JP2000347020A - Production of color filter and exposure device - Google Patents

Production of color filter and exposure device

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JP2000347020A
JP2000347020A JP11159201A JP15920199A JP2000347020A JP 2000347020 A JP2000347020 A JP 2000347020A JP 11159201 A JP11159201 A JP 11159201A JP 15920199 A JP15920199 A JP 15920199A JP 2000347020 A JP2000347020 A JP 2000347020A
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JP
Japan
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photomask
exposure
shielding plate
substrate
light
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Japanese (ja)
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Seitaro Tsutsumi
成太郎 堤
Keizo Ishikawa
桂三 石川
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Dai Nippon Printing Co Ltd
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Publication date
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  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Optical Filters (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To produce a color filter having a large area with a uniform opening rate and to improve the display quality by arranging a region to be exposed to light twice in the connecting part of patterns. SOLUTION: A light shielding plate 6 is disposed at a specified position of a photomask 2. A photosensitive layer on a substrate S is first exposed to light from an exposing part through the photomask 2. Then the light shielding plate 6 is shifted to the photomask 2 and the light shielding plate 6 is disposed at a specified position of the photomask by aligning a positioning mark 5b formed in the outer frame 4 of the photomask 2 and the positioning mark 7 of the light-shielding plate 6 by a position detecting device. The light shielding plate 6 is accurately stopped at the position where the part exposed in the first exposure process is partly again exposed in the second exposure process through the opening positioned in the connecting part 3B for exposure of the photomask 2 and that a specified exposure width can be obtained. In this state, the photosensitive layer on the substrate S is subjected to the second exposure.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明はカラーフィルタの製
造方法と露光装置に係り、特に大面積のカラー液晶表示
装置に用いるカラーフィルタの製造方法とこの製造方法
に使用できる露光装置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method of manufacturing a color filter and an exposure apparatus, and more particularly to a method of manufacturing a color filter used in a large-area color liquid crystal display device and an exposure apparatus which can be used in this method.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来より、フラットディスプレイとして
モノクロあるいはカラーの液晶表示装置(LCD)が使
用されている。カラーの液晶表示装置には、3原色の制
御を行うためにアクティブマトリックス方式および単純
マトリックス方式とがあり、いずれの方式においてもカ
ラーフィルタが用いられている。そして、液晶表示装置
は、構成画素を3原色(R,G,B)からなるものと
し、液晶の電気的スイッチングにより3原色の各光の透
過を制御してカラー表示が行われる。
2. Description of the Related Art Conventionally, a monochrome or color liquid crystal display (LCD) has been used as a flat display. Color liquid crystal display devices include an active matrix system and a simple matrix system for controlling three primary colors, and a color filter is used in any of the systems. In the liquid crystal display device, the constituent pixels are composed of the three primary colors (R, G, B), and color display is performed by controlling the transmission of each light of the three primary colors by electrical switching of the liquid crystal.

【0003】このカラーフィルタは、例えば、ガラス基
板上に所定のパターンで配列したR,G,Bの3原色の
着色層、各着色層の境界部分に位置するブラックマトリ
ックスを備えている。上記の着色層は、染色基材をガラ
ス基板上に塗布し、フォトマスクを介して露光・現像し
て形成したパターンを染色する染色法、感光性レジスト
内に予め着色顔料を分散させておき、フォトマスクを介
して露光・現像する顔料分散法、印刷インキで各色を印
刷する印刷法、および、ガラス基板上にパターンニング
された透明電極を使用して電着により形成する電着法等
により形成することができる。また、ブラックマトリッ
クスの形成方法としては、パターニングされた感光性樹
脂を用いて金属薄膜をエッチングする方法、パターニン
グされた感光性樹脂を用いて遮光性粒子を含有する樹脂
層をエッチングする方法、遮光性粒子を含有させた感光
性樹脂層を形成し、この感光性樹脂層をパターニングし
て形成する方法等がある。
The color filter includes, for example, three primary color layers of R, G, and B arranged in a predetermined pattern on a glass substrate, and a black matrix located at a boundary between the colored layers. The coloring layer, a dyeing substrate is coated on a glass substrate, a dyeing method for dyeing a pattern formed by exposing and developing via a photomask, a coloring pigment is dispersed in a photosensitive resist in advance, Formed by a pigment dispersion method that exposes and develops through a photomask, a printing method that prints each color with a printing ink, and an electrodeposition method that forms by electrodeposition using a transparent electrode patterned on a glass substrate can do. In addition, as a method of forming a black matrix, a method of etching a metal thin film using a patterned photosensitive resin, a method of etching a resin layer containing light-shielding particles using a patterned photosensitive resin, a method of shielding light, There is a method in which a photosensitive resin layer containing particles is formed, and the photosensitive resin layer is formed by patterning.

【0004】一方、近年の表示画面の大型化の要請か
ら、カラーフィルタの製造において使用される基板はよ
り大きな面積の基板へと移行している。しかし、基板の
大面積化にともない、製造工程で使用するフォトマスク
や露光装置の大型化も必要となり、表示画面の大型化に
対応するための基板の大面積化には限界が見え始めてい
る。
[0004] On the other hand, due to the recent demand for a large display screen, substrates used in the manufacture of color filters have shifted to substrates having larger areas. However, as the area of the substrate increases, the size of a photomask and an exposure apparatus used in the manufacturing process also need to be increased, and the limit of the area of the substrate to respond to the increase in the size of the display screen is beginning to be seen.

【0005】このような問題を解決するために、基板の
面積に対応した大型のフォトマスクや露光装置を使用し
てカラーフィルタを製造する従来の方式から、基板の面
積よりも小さいフォトマスクや露光装置を使用し基板上
にブラックマトリックスや着色層のパターンをつなぎ合
わせるように形成して大面積のカラーフィルタを製造す
る方式が検討され始めている。
In order to solve such a problem, a conventional method of manufacturing a color filter using a large-sized photomask or an exposure apparatus corresponding to the area of the substrate has been changed from a conventional method of manufacturing a photomask or an exposure apparatus having a smaller area than the substrate. A method of manufacturing a large-area color filter by forming a pattern of a black matrix or a colored layer on a substrate by using an apparatus and joining them together has been studied.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】図8は上記のようなカ
ラーフィルタの一例を示す部分平面図である。図8に示
される例では、カラーフィルタ101は、基板上にR,
G,Bの3原色からなる着色層105を所定のパターン
で繰り返し配列し、各着色層の境界部分にブラックマト
リックス103(斜線部分)を備えている。そして、1
か所のブラックマトリックス103aにつなぎ合わせ部
J(鎖線で示す)を設定して、ブラックマトリックスや
着色層のパターンを上記つなぎ合わせ部Jでつなぎ合わ
せるようにして基板上に形成したカラーフィルタ101
A、101Bとで、カラーフィルタ101が構成されて
いる。
FIG. 8 is a partial plan view showing an example of such a color filter. In the example shown in FIG. 8, the color filter 101 has R, R on the substrate.
The coloring layers 105 of the three primary colors G and B are repeatedly arranged in a predetermined pattern, and a black matrix 103 (hatched portion) is provided at the boundary between the coloring layers. And 1
A color filter 101 formed on a substrate by setting a connecting portion J (indicated by a dashed line) in the black matrix 103a at a location and connecting the patterns of the black matrix and the colored layer at the connecting portion J.
A and 101B constitute a color filter 101.

【0007】上記のカラーフィルタ101におけるブラ
ックマトリックス103の形成は、まず、基板よりも小
面積のフォトマスクを用いて、カラーフィルタ101A
領域に相当するブラックマトリックス103Aを形成す
るための露光を基板上の感光性層106に行う(図9
(A))。次に、基板とフォトマスクを相対的に移動さ
せた後、カラーフィルタ101B領域に相当するブラッ
クマトリックス103Bを形成するための露光を感光性
層106の未露光領域に行う(図9(B))。上記の2
回の露光により、ブラックマトリックス103のつなぎ
合わせ部Jに位置するブラックマトリックス103aは
2度の露光が行われるので、ブラックマトリックス10
3の他の箇所に比べて露光量が多くなり、ブラックマト
リックスの線幅に変化が生じる。この結果、ブラックマ
トリックス103aが存在する部分の開口率が変化し
て、カラーフィルタの開口率にむらが発生し、つなぎ合
わせ部J近傍が画像品質の相違として認識されてしま
い、これが表示画像の品質低下を招くという問題があっ
た。
[0007] The formation of the black matrix 103 in the color filter 101 is performed by first using a photomask having a smaller area than the substrate.
Exposure is performed on the photosensitive layer 106 on the substrate to form a black matrix 103A corresponding to the region (FIG. 9).
(A)). Next, after relatively moving the substrate and the photomask, exposure for forming the black matrix 103B corresponding to the color filter 101B region is performed on the unexposed region of the photosensitive layer 106 (FIG. 9B). . 2 above
By performing the exposure twice, the black matrix 103a located at the joint portion J of the black matrix 103 is exposed twice, so that the black matrix 103
3, the exposure amount is larger than in the other portions, and the line width of the black matrix changes. As a result, the aperture ratio of the portion where the black matrix 103a is present changes, and the aperture ratio of the color filter becomes uneven, and the vicinity of the joint portion J is recognized as a difference in image quality, which is the quality of the display image. There has been a problem of causing a decrease.

【0008】本発明は、上記のような事情に鑑みてなさ
れたものであり、表示品質に優れた大画面のカラー液晶
表示装置の製造を可能とするカラーフィルタの製造方法
と、この製造方法に使用できる露光装置を提供すること
を目的とする。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and a method of manufacturing a color filter capable of manufacturing a large-screen color liquid crystal display device having excellent display quality. An object of the present invention is to provide an exposure apparatus that can be used.

【0009】[0009]

【課題を解決するための手段】このような目的を達成す
るために、本発明のカラーフィルタの製造方法は、基板
と、該基板上に所定のパターンで配置された複数の着色
層と、着色層の非形成領域に形成されたブラックマトリ
ックスとを備えるカラーフィルタの製造方法において、
開口パターン部とその周囲に外枠部とを有する基板より
も面積が小さいフォトマスクを用い、開口パターン部の
露光つなぎ合わせ部に位置する開口部の一部を遮光板に
より遮蔽した状態で、基板上に形成した感光性層に前記
フォトマスクを介して1回目の露光を行い、その後、フ
ォトマスクの開口パターン部の他の露光つなぎ合わせ部
に位置する開口部の一部を遮光板により遮蔽し、かつ、
前記他の露光つなぎ合わせ部に位置する開口部が前記1
回目の露光の露光つなぎ合わせ部に位置する開口部と一
部重複するようにフォトマスクと基板とを相対的に移動
して、前記感光性層の未露光領域を露光する露光工程を
有するような構成とした。
In order to achieve the above object, a method for manufacturing a color filter according to the present invention comprises a substrate, a plurality of coloring layers arranged in a predetermined pattern on the substrate, And a black matrix formed in a non-formation region of the layer, a method for manufacturing a color filter,
Using a photomask having an area smaller than that of the substrate having the opening pattern portion and the outer frame portion around the opening pattern portion, with the part of the opening portion located at the exposure joint portion of the opening pattern portion being shielded by the light shielding plate, A first exposure is performed on the photosensitive layer formed thereon through the photomask, and thereafter, a part of an opening located at another exposure joining portion of the opening pattern portion of the photomask is shielded by a light shielding plate. ,And,
The opening located at the other exposure splicing section is
A photomask and a substrate are relatively moved so as to partially overlap with an opening located at an exposure splicing part of a second exposure, and an exposure step of exposing an unexposed area of the photosensitive layer is provided. The configuration was adopted.

【0010】本発明の露光装置は、パターン開口部とそ
の周囲に外枠部とを有するフォトマスクと、該フォトマ
スクに対して移動可能に配設された遮光板と、前記フォ
トマスクに対して移動可能に配設された基板載置台と、
前記遮光板を前記フォトマスクに対する所定位置に停止
させるための位置検出装置と、露光部とを備えるような
構成とした。
An exposure apparatus according to the present invention includes a photomask having a pattern opening and an outer frame around the pattern opening, a light shielding plate movably disposed with respect to the photomask, and A substrate mounting table movably arranged,
A configuration is provided that includes a position detection device for stopping the light shielding plate at a predetermined position with respect to the photomask, and an exposure unit.

【0011】また、前記フォトマスクは外枠部の2以上
の所定箇所に位置合わせ用のマークを備え、前記遮光板
は位置合わせ用のマークを備え、前記位置検出装置はフ
ォトマスクのマークと遮光板のマークとを検出すること
によりフォトマスクに対し遮光板を所定位置に停止させ
るものであるような構成、あるいは、前記位置検出装置
はレーザ干渉計を備えるような構成とした。
Further, the photomask has alignment marks at two or more predetermined positions on an outer frame portion, the light shielding plate has alignment marks, and the position detecting device has a photomask mark and a light shielding mark. The light shielding plate is stopped at a predetermined position with respect to the photomask by detecting a mark on the plate, or the position detection device is provided with a laser interferometer.

【0012】尚、前記基板載置台に載置された基板を前
記フォトマスクに対する所定位置に停止させるための基
板用位置検出装置を備えるような構成としてもよい。
[0012] It should be noted that the apparatus may be provided with a substrate position detecting device for stopping the substrate mounted on the substrate mounting table at a predetermined position with respect to the photomask.

【0013】このような本発明では、小面積のパターン
露光をつなぎ合わせて大面積のパターン露光とするとき
に、つなぎ合わせ部の複数回の露光を受ける部分がパタ
ーン幅よりも小さいものとなる。
According to the present invention, when the pattern exposure of the small area is connected to form the pattern exposure of the large area, the portion of the connecting portion that is exposed a plurality of times is smaller than the pattern width.

【0014】[0014]

【発明の実施の形態】以下、本発明の最良の実施形態に
ついて図面を参照して説明する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS The preferred embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

【0015】露光装置 図1は本発明の露光装置の一実施形態を示す平面図であ
り、(A)および(B)はそれぞれ動作状態を示してお
り、図2は図1(A)の動作状態の露光装置の正面図で
ある。図1および図2において、露光装置1はフォトマ
スク2、遮光板6、基板載置台8、位置検出装置9A,
9B、および、露光部10とを備えている。
Exposure Apparatus FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of an exposure apparatus according to the present invention, wherein (A) and (B) show operating states, respectively, and FIG. 2 shows the operation of FIG. It is a front view of the exposure apparatus in a state. 1 and 2, the exposure apparatus 1 includes a photomask 2, a light shielding plate 6, a substrate mounting table 8, a position detection device 9A,
9B and an exposure unit 10.

【0016】フォトマスク2は、ブラックマトリックス
形成用の開口部が所定のパターンで形成されたパターン
開口部3と、このパターン開口部3の周囲に設けられた
外枠部4とを備えている。パターン開口部3の端部(図
示例では矢印a方向の両端部)には露光つなぎ合わせ部
3A,3Bが設定されている。また、図示例では、フォ
トマスク2の外枠部4の所定位置の4か所に、位置合わ
せ用のマーク5a,5bが設けられている(矢印a方向
の両端部の2か所に位置合わせ用のマーク5a,5bを
設けてもよい)。
The photomask 2 has a pattern opening 3 in which an opening for forming a black matrix is formed in a predetermined pattern, and an outer frame 4 provided around the pattern opening 3. Exposure joining portions 3A and 3B are set at the ends (both ends in the direction of arrow a in the illustrated example) of the pattern opening 3. Further, in the illustrated example, alignment marks 5a and 5b are provided at four predetermined positions of the outer frame portion 4 of the photomask 2 (the two positions at both ends in the direction of arrow a). Marks 5a and 5b may be provided).

【0017】遮光板6は、フォトマスク2に対して矢印
a方向に移動可能に配設されている。遮光板6の駆動手
段としては、矢印a方向に沿って配設されたボールねじ
(図示せず)に遮光板6を螺合し、モーター(図示せ
ず)によりボールねじを回転駆動させて、矢印a方向に
沿って配設されたガイドレール(図示せず)上を移動さ
せるような構成等、特に制限はない。この遮光板6には
位置合わせ用のマーク7が設けられており、このマーク
7と上記のフォトマスク2の位置合わせ用のマーク5a
とが一致するような位置(図1(A))、あるいは、マ
ーク5bとが一致するような位置(図1(B))に遮光
板6を停止させたときに、遮光板6がフォトマスク2の
パターン開口部3のうちの露光つなぎ合わせ部3A,3
Bに位置する開口部の一部を遮蔽するように構成されて
いる。このような遮光板6の材質は、遮光性を有し、か
つ、散乱光を発生しないもの、例えば、黒アルマイト処
理を施した金属板等が好ましい。
The light shielding plate 6 is provided so as to be movable in the direction of arrow a with respect to the photomask 2. As a driving means of the light-shielding plate 6, the light-shielding plate 6 is screwed into a ball screw (not shown) disposed along the direction of arrow a, and the ball screw is rotationally driven by a motor (not shown). There is no particular limitation, such as a configuration for moving on a guide rail (not shown) arranged along the direction of arrow a. The light-shielding plate 6 is provided with a mark 7 for positioning, and the mark 7 and the mark 5a for positioning the photomask 2 described above.
When the light-shielding plate 6 is stopped at a position where the light-shielding plate 6 matches (FIG. 1A) or a position where the mark 5b matches (FIG. 1B), the light-shielding plate 6 Exposure splicing portions 3A and 3 of the two pattern openings 3
It is configured to shield a part of the opening located at B. The material of the light-shielding plate 6 is preferably a material having a light-shielding property and not generating scattered light, for example, a metal plate subjected to black alumite treatment.

【0018】基板載置台8は、フォトマスク2に対して
矢印a方向に移動可能に配設されている。基板載置台8
の駆動手段としては、上述の遮光板6の駆動手段と同様
な構成であってもよいし、特に制限はなく、また、基板
Sの保持機構も、吸引保持方式、機械保持方式、これら
の併用等、特に制限はない。
The substrate mounting table 8 is disposed so as to be movable in the direction of arrow a with respect to the photomask 2. Substrate mounting table 8
The driving means may have the same configuration as the driving means for the light shielding plate 6 described above, and is not particularly limited. The holding mechanism for the substrate S may be a suction holding method, a mechanical holding method, or a combination thereof. There is no particular limitation.

【0019】位置検出装置9A,9Bは、それぞれ上記
のフォトマスク2に設けられた位置合わせ用のマーク5
a,5bの上方に配設されている。これらの位置検出装
置9A,9Bは、遮光板6の位置合わせ用マーク7とフ
ォトマスク2のマーク5aあるいはマーク5bとが一致
したときに、制御装置(図示せず)に信号を送信し、こ
の制御装置により直ちに遮光板6の駆動装置を停止する
ように構成している。これにより、遮光板6をフォトマ
スク2に対する所定位置に正確に停止させることがで
き、上記のようなフォトマスク2の露光つなぎ合わせ部
3A,3Bに位置する開口部の遮光板6による一部遮蔽
を正確に行うことが可能となる。このような位置検出装
置9A,9Bとしては、ハロゲンランプやレンズランプ
(例えば、浜井電球(株)製)とCCDカメラ(例え
ば、松下電器産業(株)製TVカメラWV−CD50)
の組み合わせ等を用いることができる。
The position detecting devices 9A and 9B are provided with positioning marks 5 provided on the photomask 2 respectively.
a, 5b. These position detecting devices 9A and 9B transmit a signal to a control device (not shown) when the alignment mark 7 of the light shielding plate 6 matches the mark 5a or the mark 5b of the photomask 2. The control device stops the driving device of the light shielding plate 6 immediately. Thus, the light-shielding plate 6 can be accurately stopped at a predetermined position with respect to the photomask 2, and the openings of the photomask 2 located at the exposure joint portions 3 </ b> A and 3 </ b> B are partially shielded by the light-shielding plate 6. Can be performed accurately. As such position detecting devices 9A and 9B, halogen lamps and lens lamps (for example, manufactured by Hamai Light Bulb Co., Ltd.) and CCD cameras (for example, TV camera WV-CD50 manufactured by Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.)
Can be used.

【0020】尚、露光装置1には、フォトマスク2に対
する基板Sの位置を検出するための位置検出装置(図示
せず)が設けられており、基板Sをフォトマスク2に対
する所定位置に正確に停止させることができる。
The exposure apparatus 1 is provided with a position detecting device (not shown) for detecting the position of the substrate S with respect to the photomask 2 so that the substrate S can be accurately positioned at a predetermined position with respect to the photomask 2. Can be stopped.

【0021】図3は本発明の露光装置の他の実施形態を
示す図2相当の正面図である。図3において、露光装置
1´はフォトマスク2´、遮光板6´、基板載置台8、
位置検出装置9´A,9´B、および、露光部10とを
備えている。
FIG. 3 is a front view corresponding to FIG. 2 showing another embodiment of the exposure apparatus of the present invention. In FIG. 3, an exposure apparatus 1 ′ includes a photomask 2 ′, a light shielding plate 6 ′, a substrate mounting table 8,
It includes position detection devices 9 ′ A and 9 ′ B and an exposure unit 10.

【0022】この露光装置1´は、フォトマスク2´、
遮光板6´がそれぞれ位置合わせ用のマークを備えてい
ない点で上述の露光装置1と異なる。また、位置検出装
置9´A,9´Bはレーザ干渉計から構成されており、
フォトマスク2´に対して矢印a方向に移動可能な遮光
板6´が、フォトマスク2´の露光つなぎ合わせ部3
A,3Bに位置する開口部の一部を所定幅で遮蔽するよ
うな位置に到達したときに、これを正確に検出するよう
な位置に配設されている。尚、図3では、位置検出装置
9´A,9´Bは遮光板6´の側面に位置している。ま
た、このような位置検出装置9´A,9´Bとしては、
超高精度レーザ変位計(キーエンス(株)製)等のレー
ザ干渉計を用いることができる。
The exposure apparatus 1 'includes a photomask 2',
The light-shielding plate 6 'is different from the above-described exposure apparatus 1 in that each of the light-shielding plates 6' has no alignment mark. The position detecting devices 9'A and 9'B are constituted by laser interferometers,
The light shielding plate 6 ′ movable in the direction of the arrow a with respect to the photomask 2 ′ is provided with the exposure joining portion 3
When it reaches a position where a part of the opening located at A and 3B is shielded with a predetermined width, it is arranged at a position where it is accurately detected. In FIG. 3, the position detection devices 9'A and 9'B are located on the side surface of the light shielding plate 6 '. Further, as such position detecting devices 9′A and 9′B,
A laser interferometer such as an ultra-high precision laser displacement meter (manufactured by Keyence Corporation) can be used.

【0023】また、本発明の露光装置は、基板載置台に
載置された基板をフォトマスクに対する所定位置に停止
させるための基板用位置検出装置を備えるものであって
もよい。この場合の基板用位置検出装置は、上述のよう
なレーザ干渉計から構成されたもの等を使用することが
できる。
Further, the exposure apparatus of the present invention may include a substrate position detecting device for stopping the substrate mounted on the substrate mounting table at a predetermined position with respect to the photomask. In this case, as the substrate position detecting device, a device including the above-described laser interferometer can be used.

【0024】カラーフィルタの製造方法 次に、本発明のカラーフィルタの製造方法を、上述の本
発明の露光装置を用いた場合を例として説明する。
The method for producing a color filter Then, a method for producing a color filter of the present invention, illustrating the case of using the above exposure apparatus of the present invention as an example.

【0025】本発明のカラーフィルタの製造方法は、基
板の面積よりも小さいフォトマスクを使用して基板上に
ブラックマトリックスや着色層のパターンをつなぎ合わ
せるように形成して大面積のカラーフィルタを製造する
ものである。図4は、このような本発明により製造した
カラーフィルタの一例を示す平面図である。図4におい
て、カラーフィルタ11は大面積の基板S上にブラック
マトリックスや着色層からなるパターン部12を備えて
る。このパターン部12は、基板Sよりも小さいフォト
マスクを使用して複数回(図示例では2回)の露光を行
うことにより、つなぎ合わせ部Jでパターン部12Aと
パターン部12Bをつなぎ合わせて形成している。
According to the method of manufacturing a color filter of the present invention, a large area color filter is manufactured by forming a pattern of a black matrix or a colored layer on a substrate using a photomask smaller than the area of the substrate. Is what you do. FIG. 4 is a plan view showing an example of such a color filter manufactured according to the present invention. In FIG. 4, a color filter 11 includes a pattern portion 12 made of a black matrix or a colored layer on a large-sized substrate S. The pattern portion 12 is formed by connecting the pattern portion 12A and the pattern portion 12B at the connection portion J by performing a plurality of exposures (two times in the illustrated example) using a photomask smaller than the substrate S. are doing.

【0026】上記のパターン部12の形成を、基板S上
に設けた感光性層への本発明の露光装置1を用いたブラ
ックマトリックス用のパターン露光を例にして説明す
る。この露光では、まず、図1(A)および図5に示さ
れるように、フォトマスク2の所定位置に遮光板6を位
置させる。この場合、フォトマスク2の外枠部4に形成
された位置合わせ用のマーク5aと遮光板6の位置合わ
せ用のマーク7とを位置検出装置9Aにより一致させ
る。この状態では、フォトマスク2が有するパターン開
口部3のブラックマトリックス形成用の複数の開口部3
a(開口幅W1)のうち、図面右側端部の露光つなぎ合
わせ部3Aに位置する開口部3´aの一部が遮光板6に
より所定の幅W2で遮蔽されている。また、基板Sがフ
ォトマスク2に対して1回目の露光位置となるように基
板載置台8も正確に位置合わせされている。この状態
で、露光部10からフォトマスク2を介して基板S上の
感光性層に1回目の露光を行う。
The formation of the pattern portion 12 will be described by taking as an example the pattern exposure for a black matrix on the photosensitive layer provided on the substrate S using the exposure apparatus 1 of the present invention. In this exposure, first, as shown in FIGS. 1A and 5, the light shielding plate 6 is positioned at a predetermined position of the photomask 2. In this case, the alignment mark 5a formed on the outer frame portion 4 of the photomask 2 and the alignment mark 7 of the light shielding plate 6 are matched by the position detection device 9A. In this state, the plurality of openings 3 for forming the black matrix of the pattern openings 3 of the photomask 2 are formed.
Part of the opening 3 ′ a located at the exposure joining portion 3 </ b> A at the right end of the drawing is shielded by the light shielding plate 6 at a predetermined width W <b> 2. Further, the substrate mounting table 8 is also accurately positioned so that the substrate S becomes the first exposure position with respect to the photomask 2. In this state, a first exposure is performed on the photosensitive layer on the substrate S from the exposure unit 10 via the photomask 2.

【0027】次に、遮光板6をフォトマスク2に対して
移動させ、フォトマスク2の外枠部4に形成された位置
合わせ用のマーク5bと遮光板6の位置合わせ用のマー
ク7とを位置検出装置9Bにより一致させ、図1(B)
および図6に示されるように遮光板6をフォトマスク2
の所定位置に位置させる。この状態では、フォトマスク
2が有するパターン開口部3のブラックマトリックス形
成用の複数の開口部3a(開口幅W1)のうち、図面左
側端部の露光つなぎ合わせ部3Bに位置する開口部3″
aの一部が遮光板6により所定の幅W´2で遮蔽されて
いる。この遮蔽幅W´2は上記の遮蔽幅W2と同一、異
なるものいずれでもよい。また、基板載置台8をフォト
マスク2に対して移動し、1回目の露光でフォトマスク
2の露光つなぎ合わせ部3Aに位置する開口部3´aに
より露光された部位が、2回目の露光においてフォトマ
スク2の露光つなぎ合わせ部3Bに位置する開口部3″
aにより一部重複して露光され、かつ、露光幅がW1と
なるような位置に正確に停止させる。この状態で、露光
部10からフォトマスク2を介して基板S上の感光性層
に対して2回目の露光を行う。
Next, the light-shielding plate 6 is moved with respect to the photomask 2, and the alignment marks 5 b formed on the outer frame 4 of the photomask 2 and the alignment marks 7 of the light-shielding plate 6 are aligned. The position is matched by the position detecting device 9B, and FIG.
As shown in FIG. 6 and FIG.
At a predetermined position. In this state, of the plurality of openings 3a (opening width W1) for forming the black matrix of the pattern openings 3 included in the photomask 2, the opening 3 ″ located at the exposure joint 3B at the left end in the drawing.
Part of “a” is shielded by the light shielding plate 6 with a predetermined width W′2. The shielding width W′2 may be the same as or different from the shielding width W2. Further, the substrate mounting table 8 is moved with respect to the photomask 2, and the portion exposed by the opening 3'a located at the exposure joint 3A of the photomask 2 in the first exposure is used in the second exposure. Opening 3 ″ located at exposure joint 3B of photomask 2
The exposure is stopped at a position where exposure is partially overlapped by a and the exposure width becomes W1. In this state, a second exposure is performed on the photosensitive layer on the substrate S from the exposure unit 10 via the photomask 2.

【0028】このような2回の露光により、図7に示さ
れるように、基板S上の感光性層16には、1回目の露
光により線幅W1で露光された複数のブラックマトリッ
クス用露光パターンからなるパターン部12Aと、2回
めの露光により線幅W1で露光された複数のブラックマ
トリックス用露光パターンからなるパターン部12Bと
が、つなぎ合わせ部Jでつなぎ合わせて形成されてい
る。そして、つなぎ合わせ部Jは、遮蔽幅W2,W´2
で2回露光された線幅W1のブラックマトリックス用露
光パターンであり、このつなぎ合わせ部の中央部には線
幅W3の二重露光部が存在する。このように、つなぎ合
わせ部Jでは2度の露光を受ける箇所が存在するもの
の、この箇所の線幅(W3)はパターン幅W1よりも小
さいものとなり、露光量が他の部分よりも多いことによ
るパターン幅への影響が極めて小さいものとなる。した
がって、現像後に形成されるブラックマトリックスの線
幅が均一なものとなり、これにより、開口率にむらのな
いカラーフィルタの製造が可能となる。
By such two exposures, as shown in FIG. 7, the photosensitive layer 16 on the substrate S is exposed to a plurality of black matrix exposure patterns exposed at the line width W1 by the first exposure. And a pattern portion 12B composed of a plurality of black matrix exposure patterns exposed at the line width W1 by the second exposure are formed by a connection portion J. And, the joining portion J has a shielding width W2, W'2
Are exposed twice for a black matrix having a line width W1. A double exposure portion having a line width W3 is present at the center of the joining portion. As described above, although there is a portion to be exposed twice in the joining portion J, the line width (W3) of this portion is smaller than the pattern width W1, and the exposure amount is larger than the other portions. The effect on the pattern width is extremely small. Therefore, the line width of the black matrix formed after the development becomes uniform, thereby making it possible to manufacture a color filter having an even aperture ratio.

【0029】[0029]

【実施例】次に、実施例を示して本発明を更に詳細に説
明する。カラーフィルタ用の基板として、550mm×
650mm、厚さ1.1mmのガラス基板(コーニング
社製7059ガラス)を準備した。このガラス基板の片
側全面に、下記組成のネガ型のブラックマトリックス用
感光性組成物をスピンコート法により塗布、乾燥して感
光性層(厚さ1.0μm)を形成した。
Next, the present invention will be described in more detail with reference to examples. 550mm × as substrate for color filter
A glass substrate (Corning 7059 glass) with a thickness of 650 mm and a thickness of 1.1 mm was prepared. A negative type photosensitive composition for a black matrix having the following composition was applied on the entire surface of one side of the glass substrate by a spin coating method and dried to form a photosensitive layer (thickness: 1.0 μm).

【0030】 (ブラックマトリックス用感光性組成物) ・チタンブラック13R(三菱マテリアル(株)製) … 23重量部 ・ソルビタン脂肪酸エステル系分散剤 … 1.5重量部 ・アクリル系樹脂ポリマーおよびジペンタエリスリトール ヘキサアクリレート(DPHA)からなる樹脂 … 5重量部 ・イルガキュア369(チバガイギー社製)、DETX−S (日本化薬(株)製)およびビイミダゾールからなる開始剤 … 2.3重量部 ・プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート…68.2重量部(Photosensitive composition for black matrix) Titanium black 13R (manufactured by Mitsubishi Materials Corporation) 23 parts by weight Sorbitan fatty acid ester-based dispersant 1.5 parts by weight Acrylic resin polymer and dipentaerythritol Resin consisting of hexaacrylate (DPHA) ... 5 parts by weight Initiator consisting of Irgacure 369 (manufactured by Ciba Geigy), DETX-S (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and biimidazole ... 2.3 parts by weight-Propylene glycol monomethyl Ether acetate: 68.2 parts by weight

【0031】次に、ブラックマトリックス形成用の開口
部(開口幅W1=50μm)をピッチ200μmで形成
したパターン開口部を備えるフォトマスクを図1に示さ
れるような本発明の露光装置に装着した。また、上記の
ように感光性層を形成したガラス基板を基板載置台に保
持した。
Next, a photomask having a pattern opening in which openings (opening width W1 = 50 μm) for forming a black matrix were formed at a pitch of 200 μm was mounted on an exposure apparatus of the present invention as shown in FIG. Further, the glass substrate on which the photosensitive layer was formed as described above was held on a substrate mounting table.

【0032】次いで、このフォトマスクに対して遮光板
を位置合わせし、図5に示されるようにフォトマスクの
ブラックマトリックス形成用の複数の開口部のうち、一
方の露光つなぎ合わせ部に位置する開口部を遮光板によ
り遮蔽(遮蔽幅W2=20μm)した。そして、超高圧
水銀灯によりフォトマスクを介しガラス基板上の感光性
層に対して1回目の露光を行った。
Next, a light-shielding plate is positioned with respect to the photomask, and as shown in FIG. 5, an opening located at one of the exposure joining portions among a plurality of openings for forming a black matrix of the photomask. The portion was shielded by a light shielding plate (shielding width W2 = 20 μm). Then, a first exposure was performed on the photosensitive layer on the glass substrate through a photomask with an ultrahigh pressure mercury lamp.

【0033】次に、遮光板をフォトマスクに対して移動
させて位置合わせを行い、図6に示されるようにフォト
マスクのブラックマトリックス形成用の複数の開口部の
うち、他の露光つなぎ合わせ部に位置する開口部を遮光
板により遮蔽(遮蔽幅W´2=20μm)した。また、
基板載置台をフォトマスクに対して移動させ、1回目の
露光領域のうちの露光つなぎ合わせ部が、2回目の露光
においてフォトマスクの露光つなぎ合わせ部に位置する
開口部により露光され、かつ、露光幅が50μm(=W
1)となる位置にガラス基板を正確に停止させた。そし
て、超高圧水銀灯によりフォトマスクを介しガラス基板
上の感光性層に対して2回目の露光を行った。
Next, the light-shielding plate is moved with respect to the photomask to perform alignment, and as shown in FIG. 6, of the plurality of openings for forming a black matrix of the photomask, another exposure joining portion is formed. Was shielded by a light-shielding plate (shielding width W′2 = 20 μm). Also,
The substrate mounting table is moved with respect to the photomask, and the exposure joint portion of the first exposure region is exposed by the opening located at the exposure joint portion of the photomask in the second exposure, and the exposure is performed. The width is 50 μm (= W
The glass substrate was accurately stopped at the position 1). Then, a second exposure was performed on the photosensitive layer on the glass substrate through a photomask with an ultrahigh pressure mercury lamp.

【0034】その後、現像し、230℃、0.5時間の
硬化処理を施してガラス基板上にブラックマトリックを
形成した。このブラックマトリックスの線幅は、つなぎ
合わせ部において50±1.0μm、他の領域において
50±0.2μmであった。この結果から、線幅の精度
が極めて高いブラックマトリックスを大面積のガラス基
板に形成できることが確認された。
Thereafter, development was performed, and a curing treatment was performed at 230 ° C. for 0.5 hour to form a black matrix on the glass substrate. The line width of this black matrix was 50 ± 1.0 μm in the joint portion and 50 ± 0.2 μm in other regions. From these results, it was confirmed that a black matrix having extremely high line width accuracy can be formed on a large-sized glass substrate.

【0035】一方、比較として、露光つなぎ合わせ部に
位置する開口部の遮蔽板による遮蔽を行わず、露光つな
ぎ合わせ部において露光幅が50μm(=W1)となる
ようにした他は、上記と同様にして2回の露光を行っ
た。
On the other hand, as a comparison, the same as above, except that the opening positioned at the exposure joint was not shielded by the shielding plate, and the exposure width was 50 μm (= W1) at the exposure joint. Exposure was performed twice.

【0036】その後、上記と同様に現像し硬化処理を施
してガラス基板上にブラックマトリックを形成した。こ
のブラックマトリックスのつなぎ合わせ部における線幅
は54μmであり、他の領域の線幅50μmに比べて大
きなものであり、得られた大面積のガラス基板は、ブラ
ックマトリックスの開口率にむらのあるものであった。
Thereafter, development and curing were performed in the same manner as described above to form a black matrix on the glass substrate. The line width at the joining portion of the black matrix is 54 μm, which is larger than the line width of 50 μm in other regions, and the obtained large-area glass substrate has an uneven aperture ratio of the black matrix. Met.

【0037】[0037]

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によればパ
ターンのつなぎ合わせ部に2度の露光を受ける箇所が存
在することになるが、この箇所の幅はパターン幅に比べ
て小さいものであり、露光量が他の部分よりも多いこと
によるパターン幅への影響が極めて小さく、これによ
り、開口率にむらのない大面積のカラーフィルタの製造
が可能となり、表示品質に優れた大画面のカラー液晶表
示装置の製造を可能にするという効果が奏される。ま
た、本発明の露光装置はフォトマスクに対する所定位置
に遮光板を停止させる位置検出装置を備えているので、
フォトマスクの露光つなぎ合わせ部に位置する開口部の
一部を遮光板により高精度で遮蔽することができ、本発
明のカラーフィルタの製造方法の実施を簡便なものとす
ることができる。
As described in detail above, according to the present invention, there is a portion to be exposed twice at the joint portion of the pattern, and the width of this portion is smaller than the pattern width. The effect on the pattern width due to the fact that the amount of exposure is greater than that of the other portions is extremely small, which enables the manufacture of a large-area color filter with an even aperture ratio and a large screen with excellent display quality. This makes it possible to manufacture a color liquid crystal display device. Further, since the exposure apparatus of the present invention includes a position detection device that stops the light shielding plate at a predetermined position with respect to the photomask,
A part of the opening located at the exposure joint portion of the photomask can be shielded with high accuracy by the light-shielding plate, so that the method for manufacturing a color filter of the present invention can be simplified.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の露光装置の一実施形態を示す平面図で
あり、(A)および(B)はそれぞれ動作状態を示して
いる。
FIG. 1 is a plan view showing an embodiment of an exposure apparatus according to the present invention, wherein (A) and (B) each show an operation state.

【図2】図2は図1(A)の動作状態における露光装置
の正面図である。
FIG. 2 is a front view of the exposure apparatus in the operation state of FIG.

【図3】本発明の露光装置の他の実施形態を示す正面図
である。
FIG. 3 is a front view showing another embodiment of the exposure apparatus of the present invention.

【図4】本発明のカラーフィルタの製造方法により製造
したカラーフィルタの一例を示す平面図である。
FIG. 4 is a plan view showing an example of a color filter manufactured by the method for manufacturing a color filter of the present invention.

【図5】本発明のカラーフィルタの製造方法における1
回目の露光時のフォトマスクと遮光板との位置関係を示
す部分平面図である。
FIG. 5 shows 1 in the method for manufacturing a color filter of the present invention.
FIG. 9 is a partial plan view showing a positional relationship between a photomask and a light shielding plate at the time of a second exposure.

【図6】本発明のカラーフィルタの製造方法における2
回目の露光時のフォトマスクと遮光板との位置関係を示
す部分平面図である。
FIG. 6 shows 2 in the method for manufacturing a color filter of the present invention.
FIG. 9 is a partial plan view showing a positional relationship between a photomask and a light shielding plate at the time of a second exposure.

【図7】本発明のカラーフィルタの製造方法により露光
された感光性層の露光パターンを示す部分平面図であ
る。
FIG. 7 is a partial plan view showing an exposure pattern of a photosensitive layer exposed by the method of manufacturing a color filter of the present invention.

【図8】従来のカラーフィルタの製造方法により形成さ
れたブラックマトリックスと着色層のパターンを示す部
分平面図である。
FIG. 8 is a partial plan view showing a pattern of a black matrix and a colored layer formed by a conventional color filter manufacturing method.

【図9】従来のカラーフィルタの製造方法により露光さ
れた感光性層の露光パターンを示す部分平面図である。
FIG. 9 is a partial plan view showing an exposure pattern of a photosensitive layer exposed by a conventional color filter manufacturing method.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1,1´…露光装置 2,2´…フォトマスク 3…パターン開口部 3A,3B…露光つなぎ合わせ部 3a,3´a,3″a…開口部 4…外枠部 5a,5b…位置合わせ用のマーク 6,6´…遮光板 7…位置合わせ用のマーク 8…基板載置台 9A,9B,9´A,9´B…位置検出装置 10…露光部 11…カラーフィルタ 12,12A,12B…パターン部 J…つなぎ合わせ部 S…基板 1, 1 'Exposure device 2, 2' Photomask 3 Pattern opening 3A, 3B Exposure joint 3a, 3'a, 3 "a Opening 4 Outer frame 5a, 5b Positioning Mark 6, 6 '... light shielding plate 7 ... mark for alignment 8 ... substrate mounting table 9A, 9B, 9'A, 9'B ... position detection device 10 ... exposure unit 11 ... color filter 12, 12A, 12B … Pattern part J… Connecting part S… Substrate

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2H048 BA00 BA45 BB02 BB14 BB42 2H091 FA02Y FA35Y FC10 FC29 FC30 LA12 2H097 GB00 JA01 KA03 KA12 KA20 LA17  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2H048 BA00 BA45 BB02 BB14 BB42 2H091 FA02Y FA35Y FC10 FC29 FC30 LA12 2H097 GB00 JA01 KA03 KA12 KA20 LA17

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 基板と、該基板上に所定のパターンで配
置された複数の着色層と、着色層の非形成領域に形成さ
れたブラックマトリックスとを備えるカラーフィルタの
製造方法において、 開口パターン部とその周囲に外枠部とを有する基板より
も面積が小さいフォトマスクを用い、開口パターン部の
露光つなぎ合わせ部に位置する開口部の一部を遮光板に
より遮蔽した状態で、基板上に形成した感光性層に前記
フォトマスクを介して1回目の露光を行い、その後、フ
ォトマスクの開口パターン部の他の露光つなぎ合わせ部
に位置する開口部の一部を遮光板により遮蔽し、かつ、
前記他の露光つなぎ合わせ部に位置する開口部が前記1
回目の露光の露光つなぎ合わせ部に位置する開口部と一
部重複するようにフォトマスクと基板とを相対的に移動
して、前記感光性層の未露光領域を露光する露光工程を
有することを特徴とするカラーフィルタの製造方法。
1. A method of manufacturing a color filter comprising a substrate, a plurality of colored layers arranged in a predetermined pattern on the substrate, and a black matrix formed in a region where no colored layer is formed, comprising: Using a photomask that has a smaller area than the substrate that has an outer frame part around it and a part of the opening located at the exposure splicing part of the opening pattern part is formed on the substrate with the light shielding plate blocking part of the opening The first exposure is performed on the photosensitive layer through the photomask, and thereafter, a part of an opening located at another exposure joining portion of the opening pattern of the photomask is shielded by a light shielding plate, and
The opening located at the other exposure splicing section is
Having an exposure step of relatively moving the photomask and the substrate so as to partially overlap with the opening located at the exposure joining portion of the second exposure, and exposing an unexposed area of the photosensitive layer. Characteristic color filter manufacturing method.
【請求項2】 パターン開口部とその周囲に外枠部とを
有するフォトマスクと、該フォトマスクに対して移動可
能に配設された遮光板と、前記フォトマスクに対して移
動可能に配設された基板載置台と、前記遮光板を前記フ
ォトマスクに対する所定位置に停止させるための位置検
出装置と、露光部とを備えることを特徴とする露光装
置。
2. A photomask having a pattern opening and an outer frame around the pattern opening, a light-shielding plate movably disposed with respect to the photomask, and movably disposed with respect to the photomask. An exposure device, comprising: a mounted substrate mounting table; a position detection device for stopping the light shielding plate at a predetermined position with respect to the photomask; and an exposure unit.
【請求項3】 前記フォトマスクは外枠部の2以上の所
定箇所に位置合わせ用のマークを備え、前記遮光板は位
置合わせ用のマークを備え、前記位置検出装置はフォト
マスクのマークと遮光板のマークとを検出することによ
りフォトマスクに対し遮光板を所定位置に停止させるも
のであることを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
3. The photomask includes alignment marks at two or more predetermined locations on an outer frame portion, the light-shielding plate includes alignment marks, and the position detection device includes a photomask mark and a light-shielding mark. The exposure apparatus according to claim 2, wherein the light shielding plate is stopped at a predetermined position with respect to the photomask by detecting a mark on the plate.
【請求項4】 前記位置検出装置はレーザ干渉計を備え
ることを特徴とする請求項2に記載の露光装置。
4. The exposure apparatus according to claim 2, wherein the position detection device includes a laser interferometer.
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