JP2001091125A - ケース冷却系の故障原因推定装置 - Google Patents

ケース冷却系の故障原因推定装置

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JP2001091125A
JP2001091125A JP27341299A JP27341299A JP2001091125A JP 2001091125 A JP2001091125 A JP 2001091125A JP 27341299 A JP27341299 A JP 27341299A JP 27341299 A JP27341299 A JP 27341299A JP 2001091125 A JP2001091125 A JP 2001091125A
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Yoshio Ozawa
芳男 小澤
Takeshi Aoki
健 青木
Hiroyuki Kurihara
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数台のショーケースが冷媒配管を介して冷
媒供給源に接続されているケース冷却系を対象として、
故障発生時に、その故障の原因を推定する。 【解決手段】 本発明に係る故障原因推定装置は、各シ
ョーケース3について霜取りヒータに対する通電時間を
計測するためのタイマ7と、各ショーケース3について
ヒータ通電最長時間が予め設定されている霜取り運転制
御設定部61と、計測された通電時間が通電最長時間を越
えたかどうかの判断結果を過去複数回に亘って記録する
ための霜取り判定結果記録部62とを具え、CPU5は、
霜取り判定結果記録部62に記録されている情報に基づい
て、蒸発器における着霜を故障の原因として推定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、スーパーマーケッ
トやコンビニエンスストア等の店舗に設置される低温シ
ョーケースの如く、冷却対象の物品を収容すべき複数台
のケースからなるケース冷却系において、故障が発生
し、若しくは故障の発生が予測されたときに、その故障
の原因を推定する装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、スーパーマーケットやコンビニエ
ンスストアに設置されている食品保存・陳列用の低温シ
ョーケースは、冷媒との熱交換により冷却した空気を庫
内に循環させて、庫内の空気温度を周辺の空気温度より
も下げることによって、食品を保存するものであり(特
公平7-1135号、特公平7-6713号等)、店舗の規模に応じ
て数台〜数十台が設置される。
【0003】低温ショーケースにおいて、その目標とな
る設定温度は、陳列の対象とする食品により異なり、例
えば、陳列する食品が冷凍食品の場合には−20℃程度
の冷凍温度に、肉や魚などの生鮮食品の場合には−3℃
〜0℃の氷温に、更に、野菜等の場合には+5℃〜+1
0℃程度の比較的高い温度に目標値が設定される。
【0004】又、低温ショーケース自体の構造も、上下
複数段の棚が架設された多段型ケースや、底部に複数の
トレイを並設した平型ケース等、複数の種類が存在す
る。従って、一店舗内には多種類の低温ショーケースが
設置されることになる。そして、これらの低温ショーケ
ースは、複数台が1台の冷凍機に接続されている。冷凍
機は圧縮機や凝縮器等から構成され、各低温ショーケー
スに設置した蒸発器を、冷媒配管を介して圧縮機に並列
接続して、冷凍サイクルを構成している。従って、店舗
の規模が大きくなってショーケースの台数が増えると、
ショーケースと冷凍機の組み合わせも多数存在すること
になる。
【0005】このような低温ショーケースが何らかの原
因で故障して、庫内の食品を適切な温度で保存出来なく
なると、食品の品質が劣化して、販売に供することが出
来なくなり、店舗に多大な損害が生じる。従って、ショ
ーケースや冷凍機の故障発生を早期に発見することは、
これによって食品の一時待避や機器の修理を迅速に行な
うことが可能となるため、食品の品質維持の点から極め
て重要である。
【0006】そこで、ショーケースの故障を早期に検出
し、或いは故障を予測することが可能な運転状態管理装
置が提案されている(特開平10−238920号)。該
装置は、過去の運転状態に関するデータ(運転状態デー
タ)を運転条件毎に分類して保存することにより、過去
の運転状態に関するデータベースを構築し、現在の運転
状態データと、同一の運転条件におけるデータベース内
の過去の運転状態データとを比較することによって、故
障の発生を予測し、或いは早期に故障を発見するもので
ある。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の如き
ケース冷却系の故障の原因としては、まず蒸発器の着霜
が考えられる。これは、蒸発器内部に設けられた冷媒配
管が霜によって覆われ、この結果、蒸発器における熱交
換効率が低下する故障である。通常は、蒸発器に多少の
霜が付着したとしても、定期的に行なわれる霜取り運転
によって霜は除去されるので、熱交換効率は殆ど低下し
ない。しかし、霜の発生量が増大する等、何らかの原因
で、1回の霜取り運転では霜を完全に除去することが出
来なくなり、その状況が続くと、次第に霜の付着量が増
加していくこととなり、その結果、熱交換効率に大きな
低下が生じる。
【0008】又、その他の故障の原因として、冷媒配管
からの冷媒漏れが考えられる。これは、配管の接続部等
におけるシール状態が何らかの原因で不良となり、冷媒
が配管から漏出することによって、ショーケースに供給
される冷媒量が減少して、結果として熱交換効率が低下
するものである。
【0009】しかしながら、ショーケースの故障検出を
可能とした従来の運転状態管理装置では、上述の如き故
障原因を推定することは出来なかった。故障検出と同時
に、その故障原因を特定することが出来れば、迅速且つ
適切なメンテナンスを行なうことが出来、これによって
故障を未然に防止することが可能となる。
【0010】そこで本発明の目的は、上述の如きケース
冷却系に故障が発生し、若しくは故障の発生が予測され
たときに、その故障の原因を推定することが可能な装置
を提供することである。
【0011】
【課題を解決する為の手段】本発明に係るケース冷却系
の第1の故障原因推定装置は、各ケースについて、霜取
り運転における霜取りヒータに対する通電時間を計測す
る通電時間計測手段と、前記計測された通電時間が所定
の通電最長時間に達したかどうかを判断する判断手段
と、判断手段による過去複数回分の判断結果を更新しつ
つ記憶するメモリ手段と、メモリ手段に記憶されている
判断結果に基づいて、蒸発器における着霜を故障の原因
として推定する故障原因推定手段とを具えている。
【0012】上記本発明の第1の故障原因推定装置が故
障原因推定の対象とするケース冷却系においては、冷媒
供給源から冷媒配管を経て各ケースの蒸発器へ冷媒を供
給する冷却運転と、霜取りヒータに通電して蒸発器に付
着した霜を除去する霜取り運転とが行なわれる。ここ
で、所定の霜取り運転開始時刻になると、冷却運転が中
止されると同時にヒータが通電されて、霜取り運転が開
始される。これによって、ケース内の温度が上昇するの
で、その温度が所定値に達した時点で、ヒータへの通電
が停止される。その後、冷却運転が再開される。
【0013】霜取り運転においては、蒸発器における霜
の付着量が多いほど霜の除去に時間がかかるので、ケー
ス内の温度が前記所定値に達するまでに時間がかかり、
結果としてヒータ通電時間が長くなる。但し、ヒータ通
電時間にはケース毎に最長時間が予め設定されており、
霜取り運転開始後、ヒータ通電時間が通電最長時間に達
したとき、ケース内の温度が所定値に達していなくて
も、ヒータに対する通電は停止される。従って、ヒータ
通電時間が通電最長時間に達した場合は、蒸発器に多量
の霜が付着しており、これが原因で熱交換効率の低下を
来たすものと考えることが出来る。
【0014】そこで、上記本発明の第1の故障原因推定
装置においては、各ケースについて、霜取り運転におけ
るヒータ通電時間を計測し、この計測値が所定の通電最
長時間に達したかどうかを判断し、所定の通電最長時間
に達する事態が最近の複数回の霜取り運転で発生した場
合は、蒸発器における着霜を故障の原因として推定する
のである。
【0015】本発明に係る第2の故障原因推定装置は、
ケース内の空気温度と、ケース外の空気温度と、霜取り
ヒータに対する通電時間とを計測する計測手段と、冷却
運転中におけるケース外空気温度の計測データに基づい
て、霜の付着量に関係する霜付着量データを算出する手
段と、霜取り運転開始時のケース内空気温度と、当該霜
取り運転の前の冷却運転における霜付着量データとをパ
ラメータとして、当該霜取り運転における霜取りヒータ
通電時間を記憶するメモリ手段と、霜取りヒータ通電時
間の計測データが、メモリ手段に記憶されている同一の
ケース内空気温度及び霜付着量データに対する霜取りヒ
ータ通電時間よりも長くなったかどうかを判断する判断
手段と、判断手段による過去複数回分の判断結果を更新
しつつ記憶する第2メモリ手段と、第2メモリ手段に記
憶されている判断結果に基づいて、蒸発器における着霜
を故障の原因として推定する故障原因推定手段とを具え
ている。
【0016】霜取り運転においては、霜取り運転開始時
の霜の付着量が同じであれば、ヒータの通電時間は略同
じになると考えられる。従って、ヒータ通電時間が従来
よりも長くなった場合には、霜の付着量が増加したもの
と推定することが出来る。但し、霜の付着量は、当該霜
取り運転開始前の冷却運転における熱負荷と、ヒータ通
電開始時のケース内の温度によって左右されるので、推
定にはこれらの値を考慮する必要がある。
【0017】そこで、上記本発明の第2の故障原因推定
装置においては、ケース内空気温度と、ケース外空気温
度と、霜取りヒータに対する通電時間とを計測し、冷却
運転中におけるケース外空気温度の計測データに基づい
て、霜の付着量に関係する霜付着量データを算出する。
ここで、霜の付着量を左右する冷却運転の熱負荷は、冷
却運転中における空気エンタルピの平均値で表わすこと
が出来るので、霜付着量データとして、冷却運転中にお
ける空気エンタルピの平均値を採用することが出来る。
【0018】従って、霜取り運転開始時のケース内空気
温度と霜付着量データとをパラメータとして、霜取り運
転におけるヒータ通電時間を蓄積することにより、ケー
ス内空気温度と霜付着量データによって決まる霜の付着
量と、過去のヒータ通電時間との関係を、データベース
化することが出来る。そして、ヒータ通電時間の計測値
が同一のケース内空気温度及び霜付着量データに対する
過去のヒータ通電時間よりも長くなったかどうかを判断
し、ヒータ通電時間の計測値が過去のヒータ通電時間を
越える事態が、最近の複数回の霜取り運転で発生した場
合に、蒸発器における着霜を故障の原因として推定する
のである。
【0019】本発明に係る第3の故障原因推定装置は、
冷媒供給源と複数のケースとの間の冷媒配管による接続
状態に関する情報が格納されている第1メモリ手段と、
各ケースについて、過去における故障の発生、若しくは
故障発生の予測結果が格納されている第2メモリ手段
と、何れかのケースについて故障が発生し、若しくは故
障の発生が予測されたとき、第1メモリ手段の情報に基
づいて、当該ケースと共通の冷媒配管に接続されている
他のケースを特定し、第2メモリ手段の情報から、当該
他のケースについても故障が発生し、若しくは故障の発
生が予測されていると判断される場合に、冷媒配管の不
良を故障の原因として推定する故障原因推定手段とを具
えている。更に、何れかのケースについて故障が発生
し、若しくは故障の発生が予測されたとき、第1メモリ
手段の情報に基づいて、冷媒配管の不良箇所を推定する
手段を具えることが出来る。
【0020】冷媒配管からの冷媒漏れが原因で冷却能力
が低下して、故障が生じる場合には、配管系を共通とす
る同一グループ内の他のケースにおいても、該冷媒漏れ
による冷媒不足のため、冷却能力に低下が生じる可能性
が高い。従って、配管系を共通とする同一グループ内に
おいて、2台以上のケースで故障が検出された場合は、
冷媒配管の異常を故障原因として推定することが出来
る。又、冷媒配管の接続状態に関する情報から、冷媒配
管の不良箇所を特定することが出来る。
【0021】
【発明の効果】本発明に係る故障原因推定装置によれ
ば、ケース冷却系に故障が発生し、若しくは故障の発生
が予測されたとき、その故障の原因を推定することが出
来る。
【0022】
【発明の実施の形態】以下、本発明を低温ショーケース
の冷却系に実施した形態につき、図面に沿って具体的に
説明する。
【0023】ケース冷却系の構成及び動作 図1に示す如く、店舗内には11台のショーケース(3)
が配備されており、この内、No.1〜No.3の3台の
ショーケース(3)(3)(3)が冷媒供給配管A及び冷媒戻
り配管Aを介してNo.1のコンデンシングユニット
(1)に接続され、No.4〜No.6の3台のショーケー
ス(3)(3)(3)が冷媒供給配管B及び冷媒戻り配管Bを
介してNo.1のコンデンシングユニット(1)に接続さ
れている。又、No.7及びNo.8の2台のショーケー
ス(3)(3)が冷媒供給配管C及び冷媒戻り配管Cを介し
てNo.2のコンデンシングユニット(2)に接続され、
No.9〜No.11の3台のショーケース(3)(3)(3)
が冷媒供給配管D及び冷媒戻り配管Dを介してNo.2
のコンデンシングユニット(2)に接続されている。尚、
コンデンシングユニット(1)(2)はそれぞれ圧縮機と凝
縮器を具え、各ショーケース(3)に蒸発器(図示省略)が
配備されている。
【0024】冷却運転においては、コンデンシングユニ
ット(1)から、冷媒供給配管Aを経て、第1のグレープ
となるNo.1〜No.3の3台のショーケース(3)(3)
(3)へ冷媒が供給されると同時に、冷媒供給管Bを経
て、第2のグループとなるNo.4〜No.6の3台のシ
ョーケース(3)(3)(3)へ冷媒が供給される。又、コン
デンシングユニット(2)から、冷媒供給配管Cを経て、
第3のグループとなるNo.7及びNo.8の2台のショ
ーケース(3)(3)へ冷媒が供給されると同時に、冷媒供
給管Dを経て、第4のグループとなるNo.9〜No.1
1の3台のショーケース(3)(3)(3)へ冷媒が供給され
る。又、各グループのショーケース(3)から夫々の冷媒
戻り配管を経て、夫々のコンデンシングユニット(1)
(2)へ冷媒が戻ることになる。
【0025】この様に、コンデンシングユニット(1)
(2)と各ショーケース(3)の間で冷媒が循環することに
よって、各ショーケース(3)の内部が冷却されるのであ
る。尚、各ショーケース(3)の蒸発器の入口には、冷媒
の供給をON/OFFするための遮断弁(図示省略)が取
り付けられており、該遮断弁のON/OFF制御によっ
て、ショーケース(3)の内部温度が目標温度範囲に維持
される。
【0026】上述の冷却運転によって各ショーケース
(3)の蒸発器に霜が付着すると、蒸発器の熱交換効率が
低下するため、各ショーケース(3)に配備した霜取りヒ
ータ(図示省略)に定期的に、例えば24時間毎に通電し
て、霜を溶解除去することが行なわれる。
【0027】一般に、ショーケースの霜取り運転は以下
の手順で行なわれる。尚、同じ配管に接続された同一グ
ループのショーケース(3)は全て同時に霜取り運転が開
始される。図2に示す如く所定の霜取り運転開始時刻に
なると、遮断弁が閉じて各ショーケース(3)への冷媒の
流入が遮断され、冷却運転が中止される。但し、ファン
によって蒸発器内部に風を送り込む動作は継続される。
そして、冷却運転の中止と同時に、霜取りヒータが通電
される。
【0028】その後、ヒータの加熱によって、ショーケ
ース内の温度が上昇し、冷気吹き出し口における温度
(庫内制御温度)が上昇するので、その温度が所定値に達
した時点で、ヒータに対する通電を停止する。そして、
霜が溶けて生成された水を蒸発させるための短い待機時
間(水切り時間)を経た後、遮断弁を開くことによって、
同じ配管グループのすべてのショーケースに対して同時
に冷媒が供給され、冷却運転が再開される。霜取り運転
終了後、庫内制御温度は冷却運転の再開によって徐々に
下降し、所定温度まで低下した後は、電磁弁のON/O
FF制御によって、庫内制御温度が目標温度範囲内に維
持される。
【0029】上記の如きケース冷却系を対象として故障
の検出及び故障原因の推定を行なう場合、ショーケース
毎に個別の故障原因推定装置を搭載することも可能であ
るが、本実施例では、店内に設置された全てのショーケ
ースの運転データを収集・分析する監視システムに後述
の故障原因推定のためのソフトウェアを搭載して、故障
原因推定装置を構成し、各ショーケースの故障の検出及
び故障原因の推定を行なう。
【0030】故障原因推定装置の第1の構成 図1に示す如きケース冷却系においては、蒸発器におけ
る霜の付着量が多いほど、霜を溶解させるのに長い時間
がかかるので、冷気吹き出し口における庫内制御温度が
所定温度に達する時期が遅くなり、結果としてヒータ通
電時間が長くなる。但し、同時に霜取り運転を行なう他
ケースとの関係から、霜取り運転の時間を無制限に長く
することは出来ないので、ヒータ通電時間には、ショー
ケース毎に通電最長時間が設定されている。
【0031】このため、霜取り運転開始後、ヒータ通電
時間が通電最長時間を経過した場合は、庫内制御温度が
所定値に達していなくても、霜取りヒータに対する通電
が停止される。従って、熱交換効率が低下して故障状態
に至るほどの霜が付着している場合には、ヒータ通電時
間が最長時間になる可能性が高い。
【0032】そこで、ヒータ通電最長時間を用いて、蒸
発器の着霜を故障原因と推定するべく、図3に示す如き
情報処理装置(4)を構成する。尚、情報処理装置(4)
は、後述の故障検出用ソフトウェアを搭載したパーソナ
ルコンピュータによって構成されている。情報処理装置
(4)のCPU(5)は、店内の各ショーケース(3)から個
々の霜取り制御信号を取り込み、ショーケースが霜取り
運転中であるか、冷却運転中であるかを判別する。霜取
り運転中の場合には更に、各ショーケース(3)からヒー
タ制御信号を取り込み、ヒータが通電中であるか否かを
把握する。そして、内蔵せるタイマ(7)を用いて、霜取
り運転中における通電開始から通電停止までのヒータ通
電時間を算出する。
【0033】又、ショーケース(3)毎に設定されたヒー
タ通電最長時間が、予めメモリ(6)の霜取り運転制御設
定部(61)に格納されている。尚、図3においては、メモ
リ内部の構造を、No.1のショーケース(3)について
のみ図示しているが、実際には同様のデータ格納構造が
ショーケースの数だけ存在することになる。
【0034】霜取り運転においては、CPU(5)によっ
て、ヒータ通電時間が通電最長時間に達したかどうかが
判断され、その判断結果がメモリ(6)の霜取り判定結果
記録部(62)に格納される。尚、霜取り判定結果記録部(6
2)には、過去の4回分の判定結果を書き込むためのアド
レスが用意されており、判定結果の書込みにおいては、
最も古いデータを消去した上で最新のデータを書き込む
ことによって、常に最新の4回分の判断結果を保持する
様にする。
【0035】そして、何れかのショーケース(3)につい
て故障が発見された場合、該ショーケース(3)について
の霜取り判定結果記録部(62)に例えば2回以上に亘っ
て、ヒータ通電時間がヒータ通電最長時間を越えた旨の
判定結果が書き込まれているときは、蒸発器に多量の霜
が付着していることが故障の原因であると推定するので
ある。
【0036】故障原因推定装置の第2の構成 上述の如きケース冷却系においては、霜取り運転開始時
における霜の付着量が同じであれば、ヒータの通電時間
は略同じになると考えられる。従って、ヒータ通電時間
が従来よりも長くなった場合には、霜の付着量が増加し
たものと推定することが出来る。但し、霜の付着量は、
霜取り運転を開始する前の冷却運転における熱負荷と、
ヒータ通電を開始した際の庫内制御温度とが関係するの
で、これらの値を考慮して、故障原因の推定を行なう必
要がある。
【0037】そこで、冷却運転中における熱負荷条件と
ヒータ通電時間などを用いて、蒸発器の着霜を故障原因
と推定するべく、図4に示す情報処理装置(4)を構成す
る。情報処理装置(4)のCPU(5)は、各ショーケース
(3)から霜取り制御信号とヒータ制御信号を取り込ん
で、内蔵せるタイマ(7)によって、霜取り運転中におけ
るヒータ通電時間を算出する。
【0038】ところで、霜取り運転開始時における霜の
付着量は、前回の霜取り運転終了から今回の霜取り運転
開始までの冷却運転期間における熱負荷量に依存する。
この熱負荷の主なものとしては、ショーケース周辺の気
温と湿度が挙げられる。そこで、各ショーケース(3)の
周辺に温度センサ(32)と湿度センサ(33)を設置し、これ
らのセンサから情報処理装置(4)に気温データと湿度デ
ータを取り込むようにする。又、各ショーケース(3)の
冷気吹き出し口に温度センサ(31)を設置して、該温度セ
ンサ(31)から情報処理装置(4)に、霜取り運転開始時に
おける庫内制御温度を取り込むようにする。
【0039】情報処理装置(4)のCPU(5)は、温度セ
ンサ(32)及び湿度センサ(33)による測定データから、冷
却運転期間における気温と湿度の平均値を算出する。
尚、気温と湿度の測定は、各ショーケース(3)に設置し
たセンサーによって行なう構成に限らず、店内の適当な
1箇所に設置したセンサーによって行なうことも可能で
ある。
【0040】霜取り運転開始時における霜の付着量は、
上記の様にして算出された気温平均値と湿度平均値から
求まる空気エンタルピの平均値に略依存する。但し、そ
の依存特性は機種や設置環境条件などによって、店内の
ショーケース毎に異なるので、個別に把握する必要があ
る。
【0041】霜取り運転中におけるヒータ通電時間は、
霜の付着量と霜取り運転開始時の庫内制御温度に依存す
るが、上述の如くヒータ通電時間と庫内制御温度は直接
に測定し、霜の付着量は冷却運転中における空気エンタ
ルピの平均値で代用することとして、これら3者のデー
タの依存関係を把握する。即ち、情報処理装置(4)のメ
モリ(6)に霜取り運転情報記録部(63)を設け、平均空気
エンタルピと庫内制御温度をパラメータとして通電時間
の測定値を記録する。具体的には、予めメモリ(6)内
に、平均空気エンタルピと庫内制御温度の測定値により
異なる複数の書込みエリアを確保しておき、通電時間の
測定値を所定の書き込みエリアに記録する。尚、図4で
は、メモリ内部の構造をNo.1のショーケース(3)に
ついてのみ図示しているが、実際には同様のデータ格納
構造が店内のショーケースの数だけ存在することにな
る。
【0042】上記3者のデータの関係は、ショーケース
が正常な期間には基本的に変化しないので、一旦記録し
たデータについては更新の必要はないが、冷却運転及び
霜取り運転の繰り返しによって、様々な値の庫内制御温
度と平均空気エンタルピが測定されるので、図4に示す
霜取り運転情報記録部(63)の複数の書込みエリアには、
ヒータ通電時間の測定値が次第に記録されていくことに
なる。
【0043】ある霜取り運転について庫内制御温度と平
均空気エンタルピの測定値に対応する書込みエリアに、
新たに測定されたヒータ通電時間を記録する際、その書
込みエリアに既に過去の通電時間が記録されている場合
は、その記録されている通電時間と新たに測定された通
電時間とを比較し、新たに測定された通電時間が記録さ
れている通電時間より長くなっているかどうかを判定
し、その判定結果を、メモリ(6)に設けた霜取り判定結
果記録部(64)に記録する。尚、霜取り判定結果記録部(6
4)には、過去の4回分の判定結果を書き込むためのアド
レスが用意されており、判定結果の書込みにおいては、
最も古いデータを消去した上で最新のデータを書き込む
ことによって、常に最新の4回分の判断結果を保持する
様にする。
【0044】そして、何れかのショーケース(3)につい
て故障が発見された場合、該ショーケース(3)について
の霜取り判定結果記録部(64)に例えば2回以上に亘っ
て、ヒータ通電時間が長くなった旨の判定結果が書き込
まれているときは、蒸発器に多量の霜が付着しているこ
とが故障の原因であると推定するのである。
【0045】尚、図4に示す霜取り運転情報記録部(63)
の平均空気エンタルピに代えて、平均店内気温で代用す
ることも可能であって、この場合、湿度を測定する必要
はない。
【0046】故障原因推定装置の第3の構成 上述の如きケース冷却系において、冷媒配管からの冷媒
漏れにより冷却能力が低下して故障が生じる場合には、
配管系統が共通の同一グループ内の他のショーケースに
おいても、冷却能力の低下が生じる可能性が高い。従っ
て、共通の配管系統により相互に接続された同一グルー
プ内のショーケース(3)において、2台以上で故障が検
出された場合は、冷媒配管の異常を故障原因として推定
することが出来る。
【0047】又、冷媒配管の接続状態に関する情報か
ら、冷媒配管の不良箇所を特定することも可能である。
例えば、図1に示す冷媒配管の接続状態において、配管
AのA2で示す箇所で冷媒漏れが発生した場合、それよ
りも下流側に配置されたNo.1のショーケース(3)と
No.2のショーケース(3)が故障状態になると考えら
れる。これに対し、A1の箇所で冷媒漏れが発生した場
合には、冷却能力の低下はNo.1のショーケース(3)
にのみ生じる。但し、冷媒漏れがその後も続いた場合
は、配管全体で冷媒量が徐々に減少するので、No.2
及びNo.3の2台のショーケース(3)(3)においても
冷却能力が次第に低下することになる。
【0048】そこで、冷媒の漏出等の冷媒配管の不良を
故障原因として推定するべく、図5に示す情報処理装置
(4)を構成する。情報処理装置(4)のCPU(5)は、霜
取り運転中であるか、冷却運転中であるかを判別するた
めに、ショーケース(3)毎に霜取り制御信号を読み込
む。
【0049】情報処理装置(4)のメモリ(6)には、店内
に設置されている全てのショーケース(3)について、そ
れらの接続状態に関する情報を格納した配管接続設定部
(65)が設けられている。図1に示す接続状態について
は、図5に示す如き情報が格納される。但し、各ショー
ケース(3)には、図1に示すように、連続する番号が付
与されているものとする。又、配管箇所を特定するため
に、コンデンシングユニットとショーケースの間、及び
ショーケース間を接続する配管には、図1に示す如く、
配管の系統毎に、連続する配管番号(A1、A2、…、
D3)が付与されている。
【0050】メモリ(6)の配管接続設定部(65)には、ケ
ース番号(No.1、No.2、…、No.11)の夫々に
対して、同一グループにおけるショーケースの個数(接
続ケース数)と、同一グループ内の最も若いケース番号
(代表ケース番号)を記録しておく。同一グループ内でケ
ース番号は連続しているから、代表ケース番号と接続ケ
ース数により、同一グループに含まれるショーケースの
ケース番号を特定することが出来る。また同様に、配管
位置を特定するため、コンデンシングユニット側の配管
の番号を記録しておく。
【0051】メモリ(6)には故障検出結果記録部(66)を
設けて、従来の故障検出技術を用いた故障検出結果を記
録する。図5の例では、過去に故障が検出されたショー
ケースについては“1”を、過去に故障が検出されてい
ないショーケースについては“0”を記録することとし
ている。従って、故障検出結果記録部(66)に記録されて
いる情報に基づいて、同一グループ内で複数台のショー
ケースで故障が検出されているかどうかを判別すること
が出来る。
【0052】そして、同一グループ内の2台以上のショ
ーケース(3)で故障が検出されていると判定されたと
き、CPU(5)は、冷媒配管の異常を故障原因として推
定するのである。又、CPU(5)は、冷媒配管の接続状
態に関する情報から、冷媒配管の不良箇所も特定する。
【0053】次に、上述の各故障原因推定装置の構成に
おいて、故障原因推定のための具体的な手続きについて
説明する。
【0054】基本処理フロー 図6は、従来の故障検出処理と本発明に係る故障原因推
定のための基本的な処理(故障検出ソフトウエア)の手順
を表わしている。尚、故障検出ソフトウエアは、店内の
全てのショーケースが冷却運転を行なっている期間に起
動されるものとする。
【0055】図6に示す如く、故障検出ソフトウエアの
起動後、ヒータ通電フラグをまず0にリセットしておく
(ステップS1)。このヒータ通電フラグは、霜取り運転
中においてヒータが通電中であることを検知したかどう
かを示すものである。故障検出処理は、冷却運転中に実
施し、霜取り運転中には実施しない。
【0056】故障検出の処理周期は例えば1分間に設定
しておく。故障検出ソフトウエアの起動後は、その処理
周期で処理タイミングに待機し、処理タイミング毎に以
下の一連の処理を行なう。この際、店内の全てのショー
ケースについて、基本的に同一の処理を一度実行するこ
ととする。処理を実行すべきショーケースの順番も予め
設定しておく。
【0057】処理タイミングが到来したとき、故障検出
フラグを0にリセットする(ステップS2〜S3)。この
故障診断フラグは、店内の全てのショーケースの中で1
台でも故障を検出したかどうかを示すものである。次
に、所定の順番に従って以下の処理を行なうべきショー
ケースを決定する(ステップS4)。その後、そのショー
ケースに関して、故障原因の推定に関する情報収集及び
故障検出処理を実行する(ステップS5)。この場合、霜
取り制御信号から各ショーケースが冷却運転中である
か、霜取り運転中であるかを判別し、前者の場合には故
障検出処理を、後者の場合には霜取り運転に関する情報
処理を実行する。但し、故障検出処理において故障を検
出した場合には、故障検出フラグを1に書き換える。そ
して、店内の全てのショーケースについて所定の順番で
同様の処理を繰り返す(ステップS6)。
【0058】店内の全てのショーケースについて処理が
終了した後、故障検出フラグに基づいて、故障の検出さ
れたショーケースがあったかどうかをチェックする(ス
テップS7)。故障検出フラグが0、即ち1台も故障が
検出されなかった場合は、最初の処理タイミングの検出
に戻る。故障検出フラグが1、即ち1台でも故障が検出
されたショーケースがあった場合には、所定の順番で1
台毎に本発明に係る故障原因推定処理を実行し(ステッ
プS8〜S9)、店内の全てのケースについて処理が終
了するまで、同様の処理を繰り返すのである(ステップ
S10)。
【0059】図7〜図10は、上述の第1乃至第3の構
成における、情報収集と故障検出処理(図6のステップ
S5)の具体的な手順を表わしている。
【0060】第1の構成における情報収集・故障検出処
図7は、上述の第1の構成における、ヒータ通電最長時
間を基準とする着霜による故障原因推定のための、情報
収集と故障検出処理の手順を表わしている。先ず、霜取
り制御信号を読み取って(ステップS11)、冷却運転中
であるか、霜取り運転中であるかを判別する(ステップ
S12)。前述の如く故障検出ソフトウエアは冷却運転
中に起動されるので、起動後の最初の処理では冷却運転
中であると判別される。そして、この場合には故障検出
処理(ステップS24)を実行し、故障を検出した際は故
障検出フラグを1に書き換えた後、図6の基本フローに
戻る。
【0061】その後、霜取り制御信号によって、霜取り
運転が開始されたことが判別されたときは、ヒータ制御
信号を読み取って(ステップS13)、ヒータが通電中で
あるかどうかを判別する(ステップS14)。霜取り運転
開始当初は、ヒータ通電中であるから、通電中であると
判別される。次にヒータ通電フラグをチェックする(ス
テップS15)。霜取り運転開始後における最初の処理
タイミングでは、ヒータ通電フラグは0にリセットされ
ているので、タイマを用いたヒータ通電時間の計測を開
始し、ヒータ通電フラグを1にセットして(ステップS
16)、情報収集・故障検出処理を終了する。
【0062】次の処理タイミングで、ヒータが依然とし
て通電中であることを検出した場合は、ヒータ通電フラ
グが既に1になっているので、特に新たな情報処理を実
行することなく、情報収集・故障検出処理を終了する。
以後の処理タイミングでは、ヒータ通電が終了するまで
同様の処理を繰り返す。
【0063】霜取り運転において、庫内制御温度が所定
値に達し、或いはヒータ通電時間が通電最長時間に達し
たとき、ヒータの通電は停止される。但し、ヒータの通
電が停止されても、水切り時間が終了して、同一グルー
プ内の複数台のショーケースで同時に冷却運転が開始さ
れるまでは、霜取り運転が継続される。このため、ヒー
タ通電終了後でも当初は、霜取り制御信号により霜取り
運転中と判別され、ヒータ制御信号の読み取り(ステッ
プS13)によって、ヒータ通電中でないと判別される
(ステップS14)。そしてこの場合にも、ヒータ通電フ
ラグが1であるかどうかをチェックする(ステップS1
7)。
【0064】通電終了後、最初の処理タイミングでは、
ヒータ通電フラグは1であるので、このときはヒータ通
電時間の計測を終了する(ステップS18)。これによっ
て、霜取り運転中におけるヒータ通電時間が計測された
ことになる。そして、ショーケース毎に設定されている
ヒータ通電最長時間を、メモリの霜取り運転制御設定部
から読み込む(ステップS18)。
【0065】その後、ヒータ通電フラグを0にリセット
すると共に、ヒータ制御フラグも0にリセットする(ス
テップS19)。このヒータ制御フラグは、ヒータ通電
時間が通電最長時間に達したかどうかの結果を示す。次
に、実際にヒータ通電時間が最長時間に達しているかど
うかをチェックし(ステップS20)、達している場合は
ヒータ制御フラグを1にセットする(ステップS21)。
【0066】次に、ヒータ制御フラグを記録すべき霜取
り判定結果記録部の書込みアドレスを更新する(ステッ
プS22)。図3に示す例の場合、故障検出ソフトウエ
ア起動時には、書込みアドレスの初期値を(N−1)にセ
ットしておく。そして、このステップの更新によって、
アドレスを(N)にインクリメントする。以後の処理にお
いても同様の更新を実行するが、インクリメントにより
(N+5)になった場合は、(N)に戻す。そして、更新さ
れたアドレスにヒータ制御フラグを書き込み(ステップ
S23)、情報収集・故障検出処理を終了する。
【0067】水切り運転中の次の処理タイミングでは、
霜取り制御信号により霜取り運転と判別され、ヒータ制
御信号の読み取り(ステップS13)によりヒータが通電
中ではないと判別された後、ヒータ通電フラグも1では
ないと判別されて(ステップS17)、情報収集・故障検
出処理を終了する。水切り時間が終了して、同一グルー
プ内の全てのショーケースにおいて冷却運転が開始され
るまで、同様の処理が繰り返される。そして、霜取り運
転終了後、冷却運転の際の処理が繰り返される。
【0068】第2の構成における情報収集・故障検出 図8及び図9は、冷却運転中における熱負荷条件とヒー
タ通電時間に基づいて着霜による故障原因を推定するた
めの、情報収集と故障検出処理の手順を表わしている。
先ず、冷却運転中であるか、霜取り運転中であるかを判
別するために、霜取り制御信号を読み取る(ステップS
31)。前述の如く故障検出ソフトウエアは冷却運転中
に起動されるので、起動後の最初の処理では冷却運転中
と判別される。そして、この場合は気温と湿度の測定値
を読み込み、各測定値を積算する(ステップS49)。こ
れは、冷却運転期間中における気温と湿度の平均値を算
出するための処理である。但し、故障検出ソフトウエア
起動後、最初の霜取り運転が終了するまでは、この積算
処理は行なわない。又、冷却運転時には故障検出処理を
実行し(ステップS50)、故障を検出したときは故障検
出フラグを1に書き換える。そして、故障検出処理後、
図6の基本フローに戻る。
【0069】その後、霜取り制御信号によって、霜取り
運転が開始されたことが判別されたときは、次にヒータ
制御信号を読み取って(ステップS33)、ヒータが通電
中であるかどうかを判別する(ステップS34)。霜取り
運転開始当初はヒータは通電中であるから、イエスと判
別されて、次に、ヒータ通電フラグがチェックされる
(ステップS35)。霜取り運転開始後における最初の処
理タイミングでは、ヒータ通電フラグは0にリセットさ
れているので、タイマを用いたヒータ通電時間の計測を
開始すると共に、霜取り開始時点での庫内制御温度を読
み取る(ステップS36)。そして、ヒータ通電フラグを
1にセットした後(ステップS37)、情報収集・故障検
出処理を終了する。
【0070】次の処理タイミングで、ヒータが依然とし
て通電中であることが検出された場合は、ヒータ通電フ
ラグは既に1になっているので、特に新たな情報処理を
行なうことなく、情報収集・故障検出処理を終了する。
以後の処理タイミングでは、ヒータ通電が終了するまで
同様の処理を繰り返す。
【0071】霜取り運転において、庫内制御温度が所定
値に達するか、あるいはヒータ通電時間が最長時間に達
すれば、ヒータの通電は停止される。但し、ヒータの通
電が停止されても、水切り時間が終了して、同一グルー
プ内の複数台のショーケースで同時に冷却運転が開始さ
れるまでは、霜取り運転が継続されるので、ヒータ通電
終了後でも当初は、霜取り制御信号により霜取り運転と
判別され、ヒータ制御信号により、ヒータ通電中ではな
いと判別される。そしてこの場合にも、ヒータ通電フラ
グが1であるかどうかをチェックする(ステップS3
8)。通電終了後、最初の処理タイミングでは、ヒータ
通電フラグは1であるので、このときはヒータ通電時間
の計測を終了し、ヒータ通電フラグを1にリセットして
おく(ステップS39)。
【0072】そして、霜取り運転が始まる前の冷却運転
期間中における気温と湿度の積算値から、その期間にお
ける夫々の平均値を算出し、更に、算出した気温と湿度
の平均値から、冷却運転期間における空気エンタルピの
平均値を算出する(ステップS40)。その後、気温と湿
度の積算値をクリアし、霜取り判定フラグを0にセット
する(ステップS41)。この霜取り判定フラグは、平均
空気エンタルピと庫内制御温度の2つの条件が略同じで
あるにも拘わらずヒータ通電時間が長くなったかどうか
を示すものである。
【0073】次に、算出した平均空気エンタルピと霜取
り運転開始時点での庫内制御温度に基づいて、メモリの
霜取り運転情報記録部に対するヒータ通電時間の書込み
アドレスを決定する(ステップS42)。故障検出ソフト
ウエアの起動当初は、この記録部には何らのデータも書
き込まれていないが、故障検出ソフトウエアが継続して
動作することによって、次第にデータが書き込まれてい
くことになる。
【0074】そして、書き込みアドレスの決定後、その
アドレスに既にデータが記録されているかどうかをチェ
ックする(ステップS43)。記録がない場合には、計測
したヒータ通電時間をそのアドレスに記録する(ステッ
プS44)。但し、故障検出ソフトウエアの起動後で最
初の霜取り運転の場合には、この書き込み処理は行なわ
ない。
【0075】次に、メモリの霜取り判定記録部に対する
霜取り判定フラグの書込みアドレスを更新する(ステッ
プS47)。図4に示す例の場合、故障検出ソフトウエ
ア起動時には、書込みアドレスの初期値を(N−1)にセ
ットしておく。そして、このステップの更新によって、
アドレスを(N)にインクリメントする。以後の処理にお
いても同様の更新を実行するが、インクリメントにより
(N+5)になった場合は、(N)に戻す。そして、更新さ
れたアドレスに霜取り判定フラグを書き込み(ステップ
S48)、情報収集・故障検出処理を終了する。
【0076】一方、霜取り運転情報記録部の書き込みア
ドレスに既にデータが記録されている場合は、その記録
データ、即ち従来のヒータ通電時間よりも今回の霜取り
運転の際に計測した通電時間の方が長いかどうかをチェ
ックする(ステップS45)。そして、長いと判断された
場合は霜取り判定フラグを1にセットする(ステップS
46)。
【0077】そして、メモリの霜取り判定結果記録部に
対する霜取り判定フラグの書込みアドレスを更新して
(ステップS47)、更新されたメモリアドレスに霜取り
判定フラグを書き込んだ後(ステップS48)、情報収集
・故障検出処理を終了する。水切り運転中の次の処理タ
イミングでは、霜取り制御信号により霜取り運転と判別
され、更にヒータ制御信号によりヒータ通電中ではない
と判別された後、ヒータ通電フラグも1ではないと判別
されるので、この場合には特別な処理を行なうことな
く、情報収集・故障検出処理を終了する。水切り時間が
終了して、同一グループ内の全てのショーケースにおい
て冷却運転が開始されるまでは、同様の処理が繰り返さ
れる。そして、霜取り運転終了後、冷却運転の際の処理
が繰り返される。
【0078】第3の構成における情報収集・故障検出 図10は、各ショーケースの接続状態に関する情報に基
づいて冷媒配管に関する故障原因を推定するための、情
報収集と故障検出処理の手順を表わしている。先ず、霜
取り制御信号を読み取って(ステップS51)、冷却運転
中であるか、霜取り運転中であるかを判別し(ステップ
S52)、霜取り運転中の場合には、特に処理を行なう
ことなく、情報収集・故障検出処理を終了する。一方、
冷却運転中の場合には、所定の故障検出処理(ステップ
S53)を実行し、故障検出の有無を判断する(ステップ
S54)。そして、故障が検出された場合は、図5に示
す故障検出結果記録部(66)の各エリアの内、現在処理中
のショーケースのケース番号に対応するエリアを1に書
き換えた後(ステップS55)、情報収集・故障検出処理
を終了する。
【0079】故障原因推定処理 図11は、故障原因推定処理(図6のステップS9)の具
体的な手順を表わしている。まず、図5に示す故障検出
結果記録部(66)から記録情報を読み取ることによって
(ステップS61)、故障原因の推定を行なうべきショー
ケースについて故障を検出しているかどうかをチェック
する(ステップS62)。故障を検出していない場合に
は、故障原因推定処理をを終了する。
【0080】一方、故障を検出している場合には、図3
の霜取り判定結果記録部(62)或いは図4の霜取り判定結
果記録部(64)の記録情報を読み取る(ステップS63)。
そして、最近の過去4回の霜取り運転におけるヒータ通
電時間に関する判定結果を、総合的に判断する。
【0081】例えば、ヒータ通電時間が通電最長時間に
達したかどうかで故障原因を推定する場合には、最近の
過去4回の霜取り運転におけるヒータ制御フラグが霜取
り判定結果記録部に書き込まれているので、その値を読
み取って、所定の回数以上、例えば2回以上に亘ってフ
ラグが1になっているか否かをチェックする(ステップ
S64)。チェックの結果がイエスの場合は、最近の過
去4回の霜取り運転においてヒータ通電時間が最長時間
に達する事態が2回以上発生していることになるので、
蒸発器での着霜が故障の原因と推定した後(ステップS
65)、故障原因推定処理を終了する。
【0082】一方、冷却運転期間中の平均空気エンタル
ピと霜取り運転開始時の庫内制御温度が略同じ条件の下
で、ヒータ通電時間が従来よりも長くなったかどうかで
故障原因を推定する場合には、最近の過去4回の霜取り
運転におけるヒータ制御フラグが霜取り判定結果記録部
に書き込まれているので、その値を読み取って、所定の
回数以上、例えば2回以上に亘ってフラグが1になって
いるか否かをチェックする(ステップS64)。チェック
の結果がイエスの場合は、最近の過去4回の霜取り運転
においてヒータ通電時間が従来よりも長くなる事態が2
回以上発生していることになるので、蒸発器での着霜が
故障の原因と推定した後(ステップS65)、故障原因推
定処理を終了する。尚、着霜を故障原因として推定する
上記2つの方法は併用することも可能である。
【0083】霜取り判定結果記録部に記録されている4
個のフラグの内、2個以上のフラグが1になっていない
場合は、次に、冷媒配管が故障原因でないかどうかをチ
ェックする。先ず、図5に示す配管接続設定部(65)か
ら、接続ケース数と代表ケース番号の情報を読み取って
(ステップS66)、その接続ケース数と代表ケース番号
に基づいて、故障原因推定の対象となっているショーケ
ースと同一グループのショーケースのケース番号を把握
する。そして、図5の故障検出結果記録部(66)から同一
グループのショーケースに関する記録情報を読み取って
(ステップS67)、同一配管グループのショーケースで
故障が検出されているものがあるかどうかを判断し(ス
テップS68)、故障の検出されているショーケースが
存在する場合は、冷媒配管の異常を故障原因として推定
する(ステップS69)。
【0084】そして、同一グループ内で故障の発生して
いる最も大きいケース番号について、該ケース番号に対
応する配管番号を配管接続設定部(65)から読み出して、
その配管箇所を不良箇所として推定した後(ステップS
70)、故障原因推定処理を終了する。これに対し、同
一グループ内で、複数のショーケースに故障が発生して
いない場合は、故障原因を「その他」として(ステップ
S71)、故障原因推定処理を終了する。
【0085】上述の如く、本発明の故障原因推定装置に
よれば、ショーケースの冷却系に関する故障発生の早期
検出及び故障予知を行なう従来技術に対して、「蒸発器
での着霜」あるいは「配管関連の異常」という二つの故
障原因の推定を行なうことが出来ると共に、故障個所の
特定を行なうことが出来るので、迅速且つ適正なメンテ
ナンスを行なうことが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】ショーケース及びコンデンシングユニットの接
続状態を示すブロック図である。
【図2】霜取り運転の動作を説明するグラフである。
【図3】ヒータ通電最長時間によって着霜を故障原因と
推定する情報処理装置の構成を表わすブロック図であ
る。
【図4】ヒータ通電時間の変化によって着霜を故障原因
と推定する情報処理装置の構成を示すブロック図であ
る。
【図5】冷媒配管を故障原因として推定する情報処理装
置の構成を示すブロック図である。
【図6】故障検出ソフトウエアを表わすフローチャート
である。
【図7】ヒータ通電最長時間による故障原因推定のため
の情報収集・故障検出処理を表わすフローチャートであ
る。
【図8】ヒータ通電時間の変化による故障原因推定のた
めの情報収集・故障検出処理の前半を表わすフローチャ
ートである。
【図9】同上処理の後半を表わすフローチャートであ
る。
【図10】各ショーケースの接続状態から故障原因を推
定するための情報収集・故障検出処理を表わすフローチ
ャートである。
【図11】故障原因推定処理を表わすフローチャートで
ある。
【符号の説明】
(1) コンデンシングユニット (2) コンデンシングユニット (3) ショーケース (4) 情報処理装置 (5) CPU (6) メモリ (61) 霜取り運転制御設定部 (62) 霜取り判定結果記録部 (63) 霜取り運転情報記録部 (64) 霜取り判定結果記録部 (65) 配管接続設定部 (66) 故障検出結果記録部 (7) タイマ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 前田 勉 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 小澤 芳男 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 青木 健 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 (72)発明者 栗原 弘行 大阪府守口市京阪本通2丁目5番5号 三 洋電機株式会社内 Fターム(参考) 3L045 AA02 BA01 CA02 DA02 HA03 HA07 LA00 MA11 NA16 NA19 NA22 PA02 PA03 PA05 3L046 AA02 BA01 CA06 FB01 GA01 GB03 JA00 KA00 KA02 KA05 LA23 MA02 MA03 MA05

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 冷却対象の物品を収容すべき複数台のケ
    ースが、冷媒配管を介して冷媒供給源に接続され、冷媒
    供給源から各ケースに配備されている蒸発器に冷媒を供
    給して、ケース内を冷却する冷却運転と、霜取りヒータ
    に通電して、蒸発器に付着した霜を除去する霜取り運転
    とが可能なケース冷却系において、故障が発生し、若し
    くは故障の発生が予測されたときに、その故障の原因を
    推定する装置であって、 各ケースについて、霜取り運転における霜取りヒータに
    対する通電時間を計測する通電時間計測手段と、 前記計測された通電時間が所定の通電最長時間に達した
    かどうかを判断する判断手段と、 判断手段による過去複数回分の判断結果を更新しつつ記
    憶するメモリ手段と、 メモリ手段に記憶されている判断結果に基づいて、蒸発
    器における着霜を故障の原因として推定する故障原因推
    定手段とを具えているケース冷却系の故障原因推定装
    置。
  2. 【請求項2】 冷却対象の物品を収容すべき複数台のケ
    ースが、冷媒配管を介して冷媒供給源に接続され、冷媒
    供給源から各ケースに配備されている蒸発器に冷媒を供
    給して、ケース内を冷却する冷却運転と、霜取りヒータ
    に通電して、蒸発器に付着した霜を除去する霜取り運転
    とが可能なケース冷却系において、故障が発生し、若し
    くは故障の発生が予測されたときに、その故障の原因を
    推定する装置であって、 ケース内の空気温度と、ケース外の空気温度と、霜取り
    ヒータに対する通電時間とを計測する計測手段と、 冷却運転中におけるケース外空気温度の計測データに基
    づいて、霜の付着量に関係する霜付着量データを算出す
    る手段と、 霜取り運転開始時のケース内空気温度と、当該霜取り運
    転の前の冷却運転における霜付着量データとをパラメー
    タとして、当該霜取り運転における霜取りヒータ通電時
    間を記憶するメモリ手段と、 霜取りヒータ通電時間の計測データが、メモリ手段に記
    憶されている同一のケース内空気温度及び霜付着量デー
    タに対する霜取りヒータ通電時間よりも長くなったかど
    うかを判断する判断手段と、 判断手段による過去複数回分の判断結果を更新しつつ記
    憶する第2メモリ手段と、 第2メモリ手段に記憶されている判断結果に基づいて、
    蒸発器における着霜を故障の原因として推定する故障原
    因推定手段とを具えているケース冷却系の故障原因推定
    装置。
  3. 【請求項3】 霜付着量データは、冷却運転中における
    空気エンタルピの平均値である請求項2に記載の故障原
    因推定装置。
  4. 【請求項4】 冷却対象の物品を収容すべき複数台のケ
    ースが、冷媒配管を介して冷媒供給源に接続され、冷媒
    供給源から各ケースに配備されている蒸発器に冷媒を供
    給して、ケース内を冷却するケース冷却系において、故
    障が発生し、若しくは故障の発生が予測されたときに、
    その故障の原因を推定する装置であって、 冷媒供給源と複数のケースとの間の冷媒配管による接続
    状態に関する情報が格納されている第1メモリ手段と、 各ケースについて、過去における故障の発生、若しくは
    故障発生の予測結果が格納されている第2メモリ手段
    と、 何れかのケースについて故障が発生し、若しくは故障の
    発生が予測されたとき、第1メモリ手段の情報に基づい
    て、当該ケースと共通の冷媒配管に接続されている他の
    ケースを特定し、第2メモリ手段の情報から、当該他の
    ケースについても故障が発生し、若しくは故障の発生が
    予測されていると判断される場合に、冷媒配管の不良を
    故障の原因として推定する故障原因推定手段とを具えて
    いる故障原因推定装置。
  5. 【請求項5】 更に、何れかのケースについて故障が発
    生し、若しくは故障の発生が予測されたとき、第1メモ
    リ手段の情報に基づいて、冷媒配管の不良箇所を推定す
    る手段を具えている請求項5に記載の故障原因推定装
    置。
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