とオイル
の比重、粘性等に応じて決定されるため、再現性が高く
なっている。
パー部221をフッ酸により、例えば2分から3分間程
度エッチングして、図38(C)に示すように、コア1
2がテーパー部221のクラッド13の先端に対して窪
んだ凹部222を形成する。上述のようにこの光ファイ
バ11は、コア12の酸化ゲルマニウムGeO2の添加
率が部いため、フッ酸中でのコア12のエッチング速度
がクラッド13に対して非常に速いため、テーパー部2
21の先端のコア12が、先にエッチングされ、コア1
2がテーパー部221のクラッド13の先端に対して窪
んだ凹部222が形成される。
グは、上記第1エッチングと連続して行ってもよい。す
なわち、第1エッチング工程が終了した後、光ファイバ
をフッ酸中にさらに突入して、所定時間分のエッチング
を行えばよい。
グを行う時間を、上述の2分から増加させると、クラッ
ド13の径が減少する。例えばクラッド13径が125
μmであった光ファイバに、このよるなエッチングを行
った後のクラッド13径は、図46中に四角形の記号で
示すよるに、エッチング時間の増加とともに減少する。
例えばエッチング時間を2分としたときに、エッチング
後のクラッド13径が70μmとなり、エッチング時間
を3分としたときに、エッチング後のクラッド13径が
50μmとなる。したがって、このエッチング時間を制
御することにより、エッチング後のクラッド13径を所
望の値とすることができる。
ッチング時間を可変した場合に、最終的に得られた先鋭
部14の先端の曲率半径を示すものであり、このエッチ
ングを1.5〜2分程度行うことによって先鋭部14の
先端の曲率半径を非常に小さくすることができることが
わかる。
フッ化アンモニウムの比率Xが1.7程度の緩衝フッ酸
液を用いてテーパー部221を5〜10分程度エッチン
グして、図38(D)に示すよるに、コア12の先端と
テーパー部221の先端が面一となる平坦部223を形
成する。この第3エッチング工程のエッチングでは、上
記凹部222より先のクラッド13をエッチングするこ
とができればよく、エッチング液の組成は、上記フッ化
アンモニウムの比率Xが1以下の緩衝フッ酸液等のコア
12のエッチング速度か速いものでなければ、特に限定
されない。
ーパー部221を、例えばフッ化アンモニウムNH4
Fの体積比Xが1Oの緩衝フッ酸液からなるエッチング
液で、例えば60分から90分間程度エッチングする。
した石英SiO2からなるコア12と、石英SiO2か
らなるクラッド13は、濃度40重量%のフッ化アンモ
ニウム水溶液と濃度50重量%のフッ酸と水の体積比が
X : 1 : Y (Y=任意)の緩衝フッ酸液にその端
面を接触させておくと、 Sio2: SiO2+6HF→H2SiF6+2H2O H2SiF6+2NH3→(NH4)2SiF6 GeO2 : GeO2+6HF→H2GeF6+2H2O H2GeF6+2NH3→(NH4)2GeF6 なる化学反応によりクラッド13とコア12がエッチン
グされる。
た石英からなるコア12と、石英からなるクラッド13
とは、上記緩衝フッ酸液に対する溶解速度(エッチング
速度)に差がある。このコア12とクラッド13の溶解
速度の差は、フッ化アンモニウムの体積比Xに強い相関
があり、液の温度によって多少の変動はあるがXが1.
7程度のときにコア12とクラッド13のエッチング速
度がほぼ等しく、Xが1 7より小さいときにコア12
のエッチング速度が比較的速く、Xが1.7より大きい
ときにクラッド13のエッチング速度が比較的速くな
る。なお、コア12とクラッド13のエッチング速度が
ほぼ等しくなるときのXの値は、温度等の条件により、
1.5〜1.7程度で変動する。
グ液中で上述のようにテーパー部221及び平坦部22
3を形成した光ファイバ11をエッチングすると、図4
Oに示すように、クラッド12が上記先鋭角θ2を保っ
たままエッチングが進行する。なお、この図40は、エ
ッチングが終了するまでの時間をTとし、エッチング開
始時(t=0)、エッチング中(t=T/2)、エッチ
ング終了時(t=T)のときの光ファイバの形状を模式
的に示したものである。
ラッド13より速いため、エッチングが進行すると、ク
ラッド13が先にエッチングされてコア12が徐々に突
出する。このクラッド13から突出したコア12は側面
からもエッチングされるため、エッチングが進行するに
したがってクラッド13の先端が先鋭化され、図38
(E)に示すようにクラッド13の外周からコア12の
中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部14が形成され
る。このときの先鋭角θ1は、コア12とクラッド13
のエッチング速度に応じて決まり、 sin(θ1/2)=Rcore /Rclad (但し、Rcore:コアのエッチング速度、Rclad:クラッ
ドのエッチング速度)なる関係を有している。
ング液は、フッ化アンモニウムNH4Fの体積比Xが1
0のエッチング液に限定されるものではなく、例えばX
=20等としてもよい。
て、上記フッ化アンモニウムとフッ酸と水の比率がX:
1:1(X>1.7)あるいは10:1:Y(Y<3
0)等であるエッチング液を用い、このエッチング液を
用いて第4エッチング工程のエッチングを連続的に行う
ことができ、第3エッチング上程と第4エッチングの時
間を短縮することができる。
いて、例えばフッ化アンモニウム水溶液とフッ酸及び水
の体積比を10:1:1としたエッチング液を使用した
場合では、第3及び第4エッチングを通じて全体で90
分程度のエッチングを行えばよい。
中心付近の酸化ゲルマニウムGeO2の密度が多くなっ
ているため、この第4エッチング上程のX=10のエッ
チング液中では、コア12の中心付近のエッチング速度
が、コア12の周辺付近のエッチング速度に対して若干
遅い。このため、先鋭部14の先端の曲率生径を小さく
することができる。
鋭部14の先端角θ1は、上述したよるにコア12とク
ラッド13のエッチング速度の比に応じて決まるため、
酸化ゲルマニウムGeo2のコア12中の分布とエッチ
ング液中のフッ化アンモニウムNH4 Fの体積比Xに
依存する。
Geo2の添加率を可変してコア12とクラッド13の
比屈折率差△nを可変した場合には、例えば図41中に
黒丸の点で示すように、コア12とクラッド13の比屈
折率差△nが大きくなる程、コア12とクラッド13の
エッチング速度の比である81n(θ1/2)が小さく
なって、先鋭角θ1が小さくなる。
ッチング液のフッ化アンモニウムとフッ酸と水の比率を
X:1:1とし、フッ化アンモニウムの比率Xを変化さ
せると、先鋭部14の先鋭角θ1は、図42に示すよる
に、フッ化アンモニウムの比率Xか10以下程度の場合
において、フッ化アンモニウムの比率Xの増加に応じて
小さくなる。これにより、フッ化アンモニウムの比率X
を選択することにより、先鋭部14の先鋭角θ1を制御
することかできる。
いてシリコンオイルとフッ酸の界面でエッチングを行い
クラッド13の先鋭角θ2か20度となっている場合で
は、Xの値を1Oより小さくすることにより、上記図1
1に示すよるに、先鋭部51の先鋭角θ2より、先鋭部
51から突出した突出部52のコア12の先鋭角θ1を
大きくすることかできる。
るエッチング液中のフッ化アンモニウムNH4 Fの体
積比Xは、Xか1.7程度より大きければコア12の先
端を先鋭化することかてきるか、Xをむやみに大きくす
るとエッチング速度か低下し、エッチング時間か長くな
る。また、図42に示すよるに、Xが40から5O程度
となると再び先鋭角θ1か増大するため、Xの値は大き
くても2O〜3O程度とすることか望ましい。
ッチング液のフッ化アンモニウムとフッ酸と水の比率を
10:1:Yとし、水の比率Yを変化させると、先鋭部
14の先鋭角θ1は、図43に示すよるに水の比率Yの
増加に応じて増加する。これにより、水の比率Yを選択
することにより、先鋭部14の先鋭角θ1を制御するこ
とができる。
程により、上述の図38(E)に示す構造の光ファイバ
225か形成される。この光ファイバ225の先鋭部1
4の形状は、酸化ゲルマニウムGeO2の分布に依存し
て先鋭部14の形状が決定されるため再現性か高く、対
称性のよい円錐形状を形成することかできる。
グ工程について説明する。このコーティング上程では、
図44に示すよるに、真空蒸着装置を用いて真空中で光
ファイバ225をその中心軸を中心として回転させ、先
鋭部14の斜め下方から遮光性の素材の蒸気226を供
給して蒸着することにより、上記遮光性の被覆層15を
形成する。例えば同図中のφを5O〜60度として金の
蒸気226を供給してコーティングを行って、例えば図
45に示すよるに、先鋭部14の表面に厚さか125n
m程度の金の蒸着膜227を形成する。このよるに、真
空中で先鋭部14の斜め下方から金の蒸気226を供給
して蒸着を行うと、素材の蒸気の直進性か高いために、
先鋭部14の先端の金の蒸着膜227の厚さか薄くな
る。
することかできる材質は、上述の金だけでなく蒸着か容
易であって、開口上程においてエッチングすることかで
きるものであれば、銀、白金、アルミニウム、パラジウ
ム、ニッケル等でもよい。
チングする。上述のよるに遮光性の被覆層15として金
を用いる場合では、ヨードカリ溶液(KI−I2水溶
液)により金の蒸着膜227の25nm程度の表面層2
27aをエッチングする。
気遮光性の被覆層15を金、白金、パラジウム等により
形成した場合、上述のKI−I2水溶液の他に王水、臭
素溶液、KCN溶液を用いることかできる。また、上記
遮光性の被覆層15としてアルミニウムを用いる場合で
は、鍵度か0,1%程度のNaOH水溶液あるいはKO
H水溶液等のアルカリ溶液、希塩酸等の酸等によりエッ
チングする。この場合、KOH水溶液と赤血塩と水等の
混合液あるいはリン酸と硝酸と酢酸等の混合液を用いて
もよい。また、上記遮光性の被覆層15を銀から構成し
た場合では、アンモニウム水と過酸化水素水の混合液、
希硝酸等を用いてエッチングし、上記遮光他の被覆層I
5をニッケルから構成した場合では、硝酸と酢酸とアセ
トンの混合液、硝酸等を用いてエッチングを行う。
るに遮光性の被覆層15の先端部の厚さか薄くなってい
るため、先鋭部14の先端が遮光性の被覆層15から露
出して直径か30nm程度の開口部16か形成される。
これにより、上述の図4に示す形状の光ファイバ10が
形成される。
を行わず、上記コーティング工程において、先鋭部14
の斜め下方から金の蒸気226を供給して真空蒸着を行
っただけでも、先鋭部14の先端の金の蒸着膜227の
厚さが薄いために光を透過させることかでき、疑似開口
部として使用することかてきる。しかしながら、上述の
フォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブとして使用す
る場合には、この疑似開口部におけるエバネッセント光
の吸収か大きくなる。このため、この光ファイバの製造
方法では、先鋭部の先端を金の蒸着膜227から完全に
露出させるために、遮光性の被覆層227をエッチング
して開口部16を形成している。
のエッチング工程においてフッ酸とフッ酸より軽い液体
との界面で形成したテーパー部221の形状に応じてコ
ア12の先鋭化の形状が決まるため、先鋭部14の形状
の再現性を向上させることができるまた、この光ファイ
バの製造方法では、上記コーティング工程で形成した遮
光性の被覆層を、開口工程においてエッチングして、開
口部を形成しているため、先鋭部14の先端を遮光性の
被覆層から完全に露出させて開口部を形成することがで
きる。
イバの製造方法は、上記第23実施例と同様に、光ファ
イバの一端をエッチングして、クラッドの外周からコア
の中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成する先
鋭化工程と、先鋭部の表面に遮光性の素材をコーティン
グして遮光性の被覆層を形成するコーティング工程と、
該コーティング工程により形成された遮光性の被覆層を
エッチングして、先鋭部の先端が鍵出した開口部を形成
する開口工程とからなる。
鋭化工程において、上記第23実施例の第1〜第4エッ
チング工程と同様なエッチングを行って、クラッド13
の外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化した
先鋭部14を形成した光ファイバ225を製造する。
ーティング工程が、第1及び第2コーティング工程から
なり、まず、第1コーティング工程では、上述のよるに
形成された上記光ファイバ225に、アルミニウムを蒸
着して厚さが800nm程度の遮光性の被覆層25を形
成する。
44に示すコーティング工程と同様に、真空蒸着装置を
用いて真空中で光ファイバ225をその中心軸を中心と
して回転させ、先鋭部24の斜め下方からアルミニウム
の蒸気226を供給して蒸着することにより、遮光性の
被覆層25を形成している。この遮光性の被覆層25と
して使用することができる材質は、上記第23実施例の
コーティング工程と同様に、アルミニウムだけでなく、
遮光性が高く、導電性が高い材質であれば、金、銀、白
金、パラジウム、ニッケル等でもよい。また、この第1
コーティング工程では、遮光性の被覆層25をアルミニ
ウムの1層の被覆層により形成したが、ます、先鋭部2
4に、例えばクロム、ゲルマニウム、シリコン等のガラ
スに吸着し易い素材をコーティングし、次に、例えば金
等の遮光性の高い素材をコーティングして、2層の被覆
層を形成することにより、剥離強度の高い被覆層を形成
することができる。
る第2コーティング工程において、遮光性の被覆層25
の先端以外の部分に耐腐食性の被覆層26を形成した
後、エッチングを行って先鋭部24の先端の遮光性の被
覆層25を選択的にエッチングするため、必ずしも上述
のよるに真空蒸着を行って遮光性の被覆層25を形成す
る必要がない。
けるコーティングは、素材の粒子の直進性が比較的低い
方法であるスパッタリングや、親水化を行った後の無電
界メッキ等のウェットプロセスによって行うことも可能
である。このよるに、第1コーティング工程におけるコ
ーティングをスパッタリングによって行うと、上述の真
空状着を行った場合と同程度の規模の装置を用いた場合
に一度に処理できる光ファイバの数を増加させることが
でき、製造コストを低減させることができる。
図44に示すコーティング工程と同様に、真空蒸着装置
を用いて真空中で光ファイバ225をその中心軸を中心
として回転させ、先鋭部24の斜め下方から耐腐食性の
素材の蒸気226を供給して蒸着することにより、耐腐
食性の被覆層26を形成する。具体的には、上記図44
中の角度φを50度程度として金の蒸気226を供給し
て厚さが8Onm程度の金の蒸着膜を形成して耐腐食性
の被覆層26とする。この耐腐食性の被覆層26とし
て、使用することができる材質は、上述のように遮光性
の被覆層25としてアルミニウムを使用した場合におい
ては、上述の金だけでなく蒸着が容易であって、開口工
程においてエッチングされないものであれば、銀、白金
等でもよい。
等によりコーティングを行う場合に比較して金の蒸気2
26の直進性が部いため、上述のように先鋭部24に対
して後方から金の蒸気226を供給すると、遮光性の被
覆層25の先端に金の蒸気226が回り込ます、遮光性
の被覆層25の先端に金が付着しない。これにより、例
えば図47に示すように、遮光性の被覆層25の先端以
外の部分に耐腐食性の被覆層26が形成され、遮光性の
被覆層25の先端が耐腐食性の被覆層26から露出した
露出部28が形成される。
性の被覆層25及び耐腐食性の被覆層26が形成された
光ファイバ225の先端を濃度が0.11%程度のNa
OH水溶液からなるエッチング液によりエッチングす
る。
NaOH水溶液に対して耐腐食性があって溶けず、上記
遮光性の被覆層25を構成するアルミニウムは、NaO
H水溶液に溶けるため、上記鍵出部28の遮光性の被覆
層25aか選択的にエッチングされる。これにより、上
記図7に示すよるに、先鋭部24の先端か遮光性の被覆
層25から露出した直径か4Onm程度の開口部27か
形成される。
は、第2コーティング工程において形成した耐腐食性の
被覆層26から露出した遮光性の被覆層25の先端の露
出部28を、開口工程において選択的にエッチングする
ことにより、遮光性の被覆層25に容易に開口部27を
形成することかできる。
るエッチング液は、上記第23実施例の開口工程で用い
るエッチング液と同様に、遮光性の被覆層25をエッチ
ングすることかでき、耐腐食性の被覆層26をエッチン
グしないものであれば、上記NaOH水溶液でなくとも
よい。
腐食性の被覆層26を構成する材質は、遮光性の被覆層
25に比較して耐腐食性の被覆層26を構成する材質の
開口上程 上記耐腐食性の被覆層26を構成する金は、
NaOH水溶液に対して耐腐食性で使用されるエッチン
グ液に対する耐性か高ければよく、この条件を満たして
いれば開口工程において露出部28の遮光性の被覆層2
5aを選択的にエッチングして開口部27を形成するこ
とかできる。
層25としてアルミニウムを用い、開口工程のエッチン
グ液をNaOH水溶液とした場合では、耐腐食性の被覆
層26として、上述の金以外に、NaOH溶液に耐性の
ある銀、白金等の貴金属を使用することかできる。
のアルカリ溶液あるいは酸性溶液に耐性を有するため、
この光ファイバを上述のフォトン走査トンネル顕微鏡に
用いた場合に、アルカリあるいは酸性の溶液中の試料の
形状を測定する際に、遮光性の被覆層を保護することか
できる。
金、銀、白金等の貴金属を用いる場合では、開口上程の
エッチング液をKI−I2水溶液とし、耐腐食他の被覆
層26として、KI−I2水溶液に耐性のあるSiO2
等のシリカ系セラミックあるいはA12O3等のアルミナ
系セラミック等を使用することもできる。
イバの製造方法は、図48に示す処理手順で上述の図8
に示す形状の光ファイバを製造する。この光ファイバの
製造方法では、上述の第24実施例と同様のテーパー形
成エッチング工程においてクラッド13にテーパー部を
形成する際に、図48(B)に示すよるに、ある程度テ
ーパー部231か形成されてクラッド13の径か減少し
た径小部232か残った状態で、同図(C)に示すよる
に、光ファイバ11をさらに長さL1だけフッ酸中に突
入してエッチングを継続する。
さLIだけ突入した後、光ファイバ11かさらにエッチ
ングされるか、テーパー部231と径小部232か残っ
たままで、クラッド13径か減少する。そして、径小部
232のクラッド13が溶けきると、図48(D)に示
すよるに、クラッド13先端のテーパー部233と、フ
ッ酸とシリコンオイル等との界面230において形成さ
れたテーパー部234との間にクラッド13が径小とな
った径小部235が形成される。
1を長さLIだけフッ酸中に突入するタイミングと、得
られる径小部235のクラッド13径との関係を示すよ
るに、フッ酸中に突入するタイミングを速くすると、径
小部235のクラッド13径を細くすることができる。
述の第24実施例と同様の先鋭化工程のエッチングを行
うと、テーパー部233の先端から露出したコア12が
先鋭化されて上記図8に示す形状の光ファイバ3Oが形
成される。この場合、上記径小部235に基づく径小部
35の径d1は、上述のテーパー形成エッチング工程の
途中で光ファイバ11をフッ酸中に突入させるタイミン
グに依存しているため、上述のテーパー形成エッチング
工程において、光ファイバ11をフッ酸中に突入させる
タイミングを制御することにより、所望の値とすること
ができる。
のテーパー形成エッチング上程において、光ファイバ1
1をフッ酸中に突入した長さL1から、テーパー部35
の長さを引いた長さとなっているため、光huァイバ1
1をフッ酸中に突入させる長さL1を制御すれば、径小
部35の長さL0を所望の値とすることができる。ま
た、上述のよるに形成した光ファイバに上述の第23あ
るいは第24実施例と同様にコーティング上程及び開口
工程の処理を施して遮光性の被覆層を形成すことによ
り、上記図9に示す形状の光ファイバ40を形成するこ
とができる。
イバの製造方法では、まず、上述の第23の実施例の第
1エッチング工程と同様に、光ファイバ11の一端をフ
ッ酸とフッ酸より比重の軽い液体との界面でエッチング
して、テーパー部221を形成する。次に、このよるな
テーパー部221を第23実施例の第4エッチング上程
と同様な緩衝フッ酸液からなるエッチング液中でエッチ
ングする。
ア12とクラッド13の比屈折率差△nが2.5%以上
であるときは、フッ化アンモニウムNH4Fの体積比X
を1.25から20程度とする。
13のエッチング速度かコア12より速いために、図5
0に示すよるに、テーパー部221の先端から露出した
コア12か側面からもエッチングされて先鋭化され、突
出部52か形成される。すなわち、このときのテーパー
部221からコア12か露出する見かけ上のクラッド1
3のエッチング速度は、テーパー部221をθ2とする
と、実際のクラッド253のエッチング速度Rcladの1
/{sin(θ2/2)}倍になる。したがって、コア
12の先鋭角θ1は、 sin(θ1/2) = Sin(θ2/2)×(Rco
re/Rclad) となり、上記第23実施例の場合と比較して突出部52
の先端のコア12の先鋭角θ1を小さくすることかでき
る。このよるなエッチングにおいて、フッ化アンモニウ
ムNH4Fの体積比Xを増加させると、例えば図51に
示すよるに、Xの増加にしたかって突出部52の先鋭角
θ1か小さくなる。
同様に、突出部52の表面に遮光性の被覆層53を形成
した後、遮光性の被覆層53をエッチングして開口部5
4を形成することにより、上記図10に示す形状の光フ
ァイバ50が形成される。
法では、突出部52のコア12の先鋭角θ1を小さくす
ることかでき、検出感度を向上させた光ファイバを製造
することかできる。
イバの製造方法は、上記第23実施例の第1エッチング
工程と同様に、図52(A)に示す光ファイバ11の一
端220をフッ酸とフッ酸より比重の軽い液体との界面
で21分程度エッチングして、同図(B)に示すよる
に、テーパー部221を形成する。この際、テーパー部
221の先端にコア12か残った状態でエッチングを終
了する。
した光ファイバ11を、上記フッ化アンモニウムNH4
Fの体積比Xを2程度としたエッチング液中で、10〜
15分程度エッチングする。このとき、コア12は、側
面からエッチングされるか、完全に溶け切る直前でエッ
チングを終了することにより、テーパー部221から突
出したコア12の先端か先鋭化されて突出部52か形成
される。この突出部52は、コア12の先端の先鋭角θ
1か10度から15度程度に小さくなるか、過渡的なエ
ッチング状態であるため先鋭角θ1の制御はできない。
しかしながら、先鋭角を小さくすることかできるととも
に、先鋭化工程を簡略化して製造コストを低減させるこ
とかできる。
の第23実施例あるいは第24実施例のコーティング上
程以降の処理に用いることもできる。
イバの製造方法は、上述の図12に示す光ファイバ60
を製造する方法であって、コア12とクラッド13から
なる光ファイバ11の一端をエッチングしてクラッド1
3の厚さを薄くして径小部64を形成する第1エッチン
グ工程と、径小部64の先端をエッチングすることによ
りコア12を先鋭化して突出部65を形成する第2エッ
チング工程と、突出部65の表面に遮光性の被覆層66
を形成する第1コーティング工程と、遮光性の被覆層6
6の先端以外の部分の表面に耐腐食性の被覆層67を形
成する第2コーティング工程と、突出部65の先端の遮
光性の被覆層66をエッチングして突出部65の先端が
遮光性の被覆層66から露出した開口部68を形成する
開口工程とからなる。
53に示す第1及び第2エッチング工程において、同図
(C)に示す径小部64と突出部65とを有する形状の
光ファイバ245を製造し、策1及び第2コーティング
工程において、この光ファイバ245の突出部65に上
述の遮光性の被覆層66及び耐腐食性の被覆層67を形
成し、開口工程において、開口部68を形成するよるに
なっている。
コア12径dcが3.4μmでコア12中に酸化ゲルマ
ニウムGeO2を添加した光ファイバ11を用いた場合
について説明する。なお、この光ファイバ1は、コア2
に添加するGeO2のコア2の中心部の密度が高く、コ
ア2の外周部の密度が低い状態となるよるに密度分布を
持たせてある。
3(A)に示す光ファイバ11の一端240を、濃度4
0重量%のフッ化アンモニウム水溶液と濃度5O重量%
のフッ酸と水からなる体積比がX: 1 : Y(Y=任
意)の緩衝フッ酸液であって、フッ化アンモニウムNH
4Fの体積比Xが1.7程度である緩衝フッ酸液をエッ
チング液として用いて70〜80分程度エッチングを行
う。
に、エッチング液に接触しているクラッド13がエッチ
ングされて径小部64が形成される。この径小部64の
径d2は、エッチング液中のNH4 Fの体積比X、エ
ッチング時間を可変することにより制御することができ
る。また、径小部64の長さは、光ファイバ11のエッ
チング液中に浸漬する部分の長さを調節することによっ
て可変することができる。
化アンモニウムNH4Fの体積比Xが1,7より大きい
緩衝フッ酸液をエッチング液として用いてエッチングを
行う。具体的には、温度が23度のときに、体積比Xが
5乃至1O程度のエッチング液を使用し、体積比Xが5
のエッチング液を使用した場合では60分程度、体積比
Xが10のエッチング液を使用した場合では120分程
度のエッチングを行う。この第2エッチング工程で用い
るエッチング液は、フッ化アンモニウムNH4Fの体積
比Xが5乃至10であるため、クラッド13のエッチン
グ速度がコア12のエッチング速度より速い。
のエッチング速度がクラッド13より速いため、エッチ
ングが進行すると、クラッド13が先にエッチングされ
てコア12が徐々に突出する。このクラッド13から突
出したコア12は側面からもエッチングされるため、図
54に示すように、エッチングが進行するにしたがっ
て、クラッド13から露出したコア12が円錐状に先鋭
化される。
径小部64の先端のクラッド13からコア12が突出し
た突出部65が形成される。
ア12の中心部GeO2の密度が高いため、コア12の
中心部のエッチング速度か若干低く、コア12の周辺部
になるに連れてエッチング速度か高くなる。これによ
り、突出部65のコア12の周辺部か先にエッチングさ
れてコア12の先端か先細り状となって突出部65か円
錐状に先鋭化される。
角θ1は、酸化ゲルマニウムGeo2のコア12中の分
布とエッチング液中のフッ化アンモニウムNH4 Fの
体積比Xに依存する。このときの突出部65の先鋭角θ
1は、上述の第23実施例と同様に、コア12とクラッ
ド13のエッチング速度に応じて法まり、フッ化アンモ
ニウムNH4Fの体積比Xを変化させると、上記図41
に示すよるに変化する。例えばフッ化アンモニウムNH
4Fの体積比Xか5のエッチング液を使用した場合で
は、エッチング時間、コア12中のGeO2の密度分布
等にもよるか、先端角θ1を20度程度とすることかで
きる。また、このエッチングでは、コア12中に添加し
た酸化ゲルマニウムGeO2の分布に依存して突出部6
5の形状か法定されるため再現性か高く、対称性のよい
円錐形状を形成することかできる。
に酸化ゲルマニウムGeO2か添加され、コア12とク
ラッド13の屈折率かステップ状に変化するシングルモ
ードファイバを用いても上述の図53(C)に示すよる
な形状の光ファイバを形成することもできる。
するGeO2に密度分布を持たせた光ファイバを使用し
た場合と異なり、Geo2に密度分布に基づく突出部6
5の先鋭化は期待できない。しかしながら、コア12と
クラッド13のエッチング速度の比に応じた先鋭化が行
われ、例えばクラッド13径か125μmでコア12の
径か8μm程度とされたシングルモードファイバに、上
述の第2エッチングにおいて使用したエッチング液と同
様な組成で、NH4 Fの体積比Xか1O程度であるエ
ッチング液を用いて、温度か25度の条件で、3時間1
5〜20分程度のエッチングを行った場合においても、
突出部65の先鋭角θ1か若干大きく(105度程度)
なるか、上述の第2エッチング工程と同様に円錐状に先
鋭化された突出部65か形成される。また、この場合で
は、使用できるエッチング液中のNH4Fの体積比X
は、上述の10以外でも突出部65の先鋭化を行うこと
かできる。なお、このシングルモードファイバを使用し
た場合においても、上述の第1エッチング工程と同様な
エッチングを行うことにより、径小部64を形成でき
る。
フッ素Fを添加した石英8iO2からなるクラッド13
を有するシングルモードファイバを用いても、突出部6
5の先鋭角か77度程度であるか、上述の図53(C)
に示すよるな形状の光ファイバを形成することもでき
る。
例えばフッ化アンモニウムNH4Fの体積比Xを1.7
程度とした比較的エッチング速度か速いエッチング液を
用いることにより、1回のエッチングで径小部64の形
成と、突出部65の先鋭化を行うことかでき、1回のエ
ッチングで上記第1及び第2エッチング上程の処理を行
うことかできる。このため、製造工程を簡略化すること
かでき、製造コストを低減することかできる。
口工程について説明する。第1コーティング工程では、
図55に示すように、上述の第1及び第2エッチング工
程によって形成された光ファイバ245に、突出部65
の上方向から金の蒸気を供給する。これにより、図56
に示すよるに突出部65の表面に金からなる400nm
程度の膜厚の遮光性の被覆層66か形成される。
とかできる材質は、上記第23実施例のコーティング工
程と同様に、アルミニウムだけでなく、遮光性か高く、
開口工程においてエッチングできるものであれば、金、
銀、白金などでもよい。また、この第1コーティング工
程では、遮光性の被覆層66をアルミニウムの1層の被
覆層により形成したか、まず、突出部65に、例えばク
ロム、ゲルマニウム、シリロン等のガラスに吸着し易い
素材をコーティングし、次に、例えば金等の遮光性の高
い素材をコーティングして、2層の被覆層を形成するこ
とにより、剥離強度の高い遮光性の被覆層66を形成す
ることができる。なお、この第1コーティング工程にお
けるコーティングは、遮光性の被覆層66を形成するこ
とができれば、蒸着だけではなく、スパッタリングある
いは親水化処理を行った後、無電界メッキを行う等の粒
子の直進性か比較的低い方法によっても行うことかでき
る。
ィングをスパッタリングによって行うと、真空蒸着を行
った場合に比較して、同程度の規模の装置を用いた場合
に一度に処理できる光ファイバの数を増加させることか
でき、製造コストを低減させることかできる。
第1コーティング工程において遮光性の被覆層66を形
成した光ファイバ245を合成樹脂を溶かした溶剤に浸
漬した後、溶剤から引き上げる。具体的には、合成樹脂
を溶かした溶剤としては、市販のアクリル塗料を使用し
た。
遮光性の被覆層66に付着した溶剤か表面張力によっ
て、径小部64側に引き寄せられ、突出部65の先端の
遮光性の被覆層66か溶剤から露出する。ここで、合成
樹脂を溶かしておく溶剤は、溶剤から引き上げた際に、
表面張力によって突出部65の先端の遮光性の被覆層6
6か溶剤から露出する程度に粘性か低いものであればよ
い。また、合成樹脂は、開口工程で使用されるエッチン
グ液によりエッチングされないものであればよい。
66の表面には、合成樹脂か残り、図57に示すよる
に、突出部65の先端の遮光性の被覆層66か合成樹脂
性からなる耐腐食性の被覆層67から露出した露出部6
9か形成される。
性か高い場合には、突出部65の先端の遮光性の被覆層
66か耐腐食性の被覆層67から露出しない場合かあ
る。しかしなから、耐腐食性の被覆層67の先端の厚さ
か薄くなるため、耐腐食性の被覆層67を全体的にエッ
チングすることにより、遮光性の被覆層66の先端か露
出した露出部69を形成することかできる。このとき使
用するエッチング液は、NaOH等のアルカリ溶液ある
いは希塩酸等の酸を用いることかできる。
部65の表面に遮光性の被覆層66及び耐腐食性の被覆
層67か形成された光ファイバ245を、ヨウ化カリウ
ムKI−I2水溶液あるいはシアン化カリウム水溶液な
どから成るエッチング液によりエッチングする。上記耐
腐食性の被覆層67を構成する合成樹脂は、KI−I2
水 溶液に対して耐腐食性があり、上記遮光性の被覆層
66を構成する 金は、KI−I2水溶液に溶けるた
め、このエッチングにより、上 記露出部69から露出
した遮光性の被覆層66が選択的にエッチングされ、上
記図12に示すよるに、上記突出部65の先端が遮光性
の被覆層66から露出した開口部68が形成される。
GeO2に密度分布を持たせた光ファイバを使用し、突
出部65の先鋭角が20度で金を400nm程度コーテ
ィングした光ファイバ245を、KIと12と水の重量
比が、20:1:100の比率となっているKI−12
溶液を、水で100倍程度に希釈したものをエッチング
液として、1〜3分程度エッチングしたところ、30n
m程度の開口部68が得られた。
用し、先鋭角が105度程度で、金を150nm程度コ
ーティングした光ファイバ245を、KIと12と水の
重量比が、20:1:400の比率となっているKI−
12溶液を、水で50倍程度に希釈したものをエッチン
グ液として、5分程度エッチングしたところ、100n
m程度の開口部68が得られた。
るエッチング液は、上述の第23実施例の開口工程と同
様に、遮光性の被覆層66をエッチングすることがで
き、耐腐食性の被覆層67をエッチングしないものであ
ればよい。このよるなエッチング液を用いることによ
り、上述と同様に、開口工程において露出部69の遮光
性の被覆層66を選択的にエッチングして開口部68を
形成することができる。また、プラズマエッチング等に
よるドライエッチングによっても可能である。
において、突出部65の遮光性の被覆層66をエッチン
グする際に、耐腐食性の被覆層67か形成されていない
突出部の先端の露出部69の遮光性の被覆層66を選択
的にエッチングすることかでき、容易に開口部68を形
成することかできる。
イバの製造方法では、ます、光ファイバをエッチングし
て図58(E)に示す形状の光ファイバ253を形成
し、該光ファイバ253に上述の第28実施例の第1コ
ーティング工程以降の処理と同様の処理を行って上述の
図13に示す光ファイバ70を製造する。
は、ます、図58(A)に示す光ファイバ11の一端2
5Oをフッ酸とフッ酸より比重の軽い液体、例えばスピ
ンドルオイル、シリコンオイル等との界面で、例えば2
5分から30分間程度エッチングする。
イル等との界面付近では、上述のよるにメニスカスが形
成され、このメニスカスの高さは、クラッド13かエッ
チングされるにしたかって低くなるために、クラッド1
3か先細り状にエッチングされ、図58(B)に示すよ
るにクラッド13にテーパー部71か形成される。
71をフッ酸により、例えば2分から3分間程度エッチ
ングする。フッ酸中ではコア12のエッチング速度かク
ラッド13より速いため、このエッチングによって、図
58(C)に示すように、コア12がテーパー部71の
クラッド13の先端に対して窪んだ凹部251か形成さ
れる。
ニウムNH4 Fの体積比Xか1.7程度で、水の体積
比Yか1のである緩衝フッ酸液からなるエッチング液
で、例えば90分程度エッチングする。このとき、30
分程度エッチングした段階で、図58(D)に示すよる
に、コア12の先端とテーパー部71の先端か平坦とな
る平坦部252か形成される。そして、さらにエッチン
グを続けると、上述のよるな組成のエッチング液中では
コア12のエッチング速度に対してクラッド13のエッ
チング速度か速いため、図58(E)に示すよるに、ク
ラッド13か先にエッチングされて平坦部74か形成さ
れ、コア12か平坦部74のクラッド13から突出し、
先端か円錐状に先鋭化された突出部75か形成される。
に、上述の第28実施例と同様の第1及び第2コーティ
ング上程と開口工程の処理を行うことにより、遮光性の
被覆層及び開口部を形成すると、上述の図13に示す形
状の光ファイバ70か形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例と同様
の第1及び第2エッチング工程の処理を行って、上述の
図53(C)に示す形状の光ファイバ245を形成す
る。次に、コーティング工程において、突出部65の表
面に遮光性の被覆層66を形成し、感光体層形成工程に
おいて、遮光性の被覆層66の表面に感光体層を形成
し、露光上程において、エバネッセント光により感光体
層の先端のみを選択的に露光し、鍵出部形成工程におい
て、露光した感光体層を除去して感光体層の先端に露出
部を形成する。そして、開口工程において、感光体層の
先端に形成された露出部より露出した遮光性の被覆層6
6をエッチングすることにより記突出部65の先端か遮
光性の被覆層66から露出した開口部87を形成した
後、感光体層除去工程において、突出部65の表面の感
光体層を除去して上述の図14に示す形状の光ファイバ
8Oを製造するよるになっている。
タ装置を用いて、上述の第1及び第2エッチング工程に
より形成された光ファイバ245の突出部65に、突出
部65の先端方向から金の粒子を供給する。これによ
り、上述の図56に示すよるに、突出部65の表面に厚
さか200nm程度の金の層からなる遮光性の被覆層6
6か形成される。この遮光性の被覆層66の厚さは、コ
ーティングを行う時間を可変することによって制御する
ことかできる。また、この遮光性の被覆層66として使
用することかできる材質は、金だけてなく、上記第23
実施例のコーティング工程と同様に、遮光性が高く、開
口上程においてエッチングできるものであれば、アルミ
ニウム、銀、白金などでもよい。
おいて、図59に示すよるに、真空中で突出部65の先
端に対して斜め上方から、金の蒸気247を供給して真
空蒸着を行って遮光性の被覆層66を形成してもよい。
この場合は、突出部65の表面に均一に蒸着を行うため
に、光ファイバ245をその中心軸を中心として回転さ
せながら蒸着を行う。また、このコーティング工程にお
いて、ます、クロム、ゲルマニウム、シリコン等のガラ
スに吸着し易い素材を突出部65にコーティングした
後、金等の遮光性の高い素材をコーティングすることに
よって、遮光性の被覆層66を2層として剥離強度の高
い被覆層を形成することかできる。
ティングは、遮光性の被覆層66を形成することかでき
れば、上述のスパッタリング、蒸着だけではなく、無電
界メッキ等の方法によっても行うことかできる。
うにスパッタリングによってコーティングを行うと、真
空蒸着を行った場合に比較して、同程度の規模の装置を
用いた場合に一度に処理できる光ファイバの数を増加さ
せることかでき、製造コストを低減させることかでき
る。
ティング工程において遮光性の被覆層66を形成した光
ファイバ245の突出部65に感光体を付着させて感光
体層を形成する。この感光体層を形成する感光体として
は、いわゆるフォトレジストを使用する。そして、図6
0に示すように、フォトレジストか充項された注射器を
微動台に固定し、フォトレジストを押し出して注射器の
針255の先端にフォトレジストの滴256を垂下させ
る。
の下方に、突出部65か上となるように光ファイバ24
5を固定する。そして、図60中に実線矢印で示すよう
に、垂下したしたフォトレジストの滴256か落ちない
ように、微動台を静かに操作しなから注射器を下方に移
動させてフォトレジストの滴256を突出部65に接触
させる。そして、フォトレジストを付着させた後、同図
中に波線矢印で示すように、再び注射器を上方に移動さ
せる。これにより、突出部65の遮光性の被覆層66の
表面にフォトレジストか付着し、このフォトレジストを
乾燥させること、図61に示すように、突出部65の表
面に形成した遮光性の被覆層66の表面に感光体層88
か形成される。
ォトレジストの粘度と径小部64の径によって決まる。
粘度か50mPa,sであるフォトレジストを使用し
て、径小部64の径を30μm、20μm、15μmに
変化させた場合に、先鋭部55に付着されるフォトレジ
スト層の断面形状を調べたところ、図62(a)、同図
(b)及び同図(c)に示す結果か得られた。
と、感光体層88の先端部分の厚さか厚くなり、逆に径
小部64の径か小さくなると、感光体層88の先端部分
の厚さか薄くなる。例えば図62(b)に示す径小部6
4の径か20μmである場合は感光体層88の先端部分
の厚さは100nmであり、同図(c)に示す径小部6
4の径か15μmである場合は感光体層88の先端部分
の厚さは35nmであった0また、この感光体層88の
先端部分の厚さは、フォトレジストの粘度か高くなると
厚くなり、フォトレジストの粘度か低くなると薄くな
る。また、この感光体層88の厚さは、遮光性の被覆層
66の厚さによっても変化し、遮光性の被覆層66か厚
くなって、径小部64の先端と突出部65とかより平坦
な形状に近づくと、フォトレジストが付着しやすくなっ
て、感光体層88の厚さか増加する。
エッチング上程のエッチング時間を可変することによっ
て制御することかできるため、第1エッチング上程のエ
ッチング時間を可変することにより、感光体層88の先
端部分を所望の厚さとすることかできる。あるいは、コ
ーティング時間を制御することにより、遮光性の被覆層
66の厚さを制御しても同様に感光体層88の先端部分
を所望の厚さとすることかできる。
より感光体層88を形成した例を示したか、感光体層8
8を形成する素材は、感光性を有し、開口工程で使用さ
れるエッチング液によりエッチングされないものであれ
ば特に限定されない。また、上述の説明では、フォトレ
ジストを充填した注射器を移動させて、突出部65にフ
ォトレジストを付着させているか、光ファイバ245を
移動してフォトレジストを付着させてもよい。
のみをエバネッセント光により選択的に露光する。具体
的には、図63に示すよるに、プリズム257にHe−
Cdレーザ等のレーザ光258を全反射角以上の角度で
入射してエバネッセント光の場258を形成する。すな
わち、全反射角以上で入射したレーザ光258は、プリ
ズム257と空気との界面257aで反射されるか、プ
リズム257の表面からレーザ光258の波長程度の距
離の領域には、エバネッセント光の場259か形成され
る。
59か形成されたプリズム257の表面に感光体層88
か形成された光ファイバ245を接近させる。
ネッセント光の強度は、プリズム257の表面からの距
離か増加するに従って指数関数的に減少するよるになっ
ている。このため、プリズム257の表面と光ファイバ
245の先端の間の距離R,をレーザ光258の波長程
度以下とした場合、突出部65先端でのエバネッセント
光の光強度は、突出部65の基端での光強度に対して非
常に強くなり、感光体層88の先端のみに光か当たって
いる状態と等価となり、感光体層88の先端かエバネッ
セント光によって露光され、上記図63に示すよるに、
感光体層88の先端に露光部88aか形成される。
5の先端をレーザ光258の波長程度以下の情度でプリ
ズム257表面に接近させる必要かある。このため、こ
の露光工程では、図64に示すよるな構成の原子間力顕
微鏡を用いて、光ファイバ245とプリズム257の位
置の制御を行っている。
有振動数で振動させた光ファイバ245とプリズム25
7表面との間に働く原子間力を検出して、光ファイバ2
45の先端とプリズム257との間の距離を測定するよ
るになっており、原子間力に基づく光ファイバ245の
振動の振幅を検出する変位検出部と、光ファイバ245
及びプリズム257を移動させる駆動部と、変位検出部
により検出された光ファイバ245の振動の振幅に応じ
て駆動部等の制御を行う制御部等を備えている。
よって発生したレーザ光をレンズ261によって平行光
線とし、変位検出光としてミラー262によって反射さ
せて光ファイバ245の側面に照射し、光ファイバ24
5によって散乱された変位検出光を光ファイバ245に
対してミラー262と対向して設けられたスリット26
3を介してフォトダイオード264で受光し、このフォ
トダイオード264の出力をアンプ265で増幅した
後、ロックインアンプ266で検出する。
振動させた光ファイバ245をプリズム257表面に接
近させる際に、光ファイバ245の先端とプリズム25
7の表面との距離か1Onm以下程度となると、光ファ
イバ245の先端とプリズム257の表面との距離に応
じて原子間力か働き、光ファイバ245の振幅か減少す
る。この光ファイバ245の振幅は、例えば図65に示
すよるに、光ファイバ245の先端とプリズム257の
表面の距離か10nm以下程度となると急激に減少す
る。
すると、フォトダイオード264の出力の振幅か変化す
る。そして、ロックインアンプ266は、アンプ265
を介して供給されるフォトダイオード264の出力の振
幅を検出して光ファイバ245の振幅を求め、光ファイ
バ245とプリズム257の表面との距離を検出する。
した光ファイバ245の先端とプリズム257の表面と
の距離に基づいて駆動部の動作を制御する。駆動部で
は、PZT駆動部268か、制御部267からの制御に
基づいて光ファイバ245か固定されたPZT269a
とプリズム257か固定されたPZT269bを駆動す
る。これにより、変位検出部によって検出された光ファ
イバ245の先端とプリズム257の表面との距離に応
じて、PZT269a、269bか駆動され、光ファイ
バ245の先端とプリズム257の表面との距離かレー
ザ光258の波長程度に保持される。なお、光ファイバ
245は、露光終了後に取り外す必要かあるため、光フ
ァイバ245に付設された磁石m1によって、PZT2
69aに設けられた磁石m2に固定されている。このよ
うに、磁石m1、m2によって光ファイバ245を固定
しているため、光ファイバ245の交換か容易となる。
生したレーザ光258をミラー271によって反射さ
せ、シャッタ272を介してプリズム257に入射する
と、上述したよるにプリズム257の表面に、エバネッ
セント光の場259か形成され、感光体層88の先端に
露光部88aか形成される。
程で露光された感光体層88の露光部88aを除去し
て、図66に示すよるに、感光体層88の先端に露出部
89を形成する。すなわち、感光体層88を形成するフ
ォトレジストは、有機系アルカリ溶液等からなる現像液
により現像すると露光部88aか除去され、図67に示
すよるに、感光体層88の先端から遮光性の被覆層66
か露出した露出部89か形成される。
グ工程において、フッ化アンモニウム水溶液とフッ酸と
水の比率を1,7・1:1とした緩衝フッ酸液をエッチ
ング液として78分程度エッチングした後、フッ化アン
モニウム水溶液とフッ酸と水の比率を1O・1 1とし
た緩衝フッ酸液をエッチング液として120分程度エッ
チングし、20Onm程度の厚さに金をコーティング
し、フォトレジスト層を形成した後、プリズム257に
入射するレーザ光のパワーを0.25mWとし、0.1
25秒の露光を行った後、30秒の現像を行った場合の
形状を示している。
程において露出部89が形成された光ファイバ245を
エッチングして、突出部65の先端が遮光性の被覆層6
6から露出した開口部87を形成するo具体的には、ヨ
ウ化カリウムKIー12水溶液あるいはシアン化カリウ
ム水溶液等をエッチング液として遮光性の被覆層66を
形成する金をエッチングする。感光体層88を構成する
フォトレジストは、KI−I2水溶液に対して耐腐食性
かあり、遮光性の被覆層66を構成する金は、KI‐I
2水溶液に溶けるため、このよるなエッチングを行うこ
とにより、上記露出部89から露出した遮光性の被覆層
66か選択的にエッチングされ、突出部65の先端か遮
光性の被覆層66から露出した開口部87か形成され
る。
るエッチング液は、上記第23実施例の開口工程と同様
に、遮光性の被覆層66をエッチングすることかでき、
感光体層88をエッチングしないものであれば、例えば
王水、ヨウ素あるいは臭素等のハロゲン溶液等を使用し
てもよく、あるいは、プラズマエッチング等のドライエ
ッチングを使用しても、開口工程において露出部89か
ら露出した遮光性の被覆層66を選択的にエッチングし
て開口部87を形成することかできる。
ァイバ245の表面の感光体層88を除去すると、上述
の図14に示す構造の光ファイバ80か形成される。こ
の光ファイバ80の開口部87の直径は、光ファイバ8
0の先端の顕微鏡写真を図15に示すよるに、50nm
程度となっている。
は、コア12中に添加したGeO2に密度分布を持たせ
た光ファイバを使用し、突出部85の先鋭角が20度
で、金を200nm程度コーティングした光ファイバ2
45を、KIとI2と水の重量比か、20:1:400
の比率となっているKI−I2水溶液を水で50倍程度
に薄めた水溶液をエッチング液として、10分程度エッ
チングしたものである。また、この感光体層除去工程の
処理を行わす、遮光性の被覆層66の表面に感光体層8
8を残したままとしてもよい。
では、露光工程において、エバネッセント光を用いて感
光体層88の先端のみを露光しているため、従来の通常
の光を用いて露光を行った場合に比して徴小な領域のみ
を露光させることかできる。また、この光ファイバの製
造方法では、露出部形成工程において、露光された感光
体を除去して露出部89を形成した後、開口工程におい
て、突出部65の遮光性の被覆層66をエッチングする
たけて、露出部89から露出した遮光性の被覆層66を
選択的にエッチングすることかでき、容易に微小な開口
部87を形成することかできる。このため、光ファイバ
の製造か容易となり、製造コストを低減させることかで
きる。
部の形成では、合成樹脂を溶かした溶剤の表面張力によ
り露出した突出部65の先端の遮光性の被覆層66をエ
ッチングして開口部68を形成しているために、適用対
象か突出部65の基端に径小部64を有する形状の光フ
ァイバに限定される。これに対し、この第3O実施例で
は、エバネッセント光によって露光された感光体層88
の露光部88aを除去して形成された露出部89から露
出した遮光性の被覆層66をエッチングして開口部87
を形成しているため、上述の図53(C)に示す形状の
光ファイバ245だけでなく、上記図38(E)に示す
ようなクラッドの外周からコア12の中心にかけて先鋭
化した先鋭部14を有する形状の光ファイバの先端にも
開口部を形成することかできる。
イバの製造方法では、まず、上述の第29あるいは第3
0実施例と同様な第1及び第2エッチング工程と、コー
ティング工程と、感光体層形成工程と、露光工程と、露
出部形成工程と、開口工程の処理を行って、図14に示
す光ファイバの表面に耐腐食性の被覆層67あるいは感
光体層88か残存した状態の光ファイバを形成する。
示すよるに、開口上程までで形成された開口部87から
露出した突出部65を緩衝フッ酸液によりエッチングす
る。このとき、遮光他の被覆層66を形成する金は、緩
衝フッ酸液によってエッチングされず、開口部87から
露出した突出部の先端55aか選択的にエッチングさ
れ、図69に示すよるに、突出部65の先端か遮光性の
被覆層66の先端に対して陥没したピット93か形成さ
れ、ピット93の先端に開口部91か形成される。
ずしも感光体層88を残しておく必要はないか、上記コ
ーティング工程によって形成された遮光性の被覆層66
にクラック等かあると、このクラック等からエッチング
液か浸透して、先鋭部55をエッチングする虞があるた
め、上述のよるに感光体層88を除去せずピット形成工
程のエッチングを行っている。
したピット93に色素あるいは試薬等の周囲の環境に応
じて光学特性か変化する物質を付着させる。具体的に
は、色素等を含ませた溶剤等に光ファイバの先端を浸
し、ピット93に溶剤を付着させた後、感光体層88の
表部の溶剤を除去する。これにより、図70に示すよる
に、ピット93中に色素等の物質92か付着され、この
後、遮光性の被覆層66の表面の感光体層88を除去す
ると、上述の図16に示す形状の光ファイバ90か形成
される。
光体層88を除去した後にピット93に色素あるいは色
素を混合した溶剤等の物質を付着させても、同様にピッ
ト93中に色素等の物質92を付着させた光ファイバ9
0を形成することかできる。
は、遮光性の被覆層66から突出部65のコアか陥没し
たピット93に、周囲の環境を検出するための物質を付
着させることかでき、色素等の周囲の環境を検出する物
質の剥離強度を向上させ、耐久性を向上させた光ファイ
バを容易に製造することかできる。
口部91の径か50nmとなっているため、この光ファ
イバの製造方法では、空間解像度を向上させた光ファイ
バを容易に製造することかできる。
イバの製造方法では、酸化ゲルマニウムGeO2を添加
した石英SiO2からなるコア12と、石英SiO2か
らなるクラッド13から構成される光ファイバ11を加
熱した状態で引き伸ばしてコア12とクラッド13か共
に先細り状とされた先鋭部を形成する先鋭部形成工程
と、外先鋭部をエッチングして先鋭部の先端から突出し
たコア12か先鋭化された突出部を形成するエッチング
上程とからなる。
ットプラーを用い、図71(A)に示すよるに、光ファ
イバ11を加熟しなから引き伸ばして、コア12及びク
ラッド13の径を減少させる。そして、コア12及びク
ラッド13か所望の径となるまで、光ファイバ11を引
き延ばして切断すると、図71(B)に示すよるに、光
ファイバ11の一端に、コア12とクラッド13か共に
先細り状とされた先鋭部104か形成される。
ンモニウム水溶液とフッ酸と水の体積比かX : 1 :
Y (Y=任意)で、フッ化アンモニウム水溶液の体積
比Xか1O程度であるエッチング液を用いて先鋭部10
4をエッチングする。
組成の光ファイバ11を、エッチングすると、上述の第
28実施例と同様に、コア12のエッチング速度に対し
て、クラッド13のエッチング速度か速いために、先鋭
部104の先端のコア13か先にエッチングされ、上述
の図17に示すよるに、先鋭部104の先端のクラッド
13からコア12か突出し、該突出したコア12が円錐
状に先鋭化された突出部105か形成される。
3実施例と同様に、コア12の中心部の酸化ゲルマニウ
ムの密度が高くなっているため、突出部105は、酸化
ゲルマニウムGeO2の分布に依存して先鋭化され、対
称性のよい円錐形状となる。
は、コア12とクラッド13か共に先細り状とされた先
鋭部104の先端に、容易にクラッド13の先端から円
錐状に先鋭化したコア12か突出した突出部105を形
成することができる。
イバの製造方法では、ます、上第32実施例の先鋭部形
成工程と同様の処理を行って、上記図71(B)に示す
よるに光ファイバ11の一端に先鋭部104を形成す
る。
の先端をフッ酸によりエッチングする。このよるなフッ
酸中では、コア12のエッチング速度かクラッド13に
対して速いため、図72に示すよるに、コア12か先に
エッチングされて凹部106か形成される。
ング工程により先鋭部104をエッチングする。そし
て、第32実施例のエッチング時間に対してやや長い時
間エッチングを行うと、上述の第32実施例と同様に、
先鋭部104の先端のクラッド13からコア12か突出
し、該突出したコア12が円錐状に先鋭化された突出部
105か形成される。
イバの製造方法では、まず、上記第32実施例あるいは
第33実施例と同様の処理を行って、上記図17に示す
形状の光ファイバ100を形成する。
00の突出部105の表面に上述の第29あるいは第3
0実施例と同様にコーティングを行って遮光性の被覆層
116を形成し、さらに、第29あるいは第30実施例
と同様に開口工程の処理を行って、突出部105の先端
か遮光性の被覆層116から露出した開口部117を形
成する。これにより、上記図18に示す形状の光ファイ
バ110か形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング皇帝と同様なエッチングを行って、
上記図53(C)に示すよるに、光ファイバ11の一端
に径小部64及び突出部65を形成する。
ファイバを、水の体積比Y(Y:30以上)とした上述
の緩衝フッ酸液をエッチング液としてエッチングを行
う。具体的には、上記第2エッチング上程において、上
記フッ化アンモニウムの体積比Xを10とした緩衝フッ
酸液をエッチングとして20分程度のエッチングを行っ
て突出部65を形成した後、フッ化アンモニウムの体積
比Xを10とし、水の体積比Yを30とした緩衝フッ酸
液をエッチング液として15分程度のエッチングを行
う。
グを行うと、コア12とクラッド13のエッチング速度
かほほ同じてあるために、突出部65か表面からエッチ
ングされて細くなり、エッチング時間の増加とともに、
図76に示すよるに、突出部65の長さ(チップ長)L
か減少するとともに先鋭角θか増大する。そして、図7
3に示すよるに、先端程先鋭角θか小さい突出部125
か形成される。この突出部125のチップ長L及び先端
の先鋭角θは、例えば図74に突出部125の拡大図を
示すよるに、それぞれ2.1μmと28度程度となって
いる。
きの突出部125と、上記第28実施例の第1及び第2
エッチング工程により形成した突出部65について、チ
ップ長L及び先端の先鋭角θとの関係を求めると、図7
7に示すよるに、同じ先鋭角θのときの突出部125の
チップ長Lか小さくなっている。なお、この図77にお
いて黒丸の点が突出部125を表し、四角の点が突出部
65を表している。すなわち、この光ファイバの製造方
法では、チップ長Lを小さくすることかできる。
の表面に上記第29あるいは第30実施例と同様に遮光
性の被覆層126及び開口部127を形成する。これよ
り、上記図21に示す形状の光ファイバ12Oか形成さ
れる。
上記フッ化アンモニウムの体積比Xを10とした緩衝フ
ッ酸液をエッチングとして15分程度のエッチングを行
って突出部65を形成した後、フッ化アンモニウムの体
積比Xを10Oとし、水の体積比Yを50とした緩衝フ
ッ酸液をエッチング液として15分程度のエッチングを
行った場合の突出部125のチップ長L及び先端の先鋭
角θは、例えば図75に示すよるに、それぞれ1.52
μmと36,5度程度となっている。この場合、フッ化
アンモニウムの体積比Xを10とし、水の体積比Yを5
Oとした緩衝フッ酸液中のコア12のエッチング速度か
クラッドに対してやや速いため、突出部125の基端か
クラッド13の先端に対して若干窪んだ形状となる。
イバの製造方法では、コア132のクラッド133に対
する比屈折率差△nか1%で、屈折率か徐々に変化する
グレーデッドインデックス型の屈折率分布を有するマル
チモードファイバからなる光ファイバ131の一端をエ
ッチングして、図78(B)に示すよるに、クラッド1
33の一端から突出したコア132か円錐状に先鋭化し
た突出部134を形成する。このマルチモードの光ファ
イバは、クラッド径doか250μm程度で、コア13
径dcが50μm程度となっている。
フッ酸と水の比率を10:1:lとした緩衝フッ酸液中
で17時間程度エッチングすると上記図24に示すよる
に、先鋭角か50゜で、先端の曲率生径か5nm程度の
突出部134か形成される。また、このよるなエッチン
グを行うためには、上述のよるにコア132とクラッド
133の径の比が1:5以上である必要かある。
ンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を1.7:1・1
とした緩衝フッ酸液中でクラッド133径を減少させて
径小部を形成してもよい。
上述の第29あるいは第3O実施例と同様にコーティン
グを行って遮光性の被覆層135を形成し、さらに、第
29あるいは第3O実施例と同揮に開口工程の処理を行
って、突出部134の先端か遮光性の被覆層135から
露出した開口部136を形成する。これにより、マルチ
モードファイバを用いて上記図22に示す形状の光ファ
イバ130か形成される。
折率分布か異なる3種類の光ファイバを用いて上述の第
28実施例の第2エッチング工程と同様のエッチングを
行って、各々20個のサンプルを作成したところ、図8
0から図82に示すよるに、形成される突出部の先端の
直径の分布か異なることかわかった。
か4μmで、コア12とクラッド13の屈折率分布かス
テップ(階段)インデックス型となっている光ファイバ
を用いた場合では、図80に示すよるに、突出部の先端
の直径が10〜25nmを中心として分布している。
〜9μmで、コア12とクラッド13の屈折率分布かス
テップインデックス型となっている光ファイバを用いた
場合では、図81に示すよるに、突出部の先端の直径か
10〜15nmを中心として分布しているか、上記図8
1に示す場合よりばらつきか大きい。
径か14μmで、コア12とクラッド13の屈折率分布
かステップ状となっており、コア12の中心部の4μm
の範囲で屈折率分布かグレーデッドインデックス型とな
っている光ファイバを用いた場合では、図82に示すよ
るに、突出部の先端の直径か5nm程度を中心として分
布しており、上記図8O、図81に対してばらつきか小
さい。
程、突出部の先端の直径のばらつきか小さくなり、比屈
折率差の分布かグレーデッドインデックス型である方か
突出部の先端の直径か小さくなり、ばらつきも小さくな
ることかわかる。
イバの製造方法は、光ファイバ11のコア12中の添加
物質(ドーパント)を徐々にクラッド13中に拡散さ
せ、等価的にコア12径を増加させた、コア径増加部1
44を形成する拡散工程と、該コア径増加部144を形
成した光ファイバ11の一端をエッチングしてコア12
かクラッド13から突出した突出部を形成するエッチン
グ工程等からなる。
示すよるに、光ファイバ11を回転させながらその一部
を加熱する。これにより、コア12中に添加されている
ドーパントがクラッド13中に拡散され、等価的にコア
12径が増加したコア径増加部144が形成されてい
る。このコア径増加部144では、コア12の中心から
周辺に向かってドーパントの密度か徐々に低下してい
る。また、光ファイバ11を回転させながら加熱する代
わりに、光ファイバ11の一端を発熱体に接触させて光
ファイバの長手方向に加熱すると、コア径増加部144
の径をさらに増加させることかできる。
144のコア径12か最大となる位置で光ファイバを切
断し、図83(B)に示す端部148を形成する。そし
て、この端部148を、例えばフッ化アンモニウム水溶
液とフッ酸と水の比率を10:1:1とした緩衝フッ酸
液中でエッチングする。このよるな緩衝フッ酸液中で
は、クラッド13のエッチング速度かコア12より速い
ため、クラッド13か先にエッチングされてコア径増加
部144のコア12かクラッド13から突出する。クラ
ッド13から突出したコア12は、側面からもエッチン
グされ、図84に示すよるに、コア12の先端か円錐状
に先鋭化されて突出部145か形成される。
12の中心から周辺に向かってドーパントの密度か徐々
に低下しているため、突出したコア12の中心から周辺
に向かってエッチング速度か若干速くなるため、突出部
145の先端の曲率生径か小さくなる。
に上述の第29あるいは第3O実施例と同様にコーティ
ングを行って遮光性の被覆層146を形成し、さらに、
第29あるいは第30実施例と同様に開口工程の処理を
行って、突出部145の先端か遮光性の被覆層146か
ら露出した開口部147を形成することにより、上記図
27に示す形状の光ファイバ140が形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
程と同様なコーティングを行って突出部65の表面に樹
脂等の疎水性の被覆層を形成するとともに、突出部65
の先端のコア12か疎水性の被覆層から露出した開口部
を形成する。
5の突出部65を、石英SiO2を過剰に溶解させて飽
和状態となっているH28 i F6溶液中に浸潰する。
このようなH2Si F6溶液中の石英SiO2は、石
英等の親水性の物質表面に析出しやすく、樹脂等の疎水
性の物質表面に析出しにくい。このため、疎水性の被覆
層か形成された突出部55の表面には石英SiO2か析
出せず、露出した開口部のコア12の表面には石英Si
O2か析出して石英の被覆層か形成される。
色素を混合しておくことにより、突出部155の先端か
被覆層156から露出した開口部の表面に、色素を添加
した石英等の被覆層157か形成され、上記図28及び
図29に示す構造の光ファイバ150か形成される。こ
のように色素を添加した石英等の被覆層157を形成す
ることにより、色素の剥離強度を向上させ、耐久性のよ
い光ファイバを製造することかできる。
代わりにpH等の周囲の環境に応じて光学特性か変化す
る物質を混合しておくことにより、これらの物質を含む
被覆層157」を形成することができる。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程、第1及び第2コーティング上
程、開口上程と同様な処理を行って、上述の図12に示
す形状の光ファイバ60を形成する。
の第38実施例と同様に、色素等を混合したH2Si
F6溶液中に浸漬する。これにより、開口部68から露
出したコア12の表面にH2SiF6溶液中の石英Si
O2か析出し、上記図30に示すように、色素等を添加
した石英等の被覆層168か形成された光ファイバ16
0か形成される。
イバの製造方法では、屈折率の異なる2種類のコア17
2、173とクラッド174を有するダブルコアの光フ
ァイバ171をエッチングして、上述の図31に示す光
ファイバ170を形成する。
か純石英からなり、コア172、173か酸化ゲルマニ
ウムを添加した石英からなる。コア172、173の酸
化ゲルマニウムの添加率は、それぞれ0.9モル%、
0.2モル%となっており、内側のコア172の方か酸
化ゲルマニウムの添加率が高くなっている。
ッ化アンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を10:
1:1とした緩衝フッ酸液中で10時間程度エッチング
する。このような緩衝フッ酸液中では、クラッド174
のエッチング速度かコア173より速いため、図85に
示すように、クラッド174か先にエッチングされてコ
ア173かクラッド174から徐々に露出し、露出した
コア173が側面からもエッチングされて先鋭化されて
先細り部176が形成される。
ア173のエッチング速度かコア172より速いため、
上記先細り部176の先端においてコア173か先にエ
ッチングされてコア172かコア173から徐々に露出
し、露出したコア172か側面からもエッチングされて
先鋭化されて突出部177か形成される。
緩衝フッ酸液でエッチングを行った場合、上述の緩衝フ
ッ酸液中のコア172、173とクラッド174のエッ
チング速度をそれぞれR1、R2、R3とすると、上記
先細り部176の先鋭角θ3は、上述の第23実施例の
第4エッチング工程と同様に、コア173とクラッド1
74のエッチング速度の比に応じて法まり、Sin(θ
3/2)=R2/R3(但し、R2:コア173のエッ
チング速度、R3:クラッドのエッチング速度)なる関
係を有している。また、上記突出部177の先鋭角θ1
は、上述の第23実施例の第4エッチング上程と同様
に、コア172とコア173のエッチング速度の比に応
じて決まり、sin(θ1/2)=R1/R2(但し、
R1:コア172のエッチング速度)なる関係を有して
いる。
のフッ化アンモニウムの比率Xを10としたが、比率X
か1.7のときに、コア172、173のエッチング速
度R1、R2とクラッド174のエッチング速度R3か
等しくなるために、フッ化アンモニウムの比率Xか1.
7の緩衝フッ酸液を用いてエッチングを行うことによ
り、クラッド174の径を制御することかできる。そし
て、さらにフッ化アンモニウムの比率Xが1.7より大
きい緩衝フッ酸液を用いることによって突出部177を
形成することができる。
3は、石英中に添加した酸化ゲルマニウムの比率に応じ
て変化する。また、この酸化ゲルマニウムの比率に応じ
て屈折率か変化するため、上記sin(θ3/2)、s
in(θ1/2)は、上記図41に示すよるに、それぞ
れコア173とクラッド174との間の比屈折率差△n
2とコア172とコア173との間の比屈折率差△n1
に依存して変化する。
は、上述のよるなダブルコアの光ファイバ171を用い
ることにより、クラッド174及びコア172、173
のエッチング速度の違いに基づいて、光ファイバ171
の先端を先鋭化することかでき、1図乃至2回のエッチ
ングにより上記図31に示す光ファイバ170を形成す
ることかできるため、光ファイバの製造を容易にするこ
とかできる。
ア172、173に添加する酸化ゲルマニウムの比率を
調整しておくことによって、上記先細り部176の先鋭
角θ3と突出部177の先鋭角θ1を制御することかで
きる。
上程において、フッ酸とシリコンオイル等の界面におい
て、メニスカスの高さか光ファイバの径に応じて減少す
る現象を利用して上記図38(B)に示すテーパー部2
21を形成しているか、外部からの振動等によって界面
の状態か影響を受け易く、エッチングの安定性及びテー
パー部221の先鋭角θ2の再現性の面でやや問題かあ
る。
は、クラッド174とコア173のエッチング速度の比
に応じて上記先細り部176の先鋭角θ3か決まるた
め、エッチングの安定性及び先鋭角θ3の安定性を向上
させることかできる。
イバの製造方法では、酸化ゲルマニウムを添加した石英
からなるコアと、該コアを覆う石英からなるクラッド
と、該クラッドを覆うフッ素あるいはホウ素を添加した
クラッドとからなるダブルクラッドの光ファイバをエッ
チングして、上述の第4O実施例と同様に、上記図31
に示す形状の光ファイバを製造する。
るいはホウ素を添加し、中心のコアに酸化ゲルマニウム
を添加したダブルクラッドの光ファイバを、上述のフッ
化アンモニウムの比率XをOとした緩衝フッ酸液でエッ
チングした場合には、コア172のエッチング速度かコ
ア173より速くなるため、図86(A)に示すよう
に、コア172の先端か先細り部176の先端のコア1
73に対して窪んだ凹部179か形成される。
ンモニウムの比率Xをl.7とした緩衝フッ酸液でエッ
チングした場合には、コア172とコア173のエッチ
ング速度かほぼ等しくなるため、図86(B)に示すよ
うに、上記先細り部176の先端にコア172とコア1
73の先端を面一とすることかできる。
ンモニウムの比率Xを1Oとした緩衝フッ酸液でエッチ
ングした場合には、コア173のエッチング速度かコア
172より速くなるため、図86(C)に示すように、
先細り部176の先端のコア172か先鋭化された突出
部177が形成される。
は、ます、第1エッチング工程において、光ファイバの
一端に上記図86(Bうに示すテーパー部と平坦部を形
成する。具体的には、例えば図87に示すよるに、光フ
ァイバ251の一端25Oを、フッ化アンモニウムの比
率Xを1.7とした緩衝フッ酸液でエッチングする。
るいはホウ素を添加した最外周のクラッド254のエッ
チング速度か、石英のクラッド253及び酸化ゲルマニ
ウムを添加したコア252に対して速いために、エッチ
ングか進行するにしたかってクラッド254からクラッ
ド253か突出する。この突出したクラッド252は、
側面からもエッチングされるため、上記図87中に破線
で示すよるに先鋭化される。このときの先鋭角θ3は、
上述の第40実施例と同様に、クラッド254とクラッ
ド253のエッチング速度の比に応じて決まる。
253の先端か先鋭化されて先細り部255か形成さ
れ、該先細り部255の先端のクラッド253とコア2
52か面一となった平坦部256か形成される。
チング時間か長くなると、平坦部256かさらにエッチ
ングされて先鋭化されてしまるか、続く第2エッチング
工程のエッチングを行うためには、クラッド254か完
全にエッチングする必要かある。このため、クラッド2
54の径は、この第1エッチングにおいて完全にエッチ
ングされる程度に小さくすることか望ましい。すなわ
ち、クラッド254のエッチング速度R3とし、平坦部
256を残して、先細り部255を形成するまでのエッ
チング時間をt1とすると、クラッド254の厚さδ3
は、δ3≦R1t1であればよい。
のように先細り部255及び平坦部256か形成された
光ファイバを上記フッ化アンモニウムの比率Xか1.7
より大きい、例えば1Oである緩衝フッ酸液中でエッチ
ングする。
3実施例と同様に、コア252のエッチング速度かクラ
ッドより遅いため、エッチングか進行するにしたかって
コア252かクラッド253から徐々に突出する。この
突出したコア252は、側面からもエッチングされて先
鋭化され、上記図88中に破線で示すように、上述の第
40実施例と同様に、先細り部176に連接した突出部
177か形成される。
第40実施例と同様に、コア252と、クラッド253
のエッチング速度に応じて決まる。具体的には、このよ
うなダブルクラッドの光ファイバを、フッ化アンモニウ
ムとフッ酸と水の体積比か1O:1.1である上述の緩
衝フッ酸液によりエッチングを行った場合、コア252
と、コア253のエッチング速度の比であるSin(θ
1/2)は、上記図41中に四角の点て示すように、コ
アとクラッドの比屈折率差△nか0.2%のときに、
O.63程度で、△nか0.7%のときにO.87程度
となる。
40実施例と同様に、クラッド254とコア253のエ
ッチング速度の比に応じて上記先細り部176の先鋭角
θ3か決まるため、エッチングの安定性及び先鋭角θ3
の安定性を向上させることかできる。
イバの製造方法では、上述の第41実施例と同様のダブ
ルクラッドの光ファイバをエッチングして先鋭化を行
う。
の第41実施例と同様のダブルクラッドの光ファイバの
一端を、上述のフッ化アンモニウムの比率Xか1.7よ
り大きい、例えば10である緩衝フッ酸液を用いてエッ
チングする。
254のエッチング速度に対してクラッド253のエッ
チング速度か速く、クラッド253のエッチング速度に
対してコア252のエッチング速度か速い。このため、
このよるな緩衝フッ酸液でエッチングを行うと、図89
に示すよるに、クラッド254からクラッド253か徐
々に突出しクラッド254から露出したクラッドか側面
からエッチングされて先鋭角θ3で先鋭化された先細り
部255か形成され、先細り部255のクラッド253
の先端からコア252か突出し、突出したコア252か
側面からエッチングされて先鋭角θ1で先鋭化された突
出部257か形成される。
よるな光ファイバをさらにフッ化アンモニウムの比率X
か1.7より大きい緩衝フッ酸液中でエッチングする
と、図90に示すよるに、上述の第41実施例の第2エ
ッチング工程と異なり、先鋭部255の先端にコア25
2か突出した突出部257を形成しているために、突出
部257か側面からエッチングされるとともに、先細り
部255から露出した突出部255の基端のコア252
か側面からエッチングされて、先鋭角θ1の小さい突出
部177を形成することかできる。
257の基端のコア252か露出する見かけ上のクラッ
ド253のエッチング速度は、先鋭角θ3の先細り部2
55を形成しているために、実際のクラッド253のエ
ッチング速度R2の1/{8in(θ3)}倍になる。
コア252、クラッド253、254のエッチング速度
をそれぞれR1、R2、R3とすると、 Sin(θ1/2) = Sin(θ3/2)×(R1 /R2 ) = (R2 /R3 )×(R1 /R2 ) = R1 /R3 となる。
述の第40及び第41実施例のエッチング時間を延長し
ても形成することかできる。例えば第40実施例におい
て、フッ化アンモニウムの比率Xを10程度として10
時間程度のエッチングを行ってもよい。
イバの製造方法では、まず、上述の第40実施例と同様
なエッチングを行って上記図31に示す形状の光ファイ
バ170を形成する。あるいは、上述の第41あるいは
第42実施例と同様なエッチングによって、このよるな
形状の光ファイバ170を形成してもよい。
0の突出部177の表面に上述の第29あるいは第30
実施例と同様にコーティングを行って遮光性の被覆層1
86を形成し、さらに、第29あるいは第30実施例と
同様に開口工程の処理を行って、突出部177の先端か
遮光性の被覆層186から露出した開口部189を形成
する。これにより、上記図32に示す形状の光ファイバ
180が形成される。
イバの製造方法では、まず、第1エッチング工程におい
て、図91(A)に示す光ファイバ11の一端を、フッ
化アンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を1,8:
1:1とした緩衝フッ酸液中で85分程度エッチングす
る。このよるな緩衝フッ酸液中では、クラッド13のエ
ッチング速度かコア12に対して若干速いため、図91
(B)に示すよるに、クラッド13から突出したコア1
2か先鋭化された突出部198か形成される。
よるに突出部198か形成された光ファイバを、フッ化
アンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を1O。1:1
とした緩衝フッ酸液中で85分程度エッチングする。こ
のよるな緩衝フッ酸液中では、クラッド13のエッチン
グ速度かコア12に対して比較的速いため、図92に示
すよるに、クラッド13か先にエッチングされる。この
とき、突出部198の形状を保ったまま、クラッド13
から露出したコア12か先鋭化され、図91(C)に示
すよるに、クラッド13から突出したコア12か先鋭化
された突出部194と、該突出部194の先端の先鋭角
を大きくした検出端部195か形成される。
出部194の表面に上述の第29あるいは第30実施例
と同様にコーティングを行って遮光性の被覆層196を
形成し、さらに、第29あるいは第3O実施例と同様に
開口工程の処理を行って、検出請部195の先端か遮光
性の被覆層196から露出した開口部197を形成す
る。これにより、上記図33に示す形状の光ファイバ1
90が形成される。
ティング工程及び開口工程と同様な方法により、検出端
部195の先端に開口部197を形成する場合、検出端
部195の先鋭角か大きいため、第2コーティング工程
において、耐腐食性の被覆層から遮光性の被覆層か露出
する露出部の径を制御することか難しいため、開口部1
97の径を制御することは困難である。
ティング工程及び開口工程と同様な処理を行って、上記
図34に示す第1の被覆層198を形成する。そして、
該第1の被覆層198から露出した突出部194及び検
出端部195の表面に、上記第23あるいは第24実施
例のコーティング工程と同様に真空蒸着により第2の遮
光性の被覆層199を形成する。最後に、上記第23あ
るいは第24実施例の開口工程と同様に第2の遮光性の
被覆層199をエッチングして開口部197を形成す
る。
することにより、検出光の波長程度以下の開口径を有す
る開口部197を容易に形成することかできる。
イバの製造方法では、ます、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
に水、触媒を加えて形成したゾル中に上記突出部65の
先端を浸漬させる。このよるに、突出部65の先端をゾ
ル中に浸漬させると、突出部65の表面に該ゾルか付着
してゾル層か形成される。このよるなゾル層を乾燥させ
ると、ゾルか固体のゲルとなり、上記図36に示すよる
に、ゲル層からなる被覆層207が形成される。この被
覆層207は、クラッド13と同様に機能するため、突
出部65と該被覆層207の境界での光の反射率を高く
することかでき、伝達効率を向上させることかできる。
して非晶質の層としてもよい。また、上述のようにゲル
層を形成した後、さらに突出部65にゾルを付着させ
て、ゲル層を積層して形成してもよい。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
5の突出部65を、上述の第38実施例と同様に、石英
8io2を過剰に溶解させて飽和状態となっているH2
8i F6溶液中に浸漬する。このような溶液中に、突
出部65を浸漬すると、突出部65の表面にH2SiF
6溶液中の石英SiO2か析出して、図93に示すよう
に、突出部65の表面に石英の被覆層216か形成され
る。そして、このような石英の被覆層216の表面に金
等の遮光性の素材をコーティングする。これにより、図
94に示すように、石英の被覆層216の表面に遮光性
の被覆層217か形成される。
溶かした溶剤中に浸漬させ、遮光性の被覆層217の表
面に付着した溶剤を蒸発させると、図95に示すよう
に、遮光性の被覆層217の表面に耐腐食性の被覆層2
18か形成される。遮光性の被覆層217の先端は、上
記溶剤の表面張力によって、耐腐食性の被覆層218か
ら露出している。そして、該耐腐食性の被覆層218か
ら露出した遮光性の被覆層217の先端部をエッチング
した後、耐腐食性の被覆層218を除去すると、図96
に示すよるに、石英の被覆層216の先端か遮光性の被
覆層217から露出した露出部219か形成される。
モニウム水溶液とフッ酸と水からなる緩衝フッ酸液ある
いは水酸化ナトリウム水溶液によってエッチングするこ
とにより、突出部65の先端か石英の被覆層216から
露出した開口部218か形成され、上述の図37に示す
形状の光ファイバ210Oか形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
部65の表面にパラジウム等の触媒金属核を析出させて
活性化処理を行う。具体的には、突出部65を塩化スズ
8uC12、塩化パラジウムPdC12、塩酸等の混合
液に浸漬する。これにより、突出部65の表面にパラジ
ウムか析出する。
部65を塩化スズ8uC12の水溶液中に浸漬する。こ
れにより、突出部65の表面にスズか吸着する。次に、
このよるに表面にスズを析出させた突出部65を塩化パ
ラジウムPdC12の水溶液中に浸漬する。これにより
突出部65の表面のスズかパラジウムに置換される。
突出部65の表面に無電界メッキによりニッケルの被覆
層を形成すると、突出部65の先端には、ニッケルの被
覆層が形成されにくく、図97に示すように、突出部6
5の先端かニッケルの被覆層から露出した開口部68か
形成される。
理を施した後、無電界メッキを行うことにより、容易に
開口部68を形成することかできる。
め、ニッケルの被覆層の上に、さらに金を無電界メッキ
して金の被覆層を形成することかできる。
イバの製造方法では、上述の第23実施例の第1から第
4エッチング工程と同様の処理を行って、上記図38
(E)に示すよるに、クラッド13の外周からコア12
の中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部14を有する
光ファイバ225を形成する。
処理及び無電界メッキを施すことにより、先鋭部14の
表面に遮光性の被覆層を形成するとともに、該遮光性の
被覆層の先端に開口部を容易に形成することかできる。
は、光ファイバの一端にクラッドの外周からコアの中心
にかけて先鋭化した先鋭部を有し、先鋭部の表面に遮光
性の被覆層を有し、先鋭部の先端か遮光性の被覆層から
露出した開口部を有する。このよるな光ファイバでは、
先鋭部の表面の遮光性の被覆層は、開口部以外に照射さ
れる光を遮断する遮光部として機能する。これにより、
開口部からのみ光を人出力することかでき、数乱光等の
影響を低減させて検出効率を向上させることかできる。
セント光を検出するフォトン走査型顕微鏡において、エ
バネッセント光を数乱させて検出する光プローブとして
使用し、先鋭部の先端を物質表面に近接させ、先鋭部の
先端で、物質表面のエバネッセント光を散乱させてコア
に導くことにより、検出効率よくエバネッセント光を検
出することかできる。
の一端にクラッドの厚さを小さくした径小部を有し、こ
の径小部の先端にコアを先鋭化した先鋭部を有し、先鋭
部の表面に遮光性の被覆層を有し、該遮光性の被覆層か
ら先鋭部の先端か露出するとともに、遮光性の被覆層に
対して先鋭部の先端か陥没したピットを有する。また、
このピットに蛍光体あるいは試薬等の周囲の環境に応じ
て光学特性か変化する機能性物質を付設している。この
よるな光ファイバでは、ピット中の機能性物質か周囲の
環境に反応して、光学特性か変化する。この光学特性の
変化は、光ファイバの他端において検出することによ
り、測定の空間解像度を向上させた検出を行うことかで
きる。
の被覆層の先端より陥没したピット内部に機能性物質を
付着されているため、光ファイバの先端か被測定物に衝
突した場合等において、色素か直接被測定物に衝突せず
に保護される。このため、光ファイバの耐久性を向上さ
せることかできる。
である。
ント波を検出する動作を示す図である。
である。
図である。
構造を示す図である。
図である。
構造を示す図である。
図である。
図である。
す図である。
す図である。
す図である。
す図である。
す図である。
な構造を示す図である。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
微鏡のコレクションモードでの動作を原理的に示す図で
ある。
微鏡のイルミネーションモードでの動作を原理的に示す
図である。
造を示す図である。
示す図である。
布を示す図である。
的な構造を示す図である。
示す図である。
を示す図である。
示す図である。
示す図である。
的な構造を示す図である。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
覆層の他の具体的な構成を示す図である。
を示す図である。
示す図である。
示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
第1エッチング工程を示す図である。
第4エッチング工程を示す図である。
ッドの間の比屈折率差と先鋭角の関係を示す図である。
組成を変化させたときの先鋭角の変化を示す図である。
組成を変化させたときの先鋭角の変化を示す図である。
コーティング工程を示す図である。
開口工程を示す図である。
けるエッチング時間とクラッド径及び先端の曲率半径の
関係を示す図である。
工程を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
エッチング工程におけるエッチング時間とクラッド径の
関係を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
部の先鋭角を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
第2エッチング工程を示す図である。
第1コーティング工程を示す図である。
第1コーティング工程において先端にコーティングを行
った光ファイバの構造を示す図である。
第2コーティング工程において先端にコーティングを行
った光ファイバの構造を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
ティング工程を示す図である。
感光体層形成工程を示す図である。
感光体層形成工程において感光体層を形成した光ファイ
バの構造を示す図である。
感光体層形成工程においてクラッド径を変化させたとき
の感光体の付着体を示す図である。
感光工程を示す図である。
間力顕微鏡の構成を示す図である。
端とプリズム表面の間の距離と、光ファイバの振動の振
幅の関係を示す図である。
露出部が形成された光ファイバの構造を示す図である。
部の構造を示す拡大図である。
法のピット形成工程を示す図である。
ピット形成工程においてピットを形成した光ファイバの
構造を示す図である。
色素付着工程において色素を付着させた光ファイバの構
造を示す図である。
法を示す図である。
法を示す図である。
法を示す図である。
より形成された光ファイバの突出部の形状を示す拡大斜
視図である。
より形成された他の光ファイバの突出部の形状を示す拡
大斜視図である。
エッチング工程におけるエッチング時間と、チップ長及
び先鋭角との関係を示す図である。
ァイバの製造方法により形成した突出部のチップ長及び
先鋭角との関係を示す図である。
法を示す図である。
ァイバの屈折率分布を示す図である。
先端の半径の分布を示す図である。
先端の半径の分布を示す図である。
先端の半径の分布を示す図である。
法を示す図である。
エッチング上程のエッチングを示す図である。
法のエッチング工程のエッチングを示す図である。
使用するエッチング液の組成を変えたときに形成される
光ファイバの形状を示す図である。
法を示す図である。
エッチング工程における先鋭化を示す図である。
法を示す図である。
エッチング工程における先鋭化を示す図である。
法を示す図である。
第2エッチング工程のエッチングを示す図である。
法を説明するための図である。
説明するための図である。
説明するための図である。
説明するための図である。
法で表面に被覆層を形成した突出部の先端の拡大図であ
る。
5)
一郎 コアと、このコアを覆ってコア内を伝搬する光を
遮光するクラッドとからなり、光を入出力するための先
鋭部を有する光ファイバ及びその製造方法に関する。
い領域に局在するエバネッセント光を検出して物体の形
状を測定するフォトン走査型顕微鏡は、従来の光学顕微
鏡の回折限界を超えた分解能をもつ超高分解能光学顕微
鏡として知られている。
試料1の裏面から試料表面を照射すると試料表面には表
面形状に応じてエバネッセント光の場が発生する。
示すように、エバネッセント光の波長程度以下の開口を
もつ検出端部2を形成した光プローブ3でこのエバネッ
セント場の強度を測定することにより、従来の光学顕微
鏡の回折限界を超えた分解能を得ることができる。
ン走査型顕微鏡の分解能は、光プローブの実効的な開口
径によって決定される。一方、エバネッセント光の強度
は、試料表面からの距離とともに指数関数的に減少する
ことから、光プローブは、単に先端を鋭くするだけでも
等価的に開口径を小さくすることができる。したがっ
て、フォトン走査型顕微鏡の分解能を向上させるために
は、光プローブの先端を鋭くすることが重要である。
ローブは、クラッド径D(90μm程度)が検出端部2
の長さL(2〜6μm程度)よりもずっと大きいので、
クラッドの周端部4が試料1の表面に衝突して、試料あ
るいは光プローブ5自体を破損する虞れがあった。
課題を解決するための光ファイバを提案し、先に特願平
5−291829号、特願平6−53626号、特願平
6−55697号、PCT/JP 94/00906と
して出願している。これらの出願では、光ファイバの一
端のクラッドから突出したコアを先端先細り状に先鋭化
した検出端部の基端にクラッドの径を径小とした径小部
を形成し、あるいは検出端部とクラッドを共に先端先細
り状に先鋭化してクラッドの周端部が試料表面に衝突す
ることを防止している。
は、エバネッセント光の強度が極めて小さいので、散乱
光の影響を避け、エバネッセント光の検出効率を高くす
る必要がある。例えば光プローブの検出端部の表面に遮
光性の被覆層を形成し、該被覆層の先端に検出光の波長
程度以下の微小な開口を形成し、検出するエバネッセン
ト光を開口からのみ入射させることにより、開口以外の
領域に照射される散乱光等を遮光し、散乱光等の影響を
低減させることが考えられる。
は、検出効率を向上させるために、真空中で光ファイバ
を、その中心軸を中心として回転させ、検出端部の側方
あるいは後方から遮光性の物質の蒸気を供給することに
より、検出端部の表面に、遮光性の被覆層を形成すると
ともに、検出端部の先端が遮光性の被覆層から露出した
開口部を形成するようになっている。
成し、なおかつ、波長程度以下の微小な開口を再現性よ
く形成することが困難である問題があった。
に応じて光学特性が変化する機能性物質、例えば蛍光
体、試薬等を付着させた光ファイバセンサが知られてい
る。このような光ファイバセンサは、例えば図3に示す
ように、光ファイバの一端にコアを先鋭化した先鋭部6
を形成し、該先鋭部6の表面に遮光性の被覆層7を形成
し、先鋭部6の先端が遮光性の被覆層7から露出した開
口部に蛍光体、試薬等の機能性物質8を付着させて形成
されている(eds.W.Pohl&D.Courjon:Near Field opti
cs(Book)1993,17-24)。
部6の先端の機能性物質8は、例えば周囲の光強度、p
H等の環境に応じて光学特性が変化し、例えば発光ある
いは吸光スペクトル等が変化する。そして、このような
光学特性の変化を、先鋭部6の他端において検出するこ
とにより、先鋭部6の周囲の環境を検出するようになっ
ている。このような光ファイバセンサ5では、先鋭部6
の先端に付着させる機能性物質8のサイズを小さくする
ことができ、従来の電気的センサと比較して検出の空間
解像度を向上させ、また、応答時間を高速化することが
できる。
サでは、機能性物質を、剥離強度が高い状態で光ファイ
バの先端に付着させることが困難であるため、耐久性を
向上させることが困難であった。
解決するために、検出効率が高い光ファイバを提供する
ことにある。
バを容易に形成することができる光ファイバの製造方法
を提供することを目的とする。
解決するために提案されたものであって、光を伝搬させ
るコアと、このコアを覆ってコア内を伝搬する光を遮光
するクラッドとからなる光ファイバにおいて、光ファイ
バの一端のクラッドから突出したコアを先端先細り状に
先鋭化した先鋭部と、上記先鋭部の先端に設けられ、該
先鋭部よりも大きな先鋭化角を有する検出端部と、上記
先鋭部及び検出端部の表面に形成された遮光性の金属被
覆層と、上記先鋭部の先端を上記金属被覆層から外部に
露出させる開口径が光の波長以下の開口部とを有するこ
とを特徴とする。
は、光を伝搬させるコアと、このコアを覆ってコア内を
伝搬する光を遮光するクラッドとからなる光ファイバの
一端をエッチングしてクラッドの外周からコアの中心に
かけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成する第1のエッ
チング工程と、上記先鋭部の先端をエッチングして、該
先鋭部よりも大きな先鋭化角を有する検出端部を形成す
る第2のエッチング工程と、上記先鋭部及び及び検出端
部の表面に遮光性の素材をコーティングして遮光性の被
覆層を形成するコーティング工程と、上記検出端部の先
端を遮光性の被覆層から露出させて開口部を形成する開
口工程とを有することを特徴とする。
て図面を参照して詳細に説明する。
有し、このコアを覆ってクラッドが設けられて、長尺状
の線状体として形成されている。そして、光ファイバの
一端にコアの先端を先鋭化した先鋭部が設けられてお
り、先鋭部の表面に遮光性の被覆層を有し、先鋭部の先
端が遮光性の被覆層から露出した開口部を有している。
この光ファイバでは、遮光性の被覆層が開口部以外に照
射される光を遮断する遮断部として機能し、開口部から
のみ光を入出力するようになっている。
との境界で反射を繰り返してコア内を伝搬し、上記先鋭
部において集光されて、開口部から外部に照射される。
また、開口部から先鋭部に入射した光は先鋭部を介して
コア中に導かれ、コア中を伝搬する。この伝搬光は、光
ファイバの他端において検出される。
例えば図4に示すように、コア12径がdcでクラッド
13径がd0の光ファイバ11の一端にクラッド13の
外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化した先
端角がθ1である先鋭部14を有している。そして、こ
の光ファイバ10は、先鋭部14の表面に遮光性の被覆
層15を有し、先鋭部14の先端が遮光性の被覆層15
から露出した開口部16を有する。
4μmで、クラッド13径d0は125μmで、コア1
2は、酸化ゲルマニウムGeO2を添加した石英SiO
2からなり、クラッド13は、石英SiO2からなる。
上記先鋭部14の先鋭角θ1は、例えば20°乃至25
°程度となっている。また、遮光性の被覆層15は、例
えば金、銀、アルミニウム等の遮光性に優れた物質から
なり、図5に先鋭部14の先端の拡大図を示すように、
100nm程度の厚さで形成されている。また、上記開
口部16の直径は、30nmとなっており、検出光の波
長より小さくなっている。また、先鋭部14の先端の曲
率半径は、5nm以下(すなわち、先鋭部14の先端の
直径が10nm以下)となっている。
ばエバネッセント光を検出して物体の形状を測定するフ
ォトン走査型顕微鏡においてエバネッセント光を検出す
る光プローブとして使用される。このフォトン走査型顕
微鏡では、先鋭部14を物質表面に近接させた状態で、
光ファイバ10で物質表面上を走査する。物質表面付近
に存在するエバネッセント光は、先鋭部14の先端で散
乱され、先鋭部14を介してコア12中に導かれる。そ
して、このフォトン走査型顕微鏡は、コア12に導かれ
た光を先鋭部14の他端において検出する。
表面からの距離に応じて減衰するため、先鋭部14の先
端で散乱されるエバネッセント光の強度は、物質表面と
先鋭部14の先端との距離に応じて変化する。したがっ
て、上記走査に応じたエバネッセント光の検出出力の強
度分布を求めることにより、物質表面の形状を測定する
ことができる。
層15が光を遮る遮光部として機能するため、開口部1
6以外に照射される光がコア12に入射することを防止
できる。このため、先鋭部14の先端の開口部16から
開口部16の大きさに近い波長の検出光を選択的に取り
込むことができる。これにより、散乱光の影響を減少さ
せて検出効率を高くすることができ、強度が極めて弱い
エバネッセント光を確実に検出することができる。
3の外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化し
た先鋭部14を設けているため、光ファイバ10により
試料表面上を走査する際に、クラッド13の周端部が試
料表面に衝突することなく、試料表面あるいは光ファイ
バ10を損傷することを防止することができる。
は、図6に示すように、上述の第1実施例の光ファイバ
10と同様に、光ファイバ11の一端にクラッド13の
外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化した先
鋭部24を有している。そして、この光ファイバ20
は、先鋭部24の表面に遮光性の被覆層25を有し、遮
光性の被覆層25の表面の先端以外の部分に耐腐食性の
被覆層26を有し、先鋭部24の先端が遮光性の被覆層
25及び耐腐食性の被覆層26から露出した開口部27
を有する。
鋭部24の先端の拡大図を示すように、5nm以下であ
る。遮光性の被覆層25は、例えばアルミニウム等から
なり、800nm程度の厚さで形成されている。耐腐食
性の被覆層26は、例えば金などからなり、80nm程
度の厚さで形成されている。また、上記開口部27の直
径は、例えば40nmとなっている。
の第1実施例の光ファイバ10と同様に、フォトン走査
トンネル顕微鏡においてエバネッセント光を検出する光
プローブとして使用される。上記遮光性の被覆層25を
構成するアルミニウムは、遮光性が高く、さらに導電性
が高いため、外乱によるノイズに影響されずに測定を行
うことができる。また、アルミニウムは、安価に入手で
きるため、遮光性の被覆層25として適当であるが、使
用遮光性の被覆層25として使用することができる材質
は、アルミニウムだけでなく、遮光性が高く、導電性が
高い材質であれば、金、銀、白金等でもよい。
すように、光ファイバ11の先端に円錐状の先鋭部33
を有し、光ファイバ11の基端にクラッド13が先細り
状とされた先細り部34を有し、上記先鋭部33と先細
り部34との間にクラッド13径がd1dc<d1<d
0)とされた径小部35を有する。
うに長さL0の径小部35のクラッド13の径が細くな
っているため、わずかな力によっても光ファイバ30の
径方向にたわむようになっている。
例えば物質を構成する原子間に働く力を検出する原子間
力顕微鏡において原子間力を測定するプローブとして使
用し、共振周波数で共振させた状態で、物質表面に近接
させ、原子間力による振幅の変化を測定すれば、検出感
度の高い原子間力の検出を行うことができる。
のフォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブとしても用
いることができる。この場合、光ファイバ30の一端か
らの検出光を上述のフォトン走査トンネル顕微鏡の検出
部に供給することにより、上述の原子間力の検出と、エ
バネッセント光の検出を同時に行うことができる。
に示すように、上述の第3実施例の光ファイバ30と同
様に、光ファイバ11の先端に円錐状の先鋭部43を有
し、光ファイバ11の基端にクラッド13が先細り状と
された先細り部44を有し、上記先鋭部43と先細り部
44との間にクラッド13径がd1(dc<d1<
d 0)とされた径小部45を有する。また、この光ファ
イバ40は、上記先鋭部43の表面に遮光性の被覆層4
6を有し、該遮光性の被覆層47の先端に、コア12の
先端が露出した開口部47を有する。
に示す光ファイバ30と同様に原子間力顕微鏡において
原子間力を測定するプローブとして使用することがで
き、光ファイバ40の一端からの検出光を上述のフォト
ン走査トンネル顕微鏡の検出部に供給することにより、
原子間力の測定と同時にエバネッセント光の測定を行う
光プローブとして使用することができる。この場合、遮
光性の被覆層47が、開口部47以外からコア12に入
射する光を遮断する遮光部として機能するため、エバネ
ッセント光の検出感度を向上させることができる。
は、例えば図10に示すように、上記第1及び第2実施
例の光ファイバと同様に、光ファイバ11の一端にクラ
ッド13を先細り状に先鋭化した先鋭部51を有し、こ
の先鋭部51の先端から突出したコア12を先鋭化した
突出部52を有し、突出部52の表面に遮光性の被覆層
53を有し、突出部52の先端が遮光性の被覆層53か
ら露出した開口部54を有する。
は、上記図4及び図6に示すように、コア12の先鋭角
θ1が、クラッド13の先鋭角θ2とほぼ等しくなって
いるが、この光ファイバ50では、コア12の先鋭角θ
1が、クラッド13の先鋭角θ 2より小さくなってい
る。
フォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブとして用いる
ことができる。この光ファイバ50では、遮光性の被覆
層53を設けているため、開口部54からのみ検出光を
入射させることができ、検出効率を向上させることがで
きる。
は、例えば図11に示すように、上記第1及び第2実施
例の光ファイバと同様に、光ファイバ11の一端にクラ
ッド13を先細り状に先鋭化した先鋭部51を有し、こ
の先鋭部15の先端から突出したコア12を先鋭化した
突出部52を有し、突出部52の表面に遮光性の被覆層
53を有し、突出部52の先端が遮光性の被覆層53か
ら露出した開口部54を有する。
記図10に示すように、コア12の先鋭角θ1が、クラ
ッド13の先鋭角θ2より小さくなっているが、この光
ファイバ55では、コア12の先鋭角θ1が、クラッド
13の先鋭角θ2より大きくなっている。
第5実施例の光ファイバ50と同様に、フォトン走査ト
ンネル顕微鏡の光プローブとして用いることができる。
この光ファイバ55では、遮光性の被覆層53を設けて
いるため、開口部54からのみ検出光を入射させること
ができ、検出効率を向上させることができる。
コア12径が光の波長程度以下となると、コア12中に
閉じこめておくことができなくなる。このため、このよ
うな光ファイバの表面に導電性の被覆層が形成されてい
ると、コア12から洩れ出た光が導電性の被覆層によっ
て吸収されてしまい、伝搬効率が低下する。
コア12の先鋭角θ1が、クラッド13の先鋭角θ2よ
り大きくなっているために、突出部52のコア12の径
が検出光の波長程度以下になる位置から、突出部の先端
までの距離が短くなっている。このため、この光ファイ
バ55では、突出部52での光の吸収を低減させること
ができ、光の伝搬効率を向上させて、光検出効率を向上
させることができる。
は、例えば図12に示すように、光ファイバ11の一端
にクラッド13を径小とした径小部64を有し、この径
小部64の先端にコア12を先鋭化した突出部65を有
する。そして、この光ファイバ60は、上記突出部65
の表面に金等からなる遮光性の被覆層66を有し、該遮
光性の被覆層66の先端以外の表面に合成樹脂等からな
る耐腐食性の被覆層67を形成した後、上記遮光性の被
覆層66をエッチングすることにより形成され、上記突
出部65の先端が遮光性の被覆層66から露出した開口
部68を有する。
トン走査型トンネル顕微鏡においてエバネッセント光を
検出する光プローブとして使用され、突出部65を物質
表面に近接させて突出部65でエバネッセント光を散乱
させ、この散乱した光をコア12に導いて検出するよう
になっている。この光ファイバ60では、遮光性の被覆
層66が光を遮る遮光部として機能し、突出部65の先
端の開口部68が検出光を散乱させて突出部65に導く
検出部として機能し、開口部68から検出光を選択的に
取り込むことができる。そして、突出部65に取り込ま
れた検出光は、突出部65からコア12に導かれる。
部68以外から散乱光がコア12に入射されることがな
く、散乱光の影響をなくして検出効率を高くすることが
でき、パワーが極めて小さいエバネッセント光を確実に
検出することができる。
うに光ファイバ11の一端に径小部64を形成し、径小
部64の先端に突出部65を形成したため、該径小部6
4が突出部65を延長する延長部材として機能する。こ
のため、フォトン走査トンネル顕微鏡において試料表面
を走査させたときに、クラッド13の周端部が試料表面
に衝突することがなく、試料表面又は光ファイバ60の
先端を損傷することを防止することができる。
の径d2を径小部64の長さに対して小さく設定したた
め、わずかな外力によっても光ファイバ11の径方向に
たわむようになる。
60を、例えば物質を構成する原子間に働く力を検出す
る原子間力顕微鏡において原子間力を測定するプローブ
として使用すれば、検出感度の高い原子間力の検出を行
うことができる。この場合、光ファイバ60の一端を上
述のフォトン走査トンネル顕微鏡の検出部に供給するこ
とにより、原子間力の測定と同時にエバネッセントの測
定を行うことができる。
るいはネオジウムNd3+等を添加することができる。
このような組成とすることにより、エルビウムEr3+
あるいはネオジウムNd3+等によってコア12中を伝
搬する光を増幅させることができ、コア12自体に光増
幅機能を持たせることができる。
せた光ファイバを用いて構成した光ファイバを上述のフ
ォトン走査トンネル顕微鏡等に使用した場合には、開口
部68から入射した検出光をコア12内で増幅すること
ができ、光検出感度を飛躍的に向上させることができ、
感度の高い光検出を行うことができる。
iO2からなるコア12と、フッ素Fを添加した石英S
iO2からなるクラッド13を有するシングルモードフ
ァイバを用いて形成してもよい。
は、例えば図13に示すように、コア12とクラッド1
3からなる光ファイバ11の一端にクラッド13が先細
り形状に形成されたテーパー部71を有し、テーパー部
71の先端にクラッドが平坦とされた平坦部74を有
し、円錐形状に先鋭化されたコア12が平坦部74から
突出した突出部75を有する。また、この光ファイバ7
0は、突出部75の表面に遮光性の被覆層76及び耐腐
食性の被覆層77を有し、突出部75の先端が遮光性の
被覆層76及び耐腐食性の被覆層77から露出した開口
部78を有している。
部75の基端にクラッド13が先細り状とされたテーパ
ー部71が形成されているために、突出部75の基端の
強度を高くすることができ、上述のフォトン走査トンネ
ル顕微鏡に使用した場合に、試料表面に衝突したときな
どに破壊されにくく、耐久性を向上させることができ
る。
は、例えば図14に示すように、第7実施例の光ファイ
バ60と同様に、光ファイバ11の一端にクラッド13
を径小とした径小部84を有し、この径小部84の先端
にコア12を先鋭化した突出部85を有する。そして、
この光ファイバ80は、上記突出部85の表面に金等か
らなる遮光性の被覆層86を有し、突出部85の先端が
遮光性の被覆層86から露出した開口部87を有する。
表面に感光体層を形成した後、エバネッセント光により
該感光体層の先端のみを選択的に露光し、露光した感光
体層を除去して感光体層の先端に露出部を形成した後、
露出部より露出した遮光性の被覆層86をエッチングす
ることにより形成されている。このため、この開口部8
7は、例えば図15に示すように、50nm程度の極め
て小さい径を有する開口となっている。
7実施例の光ファイバ60と同様に、フォトン走査型ト
ンネル顕微鏡においてエバネッセント光を検出する光プ
ローブとして使用され、突出部85の先端の開口部87
が検出光を散乱させて突出部85に導く検出部として機
能し、開口部87から検出光を選択的に取り込むことが
できるため、散乱光の影響をなくして検出効率を高くす
ることができ、パワーが極めて小さいエバネッセント光
を確実に検出することができる。
と同様に試料表面又は光ファイバ60の先端を損傷する
ことを防止することができる。
は、例えば図16に示すように、上述の第7及び第9実
施例の光ファイバ60、70と同様に、クラッド13径
を径小とした径小部94と、コア12を先鋭化した突出
部95と、突出部95の表面に形成された遮光性の被覆
層96とを有する。
覆層96の先端部が除去された開口部91と、開口部9
1の遮光性の被覆層96の先端に対して突出部95の先
端が陥没したピット93を有する。このピットの径93
は、50nm程度となっており、このピット93の中に
色素あるいは試薬などの周囲の環境に応じて光学特性が
変化する物質92を有する。
ト93に上記物質92として色素あるいは蛍光体等を付
着させておき、ピット93の反対側のコア12にレーザ
光等の光を入射すると、コア12を伝搬した光が突出部
95により集光されてピット93中の色素あるいは蛍光
体等を発光させる。そして、この発光によりピット93
外の被測定物等を照射することにより、微小な光源とし
て機能する。
は、ビット93に色素あるいは試薬等の周囲の環境に応
じて光学特性が変化する物質92を付着させることによ
り、例えば発光、pH、特定の物質等のピット93の周
囲の環境に応じて物質92の光学特性が変化する。この
物質92の光学特性の変化をコア12を介して伝搬され
る光によってビット93の反対側で検出することによ
り、ピット93の周囲の環境を検出する光ファイバセン
サとして機能する。
スペクトルが変化するフルオレセイナミン(fluorescei
namine)等の色素を使用すると、この光ファイバはpH
を検出するpHセンサとして機能する。すなわち、この
ような光ファイバ90は、上述のように開口部91の径
が50nm程度であるため、空間解像度を向上させたp
Hセンサとして使用することができる。
囲の環境を検出するための物質92がピット93の内部
に形成されているため、光ファイバの先端が被測定物に
衝突したときでも、上記物92が遮光性の被覆層96の
先端によって保護されているため剥離しにくい。このた
め、このような光ファイバ90は、色素などの検出部の
剥離強度を向上させて耐久性を向上させることができ
る。
は、例えば図17に示すように、コア12と、クラッド
13を共に先細り状に先鋭化した先鋭部104を有し、
先鋭部104の先端のクラッド13から突出したコア1
2が円錐状に先鋭化された突出部105を有する。この
突出部105の基端の径は、100nm程度となってい
る。上記コア12は、酸化ゲルマニウムGeO2を高濃
度に添加した石英SiO2からなり、クラッド13は、
石英SiO2からなる。
光ファイバ11中を伝搬する光は、コア12径が徐々に
減少すると、光が伝搬する領域の径が減少してパワー密
度が増加する。したがって、コア12径を徐々に減少さ
せることにより、コア12中を伝搬する光を集光させる
ことができる。
以下になると、コア12とクラッド13の境界を越えて
クラッドモードで伝搬するため、伝搬光の強度が減少す
る。このため、コア12径が波長程度以下となる位置か
らコア12の先端までの距離を短くして光の減衰を低減
させることが望ましい。
突出部105の基端の径が100nm程度と、検出光の
波長程度以下となっているため、コア12中を伝搬する
光がクラッド13中に伝搬せず、光の減衰を低減するこ
とができる。
は、例えば図18に示すように、コア12と、クラッド
13が共に先細り状に先鋭化した先鋭部114を有し、
先鋭部114のクラッド13の先端から円錐状に先鋭化
したコア12が突出した突出部115を有し、該突出部
115の表面に遮光性の被覆層116を有し、該被覆層
116の先端から突出部115の先端が露出した開口部
117を有する。該開口部117の直径は、30nm程
度と検出光の波長より小さくなっている。
述のフォトン走査トンネル顕微鏡においてエバネッセン
ト光を検出する光ファイバとして使用される。
ム120上の試料121の裏面からレーザ光を、該プリ
ズム120の全反射角で入射させる。このとき、レーザ
光はプリズム120表面で反射されるが、プリズム12
0表面には、物質表面の光の波長程度以下の領域を伝搬
するエバネッセント光が発生する。このエバネッセント
光は、試料121を介して伝搬し、試料121表面の光
の波長程度以下の領域にエバネッセント光の場が発生す
る。
度以下の距離の位置に、上記光ファイバ110の先端の
開口部117を近接させると、開口部117の先端でエ
バネッセント光が散乱されてコア12中に入射する。そ
して、コア12中に入射した光はコア12中を伝搬し、
開口部117の他端に設けられている受光部122に入
射する。
層116を設けているために開口部117以外からは、
光ファイバ11中にエバネッセント光が入射しない。こ
のため、検出感度及び空間解像度を向上させることがで
きる。
フォトン走査顕微鏡のコレクションモードの動作と呼ば
れる。これに対し、フォトン走査トンネル顕微鏡のイル
ミネーションモードの動作では、図20に示すように、
開口部117の他端からコア12中にレーザ光を入射さ
せる。そして、上述の図17に示す光ファイバ100と
同様に、先鋭部114でコア12中の光が集光される。
先鋭部114で集光された光は、開口部117の径が光
の波長程度以下となっているため、開口部117からエ
バネッセント光として試料121表面に照射される。そ
して、エバネッセント光により試料121を照射し、透
過光をレンズ123により集光して受光部124で受光
する。
示す光ファイバ100と同様に、先鋭部114でコア1
2の伝搬光を集光させるため、開口部117から試料1
21表面に照射される光の強度を増加させることができ
る。
出射する光は遮光性の被覆層116により遮断されるた
め、開口部117からのみ試料121表面に検出光を照
射させることができる。このため、このような光ファイ
バ110をフォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブと
して用いることにより、測定の検出感度及び空間解像度
を向上させることができる。
は、例えば図21に示すように、光ファイバ11の一端
に、クラッド13径を肉薄とした径小部126を有し、
該径小部123の先端から露出したコア12を先鋭化し
た突出部125を有し、該突出部124の表面に遮光性
の被覆層126を有し、突出部125の先端が遮光性の
被覆層126から露出した開口部127を有する。
は、突出部125の先端ほど小さくなっている。突出部
125の長さLと突出部125の先端の先鋭角θは、例
えば図74に示すように、それぞれ2.1μmと28°
程度となっている。あるいは、この長さLと先鋭角θ
は、例えば図75に示すように、それぞれ1.52μm
と36.5°程度となっている。
突出部125の長さが小さくなっているために、開口部
127から入射した光が突出部125と遮光性の被覆層
126の境界で反射する際の遮光性の被覆層126によ
る吸収を低減させて、損失を低下させることができる。
このため、このような光ファイバ120を上述のフォト
ン走査トンネル顕微鏡の光プローブとして用いた場合
に、検出効率を向上させることができる。
は、例えば図22に示すように、クラッド133の一端
から突出したコア132が円錐状に先鋭化した突出部1
34を有し、該突出部134の表面に遮光性の被覆層1
35を有し、突出部134の先端が遮光性の被覆層13
5から露出した開口部136を有する。
示すように、マルチモードファイバから構成されてお
り、コア132のクラッド133に対する比屈折率差△
nが1%で、屈折率が徐々に変化するグレーデッドイン
デックス型の屈折率分布を有する。また、上記突出部1
34の先鋭角は、50°程度で、その先端の曲率半径
は、例えば図24に示すように、5nm程度となってい
る。
バ60において、例えば図25に示すように、開口部6
8から突出部65に入射した検出光は、1つの伝搬モー
ドでコア12中を伝搬する。このとき、突出部65に入
射した光は必ずしも効率よく1つの伝搬モードに結合で
きるわけではなく、損失を生じる。
130では、マルチモードファイバを用いており、複数
の伝搬モードの光を伝搬することができるため、例えば
図26に示すように、開口部136からコア132とク
ラッド133との境界での反射の臨界角以内で突出部1
34に入射した光であれば、伝搬することができる。こ
れにより、結合効率を向上させて検出光のピックアップ
効率を向上させることができる。
同様に、突出部135の基端のクラッド133を径小と
した径小部を設けてもよい。この場合、上述のフォトン
走査トンネル顕微鏡に用いた場合に、クラッド133が
試料表面に衝突することを防止することができる。
は、例えば図27に示すように、コア12中の添加物質
(ドーパント)を徐々にクラッド13中に拡散させ、等
価的にコア12径を徐々に増加させたコア径増加部14
4を有する。そして、この光ファイバ140は、コア径
増加部144の先端に、クラッド13から突出したコア
12を円錐状に先鋭化した突出部145を有し、該突出
部145の表面に遮光性の被覆層146を有し、突出部
145の先端が遮光性の被覆層146から露出した開口
部147を有する。
コア径増加部144及び突出部145がマルチモードフ
ァイバと同様の屈折率分布を有する。このため、上述の
図22に示す光ファイバ130と同様に臨界角を大きく
することができ、検出光のピックアップ効率を向上させ
ることができる。
は、例えば図28に示すように、上述の図14に示す第
9実施例の光ファイバ80と同様に、径小部154と、
突出部155と、合成樹脂等からなる疎水性の被覆層1
56を有する。また、この光ファイバ150は、突出部
155の先端が疎水性の被覆層156から露出した開口
部の表面に、色素を添加した石英等の被覆層157を有
する。この被覆層157は、図29に示すように、突出
部155の表面に40nm程度の厚さで形成されてい
る。
覆層157中の色素が被覆層157に入射した光に応じ
て発光し、この光が突出部155を介してコア12に入
射するため、光を検出する検出部として機能する。この
ような光ファイバ150では、突出部155の先端の表
面に色素を添加した石英等を付着させて被覆層157を
形成しているため、単に突出部155の先端の表面に色
素を付着させた場合に比して色素の剥離強度が高くなっ
ている。このため、耐久性の高い光ファイバ150とな
る。
述の色素の代わりに、pH等の周囲の環境に応じて光学
特性が変化する物質を上記被覆層157を構成する石英
等に添加することにより、被覆層157の周囲の環境を
検出する光ファイバセンサとして機能する。
は、例えば図30に示すように、上述の図28に示す第
16実施例の光ファイバ150と同様に、径小部164
と、突出部165とを有する。また、この光ファイバ1
60は、突出部165の表面に遮光性の被覆層166を
有し、該遮光性の被覆層166の表面に合成樹脂等から
なる疎水性の被覆層167を有し、突出部165の先端
が遮光性の被覆層166、疎水性の被覆層167から露
出した開口部の表面に、色素等を添加した石英等の被覆
層158を有する。この被覆層158は、上述の図29
に示す光ファイバ150と同様に、突出部165の表面
に40nm程度の厚さで形成されている。
ファイバ150と同様に光を検出する検出部として機能
する。また、このような光ファイバ160では、遮光性
の被覆層166を形成しているため、光ファイバ160
の被覆層168以外に照射される光を遮断する遮光部と
して機能するため、外乱光の影響を低減させて検出効率
を向上させることができる。
は、例えば図31に示すように、屈折率の異なる2種類
のコア172、173とクラッド174を有するダブル
コアの光ファイバ171からなる。そして、この実施例
の光ファイバ170は、このような光ファイバ171の
一端にコア173がクラッド174から露出した露出部
175を有し、該露出部175の先端にコア173が先
端先細り状とされた先細り部176を有し、該先細り部
176の先端から突出したコア172が円錐状に先鋭化
された突出部177を有する。
が純石英からなり、コア172、173が酸化ゲルマニ
ウムを添加した石英からなる。そして、コア172、1
73の酸化ゲルマニウムの添加率は、それぞれ0.9モ
ル%、0.2モル%となっており、内側のコア172の
方が酸化ゲルマニウムの添加率が高くなっている。そし
て、先細り部176、突出部177の先鋭角は、それぞ
れ130°、62°となっている。
述の第1及び第2実施例の光ファイバ10、20と同様
に、フォトン走査トンネル顕微鏡においてエバネッセン
ト光を検出する光プローブとして機能し、クラッド17
4の周端部が試料表面に衝突することがなく、試料表面
あるいは光ファイバ170を損傷することを防止するこ
とができる。
は、コア172、173及びクラッド174の組成に応
じて、エッチング液の組成比を変更することにより、1
回のエッチングにより形成することができるため、容易
に製造することができる。
は、例えば図32に示すように、第18実施例の光ファ
イバ170と同様に、ダブルコアの光ファイバ171の
一端にコア173がクラッド174から露出した露出部
185を有し、該露出部185の先端にコア173が先
端先細り状とされた先細り部186を有し、該先細り部
186の先端から突出したコア172が円錐状に先鋭化
された突出部187を有する。また、この光ファイバ1
70は、上記突出部187の表面に遮光性の被覆層18
8を有し、突出部187の先端が遮光性の被覆層188
から露出した開口部189を有する。
述の第19実施例と同様に、フォトン走査トンネル顕微
鏡においてエバネッセント光を検出する光プローブとし
て機能し、クラッド174の周端部が試料表面に衝突す
ることがなく、試料表面あるいは光ファイバ170を損
傷することを防止することができる。
87の表面の遮光性の被覆層188が検出光を遮断する
遮光部として機能するため、開口部189からのみ検出
光を入射させることができ、検出効率を向上させること
ができる。
は、例えば図33に示すように、光ファイバ11の一端
にクラッド13から突出したコア12を先鋭化した突出
部194を有し、該突出部194の先端に先鋭角を大き
くした検出端部195を有し、突出部194の表面に遮
光性の被覆層196を有し、検出端部195の先端が遮
光性の被覆層196から露出した開口部197を有して
いる。あるいは、図34に示すように、上記遮光性の被
覆層196を突出部194の表面の第1の被覆層198
と、検出端部195の表面の第2の被覆層199から構
成し、検出端部195の先端が第2の被覆層199から
露出した開口部197を有する構成としてもよい。上記
突出部194の先鋭角は20°程度であり、検出端部1
95の基端の直径は400〜600nm程度であり、検
出端部195の先鋭角は50°〜90°程度である。
形状の光ファイバ80において開口部87の直径を変化
させて、開口部87から入出力する検出光の伝達係数を
求めると、例えば図35に示すような関係になる。突出
部85の先鋭角が20°、50°の光ファイバ80につ
いてこのような関係を求めると、開口部87の直径がコ
ア12中の検出光の波長(λ/n、n:コア12の比屈
折率)程度以上の領域では、突出部85の先鋭角が20
゜、50゜の場合で伝達係数がほぼ等しいことがわか
る。
径がコア12中の検出光の波長程度以下となると、突出
部85の先鋭角が20°の場合の伝達係数が、先鋭角が
50°の場合の伝達係数より大幅に小さくなることがわ
かる。これは、突出部85の先鋭角が20°の場合で
は、先鋭角が50°の場合に比して突出部85の直径が
検出光の波長程度以下になる位置から突出部85の先端
までの距離が長くなり、先鋭部75の直径が検出光の波
長程度以下となる部分での光の損失が大きくなるためで
ある。
では、上述のように検出端部195の基端部の直径dA
を、検出光の波長である400nmより大きい600n
m程度とし、検出端部195の先鋭角を50゜〜90゜
程度とすることにより、突出部194の直径が検出光の
波長程度以下となる位置から検出端部195の先端まで
の距離を短くしている。ここで、開口部197の直径d
Bがそれぞれ200nm、250nmの場合の伝達係数
は、上記図35中に符号#1、#2で示すように、それ
ぞれ、1.0×10−3、9.0×10−4程度となっ
ている。このため、この光ファイバ190では、検出光
の減衰を低減させることができ、光検出感度を向上させ
てS/Nの高い測定を行うことができる。
ように突出部194の先鋭角を20°程度としているた
め、クラッド13の先端から検出端部195の先端まで
を隔離して、クラッド13の先端と、被検出物とが接触
することを防止することができる。
は、例えば図36に示すように、上述の図14に示す第
9実施例の光ファイバ80と同様に、径小部204と、
突出部205とを有する。また、この光ファイバ150
は、突出部205の表面にゲル層あるいは該ゲル層を加
熱して形成した非晶質層等からなる被覆層206を有
し、突出部205の先端が被覆層206から露出した開
口部207を有する。
部205中を伝搬する光は、コア12と被覆層206の
境界で反射されて開口部207から放射される。このた
め、被覆層206を設けない場合に比して、突出部の境
界での光の反射率を高くすることができ、伝達効率を向
上させることができる。
は、例えば図37に示すように、上述の図36に示す第
21実施例の光ファイバ200と同様に、径小部214
と、突出部215とを有する。また、この光ファイバ2
10は、突出部215の表面に石英等の非晶質の被覆層
216を有し、該非晶質の被覆層216の表面に遮光性
の被覆層217を有し、突出部215の先端が上記非晶
質の被覆層216及び遮光性の被覆層217から露出し
た開口部218を有する。
外に洩れた光は、金等の導電性の材質からなる遮光性の
被覆層217との境界で反射し、その一部が吸収され
る。突出部215内で、このような反射を繰り返すこと
により光の強度が減衰する。これに対し、この光ファイ
バ210では、突出部215の表面に非晶質の被覆層2
16を設けているため、突出部215の境界での光の反
射率を高くすることができるため、突出部215中を伝
搬する光が外に洩れにくい。これにより、この光ファイ
バ210では、被覆層216を設けない場合に比して、
突出部215の境界での光の吸収を低減させることがで
き、突出部215中を伝搬する光の減衰を低減させて光
の伝達効率を向上させることができる。
イバは、上記先鋭部あるいは突出部がコア中を伝搬する
光を集光するレンズとして機能し、集光した光を開口部
から出力させて光導波路に入射する際等に使用され、光
結合効率の高い光学結合素子として機能する。
部あるいは突出部により集光した光を有機薄膜等に照射
することにより、記録用光源として機能し、有機薄膜等
に情報等を高密度に記録することができる。
では、コアとクラッドからなる光ファイバの一端をエッ
チングしてコアの先端を先鋭化した先鋭部を形成し、先
鋭部の表面に遮光性の被覆層を形成し、遮光性の被覆層
をエッチングして先鋭部の先端が遮光性の被覆層から露
出した開口部を形成する。
製造方法は、クラッド径がd0でコア径がdcの光ファ
イバを出発材料として、図38に示す処理手順で上述の
図4に示す形状の光ファイバを製造する。
の一端をエッチングして、クラッドの外周からコアの中
心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成する先鋭化
工程と、先鋭部の表面に遮光性の素材をコーティングし
て遮光性の被覆層を形成するコーティング工程と、該コ
ーティング工程により形成された遮光性の被覆走路エッ
チングして、先鋭部の先端が露出した開口部を形成する
開口工程とからなる。
端にクラッドを先細り状としたテーパー部を形成する第
1エッチング工程と、コアがテーパー部のクラッドの先
端に対して窪んだ凹部を形成する第2エッチング工程
と、コアの先端とテーパー部の先端を面一とした平坦部
を形成する第3エッチング工程と、クラッドの外周から
コアの中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成す
る第4エッチング工程とからなる。
4エッチング工程について説明する。
コア12径dcが3.4μmでコア中の酸化ゲルマニウ
ムGeO2の添加率が25モル%である添加率が比較的
高い光ファイバを用いた場合について説明する。
8(A)に示す光ファイバ11の一端220をフッ酸と
フッ酸より比重の軽い液体、例えばスピンドルオイル、
シリコンオイル等との界面で、例えば室温の場合では、
22分から30分間程度エッチングする。
ァイバの一端220をエッチングすると、図39(A)
に示すように、フッ酸とオイルの表面張力によって光フ
ァイバ11の周囲の界面230が上昇し、メニスカスが
形成される。そして、このメニスカスの部分では、フッ
酸に接触しているクラッド13がエッチングされて円柱
状の形状を保ったままで径が減少する。このメニスカス
の高さHmは、同図(B)に示すように、光ファイバ1
1がエッチングされて、クラッド13の径が減少すると
高さが低くなる。したがって、クラッド13がすべてエ
ッチングされるまで、メニスカスの高さHmが減少し、
同図(C)に示すように、テーパー部221が形成され
る。
2がクラッド13から露出すると、フッ酸中のコア12
のエッチング速度がクラッド13に対して速いため、露
出したコア12が、すぐにエッチングされて、上記図3
8(B)に示すように、光ファイバ11の一端に円錐状
のテーパー部221が形成される。
鋭角θ2は、比重が0.833g/cm3のスピンドル
オイルを使用した場合は24°程度で、比重が0.93
5g/cm3のシリコンオイルを使用した場合は20°
程度となっている。この先鋭角θ2は、フッ酸とオイル
の比重、粘性等に応じて決定されるため、再現性が高く
なっている。
パー部221をフッ酸により、例えば2分から3分間程
度エッチングして、図38(C)に示すように、コア1
2がテーパー部221のクラッド13の先端に対して窪
んだ凹部222を形成する。上述のようにこの光ファイ
バ11は、コア12の酸化ゲルマニウムGeO2の添加
率が部いため、フッ酸中でのコア12のエッチング速度
がクラッド13に対して非常に速いため、テーパー部2
21の先端のコア12が、先にエッチングされ、コア1
2がテーパー部221のクラッド13の先端に対して窪
んだ凹部222が形成される。
グは、上記第1エッチングと連続して行ってもよい。す
なわち、第1エッチング工程が終了した後、光ファイバ
をフッ酸中にさらに突入して、所定時間分のエッチング
を行えばよい。
グを行う時間を、上述の2分から増加させると、クラッ
ド13の径が減少する。例えばクラッド13径が125
μmであった光ファイバに、このようなエッチングを行
った後のクラッド13径は、図46中に四角形の記号で
示すように、エッチング時間の増加とともに減少する。
例えばエッチング時間を2分としたときに、エッチング
後のクラッド13径が70μmとなり、エッチング時間
を3分としたときに、エッチング後のクラッド13径が
50μmとなる。したがって、このエッチング時間を制
御することにより、エッチング後のクラッド13径を所
望の値とすることができる。
ッチング時間を可変した場合に、最終的に得られた先鋭
部14の先端の曲率半径を示すものであり、このエッチ
ングを1.5〜2分程度行うことによって先鋭部14の
先端の曲率半径を非常に小さくすることができることが
わかる。
フッ化アンモニウムの比率Xが1.7程度の緩衝フッ酸
液を用いてテーパー部221を5〜10分程度エッチン
グして、図38(D)に示すように、コア12の先端と
テーパー部221の先端が面一となる平坦部223を形
成する。この第3エッチング工程のエッチングでは、上
記凹部222より先のクラッド13をエッチングするこ
とができればよく、エッチング液の組成は、上記フッ化
アンモニウムの比率Xが1以下の緩衝フッ酸液等のコア
12のエッチング速度が速いものでなければ、特に限定
されない。
パー部221を、例えばフッ化アンモニウムNH4の体
積比Xが10の緩衝フッ酸液からなるエッチング液で、
例えば60分から90分間程度エッチングする。
した石英SiO2からなるコア12と、石英SiO2か
らなるクラッド13は、濃度40重量%のフッ化アンモ
ニウム水溶液と濃度50重量%のフッ酸と水の体積比が
X:1:Y(Y=任意)の緩衝フッ酸液にその端面を接
触させておくと、 SiO2: SiO2+6HF→H2SiF6+2H2O H2SiF6+2NH3→(NH4)2SiF6 GeO2: GeO2+6HF→H2GeF6+2H2O H2GeF6+2NH3→(NH4)2GeF6 なる化学反応によりクラッド13とコア12がエッチン
グされる。
た石英からなるコア12と、石英からなるクラッド13
とは、上記緩衝フッ酸液に対する溶解速度(エッチング
速度)に差がある。このコア12とクラッド13の溶解
速度の差は、フッ化アンモニウムの体積比Xに強い相関
があり、液の温度によって多少の変動はあるがXが1.
7程度のときにコア12とクラッド13のエッチング速
度がほぼ等しく、Xが1.7より小さいときにコア12
のエッチング速度が比較的速く、Xが1.7より大きい
ときにクラッド13のエッチング速度が比較的速くな
る。なお、コア12とクラッド13のエッチング速度が
ほぼ等しくなるときのXの値は、温度等の条件により、
1.5〜1.7程度で変動する。
グ液中で上述のようにテーパー部221及び平坦部22
3を形成した光ファイバ11をエッチングすると、図4
0に示すように、クラッド12が上記先鋭角θ2を保っ
たままエッチングが進行する。なお、この図40は、エ
ッチングが終了するまでの時間をTとし、エッチング開
始時(t=0)、エッチング中(t=T/2)、エッチ
ング終了時(t=T)のときの光ファイバの形状を模式
的に示したものである。
ラッド13より速いため、エッチングが進行すると、ク
ラッド13が先にエッチングされてコア12が徐々に突
出する。このクラッド13から突出したコア12は側面
からもエッチングされるため、エッチングが進行するに
したがってクラッド13の先端が先鋭化され、図38
(E)に示すようにクラッド13の外周からコア12の
中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部14が形成され
る。このときの先鋭角θ1は、コア12とクラッド13
のエッチング速度に応じて決まり、 sin(θ1/2)=Rcore/Rclad (但し、Rcore:コアのエッチング速度、R
clad:クラッドのエッチング速度)なる関係を有し
ている。
ング液は、フッ化アンモニウムNH 4 Fの体積比Xが
10のエッチング液に限定されるものではなく、例えば
X=20等としてもよい。
て、上記フッ化アンモニウムとフッ酸と水の比率がX:
1:1(X>1.7)あるいは10:1:Y(Y<3
0)等であるエッチング液を用い、このエッチング液を
用いて第4エッチング工程のエッチングを連続的に行う
ことができ、第3エッチング工程と第4エッチングの時
間を短縮することができる。
いて、例えばフッ化アンモニウム水溶液とフッ酸及び水
の体積比を10:1:1としたエッチング液を使用した
場合では、第3及び第4エッチングを通じて全体で90
分程度のエッチングを行えばよい。
中心付近の酸化ゲルマニウムGeO 2の密度が多くなっ
ているため、この第4エッチング工程のX=10のエッ
チング液中では、コア12の中心付近のエッチング速度
が、コア12の周辺付近のエッチング速度に対して若干
遅い。このため、先鋭部14の先端の曲率生径を小さく
することができる。
鋭部14の先端角θ1は、上述したようにコア12とク
ラッド13のエッチング速度の比に応じて決まるため、
酸化ゲルマニウムGeO2のコア12中の分布とエッチ
ング液中のフッ化アンモニウムNH4Fの体積比Xに依
存する。
GeO2の添加率を可変してコア12とクラッド13の
比屈折率差△nを可変した場合には、例えば図41中に
黒丸の点で示すように、コア12とクラッド13の比屈
折率差△nが大きくなる程、コア12とクラッド13の
エッチング速度の比であるsin(θ1/2)が小さく
なって、先鋭角θ1が小さくなる。
ッチング液のフッ化アンモニウムとフッ酸と水の比率を
X:1:1とし、フッ化アンモニウムの比率Xを変化さ
せると、先鋭部14の先鋭角θ1は、図42に示すよう
に、フッ化アンモニウムの比率Xが10以下程度の場合
において、フッ化アンモニウムの比率Xの増加に応じて
小さくなる。これにより、フッ化アンモニウムの比率X
を選択することにより、先鋭部14の先鋭角θ1を制御
することができる。
いてシリコンオイルとフッ酸の界面でエッチングを行い
クラッド13の先鋭角θ2が20°となっている場合で
は、Xの値を10より小さくすることにより、上記図1
1に示すように、先鋭部51の先鋭角θ2より、先鋭部
51から突出した突出部52のコア12の先鋭角θ1を
大きくすることができる。
るエッチング液中のフッ化アンモニウムNH4 Fの体
積比Xは、Xが1.7程度より大きければコア12の先
端を先鋭化することができるが、Xをむやみに大きくす
るとエッチング速度が低下し、エッチング時間が長くな
る。また、図42に示すように、Xが40から50程度
となると再び先鋭角θ1が増大するため、Xの値は大き
くても20〜30程度とすることが望ましい。
ッチング液のフッ化アンモニウムとフッ酸と水の比率を
10:1:Yとし、水の比率Yを変化させると、先鋭部
14の先鋭角θ1は、図43に示すように水の比率Yの
増加に応じて増加する。これにより、水の比率Yを選択
することにより、先鋭部14の先鋭角θ1を制御するこ
とができる。
程により、上述の図38(E)に示す構造の光ファイバ
225が形成される。この光ファイバ225の先鋭部1
4の形状は、酸化ゲルマニウムGeO2の分布に依存し
て先鋭部14の形状が決定されるため再現性が高く、対
称性のよい円錐形状を形成することができる。
グ工程について説明する。このコーティング工程では、
図44に示すように、真空蒸着装置を用いて真空中で光
ファイバ225をその中心軸を中心として回転させ、先
鋭部14の斜め下方から遮光性の素材の蒸気226を供
給して蒸着することにより、上記遮光性の被覆層15を
形成する。例えば同図中のφを50〜60°として金の
蒸気226を供給してコーティングを行って、例えば図
45に示すように、先鋭部14の表面に厚さが125n
m程度の金の蒸着膜227を形成する。このように、真
空中で先鋭部14の斜め下方から金の蒸気226を供給
して蒸着を行うと、素材の蒸気の直進性が高いために、
先鋭部14の先端の金の蒸着膜227の厚さが薄くな
る。
することができる材質は、上述の金だけでなく蒸着が容
易であって、開口工程においてエッチングすることがで
きるものであれば、銀、白金、アルミニウム、パラジウ
ム、ニッケル等でもよい。
チングする。上述のように遮光性の被覆層15として金
を用いる場合では、ヨードカリ溶液(KI−I2水溶
液)により金の蒸着膜227の25nm程度の表面層2
27aをエッチングする。
記遮光性の被覆層15を金、白金、パラジウム等により
形成した場合、上述のKI−I2水溶液の他に王水、臭
素溶液、KCN溶液を用いることができる。また、上記
遮光性の被覆層15としてアルミニウムを用いる場合で
は、濃度が0.1%程度のNaOH水溶液あるいはKO
H水溶液等のアルカリ溶液、希塩酸等の酸等によりエッ
チングする。この場合、KOH水溶液と赤血塩と水等の
混合液あるいはリン酸と硝酸と酢酸等の混合液を用いて
もよい。また、上記遮光性の被覆層15を銀から構成し
た場合では、アンモニウム水と過酸化水素水の混合液、
希硝酸等を用いてエッチングし、上記遮光性の被覆層I
5をニッケルから構成した場合では、硝酸と酢酸とアセ
トンの混合液、硝酸等を用いてエッチングを行う。
うに遮光性の被覆層15の先端部の厚さが薄くなってい
るため、先鋭部14の先端が遮光性の被覆層15から露
出して直径が30nm程度の開口部16が形成される。
これにより、上述の図4に示す形状の光ファイバ10が
形成される。
を行わず、上記コーティング工程において、先鋭部14
の斜め下方から金の蒸気226を供給して真空蒸着を行
っただけでも、先鋭部14の先端の金の蒸着膜227の
厚さが薄いために光を透過させることができ、疑似開口
部として使用することができる。しかしながら、上述の
フォトン走査トンネル顕微鏡の光プローブとして使用す
る場合には、この疑似開口部におけるエバネッセント光
の吸収が大きくなる。このため、この光ファイバの製造
方法では、先鋭部の先端を金の蒸着膜227から完全に
露出させるために、遮光性の被覆層227をエッチング
して開口部16を形成している。
のエッチング工程においてフッ酸とフッ酸より軽い液体
との界面で形成したテーパー部221の形状に応じてコ
ア12の先鋭化の形状が決まるため、先鋭部14の形状
の再現性を向上させることができる。また、この光ファ
イバの製造方法では、上記コーティング工程で形成した
遮光性の被覆層を、開口工程においてエッチングして、
開口部を形成しているため、先鋭部14の先端を遮光性
の被覆層から完全に露出させて開口部を形成することが
できる。
イバの製造方法は、上記第23実施例と同様に、光ファ
イバの一端をエッチングして、クラッドの外周からコア
の中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成する先
鋭化工程と、先鋭部の表面に遮光性の素材をコーティン
グして遮光性の被覆層を形成するコーティング工程と、
該コーティング工程により形成された遮光性の被覆層を
エッチングして、先鋭部の先端が露出した開口部を形成
する開口工程とからなる。
鋭化工程において、上記第23実施例の第1〜第4エッ
チング工程と同様なエッチングを行って、クラッド13
の外周からコア12の中心にかけて円錐状に先鋭化した
先鋭部14を形成した光ファイバ225を製造する。
ーティング工程が、第1及び第2コーティング工程から
なり、まず、第1コーティング工程では、上述のように
形成された上記光ファイバ225に、アルミニウムを蒸
着して厚さが800nm程度の遮光性の被覆層25を形
成する。
44に示すコーティング工程と同様に、真空蒸着装置を
用いて真空中で光ファイバ225をその中心軸を中心と
して回転させ、先鋭部24の斜め下方からアルミニウム
の蒸気226を供給して蒸着することにより、遮光性の
被覆層25を形成している。この遮光性の被覆層25と
して使用することができる材質は、上記第23実施例の
コーティング工程と同様に、アルミニウムだけでなく、
遮光性が高く、導電性が高い材質であれば、金、銀、白
金、パラジウム、ニッケル等でもよい。また、この第1
コーティング工程では、遮光性の被覆層25をアルミニ
ウムの1層の被覆層により形成したが、まず、先鋭部2
4に、例えばクロム、ゲルマニウム、シリコン等のガラ
スに吸着し易い素材をコーティングし、次に、例えば金
等の遮光性の高い素材をコーティングして、2層の被覆
層を形成することにより、剥離強度の高い被覆層を形成
することができる。
る第2コーティング工程において、遮光性の被覆層25
の先端以外の部分に耐腐食性の被覆層26を形成した
後、エッチングを行って先鋭部24の先端の遮光性の被
覆層25を選択的にエッチングするため、必ずしも上述
のように真空蒸着を行って遮光性の被覆層25を形成す
る必要がない。
けるコーティングは、素材の粒子の直進性が比較的低い
方法であるスパッタリングや、親水化を行った後の無電
界メッキ等のウェットプロセスによって行うことも可能
である。このように、第1コーティング工程におけるコ
ーティングをスパッタリングによって行うと、上述の真
空状着を行った場合と同程度の規模の装置を用いた場合
に一度に処理できる光ファイバの数を増加させることが
でき、製造コストを低減させることができる。
図44に示すコーティング工程と同様に、真空蒸着装置
を用いて真空中で光ファイバ225をその中心軸を中心
として回転させ、先鋭部24の斜め下方から耐腐食性の
素材の蒸気226を供給して蒸着することにより、耐腐
食性の被覆層26を形成する。具体的には、上記図44
中の角度φを50°程度として金の蒸気226を供給し
て厚さが80nm程度の金の蒸着膜を形成して耐腐食性
の被覆層26とする。この耐腐食性の被覆層26とし
て、使用することができる材質は、上述のように遮光性
の被覆層25としてアルミニウムを使用した場合におい
ては、上述の金だけでなく蒸着が容易であって、開口工
程においてエッチングされないものであれば、銀、白金
等でもよい。
等によりコーティングを行う場合に比較して金の蒸気2
26の直進性が高いため、上述のように先鋭部24に対
して後方から金の蒸気226を供給すると、遮光性の被
覆層25の先端に金の蒸気226が回り込まず、遮光性
の被覆層25の先端に金が付着しない。これにより、例
えば図47に示すように、遮光性の被覆層25の先端以
外の部分に耐腐食性の被覆層26が形成され、遮光性の
被覆層25の先端が耐腐食性の被覆層26から露出した
露出部28が形成される。
性の被覆層25及び耐腐食性の被覆層26が形成された
光ファイバ225の先端を濃度が0.1%程度のNaO
H水溶液からなるエッチング液によりエッチングする。
は、NaOH水溶液に対して耐腐食性があって溶けず、
上記遮光性の被覆層25を構成するアルミニウムは、N
aOH水溶液に溶けるため、上記露出部28の遮光性の
被覆層25aが選択的にエッチングされる。これによ
り、上記図7に示すように、先鋭部24の先端が遮光性
の被覆層25から露出した直径が40nm程度の開口部
27が形成される。
は、第2コーティング工程において形成した耐腐食性の
被覆層26から露出した遮光性の被覆層25の先端の露
出部28を、開口工程において選択的にエッチングする
ことにより、遮光性の被覆層25に容易に開口部27を
形成することができる。
るエッチング液は、上記第23実施例の開口工程で用い
るエッチング液と同様に、遮光性の被覆層25をエッチ
ングすることができ、耐腐食性の被覆層26をエッチン
グしないものであれば、上記NaOH水溶液でなくとも
よい。
腐食性の被覆層26を構成する材質は、遮光性の被覆層
25に比較して耐腐食性の被覆層26を構成する材質の
開口工程において、使用されるエッチング液に対する耐
性が高ければよく、この条件を満たしていれば開口工程
において露出部28の遮光性の被覆層25aを選択的に
エッチングして開口部27を形成することができる。
層25としてアルミニウムを用い、開口工程のエッチン
グ液をNaOH水溶液とした場合では、耐腐食性の被覆
層26として、上述の金以外に、NaOH水溶液に耐性
のある銀、白金等の貴金属を使用することができる。
のアルカリ溶液あるいは酸性溶液に耐性を有するため、
この光ファイバを上述のフォトン走査トンネル顕微鏡に
用いた場合に、アルカリあるいは酸性の溶液中の試料の
形状を測定する際に、遮光性の被覆層を保護することが
できる。
金、銀、白金等の貴金属を用いる場合では、開口工程の
エッチング液をKI−I2水溶液とし、耐腐食性の被覆
層26として、KI−I2水溶液に耐性のあるSiO2
等のシリカ系セラミックあるいはAl2O3等のアルミ
ナ系セラミック等を使用することもできる。
イバの製造方法は、図48に示す処理手順で上述の図8
に示す形状の光ファイバを製造する。この光ファイバの
製造方法では、上述の第24実施例と同様のテーパー形
成エッチング工程においてクラッド13にテーパー部を
形成する際に、図48(B)に示すように、ある程度テ
ーパー部231が形成されてクラッド13の径が減少し
た径小部232が残った状態で、同図(C)に示すよう
に、光ファイバ11をさらに長さL1だけフッ酸中に突
入してエッチングを継続する。
さL1だけ突入した後、光ファイバ11がさらにエッチ
ングされるが、テーパー部231と径小部232が残っ
たままで、クラッド13径が減少する。そして、径小部
232のクラッド13が溶けきると、図48(D)に示
すように、クラッド13先端のテーパー部233と、フ
ッ酸とシリコンオイル等との界面230において形成さ
れたテーパー部234との間にクラッド13が径小とな
った径小部235が形成される。
1を長さL1だけフッ酸中に突入するタイミングと、得
られる径小部235のクラッド13径との関係を示すよ
うに、フッ酸中に突入するタイミングを速くすると、径
小部235のクラッド13径を細くすることができる。
述の第24実施例と同様の先鋭化工程のエッチングを行
うと、テーパー部233の先端から露出したコア12が
先鋭化されて上記図8に示す形状の光ファイバ30が形
成される。この場合、上記径小部235に基づく径小部
35の径d1は、上述のテーパー形成エッチング工程の
途中で光ファイバ11をフッ酸中に突入させるタイミン
グに依存しているため、上述のテーパー形成エッチング
工程において、光ファイバ11をフッ酸中に突入させる
タイミングを制御することにより、所望の値とすること
ができる。
のテーパー形成エッチング工程において、光ファイバ1
1をフッ酸中に突入した長さL1から、テーパー部35
の長さを引いた長さとなっているため、光ファイバ11
をフッ酸中に突入させる長さL1を制御すれば、径小部
35の長さL0を所望の値とすることができる。また、
上述のように形成した光ファイバに上述の第23あるい
は第24実施例と同様にコーティング工程及び開口工程
の処理を施して遮光性の被覆層を形成することにより、
上記図9に示す形状の光ファイバ40を形成することが
できる。
イバの製造方法では、まず、上述の第23の実施例の第
1エッチング工程と同様に、光ファイバ11の一端をフ
ッ酸とフッ酸より比重の軽い液体との界面でエッチング
して、テーパー部221を形成する。次に、このような
テーパー部221を第23実施例の第4エッチング工程
と同様な緩衝フッ酸液からなるエッチング液中でエッチ
ングする。
ア12とクラッド13の比屈折率差△nが2.5%以上
であるときは、フッ化アンモニウムNH4Fの体積比X
を1.25から20程度とする。
13のエッチング速度がコア12より速いために、図5
0に示すように、テーパー部221の先端から露出した
コア12が側面からもエッチングされて先鋭化され、突
出部52が形成される。すなわち、このときのテーパー
部221からコア12が露出する見かけ上のクラッド1
3のエッチング速度は、テーパー部221をθ2とする
と、実際のクラッド253のエッチング速度Rclad
の1/{sin(θ2/2)}倍になる。したがって、
コア12の先鋭角θ1は、 sin(θ1/2)=sin(θ2/2)×(R
core/Rclad) となり、上記第23実施例の場合と比較して突出部52
の先端のコア12の先鋭角θ1を小さくすることができ
る。このようなエッチングにおいて、フッ化アンモニウ
ムNH4Fの体積比Xを増加させると、例えば図51に
示すように、Xの増加にしたがって突出部52の先鋭角
θ1が小さくなる。
同様に、突出部52の表面に遮光性の被覆層53を形成
した後、遮光性の被覆層53をエッチングして開口部5
4を形成することにより、上記図10に示す形状の光フ
ァイバ50が形成される。
法では、突出部52のコア12の先鋭角θ1を小さくす
ることができ、検出感度を向上させた光ファイバを製造
することができる。
イバの製造方法は、上記第23実施例の第1エッチング
工程と同様に、図52(A)に示す光ファイバ11の一
端220をフッ酸とフッ酸より比重の軽い液体との界面
で21分程度エッチングして、同図(B)に示すよう
に、テーパー部221を形成する。この際、テーパー部
221の先端にコア12が残った状態でエッチングを終
了する。
した光ファイバ11を、上記フッ化アンモニウムNH4
Fの体積比Xを2程度としたエッチング液中で、10〜
15分程度エッチングする。このとき、コア12は、側
面からエッチングされるが、完全に溶け切る直前でエッ
チングを終了することにより、テーパー部221から突
出したコア12の先端が先鋭化されて突出部52が形成
される。この突出部52は、コア12の先端の先鋭角θ
1が10°から15°程度に小さくなるが、過渡的なエ
ッチング状態であるため先鋭角θ1の制御はできない。
しかしながら、先鋭角を小さくすることができるととも
に、先鋭化工程を簡略化して製造コストを低減させるこ
とができる。
の第23実施例あるいは第24実施例のコーティング工
程以降の処理に用いることもできる。
イバの製造方法は、上述の図12に示す光ファイバ60
を製造する方法であって、コア12とクラッド13から
なる光ファイバ11の一端をエッチングしてクラッド1
3の厚さを薄くして径小部64を形成する第1エッチン
グ工程と、径小部64の先端をエッチングすることによ
りコア12を先鋭化して突出部65を形成する第2エッ
チング工程と、突出部65の表面に遮光性の被覆層66
を形成する第1コーティング工程と、遮光性の被覆層6
6の先端以外の部分の表面に耐腐食性の被覆層67を形
成する第2コーティング工程と、突出部65の先端の遮
光性の被覆層66をエッチングして突出部65の先端が
遮光性の被覆層66から露出した開口部68を形成する
開口工程とからなる。
53に示す第1及び第2エッチング工程において、同図
(C)に示す径小部64と突出部65とを有する形状の
光ファイバ245を製造し、策1及び第2コーティング
工程において、この光ファイバ245の突出部65に上
述の遮光性の被覆層66及び耐腐食性の被覆層67を形
成し、開口工程において、開口部68を形成するように
なっている。
コア12径dcが3.4μmでコア12中に酸化ゲルマ
ニウムGeO2を添加した光ファイバ11を用いた場合
について説明する。なお、この光ファイバ1は、コア2
に添加するGeO2のコア2の中心部の密度が高く、コ
ア2の外周部の密度が低い状態となるように密度分布を
持たせてある。
3(A)に示す光ファイバ11の一端240を、濃度4
0重量%のフッ化アンモニウム水溶液と濃度50重量%
のフッ酸と水からなる体積比がX:1:Y(Y=任意)
の緩衝フッ酸液であって、フッ化アンモニウムNH4F
の体積比Xが1.7程度である緩衝フッ酸液をエッチン
グ液として用いて70〜80分程度エッチングを行う。
に、エッチング液に接触しているクラッド13がエッチ
ングされて径小部64が形成される。この径小部64の
径d 2は、エッチング液中のNH4 Fの体積比X、エ
ッチング時間を可変することにより制御することができ
る。また、径小部64の長さは、光ファイバ11のエッ
チング液中に浸漬する部分の長さを調節することによっ
て可変することができる。
化アンモニウムNH4Fの体積比Xが1.7より大きい
緩衝フッ酸液をエッチング液として用いてエッチングを
行う。具体的には、温度が23°のときに、体積比Xが
5乃至10程度のエッチング液を使用し、体積比Xが5
のエッチング液を使用した場合では60分程度、体積比
Xが10のエッチング液を使用した場合では120分程
度のエッチングを行う。この第2エッチング工程で用い
るエッチング液は、フッ化アンモニウムNH4Fの体積
比Xが5乃至10であるため、クラッド13のエッチン
グ速度がコア12のエッチング速度より速い。
のエッチング速度がクラッド13より速いため、エッチ
ングが進行すると、クラッド13が先にエッチングされ
てコア12が徐々に突出する。このクラッド13から突
出したコア12は側面からもエッチングされるため、図
54に示すように、エッチングが進行するにしたがっ
て、クラッド13から露出したコア12が円錐状に先鋭
化される。
径小部64の先端のクラッド13からコア12が突出し
た突出部65が形成される。
ア12の中心部GeO2の密度が高いため、コア12の
中心部のエッチング速度が若干低く、コア12の周辺部
になるに連れてエッチング速度が高くなる。これによ
り、突出部65のコア12の周辺部が先にエッチングさ
れてコア12の先端が先細り状となって突出部65が円
錐状に先鋭化される。
角θ1は、酸化ゲルマニウムGeO 2のコア12中の分
布とエッチング液中のフッ化アンモニウムNH4Fの体
積比Xに依存する。このときの突出部65の先鋭角θ1
は、上述の第23実施例と同様に、コア12とクラッド
13のエッチング速度に応じて法まり、フッ化アンモニ
ウムNH4Fの体積比Xを変化させると、上記図41に
示すように変化する。例えばフッ化アンモニウムNH4
Fの体積比Xが5のエッチング液を使用した場合では、
エッチング時間、コア12中のGeO2の密度分布等に
もよるが、先端角θ1を20度程度とすることができ
る。また、このエッチングでは、コア12中に添加した
酸化ゲルマニウムGeO2の分布に依存して突出部65
の形状が法定されるため再現性が高く、対称性のよい円
錐形状を形成することができる。
に酸化ゲルマニウムGeO2が添加され、コア12とク
ラッド13の屈折率がステップ状に変化するシングルモ
ードファイバを用いても上述の図53(C)に示すよう
な形状の光ファイバを形成することもできる。
するGeO2に密度分布を持たせた光ファイバを使用し
た場合と異なり、GeO2に密度分布に基づく突出部6
5の先鋭化は期待できない。しかしながら、コア12と
クラッド13のエッチング速度の比に応じた先鋭化が行
われ、例えばクラッド13径が125μmでコア12の
径が8μm程度とされたシングルモードファイバに、上
述の第2エッチングにおいて使用したエッチング液と同
様な組成で、NH4Fの体積比Xが10程度であるエッ
チング液を用いて、温度が25°の条件で、3時間15
〜20分程度のエッチングを行った場合においても、突
出部65の先鋭角θ1が若干大きく(105°程度)な
るが、上述の第2エッチング工程と同様に円錐状に先鋭
化された突出部65が形成される。また、この場合で
は、使用できるエッチング液中のNH4Fの体積比X
は、上述の10以外でも突出部65の先鋭化を行うこと
ができる。なお、このシングルモードファイバを使用し
た場合においても、上述の第1エッチング工程と同様な
エッチングを行うことにより、径小部64を形成でき
る。
フッ素Fを添加した石英SiO2からなるクラッド13
を有するシングルモードファイバを用いても、突出部6
5の先鋭角が77°程度であるが、上述の図53(C)
に示すような形状の光ファイバを形成することもでき
る。
例えばフッ化アンモニウムNH4Fの体積比Xを1.7
程度とした比較的エッチング速度が速いエッチング液を
用いることにより、1回のエッチングで径小部64の形
成と、突出部65の先鋭化を行うことができ、1回のエ
ッチングで上記第1及び第2エッチング工程の処理を行
うことができる。このため、製造工程を簡略化すること
ができ、製造コストを低減することができる。
口工程について説明する。第1コーティング工程では、
図55に示すように、上述の第1及び第2エッチング工
程によって形成された光ファイバ245に、突出部65
の上方向から金の蒸気を供給する。これにより、図56
に示すように突出部65の表面に金からなる400nm
程度の膜厚の遮光性の被覆層66が形成される。
とができる材質は、上記第23実施例のコーティング工
程と同様に、アルミニウムだけでなく、遮光性が高く、
開口工程においてエッチングできるものであれば、金、
銀、白金などでもよい。また、この第1コーティング工
程では、遮光性の被覆層66をアルミニウムの1層の被
覆層により形成したが、まず、突出部65に、例えばク
ロム、ゲルマニウム、シリロン等のガラスに吸着し易い
素材をコーティングし、次に、例えば金等の遮光性の高
い素材をコーティングして、2層の被覆層を形成するこ
とにより、剥離強度の高い遮光性の被覆層66を形成す
ることができる。なお、この第1コーティング工程にお
けるコーティングは、遮光性の被覆層66を形成するこ
とができれば、蒸着だけではなく、スパッタリングある
いは親水化処理を行った後、無電界メッキを行う等の粒
子の直進性が比較的低い方法によっても行うことができ
る。
ィングをスパッタリングによって行うと、真空蒸着を行
った場合に比較して、同程度の規模の装置を用いた場合
に一度に処理できる光ファイバの数を増加させることが
でき、製造コストを低減させることができる。
第1コーティング工程において遮光性の被覆層66を形
成した光ファイバ245を合成樹脂を溶かした溶剤に浸
漬した後、溶剤から引き上げる。具体的には、合成樹脂
を溶かした溶剤としては、市販のアクリル塗料を使用し
た。
遮光性の被覆層66に付着した溶剤が表面張力によっ
て、径小部64側に引き寄せられ、突出部65の先端の
遮光性の被覆層66が溶剤から露出する。ここで、合成
樹脂を溶かしておく溶剤は、溶剤から引き上げた際に、
表面張力によって突出部65の先端の遮光性の被覆層6
6が溶剤から露出する程度に粘性が低いものであればよ
い。また、合成樹脂は、開口工程で使用されるエッチン
グ液によりエッチングされないものであればよい。
66の表面には、合成樹脂が残り、図57に示すよう
に、突出部65の先端の遮光性の被覆層66が合成樹脂
性からなる耐腐食性の被覆層67から露出した露出部6
9が形成される。
性が高い場合には、突出部65の先端の遮光性の被覆層
66が耐腐食性の被覆層67から露出しない場合があ
る。しかしながら、耐腐食性の被覆層67の先端の厚さ
が薄くなるため、耐腐食性の被覆層67を全体的にエッ
チングすることにより、遮光性の被覆層66の先端が露
出した露出部69を形成することができる。このとき使
用するエッチング液は、NaOH等のアルカリ溶液ある
いは希塩酸等の酸を用いることができる。
部65の表面に遮光性の被覆層66及び耐腐食性の被覆
層67が形成された光ファイバ245を、ヨウ化カリウ
ムKI−I2水溶液あるいはシアン化カリウム水溶液な
どから成るエッチング液によりエッチングする。
樹脂は、KI−I2水溶液に対して耐腐食性があり、上
記遮光性の被覆層66を構成する金は、KI−I2水溶
液に溶けるため、このエッチングにより、上記露出部6
9から露出した遮光性の被覆層66が選択的にエッチン
グされ、上記図12に示すように、上記突出部65の先
端が遮光性の被覆層66から露出した開口部68が形成
される。
GeO2に密度分布を持たせた光ファイバを使用し、突
出部65の先鋭角が20°で金を400nm程度コーテ
ィングした光ファイバ245を、KIとI2と水の重量
比が、20:1:100の比率となっているKI−I2
溶液を、水で100倍程度に希釈したものをエッチング
液として、1〜3分程度エッチングしたところ、30n
m程度の開口部68が得られた。
用し、先鋭角が105°程度で、金を150nm程度コ
ーティングした光ファイバ245を、KIとI2と水の
重量比が、20:1:400の比率となっているKI−
I2溶液を、水で50倍程度に希釈したものをエッチン
グ液として、5分程度エッチングしたところ、100n
m程度の開口部68が得られた。
るエッチング液は、上述の第23実施例の開口工程と同
様に、遮光性の被覆層66をエッチングすることがで
き、耐腐食性の被覆層67をエッチングしないものであ
ればよい。このようなエッチング液を用いることによ
り、上述と同様に、開口工程において露出部69の遮光
性の被覆層66を選択的にエッチングして開口部68を
形成することができる。また、プラズマエッチング等に
よるドライエッチングによっても可能である。
において、突出部65の遮光性の被覆層66をエッチン
グする際に、耐腐食性の被覆層67が形成されていない
突出部の先端の露出部69の遮光性の被覆層66を選択
的にエッチングすることができ、容易に開口部68を形
成することができる。
イバの製造方法では、まず、光ファイバをエッチングし
て図58(E)に示す形状の光ファイバ253を形成
し、該光ファイバ253に上述の第28実施例の第1コ
ーティング工程以降の処理と同様の処理を行って上述の
図13に示す光ファイバ70を製造する。
は、まず、図58(A)に示す光ファイバ11の一端2
50をフッ酸とフッ酸より比重の軽い液体、例えばスピ
ンドルオイル、シリコンオイル等との界面で、例えば2
5分から30分間程度エッチングする。
イル等との界面付近では、上述のようにメニスカスが形
成され、このメニスカスの高さは、クラッド13がエッ
チングされるにしたがって低くなるために、クラッド1
3が先細り状にエッチングされ、図58(B)に示すよ
うにクラッド13にテーパー部71が形成される。
71をフッ酸により、例えば2分から3分間程度エッチ
ングする。フッ酸中ではコア12のエッチング速度がク
ラッド13より速いため、このエッチングによって、図
58(C)に示すように、コア12がテーパー部71の
クラッド13の先端に対して窪んだ凹部251が形成さ
れる。
ニウムNH4Fの体積比Xが1.7程度で、水の体積比
Yが1のである緩衝フッ酸液からなるエッチング液で、
例えば90分程度エッチングする。このとき、30分程
度エッチングした段階で、図58(D)に示すように、
コア12の先端とテーパー部71の先端が平坦となる平
坦部252が形成される。そして、さらにエッチングを
続けると、上述のような組成のエッチング液中ではコア
12のエッチング速度に対してクラッド13のエッチン
グ速度が速いため、図58(E)に示すように、クラッ
ド13が先にエッチングされて平坦部74が形成され、
コア12が平坦部74のクラッド13から突出し、先端
が円錐状に先鋭化された突出部75が形成される。
に、上述の第28実施例と同様の第1及び第2コーティ
ング工程と開口工程の処理を行うことにより、遮光性の
被覆層及び開口部を形成すると、上述の図13に示す形
状の光ファイバ70が形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例と同様
の第1及び第2エッチング工程の処理を行って、上述の
図53(C)に示す形状の光ファイバ245を形成す
る。次に、コーティング工程において、突出部65の表
面に遮光性の被覆層66を形成し、感光体層形成工程に
おいて、遮光性の被覆層66の表面に感光体層を形成
し、露光工程において、エバネッセント光により感光体
層の先端のみを選択的に露光し、露出部形成工程におい
て、露光した感光体層を除去して感光体層の先端に露出
部を形成する。そして、開口工程において、感光体層の
先端に形成された露出部より露出した遮光性の被覆層6
6をエッチングすることにより上記突出部65の先端が
遮光性の被覆層66から露出した開口部87を形成した
後、感光体層除去工程において、突出部65の表面の感
光体層を除去して上述の図14に示す形状の光ファイバ
80を製造するようになっている。
タ装置を用いて、上述の第1及び第2エッチング工程に
より形成された光ファイバ245の突出部65に、突出
部65の先端方向から金の粒子を供給する。これによ
り、上述の図56に示すように、突出部65の表面に厚
さが200nm程度の金の層からなる遮光性の被覆層6
6が形成される。この遮光性の被覆層66の厚さは、コ
ーティングを行う時間を可変することによって制御する
ことができる。また、この遮光性の被覆層66として使
用することができる材質は、金だけでなく、上記第23
実施例のコーティング工程と同様に、遮光性が高く、開
口工程においてエッチングできるものであれば、アルミ
ニウム、銀、白金などでもよい。
おいて、図59に示すように、真空中で突出部65の先
端に対して斜め上方から、金の蒸気247を供給して真
空蒸着を行って遮光性の被覆層66を形成してもよい。
この場合は、突出部65の表面に均一に蒸着を行うため
に、光ファイバ245をその中心軸を中心として回転さ
せながら蒸着を行う。また、このコーティング工程にお
いて、まず、クロム、ゲルマニウム、シリコン等のガラ
スに吸着し易い素材を突出部65にコーティングした
後、金等の遮光性の高い素材をコーティングすることに
よって、遮光性の被覆層66を2層として剥離強度の高
い被覆層を形成することができる。
ティングは、遮光性の被覆層66を形成することができ
れば、上述のスパッタリング、蒸着だけではなく、無電
界メッキ等の方法によっても行うことができる。
うにスパッタリングによってコーティングを行うと、真
空蒸着を行った場合に比較して、同程度の規模の装置を
用いた場合に一度に処理できる光ファイバの数を増加さ
せることができ、製造コストを低減させることができ
る。
ティング工程において遮光性の被覆層66を形成した光
ファイバ245の突出部65に感光体を付着させて感光
体層を形成する。この感光体層を形成する感光体として
は、いわゆるフォトレジストを使用する。そして、図6
0に示すように、フォトレジストが充填された注射器を
微動台に固定し、フォトレジストを押し出して注射器の
針255の先端にフォトレジストの滴256を垂下させ
る。
の下方に、突出部65が上となるように光ファイバ24
5を固定する。そして、図60中に実線矢印で示すよう
に、垂下したしたフォトレジストの滴256が落ちない
ように、微動台を静かに操作しながら注射器を下方に移
動させてフォトレジストの滴256を突出部65に接触
させる。そして、フォトレジストを付着させた後、同図
中に波線矢印で示すように、再び注射器を上方に移動さ
せる。これにより、突出部65の遮光性の被覆層66の
表面にフォトレジストが付着し、このフォトレジストを
乾燥させること、図61に示すように、突出部65の表
面に形成した遮光性の被覆層66の表面に感光体層88
が形成される。
ォトレジストの粘度と径小部64の径によって決まる。
粘度が50mPa・sであるフォトレジストを使用し
て、径小部64の径を30μm、20μm、15μmに
変化させた場合に、先鋭部55に付着されるフォトレジ
スト層の断面形状を調べたところ、図62(a)、同図
(b)及び同図(c)に示す結果が得られた。
と、感光体層88の先端部分の厚さが厚くなり、逆に径
小部64の径が小さくなると、感光体層88の先端部分
の厚さが薄くなる。例えば図62(b)に示す径小部6
4の径が20μmである場合は感光体層88の先端部分
の厚さは100nmであり、同図(c)に示す径小部6
4の径が15μmである場合は感光体層88の先端部分
の厚さは35nmであった。
は、フォトレジストの粘度が高くなると厚くなり、フォ
トレジストの粘度が低くなると薄くなる。また、この感
光体層88の厚さは、遮光性の被覆層66の厚さによっ
ても変化し、遮光性の被覆層66が厚くなって、径小部
64の先端と突出部65とがより平坦な形状に近づく
と、フォトレジストが付着しやすくなって、感光体層8
8の厚さが増加する。
エッチング工程のエッチング時間を可変することによっ
て制御することができるため、第1エッチング工程のエ
ッチング時間を可変することにより、感光体層88の先
端部分を所望の厚さとすることができる。あるいは、コ
ーティング時間を制御することにより、遮光性の被覆層
66の厚さを制御しても同様に感光体層88の先端部分
を所望の厚さとすることができる。
より感光体層88を形成した例を示したが、感光体層8
8を形成する素材は、感光性を有し、開口工程で使用さ
れるエッチング液によりエッチングされないものであれ
ば特に限定されない。また、上述の説明では、フォトレ
ジストを充填した注射器を移動させて、突出部65にフ
ォトレジストを付着させているが、光ファイバ245を
移動してフォトレジストを付着させてもよい。
のみをエバネッセント光により選択的に露光する。具体
的には、図63に示すように、プリズム257にHe−
Cdレーザ等のレーザ光258を全反射角以上の角度で
入射してエバネッセント光の場258を形成する。すな
わち、全反射角以上で入射したレーザ光258は、プリ
ズム257と空気との界面257aで反射されるが、プ
リズム257の表面からレーザ光258の波長程度の距
離の領域には、エバネッセント光の場259が形成され
る。
59が形成されたプリズム257の表面に感光体層88
が形成された光ファイバ245を接近させる。
ネッセント光の強度は、プリズム257の表面からの距
離が増加するに従って指数関数的に減少するようになっ
ている。このため、プリズム257の表面と光ファイバ
245の先端の間の距離Reをレーザ光258の波長程
度以下とした場合、突出部65先端でのエバネッセント
光の光強度は、突出部65の基端での光強度に対して非
常に強くなり、感光体層88の先端のみに光が当たって
いる状態と等価となり、感光体層88の先端がエバネッ
セント光によって露光され、上記図63に示すように、
感光体層88の先端に露光部88aが形成される。
5の先端をレーザ光258の波長程度以下の精度でプリ
ズム257表面に接近させる必要がある。このため、こ
の露光工程では、図64に示すような構成の原子間力顕
微鏡を用いて、光ファイバ245とプリズム257の位
置の制御を行っている。
有振動数で振動させた光ファイバ245とプリズム25
7表面との間に働く原子間力を検出して、光ファイバ2
45の先端とプリズム257との間の距離を測定するよ
うになっており、原子間力に基づく光ファイバ245の
振動の振幅を検出する変位検出部と、光ファイバ245
及びプリズム257を移動させる駆動部と、変位検出部
により検出された光ファイバ245の振動の振幅に応じ
て駆動部等の制御を行う制御部等を備えている。
よって発生したレーザ光をレンズ261によって平行光
線とし、変位検出光としてミラー262によって反射さ
せて光ファイバ245の側面に照射し、光ファイバ24
5によって散乱された変位検出光を光ファイバ245に
対してミラー262と対向して設けられたスリット26
3を介してフォトダイオード264で受光し、このフォ
トダイオード264の出力をアンプ265で増幅した
後、ロックインアンプ266で検出する。
振動させた光ファイバ245をプリズム257表面に接
近させる際に、光ファイバ245の先端とプリズム25
7の表面との距離が10nm以下程度となると、光ファ
イバ245の先端とプリズム257の表面との距離に応
じて原子間力が働き、光ファイバ245の振幅が減少す
る。この光ファイバ245の振幅は、例えば図65に示
すように、光ファイバ245の先端とプリズム257の
表面の距離が10nm以下程度となると急激に減少す
る。
すると、フォトダイオード264の出力の振幅が変化す
る。そして、ロックインアンプ266は、アンプ265
を介して供給されるフォトダイオード264の出力の振
幅を検出して光ファイバ245の振幅を求め、光ファイ
バ245とプリズム257の表面との距離を検出する。
した光ファイバ245の先端とプリズム257の表面と
の距離に基づいて駆動部の動作を制御する。駆動部で
は、PZT駆動部268が、制御部267からの制御に
基づいて光ファイバ245か固定されたPZT269a
とプリズム257が固定されたPZT269bを駆動す
る。これにより、変位検出部によって検出された光ファ
イバ245の先端とプリズム257の表面との距離に応
じて、PZT269a、269bが駆動され、光ファイ
バ245の先端とプリズム257の表面との距離がレー
ザ光258の波長程度に保持される。なお、光ファイバ
245は、露光終了後に取り外す必要があるため、光フ
ァイバ245に付設された磁石m1によって、PZT2
69aに設けられた磁石m2に固定されている。このよ
うに、磁石m1、m2によって光ファイバ245を固定
しているため、光ファイバ245の交換が容易となる。
生したレーザ光258をミラー271によって反射さ
せ、シャッタ272を介してプリズム257に入射する
と、上述したようにプリズム257の表面に、エバネッ
セント光の場259が形成され、感光体層88の先端に
露光部88aが形成される。
程で露光された感光体層88の露光部88aを除去し
て、図66に示すように、感光体層88の先端に露出部
89を形成する。すなわち、感光体層88を形成するフ
ォトレジストは、有機系アルカリ溶液等からなる現像液
により現像すると露光部88aが除去され、図67に示
すように、感光体層88の先端から遮光性の被覆層66
が露出した露出部89が形成される。
グ工程において、フッ化アンモニウム水溶液とフッ酸と
水の比率を1.7:1:1とした緩衝フッ酸液をエッチ
ング液として78分程度エッチングした後、フッ化アン
モニウム水溶液とフッ酸と水の比率を10:1:1とし
た緩衝フッ酸液をエッチング液として120分程度エッ
チングし、200nm程度の厚さに金をコーティング
し、フォトレジスト層を形成した後、プリズム257に
入射するレーザ光のパワーを0.25mWとし、0.1
25秒の露光を行った後、30秒の現像を行った場合の
形状を示している。
程において露出部89が形成された光ファイバ245を
エッチングして、突出部65の先端が遮光性の被覆層6
6から露出した開口部87を形成する。具体的には、ヨ
ウ化カリウムKI−I2水溶液あるいはシアン化カリウ
ム水溶液等をエッチング液として遮光性の被覆層66を
形成する金をエッチングする。感光体層88を構成する
フォトレジストは、KI−I2水溶液に対して耐腐食性
があり、遮光性の被覆層66を構成する金は、KI‐I
2水溶液に溶けるため、このようなエッチングを行うこ
とにより、上記露出部89から露出した遮光性の被覆層
66が選択的にエッチングされ、突出部65の先端が遮
光性の被覆層66から露出した開口部87が形成され
る。
るエッチング液は、上記第23実施例の開口工程と同様
に、遮光性の被覆層66をエッチングすることができ、
感光体層88をエッチングしないものであれば、例えば
王水、ヨウ素あるいは臭素等のハロゲン溶液等を使用し
てもよく、あるいは、プラズマエッチング等のドライエ
ッチングを使用しても、開口工程において露出部89か
ら露出した遮光性の被覆層66を選択的にエッチングし
て開口部87を形成することができる。
ァイバ245の表面の感光体層88を除去すると、上述
の図14に示す構造の光ファイバ80が形成される。こ
の光ファイバ80の開口部87の直径は、光ファイバ8
0の先端の顕微鏡写真を図15に示すように、50nm
程度となっている。
は、コア12中に添加したGeO2に密度分布を持たせ
た光ファイバを使用し、突出部85の先鋭角が20度
で、金を200nm程度コーティングした光ファイバ2
45を、KIとI2と水の重量比が、20:1:400
の比率となっているKI−I2水溶液を水で50倍程度
に薄めた水溶液をエッチング液として、10分程度エッ
チングしたものである。また、この感光体層除去工程の
処理を行わず、遮光性の被覆層66の表面に感光体層8
8を残したままとしてもよい。
では、露光工程において、エバネッセント光を用いて感
光体層88の先端のみを露光しているため、従来の通常
の光を用いて露光を行った場合に比して微小な領域のみ
を露光させることができる。また、この光ファイバの製
造方法では、露出部形成工程において、露光された感光
体を除去して露出部89を形成した後、開口工程におい
て、突出部65の遮光性の被覆層66をエッチングする
だけで、露出部89から露出した遮光性の被覆層66を
選択的にエッチングすることができ、容易に微小な開口
部87を形成することができる。このため、光ファイバ
の製造が容易となり、製造コストを低減させることがで
きる。
部の形成では、合成樹脂を溶かした溶剤の表面張力によ
り露出した突出部65の先端の遮光性の被覆層66をエ
ッチングして開口部68を形成しているために、適用対
象が突出部65の基端に径小部64を有する形状の光フ
ァイバに限定される。これに対し、この第30実施例で
は、エバネッセント光によって露光された感光体層88
の露光部88aを除去して形成された露出部89から露
出した遮光性の被覆層66をエッチングして開口部87
を形成しているため、上述の図53(C)に示す形状の
光ファイバ245だけでなく、上記図38(E)に示す
ようなクラッドの外周からコア12の中心にかけて先鋭
化した先鋭部14を有する形状の光ファイバの先端にも
開口部を形成することができる。
イバの製造方法では、まず、上述の第29あるいは第3
0実施例と同様な第1及び第2エッチング工程と、コー
ティング工程と、感光体層形成工程と、露光工程と、露
出部形成工程と、開口工程の処理を行って、図14に示
す光ファイバの表面に耐腐食性の被覆層67あるいは感
光体層88か残存した状態の光ファイバを形成する。
示すように、開口工程までで形成された開口部87から
露出した突出部65を緩衝フッ酸液によりエッチングす
る。このとき、遮光性の被覆層66を形成する金は、緩
衝フッ酸液によってエッチングされず、開口部87から
露出した突出部の先端55aが選択的にエッチングさ
れ、図69に示すように、突出部65の先端が遮光性の
被覆層66の先端に対して陥没したピット93が形成さ
れ、ピット93の先端に開口部91が形成される。
ずしも感光体層88を残しておく必要はないが、上記コ
ーティング工程によって形成された遮光性の被覆層66
にクラック等があると、このクラック等からエッチング
液が浸透して、先鋭部55をエッチングする虞があるた
め、上述のように感光体層88を除去せずピット形成工
程のエッチングを行っている。
したピット93に色素あるいは試薬等の周囲の環境に応
じて光学特性が変化する物質を付着させる。具体的に
は、色素等を含ませた溶剤等に光ファイバの先端を浸
し、ピット93に溶剤を付着させた後、感光体層88の
表部の溶剤を除去する。これにより、図70に示すよう
に、ピット93中に色素等の物質92が付着され、この
後、遮光性の被覆層66の表面の感光体層88を除去す
ると、上述の図16に示す形状の光ファイバ90が形成
される。
光体層88を除去した後にピット93に色素あるいは色
素を混合した溶剤等の物質を付着させても、同様にピッ
ト93中に色素等の物質92を付着させた光ファイバ9
0を形成することができる。
は、遮光性の被覆層66から突出部65のコアが陥没し
たピット93に、周囲の環境を検出するための物質を付
着させることができ、色素等の周囲の環境を検出する物
質の剥離強度を向上させ、耐久性を向上させた光ファイ
バを容易に製造することができる。
口部91の径が50nmとなっているため、この光ファ
イバの製造方法では、空間解像度を向上させた光ファイ
バを容易に製造することができる。
イバの製造方法では、酸化ゲルマニウムGeO2を添加
した石英SiO2からなるコア12と、石英SiO2か
らなるクラッド13から構成される光ファイバ11を加
熱した状態で引き伸ばしてコア12とクラッド13が共
に先細り状とされた先鋭部を形成する先鋭部形成工程
と、外先鋭部をエッチングして先鋭部の先端から突出し
たコア12が先鋭化された突出部を形成するエッチング
工程とからなる。
ットプラーを用い、図71(A)に示すように、光ファ
イバ11を加熟しながら引き伸ばして、コア12及びク
ラッド13の径を減少させる。そして、コア12及びク
ラッド13が所望の径となるまで、光ファイバ11を引
き延ばして切断すると、図71(B)に示すように、光
ファイバ11の一端に、コア12とクラッド13が共に
先細り状とされた先鋭部104が形成される。
ンモニウム水溶液とフッ酸と水の体積比がX:1:Y
(Y=任意)で、フッ化アンモニウム水溶液の体積比X
が10程度であるエッチング液を用いて先鋭部104を
エッチングする。
組成の光ファイバ11を、エッチングすると、上述の第
28実施例と同様に、コア12のエッチング速度に対し
て、クラッド13のエッチング速度が速いために、先鋭
部104の先端のコア13が先にエッチングされ、上述
の図17に示すように、先鋭部104の先端のクラッド
13からコア12が突出し、該突出したコア12が円錐
状に先鋭化された突出部105が形成される。
3実施例と同様に、コア12の中心部の酸化ゲルマニウ
ムの密度が高くなっているため、突出部105は、酸化
ゲルマニウムGeO2の分布に依存して先鋭化され、対
称性のよい円錐形状となる。
は、コア12とクラッド13が共に先細り状とされた先
鋭部104の先端に、容易にクラッド13の先端から円
錐状に先鋭化したコア12が突出した突出部105を形
成することができる。
イバの製造方法では、まず、上述の第32実施例の先鋭
部形成工程と同様の処理を行って、上記図71(B)に
示すように光ファイバ11の一端に先鋭部104を形成
する。
の先端をフッ酸によりエッチングする。このようなフッ
酸中では、コア12のエッチング速度がクラッド13に
対して速いため、図72に示すように、コア12が先に
エッチングされて凹部106が形成される。
ング工程により先鋭部104をエッチングする。そし
て、第32実施例のエッチング時間に対してやや長い時
間エッチングを行うと、上述の第32実施例と同様に、
先鋭部104の先端のクラッド13からコア12が突出
し、該突出したコア12が円錐状に先鋭化された突出部
105が形成される。
イバの製造方法では、まず、上記第32実施例あるいは
第33実施例と同様の処理を行って、上記図17に示す
形状の光ファイバ100を形成する。
00の突出部105の表面に上述の第29あるいは第3
0実施例と同様にコーティングを行って遮光性の被覆層
116を形成し、さらに、第29あるいは第30実施例
と同様に開口工程の処理を行って、突出部105の先端
が遮光性の被覆層116から露出した開口部117を形
成する。これにより、上記図18に示す形状の光ファイ
バ110が形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様なエッチングを行って、
上記図53(C)に示すように、光ファイバ11の一端
に径小部64及び突出部65を形成する。
ファイバを、水の体積比Y(Y:30以上)とした上述
の緩衝フッ酸液をエッチング液としてエッチングを行
う。具体的には、上記第2エッチング工程において、上
記フッ化アンモニウムの体積比Xを10とした緩衝フッ
酸液をエッチングとして20分程度のエッチングを行っ
て突出部65を形成した後、フッ化アンモニウムの体積
比Xを10とし、水の体積比Yを30とした緩衝フッ酸
液をエッチング液として15分程度のエッチングを行
う。
グを行うと、コア12とクラッド13のエッチング速度
がほぼ同じてあるために、突出部65が表面からエッチ
ングされて細くなり、エッチング時間の増加とともに、
図76に示すように、突出部65の長さ(チップ長)L
が減少するとともに先鋭角θが増大する。そして、図7
3に示すように、先端程先鋭角θが小さい突出部125
が形成される。この突出部125のチップ長L及び先端
の先鋭角θは、例えば図74に突出部125の拡大図を
示すように、それぞれ2.1μmと28°程度となって
いる。
きの突出部125と、上記第28実施例の第1及び第2
エッチング工程により形成した突出部65について、チ
ップ長L及び先端の先鋭角θとの関係を求めると、図7
7に示すように、同じ先鋭角θのときの突出部125の
チップ長Lが小さくなっている。なお、この図77にお
いて黒丸の点が突出部125を表し、四角の点が突出部
65を表している。すなわち、この光ファイバの製造方
法では、チップ長Lを小さくすることができる。
の表面に上記第29あるいは第30実施例と同様に遮光
性の被覆層126及び開口部127を形成する。これよ
り、上記図21に示す形状の光ファイバ120が形成さ
れる。
上記フッ化アンモニウムの体積比Xを10とした緩衝フ
ッ酸液をエッチングとして15分程度のエッチングを行
って突出部65を形成した後、フッ化アンモニウムの体
積比Xを100とし、水の体積比Yを50とした緩衝フ
ッ酸液をエッチング液として15分程度のエッチングを
行った場合の突出部125のチップ長L及び先端の先鋭
角θは、例えば図75に示すように、それぞれ1.52
μmと36.5°程度となっている。この場合、フッ化
アンモニウムの体積比Xを10とし、水の体積比Yを5
0とした緩衝フッ酸液中のコア12のエッチング速度が
クラッドに対してやや速いため、突出部125の基端が
クラッド13の先端に対して若干窪んだ形状となる。
イバの製造方法では、コア132のクラッド133に対
する比屈折率差△nが1%で、屈折率が徐々に変化する
グレーデッドインデックス型の屈折率分布を有するマル
チモードファイバからなる光ファイバ131の一端をエ
ッチングして、図78(B)に示すように、クラッド1
33の一端から突出したコア132が円錐状に先鋭化し
た突出部134を形成する。このマルチモードの光ファ
イバは、クラッド径d0が250μm程度で、コア13
2径dcが50μm程度となっている。
フッ酸と水の比率を10:1:lとした緩衝フッ酸液中
で17時間程度エッチングすると上記図24に示すよう
に、先鋭角が50゜で、先端の曲率生径が5nm程度の
突出部134が形成される。また、このようなエッチン
グを行うためには、上述のようにコア132とクラッド
133の径の比が1:5以上である必要がある。
ンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を1.7:1:1
とした緩衝フッ酸液中でクラッド133径を減少させて
径小部を形成してもよい。
上述の第29あるいは第30実施例と同様にコーティン
グを行って遮光性の被覆層135を形成し、さらに、第
29あるいは第30実施例と同様に開口工程の処理を行
って、突出部134の先端が遮光性の被覆層135から
露出した開口部136を形成する。これにより、マルチ
モードファイバを用いて上記図22に示す形状の光ファ
イバ130が形成される。
折率分布が異なる3種類の光ファイバを用いて上述の第
28実施例の第2エッチング工程と同様のエッチングを
行って、各々20個のサンプルを作成したところ、図8
0から図82に示すように、形成される突出部の先端の
直径の分布が異なることがわかった。
が4μmで、コア12とクラッド13の屈折率分布がス
テップ(階段)インデックス型となっている光ファイバ
を用いた場合では、図80に示すように、突出部の先端
の直径が10〜25nmを中心として分布している。
〜9μmで、コア12とクラッド13の屈折率分布がス
テップインデックス型となっている光ファイバを用いた
場合では、図81に示すように、突出部の先端の直径が
10〜15nmを中心として分布しているが、上記図8
1に示す場合よりばらつきが大きい。
径が14μmで、コア12とクラッド13の屈折率分布
がステップ状となっており、コア12の中心部の4μm
の範囲で屈折率分布がグレーデッドインデックス型とな
っている光ファイバを用いた場合では、図82に示すよ
うに、突出部の先端の直径が5nm程度を中心として分
布しており、上記図80、図81に対してばらつきが小
さい。
程、突出部の先端の直径のばらつきが小さくなり、比屈
折率差の分布がグレーデッドインデックス型である方が
突出部の先端の直径が小さくなり、ばらつきも小さくな
ることがわかる。
イバの製造方法は、光ファイバ11のコア12中の添加
物質(ドーパント)を徐々にクラッド13中に拡散さ
せ、等価的にコア12径を増加させた、コア径増加部1
44を形成する拡散工程と、該コア径増加部144を形
成した光ファイバ11の一端をエッチングしてコア12
がクラッド13から突出した突出部を形成するエッチン
グ工程等からなる。
示すように、光ファイバ11を回転させながらその一部
を加熱する。これにより、コア12中に添加されている
ドーパントがクラッド13中に拡散され、等価的にコア
12径が増加したコア径増加部144が形成されてい
る。このコア径増加部144では、コア12の中心から
周辺に向かってドーパントの密度が徐々に低下してい
る。また、光ファイバ11を回転させながら加熱する代
わりに、光ファイバ11の一端を発熱体に接触させて光
ファイバの長手方向に加熱すると、コア径増加部144
の径をさらに増加させることができる。
144のコア径12が最大となる位置で光ファイバを切
断し、図83(B)に示す端部148を形成する。そし
て、この端部148を、例えばフッ化アンモニウム水溶
液とフッ酸と水の比率を10:1:1とした緩衝フッ酸
液中でエッチングする。このような緩衝フッ酸液中で
は、クラッド13のエッチング速度がコア12より速い
ため、クラッド13が先にエッチングされてコア径増加
部144のコア12がクラッド13から突出する。クラ
ッド13から突出したコア12は、側面からもエッチン
グされ、図84に示すように、コア12の先端が円錐状
に先鋭化されて突出部145が形成される。
12の中心から周辺に向かってドーパントの密度が徐々
に低下しているため、突出したコア12の中心から周辺
に向かってエッチング速度が若干速くなるため、突出部
145の先端の曲率半径が小さくなる。
に上述の第29あるいは第30実施例と同様にコーティ
ングを行って遮光性の被覆層146を形成し、さらに、
第29あるいは第30実施例と同様に開口工程の処理を
行って、突出部145の先端が遮光性の被覆層146か
ら露出した開口部147を形成することにより、上記図
27に示す形状の光ファイバ140が形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
程と同様なコーティングを行って突出部65の表面に樹
脂等の疎水性の被覆層を形成するとともに、突出部65
の先端のコア12が疎水性の被覆層から露出した開口部
を形成する。
5の突出部65を、石英SiO2を過剰に溶解させて飽
和状態となっているH2SiF6溶液中に浸漬する。こ
のようなH2SiF6溶液中の石英SiO2は、石英等
の親水性の物質表面に析出しやすく、樹脂等の疎水性の
物質表面に析出しにくい。このため、疎水性の被覆層が
形成された突出部55の表面には石英SiO2が析出せ
ず、露出した開口部のコア12の表面には石英SiO2
が析出して石英の被覆層が形成される。
色素を混合しておくことにより、突出部155の先端が
被覆層156から露出した開口部の表面に、色素を添加
した石英等の被覆層157が形成され、上記図28及び
図29に示す構造の光ファイバ150が形成される。こ
のように色素を添加した石英等の被覆層157を形成す
ることにより、色素の剥離強度を向上させ、耐久性のよ
い光ファイバを製造することができる。
代わりにpH等の周囲の環境に応じて光学特性が変化す
る物質を混合しておくことにより、これらの物質を含む
被覆層157を形成することができる。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程、第1及び第2コーティング工
程、開口工程と同様な処理を行って、上述の図12に示
す形状の光ファイバ60を形成する。
の第38実施例と同様に、色素等を混合したH2SiF
6溶液中に浸漬する。これにより、開口部68から露出
したコア12の表面にH2SiF6溶液中の石英SiO
2が析出し、上記図30に示すように、色素等を添加し
た石英等の被覆層168が形成された光ファイバ160
が形成される。
イバの製造方法では、屈折率の異なる2種類のコア17
2、173とクラッド174を有するダブルコアの光フ
ァイバ171をエッチングして、上述の図31に示す光
ファイバ170を形成する。
が純石英からなり、コア172、173が酸化ゲルマニ
ウムを添加した石英からなる。コア172、173の酸
化ゲルマニウムの添加率は、それぞれ0.9モル%、
0.2モル%となっており、内側のコア172の方が酸
化ゲルマニウムの添加率が高くなっている。
ッ化アンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を10:
1:1とした緩衝フッ酸液中で10時間程度エッチング
する。このような緩衝フッ酸液中では、クラッド174
のエッチング速度がコア173より速いため、図85に
示すように、クラッド174が先にエッチングされてコ
ア173がクラッド174から徐々に露出し、露出した
コア173が側面からもエッチングされて先鋭化されて
先細り部176が形成される。
ア173のエッチング速度がコア172より速いため、
上記先細り部176の先端においてコア173が先にエ
ッチングされてコア172がコア173から徐々に露出
し、露出したコア172が側面からもエッチングされて
先鋭化されて突出部177が形成される。
緩衝フッ酸液でエッチングを行った場合、上述の緩衝フ
ッ酸液中のコア172、173とクラッド174のエッ
チング速度をそれぞれR1、R2、R3とすると、上記
先細り部176の先鋭角θ3は、上述の第23実施例の
第4エッチング工程と同様に、コア173とクラッド1
74のエッチング速度の比に応じて決まり、sin(θ
3/2)=R2/R3(但し、R2:コア173のエッ
チング速度、R3:クラッドのエッチング速度)なる関
係を有している。また、上記突出部177の先鋭角θ1
は、上述の第23実施例の第4エッチング工程と同様
に、コア172とコア173のエッチング速度の比に応
じて決まり、sin(θ1/2)=R1/R2(但し、
R1:コア172のエッチング速度)なる関係を有して
いる。
のフッ化アンモニウムの比率Xを10としたが、比率X
が1.7のときに、コア172、173のエッチング速
度R 1、R2とクラッド174のエッチング速度R3が
等しくなるために、フッ化アンモニウムの比率Xが1.
7の緩衝フッ酸液を用いてエッチングを行うことによ
り、クラッド174の径を制御することができる。そし
て、さらにフッ化アンモニウムの比率Xが1.7より大
きい緩衝フッ酸液を用いることによって突出部177を
形成することができる。
3は、石英中に添加した酸化ゲルマニウムの比率に応じ
て変化する。また、この酸化ゲルマニウムの比率に応じ
て屈折率が変化するため、上記sin(θ3/2)、s
in(θ1/2)は、上記図41に示すように、それぞ
れコア173とクラッド174との間の比屈折率差△n
2とコア172とコア173との間の比屈折率差△n1
に依存して変化する。
は、上述のようなダブルコアの光ファイバ171を用い
ることにより、クラッド174及びコア172、173
のエッチング速度の違いに基づいて、光ファイバ171
の先端を先鋭化することができ、1回乃至2回のエッチ
ングにより上記図31に示す光ファイバ170を形成す
ることができるため、光ファイバの製造を容易にするこ
とができる。
ア172、173に添加する酸化ゲルマニウムの比率を
調整しておくことによって、上記先細り部176の先鋭
角θ 3と突出部177の先鋭角θ1を制御することがで
きる。
工程において、フッ酸とシリコンオイル等の界面におい
て、メニスカスの高さが光ファイバの径に応じて減少す
る現象を利用して上記図38(B)に示すテーパー部2
21を形成しているが、外部からの振動等によって界面
の状態が影響を受け易く、エッチングの安定性及びテー
パー部221の先鋭角θ2の再現性の面でやや問題があ
る。
は、クラッド174とコア173のエッチング速度の比
に応じて上記先細り部176の先鋭角θ3が決まるた
め、エッチングの安定性及び先鋭角θ3の安定性を向上
させることができる。
イバの製造方法では、酸化ゲルマニウムを添加した石英
からなるコアと、該コアを覆う石英からなるクラッド
と、該クラッドを覆うフッ素あるいはホウ素を添加した
クラッドとからなるダブルクラッドの光ファイバをエッ
チングして、上述の第40実施例と同様に、上記図31
に示す形状の光ファイバを製造する。
るいはホウ素を添加し、中心のコアに酸化ゲルマニウム
を添加したダブルクラッドの光ファイバを、上述のフッ
化アンモニウムの比率Xを0とした緩衝フッ酸液でエッ
チングした場合には、コア172のエッチング速度がコ
ア173より速くなるため、図86(A)に示すよう
に、コア172の先端が先細り部176の先端のコア1
73に対して窪んだ凹部179が形成される。
ンモニウムの比率Xをl.7とした緩衝フッ酸液でエッ
チングした場合には、コア172とコア173のエッチ
ング速度がほぼ等しくなるため、図86(B)に示すよ
うに、上記先細り部176の先端にコア172とコア1
73の先端を面一とすることができる。
ンモニウムの比率Xを10とした緩衝フッ酸液でエッチ
ングした場合には、コア173のエッチング速度がコア
172より速くなるため、図86(C)に示すように、
先細り部176の先端のコア172が先鋭化された突出
部177が形成される。
は、まず、第1エッチング工程において、光ファイバの
一端に上記図86(Bうに示すテーパー部と平坦部を形
成する。具体的には、例えば図87に示すように、光フ
ァイバ251の一端250を、フッ化アンモニウムの比
率Xを1.7とした緩衝フッ酸液でエッチングする。
るいはホウ素を添加した最外周のクラッド254のエッ
チング速度が、石英のクラッド253及び酸化ゲルマニ
ウムを添加したコア252に対して速いために、エッチ
ングが進行するにしたがってクラッド254からクラッ
ド253が突出する。この突出したクラッド252は、
側面からもエッチングされるため、上記図87中に破線
で示すように先鋭化される。このときの先鋭角θ3は、
上述の第40実施例と同様に、クラッド254とクラッ
ド253のエッチング速度の比に応じて決まる。
253の先端が先鋭化されて先細り部255が形成さ
れ、該先細り部255の先端のクラッド253とコア2
52が面一となった平坦部256が形成される。
チング時間が長くなると、平坦部256がさらにエッチ
ングされて先鋭化されてしまるが、続く第2エッチング
工程のエッチングを行うためには、クラッド254が完
全にエッチングする必要がある。このため、クラッド2
54の径は、この第1エッチングにおいて完全にエッチ
ングされる程度に小さくすることが望ましい。すなわ
ち、クラッド254のエッチング速度R3とし、平坦部
256を残して、先細り部255を形成するまでのエッ
チング時間をt1とすると、クラッド254の厚さδ3
は、δ3≦R1t 1であればよい。
のように先細り部255及び平坦部256が形成された
光ファイバを上記フッ化アンモニウムの比率Xが1.7
より大きい、例えば10である緩衝フッ酸液中でエッチ
ングする。
3実施例と同様に、コア252のエッチング速度がクラ
ッドより遅いため、エッチングが進行するにしたがって
コア252がクラッド253から徐々に突出する。この
突出したコア252は、側面からもエッチングされて先
鋭化され、上記図88中に破線で示すように、上述の第
40実施例と同様に、先細り部176に連接した突出部
177が形成される。
第40実施例と同様に、コア252と、クラッド253
のエッチング速度に応じて決まる。具体的には、このよ
うなダブルクラッドの光ファイバを、フッ化アンモニウ
ムとフッ酸と水の体積比が10:1:1である上述の緩
衝フッ酸液によりエッチングを行った場合、コア252
と、コア253のエッチング速度の比であるsin(θ
1/2)は、上記図41中に四角の点で示すように、コ
アとクラッドの比屈折率差△nが0.2%のときに、
0.63程度で、△nが0.7%のときに0.87程度
となる。
40実施例と同様に、クラッド254とコア253のエ
ッチング速度の比に応じて上記先細り部176の先鋭角
θ3が決まるため、エッチングの安定性及び先鋭角θ3
の安定性を向上させることができる。
イバの製造方法では、上述の第41実施例と同様のダブ
ルクラッドの光ファイバをエッチングして先鋭化を行
う。
の第41実施例と同様のダブルクラッドの光ファイバの
一端を、上述のフッ化アンモニウムの比率Xが1.7よ
り大きい、例えば10である緩衝フッ酸液を用いてエッ
チングする。
254のエッチング速度に対してクラッド253のエッ
チング速度が速く、クラッド253のエッチング速度に
対してコア252のエッチング速度が速い。このため、
このような緩衝フッ酸液でエッチングを行うと、図89
に示すように、クラッド254からクラッド253が徐
々に突出しクラッド254から露出したクラッドが側面
からエッチングされて先鋭角θ3で先鋭化された先細り
部255が形成され、先細り部255のクラッド253
の先端からコア252が突出し、突出したコア252が
側面からエッチングされて先鋭角θ1で先鋭化された突
出部257が形成される。
ような光ファイバをさらにフッ化アンモニウムの比率X
が1.7より大きい緩衝フッ酸液中でエッチングする
と、図90に示すように、上述の第41実施例の第2エ
ッチング工程と異なり、先鋭部255の先端にコア25
2が突出した突出部257を形成しているために、突出
部257が側面からエッチングされるとともに、先細り
部255から露出した突出部255の基端のコア252
が側面からエッチングされて、先鋭角θ1の小さい突出
部177を形成することができる。
257の基端のコア252が露出する見かけ上のクラッ
ド253のエッチング速度は、先鋭角θ3の先細り部2
55を形成しているために、実際のクラッド253のエ
ッチング速度R2の1/{sin(θ3)}倍になる。
コア252、クラッド253、254のエッチング速度
をそれぞれR1、R2、R3とすると、 sin(θ1/2)=sin(θ3/2)×(R1/R2) =(R2/R3)×(R1/R2) =R1/R3 となる。
述の第40及び第41実施例のエッチング時間を延長し
ても形成することができる。例えば第40実施例におい
て、フッ化アンモニウムの比率Xを10程度として10
時間程度のエッチングを行ってもよい。
イバの製造方法では、まず、上述の第40実施例と同様
なエッチングを行って上記図31に示す形状の光ファイ
バ170を形成する。あるいは、上述の第41あるいは
第42実施例と同様なエッチングによって、このような
形状の光ファイバ170を形成してもよい。
0の突出部177の表面に上述の第29あるいは第30
実施例と同様にコーティングを行って遮光性の被覆層1
86を形成し、さらに、第29あるいは第30実施例と
同様に開口工程の処理を行って、突出部177の先端が
遮光性の被覆層186から露出した開口部189を形成
する。これにより、上記図32に示す形状の光ファイバ
180が形成される。
イバの製造方法では、まず、第1エッチング工程におい
て、図91(A)に示す光ファイバ11の一端を、フッ
化アンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を1,8:
1:1とした緩衝フッ酸液中で85分程度エッチングす
る。このような緩衝フッ酸液中では、クラッド13のエ
ッチング速度がコア12に対して若干速いため、図91
(B)に示すように、クラッド13から突出したコア1
2が先鋭化された突出部198が形成される。
ように突出部198が形成された光ファイバを、フッ化
アンモニウム水溶液とフッ酸と水の比率を10:1:1
とした緩衝フッ酸液中で85分程度エッチングする。こ
のような緩衝フッ酸液中では、クラッド13のエッチン
グ速度がコア12に対して比較的速いため、図92に示
すように、クラッド13が先にエッチングされる。この
とき、突出部198の形状を保ったまま、クラッド13
から露出したコア12が先鋭化され、図91(C)に示
すように、クラッド13から突出したコア12が先鋭化
された突出部194と、該突出部194の先端の先鋭角
を大きくした検出端部195が形成される。
出部194の表面に上述の第29あるいは第30実施例
と同様にコーティングを行って遮光性の被覆層196を
形成し、さらに、第29あるいは第30実施例と同様に
開口工程の処理を行って、検出端部195の先端が遮光
性の被覆層196から露出した開口部197を形成す
る。これにより、上記図33に示す形状の光ファイバ1
90が形成される。
ティング工程及び開口工程と同様な方法により、検出端
部195の先端に開口部197を形成する場合、検出端
部195の先鋭角が大きいため、第2コーティング工程
において、耐腐食性の被覆層から遮光性の被覆層が露出
する露出部の径を制御することが難しいため、開口部1
97の径を制御することは困難である。
ティング工程及び開口工程と同様な処理を行って、上記
図34に示す第1の被覆層198を形成する。そして、
該第1の被覆層198から露出した突出部194及び検
出端部195の表面に、上記第23あるいは第24実施
例のコーティング工程と同様に真空蒸着により第2の遮
光性の被覆層199を形成する。最後に、上記第23あ
るいは第24実施例の開口工程と同様に第2の遮光性の
被覆層199をエッチングして開口部197を形成す
る。
することにより、検出光の波長程度以下の開口径を有す
る開口部197を容易に形成することができる。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
に水、触媒を加えて形成したゾル中に上記突出部65の
先端を浸漬させる。このように、突出部65の先端をゾ
ル中に浸漬させると、突出部65の表面に該ゾルが付着
してゾル層が形成される。このようなゾル層を乾燥させ
ると、ゾルが固体のゲルとなり、上記図36に示すよう
に、ゲル層からなる被覆層207が形成される。この被
覆層207は、クラッド13と同様に機能するため、突
出部65と該被覆層207の境界での光の反射率を高く
することができ、伝達効率を向上させることができる。
して非晶質の層としてもよい。また、上述のようにゲル
層を形成した後、さらに突出部65にゾルを付着させ
て、ゲル層を積層して形成してもよい。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
5の突出部65を、上述の第38実施例と同様に、石英
SiO2を過剰に溶解させて飽和状態となっているH2
SiF6溶液中に浸漬する。このような溶液中に、突出
部65を浸漬すると、突出部65の表面にH2SiF6
溶液中の石英SiO2が析出して、図93に示すよう
に、突出部65の表面に石英の被覆層216が形成され
る。そして、このような石英の被覆層216の表面に金
等の遮光性の素材をコーティングする。これにより、図
94に示すように、石英の被覆層216の表面に遮光性
の被覆層217が形成される。
溶かした溶剤中に浸漬させ、遮光性の被覆層217の表
面に付着した溶剤を蒸発させると、図95に示すよう
に、遮光性の被覆層217の表面に耐腐食性の被覆層2
18が形成される。遮光性の被覆層217の先端は、上
記溶剤の表面張力によって、耐腐食性の被覆層218か
ら露出している。そして、該耐腐食性の被覆層218か
ら露出した遮光性の被覆層217の先端部をエッチング
した後、耐腐食性の被覆層218を除去すると、図96
に示すように、石英の被覆層216の先端が遮光性の被
覆層217から露出した露出部219が形成される。
モニウム水溶液とフッ酸と水からなる緩衝フッ酸液ある
いは水酸化ナトリウム水溶液によってエッチングするこ
とにより、突出部65の先端が石英の被覆層216から
露出した開口部218が形成され、上述の図37に示す
形状の光ファイバ210が形成される。
イバの製造方法では、まず、上述の第28実施例の第1
及び第2エッチング工程と同様な処理を行って、上記図
53(C)コア12を径小とした径小部64と、突出部
65とを形成した形状の光ファイバ245を形成する。
部65の表面にパラジウム等の触媒金属核を析出させて
活性化処理を行う。具体的には、突出部65を塩化スズ
SuCl2、塩化パラジウムPdCl2、塩酸等の混合
液に浸漬する。これにより、突出部65の表面にパラジ
ウムが析出する。
部65を塩化スズSuCl2の水溶液中に浸漬する。こ
れにより、突出部65の表面にスズが吸着する。次に、
このように表面にスズを析出させた突出部65を塩化パ
ラジウムPdCl2の水溶液中に浸漬する。これにより
突出部65の表面のスズがパラジウムに置換される。
突出部65の表面に無電界メッキによりニッケルの被覆
層を形成すると、突出部65の先端には、ニッケルの被
覆層が形成されにくく、図97に示すように、突出部6
5の先端がニッケルの被覆層から露出した開口部68が
形成される。
理を施した後、無電界メッキを行うことにより、容易に
開口部68を形成することができる。
め、ニッケルの被覆層の上に、さらに金を無電界メッキ
して金の被覆層を形成することができる。
イバの製造方法では、上述の第23実施例の第1から第
4エッチング工程と同様の処理を行って、上記図38
(E)に示すように、クラッド13の外周からコア12
の中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部14を有する
光ファイバ225を形成する。
処理及び無電界メッキを施すことにより、先鋭部14の
表面に遮光性の被覆層を形成するとともに、該遮光性の
被覆層の先端に開口部を容易に形成することができる。
バは、光ファイバの一端のクラッドから突出したコアを
先端先細り状に先鋭化した先鋭部と、上記先鋭部の先端
に設けられ、該先鋭部よりも大きな先鋭化角を有する検
出端部と、上記先鋭部及び検出端部の表面に形成された
遮光性の金属被覆層と、上記先鋭部の先端を上記金属被
覆層から外部に露出させる開口径が光の波長以下の開口
部とを有する。
に設けられた該先鋭部よりも大きな先鋭化角を有する検
出端部を介して効率よく光を入出力することができ、し
かも、遮光性の被覆層が開口部以外に照射される光を遮
断する遮光部として機能するので、開口部からのみ光を
入出力することができ、散乱光等の影響を低減させて検
出効率を向上させることができる。
ッセント光を検出するフォトン走査型顕微鏡において、
エバネッセント光を散乱させて検出する光プローブとし
て使用し、先鋭部の先端を物質表面に近接させ、先鋭部
の先端で、物質表面のエバネッセント光を散乱させてコ
アに導くことにより、検出効率よくエバネッセント光を
検出することができる。
では、クラッドから突出したコアを先端先細り状に先鋭
化した先鋭部と、上記先鋭部の先端に設けられ、該先鋭
部よりも大きな先鋭化角を有する検出端部と、上記先鋭
部及び検出端部の表面に形成された遮光性の金属被覆層
と、上記先鋭部の先端を上記金属被覆層から外部に露出
させる開口径が光の波長以下の開口部とを有する光ファ
イバを製造することができる。
である。
ント波を検出する動作を示す図である。
である。
図である。
構造を示す図である。
図である。
構造を示す図である。
図である。
図である。
す図である。
す図である。
す図である。
す図である。
す図である。
な構造を示す図である。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
微鏡のコレクションモードでの動作を原理的に示す図で
ある。
微鏡のイルミネーションモードでの動作を原理的に示す
図である。
造を示す図である。
示す図である。
布を示す図である。
的な構造を示す図である。
示す図である。
を示す図である。
示す図である。
示す図である。
的な構造を示す図である。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
示す図である。
覆層の他の具体的な構成を示す図である。
を示す図である。
示す図である。
示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
第1エッチング工程を示す図である。
第4エッチング工程を示す図である。
ッドの間の比屈折率差と先鋭角の関係を示す図である。
組成を変化させたときの先鋭角の変化を示す図である。
組成を変化させたときの先鋭角の変化を示す図である。
コーティング工程を示す図である。
開口工程を示す図である。
けるエッチング時間とクラッド径及び先端の曲率半径の
関係を示す図である。
工程を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
エッチング工程におけるエッチング時間とクラッド径の
関係を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
部の先鋭角を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
第2エッチング工程を示す図である。
第1コーティング工程を示す図である。
第1コーティング工程において先端にコーティングを行
った光ファイバの構造を示す図である。
第2コーティング工程において先端にコーティングを行
った光ファイバの構造を示す図である。
法のエッチング工程を示す図である。
ティング工程を示す図である。
感光体層形成工程を示す図である。
感光体層形成工程において感光体層を形成した光ファイ
バの構造を示す図である。
感光体層形成工程においてクラッド径を変化させたとき
の感光体の付着体を示す図である。
感光工程を示す図である。
間力顕微鏡の構成を示す図である。
端とプリズム表面の間の距離と、光ファイバの振動の振
幅の関係を示す図である。
露出部が形成された光ファイバの構造を示す図である。
部の構造を示す拡大図である。
法のピット形成工程を示す図である。
ピット形成工程においてピットを形成した光ファイバの
構造を示す図である。
色素付着工程において色素を付着させた光ファイバの構
造を示す図である。
法を示す図である。
法を示す図である。
法を示す図である。
より形成された光ファイバの突出部の形状を示す拡大斜
視図である。
より形成された他の光ファイバの突出部の形状を示す拡
大斜視図である。
エッチング工程におけるエッチング時間と、チップ長及
び先鋭角との関係を示す図である。
ァイバの製造方法により形成した突出部のチップ長及び
先鋭角との関係を示す図である。
法を示す図である。
ァイバの屈折率分布を示す図である。
先端の半径の分布を示す図である。
先端の半径の分布を示す図である。
先端の半径の分布を示す図である。
法を示す図である。
エッチング工程のエッチングを示す図である。
法のエッチング工程のエッチングを示す図である。
使用するエッチング液の組成を変えたときに形成される
光ファイバの形状を示す図である。
法を示す図である。
エッチング工程における先鋭化を示す図である。
法を示す図である。
エッチング工程における先鋭化を示す図である。
法を示す図である。
第2エッチング工程のエッチングを示す図である。
法を説明するための図である。
説明するための図である。
説明するための図である。
説明するための図である。
法で表面に被覆層を形成した突出部の先端の拡大図であ
る。
Claims (2)
- 【請求項1】 光を伝搬させるコアと、このコアを覆っ
てコア内を伝搬する光を遮光するクラッドとからなる光
ファイばにおいて、 光ファイパの一端のクラッドから突出したコアを先端先
細り状に先鋭化した先鋭部と、 該先鋭部の表面に形成された遮光性の被覆層と、 上記先鋭部の先端か遮光性の被覆層から突出した開口部
とを有することを特徴とする光ファイバ。 - 【請求項2】 光を伝搬させるコアと、このコアを覆っ
てコア内を伝搬する光を遮光するクラッドとからなる光
ファイパの一端をエッチングしてクラッドの外周からコ
アの中心にかけて円錐状に先鋭化した先鋭部を形成する
先鋭化工程と、 上記先鋭部に遮光性の素材をコーティングして遮光性の
被覆層を形成するコーティング工程と、 上記先鋭部の先端を遮光性の被覆層から露出させて開口
部を形成する開口工程とを有することを特徴とする光フ
ァイばの製造方法。
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