JP2001145946A - 成形品の取出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 型開き後に成形品を吸着させて取出す取出装
置において、吸着機構における真空到達時間を把握し、
真空圧発生タイミングを最適な時点で行って成形品の取
出し時間を短縮する。 【解決手段】 ＣＰＵ１は、取出信号を出力した後、把
持機構部７の移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）から吸着機構９の
真空到達時間（Ｔｖ）を減じた予定時間（Ｔｓ）の経過
時点（ＳＴ）で前記吸着機構９の真空圧発生信号を出力
する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば射出成形機
における金型の型開き後に吸着機構を備えた把持機構部
により成形品を取出す成形品取出装置の技術分野に属
し、前記吸着機構の真空圧発生タイミングを最適な時点
で行うようにするものに関する。

【０００２】

【従来の技術】射出成形機の基本動作としては、図１３
に示すように、金型を締め付けた後に（図１３
（ａ））、この金型内に樹脂を射出し（図１３
（ｂ））、この樹脂が冷却すれば（図１３（ｃ））、金
型を開き（図１３（ｄ））、製品取出しロボット等の取
出装置により成形品を取出す（図１３（ｅ））。

【０００３】図１３（ｅ）に示す成形品の取出し動作と
しては、図１４に示すように、取出装置の把持機構部７
は、通常、金型３０，４０外の取出開始位置（Ａ）に停
止しており、金型３０，４０の移動型４０が移動し型開
きが終了して取出信号が出力されると移動を開始する。
そして、この把持機構部７は、成形品引抜き位置（Ｂ）
で移動方向を変え成形品取出位置（Ｃ）に到達した時点
で一旦停止する。そして、突出し機構部８により金型４
０から離間された成形品２０に吸着機構９が接触すると
真空圧を発生させて成形品２０を吸着させる。次いで、
この成形品２０の吸着が完了するまでの所定時間（吸着
待ち時間）が経過した後、前記把持機構部７を引抜き位
置（Ｂ）まで後退させて成形品２０を取出し、そして、
成形品回収位置に移動して吸着を解除して成形品２０を
開放した後に、元の取出開始位置（Ａ）に復帰する。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】そして、前記取出装置
による取出し動作は、図１２に示すタイミングで行われ
る。すなわち、型開きが終了して取出信号が出力された
時点で、図１２（ａ）に示すようにＴｚ時間かけて把持
機構部７が前記取出開始位置（Ａ）から前記引抜き位置
（Ｂ）に向かって移動を開始し、Ｔｚ時間経過後に前記
引抜き位置（Ｂ）において移動方向を変え、図１２
（ｂ）に示すようにＴｙ時間かけて前記取出位置（Ｃ）
に向かって移動し、Ｔｙ時間経過後に取出位置（Ｃ）に
到達する。そして、前記吸着機構９に真空圧を発生さ
せ、図１２（ｃ）に示すように把持機構部７による成形
品２０の吸着が完了するまでの吸着待ち時間Ｔαを待
ち、その後、把持機構部７は図１２（ｄ）に示すように
Ｔｙ’（＝Ｔｙ）時間経過後に前記引抜き位置（Ｂ）ま
で後退する。このように前記取出信号が出力されてから
成形品２０の吸着が完了するまでに、（Ｔｚ＋Ｔｙ＋Ｔ
α）の時間を要し、取出し時間として比較的多くの時間
を要していた。前記の取出し時間（Ｔｚ＋Ｔｙ＋Ｔα）
は、成形機側から見れば金型の開放状態であって次の成
形動作に入るための待ち時間となる。このことは、取出
装置が近年の成形工場におけるハイサイクル成形（成形
サイクルタイムが非常に短いもの）の成形機に追従でき
なくなる。すなわち、取出装置の取出し時間が長いと成
形の待ち時間が長くなって成形（次の成形）に支障を来
たしてしまうこととなる。そのため、前記吸着待ち時間
（Ｔα）を短縮すべく、前記吸着機構９に通じる真空発
生装置のパワーアップなどが考えられるが、これは、真
空発生装置の増大や配管径の拡大などにより取出装置の
コストアップやその設置スペースの大型化を招くという
不具合が生じる。

【０００５】本発明は、『金型の型開き後に吸着機構を
備えた把持機構部により成形品を取出す成形品の取出装
置』において、吸着機構における真空到達時間を把握
し、真空圧発生タイミングを最適な時点で行って成形品
の取出し時間を短縮することをその課題とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】前記課題を解決するため
に講じた技術的手段は、以下のとおりである。『前記把
持機構部が取出信号の出力時点から前記成形品の取出位
置に到達するまでの移動時間および前記吸着機構が真空
圧発生信号の出力時点から設定真空圧に到達するまでの
真空到達時間を設定する設定手段と、前記設定手段から
の信号が入力されると共に、前記把持機構の起動を指令
する取出信号および前記吸着機構の起動を指令する真空
圧発生信号を出力する制御手段とを具備し、前記制御手
段は、前記取出信号を出力した後、前記移動時間から前
記真空到達時間を減じた予定時間の経過時点で前記真空
圧発生信号を出力するようにしたことを特徴とする。』
なお、前記設定手段は、前記移動時間および前記真空到
達時間を一旦記憶する記憶部を有していてもよい。

【０００７】前記技術的手段によると、以下の作用を有
する。前記設定手段に移動時間および真空到達時間が設
定されるとこれらを含む信号が前記制御手段に入力され
る。そして、前記取出信号により前記把持機構部が取出
位置に移動を開始すると、前記制御手段は、前記取出信
号を出力した後、前記移動時間から前記真空到達時間を
減じた予定時間の経過時点で前記真空圧発生信号を出力
する。これにより、前記把持機構部が前記取出開始位置
から前記取出位置に移動している最中に前記吸着機構の
真空圧を発生させ、前記把持機構部が前記取出位置に到
達したその時点に前記吸着機構の真空圧が丁度前記設定
真空圧に達する。従って、従来装置のように前記把持機
構部が取出位置に到達した時点で真空圧を発生させる場
合と比べ、前記吸着機構が成形品に接触すると素早く吸
着完了圧に達して成形品の吸着を瞬時に行うことができ
る。

【０００８】ところで、前記把持機構部が前記取出開始
位置へ復帰した状態からあらかじめ前記吸着機構の真空
圧を発生させるようにすれば、前記同様に前記把持機構
の前記取出位置到達時点で前記吸着機構の真空圧を設定
真空圧に到達させることができる。しかしながら、これ
ではエア消費量やエネルギー消費の増大を招き、ひいて
は取出装置におけるランニングコストを増大させてしま
う。これに対し、前記技術的手段によれば、前記制御手
段は、前記把持機構部の前記取出位置到達時点で丁度設
定真空圧に達するタイミングで前記真空圧発生信号を出
力するから、エア消費量およびエネルギー消費量を最小
限に抑えることができる。

【０００９】前記技術的手段において、『前記取出信号
により移動を開始する前記把持機構部の移動位置を検出
する位置検出手段と、前記真空圧発生信号により真空圧
を発生する前記吸着機構の前記真空圧を検出する圧力検
出手段と、前記移動時間を計時する第１の測定手段と、
前記真空到達時間を計時する第２の測定手段とを具備す
る』ものによると、テストモード（例えば、第１回目の
取出し動作）として、前記把持機構部が金型外の取出開
始位置から金型内の成形品の取出位置に移動する際に、
前記第１の測定手段によって前記把持機構部の移動時間
が測定され、また、前記把持機構部が前記取出開始位置
への復帰時点から前記取出位置に移動するまでの間に、
前記第２の測定手段によって前記吸着機構における真空
圧発生の開始時点から設定真空圧の到達時点までの真空
到達時間が測定される。そして、製品取出しモード（例
えば、第２回目以降の取出し動作）においては前記タイ
ミングで前記真空圧発生信号が出力されるから、前記把
持機構部が前記取出位置に到達したその時点に前記吸着
機構の真空圧が丁度前記設定真空圧に達する。

【００１０】前記のようなテストモードを行うことによ
り、新たな成形品を取出す場合など取出装置の状態変化
に対応した前記移動時間、前記真空到達時間が得られる
から、成形品の取出し効率を向上することができる。

【００１１】また、『前記取出信号を出力してからの経
過時間を計時する測定手段と、前記設定手段に設定した
移動時間から前記経過時間を減算した残り時間を算出す
る算出手段とを具備し、前記制御手段は、前記取出信号
を出力した後、前記残り時間が前記設定手段に設定した
真空到達時間に一致した時点で前記真空圧発生信号を出
力するようにした』ものや、『前記取出信号により移動
を開始する前記把持機構部の移動位置を検出する位置検
出手段と、前記位置検出手段で検出する検出位置および
前記設定手段に設定した移動時間に基づいて前記把持機
構部が前記検出位置から前記取出位置に到達するまでの
目標到達時間を算出する算出手段とを具備し、前記制御
手段は、前記取出信号を出力した後、前記目標到達時間
が前記設定手段に設定した真空到達時間に一致した時点
で前記真空圧発生信号を出力するようにした』ものによ
っても、前記同様に前記把持機構部が前記取出位置に到
達したその時点に前記吸着機構の真空圧が丁度前記設定
真空圧に達する。

【００１２】

【発明の効果】以上のように本発明によると、前記把持
機構の前記取出位置に到達したその時点で前記吸着機構
は設定真空圧に達するから、成形品の吸着を瞬時に行う
ことができ、これにより吸着待ち時間を短縮できる。従
って、この吸着待ち時間の短縮分、全取出し時間を短縮
することができ、いわゆるハイサイクル成形の成形機に
追従可能なものとなる。しかも、前記制御手段は、前記
把持機構部の前記取出位置到達時点で丁度設定真空圧に
達するタイミングで前記真空圧発生信号を出力するか
ら、エア消費量やエネルギー消費量を最小限に抑えるこ
とができ、取出装置の省エネを実現できる。

【００１３】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の実施の形態を図
面を参照しながら説明する。 実施の形態１．図１に示すように、実施の形態１による
成形品の取出装置は、金型内の成形品を吸着機構９によ
って吸着させて取出す把持機構部７、把持機構部７を移
動させる移載機構部５を備え、さらに、位置検出部６、
吸着圧検出部１０、第１計時測定手段７０、第２計時測
定手段９０およびＣＰＵ（中央処理装置）１を設けたも
のである。なお、本取出装置の基本動作は、図１３、図
１４に示した従来のものと同様とする。

【００１４】前記位置検出部６は、前記把持機構部７の
移動位置を移載機構部５の駆動量に基づいて検出するも
のである。この位置検出部６は、取出信号により把持機
構部７が取出開始位置（Ａ）から移動を開始すると常時
移動位置を検出する。前記吸着圧検出部１０は、前記把
持機構部７に備える吸着機構９の真空圧を検出するもの
であり、例えば、アナログ式またはデジタル式の圧力セ
ンサが用いられる。すなわち、この圧力センサを前記吸
着機構９の配管中に設置し、この圧力センサが受けた外
圧に応じ電気信号を出力しこの電気信号を大気圧時のも
のと比較することにより前記吸着機構９の真空圧を検出
する。

【００１５】前記第１計時測定手段７０は、前記把持機
構部７の取出開始位置（Ａ）から成形品の取出位置
（Ｃ）まで移動する際の移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）を測定
するものである。具体的には、前記取出信号の出力時点
から前記位置検出部６で前記取出位置に到達したことの
検出が行われる時点までの時間を計時する。

【００１６】前記第２計時測定手段９０は、前記吸着機
構９の真空圧発生開始から所定の設定真空圧（Ｐ１）に
達するまでの真空圧到達時間（Ｔｖ）を測定するもので
ある。具体的には、前記吸着機構９の真空圧発生を指令
する真空圧発生信号の出力時点から前記吸着圧検出部１
０で所定の設定真空圧に達したことの検出が行われる時
点までの時間を計時する。ここで前記設定真空圧（Ｐ
１）として例えば７４．６ｋＰａ〜８７．９ｋＰａ（５
６０mmHg〜６６０mmHg）の範囲で設定される。

【００１７】前記ＣＰＵ（中央処理部）１は、ＲＯＭ２
にあらかじめ記憶されたプログラムに基づいて装置全体
を制御する。そして、前記第１計時測定手段７０からの
移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）、前記第２計時測定手段９０か
らの真空圧到達時間（Ｔｖ）、前記位置検出部６からの
位置検出信号、前記吸着圧力検出部１０からの圧力検出
信号およびＲＡＭ３に記憶させたデータに基づき信号処
理し、前記取出信号および前記真空圧発生信号を出力す
る。すなわち、このＣＰＵ１は、算出部１１を具備して
おり、この算出部１１によって、前記移動時間（Ｔｚ＋
Ｔｙ）から前記真空到達時間（Ｔｖ）を減じた予定時間
（Ｔｓ）が算出される。そして、前記取出信号の出力時
点から前記算出部１１であらかじめ算出した前記予定時
間（Ｔｓ）の経過時点ＳＴ（図４（ｃ）、図５（ｃ）参
照）で前記真空圧発生信号を出力する。ここで前記ＲＡ
Ｍ３は、前記移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）および前記真空到
達時間（Ｔｖ）を設定する設定手段として機能するもの
である。

【００１８】次に、本実施の形態１における成形品の取
出装置の動作を説明する。新たな成形工程が行われる度
に、第１回目の取出し動作としてテストモード（ティー
チング動作）を行う。このテストモードは、図２のフロ
ーチャートに示すように、ステップＳ１０１において把
持機構部７が成形品の取出開始位置（Ａ）に戻ってきた
か否かを判別し、戻ってきているとステップＳ１０２に
おいて吸着機構９の真空圧を発生させると共にステップ
Ｓ１０３において前記第２計時測定手段９０を起動させ
て真空圧到達時間を計時する。

【００１９】そして、ステップＳ１０４において前記吸
着圧検出部１０によって前記吸着機構９の真空圧が所定
の設定真空圧（Ｐ１）に到達したか否かを判別し、設定
真空圧（Ｐ１）に到達しているとステップＳ１０５にお
いて前記第２計時測定手段９０の計時を停止する。これ
により、前記吸着機構９における真空圧の発生開始から
設定真空圧（Ｐ１）に到達するまでの真空到達時間（Ｔ
ｖ）が測定されることとなる。ここで測定された真空圧
到達時間（Ｔｖ）は、前記ＲＡＭ３に一旦記憶される。

【００２０】次いでステップＳ１０６において型開きが
終了して取出信号が出力されたか否かを判別し、取出信
号が出力されるとステップＳ１０７において移載機構部
５により把持機構部７を取出開始位置（Ａ）から取出位
置（Ｃ）に移動を開始させると共にステップＳ１０８に
おいて前記第１計時測定手段７０を起動させ把持機構部
７の移動時間を計時する。

【００２１】そして、ステップＳ１０９において前記把
持機構部７が取出位置（Ｃ）に到達したか否かを判別す
る。この判別は前記位置検出部６からの検出信号に基づ
いて判断される。前記把持機構部７が取出位置（Ｃ）に
到達するとステップＳ１１０において前記第１計時測定
手段７０の計時を停止する。これにより、前記把持機構
部７の取出開始位置（Ｃ）から取出位置までの移動に要
する移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）が測定されることとなる。
ここで測定された移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）は、前記ＲＡ
Ｍ３に一旦記憶される。

【００２２】そして、ステップＳ１１１において前記ス
テップＳ１０５で測定した真空圧到達時間（Ｔｖ）と前
記ステップＳ１１０で測定した移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）
とを前記算出部１１に送る。すると算出部１１では前記
移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）から前記真空到達時間（Ｔｖ）
を減算した予定時間（Ｔｓ）を求める。ここで求めた予
定時間（Ｔｓ）は、前記ＲＡＭ３に一旦記憶される。

【００２３】そして前記吸着待ち時間（Ｔα）の経過
後、ステップＳ１１２において前記把持機構部７は成形
品を金型から取出し所定の開放位置まで移動して成形品
を開放した後、再び最初の取出開始位置に戻す。以上で
テストモードが終了する。なお、以上のテストモードに
おける取出し動作は、図１１および図１２に示す従来装
置と同じタイミングとなる。

【００２４】次に第２回目以降の取出し動作としての製
品取出しモードについて説明する。図３に示すように、
ステップＳ２０１において型開きが完了して取出信号が
出力されたか否かを常時判別する。そして、取出信号が
出力されるとステップＳ２０２において把持機構部７を
取出位置（Ｃ）への移動を開始させると共にステップＳ
２０３において前記第１計時測定手段７０を起動させて
移動時間を計時する。すると前記把持機構部７は取出開
始位置（Ａ）から引抜き位置（Ｂ）に移動し（Ｚ軸側の
移動）、次いでこの引抜き位置（Ｂ）から取出位置
（Ｃ）へと移動する（Ｙ軸側の移動）。図４（ａ）は前
記Ｚ軸変位量、図４（ｂ）は前記Ｙ軸変位量を示し、図
５（ａ）は前記Ｚ軸側の移動における動作タイミング、
図５（ｂ）は前記Ｙ軸側の移動における動作タイミング
を示す。

【００２５】ステップＳ２０４において前記把持機構部
７の移動の間、ＣＰＵ１は、前記第１計時測定手段７０
で計時される時間が、前記テストモードの際にＲＡＭ３
に記憶された予定時間（Ｔｓ）に一致するか否かを常時
判別する。前記時間が前記予定時間（Ｔｓ）に一致した
と判断すると、ステップＳ２０５において前記一致時点
ＳＴで真空圧発生信号を出力し前記吸着機構９の真空圧
を発生させる。この真空圧発生信号の出力時点ＳＴを図
４（ｃ）及び図５（ｃ）に示す。すると、図４（ｂ）及
び図５（ｂ）におけるＴｙ時間の経過時点と図４（ｄ）
及び図５（ｃ）におけるＴｖ時間の経過時点とが一致す
る。すなわち、前記真空圧発生信号の出力時点ＳＴから
前記吸着機構９の真空圧が上り前記把持機構部７が前記
取出位置（Ｃ）に到達したその時点（図４（ｂ））で丁
度設定真空圧（Ｐ１）に達することとなる。このように
把持機構部７の取出位置（Ｃ）到達時点で吸着機構９の
真空圧を設定真空圧（Ｐ１）に到達させることにより、
成形品の吸着を瞬時に行うことができる。すなわち、前
記吸着機構９が成形品に接触すると直ちに吸着完了圧力
（Ｐ）に達する。前記吸着完了圧力（Ｐ）として、８
７．９ｋＰａ〜９３．３ｋＰａ（６６０mmHg〜７００mm
Hg）の範囲内であれば、成形品を落下させることなく確
実に保持できる。以上の結果、吸着機構９による成形品
の吸着開始から吸着完了までの吸着待ち時間（Ｔｘ）を
短縮することができる。具体的に前記吸着待ち時間（Ｔ
ｘ）は、従来装置のように前記把持機構７の前記取出位
置（Ｃ）到達時点から吸着機構９に真空圧を発生させる
場合の吸着待ち時間（Ｔα）の半分以下にすることがで
きる。従って、従来装置よりも（Ｔα−Ｔｘ）時間分、
取出し時間を短縮することができ、いわゆるハイサイク
ル成形の成形機に追従可能なものとなる。しかも、前記
ＣＰＵ１は、前記把持機構部７の前記取出位置（Ｃ）到
達時点で丁度設定真空圧（Ｐ１）に達するタイミングで
前記真空圧発生信号を出力するから、エア消費量やエネ
ルギー消費量を最小限に抑え省エネを実現できる。

【００２６】そして前記吸着待ち時間（Ｔｘ）の経過
後、ステップＳ２０６において前記把持機構部７は成形
品を金型から取出し、続いて所定の開放位置まで移動し
て成形品を開放した後、再び最初の取出開始位置（Ａ）
に戻す。なお、前記吸着待ち時間（Ｔｘ）は、前記テス
トモードの終了後、前記把持機構部７の取出位置（Ｃ）
到達時点までの間に前記ＣＰＵ１によってセットされ
る。この実施の形態１では、テストモード時のＴα時間
の２分の１の時間をセットする。以上で１サイクルの製
品取出し動作が終了し、これ以降は前記ステップＳ２０
１〜２０６までの取出し動作を繰り返す。

【００２７】以上のように、本実施の形態１によると、
把持機構部７の取出位置（Ｃ）到達時点で吸着機構９の
真空圧を設定真空圧（Ｐ１）に到達させることにより、
成形品の吸着を瞬時に行うことができ、その結果、吸着
機構９による成形品の吸着開始から吸着完了までの吸着
待ち時間（Ｔｘ）を従来装置よりも短縮することができ
る。従って、従来装置のように前記把持機構７の前記取
出位置（Ｃ）到達時点から吸着機構９に真空圧を発生さ
せる場合と比べ、前記吸着待ち時間（Ｔｘ）の短縮分
（Ｔα−Ｔｘ時間）、全取出し時間を短縮することがで
き、いわゆるハイサイクル成形の成形機に追従可能なも
のとなる。しかも、前記ＣＰＵ１は、前記把持機構部７
の前記取出位置（Ｃ）到達時点で丁度設定真空圧（Ｐ
１）に達するタイミングで前記真空圧発生信号を出力す
るから、エア消費量やエネルギー消費量を最小限に抑え
省エネを実現できる。

【００２８】なお、前記実施の形態１では前記算出部１
１によって前記第１，２の測定手段７０，９０によりあ
らかじめ測定した前記移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）から前記
真空到達時間（Ｔｖ）を減じた予定時間（Ｔｓ＝Ｔｚ＋
Ｔｙ−Ｔｖ）をあらかじめ算出するようにしているが、
このような算出部１１を設けることなく、テストモード
で前記第１の測定手段７０によりあらかじめ測定した移
動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）から製品取出しモードで前記第１
の測定手段７０により計時中の経過時間を逐次減算し、
その残り時間が前記第２の測定手段９０によりあらかじ
め測定した真空到達時間（Ｔｖ）と一致した時点（Ｓ
Ｔ）を前記真空圧発生信号の出力時点としても良い。

【００２９】実施の形態２ 図６に示すように実施の形態２は、前記実施の形態１に
おける前記把持機構部７の移動時間（Ｔｚ＋Ｔｙ）を測
定する第１計時測定手段７０を備えないものである。そ
して、計時測定手段９０は、実施の形態１における第２
計時測定手段９０に相当するものであり、前記吸着機構
９の真空圧発生開始から所定の設定真空圧（Ｐ１）に達
するまでの真空圧到達時間（Ｔｖ）を測定する。

【００３０】また、ＣＰＵ１に備える算出部１２は、把
持機構部７が取出開始位置（Ａ）から取出位置（Ｃ）に
移動している間、この把持機構部７がある時点での位置
から前記取出位置（Ｃ）に到達するまでの目標到達時間
を演算する。この際、前記把持機構部７の現在位置は、
前記実施の形態１と同様に位置検出部６によって検出さ
れる。前記目標到達時間は、ＲＡＭ３にあらかじめ記憶
されている移載機構部５の前記取出開始位置（Ａ）から
取出位置（Ｃ）に達するまでの時間データ（移動時間、
移動速度など）を読み出し、この時間データと前記位置
検出部６からの位置検出信号とに基づいて算出する。そ
して、ＣＰＵ１は、取出信号の出力時点から前記目標到
達時間が前記計時測定手段９０であらかじめ測定された
真空到達時間（Ｔｖ）に一致した時点（ＳＴ）（図９
（ｃ）、図１０（ｃ）参照）で真空圧発生信号を出力す
る。

【００３１】次に、本実施の形態２における成形品の取
出装置の動作を説明する。この実施の形態２においても
前記実施の形態１の場合と同様にテストモードを行う。
このテストモードは、図７のフローチャートに示すよう
にステップＳ３０１〜Ｓ３０５において吸着機構９の真
空到達時間を測定する。このときの時間計時は、前記計
時測定手段９０により行う。前記各工程は、図２に示し
た前記実施の形態１におけるテストモード（ステップＳ
１０１〜Ｓ１０５）と同様の動作が行われる。そして、
ステップＳ３０６において取出信号が出力されたことを
確認すると、ステップＳ３０７に移行して前記把持機構
部７は成形品の取出し動作を実行し、成形品を金型から
取出し、続いて所定の開放位置まで移動して成形品を開
放した後、再び最初の取出開始位置に戻す。以上でテス
トモードが終了する。このテストモード時の取出し動作
は、図１１および図１２に示すタイミングとなる。

【００３２】次に第２回目以降の取出し動作としての製
品取出しモードについて説明する。図８に示すように、
ステップＳ４０１において型開きが完了して取出信号が
出力されたか否かを常時判別する。そして、取出信号が
出力されるとステップＳ４０２において把持機構部７を
取出位置（Ｃ）への移動を開始させ、前記算出部１２に
おいて位置検出部６から入力される位置検出信号に基づ
いてＲＡＭ３にあらかじめ記憶されている把持機構部７
の取出開始位置（Ａ）から取出位置（Ｃ）に達するまで
の時間データ（移動時間、移動速度など）を演算して各
検出位置から取出位置（Ｃ）に達するまでの目標到達時
間を常時演算する。

【００３３】そして、ステップＳ４０３において前記目
標到達時間が前記テストモードでＲＡＭ３に記憶させた
前記真空圧到達時間（Ｔｖ）に一致するか否かを常時判
別する。前記目標到達時間が前記真空開始時間（Ｔｖ）
に一致したと判断すると、ステップＳ４０４において前
記一致時点（ＳＴ）で真空圧発生信号を出力し前記吸着
機構９の真空圧を発生させる。これにより、前記実施の
形態１と同様に前記真空圧発生信号の出力時点（ＳＴ）
から前記吸着機構９の真空圧が上り前記把持機構部７が
前記取出位置（Ｃ）に到達したその時点（図４（ｂ））
で丁度設定真空圧（Ｐ１）に達することとなる。このよ
うに把持機構部７の取出位置（Ｃ）到達時点で吸着機構
９の真空圧を設定真空圧（Ｐ１）に到達させることによ
り、成形品の吸着を瞬時に行うことができる。すなわ
ち、前記実施の形態１と同様に前記吸着機構９が成形品
に接触すると直ちに吸着完了圧力（Ｐ）に達する。その
結果、吸着機構９による成形品の吸着開始から吸着完了
までの吸着待ち時間（Ｔｘ）を従来装置よりも半分以下
に短縮することができる。

【００３４】そして前記吸着待ち時間（Ｔｘ）の経過
後、ステップＳ４０５に移行して前記把持機構部７は成
形品を金型から取出し、続いて所定の開放位置まで移動
して成形品を開放した後、再び最初の取出開始位置に戻
す。以上でテストモードが終了する。なお、前記吸着待
ち時間（Ｔｘ）は、前記テストモードの終了後、前記把
持機構部７の取出位置（Ｃ）到達時点までの間に前記Ｃ
ＰＵ１によってセットされる。この実施の形態２では、
テストモード時のＴα時間の２分の１の時間をセットす
る。

【００３５】以上のように、本実施の形態２においても
従来装置のように前記把持機構７の前記取出位置（Ｃ）
到達時点から吸着機構９に真空圧を発生させる場合と比
べ、前記吸着待ち時間（Ｔｘ）の短縮分（Ｔα−Ｔｘ時
間）、全取出し時間を短縮することができ、いわゆるハ
イサイクル成形の成形機に追従可能なものとなる。しか
も、前記ＣＰＵ１は、前記把持機構部７の前記取出位置
（Ｃ）到達時点で丁度設定真空圧（Ｐ１）に達するタイ
ミングで前記真空圧発生信号を出力するから、エア消費
量やエネルギー消費量を最小限に抑え省エネを実現でき
る。

【００３６】なお、前記各実施の形態１、２では把持機
構部７の動作として取出開始位置（Ａ）から引抜き位置
（Ｂ）で方向転換し取出位置（Ｃ）に到達するような直
角的な動作を示すが、図９（ａ）（ｂ）に示すように引
抜き位置（Ｂ）に移動している途中（Ｔｚ(1)経過時）
から取出位置側へ移動するような曲線動作するものに適
用しても良い。また、本発明の取出装置は、樹脂成形品
の射出成形機、マグネシウムやアルミニウムの成形品な
どの射出成形機など、型開き後に成形品の取出しが必要
な成形機すべてに適用できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】実施の形態１による取出装置の構成を説明する
ブロック図である。

【図２】実施の形態１における、テストモードの動作を
示すフローチャートである。

【図３】実施の形態１における、製品取出しモードの動
作を示すフローチャートである。

【図４】実施の形態１における、製品取出しモードの動
作タイミングを説明するためのグラフである。

【図５】実施の形態１における、製品取出しモードのタ
イムチャートである。

【図６】実施の形態２による取出装置の構成を説明する
ブロック図である。

【図７】実施の形態２における、テストモードの動作を
示すフローチャートである。

【図８】実施の形態２における、製品取出しモードの動
作を示すフローチャートである。

【図９】変形例における、製品取出しモードの動作タイ
ミングを説明するためのグラフである。

【図１０】図９の実施の形態における、製品取出しモー
ドのタイムチャートである。

【図１１】従来の取出装置における、製品取出しモード
の動作タイミングを説明するためのグラフである。

【図１２】図１１の従来の取出装置実施における、製品
取出しモードのタイムチャートである。

【図１３】取出装置における、基本動作を示す工程図で
ある。

【図１４】取出装置の構成を示す模式図である。

【符号の説明】

１ ＣＰＵ ２ ＲＯＭ ３ ＲＡＭ ５ 移載機構部 ６ 位置検出部 ７ 把持機構部 ９ 吸着機構 １０ 吸着圧検出部（圧力検出手段） ７０ 第１計時測定手段 ９０ 第２計時測定手段または計時測定手段 Ｐ 吸着完了圧 Ｐ１ 設定真空圧 Ｔｓ 予定時間 Ｔｖ 真空到達時間 Ｔｘ 吸着待ち時間 Ｔｙ 引抜き位置から取出位置までの移動時間 Ｔｚ 待機位置から引抜き位置までの移動時間

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 金型の型開き後に吸着機構を備えた把持
   機構部により成形品を取出す成形品の取出装置におい
   て、 前記把持機構部が取出信号の出力時点から前記成形品の
   取出位置に到達するまでの移動時間および前記吸着機構
   が真空圧発生信号の出力時点から設定真空圧に到達する
   までの真空到達時間を設定する設定手段と、 前記設定手段からの信号が入力されると共に、前記把持
   機構の起動を指令する取出信号および前記吸着機構の起
   動を指令する真空圧発生信号を出力する制御手段とを具
   備し、 前記制御手段は、前記取出信号を出力した後、前記移動
   時間から前記真空到達時間を減じた予定時間の経過時点
   で前記真空圧発生信号を出力するようにしたことを特徴
   とする成形品の取出装置。
2. 【請求項２】 請求項１に記載の成形品の取出装置にお
   いて、 前記取出信号により移動を開始する前記把持機構部の移
   動位置を検出する位置検出手段と、 前記真空圧発生信号により真空圧を発生する前記吸着機
   構の前記真空圧を検出する圧力検出手段と、 前記移動時間を計時する第１の測定手段と、 前記真空到達時間を計時する第２の測定手段とを具備す
   ることを特徴とする成形品の取出装置。
3. 【請求項３】 請求項１に記載の成形品の取出装置にお
   いて、 前記取出信号を出力してからの経過時間を計時する測定
   手段と、 前記設定手段に設定した移動時間から前記経過時間を減
   算した残り時間を算出する算出手段とを具備し、 前記制御手段は、前記取出信号を出力した後、前記残り
   時間が前記設定手段に設定した真空到達時間に一致した
   時点で前記真空圧発生信号を出力するようにしたことを
   特徴とする成形品の取出装置。
4. 【請求項４】 請求項１に記載の成形品の取出装置にお
   いて、 前記取出信号により移動を開始する前記把持機構部の移
   動位置を検出する位置検出手段と、 前記位置検出手段で検出する検出位置および前記設定手
   段に設定した移動時間に基づいて前記把持機構部が前記
   検出位置から前記取出位置に到達するまでの目標到達時
   間を算出する算出手段とを具備し、 前記制御手段は、前記取出信号を出力した後、前記目標
   到達時間が前記設定手段に設定した真空到達時間に一致
   した時点で前記真空圧発生信号を出力するようにしたこ
   とを特徴とする成形品の取出装置。