JP2000345036A - 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料 - Google Patents

膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料

Info

Publication number
JP2000345036A
JP2000345036A JP15595299A JP15595299A JP2000345036A JP 2000345036 A JP2000345036 A JP 2000345036A JP 15595299 A JP15595299 A JP 15595299A JP 15595299 A JP15595299 A JP 15595299A JP 2000345036 A JP2000345036 A JP 2000345036A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
bis
butoxysilane
mono
compound
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP15595299A
Other languages
English (en)
Inventor
Kinji Yamada
欣司 山田
Hikari Sugita
光 杉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JSR Corp
Original Assignee
JSR Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by JSR Corp filed Critical JSR Corp
Priority to JP15595299A priority Critical patent/JP2000345036A/ja
Publication of JP2000345036A publication Critical patent/JP2000345036A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Compositions Of Macromolecular Compounds (AREA)
  • Paints Or Removers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体素子などにおける層間絶縁膜として適
当な、均一な厚さを有する塗膜が形成可能で短時間の硬
化で誘電率特性などに優れ、かつ低吸湿性の膜形成用組
成物を提供すること。 【解決手段】 (A)(A−1)R1 a Si(OR2
4-a (式中、R1 は水素原子、フッ素原子または1価の
有機基を示し、R2 は1価の有機基を示し、aは0〜2
の整数を表す)、および/または(A−2)R3 b (R
4 O)3-b Si−(R7 d −Si(OR5 3-c 6
c 〔式中、R3 ,R4 ,R5 およびR6 は、同一でも異
なっていてもよく、それぞれ1価の有機基を示し、bお
よびcは、同一でも異なっていてもよく、0〜2の数を
示し、R7 は酸素原子または−(CH2 n −を示し、
dは0または1を示し、nは1〜6の数を示す)からな
る化合物、その加水分解物および/またはその縮合物、
ならびに(B)シラトラン化合物、を含有する膜形成用
組成物。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、膜形成用組成物に
関し、さらに詳しくは、半導体素子などにおける層間絶
縁膜として適当な、均一な厚さを有する塗膜が形成可能
で、短時間の硬化で吸湿性が低く、誘電率特性などに優
れた膜形成用組成物に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体素子などにおける層間絶縁
膜として、CVD法などの真空プロセスで形成されたシ
リカ(SiO2 )膜が多用されている。そして、近年、
より均一な層間絶縁膜を形成することを目的として、S
OG(Spin on Glass)膜と呼ばれるテト
ラアルコキシランの加水分解生成物を主成分とする塗布
型の絶縁膜も使用されるようになっている。また、半導
体素子などの高集積化に伴い、有機SOGと呼ばれるオ
ルガノポリシロキサンを主成分とする低誘電率の層間絶
縁膜が開発されている。しかしながら、半導体素子など
のさらなる高集積化や多層化に伴い、より優れた導体間
の電気絶縁性が要求されており、したがって、より低誘
電率でクラック耐性に優れ、かつ短時間の硬化で低吸湿
性を有する層間絶縁膜材料が求められるようになってい
る。
【0003】そこで、特開平6−181201号公報に
は、層間絶縁膜材料として、より低誘電率の絶縁膜形成
用塗布型組成物が開示されている。この塗布型組成物
は、吸水性が低く、耐クラック性に優れた半導体装置の
絶縁膜を提供することを目的としており、その構成は、
チタン、ジルコニウム、ニオブおよびタンタルから選ば
れる少なくとも1種の元素を含む有機金属化合物と、分
子内にアルコキシ基を少なくとも1個有する有機ケイ素
化合物とを縮重合させてなる、数平均分子量が500以
上のオリゴマーを主成分とする絶縁膜形成用塗布型組成
物である。
【0004】また、WO96/00758号公報には、
多層配線基板の層間絶縁膜の形成に使用される、アルコ
キシシラン類、シラン以外の金属アルコキシドおよび有
機溶媒などからなる、厚膜塗布が可能で、かつ耐酸素プ
ラズマアッシング性に優れるシリカ系塗布型絶縁膜形成
用材料が開示されている。
【0005】また、特開平3−20377号公報には、
電子部品などの表面平坦化、層間絶縁などに有用な酸化
物被膜形成用塗布液が開示されている。この酸化物被膜
形成用塗布液は、ゲル状物の発生のない均一な塗布液を
提供し、また、この塗布液を用いることにより、高温で
の硬化、酸素プラズマによる処理を行った場合であって
も、クラックのない良好な酸化物被膜を得ることを目的
としている。そして、その構成は、所定のシラン化合物
と、同じく所定のキレート化合物とを有機溶媒の存在化
で加水分解し、重合して得られる酸化物被膜形成用塗布
液である。さらに、特開平11−29743号公報に
は、アルコキシシラン化合物を加水分解、重縮合させて
得られるシロキサンポリマーならびにアンモニア、アル
キルアミン、ジアルキルアミン、トリアルキルアミンお
よびアリールアミンからなる群から選ばれる少なくとも
一種の塩基性化合物を含有してなるシリカ系被膜形成用
塗布液が開示されている。このシリカ系被膜形成用塗布
液は、保存安定性に優れ、厚膜成膜性にも優れ、耐クラ
ック性に優れる被膜を形成することを目的としている。
【0006】しかし、上記のようにシラン化合物にチタ
ンやジルコニウムなどの金属キレート化合物、アミン類
を組み合せた場合、得られる塗膜の吸湿性を小さくする
ためには、塗膜の硬化に高温で長時間を要するという問
題を有している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決するための膜形成用組成物に関し、さらに詳しく
は、半導体素子などにおける層間絶縁膜として適当な、
均一な厚さを有する塗膜が形成可能で短時間の硬化で誘
電率特性などに優れ、かつ低吸湿性の膜形成用組成物を
提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、(A)(A−
1)下記一般式(1)で表される化合物(以下「化合物
(1)」ともいう) R1 a Si(OR2 4-a ・・・・・(1) (R1 は水素原子、フッ素原子または1価の有機基を示
し、R2 は1価の有機基を示し、aは0〜2の整数を表
す。)、および(A−2)下記一般式(2) で表される
化合物(以下「化合物(2)」ともいう) R3 b (R4 O)3-b Si−(R7 d −Si(OR5 3-c 6 c ・・・・・(2) (R3 ,R4 ,R5 およびR6 は、同一でも異なってい
てもよく、それぞれ1価の有機基を示し、bおよびc
は、同一でも異なっていてもよく、0〜2の数を示し、
7 は酸素原子または−(CH2 n −を示し、dは0
または1を示し、nは1〜6の数を示す。)からなる群
より選ばれる少なくとも1種の化合物、その加水分解物
および/またはその縮合物(以下、それぞれ、「(A−
1)成分」、「(A−2)成分」ともいう)、ならびに
(B)シラトラン化合物を含有することを特徴とする膜
形成用組成物に関する。ここで、(A)成分と(B)成
分の割合は、(A)成分(完全加水分解縮合物換算)1
00重量部に対して、(B)成分が0.01〜10重量
部であることが好ましい。また、本発明は、上記膜形成
用組成物からなる絶縁膜形成用材料に関する。
【0009】
【発明の実施の形態】本発明は、膜を形成するベースポ
リマーとして、化合物(1)〜(2)、その加水分解物
および/またはその縮合物(以下「加水分解縮合物」と
もいう)である(A)成分と、(B)成分とが二次元〜
三次元的な構造をとる組成物である。本発明の組成物
を、浸漬またはスピンコート法などにより、シリコンウ
エハなどの基材に塗布すると、例えば、微細パターン間
の溝を充分に埋めることができ、加熱により、有機溶剤
の除去と熱縮重合を行なうと、(A)成分と(B)成分
とが高分子量を有するポリオルガノシロキサンを生成
し、ガラス質または巨大高分子の膜を形成することがで
きる。得られる膜は、密着性が良好で、平坦化に優れ、
クラックの発生がなく、低吸湿性の厚膜の絶縁体を形成
することができる。
【0010】ここで、上記加水分解物とは、化合物
(1)〜(2)に含まれるR2 O−基や、R4 O−基,
5 O−基がすべてが加水分解されている必要はなく、
例えば、1個だけが加水分解されているもの、2個以上
が加水分解されているもの、あるいは、これらの混合物
であってもよい。また、上記縮合物は、化合物(1)〜
(2)の加水分解物のシラノール基が縮合してSi−O
−Si結合を形成したものであるが、本発明では、シラ
ノール基がすべて縮合している必要はなく、僅かな一部
のシラノール基が縮合したもの、縮合の程度が異なって
いるものの混合物などをも包含した概念である。
【0011】以下、本発明に用いられる(A)成分、
(B)成分などについて説明し、次いで、本発明の組成
物の調製方法などについて詳述する。
【0012】(A)成分 (A−1)成分を構成する化合物(1)は、上記一般式
(1)で表される。上記一般式(1)において、R1
よびR2 は、同一または異なり、それぞれ1価の有機基
である。この1価の有機基としては、アルキル基、アリ
ール基、アリル基、グリシジル基などを挙げることがで
きる。ここで、アルキル基としては、メチル基、エチル
基、プロピル基、ブチル基などが挙げられ、好ましくは
炭素数1〜5であり、これらのアルキル基は鎖状でも、
分岐していてもよく、さらに水素原子がフッ素原子など
に置換されていてもよい。また、一般式(1)におい
て、アリール基としては、フェニル基、ナフチル基など
を挙げることができる。
【0013】化合物(1)の具体例としては、トリメト
キシシラン、トリエトキシシラン、トリ−n−プロポキ
シシラン、トリ−iso−プロポキシシラン、トリ−n
−ブトキシシラン、トリ−sec−ブトキシシラン、ト
リ−tert−ブトキシシラン、トリフェノキシシラ
ン、フルオロトリメトキシシラン、フルオロトリエトキ
シシラン、フルオロトリ−n−プロポキシシラン、フル
オロトリ−iso−プロポキシシラン、フルオロトリ−
n−ブトキシシラン、フルオロトリ−sec−ブトキシ
シラン、フルオロトリ−tert−ブトキシシラン、フ
ルオロトリフェノキシシラン、テトラメトキシシラン、
テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロポキシシラ
ン、テトラ−iso−プロポキシシラン、テトラ−n−
ブトキシラン、テトラ−sec−ブトキシシラン、テト
ラ−tert−ブトキシシラン、テトラフェノキシシラ
ン;
【0014】メチルトリメトキシシラン、メチルトリエ
トキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、メ
チルトリ−iso−プロポキシシラン、メチルトリ−n
−ブトキシシラン、メチルトリ−sec−ブトキシシラ
ン、メチルトリ−tert−ブトキシシラン、メチルト
リフェノキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチ
ルトリエトキシシラン、エチルトリ−n−プロポキシシ
ラン、エチルトリ−iso−プロポキシシラン、エチル
トリ−n−ブトキシシラン、エチルトリ−sec−ブト
キシシラン、エチルトリ−tert−ブトキシシラン、
エチルトリフェノキシシラン、ビニルトリメトキシシラ
ン、ビニルトリエトキシシラン、ビニルトリ−n−プロ
ポキシシラン、ビニルトリ−iso−プロポキシシラ
ン、ビニルトリ−n−ブトキシシラン、ビニルトリ−s
ec−ブトキシシラン、ビニルトリ−tert−ブトキ
シシラン、ビニルトリフェノキシシラン、n−プロピル
トリメトキシシラン、n−プロピルトリエトキシシラ
ン、n−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、n−プ
ロピルトリ−iso−プロポキシシラン、n−プロピル
トリ−n−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−sec
−ブトキシシラン、n−プロピルトリ−tert−ブト
キシシラン、n−プロピルトリフェノキシシラン、i−
プロピルトリメトキシシラン、i−プロピルトリエトキ
シシラン、i−プロピルトリ−n−プロポキシシラン、
i−プロピルトリ−iso−プロポキシシラン、i−プ
ロピルトリ−n−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−
sec−ブトキシシラン、i−プロピルトリ−tert
−ブトキシシラン、i−プロピルトリフェノキシシラ
ン、n−ブチルトリメトキシシラン、n−ブチルトリエ
トキシシラン、n−ブチルトリ−n−プロポキシシラ
ン、n−ブチルトリ−iso−プロポキシシラン、n−
ブチルトリ−n−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−s
ec−ブトキシシラン、n−ブチルトリ−tert−ブ
トキシシラン、n−ブチルトリフェノキシシラン、se
c−ブチルトリメトキシシラン、sec−ブチル−i−
トリエトキシシラン、sec−ブチル−トリ−n−プロ
ポキシシラン、sec−ブチル−トリ−iso−プロポ
キシシラン、sec−ブチル−トリ−n−ブトキシシラ
ン、sec−ブチル−トリ−sec−ブトキシシラン、
sec−ブチル−トリ−tert−ブトキシシラン、s
ec−ブチル−トリフェノキシシラン、t−ブチルトリ
メトキシシラン、t−ブチルトリエトキシシラン、t−
ブチルトリ−n−プロポキシシラン、t−ブチルトリ−
iso−プロポキシシラン、t−ブチルトリ−n−ブト
キシシラン、t−ブチルトリ−sec−ブトキシシラ
ン、t−ブチルトリ−tert−ブトキシシラン、t−
ブチルトリフェノキシシラン、フェニルトリメトキシシ
ラン、フェニルトリエトキシシラン、フェニルトリ−n
−プロポキシシラン、フェニルトリ−iso−プロポキ
シシラン、フェニルトリ−n−ブトキシシラン、フェニ
ルトリ−sec−ブトキシシラン、フェニルトリ−te
rt−ブトキシシラン、フェニルトリフェノキシシラ
ン;
【0015】ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジエ
トキシシラン、ジメチル−ジ−n−プロポキシシラン、
ジメチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジメチル−
ジ−n−ブトキシシラン、ジメチル−ジ−sec−ブト
キシシラン、ジメチル−ジ−tert−ブトキシシラ
ン、ジメチルジフェノキシシラン、ジエチルジメトキシ
シラン、ジエチルジエトキシシラン、ジエチル−ジ−n
−プロポキシシラン、ジエチル−ジ−iso−プロポキ
シシラン、ジエチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジエチ
ル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジエチル−ジ−te
rt−ブトキシシラン、ジエチルジフェノキシシラン、
ジ−n−プロピルジメトキシシラン、ジ−n−プロピル
ジエトキシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−n−プロピル−ジ−iso−プロポキ
シシラン、ジ−n−プロピル−ジ−n−ブトキシシラ
ン、ジ−n−プロピル−ジ−sec−ブトキシシラン、
ジ−n−プロピル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ
−n−プロピル−ジ−フェノキシシラン、ジ−iso−
プロピルジメトキシシラン、ジ−iso−プロピルジエ
トキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−iso−プロ
ポキシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−n−ブトキ
シシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−sec−ブトキ
シシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−tert−ブト
キシシラン、ジ−iso−プロピル−ジ−フェノキシシ
ラン、ジ−n−ブチルジメトキシシラン、ジ−n−ブチ
ルジエトキシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−プロポ
キシシラン、ジ−n−ブチル−ジ−iso−プロポキシ
シラン、ジ−n−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ
−n−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−n−
ブチル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−n−ブチ
ル−ジ−フェノキシシラン、ジ−sec−ブチルジメト
キシシラン、ジ−sec−ブチルジエトキシシラン、ジ
−sec−ブチル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ−s
ec−ブチル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジ−s
ec−ブチル−ジ−n−ブトキシシラン、ジ−sec−
ブチル−ジ−sec−ブトキシシラン、ジ−sec−ブ
チル−ジ−tert−ブトキシシラン、ジ−sec−ブ
チル−ジ−フェノキシシラン、ジ−tert−ブチルジ
メトキシシラン、ジ−tert−ブチルジエトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−プロポキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−iso−プロポキシシ
ラン、ジ−tert−ブチル−ジ−n−ブトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−sec−ブトキシシラ
ン、ジ−tert−ブチル−ジ−tert−ブトキシシ
ラン、ジ−tert−ブチル−ジ−フェノキシシラン、
ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニル−ジ−エトキ
シシラン、ジフェニル−ジ−n−プロポキシシラン、ジ
フェニル−ジ−iso−プロポキシシラン、ジフェニル
−ジ−n−ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−sec−
ブトキシシラン、ジフェニル−ジ−tert−ブトキシ
シラン、ジフェニルジフェノキシシラン;γ−アミノプ
ロピルトリメトキシシラン、γ−アミノプロピルトリエ
トキシシラン、γ−グリシドキシプロピルトリメトキシ
シラン、γ−グリシドキシプロピルトリエトキシシラ
ン、γ−トリフロロプロピルトリメトキシシラン、γ−
トリフロロプロピルトリエトキシシラン;などを挙げる
ことができる。
【0016】化合物(1)として、テトラメトキシシラ
ン、テトラエトキシシラン、テトラ−n−プロポキシシ
ラン、テトラ−iso−プロポキシシラン、テトラフェ
ノキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルトリ
エトキシシラン、メチルトリ−n−プロポキシシラン、
メチルトリ−iso−プロポキシシラン、エチルトリメ
トキシシラン、エチルトリエトキシシラン、ビニルトリ
メトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、フェニル
トリメトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、ジ
メチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン、
ジエチルジメトキシシラン、ジエチルジエトキシシラ
ン、ジフェニルジメトキシシラン、ジフェニルジエトキ
シシランをより好ましい例として挙げることができる。
【0017】(A−2)成分 (A−2)成分を構成する化合物(2)は、上記一般式
(2)で表される。上記一般式(2)において、R3
6 は、1価の有機基であり、この有機基としては、先
の一般式(1)のR1 〜R2 と同様な有機基を挙げるこ
とができる。一般式(2)のうち、R7 が酸素原子の化
合物としては、ヘキサメトキシジシロキサン、ヘキサエ
トキシジシロキサン、ヘキサフェノキシジシロキサン、
1,1,1,3,3−ペンタメトキシ−3−メチルジシ
ロキサン、1,1,1,3,3−ペンタエトキシ−3−
メチルジシロキサン、1,1,1,3,3−ペンタメト
キシ−3−フェニルジシロキサン、1,1,1,3,3
−ペンタエトキシ−3−フェニルジシロキサン、1,
1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジメチルジシロ
キサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−1,3−ジ
メチルジシロキサン、1,1,3,3−テトラメトキシ
−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,1,3,3−
テトラエトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、
1,1,3−トリメトキシ−1,3,3−トリメチルジ
シロキサン、1,1,3−トリエトキシ−1,3,3−
トリメチルジシロキサン、1,1,3−トリメトキシ−
1,3,3−トリフェニルジシロキサン、1,1,3−
トリエトキシ−1,3,3−トリフェニルジシロキサ
ン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラメチ
ルジシロキサン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3
−テトラメチルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−
1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサン、1,3
−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラフェニルジシロ
キサンなどを挙げることができる。これらのうち、ヘキ
サメトキシジシロキサン、ヘキサエトキシジシロキサ
ン、1,1,3,3−テトラメトキシ−1,3−ジメチ
ルジシロキサン、1,1,3,3−テトラエトキシ−
1,3−ジメチルジシロキサン、1,1,3,3−テト
ラメトキシ−1,3−ジフェニルジシロキサン、1,3
−ジメトキシ−1,1,3,3−テトラメチルジシロキ
サン、1,3−ジエトキシ−1,1,3,3−テトラメ
チルジシロキサン、1,3−ジメトキシ−1,1,3,
3−テトラフェニルジシロキサン、1,3−ジエトキシ
−1,1,3,3−テトラフェニルジシロキサンなど
を、好ましい例として挙げることができる。
【0018】一般式(2)において、dが0の化合物と
しては、ヘキサメトキシジシラン、ヘキサエトキシジシ
ラン、ヘキサフェニキシジシラン、1,1,1,2,2
−ペンタメトキシ−2−メチルジシラン、1,1,1,
2,2−ペンタエトキシ−2−メチルジシラン、1,
1,1,2,2−ペンタメトキシ−2−フェニルジシラ
ン、1,1,1,2,2−ペンタエトキシ−2−フェニ
ルジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2
−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラエトキシ
−1,2−ジメチルジシラン、1,1,2,2−テトラ
メトキシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,1,2,
2−テトラエトキシ−1,2−ジフェニルジシラン、
1,1,2−トリメトキシ−1,2,2−トリメチルジ
シラン、1,1,2−トリエトキシ−1,2,2−トリ
メチルジシラン、1,1,2−トリメトキシ−1,2,
2−トリフェニルジシラン、1,1,2−トリエトキシ
−1,2,2−トリフェニルジシラン、1,2−ジメト
キシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,2
−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラ
ン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラフェ
ニルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−
テトラフェニルジシランなどが挙げられる。
【0019】一般式(2)において、R7 が−(C
2 n −の化合物としては、ビス(ヘキサメトキシシ
リル)メタン、ビス(ヘキサエトキシシリル)メタン、
ビス(ヘキサフェノキシシリル)メタン、ビス(ジメト
キシメチルシリル)メタン、ビス(ジエトキシメチルシ
リル)メタン、ビス(ジメトキシフェニルシリル)メタ
ン、ビス(ジエトキシフェニルシリル)メタン、ビス
(メトキシジメチルシリル)メタン、ビス(エトキシジ
メチルシリル)メタン、ビス(メトキシジフェニルシリ
ル)メタン、ビス(エトキシジフェニルシリル)メタ
ン、ビス(ヘキサメトキシシリル)エタン、ビス(ヘキ
サエトキシシリル)エタン、ビス(ヘキサフェノキシシ
リル)エタン、ビス(ジメトキシメチルシリル)エタ
ン、ビス(ジエトキシメチルシリル)エタン、ビス(ジ
メトキシフェニルシリル)エタン、ビス(ジエトキシフ
ェニルシリル)エタン、ビス(メトキシジメチルシリ
ル)エタン、ビス(エトキシジメチルシリル)エタン、
ビス(メトキシジフェニルシリル)エタン、ビス(エト
キシジフェニルシリル)エタン、1,3−ビス(ヘキサ
メトキシシリル)プロパン、1,3−ビス(ヘキサエト
キシシリル)プロパン、1,3−ビス(ヘキサフェノキ
シシリル)プロパン、1,3−ビス(ジメトキシメチル
シリル)プロパン、1,3−ビス(ジエトキシメチルシ
リル)プロパン、1,3−ビス(ジメトキシフェニルシ
リル)プロパン、1,3−ビス(ジエトキシフェニルシ
リル)プロパン、1,3−ビス(メトキシジメチルシリ
ル)プロパン、1,3−ビス(エトキシジメチルシリ
ル)プロパン、1,3−ビス(メトキシジフェニルシリ
ル)プロパン、1,3−ビス(エトキシジフェニルシリ
ル)プロパンなどを挙げることができる。
【0020】これらのうち、ヘキサメトキシジシラン、
ヘキサエトキシジシラン、ヘキサフェニキシジシラン、
1,1,2,2−テトラメトキシ−1,2−ジメチルジ
シラン、1,1,2,2−テトラエトキシ−1,2−ジ
メチルジシラン、1,1,2,2−テトラメトキシ−
1,2−ジフェニルジシラン、1,1,2,2−テトラ
エトキシ−1,2−ジフェニルジシラン、1,2−ジメ
トキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラン、1,
2−ジエトキシ−1,1,2,2−テトラメチルジシラ
ン、1,2−ジメトキシ−1,1,2,2−テトラフェ
ニルジシラン、1,2−ジエトキシ−1,1,2,2−
テトラフェニルジシラン、ビス(ヘキサメトキシシリ
ル)メタン、ビス(ヘキサエトキシシリル)メタン、ビ
ス(ジメトキシメチルシリル)メタン、ビス(ジエトキ
シメチルシリル)メタン、ビス(ジメトキシフェニルシ
リル)メタン、ビス(ジエトキシフェニルシリル)メタ
ン、ビス(メトキシジメチルシリル)メタン、ビス(エ
トキシジメチルシリル)メタン、ビス(メトキシジフェ
ニルシリル)メタン、ビス(エトキシジフェニルシリ
ル)メタンを、好ましい例として挙げることができる。
【0021】本発明において、(A)成分としては、上
記(A−1)成分および(A−2)成分、もしくはいず
れか一方を用い、(A−1)成分および(A−2)成分
はそれぞれ2種以上用いることもできる。
【0022】上記化合物(1)〜(2)を加水分解、縮
合させる際に、R2 O基やR4 O基,R5 O基で表され
る基の総モル数1モル当たり、0.25〜3モルの水を
用いることが好ましく、0.3〜2.5モルの水を加え
ることが特に好ましい。添加する水の量が0.25〜3
モルの範囲内の値であれば、塗膜の均一性が低下する恐
れが無く、また、膜形成用組成物の保存安定性が低下す
る恐れが少ないためである。
【0023】また、化合物(1)〜(2)を加水分解、
縮合させる際には、触媒を使用してもよい。この際に使
用する触媒としては、金属キレート化合物、有機酸、無
機酸、有機塩基、無機塩基を挙げることができる。
【0024】金属キレート化合物としては、例えば、ト
リエトキシ・モノ(アセチルアセトナート)チタン、ト
リ−n−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナート)チ
タン、トリ−i−プロポキシ・モノ(アセチルアセトナ
ート)チタン、トリ−n−ブトキシ・モノ(アセチルア
セトナート)チタン、トリ−sec−ブトキシ・モノ
(アセチルアセトナート)チタン、トリ−t−ブトキシ
・モノ(アセチルアセトナート)チタン、ジエトキシ・
ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−n−プロポ
キシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ−i−
プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタン、ジ
−n−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)チタ
ン、ジ−sec−ブトキシ・ビス(アセチルアセトナー
ト)チタン、ジ−t−ブトキシ・ビス(アセチルアセト
ナート)チタン、モノエトキシ・トリス(アセチルアセ
トナート)チタン、モノ−n−プロポキシ・トリス(ア
セチルアセトナート)チタン、モノ−i−プロポキシ・
トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ−n−ブ
トキシ・トリス(アセチルアセトナート)チタン、モノ
−sec−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)
チタン、モノ−t−ブトキシ・トリス(アセチルアセト
ナート)チタン、テトラキス(アセチルアセトナート)
チタン、トリエトキシ・モノ(エチルアセトアセテー
ト)チタン、トリ−n−プロポキシ・モノ(エチルアセ
トアセテート)チタン、トリ−i−プロポキシ・モノ
(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−n−ブトキ
シ・モノ(エチルアセトアセテート)チタン、トリ−s
ec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)チタ
ン、トリ−t−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテー
ト)チタン、ジエトキシ・ビス(エチルアセトアセテー
ト)チタン、ジ−n−プロポキシ・ビス(エチルアセト
アセテート)チタン、ジ−i−プロポキシ・ビス(エチ
ルアセトアセテート)チタン、ジ−n−ブトキシ・ビス
(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−sec−ブト
キシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、ジ−t
−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテート)チタン、
モノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタ
ン、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセトアセ
テート)チタン、モノ−i−プロポキシ・トリス(エチ
ルアセトアセテート)チタン、モノ−n−ブトキシ・ト
リス(エチルアセトアセテート)チタン、モノ−sec
−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)チタ
ン、モノ−t−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテ
ート)チタン、テトラキス(エチルアセトアセテート)
チタン、モノ(アセチルアセトナート)トリス(エチル
アセトアセテート)チタン、ビス(アセチルアセトナー
ト)ビス(エチルアセトアセテート)チタン、トリス
(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテー
ト)チタンなどのチタンキレート化合物;
【0025】トリエトキシ・モノ(アセチルアセトナー
ト)ジルコニウム、トリ−n−プロポキシ・モノ(アセ
チルアセトナート)ジルコニウム、トリ−i−プロポキ
シ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリ
−n−ブトキシ・モノ(アセチルアセトナート)ジルコ
ニウム、トリ−sec−ブトキシ・モノ(アセチルアセ
トナート)ジルコニウム、トリ−t−ブトキシ・モノ
(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジエトキシ・
ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−n−
プロポキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウ
ム、ジ−i−プロポキシ・ビス(アセチルアセトナー
ト)ジルコニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(アセチル
アセトナート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・
ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、ジ−t−
ブトキシ・ビス(アセチルアセトナート)ジルコニウ
ム、モノエトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジ
ルコニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(アセチル
アセトナート)ジルコニウム、モノ−i−プロポキシ・
トリス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、モノ−
n−ブトキシ・トリス(アセチルアセトナート)ジルコ
ニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(アセチルア
セトナート)ジルコニウム、モノ−t−ブトキシ・トリ
ス(アセチルアセトナート)ジルコニウム、テトラキス
(アセチルアセトナート)ジルコニウム、トリエトキシ
・モノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ
−n−プロポキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジ
ルコニウム、トリ−i−プロポキシ・モノ(エチルアセ
トアセテート)ジルコニウム、トリ−n−ブトキシ・モ
ノ(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリ−s
ec−ブトキシ・モノ(エチルアセトアセテート)ジル
コニウム、トリ−t−ブトキシ・モノ(エチルアセトア
セテート)ジルコニウム、ジエトキシ・ビス(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、ジ−n−プロポキシ・
ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−i
−プロポキシ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコ
ニウム、ジ−n−ブトキシ・ビス(エチルアセトアセテ
ート)ジルコニウム、ジ−sec−ブトキシ・ビス(エ
チルアセトアセテート)ジルコニウム、ジ−t−ブトキ
シ・ビス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モ
ノエトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジルコ
ニウム、モノ−n−プロポキシ・トリス(エチルアセト
アセテート)ジルコニウム、モノ−i−プロポキシ・ト
リス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ−
n−ブトキシ・トリス(エチルアセトアセテート)ジル
コニウム、モノ−sec−ブトキシ・トリス(エチルア
セトアセテート)ジルコニウム、モノ−t−ブトキシ・
トリス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、テト
ラキス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、モノ
(アセチルアセトナート)トリス(エチルアセトアセテ
ート)ジルコニウム、ビス(アセチルアセトナート)ビ
ス(エチルアセトアセテート)ジルコニウム、トリス
(アセチルアセトナート)モノ(エチルアセトアセテー
ト)ジルコニウムなどのジルコニウムキレート化合物;
【0026】トリス(アセチルアセトナート)アルミニ
ウム、トリス(エチルアセトアセテート)アルミニウム
などのアルミニウムキレート化合物;などを挙げること
ができる。
【0027】有機酸としては、例えば、酢酸、プロピオ
ン酸、ブタン酸、ペンタン酸、ヘキサン酸、ヘプタン
酸、オクタン酸、ノナン酸、デカン酸、シュウ酸、マレ
イン酸、メチルマロン酸、アジピン酸、セバシン酸、没
食子酸、酪酸、メリット酸、アラキドン酸、ミキミ酸、
2−エチルヘキサン酸、オレイン酸、ステアリン酸、リ
ノール酸、リノレイン酸、サリチル酸、安息香酸、p−
アミノ安息香酸、p−トルエンスルホン酸、ベンゼンス
ルホン酸、モノクロロ酢酸、ジクロロ酢酸、トリクロロ
酢酸、トリフルオロ酢酸、ギ酸、マロン酸、スルホン
酸、フタル酸、フマル酸、クエン酸、酒石酸などを挙げ
ることができる。無機酸としては、例えば、塩酸、硝
酸、硫酸、フッ酸、リン酸などを挙げることができる。
【0028】有機塩基としては、例えば、ピリジン、ピ
ロール、ピペラジン、ピロリジン、ピペリジン、ピコリ
ン、トリメチルアミン、トリエチルアミン、モノエタノ
ールアミン、ジエタノールアミン、ジメチルモノエタノ
ールアミン、モノメチルジエタノールアミン、トリエタ
ノールアミン、ジアザビシクロオクラン、ジアザビシク
ロノナン、ジアザビシクロウンデセン、テトラメチルア
ンモニウムハイドロオキサイドなどを挙げることができ
る。無機塩基としては、例えば、アンモニア、水酸化ナ
トリウム、水酸化カリウム、水酸化バリウム、水酸化カ
ルシウムなどを挙げることができる。これら触媒のう
ち、金属キレート化合物、有機酸、無機酸が好ましく、
より好ましくはチタンキレート化合物、有機酸を挙げる
ことができる。これらの触媒は、1種あるいは2種以上
を同時に使用してもよい。
【0029】上記触媒の使用量は、化合物(1)〜
(2)の総量100重量部に対し、通常、0.001〜
10重量部、好ましくは0.01〜10重量部の範囲で
ある。
【0030】(B)成分 本発明で使用するシラトラン化合物としては、下記一般
式(3)で表される化合物を挙げることができる。
【0031】
【化1】
【0032】〔上記一般式(3)において、R10は水素
原子、炭素数1〜12のアルキル基、アリール基または
アラルキル基、R11〜R22は同一または異なり、水素原
子または炭素数1〜3のアルキル基を示す。〕
【0033】シラトラン化合物としては、例えば、メチ
ルシラトラン、エチルシラトラン、n−プロピルシラト
ラン、i―プロピルシラトラン、n−ブチルシラトラ
ン、i−ブチルシラトラン、sec−ブチルシラトラ
ン、t−ブチルシラトラン、n−ペンチルシラトラン、
n−ヘキシルシラトラン、フェニルシラトラン、ハイド
ロジェンシラトランを好ましい例として挙げることがで
き、メチルシラトラン、フェニルシラトラン、ハイドロ
ジェンシラトランを特に好ましい例として挙げることが
できる。
【0034】本発明の膜形成用組成物は、(A)成分お
よび(B)成分を有機溶剤に溶解または分散してなる。
本発明に使用する有機溶剤としては、例えば、n−ペン
タン、i−ペンタン、n−ヘキサン、i−ヘキサン、n
−ヘプタン、i−ヘプタン、2,2,4−トリメチルペ
ンタン、n−オクタン、i−オクタン、シクロヘキサ
ン、メチルシクロヘキサンなどの脂肪族炭化水素系溶
媒;ベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、
トリメチルベンゼン、メチルエチルベンゼン、n−プロ
ピルベンセン、i−プロピルベンセン、ジエチルベンゼ
ン、i−ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジ−i
−プロピルベンセン、n−アミルナフタレン、トリメチ
ルベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒;
【0035】メタノール、エタノール、n−プロパノー
ル、i−プロパノール、n−ブタノール、i−ブタノー
ル、sec−ブタノール、t−ブタノール、n−ペンタ
ノール、i−ペンタノール、2−メチルブタノール、s
ec−ペンタノール、t−ペンタノール、3−メトキシ
ブタノール、n−ヘキサノール、2−メチルペンタノー
ル、sec−ヘキサノール、2−エチルブタノール、s
ec−ヘプタノール、ヘプタノール−3、n−オクタノ
ール、2−エチルヘキサノール、sec−オクタノー
ル、n−ノニルアルコール、2,6−ジメチルヘプタノ
ール−4、n−デカノール、sec−ウンデシルアルコ
ール、トリメチルノニルアルコール、sec−テトラデ
シルアルコール、sec−ヘプタデシルアルコール、フ
ェノール、シクロヘキサノール、メチルシクロヘキサノ
ール、3,3,5−トリメチルシクロヘキサノール、ベ
ンジルアルコール、フェニルメチルカルビノール、ジア
セトンアルコール、クレゾールなどのモノアルコール系
溶媒;
【0036】エチレングリコール、1,2−プロピレン
グリコール、1,3−ブチレングリコール、ペンタンジ
オール−2,4、2−メチルペンタンジオール−2,
4、ヘキサンジオール−2,5、ヘプタンジオール−
2,4、2−エチルヘキサンジオール−1,3、ジエチ
レングリコール、ジプロピレングリコール、トリエチレ
ングリコール、トリプロピレングリコール、グリセリン
などの多価アルコール系溶媒;アセトン、メチルエチル
ケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブ
チルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチルケト
ン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチル
ケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−ブチル
ケトン、トリメチルノナノン、シクロヘキサノン、2−
ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタ
ンジオン、アセトニルアセトン、ジアセトンアルコー
ル、アセトフェノン、フェンチョンなどのケトン系溶
媒;
【0037】エチルエーテル、i−プロピルエーテル、
n−ブチルエーテル、n−ヘキシルエーテル、2−エチ
ルヘキシルエーテル、エチレンオキシド、1,2−プロ
ピレンオキシド、ジオキソラン、4−メチルジオキソラ
ン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコ
ールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチ
ルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エ
チレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、エチレン
グリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エチレングリ
コールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ
−2−エチルブチルエーテル、エチレングリコールジブ
チルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテ
ル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチ
レングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコー
ルモノ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールジ
−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n
−ヘキシルエーテル、エトキシトリグリコール、テトラ
エチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、プロピレ
ングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコー
ルモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロ
ピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテ
ル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプ
ロピレングリコールモノエチルエーテル、トリプロピレ
ングリコールモノメチルエーテル、テトラヒドロフラ
ン、2−メチルテトラヒドロフランなどのエーテル系溶
媒;
【0038】ジエチルカーボネート、酢酸メチル、酢酸
エチル、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、酢
酸n−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、
酢酸i−ブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸n−ペンチ
ル、酢酸sec−ペンチル、酢酸3−メトキシブチル、
酢酸メチルペンチル、酢酸2−エチルブチル、酢酸2−
エチルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、
酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸n−ノニル、アセト酢
酸メチル、アセト酢酸エチル、酢酸エチレングリコール
モノメチルエーテル、酢酸エチレングリコールモノエチ
ルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノメチルエー
テル、酢酸ジエチレングリコールモノエチルエーテル、
酢酸ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、
酢酸プロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸プ
ロピレングリコールモノエチルエーテル、酢酸プロピレ
ングリコールモノプロピルエーテル、酢酸プロピレング
リコールモノブチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコ
ールモノメチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコール
モノエチルエーテル、ジ酢酸グリコール、酢酸メトキシ
トリグリコール、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n
−ブチル、プロピオン酸i−アミル、シュウ酸ジエチ
ル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸メチル、乳酸エチ
ル、乳酸n−ブチル、乳酸n−アミル、マロン酸ジエチ
ル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチルなどのエステ
ル系溶媒;
【0039】N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチ
ルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、アセ
トアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチル
アセトアミド、N−メチルプロピオンアミド、N−メチ
ルピロリドンなどの含窒素系溶媒;硫化ジメチル、硫化
ジエチル、チオフェン、テトラヒドロチオフェン、ジメ
チルスルホキシド、スルホラン、1,3−プロパンスル
トンなどの含硫黄系溶媒;などを挙げることができる。
これらの有機溶剤は、1種あるいは2種以上を混合して
使用することができる。
【0040】本発明の膜形成用組成物は、上記の有機溶
剤を含有するが、化合物(1)〜(2)を加水分解およ
び/または縮合する際に、同様の溶剤を使用することが
できる。具体的には、化合物(1)〜(2)を溶解させ
た有機溶剤中に、水を断続的あるいは連続的に添加す
る。この際、触媒は、有機溶剤中に予め添加しておいて
もよいし、水添加時に水中に溶解あるいは分散させてお
いてもよい。この際の反応温度としては、通常、0〜1
00℃、好ましくは15〜80℃である。
【0041】また、膜形成用組成物を構成するにあた
り、組成物中の沸点100℃以下のアルコールの含量
が、20重量%以下、特に5重量%以下であることが好
ましい。沸点100℃以下のアルコールは、上記化合物
(1)〜(2)の加水分解および/またはその縮合の際
に生じる場合があり、その含量が20重量%以下、好ま
しくは5重量%以下になるように蒸留などにより除去す
ることが好ましい。
【0042】本発明の膜形成用組成物中における(A)
成分と(B)成分の使用割合は、(A)成分(完全加水
分解縮合物換算)100重量部に対して、(B)成分が
0.01〜10重量部、好ましくは0.1〜5重量部で
ある。(B)成分の含有量が0.01重量部未満である
と、塗膜の硬化性が低下し、一方、10重量部を超える
と、組成物から得られる塗膜の均一性が低下する。な
お、本発明において完全加水分解縮合物とは、(A)成
分を構成する化合物(1)〜(2)のR2 O基や、R4
O基,R5 O基で表される基が100%加水加水分解し
てOH基となり、完全に縮合したものを示す。
【0043】本発明の膜形成用組成物は、さらに下記の
ような成分を添加してもよい。β−ジケトン β−ジケトンとしては、アセチルアセトン、2,4−ヘ
キサンジオン、2,4−ヘプタンジオン、3,5−ヘプ
タンジオン、2,4−オクタンジオン、3,5−オクタ
ンジオン、2,4−ノナンジオン、3,5−ノナンジオ
ン、5−メチル−2,4−ヘキサンジオン、2,2,
6,6−テトラメチル−3,5−ヘプタンジオン、1,
1,1,5,5,5−ヘキサフルオロ−2,4−ヘプタ
ンジオンなどの1種または2種以上である。本発明にお
いて、膜形成用組成物中のβ−ジケトン含有量は、全溶
剤の1〜50重量%、好ましくは3〜30重量%とする
ことが好ましい。このような範囲でβ−ジケトンを添加
すれば、一定の保存安定性が得られるとともに、膜形成
用組成物の塗膜均一性などの特性が低下する恐れが少な
い。
【0044】その他の添加剤 本発明で得られる膜形成用組成物には、さらにコロイド
状シリカ、コロイド状アルミナ、有機ポリマー、界面活
性剤などの成分を添加してもよい。コロイド状シリカと
は、例えば、高純度の無水ケイ酸を上記親水性有機溶媒
に分散した分散液であり、通常、平均粒径が5〜30m
μ、好ましくは10〜20mμ、固形分濃度が10〜4
0重量%程度のものである。このような、コロイド状シ
リカとしては、例えば、日産化学工業(株)製、メタノ
ールシリカゾルおよびイソプロパノールシリカゾル;触
媒化成工業(株)製、オスカルなどが挙げられる。コロ
イド状アルミナとしては、日産化学工業(株)製のアル
ミナゾル520、同100、同200;川研ファインケ
ミカル(株)製のアルミナクリアーゾル、アルミナゾル
10、同132などが挙げられる。
【0045】有機ポリマーとしては、例えば、ポリアル
キレンオキサイド構造を有する化合物、糖鎖構造を有す
る化合物、ビニルアミド系重合体、(メタ)アクリレー
ト化合物、芳香族ビニル化合物、デンドリマー、ポリイ
ミド、ポリアミック酸、ポリアリーレン、ポリアミド、
ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ素系重
合体などを挙げることができる。界面活性剤としては、
例えば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性
剤、カチオン系界面活性剤、両性界面活性剤などが挙げ
られ、さらには、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキ
レンオキシド系界面活性剤、含フッ素界面活性剤などを
挙げることができる。
【0046】なお、本発明で得られる膜形成用組成物に
おいて、この組成物中のナトリウム含量を20ppb以
内の値とするのが好ましい。このような範囲にナトリウ
ム含量を限定することにより、半導体などの層間絶縁膜
材料に用いた場合でも、電気回路などの信頼性を低下さ
せる恐れがない。また、腐食の発生をより効率的に防止
しながら、均一な厚さの層間絶縁膜とすることができ
る。
【0047】膜形成用組成物の調製方法 本発明の膜形成用組成物を調製するに際しては、上記の
ように、有機溶剤中、化合物(1)および/または
(2)を混合して、触媒および水の存在下で、化合物
(1)および/または(2)を加水分解し、縮合し、こ
れに(B)成分を添加すればよく、特に限定されない。
しかしながら、上記金属キレート化合物とβ−ジケトン
類を使用する場合には、組成物を調製後、最後にβ−ジ
ケトンを添加する方法が採用される。
【0048】本発明の組成物の調製法の具体例として
は、下記〜の方法などを挙げることができる。 化合物(1)および/または(2)、ならびに必要量
の有機溶剤からなる混合物に、所定量の水および触媒を
加えて加水分解・縮合反応を行ない、次いで、(B)成
分を添加する方法。 化合物(1)および/または(2)、ならびに必要量
の有機溶剤からなる混合物に、所定量の水および触媒を
加えて加水分解・縮合反応を行ったのち、反応により生
じたアルコール成分を減圧除去し、次いで、(B)成分
を添加する方法。
【0049】化合物(1)および/または(2)、な
らびに必要量の有機溶剤からなる混合物に、所定量の水
および触媒を加えて加水分解・縮合反応を行ったのち、
(B)成分およびβ−ジケトンを添加する方法。 化合物(1)および/または(2)、ならびに必要量
の有機溶剤からなる混合物に、所定量の水および触媒を
加えて加水分解・縮合反応を行ったのち、反応により生
じたアルコール成分を減圧除去し、次いで、(B)成分
およびβ−ジケトンを添加する方法。
【0050】化合物(1)および/または(2)、な
らびに必要量の有機溶剤からなる混合物に、所定量の水
および触媒を加えて加水分解・縮合反応を行ったのち、
(B)成分およびβ−ジケトンを添加し、次いで、反応
により生じたアルコール成分を減圧除去する方法。
【0051】このようにして得られる本発明の組成物の
全固形分濃度は、好ましくは、2〜30重量%であり、
使用目的に応じて適宜調整される。組成物の全固形分濃
度が2〜30重量%であると、塗膜の膜厚が適当な範囲
となり、保存安定性もより優れるものである。ここで、
固形分濃度は、上記有機溶剤の使用量によって、容易に
調整することができる。また、このようにして得られる
組成物中の(A)成分である加水分解縮合物の重量平均
分子量は、通常、1,000〜120,000、好まし
くは1,200〜100,000程度である。
【0052】このようにして得られる本発明の組成物
を、シリコンウエハ、SiO2 ウエハ、SiNウエハな
どの基材に塗布する際には、スピンコート法、浸漬法、
ロールコート法、スプレー法などの塗装手段が用いられ
る。
【0053】この際の膜厚は、乾燥膜厚として、1回塗
りで厚さ0.05〜1.5μm程度、2回塗りでは厚さ
0.1〜3μm程度の塗膜を形成することができる。そ
の後、常温で乾燥するか、あるいは、80〜600℃程
度の温度で、通常、5〜240分程度加熱して乾燥する
ことにより、ガラス質または巨大高分子の絶縁膜(層間
絶縁膜用材料)を形成することができる。この際の加熱
方法としては、ホットプレート、オーブン、ファーネス
などを使用することができ、加熱雰囲気としては、大気
下、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気、真空下、酸素濃度を
コントロールした減圧下などで行うことができる。
【0054】このようにして得られる膜は、絶縁性に優
れ、塗布膜の均一性、誘電率特性、塗膜の耐クラック
性、塗膜の表面硬度に優れるから、LSI、システムL
SI、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDR
AMなどの半導体素子用層間絶縁膜、半導体素子の表面
コート膜などの保護膜、多層配線基板の層間絶縁膜、液
晶表示素子用の保護膜や絶縁防止膜などの用途に有用で
ある。
【0055】
【実施例】以下、実施例を挙げて、本発明をさらに具体
的に説明する。ただし、以下の記載は、本発明の態様例
を概括的に示すものであり、この記載により本発明は限
定されるものではない。なお、実施例中の部は、重量基
準である。また、膜形成用組成物の評価は、次のように
して測定したものである。
【0056】膜厚均一性 膜形成用組成物を、8インチシリコンウエハ上に、スピ
ンコーターを用いて、回転数1,800rpm、20秒
の条件で以て塗布した。その後、80℃の温度に保持し
たホットプレートを用いて、膜形成用組成物を塗布した
シリコンウエハを5分間加熱し、有機溶媒を飛散させ
た。次いで、200℃の温度に保持したホットプレート
を用いて、膜形成用組成物を塗布したシリコンウエハを
5分間加熱し、シリコンウエハ上に塗膜を形成させた。
このようにして得られた塗膜の膜厚を、光学式膜厚計
(Rudolph Technologies社製、S
pectra Laser200)を用いて塗膜面内で
50点測定した。得られた膜厚の3σを計算し、下記基
準で評価した。 ○:塗膜の3σが100nm未満 ×:塗膜の3σが100nm以上
【0057】吸湿性 8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて
組成物試料を塗布し、ホットプレート上で80℃で1分
間、200℃で1分間基板を乾燥し、さらに窒素置換し
たオーブン中400℃で30分間基板を焼成した。次い
で、焼成基板をクリーンルーム内で23℃、50%RH
の雰囲気で2週間放置後、吸湿性をTDS装置(電子科
学製、EMD−WA100S型)を用いて評価した。評
価条件は、以下のとおりである。すなわち、1℃/se
c.の昇温速度で室温から600℃まで加熱してTDS
スペクトルを測定し、水のフラグメント(M/Z=1
8)の室温から400℃までの面積を膜厚500nm換
算で求める。その際、8インチシリコンウエハ上に形成
したCVD法SiO2 膜の水のフラグメント(M/Z=
18)の面積を同様にして求め、両者の面積比(組成物
/CVD法SiO2 )で吸湿性を評価した。面積比が小
さいほど、吸湿性が小さく良好である。
【0058】誘電率 8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて
組成物試料を塗布し、ホットプレート上で80℃で1分
間、200℃で1分間基板を乾燥し、さらに400℃の
真空オーブン中で30分間、基板を焼成した。得られた
基板上にアルミニウムを蒸着し、誘電率評価用基板を作
製した。誘電率は、横川・ヒューレットパッカード
(株)製、HP16451B電極およびHP4284A
プレシジョンLCRメーター用いて、10kHzにおけ
る容量値から算出した。
【0059】合成例1 メチルトリメトキシシラン169.7gをイソプロピル
エーテル91gに溶解させたのち、スリーワンモーター
で攪拌させ、溶液温度を50℃に安定させた。次に、酢
酸4.4gを溶解させたイオン交換水130gを1時間
かけて溶液に添加した。その後、50℃で2時間反応さ
せたのち、反応液を室温まで冷却した。この反応液に、
プロピレングリコールモノプロピルエーテル239g添
加し、50℃で反応液からメタノールを含む溶液を23
9gエバポレーションで除去し、反応液(A−1)を得
た。
【0060】合成例2 メチルトリメトキシシラン169.7gとジイソプロポ
キシチタンビスエチルアセチルアセテート1.1gをメ
チルアミルケトン91gに溶解させたのち、スリーワン
モーターで攪拌させ、溶液温度を50℃に安定させた。
次に、イオン交換水130gを1時間かけて溶液に添加
した。その後、50℃で2時間反応させたのち、反応液
を室温まで冷却した。この反応液に酢酸ブチル239g
添加し、50℃で反応液からメタノールを含む溶液を2
39gエバポレーションで除去し、反応液(A−2)を
得た。
【0061】合成例3 メチルトリメトキシシラン101.8gとテトラメトキ
シシラン84.7gをプロピレングリコールモノプロピ
ルエーテル143gに溶解させたのち、スリーワンモー
ターで攪拌させ、溶液温度を50℃に安定させた。次
に、シュウ酸4.4gを溶解させたイオン交換水70g
を1時間かけて溶液に添加した。その後、50℃で2時
間反応させたのち、反応液を室温まで冷却した。この反
応液にプロピレングリコールモノプロピルエーテル23
4g添加し、50℃で反応液からメタノールを含む溶液
を234gエバポレーションで除去し、反応液(A−
3)を得た。
【0062】実施例1 合成例1で得られた反応液(A−1)に、反応溶液(A
−1)中の固形分100部に対して0.3部になるよう
メチルシラトランを添加した。得られた溶液を十分に攪
拌したのち、0.2μm孔径のポリテトラフルオロエチ
レン製フィルターでろ過を行い、スピンコート法でシリ
コンウエハ上に塗布し、ホットプレート上で80℃で1
分間、200℃で1分間基板を乾燥し、さらに窒素置換
したオーブン中400℃で30分間基板を焼成した。得
られた塗膜の塗膜の膜厚は530nmであり、3σは6
1nmと良好であった。塗膜の吸湿性は水のピークの面
積比=0.4と良好であった。また、塗膜の誘電率を評
価したところ、2.71と非常に低い誘電率を示した。
【0063】実施例2〜5 合成例1、2および3で得られた反応液(A−1),
(A−2)および(A−3)と表1に示す(B)成分を
使用した以外は、実施例1と同様に塗膜を評価した。評
価結果を表1に示す。
【0064】
【表1】
【0065】*)添加量:反応液中の固形分〔化合物
(1)〜(2)の完全加水分解縮合物換算〕100部に
対する(B)成分の添加量 (B)成分: (a)メチルシラトラン〔上記一般式(3)において、
10がメチル基、R11〜R22がいずれも水素原子〕 (b)フェニルシラトラン〔上記一般式(3)におい
て、R10がフェニル基、R11〜R22がいずれも水素原
子〕 (c)エチルシラトラン〔上記一般式(3)において、
10がエチル基、R11〜R22がいずれも水素原子〕
【0066】比較例1 合成例1で得られた反応液(A−1)のみを使用した以
外は、実施例1と同様に実施例1と同様に塗膜の評価を
行った。塗膜の膜厚は570nmで3σは77nm、誘
電率は2.64と良好であったが、得られた塗膜の吸湿
性は面積比2.1と劣るものであった。
【0067】比較例2 合成例2で得られた反応液(A−2)のみを使用した以
外は、実施例1と同様に塗膜の評価を行った。塗膜の膜
厚は600nmで3σは77nm、誘電率は2.71と
良好であったが、得られた塗膜の吸湿性は面積比1.8
と劣るものであった。
【0068】比較例3 合成例3で得られた反応液(A−3)のみを使用した以
外は、実施例1と同様に塗膜の評価を行った。塗膜の膜
厚は610nmで3σは75nm、誘電率は2.76と
良好であったが、得られた塗膜の吸湿性は面積比2.5
と劣るものであった。
【0069】
【発明の効果】本発明によれば、アルコキシシラン類の
加水分解縮合物とシラトラン化合物とを含有させること
により、塗布膜における厚さの均一性、誘電率特性、低
吸湿性のバランスに優れた、層間絶縁膜用材料に有用な
膜形成用組成物を提供することが可能である。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4J002 CP021 CP031 EX076 GQ01 4J038 DL032 DL051 JC32 JC35 KA06 NA07 NA17 NA20 PB09 PC03

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 (A)(A−1)下記一般式(1)で表
    される化合物 R1 a Si(OR2 4-a ・・・・・(1) (R1 は水素原子、フッ素原子または1価の有機基を示
    し、R2 は1価の有機基を示し、aは0〜2の整数を表
    す。)、および(A−2)下記一般式(2) で表される
    化合物 R3 b (R4 O)3-b Si−(R7 d −Si(OR5 3-c 6 c ・・・・・(2) 〔R3 ,R4 ,R5 およびR6 は、同一でも異なってい
    てもよく、それぞれ1価の有機基を示し、bおよびc
    は、同一でも異なっていてもよく、0〜2の数を示し、
    7 は酸素原子または−(CH2 n −を示し、dは0
    または1を示し、nは1〜6の数を示す。〕からなる群
    より選ばれる少なくとも1種の化合物、その加水分解物
    および/またはその縮合物、ならびに(B)シラトラン
    化合物を含有することを特徴とする膜形成用組成物。
  2. 【請求項2】 (A)成分(完全加水分解縮合物換算)
    100重量部に対し、(B)成分が0.01〜10重量
    部である請求項1記載の膜形成用組成物。
  3. 【請求項3】 請求項1または2記載の膜形成用組成物
    からなる絶縁膜形成用材料。
JP15595299A 1999-06-03 1999-06-03 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料 Withdrawn JP2000345036A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15595299A JP2000345036A (ja) 1999-06-03 1999-06-03 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP15595299A JP2000345036A (ja) 1999-06-03 1999-06-03 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000345036A true JP2000345036A (ja) 2000-12-12

Family

ID=15617126

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP15595299A Withdrawn JP2000345036A (ja) 1999-06-03 1999-06-03 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000345036A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102024758B1 (ko) * 2018-05-26 2019-09-25 에스케이이노베이션 주식회사 식각액 조성물, 절연막의 식각방법, 반도체 소자의 제조방법 및 실란화합물

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102024758B1 (ko) * 2018-05-26 2019-09-25 에스케이이노베이션 주식회사 식각액 조성물, 절연막의 식각방법, 반도체 소자의 제조방법 및 실란화합물
US10836962B2 (en) 2018-05-26 2020-11-17 Sk Innovation Co., Ltd. Etchant composition, method of etching insulating film, method of manufacturing semiconductor device, and silane compound
US11365350B2 (en) 2018-05-26 2022-06-21 Sk Innovation Co., Ltd. Silane compound

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100685333B1 (ko) 막형성용 조성물 및 절연막 형성용 재료
KR100618487B1 (ko) 막 형성용 조성물, 막의 형성 방법 및 절연막
KR20010078164A (ko) 실리카계 막의 제조 방법, 실리카계 막, 절연막 및 반도체장치
JP2000309753A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP4305587B2 (ja) 半導体装置用の層間絶縁膜形成用材料
JP4662000B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および絶縁膜
JP2000328004A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP4453148B2 (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2001049179A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP2000345041A (ja) 膜形成用組成物、膜形成用組成物の製造方法および絶縁膜形成用材料
JP2001040283A (ja) 膜形成用組成物の製造方法、膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP4022802B2 (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および絶縁膜
JP2000309751A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2001286821A (ja) シリカ系膜の製造方法、シリカ系膜、絶縁膜および半導体装置
JP2005179587A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法およびシリカ系膜
JP4320855B2 (ja) 絶縁膜形成用組成物
JP4304774B2 (ja) 膜形成用組成物の製造方法、膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2001049184A (ja) 膜形成用組成物、膜の形成方法および低密度化膜
JP4411687B2 (ja) 膜形成用組成物の製造方法、膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2000344894A (ja) 膜形成用組成物の製造方法、膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2001055509A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2000345036A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP4461554B2 (ja) 膜形成用組成物、その製造方法および絶縁膜形成用材料
JP2001049172A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料
JP2001040092A (ja) 膜形成用組成物および絶縁膜形成用材料

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Withdrawal of application because of no request for examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20060905