JP2001050907A5 - - Google Patents
Download PDFInfo
- Publication number
- JP2001050907A5 JP2001050907A5 JP1999230069A JP23006999A JP2001050907A5 JP 2001050907 A5 JP2001050907 A5 JP 2001050907A5 JP 1999230069 A JP1999230069 A JP 1999230069A JP 23006999 A JP23006999 A JP 23006999A JP 2001050907 A5 JP2001050907 A5 JP 2001050907A5
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- defect
- position information
- defect inspection
- cleaning step
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 59
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims description 47
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 22
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 claims description 15
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 12
- 238000005406 washing Methods 0.000 claims description 7
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000012217 deletion Methods 0.000 description 1
- 230000037430 deletion Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Description
一方、前記検査装置による自動欠点検査方法のみによった場合、前記の基板欠点と基板への付着物との分別ができない不具合に加え、本来欠点ではなかった付着物も欠点と判定される、いわゆるオーバーキルが起こる。すなわち、本来欠点ではない付着物は、再洗浄、簡単な手直し、再加工等で製品化できるが、これが欠点と判定されれば廃棄処理、または重度の手直しがなされ、材料のロス、工程の負担増を招く。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、連続して搬送される基板の洗浄工程の前に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を行い、欠点位置情報を記録し、基板の洗浄工程の後に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を再度行い、洗浄工程の前に行った基板欠点位置情報と洗浄工程の後に行った基板欠点位置情報とを比較し、洗浄工程前後の欠点位置が共に所定の領域内にある場合は同一位置の欠点とみなし、基板への付着物と判定することで、前記欠点が基板の欠点か、または基板への付着物かを判別することを特徴とする基板の検査方法を提供する。この方法により、基板欠点と基板への付着物との判別ができなかった従来の検査装置を使用しても基板の欠点と付着物との判別が可能になる。特に、この方法では、連続体基板が搬送されると同時に検査ができ、検査時間の短縮化が図れる。
【課題を解決するための手段】
本発明は、連続して搬送される基板の洗浄工程の前に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を行い、欠点位置情報を記録し、基板の洗浄工程の後に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を再度行い、洗浄工程の前に行った基板欠点位置情報と洗浄工程の後に行った基板欠点位置情報とを比較し、洗浄工程前後の欠点位置が共に所定の領域内にある場合は同一位置の欠点とみなし、基板への付着物と判定することで、前記欠点が基板の欠点か、または基板への付着物かを判別することを特徴とする基板の検査方法を提供する。この方法により、基板欠点と基板への付着物との判別ができなかった従来の検査装置を使用しても基板の欠点と付着物との判別が可能になる。特に、この方法では、連続体基板が搬送されると同時に検査ができ、検査時間の短縮化が図れる。
また、本発明は、基板の洗浄工程の前に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を行い、欠点検査情報を記録し、基板の洗浄工程の後に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を再度行い、洗浄工程の前に行った基板欠点位置情報と洗浄工程の後に行った基板欠点位置情報とを比較し、洗浄工程前後の欠点位置が共に所定の領域内にある場合は同一位置の欠点とみなし、基板への付着物と判定することで、前記欠点が基板の欠点か、または基板への付着物かを判別することを特徴とする基板の検査方法を提供する。この方法によっても、基板欠点と基板への付着物との判別ができなかった従来の検査装置を使用しても基板の欠点と付着物との判別が可能になる。
たとえば、検出機構の感度として10μmの大きさの物が検出できる装置で、2mmの大きさの欠点を判別しようとしたとき、検出感度は充分であるので、たとえば1ピクセルを1mm角に設定し、連続した2ピクセルで欠点が検出された場合に瑕と判別するようプログラムすることができる。しかし、装置の機械的精度がなく、基板停止位置の再現性が1mm程度しかない場合は、上記と同様のアルゴリズムを使用したとき、基板洗浄前後で同一箇所の欠点と判定する確率が極端に低くなる不具合が生じる。
Claims (2)
- 連続して搬送される基板の洗浄工程の前に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を行い、欠点位置情報を記録し、基板の洗浄工程の後に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を再度行い、洗浄工程の前に行った基板欠点位置情報と洗浄工程の後に行った基板欠点位置情報とを比較し、洗浄工程前後の欠点位置が共に所定の領域内にある場合は同一位置の欠点とみなし、基板への付着物と判定することで、前記欠点が基板の欠点か、または基板への付着物かを判別することを特徴とする基板の検査方法。
- 基板の洗浄工程の前に基板欠点検査機により該基板の欠点検査を行い、欠点位置情報を記録し、基板の洗浄工程の後に同一の基板欠点検査機により該基板の欠点検査を再度行い、洗浄工程の前に行った基板欠点位置情報と洗浄工程の後に行った基板欠点位置情報とを比較し、洗浄工程前後の欠点位置が共に所定の領域内にある場合は同一位置の欠点とみなし、基板への付着物と判定することで、前記欠点が基板の欠点か、または基板への付着物かを判別することを特徴とする基板の検査方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11230069A JP2001050907A (ja) | 1999-08-16 | 1999-08-16 | 基板の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11230069A JP2001050907A (ja) | 1999-08-16 | 1999-08-16 | 基板の検査方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001050907A JP2001050907A (ja) | 2001-02-23 |
JP2001050907A5 true JP2001050907A5 (ja) | 2005-04-28 |
Family
ID=16902065
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11230069A Withdrawn JP2001050907A (ja) | 1999-08-16 | 1999-08-16 | 基板の検査方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001050907A (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN103115928A (zh) * | 2013-02-05 | 2013-05-22 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 玻璃表面异物检查装置、检查机及其检查方法 |
JP2018189552A (ja) * | 2017-05-09 | 2018-11-29 | 日本電気硝子株式会社 | ガラス板、ガラス板の端面検査方法及びガラス板の製造方法 |
CN109307675A (zh) * | 2017-07-26 | 2019-02-05 | 凌云光技术集团有限责任公司 | 一种产品外观检测方法和系统 |
FR3075374A1 (fr) * | 2017-12-19 | 2019-06-21 | Saint-Gobain Glass France | Systeme d'inspection de vitrage ameliore |
CN108593672A (zh) * | 2018-03-01 | 2018-09-28 | 深圳回收宝科技有限公司 | 一种终端触控屏的检测方法、检测装置以及存储介质 |
CN109374628A (zh) * | 2018-08-31 | 2019-02-22 | 中国印刷科学技术研究院有限公司 | 凹印版辊表面缺陷智能检测的缺陷确认方法 |
CN110108713A (zh) * | 2019-04-26 | 2019-08-09 | 武汉精立电子技术有限公司 | 一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统 |
JP2022159652A (ja) | 2021-04-05 | 2022-10-18 | 信越化学工業株式会社 | 欠陥検査装置、欠陥検査方法及びフォトマスクブランクの製造方法 |
-
1999
- 1999-08-16 JP JP11230069A patent/JP2001050907A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7746458B2 (en) | Diagnosing or determining parameters for an installation for detecting open defects in the surfaces of parts by sweating | |
JP2001050907A5 (ja) | ||
JP2010048602A (ja) | プリント基板検査装置及び検査方法 | |
JP3241666B2 (ja) | ガラス容器の欠陥検査装置 | |
JP4464332B2 (ja) | 缶の巻締め不良検査方法 | |
JP2009294033A (ja) | パンタグラフのホーン監視装置 | |
JP4680659B2 (ja) | 製品タイヤの外観検査方法と製品タイヤの外観検査補助装置 | |
JP3366517B2 (ja) | 筒状物欠陥検出装置 | |
JPH07198627A (ja) | 金属表面欠陥検査装置 | |
WO2019122689A1 (fr) | Systeme d'inspection de vitrage amélioré | |
JP5415162B2 (ja) | 円筒体の表面検査装置 | |
JPH06148093A (ja) | 衛生陶器の自動検査方法 | |
JP2006349599A (ja) | 透明基板検査装置及び検査方法 | |
KR20070101669A (ko) | 마운팅 플레이트 어셈블리의 비전 검사장치 및 검사방법 | |
JPS62211544A (ja) | 卵の検査方法 | |
JP2000065749A (ja) | U字状溝を有する部品表面の検査装置 | |
JP3442199B2 (ja) | 表面検査装置 | |
JP2000329699A (ja) | 欠陥検査方法及びその装置 | |
JP2008304958A (ja) | 画像処理によるワーク欠陥検査方法 | |
KR0167596B1 (ko) | 세정장치용 브러쉬마모 검사장치 및 그 검사방법 | |
JP4723894B2 (ja) | ガラスびんのねじ部検査装置及び検査方法 | |
JP4783590B2 (ja) | 光沢円筒面検査装置 | |
JPS5981544A (ja) | 内部欠陥の検出方法 | |
JPH03113352A (ja) | ゴム製品などのワークの傷検査方法 | |
JPH11337323A (ja) | 表面検査方法 |