JP2001013197A - 電気機器の試験装置 - Google Patents
電気機器の試験装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 工場で組み立てられた被試験電気設備の各種
試験項目が短時間で連続して実施でき、試験設備の稼働
率の向上と各種試験項目の試験時間の短縮を図ることが
できる試験装置を提供する。 【解決手段】 高圧ブッシング４の取付部に装着され、
高圧ブッシングを絶縁媒体で遮蔽する試験装置本体３０
と、試験装置本体に設けられ、雷・開閉インパルス電圧
発生装置１０に接続される高電圧試験用ブッシング２３
と、温度上昇試験用電源９に接続される中電圧試験用ブ
ッシング２４と、一般特性用試験装置１１に接続される
低電圧試験用ブッシング２５ａと、試験項目に応じて高
電圧ブッシングを各試験用ブッシングに選択的に接続
し、あるいは開放し得るようにされた開閉手段１６、１
７、１８〜２０とを有する試験装置１３０を備えた構成
とする。
試験項目が短時間で連続して実施でき、試験設備の稼働
率の向上と各種試験項目の試験時間の短縮を図ることが
できる試験装置を提供する。 【解決手段】 高圧ブッシング４の取付部に装着され、
高圧ブッシングを絶縁媒体で遮蔽する試験装置本体３０
と、試験装置本体に設けられ、雷・開閉インパルス電圧
発生装置１０に接続される高電圧試験用ブッシング２３
と、温度上昇試験用電源９に接続される中電圧試験用ブ
ッシング２４と、一般特性用試験装置１１に接続される
低電圧試験用ブッシング２５ａと、試験項目に応じて高
電圧ブッシングを各試験用ブッシングに選択的に接続
し、あるいは開放し得るようにされた開閉手段１６、１
７、１８〜２０とを有する試験装置１３０を備えた構成
とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電気機器の試験
装置、特に高電圧用電気機器の工場試験において、組み
立て後に行なう諸試験の試験装置に関するものである。
装置、特に高電圧用電気機器の工場試験において、組み
立て後に行なう諸試験の試験装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】高電圧用電気機器の工場試験における組
み立て後の健全性能を確認する試験は、例えば変圧器の
場合、一般電気特性試験、温度上昇試験、絶縁特性及び
絶縁耐力試験、雷及び開閉インパルス試験等がある。そ
れぞれの工場試験は、図６（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）の
接続図に示すような回路で行なわれている。即ち、図６
（ａ）は一般電気特性試験、図６（ｂ）は絶縁特性及び
絶縁耐力試験で誘導試験、図６（ｃ）は温度上昇試験、
図６（ｄ）は雷及び開閉インパルス試験である。
み立て後の健全性能を確認する試験は、例えば変圧器の
場合、一般電気特性試験、温度上昇試験、絶縁特性及び
絶縁耐力試験、雷及び開閉インパルス試験等がある。そ
れぞれの工場試験は、図６（ａ）（ｂ）（ｃ）（ｄ）の
接続図に示すような回路で行なわれている。即ち、図６
（ａ）は一般電気特性試験、図６（ｂ）は絶縁特性及び
絶縁耐力試験で誘導試験、図６（ｃ）は温度上昇試験、
図６（ｄ）は雷及び開閉インパルス試験である。
【０００３】これらの図において、１は被試験変圧器
で、密閉容器内に高圧コイル２及び低圧コイル３が収納
され、密閉容器壁に高圧コイル２の一端が接続された高
圧ブッシング４、高圧コイル２の他端が接続された高圧
接地ブッシング５及び低圧コイル３の両端が接続された
低圧ブッシング６を取り付けた構成とされている。ま
た、７は高圧ブッシング４の取付部に装着された終端箱
で、内部に絶縁媒体を充填すると共に、気中ブッシング
４ａが設けられ、終端箱内で接続線７ａにより高圧ブッ
シング４と接続されている。
で、密閉容器内に高圧コイル２及び低圧コイル３が収納
され、密閉容器壁に高圧コイル２の一端が接続された高
圧ブッシング４、高圧コイル２の他端が接続された高圧
接地ブッシング５及び低圧コイル３の両端が接続された
低圧ブッシング６を取り付けた構成とされている。ま
た、７は高圧ブッシング４の取付部に装着された終端箱
で、内部に絶縁媒体を充填すると共に、気中ブッシング
４ａが設けられ、終端箱内で接続線７ａにより高圧ブッ
シング４と接続されている。
【０００４】一般電気特性試験は、図６（ａ）に示され
るように、一般特性用試験装置１１の複数の通電ケーブ
ル１２を、気中ブッシング４ａ、高圧接地ブッシング５
及び低圧ブッシング６に接続し、それぞれに低電圧を印
加して変圧比、極性、巻線抵抗、絶縁抵抗を測定し、設
計基準値以内であることを確認する。
るように、一般特性用試験装置１１の複数の通電ケーブ
ル１２を、気中ブッシング４ａ、高圧接地ブッシング５
及び低圧ブッシング６に接続し、それぞれに低電圧を印
加して変圧比、極性、巻線抵抗、絶縁抵抗を測定し、設
計基準値以内であることを確認する。
【０００５】誘導試験は、図６（ｂ）に示されるよう
に、低圧ブッシング６に高周波発電機８を接続して高周
波電圧を印加し、高圧側に規定の電圧を発生させて変圧
器内部の部分放電量を測定し、絶縁診断を行なう試験で
ある。充電部が気中に露出していると、周囲空間に存在
する浮遊導電体部分に気中放電が発生し、測定の障害と
なることがあるため、気中ブッシング４ａを取り外し、
高圧ブッシング４を終端箱７の絶縁媒体で遮蔽して周囲
に電界が与えられないようにして試験を行なう場合もあ
る。
に、低圧ブッシング６に高周波発電機８を接続して高周
波電圧を印加し、高圧側に規定の電圧を発生させて変圧
器内部の部分放電量を測定し、絶縁診断を行なう試験で
ある。充電部が気中に露出していると、周囲空間に存在
する浮遊導電体部分に気中放電が発生し、測定の障害と
なることがあるため、気中ブッシング４ａを取り外し、
高圧ブッシング４を終端箱７の絶縁媒体で遮蔽して周囲
に電界が与えられないようにして試験を行なう場合もあ
る。
【０００６】温度上昇試験は、図６（ｃ）に示されるよ
うに、低圧コイル両端の低圧ブッシング６を短絡すると
共に、気中ブッシング４ａに温度試験用電源９を通電ケ
ーブル１３を介して接続し、高圧接地ブッシング５を接
地することにより、高圧コイル２に定格電流を通電して
変圧器の巻線及び冷却器温度特性を確認する。
うに、低圧コイル両端の低圧ブッシング６を短絡すると
共に、気中ブッシング４ａに温度試験用電源９を通電ケ
ーブル１３を介して接続し、高圧接地ブッシング５を接
地することにより、高圧コイル２に定格電流を通電して
変圧器の巻線及び冷却器温度特性を確認する。
【０００７】雷及び開閉インパルス試験は、図６（ｄ）
に示されるように、低圧ブッシング６を短絡し、高圧接
地ブッシング５を接地すると共に、気中ブッシング４ａ
に通電ケーブル１４を介して雷・開閉インパルス電圧発
生装置１０を接続し、雷電圧あるいは開閉インパルス電
圧を印加し耐電圧特性を確認する。
に示されるように、低圧ブッシング６を短絡し、高圧接
地ブッシング５を接地すると共に、気中ブッシング４ａ
に通電ケーブル１４を介して雷・開閉インパルス電圧発
生装置１０を接続し、雷電圧あるいは開閉インパルス電
圧を印加し耐電圧特性を確認する。
【０００８】変圧器について、上述のような工場試験を
行なうには、試験項目毎に図６（ａ）（ｂ）（ｃ）
（ｄ）に示す回路を構成する必要があり、試験回路、測
定回路の構成に時間を要することになる。特に、誘導試
験時に高圧ブッシング４を遮蔽して試験を実施する場合
には、気中ブッシング４ａを取り外すため、インパルス
試験に移るときには、気中ブッシング４ａの付け替え作
業が必要となり、その間は試験設備が休止状態となるた
め、試験設備の稼働率が低下することになる。
行なうには、試験項目毎に図６（ａ）（ｂ）（ｃ）
（ｄ）に示す回路を構成する必要があり、試験回路、測
定回路の構成に時間を要することになる。特に、誘導試
験時に高圧ブッシング４を遮蔽して試験を実施する場合
には、気中ブッシング４ａを取り外すため、インパルス
試験に移るときには、気中ブッシング４ａの付け替え作
業が必要となり、その間は試験設備が休止状態となるた
め、試験設備の稼働率が低下することになる。
【０００９】これに対する改善策として、特開昭５７−
１１６２６６号公報記載の試験方法に準じた図７に示す
方法が採用されている。この図において、（ａ）は一般
電気特性試験、（ｂ）は誘導試験、（ｃ）は温度上昇試
験、（ｄ）は雷・開閉インパルス試験を行なう回路であ
る。これらの図において、図３と同一または相当部分に
は同一符号を付して説明を省略する。
１１６２６６号公報記載の試験方法に準じた図７に示す
方法が採用されている。この図において、（ａ）は一般
電気特性試験、（ｂ）は誘導試験、（ｃ）は温度上昇試
験、（ｄ）は雷・開閉インパルス試験を行なう回路であ
る。これらの図において、図３と同一または相当部分に
は同一符号を付して説明を省略する。
【００１０】図７において、１５は試験用の接続タンク
で、一端部が高圧ブッシング４の取付部に固定され、他
端部に試験用気中ブッシング４ａが装着され、内部には
断路器１６が収容されると共に、絶縁媒体が充填されて
いる。また、高圧ブッシング４と断路器１６と気中ブッ
シング４ａとは接続線１５ａ及び１５ｂによって接続さ
れ、断路器１６は接続タンク１５に設けられた断路器操
作箱１６ａによって接続タンクの外部から開閉状態を制
御できるようにされている。
で、一端部が高圧ブッシング４の取付部に固定され、他
端部に試験用気中ブッシング４ａが装着され、内部には
断路器１６が収容されると共に、絶縁媒体が充填されて
いる。また、高圧ブッシング４と断路器１６と気中ブッ
シング４ａとは接続線１５ａ及び１５ｂによって接続さ
れ、断路器１６は接続タンク１５に設けられた断路器操
作箱１６ａによって接続タンクの外部から開閉状態を制
御できるようにされている。
【００１１】図７（ａ）に示される一般電気特性試験
は、断路器１６を閉状態とすることにより、図６（ａ）
と同等の回路となるため、一般特性用試験装置１１の複
数のケーブル１２を気中ブッシング４ａ、高圧接地ブッ
シング５及び低圧ブッシング６に接続してそれぞれに低
電圧を印加して試験が実施される。
は、断路器１６を閉状態とすることにより、図６（ａ）
と同等の回路となるため、一般特性用試験装置１１の複
数のケーブル１２を気中ブッシング４ａ、高圧接地ブッ
シング５及び低圧ブッシング６に接続してそれぞれに低
電圧を印加して試験が実施される。
【００１２】図７（ｂ）に示される誘導試験は、断路器
１６を開状態とすることにより、図６（ｂ）において気
中ブッシング４ａを取り外した状態と同等の回路となる
ため、低圧ブッシング６への高周波電圧の印加により、
試験が実施される。
１６を開状態とすることにより、図６（ｂ）において気
中ブッシング４ａを取り外した状態と同等の回路となる
ため、低圧ブッシング６への高周波電圧の印加により、
試験が実施される。
【００１３】図７（ｃ）及び（ｄ）に示される温度上昇
試験及び雷・開閉インパルス試験は、断路器１６を閉状
態とすることにより、それぞれ図６（ｃ）及び（ｄ）と
同等の回路となるため、気中ブッシング４ａに温度試験
用電源９あるいは雷・開閉インパルス電圧発生装置１０
を接続することにより、それぞれの試験が実施される。
試験及び雷・開閉インパルス試験は、断路器１６を閉状
態とすることにより、それぞれ図６（ｃ）及び（ｄ）と
同等の回路となるため、気中ブッシング４ａに温度試験
用電源９あるいは雷・開閉インパルス電圧発生装置１０
を接続することにより、それぞれの試験が実施される。
【００１４】
【発明が解決しようとする課題】従来の試験装置は以上
のように、図６に示す構成とする場合には、各試験項目
毎に各ブッシングへの電源電圧の印加線あるいは測定線
の接続、取り外しが必要であり、加えて気中ブッシング
の取付け、取り外しが必要な場合があり、試験設備の稼
働率が低くなるという問題点があった。また、図７に示
す構成とする場合には、気中ブッシングの取付け、取り
外しをする必要がなく、断路器の開閉によって各試験項
目をほぼ連続して実施することができるため、試験の準
備作業が少なくなり、試験実施時間の短縮による試験設
備の稼働率の向上を図ることができるが、各試験項目毎
の電源電圧の印加線あるいは測定線の接続、取り外し
は、やはり必要であるため、まだかなりの試験実施時間
を要するという問題点があった。
のように、図６に示す構成とする場合には、各試験項目
毎に各ブッシングへの電源電圧の印加線あるいは測定線
の接続、取り外しが必要であり、加えて気中ブッシング
の取付け、取り外しが必要な場合があり、試験設備の稼
働率が低くなるという問題点があった。また、図７に示
す構成とする場合には、気中ブッシングの取付け、取り
外しをする必要がなく、断路器の開閉によって各試験項
目をほぼ連続して実施することができるため、試験の準
備作業が少なくなり、試験実施時間の短縮による試験設
備の稼働率の向上を図ることができるが、各試験項目毎
の電源電圧の印加線あるいは測定線の接続、取り外し
は、やはり必要であるため、まだかなりの試験実施時間
を要するという問題点があった。
【００１５】この発明は、上記のような問題点を解消す
るためになされたもので、工場で組み立てられた被試験
電気設備の各種試験項目が短時間で連続して実施でき、
試験設備の稼働率の向上と各種試験項目の試験時間の短
縮を図ることができる試験装置を提供することを目的と
する。
るためになされたもので、工場で組み立てられた被試験
電気設備の各種試験項目が短時間で連続して実施でき、
試験設備の稼働率の向上と各種試験項目の試験時間の短
縮を図ることができる試験装置を提供することを目的と
する。
【００１６】
【課題を解決するための手段】この発明に係る電気機器
の試験装置は、高圧回路に接続される高圧ブッシング
と、低圧回路に接続される低圧ブッシングとを有する電
気機器の試験装置において、高圧ブッシングの取付部に
装着され、高圧ブッシングを絶縁媒体で遮蔽する試験装
置本体と、試験装置本体に設けられ、雷・開閉インパル
ス電圧発生装置に接続される高電圧試験用ブッシング
と、温度上昇試験用電源に接続される中電圧試験用ブッ
シングと、一般特性用試験装置に接続される低電圧試験
用ブッシングと、試験項目に応じて高電圧ブッシングを
各試験用ブッシングに選択的に接続し、あるいは開放し
得るようにされた開閉手段とを有する試験装置を備えた
ものである。
の試験装置は、高圧回路に接続される高圧ブッシング
と、低圧回路に接続される低圧ブッシングとを有する電
気機器の試験装置において、高圧ブッシングの取付部に
装着され、高圧ブッシングを絶縁媒体で遮蔽する試験装
置本体と、試験装置本体に設けられ、雷・開閉インパル
ス電圧発生装置に接続される高電圧試験用ブッシング
と、温度上昇試験用電源に接続される中電圧試験用ブッ
シングと、一般特性用試験装置に接続される低電圧試験
用ブッシングと、試験項目に応じて高電圧ブッシングを
各試験用ブッシングに選択的に接続し、あるいは開放し
得るようにされた開閉手段とを有する試験装置を備えた
ものである。
【００１７】この発明に係る電気機器の試験装置は、ま
た、試験装置本体に、２台の断路器を設けると共に、両
断路器の一方の端子を共に高圧ブッシングに接続し、他
方の端子を高電圧試験用ブッシングと中電圧試験用ブッ
シングにそれぞれ接続したものである。
た、試験装置本体に、２台の断路器を設けると共に、両
断路器の一方の端子を共に高圧ブッシングに接続し、他
方の端子を高電圧試験用ブッシングと中電圧試験用ブッ
シングにそれぞれ接続したものである。
【００１８】この発明に係る電気機器の試験装置は、ま
た、２台の断路器の一方の端子を、共に接地断路器を介
して低電圧試験用ブッシングに接続するようにしたもの
である。
た、２台の断路器の一方の端子を、共に接地断路器を介
して低電圧試験用ブッシングに接続するようにしたもの
である。
【００１９】この発明に係る電気機器の試験装置は、ま
た、２台の断路器の一方の端子を、共に接地断路器を介
して低電圧試験用ブッシングに接続すると共に、各断路
器の他方の端子をそれぞれ接地断路器を介して接地端子
に接続するようにしたものである。
た、２台の断路器の一方の端子を、共に接地断路器を介
して低電圧試験用ブッシングに接続すると共に、各断路
器の他方の端子をそれぞれ接地断路器を介して接地端子
に接続するようにしたものである。
【００２０】この発明に係る電気機器の試験装置は、ま
た、電気機器の低圧ブッシングと試験装置の低電圧試験
用ブッシングに一般特性用試験装置を接続すると共に、
２台の断路器を開放し、低電圧試験用ブッシングに接続
された接地断路器を閉路することにより、一般電気特性
試験を行なうものである。
た、電気機器の低圧ブッシングと試験装置の低電圧試験
用ブッシングに一般特性用試験装置を接続すると共に、
２台の断路器を開放し、低電圧試験用ブッシングに接続
された接地断路器を閉路することにより、一般電気特性
試験を行なうものである。
【００２１】この発明に係る電気機器の試験装置は、ま
た、電気機器の低圧ブッシングに誘導電圧を印加すると
共に、２台の断路器及び低電圧試験用ブッシングに接続
された接地断路器を開放し、各断路器の他方の端子に接
続された接地断路器を閉路することにより、誘導試験を
行なうものである。
た、電気機器の低圧ブッシングに誘導電圧を印加すると
共に、２台の断路器及び低電圧試験用ブッシングに接続
された接地断路器を開放し、各断路器の他方の端子に接
続された接地断路器を閉路することにより、誘導試験を
行なうものである。
【００２２】この発明に係る電気機器の試験装置は、ま
た、電気機器の低圧ブッシングを短絡し、中電圧試験用
ブッシングに接続された断路器を閉路し、該断路器の他
端に接続された接地断路器及び低電圧試験用ブッシング
に接続された接地断路器を開放すると共に、高電圧試験
用ブッシングに接続された断路器を開放し、該断路器の
他端に接続された接地断路器を閉路することにより、温
度上昇試験を行なうものである。
た、電気機器の低圧ブッシングを短絡し、中電圧試験用
ブッシングに接続された断路器を閉路し、該断路器の他
端に接続された接地断路器及び低電圧試験用ブッシング
に接続された接地断路器を開放すると共に、高電圧試験
用ブッシングに接続された断路器を開放し、該断路器の
他端に接続された接地断路器を閉路することにより、温
度上昇試験を行なうものである。
【００２３】この発明に係る電気機器の試験装置は、ま
た、電気機器の低圧ブッシングを短絡し、高電圧試験用
ブッシングに接続された断路器を閉路し、該断路器の他
端に接続された接地断路器及び低電圧試験用ブッシング
に接続された接地断路器を開放すると共に、中電圧試験
用ブッシングに接続された断路器を開放し、該断路器の
他端に接続された接地断路器を閉路することにより、雷
及び開閉インパルス試験を行なうものである。
た、電気機器の低圧ブッシングを短絡し、高電圧試験用
ブッシングに接続された断路器を閉路し、該断路器の他
端に接続された接地断路器及び低電圧試験用ブッシング
に接続された接地断路器を開放すると共に、中電圧試験
用ブッシングに接続された断路器を開放し、該断路器の
他端に接続された接地断路器を閉路することにより、雷
及び開閉インパルス試験を行なうものである。
【００２４】
【発明の実施の形態】実施の形態１．以下、変圧器を被
試験電気機器としたこの発明の実施の形態１を図にもと
づいて説明する。図１は、この発明の実施の形態１の構
成を示す概略図である。この図において、１は被試験変
圧器で、密閉容器内に高圧コイル２及び低圧コイル３が
収納され、密閉容器壁に高圧コイル２の一端が接続され
た高圧ブッシング４、高圧コイル２の他端が接続された
高圧接地ブッシング５及び低圧コイル３の両端が接続さ
れた低圧ブッシング６を取り付けた構成とされている。
２７は高圧ブッシング４の内部の静電容量を利用した分
圧器、２８は部分放電検出手段で、分圧器２７に接続さ
れたインピーダンス検出器２８ａ及び部分放電検出器２
８ｂによって構成されている。
試験電気機器としたこの発明の実施の形態１を図にもと
づいて説明する。図１は、この発明の実施の形態１の構
成を示す概略図である。この図において、１は被試験変
圧器で、密閉容器内に高圧コイル２及び低圧コイル３が
収納され、密閉容器壁に高圧コイル２の一端が接続され
た高圧ブッシング４、高圧コイル２の他端が接続された
高圧接地ブッシング５及び低圧コイル３の両端が接続さ
れた低圧ブッシング６を取り付けた構成とされている。
２７は高圧ブッシング４の内部の静電容量を利用した分
圧器、２８は部分放電検出手段で、分圧器２７に接続さ
れたインピーダンス検出器２８ａ及び部分放電検出器２
８ｂによって構成されている。
【００２５】３０は試験装置本体で、主タンク３０Ａ
と、高圧ブッシング４の取付部に装着され、高圧ブッシ
ング４を遮蔽すると共に、上記主タンク３０Ａに結合さ
れた接続タンク３０Ｂと、高電圧試験用ブッシング２３
を装着し、上記主タンク３０Ａに結合されたブッシング
接続タンク３０Ｃと、同じく中電圧試験用ブッシング２
４を装着し、上記ブッシング接続タンク３０Ｃとは離隔
して上記主タンク３０Ａに結合されたブッシング接続タ
ンク３０Ｄとから構成されており、内部には周知の絶縁
媒体が充填されている。
と、高圧ブッシング４の取付部に装着され、高圧ブッシ
ング４を遮蔽すると共に、上記主タンク３０Ａに結合さ
れた接続タンク３０Ｂと、高電圧試験用ブッシング２３
を装着し、上記主タンク３０Ａに結合されたブッシング
接続タンク３０Ｃと、同じく中電圧試験用ブッシング２
４を装着し、上記ブッシング接続タンク３０Ｃとは離隔
して上記主タンク３０Ａに結合されたブッシング接続タ
ンク３０Ｄとから構成されており、内部には周知の絶縁
媒体が充填されている。
【００２６】１６及び１７は試験装置本体３０内に直列
接続して設置された２台の断路器で、１６ｂは断路器１
６の固定接点、１６ｃは同じく可動接点、１７ｂは断路
器１７の固定接点、１７ｃは同じく可動接点である。３
０Ｅは断路器１６及び１７の共通端子、３０Ｆは高圧ブ
ッシング４と断路器の共通端子３０Ｅとを接続する接続
線、３０Ｇは高電圧試験用ブッシング２３と断路器１６
の固定接点１６ｂとを接続する接続線、３０Ｈは中電圧
試験用ブッシング２４と断路器１７の固定接点１７ｂと
を接続する接続線、１６ａ及び１７ａは主タンク３０Ａ
に設けられた断路器１６及び１７の操作箱で、それぞれ
接続線３０Ｊ及び３０Ｋによって断路器１６、１７と接
続され、主タンク３０Ａの外部から断路器１６、１７の
開閉を操作できるようになっている。
接続して設置された２台の断路器で、１６ｂは断路器１
６の固定接点、１６ｃは同じく可動接点、１７ｂは断路
器１７の固定接点、１７ｃは同じく可動接点である。３
０Ｅは断路器１６及び１７の共通端子、３０Ｆは高圧ブ
ッシング４と断路器の共通端子３０Ｅとを接続する接続
線、３０Ｇは高電圧試験用ブッシング２３と断路器１６
の固定接点１６ｂとを接続する接続線、３０Ｈは中電圧
試験用ブッシング２４と断路器１７の固定接点１７ｂと
を接続する接続線、１６ａ及び１７ａは主タンク３０Ａ
に設けられた断路器１６及び１７の操作箱で、それぞれ
接続線３０Ｊ及び３０Ｋによって断路器１６、１７と接
続され、主タンク３０Ａの外部から断路器１６、１７の
開閉を操作できるようになっている。
【００２７】２６は上述した各接続線３０Ｆ、３０Ｇ、
３０Ｈをタンク内で支持する絶縁スペーサ、２５ａ、２
５ｂ、２５ｃはそれぞれ主タンク３０Ａに設けられた低
電圧試験用ブッシング、１８は低電圧試験用ブッシング
２５ａと断路器の共通端子３０Ｅとの間に接続された接
地断路器、１９は同じく低電圧試験用ブッシング２５ｂ
と断路器１７の固定接点１７ｂとの間に接続された接地
断路器、２０は同じく低電圧試験用ブッシング２５ｃと
断路器１６の固定接点１６ｂとの間に接続された接地断
路器、１８ａ、１９ａ、２０ａはそれぞれ上記各接地断
路器１８，１９，２０の操作箱で、それぞれの接地断路
器の開閉を外部から操作できるようになっている。な
お、試験装置本体３０と、高、中、低電圧試験用ブッシ
ング２３、２４、２５ａ、２５ｂ、２５ｃと、断路器１
６、１７、接地断路器１８、１９、２０とによって試験
装置１３０が構成されている。
３０Ｈをタンク内で支持する絶縁スペーサ、２５ａ、２
５ｂ、２５ｃはそれぞれ主タンク３０Ａに設けられた低
電圧試験用ブッシング、１８は低電圧試験用ブッシング
２５ａと断路器の共通端子３０Ｅとの間に接続された接
地断路器、１９は同じく低電圧試験用ブッシング２５ｂ
と断路器１７の固定接点１７ｂとの間に接続された接地
断路器、２０は同じく低電圧試験用ブッシング２５ｃと
断路器１６の固定接点１６ｂとの間に接続された接地断
路器、１８ａ、１９ａ、２０ａはそれぞれ上記各接地断
路器１８，１９，２０の操作箱で、それぞれの接地断路
器の開閉を外部から操作できるようになっている。な
お、試験装置本体３０と、高、中、低電圧試験用ブッシ
ング２３、２４、２５ａ、２５ｂ、２５ｃと、断路器１
６、１７、接地断路器１８、１９、２０とによって試験
装置１３０が構成されている。
【００２８】次に、上述した試験装置による各試験項目
の実施の仕方について説明する。 実施例１．図２は、実施の形態１の試験装置により一般
電気特性試験を行なう実施例を示す回路図である。一般
特性用試験装置１１の複数のケーブル１２を低電圧試験
用ブッシング２５ａ、高圧接地ブッシング５及び低圧ブ
ッシング６に接続すると共に、接地断路器１８を閉、断
路器１６、１７を開にして一般特性用試験装置１１から
低電圧を印加することにより、一般電気特性である変圧
比、極性、巻線抵抗、絶縁抵抗を測定する。
の実施の仕方について説明する。 実施例１．図２は、実施の形態１の試験装置により一般
電気特性試験を行なう実施例を示す回路図である。一般
特性用試験装置１１の複数のケーブル１２を低電圧試験
用ブッシング２５ａ、高圧接地ブッシング５及び低圧ブ
ッシング６に接続すると共に、接地断路器１８を閉、断
路器１６、１７を開にして一般特性用試験装置１１から
低電圧を印加することにより、一般電気特性である変圧
比、極性、巻線抵抗、絶縁抵抗を測定する。
【００２９】実施例２．図３は、実施の形態１の試験装
置により誘導試験を行なう実施例を示す回路図である。
低圧ブッシング６に誘導電圧印加手段である高周波発電
機８を接続すると共に、断路器１６、１７及び接地断路
器１８を開、接地断路器１９、２０を閉とし、充電部が
気中に露出しないように試験装置本体３０で遮蔽した状
態で高圧ブッシング４に接続された容量分圧器２７を介
して部分放電検出手段２８により被試験変圧器の部分放
電量を測定する。
置により誘導試験を行なう実施例を示す回路図である。
低圧ブッシング６に誘導電圧印加手段である高周波発電
機８を接続すると共に、断路器１６、１７及び接地断路
器１８を開、接地断路器１９、２０を閉とし、充電部が
気中に露出しないように試験装置本体３０で遮蔽した状
態で高圧ブッシング４に接続された容量分圧器２７を介
して部分放電検出手段２８により被試験変圧器の部分放
電量を測定する。
【００３０】実施例３．図４は、実施の形態１の試験装
置により温度上昇試験を行なう実施例を示す回路図であ
る。中電圧試験用ブッシング２４に温度試験用電源９を
接続し、低圧ブッシング６の両端を短絡接地すると共
に、断路器１６を開、断路器１７を閉、接地断路器２０
を閉、接地断路器１８、１９を開にして中電圧試験用ブ
ッシング２４と高圧接地ブッシング５との間に温度試験
用電源９から定格電流を通電し、変圧器の巻線及び冷却
器温度特性を確認する。
置により温度上昇試験を行なう実施例を示す回路図であ
る。中電圧試験用ブッシング２４に温度試験用電源９を
接続し、低圧ブッシング６の両端を短絡接地すると共
に、断路器１６を開、断路器１７を閉、接地断路器２０
を閉、接地断路器１８、１９を開にして中電圧試験用ブ
ッシング２４と高圧接地ブッシング５との間に温度試験
用電源９から定格電流を通電し、変圧器の巻線及び冷却
器温度特性を確認する。
【００３１】実施例４．図５は、実施の形態１の試験装
置により雷及び開閉インパルス試験を行なう実施例を示
す回路図である。高電圧試験用ブッシング２３に、雷・
開閉インパルス電圧発生装置１０を接続し、低圧ブッシ
ング６の両端を短絡接地すると共に、断路器１６を閉、
断路器１７を開、接地断路器１９を閉、接地断路器１
８、２０を開にして高電圧試験用ブッシング２３と高圧
接地ブッシング５との間に雷・開閉インパルス電圧発生
装置１０から規定の電圧を印加し、インパルス耐電圧特
性を確認する。
置により雷及び開閉インパルス試験を行なう実施例を示
す回路図である。高電圧試験用ブッシング２３に、雷・
開閉インパルス電圧発生装置１０を接続し、低圧ブッシ
ング６の両端を短絡接地すると共に、断路器１６を閉、
断路器１７を開、接地断路器１９を閉、接地断路器１
８、２０を開にして高電圧試験用ブッシング２３と高圧
接地ブッシング５との間に雷・開閉インパルス電圧発生
装置１０から規定の電圧を印加し、インパルス耐電圧特
性を確認する。
【００３２】
【発明の効果】この発明に係る電気機器の試験装置は、
高圧ブッシングの取付部に装着され、高圧ブッシングを
絶縁媒体で遮蔽する試験装置本体と、試験装置本体に設
けられ、雷・開閉インパルス電圧発生装置に接続される
高電圧試験用ブッシングと、温度上昇試験用電源に接続
される中電圧試験用ブッシングと、一般特性用試験装置
に接続される低電圧試験用ブッシングと、試験項目に応
じて高電圧ブッシングを各試験用ブッシングに選択的に
接続し、あるいは開放し得るようにされた開閉手段とを
有する試験装置を備えたものであるため、被試験電気機
器の各種試験項目に合わせて断路器及び接地断路器の開
閉操作をすることにより、それぞれの試験回路を構成す
ることができ、被試験電気機器の組み立て後、低圧ブッ
シングのみの回路変更で工場試験が連続して実施できる
ので、試験時間が短縮され、試験設備の稼働率が向上す
るものである。
高圧ブッシングの取付部に装着され、高圧ブッシングを
絶縁媒体で遮蔽する試験装置本体と、試験装置本体に設
けられ、雷・開閉インパルス電圧発生装置に接続される
高電圧試験用ブッシングと、温度上昇試験用電源に接続
される中電圧試験用ブッシングと、一般特性用試験装置
に接続される低電圧試験用ブッシングと、試験項目に応
じて高電圧ブッシングを各試験用ブッシングに選択的に
接続し、あるいは開放し得るようにされた開閉手段とを
有する試験装置を備えたものであるため、被試験電気機
器の各種試験項目に合わせて断路器及び接地断路器の開
閉操作をすることにより、それぞれの試験回路を構成す
ることができ、被試験電気機器の組み立て後、低圧ブッ
シングのみの回路変更で工場試験が連続して実施できる
ので、試験時間が短縮され、試験設備の稼働率が向上す
るものである。
【図１】 この発明の実施の形態１の構成を示す概略図
である。
である。
【図２】 実施の形態１の試験装置により一般電気特性
試験を行う実施例を示す回路である。
試験を行う実施例を示す回路である。
【図３】 実施の形態１の試験装置により誘導試験を行
う実施例を示す回路図である。
う実施例を示す回路図である。
【図４】 実施の形態１の試験装置により温度上昇試験
を行う実施例を示す回路図である。
を行う実施例を示す回路図である。
【図５】 実施の形態１の試験装置により雷および開閉
インパルス試験を行う実施例を示す回路図である。
インパルス試験を行う実施例を示す回路図である。
【図６】 従来の試験装置における各種試験項目の実施
の仕方を示す回路図である。
の仕方を示す回路図である。
【図７】 従来の試験装置の改良された形態を示す回路
図である。
図である。
１ 被試験変圧器、４ 高圧ブッシング、５ 高圧接地
ブッシング、６ 低圧ブッシング、８ 高周波発電機、
９ 温度上昇試験用電源、１０ 雷・開閉インパルス電
圧発生装置、１１ 一般特性用試験装置、１３，１４
ケーブル、１６，１７ 断路器、１８〜２０ 接地断路
器、２３ 高電圧試験用ブッシング、２４ 中電圧試験
用ブッシング、２５ａ〜２５ｃ 低電圧試験用ブッシン
グ、２８ 部分放電検出手段、３０ 試験装置本体、１
３０ 試験装置。
ブッシング、６ 低圧ブッシング、８ 高周波発電機、
９ 温度上昇試験用電源、１０ 雷・開閉インパルス電
圧発生装置、１１ 一般特性用試験装置、１３，１４
ケーブル、１６，１７ 断路器、１８〜２０ 接地断路
器、２３ 高電圧試験用ブッシング、２４ 中電圧試験
用ブッシング、２５ａ〜２５ｃ 低電圧試験用ブッシン
グ、２８ 部分放電検出手段、３０ 試験装置本体、１
３０ 試験装置。
Claims (8)
- 【請求項１】 高圧回路に接続される高圧ブッシング
と、低圧回路に接続される低圧ブッシングとを有する電
気機器の試験装置において、上記高圧ブッシングの取付
部に装着され、上記高圧ブッシングを絶縁媒体で遮蔽す
る試験装置本体と、上記試験装置本体に設けられ、雷・
開閉インパルス電圧発生装置に接続される高電圧試験用
ブッシングと、温度上昇試験用電源に接続される中電圧
試験用ブッシングと、一般特性用試験装置に接続される
低電圧試験用ブッシングと、試験項目に応じて上記高電
圧ブッシングを上記各試験用ブッシングに選択的に接続
し、あるいは開放し得るようにされた開閉手段とを有す
る試験装置を備えた電気機器の試験装置。 - 【請求項２】 試験装置本体は、２台の断路器を設ける
と共に、両断路器の一方の端子を共に高圧ブッシングに
接続し、他方の端子を高電圧試験用ブッシングと中電圧
試験用ブッシングにそれぞれ接続したことを特徴とする
請求項１記載の電気機器の試験装置。 - 【請求項３】 ２台の断路器の一方の端子を、共に接地
断路器を介して低電圧試験用ブッシングに接続するよう
にしたことを特徴とする請求項２記載の電気機器の試験
装置。 - 【請求項４】 ２台の断路器の一方の端子を、共に接地
断路器を介して低電圧試験用ブッシングに接続すると共
に、各断路器の他方の端子をそれぞれ接地断路器を介し
て接地端子に接続するようにしたことを特徴とする請求
項２記載の電気機器の試験装置。 - 【請求項５】 電気機器の低圧ブッシングと試験装置の
低電圧試験用ブッシングに一般特性用試験装置を接続す
ると共に、２台の断路器を開放し、上記低電圧試験用ブ
ッシングに接続された接地断路器を閉路することによ
り、一般電気特性試験を行なうことを特徴とする請求項
３記載の電気機器の試験装置。 - 【請求項６】 電気機器の低圧ブッシングに誘導電圧を
印加すると共に、２台の断路器及び低電圧試験用ブッシ
ングに接続された接地断路器を開放し、各断路器の他方
の端子に接続された接地断路器を閉路することにより、
誘導試験を行なうことを特徴とする請求項４記載の電気
機器の試験装置。 - 【請求項７】 電気機器の低圧ブッシングを短絡し、中
電圧試験用ブッシングに接続された断路器を閉路し、該
断路器の他端に接続された接地断路器及び低電圧試験用
ブッシングに接続された接地断路器を開放すると共に、
高電圧試験用ブッシングに接続された断路器を開放し、
該断路器の他端に接続された接地断路器を閉路すること
により、温度上昇試験を行なうことを特徴とする請求項
４記載の電気機器の試験装置。 - 【請求項８】 電気機器の低圧ブッシングを短絡し、高
電圧試験用ブッシングに接続された断路器を閉路し、該
断路器の他端に接続された接地断路器及び低電圧試験用
ブッシングに接続された接地断路器を開放すると共に、
中電圧試験用ブッシングに接続された断路器を開放し、
該断路器の他端に接続された接地断路器を閉路すること
により、雷及び開閉インパルス試験を行なうことを特徴
とする請求項４記載の電気機器の試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11181216A JP2001013197A (ja) | 1999-06-28 | 1999-06-28 | 電気機器の試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11181216A JP2001013197A (ja) | 1999-06-28 | 1999-06-28 | 電気機器の試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2001013197A true JP2001013197A (ja) | 2001-01-19 |
Family
ID=16096862
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11181216A Pending JP2001013197A (ja) | 1999-06-28 | 1999-06-28 | 電気機器の試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2001013197A (ja) |
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102508132A (zh) * | 2011-11-10 | 2012-06-20 | 保定天威集团有限公司 | 一种适用于双芯移相变压器的操作冲击试验方法 |
| CN102565638A (zh) * | 2011-12-15 | 2012-07-11 | 深圳创维数字技术股份有限公司 | 一种耐压测试辅助机构及测试方法 |
| CN102967806A (zh) * | 2012-11-09 | 2013-03-13 | 昆山迈致治具科技有限公司 | 测高压治具 |
| CN103163435A (zh) * | 2013-03-15 | 2013-06-19 | 上海华力微电子有限公司 | 晶圆可接受性测试之击穿电压测试装置及方法 |
| CN103308840A (zh) * | 2013-05-23 | 2013-09-18 | 上海华力微电子有限公司 | 晶圆可接受测试方法 |
| CN103558573A (zh) * | 2013-11-14 | 2014-02-05 | 中国三冶集团有限公司电气安装工程公司 | 一种电压互感器的性能测试方法 |
| CN103837804A (zh) * | 2014-02-27 | 2014-06-04 | 苏州华电电气股份有限公司 | 移动式气体绝缘无局放耐压试验系统 |
| CN103884969A (zh) * | 2014-03-18 | 2014-06-25 | 深圳创维－Rgb电子有限公司 | 电视机高压测试系统 |
| CN103941168A (zh) * | 2014-04-30 | 2014-07-23 | 国网河南省电力公司商丘供电公司 | 一种绝缘耐压测试装置及方法 |
| CN105137313A (zh) * | 2015-10-21 | 2015-12-09 | 国网山东商河县供电公司 | 电力避雷器测试装置 |
| CN105242078A (zh) * | 2015-10-21 | 2016-01-13 | 国网山东商河县供电公司 | 避雷器试验车 |
| CN105259481A (zh) * | 2014-09-22 | 2016-01-20 | 扬州市鑫源电气有限公司 | 一种串联谐振自动稳压系统 |
| CN105842597A (zh) * | 2016-06-02 | 2016-08-10 | 国家电网公司 | 一体式冲击电压发生器的车载移动试验平台 |
-
1999
- 1999-06-28 JP JP11181216A patent/JP2001013197A/ja active Pending
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| CN105242078B (zh) * | 2015-10-21 | 2018-07-03 | 国网山东商河县供电公司 | 避雷器试验车 |
| CN105842597A (zh) * | 2016-06-02 | 2016-08-10 | 国家电网公司 | 一体式冲击电压发生器的车载移动试验平台 |
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