JP2001142017A - 走査光学装置 - Google Patents

走査光学装置

Info

Publication number
JP2001142017A
JP2001142017A JP32560999A JP32560999A JP2001142017A JP 2001142017 A JP2001142017 A JP 2001142017A JP 32560999 A JP32560999 A JP 32560999A JP 32560999 A JP32560999 A JP 32560999A JP 2001142017 A JP2001142017 A JP 2001142017A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
sub
scanning direction
scanning optical
optical device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP32560999A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001142017A5 (ja
JP4652506B2 (ja
Inventor
Koji Toyoda
浩司 豊田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Canon Inc filed Critical Canon Inc
Priority to JP32560999A priority Critical patent/JP4652506B2/ja
Publication of JP2001142017A publication Critical patent/JP2001142017A/ja
Publication of JP2001142017A5 publication Critical patent/JP2001142017A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4652506B2 publication Critical patent/JP4652506B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Lenses (AREA)
  • Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来に比べて更に、走査光学手段の副走査方
向倍率の低減を図り、高精細な印字、及び環境変動(温
度変化)に強く、また複数光束の走査にも対応可能であ
るコンパクトな走査光学装置を提供する。 【解決手段】 6はfθ特性を有するfθレンズ系6
a,6bより成る走査光学手段である。第1光学素子6
aは、主走査方向、副走査方向ともに凸の異なるパワー
を有するアナモフィックレンズであり、第1面、第2面
ともにトーリック面で構成されている。主走査方向は第
2面が非球面形状である。第2光学素子6bは、第1面
が副走査方向に凸のパワーを有するシリンドリカル面、
第2面は平面C上に主走査方向、副走査方向ともに凸の
パワーを有するように回折光学素子が形成されている。
これらのfθレンズ系6a,6bは、ともにプラスチッ
ク材料で成形される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】本発明は、レーザービームプ
リンタやデジタル複写機等に用いられる走査光学装置に
関し、特に、温度変化に伴うピント変化を低減して、高
精細度の画像を出力させる走査光学装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、レーザービームプリンタやデジタ
ル複写機等に用いられている走査光学装置は、光源から
射出された光束を偏向手段で偏向し、前記偏向された光
束を走査光学手段により被走査面である感光ドラム面上
にスポット状に結像させ、前記被走査面上を光走査す
る。
【0003】図17は、従来の走査光学装置の主走査方
向断面図である。半導体レーザー等より成る光源手段1
1から射出した光束は、コリメータレンズ12によって
略平行光束に変換される。変換された略平行光束は、開
口絞り13によって最適なビーム形状に整形されシリン
ドリカルレンズ14に入射する。前記シリンドリカルレ
ンズ14は副走査方向にのみパワーを有し、回転多面鏡
等より成る偏向手段15の偏向面15a近傍に、主走査
方向に長手の線状光束として結像する。ここで主走査方
向とは偏向走査方向に平行な方向、副走査方向とは偏向
走査方向に垂直な方向である。前記線状光束は偏向手段
15により等角速度で反射偏向され、fθ特性を有する
fθレンズ系より成る走査光学手段16により、被走査
面18である感光ドラム等より成る記録媒体上にスポッ
ト形状として、等速度で結像走査される。
【0004】近年、この種の走査光学装置における走査
光学手段は低価格化及びコンパクト化の要求から、プラ
スチックレンズを使用したものが主流となっている。し
かし、プラスチックレンズは温度変化に伴い屈折率が変
化するため、プラスチックレンズを用いた走査光学装置
では環境変動によるピント変化等が生じる。このような
ピント変動を低減することは、たとえば、レンズ面上に
回折光学素子を形成し、走査光学装置の温度変動に伴う
ピント変化を、前記走査光学手段の屈折部と回折部との
パワー変化と、前記光源である半導体レーザーの波長変
動により補正することによって可能となる。
【0005】図18は、従来の屈折部と回折部とを備え
た走査光学装置の主走査方向の要部断面図(主走査断面
図)である。
【0006】図19は、この従来の屈折部と回折部とを
備えた走査光学装置の副走査方向の要部断面図(副走査
断面図)である。
【0007】図18、図19において、半導体レーザー
等より成る光源1から射出した光束は、コリメータレン
ズ2によって略平行光束に変換される。変換された略平
行光束は、開口絞り3によって最適なビーム形状に整形
されシリンドリカルレンズ4に入射する。前記シリンド
リカルレンズ4は副走査方向にのみパワーを有し、回転
多面鏡等より成る偏向手段5の偏向面5a近傍に、主走
査方向に長手の線状光束として結像する。前記線状光束
は偏向手段5により等角速度で反射偏向され、fθ特性
を有する走査光学手段6により、被走査面8である感光
ドラム等より成る記録媒体上にスポット形状として等速
度で結像走査される。走査光学手段6の第2光学素子の
被走査面側には回折光学素子Dが形成されており、走査
光学装置の温度変動に伴う副走査方向のピント変化を、
前記走査光学手段6の屈折部と回折部とのパワー変化
と、前記光源である半導体レーザー1の波長変動により
補正されるようにしている。
【0008】図20は、この従来の屈折部と回折部とを
備えた走査光学装置の具体例を示す表である。
【0009】図21は、この従来の屈折部と回折部とを
備えた走査光学装置の走査光学手段の非球面係数及び位
相係数を示す表である。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の屈折部と回折部とでピント変化等を補正する走査光学
装置では、像面湾曲の温度変化が十分小さいとはいえな
い。
【0011】図22は、昇温前後における副走査方向像
面湾曲を示している。同図において点線は常温での像面
湾曲、実線は25℃昇温した時の像面湾曲を表わしてい
る。図に示したグラフから分かる通り、副走査方向像面
湾曲が昇温により増加している。
【0012】又、走査光学手段6の副走査方向における
横倍率|β|は約3.7倍の高倍率になっている。この
ため、走査光学装置を構成する各光学部品の位置精度を
厳しく抑える必要があり、コスト高の要因となる。
【0013】また近年高速化の要求から複数の光束を用
いて走査する光学装置が考えられている。しかし副走査
方向の倍率が像高ごとにばらついていると、被走査面上
における複数の走査線の間隔にも誤差が生じ、良好な画
像を得ることが出来なくなる。 図23は、各像高の副
走査方向倍率比を表したグラフである。横軸に像高、縦
軸に軸上の倍率に対する各像高の倍率比誤差を示す。同
図より最軸外の倍率は、軸上に対し5%近く誤差が生じ
ていることが分かる。
【0014】そこで、本発明は、従来に比べて更に、走
査光学手段の副走査方向倍率の低減を図り、高精細な印
字、及び環境変動(温度変化)に強く、また複数光束の
走査にも対応可能であるコンパクトな走査光学装置を提
供することを課題としている。
【0015】
【課題を解決するための手段及び作用】上記の課題を解
決するための本発明は、光源から射出された少なくとも
1つの光束を偏向手段により偏向し、前記偏向手段によ
り偏向された光束を走査光学手段により被走査面上にス
ポット状に結像させ、前記被走査面上を光走査する走査
光学装置において、前記走査光学手段は、アナモフィッ
クレンズよりなる第1光学素子と、回折面を有する第2
光学素子とを含み、前記第2光学素子の少なくとも一つ
の面は、副走査方向に屈折によるパワーを有するように
している。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態について説明する。
【0017】[実施形態1]図1は本発明の実施形態1
の主走査方向の要部断面図(主走査断面図)である。
【0018】図2は副走査方向の要部断面図(副走査断
面図)である。
【0019】図1、図2において、1は例えば半導体レ
ーザーより成る光源である。2はコリメータレンズであ
り、光源1から射出した発散光束を略平行光束に変換し
ている。3は開口絞りであり、コリメータレンズ2から
射出した光束を所望の最適なビーム形状に整形してい
る。4はシリンドリカルレンズであり、副走査方向にの
み所定のパワーを有し、開口絞り3から射出した光束を
後述する偏向手段5の偏向面5a上付近に副走査断面内
において結像(主走査断面においては長手の線像)す
る。5は例えば回転多面鏡より成る偏向手段であり、図
示しないモーター等の駆動手段により図中矢印A方向に
一定速度で回転している。
【0020】6はfθ特性を有するfθレンズ系6a,
6bより成る走査光学手段である。第1光学素子6a
は、主走査方向、副走査方向ともに凸の異なるパワーを
有するアナモフィックレンズであり、第1面、第2面と
もにトーリック面で構成されている。主走査方向は第2
面が非球面形状である。第2光学素子6bは、第1面が
副走査方向に凸のパワーを有するシリンドリカル面、第
2面は平面C上に主走査方向、副走査方向ともに凸のパ
ワーを有するように回折光学素子が形成されている。こ
れらのfθレンズ系6a,6bは、ともにプラスチック
材料で成形される。さらに本走査光学手段は、副走査方
向において偏向面5aと被走査面7との間を共役関係に
することにより、倒れ補正機能を有している。
【0021】半導体レーザー1より射出した発散光束
は、コリメータレンズ2により略平行光束に変換され、
開口絞り3によって所望のビーム形状に整形される。そ
して、前記光束はシリンドリカルレンズ4により偏向手
段5の偏向面5a付近に、副走査方向に関して結像され
る。その後偏向面5aにより反射偏向された光束は、走
査光学手段6により被走査面7(感光ドラム面)上にス
ポット形状に結像され、前記偏向手段5を矢印A方向に
回転させることによって前記感光ドラム面7上を矢印B
方向に等速度で光走査される。
【0022】図3は、第1光学素子6aの形状を表す式
である。
【0023】図4は、第2光学素子6bの形状を表す式
である。
【0024】図3、図4に示す式においては、各光学素
子面と光軸との交点を原点とし、光軸方向をX軸、主走
査断面内において光軸に垂直な方向をY軸、副走査断面
内において光軸に垂直な方向をZ軸としている。
【0025】図5は、実施形態1における光学配置の具
体例を示す表である。
【0026】図6は、実施形態1の走査光学装置の屈折
系の非球面係数及び回折系の位相係数を示す表である。
【0027】実施形態1では、第2光学素子の第1面を
副走査方向に凸のパワーを有するシリンドリカル面にす
ることにより、副走査方向における第2光学素子の凸パ
ワーを強め、走査光学手段6全系の副走査方向倍率の低
減を図っている。走査光学手段6の副走査方向横倍率β
については、|β|=2.84であるので、 1<|β|<3 (1) を満たしており、公差を緩和することが可能となる。
【0028】条件式(1)の下限を越えると走査光学手
段6の光学素子が被走査面側に近づき、光学素子及び走
査光学装置全体が大型化して良くない。また、条件式
(1)の上限を越えると走査光学手段6の副走査方向倍
率が高くなり、公差が厳しくなるので良くない。
【0029】実施形態1では回折系のパワーを、副走査
方向に所望の凸パワーに設定している。回折系のパワー
を所望の凸に設定することにより、走査光学手段6の環
境変動によるレンズ材質の屈折率変化で生じるピント移
動を、光源の波長変動に起因する回折パワーの変化によ
って補正することが可能となる。
【0030】図7は、実施形態1における昇温前後の副
走査方向の像面湾曲を示している。同図において、点線
は常温での像面湾曲、実線は25℃昇温した時の像面湾
曲を表している。ここで、25℃昇温した時の光学素子
6a,6bの屈折率n* 、及び光源手段1の波長λ*
はそれぞれ、 n* =1.5221 λ* =786.4nm とする。同図よりピント移動が良好に補正されているこ
とが解る。
【0031】実施形態1における回折格子形状は、鋸歯
状のブレーズド格子であるが、階段状の回折格子から成
るバイナリー回折格子でも良い。
【0032】以上のことにより、本実施形態1におい
て、走査光学手段の副走査方向倍率の低減による公差の
緩和を可能とし、高精細な印字、及び環境変動(温度変
化)に強いコンパクトな走査光学装置の提供が可能にな
る。
【0033】[実施形態2]図8は、実施形態2の副走
査方向の要部断面図(副走査断面図)である。主走査方
向に関しては本実施形態1と同一形状である。
【0034】6はfθ特性を有するfθレンズ系6a,
6bより成る走査光学手段である。第1光学素子6a
は、主走査方向、副走査方向ともに凸の異なるパワーを
有するアナモフィックレンズであり、第1面、第2面と
もにトーリック面で構成されている。主走査方向は第2
面が非球面形状である。第2光学素子6bは、第1面が
平面であり、第2面は副走査方向に凸のパワーを有する
シリンドリカル面で構成され、且つ前記シリンドリカル
面C上に主走査方向、副走査方向ともに凸のパワーを有
するように回折光学素子が形成されている。これらのf
θレンズ系6a,6bは、ともにプラスチック材料で成
形される。さらに本走査光学手段は、副走査方向におい
て偏向面5aと被走査面7との間を共役関係にすること
により、倒れ補正機能を有している。
【0035】図9は、実施形態2の光学配置の具体例を
示す表である。
【0036】図10は、実施形態2の走査光学装置の屈
折系の非球面係数及び回折系の位相係数を示す表であ
る。
【0037】実施形態2では、第2光学素子の第2面を
副走査方向に凸のパワーを有するシリンドリカル面にす
ることにより、副走査方向における第2光学素子の凸パ
ワーを強め、走査光学手段6全系の副走査方向倍率の低
減を図っている。走査光学手段6の副走査方向横倍率β
については、|β|=2.78であるので、条件式
(1)を満たしている。条件式(1)の下限を越えると
走査光学手段6の光学素子が被走査面側に近づき、光学
素子及び走査光学装置全体が大型化して良くない。ま
た、条件式(1)の上限を越えると走査光学手段6の副
走査方向倍率が高くなり、公差が厳しくなるので良くな
い。
【0038】実施形態2では回折系のパワーを、副走査
方向に所望の凸パワーに設定し、走査光学装置全系にお
いて温度補償効果を有している。
【0039】図11は、実施形態2における昇温前後の
副走査方向の像面湾曲を示している。同図において、点
線は常温での像面湾曲、実線は25℃昇温した時の像面
湾曲を表している。ここで、25℃昇温した時の光学素
子26a,26bの屈折率n * 、及び光源手段1の波
長λ* はそれぞれ、 n* =1.5221 λ* =786.4nm とする。同図よりピント移動が良好に補正されているこ
とが解る。
【0040】本実施形態2における回折格子形状は、鋸
歯状のブレーズド格子であるが、階段状の回折格子から
成るバイナリー回折格子でも良い。
【0041】以上のことにより、実施形態2において、
走査光学手段の副走査方向倍率の低減による公差の緩和
を可能とし、高精細な印字、及び環境変動(温度変化)
に強いコンパクトな走査光学装置の提供が可能になる。
【0042】[実施形態3]図12は、実施形態3の副
走査方向の要部断面図(副走査断面図)である。主走査
方向に関しては本実施形態1と同一形状である。
【0043】6はfθ特性を有するfθレンズ系6a,
6bより成る走査光学手段である。第1光学素子6a
は、主走査方向、副走査方向ともに凸の異なるパワーを
有するアナモフィックレンズであり、第1面、第2面と
もにトーリック面で構成されている。また、第2面は主
走査方向が非球面形状であり、副走査方向は曲率半径が
光軸から離れるに従い連続的に変化している。第2光学
素子6bは、第1面が副走査方向に凸のパワーを有する
シリンドリカル面であり、曲率半径が光軸から離れるに
従い連続的に変化している。第2面は平面C上に主走査
方向、副走査方向ともに凸のパワーを有するように回折
光学素子が形成されている。これらのfθレンズ系6
a,6bは、ともにプラスチック材料で成形される。さ
らに本走査光学手段は、副走査方向において偏向面5a
と被走査面7との間を共役関係にすることにより、倒れ
補正機能を有している。
【0044】図13は、実施形態3の光学配置の具体例
を示す表である。
【0045】図14は、実施形態3の走査光学装置の屈
折系の非球面係数及び回折系の位相係数を示す表であ
る。
【0046】実施形態3では、第2光学素子の第1面を
副走査方向に凸のパワーを有するシリンドリカル面にす
ることにより、副走査方向における第2光学素子の凸パ
ワーを強め、走査光学手段6全系の副走査方向倍率の低
減を図っている。走査光学手段6の副走査方向横倍率β
については、|β|=2.54であるので、条件式
(1)を満たしている。条件式(1)の下限を越えると
走査光学手段6の光学素子が被走査面側に近づき、光学
素子及び走査光学装置全体が大型化して良くない。ま
た、条件式(1)の上限を越えると走査光学手段6の副
走査方向倍率が高くなり、公差が厳しくなるので良くな
い。
【0047】実施形態3では回折系のパワーを、副走査
方向に所望の凸パワーに設定し、走査光学装置全系にお
いて温度補償効果を有している。
【0048】図15は、実施形態3における昇温前後の
副走査方向の像面湾曲を示している。同図において、点
線は常温での像面湾曲、実線は25℃昇温した時の像面
湾曲を表している。ここで、25℃昇温した時の光学素
子6a,6bの屈折率n*、及び光源手段1の波長λ*
はそれぞれ、 n* =1.5221 λ* =786.4nm とする。同図よりピント移動が良好に補正されているこ
とが解る。
【0049】又、実施形態3では、第1光学素子第2面
と第2光学素子第1面の副走査方向曲率半径を光軸から
離れるに従い連続的に変化させている。このことによ
り、全像高において副走査方向の倍率をほぼ一定に補正
し、複数の光束を走査する場合に生じる走査線間隔の誤
差を良好なレベルに抑えることが可能になる。
【0050】図16は、実施形態3における各像高の副
走査方向倍率比を表したグラフである。横軸に像高、縦
軸に軸上の倍率に対する各像高の倍率比誤差を示す。同
図より、副走査方向倍率比誤差が全像高にわたり1%以
下に補正されていることが分かる。
【0051】実施形態3における回折格子形状は、鋸歯
状のブレーズド格子であるが、階段状の回折格子から成
るバイナリー回折格子でも良い。
【0052】以上のことにより、本実施形態3におい
て、走査光学手段の副走査方向倍率の低減を図ってい
る。又、回折面を有する前記第2光学素子において、第
1面をトーリック面等にすることにより主走査方向コマ
収差を低減させたり、第2面を球面、トーリック面等に
することにより回折パワーを副走査方向に所望の凸パワ
ーに設定している。
【0053】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、光源から
射出された少なくとも1つの光束を偏向手段により偏向
し、前記偏向手段により偏向された光束を走査光学手段
により被走査面上にスポット状に結像させ、前記被走査
面上を光走査する走査光学装置において、前記走査光学
手段が主走査方向、副走査方向ともに異なるパワーを有
するアナモフィックレンズより成る第1光学素子と、回
折面を有する第2光学素子の2枚より構成され、前記第
2光学素子は少なくとも1面副走査方向に屈折によるパ
ワーを有することにより、走査光学手段の副走査方向倍
率の低減を図り、高精細な印字、及び環境変動(温度変
化)に強く、また複数光束の走査にも対応可能であるコ
ンパクトな走査光学装置の提供が可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態1の走査光学装置の主走査方
向断面図
【図2】実施形態1の走査光学装置の副走査方向断面図
【図3】実施形態1の走査光学装置の第1光学素子の形
状を表す式
【図4】実施形態1の走査光学装置の第2光学素子の形
状を表す式
【図5】実施形態1の走査光学装置の具体例を示す表
【図6】実施形態1の走査光学装置の屈折系の非球面係
数及び回折系の位相係数を示す表
【図7】実施形態1の走査光学装置の昇温前後の像面湾
曲を示すグラフ
【図8】実施形態2の走査光学装置の副走査方向断面図
【図9】実施形態2の走査光学装置の具体例を示す表
【図10】実施形態2の走査光学装置の屈折系の非球面
係数及び回折系の位相係数を示す表
【図11】実施形態2の走査光学装置の昇温前後の像面
湾曲を示すグラフ
【図12】実施形態3の走査光学装置の副走査方向断面
【図13】実施形態3の走査光学装置の具体例を示す表
【図14】実施形態3の走査光学装置の屈折系の非球面
係数及び回折系の位相係数を示す表
【図15】実施形態3の走査光学装置の昇温前後の像面
湾曲を示すグラフ
【図16】実施形態3の走査光学装置の各像高における
副走査方向倍率比を示すグラフ
【図17】従来の走査光学装置の主走査方向断面図
【図18】屈折部と回折部とを備えた従来の走査光学装
置の主走査方向断面図
【図19】屈折部と回折部とを備えた従来の走査光学装
置の副走査方向断面図
【図20】屈折部と回折部とを備えた従来の走査光学装
置の具体例を示す表
【図21】屈折部と回折部とを備えた従来の走査光学装
置の屈折系の非球面係数及び回折系の位相係数を示す表
【図22】屈折部と回折部とを備えた従来の走査光学装
置の昇温前後の像面湾曲を示すグラフ
【図23】屈折部と回折部とを備えた従来の走査光学装
置の各像高における副走査方向倍率比を示すグラフ
【符号の説明】
1,11 光源手段(半導体レーザー) 2,12 コリメータレンズ 3,13 開口絞り 4,14 シリンドリカルレンズ 5,15 偏向手段(回転多面鏡) 5a,15a 偏向面 6,16 走査光学手段 6a 第1光学素子 6b 第2光学素子 C,D 回折格子面 7,18 被走査面(感光ドラム面)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H045 AA01 CA04 CA34 CA55 CA68 CB22 2H087 KA08 KA19 LA22 NA08 PA01 PA02 PA17 PB01 PB02 QA03 QA05 QA07 QA12 QA21 QA32 QA33 QA41 RA07 RA08 RA42 RA46 UA01 9A001 KK16

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源から射出された少なくとも1つの光
    束を偏向手段により偏向し、前記偏向手段により偏向さ
    れた光束を走査光学手段により被走査面上にスポット状
    に結像させ、前記被走査面上を光走査する走査光学装置
    において、 前記走査光学手段は、アナモフィックレンズよりなる第
    1光学素子と、回折面を有する第2光学素子とを含み、 前記第2光学素子の少なくとも一つの面は、副走査方向
    に屈折によるパワーを有することを特徴とする走査光学
    装置。
  2. 【請求項2】 前記第2光学素子の副走査方向における
    屈折によるパワーが凸であることを特徴とする請求項1
    記載の走査光学装置。
  3. 【請求項3】 前記副走査方向横倍率βは、 1<|β|<3 を満足することを特徴とする請求項2記載の走査光学装
    置。
  4. 【請求項4】 前記走査光学手段の少なくとも二つの面
    は、副走査方向の曲率が軸上から軸外に向かい連続的に
    変化することを特徴とする請求項2記載の走査光学装
    置。
  5. 【請求項5】 前記第2光学素子の副走査方向における
    回折によるパワーが凸であることを特徴とする請求項2
    記載の走査光学装置。
  6. 【請求項6】 前記回折光学素子は、環境変動によって
    発生する走査光学手段の収差変動を、環境変動によって
    生じる光源の波長変動によって相殺することを特徴とす
    る請求項5記載の走査光学装置。
JP32560999A 1999-11-16 1999-11-16 走査光学装置 Expired - Fee Related JP4652506B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32560999A JP4652506B2 (ja) 1999-11-16 1999-11-16 走査光学装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP32560999A JP4652506B2 (ja) 1999-11-16 1999-11-16 走査光学装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001142017A true JP2001142017A (ja) 2001-05-25
JP2001142017A5 JP2001142017A5 (ja) 2006-12-28
JP4652506B2 JP4652506B2 (ja) 2011-03-16

Family

ID=18178788

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP32560999A Expired - Fee Related JP4652506B2 (ja) 1999-11-16 1999-11-16 走査光学装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4652506B2 (ja)

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04172314A (ja) * 1990-11-05 1992-06-19 Nec Corp fθレンズ
JPH04277715A (ja) * 1991-03-05 1992-10-02 Asahi Optical Co Ltd アナモフイック光学系
JPH04328591A (ja) * 1991-04-30 1992-11-17 Minolta Camera Co Ltd レーザプリンタ
JPH0915520A (ja) * 1995-06-29 1997-01-17 Canon Inc 光走査光学装置
JPH09179019A (ja) * 1995-10-27 1997-07-11 Ricoh Co Ltd 走査結像レンズおよび光走査装置
JPH10186225A (ja) * 1996-12-27 1998-07-14 Ricoh Co Ltd 走査結像レンズ系
JPH10319317A (ja) * 1997-05-19 1998-12-04 Ricoh Co Ltd 走査結像レンズ系
JPH11119133A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Canon Inc 光走査光学系
JPH11223784A (ja) * 1998-02-06 1999-08-17 Canon Inc カラー画像形成装置

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04172314A (ja) * 1990-11-05 1992-06-19 Nec Corp fθレンズ
JPH04277715A (ja) * 1991-03-05 1992-10-02 Asahi Optical Co Ltd アナモフイック光学系
JPH04328591A (ja) * 1991-04-30 1992-11-17 Minolta Camera Co Ltd レーザプリンタ
JPH0915520A (ja) * 1995-06-29 1997-01-17 Canon Inc 光走査光学装置
JPH09179019A (ja) * 1995-10-27 1997-07-11 Ricoh Co Ltd 走査結像レンズおよび光走査装置
JPH10186225A (ja) * 1996-12-27 1998-07-14 Ricoh Co Ltd 走査結像レンズ系
JPH10319317A (ja) * 1997-05-19 1998-12-04 Ricoh Co Ltd 走査結像レンズ系
JPH11119133A (ja) * 1997-10-09 1999-04-30 Canon Inc 光走査光学系
JPH11223784A (ja) * 1998-02-06 1999-08-17 Canon Inc カラー画像形成装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP4652506B2 (ja) 2011-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6067106A (en) Scanning optical apparatus
US6094286A (en) Scanning optical apparatus
EP0853253A2 (en) Optical scanning apparatus
US4818046A (en) Light beam scanning device
JP2000019444A (ja) 光走査光学系及びそれを用いた画像形成装置
JP3397638B2 (ja) 光走査光学系及びそれを用いた画像形成装置
JP3559711B2 (ja) 走査光学装置及びマルチビーム走査光学装置
EP0967508A2 (en) Scanning optical device
US5966232A (en) Scanning optical system
JP5269169B2 (ja) 走査光学装置及びそれを有するレーザービームプリンタ
US5818621A (en) Scanning optical system
JP3576817B2 (ja) 走査光学装置
JP3554157B2 (ja) 光走査光学系及びレーザービームプリンタ
US6295163B1 (en) Diffractive optical element and scanning optical apparatus using the same
US20130077144A1 (en) Scanning optical apparatus
JP4652506B2 (ja) 走査光学装置
JP2000098283A (ja) 光走査光学系及びそれを用いた画像形成装置
JPH1144854A (ja) 光走査光学装置
JP2000131633A (ja) 走査光学装置
JPH1138343A (ja) 光走査装置
JPS6353512A (ja) 面倒れ補正走査光学系
JP2007199730A (ja) 走査光学装置及びそれを有するレーザービームプリンタ
JPH04353815A (ja) 高解像力を有する走査光学系
JP2005031646A (ja) 反射型走査光学系

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20061113

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061113

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20080725

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20080804

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20081001

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20090324

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100201

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100309

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100423

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20100525

RD01 Notification of change of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7421

Effective date: 20100630

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100818

A911 Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20100831

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20101214

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101216

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131224

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees