JP2001008902A - 温度センサアレイ並びにその製造及び使用方法 - Google Patents

温度センサアレイ並びにその製造及び使用方法

Info

Publication number
JP2001008902A
JP2001008902A JP2000110458A JP2000110458A JP2001008902A JP 2001008902 A JP2001008902 A JP 2001008902A JP 2000110458 A JP2000110458 A JP 2000110458A JP 2000110458 A JP2000110458 A JP 2000110458A JP 2001008902 A JP2001008902 A JP 2001008902A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
dielectric layer
electrical connection
array
patterned conductive
connection pattern
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2000110458A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2001008902A5 (ja
JP4795507B2 (ja
Inventor
Kristina Helena Valborg Hedengren
クリスティーナ・ヘレナ・バルボーグ・ヘデングレン
William Paul Kornrumpf
ウィリアム・ポール・コーンラムフ
Mark Lloyd Miller
マーク・ルロイド・ミラー
Hibbuzu Opusaru-Ongu Biire
ビーレ・ヒッブズ・オプサル−オング
Egidijus Edward Uzgiris
エギディジャス・エドワード・ウズギリス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
General Electric Co
Original Assignee
General Electric Co
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US09/313,531 external-priority patent/US6084174A/en
Application filed by General Electric Co filed Critical General Electric Co
Publication of JP2001008902A publication Critical patent/JP2001008902A/ja
Publication of JP2001008902A5 publication Critical patent/JP2001008902A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4795507B2 publication Critical patent/JP4795507B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K3/00Thermometers giving results other than momentary value of temperature
    • G01K3/08Thermometers giving results other than momentary value of temperature giving differences of values; giving differentiated values
    • G01K3/14Thermometers giving results other than momentary value of temperature giving differences of values; giving differentiated values in respect of space
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01KMEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/02Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermoelectric elements, e.g. thermocouples
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/10Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects
    • H10N10/17Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects operating with only the Peltier or Seebeck effects characterised by the structure or configuration of the cell or thermocouple forming the device
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N10/00Thermoelectric devices comprising a junction of dissimilar materials, i.e. devices exhibiting Seebeck or Peltier effects
    • H10N10/80Constructional details
    • H10N10/85Thermoelectric active materials
    • H10N10/851Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions
    • H10N10/854Thermoelectric active materials comprising inorganic compositions comprising only metals

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Measuring And Recording Apparatus For Diagnosis (AREA)
  • Measuring Temperature Or Quantity Of Heat (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【解決すべき課題】 初期腫瘍発生に伴う血管新生及び
代謝変化に関するスクリーニング並びに腫瘍の大きさの
変化の監視に用いるための、生体組織内での空間的及び
/又は時間的温度勾配を測定する方法及び装置の提供。 【解決手段】 複数の独立した温度センサを含む誘電体
層と、誘電体層の少なくとも一方の表面に対面して複数
の独立した温度センサの各々からの電気的接続を達成す
るための堆積電気結線パターンとを含んでいて、誘電体
層及び堆積電気結線パターンが表面順応性を有するよう
な温度センサアレイ。かかる温度センサアレイは、堆積
電気結線パターンに接続されて温度センサからのセンサ
信号を得るための走査装置と、センサ信号を処理して温
度分布を推定するためのコンピュータとを更に含む診断
用具に使用し得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の背景】本発明は温度センサに関するものであっ
て、更に具体的には、サーモグラフィ用温度センサに関
する。
【0002】従来の乳癌スクリーニング技術は、組織塊
構造の検出及び評価に基づくものである。乳癌スクリー
ニングにはX線マンモグラフィが常用されている。X線
マンモグラフィの短所として、(a) 集団が系統的線量の
放射線に被爆されること、(b) (若い女性の間では比較
的普通に見られる状態である)密度の高い乳房ではX線
マンモグラフィの有効性が低下すること、(c) 一部の女
性には不快な処置を受けることに対する抵抗があるこ
と、及び(d) X線マンモグラフィでは小さな初期腫瘍を
検出できないことが挙げられる。検出のためには、腫瘍
の大きさがある最小値を超えていなければならない。
【0003】全ての固形腫瘍が直径数ミリメートル以上
に成長するには血管新生(既存の血管から新しい血管が
成長すること)が必要とされることが証明されている
〔ジェイ・フォークマン(J. Folkman)、ニュー・イング
ランド・ジャーナル・オブ・メディシン(New England J
of Medicine) 、285:1182−1186、197
1、及びエヌ・ワイドナー(N. Weidner)等、ニュー・イ
ングランド・ジャーナル・オブ・メディシン、324:
1−8、1991〕。初期腫瘍成長に伴う血管網及び血
液潅流の増加並びに成長しつつある腫瘍の代謝量の増加
は、周囲の組織よりも高い腫瘍温度をもたらすという仮
設が立てられている。乳癌については、皮膚表面付近の
腫瘍に関してこの仮設が定性的に実証されている。従っ
て、十分に鋭敏で他の環境因子によって引起こされる誤
差を生じない適当な技術を用いたサーモグラフィ検知法
は、癌(特に乳癌)のスクリーン法として有用であると
思料される。
【0004】前述の米国特許第5909004号のごと
き用途においては、温度勾配を測定するためにサーモグ
ラフィ用センサが使用されている。測定すべき温度の摂
動を最少限に抑えるため、センサは最小の横方向熱伝導
性を有していなければならない。更にまた、温度の迅速
な読取りが達成されるようにするため、熱的時定数及び
熱質量も最小にしなければならない。サーモグラフィの
分野においては、初期の腫瘍成長の指標となる情報を得
るために人体の表面温度地図が作成される。
【0005】また、小さな温度勾配を測定しようという
試みのために赤外線(IR)カメラ又は撮像装置も使用
されてきた。熱電的な赤外線検出器アレイの実例は、米
国特許第4558342号明細書に見出すことができ
る。腫瘍を検出するために人体組織内の温度分布を測定
する際には、内部腫瘍からの寄与を適正に検出し得るよ
うにために正確な表面温度地図を作成しなければならな
い。(皮膚に対して直接に接触させることのできない)
赤外線センサは、一部は皮膚表面における周囲気流の影
響に原因し、また一部は皮膚の放射率及び赤外線センサ
に対する皮膚の方位の変動に原因する信頼できない温度
データを生じることがある。実際、皮膚の放射率は特に
厄介な問題であって、皮膚上の様々な物質(例えば、油
分、水分及び粒状残渣)の存在によって変化する。放射
率の変化は赤外線カメラによって検知される温度の見掛
けの変化を引起こし、そのためその下方に位置する皮膚
の真の温度勾配を覆い隠すことになる。
【0006】
【発明の概要】このように、生体組織内での空間的及び
/又は時間的温度勾配を測定することにより、極く初期
の腫瘍発生に伴う血管新生及び代謝変化に関するスクリ
ーニングを行ったり、腫瘍の大きさの変化を監視したり
するための非侵襲的で無害な方法及び装置が要望されて
いるのである。
【0007】また、測定すべき温度場に対するセンサの
影響を最少限に抑えながら改良された温度センサを提供
することも望ましい。
【0008】更にまた、表面の放射特性以外のパラメー
タを測定すると共に較正や厳しい環境管理の必要性を低
減させるような改良された検出装置を提供すること、得
られたデータをディジタル的に処理して検出感度を向上
させること、かつデータ収集の安定化及び信号位置の局
所化を助けるための定着装置を提供することも望まし
い。
【0009】本発明の一実施形態に従えば、薄膜相互接
続構造物を用いて1群の温度センサを相互接続すると共
に、それらを熱伝導率が小さくかつ熱質量が小さい材料
に固定することにより、横方向熱伝導性及び横方向熱損
失の低減したセンサアレイが製造される。IRを測定し
て放射率を考慮しながら温度を推定するIR撮像技術
(この場合、温度Tは放射率と検出されたIR信号との
関数である)と異なり、本発明を使用すれば、複雑度及
び誤差の可能性を低減させながら対応する温度値に変換
し得る直接接触電圧測定値を得ることができる(T=電
圧信号V×定数K)。
【0010】
【好ましい実施の形態】新規であると思料する本発明の
特徴は、特許請求の範囲に具体的に開示されている。た
だし、本発明の構成及び実施方法並びにその追加の目的
及び利点は、添付の図面を参照しながら以下の説明を考
察することによって最も良く理解されよう。なお、添付
の図面において類似構成要素は類似の参照符号で表し
た。
【0011】図1は本発明の一実施形態に係る診断用具
のブロック図であって、この診断用具は温度センサアレ
イ100、温度センサアレイ中の温度センサに接続され
た走査装置210、及びセンサ信号を処理して温度分布
を推定するためのコンピュータ212を含んでいる。図
2は、図1の診断用具を適用し得る一応用例の斜視図で
ある。
【0012】図2〜23に関連して以下に一層詳細に考
察される本発明の幾つかの実施形態に従えば、温度セン
サアレイは複数の独立した温度センサを含む誘電体層2
16(図1)と堆積電気結線パターンとから成ってい
る。堆積電気結線パターンは誘電体層の少なくとも一方
の表面に対面していて、複数の独立した温度センサの各
々からの電気的接続を達成するために役立つ。なお、誘
電体層及び堆積電気結線パターンは表面順応性を有して
いる。
【0013】ここで言う「表面順応性」とは、胸壁に対
して押し当てたとき、独立した温度センサの大部分が表
面の温度を表す信号を発生し得るように解剖学的構造
(例えば乳房組織)の表面に順応するのに十分なだけの
柔軟性を有することを意味している。表面順応性の温度
センサアレイは多くの用途にとって好ましいものである
が、多くの用途に対して剛性の平坦なセンサを使用する
こともできる。
【0014】例示を目的として、図3〜15は熱電対に
関する実施形態を示し、図16〜20はサーミスタに関
する実施形態を示し、また図21は抵抗温度検出器に関
する実施形態を示している。更にまた、薄いフィルム及
び堆積電気結線と共に一体化し得るその他の種類の温度
センサ(例えば、サーモパイル)を使用することもでき
る。
【0015】図1に戻れば、走査装置210及び温度セ
ンサアレイ100は個別の構成要素から成っていてもよ
いし、或いは共通の誘導体層216上に一体化されてい
てもよい。マルチプレクサユニット213を使用するこ
とにより、走査装置に伝送すべきデータを多重化し、そ
れによって結線の複雑度を低下させることができる。マ
ルチプレクサ213はセンサアレイ及び/又は走査装置
と一体化されていてもよいし、或いは独立の構成要素か
ら成っていてもよい。
【0016】温度センサアレイは、測定すべき表面21
4に押し付けることにより手動モードで使用することが
できる。或いは、表面214に接触させる温度センサア
レイの位置決めを行うための定着装置218を使用する
ことにより、温度センサアレイの位置及び圧力を一層正
確に制御することもできる。ある種の用途においては、
定着装置は目的の方向における組織の厚さを低減させて
検出能力を高めるために有用な場合がある。
【0017】一実施形態に従えば、図2に示されるごと
く、定着装置218は射出成形された軽量ポリカーボネ
ートのような実質的に剛性の構造材料から成るベース2
19を含むと共に、例えば熱伝導性の小さい支持材又は
複数のばねのような機械的に柔軟な媒体221によって
ベース219に連結された実質的に柔軟な熱電対アレイ
100を含んでいる。一実施形態に従えば、支持材はフ
ォームラバーから成っている。
【0018】再び図1について述べれば、一実施形態に
従えば、(データリンク217を介してデータを受信す
るための)コンピュータ212は、多重化データの流れ
を収集するために使用されるデータ収集ユニット220
と、空間温度地図の時間的序列を形成するためのデータ
処理ユニット224と、かかる温度地図を保存するため
の記録ユニット226とを含んでいる。
【0019】データ処理ユニット224は、局所統計又
はその他の画像特性に基づく温度地図の領域を強調する
ための信号/画像処理用ソフトウェア又は方法を含むこ
とがある。信号の解析に際しては、皮膚の熱的境界条件
の摂動に原因する観測信号の時間的変動が斟酌される。
皮膚表面のサーモグラフ画像を作成する際には、熱拡散
のために初期のデータは後期のデータよりも急な勾配を
有することがあるという事実を考慮することができる。
また、最高の感度を得るためには、アレイ中のセンサの
個々の温度変動を平均化することができる。すなわち、
センサアレイの尺度を予想される温度勾配の輪郭よりも
遥かに小さくすることにより、互いに隣接するセンサに
ついて実行すべき信号の平滑化が可能となる。かかる平
滑化のためのアルゴリズムを実行することができる。
【0020】データの収集及び処理のためには、オーバ
サンプリングによって所望の解像度が得られるようにセ
ンサ素子の間隔を決定することができる。すなわち、1
mmの解像度が所望される場合には、0.5mm(又は
それより小さい)格子上にセンサを配置すればよい。こ
のようにすれば、多重信号によって検出の信頼度が高ま
る。オーバサンプリングはまた、センサアレイの位置を
物理的に移動させることによって達成することもでき
る。なお、かかる移動は定着装置内に組込むことができ
る。オーバサンプリングにより、或いは互いに隣接する
点同士を組合わせてオーバサンプリングの効果を増強さ
せることにより、データを再構成することができる。患
者を繰返して監視するのであれば、下方に位置する既知
の解剖学的構造(例えば血管)に原因する温度信号を取
除くための方法を組込むこともできる。
【0021】かかるコンピュータはまた、その他の構成
要素、例えばディスプレイ228、キーボード232、
プリンタ234、コントローラ230、並びに例えばデ
ータ収集ユニット、データ処理ユニット及び記録ユニッ
トを統合するための中央処理装置(CPU)222をも
含むことがある。かかるコンピュータは、直接に解析を
行ったり、一層詳しい解析のために遠隔のコンピュータ
にデータを送信したり、及び/又は(例えば人工衛星を
介して)専門医に情報を送信して専門的助言を求めたり
することがある。一実施形態に従えば、かかるコンピュ
ータはコントローラ又は遠隔のコンピュータから情報を
得ると共に、マルチプレクサ213を調整するための情
報を走査装置210に提供する。
【0022】図2の実施形態に示されるごとく、かかる
診断用具は例えば乳癌を診断するために使用することが
できる。そのためには、乳房を構成する表面上に温度セ
ンサアレイを配置し、堆積電気結線パターンを介してセ
ンサ信号を走査し、次いでセンサ信号を処理して乳癌の
指標となる温度分布を推定すればよい。その際、定着装
置又は手圧を用いて目的の方向における組織の厚さを低
減させることができる。本発明のこのような実施形態
は、生体組織内での空間的な温度勾配(組織を横切る方
向の変化)及び/又は時間的な温度勾配(時間の経過に
伴う変化)を測定することにより、初期の腫瘍発生に関
するスクリーニングを行ったり、或いは腫瘍治療の効果
(特に、腫瘍への血液供給を直接に攻撃するように計画
された抗血管新生療法の効果)を監視したりするための
非侵襲的で無害な技術を提供することができる。
【0023】様々な患者の姿勢は、本発明にとってそれ
ぞれの利点を有している。患者を仰向けに寝せれば、乳
房組織は横に広がるため(温度信号が透過する必要のあ
る)組織の厚さは必然的に最小となり、乳房の運動は最
少限に抑えられ、また患者にとっても安楽である。患者
をうつぶせに寝せ、そして乳房を検査台の穴から突出さ
せれば、横方向の厚さは最小となり、乳房の運動は最少
限に抑えられ、また患者にとっても安楽である。定着装
置を使用する場合、患者を着座状態又は直立状態に配置
すれば、横たわる姿勢の場合に必要となるセンサアレイ
の位置決め時間を短縮することができる。更にまた、検
知のために適した姿勢は臨床的使用の性質に応じて変化
する。無症状の乳房のスクリーニングを行う場合には、
全体的に、偏りなく、徹底的に、かつ正確に検査するこ
とが最高の感度を得るために重要である。疑いのある癌
を診断する場合には、位置決めの目標は乳房の疑わしい
領域に関する最良の情報を得ることにある。
【0024】更にまた、特に表面の2つ以上の位置に温
度センサアレイを使用する場合には、定着装置の位置決
めを助けるために点、線又は格子で測定すべき表面に目
印を付けることが有用なこともある。例えば、恒久的で
ない黒色のマーカを使用することにより、相異なる位置
で撮影された複数の熱画像を位置合せするための目印を
得ることができる。
【0025】更にまた、測定目的のために1つの位置を
使用し得るように十分なサイズ(例えば、25cm×2
5cm)のアレイを用意することも有用である。別の実
施形態に従えば、同時測定のために複数のアレイが同時
に配置される。
【0026】図3及び4は、本発明の一実施形態に係る
熱電対アレイ101の上面図及び側面図をそれぞれ示し
ている。この実施形態においては、熱電対アレイは誘電
体層10の一方の表面に対面する第1のパターン化導電
層12を含むと共に、堆積電気結線パターンは誘電体層
10の他方の表面に対面する第2のパターン化導電層1
6から成っている。第1及び第2のパターン化導電層
は、相異なる熱起電力を有している。誘電体層10はス
ルーホール14を有していて、独立した温度センサの少
なくとも一部は第1及び第2のパターン化導電層は第1
及び第2のパターン化導電層の間のスルーホールを通し
て形成された接点15を含む熱電対1から成っている。
ここで言う「対面する」という用語は、導電層と誘電体
層との間に別の材料(例えば、接着剤)が存在し得るよ
うな状況をも含むことを意味している。
【0027】一実施形態に従えば、例えば接着剤54を
用いて支持体層20が除去可能な支持キャリヤ50上に
貼合わされる。支持キャリヤは、熱電対アレイ製造時の
加工温度に耐え得る構造的に適当な任意の材料から成っ
ていればよい。一実施形態においては、支持キャリヤ5
0は銅から成っている。支持体層50は、誘電率の小さ
い材料(例えば、重合体)から成っていればよい。支持
キャリヤが銅から成りかつ支持体層が重合体から成る場
合、接着剤54用として有用な材料は例えばシロキサン
ポリエーテルイミドブロック共重合体である。
【0028】第1のパターン化導電層12は、任意適宜
の技術によって誘電体層10上に設置することができ
る。図4の実施形態においては、先ず支持体層20上に
第1のパターン化導電層12を設置し、次いで第1のパ
ターン化導電層上の誘電体層10を配置することによ
り、第1のパターン化導電層12が誘電体層10上に設
置されている。第1のパターン化導電層12を支持体層
上に設置するには、支持体層を支持キャリヤに取付ける
前又は取付けた後において、例えば吹付け、スパッタリ
ング、又は接着剤(図示せず)による貼合せのような任
意適宜の技術を使用すればよい。第1のパターン化導電
層については、非パターン化シートの形態で導電層を設
置した後、通常の写真食刻技術に従ってホトレジストで
パターン化することにより、例えば一連の電気流路を生
み出すことができる。
【0029】誘電体層10用として適する材料は、熱電
対アレイの使用目的及び使用環境に依存する。キャプト
ン(登録商標)ポリイミド〔キャプトン(KAPTON)はイー
・アイ・デュポン・ド・ネムール社(E.I. duPont de Ne
mours & Co.)の商標である〕又はユピレックス(登録商
標)ポリイミド〔ユピレックス(UPILEX)はウベ・インダ
ストリーズ社(UBE Industries,Ltd.) の商標である〕の
ような材料は丈夫で耐摩耗性のアレイを与えるが、女性
の乳房組織のような複雑な表面形状に対しては、より高
度の柔軟性を有するシリコーンゴム膜ほど容易には順応
しない。誘電体層10は、スピニング、吹付け又は(図
示のような)接着剤11の使用のような技術によって設
置することができる。一実施形態においては、接着剤1
1はSPI(シロキサンポリイミド)−エポキシブレン
ドから成っている。
【0030】スルーホール14は、機械的打抜き法、化
学的エッチング法又はレーザ穴あけ法を用いて誘電体層
10中に形成することができる。レーザ穴あけ方法の実
例は、例えば、1990年1月6日付けのアイヘルベル
ガー(Eichelberger)等の米国特許第4894115号及
び1989年3月30日付けのアイヘルベルガー(Eiche
lberger)等の米国特許第4835704号の明細書に記
載されている。反応性イオンエッチング法を用いてスル
ーホールを清掃することにより、スルーホールの底部に
ある第1のパターン化導電層の表面を清浄にすることが
できる。
【0031】第2のパターン化導電層16は、支持体層
及び/又は第1のパターン化導電層に誘電体層を取付け
る前又は取付けた後において、例えば吹付け、スパッタ
リング、又は接着剤(図示せず)による貼合せのような
任意適宜の技術によって設置することができる。誘電体
層を取付けた後に第2のパターン化導電層を設置する一
実施形態に従えば、スパッタリング又は蒸着によって誘
電体層10の上面に第2のパターン化導電層を形成する
と、それはスルーホールを通って第1のパターン化導電
層12のそれぞれの露出部分にまで延びる。その後、第
1のパターン化導電層の場合と同様にして第2のパター
ン化導電層のパターン化を行えばよい。
【0032】個々の熱電材料(この例では第1及び第2
のパターン化導電層)は、実用目的のためには、熱起電
力(emf)と呼ばれる量によって特徴づけられること
が多い。ここで言う「熱起電力」とは、白金に対する材
料の単位温度当りの熱起電力を意味する。熱起電力は正
の数であることも負の数であることもあり、また通例は
摂氏1度当りのマイクロボルト(μv/℃)を単位とし
て表される。第1及び第2のパターン化導電層は、有用
な電気出力信号を生み出すのに十分な熱起電力の差を有
していなければならない。特定の用途のために使用され
る電圧測定装置の感度は、実際の測定目的のために十分
な熱起電力の差に影響を及ぼす。
【0033】一実施形態に従えば、得られる熱分路の断
面積を最小にし、それによって熱伝導性及び測定すべき
温度場を乱す可能性を最小にするため、第1及び第2の
パターン化導電層のそれぞれは約2〜約4μmの範囲内
の厚さを有している。本発明の熱電対は極めて微細にパ
ターン化することができる。例えば、パターン化導電層
中の線の幅が約0.05mmである場合、線同士の間隔
は約0.05mmであり、またパターン化スルーホール
の直径は約0.1mmである。その時、1.65mmの
ピッチを有する領域内に15行の熱電対アレイを配置す
ることができる。
【0034】好ましい実施形態に従えば、第1及び第2
のパターン化導電層の一方はコンスタンタン(約55%
の銅と約45%のニッケルとの合金)から成り、また第
1及び第2のパターン化導電層の他方は銅から成る。例
えば約200℃の温度では、銅の熱起電力は+9.15
μv/℃、またコンスタンタンの熱起電力は−37.2
5μv/℃であって、熱起電力の差は46.4μv/℃
である。別の実施形態に従えば、銅及び(200℃で2
9.8μv/℃の熱起電力を有する)90%Niと10
%Crとの合金が使用されるが、これらの熱起電力の差
は約67μv/℃である。極めて大きい熱起電力の差
(765μv/℃)を有する1対の導電層は、ゲルマニ
ウム(+362μv/℃)及びケイ素(−403μv/
℃)から成るものである。また、極めて小さい熱起電力
の差(約1μv/℃)を有する1対の導電層としては、
白金及びロジウム合金が挙げられる。実用目的のために
は、熱起電力の差は約1〜約67μv/℃の範囲内にあ
るのが通例である。
【0035】一方の導電層が正の熱起電力を持った材料
から成りかつ他方の導電層が負の熱起電力を持った材料
から成るような上記の例は、もっぱら例示を目的として
示されたものに過ぎない。重要な因子は、両方ともに正
であれ負であれ、2つの導電層が十分に大きい熱起電力
の差を有することである。どちらの導電層を最初に設置
してもよい。好ましい実施形態に従えば、第1及び第2
のパターン化導電層間の接点が検知すべき領域にできる
だけ近くなるようにするため、検知すべき領域の最も近
くに配置されるパターン化導電層は第1のパターン化導
電層である。
【0036】上記の説明はパターン化導電層12及び1
6の間の相互接続が誘電体層10を直接に貫通して達成
されるような相互接続系に関するものであるが、両方の
導電層がスルーホールを通して別の誘電体層(例えば、
支持体層20)上の別の結線パターン(図示せず)に相
互接続されるようにすることも可能である。同様に、誘
電体層の一方の表面上に2つのパターン化導電層を形成
し、2種の導電層材料の一方から成る別のパターン化層
を反対側の表面上に形成し、そしてかかる他方のパター
ン化層に達するスルーホール及び結線を設けることも可
能である。これらの実施形態を使用すれば、熱電対アレ
イの横方向熱伝導性を最小にすることができる。
【0037】図3の実施形態においては、熱電対アレイ
は複数の行及び列から成る格子であって、パターン化導
電層同士を選択的に接続するために導電性のスルーホー
ル(図示せず)が存在している。或いはまた、前述の米
国特許第5909004号明細書に記載されたものよう
な別のタイプのアレイを使用することもできる。
【0038】図4にはまた、熱電対アレイに対して機械
的保護を与えるため、第1及び第2のパターン化導電層
の設置後に例えば接着剤を用いて設置し得る追加の誘電
体層18が示されている。追加の誘電体層18用として
使用される材料は個々の用途に応じて変わるが、例えば
重合体のような材料から成り得る。熱電対アレイ製造の
完了後、熱電対アレイを支持キャリヤ50から除去する
ことができる。そのためには、支持体層20を支持キャ
リヤ50から剥離するか、或いは適当な溶剤を用いて接
着剤層54を溶解すればよい。或いはまた、支持キャリ
ヤを取付けたままにすることもできる。支持キャリヤを
取付けたままにする場合、その材料及び厚さはアレイに
対する要求条件に適合した柔軟性及び熱的性質を有する
ように選定される。
【0039】追加の誘電体層及び支持体層の一方(18
又は20)は検知すべき表面の最も近くに配置される
が、この層は質量が小さくかつ熱伝導率が小さい材料か
ら成ることが好ましい。この層はまた、その熱質量が温
度測定を妨害せず、従って空間的及び時間的解像度が最
大になるようにするため、可能な限り薄いことが好まし
い。一実施形態においては、その厚さは約20〜約50
μmの範囲内にあり、またその材料は例えばテフロン
(登録商標)ポリテトラフルオロエチレン〔テフロン(T
EFLON)はイー・アイ・デュポン・ド・ネムール社(E.I.
duPont de Nemours& Co.)〕、シリコーンゴム又はラテ
ックスから成っている。
【0040】ある種の用途においては検知すべき表面に
接触していない追加の誘電体層及び支持体層の他方(1
8又は20)は、気流からの断熱層を提供するのに十分
なだけの厚さを有していてよい。一実施形態において
は、その材料は約3mm〜3cmの範囲内の厚さを有す
るポリウレタンフォームから成り、また機械的安定性の
向上のために必要であれば(例示のために層56として
示された)裏当て材又は支持材を設けることもできる。
かかる裏当て材は、例えば約100〜約6000μmの
範囲内の厚さを有するシリコーンゴムから成り得る。両
方のパターン化導電層を被覆すれば、平滑な表面が得ら
れるばかりでなく、材料の滅菌が可能となる。
【0041】柔軟なアレイは、測定すべき表面に順応し
ながらそれに直接接触させて配置することができる。材
料との直接接触は、直接接触が達成されない場合に生じ
る空気界面に原因する温度効果を低減させる。
【0042】図5〜8は、図3及び4の熱電対アレイに
関連した幾つかの実施形態を示す側面図である。図3及
び4は実質的に平滑なアレイ表面を示しているが、図5
〜8に示されるように変更された表面を有するセンサを
製造することもできる。図5は、誘電体層10の下方に
位置する追加の誘電体層又は支持体層を含まない実施形
態を示している。第2のパターン化導電層16の追加部
分19により、図5の断面図には示されていないが、熱
電対接点への結線を得ることができる。
【0043】図6は、特定の領域13において誘電体層
110の厚さを元の厚さの約40〜約60%にまで低減
させた実施形態を示している。かかる特定の領域は、誘
電体層のうちで第1のパターン化導電層12に対面した
部分17を含まない。厚さの低減は、第1のパターン化
導電層を更に露出させると共に、誘電体層の横方向熱伝
導性を低減させる。第1のパターン化導電層を検知すべ
き表面から電気的に隔離する必要がある場合には、図7
に示されるごとく、約10〜約25μmの範囲内の厚さ
を有する薄いシリコーンゴムのような材料から成る保護
層22を設置することもできる。かかる保護層は、表面
全体を覆うように存在していてもよいし、或いは図8の
保護層122によって示されるごとく第1のパターン化
導電層のみを覆うように設置されていてもよい。(図5
に構成要素9として点線で示されるような)別の実施形
態に従えば、熱電対接点の領域において第1のパターン
化導電層12の厚さを増大させることにより、センサの
位置を突出させるための追加の高さを得ることもでき
る。
【0044】図9〜12は熱電対アレイの接続に関する
幾つかの実施形態を示す概略回路上面図であり、また図
13及び14は図12及び11の一部分の側面図であ
る。
【0045】図9及び10においては、熱電対接点31
5からの電気結線を得るために使用される堆積電気導体
パターンは、誘電体層(図3及び4に示された誘電体層
10)の一方の表面上に配置されかつ全ての温度センサ
を(端子317によって代表される)1個以上の共通端
子に接続する共通の電気結線を含む第1のパターン化導
電層312(図10)と、誘電体層の他方の表面上に配
置されかつそれぞれの温度センサを接続する複数の独立
した結線416を含む第2のパターン化導電層316
(図9)とを含んでいる。図9において、独立した結線
416の各々は独立した端子313に接続されている。
各々の熱電対接点は該接点と基準接点との温度差に比例
した電圧を発生するから、第1のパターン化導電層31
2の接点は図示のごとく端子317に接続することがで
きる。
【0046】図11及び12においては、少なくとも1
つのマルチプレクサ236が使用され、そして複数の独
立した結線の各々がかかる少なくとも1つのマルチプレ
クサに接続されている。このような実施形態に従えば、
必要な端子数が減少し、従って図1の走査装置210は
アレイに対して多数の結線を含む必要がなくなる。単一
のマルチプレクサを使用することもできるし、また複数
のマルチプレクサを使用することもできる。後者の場
合、複数のマルチプレクサは温度センサの同じ側に配置
することもできるし、或いは図12に示されるごとく、
センサ間の要求間隔を変更するため、少なくとも2つの
マルチプレクサ(236及び536)を温度センサの両
側に配置することもできる。図12にはまた、マルチプ
レクサからの結線を並列に接続して端子319への出力
結線を簡略化するような実施形態も示されている。図1
2に示されるごとく、温度センサの行及び列を実質的に
等しい間隔で配置することは有用である。
【0047】図13は図12の線13−13に関する断
面図であって、マルチプレクサを誘電体層10と一体化
する方法の一例を示している。図13においては、マル
チプレクサ236はフリップチップ技術やボールグリッ
ドアレイ技術のような電子組立技術に従い誘電体層10
の上方において結線416に接続されていると共に、マ
ルチプレクサ及び誘電体層10の上には追加の誘電体層
18が広がっている。図13に点線で示された別の実施
形態に従えば、マルチプレクサ336を誘電体層10の
内部に埋込むこともできる。更に別の実施形態に従え
ば、ワイヤボンディング(図示せず)のような別の電子
組立技術を用いてマルチプレクサを例えば結線416に
接続することもできる。
【0048】図14は図11の線14−14に関する断
面図であって、センサの密度オブションを決定するため
に有用な寸法を示している。図14においては、結線4
16の幅をWc、結線同士の間隔をWs、そして熱電対
の幅をWtとする。この例の場合、結線の層数を1とす
れば、図11に示されたレイアウトに関して行数Nの関
数として表される熱電対の行間の距離Dtは次式によっ
て与えられる。
【0049】 Dt=Wt+(N−1)*(Ws+Wc)+Ws 単位幅当りのセンサ数は1/Dtによって与えられる。
通例のごとくに結線の幅及び間隔を0.5mmとし、か
つ熱電対の幅を0.1mmとすれば、センサピッチは1
6行のアレイについては1.65mmとなり、また26
行のアレイについては2.65mmとなる。また、図1
1の片面結線系の代りに図12の両面結線系を使用すれ
ば、16行及び16行のアレイに関するセンサピッチは
それぞれ0.85mm及び1.35mmとなる。
【0050】図15は、列のピッチを減少させるために
使用し得る多層相互接続を含むような本発明の実施形態
を示す側面図である。2つの層が示されているが、適宜
に層の数を追加することができる。この実施形態に従え
ば、第1の誘電体層10及び(例示目的のため図15に
第2のパターン化導電層16として示された)堆積電気
結線パターンの上方に第2の誘電体層27が配置され
る。第2の誘電体層27は、堆積電気結線パターンの特
定部分にまで延びる第2の誘電体層スルーホール21を
有している。更にまた、追加の堆積電気結線パターン2
3が第2の誘電体上に広がると共に、第2の誘電体層ス
ルーホール中に延びて堆積電気結線パターンに接続され
ている。一実施形態においては、2種の材料から成る結
線によって追加の熱電対接点が形成されないようにする
ため、追加の堆積電気結線パターン23は第2のパター
ン化導電層16と同じ材料から成っている。追加の堆積
電気結線パターン23を使用すれば、センサ間隔を増大
させることなしに検知位置の数を増加させることによっ
てより大形のセンサアレイを製造することができる。
【0051】図16〜18は、本発明の別の実施形態に
係るサーミスタアレイ102の製造方法での様々な工程
を示す側面図である。この実施形態に従えば、誘電体層
24はスルーホール25及び/又は125並びに225
を有していて、独立した温度センサの少なくとも一部は
少なくとも部分的にスルーホールの内部に配置されたサ
ーミスタ30から成っている。サーミスタは、その抵抗
が温度の関数として大きく(1℃当り約10〜約15
%)変化するために有用である。
【0052】図16には誘電体層24が示されている
が、誘電体層10及び検知すべき表面の最も近くに配置
される層20又は18に関連して上記に記載されるもの
と同様に熱伝導率が小さくかつ熱質量が小さい材料から
成っていればよい。通例、誘電体層24の厚さはサーミ
スタの高さと同じであって、約0.125〜約0.25
mmの範囲内にある。かかる誘電体層には、例えば穴あ
け、機械的打抜き、レーザエッチング又はジェット水圧
によってスルーホールを形成することができる。
【0053】次いで、銅の無電解めっき及び電気めっき
の組合せ並びにそれに続くパターン化によって印刷回路
板の金属被膜を形成する場合と同様にして、誘電体層2
4のスルーホール内及び表面上にパターン化導電材料2
6を設置することができる。図16〜18の実施形態に
おいては、スルーホール25及び225内のパターン化
導電材料は誘電体層の相対する表面同士を接続してい
る。所望に応じ、パターン化導電材料は特定のスルーホ
ール125からは除去又は排除することもできる。
【0054】図17及び18に示されるごとく、相対す
る表面の一方及びサーミスタ30には少なくとも1個の
導電要素32を接合することができ、また相対する表面
の他方には追加の誘電体層118を設置することができ
る。かかる追加の誘電体層はサーミスタ及びパターン化
導電材料にまで延びる複数の追加の誘電体層スルーホー
ル114を有しており、そして堆積電気結線パターン1
12が追加の誘電体層スルーホールを通って延びてい
る。
【0055】スルーホール25がパターン化導電材料2
6を含むような実施形態においては、その材料を用いて
少なくとも1個の導電要素32を誘電体層24の上面に
接続することができる。スルーホール125がパターン
化導電材料26を含まないような実施形態においては、
上面への接続はパターン化導電材料26を含む追加のス
ルーホール225への結線によって達成することができ
る。図示目的のため1つの図面に示されているが、通例
はこれら2種の実施形態が併用されることはない。サー
ミスタスルーホール125が金属で被覆されていない実
施形態においてはより多くのスルーホールが必要となる
が、金属で被覆されたスルーホール25を含む実施形態
に比べて製造が簡単である。なぜなら、後者の実施形態
においては、スルーホール側壁に沿って延びるパターン
化導電材料26とサーミスタ30との間で短絡が起こる
恐れがあるからである。
【0056】一実施形態に従えば、導電要素32は導電
性接着剤31によってパターン化導電材料26及びサー
ミスタ30に接合された帯金から成っている。一実施形
態においては、かかる帯金は約25〜約50μmの範囲
内の厚さを有する銅から成り、また導電性接着剤は導電
性エポキシ樹脂から成っている。接合されたサーミスタ
2は、次いで追加の誘電体層118及び堆積電気結線パ
ターン112によって相互接続することができる。所望
ならば、温度センサ密度を高め、及び/又は所要面積を
減少させるため、追加の誘電体層118上に形成された
結線に加えて誘電体層24上に結線を形成することもで
きる。
【0057】図19は、サーミスタアレイの製造工程に
関する別の実施形態を示す側面図である。この場合に
は、少なくとも1個の導電要素132が誘電体層24に
接合されると共に、少なくとも一部のスルーホール25
は少なくとも1個の導電要素にまで延びている。一実施
形態に従えば、パターン化導電材料126はスルーホー
ルを通って延び、そして少なくとも1個の導電要素に接
合されている。一実施形態に従えば、かかる接合は導電
性接着剤31によって達成される。この場合にもまた、
(図18に118として示された)追加の誘電体層及び
堆積電気結線パターン112を用いてサーミスタを相互
接続することができる。図16〜18の場合と同様に、
スルーホール125はパターン化導電材料126を含む
必要はない。
【0058】サーミスタアレイを製造するための1つの
方法を詳細に記載したが、その他の方法(例えば、薄い
導体箔上にサーミスタを取付けてから打抜き済みの誘電
体層を積層する方法)を使用することにより、スルーホ
ール内に個々のサーミスタを配置する必要性を排除する
こともできる。
【0059】図20は、サーミスタアレイを用いた本発
明の実施形態を示す概略回路上面図である。図20に示
されるごとく、堆積電気結線パターンの第1の部分11
2又は第2の部分113のいずれか一方は端子119へ
の共通の電気結線を含み得る。各々のサーミスタの高さ
が0.2mmかつ一辺117の長さが約0.5mmであ
るような実施形態に従えば、図14に関連して上記に記
載されたものと同様なセンサピッチを達成することがで
きる。所望ならば、端子119を並列に接続することも
できるし、及び/又は端子121を並列に接続すること
もできる。かかる接続は結線の数を減少させるが、走査
装置210(図1)の複雑度を増大させることがある。
【0060】図21は、抵抗温度検出器アレイ103を
用いた本発明の実施形態を示す概略回路上面図である。
この実施形態に従えば、独立した温度センサの少なくと
も一部は誘電体層10上にパターン化によって形成され
た抵抗温度検出器(RTD)3から成っている。
【0061】更に詳しく述べれば、RTDは高抵抗の領
域を形成するように選択的にパターン化された堆積電気
結線パターン41の一部から構成することができる。一
実施形態においては、約25〜50μmの幅、約250
〜1000μmの長さ、及び約0.2〜4μmの高さを
有する細い蛇行した線を含む領域34を有するように結
線がパターン化される。結線材料として常用される金属
(例えば、銅、ニッケル及びチタン)について言えば、
温度変化に対するRTDの抵抗変化は通例1℃当り約
0.4〜約0.6%である。かかるRTDアレイは、簡
略化された製造方法に従って製造することができる。な
ぜなら、2種の異なるパターン化導電層材料や独立した
サーミスタを使用する必要がないからである。
【0062】アレイ103は、例えば、各々のRTDが
一般にケルビン結線と呼ばれる4本の端子結線134を
有するようにして配列することができる。スイッチが誘
電体層上に配置されるのであれば、マルチプレクサ集積
回路チップが有用である。スイッチが誘電体層外に配置
されるのであれば、リードリレースイッチを使用するこ
とができる。図21の実施形態においては、結線36を
通してRTD中に電流が流されると共に、RTDの両端
に発生する電圧がRTDに対して直接に接続された結線
138又は238によって測定される。この技術は、R
TDリード線及び結線中における電圧降下に原因する誤
差を排除する。測定サイクル中においてRTD電流結線
の全てを直列に接続すれば、結線の数をある程度まで減
少させることができる。
【0063】各々のRTDの近くに接続される結線部分
238の代りに2個のRTDの中間に接続される結線部
分138を含むように堆積電気結線パターンを形成すれ
ば、(精度は多少低下するものの)スイッチ239及び
339の数を減少させることができる。
【0064】図22はセンサ用の矩形グリッドを示し、
また図23は本発明の一実施形態に係るセンサ用の三角
形グリッドを示している。前述の実施形態は一般に矩形
グリッドを成して配列された温度センサに関するもので
あるが、図23に示されるごとく三角形グリッド上にセ
ンサを配列することが有用な場合もある。図23の実施
形態においては、各々のセンサとそれに隣接するセンサ
との間の距離が実質的に同じになるようにしながら、複
数の独立した温度センサが三角形グリッドを成して配列
されている。
【0065】三角形グリッドは、矩形グリッドによって
は得られない一様な間隔を与えるばかりでなく、1平方
センチメートル当りのセンサ素子の数を増加させること
なしにセンサアレイの空間解像度を増大させることがで
きる。更にまた、三角形グリッドは所定の空間解像度に
ついて要求されるセンサの総数を減少させ、それによっ
てセンサの費用を低減させかつ関連する電子回路の複雑
度を低下させることができる。
【0066】以上、本発明の特定の好ましい実施形態の
みを記載したが、当業者には数多くの変更及び修正が想
起されるであろう。それ故、特許請求の範囲は、本発明
の真の技術的思想に属する変更及び修正の全てを包含す
るものと理解すべきである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る診断用具のブロック
図である。
【図2】図1の診断用具を適用し得る一応用例を示す斜
視図である。
【図3】本発明の一実施形態に係る熱電対アレイの上面
図である。
【図4】本発明の一実施形態に係る熱電対アレイの側面
図である。
【図5】図3〜4の熱電対アレイに関連する本発明の別
の実施形態を示す側面図である。
【図6】図3〜4の熱電対アレイに関連する本発明の別
の実施形態を示す側面図である。
【図7】図3〜4の熱電対アレイに関連する本発明の別
の実施形態を示す側面図である。
【図8】図3〜4の熱電対アレイに関連する本発明の別
の実施形態を示す側面図である。
【図9】熱電対アレイの接続に関する本発明の実施形態
を示す概略回路上面図である。
【図10】熱電対アレイの接続に関する本発明の実施形
態を示す概略回路上面図である。
【図11】熱電対アレイの接続に関する本発明の実施形
態を示す概略回路上面図である。
【図12】熱電対アレイの接続に関する本発明の実施形
態を示す概略回路上面図である。
【図13】図12の一部分の側面図である。
【図14】図11の一部分の側面図である。
【図15】多層相互接続を含む本発明の実施形態を示す
側面図である。
【図16】本発明の別の実施形態に係るサーミスタアレ
イ製造方法における一工程を示す側面図である。
【図17】本発明の別の実施形態に係るサーミスタアレ
イ製造方法における一工程を示す側面図である。
【図18】本発明の別の実施形態に係るサーミスタアレ
イ製造方法における一工程を示す側面図である。
【図19】サーミスタアレイを用いた本発明の別の実施
形態を示す概略回路上面図である。
【図20】サーミスタアレイを用いた本発明の実施形態
を示す概略回路上面図である。
【図21】抵抗温度検出器アレイを用いた本発明の実施
形態を示す上面図である。
【図22】センサ用の矩形グリッドを示す図である。
【図23】本発明の一実施形態に係るセンサ用の三角形
グリッドを示す図である。
【符号の説明】
2 サーミスタ 3 抵抗温度検出器 10 誘電体層 12 第1のパターン化導電層 13 特定の領域 14 スルーホール 15 接点 16 第2のパターン化導電層 18 追加の誘電体層 20 支持体層 21 第2の誘電体層スルーホール 23 追加の堆積電気結線パターン 24 誘電体層 25 スルーホール 26 パターン化導電材料 27 第2の誘電体層 30 サーミスタ 32 導電要素 100 温度センサアレイ 102 サーミスタアレイ 103 抵抗温度検出器アレイ 112 堆積電気結線パターン 114 追加の誘電体層スルーホール 118 追加の誘電体層 125 スルーホール 126 パターン化導電材料 132 導電要素 210 走査装置 212 コンピュータ 218 定着装置 219 ベース 220 データ収集ユニット 224 データ処理ユニット 226 記録ユニット 231 マルチプレクサユニット 236 マルチプレクサ 312 第1のパターン化導電層 313 端子 315 熱電対接点 316 第2のパターン化導電層 317 端子 416 結線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 ウィリアム・ポール・コーンラムフ アメリカ合衆国、ニューヨーク州、スケネ クタデイ、テレース・ロード、335番 (72)発明者 マーク・ルロイド・ミラー アメリカ合衆国、ニューヨーク州、スケネ クタデイ、ベイカー・アベニュー・イース ト、2120番 (72)発明者 ビーレ・ヒッブズ・オプサル−オング アメリカ合衆国、ニューヨーク州、クリフ トン・パーク、コベントリー・ドライブ、 17番 (72)発明者 エギディジャス・エドワード・ウズギリス アメリカ合衆国、ニューヨーク州、スケネ クタデイ、ビューモント・ドライブ、1206 番

Claims (34)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数の独立した温度センサを含む誘電体
    層と、前記誘電体層の少なくとも一方の表面に対面して
    前記複数の独立した温度センサの各々からの電気的接続
    を達成するための堆積電気結線パターンとを含む温度セ
    ンサアレイと、前記堆積電気結線パターンに接続されて
    前記温度センサからのセンサ信号を得るための走査装置
    と、前記センサ信号を処理して温度分布を推定するため
    のコンピュータとを含むことを特徴とする診断用具。
  2. 【請求項2】 前記誘電体層及び前記堆積電気結線パタ
    ーンが表面順応性を有する請求項1記載の診断用具。
  3. 【請求項3】 測定すべき表面に接触するように前記温
    度センサアレイを位置決めするための定着装置を更に含
    む請求項2記載の診断用具。
  4. 【請求項4】 前記定着装置が、実質的に剛性のベース
    と、前記ベースに対して前記温度センサアレイを機械的
    に連結するための機械的に柔軟な媒体とから成る請求項
    2記載の診断用具。
  5. 【請求項5】 前記コンピュータが、前記走査装置から
    前記センサ信号を収集するためのデータ収集ユニットを
    含む請求項2記載の診断用具。
  6. 【請求項6】 前記コンピュータが、前記センサ信号か
    ら空間温度マップを作成するためのデータ処理ユニット
    を更に含む請求項5記載の診断用具。
  7. 【請求項7】 複数の独立した温度センサを含む誘電体
    層と、前記誘電体層の少なくとも一方の表面に対面して
    前記複数の独立した温度センサの各々からの電気的接続
    を達成するための堆積電気結線パターンとを含む温度セ
    ンサアレイを乳房上に配置する工程と、前記堆積電気結
    線パターンを介して前記温度センサからのセンサ信号を
    走査する工程と、前記センサ信号を処理して乳癌の指標
    となる温度分布を推定する工程とを含むことを特徴とす
    る乳癌の診断方法。
  8. 【請求項8】 前記誘電体層及び前記堆積電気結線パタ
    ーンが表面順応性を有する請求項7記載の方法。
  9. 【請求項9】 前記乳房に接触するように前記温度セン
    サアレイを位置決めするための定着装置を使用する工程
    を更に含む請求項8記載の方法。
  10. 【請求項10】 前記温度センサアレイを前記乳房上に
    配置するのに先立ち、前記乳房上に少なくとも1つの位
    置合せマークを付ける工程を更に含む請求項7記載の方
    法。
  11. 【請求項11】 複数の独立した温度センサを含む誘電
    体層と、前記誘電体層の少なくとも一方の表面に対面し
    て前記複数の独立した温度センサの各々からの電気的接
    続を達成するための堆積電気結線パターンとを含むこと
    を特徴とする温度センサアレイ。
  12. 【請求項12】 前記誘電体層及び前記堆積電気結線パ
    ターンが表面順応性を有する請求項11記載の温度セン
    サアレイ。
  13. 【請求項13】 前記誘電体層の一方の表面上に形成さ
    れかつ前記堆積電気結線パターンとは異なる熱起電力を
    有する第1のパターン化導電層を更に含む場合におい
    て、前記誘電体層を貫通してスルーホールが設けられ、
    前記堆積電気結線パターンが第2のパターン化導電層か
    ら成り、かつ前記独立した温度センサの少なくとも一部
    が前記スルーホールを通して前記第1及び第2のパター
    ン化導電層の間に形成された接点によって構成される熱
    電対から成る請求項11記載のアレイ。
  14. 【請求項14】 前記第1のパターン化導電層が前記接
    点において前記第1のパターン化導電層の他の部分より
    も大きい厚さを持った部分を有する請求項13記載のア
    レイ。
  15. 【請求項15】 前記誘電体層が特定の領域で薄くなっ
    ていて、前記特定の領域は前記誘電体層のうちで前記第
    1のパターン化導電層に対面した部分を含まない請求項
    13記載のアレイ。
  16. 【請求項16】 前記第1のパターン化導電層の上方に
    位置する保護層を更に含む請求項15記載のアレイ。
  17. 【請求項17】 前記誘電体層が第1の誘電体層から成
    る場合において、前記第1の誘電体層及び前記堆積電気
    結線パターンの上方に位置しかつ前記堆積電気結線パタ
    ーンの特定部分にまで延びる第2の誘電体層スルーホー
    ルを有する第2の誘電体層と、前記第2の誘電体層上に
    広がると共に前記第2の誘電体層スルーホール中に延び
    て前記堆積電気結線パターンに接続された追加の堆積電
    気結線パターンとを更に含む請求項12記載のアレイ。
  18. 【請求項18】 前記堆積電気結線パターンが、前記誘
    電体層の一方の表面上に配置されかつ前記温度センサの
    全てを接続する共通の電気結線を含む第1のパターン化
    導電層と、前記誘電体層の他方の表面上に配置されかつ
    前記温度センサのそれぞれを接続する複数の独立した結
    線を含む第2のパターン化導電層とを含む請求項12記
    載のアレイ。
  19. 【請求項19】 少なくとも1つのマルチプレクサを更
    に含んでいて、前記複数の独立した結線の各々が前記少
    なくとも1つのマルチプレクサに接続されている請求項
    18記載のアレイ。
  20. 【請求項20】 前記少なくとも1つのマルチプレクサ
    が前記温度センサの両側に配置された少なくとも2つの
    マルチプレクサを含む請求項19記載のアレイ。
  21. 【請求項21】 前記誘電体層がスルーホールを有する
    と共に、前記独立した温度センサの少なくとも一部が少
    なくとも部分的に前記スルーホールの内部に配置された
    サーミスタから成る請求項11記載のアレイ。
  22. 【請求項22】 前記誘電体層の相対する表面同士を接
    続するパターン化導電材料と、前記相対する表面の一方
    及び前記サーミスタの少なくとも1個に接合された導電
    要素と、前記相対する表面の他方に接合された追加の誘
    電体層とを含んでいて、前記追加の誘電体層は複数の追
    加の誘電体層スルーホールを有し、前記追加の誘電体層
    スルーホールのあるものは前記サーミスタにまで延び、
    かつ前記追加の誘電体層スルーホールの別のものは前記
    パターン化導電材料にまで延びている請求項11記載の
    アレイ。
  23. 【請求項23】 前記堆積電気結線パターンの第1の部
    分又は第2の部分のいずれか一方が共通の電気結線を含
    む請求項22記載のアレイ。
  24. 【請求項24】 前記相対する表面の一方に接合された
    少なくとも1個の導電要素を含むと共に前記スルーホー
    ルの少なくとも一部は前記少なくとも1個の導電要素に
    まで延びており、前記スルーホールを通って延びて前記
    少なくとも1個の導電要素に接合されたパターン化導電
    材料を含むと共に前記サーミスタの少なくとも1個は前
    記パターン化導電材料に接合されており、前記相対する
    表面の他方に接合された追加の誘電体層を含んでいて、
    前記追加の誘電体層は複数の追加の誘電体層スルーホー
    ルを有し、前記追加の誘電体層スルーホールの少なくと
    も1つは前記サーミスタの少なくとも1個にまで延び、
    かつ前記追加の誘電体層スルーホールの別のものは前記
    パターン化導電材料にまで延びており、そして前記堆積
    電気結線パターンは前記追加の誘電体層スルーホールを
    通って延びている請求項21記載のアレイ。
  25. 【請求項25】 前記相対する表面の一方に接合された
    少なくとも1個の導電要素を含むと共に前記スルーホー
    ルの少なくとも一部は前記少なくとも1個の導電要素に
    まで延びており、前記スルーホールのあるものを通って
    延びるパターン化導電材料を含むと共に前記サーミスタ
    の少なくとも1個は前記スルーホールの別のものの内部
    において前記少なくとも1個の導電要素に接合されてお
    り、前記相対する表面の他方に接合された追加の誘電体
    層を含んでいて、前記追加の誘電体層は複数の追加の誘
    電体層スルーホールを有し、前記追加の誘電体層スルー
    ホールのあるものは前記サーミスタの少なくとも1個に
    まで延び、かつ前記追加の誘電体層スルーホールの別の
    ものは前記パターン化導電材料にまで延びており、そし
    て前記堆積電気結線パターンは前記追加の誘電体層スル
    ーホールを通って延びている請求項21記載のアレイ。
  26. 【請求項26】 前記独立した温度センサの少なくとも
    一部が前記誘電体層上にパターン化によって形成された
    抵抗温度検出器(RTD)から成る請求項11記載のア
    レイ。
  27. 【請求項27】 前記RTDが高抵抗の領域を形成する
    ように選択的にパターン化された前記堆積電気結線パタ
    ーンの一部から成る請求項26記載のアレイ。
  28. 【請求項28】 前記堆積電気結線パターンが電圧測定
    用結線と電流供給用結線とを含んでいて、各々のRTD
    には2本の電圧測定用結線が接続され、かつ各々の電流
    供給用結線は1個以上のRTDに電流を供給する請求項
    26記載のアレイ。
  29. 【請求項29】 前記電圧測定用結線及び前記電流供給
    用結線が電圧測定線路及び電流供給線路に対してそれぞ
    れ選択的に接続される請求項28記載のアレイ。
  30. 【請求項30】 各々のセンサとそれに隣接するセンサ
    との間の距離が実質的に同じになるようにしながら、前
    記複数の独立した温度センサが三角形グリッドを成して
    配列されている請求項11記載のアレイ。
  31. 【請求項31】 複数の独立した温度センサを含む誘電
    体層を用意する工程と、前記複数の独立した温度センサ
    の各々からの電気的接続を達成するための電気結線パタ
    ーンを前記誘電体層の少なくとも一方の表面上に堆積さ
    せる工程とを含むことを特徴とする温度センサアレイの
    製造方法。
  32. 【請求項32】 前記堆積電気結線パターンと異なる熱
    起電力を有する第1のパターン化導電層を前記誘電体層
    の他方の表面上に堆積させる工程と、前記誘電体層のう
    ちで前記第1のパターン化導電層に対面する部分を部分
    を含まない特定の領域において前記誘電体層を薄くする
    工程とを含む場合において、前記誘電体層を貫通してス
    ルーホールが形成され、前記堆積電気結線パターンが第
    2のパターン化導電層から成り、かつ前記独立した温度
    センサの少なくとも一部が前記スルーホールを通して前
    記第1及び第2のパターン化導電層の間に形成された接
    点によって構成される熱電対から成る請求項31記載の
    方法。
  33. 【請求項33】 誘電体層を用意する前記工程が、前記
    誘電体層を貫通してスルーホールを形成する工程と、少
    なくとも部分的に前記スルーホールの内部にサーミスタ
    を配置する工程とを含む請求項31記載の方法。
  34. 【請求項34】 複数の独立した温度センサを含む誘電
    体層を用意する前記工程及び電気結線パターンを堆積さ
    せる前記工程が、パターン化によって前記誘電体層上に
    抵抗温度検出器(RTD)を形成する工程を含む請求項
    31記載の方法。
JP2000110458A 1999-04-12 2000-04-12 温度センサアレイ並びにその製造及び使用方法 Expired - Fee Related JP4795507B2 (ja)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US12874199P 1999-04-12 1999-04-12
US09/313531 1999-05-12
US60/128741 1999-05-12
US09/313,531 US6084174A (en) 1996-04-17 1999-05-12 Method for detecting temperature gradients in biological tissue using a thermocouple array
US09/395135 1999-05-12
US09/395,135 US6180867B1 (en) 1996-04-17 1999-09-13 Thermal sensor array and methods of fabrication and use

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2001008902A true JP2001008902A (ja) 2001-01-16
JP2001008902A5 JP2001008902A5 (ja) 2009-09-17
JP4795507B2 JP4795507B2 (ja) 2011-10-19

Family

ID=27383781

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2000110458A Expired - Fee Related JP4795507B2 (ja) 1999-04-12 2000-04-12 温度センサアレイ並びにその製造及び使用方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US6180867B1 (ja)
JP (1) JP4795507B2 (ja)
DE (1) DE10017900A1 (ja)

Cited By (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003014553A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Denso Corp 温度センサおよびその製造方法
JP2004177408A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Siemens Ag 光を放出する領域の位置測定方法および装置
JP2016534842A (ja) * 2013-10-25 2016-11-10 ボストン サイエンティフィック サイムド,インコーポレイテッドBoston Scientific Scimed,Inc. 除神経フレックス回路における埋め込み熱電対
WO2017086537A1 (ko) * 2015-11-17 2017-05-26 경희대학교산학협력단 센서 어레이를 이용한 생체 정보 측정 장치 및 방법
KR101762022B1 (ko) * 2015-11-17 2017-08-04 경희대학교 산학협력단 온도 감지 어레이 및 장치
KR20180097191A (ko) * 2017-02-22 2018-08-31 한국표준과학연구원 박막형 온도 측정 어레이
KR102280666B1 (ko) * 2020-11-19 2021-07-23 한국표준과학연구원 적층형 박막 온도센서 어레이
US20220146444A1 (en) * 2019-03-06 2022-05-12 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Method for measuring resistivity of silicon single crystal
JP2022190040A (ja) * 2016-08-18 2022-12-22 ノボキュア ゲーエムベーハー Ttフィールドを送達するためのアレイにおける温度測定
KR20230151693A (ko) * 2022-04-26 2023-11-02 한경희 매트릭스 구조의 배터리 팩용 온도 센서 장치

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1439101A (zh) * 1998-06-16 2003-08-27 因芬尼昂技术股份公司 用于测量和分析集成电路块的电信号的装置
US6716638B1 (en) * 1999-09-13 2004-04-06 Cyrano Sciences Inc. Measuring conducting paths using infrared thermography
FR2812532B1 (fr) * 2000-08-01 2003-07-04 Oreal Procede d'aquisition d'une image d'une zone non dermathoglyphique de la peau ou d'une zone des cheveux au moyen d'un dispositif d'acquisition comprenant un capteur non optique
US6927471B2 (en) * 2001-09-07 2005-08-09 Peter C. Salmon Electronic system modules and method of fabrication
US7297572B2 (en) * 2001-09-07 2007-11-20 Hynix Semiconductor, Inc. Fabrication method for electronic system modules
US7800079B2 (en) * 2003-12-22 2010-09-21 Asml Netherlands B.V. Assembly for detection of radiation flux and contamination of an optical component, lithographic apparatus including such an assembly and device manufacturing method
EP1593946B1 (en) * 2004-05-04 2011-06-22 Fisher & Paykel Healthcare Limited Skin patch including a temperature sensor
US20060000500A1 (en) * 2004-06-30 2006-01-05 Ioan Sauciuc Thermoelectric module
US20070181062A1 (en) * 2006-02-07 2007-08-09 Kim Il-Kyoung Semiconductor device manufacturing apparatus including temperature measuring unit
JP4703724B2 (ja) 2006-04-28 2011-06-15 ゼルティック エステティックス インコーポレイテッド 皮下の脂質リッチ細胞の冷却が改善された治療装置に使用する凍結防止剤
US20080077201A1 (en) 2006-09-26 2008-03-27 Juniper Medical, Inc. Cooling devices with flexible sensors
US8192474B2 (en) 2006-09-26 2012-06-05 Zeltiq Aesthetics, Inc. Tissue treatment methods
US9132031B2 (en) 2006-09-26 2015-09-15 Zeltiq Aesthetics, Inc. Cooling device having a plurality of controllable cooling elements to provide a predetermined cooling profile
US7768376B2 (en) 2006-10-31 2010-08-03 The Board Of Trustees Of The University Of Illinois Conformal mesh for thermal imaging
US20080287839A1 (en) 2007-05-18 2008-11-20 Juniper Medical, Inc. Method of enhanced removal of heat from subcutaneous lipid-rich cells and treatment apparatus having an actuator
US8523927B2 (en) 2007-07-13 2013-09-03 Zeltiq Aesthetics, Inc. System for treating lipid-rich regions
US8285390B2 (en) 2007-08-21 2012-10-09 Zeltiq Aesthetics, Inc. Monitoring the cooling of subcutaneous lipid-rich cells, such as the cooling of adipose tissue
US20090175314A1 (en) * 2008-01-04 2009-07-09 Hollander Milton B Thermometer sheet material
US8603073B2 (en) 2008-12-17 2013-12-10 Zeltiq Aesthetics, Inc. Systems and methods with interrupt/resume capabilities for treating subcutaneous lipid-rich cells
BRPI1014623B1 (pt) 2009-04-30 2020-01-07 Zeltiq Aesthetics, Inc. Sistema para tratamento de celulas subcutâneas ricas em lipídeos em uma área alvo
US8334749B1 (en) 2009-09-28 2012-12-18 General Electric Company Temperature detection in a gas turbine
US20110094556A1 (en) * 2009-10-25 2011-04-28 Digital Angel Corporation Planar thermoelectric generator
AU2011207506A1 (en) 2010-01-25 2012-08-09 Zeltiq Aesthetics, Inc. Home-use applicators for non-invasively removing heat from subcutaneous lipid-rich cells via phase change coolants, and associated devices, systems and methods
DE102010018968A1 (de) * 2010-04-29 2011-11-03 Bundesrepublik Deutschland, vertr. durch d. Bundesministerium f. Wirtschaft und Technologie, dieses vertreten durch d. Präsidenten d. Physikalisch-Technischen Bundesanstalt Verfahren zum Messen einer thermischen Transportgröße und Transportgrößen-Messvorrichtung
US8757874B2 (en) * 2010-05-03 2014-06-24 National Instruments Corporation Temperature sensing system and method
US8676338B2 (en) 2010-07-20 2014-03-18 Zeltiq Aesthetics, Inc. Combined modality treatment systems, methods and apparatus for body contouring applications
RU2449724C1 (ru) * 2010-10-29 2012-05-10 Чингис Куанычевич Мустафин Способ оценки эффективности лечения диффузной мастопатии
US20120222721A1 (en) * 2011-03-02 2012-09-06 General Electric Company Photovoltaic module package and fabrication method
DE102011077005B4 (de) * 2011-06-06 2017-11-16 Rehm Thermal Systems Gmbh Anlage zur Wärmebehandlung von Substraten und Verfahren zum Erfassen von Messdaten darin
US9844460B2 (en) 2013-03-14 2017-12-19 Zeltiq Aesthetics, Inc. Treatment systems with fluid mixing systems and fluid-cooled applicators and methods of using the same
US9545523B2 (en) 2013-03-14 2017-01-17 Zeltiq Aesthetics, Inc. Multi-modality treatment systems, methods and apparatus for altering subcutaneous lipid-rich tissue
ES2974899T3 (es) 2014-01-31 2024-07-02 Zeltiq Aesthetics Inc Composiciones y sistemas de tratamiento para el enfriamiento mejorado de tejido rico en lípidos
US10675176B1 (en) 2014-03-19 2020-06-09 Zeltiq Aesthetics, Inc. Treatment systems, devices, and methods for cooling targeted tissue
USD777338S1 (en) 2014-03-20 2017-01-24 Zeltiq Aesthetics, Inc. Cryotherapy applicator for cooling tissue
US10952891B1 (en) 2014-05-13 2021-03-23 Zeltiq Aesthetics, Inc. Treatment systems with adjustable gap applicators and methods for cooling tissue
RU2566214C1 (ru) * 2014-07-07 2015-10-20 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт механики сплошных сред Уральского отделения Российской академии наук Способ диагностики рака молочной железы
US10935174B2 (en) 2014-08-19 2021-03-02 Zeltiq Aesthetics, Inc. Stress relief couplings for cryotherapy apparatuses
US10568759B2 (en) 2014-08-19 2020-02-25 Zeltiq Aesthetics, Inc. Treatment systems, small volume applicators, and methods for treating submental tissue
EP3209236B1 (en) 2015-03-31 2020-06-10 St. Jude Medical, Cardiology Division, Inc. Device for delivering pulsed rf energy during catheter ablation
WO2017070112A1 (en) 2015-10-19 2017-04-27 Zeltiq Aesthetics, Inc. Vascular treatment systems, cooling devices, and methods for cooling vascular structures
US10524956B2 (en) 2016-01-07 2020-01-07 Zeltiq Aesthetics, Inc. Temperature-dependent adhesion between applicator and skin during cooling of tissue
US10765552B2 (en) 2016-02-18 2020-09-08 Zeltiq Aesthetics, Inc. Cooling cup applicators with contoured heads and liner assemblies
US10555831B2 (en) 2016-05-10 2020-02-11 Zeltiq Aesthetics, Inc. Hydrogel substances and methods of cryotherapy
US10682297B2 (en) 2016-05-10 2020-06-16 Zeltiq Aesthetics, Inc. Liposomes, emulsions, and methods for cryotherapy
US11382790B2 (en) 2016-05-10 2022-07-12 Zeltiq Aesthetics, Inc. Skin freezing systems for treating acne and skin conditions
EP4066768B1 (en) * 2016-10-04 2023-11-22 St. Jude Medical, Cardiology Division, Inc. Ablation catheter tip with flexible electronic circuitry
US11076879B2 (en) 2017-04-26 2021-08-03 Zeltiq Aesthetics, Inc. Shallow surface cryotherapy applicators and related technology
US10794220B2 (en) * 2017-05-08 2020-10-06 Raytheon Technologies Corporation Temperature sensor array for a gas turbine engine
US11389244B2 (en) 2018-07-30 2022-07-19 Csa Medical, Inc. Devices and methods for energy transfer mapping
EP3829496A1 (en) 2018-07-31 2021-06-09 Zeltiq Aesthetics, Inc. Methods, devices, and systems for improving skin characteristics
US11638353B2 (en) * 2018-09-17 2023-04-25 Hutchinson Technology Incorporated Apparatus and method for forming sensors with integrated electrical circuits on a substrate
US10725840B2 (en) 2018-11-13 2020-07-28 American Express Travel Related Services Company, Inc. Automated web service and API build configuration framework
US11186479B2 (en) 2019-08-21 2021-11-30 Invensense, Inc. Systems and methods for operating a MEMS device based on sensed temperature gradients
US11174153B2 (en) * 2019-08-21 2021-11-16 Invensense, Inc. Package level thermal gradient sensing
US11313741B2 (en) 2019-12-11 2022-04-26 Apple Inc. Packaging technologies for temperature sensing in health care products
CN216386041U (zh) * 2021-08-26 2022-04-26 爱佩仪传感信息科技有限公司 一种用于中医诊疗的手温监测装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10505252A (ja) * 1994-06-27 1998-05-26 イーピー テクノロジーズ, インコーポレイテッド 複数の温度感知要素を使用して組織のアブレーションを制御するためのシステム及び方法

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US1715316A (en) 1929-05-28 Thermopile
US1552284A (en) 1924-01-18 1925-09-01 Frank W Elliott Process of spinal analysis
US1610271A (en) 1924-08-25 1926-12-14 Frank W Elliott Temperature detector
US1648939A (en) 1925-07-13 1927-11-15 Frank W Elliott Diagnostic instrument
US1622887A (en) 1925-08-03 1927-03-29 Smith William Method of diagnostic analysis
US1752117A (en) 1928-09-28 1930-03-25 Smith William Temperature detector
US3219993A (en) 1962-10-24 1965-11-23 Xerox Corp Image formation and display utilizing a thermotropically color reversible material
CH413018A (de) 1963-04-30 1966-05-15 Du Pont Thermoelektrischer Generator
FR2123179B1 (ja) 1971-01-28 1974-02-15 Commissariat Energie Atomique
DE2247962C3 (de) 1972-09-29 1979-03-01 Siemens Ag, 1000 Berlin Und 8000 Muenchen Thermoelementanordnung auf Halbleiterbasis
FR2238252A1 (en) 1973-07-19 1975-02-14 Petit Jean Louis Screen printed thermopile - comprising a plastic substrate with holes in two rows and conductive ink tracks on both sides
JPS5672321A (en) 1979-11-20 1981-06-16 Kensetsusho Kenchiku Kenkyu Shocho Radiation thermocouple and its manufacture
EP0064334B1 (en) 1981-04-16 1986-09-24 United Kingdom Atomic Energy Authority Temperature surveillance system
JPS5810875A (ja) 1981-07-14 1983-01-21 Toshiba Chem Corp シ−ト状熱電対の製造方法
US4490053A (en) 1983-04-15 1984-12-25 Lockheed Missiles & Space Company, Inc. Temperature threshold detector
US4558342A (en) 1983-05-31 1985-12-10 Rockwell International Corporation Thermoelectric infrared detector array
US4513201A (en) 1983-07-21 1985-04-23 Ball Corporation Thermocouple detector
US4631350A (en) 1983-12-30 1986-12-23 Damon Germanton Low cost thermocouple apparatus and methods for fabricating the same
US5180440A (en) 1988-11-23 1993-01-19 Pace Incorporated Printed circuit thermocouple arrangements for personnel training and equipment evaluation purposes
JP3280394B2 (ja) 1990-04-05 2002-05-13 ロックヒード マーティン コーポレーション 電子装置
US5374123A (en) 1992-05-20 1994-12-20 Goldstar Co., Ltd. Thermal comfort sensing device
US5411600A (en) 1992-06-03 1995-05-02 Eastman Kodak Company Ultrathin film thermocouples and method of manufacture

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH10505252A (ja) * 1994-06-27 1998-05-26 イーピー テクノロジーズ, インコーポレイテッド 複数の温度感知要素を使用して組織のアブレーションを制御するためのシステム及び方法

Cited By (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4599767B2 (ja) * 2001-06-27 2010-12-15 株式会社デンソー 温度センサの製造方法
JP2003014553A (ja) * 2001-06-27 2003-01-15 Denso Corp 温度センサおよびその製造方法
JP2004177408A (ja) * 2002-11-25 2004-06-24 Siemens Ag 光を放出する領域の位置測定方法および装置
JP4567318B2 (ja) * 2002-11-25 2010-10-20 シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト 生体組織部分内の領域の位置測定方法および装置
JP2016534842A (ja) * 2013-10-25 2016-11-10 ボストン サイエンティフィック サイムド,インコーポレイテッドBoston Scientific Scimed,Inc. 除神経フレックス回路における埋め込み熱電対
US10271898B2 (en) 2013-10-25 2019-04-30 Boston Scientific Scimed, Inc. Embedded thermocouple in denervation flex circuit
US11129555B2 (en) 2015-11-17 2021-09-28 University-Industry Cooperation Group Of Kyung Hee University Device for measuring biological information including sensor array and method of measuring biological information using device
WO2017086537A1 (ko) * 2015-11-17 2017-05-26 경희대학교산학협력단 센서 어레이를 이용한 생체 정보 측정 장치 및 방법
KR101762022B1 (ko) * 2015-11-17 2017-08-04 경희대학교 산학협력단 온도 감지 어레이 및 장치
US11911153B2 (en) 2015-11-17 2024-02-27 University-Industry Cooperation Group Of Kyung Hee University Device for measuring biological information including sensor array and method of measuring biological information using device
JP2022190039A (ja) * 2016-08-18 2022-12-22 ノボキュア ゲーエムベーハー Ttフィールドを送達するためのアレイにおける温度測定
JP2022190040A (ja) * 2016-08-18 2022-12-22 ノボキュア ゲーエムベーハー Ttフィールドを送達するためのアレイにおける温度測定
JP7497405B2 (ja) 2016-08-18 2024-06-10 ノボキュア ゲーエムベーハー Ttフィールドを送達するためのアレイにおける温度測定
KR101988097B1 (ko) * 2017-02-22 2019-10-01 한국표준과학연구원 박막형 온도 측정 어레이
KR20180097191A (ko) * 2017-02-22 2018-08-31 한국표준과학연구원 박막형 온도 측정 어레이
US20220146444A1 (en) * 2019-03-06 2022-05-12 Shin-Etsu Handotai Co., Ltd. Method for measuring resistivity of silicon single crystal
KR102280666B1 (ko) * 2020-11-19 2021-07-23 한국표준과학연구원 적층형 박막 온도센서 어레이
WO2022108060A1 (ko) * 2020-11-19 2022-05-27 한국표준과학연구원 적층형 박막 온도센서 어레이
KR20230151693A (ko) * 2022-04-26 2023-11-02 한경희 매트릭스 구조의 배터리 팩용 온도 센서 장치
KR102611603B1 (ko) 2022-04-26 2023-12-07 한경희 매트릭스 구조의 배터리 팩용 온도 센서 장치

Also Published As

Publication number Publication date
US6180867B1 (en) 2001-01-30
DE10017900A1 (de) 2001-01-11
JP4795507B2 (ja) 2011-10-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4795507B2 (ja) 温度センサアレイ並びにその製造及び使用方法
US5909004A (en) Thermocouple array and method of fabrication
JP5654473B2 (ja) 患者の組織内の温度データを測定するためのプローブを有する医療装置
JP5779806B2 (ja) 温度センサーの校正を用いたゼロ熱流束深部組織温度測定装置
CA1043425A (en) Temperature, pulse and respiration detector
US20050257822A1 (en) Silk-screen thermocouple
JP3400438B2 (ja) テストエレメント分析システム
JP4805773B2 (ja) 電子温度計
JP7515837B2 (ja) 生体データ測定装置
US20130317388A1 (en) Zero-heat-flux temperature measurement devices with peripheral skin temperature measurement
US5394883A (en) Multiple thin film sensor system
US20090204008A1 (en) Whole body infrared thermography systems and methods
WO1990006719A1 (en) Flexible measurement probes
US3916877A (en) Temperature and pulse detector
US20100245090A1 (en) Patient thermal monitoring system
CN109506804A (zh) 一种用于监测温度的柔性热测绘装置
CN110265539B (zh) 一种铜镍合金薄膜热电偶的加工方法
JP2014048138A (ja) 感光性ドライフイルムレジストを用いた多重層薄膜サーモパイルとこれを用いた放射温度計およびその多重層薄膜サーモパイルの製造方法
US20240272015A1 (en) Sensing assembly
Finvers et al. Wireless temporal artery bandage thermometer
JP2009528539A (ja) 熱電対を有する回路の蓋部
Immonen et al. Printed Circuit-Based Thermoelectric Sensor Film for Temperature Distribution Measurements
JP2022126749A (ja) 熱伝導率測定装置及び熱伝導率測定方法
RU2090848C1 (ru) Медицинский термометр
RU2158106C1 (ru) Устройство для локального измерения температуры частей тела

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20070405

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070405

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090804

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20090804

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20090804

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100622

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20100921

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20100927

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101222

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20110222

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110606

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20110609

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110705

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110728

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140805

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees