JP2001102656A - 強磁性ホール素子 - Google Patents
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Landscapes
- Hall/Mr Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】本発明は、最大で数百mV以上の出力電圧を示
し、磁場感度に優れた強磁性ホール素子を提供すること
にある。 【構成】強磁性ホール素子を超薄膜化したFe−Pt合
金で構成することにより、出力電圧と垂直磁化の磁場感
度を向上させることができる。非磁性元素の添加あるい
は絶縁物とのグラニュラー組織化によって、さらなるホ
ール出力電圧と磁場感度の向上を図ることができる。こ
の素子は耐食性に非常に優れているため、超薄膜状態で
も保護膜なしでの利用が可能である。
し、磁場感度に優れた強磁性ホール素子を提供すること
にある。 【構成】強磁性ホール素子を超薄膜化したFe−Pt合
金で構成することにより、出力電圧と垂直磁化の磁場感
度を向上させることができる。非磁性元素の添加あるい
は絶縁物とのグラニュラー組織化によって、さらなるホ
ール出力電圧と磁場感度の向上を図ることができる。こ
の素子は耐食性に非常に優れているため、超薄膜状態で
も保護膜なしでの利用が可能である。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、大きな異常ホール効果
を示す強磁性ホール素子に関するものであり、モータの
回転速度センサ、磁気記録再生用磁気ヘッドなどの各種
磁気センサ、および垂直磁化を利用して記憶する固体素
子メモリへの利用が可能である。
を示す強磁性ホール素子に関するものであり、モータの
回転速度センサ、磁気記録再生用磁気ヘッドなどの各種
磁気センサ、および垂直磁化を利用して記憶する固体素
子メモリへの利用が可能である。
【0002】
【従来の技術】電流磁気効果のひとつであるホール効果
を利用した素子として、InSb,GaAsなどの移動
度の大きな半導体を用いたホール素子がモータ等の回転
センサ、磁界測定用センサに多く用いられている。この
ような半導体ホール素子は外部磁界の大きさに比例する
正常ホール効果を利用したものであるが、磁性体に特有
のホール効果として磁化の大きさに比例する異常ホール
効果が知られている。しかしながら、磁性体の異常ホー
ル効果は半導体の正常ホール効果に比べて一般に非常に
小さいために、素子としての応用は今まで顧みられなか
った。
を利用した素子として、InSb,GaAsなどの移動
度の大きな半導体を用いたホール素子がモータ等の回転
センサ、磁界測定用センサに多く用いられている。この
ような半導体ホール素子は外部磁界の大きさに比例する
正常ホール効果を利用したものであるが、磁性体に特有
のホール効果として磁化の大きさに比例する異常ホール
効果が知られている。しかしながら、磁性体の異常ホー
ル効果は半導体の正常ホール効果に比べて一般に非常に
小さいために、素子としての応用は今まで顧みられなか
った。
【0003】その中でGd−Fe、Fe−Ptのよう
に、希土類あるいは白金など重元素を含む合金系におい
て、Fe、Co、Niなどの磁性元素よりも2桁程度大
きなホール抵抗率を示すことが知られており、ホール効
果の基礎的な物性が調べられている。これら重元素を含
む合金系が磁気センサあるいは固体素子メモリなどのホ
ール素子として応用できる可能性は指摘されているが、
まだ素子としての実用化はなされていない。
に、希土類あるいは白金など重元素を含む合金系におい
て、Fe、Co、Niなどの磁性元素よりも2桁程度大
きなホール抵抗率を示すことが知られており、ホール効
果の基礎的な物性が調べられている。これら重元素を含
む合金系が磁気センサあるいは固体素子メモリなどのホ
ール素子として応用できる可能性は指摘されているが、
まだ素子としての実用化はなされていない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように磁性
体の異常ホール効果は半導体の正常ホール効果に比べ一
般にその出力が小さいために、現在のところ実用化に向
けた研究はほとんどない。しかしながら、数mV以上の
出力電圧が得ることができれば半導体ホール素子とは異
なる特徴を持つ素子を実現できるものと考えられる。
体の異常ホール効果は半導体の正常ホール効果に比べ一
般にその出力が小さいために、現在のところ実用化に向
けた研究はほとんどない。しかしながら、数mV以上の
出力電圧が得ることができれば半導体ホール素子とは異
なる特徴を持つ素子を実現できるものと考えられる。
【0005】例えば、磁気センサとしての応用を目的に
した場合には、半導体の正常ホール効果を利用した素子
が広く用いられているが、原理的に外部磁界の大きさに
比例した出力しか得られず、磁場感度に劣っている。ま
た一般に、半導体ホール素子の温度特性は良好ではな
く、ほとんどの場合その最高使用温度は100〜200
℃以下であり、特にInSbのような大きい移動度を持
つ半導体は、100℃以下と非常に低いものである。F
e−Pt合金などの磁性体を用いれば、磁場感度と最高
使用温度も高い素子の可能性が生じる。
した場合には、半導体の正常ホール効果を利用した素子
が広く用いられているが、原理的に外部磁界の大きさに
比例した出力しか得られず、磁場感度に劣っている。ま
た一般に、半導体ホール素子の温度特性は良好ではな
く、ほとんどの場合その最高使用温度は100〜200
℃以下であり、特にInSbのような大きい移動度を持
つ半導体は、100℃以下と非常に低いものである。F
e−Pt合金などの磁性体を用いれば、磁場感度と最高
使用温度も高い素子の可能性が生じる。
【0006】また最近、固体素子メモリ(Magnet
ic random accessmemory)に使
う目的で、巨大磁気抵抗効果あるいはトンネル磁気抵抗
効果を示すスピンバルブタイプのサンドウィッチ膜の検
討がなされている。これらは、従来の合金系磁気抵抗素
子よりも大きな磁気抵抗変化を示すが、その特性は界面
状態に非常に大きく影響されるため、プロセス上の制御
が難しく歩留まりも悪いものである。もし、このメモリ
素子に異常ホール効果を用いることができれば、磁性体
の単層膜で機能を果たすため、サンドウィッチ膜におけ
る界面制御の問題を回避することができる。
ic random accessmemory)に使
う目的で、巨大磁気抵抗効果あるいはトンネル磁気抵抗
効果を示すスピンバルブタイプのサンドウィッチ膜の検
討がなされている。これらは、従来の合金系磁気抵抗素
子よりも大きな磁気抵抗変化を示すが、その特性は界面
状態に非常に大きく影響されるため、プロセス上の制御
が難しく歩留まりも悪いものである。もし、このメモリ
素子に異常ホール効果を用いることができれば、磁性体
の単層膜で機能を果たすため、サンドウィッチ膜におけ
る界面制御の問題を回避することができる。
【0007】
【課題を解決するための手段】ホール効果の出力電圧V
Hは、一般に以下の式で記述される。ここでρHはホー
ル抵抗率、iは電流、dは膜厚である。 VH=ρH・(i/d) 従って、出力電圧を上昇させるためには、材料固有の物
性値であるホール抵抗率が大きい材料が心要であること
以外に、膜厚に反比例した出力が得られるため膜厚の減
少によっても出力向上を図ることができることがわか
る。このような膜厚を減少させる超薄膜化は、出力電圧
向上とともに、表面異方性による垂直磁気異方性の誘起
をもたらす場合があるが、これはホール素子の磁場感度
向上を意味する。
Hは、一般に以下の式で記述される。ここでρHはホー
ル抵抗率、iは電流、dは膜厚である。 VH=ρH・(i/d) 従って、出力電圧を上昇させるためには、材料固有の物
性値であるホール抵抗率が大きい材料が心要であること
以外に、膜厚に反比例した出力が得られるため膜厚の減
少によっても出力向上を図ることができることがわか
る。このような膜厚を減少させる超薄膜化は、出力電圧
向上とともに、表面異方性による垂直磁気異方性の誘起
をもたらす場合があるが、これはホール素子の磁場感度
向上を意味する。
【0008】実施例に示すように、磁性体の中でも大き
なホール効果を示すFe−Pt合金を超薄膜化すれば、
正の垂直磁気異方性が誘起されると同時に、数mVから
最大数百mVに達する出力電圧を得ることができる。ま
た、超薄膜は酸化に非常に弱い状態にあるため、材料自
身に高い化学的安定性が要求されるが、Fe−Pt合金
あるいはこれをベースとした材料は非常に耐食性に優れ
るため、保護膜の存在なしに素子としての応用化が可能
である。
なホール効果を示すFe−Pt合金を超薄膜化すれば、
正の垂直磁気異方性が誘起されると同時に、数mVから
最大数百mVに達する出力電圧を得ることができる。ま
た、超薄膜は酸化に非常に弱い状態にあるため、材料自
身に高い化学的安定性が要求されるが、Fe−Pt合金
あるいはこれをベースとした材料は非常に耐食性に優れ
るため、保護膜の存在なしに素子としての応用化が可能
である。
【0009】ホール抵抗率自身の上昇を図る方法とし
て、酸化物など絶縁物との複合材料化(グラニュラー
化)による方法がある。絶縁物とのグラニュラー化によ
って抵抗率の上昇がもたらされるが、これが電子の非対
称散乱確率を増しホール抵抗率上昇につながると考えら
れる。絶縁物としてはAl2O3、MgO、SiO2な
どの酸化物、AlNなどの窒化物、MgF、CaFなど
のフッ化物を用いることが可能である。
て、酸化物など絶縁物との複合材料化(グラニュラー
化)による方法がある。絶縁物とのグラニュラー化によ
って抵抗率の上昇がもたらされるが、これが電子の非対
称散乱確率を増しホール抵抗率上昇につながると考えら
れる。絶縁物としてはAl2O3、MgO、SiO2な
どの酸化物、AlNなどの窒化物、MgF、CaFなど
のフッ化物を用いることが可能である。
【0010】磁性体の異常ホール効果を用いた素子は、
正常ホール効果と異なり磁化に比例した出力を発生する
ため、磁性体の異方性制御により素子の磁場感度を向上
させることができる。磁性薄膜に垂直異方性を付与する
ためには、上述の超薄膜化による界面異方性の他に、エ
ピタキシャル成長による結晶磁気異方性の制御・柱状組
織による形状異方性などが考えられる。
正常ホール効果と異なり磁化に比例した出力を発生する
ため、磁性体の異方性制御により素子の磁場感度を向上
させることができる。磁性薄膜に垂直異方性を付与する
ためには、上述の超薄膜化による界面異方性の他に、エ
ピタキシャル成長による結晶磁気異方性の制御・柱状組
織による形状異方性などが考えられる。
【0011】また、Fe−Pt合金に非磁性元素を添加
し飽和磁化を下げてやれば、反磁場の影響が少なくなり
垂直磁場感度向上につなげることができる。Nbあるい
はSiなど添加元素の種類によっては、結晶粒が微細化
され最大20%程度のホール抵抗率上昇がもたらされ
る。添加元素としてNbおよびSiがホール抵抗率上昇
に対して最も効果が高いが、その他に非磁性元素として
B,C,Mg,Al,Ca,Ti,V,Cu,Zn,Z
r,Mo,Pd,Ag,In,Sn,Sb,Ba,H
f,Ta,W,Ir,Au,Pb,Biを用いることが
できる。
し飽和磁化を下げてやれば、反磁場の影響が少なくなり
垂直磁場感度向上につなげることができる。Nbあるい
はSiなど添加元素の種類によっては、結晶粒が微細化
され最大20%程度のホール抵抗率上昇がもたらされ
る。添加元素としてNbおよびSiがホール抵抗率上昇
に対して最も効果が高いが、その他に非磁性元素として
B,C,Mg,Al,Ca,Ti,V,Cu,Zn,Z
r,Mo,Pd,Ag,In,Sn,Sb,Ba,H
f,Ta,W,Ir,Au,Pb,Biを用いることが
できる。
【0012】本発明の特徴とするところは次の通りであ
る。第1発明は、一般式Fe100−x−yPtxMy
で表され、Mは非磁性元素Nb、Si、BiおよびHf
のうちから選択される1種または2種以上の元素で、か
つその原子組成比は30≦x≦75、0≦y≦10であ
り、膜厚が500Å以下で、1mV/mA以上の飽和ホ
ール電圧を有する合金からなることを特徴とする強磁性
ホール素子に関する。
る。第1発明は、一般式Fe100−x−yPtxMy
で表され、Mは非磁性元素Nb、Si、BiおよびHf
のうちから選択される1種または2種以上の元素で、か
つその原子組成比は30≦x≦75、0≦y≦10であ
り、膜厚が500Å以下で、1mV/mA以上の飽和ホ
ール電圧を有する合金からなることを特徴とする強磁性
ホール素子に関する。
【0013】第2発明は、一般式Fe100−x−yP
txMyで表され、Mは非磁性元素Nb、Si、Biお
よびHfのうちから選択される1種または2種以上の元
素で、かつその原子組成比は30≦x≦75、0≦y≦
10である合金と絶縁物とのナノグラニュラー構造から
なり、膜厚が500Å以下で、1mV/mA以上の飽和
ホール電圧を有することを特徴とする強磁性ホール素子
に関する。
txMyで表され、Mは非磁性元素Nb、Si、Biお
よびHfのうちから選択される1種または2種以上の元
素で、かつその原子組成比は30≦x≦75、0≦y≦
10である合金と絶縁物とのナノグラニュラー構造から
なり、膜厚が500Å以下で、1mV/mA以上の飽和
ホール電圧を有することを特徴とする強磁性ホール素子
に関する。
【0014】第3発明は、単結晶基板上、あるいは最初
に下地層を積層させた多結晶基板上に成長させて結晶配
向を制御し、垂直磁化膜としたことを特徴とする請求項
1あるいは2に記載の強磁性ホール素子に関する。
に下地層を積層させた多結晶基板上に成長させて結晶配
向を制御し、垂直磁化膜としたことを特徴とする請求項
1あるいは2に記載の強磁性ホール素子に関する。
【0015】第4発明は、請求項1ないし3のいずれか
1項に記載の強磁性ホール素子からなる磁気センサに関
する。
1項に記載の強磁性ホール素子からなる磁気センサに関
する。
【0016】第5発明は、請求項1ないし3のいずれか
1項に記載の強磁性ホール素子からなる固体素子メモリ
に関する。
1項に記載の強磁性ホール素子からなる固体素子メモリ
に関する。
【0017】
【作用】以上述べたように異常ホール効果を利用した素
子としてFe−Pt合金薄膜を超薄膜化してやれば、最
大で数百mVの出力電圧と同時に表面異方性による垂直
磁気異方性の誘起が観測され磁場感度上昇が図れる。ま
た、Nb、Siなどの非磁性元素を添加することで飽和
磁化の値を減少させ、反磁場の影響を低減させることで
垂直磁場感度を向上させることができる。このような元
素添加によって同時に若干のホール抵抗率の増強も図る
ことができる。
子としてFe−Pt合金薄膜を超薄膜化してやれば、最
大で数百mVの出力電圧と同時に表面異方性による垂直
磁気異方性の誘起が観測され磁場感度上昇が図れる。ま
た、Nb、Siなどの非磁性元素を添加することで飽和
磁化の値を減少させ、反磁場の影響を低減させることで
垂直磁場感度を向上させることができる。このような元
素添加によって同時に若干のホール抵抗率の増強も図る
ことができる。
【0018】さらにホール抵抗率の値を上昇させる方法
として、酸化物などの絶縁物との複合材料化(グラニュ
ラー化)があげられる。絶縁物とのグラニュラー化によ
って抵抗率の上昇とともに異常ホール効果の発生機構で
ある非対称散乱が増加するものと考えられ、ホール抵抗
率の増強がなされる。
として、酸化物などの絶縁物との複合材料化(グラニュ
ラー化)があげられる。絶縁物とのグラニュラー化によ
って抵抗率の上昇とともに異常ホール効果の発生機構で
ある非対称散乱が増加するものと考えられ、ホール抵抗
率の増強がなされる。
【0019】Fe−Pt薄膜はMgOなどの単結晶基板
上に容易にエピタキシャル成長し、c軸配向した垂直磁
化膜が得られ、固体素子メモリなどの用途に適する。ま
た、ガラスなどの多結晶基板上においても、Cr(10
0)/MgO層など下地膜を挿入することでc軸が優先
配向した膜が得られる。
上に容易にエピタキシャル成長し、c軸配向した垂直磁
化膜が得られ、固体素子メモリなどの用途に適する。ま
た、ガラスなどの多結晶基板上においても、Cr(10
0)/MgO層など下地膜を挿入することでc軸が優先
配向した膜が得られる。
【0020】
【実施例】以下に図面を参照して本発明の実施例を詳細
に説明する。 〔実施例1〕 Fe−Pt超薄膜のホール特性 Fe−Pt薄膜はイオンビームスパッタ装置を用いてガ
ラス基板上に成膜を行った。最終到達真空度は3x10
−7Torr以下で、イオンビーム加速電圧は500V
である。Fe−Pt薄膜のホール抵抗率は60at%P
t付近で最大を示すため、この組成における超薄膜化の
ホール効果に及ぼす影響を示す。図1に電子線リソグラ
フィ法によって作製した代表的なFe−Ptホール素子
の走査電子顕微鏡像を示す。素子パターン幅が、サブミ
クロンオーダーのサイズまで作製可能である。零磁場で
の電圧オフセットを補償するため5端子としているが、
単純な十字型パターンでの利用も可能である。固体素子
メモリとしての利用のためには、さらにこの素子パター
ン上に磁化反転のための磁場を発生させるラインパター
ンが加わる。
に説明する。 〔実施例1〕 Fe−Pt超薄膜のホール特性 Fe−Pt薄膜はイオンビームスパッタ装置を用いてガ
ラス基板上に成膜を行った。最終到達真空度は3x10
−7Torr以下で、イオンビーム加速電圧は500V
である。Fe−Pt薄膜のホール抵抗率は60at%P
t付近で最大を示すため、この組成における超薄膜化の
ホール効果に及ぼす影響を示す。図1に電子線リソグラ
フィ法によって作製した代表的なFe−Ptホール素子
の走査電子顕微鏡像を示す。素子パターン幅が、サブミ
クロンオーダーのサイズまで作製可能である。零磁場で
の電圧オフセットを補償するため5端子としているが、
単純な十字型パターンでの利用も可能である。固体素子
メモリとしての利用のためには、さらにこの素子パター
ン上に磁化反転のための磁場を発生させるラインパター
ンが加わる。
【0021】図2にFe−Pt薄膜ホール素子のホール
電圧と飽和磁場の膜厚依存性を示す。膜厚の減少ととも
にホール電圧の増加が見られ、最大で100mV以上の
値が得られている。同時に磁場感度向上を意味する飽和
磁場の減少が観測されていることがわかる。図3にFe
−Pt薄膜ホール素子の出力電圧と印加電流の関係を示
す。最大で500mV近くのホール電圧が得られている
ことがわかる。
電圧と飽和磁場の膜厚依存性を示す。膜厚の減少ととも
にホール電圧の増加が見られ、最大で100mV以上の
値が得られている。同時に磁場感度向上を意味する飽和
磁場の減少が観測されていることがわかる。図3にFe
−Pt薄膜ホール素子の出力電圧と印加電流の関係を示
す。最大で500mV近くのホール電圧が得られている
ことがわかる。
【0022】図4にFe−Ptエピタキシャル薄膜ホー
ル素子のX線回折パターンとホールループを示す。図に
見られるように、ほぼ完全にc軸配向しており、角型性
が良好なホールループが得られているため、垂直磁化を
利用して記録する固体素子メモリに適していることがわ
かる。非磁性元素を添加したFe−Pt薄膜のホール電
圧および飽和磁場の値をまとめて、表1に示す。
ル素子のX線回折パターンとホールループを示す。図に
見られるように、ほぼ完全にc軸配向しており、角型性
が良好なホールループが得られているため、垂直磁化を
利用して記録する固体素子メモリに適していることがわ
かる。非磁性元素を添加したFe−Pt薄膜のホール電
圧および飽和磁場の値をまとめて、表1に示す。
【0023】
【表1】
【0024】〔実施例2〕 グラニュラーFe−Pt薄
膜 Fe−Ptグラニュラー薄膜は、2元イオンビームスパ
ッタ装置を用いてガラス基板上に作製を行った。最終到
達真空度は3x10−7Torr以下で、イオンビーム
加速電圧は500Vである。ターゲットは、Fe−Pt
用複合ターゲットとAl,Mgなどのマトリックス用タ
ーゲットを使用した。マトリックスは酸化物、窒化物、
フッ化物であるため、真空チャンバ内に酸素、窒素、フ
ッ素を導入しながら、成膜を行った。複数のマトリック
スをベースとしたFe−Ptグラニュラー薄膜素子のホ
ール特性をまとめて表2に示す。ここで、Fe−Ptグ
ラニュールの全体に対する原子組成比は約50%であ
る。
膜 Fe−Ptグラニュラー薄膜は、2元イオンビームスパ
ッタ装置を用いてガラス基板上に作製を行った。最終到
達真空度は3x10−7Torr以下で、イオンビーム
加速電圧は500Vである。ターゲットは、Fe−Pt
用複合ターゲットとAl,Mgなどのマトリックス用タ
ーゲットを使用した。マトリックスは酸化物、窒化物、
フッ化物であるため、真空チャンバ内に酸素、窒素、フ
ッ素を導入しながら、成膜を行った。複数のマトリック
スをベースとしたFe−Ptグラニュラー薄膜素子のホ
ール特性をまとめて表2に示す。ここで、Fe−Ptグ
ラニュールの全体に対する原子組成比は約50%であ
る。
【0025】
【表2】
【0026】
【発明の効果】本発明は、Fe−Pt合金薄膜およびF
e−Pt合金グラニュラー薄膜を用いた強磁性ホール素
子に関するものである。Fe−Pt合金は磁性金属合金
のなかでも最も大きなホール効果を示すが、さらに非磁
性元素を添加することにより、磁場感度向上とホール抵
抗率の増強も図ることができる。また、その超薄膜化に
より出力電圧向上と磁場感度向上も達成され、半導体ホ
ール素子と同等以上の出力電圧を発生させることができ
る。絶縁物とのグラニュラー組織化によっても、さらに
本質的なホール効果の大きさを増強させることができ、
出力を向上させることができる。エピタキシャル成長に
よって作製したc軸配向Fe−Pt薄膜は、固体素子メ
モリに適した垂直磁化ホール素子となる。以上のような
手法により、Fe−Pt薄膜ホール素子の出力電圧と磁
場感度向上を図ることにより、磁場感度に優れた磁気セ
ンサおよび固体素子メモリに適した強磁性ホール素子を
提供することができる。
e−Pt合金グラニュラー薄膜を用いた強磁性ホール素
子に関するものである。Fe−Pt合金は磁性金属合金
のなかでも最も大きなホール効果を示すが、さらに非磁
性元素を添加することにより、磁場感度向上とホール抵
抗率の増強も図ることができる。また、その超薄膜化に
より出力電圧向上と磁場感度向上も達成され、半導体ホ
ール素子と同等以上の出力電圧を発生させることができ
る。絶縁物とのグラニュラー組織化によっても、さらに
本質的なホール効果の大きさを増強させることができ、
出力を向上させることができる。エピタキシャル成長に
よって作製したc軸配向Fe−Pt薄膜は、固体素子メ
モリに適した垂直磁化ホール素子となる。以上のような
手法により、Fe−Pt薄膜ホール素子の出力電圧と磁
場感度向上を図ることにより、磁場感度に優れた磁気セ
ンサおよび固体素子メモリに適した強磁性ホール素子を
提供することができる。
【図1】Fe35.7Pt56.8Si7.5薄膜ホー
ル素子の走査電子顕微鏡像。
ル素子の走査電子顕微鏡像。
【図2】Fe40Pt60薄膜ホール素子のホール電圧
VHおよび垂直磁化の飽和磁場Hkの膜厚依存性を示す
特性図である。
VHおよび垂直磁化の飽和磁場Hkの膜厚依存性を示す
特性図である。
【図3】Fe40Pt60薄膜ホール素子のホール電圧
VHと印加電流iの関係を示す特性図である。
VHと印加電流iの関係を示す特性図である。
【図4】Fe40Pt60エピタキシャル薄膜ホール素
子(膜厚200Å)のX線回折パターンとホールループ
を示す特性図である。
子(膜厚200Å)のX線回折パターンとホールループ
を示す特性図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 一般式Fe100−x−yPtxMyで
表され、Mは非磁性元素Nb、Si、BiおよびHfの
うちから選択される1種または2種以上の元素で、かつ
その原子組成比は30≦x≦75、0≦y≦10であ
り、膜厚が500Å以下で、1mV/mA以上の飽和ホ
ール電圧を有する合金からなることを特徴とする強磁性
ホール素子。 - 【請求項2】 一般式Fe100−x−yPtxMyで
表され、Mは非磁性元素Nb、Si、BiおよびHfの
うちから選択される1種または2種以上の元素で、かつ
その原子組成比は30≦x≦75、0≦y≦10である
合金と絶縁物とのナノグラニュラー構造からなり、膜厚
が500Å以下で、1mV/mA以上の飽和ホール電圧
を有することを特徴とする強磁性ホール素子。 - 【請求項3】 単結晶基板上、あるいは最初に下地層を
積層させた多結晶基板上に成長させて結晶配向を制御
し、垂直磁化膜としたことを特徴とする請求項1あるい
は2に記載の強磁性ホール素子。 - 【請求項4】請求項1ないし3のいずれか1項に記載の
強磁性ホール素子からなる磁気センサ。 - 【請求項5】請求項1ないし3のいずれか1項に記載の
強磁性ホール素子からなる固体素子メモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31576599A JP2001102656A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | 強磁性ホール素子 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31576599A JP2001102656A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | 強磁性ホール素子 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001102656A true JP2001102656A (ja) | 2001-04-13 |
Family
ID=18069285
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31576599A Withdrawn JP2001102656A (ja) | 1999-09-30 | 1999-09-30 | 強磁性ホール素子 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001102656A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002099905A1 (fr) * | 2001-05-31 | 2002-12-12 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Element de magnetoresistance tunnel |
CN100555698C (zh) * | 2006-11-24 | 2009-10-28 | 中国科学院物理研究所 | 一种金属多层膜霍尔器件及其制备方法 |
CN102447055A (zh) * | 2010-10-09 | 2012-05-09 | 中国科学院物理研究所 | 一种磁性金属薄膜型霍尔器件及其制备方法 |
WO2020040264A1 (ja) | 2018-08-24 | 2020-02-27 | 国立大学法人東北大学 | ホール素子 |
JP2022510249A (ja) * | 2018-11-30 | 2022-01-26 | 世宗大学校産学協力団 | 異常ホール効果を利用する磁気センサ、ホールセンサおよびホールセンサの製造方法 |
-
1999
- 1999-09-30 JP JP31576599A patent/JP2001102656A/ja not_active Withdrawn
Cited By (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002099905A1 (fr) * | 2001-05-31 | 2002-12-12 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Element de magnetoresistance tunnel |
US7220498B2 (en) | 2001-05-31 | 2007-05-22 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Tunnel magnetoresistance element |
KR100886602B1 (ko) * | 2001-05-31 | 2009-03-05 | 도꾸리쯔교세이호진 상교기쥬쯔 소고겡뀨죠 | 터널자기저항소자 |
US7514160B2 (en) | 2001-05-31 | 2009-04-07 | National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology | Tunnel magnetoresistance element having a double underlayer of amorphous MgO and crystalline MgO(001) |
CN100555698C (zh) * | 2006-11-24 | 2009-10-28 | 中国科学院物理研究所 | 一种金属多层膜霍尔器件及其制备方法 |
CN102447055A (zh) * | 2010-10-09 | 2012-05-09 | 中国科学院物理研究所 | 一种磁性金属薄膜型霍尔器件及其制备方法 |
WO2020040264A1 (ja) | 2018-08-24 | 2020-02-27 | 国立大学法人東北大学 | ホール素子 |
JPWO2020040264A1 (ja) * | 2018-08-24 | 2021-09-16 | 国立大学法人東北大学 | ホール素子 |
US11543468B2 (en) | 2018-08-24 | 2023-01-03 | Tohoku University | Hall element |
JP7461651B2 (ja) | 2018-08-24 | 2024-04-04 | 国立大学法人東北大学 | ホール素子 |
JP2022510249A (ja) * | 2018-11-30 | 2022-01-26 | 世宗大学校産学協力団 | 異常ホール効果を利用する磁気センサ、ホールセンサおよびホールセンサの製造方法 |
JP7207671B2 (ja) | 2018-11-30 | 2023-01-18 | 世宗大学校産学協力団 | 異常ホール効果を利用する磁気センサ、ホールセンサおよびホールセンサの製造方法 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20061205 |