JP2001066132A - 真円度測定装置、円筒軸測位装置、及び円筒研削盤 - Google Patents

真円度測定装置、円筒軸測位装置、及び円筒研削盤

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JP2001066132A JP2000174747A JP2000174747A JP2001066132A JP 2001066132 A JP2001066132 A JP 2001066132A JP 2000174747 A JP2000174747 A JP 2000174747A JP 2000174747 A JP2000174747 A JP 2000174747A JP 2001066132 A JP2001066132 A JP 2001066132A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 偏心円筒の真円加工を短時間かつ高精度に行
う。 【解決手段】 図2は、クランクピン(偏心円筒)の横
断面平面上での測定器滑動手段の動作を模式的に表現し
たもので、関数y(ψ,x)を関数y(θ)に変換する
パラメータ変換の方法を示す。測定変数である三点接触
式測定器の出力値y、クランクピンの中心点OのC軸回
りの回転角ψ、及び、C軸とW軸間の距離xは、各々同
時に測定されるため、「θ=f(ψ,x)」なる関数f
が定まり、よって、測定器の出力値y(関数値y(ψ,
x))を関数y(θ)として扱うことが可能となる。即
ち、測定変数y、x、ψを同時に計測することにより、
回動軸にて回動可能に支持された工作物を機外に取り外
すことなく、θを独立変数とする関数y(θ)を求める
ことが可能となる。更に、y(θ)より円筒半径r
(θ)、X軸補正量δx(ψ)を求めることも同時に自
動化可能である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、回転軸にて回転可
能に支持された工作物と一体の偏心した円筒の真円度を
測定する真円度測定装置、並びに、この円筒を真円加工
する円筒研削盤に関し、特に、工作物を回転可能に支持
したまま偏心円筒(例:クランクピン等)の真円度測定
と真円加工とを行う円筒研削盤に関する。
【0002】
【従来の技術】ガソリンエンジンのクランク軸のクラン
クピンやカム等の研削加工では、工作物の回転軸(以
下、「C軸」と言う場合がある。)周りの回転運動と、
砥石台のC軸に対して垂直なX軸方向の平行移動運動と
を正しく同期させることにより研削加工を行っている。
これらの従来技術においては、サーボ制御装置や数値制
御装置等の技術の進歩により、追従精度、同期精度、或
いは、運動精度の向上がみられる。
【0003】しかしながら、これらの精度の向上だけで
は、工作物の剛性や研削抵抗の変化等による形状誤差に
は十分に対応しきれないのが現状であり、このため、高
い研削加工精度が要求される場合には、研削加工中に一
旦、工作物を研削盤の機外へ取り外し、工作物形状(ク
ランクピンの真円度やカムの形状等)を精密に測定し直
し、C軸又はX軸に対する運動の補正量を求めてから再
度研削加工を行っている。
【0004】また、計測技術の分野では、円筒形工作物
の真円度を精密に測定する方法としては、例えば、「日
本機械学会誌 第53巻 第376号 技術論文『円筒
形工作物の真円度測定法』(昭和25年5月)」に記載
されている三点接触法を用いたもの等が一般に広く知ら
れている。本技術論文では、三点接触式(Vブロック
式、馬乗りゲージ式、三脚ゲージ式)測定器により円筒
形工作物の真円度を測定する場合の理論解析が行われて
おり、例えば、馬乗りゲージ式の場合については、次式
(1)〜(6)、及び、図14、図15、図16に示さ
れる様に、円筒形工作物の真円誤差を定量的に求める方
法が示されている。
【0005】ただし、ここで、各変数、記号、関数等の
定義は以下の通りである。 (図形記号) K:クランクピン等の円筒形工作物(横断面円周) O:原点(Kの中心付近の任意の1点:工作物横断面上
の固定点) C:原線OCを規定する工作物横断面平面上の任意の固
定点 M:半径am なる標準寸法のゲージ円筒(横断面円周) a:三点接触式(馬乗りゲージ式)測定器の測定子の端
面とKとの接点 b:馬乗りゲージの接触面とKとの接点 c:馬乗りゲージの接触面とKとの接点 d:馬乗りゲージの基準点(挟み角αの中心点) a′:原点Oから測定器の測定子の端面に下ろした垂線
の足 b′:原点Oから馬乗りゲージの接触面に下ろした垂線
の足 c′:原点Oから馬乗りゲージの接触面に下ろした垂線
の足 (変数) θ:原線OCからの角度 α:馬乗りゲージの挟み角 n:自然数(フーリエ級数展開の添字)
【0006】(定数) a0 :Kの平均半径 cn :r(θ)のフーリエ級数展開時の各項の展開係数
(調和解析により求まる) φn :r(θ)のフーリエ級数展開時の各項の初期位相
(調和解析により求まる) am :ゲージ円筒Mの半径 my :y(θ)の平均値 J:nの上限値(実用上は50程度で十分。上記技術論
文ではJ=12までを中心に考察している。) N:y(θ)を実測する際の測定回数(測定点サンプル
数)。 (関数) r(θ):θを独立変数とするKの半径 y(θ):θを独立変数とする三点接触式測定器の出力
値 μ(α,n):y(θ)に現れる各スペクトル成分の拡
大率
【0007】
【数1】 r(θ)=a0 n=1ΣJ n cos(nθ+φn ) …(1)
【数2】 am {1/sin(α/2)−1}−y(θ) ={r(θ+π/2−α/2)+r(θ−π/2+α/2)} /{2sin(α/2)}−r(θ)…(2)
【数3】 y(θ)=(a0 −am )・{1−1/sin(α/2)} + n=2ΣJ {μ(α,n)cn cos(nθ+φn )} …(3)
【数4】 μ(α,n)=1−{cos n(π/2−α/2)}/sin(α/2) …(4)
【数5】 my =∫y(θ)dθ/2π (積分範囲:0≦θ≦2π) =(a0 −am )・{1−1/sin(α/2)} =( i=0ΣN-1 i )/N …(5)
【数6】 a0 =am +my /{1−1/sin(α/2)} …(6)
【0008】即ち、三点接触法において適当なα又は適
当なαの組み合わせを用いてy(θ)を測定すれば、全
てのnに対してcn 、φn が算出できるので、(1)よ
り真円誤差を「δr=r(θ)−am 」として定量的に
求められることが、上記の技術論文より判る。ただし、
ここでは、半径am なる標準寸法のゲージ円筒Mを所望
の円筒形状とする。尚、上記の各変数、記号、関数等の
定義は、以下においても同様とする。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】上記の従来技術には、
以下の問題点が有り、総括的な改善が期待されている。
(問題1)研削加工中に一旦、工作物を研削盤の機外へ
取り外し、工作物形状(円筒の真円度等)を精密に測定
する際に、研削盤と測定機との間で工作物に対する基準
点の設定位置にズレが生じる場合が有る。したがって、
この誤差により測定精度が十分に確保できない場合が多
い。 (問題2)上記基準点の設定には、調整時間を長く要
し、また、本作業は自動化が困難である。このため円筒
研削加工等の生産性が向上しない。 (問題3)工作物を回転可能に支持したままクランクピ
ン等の偏心円筒の真円度を三点接触式測定器等を用いて
走査する場合には、測定器をリンク機構などにより円筒
の円周に沿って接触移動させなければならない。しかし
ながら、リンク機構には自由度が多く、更に測定系には
C軸やX軸等の自由度もあるため、真円度(前記のy
(θ))測定時に、円筒の中心から測った位相角(前記
の角θ)を同時に正確に測定することは容易でない。
【0010】また、例えば、複数の気筒(シリンダー)
を有するエンジンのクランクシャフトを製造する場合、
クランクジャーナルに対する各クランクピンの位置(偏
心量と位相)が正確に工作できなければ、被点火ガスの
圧縮比や点火位相等が、各シリンダー毎に正確には実現
できなくなる。このため、高速且つ高精度に偏心円筒の
軸の位置を測定する測位装置を開発しない限り、燃費や
振動、騒音等が十分に抑制された高性能なエンジンを効
率よく多数量産することは困難である。
【0011】また、偏心円筒の軸の位置を極めて正確に
求めることは、偏心円筒の真円度を正確に測定する上で
も十分有用であり、偏心円筒の軸の位置を高精度且つ高
速に測定する手段の開発が期待されている。
【0012】本発明は、上記の課題を解決するために成
されたものであり、その目的は、回転軸にて回転可能に
支持された工作物と一体の偏心円筒の真円加工を高精
度、かつ、高速に実現するための手段を提供することで
ある。
【0013】また、本発明の更なる目的は、上記の回転
軸に対して中心軸の位置が極めて正確な偏心円筒の加工
を高速に実施するための手段を提供することである。
【0014】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めには、以下の手段が有効である。即ち、第1の手段
は、回転軸にて回転可能に支持された工作物と一体成形
され回転軸から偏心した円筒の真円度を測定する真円度
測定装置において、円筒の半径を三点接触法により測定
する三点接触式測定器と、円筒の回転軸に垂直な断面上
の円周に沿って三点接触式測定器を接触移動させる測定
器滑動手段と、本真円度測定装置に対する上記の回転軸
の相対位置xを測定する位置測定手段と、円筒の回転軸
周りの回転角ψを測定する回転角測定手段と、回転軸の
周りを回転する円筒の真円度を相対位置x、回転角ψ、
及び、三点接触式測定器の出力値yより算出する真円度
演算手段とを備えることである。
【0015】また、第2の手段は、上記の第1の手段に
おいて、円周の中心又は中心付近に位置する原点Oとこ
の原点Oを始点とする所定の原線OCとを持ち円周が座
標平面上に固定された2次元極座標を用いて、円周上に
おける出力値yの測定点pの位置座標(r,θ)を表現
し、測定点pにおける出力値yの測定時の相対位置x、
回転角ψ、及び、測定器滑動手段の姿勢に係わる構造を
表す諸定数の集合Λより角度座標θを求める変数変換
「θ=f(ψ,x,Λ)」を用いて、円周上の各測定点
pにおける出力値yを角度座標θの関数y(θ)として
求める変数変換手段を備えることである。
【0016】また、第3の手段は、上記の第2の手段に
おいて、調和解析等の解析技法を用いて、関数y(θ)
より円周上の各測定点pの原点Oからの距離rを角度座
標θの関数r(θ)として求める半径演算手段と、角度
座標θと回転角ψに関して逆向きの変数変換fに対する
変数逆変換「ψ=f-1(θ,x,Λ)」により、関数r
(θ)を回転角ψの関数r(ψ)に変数変換する変数逆
変換手段と、円筒の研削加工時の相対位置xに対する補
正量δxを回転角ψの関数δx(ψ)として求める補正
量演算手段とを備えることである。
【0017】また、第4の手段は、上記の第1乃至第3
のいずれか1項の手段において、三点接触式測定器に、
2つの接触面が成す挟み角αが互いに異なる複数のVブ
ロックを備えるか、或いは、円周の中心又は中心付近に
位置する原点Oから見た位相Θが互いに異なる複数の位
置にそれぞれ計量センサを備えることである。
【0018】また、第5の手段は、上記の第4の手段に
おいて、上記の複数のVブロックについて、互いに異な
る挟み角αの各二等分面を互いに一致させ、複数のVブ
ロックに共有される1台の計量センサの計量方向線をこ
の二等分面上に配置することである。
【0019】また、第6の手段は、上記の第4の手段に
おいて、複数の計量センサの内の少なくとも1つに、円
筒の平均半径a0 に応じて自計量センサの位置又は計量
方向を修正することにより各計量センサから各計量方向
へ伸びた直線の交点の位置を調整する円筒中心調整手段
を設けることである。
【0020】また、第7の手段は、上記の第1乃至第6
のいずれか1項の手段において、測定器滑動手段の機械
的運動に係わる運動パラメータξを検知する運動センサ
と、三点接触式測定器の交換、修繕又は調整に伴って必
要となる、前記の集合Λに属する少なくとも1つの定数
の値の修正を、半径am 及び中心座標が既知であるゲー
ジ円筒の中心軸測位時の運動パラメータξの計測値に基
づいて自動的に実行する滑動機構パラメータ自動修正手
段とを備えることである。
【0021】また、第8の手段は、上記の第1乃至第7
のいずれか1項の手段において、測定器滑動手段の機械
的運動に係わる運動パラメータξを検知する運動センサ
と、偏心円筒の円周の中心又は中心付近に固定された原
点Oの回転軸から見た位置座標を、相対位置x、回転角
ψ、及び運動パラメータξ、或いは、これらの変数の関
連値に基づいて測定する原点測位手段とを備えることで
ある。
【0022】また、第9の手段は、上記の第7又は第8
の手段において、運動センサを機械的運動を実現するア
ームの角度を計測する回動角センサか、或いは、アーム
の長さを計測するアーム長センサにすることである。
【0023】また、第10の手段は、回転軸にて回転可
能に支持された工作物と一体成形され、この回転軸から
偏心した円筒の中心軸の位置を測定する円筒軸測位装置
において、この円筒の回転軸に垂直な断面上の円周に沿
ってVブロックを接触移動させるVブロック滑動手段
と、測位装置に対する回転軸の相対位置xを測定する位
置測定手段と、円筒の回転軸周りの回転角ψを測定する
回転角測定手段と、Vブロック滑動手段の機械的運動に
係わる運動パラメータξを検知する運動センサと、上記
の円周の中心又は中心付近に固定された原点Oの回転軸
から見た位置座標を相対位置x、回転角ψ、及び運動パ
ラメータξ、或いは、これらの変数の関連値に基づいて
測定する原点測位手段とを設けることである。
【0024】また、第11の手段は、上記の第10の手
段の運動センサを、上記の機械的運動を実現するアーム
の角度を計測する回動角センサか、或いは、アームの長
さを計測するアーム長センサにすることである。
【0025】また、第12の手段は、上記の第10又は
第11の手段の原点測位手段において、先ず、原点Oの
所定の標準位置からの位相角誤差Δψを求め、次に、回
転角ψに対して位相角誤差Δψによる補正を行い、その
後、原点Oの回転軸からの偏心量Rを測定又は計算する
ことにより、回転軸から見た前記原点Oの位置座標を測
定又は補正することである。
【0026】また、第13の手段は、上記の第10乃至
第12のいずれか1つの手段において、Vブロックの交
換、修繕又は調整に伴って必要となる、Vブロック滑動
手段の姿勢に係わる滑動機構パラメータの少なくとも1
つの値の修正を、半径am 及び中心座標が既知であるゲ
ージ円筒の中心軸測位時の運動パラメータξの計測値に
基づいて自動的に実行する滑動機構パラメータ自動修正
手段を設けることである。
【0027】また、第14の手段は、上記の第1乃至第
9のいずれか1つの手段の真円度測定装置において、上
記の第10乃至第13のいずれか1つの手段の円筒軸測
位装置を備えることである。
【0028】また、第15の手段は、回転軸から偏心し
た円筒を同期制御手段を用いて研削加工する円筒研削盤
において、上記の第1乃至第9のいずれか1つの手段の
真円度測定装置、又は、上記の第10乃至第13のいず
れか1つの手段の円筒軸測位装置の内の少なくともいず
れか一方を備え、かつ、相対位置x及び回転角ψを関数
x(ψ)により同期制御することである。
【0029】更に、第16の手段は、上記の第15の手
段において、上記の第1乃至第9のいずれか1つの手段
の真円度測定装置と、上記の第10乃至第13のいずれ
か1つの手段の円筒軸測位装置とを備え、原点測位手段
による原点Oの位置座標の測定又は補正と、真円度演算
手段による円筒の真円度の算出と、同期制御手段を用い
た研削加工とを組み合わせて順次必要回数実行すること
により、偏心円筒を逐次漸近的に真円加工することであ
る。
【0030】尚、上記の各手段における回転軸は、回動
軸で有っても良い。以上の手段により、前記の課題を解
決することができる。
【0031】
【作用及び発明の効果】本発明の手段によれば、工作物
と一体の偏心円筒の真円度を測定する際に、研削盤など
の工作機械により回転軸にて回転可能に支持された工作
物を機外に取り外すことなく、そのまま偏心円筒の真円
度を測定することが可能となる。このため、真円度測定
時に工作物を工作機械より取り外す必要が無くなる。従
って、この取り外しや取り付け作業が無くなると同時
に、研削加工時と真円度測定時との間で工作物の設定位
置に関するズレが生じなくなる。これにより、真円加工
を高精度、かつ、短時間に実現することが可能となる。
【0032】尚、上記の回転軸は、回動軸であっても上
記の作用・効果が得られることは言うまでもない。
【0033】また、測定器滑動手段の機械的運動に係わ
る運動パラメータξを検知する運動センサを用いれば、
クランクピン等の偏心円筒の中心座標(円筒の軸の位
置)をより正確に知る(測る)ことができる。更に、こ
の様な手段を前記の手段と組み合わせることにより、工
作物を機外に取り外すことなく、より高精度な真円度の
測定や、真円加工をそのまま実施することができる。
【0034】また、本発明の原点測位手段又は円筒軸測
位装置を用いれば、Vブロック滑動手段等の機械的な運
動の運動パラメータξを検知することにより、偏心円筒
の軸の位置を正確に測位することができるため、真円度
の測定や極めて高精度の真円加工を実施するか否かに係
わらず、回転軸に対する偏心量や、回転軸に対する位相
の正確な偏心円筒を製造することが可能となる。
【0035】従って、本発明の原点測位手段又は円筒軸
測位装置を用いれば、例えば、複数気筒のエンジンのク
ランクシャフトのクランクピンを加工する場合、クラン
クジャーナルに対する各クランクピンの位置が極めて正
確に形成できる様になる。このため、例えば、被点火ガ
スの圧縮比の各シリンダー毎の均一化や、各シリンダー
毎の点火位相の最適化等が極めて高精度に実施でき、よ
って、燃費、騒音、振動等が十分に抑制された高性能の
エンジンを製造することが可能となる。
【0036】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体的な実施例に
基づいて説明する。ただし、本発明は、以下の各実施例
に限定して解釈されるものではない。
【0037】(第1実施例)図1は、本実施例の円筒研
削盤100の概観を示す側面図である。砥石台9に装備
された円板状の砥石7は回転軸W(図中の点W)にて支
持されて回転することができる。Kはクランクピンの横
断面円周を表しており、この円周Kの中心点Oは、本円
筒研削盤100の図略の支持部により本円筒研削盤10
0のC軸(図中の点C)を中心とする円軌道S上を回転
可能に支持されている。C軸とW軸との距離xは、円筒
研削盤100のNCサーボ機構により制御されている。
【0038】27は三点接触式(馬乗りゲージ式)測定
器の測定子である。三点接触式測定器の馬乗りゲージ2
5は、クランクピン(偏心円筒)の外周面に当接しなが
ら円周Kに沿って滑動可能に第2アーム下腕22より支
持されている。第1ピボットPは砥石台9に固定されて
おり、第1ピボットP、第1アーム1、第2ピボット
P′、第2アーム上腕21、第2アーム下腕22等より
測定器滑動手段が構成されている。これにより三点接触
式測定器をクランクピンの円周(側面外周)に沿って円
滑に接触移動させることが可能となっている。8は三点
接触式測定器の測定値出力線路である。
【0039】図2に、関数y(ψ,x)を関数y(θ)
に変換する本実施例の変数変換手段の作用を示す。本図
は、上記の測定器滑動手段(図1)のクランクピン横断
面平面上での動作を模式的に表現したものである。ただ
し、ここで、θは点O(クランクピンの中心)の回りの
角度であり、原線OCから測った三点接触式測定器の中
心線(図3)までの角度(クランクピンの円周上の測定
点pの角度座標)を表すものとする。また、y、ψ、x
は、以下に示す測定変数である。 (測定変数) y:三点接触式測定器の出力値 x:C軸とW軸間の距離(y計測時の値を記録) ψ:クランクピンのC軸回りの回転角∠WCO(y計測
時の値を記録)
【0040】この様な変数変換は、「θ=f(ψ,x,
Λ)」なる関数fを求めることにより実現される。即
ち、この様な関数fが求まれば、三点接触式測定器の出
力値y(関数値y(ψ,x))をθを独立変数とする関
数値y(θ)として扱うことが可能となる。ただし、こ
こで、Λは測定器滑動手段の姿勢に係わる構造を表す諸
定数の適当な集合(滑動機構パラメータ群)である。
尚、これらは定数であるため、以下、「Λ」は省略して
記載することがある。この様な関数fを具体的に決定す
る方法を以下に示す。
【0041】前記の記号の他に、図2の説明などにおい
て以下、下記の記号(定数)を用いる。上記の関数f
は、後で詳述するように、これらの測定器滑動手段の姿
勢に係わる構造を表す諸定数(測定器滑動手段や工作機
械の各部の長さや角度等の定数)を用いて求めることが
できる。即ち、本実施例における上記の集合Λは、以下
の7つの定数をその要素にもつ。
【0042】(滑動機構パラメータ群) D:第1ピボットPのW軸からの水平方向(X軸方向)
のズレ(C軸側を負値とする) H:第1ピボットPのW軸からの高さ R:円軌道Sの半径 L1 :第1アーム1の長さ L21:第2アーム上腕21の長さ L22:第2アーム下腕22の長さ ζ:第2アーム上腕21と第2アーム下腕22との間の
【0043】図3に、半径a0 の真円の横断面をもつ円
筒にVゲージ25が乗った際の両者の位置関係を示す。
本図において、点Gは半径a0 の真円の中心であり、こ
のような理論的な真円がVゲージ25の接触面A,Bに
垂直に当接した場合、本真円の中心点GとVゲージ25
の基準点dの2点間の距離Lは、次式(7)で与えられ
る。
【数7】 L≡Gd=a0 /sin(α/2) …(7) この様に、点Gは、半径a0 が一定の時、点d及び接触
面A,Bに対する不動点となる。
【0044】一方、実際の各測定点pをその要素にもつ
クランクピンの横断面円周Kは、実は真円ではないた
め、その中心点Oは一意には定まらない。即ち、クラン
クピン断面上に固定した原点Oは、厳密にはKの中心付
近に点Cに対して「OC=R,∠WCO=ψ」となるよ
うに定めた1固定点に過ぎず、よって、点Gと点Oとは
一般には一致しない。また、この2点の距離OGは、角
θによって変化する。即ち、この距離は、角θの関数O
G(θ)と考えることができる。
【0045】しかしながら、次式(8)が成り立つ時、
関数fを求める限りにおいては、次式(9)を用いるこ
とができる。
【数8】 OG(∀θ)≪ MIN(L2 ,L21,L22+L) …(8)
【数9】 Od≒L …(9) 即ち、通常、少なくとも関数fを決定する限りにおいて
は、点Oと点Gとを同一視しても、その結果における誤
差は十分に小さい。これは、実際の所、L2 ,L21,L
22は10cm〜1m程度のオーダーであるのに対し、OGは
1μm単位の長さだからである。
【0046】したがって、図2から判る様に、点Oと点
Gとを同一視することにより、次式(10)〜(22)を用
いて、上記の関数fを具体的に決定することができる。
【数10】 L2 2=L21 2 +(L22+L)2−2L21(L22+L)cosζ …(10)
【数11】 u=Rcosψ …(11)
【数12】 v=Rsinψ …(12)
【数13】 w=x−u …(13)
【数14】 OP2 =(H−v)2 +(w+D)2 …(14)
【数15】 β1 =tan -1{(H−v)/(w+D)} …(15)
【数16】 β2 =cos -1{(−L2 2+L1 2+OP2 )/(2L1 ・OP)} …(16)
【数17】 γ1 =β2 −β1 …(17)
【数18】 γ2 =γ1 +γ3 −π/2 …(18)
【数19】 γ3 =cos -1{(−OP2 +L1 2+L2 2)/(2L1 ・L2 )} …(19)
【数20】 β3 =β4 −γ2 …(20)
【数21】 β4 =cos -1〔{−L21 2 +L2 2+(L22+L)2} /{2L2(L22+L)}〕 …(21)
【数22】 θ=3π/2−ψ+β3 …(22)
【0047】以上の様に、「θ=f(ψ,x)」なる関
数fを具体的に決定することができる。これにより、関
数y(ψ,x)を関数y(θ)に変換する変数変換手段
を実現することができる。即ち、測定変数y、x、ψを
同時に計測することにより、回転軸にて回転可能に支持
された工作物を機外に取り外すことなく、そのまま関数
y(θ)を求めることが可能であることが示された。
【0048】図4に、本実施例の円筒研削盤100の構
成図(概念図)を示す。本円筒研削盤100によれば、
測定変数y、x、ψを同時に計測することが可能であ
る。C軸とW軸との距離xは、ドライバ12等によるサ
ーボ制御機構により制御されている。また、C軸の回転
角ψは、ドライバ13等によるサーボ制御機構により制
御されている。CNC装置10は、インターフェイス
(IF)11を介して、ドライバ12、13を制御す
る。尚、14、15は正弦波信号分岐器、16、17は
波形成形器である。
【0049】この様に円筒研削盤100を構成すれば、
変換ボード18を介して、測定変数y、x、ψの各計測
値を同時にリアルタイムでパソコン(PC)19に転送
することができる。従って、前記の関係を用いれば、パ
ソコン19にて、測定変数y、x、ψ等より、関数y
(θ)を求めることができる。
【0050】上記の様に関数y(θ)が具体的に求まれ
ば、式(4)〜(6)及び調和解析により、y(θ)を
式(3)の形に展開することができる。ただし、αには
都合のよい適当な数値が選択されているものとする。こ
の時、1≦n≦Jなる全てのnに対してcn 、φn が定
まるため、式(1)の様にr(θ)をθの関数として具
体的に求めることができる(真円度演算手段)。
【0051】また、パソコン19とCNC装置10とを
図示する様に通信線路でつなげば、パソコン19側の真
円度演算手段、及び、補正量演算手段により求められた
X軸の補正量δxをCNC装置10に自動的かつ迅速に
連絡することができる。以下、補正量δxを求める手段
(補正量演算手段)について説明する。
【0052】上記のr(θ)をθに依らず一定とするた
めの補正量δx(ψ)の求め方を図5に示す。ただし、
ここで、この補正量δx(ψ)は、各回転角ψに対応す
るCW間の距離x(ψ)(図2)に対する補正量、即
ち、砥石台9の移動量に対する補正量である。
【0053】本図より明らかなように、本補正量δx
(ψ)は、例えば、次式(23)〜(28)により求めるこ
とができる。
【数23】 θ=π−ψ−η (η≡∠CWO) …(23)
【数24】 δr(θ)=r(θ)−λI m (λI ≧1) …(24)
【数25】 δx=δr(θ)/cosη …(25)
【数26】 cosη=w/OW=w/(v2 +w2 1/2 ≡g(x,ψ) =(x−R cosψ) /{(R sinψ)2 +(x−R cosψ)2 1/2 …(26)
【数27】 η=cos-1{g(x,ψ)} …(27)
【数28】 δx(x,ψ)=〔r(π−ψ−cos-1{g(x,ψ)}) −λI m 〕/g(x,ψ) …(28)
【0054】ただし、式(24)、(28)のλI は、円筒
を削り過ぎない様にするための安全係数であり、クラン
クピン(偏心円筒)を加工する際の研削→測定→研削→
測定の繰り返し回数(サイクル数)Iが増加する度に1
に近づけていくべき数である。したがって最終的なIの
値が小さい場合には、最初からλI の値は1に固定され
ていても良い。
【0055】以上の様にして、補正量δx(ψ)を求め
ることができる。従って、前回のψに対するX軸の値x
(ψ)を用いれば、次回のψに対するX軸の値x′
(ψ)は、次式(29)の様に求めることができる。
【数29】 x′(ψ)=x(ψ)−δx(ψ) …(29)
【0056】以上の様に円筒研削盤100を構成すれ
ば、回転軸にて回転可能に支持された工作物を機外に取
り外すことなく、偏心円筒の真円加工を自動的に行うこ
とが可能となる。
【0057】本円筒研削盤100を上記の様に構成した
結果、次の様な効果を得ることができた。 (a)工作機械上にて偏心円筒の真円度を測定すること
が可能となり、測定データと加工データ間の位相角ズレ
誤差が無くなった。 (b)偏心した円筒の中心を測定器の回転中心に合わせ
ることなく測定することが可能となり、その結果、偏心
量、偏心円筒半径、或いは偏心位相角等の異なる複数の
工作物を研削する場合においても、1回のチャック動作
で真円度を測定することが可能となった。 (c)砥石台プロフィール・データを自動的に補正する
ことが可能となった。 (d)Vゲージ法による変位測定を行うため、測定部の
測定範囲が小さくなり、測定機を機上に搭載したときに
問題となる温度等に対する耐環境性も向上した。
【0058】尚、図4の円筒研削盤100においてパソ
コン19は具備しなくとも、本機構を構成することは可
能である。そのような場合には、例えば、変換ボード1
8の出力を直接CNC装置10に入力し、上記の真円度
演算手段、及び、補正量演算手段をCNC装置10にて
実現する方法も考えられる。
【0059】また、本実施例の円筒研削盤100の測定
器滑動手段は、砥石台9に固定されているが、測定器滑
動手段は必ずしも砥石台と連動している必要はない。ま
た、本実施例の円筒研削盤100の測定器滑動手段は、
リンク機構により実現されているが、測定器滑動手段は
必ずしもリンク機構により構成されている必要はない。
【0060】これらの場合においても、一般に、測定器
滑動手段や工作機械の各部の長さや角度等の定数(個々
の装置の滑動機構パラメータ群)を用いて関数fのよう
な変数変換手段を実現することができる。即ち、これら
の場合にも、本発明の手段により、関数y(θ)を測定
器滑動手段の姿勢に係わる構造を表す諸定数や測定変数
等から求めることが可能となるため、上記と同様に本発
明による作用効果を得ることができる。
【0061】また、本第1実施例では、前記の通り「測
定変数y、x、ψを同時に計測することにより、回転軸
にて回転可能に支持された工作物を機外に取り外すこと
なく、そのまま関数y(θ)を求めることが可能である
こと」を示したが、測定変数y、x、ψを同時に計測す
る具体的な手法としては、例えば、以下に例示するもの
等が考えられる。
【0062】(手法1)一定時間周期で測定する方法 測定開始信号により、一定の時間周期で測定を行う。こ
のとき、例えば、C軸を等速回転させる場合、測定点の
数は、回転速度より求められる工作物の1回転に要する
時間と所定の測定時間周期(一定時間間隔)から決定す
ることができる。
【0063】(手法2)一定回転角周期で測定する方法 C軸(回転角ψ)が一定角度回転した際に、同期信号を
発生させ、この信号を同期基準としてy、xの各測定を
並列に行う。また、ψの代わりにxを用いても良い。即
ち、例えば、xが所定の各座標(測定点)に位置した際
に、同期信号を発生させ、この信号を同期基準として
ψ、yの各測定を並列に行っても良い。
【0064】(手法3)サーボ制御の指令値を利用する
方法 また、上記のψやxの代わりに、C軸の回転や砥石台の
移動の物理的な制御(サーボ制御)に使用される指令値
を利用することも可能である。ただし、この場合には、
サーボ制御における追随遅れが十分無視でき、指令値に
対して砥石台や工作物(円筒)が十分に高い精度で運動
することが条件となる。
【0065】また、本発明は、砥石等の研削手段を有し
ない真円度測定装置としても有効に利用できる。即ち、
このような装置においても上記のr(θ)を求めること
ができるので、これを真円度測定装置として利用するこ
とができる。
【0066】(第2実施例)例えば上記の第1実施例に
示す様な測定器滑動手段の機械的運動に係わる運動パラ
メータξを検知し、この運動パラメータξに基づいて真
円加工の対象となる偏心円筒の軸の位置(偏心量R,回
転角ψ(図2))を正確に求めれば、更に高精度の真円
加工を実施することができる。
【0067】図6は、本第2実施例に係わる回動角セン
サ(ロータリーエンコーダRE)を有する円筒研削盤2
00の模式的な断面図である。本円筒研削盤200は、
上記の第1実施例の円筒研削盤100(図1,図2)の
第1ピボットPの位置にロータリーエンコーダRE(回
動角センサ)を設けたものである。このロータリーエン
コーダREは、第1アーム1の回動角γ1 を図中の点P
(第1ピボット)を含んだ水平面上にある原線PP2よ
り図6に向かって時計回りを正の向きとして計測するも
のである。即ち、前記の運動パラメータξは、本実施例
においてはこの第1アーム1の回動角γ1 に相当する。
尚、本図6において、点P1,P2は、点P′(第2ピ
ボット)から垂らした垂線上にある点である。
【0068】例えばこの様な装置(円筒研削盤200)
によれば、図7〜図9を用いてその詳細を後述する様
に、真円加工すべき偏心円筒の軸の位置に関する位相角
誤差Δψを求めたり、より正確な偏心量Rを求めたりす
ることができる。また、求められた位相角誤差Δψは、
例えば同期制御手段による真円加工実行時のC軸の回転
角ψの補正に用いることができる。また、より正確な偏
心量Rが求まれば、真円加工実行時の砥石台9の移動量
xをより高精度に決定することができる。また、位相角
誤差Δψに基づいてC軸の回転角ψを補正する代りに、
位相角誤差Δψに相当する時間分だけ移動量xを具現す
るタイミングを同期制御手段によってずらしても良い。
【0069】図7は、本円筒研削盤200を制御する測
定メインプログラムA0のゼネラルフローチャートであ
る。本プログラムA0では、まず最初にステップa10
にて、測定装置(三点接触式測定器)が挿入できる位置
まで砥石台9をC軸に接近させ、偏心円筒(例:クラン
クピン等)の外側の円周上に馬乗りゲージ(Vブロッ
ク)が接触する様に、工作物(例:クランクシャフト
等)に測定装置を挿入する。
【0070】次に、ステップa20では、基準となる所
定のプロファイルデータに基づいて、前記の測定器滑動
手段により三点接触式測定器(Vブロック)を偏心円筒
の側面に対して接触移動させ、円周K(図3)が常に
「Vゲージ25(Vブロック)の接触面A,B(図3、
図6)と砥石(図6)」に対して合計3点で接触する様
に、同期制御を行いながらC軸を回転角ψが増加する方
向(図2では反時計回り)に任意の位置(角度)から1
回転させる。そして、この同期制御の実行と同時に、原
点O(偏心円筒の軸の位置)の回転角ψ、砥石の位置
x、及び第1アーム1の回動角γ1 の各値をそれぞれ測
定し、記録する。
【0071】この測定を行う際の原点Oは、図1、図
2、図6の円軌道S上を一周するが、この時の各測定点
の間隔(測定点密度)は、例えば、円軌道S上一周に渡
り均等でも良い。また、例えば、図6のXY座標平面上
における円軌道SのX軸とY軸に対する各切片付近の測
定点密度を特に高くしておけば、後述のサブルーチンB
0,C0内における計算を高精度に行うのに比較的都合
が良い。
【0072】ステップa30では、ステップa20によ
る測定が所定の必要回数実施されたか否かを判定する。
ステップa40では、C軸の回転運動とx軸の並進運動
を停止させる。ステップa50では、測定装置(三点接
触式測定器)を上昇させ、砥石台9を後退させる。
【0073】ステップa60では、詳細後述の位相角誤
差計算サブルーチンB0(図8)を呼び出して、原点O
の位相角誤差Δψを算出する。ステップa70では、詳
細後述の偏心量計算サブルーチンC0(図9)を呼び出
して、原点Oの偏心量Rを算出する。ステップa80で
は、上記の各サブルーチンB0,C0により算出された
原点Oの位相角誤差Δψと偏心量Rに基づいて、偏心円
筒の真円加工に用いる同期制御データ(プロファイルデ
ータ)を補正する。
【0074】この様にして求められた位相角誤差Δψ
は、例えば、同期制御手段による真円加工実行時のC軸
の回転角ψの補正に用いることができる。また、より正
確な偏心量Rを用いれば、真円加工実行時の砥石台9の
移動量xをより高精度に決定することができる。
【0075】図8は、上記の測定メインプログラムA0
から呼び出される位相角誤差計算サブルーチンB0のフ
ローチャートである。本サブルーチンB0では、まず最
初にステップb20にて、第1アーム1の回動角γ1
回転角ψによる一次導関数dγ1 /dψに対して、極値
(最小値<0,0<最大値)を与える回転角ψ1 ,ψ2
を前記の式(10)〜(17)に基づいてそれぞれ理論的に算出
する。ただし、この計算は、理論的なものであり、上記
のプログラムA0の測定とは独立しているので、プログ
ラムA0を実行する前に、予め行っておいても良い。
【0076】次に、ステップb40では、回動角γ1
回転角ψの測定データを分析して、γ1 のψに対する変
化率が最大(>0)及び最小(<0)であった時の回転
角ψの値Ψ1 ,Ψ2 を求める。ただし、測定点密度が円
軌道S上で均一である場合には、γ1 の変化量が最大
(>0)及び最小(<0)であった時の回転角ψの値を
それぞれΨ1 ,Ψ2 としても良い。また、測定点密度が
比較的荒い場合には、数値解析の分野で公知の、例えば
放物線近似等の各種補間演算等を用いてΨ1 ,Ψ 2 を求
めても良い。
【0077】次に、ステップb60では、次式(30),(3
1),(32)により、原点Oの位相角誤差Δψを算出する。
【数30】 Δψ1 =Ψ1 −ψ1 …(30)
【数31】 Δψ2 =Ψ2 −ψ2 …(31)
【数32】 Δψ=(Δψ1 +Δψ2 )/2 …(32)
【0078】例えば以上の様に、γ1 のψに対する変化
率が最大(>0)又は最小(<0)であった時の回転角
ψの測定値を用いることにより、ロータリーエンコーダ
REが有する一定の測定精度に対して、最も高い精度で
位相角誤差Δψの値を求めることができる。
【0079】また、上記のΔψ1 の値は、次式(33)によ
り求めても良い。
【数33】 Δψ1 =(γ+ −Γ+ )/(dγ1 /dψ)+ …(33) ただし、ここで、Γ+ は前記の式(10)〜(17)より理論的
に求めることができるγ1 のψ=0における理論値であ
り、γ+ はプログラムA0で実際に測定したγ 1 のψ=
0の時の実測値である。また、(dγ1 /dψ)+ は式
(10)〜(17)に基づいて理論的に求められるγ1 の一次導
関数のψ=0における理論値である。
【0080】図6からも判る様に、実際にはψの微小角
変動に対するロータリーエンコーダREの感度は、ψ=
0,πの近傍において最も或いは十分に高くなるものと
考えられるので、この感度が必ずしも極大(最大)とな
る位置でのγ1 の測定値に限ることなく、例えば、上記
の様なγ1 の実測値を利用することもできる。尚、式(3
3)は一次近似によるものであるため、ψの変化量に対す
る(dγ1 /dψ)+ の変化量が十分無視できる程度
に、Δψ1 が十分小さい時に有効なものである。
【0081】また、上記と同様に、Δψ2 の値は、次式
(34)により求めても良い。
【数34】 Δψ2 =(γ- −Γ- )/(dγ1 /dψ)- …(34) ただし、ここで、Γ- は前記の式(10)〜(17)より理論的
に求めることができるγ1 のψ=πにおける理論値であ
り、γ- はプログラムA0で実際に測定したγ 1 のψ=
πの時の実測値である。また、(dγ1 /dψ)- は式
(10)〜(17)に基づいて理論的に求められるγ1 の一次導
関数のψ=πにおける理論値である。
【0082】また、式(33)を使用する場合、より望まし
くは、まず最初に(dγ1 /dψ)に対して最大値を与
える角度ψ+ を前記の式(10)〜(17)より予め理論的に求
めておき、そして、Γ+ は前記の式(10)〜(17)より理論
的に求めることができるγ1のψ=ψ+ における理論値
とし、γ+ はプログラムA0で実際に測定したγ1 のψ
=ψ+ の時の実測値とすると良い。また、同時に(dγ
1 /dψ)+ は式(10)〜(17)に基づいて理論的に求めら
れるγ1 の一次導関数のψ=ψ+ における理論値とす
る。
【0083】これらの条件がより望ましい理由は、上記
のγ1 が回転角ψに関する比較的性質の良い周期関数
(3回以上微分可能)なので、この様な方法によれば、
γ1 の二次導関数がψ=ψ+ の近傍においてd2 γ1
dψ2 ≒0をよく満たし、よって、Δψ1 の幅が1°前
後と若干大きめでも、十分高い精度で式(33)が成立する
からである。これらの事情は、式(34)を使用する場合に
ついても同様である。
【0084】図9は、測定メインプログラムA0から呼
び出される偏心量計算サブルーチンC0のフローチャー
トである。本サブルーチンC0では、まず最初に、ステ
ップc20により、測定メインプログラムA0で測定し
たデータを検索する。即ち、上記のΔψを用いて補正さ
れた回転角(ψ+Δψ)の値が±π/2であった位置
(図6のOa ,Ob )に偏心円筒の軸(原点O)があっ
た時の第1アーム1の回動角γ1 と砥石台9の位置xの
各測定値を測定データの中から検索する。ただし、測定
点密度が比較的荒い場合には、数値解析の分野で公知
の、例えば放物線近似等の各種補間演算等を用いて、各
点(図6のOa ,Ob )での回動角γ1 の値を求めても
良い。また、この場合には、各位置(図6のOa
b )での砥石台9の位置xの値についても同様に、所
定の補間演算により算出すれば良い。
【0085】次に、ステップc40では、原点Oa ,O
b の各Y座標Ya ,Yb を次式(35),(36),(37)により算
出する。
【数35】 Y=Y1−Y2 …(35)
【数36】 Y1=H+L1sinγ1 …(36)
【数37】 Y2={L2 2−(x+D−L1cosγ1 2 1/2 …(37)
【0086】ただし、ここで、Y1は第2ピポットP′
のY座標である。また、Y2は原点O(Oa ,Ob )と
第2ピポットP′を結ぶ線分OP′をY軸に投影した時
の幅(高さ)であり、言い換えれば、L2cosγ2 (図
2、図6参照)に一致する長さである。従って、例え
ば、偏心円筒の軸が点Oa に位置する場合には、この長
さY2は、図6中の線分P′P1の長さに一致する。
【0087】例えば、原点Oa のY座標Ya をこれらの
式から求めるには、式(36),(37)のγ1 に、補正後の回
転角ψ(補正前の回転角ψ+Δψ)の値が+π/2であ
った時のγ1 の測定値(図6のγ13)を代入し、式(37)
のxには、その時の位置xの測定値を代入して、最後に
式(35)からYa を算出すれば良い。原点Ob の位置につ
いても全く同様に、γ1 =γ14等を各式に代入して、そ
のY座標Yb を求める。
【0088】次に、ステップc60では、偏心円筒の偏
心量Rを次式(38),(39),(40)により算出する。
【数38】 R3 =Ya …(38)
【数39】 R4 =−Yb …(39)
【数40】 R=(R3 +R4 )/2 …(40)
【0089】以上の様に円筒研削盤200を構成し、制
御することにより、例えばクランクシャフト等の回転軸
にて回転可能に支持された工作物を機外に取り外すこと
なく、クランクピン等の偏心円筒の真円加工を自動的か
つより高精度に行うことが可能となる。
【0090】本円筒研削盤200を上記の様に構成し、
制御した結果、次の様な効果を得ることができた。 (a)工作機械上にて偏心円筒の真円度を高精度に測定
することが可能となり、測定データと加工データ間の位
相角ズレ誤差が無くなった。例えば、複数のシリンダー
を有するガソリンエンジンのクランクシャフトのクラン
クピンを真円加工した場合には、クランクジャーナルに
対して所望の正確な角度に各クランクピンを形成するこ
とが可能となったため、各シリンダー内での点火のタイ
ミングがそれぞれ極めて正確となり、エンジンの出力を
向上させることができる様になったと共に、エンジンの
振動、騒音、燃費が大きく低減できた。
【0091】(b)偏心した円筒の中心を測定器の回転
中心に合わせることなく測定することが可能となり、そ
の結果、偏心量、偏心円筒半径、或いは偏心位相角等の
異なる複数の工作物を研削する場合においても、1回の
チャック動作で真円度を高精度に測定することが可能と
なった。例えば、複数のシリンダーを有するガソリンエ
ンジンのクランクシャフトのクランクピンを真円加工し
た場合には、クランクジャーナルに対して所望の正確な
偏心量で各クランクピンを形成することが可能となっ
た。このため、各ピストンのストローク(偏心量×2)
がそれぞれ極めて正確になり、各シリンダーの被点火ガ
スの圧縮比を極めて正確に実現することができる様にな
った。これにより、各シリンダー毎の圧縮比にバラツキ
が生じなくなり、各シリンダーの出力を設計通りにバラ
ンスさせることができる様になったため、エンジンの振
動、騒音、燃費が大きく低減できた。
【0092】(滑動機構パラメータ自動修正手段)三点
接触式測定器又はVブロックの交換、修繕又は調整に伴
って、測定器滑動手段(又はVブロック滑動手段)の姿
勢に係わる、例えば前記の滑動機構パラメータ群(D,
H,R,L1 ,L21,L22,ζ)等の少なくとも1つの
値の修正が必要となる場合がある。例えば、磨耗や破
損、或いは、挟み角αの変更等のためVブロックを交換
する場合等がそれにあたる。
【0093】例えば、本第2実施例の回動角センサを有
する円筒研削盤200(図2、図6)の場合、挟み角α
の変更のためにVブロックを交換すると、図2のL22
及びLの値が変化してしまう。しかしながら、円筒研削
盤200は、回動角センサ(ロータリーエンコーダR
E)を有するため、以下の手順に従えば、Vブロックの
交換により、一旦値が不定となった上記のL22、及びL
の値を自動的に再設定することができる。
【0094】(1)C軸に対して偏心していない半径a
m が正確に既知のゲージ円筒を用意する。ただし、この
ゲージ円筒は、はじめから工作機械の一部分として構成
されているものであっても良いし、C軸を軸として高精
度に真円加工された円筒半径が既知の工作中の工作物で
有っても良い。 (2)円筒研削盤200の一部を構成するコンピュータ
に対して、Vブロックの挟み角αとゲージ円筒の半径a
m を入力又は指定する。
【0095】(3)円筒研削盤200は、以下の手順
で、L22、及びLの値を自動的に再設定する。 (a)次式(41)により、Lの値を再設定する。
【数41】 L=am / sin(α/2) …(41) (b)Vブロック(馬乗りゲージ)を上記のゲージ円筒
に2点接触させ、測定器の測定子の端面をゲージ円筒に
接触させる。
【0096】(c)この接触状態を維持し、三点接触式
測定器の基準点d(Vゲージ25の基準点d)をゼロ点
とする測定用パラメータsに、現在の測定子の端面の位
置として、「L−am 」の値を代入することにより、基
準点dのゼロ点調整を行う。ただし、ここで、sは測定
子がゲージ円筒の軸に向かって伸びようとする向きを正
の向きとする。これにより、この測定用パラメータsの
基準点dにおける値を0に再設定することができる。
【0097】(d)ロータリーエンコーダREの出力値
γ1 を検知する。 (e)式(10)〜(17)に基づいて、予めL22について解か
れた式に既知の変数(滑動機構パラメータ)の値を代入
し、L22の値を求める。(ただし、この時、上記の設定
により、ゲージ円筒は偏心していないので、R=0であ
り、ψは任意である。)
【0098】例えば、以上の様な方法に従えば、前記の
滑動機構パラメータの一部(L22、及びL)の値の修正
又は調整を運動パラメータξ(γ1 )の計測値に基づい
て、自動的に実行することが可能となり、三点接触式測
定器又はVブロックの交換、修繕又は調整に伴う作業の
作業効率が大きく向上する。
【0099】(逐次漸近的真円加工)本第2実施例にお
ける円筒研削盤200を用いれば、「円筒の軸の位相角
誤差Δψの測定(プログラムA0(サブルーチンB
0))→円筒の軸の偏心量Rの測定(サブルーチンC
0)→軸の位置の補正→真円度の測定→真円研削加工」
の各工程から構成される真円加工のサイクルを繰り返し
て、精度を上げながら真円加工を段階的に進めることに
より、逐次漸近的に高精度な真円加工を行うことができ
る。
【0100】特に、この様に多段階に渡って逐次漸近的
に高精度な真円加工を行う場合には、式(32)〜(34)を用
いて位相角誤差Δψを求めた方が、必要十分な精度が得
られる上、計算が簡単になるため、プログラミング時
間、及び演算処理時間が共に短くなり便利である。
【0101】(測定工程のスキップ(工程の省略))こ
の様な場合、例えば、偏心円筒の真円加工における偏心
円筒の中心軸の位置の測定は、要求される加工精度等に
鑑み、必要に応じてそれぞれ必要回数だけ実行すれば良
い。従って、「円筒の軸の位相角誤差Δψの測定(プロ
グラムA0(サブルーチンB0))→円筒の軸の偏心量
Rの測定(サブルーチンC0)→軸の位置の補正→真円
度の測定→真円研削加工」の各工程から構成される真円
加工のサイクルを繰り返して、真円加工を段階的に何度
も(即ち、逐次漸近的に)繰り返す場合、例えば、偏心
円筒の軸の位相角誤差Δψの測定工程などは、そのm回
目(所定回数m≧2)及びそれ以降は、再測定を省略し
ても良い場合があり得る。
【0102】このため、例えば、加工される偏心円筒の
中心軸の、C軸(回転軸)から見た位相角ψ、或いは偏
心量Rの少なくとも一方が、殆ど収束したと判断される
条件下においては、所定の収束条件判定処理を行った上
で、これらの各測位処理の少なくとも一方は省略しても
良い。
【0103】したがって、例えば、所定の収束条件が成
立したm回目以降は、上記の真円加工のサイクルを「円
筒の軸の偏心量Rの測定(プログラムA0(サブルーチ
ンC0))→軸の位置の補正→真円度の測定→真円研削
加工」或いは、「真円度の測定→真円研削加工」等の様
に適当に変更(簡略化)すれば、その後の真円加工のサ
イクルの実行効率を更に向上させることも可能である。
【0104】また、上記の自然数mは、最初から決定さ
れている固定値でも良いし、所定の収束条件が満たされ
たか否か等の判定結果に従って、動的に決定されるもの
で有っても良い。
【0105】(第3実施例)図10は、本第3実施例に
係わる三点接触式測定器700の模式的な側面図(a)
及び正面図(b)である。この三点接触式測定器700
は、第1実施例の円筒研削盤100の三点接触式測定器
(図1の8,22,25,27)の一部を改良したもの
であり、挟み角αの相異なるVブロックを同時に2つ装
着できる点が大きな特徴となっている。
【0106】このため、本三点接触式測定器700を用
いれば、Vブロック上下移動用アクチュエータ29を動
作させることにより、式(22)或いは式(23)(図2或いは
図5)の角度θがm周(m≧1)する度毎に、2種類の
Vブロックを交互に入れ換えて真円度の測定に使用する
ことができる。図11は、三点接触式測定器700の真
円誤差の各スペクトル成分(次数)に対する拡大率を示
す表である。ただし、本表の「α=60°」の行の内容
は、図16の「α=60°」の列の内容と同じものであ
る。
【0107】例えば、この様な、2値(45°、60
°)の組み合せを適用すれば、実用上必要又は十分とさ
れる最大次数n(10≦n≦50程度)までの範囲内に
おいて、真円誤差の各スペクトル成分(次数)に対する
各拡大率の絶対値を各々1.00以上の好適な値に確保する
ことができる。このため、本三点接触式測定器700を
用いれば、人手を介したVブロックの交換作業を行うこ
と無く、十分に精度の高い真円度の測定を実施すること
が可能となる。
【0108】また、Vブロックの挟み角を例えば、α=
80°(≒1.40〔rad 〕)に固定することにより、実用
上必要又は十分とされる各次数に対して、各拡大率の絶
対値を各々実用に耐え得る所定の下限値(>0)以上の
値に確保することが可能となる。従って、要求される真
円度の測定精度によっては、この様に適当な1つの挟み
角αの選択により、必ずしもVブロックを2種類以上用
意しなくとも良い場合もある。
【0109】(第4実施例)図12は、本第4実施例に
係わる三点接触式測定器800の模式的な正面図
(a)、及び、更にその一部分を代替的に改造した代替
構成図(b)である。この三点接触式測定器800
(a)は、第1実施例の円筒研削盤100の三点接触式
測定器(図1の8,22,25,27)の一部を改良し
たものであり、挟み角αの二等分面、即ちVブロックの
中心線(Θ=0)からの角度Θ(原点Oから見た位相)
の相異なる位置(Θ=Θ1,Θ2)にそれぞれ1つづ
つ、合計2つの計量センサ(センサI、センサII)を装
備している点が大きな特徴となっている。
【0110】この様な構成により、「0≦Θ2<Θ0」
成る範囲に設けた計量センサ(センサII)を前記の「日
本機械学会誌 第53巻 第376号 技術論文『円筒
形工作物の真円度測定法』(昭和25年5月)」に記載
されているVブロック式測定法における計量センサとし
て用いることができる。また、「Θ0<Θ1<Θ0′」
成る範囲に設けた計量センサ(センサI)を同論文に記
載されている馬乗ゲージ式測定法における計量センサと
して用いることができる。ただし、本三点接触式測定器
800(a)では「0≦Θ<Θ2、及び、Θ0′<Θ<
2π」成る範囲は、偏心円筒挿入用のスペースとして挿
入口が空けてある。
【0111】また、本三点接触式測定器800(a)
は、Vブロック25の中心線(Θ=0)からの角度Θ2
を一定値に維持したまま、センサIIを本図12中のx2
軸の方向に位置調整(平行移動)することが可能な並進
調整機構を有する。また、本三点接触式測定器800
(a)の台座24に内蔵の測位機構により、この並進量
x2は随時読み取りや再設定が可能となっている。した
がって、この並進調整機構により、測定対象のワーク
(偏心円筒)の半径に大きな自由度を持たせることが可
能となっている。
【0112】更に、各計量センサ(センサI、センサI
I)には、その計量方向に対して位置調整(平行移動)
することが可能な並進調整機構を備えても良い。これに
より、計量センサの測位可能な範囲(又は、高精度に測
位可能な範囲)が比較的狭い場合にも、測定対象となる
ワーク(偏心円筒)の半径に大きな自由度を持たせるこ
とが可能となる。
【0113】また、センサIを用いて第1実施例(式
(5),式(6))に従って偏心円筒の平均半径a0
予め求めておけば、上記の並進調整機構を用いることに
より、偏心円筒の半径(平均半径a0 )の変更に伴うセ
ンサIIの位置(並進量x2)の再設定(最適化)をも自
動化することが可能となる。
【0114】また、偏心円筒の平均半径a0 が予め既知
であり、これに基づいてセンサIIの位置(x2の値)が
予め固定(最適化)されている場合には、センサIとセ
ンサIIとを同時に使用して真円度の測定を行うことがで
きるため、本三点接触式測定器800(a)によれば、
この様な場合、第3実施例の三点接触式測定器700を
使用した際の約半分の測定時間で真円度を測定すること
が可能である。
【0115】図13は、三点接触式測定器800(a)
の真円誤差の各スペクトル成分(次数)に対する各拡大
率を示す表である。ただし、センサI(Θ1=180
°)については、馬乗ゲージ式測定法の理論に従って各
次数に対する拡大率を求め、センサII(Θ2=45°)
については、Vブロック式測定法の理論に従って各次数
に対する拡大率を求めた。この様な設定により、真円度
の測定に必要となる各次数に対して、それぞれ拡大率の
絶対値を1.00以上にすることができると同時に、「0≦
Θ<45°、及び、Θ0′<Θ<360°」成る範囲の
全てを偏心円筒挿入用のスペース(挿入口)として空け
ておくことができる。
【0116】例えばこの様に、三点接触式測定器を構成
すれば、高精度の真円度測定を実現することができると
同時に、測定器の挿入、上昇等の機械的な操作を容易に
自動化することができる様になる。即ち、これらの作用
により、本三点接触式測定器800(a)においては、
効率よく、高精度な真円加工を行うことができる。
【0117】また、図12の代替構成図(b)は、上記
の三点接触式測定器800(a)の台座24上で平行移
動することができたセンサIIの並進調整機構を改造した
代替構成を示すものである。代替構成図(b)の台座2
4には、点C2を回動中心としてセンサIIを回動させる
ことができる回動調整機構が内蔵されており、前述の並
進調整機構と同様に、測定対象の円筒の平均半径a0
応じて、センサIとセンサIIの各計量方向線の交点(原
点O)の位置を移動(調整)することができる様になっ
ている。
【0118】ただし、上記の回動調整機構における点C
2を回動中心とする回動角Θ2は、図12の正面図
(a)に示したセンサIIの計量方向の位相Θ2と常に一
致するため、本回動調整機構を用いる場合には、この位
相Θ2の変更に伴って、図13の拡大率の表のΘ2の行
を回動調整実施後毎回計算し直す必要がある。例えば、
この様な円筒中心調整手段を用いても、上記の三点接触
式測定器800(a)と全く同様の作用効果を得ること
ができる。
【0119】尚、本発明を用いた真円加工における工作
物(偏心円筒)のプロファイルデータの補正は、例え
ば、最終的に偏心量Rが0と成る様に実施しても良い。
言い換えれば、本発明は、例えばC軸(回転軸)で回転
可能に支持されたジャーナルの軸の位置の精密な測定や
真円加工にも適用することができる。
【0120】例えば、より具体的には、クランクシャフ
トのクランクジャーナル等の様に、C軸(回転軸)で支
持された工作物が、その剛性や研削抵抗の変化等に起因
する若干の加工誤差のために、偏心してしまっている場
合等があり得るが、本発明に基づいた円筒の中心軸の測
位や、真円度の測定等に基づいたプロファイルデータの
補正(フィードフォワード)を実施すれば、この様なC
軸(回転軸)で支持されたジャーナル等の高精度な真円
加工をも実現することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係わる円筒研削盤100の概
観を示す側面図。
【図2】本発明の実施例に係わる変数変換手段の作用を
示す図。
【図3】半径a0 の真円断面をもつ円筒にVゲージが乗
った際の両者の位置関係を示す断面図。
【図4】本発明の実施例に係わる円筒研削盤100の構
成図。
【図5】本発明の実施例に係わる補正量δx(x,ψ)
の求め方を示す図。
【図6】本発明の第2実施例に係わる回動角センサ(ロ
ータリーエンコーダRE)を有する円筒研削盤200の
模式的な断面図。
【図7】円筒研削盤200を制御する測定メインプログ
ラムA0のゼネラルフローチャート。
【図8】測定メインプログラムA0から呼び出される位
相角誤差計算サブルーチンB0のフローチャート。
【図9】測定メインプログラムA0から呼び出される偏
心量計算サブルーチンC0のフローチャート。
【図10】本発明の第3実施例に係わる三点接触式測定
器700の模式的な側面図(a)及び正面図(b)。
【図11】三点接触式測定器700の真円誤差の各スペ
クトル成分に対する拡大率を示す表。
【図12】本発明の第4実施例に係わる三点接触式測定
器800の模式的な正面図(a)、及び、その一部分の
代替構成図(b)。
【図13】三点接触式測定器800の真円誤差の各スペ
クトル成分に対する拡大率を示す表。
【図14】馬乗りゲージ式三点接触法を用いた真円度測
定方法を示す図。
【図15】馬乗りゲージ式三点接触法を用いた真円度測
定方法を示す図。
【図16】馬乗りゲージを用いた際の真円誤差の各スペ
クトル成分に対する拡大率を示す表。
【符号の説明】
C … C軸(工作物の回転軸) K … 円筒形工作物(横断面円周) P … 第1ピボット P′… 第2ピボット W … 砥石回転軸 1 … 第1アーム 21… 第2アーム上腕 22… 第2アーム下腕 7 … 砥石 8 … 三点接触式測定器の出力線路 9 … 砥石台 10 … 数値制御装置 14, 15 … 正弦波信号分岐器 16,17 … 波形成形器 25 … 三点接触式測定器のVゲージ又は馬乗りゲー
ジ 27 … 三点接触式測定器の測定子 100 … 円筒研削盤(第1実施例) 200 … 円筒研削盤(第2実施例) RE … ロータリーエンコーダ A0 … 測定メインプログラム B0 … 位相角誤差計算サブルーチン C0 … 偏心量計算サブルーチン 700 … 三点接触式測定器(第3実施例) 29 … Vブロック上下移動用アクチュエータ 800 … 三点接触式測定器(第4実施例)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 FI テーマコート゛(参考) G01B 21/00 G01B 21/00 F (72)発明者 納谷 敏明 愛知県刈谷市朝日町1丁目1番地 豊田工 機株式会社内 (72)発明者 佐々木 雄二 愛知県刈谷市朝日町1丁目1番地 豊田工 機株式会社内 Fターム(参考) 2F062 AA10 AA11 AA21 AA57 AA81 BB04 BC46 BC80 CC22 CC27 DD03 DD24 EE01 EE54 EE62 EE66 FF17 GG24 GG28 GG29 HH05 HH13 HH16 JJ02 2F069 AA01 AA13 AA21 AA31 AA56 AA83 BB40 CC02 CC05 DD15 DD22 FF00 GG01 GG50 GG62 GG63 HH02 HH15 JJ17 LL02 LL04 NN05 QQ10 RR05 3C029 AA01 AA06 3C034 AA01 AA13 CA02

Claims (16)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 回転軸にて回転可能に支持された工作物
    と一体成形され、前記回転軸から偏心した円筒の真円度
    を測定する真円度測定装置であって、 前記円筒の半径を三点接触法により測定する三点接触式
    測定器と、 前記円筒の前記回転軸に垂直な断面上の円周に沿って前
    記三点接触式測定器を接触移動させる測定器滑動手段
    と、 前記真円度測定装置に対する前記回転軸の相対位置xを
    測定する位置測定手段と、 前記円筒の前記回転軸周りの回転角ψを測定する回転角
    測定手段と、 前記回転軸の周りを回転する前記円筒の真円度を前記相
    対位置x、前記回転角ψ、及び、前記三点接触式測定器
    の出力値yより算出する真円度演算手段とを有すること
    を特徴とする真円度測定装置。
  2. 【請求項2】 前記円周の中心又は中心付近に位置する
    原点Oと、この原点Oを始点とする所定の原線OCとを
    持ち、前記円周が座標平面上に固定された2次元極座標
    を用いて、前記円周上における前記出力値yの測定点p
    の位置座標(r,θ)を表現し、 前記測定点pにおける前記出力値yの測定時の前記相対
    位置x、前記回転角ψ、及び、前記測定器滑動手段の姿
    勢に係わる構造を表す諸定数の集合Λより前記角度座標
    θを求める変数変換「θ=f(ψ,x,Λ)」を用い
    て、 前記円周上の各前記測定点pにおける前記出力値yを前
    記角度座標θの関数y(θ)として求める変数変換手段
    を備えることを特徴とする請求項1に記載の真円度測定
    装置。
  3. 【請求項3】 調和解析等の解析技法を用いて、前記関
    数y(θ)より前記円周上の各前記測定点pの前記原点
    Oからの前記距離rを前記角度座標θの関数r(θ)と
    して求める半径演算手段と、 前記角度座標θと前記回転角ψに関して逆向きの前記変
    数変換fに対する変数逆変換「ψ=f-1(θ,x,
    Λ)」により、前記関数r(θ)を前記回転角ψの関数
    r(ψ)に変数変換する変数逆変換手段と、 前記円筒の研削加工時の前記相対位置xに対する補正量
    δxを前記回転角ψの関数δx(ψ)として求める補正
    量演算手段とを備えたことを特徴とする請求項2に記載
    の真円度測定装置。
  4. 【請求項4】 前記三点接触式測定器は、 2つの接触面が成す挟み角αが互いに異なる複数のVブ
    ロックを有するか、或いは、 前記円周の中心又は中心付近に位置する原点Oから見た
    位相Θが互いに異なる複数の位置にそれぞれ計量センサ
    を有することを特徴とする請求項1乃至請求項3のいず
    れか1項に記載の真円度測定装置。
  5. 【請求項5】 前記複数のVブロックは、 互いに異なる前記挟み角αの各二等分面が互いに一致
    し、 この二等分面上に計量方向線が配置された1台の計量セ
    ンサを共有していることを特徴とする請求項4に記載の
    真円度測定装置。
  6. 【請求項6】 前記複数の計量センサの内の少なくとも
    1つは、 前記円筒の平均半径a0 に応じて、自計量センサの位置
    又は計量方向を修正することにより、各計量センサから
    各計量方向へ伸びた直線の交点の位置を調整する円筒中
    心調整手段を有することを特徴とする請求項4に記載の
    真円度測定装置。
  7. 【請求項7】 前記測定器滑動手段の機械的運動に係わ
    る運動パラメータξを検知する運動センサと、 前記三点接触式測定器の交換、修繕又は調整に伴って必
    要となる、前記集合Λに属する少なくとも1つの定数の
    値の修正を、半径am 及び中心座標が既知であるゲージ
    円筒の中心軸測位時の前記運動パラメータξの計測値に
    基づいて自動的に実行する滑動機構パラメータ自動修正
    手段とを有することを特徴とする請求項1乃至請求項6
    のいずれか1項に記載の真円度測定装置。
  8. 【請求項8】 前記測定器滑動手段の機械的運動に係わ
    る運動パラメータξを検知する運動センサと、 前記円周の中心又は中心付近に固定された原点Oの前記
    回転軸から見た位置座標を、前記相対位置x、前記回転
    角ψ、及び前記運動パラメータξ、或いは、これらの変
    数の関連値に基づいて測定する原点測位手段とを有する
    ことを特徴とする請求項1乃至請求項7のいずれか1項
    に記載の真円度測定装置。
  9. 【請求項9】 前記運動センサは、 前記機械的運動を実現するアームの角度を計測する回動
    角センサか、或いは、前記アームの長さを計測するアー
    ム長センサであることを特徴とする請求項7又は請求項
    8に記載の真円度測定装置。
  10. 【請求項10】 回転軸にて回転可能に支持された工作
    物と一体成形され、前記回転軸から偏心した、円筒の中
    心軸の位置を測定する測位装置であって、 前記円筒の前記回転軸に垂直な断面上の円周に沿ってV
    ブロックを接触移動させるVブロック滑動手段と、 前記測位装置に対する前記回転軸の相対位置xを測定す
    る位置測定手段と、 前記円筒の前記回転軸周りの回転角ψを測定する回転角
    測定手段と、 前記Vブロック滑動手段の機械的運動に係わる運動パラ
    メータξを検知する運動センサと、 前記円周の中心又は中心付近に固定された原点Oの前記
    回転軸から見た位置座標を、前記相対位置x、前記回転
    角ψ、及び前記運動パラメータξ、或いは、これらの変
    数の関連値に基づいて測定する原点測位手段とを有する
    ことを特徴とする円筒軸測位装置。
  11. 【請求項11】 前記運動センサは、 前記機械的運動を実現するアームの角度を計測する回動
    角センサか、或いは、前記アームの長さを計測するアー
    ム長センサであることを特徴とする請求項10に記載の
    円筒軸測位装置。
  12. 【請求項12】 前記原点測位手段は、 先ず、前記原点Oの所定の標準位置からの位相角誤差Δ
    ψを求め、 次に、前記回転角ψに対して前記位相角誤差Δψによる
    補正を行い、 その後、前記原点Oの前記回転軸からの偏心量Rを測定
    又は計算することにより、 前記回転軸から見た前記原点Oの位置座標を測定又は補
    正することを特徴とする請求項10又は請求項11に記
    載の円筒軸測位装置。
  13. 【請求項13】 前記Vブロックの交換、修繕又は調整
    に伴って必要となる、前記Vブロック滑動手段の姿勢に
    係わる滑動機構パラメータの少なくとも1つの値の修正
    を、半径am 及び中心座標が既知であるゲージ円筒の中
    心軸測位時の前記運動パラメータξの計測値に基づいて
    自動的に実行する滑動機構パラメータ自動修正手段を有
    することを特徴とする請求項10乃至請求項12のいず
    れか1項に記載の円筒軸測位装置。
  14. 【請求項14】 請求項10乃至請求項13のいずれか
    1項に記載の円筒軸測位装置を備えたことを特徴とする
    請求項1乃至請求項9のいずれか1項に記載の真円度測
    定装置。
  15. 【請求項15】 請求項1乃至請求項9のいずれか1項
    に記載の真円度測定装置、又は、 請求項10乃至請求項13のいずれか1項に記載の円筒
    軸測位装置の内の少なくともいずれか一方を備え、 かつ、前記相対位置x及び前記回転角ψを関数x(ψ)
    により同期制御する同期制御手段を備え、 前記回転軸から偏心した前記円筒を前記同期制御手段を
    用いて研削加工することを特徴とする円筒研削盤。
  16. 【請求項16】 請求項1乃至請求項9のいずれか1項
    に記載の真円度測定装置と、 請求項10乃至請求項13のいずれか1項に記載の円筒
    軸測位装置とを備え、 前記原点測位手段による前記原点Oの前記位置座標の測
    定又は補正と、 前記真円度演算手段による前記円筒の真円度の算出と、 前記同期制御手段を用いた前記研削加工とを組み合わせ
    て順次必要回数実行することにより、 前記円筒を逐次漸近的に真円加工することを特徴とする
    請求項15に記載の円筒研削盤。
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EP00113379A EP1063052B1 (en) 1999-06-25 2000-06-23 Apparatus for measuring dimensional errors of eccentric cylinder by utilizing movement of measuring member held in contact with such eccentric cylinder
US09/599,882 US6729936B1 (en) 1999-06-25 2000-06-23 Apparatus for measuring dimensional errors of eccentric cylinder by utilizing movement of measuring member held in contact with such eccentric cylinder

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003526094A (ja) * 2000-03-06 2003-09-02 マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ 研削箇所におけるクランクピンの寸法、形状の偏りを計測するための装置及び方法
JP2007206086A (ja) * 1999-06-25 2007-08-16 Jtekt Corp 真円度測定装置及び円筒研削盤
CN103292654A (zh) * 2013-06-11 2013-09-11 陈磊磊 一种计算圆柱体零件作用尺寸的方法
JP2019063962A (ja) * 2017-10-04 2019-04-25 株式会社ジェイテクト 工作機械
KR20210118177A (ko) 2019-03-29 2021-09-29 가부시키가이샤 고마쓰 세이사쿠쇼 산업 기계, 치수 추정 장치, 및 치수 추정 방법

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IT1279641B1 (it) 1995-10-03 1997-12-16 Marposs Spa Apparecchio per il controllo del diametro di perni di biella in moto orbitale
DE10344293A1 (de) * 2003-09-23 2005-04-21 Walter Ag Schleifmaschine mit Rundlaufkorrektur
JP4663385B2 (ja) * 2005-04-18 2011-04-06 株式会社ブリヂストン 回転体表面の凹凸データ補正方法
JP2008292199A (ja) * 2007-05-22 2008-12-04 Mitsutoyo Corp 真円度測定装置、真円度測定方法、及び真円度測定プログラム
JP4532577B2 (ja) * 2008-05-23 2010-08-25 ファナック株式会社 数値制御装置と機上計測装置を有する工作機械
DE112009004603T5 (de) * 2009-03-27 2012-08-23 Mitsubishi Electric Corporation Numerische Steuervorrichtung und Verfahren zum Steuern dernumerischen Steuervorrichtung
DE102009032353A1 (de) 2009-07-08 2011-09-08 Hommel-Etamic Gmbh Verfahren zur Ermittlung der Form eines Werkstücks
DE102009042252B4 (de) 2009-09-22 2014-03-06 Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh Meßvorrichtung
DE102010013069B4 (de) 2010-03-26 2012-12-06 Hommel-Etamic Gmbh Meßvorrichtung
EP2559511A4 (en) * 2010-04-16 2017-08-23 Mitsubishi Heavy Industries Machine Tool Co., Ltd. Gear machining method
DE102010021829B4 (de) * 2010-05-28 2015-06-11 Berend Denkena Verfahren zur In-Prozess-Messung eines Radiusfehlers eines Werkstücks und Werkzeugmaschine
CN102059651A (zh) * 2010-07-30 2011-05-18 潘旭华 一种曲轴随动磨削的圆度测量方法
DE102010035147B4 (de) 2010-08-23 2016-07-28 Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh Meßvorrichtung
CN102632457A (zh) * 2012-04-26 2012-08-15 潘旭华 一种曲轴连杆颈随动磨削的圆度测量方法
DE102012018580B4 (de) * 2012-09-20 2015-06-11 Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh Messvorrichtung und Messverfahren zur Inprozess-Messung an Prüflingen während eines Bearbeitungsvorganges an einer Bearbeitungsmaschine, insbesondere einer Schleifmaschine
JP6089774B2 (ja) * 2013-02-26 2017-03-08 株式会社ジェイテクト 研削盤および研削方法
CN103292655B (zh) * 2013-06-24 2015-12-02 桂林电子科技大学 一种有基准约束的圆柱体的作用尺寸的计算方法
CN103506953B (zh) * 2013-08-20 2016-04-27 濮阳贝英数控机械设备有限公司 轴承磨床在线测量装置及应用方法
DE102013226733B4 (de) * 2013-12-19 2021-12-23 Erwin Junker Grinding Technology A.S. VERFAHREN UND SCHLEIFMASCHINE ZUM MESSEN UND ERZEUGEN EINER AUßENSOLLKONTUR EINES WERKSTÜCKES DURCH SCHLEIFEN
KR101652473B1 (ko) * 2015-07-09 2016-08-31 권혁상 환봉의 편심 감지기
DE102016103105A1 (de) * 2016-02-23 2017-08-24 Supfina Grieshaber Gmbh & Co. Kg Finishvorrichtung
DE102016117993A1 (de) * 2016-09-23 2018-03-29 Norbert Ledwig Vorrichtung zum Bestimmen eines Radius und Schleifmaschine
DE102019104949A1 (de) * 2019-01-07 2020-07-09 Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh Messkopf einer Messvorrichtung zur Formmessung an wellenartigen Werkstücken
CN110281037B (zh) * 2019-06-28 2021-09-03 航天神舟飞行器有限公司 一种适用于飞机蒙皮制孔的测量加工执行头
CN113295075B (zh) * 2021-05-21 2023-04-11 郭政 一种测量系统和方法
CN113865539B (zh) * 2021-10-11 2024-03-19 李志伟 一种用于机构偏角及转动副间隙免拆测量的测量方法
CN114714153B (zh) * 2022-04-22 2023-06-09 成都飞机工业(集团)有限责任公司 偏心结构的垂直c轴定位精度检测辅助夹具及检测方法
CN115014153A (zh) * 2022-07-20 2022-09-06 南京明乔机械发展有限公司 一种管路检具的定位装置
CN115752344B (zh) * 2022-11-15 2023-09-05 上海羿弓精密科技有限公司 一种rv减速器曲柄轴相位夹角的检测方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1005430A (fr) * 1947-07-18 1952-04-10 Gendron Freres Ets Dispositif d'auto-calibrage pour machine-outil et en particulier pour rectifieuses en plongée
US2949708A (en) * 1959-06-24 1960-08-23 Cincinnati Milling Machine Co Gage head for in-process gaging in machine tool
US3274693A (en) * 1965-02-04 1966-09-27 Bendix Corp Method and apparatus for roundness measurement
US3568372A (en) * 1967-12-15 1971-03-09 Toyoda Machine Works Ltd Sizing device for effecting sizing over a wide range
US3603044A (en) * 1969-06-10 1971-09-07 Litton Industries Inc Gauge mechanism for grinding machines
US3648377A (en) * 1969-06-25 1972-03-14 Bendix Corp Sling roundness gage
CH647189A5 (fr) * 1982-06-03 1985-01-15 Meseltron Sa Dispositif de manipulation d'une piece cylindrique ou spherique.
DE8425377U1 (de) * 1984-07-03 1986-04-17 Schaudt Maschinenbau Gmbh, 7000 Stuttgart Schleifmaschine zum meßgesteuerten Gewindeschleifen
IT1191690B (it) * 1986-03-20 1988-03-23 Giustina International Spa Apparato di misura indipendente per macchine rettificatrici per cilindri e simili con organi di controllo strutturale e superficiale
FR2665526A1 (fr) * 1990-08-02 1992-02-07 Meseltron Sa Dispositif pour la mesure de diametres de pieces cylindriques en cours d'usinage.
IT1279641B1 (it) 1995-10-03 1997-12-16 Marposs Spa Apparecchio per il controllo del diametro di perni di biella in moto orbitale
GB9608352D0 (en) 1996-04-23 1996-06-26 Western Atlas Uk Ltd Workpiece grinding method and apparatus
DE19714677C5 (de) * 1997-04-09 2010-12-02 Boehringer Werkzeugmaschinen Gmbh Verfahren zur verwendungsfähigen Fertigbearbeitung von Rotationsteilen, insbesondere der Lagerstellen von Kurbelwellen

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007206086A (ja) * 1999-06-25 2007-08-16 Jtekt Corp 真円度測定装置及び円筒研削盤
JP2003526094A (ja) * 2000-03-06 2003-09-02 マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ 研削箇所におけるクランクピンの寸法、形状の偏りを計測するための装置及び方法
JP4828072B2 (ja) * 2000-03-06 2011-11-30 マーポス、ソチエタ、ペル、アツィオーニ 研削箇所におけるクランクピンの寸法、形状の偏りを計測するための装置及び方法
CN103292654A (zh) * 2013-06-11 2013-09-11 陈磊磊 一种计算圆柱体零件作用尺寸的方法
JP2019063962A (ja) * 2017-10-04 2019-04-25 株式会社ジェイテクト 工作機械
JP7000785B2 (ja) 2017-10-04 2022-01-19 株式会社ジェイテクト 工作機械
KR20210118177A (ko) 2019-03-29 2021-09-29 가부시키가이샤 고마쓰 세이사쿠쇼 산업 기계, 치수 추정 장치, 및 치수 추정 방법
DE112020000654T5 (de) 2019-03-29 2021-12-09 Komatsu Ltd. Industriemaschine, Vorrichtung für Schätzung einer Größe sowie Verfahren für Schätzung einer Größe

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