JP2000332500A - 電子部品の照明設定方法 - Google Patents

電子部品の照明設定方法

Info

Publication number
JP2000332500A
JP2000332500A JP11135974A JP13597499A JP2000332500A JP 2000332500 A JP2000332500 A JP 2000332500A JP 11135974 A JP11135974 A JP 11135974A JP 13597499 A JP13597499 A JP 13597499A JP 2000332500 A JP2000332500 A JP 2000332500A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electronic component
illumination
light source
data
image
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11135974A
Other languages
English (en)
Inventor
Yasushi Mizuoka
靖司 水岡
Yoichiro Ueda
陽一郎 上田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP11135974A priority Critical patent/JP2000332500A/ja
Publication of JP2000332500A publication Critical patent/JP2000332500A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】自動的、且つ定量的な分析によって最適な照明
制御データを迅速、且つ確実に探し出して設定すること
のできる電子部品の照明設定方法を提供する。 【解決手段】複数の光源列3a〜3cの組み合わせ毎
に、光源列3a〜3cの照度レベルを複数段に可変しな
がら、電子部品7の画像認識を行い、画像データの輝度
の変化に対する電子部品の認識位置のばらつき度合のデ
ータを求める処理と、求めたデータの近似曲線を求める
処理と、近似曲線における所定の閾値よりも低いばらつ
き度合を得られる輝度の許容範囲幅Dを求める処理とを
それぞれ行う。光源列3a〜3cの組み合わせ毎に求め
た許容範囲幅Dのうちの幅が最も大きい光源列3a〜3
cの組み合わせと、その最も大きい許容範囲幅Dにおけ
る中点の照明可変データとを、照明制御データとして設
定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、種々の電子部品を
回路基板に自動的に実装する電子部品実装装置におい
て、吸着ノズルなどに吸着保持され、且つ照明装置から
照明光を照射されている電子部品を認識カメラで撮像し
た画像データに基づいて電子部品の位置を画像認識する
に際し、照明装置を異なる種別の電子部品毎に点灯制御
するための照明制御データを、種々の電子部品毎にそれ
ぞれ要求される適正な照明光を照射できるように設定す
る電子部品の照明設定方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来の一般的な電子部品実装装置は、部
品供給手段により部品供給位置に供給された電子部品を
実装ヘッドの吸着ノズルで吸着保持し、その吸着ノズル
と回路基板とを相対移動させることにより、電子部品と
回路基板の所要の部品装着部とが合致するよう位置決め
したのちに、吸着ノズルが下動して吸着中の電子部品を
回路基板の部品装着部に実装するようになっている。ま
た、吸着ノズルの移動経路中における電子部品を吸着ノ
ズルで吸着する部品供給位置と電子部品を回路基板に実
装する部品装着位置との中間には、部品認識位置が設け
られている。
【0003】上記の部品認識位置には、図1に示すよう
に、認識カメラ2、照明装置3および照明制御装置(図
示せず)などを備えた部品認識ユニット1が配置されて
いる。部品認識ユニット1では、吸着ノズル4に吸着保
持されている電子部品7を照明装置3からの照明光で照
射しながら認識カメラ2で撮像して、その画像データに
基づいて、電子部品7の吸着ノズル4に対する吸着姿勢
や電子部品7の形状などを画像認識し、吸着ノズル4に
対する電子部品7の位置ずれ量の算出や電子部品7の種
別或いは良否の判別などが行われる。
【0004】上記照明装置3は、例えば、発光ダイオー
ドなどの多数個の光源8を所定の配置で組み合わせた構
成になっている。現在の照明装置3の一例では、計120
個の光源8を上段、中段および下段にそれぞれ40個ずつ
配列して組み合わせた構成になっており、これら上段光
源列3a、中段光源列3bおよび下段光源列3cは、各
々40個の光源を、認識カメラ2の光学系の光軸に対しそ
れぞれ75°、60°および45°の角度に向けた配置で矩形
状に一列に配列した構成になっている。したがって、各
光源列3a〜3cは、電子部品7に対し照明光をそれぞ
れ75°、60°および45°の照射角度で四方からそれぞれ
照射できるようになっている。
【0005】また、各光源列3a〜3cの各々の全体か
ら出射される照明光は、点灯すべき光源8の選択と、選
択した光源8への電流値の可変制御、つまり光源8の光
度の可変制御とにより、電子部品7での照度レベルを電
子部品7の形状に対応するよう複数段に可変制御するよ
うになっている。さらに、各光源列3a〜3cは、適宜
選択したものを組み合わせて使用できるようになってお
り、これら照射角度が互いに異なる3種類の光源列3a
〜3cの組み合わせは、下記の(表1)に示すように、
7通りとなる。
【0006】
【表1】 上記照明制御装置は、種別の相違に応じて形状などが互
いに異なる電子部品7毎に、撮像に最適な照明光、つま
り電子部品7と背景との間の明暗のコントラストが最大
となるような照明光を出射するよう照明装置3を制御す
るものである。この照明制御装置のメモリには、電子部
品の種別毎に、使用する光源列3a〜3cの組み合わ
せ、つまり照射角度の組み合わせと、使用する光源列3
a〜3cにおける点灯すべき光源8およびその光源8に
供給する電流値(以下、光源列3a〜3cの組み合わ
せ、点灯すべき光源8およびその光源8に供給する電流
値を総称して照明制御データという)が予め登録されて
いる。なお、照明装置3に組み込まれるレンズなどの光
学系(図示せず)としては、微小部品から大形部品まで
の全ての電子部品7に対し照明光を照射できる視野を有
したものが用いられている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述の各種
電子部品7毎の照明制御データは、作業者により予め実
験的に求められて照明制御装置のメモリに登録される。
例えば、図7(a)の平面図に示した電子部品7の一種
である3端子トランジスタの場合には、先ず、この電子
部品7を認識カメラ2で撮像して得られた画像データに
対し任意のラインLに沿った輝度プロットを求める。同
図(b)はその輝度プロットの一例を示すもので、この
輝度プロットでの最も大きな輝度差Mが得られる画像デ
ータの箇所を求める。この場合には、画像データにおけ
る3本の端子7aのうちの図の右側の1本の端子7aの
先端部に相当する箇所において最も大きな輝度差Mが得
られる。なお、求めた最も大きな輝度差Mが得られる箇
所は、一般に、部品認識ユニット1に対し画像認識する
ときの電子部品7の認識すべき部位としてそのまま設定
される。
【0008】そして、作業者は、上述のように画像デー
タにおける最も大きな輝度差Mが得られる箇所を見つけ
出したのちに、各光源列3a〜3cの組み合わせを順次
変えるとともに、その組み合わせに選択した光源列3a
〜3cにおける点灯すべき光源8や光度を適当に可変し
ながら、その照明条件を可変する毎に、認識カメラ2で
電子部品7を撮像した画像データにおける上述の求めた
部位の輝度差をその都度計測して、その輝度差が最大と
なるように照明装置3からの照明光を調整する。
【0009】この調整により、作業者は輝度差が最大に
なったと判断したときに、その輝度差が得られた時の照
明条件を、照明制御データとして照明制御装置のメモリ
に電子部品の種別と関連付けて登録する。上記の画像デ
ータにおける輝度差は、照明光によって電子部品7の所
定箇所と背景との間の明暗のコントラストが高くなる
程、大きくなる。したがって、作業者は、照明条件を順
次変えながら照明光を調整して、電子部品7の所定箇所
と背景との間の明暗のコントラストが最も高くなる照明
条件を見つけ出す作業をしていることになる。
【0010】しかしながら、上述のような従来の照明設
定方法では、作業者の熟練に基づく勘に依存する割合が
非常に高い。そのため、特にコネクタやフィルタなどの
比較的複雑な形状を有する電子部品7の場合には、どの
照射角度で四方のうちのどの方向からどの程度の光量を
有する照明光を照射すればよいかの判断基準がないこと
から、照明条件の変更による試行錯誤を繰り返しなが
ら、電子部品7と背景との間に高い明暗のコントラスト
を得られる照明光の調整を行っているので、所要の照明
制御データを見つけ出すのに非常に手間取ることが多い
上に、その見つけ出した照明制御データは必ずしも最適
な照明光を得られるものとはなり難い。このように、照
明光が最適なものにならないと、画像データにおける電
子部品と背景との間の輝度のコントラストが十分に高く
ならないので、画像認識により得られた電子部品の認識
位置にばらつきが生じ、高精度な画像認識を行えない問
題が発生する。
【0011】そこで、本発明は、上記従来の問題点に鑑
みてなされたもので、自動的、且つ定量的な分析によっ
て最適な照明制御データを迅速、且つ確実に探し出して
設定することのできる電子部品の照明設定方法を提供す
ることを目的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、複数個の光源をそれぞれ配列した複数の
光源列を有し、その各光源列が、各々の前記各光源を電
子部品に対し前記光源列毎に互いに異なる照射角度から
撮像用の照明光を照射する向きで配列してなる構成とな
った照明装置を備え、前記照明装置を種別の異なる電子
部品毎に点灯制御するための照明制御データを設定する
電子部品の照明設定方法において、前記各光源列の組み
合わせを設定し、その光源列の組み合わせ毎に、組み合
わせに選択した前記光源列を複数の照明可変データによ
り順次点灯制御して電子部品での照度レベルを複数段に
可変しながら、各照度レベル毎に画像データを所定回数
ずつ繰り返し入力して、その都度、電子部品の画像認識
を行い、画像データの輝度の変化に対する電子部品の認
識位置のばらつき度合を求める処理と、前記輝度の変化
に対する認識位置のばらつき度合のデータの曲線近似を
行って近似曲線を求める処理と、前記近似曲線における
所定の閾値よりも低いばらつき度合を得られる輝度の許
容範囲幅を求める処理とをそれぞれ行い、前記光源列の
組み合わせ毎にそれぞれ求めた前記許容範囲幅のうちの
幅が最も大きい前記光源列の組み合わせと、その最も大
きい前記許容範囲幅における中点の照明可変データと
を、前記照明制御データとして設定するようにしたこと
を特徴としている。
【0013】この電子部品の照明設定方法では、形状の
相違する各種の電子部品に対してそれぞれ、照明光の照
射角度が互いに異なる複数の光源列の各組み合わせ毎
に、電子部品に対する照度レベルを複数段に可変しなが
ら、各照度レベル毎に画像データを所定回数ずつ繰り返
し入力して画像認識を行って、画像データの輝度の変化
に対する電子部品の認識位置のばらつき度合が閾値より
も低い許容範囲幅を求めたのち、その許容範囲幅が最も
大きい照射角度の組み合わせと、そのときの電子部品に
対する照度レベルとを求めて照明制御データを決定して
いる。したがって、各種の電子部品毎に設定する照明制
御データは、多数回の画像認識の結果である多くのデー
タに基づく定量的な分析によって決定することから、形
状の相違する各電子部品毎に求められる最適な照明光を
確実に照射することのできる最適なものとなり、しか
も、その照明制御データを自動的な処理によって迅速に
求めることができる。
【0014】上記発明において、同一の電子部品につい
て、画像データにおける或る走査ライン上のエッジを検
出する画像認識方法、画像データの輝度の投影データに
おける閾値以上のレベルの中点を検出する画像認識方法
およびパターンマッチング法を用いる画像認識方法を少
なくとも含む複種類の画像認識方法で電子部品の位置を
それぞれ画像認識して、各画像認識方法毎に画像データ
の輝度の変化に対する電子部品の認識位置のばらつき度
合を求める処理を行い、各画像認識方法毎に求めた輝度
の許容範囲幅のうちの最も大きな許容範囲幅となった光
源列の組み合わせと、その許容範囲幅における中点の照
明可変データとを、照明制御データとして設定すること
が好ましい。
【0015】これにより、或る画像認識方法では電子部
品に求められる最適な照明光を得られない場合でも、画
像認識方法を変えることにより、その電子部品に最適な
照明光を見つけ出すことが可能となるから、複雑な形状
の電子部品に対しても、その電子部品と背景との間に高
い明暗のコントラストを得ることのできる高精度な照明
制御データを確実、且つ迅速に設定することが可能にな
るとともに、電子部品に適した画像認識方法をも同時に
設定することができる。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の好ましい実施の形
態について図面を参照しながら説明する。図2は、本発
明の第1の実施の形態に係る電子部品の照明設定方法の
処理を示すフローチャートで、この実施の形態では、図
1に示した部品認識ユニット1に適用する場合を例示し
てある。すなわち、照明装置3は、電子部品7に対して
75°,60°および45°の照射角度からそれぞれ照明光を
照射できる3種類の光源列3a〜3cを備えており、照
射角度の組み合わせは上記の(表1)に示したように7
通りが可能である。
【0017】先ず、初期設定として、図示しない中央演
算処理ユニットのメモリには、各光源列3a〜3cの選
択による照射角度の組み合わせの順序を決めた組み合わ
せ順序データおよびその各組み合わせ毎の点灯すべき光
源8とその点灯する光源8への供給電流値(つまり光
度)とを可変するための照明可変データが設定記憶され
る(ステップS1)。
【0018】つぎに、照射角度の組み合わせ順序の変数
Nに「1」を設定し(ステップS2)、さらに、照明可
変データの順序の変数Kに「1」を設定する(ステップ
S3)。照明制御装置は、照射角度の組み合わせ順序デ
ータおよび照明可変データのうちの上記の各変数N,K
にそれぞれ設定された順序に相当するデータをメモリか
らそれぞれ読み出して、その読み出したデータに基づい
て照明装置3を点灯制御する。この場合、照明制御装置
は組み合わせ順序の1番目に設定されている光源列3a
〜3cの組み合わせを選択して、その選択した光源列3
a〜3cの各々の各光源8を1番目の照明可変データに
基づき点灯制御し(ステップS4)、所定の照度レベル
の照明光を照明装置3から電子部品7に対し照射させ
る。
【0019】認識カメラ2は上記の照明光を照射された
電子部品7を撮像し、その画像データは図示しない画像
認識部に取り込まれる(ステップS5)。画像認識部
は、画像データに基づいて、例えば図7のようにして求
めた電子部品7の所定部位の位置を画像認識し(ステッ
プS6)、その画像認識の結果である認識位置をメモリ
に一時記憶する(ステップS7)。続いて、中央演算処
理ユニットは、繰り返し回数の変数であるRに「1」を
加算し(ステップS8)、その変数Rが「30」に達した
か否かを判別する(ステップS9)。いま、変数Rは
「1」であるから、ステップS5にリターンして、前述
のように設定した照明条件において、入力画像データに
対する画像認識を、変数Rが「30」になったと判別(ス
テップS9)するまで繰り返し、その画像認識する毎
に、その認識位置をメモリに一時記憶していく。
【0020】すなわち、この実施の形態では、一つの照
射角度の組み合わせにおける一つの照度レベルの設定、
つまり或る一つの照明条件に対して30回の画像認識を繰
り返すとともに、その都度、画像認識した結果である電
子部品7の認識位置をメモリに一時記憶する。画像認識
の30回の繰り返しが終了したと判別(ステップS9)し
たときに、変数Rをクリアして「0」に設定したのち
に、メモリに一時記憶している30回分の画像認識の結果
である認識位置を読み出して、30回繰り返した画像認識
における各々の認識位置のばらつき度合を求める(ステ
ップS10)。
【0021】つぎに、変数Kが「5」であるか否かを判
別する(ステップS11)。すなわち、この実施の形態
では、一つの照射角度の組み合わせに対して照度レベル
を5段階に可変するよう照明可変データが設定されてお
り、この場合には、ステップS3において「1」を設定
したままであるから、変数Kに「1」を加算して(ステ
ップS12)、つまり変数Kを「2」に変更設定してス
テップS4にリターンする。
【0022】そして、照明制御装置は、上述と同様に1
番目の組み合わせ順序として選択された光源列3a〜3
cにおける各光源8を、2番目の照明可変データに基づ
き点灯制御して(ステップS4)、2番目の照度レベル
に設定した照射光を照明装置3から電子部品7に対し照
射させる。続いて、ステップS5〜S9の処理を前述と
同様に30回繰り返して、2番目の照度レベルを照射した
電子部品7の画像データの画像認識を30回行い、メモリ
に一時記憶している30回分の画像認識の結果である認識
位置を読み出して、30回繰り返した画像認識の認識結果
である認識位置のばらつき度合を求める(ステップS1
0)。
【0023】中央演算処理ユニットは、上記のように同
一の照明可変データによる認識位置のばらつき度合を求
める処理を、変数Kが「5」になったと判別(ステップ
S11)するまで、照明可変データを順次変更しながら
繰り返す。すなわち、中央演算処理ユニットは、1番目
の組み合わせ順序として選択した光源列3a〜3cに対
して、照明可変データに設定された5段階の照度レベル
に順次切り換えるとともに、各照度レベル毎に、電子部
品7の画像データの画像認識を各々30回行わせ、その都
度メモリに一時記憶している30回分の画像認識の結果で
ある認識位置を読み出して、各々30回繰り返した画像認
識の認識結果である認識位置のばらつき度合をそれぞれ
求める。
【0024】電子部品7に対する照度レベルの5回の可
変による認識位置のばらつき度合を求める処理が終了す
ると、図3(a)に示すように、照度レベルを5段階に
切り換えたことによる画像データの輝度の変化に対する
認識位置のばらつき度合の関連を示す特性曲線のデータ
を得ることができる。
【0025】つぎに、中央演算処理ユニットは、上記の
画像データの輝度の変化に対する認識位置のばらつき度
合の関連を示す特性曲線のデータに対して、例えば、放
物線(2次曲線)を用いた曲線近似を行う演算をして、
近似曲線を求める(ステップS13)。この場合に用い
る曲線近似法としては、入力の画素列を適当にサンプリ
ングして、これを多角形の頂点とするスプライン関数を
演算する方法、または、曲線を幾つかのサンプル点で分
割して、そのサンプル点で隣接する円弧が同じ接線を共
有するように近似する方法が適している。図3(b)は
上述のようにして求められた近似曲線の一例を示す。
【0026】さらに、中央演算処理装置は、図3(c)
に示すように、求めた近似曲線における所定の閾値L以
下のばらつき度合が得られる輝度の範囲の幅(以下、許
容範囲幅という)Dを求める(ステップS14)。これ
により、光源列3a〜3cの1番目の組み合わせにおけ
る所定精度以上のばらつき度合が得られる輝度の許容範
囲幅Dを求める処理が終了する。
【0027】続いて、中央演算処理装置は、組み合わせ
順序の変数Nが「7」であるか否かを判別(ステップS
15)する。この場合には、照射角度の1番目の組み合
わせの処理工程が終了しただけであって、変数Nが
「1」のままであるから、変数Nとして「1」を加算し
て「2」を新たにセット(ステップS16)したのち
に、ステップS3にリターンして、上述と同様に、ステ
ップS3〜S14の処理を行う。
【0028】すなわち、中央演算処理ユニットは、2番
目の組み合わせ順序として設定された光源列3a〜3c
を選択して、その選択した光源列3a〜3cにおける各
光源8を、前述と同様に、照明装置3の電子部品7に対
する照度レベルを5段階に順次切り換えるよう制御し
て、その各照度レベルを設定する毎に、ステップS5〜
S9の処理をそれぞれ30回ずつ繰り返して画像データの
画像認識を30回行い、メモリに一時記憶している30回分
の画像認識の結果である認識位置を読み出して、30回繰
り返した画像認識の認識結果である認識位置のばらつき
度合を求め、照明装置3の照度レベルを5段階に切り換
えたことによる画像データの輝度の変化に対する認識位
置のばらつき度合の関連を示す特性曲線のデータを得
る。さらに、その画像データの輝度の変化に対する認識
位置のばらつき度合の関連を示す特性曲線のデータに対
して、2次曲線を用いた曲線近似を行う演算をして、近
似曲線を求め(ステップS13)、求めた近似曲線にお
ける所定の閾値L以下のばらつき度合を得られる輝度の
許容範囲幅Dを求める(ステップS14)。
【0029】上述と同様の処理を、組み合わせ順序の変
数Nが「7」であると判別(ステップS15)するまで
繰り返して、3種の光源列3a〜3cの7通りの組み合
わせの全てについて、上記の曲線近似を行う演算により
求めた近似曲線における所定の閾値L以下のばらつき度
合が得られる画像データの輝度の許容範囲幅Dをそれぞ
れ求める。
【0030】上記の7通りの許容範囲幅Dを求める処理
が終了して、組み合わせ順序の変数Nが「7」になった
と判別(ステップS15)したとき、上述の処理により
求めた7種類の近似曲線における所定の閾値L以下のば
らつき度合が得られる各々の許容範囲幅Dを比較対照し
て、許容範囲幅Dが最も大きな光源列3a〜3cの組み
合わせを求める(ステップS17)。この許容範囲幅D
が大きい程、照明装置3からの照明光の変動に対して画
像認識による認識位置のばらつきが少ない。換言する
と、上記の許容範囲幅Dが大きいことは、電子部品7の
所定部位と背景との間に高い明暗のコントラストが得ら
れる最適な照明光を照射していることになる。
【0031】最後に、上述のようにして求めた光源列3
a〜3cの組み合わせと、その組み合わせにおける許容
範囲幅Dの中央点の照明可変データとにより、上記処理
の対象とした電子部品7に対する光源列3a〜3cの組
み合わせと、その組み合わせに選択した光源列3a〜3
cにおける点灯する光源8およびその光源の光度とを決
定し、これを照明制御データとして電子部品7の種別に
関連付けて照明制御装置のメモリに設定登録する(ステ
ップS18)。これにより、或る種別の電子部品7に対
する照明制御データの設定が終了し、以下、異なる種別
の電子部品7毎に上述と同様の処理を繰り返して、回路
基板に実装すべき全ての電子部品7毎に照明制御データ
を求めて設定登録する。
【0032】この実施の形態の照明設定方法では、形状
の相違する各種の電子部品に対してそれぞれ、3種の照
射角度の7通りの各組み合わせ毎に電子部品7に対する
照度レベルを5段階に可変しながら、各照度レベル毎に
画像データを30回ずつ繰り返し入力して画像認識を行
い、画像データの輝度の変化に対する電子部品7の認識
位置のばらつき度合が閾値よりも低い許容範囲幅Dを求
めたのち、その許容範囲幅が最も大きい照射角度の組み
合わせと、そのときの電子部品7に対する照度レベルと
を求めて照明制御データを決定している。したがって、
各種の電子部品毎に設定する照明制御データは、上述の
ように比較的多くのデータに基づく定量的な分析によっ
て決定することから、形状の相違する各電子部品7毎に
求められる最適な照明光を確実に照射できる精度の高い
ものとなる。しかも、照明制御データは、自動的な処理
によって迅速に求めて設定することができる。
【0033】図4〜図6は電子部品7の3種類の画像認
識方法をそれぞれ説明するための図である。図4(a)
は図7(a)に示した電子部品7におけるA部の拡大
図、(b)は(a)に示すラインL1に沿った画像デー
タにおける電子部品7の位置と輝度の関係を示す特性
図、(c)は(a)に示すラインL2に沿った画像デー
タにおける電子部品7の位置と輝度の関係を示す特性図
である。この画像認識方法では、(b)のラインL1上
の輝度差の最も大きい点と、(c)のラインL2上の輝
度差が最も大きい二つの点の中点とに基づいて、電子部
品7の画像認識する部位を決定する。この場合には端子
7aの先端部における幅方向の中点の部位の位置を画像
認識する。
【0034】図5(a)は図7(a)の電子部品7にお
けるA部の拡大図、(b)は画像データにおける電子部
品7の端子7aの位置と端子7aの長さ方向(図の左右
方向)の輝度を重ね合わせて輝度の分布を求めた投影レ
ベルとの関係を示す特性図、(c)は画像データにおけ
る電子部品7の端子7aの位置と端子7aの幅方向(図
の上下方向)の輝度を重ね合わせて輝度の分布を求めた
投影レベルとの関係を示す特性図である。この画像認識
方法では、(b)の投影レベルにおける閾値SL1との
交点と、(c)の投影レベルにおける閾値SL2との二
つの交点の間の中点とに基づいて、電子部品7の画像認
識する部位を決定する。この場合においても、端子7a
の先端部における幅方向の中点の位置を画像認識する。
【0035】図6(a)は予め登録されている二つのパ
ターンP1,P2を示し、この画像認識方法では、画像
データのスキャンニングを行いながら、(b)に示すよ
うに、電子部品7の画像データにおける二つのパターン
P1,P2とそれぞれ一致する箇所を求めたのち、この
二つのパターンP1,P2のオフセット情報に基づい
て、二つのパターンP1,P2が合致する箇所から電子
部品7の画像認識する部位を決定する。この場合におい
ても、端子7aの先端部における幅方向の中点の位置を
画像認識する。
【0036】つぎに、本発明の第2の実施の形態に係る
電子部品7の照明設定方法について説明する。この実施
の形態では、第1の実施の形態と同様に、種別の異なる
各電子部品7毎に図2のフローチャートの処理を行って
各光源列3a〜3cによる最適な照射角度の組み合わせ
と各光源列3a〜3cによる電子部品7における照度レ
ベルとを決定するのであるが、図2のステップS6にお
いて、図4〜図6に示した3種の各画像認識方法をそれ
ぞれ用いて電子部品7の所定部位の位置を画像認識し、
3種の各画像認識方法毎に、上述の許容範囲幅Dが最大
となる各光源列3a〜3cによる最適な照射角度の組み
合わせと電子部品7での照度レベルとを求める。
【0037】そして、中央演算処理装置は、求めた3種
の許容最大幅Dのうちの最も大きな許容最大幅Dを判別
して、その判別した最大の許容最大幅となる各光源列3
a〜3cの組み合わせとそれの電子部品7での照度レベ
ルとを照明可変データとして、対応する各電子部品7に
関連付けて照明制御装置のメモリに登録する(ステップ
S18)とともに、その最大の許容範囲幅Dが得られた
画像認識方法を、部品認識手段として対応する各電子部
品7に関連付けてメモリに登録する。
【0038】このように、第2の実施の形態の照明設定
方法では、複数の画像認識方法毎に、画像データの輝度
の変化に対する電子部品7の認識位置のばらつき度合に
所定以上の精度が得られる近似曲線の許容範囲幅Dのう
ちの最大の許容範囲幅Dを求め、さらに、その最大の許
容範囲幅Dのうちの最も大きな許容範囲幅Dが得られる
画像認識方法および照明装置3の照明制御データを求め
るので、或る画像認識方法では電子部品7に求められる
最適な照明光を得られない場合でも、画像認識方法を変
えることにより、その電子部品7に最適な照明光を見つ
け出すことが可能となる。したがって、複雑な形状の電
子部品7に対しても、その電子部品7と背景との間に高
い明暗のコントラストを得ることのできる高精度な照明
制御データを確実、且つ迅速に設定することが可能にな
るとともに、電子部品7に適した画像認識方法をも同時
に設定することができる。
【0039】
【発明の効果】以上のように本発明の電子部品の照明設
定方法によれば、形状の相違する各種の電子部品に対し
てそれぞれ、照明光の照射角度が互いに異なる複数の光
源列の各組み合わせ毎に、電子部品に対する照度レベル
を複数段に可変しながら、各照度レベル毎に画像データ
を所定回数ずつ繰り返し入力して画像認識を行って、画
像データの輝度の変化に対する電子部品の認識位置のば
らつき度合が閾値よりも低い許容範囲幅を求めたのち、
その許容範囲幅が最も大きい照射角度の組み合わせと、
そのときの電子部品に対する照度レベルとを求めて照明
制御データを決定するようにしたので、各種の電子部品
毎に設定する照明制御データは、多数回の画像認識の結
果である多くのデータに基づく定量的な分析によって決
定することから、形状の相違する各電子部品毎に求めら
れる最適な照明光を確実に照射することのできる最適な
ものとなり、しかも、その照明制御データを自動的な処
理によって迅速に求めることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の電子部品の照明設定方法を適用する部
品認識ユニットを示す概略斜視図。
【図2】本発明の第1の実施の形態に係る電子部品の照
明設定方法の処理を示すフローチャート。
【図3】同上実施の形態の処理を説明するために示した
もので、(a)は電子部品の画像認識を繰り返したとき
の画像データの輝度の変化に対する認識位置のばらつき
度合の関連を示す特性図、(b)は(a)の特性データ
の曲線近似を行った結果の近似曲線を示す図、(c)は
(b)の近似曲線における所定の精度を得られる許容範
囲幅を示す図。
【図4】電子部品の第1の画像認識方法を説明するもの
であって、(a)は電子部品の一部の拡大図、(b)は
(a)のラインL1に沿った画像データにおける電子部
品の位置と輝度の関係を示す特性図、(c)は(a)の
ラインL2に沿った画像データにおける電子部品の位置
と輝度の関係を示す特性図。
【図5】電子部品の第2の画像認識方法を説明するもの
であって、(a)は電子部品の一部の拡大図、(b)は
画像データにおける電子部品の端子の位置と端子の長さ
方向の輝度を重ね合わせて輝度の分布を求めた投影レベ
ルとの関係を示す特性図、(c)は画像データにおける
電子部品の端子の位置と端子の幅方向の輝度を重ね合わ
せて輝度の分布を求めた投影レベルとの関係を示す特性
図。
【図6】電子部品の第3の画像認識方法を説明するもの
であって、(a)は予め登録されている二つのパターン
の説明図、(b)は電子部品の画像データにおける二つ
のパターンとそれぞれ一致する箇所を求めた状態の説明
図。
【図7】従来の照明設定方法を説明するためのものであ
って、(a)は電子部品の平面図、(b)は(a)の電
子部品の画像データにおける電子部品の位置と輝度の関
係を示す特性図。
【符号の説明】
3 照明装置 3a〜3c 光源列 7 電子部品 8 光源 D 許容範囲幅

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数個の光源をそれぞれ配列した複数の
    光源列を有し、その各光源列が、各々の前記各光源を電
    子部品に対し前記光源列毎に互いに異なる照射角度から
    撮像用の照明光を照射する向きで配列してなる構成とな
    った照明装置を備え、前記照明装置を種別の異なる電子
    部品毎に点灯制御するための照明制御データを設定する
    電子部品の照明設定方法において、 前記各光源列の組み合わせを設定し、その光源列の組み
    合わせ毎に、 組み合わせに選択した前記光源列を複数の照明可変デー
    タにより順次点灯制御して電子部品での照度レベルを複
    数段に可変しながら、各照度レベル毎に画像データを所
    定回数ずつ繰り返し入力して、その都度、電子部品の画
    像認識を行い、画像データの輝度の変化に対する電子部
    品の認識位置のばらつき度合を求める処理と、 前記輝度の変化に対する認識位置のばらつき度合のデー
    タの曲線近似を行って近似曲線を求める処理と、 前記近似曲線における所定の閾値よりも低いばらつき度
    合を得られる輝度の許容範囲幅を求める処理とをそれぞ
    れ行い、 前記光源列の組み合わせ毎にそれぞれ求めた前記許容範
    囲幅のうちの幅が最も大きい前記光源列の組み合わせ
    と、その最も大きい前記許容範囲幅における中点の照明
    可変データとを、前記照明制御データとして設定するよ
    うにしたことを特徴とする電子部品の照明設定方法。
  2. 【請求項2】 同一の電子部品について、画像データに
    おける或る走査ライン上のエッジを検出する画像認識方
    法、画像データの輝度の投影データにおける閾値以上の
    レベルの中点を検出する画像認識方法およびパターンマ
    ッチング法を用いる画像認識方法を少なくとも含む複種
    類の画像認識方法で電子部品の位置をそれぞれ画像認識
    して、各画像認識方法毎に画像データの輝度の変化に対
    する電子部品の認識位置のばらつき度合を求める処理を
    行い、各画像認識方法毎に求めた輝度の許容範囲幅のう
    ちの最も大きな許容範囲幅となった光源列の組み合わせ
    と、その許容範囲幅における中点の照明可変データと
    を、照明制御データとして設定するようにした請求項1
    に記載の電子部品の照明設定方法。
JP11135974A 1999-05-17 1999-05-17 電子部品の照明設定方法 Pending JP2000332500A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11135974A JP2000332500A (ja) 1999-05-17 1999-05-17 電子部品の照明設定方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11135974A JP2000332500A (ja) 1999-05-17 1999-05-17 電子部品の照明設定方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2000332500A true JP2000332500A (ja) 2000-11-30

Family

ID=15164234

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11135974A Pending JP2000332500A (ja) 1999-05-17 1999-05-17 電子部品の照明設定方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2000332500A (ja)

Cited By (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004294358A (ja) * 2003-03-28 2004-10-21 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法および装置
JP2004317188A (ja) * 2003-04-14 2004-11-11 Ckd Corp 外観検査装置及びptp包装機
JP2005315749A (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Yamaha Motor Co Ltd 照明条件特定方法、部品認識装置、同装置を備えた表面実装機および部品試験装置
JP2006228789A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Yamaha Motor Co Ltd 画像取得方法、画像取得装置、表面実装機、プリント配線板用はんだ印刷機、ウエハチップ供給装置、電子部品移載装置および電子部品用外観検査装置
JP2006261410A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着ヘッド及び部品装着方法
US7151850B2 (en) 2001-10-30 2006-12-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method for setting teaching data, teaching data providing system over network
US7508973B2 (en) 2003-03-28 2009-03-24 Hitachi High-Technologies Corporation Method of inspecting defects
WO2009142297A1 (ja) * 2008-05-22 2009-11-26 セイコープレシジョン株式会社 画像撮影・表示装置、画像撮影・表示方法、及び画像撮影・表示プログラム
JP2011149892A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Yamaha Motor Co Ltd 検査装置および検査方法
JP2013004703A (ja) * 2011-06-16 2013-01-07 Fuji Mach Mfg Co Ltd 電子部品実装装置
WO2018122903A1 (ja) * 2016-12-26 2018-07-05 株式会社Fuji 実装装置、設定装置、実装システム、実装方法および設定方法
WO2018134931A1 (ja) * 2017-01-19 2018-07-26 株式会社Fuji 照明条件再現カメラスタンド及び生産ジョブの最適化方法
WO2019198621A1 (ja) * 2018-04-09 2019-10-17 パナソニックIpマネジメント株式会社 加熱調理器
WO2020169146A2 (de) 2019-02-23 2020-08-27 Aida Europe Gmbh System eines gestells für pressen und pressengestell
WO2022059402A1 (ja) * 2020-09-17 2022-03-24 オムロン株式会社 検査装置、検査方法及び検査プログラム

Cited By (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7151850B2 (en) 2001-10-30 2006-12-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus and method for setting teaching data, teaching data providing system over network
JP2004294358A (ja) * 2003-03-28 2004-10-21 Hitachi High-Technologies Corp 欠陥検査方法および装置
US7508973B2 (en) 2003-03-28 2009-03-24 Hitachi High-Technologies Corporation Method of inspecting defects
JP2004317188A (ja) * 2003-04-14 2004-11-11 Ckd Corp 外観検査装置及びptp包装機
JP2005315749A (ja) * 2004-04-28 2005-11-10 Yamaha Motor Co Ltd 照明条件特定方法、部品認識装置、同装置を備えた表面実装機および部品試験装置
JP2006228789A (ja) * 2005-02-15 2006-08-31 Yamaha Motor Co Ltd 画像取得方法、画像取得装置、表面実装機、プリント配線板用はんだ印刷機、ウエハチップ供給装置、電子部品移載装置および電子部品用外観検査装置
JP4607616B2 (ja) * 2005-02-15 2011-01-05 ヤマハ発動機株式会社 画像取得方法、画像取得装置、表面実装機、プリント配線板用はんだ印刷機、ウエハチップ供給装置、電子部品移載装置および電子部品用外観検査装置
JP2006261410A (ja) * 2005-03-17 2006-09-28 Matsushita Electric Ind Co Ltd 部品装着ヘッド及び部品装着方法
WO2009142297A1 (ja) * 2008-05-22 2009-11-26 セイコープレシジョン株式会社 画像撮影・表示装置、画像撮影・表示方法、及び画像撮影・表示プログラム
JP2010003293A (ja) * 2008-05-22 2010-01-07 Seiko Precision Inc 画像表示装置及び画像表示方法
JP2011149892A (ja) * 2010-01-25 2011-08-04 Yamaha Motor Co Ltd 検査装置および検査方法
JP2013004703A (ja) * 2011-06-16 2013-01-07 Fuji Mach Mfg Co Ltd 電子部品実装装置
WO2018122903A1 (ja) * 2016-12-26 2018-07-05 株式会社Fuji 実装装置、設定装置、実装システム、実装方法および設定方法
JPWO2018122903A1 (ja) * 2016-12-26 2019-08-08 株式会社Fuji 実装装置、設定装置、実装システム、実装方法および設定方法
CN110115120A (zh) * 2016-12-26 2019-08-09 株式会社富士 安装装置、设定装置、安装系统、安装方法及设定方法
CN110115120B (zh) * 2016-12-26 2020-12-25 株式会社富士 安装装置、设定装置、安装系统、安装方法及设定方法
WO2018134931A1 (ja) * 2017-01-19 2018-07-26 株式会社Fuji 照明条件再現カメラスタンド及び生産ジョブの最適化方法
JPWO2018134931A1 (ja) * 2017-01-19 2019-07-25 株式会社Fuji 照明条件再現カメラスタンド及び生産ジョブの最適化方法
WO2019198621A1 (ja) * 2018-04-09 2019-10-17 パナソニックIpマネジメント株式会社 加熱調理器
JPWO2019198621A1 (ja) * 2018-04-09 2021-04-15 パナソニックIpマネジメント株式会社 加熱調理器
WO2020169146A2 (de) 2019-02-23 2020-08-27 Aida Europe Gmbh System eines gestells für pressen und pressengestell
WO2022059402A1 (ja) * 2020-09-17 2022-03-24 オムロン株式会社 検査装置、検査方法及び検査プログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2000332500A (ja) 電子部品の照明設定方法
US4677473A (en) Soldering inspection system and method therefor
WO2000013005A1 (en) Illuminating and optical apparatus for inspecting soldering of printed circuit board
CN107860773B (zh) 用于pcb的自动光学检测系统及其校正方法
CN111275674A (zh) 一种芯片烧录检测方法、系统和计算机可读存储介质
KR102174950B1 (ko) 검사 정확성을 높인 비전검사장치
JP3243385B2 (ja) 物体の形状検査装置
JPH1140983A (ja) 基板マーク認識装置
JP2003099758A (ja) 基板の外観検査方法および装置
JP4152843B2 (ja) 照明装置及び照明付撮像装置
JP2002009315A (ja) 薄膜のレーザスクライブ用アライメントマークの認識方法及び装置
EP1595138B1 (en) Image recognition apparatus and image recognition method
JPH1038539A (ja) ウエハの形状認識装置
JP2009300871A (ja) 画像処理装置用照明装置及び方法
CN112986282A (zh) 检查装置及检查方法
JP2003097916A (ja) 基板マーク認識方法及び装置
JP2002286430A (ja) はんだ印刷検査装置
JP4682842B2 (ja) 電子部品実装装置における部品認識条件の評価方法
JPH09116297A (ja) 実装機におけるマーク認識用照明装置及びマーク認識用照明調整方法
JPH1062134A (ja) 認識検査における照明調整方法
JPH04364404A (ja) 電子部品照明方法
CN112304959B (zh) 用于检测设备的光源控制装置、方法及检测设备
KR100268251B1 (ko) 부품 실장기의 조명 밝기 제어장치 및 그의 제어방법
JP4818571B2 (ja) 画像認識装置および画像認識方法
JP4620448B2 (ja) 基板認識処理方法