JP2001042462A - レンチキュラースクリーンを介して観察される画像の作製方法 - Google Patents

レンチキュラースクリーンを介して観察される画像の作製方法

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Abstract

(57)【要約】 【課題】形成される圧縮画像の幅寸法(ピッチ)を実際
のレンチキュラーレンズの幅寸法と一致させ、立体写真
などをより一層綺麗に観察できることを可能としする。 【解決手段】レンチキュラースクリーンLSを介して観
察される画像の作製方法であって、レンチキュラースク
リーンLSを構成する各レンチキュラーレンズLLの幅
寸法を計測して計測値を取得し、計測値と設計値のよう
な基準値とを比較し、その差に応じて、各レンチキュラ
ーレンズLLの下に形成される圧縮画像の配置、数、又
は寸法を可変する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レンチキュラース
クリーンを介して観察される画像の作製方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、複数のレンチキュラーレンズ
からなるレンチキュラースクリーンを用いた立体写真が
普及している。これは、紙又は樹脂シートなどの記録媒
上に形成された複数の圧縮画像を、レンチキュラースク
リーンを介して観察することによって、画像を立体的に
見ることができ、又は見る角度によって異なる画像を見
ることができるようにしたものである。
【0003】圧縮画像の形成方法として、視差のある複
数の原画像が形成されたフィルムを用い、レンチキュラ
ースクリーンを介して印画紙に写真焼付けによって形成
する方法が伝統的に採用されていたが、近年において
は、コンピュータによって圧縮画像をコンピュータ上で
予め画像データとして作製しておき、その画像データに
基づいて印刷装置で用紙などの記録媒体に印刷する方法
がしばしば採用されている。
【0004】コンピュータを用いる後者の方法において
は、観察に使用するレンチキュラーレンズの幅寸法(ピ
ッチ)及び圧縮画像の個数などに応じて、圧縮画像のサ
イズが決定される。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】さて、立体写真が鮮明
な画像で綺麗に見えるためには、レンチキュラーレンズ
のピッチと記録媒体に形成される圧縮画像のピッチとを
正確に合わせておく必要がある。
【0006】ところが、レンチキュラーレンズは、通
常、プラスチックを用いた型成形によって作製されるの
で、設計上のピッチと実際の製品のピッチとの間に誤差
が生じる。
【0007】そのため、記録媒体に形成された圧縮画像
の上にレンチキュラースクリーンを載せた際に、レンチ
キュラーレンズと圧縮画像とが、ある部分においては正
確に合うが、他のある部分においてはずれが生じること
がある。
【0008】したがって、従来においては、形成される
圧縮画像のピッチとレンチキュラーレンズのピッチとが
各部において正確に一致せず、立体写真が綺麗に見えな
いという問題があった。
【0009】本発明は、上述の問題に鑑みてなされたも
ので、形成される圧縮画像の幅寸法(ピッチ)を実際の
レンチキュラーレンズの幅寸法と一致させ、立体写真な
どをより一層綺麗に観察できることを可能とした、レン
チキュラースクリーンを介して観察される画像の作製方
法を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る方
法は、レンチキュラースクリーンを介して観察される画
像の作製方法であって、前記レンチキュラースクリーン
を構成する各レンチキュラーレンズの幅寸法を計測して
計測値を取得し、計測値と基準値とを比較し、その差に
応じて、各レンチキュラーレンズの下に形成される圧縮
画像の配置、数、又は寸法を可変する。
【0011】請求項2の発明に係る方法では、前記レン
チキュラースクリーンを樹脂成形するための成形型の寸
法を計測することによって前記計測値を取得する。請求
項3の発明に係る方法では、同じ成形型によって樹脂成
形された1つ又は複数のレンチキュラースクリーンの寸
法を計測することによって前記計測値を取得する。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る圧縮画像の作
製方法を説明するための図である。図1(A)におい
て、レンチキュラースクリーンLSは、レンチキュラー
レンズLLからなっている。それぞれのレンチキュラー
レンズLLは、断面がかまぼこ型を呈しており、且つ線
状に互いに平行に伸びている。
【0013】各レンチキュラーレンズLLの幅寸法P
は、その設計値(基準値)はすべて同じ値であるが、実
際には、それらは製品誤差のために完全には一致しな
い。製品誤差の原因として、例えば次の要因がある。
【0014】すなわち、レンチキュラースクリーンLS
は、通常、成形型を用いて樹脂成形される。成形型の製
作過程において、ダイヤモンドバイトの微妙な歪み、精
度の狂い、又は研削過程の精度の狂いなどによって、成
形型において、各レンチキュラーレンズLLとなる部分
の幅寸法が設計値から誤差を持ってしまう。また、成形
型によって樹脂成形した際に、樹脂の温度、圧力、成分
などの微妙な差異によって、成形型の寸法から誤差を持
ってしまうことがある。
【0015】そこで、各レンチキュラーレンズLLの幅
寸法Pの実際の値をP1,P2,P3…とする。これら
の値P1,P2,P3…は、各レンチキュラーレンズL
Lの幅寸法を計測することによって取得される。つま
り、この場合に、値P1,P2,P3…は計測値であ
る。
【0016】レンチキュラースクリーンLSにおいて、
レンチキュラーレンズLLの計測値P1,P2,P3…
を取得するには、例えば次の方法が用いられる。1つの
方法は、投影機を用い、レンチキュラーレンズLLの端
面形状を拡大投影して測定する。この場合には、例えば
1μm程度の精度で測定可能である。他の1つの方法
は、表面粗さ計を用い、レンチキュラースクリーンLS
の表面状態を拡大して計測する。また、他の方法では、
適当な冶具を用い、マイクロメータなどにより測定す
る。
【0017】計測値P1,P2,P3…を取得する際
に、レンチキュラースクリーンLSそれ自体を計測して
もよい。その場合には、1つの同じ成形型から作製され
た数個のレンチキュラースクリーンLSについて計測を
行い、それらの平均値などを求めればよい。得られた計
測値P1,P2,P3…は、それと同じ成形型を用いて
作製されたレンチキュラースクリーンLSに対して適用
される。
【0018】また、成形型を計測することによって計測
値P1,P2,P3…を得てもよい。この場合には、得
られた計測値P1,P2,P3…は、その成形型を用い
て作製されたレンチキュラースクリーンLSに対して適
用される。
【0019】図2は3種類のレンチキュラースクリーン
LS1〜3についての計測値P1,P2,P3…の例を
示す図である。なお、基準値は全てについて「38.
2」である。単位はミクロンである。
【0020】図2に示すように、1つ目のレンチキュラ
ースクリーンLS1についての計測値は、基準値に対し
て一定のリズムで漸増しており、その誤差は等差級数的
に誤差が増大している。
【0021】2つ目のレンチキュラースクリーンLS2
についての計測値は、基準値に対して同じ一定の誤差を
有している。3つ目のレンチキュラースクリーンLS3
についての計測値は、基準値に対して不規則な誤差を有
している。このように、計測値の基準値に対する誤差に
は種々のパターンがある。
【0022】図1(B)に戻って、1つのレンチキュラ
ーレンズLLの下に、5つの圧縮画像1,2,3,4,
5が形成されるものとする。5つの圧縮画像のセットを
圧縮画像FPと記載する。この場合に、各レンチキュラ
ーレンズLLの幅寸法の計測値P1,P2,P3…の中
に、それぞれ5つの圧縮画像FP1,2,3…がきっち
りと配置されるのが好ましい。
【0023】しかし、上に述べたように計測値P1,P
2,P3…には誤差があるので、全ての圧縮画像FP
1,2,3…を、同じ配置、数、及び寸法で形成した場
合には、レンチキュラーレンズLLの下からはみ出した
り、隣のレンチキュラーレンズLLの下に入ってしまっ
たり、レンチキュラーレンズLLの下に配置される圧縮
画像の配置がでたらめなものとなってしまう可能性があ
る。
【0024】そこで、本実施形態においては、計測値P
1,P2,P3…と基準値とを比較し、その差に応じ
て、各レンチキュラーレンズLLの下に形成される圧縮
画像FP1,2,3…の配置、数、又は寸法を可変す
る。
【0025】図3は計測値Paを有する1つのレンチキ
ュラーレンズLLの下に形成される圧縮画像FPaの配
置例を示す図である。図3(A)は、計測値Paが基準
値よりも大きい場合であり、5つ目の圧縮画像5が2回
形成されている。その場合に、2回目に形成される圧縮
画像5は、計測値Paに合うように、幅方向に圧縮され
又は一部が削除されている。
【0026】図3(B)は、計測値Paが基準値よりも
小さい場合であり、5つ目の圧縮画像5は、計測値Pa
に合うように、幅方向に圧縮され又は一部が削除されて
いる。なお、この場合に、5つの圧縮画像1〜5の全て
について、均等に幅方向に圧縮し又は一部を削除するこ
とによって、計測値Paに合わせてもよい。
【0027】図3(C)は、計測値Paが基準値よりも
小さい場合であり、レンチキュラーレンズLLの計測値
Paの下に、4つの圧縮画像1〜4のみが入っている。
この場合に、4つの圧縮画像1〜4は、計測値Paに合
うように、それぞれの幅方向に少し拡大されている。
【0028】図3(D)は、計測値Paが基準値よりも
大きい場合であり、5つ目の圧縮画像5が形成された
後、余りの部分は空白となっている。その結果、次のレ
ンチキュラーレンズLLの下には、圧縮画像が1つ目か
ら正しく配置される。
【0029】またレンチキュラーレンズLLの下に空白
部分ができてしまう場合に、その空白部分が左右の端部
に振り分けられて配置されるよう、圧縮画像を中央に配
置してもよい。
【0030】また、レンチキュラーレンズLLの下に形
成される圧縮画像を幅方向に拡大又は縮小する場合に、
中央部に配置される圧縮画像の拡大率又は縮小率を、端
部に配置される圧縮画像のそれらよりも小さくし、又は
大きくしておいてもよい。
【0031】このように、圧縮画像の配置、数、又は寸
法を可変するには、圧縮画像を形成するためのデータ処
理装置において、データ処理又は画像処理を行えばよ
い。その際に、レンチキュラーレンズLLの計測値P
1,P2,P3…に応じて、圧縮画像の配置、数、又は
寸法を各計測値に合うように可変するための適当なアル
ゴリズムが用いられる。そのようなアルゴリズムは、処
理装置のCPUによって実行されるプログラムとして提
供される。データ処理装置として、パーソナルコンピュ
ータ、ワークステーション、又は専用機などが用いられ
る。
【0032】図4はレンチキュラースクリーンを介して
観察される画像の作成手順を示すフローチャートであ
る。図4において、レンチキュラースクリーンLSの各
レンチキュラーレンズLLの幅寸法Pを計測する(#1
1)。これによって計測値P1,P2,P3…が得られ
る。計測値と基準値とが比較される(#12)。基準値
として、例えば設計値が用いられる。なお、ここでの比
較は、必ずしも1対1で比較するものではなく、計測値
に対し、基準値を意識した何らかのデータ処理を行う場
合を含む。そして、圧縮画像をどのように配置するかを
演算する(#13)。
【0033】演算された結果に基づいて、圧縮画像を用
紙などの記録媒体に形成する(#14)。ここで、圧縮
画像の形成のために、例えば、印刷又は写真焼付けなど
が行われる。圧縮画像の形成された記録媒体をレンチキ
ュラーレンズLLと一体化して完成させる(#15)。
【0034】本実施形態によると、形成される圧縮画像
の幅寸法(ピッチ)を実際のレンチキュラーレンズの幅
寸法と一致させることができる。したがって、立体写真
などをより一層綺麗に観察できることが可能となる。
【0035】上に述べた実施形態において、圧縮画像の
形成のために、例えば、特開平10−65899号に記
載の技術、その他の公知の種々の技術を適用することが
可能である。
【0036】
【発明の効果】本発明によると、形成される圧縮画像の
幅寸法(ピッチ)を実際のレンチキュラーレンズの幅寸
法と一致させ、立体写真などをより一層綺麗に観察でき
ることが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る圧縮画像の作製方法を説明するた
めの図である。
【図2】種々のレンチキュラースクリーンについての計
測値の例を示す図である。
【図3】1つのレンチキュラーレンズの下に形成される
圧縮画像の配置例を示す図である。
【図4】レンチキュラースクリーンを介して観察される
画像の作成手順を示すフローチャートである。
【符号の説明】
LS レンチキュラースクリーン LL レンチキュラーレンズ P1,P2,P3… 計測値

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】レンチキュラースクリーンを介して観察さ
    れる画像の作製方法であって、 前記レンチキュラースクリーンを構成する各レンチキュ
    ラーレンズの幅寸法を計測して計測値を取得し、 計測値と基準値とを比較し、その差に応じて、各レンチ
    キュラーレンズの下に形成される圧縮画像の配置、数、
    又は寸法を可変する、 ことを特徴とするレンチキュラースクリーンを介して観
    察される画像の作製方法。
  2. 【請求項2】前記レンチキュラースクリーンを樹脂成形
    するための成形型の寸法を計測することによって前記計
    測値を取得する、請求項1記載のレンチキュラースクリ
    ーンを介して観察される画像の作製方法。
  3. 【請求項3】同じ成形型によって樹脂成形された1つ又
    は複数のレンチキュラースクリーンの寸法を計測するこ
    とによって前記計測値を取得する、 請求項1記載のレンチキュラースクリーンを介して観察
    される画像の作製方法。
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Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007078941A (ja) * 2005-09-13 2007-03-29 Seiko Epson Corp 画像処理装置、印刷装置および印刷方法
JP2007125750A (ja) * 2005-11-02 2007-05-24 Seiko Epson Corp 印刷装置、および、印刷方法
JP2007125751A (ja) * 2005-11-02 2007-05-24 Seiko Epson Corp 画像処理装置、印刷装置および印刷方法
WO2009087809A1 (ja) * 2008-01-08 2009-07-16 Dai Nippon Printing Co., Ltd. 立体画像印刷物
WO2009087810A1 (ja) * 2008-01-08 2009-07-16 Dai Nippon Printing Co., Ltd. 立体画像印刷物
JP2009186972A (ja) * 2008-01-08 2009-08-20 Dainippon Printing Co Ltd 立体画像印刷物
JP2011053583A (ja) * 2009-09-04 2011-03-17 Seiko Epson Corp 画像処理方法および印刷装置
JP2011059469A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Seiko Epson Corp 画像処理方法および印刷装置
JP2015031816A (ja) * 2013-08-02 2015-02-16 セイコーエプソン株式会社 画像処理方法および印刷装置
US9342768B2 (en) 2013-08-02 2016-05-17 Seiko Epson Corporation Three-dimensional image program and printer
US9342766B2 (en) 2013-08-02 2016-05-17 Seiko Epson Corporation Image generation program and printer for printing composite image on a medium arranged so as to face a lens layer having a plurality of lenses
US9402069B2 (en) 2013-06-07 2016-07-26 Canon Kabushiki Kaisha Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus
US9407841B2 (en) 2013-06-07 2016-08-02 Canon Kabushiki Kaisha Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus
US9479676B2 (en) 2013-08-02 2016-10-25 Seiko Epson Corporation Printer and program
JP2019185169A (ja) * 2018-04-03 2019-10-24 富士通コンポーネント株式会社 入力装置

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2007078941A (ja) * 2005-09-13 2007-03-29 Seiko Epson Corp 画像処理装置、印刷装置および印刷方法
JP2007125750A (ja) * 2005-11-02 2007-05-24 Seiko Epson Corp 印刷装置、および、印刷方法
JP2007125751A (ja) * 2005-11-02 2007-05-24 Seiko Epson Corp 画像処理装置、印刷装置および印刷方法
US8861032B2 (en) 2008-01-08 2014-10-14 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Stereoscopic print
WO2009087809A1 (ja) * 2008-01-08 2009-07-16 Dai Nippon Printing Co., Ltd. 立体画像印刷物
WO2009087810A1 (ja) * 2008-01-08 2009-07-16 Dai Nippon Printing Co., Ltd. 立体画像印刷物
JP2009163035A (ja) * 2008-01-08 2009-07-23 Dainippon Printing Co Ltd 立体画像印刷物
JP2009186972A (ja) * 2008-01-08 2009-08-20 Dainippon Printing Co Ltd 立体画像印刷物
CN101910939B (zh) * 2008-01-08 2012-05-02 大日本印刷株式会社 立体图像印刷物
JP2011053583A (ja) * 2009-09-04 2011-03-17 Seiko Epson Corp 画像処理方法および印刷装置
JP2011059469A (ja) * 2009-09-11 2011-03-24 Seiko Epson Corp 画像処理方法および印刷装置
US9402069B2 (en) 2013-06-07 2016-07-26 Canon Kabushiki Kaisha Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus
US9407841B2 (en) 2013-06-07 2016-08-02 Canon Kabushiki Kaisha Depth measurement apparatus, imaging apparatus, and method of controlling depth measurement apparatus
JP2015031816A (ja) * 2013-08-02 2015-02-16 セイコーエプソン株式会社 画像処理方法および印刷装置
US9342768B2 (en) 2013-08-02 2016-05-17 Seiko Epson Corporation Three-dimensional image program and printer
US9342766B2 (en) 2013-08-02 2016-05-17 Seiko Epson Corporation Image generation program and printer for printing composite image on a medium arranged so as to face a lens layer having a plurality of lenses
US9479676B2 (en) 2013-08-02 2016-10-25 Seiko Epson Corporation Printer and program
JP2019185169A (ja) * 2018-04-03 2019-10-24 富士通コンポーネント株式会社 入力装置

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