JP2001084104A - 座標入力／検出装置及び情報記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 タッチパネル面上での文字や図形等の描画中
にかすれが生じたとしても、再描画等を要せず、それを
自動的に検出してかすれ部分を連続部分として自動的に
補正できる座標入力／検出装置を提供する。 【解決手段】 指示手段による指示位置に関して座標情
報だけでなく、その変化の方向と長さとを示すベクトル
座標値としてベクトル化手段５３により逐次ベクトル座
標化しておくことにより、タッチパネル３上でのデタッ
チ・再タッチ検出により描画された指示線の途切れが検
出された場合にかすれ判断手段５６においてベクトル座
標値を参照することでその途切れがかすれであるかを適
正に判断でき、かすれの場合にはかすれ補正処理手段６
１によりその部分を連続させるように自動的に補正する
ことで、かすれによる途切れのない描画が可能となる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、座標入力／検出装
置に関し、特に、電子黒板や大型のディスプレイと共に
一体化して利用され、或いは、パーソナルコンピュータ
等において、情報の入力や選択をするためにペン等の指
示部材や指等によって指示された座標位置を検出するタ
ッチパネル方式の座標入力／検出装置及び情報記憶媒体
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の座標入力／検出装置とし
ては、ペンで座標入力面を押さえた時、或いはペンが座
標入力面に接近した時に、静電又は電磁誘導によって電
気的な変化を検出するものがある。

【０００３】また、他の方式として、特開昭６１−２３
９３２２号公報等に示されるような超音波方式のタッチ
パネル座標入力／検出装置がある。これは簡単にいう
と、パネル上に送出された表面弾性波をタッチパネルに
触れることによりその表面弾性波を減衰させ、その位置
を検出するものである。

【０００４】さらには、特願平１０−１２７０３５号と
して本出願人が出願したものや、特開平５−１７３６９
９号公報に開示されているもの、或いは、特開平９−３
１９５０１号公報に開示されているもの、さらには先に
本出願人が特願平１０−２３０９６０号として出願した
もの等に代表される光学式タッチパネル型の座標入力／
検出装置もある。特に、光学式タッチパネル型の座標入
力／検出装置は、パーソナルコンピュータ等の普及に伴
い、情報の入力や選択をするための有力なツールとして
位置付けられている。これらの光学式タッチパネル型の
座標入力／検出装置の場合、超音波方式等による場合と
異なり、タッチパネル自体は座標検出機能を有さず、タ
ッチパネル面から表面側に少し離れた空間位置に光学的
な座標入力／検出領域が設定されている。

【０００５】何れのタッチパネル方式にしても、使用者
はペン、指先などの指示手段をタッチパネル面上で移動
させることにより、所望の文字や図形、その他の描画を
行うものである。

【０００６】例えば、図１２を参照して超音波方式にお
けるディスプレイ付きの座標入力／検出装置の場合を例
にとり、簡単に説明する。図１２において、タッチパネ
ル１００は指などの指示手段１０１によりタッチした位
置をタッチパネル１００と一体型のディスプレイ１０２
の解像度（例えば、Ｘ軸方向のピクセル数１０２４、Ｙ
軸方向のピクセル数７６８等）に対応したディスプレイ
１０２上の２次元座標＝Ｘ，Ｙ座標を検出し、ＰＣ等の
制御装置１０３に座標データとして送信する。また、タ
ッチパネル１００と一体化されているディスプレイ１０
２に画像メモリ１０４に展開されている画像を表示出力
する。また、制御装置１０３中の座標入力部１０５はＲ
Ｓ２３２Ｃ、ＵＳＢ等の通信手段を用いてタッチパネル
１００で検出された座標データを受信する。また、タッ
チパネル制御部１０５では、座標入力部１０５から指示
された座標データを取り出し、前回の座標と取り出した
今回の座標とを定められた太さ、色（太さや色は制御装
置１０３が持つユーザインタフェースにより変更可能で
ある）で画像メモリ１０４上に描画する。画像メモリ１
０４上にはＲＧＢ画像データが展開されており、ビデオ
出力手段によりディスプレイ１０２上に出力され、カラ
ー画像として表示される。

【０００７】ここに、タッチパネル１００は指などの指
示手段１０１が触れている間（タッチ状態）は、周期的
に座標データを送信し、指などの指示手段１０１がタッ
チパネル１００から離れた（デタッチ）ことが検出され
た場合、デタッチ情報が１回送信出力され、その後、再
び、指などの指示手段１０１がタッチパネル１００に触
れたこと（タッチ）が検出されたら、その時点から再び
Ｘ，Ｙ座標データが送信出力される。

【０００８】

【発明が解決しようとする課題】ところが、タッチパネ
ル１００に触れている指先などの動きに追従するように
文字や図形などを描く動作において、軽くタッチパネル
１００に触れていたり、速く描画しようとすると指先な
どがタッチパネル１００面から浮いてしまい、描こうと
している文字や図形が途切れてしまい、ディスプレイ１
０２による再現描画像において、その途切れ部分がかす
れとなって現れてしまう。ここに、「かすれ」とは、タ
ッチパネル１００に指先などが触れて動くことにより得
られる指示位置を示す座標間を特定の色、太さにて描
画、或いは連続線として得たいにも関わらず、指先など
がわずかにタッチパネル１００から浮くことにより描画
線が途切れる現象をいう。

【０００９】特に、超音波方式のものでは、指先入力を
前提としているため、タッチパネル１００上で吸収を伴
うような材質（柔らかく弾力性を伴う材質）でペン入力
を行わせ直線を描いた場合、押した時点では安定な減衰
が得られるが、ペンを移動するとき十分な接触が得られ
ず、直線が途切れてしまう。かといって、十分な接触を
得るために、ペンを必要以上の力で押し付けてしまう
と、ペンの移動に伴い、ペンの持つ弾力性のため応力を
受け歪を生じ、移動中に復帰させる力が働く。そのた
め、一旦、ペン入力時に曲線を描こうとすると、ペンを
押える力が弱くなり歪を元へ戻す力が優るため復帰して
安定な減衰が得られず、入力が途切れたと判断されてし
まう。もちろん、このような超音波方式に限らず、光学
式等の場合であっても、タッチパネル方式であれば、こ
のようなかすれ部分を生じてしまうことがある。

【００１０】このようなかすれ部分が生じた場合は、そ
のままでは見にくいため、途切れによりかすれた部分を
再度描画するとか全体を再度描画し直す必要があり、面
倒である。

【００１１】さらに面倒なことに、意図的に破線を描画
する場合には、結果として、途切れ部分が生ずるため、
上記のような意図しないかすれ部分とは区別する必要が
ある。

【００１２】そこで、本発明は、タッチパネル面上での
文字や図形等の描画中にかすれが生じたとしても、再描
画等を要せず、それを自動的に検出してかすれ部分を連
続部分として自動的に補正することができる座標入力／
検出装置及び情報記憶媒体を提供することを目的とす
る。

【００１３】また、本発明は、かすれによる途切れと意
図的な破線描画における途切れとを自動的に区別して各
々に応じて処理でき、意図的な破線描画の場合に連続線
と見做してしまうことのない座標入力／検出装置及び情
報記憶媒体を提供することを目的とする。

【００１４】さらに、本発明は、途切れ部分が曲線描画
におけるかすれの場合であれば、それに応じた自然な曲
線としてかすれ部分を補正することができる座標入力／
検出装置及び情報記憶媒体を提供することを目的とす
る。

【００１５】

【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明の座
標入力／検出装置は、平面若しくはほぼ平面をなす２次
元のタッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出す
る座標入力／検出装置であって、前記指示手段の前記タ
ッチパネル面に対する指示位置の２次元座標を所定の時
間間隔で順次検出する座標検出手段と、前記タッチパネ
ル面に対する前記指示手段のタッチ／デタッチを検出す
るタッチ／デタッチ検出手段と、前記座標検出手段によ
り所定の時間間隔で順次検出される前記２次元座標間の
変化の方向及び長さをベクトル座標化するベクトル化手
段と、前記タッチ／デタッチ検出手段のデタッチ・再タ
ッチ検出により前記指示手段による指示線の途切れが検
出された場合に前記ベクトル座標値に基づきかすれか否
かを判断するかすれ判断手段と、このかすれ判断手段に
より途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのか
すれ部分を指示線として連続させるかすれ補正処理手段
と、を備える。

【００１６】従って、指示手段による指示位置に関して
座標情報だけでなく、その変化の方向と長さとを示すベ
クトル座標値としてベクトル化手段により逐次ベクトル
座標化しておくことにより、タッチパネル上でのデタッ
チ・再タッチ検出により描画された指示線の途切れが検
出された場合にかすれ判断手段においてベクトル座標値
を参照することによりその途切れがかすれであるかどう
かを適正に判断でき、かすれの場合にはかすれ補正処理
手段によりその部分を連続させるように自動的に補正す
ることができ、かすれによる途切れのない描画が可能と
なる。

【００１７】このような請求項１記載の発明の作用・効
果は、請求項４記載の情報記憶媒体に記憶されたプログ
ラムをコンピュータに読取らせることによっても実行さ
れる。即ち、請求項４記載の発明の情報記憶媒体は、平
面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対す
る指示手段の指示位置を検出するためのプログラムを記
憶してコンピュータで読取可能な情報記憶媒体であっ
て、前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位
置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検
出機能と、前記タッチパネル面に対する前記指示手段の
タッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能
と、前記座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出
される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクト
ル座標化するベクトル化機能と、前記タッチ／デタッチ
検出機能によるデタッチ・再タッチ検出により前記指示
手段による指示線の途切れが検出された場合に前記ベク
トル座標値に基づきかすれか否かを判断するかすれ判断
機能と、このかすれ判断機能により途切れ部分がかすれ
部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として
連続させるかすれ補正処理機能と、を前記コンピュータ
に実行させるためのプログラムが記憶されている。

【００１８】請求項２記載の発明の座標入力／検出装置
は、平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネル
に対する指示手段の指示位置を検出する座標入力／検出
装置であって、前記指示手段の前記タッチパネル面に対
する指示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出
する座標検出手段と、前記タッチパネル面に対する前記
指示手段のタッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッ
チ検出手段と、前記座標検出手段により所定の時間間隔
で順次検出される前記２次元座標間の変化の方向及び長
さをベクトル座標化するベクトル化手段と、前記タッチ
／デタッチ検出手段のデタッチ・再タッチ検出により前
記指示手段による指示線の途切れが検出された場合に前
記ベクトル座標値における描画速度の違いに基づきかす
れであるか破線描画における途切れであるかを判断する
途切れ種別判断手段と、この途切れ種別判断手段により
途切れ部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ
部分を指示線として連続させるかすれ補正処理手段と、
を備える。

【００１９】従って、基本的には請求項１記載の発明の
場合と同様であるが、特に、意図した破線描画の場合に
生ずる途切れと意図しないかすれにより生ずる途切れと
ではタッチパネル上での指先などの指示手段の移動速度
が異なり、これをベクトルで表した場合にベクトル座標
値における長さ情報の違いとして現れ、意図した破線描
画の場合にはベクトル長が順次短くなる点に着目し、途
切れ種別判断手段によりベクトル座標値における描画速
度の違いに基づきかすれであるか破線描画における途切
れであるかを自動的に判断するので、かすれの場合には
上記のようにかすれを補正することができると同時に、
意図した破線描画の場合にはその途切れ部分を連続させ
てしまうような不具合を生ずることもない。

【００２０】このような請求項２記載の発明の作用・効
果は、請求項５記載の情報記憶媒体に記憶されたプログ
ラムをコンピュータに読取らせることによっても実行さ
れる。即ち、請求項５記載の発明の情報記憶媒体は、平
面若しくはほぼ平面をなす２次元のタッチパネルに対す
る指示手段の指示位置を検出するためのプログラムを記
憶してコンピュータで読取可能な情報記憶媒体であっ
て、前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位
置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検
出機能と、前記タッチパネル面に対する前記指示手段の
タッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能
と、前記座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出
される前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクト
ル座標化するベクトル化機能と、前記タッチ／デタッチ
検出機能によるデタッチ・再タッチ検出により前記指示
手段による指示線の途切れが検出された場合に前記ベク
トル座標値における描画速度の違いに基づきかすれであ
るか破線描画における途切れであるかを判断する途切れ
種別判断機能と、この途切れ種別判断機能により途切れ
部分がかすれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を
指示線として連続させるかすれ補正処理機能と、を前記
コンピュータに実行させるためのプログラムが記憶され
ている。

【００２１】請求項３記載の発明は、請求項１又は２記
載の座標入力／検出装置であって、前記かすれ補正処理
手段は、前記かすれ部分前後の前記ベクトル座標値の類
似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状であるか曲
線状であるかを区別する直線／曲線判断手段と、前記か
すれ部分が直線状であると判断された場合にはそのかす
れ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正処理手段
と、前記かすれ部分が曲線状であると判断された場合に
はそのかすれ部分を前記かすれ部分前後の前記ベクトル
座標値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似さ
せて曲線的に連続させる曲線かすれ補正処理手段と、を
備える。

【００２２】従って、直線描画中だけでなく、曲線描画
中においてかすれを生ずることもあるが、何れの状態で
のかすれであるかはベクトル座標値の類似性の有無によ
り判断できるので、曲線部分でかすれが生じたと判断し
た場合には、直線近似していびつな連続線としてしまう
ことなく、かすれ部分前後のベクトル座標値に基づく補
完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続
させることにより適正に補正することができる。

【００２３】このような請求項３記載の発明の作用・効
果は、請求項６記載の情報記憶媒体に記憶されたプログ
ラムをコンピュータに読取らせることによっても実行さ
れる。即ち、請求項６記載の発明の情報記憶媒体は、請
求項４又は５記載の情報記憶媒体であって、前記かすれ
補正処理機能は、前記かすれ部分前後の前記ベクトル座
標値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状で
あるか曲線状であるかを区別する直線／曲線判断機能
と、前記かすれ部分が直線状であると判断された場合に
はそのかすれ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正
処理機能と、前記かすれ部分が曲線状であると判断され
た場合にはそのかすれ部分を前記かすれ部分前後の前記
ベクトル座標値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲
線近似させて曲線的に連続させる曲線かすれ補正処理機
能と、よりなる。

【００２４】

【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を図１ない
し図１１に基づいて説明する。本実施の形態は、いわゆ
る再帰光遮断方式のタッチパネル型座標入力／検出装置
１に適用されており、その原理について正面概略構成を
示す図１を参照して説明する。四角形状の筐体構造の座
標入力／検出部材２の内部空間である座標入力／検出領
域（タッチパネル）３は平面（若しくは、ほぼ平面）を
なす２次元形状をなし、電子的に画像を表示するディス
プレイ表面やマーカー等のペンで書き込むホワイトボー
ドなどが考えられる。この座標入力／検出領域３上を光
学的に不透明な材質からなる操作者の手指やペン、指示
棒など光遮断手段として機能する指示手段４で触った場
合を考える。このときの指示手段４の座標を検出するこ
とがこのような光学式の座標入力／検出装置１の目的で
ある。

【００２５】座標入力／検出領域３の上方両端に受発光
手段５が装着されている。受発光手段５からは座標入力
／検出領域３に向けて、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３，…，Ｌｎの
光ビームの束（プローブ光）が照射されている。実際に
は点光源６から広がる座標入力面に平行な面に沿って進
行する扇形板状の光波である。

【００２６】座標入力／検出領域３の周辺部分には、再
帰性反射部材７が再帰反射面を座標入力装置３の中央に
向けて装着されている。

【００２７】再帰性反射部材７は入射した光を、入射角
度に依らずに同じ方向に反射する特性をもった部材であ
る。例えば、受発光手段５から発した扇形板状の光波の
うちある一つのビーム８に注目すると、ビーム８は再帰
性反射部材７によって反射されて再び同じ光路を再帰反
射光９として受発光手段５に向かって戻るように進行す
る。受発光手段５には、後述する受光手段が設置されて
おり、プローブ光Ｌ１〜Ｌｎの各々に対して、その再帰
光が受光手段に再帰したかどうかを判断することができ
る。

【００２８】いま、操作者が指（指示手段４）で位置Ｐ
を触った場合を考える。このときプローブ光１０は位置
Ｐで指に遮られて再帰性反射部材７には到達しない。従
って、プローブ光１０の再帰光は受発光手段５には到達
せず、プローブ光１０に対応する再帰光が受光されない
ことを検出することによって、プローブ光１０の延長線
（直線Ｌ）上に指示物体が挿入されたことを検出するこ
とができる。同様に、図１の右上方に設置された受発光
手段５からもプローブ光１１を照射し、プローブ光１１
に対応する再帰光が受光されないことを検出することに
よって、プローブ光１１の延長線（直線Ｒ）上に指示物
体が挿入されたことを検出することができる。直線Ｌ及
び直線Ｒを求めることができれば、このＰ点の交点座標
を演算により算出することにより、指示手段２が挿入さ
れた座標を得ることができる。

【００２９】次に、受発光手段５の構成とプローブ光Ｌ
１からＬｎのうち、どのプローブ光が遮断されたかを検
出する機構について説明する。受発光手段５の内部の構
造の概略を図２に示す。図２は図１の座標入力面に取り
付けられた受発光手段５を、座標入力／検出領域３に垂
直な方向から見た図である。ここでは、簡単のため、座
標入力／検出領域３に平行な２次元平面で説明を行う。

【００３０】概略構成としては、点光源６、集光レンズ
１２及び受光素子１３から構成される。点光源６は光源
（図示せず）から見て受光素子１３と反対の方向に扇形
に光を射出するものとする。点光源６から射出された扇
形の光は矢印１４，１５、その他の方向に進行するビー
ムの集合であると考える。矢印１４方向に進行したビー
ムは再帰性反射部材７で矢印１６方向に反射されて、集
光レンズ１２を通り、受光素子１３上の位置１７に到達
する。また、矢印１５方向に進行したビームは再帰性反
射部材７で矢印１８方向に反射されて、集光レンズ１２
を通り、受光素子１３上の位置１９に到達する。このよ
うに点光源６から発し、再帰性反射部材７で反射され同
じ経路を戻ってきた光は、集光レンズ１２の作用によっ
て、各々受光素子１３上の各々異なる位置に到達する。
従って、座標入力／検出領域３中の或る位置に指示手段
４が挿入されあるビームが遮断されると、そのビームに
対応する受光素子１３上の点に光が到達しなくなる。よ
って、受光素子１３上の光強度分布を調べることによっ
て、どのビームが遮られたかを知ることができる。

【００３１】図３で前述の動作を詳しく説明する。図３
で受光素子１３は集光レンズ１２の焦点面（焦点距離
ｆ）に設置されているものとする。点光源６から図３の
右側に向けて発した光は再帰性反射部材７によって反射
され同じ経路を戻ってくる。従って、点光源６の位置に
再び集光する。集光レンズ１２中心は点光源位置と一致
するように設置する。再帰性反射部材７から戻った再帰
光は集光レンズ１２の中心を通るので、レンズ後方（受
光素子側）に対称の経路で進行する。

【００３２】このとき受光素子１３上の光強度分布を考
える。指示手段４が挿入されていなければ、受光素子１
３上の光強度分布はほぼ一定であるが、図３に示すよう
に位置Ｐに光を遮る指示手段４が挿入された場合、ここ
を通過するビームは遮られ、受光素子１３上では位置Ｄ
ｎの位置に、光強度が弱い領域が生じる（暗点）。この
位置Ｄｎは遮られたビームの出射／入射角θｎと対応し
ており、Ｄｎを検出することによりθｎを知ることがで
きる。即ち、θｎはＤｎの関数として θｎ＝arctan (Ｄｎ／ｆ) ………………………………（１） と表すことができる。ここで、図１左上方の受発光手段
５におけるθｎをθｎＬ、ＤｎをＤｎＬと置き換える。

【００３３】さらに、図４において、受発光手段５と座
標入力／検出領域３との幾何学的な相対位置関係の変換
係数ｇにより、指示手段４と座標入力／検出領域３との
なす角θＬは、(１)式で求められるＤｎＬの関数とし
て、 θＬ＝ｇ(θｎＬ) ………………………………（２） ただし、θｎＬ＝arctan(ＤｎＬ／ｆ) と表すことができる。

【００３４】同様に、図１右上方の受発光手段５につい
ても、上述の（１）（２）式中の記号Ｌを記号Ｒに置き
換えて、右側の受発光手段５と座標入力／検出領域３と
の幾何学的な相対位置関係の変換係数ｈにより、 θＲ＝ｈ(θｎＲ) ………………………………（３） ただし、θｎＲ＝arctan(ＤｎＲ／ｆ) と表すことができる。

【００３５】ここで、座標入力／検出領域３上の受発光
手段５の取付間隔を図４に示すｗとし、原点座標を図４
に示すようにとれば、座標入力／検出領域３上の指示手
段４で指示した点Ｐの２次元座標（ｘ，ｙ）は、 ｘ＝ｗ・tanθｎＲ／（tanθｎＬ＋tanθｎＲ） ………………（４） ｙ＝ｗ・tanθｎＬ・tanθｎＲ／（tanθＬ＋tanθｎＲ） ……（５） このように、ｘ，ｙは、ＤｎＬ，ＤｎＲの関数として表
すことができる。即ち、左右の受発光手段５上の受光素
子１３上の暗点の位置ＤｎＬ，ＤｎＲを検出し、受発光
手段５の幾何学的配置を考慮することにより、指示手段
４で指示した点Ｐの２次元座標を検出することができ
る。

【００３６】次に座標入力／検出領域３、例えば、ディ
スプレイの表面などに前で説明した光学系を設置する例
を示す。図５は、図１、図２で述べた左右の受発光手段
５のうち一方を、ディスプレイ表面へ設置した場合の例
である。

【００３７】図５中の２０はディスプレイ面（タッチパ
ネル面）の断面を示しており、図２で示したｙ軸の負か
ら正に向かう方向に見たものである。即ち、図５はｘ−
ｚ方向を主体に示しているが、二点鎖線で囲んだ部分は
同一物を別方向（ｘ−ｙ方向、ｙ−ｚ方向）から見た構
成を併せて示している。

【００３８】受発光手段５のうち発光手段について説明
する。発光手段である光源２１としてレーザーダイオー
ド、ピンポイントＬＥＤなどスポットをある程度絞るこ
とが可能な光源を用いる。

【００３９】光源２１からディスプレイ面２０に垂直に
発した光はシリンドリカルレンズ２２によってｘ方向に
のみコリメートされる。このコリメートは、後でハーフ
ミラー２３で折り返された後、ディスプレイ面２０と垂
直な方向には平行光として配光するためである。シリン
ドリカルレンズ２２を出た後、このシリンドリカルレン
ズ２２とは曲率の分布が直交する２枚のシリンドリカル
レンズ２４，２５で同図ｙ方向に対して集光される。

【００４０】これらのシリンドリカルレンズ群（レンズ
２１，２４，２５）の作用により、線状に集光した領域
がシリンドリカルレンズ２５の後方に形成される。ここ
に、ｙ方向に狭くｘ方向に細長いスリット２６を挿入す
る。即ち、スリット位置に線状の二次光源６を形成す
る。二次光源６から発した光はハーフミラー２３で折り
返され、ディスプレイ面２０の垂直方向には広がらず平
行光で、ディスプレイ面２０と平行方向には二次光源６
を中心に扇形状に広がりながら、ディスプレイ面２０に
沿って進行する。進行した光はディスプレイ周辺端に設
置してある再帰性反射部材７で反射されて、同様の経路
でハーフミラー２３方向（矢印Ｃ）に戻る。ハーフミラ
ー２３を透過した光は、ディスプレイ面２０に平行に進
みシリンドリカルレンズ１２を通り受光素子１３に入射
する。

【００４１】このとき、二次光源６とシリンドリカルレ
ンズ１２はハーフミラー２３に対して共に距離Ｄの位置
に配設され共役な位置関係にある。従って、二次光源６
は図３の点光源６に対応し、シリンドリカルレンズ１２
は図３のレンズ１２に対応する。

【００４２】図６に、光源（ＬＤ）２１及び受光素子
（ＰＤ）１３の制御回路の構成ブロック図を示す。この
制御回路はＬＤ２１の発光制御と、ＰＤ１３からの出力
の演算を行うものである。同図に示すように、制御回路
は、ＣＰＵ３１を中心として、プログラム及びデータを
記憶するＲＯＭ３２、ＲＡＭ３３、インタフェースドラ
イバ３４、Ａ／Ｄコンバータ３５及びＬＥＤドライバ３
６がバス接続された構成からなる。ここに、ＣＰＵ３
１、ＲＯＭ３２及びＲＡＭ３３によりコンピュータとし
てのマイクロコンピュータが構成されている。このよう
なマイクロコンピュータには、ＦＤ３７が装填されるＦ
ＤＤ（ＦＤドライバ）３８、ＣＤ−ＲＯＭ３９が装填さ
れるＣＤ−ＲＯＭドライバ４０等が接続されている。

【００４３】ＰＤ１３からの出力を演算する回路とし
て、ＰＤ１３の出力端子に、アンプ４１、アナログ演算
回路４２等が図のように接続される。ＰＤ１３からの出
力（光強度分布信号）はアンプ４１に入力され、増幅さ
れる。増幅された信号は、アナログ演算回路４２で処理
がされ、さらにＡ／Ｄコンバータ３５によってデジタル
信号に変換されてＣＰＵ３１に渡される。この後、ＣＰ
Ｕ３１によってＰＤ１３の受光角度及び指示手段４の２
次元座標の演算が行われる。

【００４４】なお、この制御回路は、一方の受発光手段
５と同一筺体に組み込んでもよく、また、別筺体として
座標入力／検出領域３の一部分に組み込んでもよい。ま
た、インタフェースドライバ３４を介してパソコン等に
演算された座標データを出力するために出力端子を設け
ることが好ましい。

【００４５】このような再帰光遮断方式のタッチパネル
型の座標入力／検出装置１を用いた本実施の形態の特徴
的構成例について図７を参照して説明する。図７はこの
ような特徴的構成例による座標入力／検出装置１を機能
的に示すブロック図である。図において、タッチパネル
は座標入力／検出領域３に相当し、その表面近傍に指な
どの指示手段４が挿入されたときに（タッチされたとき
に）、指示手段４のタッチパネル３上での２次元座標を
検出する座標検出部（座標検出手段）５１と、タッチ／
デタッチ検出部（タッチ／デタッチ検出手段）５２とを
備えている。座標検出部５１は前述したように、タッチ
パネル３の表面近傍に指などの指示手段４が挿入された
ときに、指示手段４のタッチパネル３上での２次元座標
をサンプリング信号に伴う所定の時間間隔で時系列的に
検出する。また、タッチ／デタッチ検出部５２は指先な
どの指示手段４が実際にタッチパネル３面に接している
か否かに関係なく受光素子１３等により検出光に干渉す
る位置に指示手段４があるか否かを検出するものであれ
ばよい。

【００４６】座標検出部５１の後段にはベクトル化部
（ベクトル化手段）５３が設けられている。このベクト
ル化部５３は、指示手段４の挿入状態（タッチ検出状
態）下で座標検出部５１により時系列的に順次得られる
２次元座標間の変化する方向とその変化分を示す長さを
予めベクトルテーブル５４に設定格納されているベクト
ルデータを用いてベクトル座標化してＲＡＭ３３等のメ
モリに記憶させる処理を行う。

【００４７】ここで、座標ベクトル値の算出方法につい
て図８を参照して説明する。図８において、前回検出さ
れた２次元座標を（Ｘ１，Ｙ１）、今回得られた２次元
座標を（Ｘ２，Ｙ２）とする。Ｘ座標方向の変化量ΔＸ
＝Ｘ２−Ｘ１、Ｙ座標方向の変化量ΔＹ＝Ｙ２−Ｙ１か
ら、座標ベクトル値をΔＹ／ΔＸにより算出する。この
場合の座標ベクトル値は表１に示すようにＸ軸方向から
１０度間隔で数値化されて予めベクトルテーブル１５４
に格納されているが、この間隔（１０度）は任意に設定
すれぱよい。また、座標ベクトル値は、算出結果の近似
値を用いるものとする。例えば、−ΔＹ，−ΔＸでΔＹ
／ΔＸ＝０．９００の場合であれば、座標ベクトル値＝
２４となる。

【００４８】

【表１】

【００４９】また、図８において、各サンプリングにお
ける座標間の座標ベクトル値は上述のように算出され、
各座標間のベクトル長Ｌは、例えば、座標（Ｘ１，Ｙ
１），（Ｘ２，Ｙ２）間のベクトル長Ｌ１であれば、 Ｌ１＝√｛（Ｙ２−Ｙ１）²＋（Ｘ２−Ｘ１）²｝ により算出される。このようにして、サンプリングされ
た２次元座標毎にその座標ベクトル値とその長さ情報と
が算出され、ベクトルデータ記憶部５５においてＲＡＭ
３３等のメモリに記憶される。

【００５０】ベクトル化部５３の後段にはタッチ／デタ
ッチ検出部５２による検出信号に応じて動作するかすれ
判断手段５６が設けられている。このかすれ判断手段５
６は、途切れ判断部５７とかすれ／破線判断部（途切れ
種別判断手段）５８とよりなる。途切れ判断部５７はタ
ッチ／デタッチ判断部５２によりタッチパネル３に対す
る指示手段４のデタッチ・再タッチが検出された場合に
ベクトルデータ記憶部５５よりメモリに格納されている
デタッチ・再タッチ前後のベクトル座標値を参照するこ
とにより途切れが生じているか否かを判断する。デタッ
チ・再タッチが検出されてもその前後のベクトル座標値
が極端に異なる場合（極端に離れている場合や極端に方
向が異なる場合）にはデタッチ・再タッチ間には筆記の
連続性がなく、途切れ部分ではないと判断され、通常処
理部５９による通常の座標入力／検出処理に供される。
それ以外の場合には、デタッチ・再タッチ間には筆記の
連続性があり、途切れ部分であると判断され、かすれ／
破線判断部５８による判断に供される。

【００５１】かすれ／破線判断部５８では、デタッチ・
再タッチが検出された場合にベクトルデータ記憶部５５
によりメモリに格納されているベクトル座標値情報を利
用することで、デタッチ時点の座標ベクトル長と平均座
標ベクトル長とを比較し、デタッチ時点の座標ベクトル
長が極端に短くなっている場合には、デタッチ・再タッ
チ間の途切れは意図した破線描画における途切れと判断
して通常処理部５９に出力することにより、途切れ部分
に対して特に補正処理を行わせない。即ち、破線描画の
場合には、途切れ部分がそのまま再現される。

【００５２】このような判断は、意図した破線描画の場
合に生ずる途切れと意図しないかすれにより生ずる途切
れとではタッチパネル３上での指先などの指示手段４の
描画速度（移動速度）が異なる点に着目したものであ
る。この点を図９を参照して説明する。図９（ａ）は意
図しないかすれＡによる途切れが生ずる場合のタッチパ
ネル３上での指先などの動きの様子を誇張して示し、図
９（ｂ）は破線描画において意図した途切れＢが生ずる
場合のタッチパネル３上での指先などの動きの様子を誇
張して示している。意図しないかすれＡの場合にはタッ
チパネル３面から意図せずにわずかに離れるだけである
ので、そのデタッチ・再タッチ前後の指先の動きには図
９（ａ）中に破線で示すように連続性、即ち、描画速度
に殆ど変化がないのに対して、破線描画の場合には意図
的に途切れ部分を形成するために指先などの動きも図９
（ｂ）中に破線で示すようにデタッチ位置で一旦動きが
止まってタッチパネル３面から離れた後に再びタッチパ
ネル３面にタッチする如く、描画速度が低下する過程を
経るため、かすれＡの場合とは描画速度に大きな違いが
ある。このような描画速度の違いは、同一のサンプリン
グ間隔による座標値をベクトルで表した場合にはベクト
ル座標値における長さ情報の違いとして現れ、意図した
破線描画の場合には一旦止まる過程でベクトル長が極端
に短くなることから、上記の如く、平均ベクトル長と比
較することにより、かすれＡによる途切れか破線描画に
おける途切れＢかを区別できる。

【００５３】かすれ／破線判断部５８によりかすれによ
る途切れと判断された場合には、直線／曲線判断部（直
線／曲線判断手段）６０による判断に供される。かすれ
／破線判断部５８は、かすれ部分前後のベクトル座標値
の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状である
か曲線状であるかを判別する。ここに、この判別方法に
ついて説明する。デタッチ・再タッチが検出された場合
にデタッチ検出時点のデタッチ座標と、再タッチ時点の
再タッチ座標とを用いて、デタッチ・再タッチ間座標ベ
クトル値とともに座標ベクトル長を算出する。座標ベク
トル長は、 （座標ベクトル長）＝（デタッチ・再タッチ間長）×
｛（座標入力周期）／（デタッチ・再タッチ間時間）｝ として算出する。そして、デタッチ・再タッチ間座標ベ
クトル値及びその座標ベクトル長と、デタッチ直前の座
標ベクトル値及びその座標ベクトル長を比較し、両者が
類似している場合には、直線状のかすれ部分であると判
断し、かすれ処理手段６１中の直線かすれ補正処理部
（直線かすれ補正処理手段）６２による補正処理に供す
る。例えば、直線描画中にかすれが生じてもそのベクト
ル座標値にはデタッチ・再タッチ前後で大きな変化がな
く、類似性を有しているため、これを判別できる。直線
かすれ補正処理部６２では、直線状のかすれと判断され
た場合に、そのかすれ部分をデタッチ・再タッチ間（デ
タッチ・再タッチ間座標ベクトル値及びその座標ベクト
ル長分）を定められた色、太さで直線的に連続させて描
画されるように処理する。

【００５４】一方、デタッチ・再タッチ間座標ベクトル
値及びその座標ベクトル長と、デタッチ直前の座標ベク
トル値及びその座標ベクトル長を比較し、両者が類似し
ていない場合には、デタッチ位置までの座標ベクトル値
及び再タッチ後の座標ベクトル値を算出する（サンプリ
ング数は実験的に得た最適値とする）。これらの座標ベ
クトル値の変化量を算出し、その変化量に類似性がある
場合には、曲線状のかすれ部分であると判断し、かすれ
処理手段６１中の曲線かすれ補正処理部（曲線かすれ補
正処理手段）６３による補正処理に供する。この曲線か
すれ補正処理部６３でデタッチ・再タッチ間を曲線近似
させて曲線的に連続させて描画されるように処理する。

【００５５】ここで、この曲線かすれ補正処理部６３に
よる曲線補完方法について図１０及び図１１を参照して
説明する。まず、図１０に示すベクトル図において、
から曲線描画が始まる場合、の座標入力時にから
への座標ベクトル値及び座標ベクトル長を算出し、メモ
リに保存する。同様に、の座標入力時にからへの
座標ベクトル値及び座標ベクトル長を算出し、メモリに
保存する。以下、同様に、新たな座標入力の度に座標ベ
クトル値及び座標ベクトル長を算出し、メモリに保存す
る（サンプリング数は実験的に得た最適値とする）。こ
のような過程において、例えば、の座標が入力され
なかった場合、の座標入力までの座標ベクトル値の変
化量（の座標ベクトル値−の座標ベクトル値）、座
標ベクトル長の平均値を算出する。ついで、において
は間の座標ベクトル値に変化量を加算（或いは減
算）することで、補完座標ベクトル値を得、表１を参照
して座標ベクトル角度を得る。そして、平均座標ベクト
ル長、座標ベクトル角度からに相当する座標（Ｘ４，
Ｙ４）を、 Ｘ４＝cos（座標ベクトル角度）×（平均座標ベクトル
長）＋（又は−）Ｘ３ Ｙ４＝sin（座標ベクトル角度）×（平均座標ベクトル
長）＋（又は−）Ｙ３ なる式により求め（図１１に示すベクトル図を参照）、
座標(Ｘ３，Ｙ３)，(Ｘ４，Ｙ４)間を定められた色、太
さで描画させるように処理する。このような曲線補完処
理を再タッチ座標（図１０の場合であれば、の位置）
まで同様に繰り返す。ただし、補完された座標から再タ
ッチ位置の座標までの長さが平均座標ベクトル長に満た
ない場合には、補完された座標から再タッチ位置の座標
までを直線的に連続させて描画させるように処理する。

【００５６】このように、曲線部分でかすれが生じた場
合には、そのデタッチ・再タッチ間を図１０における直
線Ａのように直線近似して全体から見ていびつな連続線
として結んでしまうことなく、かすれ部分前後のベクト
ル座標値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似
させてで示す如く曲線的に連続させることにより適
正に補正することができる。

【００５７】なお、本実施の形態の作用に関しては、Ｆ
Ｄ、ＣＤ−ＲＯＭ等に予め記憶させたプログラムをコン
ピュータに読取らせることによっても実行させることが
できる。図６に示した例を参照すると、予め記憶された
ソフトウエア（プログラム）をコンピュータ、特にＣＰ
Ｕ３１に提供できる情報記憶媒体として、ＲＯＭ３２、
ＲＡＭ３３等の他に、ＦＤ３７、ＣＤ−ＲＯＭ３９等を
有しており、ＣＰＵ３１に各種の処理動作、特にこの特
徴的構成例に示した作用に対応する処理機能を実行させ
るための制御プログラムがソフトウエアとして予め設定
されており、このような制御プログラムは例えばＣＤ−
ＲＯＭ３９に予め格納されている。そして、このような
ソフトウエアはＲＯＭ３２等に予めインストールされて
おり、ＣＰＵ３１の起動時にＲＡＭ３３に複写されて動
作時にＣＰＵ３１に読取られる。このようにＣＰＵ３１
が各種のプログラムを読取って対応する処理を実行する
ことにより、各種の処理機能が実現されるので、当該コ
ンピュータが前述したような座標入力／検出処理を実行
することになる。

【００５８】ここに、本実施の形態の場合には、ＣＤ−
ＲＯＭ３９等の情報記憶媒体に対して、指示手段４のタ
ッチパネル３面に対する指示位置の２次元座標を所定の
時間間隔で順次検出する座標検出機能と、タッチパネル
３面に対する指示手段４のタッチ／デタッチを検出する
タッチ／デタッチ検出機能と、座標検出機能により所定
の時間間隔で順次検出される２次元座標間の変化の方向
及び長さをベクトル座標化するベクトル化機能と、タッ
チ／デタッチ検出機能によるデタッチ・再タッチ検出に
より指示手段による指示線の途切れが検出された場合に
ベクトル座標値に基づきかすれか否かを判断するかすれ
判断機能と、このかすれ判断機能により途切れ部分がか
すれ部分と判断された場合にそのかすれ部分を指示線と
して連続させるかすれ補正処理機能と、をコンピュータ
に実行させるためのプログラムが記憶されていればよ
い。或いは、指示手段４のタッチパネル３面に対する指
示位置の２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座
標検出機能と、タッチパネル３面に対する指示手段４の
タッチ／デタッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能
と、座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出され
る２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座標化
するベクトル化機能と、タッチ／デタッチ検出機能によ
るデタッチ・再タッチ検出により指示手段４による指示
線の途切れが検出された場合にベクトル座標値における
描画速度の違いに基づきかすれであるか破線描画におけ
る途切れであるかを判断する途切れ種別判断機能と、こ
の途切れ種別判断機能により途切れ部分がかすれ部分と
判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続さ
せるかすれ補正処理機能とをコンピュータに実行させる
ためのプログラムが記憶されていればよい。これらの場
合、かすれ補正処理機能は、かすれ部分前後のベクトル
座標値の類似性の有無に基づきそのかすれ部分が直線状
であるか曲線状であるかを区別する直線／曲線判断機能
と、かすれ部分が直線状であると判断された場合にはそ
のかすれ部分を直線的に連続させる直線かすれ補正処理
機能と、かすれ部分が曲線状であると判断された場合に
はそのかすれ部分をかすれ部分前後のベクトル座標値に
基づく補完座標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線
的に連続させる曲線かすれ補正処理機能とよりなる。

【００５９】また、本実施の形態は、いわゆる再帰光遮
断方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置１への適
用例として説明したが、タッチパネル型の座標入力／検
出装置であれば、その方式を問わず同様に適用できる。
例えば、図１２に示したような超音波方式のタッチパネ
ル型の座標入力／検出装置（特開昭６１−２３９３２２
号公報等参照）はもちろん、画像入力手段を利用したカ
メラ撮像方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置、
レーザスキャンを利用した回転走査＋反射板装着ペン方
式のタッチパネル型の座標入力／検出装置、ＬＥＤアレ
イ方式のタッチパネル型の座標入力／検出装置（特開平
５−１７３６９９号公報等参照）等であってもよい。

【００６０】

【発明の効果】請求項１及び４記載の発明によれば、指
示手段による指示位置に関して座標情報だけでなく、そ
の変化の方向と長さとを示すベクトル座標値としてベク
トル化手段により逐次ベクトル座標化しておくことによ
り、タッチパネル上でのデタッチ・再タッチ検出により
描画された指示線の途切れが検出された場合にかすれ判
断手段においてベクトル座標値を参照することによりそ
の途切れがかすれであるかどうかを適正に判断でき、か
すれの場合にはかすれ補正処理手段によりその部分を連
続させるように自動的に補正することができ、かすれに
よる途切れのない描画が可能となる。

【００６１】請求項２及び５記載の発明によれば、基本
的には請求項１及び４記載の発明の場合と同様な効果が
得られるが、特に、意図した破線描画の場合に生ずる途
切れと意図しないかすれにより生ずる途切れとではタッ
チパネル上での指先などの指示手段の移動速度が異な
り、これをベクトルで表した場合にベクトル座標値にお
ける長さ情報の違いとして現れ、意図した破線描画の場
合にはベクトル長が順次短くなる点に着目し、途切れ種
別判断手段によりベクトル座標値における描画速度の違
いに基づきかすれであるか破線描画における途切れであ
るかを自動的に判断するようにしたので、かすれの場合
には上記のようにかすれを補正することができると同時
に、意図した破線描画の場合にはその途切れ部分を連続
させてしまうような不具合を生ずることなく、破線とし
て描画させることができる。

【００６２】請求項３及び６記載の発明よれば、直線描
画中だけでなく、曲線描画中においてかすれを生ずるこ
ともあるが、何れの状態でのかすれであるかはベクトル
座標値の類似性の有無により判断できるので、曲線部分
でかすれが生じたと判断した場合には、直線近似してい
びつな連続線としてしまうことなく、かすれ部分前後の
ベクトル座標値に基づく補完座標ベクトル値を用いて曲
線近似させて曲線的に連続させることにより適正に補正
することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の一実施の形態の前提的構成例を原理的
に示す概略正面図である。

【図２】その受発光手段の内部構造の構成例を示す概略
正面図である。

【図３】その検出動作を説明するための概略正面図であ
る。

【図４】受発光手段の取付間隔等を示す概略正面図であ
る。

【図５】ディスプレイ前面等への設置例を示す断面図で
ある。

【図６】その制御系の構成例を示すブロック図である。

【図７】本実施の特徴的構成例を機能的に示すブロック
図である。

【図８】座標ベクトル値算出方法を説明するためのベク
トル図である。

【図９】かすれが生ずる場合と破線描画の場合との指先
の動きを誇張して示す模式図である。

【図１０】曲線描画時にかすれが生じた場合の曲線補完
方法を説明するベクトル図である。

【図１１】ベクトル図である。

【図１２】超音波方式の座標入力／検出装置の構成例を
示すブロック図である。

【符号の説明】

３ タッチパネル ４ 指示手段 ５１ 座標検出手段 ５２ タッチ／デタッチ検出手段 ５３ ベクトル化手段 ５６ かすれ判断手段 ５８ 途切れ種別判断手段 ６０ 直線／曲線判断手段 ６１ かすれ補正処理手段 ６２ 直線かすれ補正処理手段 ６３ 曲線かすれ補正処理手段

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタ
   ッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出する座標
   入力／検出装置であって、 前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の
   ２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出手
   段と、 前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デ
   タッチを検出するタッチ／デタッチ検出手段と、 前記座標検出手段により所定の時間間隔で順次検出され
   る前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座
   標化するベクトル化手段と、 前記タッチ／デタッチ検出手段のデタッチ・再タッチ検
   出により前記指示手段による指示線の途切れが検出され
   た場合に前記ベクトル座標値に基づきかすれか否かを判
   断するかすれ判断手段と、 このかすれ判断手段により途切れ部分がかすれ部分と判
   断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させ
   るかすれ補正処理手段と、を備えることを特徴とする座
   標入力／検出装置。
2. 【請求項２】 平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタ
   ッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出する座標
   入力／検出装置であって、 前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の
   ２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出手
   段と、 前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デ
   タッチを検出するタッチ／デタッチ検出手段と、 前記座標検出手段により所定の時間間隔で順次検出され
   る前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座
   標化するベクトル化手段と、 前記タッチ／デタッチ検出手段のデタッチ・再タッチ検
   出により前記指示手段による指示線の途切れが検出され
   た場合に前記ベクトル座標値における描画速度の違いに
   基づきかすれであるか破線描画における途切れであるか
   を判断する途切れ種別判断手段と、 この途切れ種別判断手段により途切れ部分がかすれ部分
   と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続
   させるかすれ補正処理手段と、 を備えることを特徴とする座標入力／検出装置。
3. 【請求項３】 前記かすれ補正処理手段は、前記かすれ
   部分前後の前記ベクトル座標値の類似性の有無に基づき
   そのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを区別
   する直線／曲線判断手段と、前記かすれ部分が直線状で
   あると判断された場合にはそのかすれ部分を直線的に連
   続させる直線かすれ補正処理手段と、前記かすれ部分が
   曲線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を前
   記かすれ部分前後の前記ベクトル座標値に基づく補完座
   標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させ
   る曲線かすれ補正処理手段と、を備えることを特徴とす
   る請求項１又は２記載の座標入力／検出装置。
4. 【請求項４】 平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタ
   ッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出するため
   のプログラムを記憶してコンピュータで読取可能な情報
   記憶媒体であって、 前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の
   ２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出機
   能と、 前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デ
   タッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能と、 前記座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出され
   る前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座
   標化するベクトル化機能と、 前記タッチ／デタッチ検出機能によるデタッチ・再タッ
   チ検出により前記指示手段による指示線の途切れが検出
   された場合に前記ベクトル座標値に基づきかすれか否か
   を判断するかすれ判断機能と、 このかすれ判断機能により途切れ部分がかすれ部分と判
   断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続させ
   るかすれ補正処理機能と、を前記コンピュータに実行さ
   せるためのプログラムが記憶されている情報記憶媒体。
5. 【請求項５】 平面若しくはほぼ平面をなす２次元のタ
   ッチパネルに対する指示手段の指示位置を検出するため
   のプログラムを記憶してコンピュータで読取可能な情報
   記憶媒体であって、 前記指示手段の前記タッチパネル面に対する指示位置の
   ２次元座標を所定の時間間隔で順次検出する座標検出機
   能と、 前記タッチパネル面に対する前記指示手段のタッチ／デ
   タッチを検出するタッチ／デタッチ検出機能と、 前記座標検出機能により所定の時間間隔で順次検出され
   る前記２次元座標間の変化の方向及び長さをベクトル座
   標化するベクトル化機能と、 前記タッチ／デタッチ検出機能によるデタッチ・再タッ
   チ検出により前記指示手段による指示線の途切れが検出
   された場合に前記ベクトル座標値における描画速度の違
   いに基づきかすれであるか破線描画における途切れであ
   るかを判断する途切れ種別判断機能と、 この途切れ種別判断機能により途切れ部分がかすれ部分
   と判断された場合にそのかすれ部分を指示線として連続
   させるかすれ補正処理機能と、 を前記コンピュータに実行させるためのプログラムが記
   憶されている情報記憶媒体。
6. 【請求項６】 前記かすれ補正処理機能は、前記かすれ
   部分前後の前記ベクトル座標値の類似性の有無に基づき
   そのかすれ部分が直線状であるか曲線状であるかを区別
   する直線／曲線判断機能と、前記かすれ部分が直線状で
   あると判断された場合にはそのかすれ部分を直線的に連
   続させる直線かすれ補正処理機能と、前記かすれ部分が
   曲線状であると判断された場合にはそのかすれ部分を前
   記かすれ部分前後の前記ベクトル座標値に基づく補完座
   標ベクトル値を用いて曲線近似させて曲線的に連続させ
   る曲線かすれ補正処理機能と、よりなることを特徴とす
   る請求項４又は５記載の情報記憶媒体。