CN2911673Y - 一种检查印刷电路板的扫描成像装置 - Google Patents
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Abstract
一种检查印刷电路板的扫描成像装置包括光源，光学成像镜头，及与其相连的光学传感器，所述的光学传感器在成像维数上是一个线阵图像传感器，它通过光学成像镜头，从被光源照亮的，与线阵图像传感器相对移动的被扫描印刷电路板的扫描行上依次接受反射光，接受反射光后，线阵图像传感器中生成的信号被累积起来。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种扫描成像装置，尤其涉及一种检查印刷电路板的扫描成像装置。
背景技术
在制造业界的产品品质检测方面，目前为改善其速度与绩效，光学检测系统已逐渐取代原有的人工目视检测。因光学检测系统可将复杂的影像画面转换成判读信息，借助微处理器来比对有无缺陷，不但避免了人类出错与疲倦的问题，并可提高其检测精确度，且能因其快速检测而提高全制程的产制效率。在电子产业中，光学检测系统已被广泛应用，如半导体制程中用来寻找细微的尘埃粒子，执行确定的定位，印刷电路板组装检测缺件，空焊等。对于从事电路板组装生产的业者而言，都希望产品的制程能达到高品质高效率的目标，在产品短、小、轻、薄的必然趋势下，必须将机板布线密度增加，取消测试点，并把电子元件体积缩小，以符合要求。在此大环境的改变下，传统目视检测及ICT的探针检测均将因其不稳定的检测率及较低的覆盖率而越来越不合用。面对短小轻薄而造成的测试困难，发展其他精密的检测技术，以弥补传统方法的不足乃成为当务之急。由于固态照相机分辨率及计算机运算速度的大副提升，以数字影像为基底的视觉系统配合精密的机构定位，及计算机辅助设计的数据库而设计的印刷电路板机板自动光学检测机(AOI System)已逐渐导入电子产业的高速生产线，以快速地测量制程中各类特性，找出不良的问题点。通常此系统皆可取代生产线中的目视检测员，可以一天24小时快速执行测试，不会因为倦怠导致疏漏，并节省人工成本，同时也因此系统拥有统计控管的功能，可将故障统计分析的数据资料提供给制造者参考以达到品质控管的功能，提高产品优良率，进而降低生产成本，及提高生产效率。为适应电路板日新月异的发展，自动光学检测机的检测功能必须非常完整，光学扫描装置的成像功能已是必须具备的条件之一。
结构上，印刷电路板的扫描成像装置一般包括将印刷电路板图案光学地转化为其对应的电子信号图像读出模块，图像读出模块一般包括照明系统、光学系统、图像传感器以及输出电路。该照明系统用于照明被扫描的印刷电路板图案，该光学系统用于将从印刷电路板反射的图像光导向并聚焦到图像传感器，该图像传感器物理地包括多个光电二极管，光电晶体管或电荷耦合器件，这里在后面称之为光电探测器，它们对入射光敏感并产生电子信号，这些信号被称为光电探测器的电荷信号。一般的电荷信号与入射光的强度成正比，而且入射光越亮，则电荷信号越强。该输出电路用于转换并在必要时放大这些电荷信号，使其成为恰当的数字图像格式以便进一步处理。
图像传感器的操作包括两个过程，第一个是光积累过程，第二是信号读出过程，在光积累过程期间，各光电探测器捕获从某个正在进行成像或扫描的印刷电路板所反射的入射光子，并将入射光子的总数转化为相应量的电荷。当光积累过程结束时，遮蔽光电探测器，使其不再捕获其它光子，然后光电探测器即开始信号读出过程，通过读出电路将所述光电探测器单元的电荷信号读出到数据总线上。
然而，传统上的光学扫描成像装置是对印刷电路板逐个拍照，然后与计算机内存储的标准图案数据相比较以便找到缺陷，但是这种方式拍摄的图像模糊且存在重影，因而，需要由更好光学扫描成像装置来检测印刷电路板。
实用新型内容
为了克服上述技术缺陷，本实用新型提供了一种检查印刷电路板的扫描成像装置。
实现本实用新型的技术方案如下
一种检查印刷电路板的扫描成像装置包括光源，光学成像镜头，及与其相连的光学传感器，光学成像镜头位于光学传感器的正下方，光学成像镜头位于所述的光源的正上方，且光学成像镜头的光轴和线阵图像传感器的光轴重合。光学传感器在成像维数上是一个线阵图像传感器，它通过光学成像镜头，从被光源照亮的，与线阵图像传感器相对移动的被扫描印刷电路板的扫描行上依次接受反射光，接受反射光后，线阵图像传感器中生成的信号被累积起来，此信号的产生来源于被扫描印刷电路板扫描行的扫描信号。线阵图像传感器是线阵电荷耦合器件图像传感器、线阵互补型金属氧化物半导体图像传感器或其它光电成像器件的图像传感器之一，较好是线阵电荷耦合器件图像传感器；线阵图像传感器在成像色彩上是黑白的。光源是半导体发光二极管的红色光源或半导体激光二极管的红色光源，波长范围是600nm～800nm。光学成像镜头包括若干个光学透镜，每一个透镜均采用折射率均匀的透明材料。
本实用新型公开的检查印刷电路板的扫描成像装置与现有技术相比，具有如下的突出优点：
1.与传统上的面阵列图像传感器相比，该线性阵列图像传感器可明显地加快图像的扫描处理速度，从而大大地提高了印刷电路板的测试效率。
2.该线性阵列图像传感器对机构的稳定性要求低，因此降低了制造工艺的难度。
3.明显提高了印刷电路板图像的清晰度，减少重影出现的几率。
附图说明：
图1.一种检查印刷电路板的扫描成像装置正视图。
图2.一种检查印刷电路板的扫描成像装置侧视图。
(1)光源 (2)光学成像镜头 (3)光学传感器
(4)印刷电路板
具体实施方式
参见图1和2，一种检查印刷电路板的扫描成像装置，包括光源1，光学成像镜头2，及与其相连的光学传感器3，光学成像镜头2位于光学传感器3的下方，光学成像镜头2位于光源1的上方，光学成像镜头2的光轴和线阵图像传感器的光轴重合，线阵图像传感器在成像色彩上是黑白的。
光源1是LED光源组，它包括至少一对长条形的子光源，该子光源并列排布于一个圆柱面上，并且对称的分布于圆柱面的中轴两侧。
光学成像镜头2包括若干个光学透镜，每一个透镜均采用折射率均匀的透明材料。
光学传感器3是一个线阵图像传感器，且该线阵图像传感器是线阵电荷耦合器件图像传感器。
光学传感器3通过光学成像镜头2，从被光源1照亮的，与线阵图像传感器相对移动的被扫描印刷电路板4的扫描行上依次接受反射光，然后把反射光的光信号转化为电信号，此时图像的电信号进入图像采集卡进行数据处理，又进入电子计算机将图像的电子信号转化为计算机能够处理的图像信号，利用计算机对这些图像进行分析。
尽管本实用新型已作了详细的说明并引证了实施例，但对于本领域的普通技术人员，显然可以按照上述说明而做出各种替代方案、修改和改动，因此，所有这些替代方案、修正和改动，都应该包括在权利要求的精神和范围之内。
Claims (7)
1、一种检查印刷电路板的扫描成像装置，包括光源(1)，光学成像镜头(2)，及与其相连的光学传感器(3)，其特征在于：所述的光学传感器(3)是一个线阵图像传感器，光学成像镜头(2)位于光学传感器(3)的下方，光学成像镜头(2)位于所述的光源(1)的上方。
2、如权利要求1所述的扫描成像装置，其特征在于：所述的光学成像镜头(2)的光轴和线阵图像传感器的光轴重合。
3、如权利要求1所述的扫描成像装置，其特征在于：所述的线阵图像传感器是线阵电荷耦合器件图像传感器、线阵互补型金属氧化物半导体图像传感器或其它光电成像器件的图像传感器之一。
4、如权利要求1所述的扫描成像装置，其特征在于：所述的光源(1)是半导体发光二极管的阵列式光源，波长范围是600nm～800nm。
5、如权利要求1所述的扫描成像装置，其特征在于：所述的光源(1)是半导体激光二极管的阵列式光源，波长范围是600nm～800nm。
6、如权利要求1所述的扫描成像装置，其特征在于：所述的光学成像镜头(2)包括若干个光学透镜，每一个透镜均采用折射率均匀的透明材料。
7、如权利要求1所述的扫描成像装置，其特征在于：所述的线阵图像传感器在成像色彩上是黑白的。
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Cited By (3)
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|---|---|---|---|---|
| CN106468668A (zh) * | 2016-09-28 | 2017-03-01 | 北京凯视佳光电设备有限公司 | 工业相机圆柱检测方法 |
| CN106770368A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-31 | 深圳市研创精密设备有限公司 | 一种应用于电路板检测机的照明机构 |
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN106468668A (zh) * | 2016-09-28 | 2017-03-01 | 北京凯视佳光电设备有限公司 | 工业相机圆柱检测方法 |
| CN106770368A (zh) * | 2016-12-30 | 2017-05-31 | 深圳市研创精密设备有限公司 | 一种应用于电路板检测机的照明机构 |
| CN106770368B (zh) * | 2016-12-30 | 2023-09-01 | 深圳市研创精密设备有限公司 | 一种应用于电路板检测机的照明机构 |
| CN111324007A (zh) * | 2020-03-26 | 2020-06-23 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 掩膜板自动光学检测仪 |
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