JP2001168078A - 半導体基板の洗浄装置 - Google Patents

半導体基板の洗浄装置

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JP2001168078A
JP2001168078A JP35340399A JP35340399A JP2001168078A JP 2001168078 A JP2001168078 A JP 2001168078A JP 35340399 A JP35340399 A JP 35340399A JP 35340399 A JP35340399 A JP 35340399A JP 2001168078 A JP2001168078 A JP 2001168078A
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semiconductor substrate
cleaning
processing chamber
unit
wafer
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JP35340399A
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Mitsuru Onuma
満 大沼
Norihiko Wada
紀彦 和田
Toshiyuki Uchino
敏幸 内野
Tomomasa Funahashi
倫正 舟橋
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 作業者が容易に装置内部における状況を素早
くしかも確実に目視により知ることができ、故障の発生
に際しても、迅速、容易に対応可能とする。 【解決手段】 搬入されたウェハを洗浄するチャンバー
101を2台収容している処理室301と、処理室30
1の背面側に配置される内部にウェハを移送するロボッ
トを備える移送装置302と、移送装置302の外側に
配置され、外部から運ばれてくるウェハを収納したウェ
ハキャリアが載置されるロードポート303と、移送装
置302及びロードポート303の側方に配置される薬
液ユニット102とにより構成される。処理室301の
前側の下部には、作業台となると共に内部に配管類が収
納される台部309が設けられる。処理室301は、天
井部305と腰板部308との間の前面側から側面側の
ほぼ半分までの間に大きな開口部312が形成され、開
口部312には、前面の中央部から両側の側面側に開く
開閉可能なロール式透明カーテン306が設けられる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体基板の洗浄
装置に係り、特に、半導体基板の洗浄装置における各部
分の故障等の状況の監視、保守、点検等を容易にし、か
つ、小型で使い勝手のよい半導体基板の洗浄装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体基板に対する洗浄は、エ
ッチング装置、アッシング装置、スパッタ装置、CVD
装置等を用いる半導体基板の処理の中の任意の処理の間
で行われ、そのための装置として、複数枚の半導体基板
(以下、単にウェハという)を同時に洗浄することので
きる装置が使用されていた。しかし、この複数枚のウェ
ハを同時に洗浄することができる装置は、ウェハの直径
が8インチまでのものに限られ、最近の12インチ径の
ウェハの洗浄には適さないものであった。
【0003】このため、半導体基板を1枚ずつ洗浄する
チャンバーを備えた洗浄装置が種々提案されている。提
案されている従来技術による半導体基板の洗浄装置は、
多数のチャンバーを持つ処理室を備え、処理室へ半導体
基板を搬送するロボットを有する移送装置と、薬液ユニ
ットと、半導体基板の外部との受け渡しのための多数の
ロードポートとを備えて構成されるのが一般的である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】前述した従来技術によ
る半導体基板の洗浄装置は、監視制御を行う端末の表示
画面上に系統図等により処理状況を表示するだけである
ため、実際の装置の内部の状況を直接作業者に知らせる
ことができず、また、実際の装置の処理状況を作業者が
目視により直接監視するすることが困難であり、しか
も、保守、点検等の作業がしにくいという問題点を有し
ている。
【0005】また、前述した従来技術は、多数の洗浄用
のチャンバーを持つため、その1つでも故障となったと
き、装置全体を停止しなければならず、必ずしも効率的
な洗浄を行い得るものではなく、使い勝手もよくないと
いう問題点を有している。
【0006】本発明の目的は、前記従来技術の問題点を
解決し、作業者が容易に装置内部における状況を素早く
しかも確実に目視により知ることができ、故障の発生に
際しても、作業者が迅速に容易に対応することを可能に
した半導体基板の洗浄装置を提供することにある。
【0007】また、本発明の目的は、最小の装置構成で
使い勝手のよい、しかも、1つの装置の故障がシステム
全体に大きな影響を与えることのない半導体基板の洗浄
装置を提供することにある。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明によれば前記目的
は、半導体基板上に半導体装置を形成する半導体基板の
洗浄を行う半導体基板の洗浄装置において、前記半導体
基板を1枚ずつ洗浄するチャンバーと、半導体基板を搬
送するロボットを有する移送装置と、洗浄用薬液をタン
クに保持している薬液ユニットと、半導体基板の外部と
の受け渡しのためのロードポートとを備え、前記チャン
バーが配置される処理室の後側に前記薬液ユニットとロ
ードポートとを配置し、前記処理室とロードポートとの
間に移送装置を配置したことにより、また、前記チャン
バーとロードポートとがそれぞれ少なくとも2台備えら
れることにより、また、前記移送装置内のロボットが、
前記ロードポートからの半導体基板の出し入れとチャン
バーへの半導体基板の出し入れとの両方を行うことによ
り達成される。
【0009】また、前記目的は、半導体基板上に半導体
装置を形成する半導体基板の洗浄を行う半導体基板の洗
浄装置において、前記半導体基板を1枚ずつ洗浄する少
なくとも2台のチャンバーと、半導体基板を搬送するロ
ボットを有する移送装置と、洗浄用薬液をタンクに保持
している薬液ユニットと、半導体基板の外部との受け渡
しのための少なくとも2台のロードポートとを備え、前
記チャンバーが配置される処理室の後側に前記薬液ユニ
ットを配置し、前記処理室と前記薬液ユニットとの間に
ロボットの移動路を配置し、前記処理室の側方にロード
ポートを配置し、前記処理室とロードポートとの間に移
送装置を配置したことにより達成される。
【0010】さらに、前記目的は、少なくとも2台のチ
ャンバーが配置される処理室の後側に薬液タンクを配置
し、前記処理室と前記薬液タンクとの間にロボットの移
動路を配置した装置が、前記ロードポートが接続される
側とは反対側の側方に1または複数接続されたことによ
り、また、前記移送装置内のロボットが、前記ロードポ
ートからの半導体基板の出し入れとチャンバーへの半導
体基板の出し入れとの両方を行うことにより達成され
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明による半導体基板の
洗浄装置の実施形態を図面により詳細に説明する。
【0012】図1は本発明が適用される半導体基板の洗
浄装置の洗浄プロセスの構成例を説明する図、図2は本
発明が適用される半導体基板の洗浄装置の制御系の構成
を示すブロック図であり、本発明の実施形態を説明する
前に、まず、これらについて説明する。図1、図2にお
いて、101はチャンバー、102は薬液ユニット、1
03は秤量ユニット、104はポンプ、105はバル
ブ、106は温度調節ユニット、107はフィルタ、1
08はパイプ、110はモータ、111はケーシング、
112はスピンユニット、113は保持板、114はチ
ャック、115は蓋、201は制御部、202は操作表
示部、203はセンサ、204は排気ユニット、205
はガスユニット、207は搬送ユニット、208は電源
部、209はインタフェース部である。
【0013】本発明が適用される半導体基板の洗浄置に
おける洗浄プロセスは、図1に示すように、ウェハが1
枚ずつ搬入され薬液によりウェハに対する洗浄処理を行
うチャンバー101と、薬液を調合する秤量ユニット1
03と、複数種の薬液を保持するタンクを持つ薬液タン
ク102と、薬液をチャンバー101に送り込むポンプ
104と、バルブ105と、薬液の温度を調整する温度
調節ユニット106と、フィルター107とを備え、こ
れらがパイプ108により接続されて構成されている。
チャンバー101は、ケーシング111の内部に、ウェ
ハを保持する保持板113及びウェハを保持板113上
に固定するチャック114により構成され、モータ11
0により回転させられるスピンユニット112と、パイ
プ108が貫通している蓋115とにより構成される。
【0014】前述において、薬液ユニット101内に
は、酸、アルカリ、純水の少なくとも3種類の薬液を蓄
える20リットル程度のタンクを備えている。酸、アル
カリの薬液は、秤量ユニット103において調合されタ
ンクに供給される。これらの薬液は、ポンプ104、バ
ルブ105、温度調節ユニット106、フィルタ107
を介してチャンバー101の内部にパイプ108を通し
て供給される。洗浄時、チャンバー101内のスピンユ
ニット112は、モータ110により所定の速度で回転
させられており、チャンバー101に送りこまれた洗浄
用の薬液は、スピンユニット112に保持され、スピン
ユニット112と共に回転しているウェハの上面及び下
面からウェハの中心部に噴出してウェハにかけられる。
ウェハにかけられた薬液は、回転しているウェハの面上
を回転による遠心力により中心から周辺へと移動しなが
らウェハの表面を洗浄し、スピンユニット112の周囲
からケーシング111の内部に飛散した後、ケーシング
111から各薬液のタンク内に戻される。
【0015】後述するが、チャンバー101は、酸の薬
液による洗浄と、アルカリの薬液による洗浄のため2台
備えられており、洗浄すべきウェハは、2台のチャンバ
ー101に順次送り込まれて洗浄される。そして、この
ウェハの洗浄は、各チャンバー101内で、酸またはア
ルカリの薬液により洗浄した後、純水による洗浄を行
い、さらに、空気または窒素ガスを導入して乾燥すると
いう手順で行うのが一般的である。
【0016】前述したような構成によりウェハの洗浄を
行う本発明が適用される半導体基板の洗浄装置の制御系
は、図2に示すように、装置全体の制御を行う制御部2
01、操作表示部202、装置を構成する各ユニットに
設けられる各種のセンサ203、排気ユニット204、
ガスユニット205、温度調節ユニット106、搬送ユ
ニット207、電源部208、インタフェース部20
9、図1にも示した薬液ユニット102、秤量ユニット
103を備えて構成される。
【0017】操作表示部202は、後述する監視操作端
末を構成する表示部であり、タッチパネル式に構成さ
れ、保守者からの指示等が入力されたとき、その情報を
制御部に転送する。センサ203は、薬液ユニット10
2、秤量ユニット103、排気ユニット204、ガスユ
ニット205、温度調節ユニット106、搬送ユニット
207、電源部208に設けられるもので、その種類と
して、例えば、温度センサ、ガス、薬液の流量センサ、
ガス漏洩センサ、圧力センサ、差圧センサ、漏電セン
サ、排気圧センサ等が設けられる。
【0018】排気ユニット204は、図示しないが、チ
ャンバー101内をチャンバー101が設置される処理
室の気圧より低く、また、処理室の気圧を処理室が設置
される部屋の圧力より低く保持するためのものであり、
これにより、チャンバー101の蓋115が開けられた
とき、内部に残っている薬液が処理室に飛び散って汚染
させないようにすることができ、また、処理室内の空気
を後述するように換気することができる。
【0019】ガスユニット205は、ウェハ乾燥用のガ
スの供給を制御するもので、チャンバー101に導入す
る空気または窒素ガスに対する導入量、導入タイミング
等の制御を行う。これらの制御は、制御部201からの
指示に従って実行される。温度調節ユニット106は、
洗浄用の薬液、純水の温度を正常に最適な温度に制御す
るユニットである。搬送ユニット207は、後述する搬
送装置内の搬送ロボットによるウェハの搬送を行う機構
であり、制御部201からの指示により制御される。電
源部208は、装置を構成する前述の各種のユニット、
機構部等に対して必要な電力を供給する。また、インタ
フェース部209は、離れた場所等に設置される監視操
作端末の通信回線を介した接続を制御し、あるいは、制
御部201が複数台設置された他の半導体基板処理装置
の制御部との間での連係をとるための情報の授受を制御
する。
【0020】制御部201は、装置全体の制御を行うも
のであり、内部メモリ等に格納された処理のスケジュー
ルに従って、あるいは、操作表示部202のタッチパネ
ルから入力される保守者の指示に従って、前述した各ユ
ニット等を制御する。また、センサ203から検出信号
をチェックし、何処かに異常が生じた場合、その障害の
発生を警報音により発報し、障害の内容を操作表示部2
02に表示する。装置全体が、正常に動作している場
合、本発明の実施形態による半導体基板処理装置は、前
述したような制御部201の動作により、ほとんど保守
者の手を必要とすることなく処理動作を続けることがで
きる。
【0021】図3は本発明の第1の実施形態による半導
体基板の洗浄装置の外観を示す斜視図、図4は寸法を開
示した3面図、図5はウェハの移動を説明する図、図6
はロボットのハンドの他の形態を説明する図である。図
3〜図6において、301は処理室、302は移送装
置、303はロードポート、304、310は透明窓、
305は天井部、306はロール式透明カーテン、30
7はエアフィルタ、308は腰板部、309は台部、3
11は緊急停止ボタン、312は蓋開閉用アーム、31
3は開口部、314は窓、401はロボット、402は
ハンドアーム、40,3はハンドであり、他の符号は図
1、図2の場合と同一である。
【0022】本発明の第1の実施形態による半導体基板
の洗浄装置は、図3(a)の背面側を見る斜視図、図3
(b)の前面側を見る斜視図に示すように、搬入された
ウェハを洗浄するチャンバー101を2台収容している
処理室301と、処理室301の背面側に配置される内
部にウェハを移送するロボット401を備える移送装置
302と、移送装置302の外側に配置され、外部から
運ばれてくるウェハを収納したウェハキャリアが載置さ
れるロードポート303と、移送装置302及びロード
ポート303の側方に配置され、薬液タンクを備える薬
液ユニット102とにより構成される。
【0023】処理室301の前側の下部には、作業台と
なると共に内部に配管類が収納される台部309が設け
られている。また、図示例には、操作表示部202が処
理室301の前面部と薬液ユニット102の背面部に設
けられているように示しているが、操作表示部202
は、移動可能に構成され、図示2つの位置のいずれか
に、コネクタにより接続して設置される。そして、薬液
ユニット102の背面部の設置位置は、装置の立ち上げ
時に使用して効果的な位置であり、また、処理室301
の前面部の設置位置は、装置の動作中に、処理状況を目
視しながら使用して効果的な位置である。
【0024】処理室301は、天井部305と腰板部3
08との間の前面側から側面側のほぼ半分までの間に大
きな開口部312が形成されて構成されており、この開
口部312には、前面の中央部から両側の側面側に開く
開閉可能なロール式透明カーテン306が設けられてい
る。このロール式透明カーテン306は、装置の動作中
閉じられており、また、これを開くことにより、台部3
09に乗った保守者が処理室301の内部の点検、修理
等の保守を容易に行うことが可能となる。また、処理室
301の左右側の両側壁には、緊急停止ボタン311が
設けられ、天井部305の上面にはエアフィルタ307
が設けられている。
【0025】すでに説明したように、処理室301の内
部は、装置の動作中、排気ユニット204により吸引さ
れて、半導体基板の洗浄装置が設置される部屋より低い
気圧にされているので、半導体基板の洗浄装置が設置さ
れる部屋の空気が処理室301に流入することになる。
このとき、流入する空気は、前述のエアフィルタ307
を通過することになり、部屋の中の空気中にある埃等が
除去されることになる。処理室301の内部には、図3
(b)にその一部が示されているように、2台のウェハ
洗浄用のチャンバー101が設けられている。チャンバ
ーの蓋115には、チャンバー開閉用アーム312が取
り付けられており、チャンバー開閉用アーム312の上
下方向の移動により蓋115の開閉が行われる。このチ
ャンバー開閉用アーム312の内部には、洗浄用の薬液
が通る前述したパイプ108が設けられている。
【0026】移送装置302の内部には、ウェハを搬送
するロボットが設けられている。このロボットは、後述
するように、ロードポート303に載置されるウェハキ
ャリア内の未処理ウェハを取り出してチャンバー101
内に格納し、洗浄の終了したウェハをチャンバー101
から取り出してウェハキャリアに収納する。この移送装
置302と処理室301とは、内部で繋がった空間を構
成しており、このため、移送装置302の天井面にもエ
アフィルタが備えられている。また、薬液ユニット10
2と移送装置302との側面には、透明窓304、31
0が設けられており、内部の様子を目視により監視する
ことができるようにされている。
【0027】図3(a)に示すように、移送装置302
の背面に設けられるロードポート303は、図示例の場
合2台であり、一方のロードポート303が未処理(未
洗浄)のウェハを格納したウェハキャリアが載置される
ロードポートであり、他方のロードポート303が処理
(洗浄)済みのウェハを格納するウェハキャリアが載置
されるロードポートである。未洗浄のウェハが格納され
たウェハキャリアは、図示洗浄装置が設置される室内で
可動する図示しない搬送ロボットにより他の装置から運
ばれてロードポート303に載置され、また、洗浄済み
のウェハが格納されたウェハキャリアは、前述のロボッ
トにより他の装置に搬送される。
【0028】ロードポート303と移送装置302との
間には、開閉可能な窓314が設けられており、ロード
ポート303の上に図示しないウェハキャリアが載置さ
れたとき、ウェハキャリアの開閉蓋と窓314とが連携
して開き、ウェハキャリアと移送装置302との内部空
間が、図示洗浄装置が設置される室内空間とは遮断され
た状態で連通する。これにより、後述するように、移送
装置302の内部に備えられるロボットは、未洗浄のウ
ェハをウェハキャリアから取り出して処理室301内の
チャンバー101に搬送し、洗浄済みのウェハをチャン
バー101からウェハキャリアに搬送することができ
る。
【0029】図4(a)〜図4(c)には、洗浄装置の
上面図、背面図、側面図を示し、大凡の寸法を示してお
り、この図を参照して、各部の寸法について説明する。
【0030】全体の平面寸法は、前後方向の寸法210
5mm、幅寸法1800mmであり、高さ寸法は2600mm
である。そして、前後方向の寸法に含まれる台部309
の幅寸法は450mm、台部309の高さ寸法は300mm
である。台部309の幅寸法450mmは、作業者がその
上に乗って作業するために台部上を移動する場合に、不
自由なく安全に動くことが可能な充分な幅であり、ま
た、台部309の高さ寸法300mmは、洗浄装置が設置
された部屋の床下から、装置内部に引き込まれるガス、
薬液等の配管、電源ケーブルを収納するスペースとな
る。
【0031】また、処理室301の前面側の開口部31
3の天井部305の下部までの床面からの高さは230
0mm、すなわち、台部309の上面からの高さは200
0mmに設定されている。この高さは、標準的な最大身
長、例えば、1895mmを持つ作業者が台部309に乗
って、処理室301内に体を入れて作業する場合にも、
頭部が天井部305にぶつかることの内安全な高さであ
る。また、腰板部308の台部309上面からの高さは
900mmとされており、この高さは、作業者が腰をかが
めて上半身を処理室301内に容易に入れることができ
る高さである。また、操作表示部202の設置高さは、
床面または台部上面から画面上面まで1370mm程度で
ある。この高さは、標準的な最小身長、例えば、147
5mmを持つ作業者が、タッチパネル式の表示部を容易に
操作することが可能な高さである。なお、操作表示部2
02の表示面の傾きは、表示面の大きさが48インチの
場合30度程度、41インチの場合45ドレイン程度が
適当である。また、緊急停止ボタン311までの高さ
は、どのような身長の作業者でも手が届くように、16
38mm〜1838mmに設定されている。
【0032】図4(a)に示す平面図から判るように、
本発明の第1の実施形態による洗浄装置は、洗浄用のチ
ャンバー101を2台、ロードポート303を2台、ロ
ボット401を1台備えて構成されている。2台のチャ
ンバー101の一方は、アルカリ性の薬液による洗浄の
ために、他方のチャンバー101は、酸性の薬液による
洗浄のために使用される。また、すでに説明したよう
に、2台のロードポート303には、その一方に未洗浄
のウェハを格納したウェハキャリアが載置され、他方に
洗浄済みのウェハを格納するウェハキャリアが載置され
る。移送装置302内の1台のロボット401は、それ
ぞれがハンド403を有し、独立して任意の運動を行う
ことが可能な3本のハンドアーム402を備えてウェハ
の搬送を行う。3本のハンドアーム402に設けられる
ハンド403は、ウェハの汚れを最小に抑えるために、
それぞれ、未洗浄のウェハをウェハキャリアからチャン
バーに搬送するハンド、ウェハをチャンバー間で搬送す
るハンド、洗浄済みのウェハをチャンバーからウェハキ
ャリアに搬送するハンドとして使用される。なお、ロボ
ット自体は、移動することはなく、ハンドアームの動き
のみが制御できればよい。
【0033】次に、一方のウェハキャリア内の未処理の
ウェハに対して洗浄処理を行った後、処理済みのウェハ
を他方のウェハキャリアに収納するまでのウェハの搬送
方法を、図5を参照して説明する。
【0034】図5において、2台のロードポート303
には、未洗浄ウェハを格納したウェハキャリアa、洗浄
済みウェハを格納するウェハキャリアbが載置されてお
り、また、チャンバー101のうち一方のチャンバーA
は、アルカリ性の薬液による洗浄のために、また、他方
のチャンバーBは、酸性の薬液による洗浄のために使用
されるものとする。また、ロボット401の3つのハン
ドは、ハンド〜として区別して示されている。
【0035】ウェハの洗浄が開始されると、まず、ハン
ドが未洗浄ウェハを格納したウェハキャリアaから未
洗浄ウェハを取り出して、チャンバーAに搬送格納す
る。チャンバーA内でアルカリ性の薬液により洗浄され
たウェハは、ハンドによりチャンバーAから取り出さ
れてチャンバーBに搬送格納される。次に、チャンバー
B内で酸性の薬液により洗浄されたウェハは、ハンド
によりチャンバーBから取り出されて洗浄済みウェハを
格納するウェハキャリアbに搬入される。なお、チャン
バーA、B内でアルカリ、酸による薬液により洗浄され
たウェハは、そのチャンバーの中で引き続き純水により
洗浄され、窒素ガス、空気等により乾燥さされてから取
り出される。また、洗浄、乾燥は、すでに説明している
が、チャンバー内でウェハを回転させた状態で行われ
る。
【0036】前述したように、本発明の第1の実施形態
におけるロボット401は、独立に動作可能な3本のハ
ンドアーム402を備えているので、処理室101の内
部でハンド403が搬送しているウェハが相互に接触し
ないようにしながら同時にウェハの搬送を行うことがで
きる。これにより、本発明の第1の実施形態による洗浄
装置は、効率的にウェハの搬送を行って、装置全体の処
理効率を向上させることができる。
【0037】前述した本発明の第1の実施形態における
ロボット401は、それぞれがハンド403を持つ3本
のハンドアーム402を備えて構成されるとして説明し
たが、本発明は、ロボットが持つハンドアームを1本と
して、そのハンドアームに3つのハンドを持たせてロボ
ットを構成することができる。その例を図6に示してい
る。図6に示す例のロボット401は、図6(b)の斜
視図から判るように、1本の任意に運動可能なハンドア
ーム402の先端に3つのハンド403を備えて構成さ
れる。3つのハンド403は、それぞれ、前述したと同
様な役割が割り付けられており、ハンドアーム402へ
の取り付け部で伸び縮み可能に取り付けられている。そ
して、使用するハンドのみか伸ばされた状態とされて使
用される。
【0038】この例の場合、独立に動作可能な3本のハ
ンドアーム402を備えている例のように、同時にウェ
ハの搬送を行うことはできないが、本発明の実施形態の
ように、洗浄装置が最小の構成をとる場合、充分な処理
効率を得ることができる。
【0039】図7は本発明の第2の実施形態による半導
体基板の洗浄装置の外観を示す斜視図、図8は本発明の
第2の実施形態の寸法を開示した平面図である。図7、
図8において、701は腰板回り部材、702は支柱、
801はロボット移動用通路であり、他の符号は図3〜
図6の場合と同一である。
【0040】本発明の第2の実施形態による半導体基板
の洗浄装置は、図8に示す平面図から判るように、処理
室301内に設けられるチャンバー101を4台とし、
外部装置とのインタフェースとなるロードポート303
をも4台として構成した例である。この本発明の第2の
実施形態は、図7(a)、図7(b)の装置前面の左右
側を見る斜視図から判るように、4台のチャンバー10
1が配置されている処理室301全体の形状が半円と直
線とを組み合わせ、前面側の正面が円の先端部となる形
状とされている点、図7(c)の装置背面を見る斜視図
から判るように、処理室301の背面に移送装置302
を介して設けられるロードポート303を4台並置して
構成した点で前述した本発明の第1の実施形態と異なっ
ている。また、第2の実施形態は、図8に示すように、
処理室301に設けられる4台のチャンバー101に対
応させて、薬液ユニット102を2台備えている。
【0041】そして、図示本発明の第2の実施形態は、
処理室301の下方に、周形状に沿って台部309が設
けられ、処理室301の前面側の正面の円の先端部の腰
板部308と天井部305の下端との間に支柱702が
設けられている。腰板部308と天井部305の下端と
の間には、支柱702を中心として左右側に大きく開い
た開口部313が形成され、この開口部には、開閉可能
なロール式透明カーテン306が設けられている。ま
た、第1の実施形態の場合と同様に、2台の薬液ユニッ
ト102には、それぞれその側方に内部を目視により監
視することができる透明窓304が設けられ、移送装置
302には、その側方と台部309に面する位置に内部
を目視により監視することができる透明窓310が設け
られている。さらに、第1の実施形態の場合と同様に、
処理室301と移送装置302との天井部には、エアフ
ィルタ307が設けられている。
【0042】腰板部308の上部には、腰板回り部材7
01が取り付けられている。この腰板回り部材701
は、その下部の腰板部308の面からおよそ50mm外側
に突出して形成されており、腰板回り部材701と、そ
の下部の腰板部308とにより形成される窪みが、台部
309の上に乗り、処理室301の内部に上半身を入れ
て保守を行う作業者の膝のぶつかり逃げとなる。台部3
09の高さ、処理室301の天井部305の下端までの
高さ、操作表示部202の設置高さ、緊急停止ボタン3
11の高さは、前述で制御した本発明の第1の実施形態
の場合と同様な理由により同一に設定されている。な
お、本発明の第2の実施形態においては、緊急停止ボタ
ン311が、支柱702の面、薬液ユニット102の台
部309に面する位置、移送装置302の側面の透明窓
310の上部の3か所に設けられている。
【0043】本発明の第2の実施形態による洗浄装置の
全体の平面寸法は、図8に示すように、前後方向の寸法
3150mm、幅寸法2900mmである。そして、処理室
301の内部には、4台のチャンバー101が配置さ
れ、中心部に移送装置302から前方向に伸びるロボッ
ト移動用通路801が設けられている。4台のチャンバ
ー101は、ロボット401を挟んで側方に配置される
2台のチャンバーが対となって前述で説明した本発明の
第1の実施形態の場合の2台のチャンバーと同様に使用
される。図には示していないが、移送装置302の内部
にもロボット移動用通路801が連続して設けられてお
り、ロボット401は、ロボット移動用通路801に沿
って移動しながら、ハンド403を持つハンドアーム4
02により本発明の第1の実施形態の場合と同様にウェ
ハの搬送を行う。
【0044】なお、移送装置302の内部と処理室30
1の内部に別体のロボットを設け、この2台のロボット
に連携させてウェハの搬送を行わせるようにすることも
できる。この場合、移送装置302の内部に設けられる
ロボットが、ロードポート303に載置されたウェハキ
ャリアからの未洗浄ウェハの取り出しと、洗浄済みのウ
ェハのウェハキャリアへの納入と、処理装置301内の
ロボットとの間でのウェハの授受とを行い、処理装置3
01内のロボットが、チャンバーへのウェハの格納、取
り出しと、チャンバー相互間でのウェハの搬送とを行う
ようにすればよい。さらに、この場合、移送装置302
の内部に設けられるロボットは、移送装置302の内部
で移送装置302の長手方向に移動可能であるようにす
ると、ウェハキャリアとの間のウェハの授受が容易とな
る。また、この場合処理装置301内のロボットは、図
示の位置で固定されていてよい。
【0045】図9は本発明の第3の実施形態による半導
体基板の洗浄装置の基本ユニットの構成を説明する平面
図及び外観を示す斜視図、図10は本発明の第3の実施
形態による半導体基板の洗浄装置の増設ユニットの構成
を説明する平面図及び外観を示す斜視図であり、図の符
号は、図3〜図8の場合と同一である。この本発明の第
3の実施形態は、複数の洗浄装置を連結して全体を一体
として使用可能としたものである。
【0046】本発明の第3の実施形態による半導体基板
の洗浄装置の基本ユニットは、図9(a)、図9(b)
に示すように、2台のチャンバー101を有する処理室
301の背面にロボット移動用通路801と薬液ユニッ
ト102とを設け、処理室301、ロボット移動用通路
801、薬液ユニット102の側面側に移送装置302
を設け、さらに、その外側に2台のロードポート303
を設けて構成されている。ロボット移動用通路801
は、移送装置302の内部まで連結されており、移送装
置302内のロボット移動用通路とで図示のようにT字
型に形成される。そして、処理室301の前面側にだけ
ロール式透明カーテン306が設けられ、このロール式
透明カーテン306は、上方向に開く垂直方向開閉式に
構成されている。
【0047】図示第3の実施形態による半導体基板の洗
浄装置の基本ユニットのその他の構成は、前述で説明し
た本発明の実施形態と同一であり、ロボット401は、
T字型のロボット移動用通路801を移動して、ロード
ポート303とチャンバー101との間でウェハの授受
を行う。なお、図9に示す例は、ロードポート303が
2台備えられるとして示しているが、ロードポート30
3を4台程度まで備えることができる。この本発明の第
3の実施形態による洗浄装置の基本ユニットは、図9に
示す構成だけで、本発明の第1の実施形態の場合と同様
にウェハの洗浄処理を行うことができる。
【0048】本発明の第3の実施形態による半導体基板
の洗浄装置の増設ユニットは、図10(a)、図10
(b)の右側部に示すように、2台のチャンバー101
を有する処理室301の背面にロボット移動用通路80
1と薬液ユニット102とを設けて構成される。この増
設ユニットは、図9により説明した半導体基板の洗浄装
置を基本ユニットとして、この基本ユニットに連結して
使用される。すなわち、図10(a)、図10(b)に
示す左側の部分が図9により説明した基本ユニットとな
る部分であり、増設ユニットは、基本ユニットのロード
ポートが接続される側とは反対側の側方に連結して使用
される。
【0049】図10に示す例は、増設ユニットを1台だ
け連結した例を示しているが、増設ユニットは、何台連
結されてもよい。増設ユニットが連結されたとき、基本
ユニットと増設ユニットとのロボット移動用通路801
が連通され、ロボット401は、移送装置302から増
設ユニットまで移動することができ、ロードポート30
3とチャンバー101との間でウェハの授受を行うこと
ができる。
【0050】前述した本発明の第3の実施形態は、基本
ユニットのみで立ち上げた後でも、増設ユニットを継ぎ
足していくことにより、大きなシステムとして構成する
ことができる。但し、多数の増設ユニットが連結され
て、ロードポート303の数に対してチャンバー101
の数が大きくなり過ぎると、ロボット401によるウェ
ハの搬送動作が追いつかない恐れがあり、この実施形態
は、チャンバー101でのウェハの洗浄処理時間と、ロ
ボット401によるウェハの搬送速度とを勘案してシス
テムの大きさを設定する必要がある。
【0051】前述した本発明の第1〜第3の実施形態
は、ウェハの洗浄だけでなく、例えば、レジスト塗布装
置等にも適用することができ、以下、これについて説明
する。
【0052】図11は本発明の第1〜第3の実施形態を
レジスト塗布装置に使用する場合のレジスト塗布プロセ
スを説明する図である。図11において、1101は気
泡除去フィルタ、1102はバルブ、1103はレジス
ト滴下機構であり、他の符号は図1の場合と同一であ
る。
【0053】前述で説明した本発明の実施形態をレジス
ト塗布装置に使用する場合のレジスト塗布プロセスは、
図11に示すように、ウェハ等の被処理基板が1枚ずつ
搬入され、レジストを被処理基板に塗布するチャンバー
101と、複数種のレジスト液を保持するタンクを持つ
薬液ユニット102と、レジストを気泡除去フィルタ1
101に送り込むポンプ104と、バルブ105と、気
泡除去フィルタ1101からチャンバーに送るレジスト
の温度を調整する温度調節ユニット106とを備え、こ
れらがパイプ108により接続されて構成されている。
チャンバー101は、ケーシング111の内部に、ウェ
ハを保持する保持板113及びウェハを保持板113上
に固定するチャック114により構成され、モータ11
0により回転させられるスピンユニット112と、パイ
プ108が貫通している図示しない115とにより構成
される。
【0054】前述において、薬液ユニット101内に
は、複数種のレジストを蓄えるタンクを備えている。レ
ジストは、ポンプ104、バルブ105を介して気泡除
去フィルタ1101に送られて一旦保持され、気泡が除
去された後、温度調節ユニット106により温度の調整
が行われてチャンバー101の内部にパイプ108を通
して供給される。レジストの塗布時、チャンバー101
内のスピンユニット112は、モータ110により所定
の速度で回転させられており、チャンバー101に送り
こまれたレジストは、スピンユニット112に保持さ
れ、スピンユニット112と共に回転している被処理基
板の上面から基板の上に滴下される。被処理基板に滴下
されたレジストは、回転している被処理基板の面上を回
転による遠心力により中心から周辺へと移動しながら被
処理基板の表面に塗布される。気泡除去フィルタ110
1内で気泡となって溢れたレジストは、バルブ1102
を介して、各レジストのタンク内に戻される。
【0055】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、作
業者が容易に装置内部における状況を素早くしかも確実
に目視により知ることができ、故障の発生に際しても、
作業者が迅速に容易に対応することを可能とすることが
できる。また、本発明によれば、最小の装置構成で使い
勝手のよい半導体基板の洗浄装置を提供することがで
き、しかも、装置を複数設置して運用する場合の設置ス
ペースを小さくして効率的に使用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明が適用される半導体基板の洗浄装置の洗
浄プロセスの構成例を説明する図である。
【図2】本発明が適用される半導体基板の洗浄装置の制
御系の構成を示すブロック図である。
【図3】本発明の第1の実施形態による半導体基板の洗
浄装置の外観を示す斜視図である。
【図4】本発明の第1の実施形態の寸法を開示した3面
図である。
【図5】ウェハの移動を説明する図である。
【図6】ロボットのハンドの他の形態を説明する図であ
る。
【図7】本発明の第2の実施形態による半導体基板の洗
浄装置の外観を示す斜視図である。
【図8】本発明の第2の実施形態の寸法を開示した平面
図である。
【図9】本発明の第3の実施形態による半導体基板の洗
浄装置の基本ユニットの構成を説明する平面図及び外観
を示す斜視図である。
【図10】本発明の第3の実施形態による半導体基板の
洗浄装置の増設ユニットの構成を説明する平面図及び外
観を示す斜視図である。
【図11】本発明の各実施形態をレジスト塗布装置に使
用する場合のレジスト塗布プロセスを説明する図であ
る。
【符号の説明】
101 チャンバー 102 薬液ユニット 103 秤量ユニット 104 ポンプ 105、1102 バルブ 106 温度調節ユニット 107 フィルタ 108 パイプ 110 モータ 111 ケーシング 112 スピンユニット 113 保持板 114 チャック 115 蓋 201 制御部 202 操作表示部 203 センサ 204 排気ユニット 205 ガスユニット 207 搬送ユニット 208 電源部 209 インタフェース部 301 処理室 302 移送装置 303 ロードポート 304、310 透明窓 305 天井部 306 ロール式透明カーテン 307 エアフィルタ 308 腰板部 309 台部 311 緊急停止ボタン 312 蓋開閉用アーム 313 開口部 314 窓 401 ロボット 402 ハンドアーム 403 ハンド 701 腰板回り部材 702 支柱 801 ロボット移動用通路 1101 気泡除去フィルタ 1103 レジスト滴下機構
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 内野 敏幸 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体グループ内 (72)発明者 舟橋 倫正 東京都小平市上水本町五丁目20番1号 株 式会社日立製作所半導体グループ内 Fターム(参考) 5F031 CA02 DA17 FA01 FA11 FA12 GA03 GA43 GA47 GA50 HA24 MA06 MA11 MA23 NA20 PA06 5F043 DD23 DD30 EE10 EE22 EE24 EE25 EE35 EE36 EE40 GG10

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体基板上に半導体装置を形成する半
    導体基板の洗浄を行う半導体基板の洗浄装置において、
    前記半導体基板を1枚ずつ洗浄するチャンバーと、半導
    体基板を搬送するロボットを有する移送装置と、洗浄用
    薬液をタンクに保持している薬液ユニットと、半導体基
    板の外部との受け渡しのためのロードポートとを備え、
    前記チャンバーが配置される処理室の後側に前記薬液ユ
    ニットとロードポートとを配置し、前記処理室とロード
    ポートとの間に移送装置を配置したことを特徴とする半
    導体基板の洗浄装置。
  2. 【請求項2】 前記チャンバーとロードポートとがそれ
    ぞれ少なくとも2台備えられることを特徴とする請求項
    1記載の半導体基板の洗浄装置。
  3. 【請求項3】 半導体基板上に半導体装置を形成する半
    導体基板の洗浄を行う半導体基板の洗浄装置において、
    前記半導体基板を1枚ずつ洗浄する少なくとも2台のチ
    ャンバーと、半導体基板を搬送するロボットを有する移
    送装置と、洗浄用薬液をタンクに保持している薬液ユニ
    ットと、半導体基板の外部との受け渡しのための少なく
    とも2台のロードポートとを備え、前記チャンバーが配
    置される処理室の後側に前記薬液ユニットを配置し、前
    記処理室と前記薬液タンクとの間にロボットの移動路を
    配置し、前記処理室の側方にロードポートを配置し、前
    記処理室とロードポートとの間に移送装置を配置したこ
    とを特徴とする半導体基板の洗浄装置。
  4. 【請求項4】 少なくとも2台のチャンバーが配置され
    る処理室の後側に薬液ユニットを配置し、前記処理室と
    前記薬液ユニットとの間にロボットの移動路を配置して
    構成した増設ユニットが、前記ロードポートが接続され
    る側とは反対側の側方に1または複数接続されたことを
    特徴とする請求項3記載の半導体基板の洗浄装置。
  5. 【請求項5】 前記移送装置内のロボットは、前記ロー
    ドポートからの半導体基板の出し入れとチャンバーへの
    半導体基板の出し入れとの両方を行うことを特徴とする
    請求項1ないし4のうち1記載の半導体基板の洗浄装
    置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008119605A (ja) * 2006-11-13 2008-05-29 Olympus Corp 小型洗浄装置
JP2009500825A (ja) * 2005-06-30 2009-01-08 ラム リサーチ コーポレーション ナノスケールの半導体処理のためにバブルフリーの液体を生成するためのシステムおよび方法

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