JP2000349106A - 表面実装型電子部品 - Google Patents

表面実装型電子部品

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JP2000349106A
JP2000349106A JP11154286A JP15428699A JP2000349106A JP 2000349106 A JP2000349106 A JP 2000349106A JP 11154286 A JP11154286 A JP 11154286A JP 15428699 A JP15428699 A JP 15428699A JP 2000349106 A JP2000349106 A JP 2000349106A
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chip
substrate
accommodation space
light receiving
chip substrate
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JP11154286A
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Hiroshi Yoshida
宏 吉田
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 表面実装型電子部品の小形化を図る。 【解決手段】 チップ基板23には、チップ部品を収容
する収容空間33が厚み方向に貫通して形成される。収
容空間33に臨むチップ基板23の内面である段差面3
6上に露出しているランド28とフォトダイオード素子
21の上面21aの各電極とが、ボンディングワイヤ2
7bによって接続される。収容空間33内の、フォトダ
イオード素子21、ランド28およびボンディングワイ
ヤ27はモールド樹脂29によって封止される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、たとえばフォトダ
イオード素子(略称 PD;Photo Diode)および半導体
集積回路素子(略称 IC;Integrated Circuit)など
のチップ部品を備えた表面実装型電子部品の構造に関
し、特に、携帯用電子機器に用いられるリモコン受信装
置として好適に実施することができる表面実装型電子部
品に関する。
【0002】
【従来の技術】表面実装型電子部品であるリモコン受光
部品を備えたリモコン受信装置は、リモコン送信装置か
ら送信された赤外光信号をフォトダイオード素子(以
下、PDチップと略記する)によって受光して微弱な電
気信号に変換する。得られた微弱な電気信号は、半導体
集積回路素子(以下、ICチップと略記する)内の増幅
回路によって、たとえば数万倍に増幅され、増幅された
電気信号は、フィルタ回路によって特定信号が除去さ
れ、検波回路によって抽出処理が行われ、復調回路によ
って復調される。このように、リモコン受信装置は、受
光した光信号を、前記リモコン送信装置から送信された
情報と同様のデジタル信号として出力することができる
ように構成されている。
【0003】また、10m以上の受信距離を必要とする
リモコン受信装置では、光信号から変換された電気信号
が非常に大きく増幅されるため、同時に不必要なノイズ
も増幅される。増幅された電磁ノイズは、リモコン受信
装置の出力に悪影響を及ぼす。この影響を少なくするた
めに、リモコン受信装置に搭載される受光部品は、金属
から成るシールドケースによって周囲が電磁シールドさ
れている。
【0004】図24は典型的な従来技術の受光部品10
を示す断面図であり、図25は図24の右側から見た断
面図であり、図26は図24および図25に示される受
光部品10の平面図である。図24は図26の切断面線
A1−A1から見た断面を示し、図25は図26の切断
面線A2−A2から見た断面を示す。なお図24〜図2
6は、図解を容易にするため、後述するモールド樹脂9
およびシールドケース12は省略して示されている。リ
モコン受信装置などに用いられる表面実装型電子部品で
ある受光部品10は、予め定める配線層を有するガラス
エポキシ樹脂などから成るチップ基板3の一表面3a上
に、PDチップ1が、電気絶縁性接着剤6によって接着
され、ICチップ2は、Agペーストなどの導電性接着
剤5によって接着される。前記チップ基板3の一表面3
a上に露出しているランド8とPDチップ1およびIC
チップ2との間には、後述するボンディングワイヤ7が
PDチップ1およびICチップ2の上縁辺部に接触する
いわゆるチップエッジタッチを防ぐため、充分な間隔が
設けられている。
【0005】さらに、PDチップ1の上面1aの各電極
とICチップ2の上面2aの各電極とは、ボンディング
ワイヤ7aによって接続される。また、前記チップ基板
3の一表面3a上に露出しているランド8と、PDチッ
プ1の上面1aの各電極とはボンディングワイヤ7bに
よって接続される。また、前記ランド8とICチップ2
の上面2aの各電極とは、ボンディングワイヤ7cによ
って接続される。なお、以降の説明で、各ボンディング
ワイヤ7a,7b,7cを総称するときには、ボンディ
ングワイヤ7と記す。ボンディングワイヤ7は、Auな
どの導電性金属から成る。
【0006】さらに、前記チップ基板3の一表面3a上
には、PDチップ1、ICチップ2、ボンディングワイ
ヤ7およびランド8を囲むように、枠4が載置される。
この枠4は、耐熱性および熱可塑性合成樹脂、たとえば
PBT(ポリブチレンテレフタレート)によって形成さ
れる。
【0007】図27は、図24〜図26に示される受光
部品10が、モールド樹脂9によって封止された状態を
示す断面図であり、図28は図27に示される受光部品
10を上方から見た平面図である。なお、図27は図2
8の切断面線A3−A3から見た断面を示す。前記枠4
の内側の空間には、可視光を遮断し、かつ赤外光を透過
する染料を熱硬化性合成樹脂、たとえばエポキシ樹脂に
混和したモールド樹脂9を充填して、熱硬化させ、PD
チップ1、ICチップ2、ボンディングワイヤ7および
ランド8を封止する。
【0008】図29は、図27および図28に示される
受光部品10に、金属から成るシールドケース12を装
着した状態を示す正面図であり、図30は図29に示さ
れる受光部品10を上方から見た平面図である。前述の
図27および図28に示される受光部品10には、厚み
が0.2mm程度の金属から成るシールドケース12が
装着される。このシールドケース12は、チップ基板3
の図示しない接地配線に接続され、上壁には受光用の開
口11が、前記モールド樹脂9を介してPDチップ1の
上面1aが外部に臨むように形成されている。このよう
にして、この従来の技術では、受光用開口11を介して
赤外光信号をPDチップ1だけによって、受光し、外部
からの電磁ノイズの侵入を低減および防止することがで
きるように構成されている。
【0009】上記の従来技術に類似する他の従来技術
は、実開平4−97361号公報、特開平6−1325
47号公報および特開平10−41550号公報に示さ
れている。
【0010】さらに他の従来の技術は、実開平6−28
83号公報に示されている。この従来の技術の受光部品
は、チップ基板に収容空間が形成され、収容空間に臨む
チップ基板の内面に、PDチップ実装面とICチップ実
装面とが、厚み方向に位置を違えて段差を成して形成さ
れ、PDチップとICチップとが各実装面に実装された
状態で、ICチップおよびPDチップの上面の各電極
と、各チップの実装面上に露出している各ランドとが、
ボンディングワイヤによって接続され、樹脂によって封
止されるように構成されている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】図24〜図30に示す
従来技術では、(a)前記受光部品10は、チップ基板
3の一表面3a上にPDチップ1およびICチップ2が
搭載され、モールド樹脂9によって封止され、0.2m
m程度の厚みの金属から成るシールドケース12によっ
て覆われているため、チップ基板3、モールド樹脂9層
およびシールドケース12の3層が厚み方向に積み重な
ったいわば積重構造を有する。この受光部品10の各層
の厚みは、機能上正常に作動する下限値付近に選ばれる
ため、薄形化を図ることが不可能である。
【0012】また、(b1)PDチップ1の上面1aお
よびICチップ2の上面2aに形成される各電極と、チ
ップ基板3の一表面3a上に露出したランド8との間に
は、PDチップ1およびICチップ2の厚み分程度の段
差があり、前記各電極と、ランド8との間に、厚み方向
に垂直な幅方向の間隔を充分に設けなければ、チップエ
ッジタッチが生じ、ボンディングワイヤ7による正常な
接続ができない。受光部品10では、チップエッジタッ
チを防ぐための充分な幅方向の間隔として、少なくとも
0.6mm以上の間隔を設ける必要がある。さらに、
(b2)受光部品10では、ボンディングワイヤ7の前
記ランド8への接続位置よりも外側に枠4を配置する必
要があり、前記枠4の外側にシールドケース12の側壁
が配置される構造となっている。また(b3)前記枠4
は、製造時のダイシング工程において、枠4とモールド
樹脂9とが剥がれることを防ぐため、0.5mm程度の
充分な内外方向の厚みを設ける必要がある。これらの理
由(b1)〜(b3)のため、受光部品10では、厚み
方向に垂直な一平面上における一方向およびそれに垂直
な他方向の各幅を小さくすることが困難である。したが
って、上記の理由(a),(b1)〜(b3)のため受
光部品10を小形化することは不可能である。このこと
は、実開平4−97361号公報、特開平6−1325
47号公報および特開平10−41550号公報におい
ても同様である。
【0013】また実開平6−2883号公報に示されて
いる他の従来技術では、(c1)受光部品は、チップ基
板に収容空間が形成され、収容空間内にPDチップおよ
びICチップが収容されるが、ICチップが収容されて
いる下部収容空間に、ICチップが実装されるための底
部チップ基板が存在するため、上記の図24〜図30の
従来技術の問題(a)と同様な問題を有し、薄形化を図
ることが不可能である。さらに(c2)この受光部品で
は、ICチップが実装される下部実装面の上方に段差を
成して、PDチップが実装されるチップ基板の上部実装
面が形成されるので、図24〜図30、実開平4ー97
361号公報、特開平6ー132547号公報および特
開平10ー41550号公報に示される従来技術の受光
部品に比べて、段差の分だけ厚みが大きくなってしま
う。
【0014】また、(c3)実開平6−2883号公報
に示されている従来技術の受光部品では、PDチップの
上面およびICチップの上面の各電極と、各実装面上に
露出しているランドとの間には、チップ部品の厚み分の
段差があるため上記の図24〜図30の従来技術の問題
(b1)と同様の問題を有し、厚み方向に垂直な一平面
上における一方向及びそれに垂直な他方向の各幅を小さ
くすることが困難である。これらの理由(c1)〜(c
3)のため、実開平6−2883号公報に示されている
受光部品では、幅方向および厚み方向に小形化を図るこ
とは不可能である。
【0015】本発明の目的は、上記の問題(a),(b
1)〜(b3),(c1)〜(c3)を解決し、小形化
することができる表面実装型電子部品を提供することで
ある。
【0016】
【課題を解決するための手段】第1の発明は、予め定め
る配線層を有するチップ基板に、上面に電極が設けられ
るチップ部品を収容する収容空間が厚み方向に貫通して
形成されるとともに、この収容空間に臨むチップ基板の
内周部に、前記チップ部品の電極がボンディングワイヤ
によって接続されるランドが形成され、チップ基板の前
記収容空間内に、チップ部品を収容して、そのチップ部
品の電極と前記ランドとがボンディングワイヤによって
接続された状態で、前記収容空間がモールド樹脂によっ
て封止されることを特徴とする表面実装型電子部品であ
る。
【0017】本発明に従えば、表面実装型電子部品は、
前記チップ基板に、厚み方向に貫通する収容空間が形成
され、収容空間内にチップ部品が収容され、モールド樹
脂によって封止される。このような構成では、前述の図
24〜図30、実開平4ー97361号公報、特開平6
ー132547号公報、特開平10ー41550号公報
および実開平6ー2883号公報に示される各従来技術
に関連して述べたように、チップ基板とモールド樹脂層
との2層構造とすることなく、チップ部品を収容空間内
にモールド樹脂によって保持することができる。これに
よって、表面実装型電子部品を薄形化することができ
る。
【0018】また、幅方向に関しては、図24〜図3
0、実開平4ー97361号公報、特開平6ー1325
47号公報、特開平10ー41550号公報に示される
各従来技術の表面実装型電子部品では、モールド樹脂を
囲む枠は、モールド樹脂と枠とが剥がれることを防ぐた
め、内外方向に充分な厚みを設ける必要がある。しか
し、たとえばチップ基板として硬質のガラスエポキシ基
板を用いた場合、このチップ基板は従来技術の合成樹脂
から成る枠に比べてダイシング工程における歪みが小さ
いため、モールド樹脂とチップ基板とが剥がれにくく、
チップ基板の内外方向の幅は小さくすることができる。
このため、表面実装型電子部品を幅方向に小形化するこ
とができる。
【0019】第2の発明は、第1の発明の構成におい
て、前記収容空間は、前記チップ部品が収容される下部
収容空間と、下部収容空間に連通する上部収容空間とか
ら成り、前記チップ基板には、前記上部収容空間に臨む
段差面が形成され、この段差面には前記ランドが形成さ
れることを特徴とする。
【0020】本発明に従えば、前記ランドをチップ基板
の上部収容空間に臨む段差面に形成することによって、
チップ部品の上面の電極とランドとは厚み方向に近接し
て配置され、ボンディングワイヤを短くすることがで
き、ランドとチップ部品の電極との幅方向の間隔を小さ
くしても、チップエッジタッチを防ぐことができる。こ
れによって、表面実装型電子部品を、幅方向に小形化す
ることができる。
【0021】第3の発明は、第2の発明の構成におい
て、前記チップ基板は、内部に配線層を有する多層基板
または、表面に配線層を有する複数の基板を貼り合わせ
た積重基板から成ることを特徴とする。
【0022】本発明に従えば、前記チップ基板として内
部に配線層を有する多層基板を用いる場合には、内部配
線層が形成されているため、その多層基板の前記配線層
を有する下部層に、チップ部品が収容される下部収容空
間を形成し、前記配線層の上面に接する上部層に下部収
容空間よりも幅方向に大きい上部収容空間を形成するこ
とによって、ランドが上部収容空間に臨んで露出するチ
ップ基板を得ることができる。またチップ基板として、
表面に配線層が形成された複数の基板を用いる場合に
は、各基板に幅方向に大きさの異なる貫通孔を個別に形
成し、この貫通孔が形成された各基板を相互に貼り合わ
せることによって、ランドが上部収容空間に臨んで露出
するチップ基板を得ることができる。
【0023】第4の発明は、第3の発明の構成におい
て、前記多層基板の内部の配線層または積重基板の対向
表面の配線層には、チップ部品に関連する回路配線パタ
ーンが形成されることを特徴とする。
【0024】本発明に従えば、内部の配線層または積重
基板の対向表面の配線層に、チップ部品に関連する回路
パターンを形成することによって、チップ基板の表面に
形成される回路配線数を低減することができ、回路配線
パターンへの外部からの電磁ノイズの侵入を低減および
防止することができる。また、チップ基板の表面に回路
配線を形成するだけでなく、内部に回路配線を形成する
ことによって、チップ基板の外観形状を大形化すること
なしに、あるいは小形化して、チップ基板全体として高
密度化を図ることが容易となる。
【0025】第5の発明は、第1〜第4の発明のいずれ
かの構成において、前記チップ基板の下方表面には、少
なくとも前記収容空間を塞ぐようにして耐熱性シートが
貼着されることを特徴とする。
【0026】本発明に従えば、前記耐熱性シートが収容
空間を塞ぐことによって、熱硬化前のモールド樹脂が収
容空間から漏れることを防ぐことが可能となる。ボンデ
ィングワイヤ接続時には、250〜300℃程度に加熱
したヒーターブロックの上にチップ基板を置いて固定す
るため、ヒーターブロックによってシートは加熱され
る。加熱によるシートの変形を防ぐために、耐熱性シー
トが選ばれる。
【0027】第6の発明は、第5の発明の構成におい
て、前記耐熱性シートは、導電性を有することを特徴と
する。
【0028】本発明に従えば、表面実装型電子部品は、
耐熱性シートが導電性を有することによって、使用時に
おいて外部からチップ部品およびボンディングワイヤな
どに電磁ノイズが侵入することを低減または防止するこ
とができ、耐電磁ノイズ性を向上することができる。
【0029】第7の発明は、第5または第6の発明の構
成において、前記耐熱性シートには、チップ基板の収容
空間に収容されるチップ部品が搭載されることを特徴と
する。
【0030】本発明に従えば、チップ部品が、耐熱性シ
ート上に搭載されることによって、モールド樹脂によっ
て保持されるまで、チップ部品を収容空間内において位
置決めして固定することができ、チップ部品が変位して
しまうおそれがなく、製造上の利便性を向上することが
できる。
【0031】第8の発明は、第5〜第7の発明のいずれ
かの構成において、前記耐熱性シートは、チップ基板の
下方表面に剥離可能に貼着されることを特徴とする。
【0032】本発明に従えば、表面実装型電子部品は、
耐熱性シートが剥離可能に貼着されることによって、表
面実装型電子部品の使用目的に応じて、剥離するかしな
いかを選択でき、耐熱性シートを剥離した場合、使用時
における機能を損ねることなく、表面実装型電子部品の
厚みを耐熱性シートの厚み分だけ少なくして薄形化する
ことができる。
【0033】第9の発明は、第5〜第8の発明のいずれ
かの構成において、前記チップ基板の上方表面には、導
電性シートが貼着されることを特徴とする。
【0034】本発明に従えば、表面実装型電子部品は、
上方表面に導電性シートが貼着されることによって、使
用時において、外部からモールド樹脂を介してチップ部
品に電磁ノイズが侵入することを低減または防止するこ
とができ、耐電磁ノイズ性を向上することができる。
【0035】
【発明の実施の形態】図1は本発明の実施の一形態の受
光部品20の内部構造を示す断面図であり、図2は図1
の右側から見た断面図であり、図3は図1および図2に
示される受光部品20の内部構造を示す平面図である。
図1は図3の切断面線B1−B1から見た断面を示し、
図2は図3の切断面線B2−B2から見た断面を示す。
表面実装型電子部品である受光部品20は、予め定める
配線層を有するチップ基板23に収容空間33が厚み方
向に貫通して形成され、この収容空間33を外囲するチ
ップ基板23の内周部には後述するランド28が形成さ
れる。また収容空間33内には、チップ部品であるフォ
トダイオード素子(以下、PDチップと略記する)21
および集積回路素子(以下、ICチップと略記する)2
2が収容される。
【0036】前記チップ基板23は、上部層25および
下部層26から成る。前記上部層25には上部収容空間
33aが設けられ、前記下部層26には上部収容空間3
3aに連通する下部収容空間33bが設けられている。
これらの上部収容空間33aおよび下部収容空間33b
は前記収容空間33を構成する。上部収容空間33a
は、下部収容空間33bよりも、チップ基板23の厚み
方向に垂直な幅方向(図1および図3の左右方向)に大
きく形成され、これによって、前記下部層26の上部層
25に対向する上面26aの一部が上部収容空間33a
に臨み、チップ基板23に段差面36が形成される。
【0037】また、前記下部層26の上面26aには、
Cuなどから成る導体パターン34が形成される。導体
パターン34の前記段差面36上の部分が、ランド28
として用いられる。チップ基板23の上方表面23bお
よび下方表面23aには、Cuなどから成る導体パター
ン37が形成される。チップ基板23には、複数のスル
ーホール30が、収容空間33の厚み方向に垂直な幅方
向(図1および図3の左右方向)両側に形成され、各ス
ルーホール30は、前記下部層26の上面26aに形成
される導体パターン34、ならびにチップ基板23の上
方表面23bおよび下方表面23aに形成される導体パ
ターン37に接続される。本実施の形態ではチップ基板
23は、内部に配線層を有する多層基板に前記収容空間
33を形成したものが用いられるが、本発明の実施の他
の形態ではチップ基板23は、表面に配線層を有する複
数の基板に大きさの異なる貫通孔を個別に形成し、この
貫通孔が形成された各基板を相互に貼り合わせることに
よって形成されてもよい。
【0038】前記収容空間33内において、PDチップ
21の上面21aの各電極とICチップ22の上面22
aの各電極とは、ボンディングワイヤ27aによって接
続される。また、前記ランド28と、PDチップ21の
上面21aの各電極とは、ボンディングワイヤ27bに
よって接続される。また、前記ランド28と、ICチッ
プ22の上面22aの各電極とは、ボンディングワイヤ
27cによって接続される。なお以降の説明で、各ボン
ディングワイヤ27a〜27cを総称するときには、添
字a,b,cを省略してボンディングワイヤ27と記
す。ボンディングワイヤ27はAuなどの導電性金属か
ら成る。
【0039】前記収容空間33には、可視光を遮断し、
かつ赤外光を透過する染料を熱硬化性合成樹脂、たとえ
ばエポキシ樹脂などに混和したモールド樹脂29が充填
され、PDチップ21、ICチップ22、ボンディング
ワイヤ27およびランド28がモールド樹脂29によっ
て封止される。また、仮想線で示す耐熱性シート24の
一表面24aには、チップ基板23の下方表面23a
が、前記収容空間33を塞ぐように貼着される。PDチ
ップ21およびICチップ22は、耐熱性シート24の
一表面24aの収容空間33に臨む部分に搭載される。
なお、耐熱性シート24は、製造工程途中で剥離され、
完成時には存在しないため、図1〜図3では仮想線によ
って示される。
【0040】図4は、複数の受光部品20によって構成
される受光部品結合体35を示す斜視図である。各受光
部品20は、高い生産効率で製造するため、受光部品結
合体35として示すように、複数の受光部品20が一体
化された状態が製造途中の工程で存在し、この受光部品
結合体35は後述のダイシング工程で分割および分離さ
れ、個別の受光部品20として製造される。なお、前述
の図1〜図3に示される受光部品20は、図4に示され
る電子部品結合体35の一部分を拡大して示したもので
ある。次に、前記耐熱性シート24について説明する。
【0041】図5は、耐熱性シート24の斜視図であ
る。ボンディングワイヤ27が形成されるワイヤボンド
工程において、250〜300℃程度の温度に加熱した
ヒーターブロックの上に耐熱性シート24を介してチッ
プ基板23を置いて固定するため、ヒーターブロックか
ら耐熱性シート24は加熱される。加熱によるシートの
変形を防ぐため、耐熱性シート24は、たとえばポリイ
ミドなどの耐熱性合成樹脂から成る。この耐熱性シート
の厚みは0.1mm程度に選ばれ、一表面24aには粘
着剤が塗布されている。本実施の形態では、前記粘着剤
は紫外光によって粘着力が低下する材料、たとえばアク
リル系ポリマーなどから成る。次に、前記チップ基板2
3について説明する。
【0042】図6は、スルーホール30および収容空間
33が形成されたチップ基板23の斜視図である。前記
チップ基板23は、たとえばガラスエポキシ樹脂、また
はBT樹脂などの耐熱性合成樹脂から成る硬質基板であ
る。前記チップ基板23には、各受光部品20毎に対応
して各収容空間33が形成され、電極用の各スルーホー
ル30が各収容空間33の両側に形成される。
【0043】図7は図6に示されるチップ基板23を上
方から見た平面図であり、図8は図7の切断面線B3−
B3から見た断面図であり、図9は図7の切断面線B4
−B4から見た断面図である。なお、図7〜図9に示さ
れるチップ基板23は、図6に示されるチップ基板23
の一部分を拡大して示したものである。前記チップ基板
23には、スルーホール30の他に、下部層26を貫通
するブラインドバイアホール38が収容空間33の両側
に形成される。前記スルーホール30、ブラインドバイ
アホール38および前記ランド28には、Auなどによ
ってめっき加工が施される。
【0044】図10は、スルーホール30形成前の下部
層26を、上方から見た平面図である。図11は図10
の切断面線B5−B5から見た断面図であり、図12は
図10の切断面線B6−B6から見た断面図である。下
部層26の厚みは、PDチップ21およびICチップ2
2の厚みとほぼ同じ、0.25〜0.4mm程度の厚み
である。また下部層26には、スルーホール30用の透
孔30bおよびブラインドバイアホール38用の透孔3
8aが、下部収容空間33bの両側に形成される。
【0045】図13はスルーホール30形成前の前記上
部層25を上方から見た平面図であり、図14は図13
の切断面線B7−B7から見た断面図であり、図15は
図13の切断面線B8−B8から見た断面図である。上
部層26には、スルーホール30用の透孔30aが上部
収容空間33aの両側に形成される。次に、上記の受光
部品20の製造手順について述べる。
【0046】図1〜図4に示すように、図5に示される
耐熱性シート24の一表面24aに、チップ基板23の
下方表面23aを、収容空間33が塞がれるように、貼
り着け、PDチップ21およびICチップ22を、耐熱
性シート24の一表面24aの収容空間33に臨む部分
に搭載する。こうすることによって、耐熱性シート24
の一表面24a上に、チップ基板23、PDチップ21
およびICチップ22を位置決めして、固定することが
できる。
【0047】その後、PDチップ21の上面21aの各
電極と、ICチップ22の上面22aの各電極とがボン
ディングワイヤ27aによって接続される。また前記ラ
ンド28とPDチップ21の上面21aの各電極とが、
ボンディングワイヤ27bによって接続される。また前
記ランド28と、ICチップ22の上面22aの各電極
とがボンディングワイヤ27cによって接続される。
【0048】前記ワイヤボンド工程終了後の収容空間3
3内に、モールド樹脂29を充填し、熱硬化させ、PD
チップ21、ICチップ22、ボンディングワイヤ27
およびランド28を封止する。モールド樹脂29の注入
は、トランスファーモールド方式または注型方式などに
よって行われる。
【0049】次に、モールド樹脂29によって封止され
た前記受光部品20に紫外光を照射し、耐熱性シート2
4に塗布された粘着剤の粘着力を低下させ、耐熱性シー
ト24を剥がす。受光部品20は、耐熱性シート24を
剥がすことによって、耐熱性シート24の厚み分薄形化
できる。また耐熱性シート24を剥がしても、受光部品
20は、チップ基板23、PDチップ21、ICチップ
22およびボンディングワイヤ27が、モールド樹脂2
9によって封止および固定されており、使用時における
機能を損ねることはない。本実施の形態では、耐熱性シ
ート24は剥がされるが、貼着した状態のままでもよ
い。また耐熱性シートとして、導電性材料から成る耐熱
性シートを用い、貼着したままにすれば、受光部品の使
用時における耐電磁ノイズ性が向上する。
【0050】図16は、図4に示される電子部品結合体
35にシールドシート32が装着された状態の斜視図で
ある。図16に示すように各受光部品20には、チップ
基板23の上方表面23bに、シールドシート32の一
表面32aが貼着される。シールドシート32は、一表
面32aに導電性接着剤が付着しており、CuまたはA
lなどの金属から成り、厚さ0.02〜0.1mm程度
に選ばれ、チップ基板23の図示しない接地配線に接続
される。
【0051】図17は受光部品20の完成品を上方から
見た平面図であり、図18は図17を切断面線B9−B
9から見た断面図であり、図19は図17を右側から見
た側面図である。前記シールドシート32は、受光用開
口31が形成され、モールド樹脂29を介してPDチッ
プ21の上面21aが外部に臨むよう配置される。この
ように、受光部品20は、受光用開口31を介して赤外
光信号をPDチップ21だけによって受光し、外部から
の電磁ノイズがモールド樹脂29を介して侵入すること
を低減および防止することができるように構成されてい
る。また、本発明の他の実施の形態において、電磁ノイ
ズの侵入を防ぐ必要がない表面実装型電子部品である場
合には、シールドシートは貼着しなくてもよい。
【0052】図17および図18に示される受光部品2
0は、ダイシングよって、図16に示す受光部品結合体
35を、前記スルーホール30およびブラインドバイア
ホール38を通るラインで、分割および分離することに
よって製造され、特性検査および外観検査などが行われ
る。図17および図18に示される受光部品20は、そ
の厚みが0.9mm程度以下まで薄形化でき、側面には
電極用のスルーホール30およびブラインドバイアホー
ル38の切断面が露出している。このようにして製造さ
れる受光部品20は、たとえば、携帯用電子機器に搭載
されるリモコン受光部品、あるいは携帯端末に搭載され
る赤外線情報通信用受光部品として好適に実施すること
ができる。
【0053】図20は、本発明の実施の他の形態の受光
部品41の断面図である。図21は、受光部品41を上
方から見た平面図であり、図20は図21の切断面線C
−Cから見た断面を示している。図20および図21に
示す受光部品37は、図17および図18に示す受光部
品20において、モールド樹脂29には、受光用開口3
1によって外部に露出する部分に略半球状のレンズ部2
9aが形成される。これにより、受光部品41では、レ
ンズ部29aを透過した光を、前記PDチップ21の上
面21aに集光して受光するので、受光範囲を大きくす
ることができる。
【0054】図22は、本発明の実施のさらに他の形態
の受光部品42の断面図である。図23は、受光部品4
2を上方から見た平面図であり、図22は図23の切断
面線D−Dから見た断面を示している。図23および図
24に示す受光部品42は、図20および図21に示し
た受光部品37における耐熱性シート24の代わりに、
Cuなどから成る導体パターンを含む、導電性のある耐
熱性シート40を用い、耐熱性シート40を剥がす工程
を省略したものである。これによって、受光部品42で
は使用時における外部からの電磁ノイズの侵入を低減お
よび防止することができ、耐電磁ノイズ性がさらに向上
する。
【0055】請求項1〜9の各本発明は、上記の図1〜
図23に示される実施の各形態である受光部品20,4
1,42と関連して実施されるだけでなく、その他の表
面実装型電子部品に対して、広く実施することができ
る。
【0056】
【発明の効果】以上のように第1の発明によれば、表面
実装型電子部品は、前記チップ基板に、厚み方向に貫通
する収容空間が形成され、収容空間内にチップ部品が収
容され、モールド樹脂によって封止される。このような
構成では、各従来技術に関連して述べたように、チップ
基板とモールド樹脂層との2層構造とすることなく、チ
ップ部品を収容空間内にモールド樹脂によって保持する
ことができる。これによって、表面実装型電子部品を薄
形化することができる。
【0057】また、幅方向に関しては、たとえばチップ
基板として硬質のガラスエポキシ基板を用いた場合、こ
のチップ基板は従来技術の合成樹脂から成る枠に比べて
ダイシング工程における歪みが小さいため、モールド樹
脂とチップ基板とが剥がれにくく、チップ基板の内外方
向の幅は小さくすることができる。このため、表面実装
型電子部品を幅方向に小形化することができる。
【0058】第2の発明によれば、前記ランドをチップ
基板の上部収容空間に臨む段差面に形成することによっ
て、チップ部品の上面の電極とランドとは厚み方向に近
接して配置され、ボンディングワイヤを短くすることが
でき、ランドとチップ部品の電極との幅方向の間隔を小
さくしても、チップエッジタッチを防ぐことができる。
これによって、表面実装型電子部品を、幅方向に小形化
することができる。
【0059】第3の発明によれば、前記チップ基板とし
て内部に配線層を有する多層基板を用いる場合には、そ
の多層基板の前記配線層を有する下部層に、下部収容空
間を形成し、上部層に下部収容空間よりも幅方向に大き
い上部収容空間を形成することによって、チップ基板を
得ることができる。またチップ基板として、表面に配線
層が形成された複数の基板を用いる場合には、各基板に
幅方向に大きさの異なる貫通孔を個別に形成し、この貫
通孔が形成された各基板を相互に貼り合わせることによ
って、チップ基板を得ることができる。
【0060】第4の発明によれば、内部の配線層または
積重基板の対向表面の配線層に、チップ部品に関連する
回路パターンを形成することによって、チップ基板の表
面に形成される回路配線数を低減することができ、回路
配線パターンへの外部からの電磁ノイズの侵入を低減お
よび防止することができる。また、チップ基板の外観形
状を大形化することなしに、あるいは小形化して、チッ
プ基板全体として高密度化を図ることが容易となる。
【0061】第5の発明によれば、前記耐熱性シートが
収容空間を塞ぐことによって、熱硬化前のモールド樹脂
が収容空間から漏れることを防ぐことが可能となる。ボ
ンディングワイヤ接続時には、250〜300℃程度に
加熱したヒーターブロックの上にチップ基板を置いて固
定するため、ヒーターブロックによってシートは加熱さ
れる。加熱によるシートの変形を防ぐために、耐熱性シ
ートが選ばれる。
【0062】第6の発明によれば、表面実装型電子部品
は、耐熱性シートが導電性を有することによって、使用
時において外部からチップ部品およびボンディングワイ
ヤなどに電磁ノイズが侵入することを低減または防止す
ることができ、耐電磁ノイズ性を向上することができ
る。
【0063】第7の発明によれば、チップ部品が、耐熱
性シート上に搭載されることによって、モールド樹脂に
よって保持されるまで、チップ部品を収容空間内におい
て位置決めして固定することができ、チップ部品が変位
してしまうおそれがなく、製造上の利便性を向上するこ
とができる。
【0064】第8の発明によれば、表面実装型電子部品
は、耐熱性シートが剥離可能に貼着されることによっ
て、表面実装型電子部品の使用目的に応じて、剥離する
かしないかを選択でき、耐熱性シートを剥離した場合、
使用時における機能を損ねることなく、表面実装型電子
部品の厚みを耐熱性シートの厚み分だけ少なくして薄形
化することができる。
【0065】第9の発明によれば、表面実装型電子部品
は、上方表面に導電性シートが貼着されることによっ
て、使用時において、外部からモールド樹脂を介してチ
ップ部品に電磁ノイズが侵入することを低減または防止
することができ、耐電磁ノイズ性を向上することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施の一形態の受光部品20の内部構
造を示す断面図である。
【図2】図1の右側から見た断面図である。
【図3】図1および図2に示される受光部品20の内部
構造を示す平面図である。
【図4】複数の受光部品20によって構成される受光部
品結合体35を示す斜視図である。
【図5】耐熱性シート24の斜視図である。
【図6】スルーホール30および収容空間33が形成さ
れたチップ基板23の斜視図である。
【図7】図6に示されるチップ基板23の一部を拡大し
て上方から見た平面図である。
【図8】図7の切断面線B3−B3から見た断面図であ
る。
【図9】図7の切断面線B4−B4から見た断面図であ
る。
【図10】スルーホール形成前の下部層26を上方から
見た平面図である。
【図11】図10の切断面線B5−B5から見た断面図
である。
【図12】図10の切断面線B6−B6から見た断面図
である。
【図13】スルーホール形成前の上部層25を上方から
見た平面図である。
【図14】図13の切断面線B7−B7から見た断面図
である。
【図15】図13の切断面線B8−B8から見た断面図
である。
【図16】図4に示される受光部品結合体35にシール
ドシート32が装着された状態の斜視図である。
【図17】受光部品20の完成品を上方から見た平面図
である。
【図18】図17を切断面線B9−B9から見た断面図
である。
【図19】図17を右側から見た側面図である。
【図20】本発明の実施の他の形態の受光部品41の断
面図である。
【図21】受光部品41の上方から見た平面図である。
【図22】本発明の実施のさらに他の形態の受光部品4
2の断面図である。
【図23】受光部品42の上方から見た平面図である。
【図24】典型的な従来の技術の受光部品10を示す断
面図である。
【図25】図24の右側から見た断面図である。
【図26】図24および図25に示される受光部品10
の平面図である。
【図27】図24〜図26に示される受光部品10がモ
ールド樹脂9によって封止された状態を示す断面図であ
る。
【図28】図27に示される受光部品10を上方から見
た平面図である。
【図29】図27および図28に示される受光部品10
に金属から成るシールドケース12を装着した状態を示
す正面図である。
【図30】図29の上方から見た受光部品の平面図であ
る。
【符号の説明】
20,41,42 受光部品 21 PDチップ 21a PDチップの上面 22 ICチップ 22a ICチップの上面 23 チップ基板 23a チップ基板の下方表面 23b チップ基板の上方表面 24 耐熱性シート 25 上部層 26 下部層 27 ボンディングワイヤ 28 ランド 29 モールド樹脂 30 スルーホール 31 受光用開口 32 シールドシート 33 収容空間 33a 上部収容空間 33b 下部収容空間 34,37 導体パターン 35 受光部品結合体 36 段差面 38 ブラインドバイアホール 40 導電性の耐熱性シート

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 予め定める配線層を有するチップ基板
    に、上面に電極が設けられるチップ部品を収容する収容
    空間が厚み方向に貫通して形成されるとともに、この収
    容空間に臨むチップ基板の内周部に、前記チップ部品の
    電極がボンディングワイヤによって接続されるランドが
    形成され、 チップ基板の前記収容空間内に、チップ部品を収容し
    て、そのチップ部品の電極と前記ランドとがボンディン
    グワイヤによって接続された状態で、前記収容空間がモ
    ールド樹脂によって封止されることを特徴とする表面実
    装型電子部品。
  2. 【請求項2】 前記収容空間は、前記チップ部品が収容
    される下部収容空間と、下部収容空間に連通する上部収
    容空間とから成り、 前記チップ基板には、前記上部収容空間に臨む段差面が
    形成され、この段差面には前記ランドが形成されること
    を特徴とする請求項1記載の表面実装型電子部品。
  3. 【請求項3】 前記チップ基板は、内部に配線層を有す
    る多層基板または、表面に配線層を有する複数の基板を
    貼り合わせた積重基板から成ることを特徴とする請求項
    2記載の表面実装型電子部品。
  4. 【請求項4】 前記多層基板の内部の配線層または積重
    基板の対向表面の配線層には、チップ部品に関連する回
    路配線パターンが形成されることを特徴とする請求項3
    記載の表面実装型電子部品。
  5. 【請求項5】 前記チップ基板の下方表面には、少なく
    とも前記収容空間を塞ぐようにして耐熱性シートが貼着
    されることを特徴とする請求項1〜4のいずれかに記載
    の表面実装型電子部品。
  6. 【請求項6】 前記耐熱性シートは、導電性を有するこ
    とを特徴とする請求項5記載の表面実装型電子部品。
  7. 【請求項7】 前記耐熱性シートには、チップ基板の収
    容空間に収容されるチップ部品が搭載されることを特徴
    とする請求項5または6に記載の表面実装型電子部品。
  8. 【請求項8】 前記耐熱性シートは、チップ基板の下方
    表面に剥離可能に貼着されることを特徴とする請求項5
    〜7のいずれかに記載の表面実装型電子部品。
  9. 【請求項9】 前記チップ基板の上方表面には、導電性
    シートが貼着されることを特徴とする請求項5〜8のい
    ずれかに記載の表面実装型電子部品。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6807034B2 (en) 2001-06-19 2004-10-19 Alps Electric Co., Ltd. Dual spin-valve CCP type thin-film magnetic element with multi free layers

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