JP2001021537A - ガスクロマトグラフ・イオントラップ型質量分析装置 - Google Patents

ガスクロマトグラフ・イオントラップ型質量分析装置

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JP2001021537A
JP2001021537A JP11197136A JP19713699A JP2001021537A JP 2001021537 A JP2001021537 A JP 2001021537A JP 11197136 A JP11197136 A JP 11197136A JP 19713699 A JP19713699 A JP 19713699A JP 2001021537 A JP2001021537 A JP 2001021537A
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Kazuo Nakamura
一夫 中村
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 カラム流量が変化した場合でも、検出感度を
一定に維持する。 【解決手段】 カラム20以外に、イオントラップ30
にキャリアガスを供給するガス供給路54を設ける。ま
ず、第1MFC11でのガス流通を停止した状態で第2
MFC53での流量を変化させ、そのときのイオン検出
値を得ることにより最大感度となる流量を求め、メモリ
51に記憶させておく。分析時には、カラム20に流れ
るガス流量が設定された値となるように、調節弁17と
第1MFC11を制御し、流量センサ112の検出値と
メモリ51に記憶させておいた値とに基づいてガス供給
路54を通した流量を決定し、第2MFC53を制御す
る。これにより、イオントラップ30内に常に一定流量
のガスが供給されるので、真空度が略一定に維持され、
検出感度も変動しない。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガスクロマトグラ
フの検出器としてイオントラップ型質量分析計を用い
た、ガスクロマトグラフ・イオントラップ型質量分析装
置(以下「GC−ITMS=Gas Chromatography - Ion
Trap Mass Spectrometer」と略す)に関する。
【0002】
【従来の技術】イオントラップ型質量分析計は、内側面
が回転1葉双曲面形状を有する1個の環状のリング電極
と、それを挟むように対向して設けられた、内側面が回
転2葉双曲面形状を有する一対のエンドキャップ電極と
で囲まれるイオントラップを備えている。1個のリング
電極と2個のエンドキャップ電極とにそれぞれ適当な電
圧を印加すると、イオントラップの内部に電場が形成さ
れ、その空間内で発生したイオンを閉じ込めておくこと
ができる。
【0003】米国特許第4540884号には、このよ
うなイオントラップ型質量分析計において、イオントラ
ップ内にダンピングガス(collision gas)を供給する
ことによって、感度と質量分解能とを改善できることが
記載されている。ガスクロマトグラフの検出器としてイ
オントラップ型質量分析計を用いたGC−ITMSで
は、ガスクロマトグラフで試料成分を搬送するキャリア
ガス(主としてヘリウム)が試料と共にイオントラップ
内に導入されるので、このキャリアガスがダンピングガ
スとして作用する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上記文献の記載によれ
ば、ダンピングガスの効果は、イオントラップ内の真空
度が或る所定値(例えば10−3 Torr)近傍であると
きに最大になることが知られている。従来のGC−IT
MSでは、イオントラップ内の真空度はキャリアガスの
流量に依存しているから、カラムに流すキャリアガスの
流量を或る値(例えば2mL/分)に設定することによ
り、ダンピングガスとしての最大効果を得ることができ
る。一方、クロマトグラフにおいては、キャリアガスの
流量はカラム内での試料成分の分離効率を決める一要因
であって、分離効率が最良になるように流量を設定する
ことが望ましい。しかしながら、このようにして決めら
れた流量は必ずしも前者、即ちダンピングガスとして最
適とは限らない。従って、多くの場合、質量分析計での
検出感度と、カラムでの分離効率との何れかを犠牲にし
なければならなかった。
【0005】また、ガスクロマトグラフで昇温分析を行
う際には、温度に依ってカラムの流量抵抗が変化するた
め、一般的には、それに伴いキャリアガスの流量も変化
する。その結果、イオントラップ内の真空度が変化し
て、感度や分解能も変動する可能性がある。
【0006】本発明はこのような課題を解決するために
成されたものであり、その主たる目的は、カラムを通過
するキャリアガスの流量の変動の影響を受けることな
く、感度や質量分解能を最適に維持することができるG
C−ITMSを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段、及び発明の実施の形態】
上記課題を解決するために成された本発明は、ガスクロ
マトグラフのカラムで成分分離した試料をイオントラッ
プ型質量分析計のイオントラップに導入して検出するガ
スクロマトグラフ・イオントラップ型質量分析装置にお
いて、 a)前記カラムに流すキャリアガスの流量を制御する第1
の流量調節手段と、 b)第2の流量調節手段を備え、前記イオントラップ内に
所定のガスを供給するためのガス供給路と、 c)分析時に、カラムを介してイオントラップ内に供給さ
れるキャリアガスと、前記ガス供給路を介してイオント
ラップ内に供給されるガスとを加えた総流量が所定値に
なるように、第1及び第2の流量調節手段を制御する制
御手段と、を備えることを特徴としている。
【0008】この構成では、カラムを通過してくるキャ
リアガスと、上記ガス供給路を通して送られてくるガス
との和が、イオントラップに導入されるガス量となり、
イオントラップ内の真空度を決定する。制御手段は、こ
の総流量が所定値になるように第1及び第2の流量調節
手段を制御しているので、例えば、カラムの流路抵抗が
変動してカラムに流通するキャリアガス流量が変化する
と、その変化を補うように第2の流量調節手段を制御す
ることにより、ガス供給路を通してイオントラップ内へ
導入するガス量を変化させる。その結果、イオントラッ
プ内の真空度は略一定に維持され、検出感度や分解能が
変動することを防止できる。
【0009】通常、カラムに流すキャリアガスの流量
は、操作者が他の分析条件を考慮した上で分離効率が良
好になるように決定する。従って、上記所定値を越えな
い範囲でカラム流量が設定されるとき、制御手段は、第
1の流量調節手段によりカラムに流されるキャリアガス
の流量を所定値から差し引くことにより、第2の流量調
節手段における制御目標流量を求めることができる。
【0010】更に本発明では、イオントラップ内に既知
の標準試料を導入するための標準試料供給手段を備え、
前記制御手段は、第1の流量制御手段を通したキャピラ
リガスの供給を停止すると共に、第2の流量制御手段に
よりガス供給路を通してイオントラップ内に導入するガ
ス流量を変化させつつ、イオントラップ内に標準試料を
導入し、その際のイオン検出結果を用いて感度が最良と
なるガス流量を求め、これを上記所定値とする構成とす
ることができる。
【0011】この構成によれば、イオントラップ型質量
分析計において検出感度が最大となるようなガス流量を
自動的に取得することができ、その値を目標値として分
析時に第1及び第2の流量調節手段を制御することによ
り、たとえカラム流量が変動しても、常に最大感度を維
持することができる。
【0012】なお、ガス供給路に流通する所定のガスは
不活性なガスであれば、カラムに流すキャリアガスと同
一でも同一でなくてもよい。
【0013】
【発明の効果】本発明に係るGC−ITMSによれば、
クロマトグラフのカラムには成分分離に最適となるよう
な流量でもってキャリアガスを流す一方、イオントラッ
プの内部は感度が最良となるように真空度を調節しつつ
ダンピングガスを導入することができる。従って、カラ
ムの分離効率と質量分析装置の感度との何れか一方を犠
牲にすることなく、正確な分析が可能となる。また、本
発明によれば、カラム温度などの変動によりカラム流量
が変化しても、イオントラップ内部の真空度は略一定に
維持されるので、検出感度や分解能が変動することがな
く、正確な分析が行える。
【0014】
【実施例】以下、本発明の一実施例によるGC−ITM
Sを図1、図2を参照して説明する。図1は本実施例に
よるGC−ITMSの要部の構成図である。
【0015】ガスクロマトグラフにおいて、カラム20
はカラムオーブン19に内装されており、カラム20の
入口には試料気化室13が設けられている。試料気化室
13には、第1マスフローコントローラ(MFC)11
を備えたキャリアガス供給路12、圧力センサ14及び
ニードルバルブ15を備えたパージ排出路16、調節弁
17を備えたスプリット流路18が接続されている。カ
ラム20の出口は、イオントラップ型質量分析計のイオ
ントラップ30内部に臨むように接続されている。な
お、カラムオーブン19から質量分析計までの間でガス
の流通が停滞しないように、ヒータ等を備えた適宜のイ
ンタフェイス21が設けられている。
【0016】イオントラップ30は、内側面が回転1葉
双曲面形状を有する1個の環状のリング電極31と、そ
れを挟むように対向して設けられた、内側面が回転2葉
双曲面形状を有する一対のエンドキャップ電極32、3
3とを含んで構成される。上側の第1エンドキャップ電
極32に開穿された開口34の外側には熱電子生成部3
6が配設される一方、下側の第2エンドキャップ電極3
3に開穿された開口35の外側には検出器37が配設さ
れている。これら分析部全体は、真空排気される真空室
38内に配設されている。リング電極31にはRF電圧
発生部39から、エンドキャップ電極32、33には補
助交流電圧発生部40から、それぞれ適宜の電圧が印加
される。また、検出器37の出力は信号処理部41に与
えられる。
【0017】イオントラップ30の内部には、ノズル4
2を通して標準試料供給部43より校正用の標準試料が
導入できるようになっている。またカラム20とは別
に、第2マスフローコントローラ(MFC)53を備え
たガス供給路54を通して、上記キャリアガスと同一の
ガスをイオントラップ30内部に導入できるようになっ
ている。制御部50には、操作者により操作される入力
部52とメモリ51とが接続されており、後述するよう
に上記各部の動作を制御している。なお、図1中では制
御部50と各部との間の信号線は主要なものしか記述し
ていない。
【0018】第1MFC11と第2MFC53とは同一
構成を有し、それぞれ電気的に開度を調節可能な調節弁
111、531と、流量を測定する流量センサ112、
532とを備えている。即ち、制御部50は流量センサ
112、532での検出値が所定の値になるように調節
弁111、531の開度を調節することによって、各調
節弁111、531を通過するガスの流量を制御するこ
とができる。
【0019】まず、イオントラップ質量分析計の一般的
な動作の一例を説明する。即ち、例えばカラム20を通
して試料がイオントラップ30内に導入されると、熱電
子生成部36から放出され、開口34を通過した熱電子
が試料分子に接触してこれをイオン化する。RF電圧発
生部39及び補助交流電圧発生部40により、リング電
極31とエンドキャップ電極32、33とにそれぞれ適
当な電圧を印加しておくと、イオントラップ30内に所
定の電場が形成され、上述したように発生したイオンが
閉じ込められる。そのあと、RF電圧を適宜に走査する
と、質量数の相違するイオンが開口35から順次放出さ
れ、検出器37に到達して検出される。信号処理部41
ではこの検出信号を質量数に応じて記録することによ
り、質量スペクトルを得ることができる。
【0020】上述のようにイオントラップ30は真空室
38内に配設されているから、主として、カラム20及
びガス供給路54を通して供給されるキャリアガスの流
量によってその真空度が決まっている。この真空度と検
出感度との関係は、例えば図2に示すようになってい
る。即ち、或る真空度において検出感度は最大となり、
それより真空度が高くても低くても検出感度は低下す
る。一方、ガスクロマトグラフのカラム20での分離効
率はカラム20を通過するキャリアガスの流量に依存し
ており、或る流量でもって分析効率が最良となる。そこ
で、この両者を満足させるために、本装置は次のように
動作する。
【0021】まず、装置の起動時又は校正を行うモード
など、適宜の時点で、検出感度を最大とするようなガス
総流量を求める。即ち、制御部50はイオントラップ3
0内にガス供給路54のみを通してキャリアガスが導入
されるように、第1MFC11の調節弁111を閉鎖
し、第2MFC53の調節弁531の開度を適宜に設定
する。そして、校正用の標準試料を標準試料供給部43
からイオントラップ30内に導入し、第2MFC53に
おける通過流量を変化させながら、検出器37にて検出
されたイオン量に応じた信号を信号処理部41から受け
取る。第2MFC53における通過流量を順次変化させ
てゆくと、図2に示した曲線と同様に検出値が変化する
から、検出値が最大となる点、つまり検出感度が最大と
なるときのガス流量を流量センサ532から得る。これ
が、最大感度を与え得る最適総流量Faであるので、こ
の値をメモリ51に記憶させておく。
【0022】実際の分析時には、操作者は、カラム20
に流すキャリアガスの流量(カラム流量)や、他の分析
条件(カラムの寸法、温度、スプリット比など)を、入
力部52から入力設定する。このとき、カラム流量は、
他の分析条件を考慮した上で、且つ上記最適総流量Fa
よりも小さい範囲で、分離効率が最適になるように決め
ておく。カラム流量は、カラム入口圧、カラム内径、カ
ラム長、カラム温度、キャリアガスの種類等により決ま
るため、一般的な背圧制御方式では、カラム入口圧が、
カラム入口圧以外のパラメータを元にして計算により得
られた所定値になるように制御される。
【0023】具体的には、圧力センサ14と試料気化室
13との間にはガス抵抗が殆ど無いため、圧力センサ1
4による検出値は試料気化室13内部の圧力と同一と看
做せる。圧力センサ14による検出値は制御部50へと
入力され、制御部50はガス圧が一定になるようにスプ
リット流路18に設けられている調節弁17を制御す
る。また同時に、制御部50は、スプリット流路18と
カラム20とに流れるガス流量の比が設定されたスプリ
ット比となるように、第1MFC11の調節弁111を
制御して試料気化室13に流入するキャリアガスの流量
を調節する。例えば、昇温分析の際にカラム温度が上昇
して流量抵抗が上がると、カラム入口圧が上昇するか
ら、制御部50はカラム入口圧を一定に維持するように
調節弁17の開度を大きくする。また、試料気化室13
により多くのキャリアガスを導入するように第1MFC
11を制御する。
【0024】制御部50は、圧力センサ14による検出
値つまりカラム入口圧と、上述したように入力設定され
ているパラメータとから、実際にカラム20に流れるキ
ャリアガスの流量Fbを算出している。制御部50は実
際のカラム流量Fbを取得すると、メモリ51に記憶さ
せておいた最適総流量Faからそのカラム流量Fbを減じ
ることにより、最大感度を得るためにイオントラップ3
0で不足しているガス流量Fcを計算する。そして、そ
のガス流量Fcがガス供給路54を通してイオントラッ
プ30内に供給されるように、第2MFC53の調節弁
531の開度を調節する。従って、例えば上述のように
実際のカラム流量が減少してくると、第2MFC53は
徐々に流量を増加させるように動作し、これにより、イ
オントラップ30内部に供給されるキャリアガスの総量
を一定に維持する。
【0025】而して、上記実施例の装置では、カラム温
度の変化等によってカラム流量が変動した場合でも、イ
オントラップ30内部の真空度がほぼ一定に維持される
ので、イオンの検出感度が変化しない。また、標準試料
を用いて、予め検出感度が最大となるような総流量を求
め、それを目標として制御しているので、ほぼ最大感度
でもって分析を行うことができる。
【0026】なお、上記実施例はクロマトグラフでスプ
リット分析を行う例であるが、スプリットレス分析や、
ワイドボアやパックド分析のような全量注入分析にも本
発明を適用することができる。このような構成では、キ
ャリアガス供給路12を通して試料気化室13に流れ込
むガスのほぼ全量がカラム20に流れるものとすること
ができる(パージ排出路16を通して排出されるガスは
僅かであるため)から、最適総流量Faから直接的に流
量センサ112の検出値を差し引くことにより、第2M
FC53における目標制御流量を求めることができる。
【0027】また、上記実施例は一例であって、本発明
の趣旨の範囲で適宜変更や修正を行なえることは明らか
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例によるGC−ITMSの要
部の構成図。
【図2】 イオントラップ型質量分析計における真空度
と感度との関係の一例を示すグラフ。
【符号の説明】
11、53…マスフローコントローラ(MFC) 111、531…調節弁 112、53
2…流量センサ 12…キャリアガス供給路 13…試料気
化室 14…圧力センサ 16…パージ
排出路 17…調節弁 18…スプリ
ット流路 19…カラムオーブン 20…カラム 30…イオントラップ 31…リング
電極 32、33…エンドキャップ電極 34、35…
開口 36…熱電子生成部 37…検出器 38…真空室 39…RF電
圧発生部 40…補助交流電圧発生部 41…信号処
理部 42…ノズル 43…標準試
料供給部 50…制御部 51…メモリ 52…入力部 54…ガス供
給路

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ガスクロマトグラフのカラムで成分分離
    した試料をイオントラップ型質量分析計のイオントラッ
    プに導入して検出するガスクロマトグラフ・イオントラ
    ップ型質量分析装置において、 a)前記カラムに流すキャリアガスの流量を制御する第1
    の流量調節手段と、 b)第2の流量調節手段を備え、前記イオントラップ内に
    所定のガスを供給するためのガス供給路と、 c)分析時に、カラムを介してイオントラップ内に供給さ
    れるキャリアガスと、前記ガス供給路を介してイオント
    ラップ内に供給されるガスとを加えた総流量が所定値に
    なるように、第1及び第2の流量調節手段を制御する制
    御手段と、 を備えることを特徴とするガスクロマトグラフ・イオン
    トラップ型質量分析装置。
JP11197136A 1999-07-12 1999-07-12 ガスクロマトグラフ・イオントラップ型質量分析装置 Pending JP2001021537A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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