JP2001127729A - Ｓｄｈ伝送装置の試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 一つのパターン監視回路と複数のデータ比較
回路を使用することにより、被試験対象回路からの複数
出力信号を切替えなしで同時に監視・試験する方法を得
る。 【解決手段】 複数の入力・出力をもつ被試験対象回路
１の入力に、同じ試験用パターン信号を供給し、出力側
では、出力の一つをパターン監視回路６で期待通りのパ
ターンであるかを監視し、その他複数の出力に対して
は、データ比較部８−２〜８−Ｎで、パターン監視回路
６が監視する出力と比較することにより、被試験対象回
路１の出力全てが期待通りのパターンであるかを監視す
ることで、被試験対象回路１の動作を試験する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明はＳＤＨ（Synchronou
s Digital Hierarchy ）伝送装置に関し、特にＳＤＨ伝
送装置内のクロスコネクト機能または多重・分離機能を
有する回路の試験装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】ＳＤＨ伝送装置において、クロスコネク
ト機能を有する回路や多重・分離機能を有する回路を試
験する場合、上記回路の入力に試験用のパターンを挿入
し、出力に導出される出力パターンを監視することによ
り、当該回路の機能の正当性を確認するのが一般的であ
る。

【０００３】例えば、図８に試験構成例のブロック図を
示す。本ブロック図では、クロスコネクト機能または多
重分離機能を有する被試験対象回路１の複数の入力２−
１〜２−Ｎの各々に対してパターンを生成して供給する
生成部４と、複数の出力３−１〜３−Ｎの各々からの出
力パターンを監視するパターン監視部５とにより構成さ
れている。被試験対象回路１は入力２−１〜２−Ｎを有
し、これ等入力に対して供給された信号を処理した結果
が出力３−１〜３−Ｎに夫々出力される。

【０００４】但し、図８の被試験対象回路１がクロスコ
ネクト機能を有する回路である場合には、試験実施時は
図９に示す様なＳＷ（スイッチ）設定が実施される。図
９では、「入力１の信号が出力１に出力される」、…
…、「入力Ｎの信号が出力Ｎに出力される」という具合
に、ＳＷ設定４−１〜４−Ｎが実施される。

【０００５】また、図８の被試験対象回路１が多重分離
機能を有する回路である場合には、被試験対象回路の構
成が図１０に示す如くなされる。図１０における被試験
対象の多重分離回路１は、入力２−１〜２−Ｎに対して
多重処理を行って多重信号６を生成する多重回路４と、
多重信号６に対して分離処理を行って出力信号３−１〜
３−Ｎを生成する分離回路５とにより構成されている。
試験実施時には、多重回路４から出力される多重信号６
を分離回路５に折り返すことにより、「入力１の信号が
出力１に出力される」、……、「入力Ｎの信号が出力Ｎ
に出力される」という具合に制御される。

【０００６】図８に示す例では、入力２−１と出力３−
１を通る信号を試験する場合、パターン生成部４から出
力されるパターン信号を入力２−１に入力し、出力３−
１から出力される出力信号をパターン監視部５で監視す
る。パターン監視部５は入力信号が期待されたパターン
であるか否かを判断し、期待されたパターンであれば、
入力２−１と出力３−１の試験結果が”正常”となる。

【０００７】入力２−２と出力３−２を通る信号を試験
する場合、パターン生成部４から出力されるパターン信
号を入力２−２に入力し、出力３−２から出力される出
力信号をパターン監視部５で監視する。以下同様にし
て、入力２−１〜入力２−Ｎと出力３−１〜３−Ｎを通
る信号を試験し、Ｎ本すべて”正常”であることで被試
験対象回路１の動作が正常であることを確認する。

【０００８】また、図１１に示す例を参照すると、被試
験対象回路１、パターン生成部４、データ分配部６、デ
ータ選択部７、パターン監視部５とにより構成されてい
る。パターン生成部４では、試験用のパターン信号が生
成される。このパターン信号はデータ分配部６において
Ｎ分岐され、Ｎ分岐された信号は被試験対象回路１の入
力２−１〜２−Ｎに入力される。データ選択部７は試験
実施者の操作に基づき出力３−１〜３−Ｎの信号のうち
一つを出力する。データ選択部７の出力信号はパターン
監視部において期待されたパターンであるか否かが判定
される。

【０００９】試験実施時には、試験実施者の操作により
出力３−１〜３−Ｎを選択し、Ｎ通り全ての選択におい
て”正常”であることで、被試験対象回路の動作が正常
であることを確認する。

【００１０】

【発明が解決しようとする課題】ところが、上記構成で
は、パターン生成部及びパターン監視部と被試験対象回
路との間の接続・選択という作業が発生し、作業性が悪
くなるという問題がある。更には、被試験対象回路が有
する複数の出力を一つずつ順番に試験しなければならな
いために、試験時間が長くなるという問題もある。

【００１１】本発明の目的は、被試験対象回路からの複
数出力信号を同時に監視・試験可能としたＳＤＨ伝送装
置の試験装置を提供することである。

【００１２】

【課題を解決するための手段】本発明によるＳＤＨ伝送
装置の試験装置は、ＳＤＨ伝送装置の一部機能であるク
ロスコネクト機能や多重分離機能を有し、かつ複数の入
出力を有する被試験対象回路の試験装置であって、試験
用のパターンを前記複数の入力の各々に分配供給するパ
ターン供給手段と、前記複数の出力のうちの特定の一出
力から得られるパターンを監視するパターン監視手段
と、残余の出力の各々から得られるパターンと前記特定
の一出力から得られるパターンとを比較する比較手段と
を含むことを特徴とする。

【００１３】そして、試験開始指示に応答して、前記パ
ターン供給手段は前記パターンを前記入力に同時に分配
供給し、前記パターン監視手段及び前記比較手段は同時
に監視及び比較処理をなすようにしたことを特徴として
おり、また前記パターン監視手段の監視結果及び前記比
較手段の各比較結果を表示可能な表示手段を、更に含む
ことを特徴としている。

【００１４】本発明の作用を述べる。クロスコネクト機
能を有する回路や多重・分離機能を有する回路の複数の
入力に対して、同時に試験パターンを分配供給し、複数
の出力のうち特定の一つの出力でパターン監視部による
監視を行い、残余の出力で当該特定の出力のパターンと
の比較をデータ比較部で同時に行う様にしている。従っ
て、一つのパターン監視部と複数のデータ比較部とによ
り、被試験対象回路の複数の出力を、切替えなしで同時
に試験することができることになる。

【００１５】

【発明の実施の形態】本発明の実施形態について図１を
参照して詳細に説明する。図１に示す実施形態による
と、ＳＤＨ伝送装置におけるクロスコネクト機能を有す
る回路や多重・分離機能を有する被試験対象回路１を試
験するための試験装置１１は、パターン生成部５、デー
タ分配部７、パターン監視部６、データ比較部８−２〜
８−Ｎからなる。また、試験実施者とのインタフェース
として、「試験開始／試験終了」を試験装置に伝える試
験指示９及び被試験対象回路１の「正常／異常」を試験
実施者に伝える試験結果１０を持つ。

【００１６】被試験対象回路１は入力２−１〜２−Ｎ、
出力３−１〜３−Ｎ、出力クロック４を有するものとす
る。パターン生成部４では試験用のパターン信号が生成
される。データ分配部７は上記パターン信号をＮ分岐し
て出力する。Ｎ分岐された信号は被試験対象回路１の入
力２−１〜２−Ｎに入力される。

【００１７】パターン監視部６は、試験指示９による
「試験開始」から「試験終了」まで、被試験対象回路１
の出力３−１に対して、期待されたパターンであるか否
かを判定する。データ比較部８−２〜８−Ｎは、試験指
示９による「試験開始」から「試験終了」まで、被試験
対象回路１の出力３−２〜３−Ｎと出力３−１が一致し
ているか否かを判定する。

【００１８】試験装置１１は、試験指示９による「試験
開始」から「試験終了」まで、パターン監視部６が「出
力３−１のデータは期待されたパターンである」と判定
し、かつデータ比較部８−２〜８−Ｎが「出力３−２〜
３−Ｎのデータと出力３−１のデータは一致している」
と判定した場合、被試験対象回路１は「正常」であるこ
とを試験実施者に通知する。それ以外の場合、被試験対
象回路１は「異常」であることを試験実施者に通知す
る。

【００１９】図１におけるデータ比較部８−２〜８−Ｎ
の各々の回路例を図２に示す。図２に示すように、排他
的論理和ゲート６１と、論理和ゲート６２と、Ｄタイプ
Ｆ／Ｆ（フリップフロップ）６３とからなる。これ等各
データ比較８−２〜８−Ｎは、被試験対象回路１より、
比較の元となる「被試験対象回路の出力１」、比較対象
となる「被試験対象回路の出力ｎ」、「被試験対象回路
の出力１」と「被試験対象回路の出力ｎ」の比較をサン
プリングするための「被試験対象回路の出力クロック」
を受信する。また、試験実施者とのインタフェースより
「試験指示」を受信する。上記４つの入力「被試験対象
回路の出力１」、「被試験対象回路の出力ｎ」、「被試
験対象回路の出力クロック」、「試験指示」を元に、
「比較結果」を出力する。

【００２０】図３にデータ比較部の動作例を示す。時刻
Ｔ１に「試験開始」が指示されることにより、フリップ
フロップのリセットが解除される。時刻Ｔ１から時刻Ｔ
２の間は「被試験対象回路の出力１」と「被試験対象回
路の出力ｎ」とが一致しているため比較結果は「一致」
となる。時刻Ｔ２に「被試験対象回路の出力１」と「被
試験対象回路の出力ｎ」のデータが不一致になると、比
較結果は「不一致」となり、その値は「試験終了」が指
示されるまで保持される。

【００２１】図４に本発明の動作例を示す。図４におい
て、時刻Ｔ１からＴ２は、出力３−１のパターンが正常
であり、かつ出力３−１と出力３−２〜３−Ｎのデータ
が一致している場合を表している。時刻Ｔ１からＴ２で
は、試験終了時刻Ｔ２において、「出力３−１のパター
ンが正常」かつ「出力３−１と出力３−２〜３−Ｎのデ
ータが一致」であるので、試験結果”正常”を試験実施
者に通知している。図４において、時刻時刻Ｔ３からＴ
５は、出力３−１のパターンのミスマッチが発生した場
合を表している。

【００２２】時刻Ｔ４において、出力３−１のパターン
ミスマッチを検出したため、試験結果”異常”を試験実
施者に通知している。時刻Ｔ６からＴ８は、出力３−２
〜３−Ｎのうちの１つ以上が、出力３−１のデータと一
致していない場合を表している。時刻７において、出力
３−Ｎと出力３−１のデータが”不一致”となったた
め、試験結果”異常”を試験実施者に通知している。

【００２３】図１では、試験実施者とのインタフェース
として、「試験開始／試験終了」を試験装置に伝える試
験指示９及び被試験対象回路１の「正常／異常」を試験
実施者に伝える試験結果１０を具備していたが、この部
分を具体的に試験開始ボタン・試験終了ボタン・試験状
態表示ＬＥＤ、パターン監視結果不一致ＬＥＤ、パター
ン比較結果不一致ＬＥＤとしてもよい。

【００２４】この場合の実施形態を図５に示す。図５の
実施形態によると、ＳＤＨ伝送装置においてクロスコネ
クト機能を有する回路や多重・分離機能を有する被試験
対象回路１を試験するための試験装置本体１１は、パタ
ーン生成部５、データ分配部７、パターン監視部６、デ
ータ比較部８−２〜８−Ｎからなる。また、操作・表示
パネル１６には、試験開始ボタン９、試験終了ボタン１
０、試験状態表示ＬＥＤ１２、試験結果正常ＬＥＤ１
３、パターン監視結果不一致ＬＥＤ１４、比較結果不一
致ＬＥＤ１５−２〜１５−Ｎを有している。

【００２５】図５におけるパターン生成部５、データ分
配部７、パターン監視部６、データ比較部８−２〜８−
Ｎの動作は、図１におけるパターン生成部５、データ分
配部７、パターン監視部６、データ比較部８−２〜８−
Ｎと同じである。試験開始ボタン９、試験終了ボタン１
０は試験実施者が試験開始・終了を操作するためのボタ
ンである。試験状態表示ＬＥＤ１２は試験開始ボタン９
が押されてから試験終了ボタン１０が押されるまでの
間、試験中であることを表示するためのＬＥＤである。

【００２６】試験結果正常ＬＥＤ１３は試験終了時に、
パターン監視部６の結果とデータ比較部８−２〜８−Ｎ
の結果全てが正常である場合に点灯する。パターン監視
結果不一致ＬＥＤ１４は、パターン監視部６の結果に基
づき、出力３−１が期待通りのパターン出なかった場合
に点灯するＬＥＤである。比較結果不一致ＬＥＤ１５−
２〜１５−Ｎはデータ比較部８−２〜８−Ｎの結果に基
づき出力３−１と出力３−２〜３−Ｎのデータが不一致
だった場合にＬＥＤを点灯する。

【００２７】図５の実施形態における動作例を図６に示
す。図６において、時刻Ｔ１からＴ２は、出力３−１の
パターンが正常であり、かつ出力３−１と出力３−２〜
３−Ｎのデータが一致している場合を表している。時刻
Ｔ１からＴ２において、試験状態表示ＬＥＤは試験開始
時刻Ｔ１から試験終了時刻Ｔ２まで点灯する。時刻Ｔ２
において試験終了ボタンが押されるが、このとき、「出
力３−１のパターンが正常」かつ「出力３−１と出力３
−２〜３−Ｎのデータが一致」であれば試験結果正常Ｌ
ＥＤが点灯する。試験結果正常ＬＥＤは次に試験開始ボ
タンが押されるときまで点灯を継続する。

【００２８】図６において時刻Ｔ３からＴ５は、出力３
−１のパターンのミスマッチが発生した場合を表してい
る。時刻Ｔ３からＴ５において、試験状態表示ＬＥＤは
試験開始時刻Ｔ３から試験終了時刻Ｔ５まで点灯する。
時刻Ｔ４において、パターン監視部６により出力３−１
のパターンミスマッチを検出すると、パターン監視結果
不一致ＬＥＤは点灯し、次に試験開始ボタンが押される
ときまで点灯を継続する。

【００２９】時刻Ｔ６からＴ８は、出力３−２〜３−Ｎ
が出力３−１のデータと一致していない場合を表してい
る。時刻Ｔ６からＴ８において、試験状態表示ＬＥＤは
試験開始時刻Ｔ６から試験終了時刻Ｔ８まで点灯する。
時刻Ｔ７において、データ比較部Ｎにより出力３−１と
出力３−Ｎのデータ不一致を検出すると、比較結果不一
致ＬＥＤが点灯し、次に試験開始ボタンが押されるとき
まで点灯を継続する。

【００３０】また、図１、図５では、パターン生成部、
パターン監視部が試験装置に組み込まれていたが、この
部分は一般のアナライザを使用してもよい。この場合の
実施形態を図７に示す。図７の実施形態によると、ＳＤ
Ｈ伝送装置においてクロスコネクト機能または多重・分
離機能を有し、かつ入力データ・出力データのインタフ
ェースがＳＴＭ（Synchronous Transfer Mode ）１であ
る被試験対象回路１を試験するための試験装置本体１１
は、ＳＴＭ１アナライザ１７との入出力インタフェース
であるＩＦ１８，１９と、データ分配部７と、データ比
較部８−２〜８−Ｎとからなる。

【００３１】試験装置本体１１と接続するＳＴＭ１アナ
ライザ１７はパターン生成部５、パターン監視部６をも
つ。また、操作・表示パネル１６には、試験開始ボタン
９、試験終了ボタン１０、試験状態表示ＬＥＤ１２、試
験結果正常ＬＥＤ１３、パターン監視結果不一致ＬＥＤ
１４，比較結果不一致ＬＥＤ１５−２〜１５−Ｎをも
つ。

【００３２】図７におけるデータ分配部７、データ比較
部８−２〜８−Ｎの動作は、図１，５におけるデータ分
配部７、データ比較部８−２〜８−Ｎと同じである。パ
ターン生成部５、パターン監視部６も図１，図５におけ
るパターン生成部５、パターン監視部と同じであるが、
ＳＴＭ１アナライザの場合、ペイロードにＰＮ１５パタ
ーンまたはＰＮ２３パターンが挿入された信号を生成・
監視するのが一般的である。

【００３３】ＳＴＭ１アナライザ１７と操作・表示パネ
ル１６はＳＴＭ１アナライザ制御インタフェース２０で
接続される。ＳＴＭ１アナライザ制御インタフェース２
０により、操作・表示パネル１６からＳＴＭ１アナライ
ザ１７への試験開始・試験終了・パターン監視部結果の
検索などの制御を可能とする。

【００３４】試験開始ボタン９、試験終了ボタン１０、
試験状態表示ＬＥＤ１２、試験結果正常ＬＥＤ１３，パ
ターン監視結果不一致ＬＥＤ１４，比較結果不一致ＬＥ
Ｄ１５−２〜１５−Ｎは、図５における試験開始ボタン
９、試験終了ボタン１０、試験状態表示ＬＥＤ１２、試
験結果正常ＬＥＤ１３，パターン監視結果不一致ＬＥＤ
１４，比較結果不一致ＬＥＤ１５−２〜１５−Ｎと同じ
機能である。

【００３５】なお、本発明は上記実施例に限定されず、
本発明の技術思想の範囲内において、各実施例は適宜変
更され得ることは明らかである。

【００３６】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被試験対象回路からの複数出力信号を一つのパターン監
視部と複数のデータ比較部とにより試験するという基本
構成に基づき、被試験対象回路からの複数出力信号を切
替えなしで同時に試験することができるという効果があ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明によるＳＤＨ伝送装置の試験装置の一実
施形態を示す図である。

【図２】データ比較部の回路例を示す図である。

【図３】データ比較部の動作例を示す図である。

【図４】図１のＳＤＨ伝送装置の試験装置の動作例を示
す図である。

【図５】本発明によるＳＤＨ伝送装置の試験装置の他の
実施形態を示す図である。

【図６】図５のＳＤＨ伝送装置の試験装置の動作例を示
す図である。

【図７】本発明によるＳＤＨ伝送装置の試験装置の別の
実施形態を示す図である。

【図８】従来の試験方法の一例を示す図である。

【図９】試験時の被試験対象クロスコネクト回路の設定
を示す図である。

【図１０】試験時の被試験対象多重分離回路の構成を示
す図である。

【図１１】従来の試験方法の他の例を示す図である。

【符号の説明】

１ 被試験対象回路 ２−１〜２−Ｎ 被試験対象回路の入力 ３−１〜３−Ｎ 被試験対象回路の出力 １１ 試験装置 ５ パターン生成部 ６ パターン監視部 ７ データ分配部 ８−２〜８−Ｎ データ比較部

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ＳＤＨ伝送装置の一部機能であるクロス
   コネクト機能や多重分離機能を有し、かつ複数の入出力
   を有する被試験対象回路の試験装置であって、試験用の
   パターンを前記複数の入力の各々に分配供給するパター
   ン供給手段と、前記複数の出力のうちの特定の一出力か
   ら得られるパターンを監視するパターン監視手段と、残
   余の出力の各々から得られるパターンと前記特定の一出
   力から得られるパターンとを比較する比較手段とを含む
   ことを特徴とする試験装置。
2. 【請求項２】 試験開始指示に応答して、前記パターン
   供給手段は前記パターンを前記入力に同時に分配供給
   し、前記パターン監視手段及び前記比較手段は同時に監
   視及び比較処理をなすようにしたことを特徴とする請求
   項１記載の試験装置。
3. 【請求項３】 前記パターン監視手段の監視結果及び前
   記比較手段の各比較結果を表示可能な表示手段を、更に
   含むことを特徴とする請求項１または２記載の試験装
   置。