JPS5927869B2 - 合成試験回路装置 - Google Patents
合成試験回路装置Info
- Publication number
- JPS5927869B2 JPS5927869B2 JP52098609A JP9860977A JPS5927869B2 JP S5927869 B2 JPS5927869 B2 JP S5927869B2 JP 52098609 A JP52098609 A JP 52098609A JP 9860977 A JP9860977 A JP 9860977A JP S5927869 B2 JPS5927869 B2 JP S5927869B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- voltage
- high voltage
- circuit
- synthetic test
- test
- Prior art date
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/327—Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
- G01R31/333—Testing of the switching capacity of high-voltage circuit-breakers ; Testing of breaking capacity or related variables, e.g. post arc current or transient recovery voltage
- G01R31/3333—Apparatus, systems or circuits therefor
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Relating To Insulation (AREA)
- Tests Of Circuit Breakers, Generators, And Electric Motors (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
- Gas-Insulated Switchgears (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Keying Circuit Devices (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はしや断点が密閉された接地金属容器内に収容さ
れ、試験時に片側が接地される多重切高電圧しや断固用
であつて、試験中に、駆動されるしや断点に印加すべき
大電流源と高電圧源とをもつ合成試験回路装置に関する
ものである。
れ、試験時に片側が接地される多重切高電圧しや断固用
であつて、試験中に、駆動されるしや断点に印加すべき
大電流源と高電圧源とをもつ合成試験回路装置に関する
ものである。
１２３ｋＶおよび２４５ｋＶ用の金属密閉型高電圧しや
断固の場合には、定格電圧がさほど高くないから、全し
や断点について試験のできる合成試験回路を用いること
ができる。
断固の場合には、定格電圧がさほど高くないから、全し
や断点について試験のできる合成試験回路を用いること
ができる。
より高電圧、たとえば５５０にあるいはそれ以上の電圧
になると、全しや断点試験はその合成試験回路を構成す
るために、莫大な費用を必要とする。この費用は、全直
列しや断点の代わりにその中の１つあるいは数個のしや
断点に対して、合成試験回路の大電流′源と、供試され
るしや断点の数に対応した試験電圧を供給する高電圧源
とを加えることによつて低減できる。しかしながらその
場合の欠点は、反接地側に位置するしや断点と金属容器
との間の絶縁能力が、前記高電圧源の供給する試験電圧
すなわちしや断固の定格電圧の一部分の電圧でしか試験
できないことである。このことは全直列しや断点の中の
１つあるいは数個のしや断点自体の電流しや断能力を検
証する試験としては何ら問題はないが、しや断点と金属
容器との間の絶縁能力をも検証する試験としては問題で
ある。すなわち上記の試験結果からは、供試されるしや
断点と容器との間の絶縁状態について、当該の系統状態
に対応できるという立証は得られない。何故ならしや断
点と大地との間にはしや断固定格電圧の一部しか電圧ス
トレスがかからないからである。本発明はこのような従
来の合成試験方法の欠点を除去し、定格電圧が極めて高
い金属密閉型多重切しや断固に対しても、その直列しや
断点の電流しや断能力と併せて、しや断点と金属容器と
の間の絶縁能力をも経済的に検証することのできる合成
試験回路装置を提供することを目的とする。
になると、全しや断点試験はその合成試験回路を構成す
るために、莫大な費用を必要とする。この費用は、全直
列しや断点の代わりにその中の１つあるいは数個のしや
断点に対して、合成試験回路の大電流′源と、供試され
るしや断点の数に対応した試験電圧を供給する高電圧源
とを加えることによつて低減できる。しかしながらその
場合の欠点は、反接地側に位置するしや断点と金属容器
との間の絶縁能力が、前記高電圧源の供給する試験電圧
すなわちしや断固の定格電圧の一部分の電圧でしか試験
できないことである。このことは全直列しや断点の中の
１つあるいは数個のしや断点自体の電流しや断能力を検
証する試験としては何ら問題はないが、しや断点と金属
容器との間の絶縁能力をも検証する試験としては問題で
ある。すなわち上記の試験結果からは、供試されるしや
断点と容器との間の絶縁状態について、当該の系統状態
に対応できるという立証は得られない。何故ならしや断
点と大地との間にはしや断固定格電圧の一部しか電圧ス
トレスがかからないからである。本発明はこのような従
来の合成試験方法の欠点を除去し、定格電圧が極めて高
い金属密閉型多重切しや断固に対しても、その直列しや
断点の電流しや断能力と併せて、しや断点と金属容器と
の間の絶縁能力をも経済的に検証することのできる合成
試験回路装置を提供することを目的とする。
本発明によれば、この目的は、しや断器の金属容器を大
地から絶縁するとともに、高電圧源の電圧と同時で、か
つ異極性の電圧が金属容器に印加されるような高電圧回
路を附加することによつて達することができる。本発明
を適用すれば、しや断点への試験電圧と容器への電圧と
が同時刻に印加されるので、密閉された高圧しや断器は
系統条件に相当した電圧下で試験される。
地から絶縁するとともに、高電圧源の電圧と同時で、か
つ異極性の電圧が金属容器に印加されるような高電圧回
路を附加することによつて達することができる。本発明
を適用すれば、しや断点への試験電圧と容器への電圧と
が同時刻に印加されるので、密閉された高圧しや断器は
系統条件に相当した電圧下で試験される。
部分しや断点にかかる電圧と、部分しや断点中の反接地
側しや断点と金属容器との間にかかる電圧とは、それぞ
れ供試しや断点の数に応じて試験規格あるいは顧客要求
に規定された試験電圧から求められた電圧、ならびにこ
の試験規格あるいは顧客要求の試験電圧とに選ばれる。
このようにしや断器の金属容器を大地から絶縁するとと
もに、直列しや断点の中の１つあるいは数個のしや断点
の電流しや断能力を検証する高電圧源の電圧と同等の電
圧を、附加された高電圧回路から印加するのみで、しや
断点と金属容器との間に定格電圧相当の絶縁能力検証電
圧を等価的に得ることができるから、全しや断点試験を
行なう場合に比べて著しく経済的に電流しや断と絶縁と
の両能力を同時に検証することができるという効果が得
られる。本発明による第１の実施例では、附加される高
電圧回路には高電圧発電機が含まれている。
側しや断点と金属容器との間にかかる電圧とは、それぞ
れ供試しや断点の数に応じて試験規格あるいは顧客要求
に規定された試験電圧から求められた電圧、ならびにこ
の試験規格あるいは顧客要求の試験電圧とに選ばれる。
このようにしや断器の金属容器を大地から絶縁するとと
もに、直列しや断点の中の１つあるいは数個のしや断点
の電流しや断能力を検証する高電圧源の電圧と同等の電
圧を、附加された高電圧回路から印加するのみで、しや
断点と金属容器との間に定格電圧相当の絶縁能力検証電
圧を等価的に得ることができるから、全しや断点試験を
行なう場合に比べて著しく経済的に電流しや断と絶縁と
の両能力を同時に検証することができるという効果が得
られる。本発明による第１の実施例では、附加される高
電圧回路には高電圧発電機が含まれている。
また別の実施例では、附加される高電圧回路に、コンデ
ンサバツテリ一が含まれている。さらに別の実施例では
、附加される高電圧回路には、高電圧源によつて饋電さ
れる変圧器が含まれている。本発明による合成試験回路
の原理を図によつて説明しよう。第１図において金属密
閉の高電圧しや断器が断面図で示されているが、その容
器２は導電性の材料から成つており、その内部空間３に
はガス状の絶縁媒質が充填されている。
ンサバツテリ一が含まれている。さらに別の実施例では
、附加される高電圧回路には、高電圧源によつて饋電さ
れる変圧器が含まれている。本発明による合成試験回路
の原理を図によつて説明しよう。第１図において金属密
閉の高電圧しや断器が断面図で示されているが、その容
器２は導電性の材料から成つており、その内部空間３に
はガス状の絶縁媒質が充填されている。
内部空間３にはさらに４ケの直列しや断点４，５，６，
７が配設されている。直列しや断点４ないし７はブツシ
ング８および９に導かれ、その外部端子１０，１１はし
や断器の電気的接続部を構成している。しや断器１の通
常の運転状態で接地されている金属容器２は、これを合
成試験回路内に配置する際には本発明に従い、支持がい
し１２，１３によつて大地から絶縁される。試験に当た
つては外部端子１０を接地するとともに、外部端子１１
は大電流源１４ａおよび高電圧源１４ｂに接続され、こ
れら電源が試験中動作するしや断点６および７に対して
印加される。
７が配設されている。直列しや断点４ないし７はブツシ
ング８および９に導かれ、その外部端子１０，１１はし
や断器の電気的接続部を構成している。しや断器１の通
常の運転状態で接地されている金属容器２は、これを合
成試験回路内に配置する際には本発明に従い、支持がい
し１２，１３によつて大地から絶縁される。試験に当た
つては外部端子１０を接地するとともに、外部端子１１
は大電流源１４ａおよび高電圧源１４ｂに接続され、こ
れら電源が試験中動作するしや断点６および７に対して
印加される。
これに加えて高電圧回路１５が設けられ、その電圧が容
器２に加えられる。この高電圧回路１５と容器２との間
にある導体１６には接続装置１７が挿入され、制御装置
１８によつて附勢される。制御装置１８は接続装置１７
の制御に同期して高電圧源１４ｂの接続をも制御する。
全しや断点４ないし７の投入状態においては大電流源が
働き、しや断点６および７が開けば高電圧源１４ｂが働
く。同時に大地から絶縁された容器には高電圧回路１５
からの電圧がかかる。このようにすれば、容器２の内部
空間３にある絶縁物を定格電圧の下で試験することが可
能になる。第２図に全しや断点および部分しや断点に対
する試験電圧の時間変化を示す。
器２に加えられる。この高電圧回路１５と容器２との間
にある導体１６には接続装置１７が挿入され、制御装置
１８によつて附勢される。制御装置１８は接続装置１７
の制御に同期して高電圧源１４ｂの接続をも制御する。
全しや断点４ないし７の投入状態においては大電流源が
働き、しや断点６および７が開けば高電圧源１４ｂが働
く。同時に大地から絶縁された容器には高電圧回路１５
からの電圧がかかる。このようにすれば、容器２の内部
空間３にある絶縁物を定格電圧の下で試験することが可
能になる。第２図に全しや断点および部分しや断点に対
する試験電圧の時間変化を示す。
この図から、本発明を適用することによつて全しや断点
に対する電圧Ｕｖの代りに部分しや断点に対する試験電
圧Ｕ１と追加された電圧源回路からの異極性電圧Ｕ２と
の差すなわちハツチング部分を使用できることが分る。
図においてＵ２の実線で示された電圧波形は後に述べる
実施例第３図に該当した波形であり、この波形の初期振
動部分から一点鎖線につながる波形は実施例第４図に該
当した波形である。また点線から滑らかな実線につなが
る波形は実施例第５図に該当した波形を示すとともに実
施例第６図において発生するＵ２の波形の包絡線を示す
。このように、追加された電圧源回路からの比較的低い
電圧Ｕ２を使用することによつて、しや断点と容器との
間の絶縁能力の検証に必要な高い電圧ｕと等しい電圧を
等価的に得ることができるから、合成試験回路の運転機
材の費用を低くおさえることができることが分る。図に
記載した電流１１は短絡電流をまた電流１２は追加回路
の電圧が交流電圧であつて、短絡電流のしや断に先立つ
て印加されたと仮定したときの、この追加回路から容器
２を経由して支持がいし１２，１３の対地静電容量に流
入する電流を意味する。電圧Ｕｖは試験規格で与えられ
、電圧Ｕ１は現存する試験設備が供給できる電圧の範囲
内で与えられる。第３図は本発明に基づいて構成された
合成試験回路の第１実施例を示す。
に対する電圧Ｕｖの代りに部分しや断点に対する試験電
圧Ｕ１と追加された電圧源回路からの異極性電圧Ｕ２と
の差すなわちハツチング部分を使用できることが分る。
図においてＵ２の実線で示された電圧波形は後に述べる
実施例第３図に該当した波形であり、この波形の初期振
動部分から一点鎖線につながる波形は実施例第４図に該
当した波形である。また点線から滑らかな実線につなが
る波形は実施例第５図に該当した波形を示すとともに実
施例第６図において発生するＵ２の波形の包絡線を示す
。このように、追加された電圧源回路からの比較的低い
電圧Ｕ２を使用することによつて、しや断点と容器との
間の絶縁能力の検証に必要な高い電圧ｕと等しい電圧を
等価的に得ることができるから、合成試験回路の運転機
材の費用を低くおさえることができることが分る。図に
記載した電流１１は短絡電流をまた電流１２は追加回路
の電圧が交流電圧であつて、短絡電流のしや断に先立つ
て印加されたと仮定したときの、この追加回路から容器
２を経由して支持がいし１２，１３の対地静電容量に流
入する電流を意味する。電圧Ｕｖは試験規格で与えられ
、電圧Ｕ１は現存する試験設備が供給できる電圧の範囲
内で与えられる。第３図は本発明に基づいて構成された
合成試験回路の第１実施例を示す。
この実施例においては、追加された高電圧回路が高電圧
発電機２０を有し、補助開閉器２１を開放することによ
つて、追加された高電圧回路のインダクタンス中に保有
されていた電磁エネルギーを、金属容器２と大地電位と
の間にあるコンデンサ２２に伝えることにより、このコ
ンデンサの両端子間に所定の電圧を得ている。第４図に
示された合成試験回路の第２の実施例においては、高電
圧回路は、放電ギヤツプ３１を介して容器２に接続され
る、あらかじめ充電されたコンデンサバツテリ３０を有
している。
発電機２０を有し、補助開閉器２１を開放することによ
つて、追加された高電圧回路のインダクタンス中に保有
されていた電磁エネルギーを、金属容器２と大地電位と
の間にあるコンデンサ２２に伝えることにより、このコ
ンデンサの両端子間に所定の電圧を得ている。第４図に
示された合成試験回路の第２の実施例においては、高電
圧回路は、放電ギヤツプ３１を介して容器２に接続され
る、あらかじめ充電されたコンデンサバツテリ３０を有
している。
第５図は第３の実施例であつて、容器２への追加電圧と
して、非周期的な電圧をコンデンサ放電によつて発生す
る方法を示す。
して、非周期的な電圧をコンデンサ放電によつて発生す
る方法を示す。
このため、被制御放電ギヤツプ４２を介して追加電圧を
供給する、あらかじめ充電されたコンデンサバツテリ４
１が設けられている。第６図に示す合成試験回路の第４
の実施例は、変圧器５０をそなえるものであつて、補助
開閉器２１は常時開放されており、放電ギヤツプ５１を
介して容器２に電圧がかかる。
供給する、あらかじめ充電されたコンデンサバツテリ４
１が設けられている。第６図に示す合成試験回路の第４
の実施例は、変圧器５０をそなえるものであつて、補助
開閉器２１は常時開放されており、放電ギヤツプ５１を
介して容器２に電圧がかかる。
この電圧によつてもしも容器２とこの容器内の導電部た
とえばしや断点７から外部端子１１に到る導体との間に
おいて絶縁破壊がおこると、高電圧源１４ｂと変圧器５
０とはそれぞれ異極性の電圧を供給しているから、絶縁
破壊個所を通る電流が１６−５１−５０−Ｅ−１０−１
４ｂ−１１を経由して永続し、放電ギヤツプ５１を損傷
するから、補助開閉器２１を閉成することによつてこの
損傷の拡大を防止する。
とえばしや断点７から外部端子１１に到る導体との間に
おいて絶縁破壊がおこると、高電圧源１４ｂと変圧器５
０とはそれぞれ異極性の電圧を供給しているから、絶縁
破壊個所を通る電流が１６−５１−５０−Ｅ−１０−１
４ｂ−１１を経由して永続し、放電ギヤツプ５１を損傷
するから、補助開閉器２１を閉成することによつてこの
損傷の拡大を防止する。
第１図は、金属密閉高電圧しや断器の断面と合成試験回
路とを示す図、第２図は全しや断点試験と部分しや断点
試験における電圧の時間変化を示す図、第３図は合成試
験回路の第１の実施例を示す図、第４図は合成試験回路
の第２の実施例を示す図、第５図は合成試験回路の第３
の実施例を示す図、第６図は合成試験回路の第４の実施
例を示す図である。 図において、１；高電圧しや断器、２；金属容器、３：
ガス状絶縁媒質を充填した内部空間、４，５，６，７：
直列しや断点、８，９；ブツシング、１０，１１：外部
端子、１２，１３：支持がいし、１４ａ：大電流源、１
４ｂ：高電圧源、１５：高電圧回路、１６：接続導体（
高電圧回路１５と金属容器２を接続）、１７；接続装置
（制御装置１８により制御される）、１８：制御装置、
２０：附加された高電圧回路に設けられた高電圧発電機
、２１；補助開閉器、３０；附加された高電圧回路に設
けられたコンデンサバツテリ、３１；放電ギヤツプ、４
１；コンデンサバツテリ、４２：放電ギヤツプ、５０；
変圧器、５１：放電ギヤツプ、Ｕｖ；全しや断点試験電
圧、Ｕ１；部分しや断点試験電圧、Ｕ２；附加された高
電圧回路から出た電圧、ｉ１：短絡電流、Ｉ２；附加さ
れた高電圧回路の電流、である。
路とを示す図、第２図は全しや断点試験と部分しや断点
試験における電圧の時間変化を示す図、第３図は合成試
験回路の第１の実施例を示す図、第４図は合成試験回路
の第２の実施例を示す図、第５図は合成試験回路の第３
の実施例を示す図、第６図は合成試験回路の第４の実施
例を示す図である。 図において、１；高電圧しや断器、２；金属容器、３：
ガス状絶縁媒質を充填した内部空間、４，５，６，７：
直列しや断点、８，９；ブツシング、１０，１１：外部
端子、１２，１３：支持がいし、１４ａ：大電流源、１
４ｂ：高電圧源、１５：高電圧回路、１６：接続導体（
高電圧回路１５と金属容器２を接続）、１７；接続装置
（制御装置１８により制御される）、１８：制御装置、
２０：附加された高電圧回路に設けられた高電圧発電機
、２１；補助開閉器、３０；附加された高電圧回路に設
けられたコンデンサバツテリ、３１；放電ギヤツプ、４
１；コンデンサバツテリ、４２：放電ギヤツプ、５０；
変圧器、５１：放電ギヤツプ、Ｕｖ；全しや断点試験電
圧、Ｕ１；部分しや断点試験電圧、Ｕ２；附加された高
電圧回路から出た電圧、ｉ１：短絡電流、Ｉ２；附加さ
れた高電圧回路の電流、である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 試験中に駆動されるしや断点に対して加えるべき大
電流源と高電圧源とをもつ、金属密閉の多重切しや断固
用の合成試験回路装置において、高電圧源の電圧と同時
かつ、異極性の電圧が、大地に対して絶縁された密閉容
器に印加されるような、附加的高電圧回路を有すること
を特徴とする合成試験回路装置。 ２ 上記特許請求の範囲第１項記載の合成試験回路装置
において、附加的高電圧回路が、高電圧発電機を含むこ
とを特徴とする合成試験回路装置。 ３ 上記特許請求の範囲第１項記載の合成試験回路装置
において、附加的高電圧回路がコンデンサバッテリを含
むことを特徴とする合成試験回路装置。 ４ 上記特許請求の範囲第１項記載の合成試験回路装置
において、附加的高電圧回路が、高電圧源によつて饋電
される変圧器を含むことを特徴とする合成試験回路装置
。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| DE000P26386787 | 1976-08-25 | ||
| DE2638678A DE2638678B1 (de) | 1976-08-25 | 1976-08-25 | Synthetische Pruefschaltung |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5326969A JPS5326969A (en) | 1978-03-13 |
| JPS5927869B2 true JPS5927869B2 (ja) | 1984-07-09 |
Family
ID=5986544
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP52098609A Expired JPS5927869B2 (ja) | 1976-08-25 | 1977-08-17 | 合成試験回路装置 |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4147975A (ja) |
| JP (1) | JPS5927869B2 (ja) |
| CA (1) | CA1093155A (ja) |
| CS (1) | CS207464B1 (ja) |
| DD (1) | DD131416A5 (ja) |
| DE (1) | DE2638678B1 (ja) |
| FR (1) | FR2363114A1 (ja) |
| GB (1) | GB1535633A (ja) |
| IT (1) | IT1084186B (ja) |
| NL (1) | NL7703254A (ja) |
| SE (1) | SE7706322L (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6187562U (ja) * | 1984-11-09 | 1986-06-07 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5812227A (ja) * | 1981-07-14 | 1983-01-24 | 株式会社東芝 | しや断器の合成試験法 |
| JPS5818175A (ja) * | 1981-07-24 | 1983-02-02 | Toshiba Corp | 多点切タンク形しや断器の等価試験法 |
| JPS58122471A (ja) * | 1982-01-14 | 1983-07-21 | Toshiba Corp | 多点切タンク形しや断器の等価試験法 |
| JPS5934170A (ja) * | 1982-08-20 | 1984-02-24 | Hitachi Ltd | 断路器の充電電流しや断時対地絶縁検証試験法 |
| JPS6013271A (ja) * | 1983-07-04 | 1985-01-23 | Toshiba Corp | タンク形しや断器の合成しや断試験法 |
| CH668669A5 (de) * | 1985-10-08 | 1989-01-13 | Sprecher Energie Ag | Verfahren zum ermitteln des abbrandes der kontaktstuecke eines in einer gekapselten schaltanlage eingebauten schaltgeraetes. |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US2752590A (en) * | 1954-03-01 | 1956-06-26 | Specialties Dev Corp | Insulation failure detector for electric cables |
| US2898548A (en) * | 1955-05-23 | 1959-08-04 | Licentia Gmbh | Testing apparatus |
| US3064183A (en) * | 1959-04-15 | 1962-11-13 | Siemens Ag | Circuit-breaker testing arrangements |
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