JP2001208771A - コンタクトプローブ - Google Patents
コンタクトプローブInfo
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- JP2001208771A JP2001208771A JP2000014982A JP2000014982A JP2001208771A JP 2001208771 A JP2001208771 A JP 2001208771A JP 2000014982 A JP2000014982 A JP 2000014982A JP 2000014982 A JP2000014982 A JP 2000014982A JP 2001208771 A JP2001208771 A JP 2001208771A
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- contact probe
- outer diameter
- receptacle
- hollow cylindrical
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】プリント基板上の電子部品の導通検査に於い
て、接触子の変形を防止し、かつ、接触子間のショート
を防止し、導通検査を正確に実施できる長寿命のコンタ
クトプローブを提供する。 【解決手段】接触子１の先端部１１外径と結合しリセプ
タクル６外径と嵌合する電気絶縁性含油樹脂からなる中
空円筒ガイド部８を設け、接触子１を下降させる際に、
中空円筒ガイド部８とリセプタクル６外径との間で摺動
させる。
て、接触子の変形を防止し、かつ、接触子間のショート
を防止し、導通検査を正確に実施できる長寿命のコンタ
クトプローブを提供する。 【解決手段】接触子１の先端部１１外径と結合しリセプ
タクル６外径と嵌合する電気絶縁性含油樹脂からなる中
空円筒ガイド部８を設け、接触子１を下降させる際に、
中空円筒ガイド部８とリセプタクル６外径との間で摺動
させる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板の実
装部品の導通検査を行うコンタクトプローブに関し、特
に、導通検査時に於いて接触子に荷重を加えた際に発生
する接触子の変形を防止したコンタクトプローブに関す
る。
装部品の導通検査を行うコンタクトプローブに関し、特
に、導通検査時に於いて接触子に荷重を加えた際に発生
する接触子の変形を防止したコンタクトプローブに関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来のこの種のコンタクトプローブに付
いて図面を参照して説明する。
いて図面を参照して説明する。
【０００３】図５は、従来のコンタクトプローブ５０の
構成を示す断面図である。
構成を示す断面図である。
【０００４】図５を参照すると、コンタクトプローブ５
０は、被測定物と電気的に接触をとる接触子１と、接触
子１に荷重を負荷するコイルスプリング４と、接触子１
とコイルスプリング４とを内蔵する円筒ケース５と、円
筒ケース５を挿入し固着するリセプタクル６とで構成さ
れ、接触子１は、第一端面１４の円錐形状の突起部１４
ａが被測定物と接触する先端部１１と、軸部１２と、円
筒ケース５内径と嵌合し第二端面１５がコイルスプリン
グ４と当接するバネ受け部１３とから構成されている。
０は、被測定物と電気的に接触をとる接触子１と、接触
子１に荷重を負荷するコイルスプリング４と、接触子１
とコイルスプリング４とを内蔵する円筒ケース５と、円
筒ケース５を挿入し固着するリセプタクル６とで構成さ
れ、接触子１は、第一端面１４の円錐形状の突起部１４
ａが被測定物と接触する先端部１１と、軸部１２と、円
筒ケース５内径と嵌合し第二端面１５がコイルスプリン
グ４と当接するバネ受け部１３とから構成されている。
【０００５】また、バネ受け部１３の外径と円筒ケース
５内径とはすきま嵌合をなし、接触子１は軸方向に可動
に配置されている。
５内径とはすきま嵌合をなし、接触子１は軸方向に可動
に配置されている。
【０００６】次に、上述のように構成されたコンタクト
プローブ５０の動作について、図面を参照して説明す
る。
プローブ５０の動作について、図面を参照して説明す
る。
【０００７】図６は、コンタクトプローブ５０を取り付
け治具７に設置した状態を示す断面図、図７（ａ）は、
プリント基板２１上の電子部品２２の導通検査の開始時
の状態を示す概略構成断面図、図７（ｂ）は、接触子１
に所定荷重が加わりコイルスプリング４が圧縮され、電
子部品２２の導通検査時の状態を示す概略構成断面図で
ある。
け治具７に設置した状態を示す断面図、図７（ａ）は、
プリント基板２１上の電子部品２２の導通検査の開始時
の状態を示す概略構成断面図、図７（ｂ）は、接触子１
に所定荷重が加わりコイルスプリング４が圧縮され、電
子部品２２の導通検査時の状態を示す概略構成断面図で
ある。
【０００８】図６、および図７（ａ）、図７（ｂ）を参
照すると、複数のコンタクトプローブ５０が、取り付け
治具７に圧入により設置された状態で、プリント基板２
１を下降させることにより、プリント基板２１に実装さ
れた複数の電子部品２２の端子部２２ａ、２２ｂと第一
端面１４の突起部１４ａとが接触し、更にコイルスプリ
ング４を圧縮させながらプリント基板２１を所定位置ま
で下降させ、一定荷重を負荷した状態で電子部品２２の
導通検査を行う。（コンタクトプローブ５０は、プリン
ト基板２１に実装される電子部品２２の端子部２２ａ、
２２ｂの数だけ取り付け治具７に設置されるが、便宜
上、図７では２個のコンタクトプローブ５０のみを表記
している。） プリント基板２１の導通検査が完了すると、プリント基
板２１を上昇させ、セッティングを解除して、別のプリ
ント基板２１を同一箇所にセットし、上記と同様の操作
により、プリント基板２１の検査を行う。このようにし
て、次々と複数のプリント基板２１の導通検査を実施す
る。
照すると、複数のコンタクトプローブ５０が、取り付け
治具７に圧入により設置された状態で、プリント基板２
１を下降させることにより、プリント基板２１に実装さ
れた複数の電子部品２２の端子部２２ａ、２２ｂと第一
端面１４の突起部１４ａとが接触し、更にコイルスプリ
ング４を圧縮させながらプリント基板２１を所定位置ま
で下降させ、一定荷重を負荷した状態で電子部品２２の
導通検査を行う。（コンタクトプローブ５０は、プリン
ト基板２１に実装される電子部品２２の端子部２２ａ、
２２ｂの数だけ取り付け治具７に設置されるが、便宜
上、図７では２個のコンタクトプローブ５０のみを表記
している。） プリント基板２１の導通検査が完了すると、プリント基
板２１を上昇させ、セッティングを解除して、別のプリ
ント基板２１を同一箇所にセットし、上記と同様の操作
により、プリント基板２１の検査を行う。このようにし
て、次々と複数のプリント基板２１の導通検査を実施す
る。
【０００９】従って、接触子１は、上下間往復移動動作
を繰り返し行うため、接触子１のバネ受け部１３の外径
と円筒ケース５の内径とは、スムーズに接触子１が可動
すべく、すきま嵌合とし、その隙間に摺動摩擦力の軽減
化のため潤滑用のグリース（図示せず）が充填されてい
る。
を繰り返し行うため、接触子１のバネ受け部１３の外径
と円筒ケース５の内径とは、スムーズに接触子１が可動
すべく、すきま嵌合とし、その隙間に摺動摩擦力の軽減
化のため潤滑用のグリース（図示せず）が充填されてい
る。
【００１０】しかし、複数のプリント基板２１の検査を
行う間に、円筒ケース５内部に穴部５ａから周囲環境雰
囲気中の異物、塵埃、金属粉などが侵入し、接触子１の
バネ受け部１３の外径と円筒ケース５の内径との間のグ
リースと混入して、接触子１の摺動摩擦抵抗が大きくな
り、垂直荷重の分力としての曲げ方向の荷重が負荷され
ることによって接触子１が変形し、繰り返し曲げ煎断応
力により、最終的には接触子１の軸部１２で破断すると
いう問題が発生する。
行う間に、円筒ケース５内部に穴部５ａから周囲環境雰
囲気中の異物、塵埃、金属粉などが侵入し、接触子１の
バネ受け部１３の外径と円筒ケース５の内径との間のグ
リースと混入して、接触子１の摺動摩擦抵抗が大きくな
り、垂直荷重の分力としての曲げ方向の荷重が負荷され
ることによって接触子１が変形し、繰り返し曲げ煎断応
力により、最終的には接触子１の軸部１２で破断すると
いう問題が発生する。
【００１１】また、接触子１が塑性変形を生じた段階で
は、電子部品２２の端子部２２ａ、２２ｂに対して、接
触子１の中心位置がずれた位置状態で検査を実施するこ
とになるという問題がある。
は、電子部品２２の端子部２２ａ、２２ｂに対して、接
触子１の中心位置がずれた位置状態で検査を実施するこ
とになるという問題がある。
【００１２】更に、接触子１の先端部１１と軸部１２と
が周囲雰囲気中に解放構造のため、隣接する接触子１間
に偶発的に導電性異物が挟まれた場合には、接触子１間
でショートし、プリント基板２１の電子部品２２の導通
検査が正確に実施できなくなるという問題がある。
が周囲雰囲気中に解放構造のため、隣接する接触子１間
に偶発的に導電性異物が挟まれた場合には、接触子１間
でショートし、プリント基板２１の電子部品２２の導通
検査が正確に実施できなくなるという問題がある。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】以上説明したように、
従来のコンタクトプローブは、複数のプリント基板の検
査を行う間に、円筒ケース内部に周囲から異物、塵埃、
金属粉などが侵入し、グリースと混入して、接触子の摺
動摩擦抵抗が大きくなり、曲げ方向の荷重が負荷される
ことによって接触子が変形し、繰り返し曲げ煎断応力に
より、最終的には接触子が破断するという課題がある。
従来のコンタクトプローブは、複数のプリント基板の検
査を行う間に、円筒ケース内部に周囲から異物、塵埃、
金属粉などが侵入し、グリースと混入して、接触子の摺
動摩擦抵抗が大きくなり、曲げ方向の荷重が負荷される
ことによって接触子が変形し、繰り返し曲げ煎断応力に
より、最終的には接触子が破断するという課題がある。
【００１４】また、接触子の先端部と軸部とが周囲雰囲
気中に解放構造のため、隣接する接触子間に導電性異物
が挟まれた場合には、接触子間でショートし、プリント
基板上の電子部品の導通検査が正確に実施できなくなる
という課題がある。
気中に解放構造のため、隣接する接触子間に導電性異物
が挟まれた場合には、接触子間でショートし、プリント
基板上の電子部品の導通検査が正確に実施できなくなる
という課題がある。
【００１５】本発明の目的は、プリント基板上の電子部
品の導通検査時に於いて、接触子の変形を防止し、か
つ、接触子間のショートを防止し、導通検査を正確に実
施できる長寿命のコンタクトプローブを提供することに
ある。
品の導通検査時に於いて、接触子の変形を防止し、か
つ、接触子間のショートを防止し、導通検査を正確に実
施できる長寿命のコンタクトプローブを提供することに
ある。
【００１６】
【課題を解決するための手段】本発明のコンタクトプロ
ーブは、被測定物と電気的に接触をとる接触子と、接触
子に荷重を負荷するコイルスプリングと、接触子とコイ
ルスプリングとを内蔵する円筒ケースと、円筒ケースを
挿入するリセプタクルとを有するコンタクトプローブで
あって、接触子の先端部にリセプタクル外径と嵌合する
中空円筒ガイド部を設けたことを特徴とする。
ーブは、被測定物と電気的に接触をとる接触子と、接触
子に荷重を負荷するコイルスプリングと、接触子とコイ
ルスプリングとを内蔵する円筒ケースと、円筒ケースを
挿入するリセプタクルとを有するコンタクトプローブで
あって、接触子の先端部にリセプタクル外径と嵌合する
中空円筒ガイド部を設けたことを特徴とする。
【００１７】接触子は、第一端面が被測定物と接触する
先端部と、軸部と、円筒ケース内径と嵌合し第二端面が
コイルスプリングと当接するバネ受け部とからなること
を特徴とする。
先端部と、軸部と、円筒ケース内径と嵌合し第二端面が
コイルスプリングと当接するバネ受け部とからなること
を特徴とする。
【００１８】第一端面は、複数の円錐形状の突起部を有
することを特徴とする。
することを特徴とする。
【００１９】中空円筒ガイド部内径とリセプタクル外径
とは、すきま嵌合をなすことを特徴とする。
とは、すきま嵌合をなすことを特徴とする。
【００２０】バネ受け部外径と円筒ケース内径とは、す
きま嵌合をなすことを特徴とする。
きま嵌合をなすことを特徴とする。
【００２１】中空円筒ガイド部内径とリセプタクル外径
とのすきましろは、バネ受け部外径と円筒ケース内径と
のすきましろより小さいことを特徴とする。
とのすきましろは、バネ受け部外径と円筒ケース内径と
のすきましろより小さいことを特徴とする。
【００２２】中空円筒ガイド部は、電気絶縁性材料から
なることを特徴とする。
なることを特徴とする。
【００２３】電気絶縁性材料は、含油樹脂、フッ素系樹
脂、ポリアセタールの何れかであることを特徴とする。
脂、ポリアセタールの何れかであることを特徴とする。
【００２４】中空円筒ガイド部は、中空部がテーパ形状
を有することを特徴とする。
を有することを特徴とする。
【００２５】中空円筒ガイド部は、中空部に複数の板ば
ねを設けたことを特徴とする。
ねを設けたことを特徴とする。
【００２６】中空円筒ガイド部は、接触子に荷重を加え
ない状態においてリセプタクル外径と嵌合していること
を特徴とする。
ない状態においてリセプタクル外径と嵌合していること
を特徴とする。
【００２７】
【発明の実施の形態】次に、本発明のコンタクトプロー
ブの実施の形態に付いて、図面を参照して説明する。
ブの実施の形態に付いて、図面を参照して説明する。
【００２８】図１は、本発明のコンタクトプローブ２０
の第一の実施の形態を示す構成断面図である。
の第一の実施の形態を示す構成断面図である。
【００２９】なお、図５に示す従来のコンタクトプロー
ブ５０と同一構成部品に関しては、同一符号で表記して
いる。
ブ５０と同一構成部品に関しては、同一符号で表記して
いる。
【００３０】図１を参照すると、本発明のコンタクトプ
ローブ２０は、被測定物と電気的に接触をとる接触子１
と、接触子１に荷重を負荷するコイルスプリング４と、
接触子１とコイルスプリング４とを内蔵する円筒ケース
５と、円筒ケース５を挿入し固着するリセプタクル６
と、接触子１の先端部１１外径と結合しリセプタクル６
外径と嵌合する電気絶縁性材料の含油樹脂からなる中空
円筒ガイド部８とで構成され、接触子１は、第一端面１
４の円錐形状の突起部１４ａが被測定物と接触する先端
部１１と、軸部１２と、円筒ケース５内径と嵌合し第二
端面１５がコイルスプリング４と当接するバネ受け部１
３とから構成されている。
ローブ２０は、被測定物と電気的に接触をとる接触子１
と、接触子１に荷重を負荷するコイルスプリング４と、
接触子１とコイルスプリング４とを内蔵する円筒ケース
５と、円筒ケース５を挿入し固着するリセプタクル６
と、接触子１の先端部１１外径と結合しリセプタクル６
外径と嵌合する電気絶縁性材料の含油樹脂からなる中空
円筒ガイド部８とで構成され、接触子１は、第一端面１
４の円錐形状の突起部１４ａが被測定物と接触する先端
部１１と、軸部１２と、円筒ケース５内径と嵌合し第二
端面１５がコイルスプリング４と当接するバネ受け部１
３とから構成されている。
【００３１】また、中空円筒ガイド部８内径とリセプタ
クル６外径、およびバネ受け部１３外径と円筒ケース５
内径とは、共に、すきま嵌合をなし、中空円筒ガイド部
８内径とリセプタクル６外径とのすきましろは、バネ受
け部１３外径と円筒ケース５内径とのすきましろより小
さくし、接触子１は軸方向に可動に配置される構成とな
っている。
クル６外径、およびバネ受け部１３外径と円筒ケース５
内径とは、共に、すきま嵌合をなし、中空円筒ガイド部
８内径とリセプタクル６外径とのすきましろは、バネ受
け部１３外径と円筒ケース５内径とのすきましろより小
さくし、接触子１は軸方向に可動に配置される構成とな
っている。
【００３２】次に、上述のように構成されたコンタクト
プローブ２０の動作について、図面を参照して説明す
る。
プローブ２０の動作について、図面を参照して説明す
る。
【００３３】図２（ａ）は、コンタクトプローブ２０を
取り付け治具７に設置し、プリント基板２１上の電子部
品２２の導通検査の開始時の状態を示す概略構成断面
図、図２（ｂ）は、接触子１に所定荷重が加わりコイル
スプリング４が圧縮され、電子部品２２の導通検査時の
状態を示す概略構成断面図である。
取り付け治具７に設置し、プリント基板２１上の電子部
品２２の導通検査の開始時の状態を示す概略構成断面
図、図２（ｂ）は、接触子１に所定荷重が加わりコイル
スプリング４が圧縮され、電子部品２２の導通検査時の
状態を示す概略構成断面図である。
【００３４】図２（ａ）、および、図２（ｂ）を参照す
ると、複数のコンタクトプローブ２０が、取り付け治具
７に圧入により設置された状態で、プリント基板２１を
下降させる（図２（ａ）中の矢印Ｚ方向）ことにより、
プリント基板２１に実装された複数の電子部品２２の端
子部２２ａ、２２ｂと第一端面１４の突起部１４ａとが
接触し、更にコイルスプリング４を圧縮させながらプリ
ント基板２１を所定位置まで下降させ、一定荷重を負荷
した状態（図２（ｂ）の状態）で電子部品２２の導通検
査を行う。（コンタクトプローブ２０は、プリント基板
２１に実装される電子部品２２の端子部２２ａ、２２ｂ
の数だけ取り付け治具７に設置されるが、便宜上、図２
（ａ）、（ｂ）では２個のコンタクトプローブ５０のみ
を表示している。） プリント基板２１の導通検査が完了すると、プリント基
板２１を上昇させ、セッティングを解除して、検査済み
プリント基板２１を取り外し、未検査のプリント基板２
１を同一箇所にセットし、上記と同様の操作により、プ
リント基板２１の検査を行う。このようにして、次々と
複数のプリント基板２１の導通検査を実施する。
ると、複数のコンタクトプローブ２０が、取り付け治具
７に圧入により設置された状態で、プリント基板２１を
下降させる（図２（ａ）中の矢印Ｚ方向）ことにより、
プリント基板２１に実装された複数の電子部品２２の端
子部２２ａ、２２ｂと第一端面１４の突起部１４ａとが
接触し、更にコイルスプリング４を圧縮させながらプリ
ント基板２１を所定位置まで下降させ、一定荷重を負荷
した状態（図２（ｂ）の状態）で電子部品２２の導通検
査を行う。（コンタクトプローブ２０は、プリント基板
２１に実装される電子部品２２の端子部２２ａ、２２ｂ
の数だけ取り付け治具７に設置されるが、便宜上、図２
（ａ）、（ｂ）では２個のコンタクトプローブ５０のみ
を表示している。） プリント基板２１の導通検査が完了すると、プリント基
板２１を上昇させ、セッティングを解除して、検査済み
プリント基板２１を取り外し、未検査のプリント基板２
１を同一箇所にセットし、上記と同様の操作により、プ
リント基板２１の検査を行う。このようにして、次々と
複数のプリント基板２１の導通検査を実施する。
【００３５】ここで、接触子１は、上下間往復移動動作
を繰り返し行うが、中空円筒ガイド部８内径とリセプタ
クル６外径とのすきましろは、バネ受け部１３外径と円
筒ケース５内径とのすきましろより小さくなっており、
接触子１に荷重を負荷して下降させる際の接触子１の軸
方向に対する最大傾きは、中空円筒ガイド部８内径とリ
セプタクル６外径との間のすきましろにより規制される
ことになり、接触子１を下降させる際の荷重としては、
主として、コイルスプリング４を圧縮変位させる荷重と
中空円筒ガイド部８内径とリセプタクル６外径との間の
摺動摩擦力との和になる。
を繰り返し行うが、中空円筒ガイド部８内径とリセプタ
クル６外径とのすきましろは、バネ受け部１３外径と円
筒ケース５内径とのすきましろより小さくなっており、
接触子１に荷重を負荷して下降させる際の接触子１の軸
方向に対する最大傾きは、中空円筒ガイド部８内径とリ
セプタクル６外径との間のすきましろにより規制される
ことになり、接触子１を下降させる際の荷重としては、
主として、コイルスプリング４を圧縮変位させる荷重と
中空円筒ガイド部８内径とリセプタクル６外径との間の
摺動摩擦力との和になる。
【００３６】また、中空円筒ガイド部８は、摺動特性に
優れた摺動摩擦係数の小さい含油樹脂で形成されている
ため、リセプタクル６外径との間の摺動摩擦力は小さな
値となる。
優れた摺動摩擦係数の小さい含油樹脂で形成されている
ため、リセプタクル６外径との間の摺動摩擦力は小さな
値となる。
【００３７】従って、接触子１を下降させる際に、接触
子１の構成部で剛性の最も小さい軸部１２に作用する曲
げ応力は非常に小さくなり、最悪のケースでも弾性変形
にとどまり、塑性変形したり、破断に至ると云った現象
は発生せず、常に、スムーズな接触子１の下降動作が可
能となる。
子１の構成部で剛性の最も小さい軸部１２に作用する曲
げ応力は非常に小さくなり、最悪のケースでも弾性変形
にとどまり、塑性変形したり、破断に至ると云った現象
は発生せず、常に、スムーズな接触子１の下降動作が可
能となる。
【００３８】更に、中空円筒ガイド部８は、電気絶縁性
材料であり、接触子１に荷重を加えない状態（図２
（ａ）の状態）において、リセプタクル６外径と嵌合し
ている故、隣接する接触子１間に例え偶発的に導電性異
物が挟まれたとしても、接触子１間でショートすること
はなく、且つ、リセプタクル６内部に周囲雰囲気中の異
物、金属粉などの侵入を防止でき、プリント基板２１の
電子部品２２の導通検査が正確に実施できることにな
る。
材料であり、接触子１に荷重を加えない状態（図２
（ａ）の状態）において、リセプタクル６外径と嵌合し
ている故、隣接する接触子１間に例え偶発的に導電性異
物が挟まれたとしても、接触子１間でショートすること
はなく、且つ、リセプタクル６内部に周囲雰囲気中の異
物、金属粉などの侵入を防止でき、プリント基板２１の
電子部品２２の導通検査が正確に実施できることにな
る。
【００３９】次に、本発明のコンタクトプローブの第
二、第三の実施の形態に付いて、図面を参照して簡単に
説明する。
二、第三の実施の形態に付いて、図面を参照して簡単に
説明する。
【００４０】図３、図４は、各々、本発明のコンタクト
プローブの第二、第三の実施の形態を示す構成断面図で
ある。
プローブの第二、第三の実施の形態を示す構成断面図で
ある。
【００４１】上記第一の実施の形態では、中空円筒ガイ
ド部８の中空部の形状を円形状としているのに対し、第
二の実施の形態では、図３に示すように、コンタクトプ
ローブ３０の中空円筒ガイド部９の中空部をテーパ９ａ
形状としたものであり、第三の実施の形態では、図４に
示すように、コンタクトプローブ４０の中空円筒ガイド
部１７の中空部に複数の板ばね１６を設けたものであ
り、共に、第一の実施の形態と同様、接触子１を下降さ
せる際に、常に、スムーズな動作を可能とし、接触子１
間でのショートを防止し、リセプタクル６内部に周囲雰
囲気中の異物、金属粉などの侵入を防止でき、プリント
基板２１の電子部品２２の導通検査が正確に実施できる
という効果を発揮するものであるが、コンタクトプロー
ブ３０、４０の動作の詳細な説明に付いては省略する。
ド部８の中空部の形状を円形状としているのに対し、第
二の実施の形態では、図３に示すように、コンタクトプ
ローブ３０の中空円筒ガイド部９の中空部をテーパ９ａ
形状としたものであり、第三の実施の形態では、図４に
示すように、コンタクトプローブ４０の中空円筒ガイド
部１７の中空部に複数の板ばね１６を設けたものであ
り、共に、第一の実施の形態と同様、接触子１を下降さ
せる際に、常に、スムーズな動作を可能とし、接触子１
間でのショートを防止し、リセプタクル６内部に周囲雰
囲気中の異物、金属粉などの侵入を防止でき、プリント
基板２１の電子部品２２の導通検査が正確に実施できる
という効果を発揮するものであるが、コンタクトプロー
ブ３０、４０の動作の詳細な説明に付いては省略する。
【００４２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のコンタク
トプローブは、接触子に荷重を負荷して下降させる際
に、中空円筒ガイド部とリセプタクル外径との間で摺動
させ、中空円筒ガイド部を摺動摩擦係数の小さい含油樹
脂で形成することにより、常に、スムーズな接触子の下
降動作が可能となり、接触子の長寿命化が図れるという
効果がある。
トプローブは、接触子に荷重を負荷して下降させる際
に、中空円筒ガイド部とリセプタクル外径との間で摺動
させ、中空円筒ガイド部を摺動摩擦係数の小さい含油樹
脂で形成することにより、常に、スムーズな接触子の下
降動作が可能となり、接触子の長寿命化が図れるという
効果がある。
【００４３】また、中空円筒ガイド部を電気絶縁性材料
とすることにより、隣接する接触子間に偶発的に導電性
異物が挟まれ場合でも、接触子間でのショートを防止で
き、中空円筒ガイド部を接触子が無負荷の状態において
リセプタクル外径と嵌合させておく形状とすることによ
り、リセプタクル内部に周囲雰囲気中の異物、金属粉な
どの侵入を防止でき、プリント基板の電子部品の導通検
査を正確に実施できるという効果がある。
とすることにより、隣接する接触子間に偶発的に導電性
異物が挟まれ場合でも、接触子間でのショートを防止で
き、中空円筒ガイド部を接触子が無負荷の状態において
リセプタクル外径と嵌合させておく形状とすることによ
り、リセプタクル内部に周囲雰囲気中の異物、金属粉な
どの侵入を防止でき、プリント基板の電子部品の導通検
査を正確に実施できるという効果がある。
【図１】本発明のコンタクトプローブの第一の実施の形
態を示す構成断面図である。
態を示す構成断面図である。
【図２】図２（ａ）は、本発明のコンタクトプローブを
取り付け治具に設置し、導通検査開始時の状態を示す概
略構成断面図、図２（ｂ）は、導通検査時の状態を示す
概略構成断面図である。
取り付け治具に設置し、導通検査開始時の状態を示す概
略構成断面図、図２（ｂ）は、導通検査時の状態を示す
概略構成断面図である。
【図３】本発明のコンタクトプローブの第二の実施の形
態を示す構成断面図である。
態を示す構成断面図である。
【図４】本発明のコンタクトプローブの第三の実施の形
態を示す構成断面図である。
態を示す構成断面図である。
【図５】従来のコンタクトプローブを示す構成断面図で
ある。
ある。
【図６】従来のコンタクトプローブを取り付け治具に設
置した状態を示す断面図である。
置した状態を示す断面図である。
【図７】図７（ａ）は、従来のコンタクトプローブを取
り付け治具に設置し、導通検査開始時の状態を示す概略
構成断面図、図７（ｂ）は、導通検査時の状態を示す概
略構成断面図である。
り付け治具に設置し、導通検査開始時の状態を示す概略
構成断面図、図７（ｂ）は、導通検査時の状態を示す概
略構成断面図である。
１ 接触子 ４ コイルスプリング ５ 円筒ケース ５ａ 穴部 ６ リセプタクル ７ 取り付け治具 ８、９ 中空円筒ガイド部 ９ａ テーパ １１ 先端部 １２ 軸部 １３ バネ受け部 １４ 第一端面 １４ａ 突起部 １５ 第二端面 １６ 板ばね １７ 中空円筒ガイド部 ２１ プリント基板 ２２ 電子部品 ２２ａ、２２ｂ 端子部 ２０、３０ コンタクトプローブ ４０、５０ コンタクトプローブ
Claims (11)
- 【請求項１】 被測定物と電気的に接触をとる接触子
と、前記接触子に荷重を負荷するコイルスプリングと、
前記接触子と前記コイルスプリングとを内蔵する円筒ケ
ースと、前記円筒ケースを挿入するリセプタクルとを有
するコンタクトプローブであって、前記接触子の先端部
に前記リセプタクル外径と嵌合する中空円筒ガイド部を
設けたことを特徴とするコンタクトプローブ。 - 【請求項２】 前記接触子は、第一端面が被測定物と接
触する前記先端部と、軸部と、前記円筒ケース内径と嵌
合し第二端面が前記コイルスプリングと当接するバネ受
け部とからなることを特徴とする請求項１記載のコンタ
クトプローブ。 - 【請求項３】 前記第一端面は、複数の円錐形状の突起
部を有することを特徴とする請求項１または２記載のコ
ンタクトプローブ。 - 【請求項４】 前記中空円筒ガイド部内径と前記リセプ
タクル外径とは、すきま嵌合をなすことを特徴とする請
求項１記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項５】 前記バネ受け部外径と前記円筒ケース内
径とは、すきま嵌合をなすことを特徴とする請求項２記
載のコンタクトプローブ。 - 【請求項６】 前記中空円筒ガイド部内径と前記リセプ
タクル外径とのすきましろは、前記バネ受け部外径と前
記円筒ケース内径とのすきましろより小さいことを特徴
とする請求項４または５記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項７】 前記中空円筒ガイド部は、電気絶縁性材
料からなることを特徴とする請求項１、４、６の何れか
１項記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項８】 前記電気絶縁性材料は、含油樹脂、フッ
素系樹脂、ポリアセタールの何れかであることを特徴と
する請求項７記載のコンタクトプローブ。 - 【請求項９】 前記中空円筒ガイド部は、中空部がテー
パ形状を有することを特徴とする請求項１記載のコンタ
クトプローブ。 - 【請求項１０】 前記中空円筒ガイド部は、中空部に複
数の板ばねを設けたことを特徴とする請求項１記載のコ
ンタクトプローブ。 - 【請求項１１】 前記中空円筒ガイド部は、前記接触子
に荷重を加えない状態において前記リセプタクル外径と
嵌合していることを特徴とする請求項１、９、１０の何
れか１項記載のコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000014982A JP3430101B2 (ja) | 2000-01-24 | 2000-01-24 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2000014982A JP3430101B2 (ja) | 2000-01-24 | 2000-01-24 | コンタクトプローブ |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001208771A true JP2001208771A (ja) | 2001-08-03 |
| JP3430101B2 JP3430101B2 (ja) | 2003-07-28 |
Family
ID=18542353
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2000014982A Expired - Fee Related JP3430101B2 (ja) | 2000-01-24 | 2000-01-24 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3430101B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114264934A (zh) * | 2021-12-21 | 2022-04-01 | 西安重冶电控科技有限公司 | 一种电路控制板生产用调试检测设备 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN104914472A (zh) * | 2015-05-14 | 2015-09-16 | 惠州亿纬锂能股份有限公司 | 一种电池隔膜的自动检测装置 |
-
2000
- 2000-01-24 JP JP2000014982A patent/JP3430101B2/ja not_active Expired - Fee Related
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|---|---|
| JP3430101B2 (ja) | 2003-07-28 |
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