JP2001025973A - ビトリファイドボンド工具及びその製造方法 - Google Patents
ビトリファイドボンド工具及びその製造方法Info
- Publication number
- JP2001025973A JP2001025973A JP20152499A JP20152499A JP2001025973A JP 2001025973 A JP2001025973 A JP 2001025973A JP 20152499 A JP20152499 A JP 20152499A JP 20152499 A JP20152499 A JP 20152499A JP 2001025973 A JP2001025973 A JP 2001025973A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- abrasive grains
- vitrified bond
- support
- layer
- vitrified
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Grinding-Machine Dressing And Accessory Apparatuses (AREA)
- Polishing Bodies And Polishing Tools (AREA)
- Finish Polishing, Edge Sharpening, And Grinding By Specific Grinding Devices (AREA)
Abstract
手段及びそのワークの汚染又は損傷が防止され、安価に
製造可能なビトリファイドボンド工具及びその製造方法
の提供。 【解決手段】支持体1上にガラスペーストをベタ印刷し
て下地層2を形成し乾燥させ、下地層2上にガラスペー
ストをパターン印刷して乾燥させ多数のドット3を形成
し、多数の砥粒4をドット3上から散布して各ドット3
上にダイヤモンド砥粒4を一個ずつ保持させ、この状態
で焼成を行う。支持体1表面にビトリファイドボンド層
5が形成され、ビトリファイドボンド層5上に複数のダ
イヤモンド砥粒4がドット状にパターン配置された状態
で固着され、砥粒同士の突出し量が揃ったビトリファイ
ドボンド工具を得る。
Description
ンド工具に関し、特に超砥粒を保持したドレッシング用
のビトリファイドボンド工具に関し、中でも研磨工具の
目立てに用いられるドレッシング工具に関し、例えば、
半導体ウェハの化学的機械的研磨(Chemical Mechanic
al Polishing、略して「CMP」と称する)に用いら
れる研磨パッドの目立て用のドレッシング工具に関す
る。
の集積度が向上するにつれて、多層化が進み、積層膜の
表面を平坦化するためCMPが多用されている。このC
MP工程においては、研磨パッドに微細な研磨粒子を含
む研磨液を供給しながら、研磨布と半導体ウェハを相対
的に回転させることにより、半導体ウェハをポリッシン
グする。半導体ウェハのCMP工程においては、研磨代
が非常に小さく、かつ、高精度な平坦度が要求されるた
め研磨パッドの目立てが必要である。従来、この目立て
を、電着ダイヤモンド工具を用いて行っている。この電
着ダイヤモンド工具においては、ステンレス等の金属台
金上にダイヤモンド砥粒が、Ni金属(電着ボンド)に
より固定されている。
ウェハ研磨用の研磨パッドのドレッサとして、ワイヤ放
電加工又は金型成形等によって形成された多数の凸部を
有する台金の作用面に、気相合成法によりダイヤモンド
薄膜を形成したドレッサが提案されている。
-193266号公報には、「所定の印刷パターンを有するス
クリーンを支持体上に位置決めし、砥粒及びビトリファ
イドボンドが分散したスラリを前記スクリーンを介して
前記支持体上に塗布し、焼結することを特徴とするビト
リファイドボンド工具の製造方法」が提案されている。
ッドの目立てをNi金属を電着ボンドとして用いた電着
ダイヤモンド工具を用いて行う場合、特に、CMPの研
磨液が強酸性の場合、Ni金属が研磨液中に溶出して被
加工物が汚染されるという問題点がある。さらに、電着
ダイヤモンド工具ではダイヤモンド砥粒が砥粒層内でラ
ンダムに配置されているため、砥粒個々の保持力にばら
つきがある。そのためドレッシング時に保持力の弱い砥
粒が脱落して研磨パッド上に残留し、その結果、被加工
物を傷つけてしまうという問題点がある。
た、砥粒を用いないドレッサは、台金に多数の凸部を加
工する工程、その上気相合成法を用いてダイヤモンド薄
膜を形成する工程を必須としているため、きわめて高価
である。なお、特開平10-44023号公報及び特開平10-138
120号公報に提案されているドレッサにも同様の問題が
ある。
号公報で提案している製造方法によれば、砥粒及びビト
リファイドボンドが分散したスラリをスクリーンを介し
て支持体上に塗布しているため、粒径が40μm程度より
大きな砥粒を用いた場合には砥粒の沈降等により砥粒が
スラリ中に分散しにくく、砥粒が凝集して支持体上に塗
布され、この凝集状態で焼結により支持体上に固着され
るおそれがある。
その結果、ドレッシング対象である研磨手段及びそのワ
ークの汚染又は損傷が防止され、しかも安価に製造する
ことができるビトリファイドボンド工具及びその製造方
法を提供することである。
いて、支持体上に、互いに一個ずつ離間された状態で、
ビトリファイドボンド層によって保持されている複数の
砥粒を有するビトリファイドボンド工具を提供する。
ド工具においては、砥粒の一個一個が独立して存在して
いることにより、各砥粒はいずれも十分な量のビトリフ
ァイドボンド層と接触した状態で、保持されることがで
きる。したがって、各砥粒の保持力のバラツキが小さく
され、どの砥粒も一定以上の保持力で保持されることが
できる。この結果、このビトリファイドボンド工具を使
用した際、砥粒の脱落が高度に防止され、この工具によ
って研磨及び研削されるワーク、又はドレッシングされ
る研磨手段及び該研磨手段のワークの汚染や損傷が防止
される。また、このビトリファイドボンド工具において
は、ロット間における研削及び研磨能力、いわゆる切れ
味のバラツキも小さくされる。ゆえに、このビトリファ
イドボンド工具は、研磨代がきわめて小さく、高い平坦
度が要求される半導体ウェハをポリッシングする研磨パ
ッドのドレッシングに適するものである。しかも、この
ビトリファイドボンド工具によれば、支持体に特別の加
工を施す必要がなく汎用の支持体を用いることができ、
又砥粒の凝集が防止されて各砥粒がそれぞれ十分な研削
能力を発揮するため全体として砥粒の使用量(砥粒数)
を節約することができ、これによってコストダウンが達
成される。
は、上述したように、十分な砥粒保持力が得られる構造
を有しているから、ビトリファイドボンド層の厚さを薄
く形成できる。よって、焼成直後かつ使用前、大部分の
砥粒がビトリファイドボンド層から突き出た状態のビト
リファイドボンド工具を製造し、ツルーイングなしでこ
の工具を使用することも十分に可能である。
いては、セラミックス質ないしガラス質の支持体を用い
ることにより、ビトリファイドボンド工具に金属が含ま
なくされる。このようなビトリファイドボンド工具は、
金属汚染を嫌う半導体ウェハのCMP工程で用いられる
研磨パッドのインラインでのドレッシングに適してい
る。
に、ドット状に位置決めされて配置され、ビトリファイ
ドボンド層によって保持されている複数の砥粒を有する
ビトリファイドボンド工具を提供する。本発明は第3の
視点において、支持体上に、所定範囲の間隔をおいて互
いに離間した状態で、ビトリファイドボンド層によって
保持されている複数の砥粒を有するビトリファイドボン
ド工具を提供する。本発明は第4の視点において、支持
体上、ビトリファイドボンド層前駈体により位置決めさ
れて配置された複数の砥粒を有するビトリファイドボン
ド工具を提供する。
具も、基本的に上記第1の視点に係るビトリファイドボ
ンド工具と、基本的に共通の作用効果を発揮し、これら
のさらなる利点は、発明の実施の形態及び実施例の欄の
記載から明らかになるであろう。
ビトリファイドボンドを含むペースト層を所定パターン
で形成する工程、グリーン状態のペースト層上から複数
の砥粒を散布する工程、複数の砥粒が支持体上において
所定パターンで配置された状態で焼成する工程を含むビ
トリファイドボンド工具の製造方法を提供する。本発明
は第6の視点において、支持体上に、ビトリファイドボ
ンドを含むペーストから構成される下地層を形成する工
程、下地層上にビトリファイドボンドを含むペースト層
を所定パターンで形成する工程を含むビトリファイドボ
ンド工具の製造方法を提供する。本発明は第7の視点に
おいて、支持体上に、所定パターンのペースト層にそれ
ぞれ保持された複数の砥粒上から、ビトリファイドボン
ドを含むペーストないしスラリを塗布又は散布して、各
砥粒の周囲に被覆層を形成する工程を含むビトリファイ
ドボンド工具の製造方法を提供する。
具の製造方法によれば、支持体の平面方向ないしその砥
粒固着面に沿って、砥粒が位置決めされて配置されるこ
と、及び、単層の砥粒層が形成されることが基本的に保
証される。そして、これらの製造方法によれば、上記各
視点に係るビトリファイドボンド工具を安価に製造する
ことができ、特に、焼成直後において、砥粒の下部がビ
トリファイドボンド層中に十分に埋没していることによ
り必要な砥粒保持力が得られ、一方、砥粒の先端部はビ
トリファイドボンド層に覆われず剥き出しの状態であ
る、ビトリファイドボンド工具を製造することができ
る。さらに、これらの製造方法によれば、種々のパター
ンで複数の砥粒を支持体上に固着させることができ、用
途に応じた砥粒保持力及び研磨能力を有するビトリファ
イドボンド工具を製造することができる。
て、ビトリファイドボンドにより支持体に固着されたこ
とを特徴とするビトリファイドボンド工具」を提案して
いる(特開平10-193266号公報参照)。本発明者らは、
鋭意研究を進めた結果、本出願において、複数の砥粒の
平面上の位置、すなわち、研削面をなす砥粒の平面的、
空間的配置がさらに厳密に制御されたビトリファイドボ
ンド工具を提供するものである。
項に記載のとおりであり、その引用をもってその重複記
載を省略する。よって、各請求項の各特徴は、ここに記
載されているものとみなされる。
態を説明する。
明の第1の実施の形態に係るビトリファイドボンド工具
の製造方法を説明する。
有ペーストを、所定の厚みで均一に印刷し、下地層を形
成する。これを所定の厚みが得られるまで繰り返し行
う、すなわち多層印刷を行う。なお、ここでは印刷法に
代えてスプレー法を用いて下地層を形成してもよい。
させる。
含有ペーストを所望の大きさ、ピッチでドット形状に均
一にパターン印刷し、パターン形成されたペースト層を
形成する。
燥する前に、複数の砥粒を印刷面全面に散布する。
燥し、ある程度まで固化させる。
るペースト層上に載っている砥粒が該ペースト層に固定
される。この結果、複数の砥粒がドット状にパターン配
置される。
ち、印刷面を下にして、振動テーブルや小型振動機を用
いて支持体に振動を与えることにより、ドット状に配置
されたペースト間など、ドット状ペーストが印刷されて
いない部分にある砥粒を支持体から落とす。これらの砥
粒は回収して再利用する。
セラミックス成分又はガラス成分の種類に応じて設定さ
れた焼成条件で焼成を行う。
明の第2の実施の形態に係るビトリファイドボンド工具
の製造方法を説明する。
含有ペーストないしを所望の大きさ、ピッチでドット状
に均一にパターン印刷する。
燥する前に、複数の砥粒を印刷面全面に散布する。
燥し、ある程度固化させる。
るペースト層上に載っている砥粒が該ペースト層に固定
される。この結果、複数の砥粒がドット状にパターン配
置される。
ち、印刷面を下にして、振動テーブルや小型振動機を用
いて支持体に振動を与えることにより、ドット状に配置
されたペースト間など、ドット状ペースト層が形成され
ていない部分に挟まっている砥粒を支持体から落とす。
これらの砥粒は回収して再利用する。
トないしスラリを、印刷法あるいはスプレー法を用い
て、砥粒の上からさらに塗布する。これによって、砥粒
の周囲に被覆層が形成される。
セラミックス成分又はガラス成分の種類に応じて設定さ
れた焼成条件で焼成を行う。
ストないしスラリをパターン印刷、好ましくはドット状
に印刷するためには、所望の形状のパターンを有するス
テンレスメッシュスクリーン、或いは所望の形状に対応
する穴加工を施したメタルマスク等を使用することがで
きる。このような方法によれば、要求される研削性能に
応じて砥粒の数(集中度)や砥粒の配列パターンを自由
に制御でき、又、支持体上、砥粒が存在する部分と、砥
粒が存在しない部分を自由に形成できる。そして、砥粒
の部分的な凝集も回避することができる。
め、ビトリファイドボンド含有ペーストからなるドット
の大きさ(直径)は、好ましくは、用いる砥粒の平均砥
粒径の25〜80%とし、さらに好ましくは30〜70%程度と
する。これによって、1個のドットに2個以上の砥粒が固
着すること、すなわち砥粒の凝集が防止できる。
態では、焼結後の状態で、ビトリファイドボンド層が砥
粒上部表面にかかって形成されないよう、ビトリファイ
ドボンド含有ペーストの塗布厚み(形成厚み)、及びビ
トリファイドボンド含有スラリのスプレー厚みを決定す
る。これにより、焼成後、最初の使用前のツルーイング
が不要とされ、当初から、砥粒が所期の研削力を発揮す
る。また、これらの厚みによって、砥粒の埋め込み量を
制御することができ、保持力の調節をすることができ
る。
ペーストを支持体上に形成する場合には、そのペースト
の粘度や印刷条件、印刷回数を制御する。スプレー法の
場合には、スラリの粘度、スプレーガンの移動速度、ス
プレの繰り返し数を制御する。
ースト及びスラリとして、有機溶媒、水などの無機溶媒
に、セラミックスボンドを分散させたものを用いる。こ
のペースト及びスラリとして、ボンド成分の凝集を防止
するための分散剤、乾燥時、砥粒を保持する能力を高め
る一時粘結剤、その他の添加剤を添加することも好まし
い。
態では、パターン配置されたビトリファイドボンド含有
ペースト層及びそれらに保持された砥粒を一旦焼成した
後、砥粒の周囲に、ビトリファイドボンド含有ペースト
層を塗布し或いはビトリファイドボンド含有スラリ層を
スプレーして、被覆層を形成し、再度焼成を行う。
態では、焼成工程においてビトリファイドボンド含有ペ
ースト層が溶融してビトリファイドボンド層が形成され
る際、重さの違いにより、大きい砥粒ほどビトリファイ
ドボンド層に深く沈み込み、小さい砥粒ほどビトリファ
イドボンド層に浅く沈んで保持される。これによって、
砥粒同士の突出し量は揃い、ツルーイングを行わずに、
初期から安定した研削力を得ることができる。好ましく
は、焼成工程において、砥粒の上に重しとして、例え
ば、アルミナ基板を載置することにより、大きな砥粒ほ
ど押し込まれるため、さらに砥粒同士の突出し量が均一
化される。
ファイドボンド工具においては、砥粒同士が、その平均
中心間距離で平均砥粒径の1.5倍以上の間隔、或いは平
均砥粒径の1.5又は1.8〜10倍の間隔をおいて配置されて
いる。このような形態によれば、砥粒凝集の防止が十分
に保証され、目詰まりが生じにくく切れ味が向上され、
又砥粒がそれぞれ十分に機能するため砥粒使用量を少な
くすることができる。
ファイドボンド工具においては、砥粒が、ビトリファイ
ドボンド層表面から該砥粒径の20%から70%の長さ分、
突き出ている。また、好ましくは、ビトリファイドボン
ド層に、層厚さ方向に沿って、砥粒が平均砥粒径の30%
以上埋め込まれている。これらの形態は、パターン形成
されるビトリファイドボンド含有ペースト層、ビトリフ
ァイドボンド含有ペーストの下地層、及び/又は、砥粒
上から形成され砥粒固着面の残部を被覆する被覆層の厚
みの制御により達成される。なお、砥粒の突出し量が大
きいとドレッシング時に脱粒し易くなるし、突出し量が
小さいとドレッシング性能が低下する。
ファイドボンド工具においては、支持体が、アルミナ、
ムライト、窒化ケイ素、炭化ケイ素、ジルコニア等の種
々のセラミックスの一種以上から選択されたセラミック
スであって、工具としての使用に耐えうる強度・靭性を
有するセラミックスから主として構成される。
ファイドボンド工具においては、ビトリファイドボンド
として、セラミックスないしガラス、中でも、ホウ珪酸
ガラス、結晶化ガラス、石英ガラス、アルミナ、窒化ア
ルミニウム、窒化ケイ素、ムライト、ジルコニア等のセ
ラミックスの一種以上から選択されたものを用いる。ビ
トリファイドボンドとして、ガラス質のものは低温で十
分な焼結が可能であるため、特に好ましい。例えば、ガ
ラス質のビトリファイドボンドとして、比重が砥粒以
下、軟化点が750℃以下のものを用い、焼成工程におい
てガラス層を溶融させて砥粒を沈み込ませることによ
り、砥粒を保持させる。
組成例を示す;SiO2:40〜70重量%、Al2O3:10
〜20重量%、B2O3:10〜20重量%、RO:2〜10重量
%(但し、ROはアルカリ土類金属から選択される一種
以上の金属)、R2O:2〜10重量%(但し、ROはアル
カリ土類金属から選択される一種以上の金属)。
ボンド工具において、支持体及びビトリファイドボンド
層の材質として、化学的に安定なセラミックスを用いる
ことによって、この工具によりインラインでドレッシン
グされた研磨パッドを用いたCMPを行う場合、研磨液
が強酸性や強アルカリ性であっても、該工具から金属が
溶出することがない。
ファイドボンド工具は、砥粒として、ダイヤモンド、C
BN等の超砥粒の一種以上、及び/又は、アルミナ(溶
融アルミナ、ゾルゲル焼結砥粒など)、炭化ケイ素、窒
化ケイ素等の一般砥粒の一種以上から選択されたものを
有する。
ファイドボンド工具においては、支持体、ビトリファイ
ドボンド層及び砥粒の組合わせが、要求される研削性能
に応じて選択され、又、焼成時のクラック発生を防止す
るため熱膨張係数を考慮して選択される。支持体、ビト
リファイドボンド層及び砥粒の熱膨張はすべて同等が望
ましい。好ましくは、3者の熱膨張係数の差が±3×1
0-6以下、より好ましくは±2×10-6以下、さらに好
ましくは±1×10-6以下となるよう、3者の材質を選
択する。
さらに明確化するために、以下図面を参照して、本発明
の一実施例を説明する。
本発明の実施例1に係るビトリファイドボンド工具の製
造方法を説明するための工程図である。但し、図1
(A)〜図1(D)において、上側の図が平面図であ
り、下側の図が断面図である。以下、図1(A)〜図1
(D)を参照して、本発明の実施例1に係るビトリファ
イドボンド工具の製造工程を順に説明する。
mmの8つの凸部が形成されたφ100mm、厚さ5mmの
円盤形状の支持体1を窒化ケイ素で作成した。凸部の高
さは1mm、8つの凸部を隔てている45°毎のスリット
は幅5mm、深さ1mmとした。
面上に、ホウ珪酸ガラスを含むペーストを計6回ベタ印
刷して、膜厚150μmの下地層2を形成した後、これを
オーブン中で120℃−5分間乾燥させた。
きさφ100μm、ピッチ300μmでホウ珪酸ガラスを含む
ペーストをパターン印刷して多数のドット3を形成し
た。
して#100/#120のダイヤモンド砥粒4を支持体1の凸
部上に散布し、各ドット3にダイヤモンド砥粒4を一個
ずつ保持させた。
体1をオーブン中で120℃−5分間乾燥後、この支持体1
を振動テーブルに載置し、その振動を利用して支持体1
から余分なダイヤモンド砥粒を落として回収した。
た。焼成パターンは、昇温24h−900℃保持3h−降温24
hであった。図1(D)を参照して、支持体1の凸部表
面上にビトリファイドボンド層(ガラス層)5が形成さ
れ、ビトリファイドボンド層5中にダイヤモンド砥粒4
が保持されたビトリファイドボンド工具を得た。焼成後
のダイヤモンド砥粒4の突出し量、すなわち、ビトリフ
ァイドボンド層5表面からダイヤモンド砥粒4の頂面ま
での高さの平均は65μmであった。よって、ダイヤモン
ド砥粒4の平均砥粒径に対する平均突出し量の割合は43
%(=65/151×100%)であった。
細な砥石構造について説明する。図2(A)〜図2
(F)は、本実施例1に係るビトリファイドボンド工具
を撮影した顕微鏡写真であり、図2(A)及び図2
(B)はそれぞれ砥粒面表面を撮影した×25、×100の
倍率の顕微鏡写真、図2(C)及び図2(D)はそれぞ
れ砥粒面を斜め方向から撮影した×50、×200の倍率の
顕微鏡写真、図2(E)は砥粒部破面を撮影した×250
の顕微鏡写真、及び図2(F)は砥粒部界面を撮影した
×3000の倍率の顕微鏡写真である。
イドボンド工具においては、ダイヤモンド砥粒が単層の
砥粒層を形成して、ビトリファイドボンドによりセラミ
ック質の支持体に固着されていることが分かる。
イドボンド工具においては、ダイヤモンド砥粒同士が基
本的に独立して、さらに互いに所定間隔をおいてドット
状にパターン配置されていることが分かる。
を参照すると、ダイヤモンド砥粒4の一部が平均厚さ約
100μmのビトリファイドボンド層5に埋まった状態
で、ダイヤモンド砥粒4がビトリファイドボンド層5を
介して支持体1に保持されていることが分かる。また、
ダイヤモンド砥粒4同士の突出し量が均一であることが
確認される。なお、ダイヤモンド砥粒間ピッチは、中心
間距離で平均300μm(ドット3(図1(B)参照)の
ピッチと同じ)、最隣接距離で平均150μmであった。
すなわち、平均して、ダイヤモンド砥粒4は、中心間距
離でその平均砥粒径の2倍の間隔をおいて配置されてい
た。
のダイヤモンド砥粒を用いた場合、その平均砥粒径は15
1μmであり、砥粒全体に対して砥粒径165μm以上のダ
イヤモンド砥粒は最大で7%含まれる(Abridged Table-
FEPA Standard for Superabrasive Grain Sizes,1997参
照)。ダイヤモンド砥粒同士の突出し量はほぼ揃ってい
るから、砥粒径165μmのダイヤモンド砥粒が支持体表
面に当接しているとすると、平均的な砥粒径151μmを
持ったダイヤモンド砥粒と支持体表面の間には、その砥
粒径の約10%([165-151]÷151×100%=9.2%)程度の厚
さのビトリファイドボンド層が存在していることにな
る。また、少なくとも半数以上のダイヤモンド砥粒と支
持体表面との間には、その砥粒径の約10%([165-151]
÷151×100%=9.2%)程度の厚さのビトリファイドボン
ド層が存在していることになる。
に適用される、砥粒の突出し量をさらに揃えるための工
程を説明する。図3(A)及び図3(B)は、本実施例
1の製造方法に適用される工程を説明するための工程図
である。
示すようにドット3に保持されたダイヤモンド砥粒4上
に、平坦面を有する重し(セッター)6を載置して、他
のダイヤモンド砥粒4に比べて突出しているダイヤモン
ド砥粒4を沈み込ませる(これを「シンクイン」と名づ
ける)工程である。
示したようにドット3を介してダイヤモンド砥粒4を保
持している支持体1の天地を逆さまにし、そのダイヤモ
ンド砥粒4側を定盤(セッター)7の平坦面上に載置し
て、他のダイヤモンド砥粒4に比べて突出しているダイ
ヤモンド砥粒4をシンクインさせる工程である。
行うことにより、さらに、ダイヤモンド砥粒4同士の突
出し量(突出高さ)が揃うこととなる。また、ダイヤモ
ンド砥粒4上に、平坦面を有する重し(セッター)6を
載置した状態で、場合によってはダイヤモンド砥粒4を
定盤(セッター)7の平坦面上に載置した状態で、焼成
を行うことも好ましい。
の支持体と形状は同じであるが、材質がSUS304である支
持体を用いて、電着ダイヤモンド工具を作製した。この
支持体の凸部に、#100/#120のダイヤモンド砥粒をN
i金属により電着した。砥粒の突出し量は50μmとし
た。
本発明の実施例2に係るビトリファイドボンド工具の製
造方法を説明するための工程図である。但し、図4
(A)〜図4(D)において、上側の図が平面図であ
り、下側の図が断面図である。以下、図4(A)〜図4
(D)を参照して、本実施例2に係るビトリファイドボ
ンド工具の製造工程を順に説明する。
持体と形状及び材質が同じ支持体を用いた。図4(A)
を参照して、支持体11の凸部に、大きさφ100μm、
ピッチ300μmの形状でホウ珪酸ガラスを含むペースト
をパターン印刷して多数のドット12を形成した。
を使用して#100/#120のダイヤモンド砥粒13を支持
体11の凸部全体に散布し、各ドット12にダイヤモン
ド砥粒13を一個ずつ保持させた。この支持体11をオ
ーブン中で120℃−5分間乾燥した後、振動テーブルの振
動を利用して余分な砥粒を落とし、回収した。
1の凸部にホウ珪酸ガラスを含むペーストをダイヤモン
ド砥粒13の上から2回ベタ印刷し、ダイヤモンド砥粒
13の周囲にペーストを層状に埋め、支持体11の凸部
上に被覆層14を形成した。この支持体11をオーブン
中で120℃−5分間乾燥した後、窒素雰囲気900℃で焼成
を行った。焼成パターンは昇温24h、900℃−保持3h、
降温48hの条件であった。
表面上にビトリファイドボンド層(ガラス層)15が形
成され、ビトリファイドボンド層15中にダイヤモンド
砥粒13が保持されたビトリファイドボンド工具を得
た。焼成後のダイヤモンド砥粒の平均突出し量は65μm
であった。よって、ダイヤモンド砥粒の平均砥粒径に対
する平均突出し量の割合は43%(=65/151×100%)であ
った。
本発明の実施例3に係るビトリファイドボンド工具の製
造方法を説明するための工程図である。但し、図5
(A)〜図5(D)において、上側の図が平面図であ
り、下側の図が断面図である。以下、図5(A)〜図5
(D)を参照して、本実施例3に係るビトリファイドボ
ンド工具の製造工程を順に説明する。
支持体と形状及び材質が同じである窒化ケイ素製の支持
体21を用いた。図5(A)を参照して、支持体21の
凸部上に、大きさφ100μm、ピッチ300μmでホウ珪酸
ガラスを含むペーストをパターン印刷して多数のドット
22を形成した。
して#100/#120のダイヤモンド砥粒23を支持体21
の凸部上に散布し、各ドット22にダイヤモンド砥粒2
3を一個ずつそれぞれ保持させた。
持体21をオーブン中で120℃−5分間乾燥後、支持体2
1を振動テーブルに載置し、その振動を利用して支持体
21から余分なダイヤモンド砥粒を落として回収した。
23上から支持体21の凸部に、上記と同じホウ珪酸ガ
ラスを含むスラリを3回スプレーしてダイヤモンド砥粒
23の周囲にスラリを層状に埋め、支持体21の凸部上
に被覆層24を形成した。この支持体21をオーブン
中、120℃−5分間乾燥した後、窒素雰囲気900℃で焼成
を行った。焼成パターンは昇温24h、900℃−保持3h、
降温48hの条件であった。
表面上にビトリファイドボンド層(ガラス層)25が形
成され、ビトリファイドボンド層25中にダイヤモンド
砥粒23が保持されたビトリファイドボンド工具を得
た。焼成後のダイヤモンド砥粒23の平均突出し量は60
μmであった。よって、ダイヤモンド砥粒の平均砥粒径
に対する平均突出し量の割合は40%(=60/151×100%)
であった。
実施例3の支持体と形状が同じであるが、材質がアルミ
ナである支持体を用いた。そして、図5(A)〜図5
(D)を参照して説明した前記実施例3と同様の工程に
よりビトリファイドボンド工具を作製した。すなわち、
アルミナ製の支持体の凸部に、大きさφ100μm、ピッ
チ300μmの形状でアルミナを含むペースト印刷して多
数のドットを形成した。次に、#100の篩を使用して#1
00/#120のアルミナ砥粒を凸部全体に散布し、各ドッ
トにアルミナ砥粒を一個ずつそれぞれ保持させた。この
支持体をオーブン中、120℃で5分間乾燥した後、振動テ
ーブルの振動を利用して支持体から余分なアルミナ砥粒
を落とし、回収した。さらに、支持体の凸部に上記と同
じアルミナを含むスラリをアルミナ砥粒の上から3回ス
プレーしてアルミナ砥粒の周囲にスラリを層状に埋め、
支持体の凸部上に被覆層を形成した。この支持体をオー
ブン中で120℃−5分間乾燥した後、大気雰囲気1450℃で
焼成を行った。焼成パターンは昇温18h、1450℃保持2
h、降温36hの条件であった。図5(D)に示すような
ビトリファイドボンド工具が得られた。焼成後のアルミ
ナ砥粒の平均突出し量は55μmであった。よって、アル
ミナ砥粒の平均砥粒径に対する平均突出し量の割合は36
%(=55/151×100%)であった。但し、この平均突出し
量はこのアルミナ砥粒が上記ダイヤモンド砥粒と同様の
平均砥粒径を有しているものとして計算した。
実施例1の支持体と形状及び材質が同じである支持体を
用いた。そして、図5(A)〜図5(D)を参照して説
明した前記実施例3と基本的に同様の工程によりビトリ
ファイドボンド工具を作製した。すなわち、窒化ケイ素
製の支持体の凸部に、大きさφ100μm、ピッチ300μm
の形状で窒化ケイ素をパターン印刷し多数のドットを形
成した。次に、#100の篩を使用して#100/#120の炭
化ケイ素砥粒を支持体の凸部全体に散布して、各ドット
に炭化ケイ素砥粒を一個ずつ保持させた。この支持体を
オーブン中で120℃−5分間乾燥した後、振動テーブルの
振動を利用して支持体から余分な炭化ケイ素砥粒を落と
し、回収した。さらに、支持体の凸部に上記と同じ窒化
ケイ素を含むスラリを炭化ケイ素砥粒の上から2回スプ
レーして炭化ケイ素砥粒の周囲にスラリを層状に埋め、
被覆層を形成した。この支持体をオーブン中550℃−1h
乾燥した後、窒素雰囲気1600℃で焼成を行った。焼成パ
ターンは昇温15h、1600℃保持3h、降温6hの条件であ
った。図5(D)に示すようなビトリファイドボンド工
具が得られた。焼成後の炭化ケイ素砥粒の平均突出し量
は60μmであった。よって、炭化ケイ素砥粒の平均砥粒
径に対する平均突出し量の割合は40%(=60/151×100
%)であった。但し、この平均突出し量はこの炭化ケイ
素砥粒が上記ダイヤモンド砥粒と同様の平均砥粒径を有
しているものとして計算した。
のビトリファイドボンド工具をそれぞれ用いて、金属層
を含む半導体ウェハのCMP工程に用いられるウレタン
パッドのドレッシングを想定した評価試験を行った。以
下、その試験方法を説明する。
水溶液に1週間浸漬後、取り出し水洗いを行った。次に
上記工具をそれぞれ用いて、ウレタンパッドのドレッシ
ングを行った(n=5)。評価項目は、ウレタンパッド
の研削レートと、180分間研削後のスクラッチの有無で
ある。なお、スクラッチの有無は、ドレッシング中、同
時にガラスをウレタンパッドに押し付け、このガラスに
スクラッチが発生したか否かで判断した。このスクラッ
チの有無により工具から脱粒が生じたか否かが分かる。
表1に、試験条件及び評価結果を示す。
シング工具はドレッシング性能が良好であると共に、こ
れらを用いた場合には砥粒の脱落に起因するスクラッチ
が発生しなかった。一方、比較例1の電着ダイヤモンド
工具を用いた場合にはスクラッチが発生したことより、
比較例1の工具からは砥粒の脱落が生じていたものと考
えられる。
を経て作製された本発明の実施例6〜9に係るビトリフ
ァイドボンド工具を説明する。これら実施例6〜9に係
るビトリファイドボンド工具は、120角のアルミナ基板
を砥粒上に載置した状態で焼成されたものである。
ルミナ基板を砥粒上に載置した状態で焼成を行ったこと
以外は、前記実施例1と同様の工程により本発明の実施
例6に係るビトリファイドボンド工具を作製した。焼成
後の砥粒の平均突出し量は65μmであった。
珪酸ガラス含有スラリを3回スプレーして膜厚150μm
の下地層を形成したこと、(b)焼成工程において120角
のアルミナ基板を砥粒上に載置した状態で焼成を行った
こと以外は、前記実施例1と同様の工程により本発明の
実施例7に係るビトリファイドボンド工具を作製した。
焼成後の砥粒の平均突出し量は60μmであった。
て、アルミナ含有ペーストを計6回印刷して膜厚150μm
の下地層を形成した後にドット形成工程を行ったこと、
(b)焼成工程において120角のアルミナ基板を砥粒上に
載置した状態で焼成を行ったこと以外は、前記実施例4
と同様の工程により本発明の実施例8に係るビトリファ
イドボンド工具を作製した。焼成後の砥粒の平均突出し
量は55μmであった。
て窒化ケイ素含有ペーストを計6回印刷して下地層を形
成した後にドット形成工程を行ったこと、(b)焼成工程
において120角のアルミナ基板を砥粒上に載置した状態
で焼成を行ったこと以外は、前記実施例5と同様の工程
により本発明の実施例9に係るビトリファイドボンド工
具を作製した。焼成後の砥粒の平均突出し量は60μmで
あった。
イドボンド工具をそれぞれ用いて、前記評価試験1と同
様に評価試験を行った。表2に試験条件及び評価結果を
示す。
シング工具はドレッシング性能が良好であると共に、こ
れらを用いた場合には砥粒の脱落に起因するスクラッチ
が発生しなかった。
によるビトリファイドボンド工具における砥粒配置の種
々の形態を説明する。図6(A)〜図6(C)は、この
砥粒配置の種々の形態を説明するための図である。図6
(A)においては、砥粒40が格子状に配置されてい
る。図6(B)においては、砥粒41が千鳥状に配置さ
れている。図6(C)においては、複数の砥粒42が小
パターンを形成し、複数の小パターンがさらにパターン
配置されている。このような、種々の砥粒配置パターン
は、所望の砥粒パターン配置に対応して、支持体上にビ
トリファイドボンド含有ペーストをパターン形成するこ
とにより、実現することができる。
工具の種々の形態を説明する。図7(A)及び図7
(B)は、この工具の種々の形態を説明するための図で
ある。図7(A)を参照すると、リング状基台50上に
その円周方向に沿って、複数の扇状のセグメント状支持
体51が互いに隣接して貼着されている。このセグメン
ト状支持体51上には、ビトリファイドボンド層によっ
て、本発明が規定する形態で砥粒が保持されている。図
7(B)を参照すると、リング状基台60上にその円周
方向に沿って、複数の円状のペレット状支持体61が貼
着されている。このペレット状支持体61上には、ビト
リファイドボンド層によって、本発明が規定する形態で
砥粒が保持されている。
によれば、砥粒の脱落が抑制され、さらには研磨手段及
びそのワークの汚染及び損傷が防止される。また、本発
明によれば、ビトリファイドボンド工具のロット間にお
ける能力のバラツキが減少される。その理由は、本発明
によれば、平面方向に沿って厳密に位置決めされた砥粒
配列を有するビトリファイドボンド工具が提供できるた
めである。さらに、本発明のビトリファイドボンドの製
造方法によれば、このような新規ビトリファイドボンド
工具が安価に製造される。
するための工程図である。
ビトリファイドボンド工具を撮影した顕微鏡写真であ
り、(A)及び(B)はそれぞれ砥粒面表面を撮影した
×25、×100の倍率の顕微鏡写真、(C)及び(D)は
それぞれ砥粒面を斜め方向から撮影した×50、×200の
倍率の顕微鏡写真、(E)は砥粒部破面を撮影した×25
0の顕微鏡写真、及び(F)は砥粒部界面を撮影した×3
000の倍率の顕微鏡写真である。
される工程を説明するための工程図である。
するための工程図である。
するための工程図である。
ドボンド工具における砥粒配置の種々の形態を説明する
ための図である。
イドボンド工具の種々の形態を説明するための図であ
る。
ペースト) 3 ドット(パターン印刷されたビトリファイドボンド
含有ペースト) 4 砥粒 5 ビトリファイドボンド層 6 重し(セッター) 7 定盤(セッター) 11 支持体(支持体の凸部) 12 ドット(パターン印刷されたビトリファイドボン
ド含有ペースト) 13 砥粒 14 被覆層(スプレーされたビトリファイドボンド含
有スラリ) 15 ビトリファイドボンド層 21 支持体(支持体の凸部) 22 ドット(パターン印刷されたビトリファイドボン
ド含有ペースト) 23 砥粒 24 被覆層(スプレーされたビトリファイドボンド含
有スラリ) 25 ビトリファイドボンド層 40,41,42 砥粒 50 リング状基台 51 セグメント状支持体 60 リング状基台 61 ペレット状支持体
Claims (20)
- 【請求項1】支持体と、 前記支持体上に形成されたビトリファイドボンド層と、 前記支持体上に、互いに一個ずつ離間された状態で、前
記ビトリファイドボンド層によって保持されている複数
の砥粒と、 を有することを特徴とするビトリファイドボンド工具。 - 【請求項2】前記複数の砥粒が、前記支持体の研削面
上、該面方向に沿って位置決めされて配置されたことを
特徴とする請求項1記載のビトリファイドボンド工具。 - 【請求項3】前記複数の砥粒同士が、その平均中心間距
離で平均砥粒径の1.5倍以上の間隔をおいて配置されて
いることを特徴とする請求項1又は2記載のビトリファ
イドボンド工具。 - 【請求項4】前記複数の砥粒同士が、その平均中心間距
離で平均砥粒径の1.8〜10倍の間隔をおいて配置されて
いることを特徴とする請求項3記載のビトリファイドボ
ンド工具。 - 【請求項5】前記複数の砥粒のうち、少なくとも平均砥
粒径より小さい砥粒が前記ビトリファイドボンド層中に
浮かんだ状態で保持されていること、 を特徴とする請求項1〜4のいずれか一記載のビトリフ
ァイドボンド工具。 - 【請求項6】前記複数の砥粒が、焼成直後の状態で、前
記ビトリファイドボンド層より突き出ていることを特徴
とする請求項1〜5のいずれか一記載のビトリファイド
ボンド工具。 - 【請求項7】前記複数の砥粒が、平均して、前記ビトリ
ファイドボンド層表面から各砥粒径の20%から70%の長
さ分突き出ていること、 を特徴とする請求項1〜6のいずれか一記載のビトリフ
ァイドボンド工具。 - 【請求項8】前記複数の砥粒のうち個数で30%以上が、
前記支持体表面から、平均砥粒径の5%以上の厚さのビ
トリファイドボンド層を挟んで離間されたこと、 を特徴とする請求項1〜7のいずれか一記載のビトリフ
ァイドボンド工具。 - 【請求項9】前記複数の砥粒が実質的に単層を成して、
前記支持体上に保持されたことを特徴とする請求項1〜
8のいずれか一記載のビトリファイドボンド工具。 - 【請求項10】請求項1〜9のいずれか一記載の前記支
持体の一又は複数が基台に貼着されたことを特徴とする
ビトリファイドボンド工具。 - 【請求項11】支持体と、 前記支持体上に形成されたビトリファイドボンド層と、 前記支持体上に、ドット状に位置決めされて配置され、
前記ビトリファイドボンド層によって保持されている複
数の砥粒と、 を有することを特徴とするビトリファイドボンド工具。 - 【請求項12】支持体と、 前記支持体上に形成されたビトリファイドボンド層と、 前記支持体上に、所定範囲の間隔をおいて互いに離間し
た状態で、前記ビトリファイドボンド層によって保持さ
れている複数の砥粒と、 を有することを特徴とするビトリファイドボンド工具。 - 【請求項13】支持体と、 前記支持体上に形成されたビトリファイドボンド層と、 前記ビトリファイドボンド層前駆体により位置決めされ
て配置された複数の砥粒と、 を有することを特徴とするビトリファイドボンド工具。 - 【請求項14】支持体上にビトリファイドボンドを含む
ペースト層を所定パターンで形成する工程、 グリーン状態の前記ペースト層上から複数の砥粒を散布
する工程、 前記複数の砥粒が、前記所定パターンで形成されたペー
スト層により、前記支持体上において該所定パターンで
配置された状態で焼成する工程、 を含むことを特徴とするビトリファイドボンド工具の製
造方法。 - 【請求項15】前記支持体上にビトリファイドボンドを
含むペースト層を所定パターンで形成する工程におい
て、 前記支持体上に、ビトリファイドボンドを含有するペー
ストをドット状に印刷することを特徴とする請求項14
記載のビトリファイドボンド工具の製造方法。 - 【請求項16】前記複数の砥粒を散布する工程後に、 前記ペースト層上に保持された前記複数の砥粒の頭を平
坦面に当接させて該砥粒同士の突出し量を揃える工程、 を含むことを特徴とする請求項14又は15記載のビト
リファイドボンド工具の製造方法。 - 【請求項17】前記ビトリファイドボンドとして、比重
が前記砥粒より小さいものを用いること、 前記焼成工程において、前記複数の砥粒がそれぞれ該砥
粒の大きさないし重さに応じて前記ビトリファイドボン
ドを含むペースト層中に沈み込む条件下で焼成すること
により、前記複数の砥粒同士の頭が揃えられることを特
徴とする請求項14〜16のいずれか一記載のビトリフ
ァイドボンド工具の製造方法。 - 【請求項18】前記複数の砥粒を散布する工程後に、 前記支持体の砥粒保持面を下にして該支持体を振動させ
て、前記ペーストに保持されなかった前記砥粒を回収す
る工程、 を含むことを特徴とする請求項14〜17のいずれか一
記載のビトリファイドボンド工具の製造方法。 - 【請求項19】支持体上に、ビトリファイドボンドを含
むペーストから構成される下地層を形成する工程、 前記下地層上にビトリファイドボンドを含むペースト層
を所定パターンで形成する工程、 前記所定パターンで形成されたペースト層上から、複数
の砥粒を散布する工程、 前記所定パターンで形成されたペースト層により、前記
支持体上において該所定パターンで前記砥粒が配置され
た状態で焼成する工程、 を含むことを特徴とするビトリファイドボンド工具の製
造方法。 - 【請求項20】支持体上にビトリファイドボンドを含む
ペースト層を所定パターンで形成する工程、 前記所定パターンで形成されたペースト層上から、複数
の砥粒を散布する工程、 前記支持体上に、前記所定パターンのペースト層にそれ
ぞれ保持された前記複数の砥粒上から、ビトリファイド
ボンドを含むペーストないしスラリを塗布又は散布し
て、該各砥粒の周囲に被覆層を形成する工程、 前記ペースト層により、前記支持体上において前記所定
パターンで前記砥粒が配置された状態で焼成する工程、 を含むことを特徴とするビトリファイドボンド工具の製
造方法。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20152499A JP2001025973A (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | ビトリファイドボンド工具及びその製造方法 |
US09/613,427 US6755720B1 (en) | 1999-07-15 | 2000-07-10 | Vitrified bond tool and method of manufacturing the same |
KR1020000040397A KR100633012B1 (ko) | 1999-07-15 | 2000-07-14 | 유리질 결합공구 및 이것을 만드는 방법 |
TW089114095A TW474856B (en) | 1999-07-15 | 2000-07-14 | Vitrified bond tool and method of manufacturing the same |
US10/814,166 US7044990B2 (en) | 1999-07-15 | 2004-04-01 | Vitrified bond tool and method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP20152499A JP2001025973A (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | ビトリファイドボンド工具及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001025973A true JP2001025973A (ja) | 2001-01-30 |
Family
ID=16442483
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP20152499A Pending JP2001025973A (ja) | 1999-07-15 | 1999-07-15 | ビトリファイドボンド工具及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2001025973A (ja) |
Cited By (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004255469A (ja) * | 2003-02-24 | 2004-09-16 | Miyanaga:Kk | 研削工具の研削部構造 |
JP2005177912A (ja) * | 2003-12-18 | 2005-07-07 | Noritake Super Abrasive:Kk | ホーニング加工用砥石 |
KR100688862B1 (ko) | 2005-06-21 | 2007-03-02 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | 다이아몬드 공구 제조방법 및 이를 이용한 다이아몬드 공구 |
WO2008062846A1 (fr) * | 2006-11-22 | 2008-05-29 | Asahi Glass Company, Limited | Pierre de dressage, composition de verre pour retenir des grains abrasifs, et composition de verre-céramique pour retenir des grains abrasifs |
WO2009104224A1 (ja) * | 2008-02-20 | 2009-08-27 | 新日鉄マテリアルズ株式会社 | 研磨布用ドレッサー |
KR101087030B1 (ko) * | 2010-06-11 | 2011-11-28 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101087029B1 (ko) | 2010-05-12 | 2011-11-28 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101131496B1 (ko) * | 2010-06-25 | 2012-03-30 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101131495B1 (ko) * | 2010-06-11 | 2012-03-30 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101204364B1 (ko) | 2010-08-16 | 2012-11-26 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
JP2014061585A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-04-10 | Allied Material Corp | ビトリファイドボンド超砥粒ホイールおよびそれを用いてウエハを研削加工する方法 |
JP2017538588A (ja) * | 2014-10-21 | 2017-12-28 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 研磨プリフォーム、研磨物品を製造する方法、及び結合研磨物品 |
JP2021079458A (ja) * | 2019-11-14 | 2021-05-27 | 株式会社ノリタケカンパニーリミテド | 超砥粒単層ビトリファイド工具 |
-
1999
- 1999-07-15 JP JP20152499A patent/JP2001025973A/ja active Pending
Cited By (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2004255469A (ja) * | 2003-02-24 | 2004-09-16 | Miyanaga:Kk | 研削工具の研削部構造 |
JP2005177912A (ja) * | 2003-12-18 | 2005-07-07 | Noritake Super Abrasive:Kk | ホーニング加工用砥石 |
KR100688862B1 (ko) | 2005-06-21 | 2007-03-02 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | 다이아몬드 공구 제조방법 및 이를 이용한 다이아몬드 공구 |
WO2008062846A1 (fr) * | 2006-11-22 | 2008-05-29 | Asahi Glass Company, Limited | Pierre de dressage, composition de verre pour retenir des grains abrasifs, et composition de verre-céramique pour retenir des grains abrasifs |
JPWO2008062846A1 (ja) * | 2006-11-22 | 2010-03-04 | 旭硝子株式会社 | ドレッシング用砥石、砥粒保持用ガラス組成物および砥粒保持用ガラスセラミックス組成物 |
WO2009104224A1 (ja) * | 2008-02-20 | 2009-08-27 | 新日鉄マテリアルズ株式会社 | 研磨布用ドレッサー |
JP2009196025A (ja) * | 2008-02-20 | 2009-09-03 | Nippon Steel Materials Co Ltd | 研磨布用ドレッサー |
TWI455794B (zh) * | 2008-02-20 | 2014-10-11 | Nippon Steel Materials Co Ltd | 研磨布用修整輪 |
KR101087029B1 (ko) | 2010-05-12 | 2011-11-28 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101131495B1 (ko) * | 2010-06-11 | 2012-03-30 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101087030B1 (ko) * | 2010-06-11 | 2011-11-28 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101131496B1 (ko) * | 2010-06-25 | 2012-03-30 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
KR101204364B1 (ko) | 2010-08-16 | 2012-11-26 | 신한다이아몬드공업 주식회사 | Cmp 패드 컨디셔너 및 그 제조방법 |
JP2014061585A (ja) * | 2012-08-29 | 2014-04-10 | Allied Material Corp | ビトリファイドボンド超砥粒ホイールおよびそれを用いてウエハを研削加工する方法 |
JP2017538588A (ja) * | 2014-10-21 | 2017-12-28 | スリーエム イノベイティブ プロパティズ カンパニー | 研磨プリフォーム、研磨物品を製造する方法、及び結合研磨物品 |
JP2021079458A (ja) * | 2019-11-14 | 2021-05-27 | 株式会社ノリタケカンパニーリミテド | 超砥粒単層ビトリファイド工具 |
JP7335786B2 (ja) | 2019-11-14 | 2023-08-30 | 株式会社ノリタケカンパニーリミテド | 超砥粒単層ビトリファイド工具 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100633012B1 (ko) | 유리질 결합공구 및 이것을 만드는 방법 | |
EP2083967B1 (en) | Conditioning tools and techniques for chemical mechanical planarization | |
TWI522447B (zh) | 延長壽命之研磨物件及方法 | |
US7993419B2 (en) | Abrasive tools made with a self-avoiding abrasive grain array | |
US7467989B2 (en) | Ceramic polishing pad dresser and method for fabricating the same | |
EP1346797B1 (en) | Cmp conditioner and method for arranging hard abrasive grains used for cmp conditioner | |
KR101091030B1 (ko) | 감소된 마찰력을 갖는 패드 컨디셔너 제조방법 | |
JP2001025973A (ja) | ビトリファイドボンド工具及びその製造方法 | |
US20190091832A1 (en) | Composite conditioner and associated methods | |
US20050202762A1 (en) | Dresser for polishing cloth and method for producing the same | |
JP2000343436A (ja) | 研削砥石およびその製造方法 | |
JP3582116B2 (ja) | ウエハ保持台用セラミックス部材の作製方法 | |
JP3729700B2 (ja) | ドレッシング工具の製造方法 | |
JP2003071717A (ja) | 研磨パッド調整工具 | |
JP3281563B2 (ja) | ビトリファイドボンド工具及びその製造方法 | |
JP3678993B2 (ja) | Cmp加工用ドレッサ | |
JP3609059B2 (ja) | Cmp加工用ドレッサ | |
KR20050009088A (ko) | 연마공구 및 그의 제조방법 | |
JP2003285271A (ja) | ダイヤモンド工具 | |
JP2003282508A5 (ja) | ||
KR101178281B1 (ko) | 감소된 마찰력을 갖는 패드 컨디셔너 | |
JPH1199475A (ja) | ポリッシャ修正工具及びその製造方法 | |
JP2005297165A (ja) | 研磨具およびその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20040520 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20040928 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20041126 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20050510 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20050711 |
|
A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20050721 |
|
A912 | Removal of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20060317 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070507 |