JP2001089895A - 電子部品用金又は金合金めっき材料及びその製造方法 - Google Patents

電子部品用金又は金合金めっき材料及びその製造方法

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Hajime Asahara
肇 浅原
Kazuhiko Fukamachi
深町一彦
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Nippon Mining and Metals Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来にない耐熱性、耐食性、金又は金合金め
っき同士の接触抵抗の劣化が少ない非常に優れた金又は
金合金めっき材料を得る。 【解決手段】 中間層として、ニッケル−りん−ホウ素
系、又はニッケル−りん−ホウ素−コバルト系の合金め
っきを施し、表層の金又は金合金めっき表面にりん化合
物の皮膜を形成させ、りん化物皮膜の形成前に適宜熱処
理を行うことにより、非常に良好な耐熱性、耐食性、金
又は金合金めっき同士の接触抵抗の劣化が少ない金又は
金合金めっきの材料が得られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、耐食性及び耐熱性
に優れ、はんだ付け性の劣化が少なく、金又は金合金め
っき同士の接触抵抗として使用する際、接触抵抗の劣化
が少ない電子部品用金又は金合金めっき材料に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】高信頼性が要求される電子部品の接点部
分には、ステンレスや、りん青銅、黄銅、ベリリウム銅
等の銅合金を母材とし、金又は金合金めっきを施した材
料が用いられる。これは、金が優れた物理的、化学的安
定性を有するためである。金は高価な金属であるため、
必要な部分のみに金又は金合金めっきをしたり、金又は
金合金めっき自体の厚さを薄くする対応が取られてい
る。しかし、金又は金合金めっき厚さが薄くなると、め
っき皮膜のピンホールが指数関数的に増加し、ピンホー
ルを介して母材が腐食され、耐食性が著しく劣化する問
題がある。
【0003】 また、母材に銅合金を使用する際、母材
から銅の拡散を防止するため、ニッケルを中間層として
めっきすることが多い。しかし、ピンホールが増加する
と、高温で使用した場合、ニッケルが表層の金又は金合
金めっき中に拡散し、その酸化物が形成されることによ
り、はんだ付け性が低下する他、コネクタの接触抵抗が
高くなるという問題がある。ピンホールの問題を解決す
る手段の一つとして、封孔処理が挙げられる。封孔処理
は、各種の無機性あるいは有機性の薬品で金又は金合金
のめっき皮膜の表面を処理し、ピンホールを塞ぎ、耐食
性を向上させる他、その潤滑作用によりコネクタに加工
したときの挿抜性を向上させる効果がある。しかし、こ
の方法では金及び金合金めっきの表層へのニッケルの拡
散による耐熱性の低下の問題は解決できない。
【0004】 本発明者等は、この問題を解決するに当
たり、特願平11−119172、特願平11−119
253等にて、中間めっき層にニッケル−りん−ホウ素
系合金をを採択することにより、耐食性、耐熱性が向上
されることを開示し、特願平11−176803にて表
層の金又は金合金めっき後、加熱処理を行うことによ
り、更に耐熱性が改善されることを開示した。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、封孔処理だ
けでは解決できない、金又は金合金の耐熱性を向上さ
せ、なおかつ封孔処理を行ったときと同等な耐食性を有
する金又は金合金めっき材料を提供するものである。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明者等は上記課題を
解決するため研究を行った結果、特願平11−1768
03と同等もしくは同等以上の効果が期待できる、金又
は金合金めっきの耐熱性を向上させる手段を見出した。
すなわち、(1)りん又は及びホウ素を合計で0.05
〜20wt%含有し、残部ニッケル及び不可避的不純物
からなる合金の中間層を有し、金又は金合金の表層めっ
きからなり、金又は金合金の表層めっきの表面に有機り
ん化合物、又は無機りん化合物の皮膜を形成しているこ
とを特徴とする耐食性及び耐熱性を有する電子部品用金
又は金合金めっき材料。及び(2)りん又は及びホウ素
を合計で0.05〜20wt%、コバルトを5〜60w
t%含有し、残部ニッケル及び不可避的不純物からなる
合金の中間層を有し、金又は金合金の表層めっきからな
り、金又は金合金の表層めっき表面に有機りん化合物、
又は無機りん化合物の皮膜を形成していることを特徴と
する耐食性及び耐熱性を有する電子部品用金又は金合金
めっき材料。及び(3)合金めっき中間層の厚さが0.
01〜1.0μmであることを特徴とする(1)又は
(2)に記載の電子部品用金又は金合金めっき材料。及
び(4)りん酸イオンを0.1〜2mol/L含む水溶
液に浸漬又は水溶液中で当該材料を陽極とし、電解処理
し、表層の金又は金合金めっきに表面に有機りん化合
物、又は無機りん化合物の皮膜を形成させることを特徴
とする(1)〜(3)に記載の耐食性及び耐熱性を有す
る電子部品用金又は金合金めっき材料の製造方法。
(5)表層の金又は金合金めっき後、80〜200℃に
て30分〜20時間の熱処理を行い、その後りん酸イオ
ンを0.1〜2mol/L含む水溶液に浸漬又は水溶液
中で当該材料を陽極とし、電解処理し、表層の金又は金
合金めっきに表面に有機りん化合物、又は無機りん化合
物の皮膜を形成させることを特徴とする(1)〜(3)
に記載の耐食性及び耐熱性を有する電子部品用金又は金
合金めっき材料の製造方法。であり、これらニッケル−
りん−ホウ素系、ニッケル−りん−ホウ素−コバルト系
合金の中間層を有する金又は金合金めっき材料におい
て、金又は金合金めっき同士の接触子として使用する際
の接触抵抗の劣化、耐食性、及び耐熱性を更に向上させ
る知見を得た。
【0007】
【発明の実施の形態】上記中間層を構成する元素のう
ち、ニッケルはりん、ホウ素、コバルトを中間層に添加
するための主要な元素であり、いずれの元素との間でも
合金めっきが可能である。また、ニッケルの作用として
は、母材に銅合金を使用した時の耐熱性の劣化の原因で
ある銅の拡散を抑制する効果がある。なお、コバルトは
ニッケルめっきの浴やアノードに不可避的不純物として
含有されるため、浴に使用するニッケルめっきの浴やア
ノードの品位によっては、めっき皮膜中に1〜2wt%
程度混入する可能性があるが、この程度の量ではニッケ
ル−りん−ホウ素系、ニッケル−りん−ホウ素−コバル
ト系合金めっきの特性に大きな影響は与えず、不純物と
して考慮できる。
【0008】 りん又はホウ素は、それ自身が酸化され
ることにより、ピンホール部で安定な皮膜を形成し、ニ
ッケルの酸化及び腐食を抑制する他、ピンホールを介し
てのニッケルの拡散を防ぐ作用がある。こうして、加熱
による金又は金合金めっき同士の接触抵抗の増加やハン
ダ付け性の劣化が起こりにくくなる。さらに、中間層の
ニッケルが金めっき表面に拡散により達した場合、ニッ
ケル酸化物を形成し、しかもその保護性が低いために、
皮膜は更に成長して、はんだ付け性、加熱による金又は
金合金めっき同士の接触抵抗等の表面特性が低下する
が、ニッケル−りん−ホウ素系、ニッケル−りん−ホウ
素−コバルト系合金を中間層とすると、りん又はホウ素
が金めっき表面に拡散し、それらの酸化物およびそれら
のニッケル塩を形成する。これらの皮膜は保護性が高い
ため、ニッケル酸化物皮膜の成長を抑制する。
【0009】 中間層のりん、ホウ素の含有量は、要求
される耐熱性に応じ決めれば良いが、0.05wt%未
満ではその効果が得られず、より好ましくは0.5wt
%以上であることが望ましい。20wt%を超えると、
めっきに有効なりん、ホウ素の量が飽和するため0.0
5〜20wt%とする。また、15wt%を超えるとめ
っき時の電流効率が低下し、まためっき皮膜内の引張応
力が高くなり、めっきの割れ(剥離)が生じ易ることが
あるため15wt%以下の添加量が望ましい。
【0010】 コバルトはニッケルの表層への拡散を抑
制する効果があり、これを添加することにより更に耐熱
性が向上する。その量は、5wt%未満では効果が低
く、また、60wt%を超えるとめっき皮膜が硬くな
り、加工性を損ねる場合があるので5〜60wt%とし
た。
【0011】 中間層の厚さは0.01μm未満では前
記耐熱性の効果が得られなく、厚さが1.0μmを超え
るとプレス性が損なわれるため、中間層の厚さは0.0
1〜1.0μmとした。好ましくは0.02μm以上と
することにより、耐熱性が更に向上する。
【0012】 表層の金又は金合金めっき後、熱処理を
行なうのは、合金めっき中間層中のりん又はホウ素を表
層めっき中へ拡散させ、表層の金又は金合金めっき中に
りん又はホウ素を含有させるためである。表層めっき中
へ拡散したりん、ホウ素は、それ自身が酸化されて安定
な酸化皮膜が形成され、保護皮膜として作用し、耐熱性
が改善される。熱処理は、80〜200℃にて30分〜
20時間行われるが、処理温度を80〜200℃とした
のは、80℃未満ではりん、ホウ素が表層めっき中まで
拡散するのに時間がかかり過ぎ、200℃を超えるとり
ん、ホウ素だけでなく、中間層のニッケルも酸化され、
はんだ付け性、加熱による金又は金合金めっき同士の接
触抵抗等の表面特性が低下するためである。また、処理
時間を30分〜20時間としたのは、80〜200℃に
て加熱する際、30分未満では表層めっき中へりん、ホ
ウ素の拡散が十分ではなく、20時間加熱すれば十分な
効果が得られるためである。
【0013】 金又金合金表層めっきの表面に有機りん
化合物、又は無機りん化合物の皮膜を形成させること
は、りん化物皮膜を形成させることにより、表層めっき
後加熱処理を行い、りん、ホウ素の酸化皮膜を形成する
ことと同様な作用があり、はんだ付け性、加熱による金
又は金合金めっき同士の接触抵抗等の表面特性を更に改
善する。その皮膜の形成方法としては、りん酸イオンを
0.1〜2mol/L含む水溶液に浸漬又は水溶液中で
当該材料を陽極とし、電解処理し、ピンホール部にりん
化物が形成される。その皮膜の形成方法としては、りん
酸イオンを含有する溶液に浸漬、あるいは溶液中にて当
該材料を陽極として電解処理すれば良い。溶液のりん濃
度としては水溶液中にて0.1〜2mol/Lの範囲で
あれば、十分効果のある皮膜を形成することができる。
また、形成された皮膜は、有機りん化合物、無機りん化
合物いずれでも同様な効果が得られる。
【0014】 表層のめっきは金の他金合金、例えば、
金−パラジウム、金−コバルト、金−ニッケル、金−銀
合金めっき等も選択可能である。
【0015】 中間層のめっきにおいて、ニッケル−り
ん系、ニッケル−コバルト−りん系、の合金めっきを行
なう際は、硫酸系と塩化物系の混合浴をベースとして、
これに亜りん酸、あるいは次亜りん酸ナトリウム等を添
加することでめっきが可能である。また、ニッケル−り
ん−ホウ素系、ニッケル−りん−ホウ素−コバルト系合
金のめっきを行う際は、ワット浴(硫酸ニッケル−塩化
ニッケル−ホウ酸系)をベースとして、これにボランア
ミン錯体を添加することによってめっきが可能である。
しかし本発明において、いずれのめっきにおいてもめっ
き浴の組成や条件は任意に選択できる。コバルトは硫酸
コバルト、あるいは塩化コバルト等の金属塩を必要量添
加することで合金化することができる。これらの条件は
本発明の一例であり、他のめっき条件でも本発明の効果
は期待できる。
【0016】 表層の金又は金合金めっきについても公
知の浴を使用することができ、浴の種類の影響は受け
ず、本発明の効果が得られる。
【0017】 なお、ニッケルを含む中間層は表層の金
又は金合金めっき層の下にニッケルを含む層として存在
していればよく、この中間層と母材との間に銅めっき等
の別のめっき層が存在していても問題無く、本発明の効
果は期待できる。
【0018】
【実施例】次に本発明の効果を実施例に基づき説明す
る。母板には厚さ0.2mmのばね用りん青銅(JIS
C 5210R−H)を脱脂、酸洗したものを用い
た。
【0019】 ニッケル−りん系、ニッケル−りん−ホ
ウ素系、ニッケル−りん−コバルト系、ニッケル−りん
−ホウ素−コバルト系のめっき条件を表1〜4に示す。
表層のめっきは金めっきについて評価した。金めっき浴
は市販のシアン浴を用い、厚さは0.1μmとした。金
めっき表面のりん化物皮膜は表5、6の条件にて浸漬、
電解により形成した。
【0020】
【表1】
【0021】
【表2】
【0022】
【表3】
【0023】
【表4】
【0024】
【表5】
【0025】
【表6】
【0026】 評価は、耐熱性の評価として、評価材を
460℃にて240秒加熱後のはんだ付け性と、接触抵
抗の変化、耐食性の評価として表7に示す腐食条件で腐
食を行った場合の接触抵抗の変化を評価した。
【0027】
【表7】
【0028】 はんだ付け性は25%ロジン−エタノー
ルをフラックスとし、メニスコグラフ法によりはんだ濡
れ時間を測定することで評価した。接触抵抗は耐熱試験
では供試材より作成したオスピンを460℃にて240
秒加熱し、次に供試材から形成されたメスピンとオスピ
ンと共に図1に示すように様に嵌合させ、オスピンの加
熱前後の接触抵抗(電気抵抗)を比較評価した。耐食試
験も耐熱試験は、最初からオスピンとメスピンを図1に
示すように嵌合させた状態で腐食環境に暴露し、腐食前
後の接触抵抗を比較評価した。
【0029】 結果を表8に示す。比較材として0.2
μmのニッケル、ニッケル−30wt%コバルト合金、
ニッケル−0.01wt%ホウ素合金を中間層としたも
のも用意した。これらの供試材は、特願平11−176
803にて開示した評価の一部のものである。これらに
ついて、本発明のりん化物形成の効果、そして特願平1
1−176803で開示した熱処理の効果を確認した。
なお、熱処理については150℃で8時間大気中にて行
った。
【0030】
【表8】
【0031】 表から本発明例No.1〜10と比較例
No.14〜23は、A〜Eの同一の中間層組成につい
て、熱処理、りん酸塩処理の影響について調査した結果
であり、りん酸塩処理を施すことはは熱処理と同程度の
効果があることがわかる。また、りん、ホウ素を無添
加、若しくは添加量が低いNo.11〜13は、加熱す
るとはんだ付け性、接触抵抗が劣化する。
【0032】 また、表層の金又は金合金めっき後加熱
処理し、更にりん化物皮膜を形成させる相乗効果につい
て評価を行うため、表8の本発明例の代表組成(A:N
i−0.1wt%P、B:Ni−11.2wt%P、
D:Ni−5.0wt%B、)について460℃にて2
40秒以上の所定持間加熱後のはんだ付け性、接触抵抗
の変化を調査した。結果を表9に示す。
【0033】
【表9】
【0034】 表8に比べて、より長時間で過酷な加熱
条件下においても、りん酸塩処理を行い、りん化物の皮
膜を形成したものは、加熱処理のみの場合に比べて、よ
り良好な金又は金合金の耐熱性を有することがわかる。
【0035】
【発明の効果】以上、中間層として、ニッケル−りん−
ホウ素系、又はニッケル−りん−ホウ素−コバルト系の
合金めっきを施し、表層の金又は金合金めっき表面にり
ん化合物の皮膜を形成させ、りん化物皮膜の形成前に適
宜熱処理を行うことにより、非常に良好な耐熱性、耐食
性、金又は金合金めっき同士の接触抵抗の劣化が少ない
金又は金合金めっきの材料が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 接触抵抗及び挿抜性を評価したコネクタの形
【符号の説明】
1.メスピン 2.オスピン
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) C25D 11/36 C25D 11/36 Z Fターム(参考) 4K023 AA25 AB14 AB41 BA06 BA08 CA09 4K024 AA15 AB02 BA09 BB10 CA01 CA02 DB03 GA04 GA16 4K044 AA06 BA06 BA08 BA19 BB03 BB04 BC02 BC11 CA17 CA18

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】りん又は及びホウ素を合計で0.05〜2
    0wt%含有し、残部ニッケル及び不可避的不純物から
    なる合金の中間層を有し、金又は金合金の表層めっきか
    らなり、金又は金合金の表層めっきの表面に有機りん化
    合物、又は無機りん化合物の皮膜を形成していることを
    特徴とする耐食性及び耐熱性を有する電子部品用金又は
    金合金めっき材料。
  2. 【請求項2】りん又は及びホウ素を合計で0.05〜2
    0wt%、コバルトを5〜60wt%含有し、残部ニッ
    ケル及び不可避的不純物からなる合金の中間層を有し、
    金又は金合金の表層めっきからなり、金又は金合金の表
    層めっき表面に有機りん化合物、又は無機りん化合物の
    皮膜を形成していることを特徴とする耐食性及び耐熱性
    を有する電子部品用金又は金合金めっき材料。
  3. 【請求項3】合金めっき中間層の厚さが0.01〜1.
    0μmであることを特徴とする請求項1又は2に記載の
    電子部品用金又は金合金めっき材料。
  4. 【請求項4】りん酸イオンを0.1〜2mol/L含む
    水溶液に浸漬又は水溶液中で当該材料を陽極とし、電解
    処理し、表層の金又は金合金めっきに表面に有機りん化
    合物、又は無機りん化合物の皮膜を形成させることを特
    徴とする請求項1〜3に記載の耐食性及び耐熱性を有す
    る電子部品用金又は金合金めっき材料の製造方法。
  5. 【請求項5】表層の金又は金合金めっき後、80〜20
    0℃にて30分〜20時間の熱処理を行い、その後りん
    酸イオンを0.1〜2mol/L含む水溶液に浸漬又は
    水溶液中で当該材料を陽極とし、電解処理し、表層の金
    又は金合金めっきに表面に有機りん化合物、又は無機り
    ん化合物の皮膜を形成させることを特徴とする請求項1
    〜3に記載の耐食性及び耐熱性を有する電子部品用金又
    は金合金めっき材料の製造方法。
JP26727699A 1999-09-21 1999-09-21 電子部品用金又は金合金めっき材料及びその製造方法 Pending JP2001089895A (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2003082497A (ja) * 2001-09-13 2003-03-19 Nippon Steel Corp 錫めっき鋼板およびその製造方法

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