JP2001185065A - 負イオンフィルタ - Google Patents

負イオンフィルタ

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JP2001185065A JP2000315317A JP2000315317A JP2001185065A JP 2001185065 A JP2001185065 A JP 2001185065A JP 2000315317 A JP2000315317 A JP 2000315317A JP 2000315317 A JP2000315317 A JP 2000315317A JP 2001185065 A JP2001185065 A JP 2001185065A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 多種プラズマ内で正イオンを負イオンから分
離し、再結合を防ぐプラズマフィルタを提供する。 【解決手段】 フィルタ10は円筒形チャンバ26を含
む。チャンバを囲むコイル20が、チャンバ縦軸22に
平行な磁界を発生する。電極28が磁界に垂直な電界を
発生し、チャンバ内に交差する電界と磁界ExBを形成
する。内向き電界の電位は軸上で負、チャンバ壁で零と
なる。注入器18がチャンバ内にプラズマを注入し、チ
ャンバ内の交差する電界と磁界と相互作用させる。チャ
ンバ壁が軸から距離a、磁界の大きさがBz、電界の電
位が軸上で負のVctrで壁で零である場合、カットオフ
質量対電荷比McをMc/e=a2(Bz2/8Vctrと計
算する。Mc/eより大きい質量M1 (-)/eの負イオン
をチャンバから射出し、壁から収集する。全正イオンを
チャンバ通過中に中に閉じ込め、外側で収集する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は一般に、化合物の元
素を相互に分離するための装置と方法に関するものであ
る。更に詳しくは本発明は、化合物の元素から多種プラ
ズマ(multi-species plasma)を作成した後、それらの質
量とそれらの電荷に応じて多種プラズマのイオンを分離
する装置と方法に関するものである。本発明は特に、正
イオンと負イオンがともに同じ多種プラズマの中にある
ときに負イオンから正イオンを分離するための装置と方
法として有用であるが、これらに限定されるものではな
い。
【0002】
【従来の技術】ある材料を使用して多種プラズマを発生
するときは常に、結果として得られるプラズマは正イオ
ンと負イオンの両方を含むことが起こり得る。この結果
が特に起こり得るのは、電離されつつある材料がハロゲ
ン元素、もしくは酸素または硫黄のような元素を含む化
合物であるときである。周知のように、これらの元素は
すべて相対的に高い電子親和力をそなえているので、こ
れらの元素の中性原子は自由電子と極めて容易に結合し
て負イオンを発生する。一方、これらの同じ元素は相対
的に高い電離電位もそなえているので、中性原子から電
子が分離されて正イオンを発生することは生じにくい。
【0003】構成元素(酸素、硫黄をも含む)の一つと
してハロゲンを含む化合物からプラズマを発生する用途
の場合、正イオンと負イオンの両方を含む多種プラズマ
を発生することは全くありうることである。詳しく述べ
ると、この結果が生じ得るのは、ハロゲン(または酸
素、硫黄)の電離電位より低い電離電位を使用してプラ
ズマを発生するときである。その場合にも、化合物の中
の他の元素から正イオンを発生することはまだできる
が、ハロゲン(酸素、硫黄)元素の場合はそうではな
い。その代わりに、ハロゲン(酸素、硫黄)元素は中性
のままであるか、またはその後に負イオンに変換され
る。
【0004】上記のように、ハロゲン(酸素、硫黄)の
中性元素は相対的に高い電子親和力をそなえている。し
たがって、相対的に低い電子親和力をそなえた元素に比
べて、これらの元素はずっと負イオンに変換されやす
い。別の元素の正イオンからハロゲン(酸素、硫黄)元
素を分離することを目的とする用途の場合、この変換さ
れやすさはかなり重大である。詳しく述べると、プラズ
マ内で中性原子(非荷電粒子)は正原子(荷電粒子)か
ら比較的容易に分離することはできるが、中性原子自体
が負イオン(荷電粒子)になるときは状況は非常に異な
る。これが起きるとき、正イオンから負イオンを分離す
ることはそれほど容易でない。それにもかかわらず、同
じ多種プラズマに正イオンと負イオンの両方が存在し得
る場合があり、それらを相互に分離して、再結合しない
ようにすることは非常に望ましい。
【0005】1998年11月16日に出願され、本発
明と同じ譲り受け人に譲渡されたオーカワによる米国特
許出願番号09/192,945、「プラズマ質量フィ
ルタ」(Plasma Mass Filter)に
は、多種プラズマの中の荷電粒子はそれぞれの質量に応
じて相互に分離することができる。特に、フィルタチャ
ンバ内に明確に構成された交差する電界と磁界(Ex
B)を使用することにより、チャンバの通過中、相対的
に小さい質量対電荷比の正イオンをチャンバの内側に閉
じ込めることができるということが示された。これに反
して、相対的に大きい質量対電荷比の正イオンをこのよ
うに閉じ込められない。その代わりに、これらの、より
大きい質量のイオンはチャンバの通過を完了する前に、
チャンバの内側で収集される。
【0006】異なる質量の正イオンを分離するための、
前記オーカワの発明で開示された同じ全体的な原理を使
用して、本発明では、フィルタチャンバの中の交差する
電界と磁界(ExB)を適当に変形することにより、負
イオンと正イオンを相互に分離することができる。更に
詳しく述べると、この場合、フィルタチャンバの通過
中、多種プラズマの中の正イオンをプラズマフィルタチ
ャンバの内側に閉じ込めることができ、プラズマの中の
負イオンをフィルタチャンバの壁の中に排出される。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】上記のことにかんがみ
て、本発明の一つの目的は、同じ多種プラズマの中に両
方の型のイオンが存在するときに、正イオンを負イオン
から分離することができるプラズマフィルタとそれを使
用するための方法とを提供することである。本発明のも
う一つの目的は、同じ多種プラズマの中に両方の型のイ
オンが存在するときに、正イオンが負イオンと再結合す
るのを効果的に防止することができるプラズマフィルタ
とそれを使用するための方法とを提供することである。
本発明の更にもう一つの目的は、プラズマ質量フィルタ
のテクノロジーの原理をプラズマの中に正イオンと負イ
オンをそなえる多種プラズマに拡張するプラズマフィル
タとそれを使用するための方法とを提供することであ
る。本発明の更にもう一つの目的は、比較的製造が容易
で、使用が簡単で、比較的コスト効率がよいプラズマフ
ィルタを提供することである。
【0008】
【課題を解決するための手段】回転する多種プラズマの
中で負イオンから正イオンを分離するためのプラズマフ
ィルタは円筒形の壁を含み、この円筒形の壁はチャンバ
を取り囲み、縦軸を定める。複数の磁気コイルがチャン
バの外側を取り囲み、縦軸に実質的に平行にそろえられ
た軸方向を向く磁界をチャンバの内側に発生する。複数
のリング電極、またはその代わりに、らせん電極が設け
られて、軸方向の磁界に実質的に垂直である放射状の電
界をフィルタチャンバ内に発生する。重要なことである
が、電界は縦軸に沿って負電位であり、チャンバの壁で
は実質的に零電位である。このようにして、チャンバ内
に交差する電界と磁界が形成される。
【0009】チャンバ内に多種プラズマを注入して、チ
ャンバ内の交差する電界と磁界と相互作用させるために
プラズマ注入器が設けられる。フィルタチャンバの壁が
縦軸から距離aにあり、磁界の大きさが縦軸に沿った方
向でBzであり、縦軸に沿った電界の負電位の値がVctr
で、壁では実質的に零電位である特定の状況では、イオ
ン電荷をeとしたときカットオフ質量McはMc/e=a
2(Bz2/8Vctrのように計算することができるとい
うことが前に示された。Mcの意味は、Mc/eより大き
い質量M1 (-)/eをそなえた負イオンは壁に射出され、
後で収集されるということである。これに反して、すべ
ての正イオンはチャンバを通過する間にチャンバの内側
に閉じ込められ、チャンバを通過した後に収集すること
ができる。このようにして、同じ多種プラズマ内に両方
の型のイオンが作成されたとき、正イオンM2 (+)は負イ
オンM1 (-)から効果的に分離することができる。
【0010】本発明の新規な特徴、および本発明自体の
構造とその動作は、付図を参照した説明により、最も良
く理解される。付図で同様の符号は同様の部品を表す。
【0011】
【発明の実施の形態】図1に、本発明によるプラズマ質
量フィルタを含むシステムが示され、全体が10として
表されている。図示されているように、システム10は
全体的に三つの部分またはステージに分割することがで
きる。この分割は機能的に行われ、プラズマ発生部1
2、中性放出部14、およびプラズマフィルタ16をそ
なえたシステム10が得られる。
【0012】詳しく述べると、プラズマ発生部12はプ
ラズマ注入器18を含む。プラズマ注入器18は誘導結
合プラズマ(ICP:Inductively Cou
pled Plasma)トーチのような関連技術で周
知の任意の型とすることができる。更に、現在周知のよ
うに、無線周波数(r.f.:radio frequ
ency)電力またはマイクロ波電力を使用して数個の
異なる方法のどれでもプラズマを発生することができ
る。本発明の目的に対して適当などのプラズマ発生器を
使用してもよいが、プラズマ注入器18が発生する電子
の温度は確定でき、制御できるということが本発明の重
要な側面である。
【0013】図示するように、システム10は複数の磁
気コイル20を含む。コイル20a−dは磁気コイル2
0の例を示しているに過ぎない。詳しく述べると、縦軸
22にほぼ平行な方向を向いた磁界を発生するように、
これらの磁気コイル20a−dがシステム10内に配置
される。更に、磁気コイル20a−dが軸22の上に、
所定の大きさBzをそなえるような磁界を発生する。磁
力線が注入器18から中性放出部14とプラズマフィル
タ16の両方を介して伸びるということもシステム10
に対する重要な配慮である。
【0014】図示するように、システム10のプラズマ
フィルタ16は実質的に円筒形の壁24を含む。この壁
24はシステム10の縦軸22を実質的に定め、チャン
バ26を取り囲む。図示するように、壁24は縦軸22
から距離aのところにある。また、図からわかるよう
に、プラズマフィルタ16は電極を含み、この電極がチ
ャンバ26の中に放射状電界を発生する。この目的のた
め、複数の電極リング28a−cが示されているが、こ
れらは例を示しているに過ぎない。らせん電極のような
他の任意の電極を使用して、本発明の目的のために必要
な電界Eを発生することができる。詳しく述べると、電
界Eは負であり、軸上の電位Vctrは負で、軸22に沿
ってチャンバ26を通して延在している。更に、壁24
は実質的に零電位である。その結果、プラズマフィルタ
16のチャンバ26の中に交差する電界と磁界(Ex
B)が形成される。熟練した技術者には明らかなよう
に、Vct rの値は必要に応じて変えることができる。
【0015】システム10の動作で、化合物材料30は
気体、液体、または固体の状態で与えられる。本発明の
目的のために、化合物30は少なくとも一つの元素32
ともう一つの元素34とを含み、システム10の動作中
にこれらを相互に分離しなければならない。本発明の目
的のため、元素32は好ましくは、ハロゲンもしくは酸
素または硫黄のような元素である。重要なことは、元素
32は元素34の電離電位よりも充分に上の電離電位を
そなえるべきであるということである。換言すれば、元
素32は元素34ほど容易には電離できない。したがっ
て、元素32を電離することなく、プラズマ注入器18
内で元素34を分離して電離することができる。これに
反して、これらの状況下では、元素32が相対的に高い
電子親和力をそなえることが最も起こりやすいことであ
る。確実に、元素32の電子親和力は元素34の電子親
和力より高くなる。これらの特定の特性をそなえる化合
物30の例は六フッ化ウラン(UF6)である。この例
では、元素32はハロゲンフッ素(F)であり、元素3
4は減損ウラン(U238)である。
【0016】システム10の動作については、プラズマ
注入器18は元素34を電離して正イオン34’を形成
するのに充分な電子温度とすることが必要である。しか
し、この同じ電子温度が元素32を電離するのには不充
分なはずである。したがって、プラズマ注入器18によ
って化合物30がその構成部分に分解されるとき、元素
32は最初、中性原子として設定される。したがって、
少なくとも最初は、元素32の中性原子と元素34の正
イオン34’を含むプラズマが生成される。
【0017】正イオン34’からの元素32の中性原子
の分離はシステム10の中性放出部14で行われる。こ
の分離が行われるのは、軸方向にそろえられた磁界によ
り、正の荷電イオン34’が実質的に縦軸22を離れな
いからである。これに反して、元素32の中性原子には
このような拘束がなく、比較的容易に縦軸22から進路
を変更することができる。この進路変更は、圧力勾配の
ような、関連技術で知られた任意の方法で行うことがで
きる。一旦、元素32の中性原子がシステム10から除
去されると、元素32の中性原子は正イオン34’から
実質的に分離され、容易に収集され得る。しかし、中性
放出部14の中の実際の状況はずっと複雑になることが
起こる。元素32の中性原子は相対的に高い電子親和力
をそなえているので、これらの中性原子は自由電子を吸
引して、負イオン32’になりやすい。多数の中性原子
がそうなる。したがって、中性放出部14の中には、元
素32の中性原子(中性粒子)と、負イオン32’(荷
電粒子)と、正イオン34’(荷電粒子)とがある。
【0018】図示するように負イオン32’(荷電粒
子)は、正イオン34’(荷電粒子)と同様に、中性放
出部14を通るとき、軸方向にそろえられた磁界によっ
て拘束される。したがって、中性放出部14からプラズ
マフィルタ16に入る多種プラズマ36は正イオン3
4’と負イオン32’を含む。開示の目的で、より小さ
い質量の負イオン32’をより大きい質量の正イオン3
4’から区別するため、負イオン32’をときにM1 (-)
と表し、正イオン34’をときにM2 (+)と表す。これに
留意して、本発明の目的はM1 (-)によって定められるカ
ットオフ質量Mcを定めることである。電界が内向きで
あるので、M2 (+)イオンは閉じ込められる。
【0019】フィルタチャンバ26の壁24が縦軸22
から距離aにあり、磁界(Bz)と軸22に沿った電位
(Vctr)が所定の値である特定の状況では、カットオ
フ質量対電荷比Mc/eはMc/e=a2(Bz2/8V
ctrのように計算することができる。このMc/eの意味
は、Mc/eより大きい質量M1 (-)/eをそなえる負イ
オン32’はチャンバ26の壁24の中に放出されて、
後で壁24から収集される。これに反して、正イオン3
4’はチャンバ26を通過する間、チャンバ26の内側
に閉じ込められ、チャンバ26を通過した後に収集する
ことができる。したがって、両方の型のイオンが同じ多
種プラズマ36の中に作成されるとき、正イオン34’
(M2 (+))は実質的に負イオン32’(M1 (-))から分
離される。
【0020】ここに図示し、詳細に開示された特定の負
イオンフィルタは充分に前記した目的を達成し、利点を
提供することができるが、この負イオンフィルタは本発
明の好適実施例を示すものに過ぎず、特許請求の範囲に
記載された以外の、ここに示された構成または設計の細
部に限定されるものでないことは理解されるはずであ
る。
【0021】この出願は現在出願中の、1998年11
月16日出願、米国特許出願番号09/192,945
の一部継続出願である。米国特許出願番号09/19
2,945の内容はここに引用することにより本明細書
の一部として組み入れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のプラズマフィルタを含むシステムの概
略透視図であって、システムのいくつかの部分は省略さ
れ、プラズマフィルタの部分はわかりやすくするため取
りこわされた概略透視図である。
【符号の説明】
10 プラズマ質量フィルタシステム 18 プラズマ注入器 20 磁気コイル 22 縦軸 24 壁 26 チャンバ 28a−c 電極リング 32’ 負イオン 34’ 正イオン 36 多種プラズマ Bz 磁界 E 電界 ExB 交差する電界と磁界 Mc カットオフ質量 Vctr 軸上の電位

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転する多種プラズマの中で負イオンか
    ら正イオンを分離するためのプラズマフィルタであっ
    て、 縦軸を定めるチャンバを取り囲む円筒形の壁と、 前記縦軸と実質的に平行にそろえられた磁界を前記チャ
    ンバ内に発生するための手段と、 前記磁界と実質的に垂直な内向きの電界を発生すること
    により交差する電界と磁界を作成するための手段であっ
    て、前記内向きの電界は前記縦軸上で負電位をそなえ、
    前記壁上で実質的に零の電位をそなえる、前記交差電界
    −磁界作成手段と、 前記の回転する多種プラズマを前記チャンバ内に注入し
    て、前記の交差する電界と磁界と相互作用させることに
    より、前記負イオンを前記壁内に射出し、前記正イオン
    を前記チャンバ通過中に前記チャンバに閉じ込め、これ
    により前記負イオンを前記正イオンから分離する、多種
    プラズマ注入手段とを具備する前記プラズマフィルタ。
  2. 【請求項2】 請求項1のプラズマフィルタであって、
    前記壁は前記縦軸22から距離aにあり、前記磁界は前
    記縦軸に沿った方向に大きさBzをそなえ、前記縦軸上
    の前記負電位はVctrの値をそなえ、前記壁は実質的に
    零の電位をそなえ、前記負イオンはMc/e=a
    2(Bz2/8Vctrで表されるMc/eより大きい質量
    対電荷比をそなえる、前記プラズマフィルタ。
  3. 【請求項3】 多種プラズマの中で正イオンから負イオ
    ンを分離するための方法であって、 縦軸を定めるチャンバを円筒形の壁で取り囲むステップ
    と、 前記縦軸と実質的に平行にそろえられた磁界を前記チャ
    ンバ内に発生し、そして前記磁界と実質的に垂直な内向
    きの電界を発生することにより交差する電界と磁界を作
    成するステップであって、前記内向きの電界は前記縦軸
    上で負電位をそなえ、前記壁上で実質的に零の電位をそ
    なえる、前記発生ステップと、 前記多種プラズマを前記チャンバ内に注入して、前記の
    交差する電界と磁界と相互作用させることにより、前記
    負イオンを前記壁内に射出し、前記正イオンを前記チャ
    ンバ通過中に前記チャンバに閉じ込め、これにより前記
    負イオンを前記正イオンから分離する、注入ステップと
    を含む前記分離方法。
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Families Citing this family (30)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6441336B1 (en) * 1997-02-25 2002-08-27 British Nuclear Fuels Plc Process and apparatus for collecting and/or separating ionized species
US6709490B1 (en) * 1999-07-02 2004-03-23 Calderon De Los Santos Juan Jose Combined system for removing contaminants from gas effluents
US6521888B1 (en) * 2000-01-20 2003-02-18 Archimedes Technology Group, Inc. Inverted orbit filter
US6326627B1 (en) * 2000-08-02 2001-12-04 Archimedes Technology Group, Inc. Mass filtering sputtered ion source
US6824587B2 (en) * 2003-02-14 2004-11-30 Moustafa Abdel Kader Mohamed Method and apparatus for removing contaminants from gas streams
US6576127B1 (en) 2002-02-28 2003-06-10 Archimedes Technology Group, Inc. Ponderomotive force plug for a plasma mass filter
US6719909B2 (en) 2002-04-02 2004-04-13 Archimedes Technology Group, Inc. Band gap plasma mass filter
US6726844B2 (en) * 2002-06-12 2004-04-27 Archimedes Technology Group, Inc. Isotope separator
US6723248B2 (en) * 2002-08-16 2004-04-20 Archimedes Technology Group, Inc. High throughput plasma mass filter
US6773558B2 (en) * 2002-10-15 2004-08-10 Archimedes Technology Group, Inc. Fluorine generator
US6939469B2 (en) * 2002-12-16 2005-09-06 Archimedes Operating, Llc Band gap mass filter with induced azimuthal electric field
US6883729B2 (en) * 2003-06-03 2005-04-26 Archimedes Technology Group, Inc. High frequency ultrasonic nebulizer for hot liquids
US6956217B2 (en) * 2004-02-10 2005-10-18 Archimedes Operating, Llc Mass separator with controlled input
CN1327930C (zh) * 2004-03-26 2007-07-25 久弘贸易股份有限公司 过滤网及使用该过滤网的车辆燃烧补助与排气污染降低装置
US20060275200A1 (en) * 2005-06-03 2006-12-07 BAGLEY David Method for structuring oxygen
US20060272993A1 (en) * 2005-06-03 2006-12-07 BAGLEY David Water preconditioning system
US20060273020A1 (en) * 2005-06-03 2006-12-07 BAGLEY David Method for tuning water
US20060272991A1 (en) * 2005-06-03 2006-12-07 BAGLEY David System for tuning water to target certain pathologies in mammals
US20070095726A1 (en) * 2005-10-28 2007-05-03 Tihiro Ohkawa Chafftron
US10269458B2 (en) 2010-08-05 2019-04-23 Alpha Ring International, Ltd. Reactor using electrical and magnetic fields
US8784666B2 (en) 2009-05-19 2014-07-22 Alfred Y. Wong Integrated spin systems for the separation and recovery of gold, precious metals, rare earths and purification of water
US8298318B2 (en) * 2009-05-19 2012-10-30 Wong Alfred Y Integrated spin systems for the separation and recovery of isotopes
US20150380113A1 (en) 2014-06-27 2015-12-31 Nonlinear Ion Dynamics Llc Methods, devices and systems for fusion reactions
US10319480B2 (en) 2010-08-05 2019-06-11 Alpha Ring International, Ltd. Fusion reactor using azimuthally accelerated plasma
CN104520453A (zh) * 2011-11-10 2015-04-15 先进磁工艺股份有限公司 用于分离的磁电-等离子体分离器及方法
US9468888B2 (en) 2012-09-09 2016-10-18 (E)Mission Control Technologies, Llc System and methods for removing contaminants from gas effluents
US10515726B2 (en) 2013-03-11 2019-12-24 Alpha Ring International, Ltd. Reducing the coulombic barrier to interacting reactants
US10274225B2 (en) 2017-05-08 2019-04-30 Alpha Ring International, Ltd. Water heater
CN105626323A (zh) * 2014-10-29 2016-06-01 久弘环保科技股份有限公司 车辆的油气完全燃烧与车厢空气清净系统
CN105779050B (zh) 2015-01-08 2019-05-28 非线性离子动力有限责任公司 使用化学反应器中的旋转/分离系统将天然气转化成液态

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2724056A (en) * 1942-06-19 1955-11-15 Westinghouse Electric Corp Ionic centrifuge
SE338962B (ja) 1970-06-04 1971-09-27 B Lehnert
JPH01199159A (ja) 1988-02-04 1989-08-10 Kosumitsuku:Kk 遠心チューブ
US5039312A (en) 1990-02-09 1991-08-13 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Interior Gas separation with rotating plasma arc reactor
US5350454A (en) 1993-02-26 1994-09-27 General Atomics Plasma processing apparatus for controlling plasma constituents using neutral and plasma sound waves
US5681434A (en) 1996-03-07 1997-10-28 Eastlund; Bernard John Method and apparatus for ionizing all the elements in a complex substance such as radioactive waste and separating some of the elements from the other elements
GB9704077D0 (en) 1996-03-15 1997-04-16 British Nuclear Fuels Plc Improvements in and relating to processing
US5868909A (en) 1997-04-21 1999-02-09 Eastlund; Bernard John Method and apparatus for improving the energy efficiency for separating the elements in a complex substance such as radioactive waste with a large volume plasma processor
US6096220A (en) * 1998-11-16 2000-08-01 Archimedes Technology Group, Inc. Plasma mass filter

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