JP2001053377A - 半導体レーザ駆動装置 - Google Patents

半導体レーザ駆動装置

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JP2001053377A
JP2001053377A JP11223803A JP22380399A JP2001053377A JP 2001053377 A JP2001053377 A JP 2001053377A JP 11223803 A JP11223803 A JP 11223803A JP 22380399 A JP22380399 A JP 22380399A JP 2001053377 A JP2001053377 A JP 2001053377A
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Shoji Iwasaki
庄司 岩崎
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    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
    • H01S5/00Semiconductor lasers
    • H01S5/04Processes or apparatus for excitation, e.g. pumping, e.g. by electron beams
    • H01S5/042Electrical excitation ; Circuits therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01SDEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
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    • H01S5/06Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
    • H01S5/068Stabilisation of laser output parameters
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体レーザの高速パルス駆動において、光
出力波形の劣化を防止する。 【解決手段】 第1の入力端子12からの発光レベル指
令信号VREFに基づいて、半導体レーザ30に駆動電流
ILD を供給する。フォトダイオード40、電流−電圧
変換アンプ44、比較器14、および第1の電圧−電流
変換アンプ22によってフィードバックループを形成
し、電流ILDを制御して半導体レーザ30の光出力を安
定させる。第1の電圧−電流変換アンプ22と半導体レ
ーザ30との間の接続点kに、第2の入力端子52、第
2の電圧−電流変換アンプ54および第2のスイッチ5
6の直列回路を接続する。第2の入力端子52がオンの
ときサンプルホールド回路20をサンプルモードに設定
し、駆動電流ILD と固定電流IM との電流差をサンプ
リングし、バイアス電流IC に定める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばプリンタや
コピー装置または光ディスク装置等のレーザ光学系とし
て用いられる半導体レーザ駆動装置、特にパルス変調時
の光出力波形の劣化を防止する半導体レーザ駆動装置に
関する。
【0002】
【従来の技術】従来、プリンタにおける感光材料の走査
や、光ディスク装置におけるディスクの情報の光学的な
記録及び再生等にパルスレーザが用いられている。レー
ザを発生させる手段の1つとして、近年では小型、安
価、消費電力が少ない等の長所を有する半導体レーザが
用いられ、半導体レーザはパルス状の駆動電流が供給さ
れることにより、パルス変調されたレーザビームを出力
する。
【0003】しかしながら、その反面、半導体レーザは
温度が高くなるに連れ光出力が低下する、即ち光出力特
性が周囲の温度に依存するという問題がある。この温度
特性を保証するために、従来では光出力を受光素子でモ
ニタし、温度に関係なく光出力が一定となるように駆動
電流を制御するAPC(Automatic Power Control )回
路が設けられる。
【0004】また、半導体レーザにパルス状の駆動電流
を印加する場合、パルス駆動電流がオン/オフしたとき
に、光出力の時間的後れや、光出力波形に減衰振動が重
畳する緩和振動等の現象が生じることが知られている。
特に、予めレーザビームがある程度発光している状態か
ら所定の光出力レベルに達するまでの立ち上がり時間
と、レーザがオフの状態から同じ光出力レベルに達する
までの立ち上がり時間とが異なり、結果として光出力の
パルス波形が駆動電流のパルス波形に正確に対応しな
い。また特に高速パルス変調の場合には、緩和振動はパ
ルス幅全域にわたるため、光出力波形は矩形ではなくな
り、信号としては不正確なものとなる。
【0005】このため、バイアス電流を常時半導体レー
ザに印加して、時間的後れおよび緩和振動の減少を図っ
ている。半導体レーザの光出力は、駆動電流が所定の電
流値、即ち閾電流値になるまでの自然発光領域ではほと
んど変化せず、駆動電流が閾電流値を超えるレーザ発振
領域になると、駆動電流に比例して急激に変化する。こ
のような光出力特性を考慮して、例えばバイアス電流を
閾電流値近傍の固定値に設定し、レーザ発光指令時のと
きにのみ、発光のための電流をバイアス電流に加算し、
これを駆動電流として半導体レーザに供給している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、この閾電流値
は周囲の温度変化に依存し、温度が高くなるに連れ累加
乗的に高くなるため、レーザ消光指令時の際にレーザ発
光を防止するためには、バイアス電流を閾電流値の変動
し得る領域の最小値より低い値に設定せざるを得ず、こ
のため温度が高くなるとバイアス電流による効果は薄れ
てしまう。
【0007】本発明は、この様な点に鑑みてなされたも
のであり、光出力波形の劣化を起こすことなく、半導体
レーザの高速パルス駆動を行う半導体レーザ駆動装置を
提供することが目的である。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明による半導体レー
ザ駆動装置は、半導体レーザの光出力を所定レベルに定
めるために必要な駆動電流を制御することにより、半導
体レーザの光出力を安定化させる安定化手段と、安定化
手段に設けられ所定の制御電流をサンプリングするサン
プルモードと、直前にサンプリングされた制御電流を保
持するホールドモードとを有するサンプルホールド手段
と、一定の固定電流を発生する発生手段と、固定電流の
半導体レーザへの供給または供給停止を切り替えるスイ
ッチ手段と、サンプルホールド手段のサンプルモードに
同期して、スイッチ手段の切り替えを制御することによ
り、制御電流および固定電流に基づいて求められるバイ
アス電流または駆動電流の一方を、半導体レーザに供給
する制御手段とを備えることを特徴としている。これに
より、半導体レーザに常時供給されるバイアス電流を、
温度の変化に応じて適切な値に設定でき、光出力波形の
劣化を防止できる。
【0009】半導体レーザ駆動装置において、好ましく
は、固定電流が所定の温度における半導体レーザの閾電
流と所定レベルの駆動電流との電流差に一致する。これ
により、ホールドモードにおけるバイアス電流を閾電流
値近傍の値に設定できる。
【0010】半導体レーザ駆動装置において、好ましく
は、スイッチ手段によって半導体レーザへの固定電流の
供給が行われる状態のときに、安定化手段による駆動電
流の制御とサンプルホールド手段によるサンプリングと
が行われる。この場合、サンプルホールド手段がホール
ドモードに定められたときに、直前の駆動電流と固定電
流との電流差が制御電流として保持され、保持された制
御電流がバイアス電流として半導体レーザに供給され
る。
【0011】また、半導体レーザ駆動装置において、好
ましくは、スイッチ手段によって半導体レーザへの固定
電流の供給停止が行われる状態のときに、安定化手段に
よる駆動電流の制御とサンプルホールド手段によるサン
プリングとが行われる。この場合、サンプルホールド手
段がホールドモードに定められたときに、直前の駆動電
流が制御電流として保持され、制御電流と固定電流との
電流差がバイアス電流として半導体レーザに供給され
る。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明による半導体レーザ
駆動装置の実施形態について添付図面を参照して説明す
る。
【0013】図1には、第1実施形態である半導体レー
ザ駆動装置の回路ブロック図が示される。半導体レーザ
駆動装置の第1の入力端子12には、半導体レーザ30
の所定の光出力レベルを指令する電圧信号が発光レベル
指令信号VREF として供給される。半導体レーザ30に
流れる駆動電流は図中ILDで示され、この駆動電流ILD
が発光レベル指令信号VREF に応じた値になるように、
半導体レーザ30のカソード側で制御される。
【0014】第1の入力端子12と半導体レーザ30と
の間には、比較器14、第1のスイッチ16とコンデン
サ18とから成るサンプルホールド回路20、および第
1の電圧−電流変換アンプ22が直列に接続され、半導
体レーザ30は電源端子24に接続される。
【0015】フォトダイオード40は電源端子42に接
続され、半導体レーザ30の光ビームBMの一部を受光
し、その光量を電流値変化として取り出す。フォトダイ
オード40の出力電流IPDは、電流−電圧変換アンプ4
4によって電圧信号である帰還信号VPDに変換され、比
較器14のマイナス端子14bにフィードバックされ
る。
【0016】比較器14のプラス端子14aには発光レ
ベル指令信号VREF が入力されており、帰還信号VPDは
発光レベル指令信号VREF と比較される。比較器14か
ら出力された比較信号Ve は、サンプルホールド回路2
0を介して、第1の電圧−電流変換アンプ22に与えら
れる。第1の電圧−電流変換アンプ22によって、比較
信号Ve は電流に変換され、出力電流Ic として出力さ
れる。
【0017】なお、サンプルホールド回路20は、制御
部60の指令信号に応じてその出力をサンプリングし、
またはホールドする。
【0018】また、半導体レーザ駆動装置は第2の入力
端子52を備え、この第2の入力端子52には一定の値
のバイアスレベル指令信号VM が供給される。第2の入
力端子52と、第1の電圧−電流変換アンプ22および
半導体レーザ30間の接続点kとの間には、第2の電圧
−電流変換アンプ54および第2のスイッチ56が直列
に接続されている。即ち、第1の電圧−電流変換アンプ
22および第2の電圧−電流変換アンプ54は並列に設
けられる。
【0019】第2の入力端子52から入力された電圧信
号VM は、第2の電圧−電流変換アンプ54によって固
定電流IM に変換され、出力される。第2のスイッチ5
6は制御部60の指令信号に応じてオン/オフ動作し、
これにより半導体レーザ30への固定電流IM の供給ま
たは供給停止を制御している。
【0020】次に、半導体レーザ駆動装置の動作につい
て説明する。第1のスイッチ16がオン(図1の実線で
示す状態)に定められると、サンプルホールド回路20
はサンプルモードに設定され、第1のスイッチ16がオ
ンに移行するタイミングに同期して、第2のスイッチ5
6がオンに定められる。サンプルモード時には第2のス
イッチ56は常にオン(図1の実線で示す状態)に定め
られる。
【0021】第2のスイッチ56がオンであるので、半
導体レーザ30には固定電流IM が流れている。このと
き半導体レーザ30が所定の光出力レベルPoを得るた
めに必要な駆動電流ILDの値をIp とすると、接続点k
と第1の電圧−電流変換アンプ22との間には、必要駆
動電流Ip から固定電流IM が差し引かれた電流Icが
流れ、サンプルホールド回路20ではこの電流Ic がサ
ンプリングされる。
【0022】サンプルモード時には、フォトダイオード
40、電流−電圧変換アンプ44、比較器14、および
第1の電圧−電流変換アンプ22によってフィードバッ
クループ(APC回路)が形成される。このAPC回路
は、電流−電圧変換アンプ44の出力(帰還信号VPD)
が発光レベル指令信号VREF と等しくなるように、電流
Ic を制御する。結果として、半導体レーザ30には温
度変化に関係なく常に発光レベル指令信号VREF に対応
した適切な駆動電流Ip が流れ、半導体レーザ30は所
定の光出力レベルPoで発光される。
【0023】このように、サンプリングモードにおける
必要駆動電流Ip は、固定電流IMとAPC回路により
制御された電流Ic との和に一致し、この必要駆動電流
Ipが温度変化に関わらず適切な値となるように電流Ic
が制御される。
【0024】一方、第1のスイッチ16がオフ(図1の
破線で示す状態)に定められると、サンプルホールド回
路20はホールドモードに設定される。ホールドモード
時には、ホールドモードに移行する直前の電流Ic がコ
ンデンサ18に保持され、半導体レーザ30に持続して
流れる。従って、この電流Ic がバイアス電流として半
導体レーザ30に供給される。
【0025】このとき、第2のスイッチ56が例えばH
/Lからなるパルス信号に対応してオン/オフすると、
半導体レーザ30にはH/Lに応じて、バイアス電流I
c に固定電流IM が加算された必要駆動電流Ip か、あ
るいはバイアス電流Ic が流れる。
【0026】図2は半導体レーザ30の駆動電流対光出
力特性を示すグラフである。実線は温度T=t1 のとき
の光出力特性を示し、一点鎖線は温度T=t2 (t2
1)のときの光出力特性を示す。
【0027】温度T=t1 のとき、閾電流値Ith1 まで
の自然発光領域では光出力Pはほとんど変化しないが、
駆動電流ILDが閾電流値Ith1 を超えたレーザ発振領域
では光出力Pは駆動電流ILDに比例して増加する。温度
Tがt1 からt2 に上昇すると、レーザ発振領域は図中
右方にスライドするように移行し、閾電流値はIth1
らIth2 (Ith2 >Ith1 )に変化する。同時に、所定
の光出力Poを得るために必要な駆動電流は、温度t1
ではIp1であるが、温度t2 ではIp2(Ip2>Ip1)だ
け必要となる。
【0028】レーザ発振領域において、駆動電流ILDに
対する光出力Pの割合はスロープ効率ηと呼ばれ、温度
に対してほとんど変化しない(式(1)を参照)。
【数1】
【0029】従って、閾電流値Ithと必要駆動電流Ip
との電流差は温度によってほとんど変化しない(式
(2)を参照)。
【数2】
【0030】第1実施形態は、式(2)に示される半導
体レーザ30の特性を利用しており、必要駆動電流Ip
から閾電流値Ithを差し引いた値を、固定値である固定
電流IM に設定している。これにより、バイアス電流I
c は閾電流値Ithにほぼ一致する。従って、半導体レー
ザ30には常に閾電流値Ithにほぼ等しいバイアス電流
Ic を印加でき、光出力波形の劣化を防止できる。
【0031】図3はサンプルホールド回路20の第1の
スイッチ16、および第2のスイッチ56、半導体レー
ザ30に供給される必要駆動電流Ip 、バイアス電流I
c 、および半導体レーザ30の光出力Pの信号波形図で
ある。図3においては、温度Tがt1 からt2 に遷移し
たときの各信号波形が示される。
【0032】図2および図3を用いて詳述すると、第1
のスイッチ16および第2のスイッチ56が共にオンに
定められると、サンプルホールド回路20はサンプルモ
ードに設定されるので、APC回路によって、必要駆動
電流Ip 、例えば温度t1 のときはIp1と固定電流IM
との電流差がサンプリングされて、温度t1 に対応した
バイアス電流Ic1が定められる。
【0033】第2のスイッチ56がオフとなってサンプ
ルホールド回路20がホールドモードに移行すると、半
導体レーザ30に流れる電流は、第2のスイッチ56の
オン/オフに同期して、移行直前に定められたバイアス
電流Ic1と必要駆動電流Ip1との間で切り替えられ、こ
れに同期して半導体レーザ30の発光状態および消光状
態とが切り替えられる。
【0034】温度Tがt2 に変化すると、再びサンプル
モード時に必要駆動電流Ip2と固定電流IM との電流
差、即ち温度t2 に対応したバイアス電流Ic2がサンプ
リングされて、ホールドモード時には第2のスイッチ5
6のオン/オフに同期して、半導体レーザ30にはバイ
アス電流Ic2と必要駆動電流Ip2とが切り替えられて供
給され、これに同期して半導体レーザ30の発光状態お
よび消光状態とが切り替えられる。
【0035】このように、バイアス電流Ic を常に温度
に応じて変化させ、閾電流値Ithの近傍に定めているの
で、高温(t2 )の場合でも所定の光出力Poに達する
時間は、低温(t1 )の場合とほぼ変わらず、光出力の
時間的遅れは従来に比べて大幅に短縮され、緩和振動も
軽減される。従って、高速パルス駆動の場合でも、画像
信号のパルス波形に正確に対応した光出力波形が得られ
る。
【0036】また、第1実施形態では、従来のAPC回
路に並列して、第2の電圧−電流変換アンプ54および
第2のスイッチ56とからなる簡単な回路を付加するだ
けで実現でき、バイアス電流を温度に応じて変化させる
ための大掛かりな回路を必要としない。
【0037】なお、第1実施形態においては、第1およ
び第2の電圧−電流変換アンプ22および54が電流吸
込みタイプのものであって、半導体レーザ30の駆動電
流ILDはカソード側で制御されるが、逆に第1および第
2の電圧−電流変換アンプ22および54が電流吐出し
タイプのものであって、かつ半導体レーザ30の駆動電
流ILDがアノード側で制御される構成にしてもよい。こ
の場合にも、半導体レーザ駆動装置は第1実施形態とま
ったく同様に動作する。
【0038】図4には、第2実施形態である半導体レー
ザ駆動装置の回路ブロック図が示され、図5には第2実
施形態の半導体レーザ30の駆動電流対光出力特性を示
すグラフが示される。図6は第1のスイッチ16、第2
のスイッチ560、必要駆動電流Ip 、バイアス電流
(Ic −IM )および半導体レーザ30の光出力Pの信
号波形図である。
【0039】第2実施形態では第2の電圧−電流変換ア
ンプ540および第2のスイッチ560の構成が異なる
こと以外は第1実施形態と同じ構成であり、同じ構成に
ついては説明を省略する。第2の電圧−電流変換アンプ
540は電流吐出しタイプのものであり、またサンプル
モード時に第2のスイッチ560はオフに定められる。
【0040】第1のスイッチ16がオンに定められ、サ
ンプルホールド回路20がサンプルモードに設定される
と、第1のスイッチ16がオンに移行するタイミングに
同期して、第2のスイッチ560がオフに定められる。
サンプルモード時には第2のスイッチ560は常にオフ
に定められる。
【0041】このとき、半導体レーザ30が所定の光出
力レベルPoを得るために必要な駆動電流ILDの値をI
p とすると、接続点kと第1の電圧−電流変換アンプ2
2との間に流れる電流Ic は、必要駆動電流Ip と一致
する。サンプルホールド回路20ではこの電流Ic 、即
ち必要駆動電流Ip がサンプリングされる。言い換える
と、サンプルモード時にはAPC回路によって、必要駆
動電流Ip (温度t1のときはIp1、温度t2 のときは
Ip2)がサンプリングされて、必要駆動電流Ip が適切
な値となるように制御される。
【0042】第1のスイッチ16がオフに定められ、サ
ンプルホールド回路20がホールドモードに設定され
と、ホールドモードに移行する直前の電流Ic がコンデ
ンサ18に保持され、半導体レーザ30に持続して流れ
る。
【0043】このとき、第2のスイッチ560がオフの
場合には、コンデンサ18に保持された電流Ic が必要
駆動電流Ip として半導体レーザ30に流れる。一方、
第2のスイッチ560がオンに定められると、接続点k
と第2のスイッチ560との間には固定電流IM が流
れ、半導体レーザ30には電流Ic (=Ip )から固定
電流IM を差し引いた電流が流れる。この電流Ic (=
Ip )と固定電流IM との電流差が温度に対応したバイ
アス電流として作用する。
【0044】即ち、H/Lからなるパルス信号に対応し
て第2のスイッチ560がオフ/オンすると、半導体レ
ーザ30にはH/Lに応じて電流Ic (=Ip )あるい
はバイアス電流(Ic −IM )が流れ、発光状態または
消光状態が切り替えられる。固定電流IM は、バイアス
電流(Ic −IM )が閾電流値Ithにほぼ一致する値に
設定される。従って、バイアス電流(Ic −IM )は常
に温度に応じて変化し、閾電流値Ithの近傍に定められ
る。
【0045】ホールドモードに移行すると、半導体レー
ザ30に流れる電流は、第2のスイッチ560のオン/
オフにより、移行直前に定められたバイアス電流(Ic
−IM )(Ic1−IM あるいはIc2−IM )と電流Ic
(Ic1あるいはIc2)との間で切り替えられ、これに同
期して半導体レーザ30の発光状態および消光状態とが
切り替えられる。
【0046】このように第2実施形態においても、第1
実施形態と同様、バイアス電流を常に温度に応じて変化
させ、閾電流値Ithの近傍に定めているので、高温(t
2 )の場合でも所定の光出力Poに達する時間は、低温
(t1 )の場合とほぼ変わらず、光出力の時間的遅れは
従来に比べて大幅に短縮され、緩和振動も軽減される。
従って、高速パルス駆動の場合でも、画像信号のパルス
波形に正確に対応した光出力波形が得られる。また、第
2実施形態においても簡単な回路を付加するだけで実現
できる。
【0047】なお、第2実施形態においては、第1の電
圧−電流変換アンプ22が電流吸込みタイプであり、第
2の電圧−電流変換アンプ540が電流吐出しタイプの
ものであって、半導体レーザ30の駆動電流ILDはカソ
ード側で制御されるが、逆に第1の電圧−電流変換アン
プ22が電流吐出しタイプであり、第2の電圧−電流変
換アンプ540が電流吸込みタイプのものであって、半
導体レーザ30の駆動電流ILDがアノード側で制御され
る構成にしてもよい。この場合にも、半導体レーザ駆動
装置は第2実施形態とまったく同様に動作する。
【0048】
【発明の効果】本発明によると、光出力波形の劣化を起
こすことなく、半導体レーザの高速パルス駆動を行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による半導体レーザ駆動装置の第1実施
形態を示す回路ブロック図である。
【図2】図1に示す半導体レーザの駆動電流対光出力特
性を示すグラフである。
【図3】図1に示すサンプルホールド回路の第1のスイ
ッチ、第2のスイッチ、駆動電流、および半導体レーザ
の信号波形図である。
【図4】本発明による半導体レーザ駆動装置の第2実施
形態を示す回路ブロック図である。
【図5】図4に示す半導体レーザの駆動電流対光出力特
性を示すグラフである。
【図6】図4に示すサンプルホールド回路の第1のスイ
ッチ、第2のスイッチ、駆動電流、および半導体レーザ
の信号波形図である。
【符号の説明】
16 第1のスイッチ 20 サンプルホールド回路 22 第1の電圧−電流変換アンプ 30 半導体レーザ 40 フォトダイオード 54 第2の電圧−電流変換アンプ 56 第2のスイッチ

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体レーザの光出力を所定レベルに定
    めるために必要な駆動電流を制御することにより、前記
    半導体レーザの光出力を安定化させる安定化手段と、 前記安定化手段に設けられ、所定の制御電流をサンプリ
    ングするサンプルモードと、直前にサンプリングされた
    制御電流を保持するホールドモードとを有するサンプル
    ホールド手段と、 一定の固定電流を発生する発生手段と、 前記固定電流の前記半導体レーザへの供給または供給停
    止を切り替えるスイッチ手段と、 前記サンプルホールド手段のサンプルモードに同期し
    て、前記スイッチ手段の切り替えを制御することによ
    り、前記制御電流および前記固定電流に基づいて求めら
    れるバイアス電流または前記駆動電流の一方を、前記半
    導体レーザに供給する制御手段とを備えることを特徴と
    する半導体レーザ駆動装置。
  2. 【請求項2】 前記固定電流が、所定の温度における半
    導体レーザの閾電流と前記所定レベルの駆動電流との電
    流差に一致することを特徴とする請求項1に記載の半導
    体レーザ駆動装置。
  3. 【請求項3】 前記スイッチ手段によって前記半導体レ
    ーザへの前記固定電流の供給が行われる状態のときに、
    前記安定化手段による前記駆動電流の制御と前記サンプ
    ルホールド手段によるサンプリングとが行われ、 前記サンプルホールド手段がホールドモードに定められ
    たときに、直前の前記駆動電流と前記固定電流との電流
    差が前記制御電流として保持され、保持された前記制御
    電流が前記バイアス電流として前記半導体レーザに供給
    されることを特徴とする請求項2に記載の半導体レーザ
    駆動装置。
  4. 【請求項4】 前記スイッチ手段によって前記半導体レ
    ーザへの前記固定電流の供給停止が行われる状態のとき
    に、前記安定化手段による前記駆動電流の制御と前記サ
    ンプルホールド手段によるサンプリングとが行われ、 前記サンプルホールド手段がホールドモードに定められ
    たときに、直前の前記駆動電流が前記制御電流として保
    持され、前記制御電流と前記固定電流との電流差が前記
    バイアス電流として前記半導体レーザに供給されること
    を特徴とする請求項2に記載の半導体レーザ駆動装置。
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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060289A (ja) * 2001-08-09 2003-02-28 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動回路及び画像形成装置
JP2005011943A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を使用した画像形成装置
JP2005129842A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動回路
JP2005353786A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Nichia Chem Ind Ltd 半導体レーザ駆動回路
GB2397689B (en) * 2003-01-10 2007-02-28 Agilent Technologies Inc Calibration of laser systems
US7400662B2 (en) 2005-01-26 2008-07-15 Avago Technologies Fiber Ip Pte Ltd Calibration of laser systems
WO2017212582A1 (ja) * 2016-06-08 2017-12-14 オリンパス株式会社 光源装置及びこの光源装置を備えた内視鏡システム

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3507738B2 (ja) * 1999-11-30 2004-03-15 松下電器産業株式会社 レーザ駆動装置
JP4449260B2 (ja) * 2001-06-19 2010-04-14 ソニー株式会社 光ディスク記録再生装置のレーザダイオード駆動回路
JP4312573B2 (ja) * 2003-10-27 2009-08-12 株式会社リコー 半導体レーザ駆動回路
US20050271099A1 (en) * 2004-06-04 2005-12-08 Optical Communication Products, Inc. Burst mode transmitter system
KR100623083B1 (ko) * 2004-09-06 2006-09-19 한국정보통신대학교 산학협력단 광연결용 데이터 전송 시스템
JP2006123480A (ja) * 2004-11-01 2006-05-18 Funai Electric Co Ltd 画像形成装置
US7450619B2 (en) * 2005-06-09 2008-11-11 Mindspeed Technologies, Inc. Laser driver loop control and method
US7492298B2 (en) * 2007-04-09 2009-02-17 Infineon Technologies Ag System having a signal converter device and method of operating
CN102593713B (zh) * 2012-03-07 2014-05-07 山东大学 一种模拟半导体激光器自动功率控制的电路
CN103401139B (zh) * 2013-08-07 2015-07-15 烽火通信科技股份有限公司 适用连续和突发模式的激光器监测光功率采样电路及方法
US10097908B2 (en) * 2014-12-31 2018-10-09 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. DC-coupled laser driver with AC-coupled termination element
US10630052B2 (en) 2017-10-04 2020-04-21 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Efficiency improved driver for laser diode in optical communication
US11005573B2 (en) 2018-11-20 2021-05-11 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Optic signal receiver with dynamic control
US11728621B2 (en) * 2019-06-05 2023-08-15 Stmicroelectronics (Research & Development) Limited Voltage controlled steered VCSEL driver
US11579290B2 (en) 2019-06-05 2023-02-14 Stmicroelectronics (Research & Development) Limited LIDAR system utilizing multiple networked LIDAR integrated circuits
US11658630B2 (en) 2020-12-04 2023-05-23 Macom Technology Solutions Holdings, Inc. Single servo loop controlling an automatic gain control and current sourcing mechanism

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2606197A (en) * 1949-12-03 1952-08-05 Parke Davis & Co Halosteroid acid derivatives and preparation of same
JPH0422600Y2 (ja) 1985-07-02 1992-05-25
EP0273361B1 (en) 1986-12-29 1994-06-08 Fuji Photo Film Co., Ltd. Laser beam recording method and apparatus
JPS63250966A (ja) 1987-04-07 1988-10-18 Asahi Optical Co Ltd 半導体レ−ザの光出力制御装置
EP0497431B1 (en) * 1987-04-13 1995-06-28 Sharp Kabushiki Kaisha An apparatus for driving a semiconductor laser device
NL8701986A (nl) * 1987-08-25 1989-03-16 Oce Nederland Bv Besturingsschakeling voor een laserprinter.
JP2562087Y2 (ja) 1991-03-15 1998-02-04 旭光学工業株式会社 レーザーパワー調整装置
US5225884A (en) * 1991-06-05 1993-07-06 Optical Associates, Inc. Excimer laser pulse analyzer and method
JPH0828678B2 (ja) 1993-07-21 1996-03-21 日本電気株式会社 複局同時送信方式
JP3113462B2 (ja) 1993-09-03 2000-11-27 松下電工株式会社 キャビネット
US5848044A (en) * 1995-08-18 1998-12-08 Kabushiki Kaisha Toshiba Semiconductor laser driving circuit, semiconductor laser device, image recording apparatus, and optical disk apparatus
US5986687A (en) * 1996-11-11 1999-11-16 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Laser scan based recording apparatus
US5923427A (en) * 1997-07-10 1999-07-13 Banner Engineering Corporation Optical triangulation distance sensing system and method using a position sensitive detector and an automatic power controlled light source
US6259466B1 (en) * 1998-02-25 2001-07-10 Canon Kabushiki Kaisha Light source drive apparatus and image formation apparatus

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003060289A (ja) * 2001-08-09 2003-02-28 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動回路及び画像形成装置
JP4698086B2 (ja) * 2001-08-09 2011-06-08 株式会社リコー 半導体レーザ駆動回路及び画像形成装置
GB2397689B (en) * 2003-01-10 2007-02-28 Agilent Technologies Inc Calibration of laser systems
JP2005011943A (ja) * 2003-06-18 2005-01-13 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動装置及びその半導体レーザ駆動装置を使用した画像形成装置
JP2005129842A (ja) * 2003-10-27 2005-05-19 Ricoh Co Ltd 半導体レーザ駆動回路
JP4570862B2 (ja) * 2003-10-27 2010-10-27 株式会社リコー 半導体レーザ駆動回路
JP2005353786A (ja) * 2004-06-10 2005-12-22 Nichia Chem Ind Ltd 半導体レーザ駆動回路
US7400662B2 (en) 2005-01-26 2008-07-15 Avago Technologies Fiber Ip Pte Ltd Calibration of laser systems
WO2017212582A1 (ja) * 2016-06-08 2017-12-14 オリンパス株式会社 光源装置及びこの光源装置を備えた内視鏡システム
US11005232B2 (en) 2016-06-08 2021-05-11 Olympus Corporation Light source device

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