JP2001111176A - 半導体レーザ装置 - Google Patents

半導体レーザ装置

Info

Publication number
JP2001111176A
JP2001111176A JP28689499A JP28689499A JP2001111176A JP 2001111176 A JP2001111176 A JP 2001111176A JP 28689499 A JP28689499 A JP 28689499A JP 28689499 A JP28689499 A JP 28689499A JP 2001111176 A JP2001111176 A JP 2001111176A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
stack
emission
columnar
lens
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP28689499A
Other languages
English (en)
Inventor
Arata Ko
新 高
Masaomi Kosaka
正臣 高坂
Yasushi Obayashi
寧 大林
Hideo Suzuki
英夫 鈴木
Masayuki Saito
正之 齋藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hamamatsu Photonics KK
Original Assignee
Hamamatsu Photonics KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hamamatsu Photonics KK filed Critical Hamamatsu Photonics KK
Priority to JP28689499A priority Critical patent/JP2001111176A/ja
Publication of JP2001111176A publication Critical patent/JP2001111176A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 高精度に平行化されたレーザ光を出射するこ
とができる半導体レーザ装置を提供する。 【解決手段】 本発明による半導体レーザ装置11は、
複数の半導体レーザアレイ23nが積層された半導体レ
ーザアレイスタック21と、複数のシリンドリカルレン
ズ43nが積層されたシリンドリカルレンズスタック4
1とから構成される。各シリンドリカルレンズ43
nは、研削加工により円周面の一部に平坦面が形成さ
れ、中心軸Cnがそれぞれ各レーザ出射層25nに平行に
なるように配置される。このように各シリンドリカルレ
ンズ43nの中心軸Cnをそれぞれ各レーザ出射層25n
の位置に対応させることによって、出射されるレーザ光
を高精度に平行化することが可能になる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体レーザ装置
に関し、特に固体レーザの端面励起等に好適に用いられ
る半導体レーザ装置に関する。
【0002】
【従来の技術】固体レーザ装置は、高効率、長寿命及び
小型化を図ることができ、最近注目を集めている。固体
レーザを励起するための励起光源は高出力であることが
要求されるため、一般には、活性層をいくつかの単一モ
ードストライプに分割したアレイ構造を有する半導体レ
ーザアレイ、又はその半導体レーザアレイをスタック状
に配置した半導体レーザアレイスタックが用いられる。
【0003】半導体レーザアレイスタックは出射される
レーザ光の発散角が大きいため、出射されるレーザ光を
効率よく集光するにはレーザ光を平行化することが重要
になる。レーザ光を平行化する装置として、例えば特開
平10−284779号に開示されている集光装置があ
る。この装置において、半導体レーザアレイスタックか
ら出射されるレーザ光は、複数のシリンドリカルレンズ
がスタック状に配置されたシリンドリカルレンズスタッ
クを用いて平行化される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半導体
レーザアレイを積層して半導体レーザアレイスタックを
作製するとき、各レーザ出射層間の間隔は必ずしも一定
とはならず、レーザ出射面は必ずしも同一平面とはなら
ない。また、高出力のレーザ光を出射できるように高集
積化された半導体レーザアレイスタックにおいては、シ
リンドリカルレンズ等の柱状レンズの積層方向の厚さが
レーザ出射層間の間隔よりも大きくならざるを得ないこ
とがある。そのため、従来の装置によるシリンドリカル
レンズ等を用いて半導体レーザアレイスタックから出射
されるレーザ光を高精度に平行化することは困難であ
り、特にレーザ光を長距離にわたって伝送する必要があ
る場合等においては、集光性及びパワー密度が低下して
しまうという問題が生じていた。
【0005】そこで本発明は、かかる課題を解決して、
高精度に平行化されたレーザ光を出射することができる
半導体レーザ装置を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体レー
ザ装置は、レーザ出射点が長手方向に配列されたレーザ
出射層を有する複数の半導体レーザアレイが、出射方向
を同一方向として長手方向及び出射方向と交差する方向
にスタック状に配置された半導体レーザアレイスタック
と、半導体レーザアレイと同数の柱状レンズが、それぞ
れ各レーザ出射層の出射面の近傍にスタック状に配置さ
れた柱状レンズスタックとを備える半導体レーザ装置で
あって、柱状レンズスタックの1以上の柱状レンズに位
置調整部が設けられたことによって、各柱状レンズは、
その中心軸がそれぞれ各レーザ出射層を含む長手方向及
び出射方向に対して平行な平面上にあるように配置され
たことを特徴とする。この装置によれば、レーザ出射層
間の間隔が一定でなくても、各柱状レンズは各レーザ出
射層に対応した位置に配置されるため、各レーザ出射層
から出射されるレーザ光を高精度に平行化することがで
きる。
【0007】位置調整部は、柱状レンズの外周面の一部
に研削加工により形成された長手方向及び出射方向に平
行な平坦面であることが好ましい。レーザ出射層の間隔
より大きな柱状レンズを用いる必要がある場合であって
も、各柱状レンズの円周面を研削加工して各レーザ出射
層の間隔に合わせることによって、各レーザ出射層に各
柱状レンズの中心軸を容易に対応させることができる。
また、外周面の一部に平面部が形成されることによって
スタック化が容易になり、柱状レンズスタックの構造が
安定化する。
【0008】各柱状レンズは、それぞれ各レーザ出射層
の出射面から出射方向に一定の間隔をおいた位置に配置
されることが好ましい。各レーザ出射層は出射面が必ず
しも一致しているわけではないため、このように配置す
ることによって、各レーザ出射層から出射されるレーザ
光を一定の精度で平行化することができる。
【0009】柱状レンズは屈折率が高いことが好まし
く、屈折率が1.6以上であることがさらに好ましい。
レンズの焦点距離が長い場合にはレーザ光の損失が大き
くなってしまうため、このように屈折率の高いレンズを
用いることによって、レーザ光の損失を抑制することが
できる。
【0010】柱状レンズの表面に、半導体レーザアレイ
から出射される光の反射を防止する反射防止膜が被覆さ
れたことが好ましい。特に屈折率の高いレンズを用いる
場合にはレンズ表面におけるレーザ光の損失が大きいた
め、このように反射防止膜を被覆することによって、レ
ンズ表面におけるレーザ光の損失を抑制することができ
る。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、本発明による半導体レーザ
装置の実施形態について図面を参照して説明する。な
お、同一部分又は相当する部分には同一の符号を付し、
重複する説明は省略する。
【0012】図1は、本発明による半導体レーザ装置の
第1の実施形態を示す斜視図である。本実施形態による
半導体レーザ装置11は、半導体レーザアレイスタック
21と、シリンドリカルレンズスタック41とを備えて
構成される。
【0013】半導体レーザアレイスタック21は、レー
ザ出射点が長手方向に配列されたレーザ出射層25n
有する複数(本実施形態においては6層)の半導体レー
ザアレイ23nが、レーザ出射方向を同一方向とし、出
射面を同一平面として長手方向及び出射方向に直交する
方向にヒートシンク27を挟んでスタック状に積層され
た構造を有している。
【0014】一般的な半導体レーザアレイスタックにお
いては、各半導体レーザアレイの厚さ又は積層体の各接
合部分の厚さを一定値とすることは困難であることが多
く、各レーザ出射層の間隔は必ずしも一定とはならな
い。そのため、本実施形態による半導体レーザ装置11
においても、各レーザ出射層25n間の間隔は一定では
ないものとしている。
【0015】半導体レーザアレイスタック21の最下層
のヒートシンク27の下側及び最上層のヒートシンク2
7の上側には、電極板31及び33が設置されており、
それぞれ導電コード(図示せず)を介して駆動電源(図
示せず)と接続されている。また、半導体レーザアレイ
スタック21の背面(レーザ出射面の反対面)側には、
内部に冷却水路を含有する絶縁性冷却部材35が各ヒー
トシンク27に接触した状態で設置されており、冷却水
循環系(図示せず)と接続されている。
【0016】一方、シリンドリカルレンズスタック41
は、半導体レーザアレイ23nと同数(本実施形態にお
いては6層)のシリンドリカルレンズ43nが、長手方
向を半導体レーザアレイ23nの長手方向と同一として
半導体レーザアレイスタック21と同一方向に積層され
た構造を有している。このシリンドリカルレンズスタッ
ク41は、電極板31及び33に接合された絶縁性支持
部材37によって、半導体レーザアレイスタック21の
出射面側の近傍に支持される。各シリンドリカルレンズ
43nは屈折率が1.6以上であり、研削加工により円
周面の一部に半導体レーザアレイ23nと平行な平坦面
が形成されており、それぞれ各半導体レーザアレイ23
nに対して平行に配置される。
【0017】図2は、本実施形態による半導体レーザ装
置11における半導体レーザアレイスタック21及びシ
リンドリカルレンズスタック41を長手方向から見た側
面図であり、図3は、本実施形態による半導体レーザ装
置11に用いられるシリンドリカルレンズ43nを長手
方向からみた断面図である。
【0018】本実施形態においては、各レーザ出射層2
n間の間隔が隣り合う各シリンドリカルレンズ43n
半径rnの和より小さい(すなわち、rn+rn+1>L
n、n+1である)ため、各シリンドリカルレンズ43nの中
心軸Cnから上側の厚さをdn、下側の厚さをdn′と
し、レーザ出射層25n及び25n+1の積層方向の間隔を
n、n+1とすると、各シリンドリカルレンズ43nは、d
n′+dn+1=Ln、n+1を満たすように研削加工されてい
る。ただし、最上層のシリンドリカルレンズ431の上
側部分及び最下層のシリンドリカルレンズ436の下側
部分は研削加工されていなくてもよい。このように研削
加工することによって、各シリンドリカルレンズ43n
の中心軸Cnを各レーザ出射層25nを含む平面上に位置
するように配置することができる。また、各シリンドリ
カルレンズ43nの円周面の一部に平坦面が形成される
ことによってスタック化が容易になり、シリンドリカル
レンズスタック41の構造が安定化する。
【0019】次に、本実施形態による半導体レーザ装置
11の作用について説明する。駆動電源(図示せず)に
よって半導体レーザアレイスタック21に電力が供給さ
れると、各レーザ出射層25nから所定波長のレーザ光
が出射される。出射されたレーザ光は発散角が大きい
が、各シリンドリカルレンズ43nによって集光されて
高精度に平行化された光束となる。また、シリンドリカ
ルレンズ43nは屈折率が高い(本実施形態においては
1.6以上)ため、集光されたレーザ光のパワー損失が
低減する。そのため、スタック全体として高出力の平行
光束を形成することができる。
【0020】本発明による半導体レーザ装置に用いられ
るシリンドリカルレンズは、半導体レーザアレイスタッ
クのレーザ出射層の間隔に合わせてその都度研削加工す
ることもできるが、厚さの異なる複数のシリンドリカル
レンズを予め用意しておくことが簡便性等の点で好まし
い。すなわち、予めシリンドリカルレンズを研削加工す
ることによって厚さがほぼ一定間隔(例えば、1000
μm間隔)で異なる数〜数十種類のシリンドリカルレン
ズを複数個ずつ作製しておき、用いられる半導体レーザ
アレイスタックのレーザ出射層間の間隔を(例えば、正
面からの写真撮影等によって)測定し、各間隔に対して
最適な厚さのシリンドリカルレンズを選択してシリンド
リカルレンズスタックを組み立てる。このようにすれ
ば、さまざまな半導体レーザアレイスタックについて、
各レーザ出射層間の間隔に適合したシリンドリカルレン
ズスタックを容易に作製することができる。
【0021】図4は、本発明の第2の実施形態による半
導体レーザ装置12における半導体レーザアレイスタッ
ク21及びシリンドリカルレンズスタック41を長手方
向からみた側面図である。
【0022】一般的な半導体レーザアレイスタックにお
いては、スタック作製時に各半導体レーザアレイの出射
面が前後方向(すなわち、レーザ出射方向)にずれてし
まうことがあり、各半導体レーザアレイの出射面は必ず
しも同一平面とはならない。そのため、第1の実施形態
による半導体レーザ装置11と異なり、本実施形態によ
る半導体レーザ装置12においては、半導体レーザアレ
イ23nの出射面は同一平面ではなく各半導体レーザア
レイ23nは互いに前後にずれた状態で積層されている
ものとしている。
【0023】本実施形態において、各シリンドリカルレ
ンズ43nはそれぞれ中心軸Cnと各レーザ出射層25n
の出射面との間隔が一定値d″となるように互いに前後
にずれた状態で積層される。このように、各シリンドリ
カルレンズ43nの中心軸Cnと各レーザ出射層25n
出射面とを一定間隔d″とすることによって、各レーザ
出射層25nから出射されるレーザ光を同等の精度で平
行化することができるため、スタック全体として一定の
精度の平行光束を出射することができる。また、各シリ
ンドリカルレンズ43nの円周面の一部に平面部が形成
されているため、各シリンドリカルレンズ43nが前後
にずれた状態であってもスタック化することが可能とな
る。
【0024】図5は、本発明の第3の実施形態による半
導体レーザ装置13における半導体レーザアレイスタッ
ク21及びシリンドリカルレンズスタック41を長手方
向からみた側面図である。
【0025】本実施形態による半導体レーザ装置13に
おいては、第2の実施形態による半導体レーザ装置12
における各シリンドリカルレンズ43nの外周面に、各
レーザ出射層25nから出射されるレーザ光の反射を防
止するための反射防止膜45が被覆されている。この反
射防止膜45には、例えばSiO2−TiO2系薄膜等を
用いることができる。レンズの屈折率が高い場合にはレ
ンズ表面におけるレーザ光の損失が大きくなってしまう
ため、このようにレンズ表面に反射防止膜45を被覆す
ることによって、レーザ光の損失を抑制して高出力を実
現することができる。
【0026】図6は、本発明の第4の実施形態による半
導体レーザ装置14を長手方向からみた側面図である。
【0027】本実施形態による半導体レーザ装置14に
おいては、第2の実施形態による半導体レーザ装置12
におけるシリンドリカルレンズ41に代え、複数(本実
施形態においては6層)の棒状凸レンズ43nがスタッ
ク状に配置された棒状凸レンズスタック41が用いられ
ている。各棒状凸レンズ43nは、平面である3つの側
面及び曲面である1つの側面を有する柱状レンズであ
り、曲面である1つの側面をレーザ出射方向に向けて配
置されている。本発明による半導体レーザ装置において
は、このようにシリンドリカルレンズ以外の他の柱状レ
ンズを用いることもできる。
【0028】本発明による半導体レーザ装置は、上記実
施形態に限定されるものではなく、他の条件等に応じて
さまざまな好適形態をとることが可能である。例えば、
一部のレーザ出射層間の間隔が隣り合うシリンドリカル
レンズの半径の和に比べて大きい場合には、その層のシ
リンドリカルレンズ間にスペーサを挿入して、シリンド
リカルレンズの中心軸の位置を調節することも好適であ
る。
【0029】また、レーザ光の平行性を向上させるため
に、シリンドリカルレンズをはじめとする柱状レンズの
凸部が非球面となるように加工されていることも好適で
ある。
【0030】
【発明の効果】本発明による半導体レーザ装置は、高精
度に平行化されたレーザ光を出射することができ、固体
レーザの端面励起等に好適に用いることができる。ま
た、特にレーザ光を長距離にわたって伝送する必要があ
る場合等において好適に用いることができる。
【0031】さらに、本発明による半導体レーザ装置に
対して、柱状レンズスタックにおける各柱状レンズの形
状又は配置を調節することによって、既存の半導体レー
ザアレイスタックを含むさまざまな種類の半導体レーザ
アレイスタックを適用することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施形態による半導体レーザ装
置を示す斜視図である。
【図2】本発明の第1の実施形態による半導体レーザ装
置における半導体レーザアレイスタック及びシリンドリ
カルレンズスタックを長手方向からみた側面図である。
【図3】本発明の第1の実施形態による半導体レーザ装
置に用いられる円周の一部が研削加工されたシリンドリ
カルレンズを長手方向からみた断面図である。
【図4】本発明の第2の実施形態による半導体レーザ装
置における半導体レーザアレイスタック及びシリンドリ
カルレンズスタックを長手方向からみた側面図である。
【図5】本発明の第3の実施形態による半導体レーザ装
置における半導体レーザアレイスタック及びシリンドリ
カルレンズスタックを長手方向からみた側面図である。
【図6】本発明の第4の実施形態による半導体レーザ装
置を長手方向からみた側面図である。
【符号の説明】
11…第1の実施形態による半導体レーザ装置、12…
第2の実施形態による半導体レーザ装置、13…第3の
実施形態による半導体レーザ装置、14…第4の実施形
態による半導体レーザ装置、21…半導体レーザアレイ
スタック、23 n…半導体レーザアレイ、25n…レーザ
出射層、27…ヒートシンク、31…電極板、33…電
極板、35…絶縁性冷却部材、37…絶縁性支持部材、
41…シリンドリカルレンズスタック(棒状凸レンズス
タック)、43n…シリンドリカルレンズ(棒状凸レン
ズ)、45…反射防止膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大林 寧 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 (72)発明者 鈴木 英夫 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 (72)発明者 齋藤 正之 静岡県浜松市市野町1126番地の1 浜松ホ トニクス株式会社内 Fターム(参考) 2H043 AA04 AA24 AD04 AD23 5F073 AB02 AB27 BA09 EA19 EA24 FA11 FA26

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 レーザ出射点が長手方向に配列されたレ
    ーザ出射層を有する複数の半導体レーザアレイが、出射
    方向を同一方向として前記長手方向及び前記出射方向と
    交差する方向にスタック状に配置された半導体レーザア
    レイスタックと、 前記半導体レーザアレイと同数の柱状レンズが、それぞ
    れ前記各レーザ出射層の出射面の近傍にスタック状に配
    置された柱状レンズスタックとを備える半導体レーザ装
    置であって、 前記柱状レンズスタックの1以上の柱状レンズに位置調
    整部が設けられたことによって、前記各柱状レンズは、
    その中心軸がそれぞれ前記各レーザ出射層を含む前記長
    手方向及び前記出射方向に対して平行な平面上にあるよ
    うに配置されたことを特徴とする半導体レーザ装置。
  2. 【請求項2】 前記位置調整部は、前記柱状レンズの外
    周面の一部に研削加工により形成された前記長手方向及
    び前記出射方向に平行な平坦面である請求項1に記載の
    半導体レーザ装置。
  3. 【請求項3】 前記各柱状レンズは、それぞれ前記各レ
    ーザ出射層の前記出射面から前記出射方向に一定の間隔
    をおいた位置に配置された請求項1又は2に記載の半導
    体レーザ装置。
  4. 【請求項4】 前記柱状レンズは、屈折率が1.6以上
    である請求項1〜3のいずれかに記載の半導体レーザ装
    置。
  5. 【請求項5】 前記柱状レンズの表面に、前記半導体レ
    ーザアレイから出射される光の反射を防止する反射防止
    膜が被覆された請求項1〜4のいずれかに記載の半導体
    レーザ装置。
JP28689499A 1999-10-07 1999-10-07 半導体レーザ装置 Pending JP2001111176A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28689499A JP2001111176A (ja) 1999-10-07 1999-10-07 半導体レーザ装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP28689499A JP2001111176A (ja) 1999-10-07 1999-10-07 半導体レーザ装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2001111176A true JP2001111176A (ja) 2001-04-20

Family

ID=17710384

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP28689499A Pending JP2001111176A (ja) 1999-10-07 1999-10-07 半導体レーザ装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2001111176A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002335035A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
WO2006016459A1 (ja) * 2004-08-12 2006-02-16 Hamamatsu Photonics K.K. レーザ装置
JP2008060613A (ja) * 2007-11-19 2008-03-13 Ricoh Opt Ind Co Ltd 光源用モジュールおよび光源装置
EP2159889A1 (de) * 2008-09-01 2010-03-03 iie Gesellschaft für innovative Industrieelektronik mbH Laserdioden-Anordnung
CN110808536A (zh) * 2018-08-06 2020-02-18 精工爱普生株式会社 发光装置和投影仪
JP2021072372A (ja) * 2019-10-31 2021-05-06 日亜化学工業株式会社 発光装置

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002335035A (ja) * 2001-05-10 2002-11-22 Hamamatsu Photonics Kk 半導体レーザ装置
WO2006016459A1 (ja) * 2004-08-12 2006-02-16 Hamamatsu Photonics K.K. レーザ装置
US7599414B2 (en) 2004-08-12 2009-10-06 Hamamatsu Photonics K.K. Laser device
JP2008060613A (ja) * 2007-11-19 2008-03-13 Ricoh Opt Ind Co Ltd 光源用モジュールおよび光源装置
EP2159889A1 (de) * 2008-09-01 2010-03-03 iie Gesellschaft für innovative Industrieelektronik mbH Laserdioden-Anordnung
WO2010023314A2 (de) * 2008-09-01 2010-03-04 Iie Gesellschaft Für Innovative Industrieelektronik Mbh Laserdioden-anordnung
WO2010023314A3 (de) * 2008-09-01 2010-11-18 Iie Gesellschaft Für Innovative Industrieelektronik Mbh Laserdioden-anordnung
US8532154B2 (en) 2008-09-01 2013-09-10 Iie Gmbh & Co Kg Laser diode arrangement
CN110808536A (zh) * 2018-08-06 2020-02-18 精工爱普生株式会社 发光装置和投影仪
CN110808536B (zh) * 2018-08-06 2023-07-11 精工爱普生株式会社 发光装置和投影仪
JP2021072372A (ja) * 2019-10-31 2021-05-06 日亜化学工業株式会社 発光装置
JP7460880B2 (ja) 2019-10-31 2024-04-03 日亜化学工業株式会社 発光装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10833482B2 (en) Diode laser apparatus with FAC lens out-of-plane beam steering
US20080063017A1 (en) Laser Diode Array Mounting
US7010194B2 (en) Method and apparatus for coupling radiation from a stack of diode-laser bars into a single-core optical fiber
JP3071360B2 (ja) リニアアレイレーザダイオードに用いる光路変換器及びそれを用いたレーザ装置及びその製造方法
US7773653B2 (en) Diode laser arrangement and associated beam shaping unit
US6757106B2 (en) Optical lens, optical lens unit, stacked type optical lens, optical system and semiconductor laser apparatus
US6700709B1 (en) Configuration of and method for optical beam shaping of diode laser bars
US6259713B1 (en) Laser beam coupler, shaper and collimator device
US20120081893A1 (en) Laser diode combiner modules
JPWO2002082163A1 (ja) 半導体レーザ装置およびそれを用いた固体レーザ装置
JP4430676B2 (ja) 交互配置された光学板を用いたビーム合波
WO2020078197A1 (zh) 一种半导体激光器
JP2004515086A (ja) 複数個のダイオードレーザーセルを備えたダイオードレーザー装置
JP2001215443A (ja) 光学装置
US7936799B2 (en) Interleaving laser beams
US20130314922A1 (en) Single-emitter etendue aspect ratio scaler
US7065105B2 (en) Apparatus for shaping the output beam of semiconductor lasers
US6516011B1 (en) Focusing multiple laser beams
JP3831082B2 (ja) 集光装置
JP2001111176A (ja) 半導体レーザ装置
WO2016039481A1 (ja) Ldモジュール
US7408970B2 (en) Optically pumped external-cavity semiconductor laser with multiple gain structures
JP4153130B2 (ja) レーザ装置
JP4347467B2 (ja) 集光装置
JPWO2005013446A1 (ja) 半導体レーザ装置

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20061003

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090303

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20090630