JP2000356599A - 米粒品質判定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の米粒品質判定装置において要望された
改善点をコスト上昇を招くことなくかつ大型化すること
なく満足することができる構成を備えた米粒品質判定装
置を提供する。 【解決手段】 米粒の外形に沿う形状の米粒収容部２Ｂ
が所定数形成され、少なくとも片面に分離可能な透明樹
脂を配置した試料皿２と、上記米粒収容部２Ｂに収容さ
れている米粒に対する光照射用光源、米粒からの反射光
または透過光を撮像面に結像させる結像光学系および結
像光学系に入射した光量を光電変換するための光電変換
部とを備え、上記米粒の上下両側に配置されている光学
センサ１Ｂと、上記光学センサ１Ｂを上下両側で一体的
に連動させる駆動制御部１Ｂ２と、上記米粒の比較判定
用設定値および上記光電変換部からの信号データを記憶
する記憶部５が入力側に、そして、比較判定結果を表示
する表示部１Ｄが出力側にそれぞれ設けられ上記設定値
に対する上記光電変換部からの信号データを演算処理し
て設定値と比較することで比較結果を表示する制御部１
Ｃとを備えていることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、米粒品質判定装置に関
し、さらにに詳しくは、操作性および判定精度を高める
ことのできる構成を備えた米粒品質判定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より米粒、特に玄米の品質判定を行
うための装置として、光学的手段を用いた品質判定装置
が提案されている（例えば、本出願人の先願に係る実開
昭６３−８４５５７号公報や特願昭６２−１８４３３６
号）。これら提案装置では、玄米一粒毎に光を照射し、
試料である玄米の透光性に基づく透光量や反射光量を検
出し、これらを異なる波長の光に分析してその比率など
を演算し、その演算結果を基準値と比較することにより
品質を判定していた。一方、上記提案装置では、一粒毎
の玄米を対象として個々に判定処理を行っていたため
に、例えば多数の米粒を対象とした判定処理を行う場合
にその処理時間が甚大となる不具合があった。そこで、
このような判定処理時間の甚大化を抑制するための構成
として、米粒の外径に沿う形状の凹部を表面に所定数配
列した試料皿と、この試料皿の凹部に収容された米粒を
対象とした走査光学系および光電変換部とを備え、走査
光学系と光電変換部とを一体で上記試料皿に対してライ
ン走査するようにした構成の判定装置が本出願人から提
案された（例えば、実公平７−３３１５１号公報）。こ
の構成の判定装置によれば、走査光学系と光電変換部と
を配列されている米粒に対してライン走査することによ
り走査光学系と光電変換部とが対向する範囲の米粒を一
括してライン走査することができるので多数の米粒が個
々ではなく一括して判定されるので迅速な判定処理が可
能となる。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記実公平７−３３１
５１号公報に開示されいている構成においては、多数の
米粒をライン走査により一括走査して品質判定が行える
ことで一粒毎での判定処理に比べて飛躍的判定処理時間
を短くすることができる反面、操作性においてさらなる
改善が望まれている。すなわち、その改善点としては、
（１）判定精度を向上させること、（２）光学的検知を
利用して品質判定に加えて胴割れなどをも検出できるよ
うにすること、（３）判定精度を向上させるために用い
られる部品の交換性を容易化して精度低下を防止できる
ようにすること、（４）検知結果とこの検知結果が得ら
れた米粒との対応関係を正確にかつ簡単に割り出せるよ
うにして誤検知を防止できること、（５）試料皿に収容
された米粒を安定した状態で光学検知に供するようにし
て誤検知の確率を下げることが挙げられる。

【０００４】そこで本発明の目的は、上記従来の米粒品
質判定装置において要望された改善点をコスト上昇を招
くことなくかつ大型化することなく満足することができ
る構成を備えた米粒品質判定装置を提供することにあ
る。

【０００５】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、請求項１記載の発明は、米粒の外形に沿う形状の米
粒収容部が所定数形成され、少なくとも片面に分離可能
な透明樹脂を配置した試料皿と、上記米粒収容部に収容
されている米粒に対する光照射用光源、米粒からの反射
光または透過光を撮像面に結像させる結像光学系および
結像光学系に入射した光量を光電変換するための光電変
換部とを備え、上記米粒の上下両側に配置されている光
学センサと、上記光学センサを上下両側で一体的に連動
させる駆動制御部と、上記米粒の比較判定用設定値およ
び上記光電変換部からの信号データを記憶する記憶部が
入力側に、そして、比較判定結果を表示する表示部が出
力側にそれぞれ設けられ上記設定値に対する上記光電変
換部からの信号データを演算処理して設定値と比較する
ことで比較結果を表示する制御部とを備えてなることを
特徴としている。

【０００６】請求項２記載の発明は、上記光学センサ
が、上下両側の相対位置をその移動方向に沿って僅かに
ずらされて配置されていることを特徴としている。

【０００７】請求項３記載の発明は、上記試料皿が挿入
されて支持される部分と上記光学センサとの間には透明
樹脂が配置され、該透明樹脂が判定装置本体に対して着
脱可能に設けられていることを特徴としている。

【０００８】請求項４記載の発明は、上記試料皿には、
座標が設けられて収容されている米粒の位置とその米粒
の品質とを座標に合わせて表示できることを特徴として
いる。

【０００９】請求項５記載の発明は、請求項１記載の米
粒品質判定装置において、上記判定装置本体には、上記
判定装置本体に対する上記試料皿の挿入方向後方側が前
方側に対して上方に位置するように傾斜させることが可
能な折り畳み可能な脚部を備えていることを特徴として
いる。

【００１０】

【作用】請求項１記載の発明では、上下両側にて一体的
に連動する光学センサを用い、少なくとも片面に相当す
る底面を透明樹脂で構成した試料皿内に収容された米粒
を測定することにより、米粒の上下両面を測定すること
が可能となる。これにより、米粒の上下両面での品質を
判定することができ、より正確な品質判定が行える。し
かも、試料皿は透明樹脂を分離することができるので、
米カスなどの付着や破損した場合に交換することがで
き、これによって、光学的な検知の際のエラーの発生を
低減できると共に試料皿全体ではなく試料皿における交
換対象部のみを交換すればよいので試料皿全体を交換す
る場合に比べてコストを低減することができる。

【００１１】請求項２記載の発明では、光学センサの相
対位置をずらすことで屈折率の変化による胴割れ検知を
行うことができるので、複数の項目を同時に判定するこ
とができる。

【００１２】請求項３記載の発明では、光学センサと試
料皿との間に透明樹脂を配置したので、これら両者を隔
離することができるとともに、光学センサへの試料カス
や塵埃などの進入を阻止して光学センサでのエラー発生
を低減させることができる。しかも、装置本体に対して
着脱可能であるので、経年変化によって試料皿挿入部に
傷や汚れが生じた場合でも取り外して清掃あるいは交換
することができ、光学センサでの測定精度の低下を防止
することができる。

【００１３】請求項４記載の発明では、座標上の米粒と
検査結果との整合性を容易に得ることができるので、結
果の認識や光学センサの位置決めが容易に行えることに
なり操作性を向上されることができる

【００１４】請求項５記載の発明では、重力作用により
判定対象となる米粒を重量作用方向に位置決めすること
ができ、光学センサとの対応関係を正確に維持して判定
対象の米粒に対する精度誤差が低減するのを防止でき
る。

【００１５】

【実施例】以下、図示実施例により、本発明の詳細を説
明する。図１は、本発明実施例による米粒品質判定装置
１の外観図であり、同図において米粒品質判定装置１
は、試料皿挿入部１Ａと、後で説明する光学センサ１Ｂ
および制御部１Ｃと、表示部１Ｄとを備えている。以
下、各部について説明する。試料皿挿入部１Ａは、装置
本体の一部に形成された開口１Ａ１を備え、その開口１
Ａ１には、開閉蓋１Ａ２が設けられている。試料皿挿入
部１Ａは、内部構造が図２に示す構成とされている。す
なわち、試料皿挿入部１Ａには、開閉蓋１Ａ２によって
開閉される開口１Ａ１の内部において、試料皿２の挿入
方向に平行して配置されている試料皿カセット３を備え
ている。試料皿カセット３は、試料皿２を内部に支持し
ていて定置させる部材であり、試料皿２の挿入側の端部
を開口した状態で試料皿２の上面および下面を覆うこと
ができる透明体３Ａ、３Ｂを備えており、これら上面側
および下面側に位置する透明体３Ａ、３Ｂが互いに着脱
できるようになっている。

【００１６】図３は、試料皿カセット３の一部と試料皿
２との配置関係を説明するための部分的な斜視図であ
り、同図において、試料皿カセット３は、上面側の透明
体３Ａが、試料皿２の挿入方向前方側（装置での奥側に
相当）を支点として開閉できる構造となっており、試料
皿２の側面近傍に配置されている支持部材４の上面に当
接するように閉じられることで試料皿２を後述する測定
部１Ｂから隔離できるようになっている。試料皿カセッ
ト３には、試料皿２が挿入された際に内部に溜まる空気
を排出するための構造が設けられている。つまり、図３
において、試料皿２の移動方向と直角な方向に相当する
試料皿２の幅方向の一端に対向する支持部材４には、試
料皿カセット３の内部空間に対して複数箇所に開口させ
ることで内部空間と連通する溝４Ａが形成されており、
この溝４Ａの端末部が、試料皿２の挿入側に開口してい
る。従って、試料皿２が試料皿カセット３内に挿入され
ると、試料皿カセット３内の内圧が高まるが、その圧力
上昇は、内部の空気が溝４Ａを介して開口から排出され
ることで抑制されるので、試料皿２の挿入の円滑化と試
料皿カセット３の上面側に位置する透明体３Ａの浮き上
がりなどが防止される。上面側の透明体３Ａが浮き上が
りが防止されると、後述する測定部１Ｃに設けられてい
る光学センサとの干渉が抑えられる。さらに、支持部材
４には、試料皿３の挿入方向前方側にこの方向と直角な
方向に橋渡された支持部４Ｂが設けられており、この支
持部４Ｂの上面には、加法混色により光学センサ１Ｂの
色分解値を初期化するための白色テープＰが貼り付けら
れている。従って、光学センサ１Ｂは、判定処理を行う
前に白色テープＰを走査することで色分解値が初期化さ
れたうえで走査を開始する。

【００１７】試料皿２は、図４に示すように、所定数の
米粒を収容することができる平板部材２Ｃと、これに合
わされることで一体的に設けられる透明体２Ｄ（図４
（Ｂ）参照）とで構成されている。本実施例では、平板
部材２Ｃと透明体２Ｄとは、把手部２Ａに形成されてい
る係止穴２Ａ１に装着されるファスナー部材２Ｆによっ
て平板部材２Ｃおよび透明体２Ｄを抱え込んだ状態で保
持する保持部材２Ｅによって一体化されるようになって
いる。保持部材２Ｅは、平板部材２に形成されている係
止部に対して爪部２Ｅ１を係合させることで上記ファス
ナ部材と協働して脱落が防止されている。本実施例で
は、接合された平板部材２Ｃ及び透明体２Ｄのうちで、
判定処理時、試料カセット３の支持部材４内に挿入され
る際に上側に位置する平板部材２Ｃには、その上側に位
置する表面に、図４中、符号「Ａ〜Ｑ」で示す縦方向、
符号「１〜３２」で示す横方向の各位置に米粒を収容可
能な形状、つまり、米粒の外形に沿った形状の貫通孔
（便宜上、数カ所の凹部を対象として符号２Ｂで示す
が、実際にはこの凹部が平板部材の全面に分布されてい
る）が対向する平板部材２Ｄとの対向面に設けられてい
る。これら貫通孔２Ｂは、試料皿２の縦横方向に設定さ
れる座標の各位置にそれぞれ形成されており、これら座
標位置を後述する制御部１Ｃにおいてマッピングされて
いることにより、各米粒毎での判定結果が得られた場合
にその米粒の位置とを対応させるようになっている。一
方、平板部材２Ｃの裏面、つまり、挿入時に下側に位置
する面には、図示しないが、Ｘ、Ｙ方向での各貫通孔２
Ｂの中心位置に対応して白点部で構成されたマーカが設
けられており、後述する光学センサ１Ｂのホームポジシ
ョン検知と光学センサ１Ｂの移動不良の判別に供される
ようになっている。また、図４中、符号２Ｇは、挿入方
向前端縁に設けられた複数の磁石を示しており、この磁
石２Ｇは、図５に示すように、試料皿２が挿入された際
に、この磁石２Ｇに対向して試料カセット３側に設けら
れている磁性体Ｍに磁気吸着され、挿入位置を保持され
るようになっている。

【００１８】光学センサ１Ｂは、図２において光学走査
ユニット１Ｂ１と、この光学走査ユニット１Ｂ１の駆動
制御部１Ｂ２とを主要部として備えている。すなわち、
光学センサ１Ｂの光学走査ユニット１Ｂ１は、装置本体
に設けられている支持部（図示されず）によって矢印方
向に相当する光学走査ユニット１Ｂ１の移動方向に平行
して横架されているガイドロッド１Ｂ３により摺動自在
に支持されている。光学走査ユニット１Ｂ１は、試料皿
２を挟んで上下に一対で配置されており、これら上下に
位置するもの同士が、移動方向と直角な方向の両端部に
おいて一体化されて連動できるようになっている。

【００１９】光学走査ユニット１Ｂ１には、図示しない
が、試料皿２内の米粒収容部である貫通孔２Ｂに収容さ
れている米粒に対して光を照射する照明用光源と、米粒
からの反射光および透過光を受光する光電変換部をなす
受光素子およびこの受光素子に対して米粒からの反射光
または透過光を結像させるための結像光学系とが試料皿
２における貫通孔２Ｂのうちで、走査光学ユニット１Ｂ
１の移動方向と直角な方向に相当する横方向に位置する
貫通孔２Ｂの数に対応して設けられている。つまり、図
５及び図６に示すように、試料皿２の横方向に跨った状
態でその両端に位置するガイドロッド１Ｂ３に橋渡しさ
れている支持台１Ｂ１’に上述した光源、受光素子およ
び結像光学系がそれぞれ配置されている。なお、結像光
学系は、単一のものを並設するのでなく、多数の結像レ
ンズを纏めてアレイ状に配置した集束性レンズ（セルフ
ォック）が用いられ、また受光素子としては、イメージ
センサが用いられる。イメージセンサからの光電変換信
号は、図示しないが、三原色（レッド、グリーン、ブル
ー）に色分解されて各色毎の信号が後述する制御部１Ｃ
に出力されるようになっている。本実施例では、受光素
子として、反射光を受光する受光素子と透過光を受光す
る受光素子とが上下に相対する支持台１Ｂ１’にそれぞ
れ対に設けられている。透過光を受光する受光素子は、
照射用光源からの光路が、図２において符号Ｌおよび
Ｌ’で示すように数ｍｍの範囲でずらされており、これ
により、屈折率の変化による米粒の胴割れを検出できる
ようになっている。また、光学センサ１Ｂの下方に位置
する側には、図２に示すように、試料皿２の透明体２Ｄ
と接触しながら回転することができる押さえコロ１Ｋが
設けられており、試料皿カセット３における下側に位置
する透明体３Ｂが光学センサ１Ｂと対向する位置の近傍
を押さえられて下方への撓み変形が防止されて平面性を
確保できるようになっている。

【００２０】一方、図３において駆動制御部１Ｂ２は、
走査光学ユニット１Ｂ１の移動方向に平行する展張部を
有する歯付きベルト１Ｂ４と、このベルト１Ｂ４が掛け
回されている一対のベルト用歯車１Ｂ５および１Ｂ５’
と、これら歯車のうちで駆動歯車に相当する歯車１Ｂ５
に駆動力を伝達する駆動モータ１Ｂ６とで構成されてい
る。駆動モータ１Ｂ６から歯付きベルト１Ｂ４への駆動
力の伝達は、図３に示すように、駆動モータ１Ｂ６の出
力軸に設けられている駆動歯車１Ｂ７とこれに噛み合
い、ベルト用歯車のうちの駆動側に位置するベルト用歯
車１Ｂ５の支軸に取り付けられている従動歯車１Ｂ８を
介して行われる。駆動モータ１Ｂ６は、後述する制御部
１Ｃからの信号により、試料皿２の横方向に位置する貫
通孔２Ｂを一括してライン走査しながら縦方向に順次移
動するように駆動タイミングおよび回転量が制御される
ようになっており、ここに、試料皿２における横方向、
つまり、走査光学ユニット１Ｂ１の移動方向と直角な方
向を主走査方向として、また縦方向、つまり走査光学ユ
ニット１Ｂ１の移動方向を副走査方向として各米粒にお
ける光の反射状態および透過状態を検出できるようにな
っている。

【００２１】一方、制御部１Ｃは、光学センサ１Ｂから
の検出信号を比較対象データとして演算し、各米粒での
品質を判定するための基準値と比較して品質を判定する
と共に光学センサ１Ｂにおける光学走査ユニット１Ｂ１
の駆動制御を行う部分として設けられており、図５に示
すように、これら制御部１Ｃを構成する回路基板Ｐが装
置本体内に設けられている。この場合の駆動制御とは、
前述した試料皿２の裏面に設けられているマーカ（白点
部）を検出して光学センサ１Ｂのホームポジションを位
置決めする制御と、後述する制御部１Ｃからの出力信号
に応じた移動量が得られているかどうかを判定して駆動
源の異常を判別する制御も含まれている。すなわち、図
６は、制御部１Ｃの構成を説明するためのブロック図で
あり、同図において、制御部１Ｃは、マイクロコンピュ
ータにより主要部が構成され、図示されないＩ／Ｏイン
ターフェースを介して入力側には光学センサ１Ｂおよび
判定基準値を記憶している記憶部５がそれぞれ接続さ
れ、出力側には判定結果を表示する表示部１Ｄおよび駆
動モータ１Ｂ６の駆動部６がそれぞれ接続されている。

【００２２】制御部１Ｃでは、試料皿２上で予めマッピ
ングされている縦横位置（座標）での各米粒を対象とし
て光学センサ１Ｂからのカラー画像信号を品質判定可能
なデータに演算処理し、さらに、演算処理したデータを
記憶部１０から読み出す設定値と比較して米粒の上下両
面での色具合および光透過度による品質さらには、屈折
率の変化度による胴割れの有無を判定するようになって
いる。このような品質の判定に関しては、本出願人の先
願に係る実公並７−３３１５１号公報の手法に基づく。
また、制御部１Ｃでは、試料皿２の各位置に定置されて
いる米粒に対する光学走査ユニット１Ｂ１の位置を位置
決めするために駆動モータ１Ｂ６の初期位置あるいは移
動位置を割り出し、補正するようになっているととも
に、出力信号に応じた駆動モータ１Ｂ６の回転量が得ら
れているかどうかを光学センサ１Ｂによるマーカ（白点
部）検出及びそのマーカを計数することにより判定し、
駆動モータ１Ｂ６を初めとした駆動機構での動作不良の
判別を行うようになっている。

【００２３】一方、表示部１Ｄは、図１および図２に示
すように、装置本体の上面に位置して起倒可能に設けら
れている液晶表示部で構成されており、制御部１Ｃでの
判定結果が表示できるようになっている。表示部１Ｄで
の表示は、試料皿２において座標上に位置決めされてい
る各米粒を対象として、その座標上の位置と判定結果が
得られた米粒との位置関係を対応させて表示されるの
で、オペレータは試料皿２上での座標を読みとることで
不良結果が得られた米粒を選り分けることができる。

【００２４】上記装置本体の底部には、図２に示すよう
に、上記光学走査ユニット１Ｂ１の移動方向一端側に起
伏可能な脚部１Ｅが設けられており、起きあがらせるこ
とで試料皿２の挿入方向後方側が前方側に対して上方に
位置するように傾斜させることができるようになってい
る。これにより、試料皿２は貫通孔２Ｂに収容している
米粒を重力方向に移動させて貫通孔２Ｂの所定位置に定
置されることができる。このため、貫通孔２Ｂ内の米粒
の位置が各貫通孔２Ｂで一致することになり、光学走査
ユニット１Ｂ１との対応位置関係を容易に割り出すこと
ができ、光学センサ１Ｂの位置決めが容易化できる。

【００２５】本実施例は以上のような構成であるから、
試料皿２における縦横位置に形成された貫通孔２Ｂ内に
米粒を入れた上で、試料皿２を試料皿カセット３内に挿
入することで米粒の品質判定が可能となる。すなわち、
装置本体底部に有する脚部１Ｅを立て起こした状態に設
定し、試料皿２が試料皿カセット３内に挿入される。試
料皿２が試料皿カセット３内に挿入されるとカセット３
の空間内で空気が圧縮されるが、圧縮された空気は試料
皿カセット３に有する溝４Ａ（図３参照）から外部に排
出されるので、試料皿２の挿入抵抗を軽減させて挿入さ
せることができ、試料皿２を定位置まで容易に挿入して
位置決めすることができる。挿入された試料皿２は、脚
部１Ｅの作用によって傾斜しているので、貫通孔２Ｂ内
の米粒が重力の作用を受けて貫通孔２Ｂ内での所定位置
に位置決めされる。

【００２６】装置本体の上面に設けられている操作パネ
ルにおいて判定処理開始指令が出されると、光学センサ
１Ｂの光学走査ユニット１Ｂ１が駆動モータ１Ｂ６の回
転駆動により移動を開始し、その移動過程において各米
粒に対する光学的検出が行われ、検出信号が制御部１Ｃ
に出力される。制御部１Ｃでは、上述したように各米粒
の上下面を対象とした反射光および透過光さらには屈折
率の変化に応じて品質を判定し、その結果を表示部１Ｄ
において表示する。

【００２７】一方、判定処理が継続されると、試料皿２
を構成する透明体からなる平板部材２Ｃ、２Ｄの表面に
カスが付着し、透光性が悪化する場合がある。そこで、
本実施例では、平板部材２Ｃ、２Ｄを分離させることで
対向面および貫通孔２Ｂ内を清掃することができるの
で、判定誤差が低下するのを防止することができる。し
かも、平板部材２Ｃ、２Ｄが互いに分離可能であるの
で、一方が破損した場合においても、試料皿２そのもの
を交換しなくても、破損した側の平板部材のみを交換す
ればよく、交換の際の部品コストが上昇するのを防止で
きる。

【００２８】さらに、試料皿２は、試料皿カセット３の
透明体をはさんで光学センサ１Ｂと対峙しているので、
光学センサ１Ｂから隔離された状態に維持されているこ
とになり、光学センサ１Ｂの光学部材への米カスや埃の
付着が防止される。さらに、試料皿カセット３も試料皿
２と同様に透明体同士が互いに分離可能であるので、清
掃および交換の際の手間が簡略化でき、しかも、交換の
際のコスト上昇を防止することができる。

【００２９】以上のような本実施例によれば、試料皿２
を固定し、光学センサ１Ｂを移動させることで米粒の光
学検知ができ、しかも試料皿２に収容されている米粒が
重力作用によって略強制的に所定位置に位置決めされる
ので、光学検知の際に米粒が動いてしまうというような
事態がないので、正確な光学検知を行うことができる。
また、試料皿２を構成する平板部材２Ｃには、試料皿２
を試料皿カセット３内で位置保持するための構成、つま
り磁石２Ｇ（図４参照）が設けられているので、不用意
に挿入方向反対側に移動することがなく、いわゆる、挿
入した試料皿２が外れることが防止されて光学センサ１
Ｂによる走査時に平板部材２Ｃの貫通孔が位置ずれする
ような事態の発生が防止される。

【００３０】

【発明の効果】請求項１記載の発明によれば、上下両側
にて一体的に連動する光学センサを用い、少なくとも片
面に相当する底面を透明樹脂で構成した試料皿内に収容
された米粒を測定することにより、米粒の上下両面を測
定することが可能となる。これにより、米粒の上下両面
での品質を判定することができ、より正確な品質判定が
行える。しかも、試料皿は透明樹脂を分離することがで
きるので、米カスなどの付着や破損した場合に交換する
ことができ、これによって、光学的な検知の際のエラー
の発生を低減できると共に試料皿全体ではなく試料皿に
おける交換対象部のみを交換すればよいので試料皿全体
を交換する場合に比べてコストを低減することができ
る。

【００３１】請求項２記載の発明によれば、光学センサ
の相対位置をずらすことで屈折率の変化による胴割れ検
知を行うことができるので、複数の項目を同時に判定す
ることができ、判定効率を向上させることが可能とな
る。

【００３２】請求項３記載の発明によれば、光学センサ
と試料皿との間に透明樹脂を配置したので、これら両者
を隔離することができるとともに、光学センサへの試料
カスや塵埃などの進入を阻止して光学センサでのエラー
発生を低減させることができる。しかも、装置本体に対
して着脱可能であるので、経年変化によって試料皿挿入
部に傷や汚れが生じた場合でも取り外して清掃あるいは
交換することができ、光学センサでの測定精度の低下を
防止することができる。

【００３３】請求項４記載の発明によれば、座標上の米
粒と検査結果との整合性を容易に得ることができるの
で、結果の認識や光学センサの位置決めが容易に行える
ことになり操作性を向上されることができる

【００３４】請求項５記載の発明によれば、重力作用に
より判定対象となる米粒を重量作用方向に位置決めする
ことができ、光学センサとの対応関係を正確に維持して
判定対象の米粒に対する精度誤差が低減するのを防止で
きる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明実施例による米粒品質判定装置の外観図
である。

【図２】図１に示した米粒品質判定装置の内部構造を説
明するための概略図である。

【図３】図１に示した米粒品質判定装置に用いられる試
料皿カセット３一部と試料皿との配置関係を説明するた
めの部分的な斜視図である。

【図４】図３に示した試料皿の構成を説明するための図
であり、（Ａ）は平面図、（Ｂ）は側面視の断面図であ
る。

【図５】図１に示した米粒品質判定装置内部の要部構成
を説明するための平面図である。

【図６】図１に示した米粒品質判定装置の平面図であ
る。

【図７】図１に示した米粒品質判定装置に用いられる制
御部の構成を説明するためのブロック図である。

【符号の説明】

１ 米粒品質判定装置 １Ａ 試料皿挿入部 １Ｂ 光学センサ １Ｂ１ 光学操作ユニット １Ｂ２ 駆動制御部 １Ｂ６ 駆動モータ １Ｃ 制御部 １Ｄ 表示部 １Ｅ 脚部 ２ 試料皿 ２Ｂ 米粒収容部をなす凹部 ２Ｃ、２Ｄ 透明な平板部材 ３ 試料皿カセット ３Ａ、３Ｂ 透明体 ４ 支持台 ４Ａ 排気用溝 ５ 記憶部

フロントページの続き (72)発明者 川中 道夫 静岡県袋井市山名町４番地の１ 静岡製機 株式会社内 Ｆターム(参考） 2G051 AA04 AB02 CA03 CA07 CB01 CB02 CD03 EA11 EA17 EB01 FA01

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 米粒の外形に沿う形状の米粒収容部が所
   定数形成され、少なくとも片面に分離可能な透明樹脂を
   配置した試料皿と、 上記米粒収容部に収容されている米粒に対する光照射用
   光源、米粒からの反射光または透過光を撮像面に結像さ
   せる結像光学系および結像光学系に入射した光量を光電
   変換するための光電変換部とを備え、上記米粒の上下両
   側に配置されている光学センサと、 上記光学センサを上下両側で一体的に連動させる駆動制
   御部と、 上記米粒の比較判定用設定値および上記光電変換部から
   の信号データを記憶する記憶部が入力側に、そして、比
   較判定結果を表示する表示部が出力側にそれぞれ設けら
   れ上記設定値に対する上記光電変換部からの信号データ
   を演算処理して設定値と比較することで比較結果を表示
   する制御部とを備えてなることを特徴とする米粒品質判
   定装置。
2. 【請求項２】 請求項１記載の米粒品質判定装置におい
   て、 上記光学センサは、上下両側の相対位置をその移動方向
   に沿って僅かにずらされて配置されていることを特徴と
   する米粒品質判定装置。
3. 【請求項３】 請求項１記載の米粒品質判定装置におい
   て、 上記試料皿が挿入されて支持される部分と上記光学セン
   サとの間には透明樹脂が配置され、判定装置本体に対し
   て着脱可能に設けられていることを特徴とする米粒品質
   判定装置。
4. 【請求項４】 請求項１記載の米粒品質判定装置におい
   て、 上記試料皿には、座標が設けられて収容されている米粒
   の位置とその米粒の品質とを座標に合わせて表示できる
   ことを特徴とする米粒品質判定装置。
5. 【請求項５】 請求項１記載の米粒品質判定装置におい
   て、 上記判定装置本体には、上記判定装置本体に対する上記
   試料皿の挿入方向後方側が前方側に対して上方に位置す
   るように傾斜させることが可能な折り畳み可能な脚部を
   備えていることを特徴とする米粒品質判定装置。