JP2000329826A - 回路試験装置および回路試験方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 複数の入力端子を備えたＬＳＩの試験を短時
間かつ低コストで行うことができる回路試験装置および
回路試験方法を提供する。 【解決手段】 各々周波数が異なる２以上の信号を含む
マルチトーン信号を生成して出力するＡＷＧ１１を有す
るテスタ１と、複数の入力端子を有する試験対象たるＬ
ＳＩ２とを、該ＬＳＩ２の入力端子と同数の帯域フィル
タを備えたＤＵＴボード３によって接続する。ＤＵＴボ
ード３の各帯域フィルタは、テスタ１のＡＷＧ１１から
出力されるマルチトーン信号から各々異なる周波数の信
号を選択し、前記ＬＳＩ２の入力端子にそれぞれ供給す
る。そして、これに応答してＬＳＩ２から出力される信
号を解析することにより、該ＬＳＩ２の試験を行う。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
特性試験を行うための回路試験装置および回路試験方法
に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来より、Ａ／Ｄコンバータ、ＤＳＰお
よびＤ／Ａコンバータ等が集積されたサウンドプロセッ
サ用ＬＳＩが各種提供されている。これらのＬＳＩは、
出荷前にその特性、例えば、直線性、内部の増幅器の利
得および歪率等の試験が行われるのが一般的である。こ
れらの試験は、該ＬＳＩの入力端子に例えば１ｋＨｚの
正弦波信号を入力するとともに、ＬＳＩの出力端子から
の出力信号を解析することにより行われる。

【０００３】ところで、上述した試験の対象となるＬＳ
Ｉは、１つの入力端子を備えたものだけではなく、マル
チチャネルの入力信号をミキシングして出力するＬＳＩ
のように、複数の入力端子を備えたものもある。このよ
うに複数の入力端子を備えたＬＳＩに対して上述したよ
うな試験を行う場合には、従来以下の（１）または
（２）に示す手法が用いられていた。

【０００４】（１）図５（ａ）に示すように、任意の周
波数の正弦波信号を生成可能な任意波形発生器３００を
内蔵したテスタ３０１を用いて試験を行う。さらに詳述
すると、このテスタ３０１の任意波形発生器３００を、
リレー３０２を介して試験対象であるＬＳＩ３０３に接
続する。そして、任意波形発生器３００によって生成さ
れた正弦波信号が、ＬＳＩ３０３が備える入力端子Ｉｋ
（ｋ＝１〜ｎ）に順次供給されるように、リレー３０２
を適宜切換える。すなわち、まず、任意波形発生器３０
０によって生成された正弦波信号がＬＳＩ２の入力端子
Ｉ１に供給されるようにリレー３０２を切換え、次に、
正弦波信号が入力端子Ｉ２に供給されるようにリレー３
０２を切換え、…、正弦波信号が入力端子Ｉｎに供給さ
れるようにリレー３０２を切換える、という動作を行
う。そして、ＬＳＩ３０３の出力端子から出力される信
号を解析することにより、該ＬＳＩ３０３の特性を試験
する。

【０００５】（２）図５（ｂ）に示すように、任意の周
波数の正弦波信号を生成可能な任意波形発生器３００を
多数備えたテスタ３０１を用いて試験を行う。さらに詳
述すると、このテスタ３０１の各任意波形発生器３００
をＬＳＩ３０３の入力端子Ｉｋ（ｋ＝１〜ｎ）のうちの
いずれかの入力端子Ｉｋに接続する。そして、各任意波
形発生器３００毎に任意の周波数を有する正弦波信号を
生成するとともに、各正弦波信号を同時にＬＳＩ３０３
の各入力端子Ｉｋに供給する。この結果得られた出力信
号に対して、例えばＦＦＴを施すことにより、出力信号
についての解析を行い、該ＬＳＩ３０３の特性を試験す
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】ところで、上記（１）
に示した手法は、ＬＳＩが備える入力端子の数だけリレ
ーの切換えおよび正弦波信号の供給を繰り返す必要があ
るため、試験のために要する時間が長くなるといった問
題があった。

【０００７】また、上記（２）に示した手法によれば、
試験のために要する時間を短縮することはできるもの
の、ＬＳＩが備える入力端子の数と同数の任意波形発生
器を設ける必要があるため、試験を行うためのコストが
増大すると行った問題があった。また、テスタによって
は、多くの任意波形発生器を有しないものもあり（通常
２または４個）、ＬＳＩの入力端子の数が多い場合に
は、この方法（２）を実施できないこともある。

【０００８】本発明は、以上のような事情に鑑みてなさ
れたものであり、複数の入力端子を備えたＬＳＩの試験
を短時間で行うことができ、かつ、装置の製造コストを
低く抑えることができる回路試験装置および回路試験方
法を提供することを目的としている。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上述した課題を解決する
ために、請求項１に記載の回路試験装置は、各々周波数
が異なる２以上の信号を含むマルチトーン信号を生成し
て出力する信号生成手段と、前記信号生成手段によって
出力されるマルチトーン信号に含まれる前記各信号を、
被試験装置に設けられた２以上の入力端子のそれぞれに
供給する信号供給手段とを具備することを特徴としてい
る。また、請求項２に記載の回路試験装置は、請求項１
に記載の構成において、前記信号供給手段は、各々異な
る周波数の信号を通過させる２以上のフィルタを有し、
前記信号生成手段によって出力されるマルチトーン信号
を前記２以上のフィルタにそれぞれ供給するとともに、
前記各フィルタを通過した信号を、前記被試験装置に設
けられた２以上の入力端子のそれぞれに供給することを
特徴としている。また、請求項３に記載の回路試験方法
は、各々周波数が異なる２以上の信号を含むマルチトー
ン信号を生成して出力する信号生成手段を具備する回路
試験装置により、２以上の入力端子を有する被試験装置
の試験を行う回路試験方法において、前記回路試験装置
の出力端子から出力された前記マルチトーン信号から各
々異なる周波数の信号を選択し、前記被試験装置の２以
上の入力端子に各々供給する複数のフィルタを有する回
路試験用ボードを用いて、前記回路試験装置と前記被試
験装置との接続を行い、前記回路試験装置の信号生成手
段から前記回路試験用ボードの各フィルタにマルチトー
ン信号を供給し、これに応答して該被試験装置から出力
される信号を解析することにより該被試験装置の試験を
行うことを特徴としている。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図面を参照して、本発明の
実施形態について説明する。かかる実施の形態は、本発
明の一態様を示すものであり、この発明を限定するもの
ではなく、本発明の範囲内で任意に変更可能である。

【００１１】Ａ：実施形態の構成 図１は、本発明の一実施形態である回路試験装置を備え
たテスタ１と、該テスタ１による試験の対象であるＬＳ
Ｉ２と、テスタ１とＬＳＩ２とを接続するＤＵＴ（Devi
ce Under Test；被試験装置）ボード３の構成を示すブ
ロック図である。なお、本実施形態においては、７つの
入力端子と１つの出力端子を備え、各入力端子と出力端
子との間の経路に電子ボリュームを備えたＬＳＩ２の特
性試験を行う場合を例に説明を進める。

【００１２】図１に示すように、テスタ１は、任意波形
生成器（以下、「ＡＷＧ（Arbitrary Waveform Generat
or）」という）１１および出力信号処理部１２を備えて
構成されている。一方、試験対象であるＬＳＩ２は、入
力端子Ｉ１〜Ｉ７、電子ボリュームＶ１〜Ｖ７、加算器
２１および出力端子２２を備えて構成されている。そし
て、テスタ１のＡＷＧ１１の出力端子とＬＳＩ２が備え
る入力端子Ｉ１〜Ｉ７とが、ＤＵＴボード３によって接
続されるようになっている。

【００１３】テスタ１内のＡＷＧ１１は、相互に周波数
が異なる複数の正弦波を合成した信号であるマルチトー
ン信号を生成して出力する。なお、本実施形態において
は、ＡＷＧ１１は、周波数がそれぞれｆ１、ｆ２、ｆ
３、ｆ４、ｆ５、ｆ６およびｆ７である７つの正弦波信
号を合成したマルチトーン信号を生成して出力するもの
とする。

【００１４】ＤＵＴボード３は内部に７つの帯域フィル
タ（ＢＰＦ）Ｆ１〜Ｆ７を備えている。これらの各帯域
フィルタＦ１〜Ｆ７は、テスタ１のＡＷＧ１１から供給
されるマルチトーン信号に含まれる正弦波信号のうち、
予め設定された範囲内にある周波数を有する正弦波信号
のみを通過させるものである。

【００１５】ここで、各帯域フィルタＦ１〜Ｆ７の帯域
幅は、相互に重複する部分が生じないように予め設定さ
れている。さらに、本実施形態においては、各帯域フィ
ルタＦ１〜Ｆ７の帯域幅の中心値が、それぞれ上述した
周波数ｆ１〜ｆ７と概ね一致するようになっている。こ
れらの各帯域フィルタＦ１〜Ｆ７の出力端子は、試験対
象であるＬＳＩ２内の複数の入力端子Ｉ１〜Ｉ７にそれ
ぞれ接続される。

【００１６】一方、ＬＳＩ２内の電子ボリュームＶ１〜
Ｖ７は、各入力端子Ｉ１〜Ｉ７に接続されている。そし
て、電子ボリュームＶ１〜Ｖ７は、ＤＵＴボード３から
各入力端子Ｉ１〜Ｉ７を介して入力された正弦波信号
を、図示しない制御部からの制御信号に応じて増幅して
出力する。加算器２１は、これらの電子ボリュームＶ１
〜Ｖ７からの出力信号を加算して出力する。加算器２１
からの出力信号は、出力端子２２を介してテスタ１の出
力信号処理部１２に供給される。

【００１７】次に、出力信号処理部１２は、ＬＳＩ２か
ら出力された信号の処理を行うための手段であり、デジ
タイザ１２１とＦＦＴ処理部１２２とを備えて構成され
ている。デジタイザ１２１は、ＬＳＩ２からの出力信号
（アナログ信号）をディジタル信号に変換して出力する
ための手段である。ＦＦＴ処理部１２２は、デジタイザ
１２１の出力信号に対してＦＦＴを施すための手段であ
る。

【００１８】Ｂ：実施形態の動作 次に、本実施形態におけるテスタ１によるＬＳＩ２の試
験のための動作を説明する。テスタ１に対して試験開始
の指示が与えられると、テスタ１内のＡＷＧ１１は、そ
れぞれ周波数が異なる７つの正弦波信号（周波数ｆ１〜
ｆ７）を合成して、マルチトーン信号を生成し、ＤＵＴ
ボード３に出力する。ＤＵＴボード３内の各帯域フィル
タＦ１〜Ｆ７は、供給されたマルチトーン信号に含まれ
る正弦波信号であって、各帯域フィルタＦ１〜Ｆ７毎に
異なるように予め設定された帯域幅内にある周波数を有
する正弦波信号のみを通過させる。

【００１９】そして、このようにして各帯域フィルタＦ
１〜Ｆ７から出力された各正弦波信号は、ＬＳＩ２の各
々対応する入力端子Ｉ１〜Ｉ７を介して各電子ボリュー
ムＶ１〜Ｖ７に供給される。各電子ボリュームＶ１〜Ｖ
７は、これらの各正弦波信号に対し、図示しない制御部
によって指示される増幅を施し、出力する。各電子ボリ
ュームＶ１〜Ｖ７からの出力信号は、ＬＳＩ２内の加算
器２１によって加算された後、出力端子２２を介して出
力信号処理部１２に出力される。

【００２０】出力信号処理部１２内のデジタイザ１２１
は、受け取った信号をディジタル信号に変換してＦＦＴ
処理部１２２に出力する。ＦＦＴ処理部１２２は、この
ディジタル信号に対してＦＦＴを施し、ＬＳＩ２の出力
端子２２からの出力信号に含まれる周波数ｆ１〜ｆ７の
基本波成分、および各基本波成分に対応した各高調波成
分、ならびにノイズ成分を求め、これらの各成分の解析
を行う。そして、この解析により、ＬＳＩ２に含まれる
電子ボリュームＶ１〜Ｖ７の利得、直線性および単調増
加性、ならびに測定経路（すなわち、各入力端子Ｉ１〜
Ｉ７から出力端子に２２至るまでの経路）全体の全高調
波ひずみ率、ダイナミックレンジおよびＳＮ比等を求め
る。例えば、周波数がｆｋ、振幅がＡｋである正弦波信
号を含んだマルチトーン信号が入力された結果、出力信
号に含まれる正弦波信号のうち、周波数がｆｋである正
弦波信号の振幅がａｋとなった場合、電子ボリュームＶ
ｋの利得は、「ａｋ／Ａｋ」に基づいて決定される。ま
た、全高調波ひずみ率は、例えば、出力信号に含まれる
周波数ｆ１の基本波成分の振幅をａ１、この基本波成分
に対応した各高調波成分およびノイズ成分の振幅をＡ
１、Ａ２、Ａ３、…、とすると、 （（Σ（Ａｎ²））^1/2）／ａ１ によって求められる。

【００２１】このように、本実施形態に係る回路試験装
置によれば、試験対象であるＬＳＩの全ての入力端子に
対して同時に試験のための正弦波信号を入力することが
できるから、従来の試験装置（前掲図５（ａ）に示した
手法）と比較して、試験に要する時間を短縮することが
できる。

【００２２】また、各入力端子に供給される正弦波信号
を発生するための装置を、試験対象であるＬＳＩ２の入
力端子の数だけ設ける必要がないため、回路試験装置の
製造コストを低減することができる。

【００２３】Ｃ：変形例 以上この発明の一実施形態について説明したが、上記実
施形態はあくまでも例示であり、上記実施形態に対して
は、本発明の趣旨から逸脱しない範囲で様々な変形を加
えることができる。変形例としては、例えば以下のよう
なものが考えられる。

【００２４】＜変形例１＞上記実施形態においては、７
つの入力端子と１つの出力端子とを備えたＬＳＩ２の特
性試験を行う場合を例に説明したが、試験対象であるＬ
ＳＩ２の構成は、これに限られるものではないことはも
ちろんである。

【００２５】図２は、ｎ個の入力端子とｎ個の出力端子
とを備えたＬＳＩ２’の特性を試験を行うためのテスタ
１およびＤＵＴボード３の構成を示すブロック図であ
る。なお、図２に示す各部のうち、前掲図１に示した各
部と同一の部分については同一の符号を付してその説明
を省略する。

【００２６】図２に示すように、本変形例においては、
ＤＵＴボード３に、ＬＳＩ２’に設けられた入力端子の
数に対応したｎ個の帯域フィルタＦｋ（ｋ＝１〜ｎ）が
内蔵された構成となっており、各帯域フィルタＦｋは、
それぞれ周波数ｆｋ（ｋ＝１〜ｎ）の正弦波信号のみを
通過させるように、その帯域幅が設定されている。さら
に、出力信号処理部１２内のデジタイザ１２１の前段
に、加算器１２３が設けられた構成となっている。

【００２７】このような構成において、テスタ１のＡＷ
Ｇ１１は、それぞれ周波数の異なるｎ種類の正弦波信号
を合成して得られるマルチトーン信号を生成してＤＵＴ
ボード３に出力する。ＤＵＴボード３に内蔵された各帯
域フィルタＦｋ（ｋ＝１〜ｎ）は、このマルチトーン信
号に含まれる正弦波信号のうちのいずれかの周波数を有
する正弦波信号を通過させる。そして、これらの帯域フ
ィルタＦｋを通過した各正弦波信号は、ＬＳＩ２’内の
対応する各入力端子Ｉｋ、電子ボリュームＶｋおよび出
力端子Ｏ１〜Ｏｎを介して出力信号処理部１２に出力さ
れる。出力信号処理部内の加算器１２３は、各出力端子
から出力された正弦波信号を加算して、デジタイザ１２
１に出力する。以後の動作は、上記実施形態と同様であ
る。このようにすれば、試験対象であるＬＳＩ２が備え
る入力端子および出力端子の個数に関わらず、該ＬＳＩ
２’の特性試験のために本発明に係る回路試験装置を用
いることができる。

【００２８】＜変形例２＞上記実施形態においては、テ
スタ１のＡＷＧ１１によって生成されたマルチトーン信
号を、複数の帯域フィルタＦ１〜Ｆ７によってフィルタ
リングする構成としたが、マルチトーン信号をフィルタ
リングするためのフィルタは、帯域フィルタに限られる
ものでないことはもちろんである。例えば、３つの入力
端子を備えたＬＳＩ２の特性試験を行う場合には、３つ
の帯域フィルタを設けるのではなく、例えば、図３
（ａ）に示すように、高域フィルタ２００、帯域フィル
タ２０１および低域フィルタ２０２をそれぞれ設け、こ
れらの各フィルタが、マルチトーン信号に含まれる正弦
波信号のうちのいずれか１つの正弦波信号のみを通過さ
せるようにしてもよい。このようにしても、上記第１の
実施形態と同様の効果が得られる。

【００２９】また、試験対象であるＬＳＩ２が２つの入
力端子を備える場合には、例えば、高域フィルタ２００
および減算器２０３を、図３（ｂ）に示す態様で設け、
これにより、ＡＷＧ１１によって生成されるマルチトー
ン信号から、異なる周波数を有する２つの正弦波信号を
得る構成としてもよい。

【００３０】＜変形例３＞上記実施形態においてＤＵＴ
ボード３に内蔵した複数の帯域フィルタＦ１〜Ｆ７（ま
たは、上記変形例２における高域フィルタまたは低域フ
ィルタ等）は、テスタ１内に設ける構成としてもよい。
そして、ＡＷＧ１１によって出力されるマルチトーン信
号をテスタ１内の各帯域フィルタに供給し、各帯域フィ
ルタを通過した信号をＬＳＩ２の各入力端子に供給す
る。このようにしても、上記実施形態と同様の効果が得
られる。

【００３１】＜変形例４＞上記実施形態においては、Ｌ
ＳＩの各入力端子に正弦波信号を入力し、出力端子から
の出力信号を出力信号処理部において解析することによ
り、ＬＳＩの各入力端子から出力端子に至るまでの経路
についての特性を試験するようにしたが、ＬＳＩに内蔵
された各構成要素毎の特性を試験するようにしてもよ
い。すなわち、ＬＳＩ内の各構成要素、例えば個々の電
子ボリュームの入力端子に、ＢＰＦからの正弦波信号を
入力するための試験用入力端子を設けるとともに、電子
ボリュームの出力端子に、電子ボリュームからの出力信
号を出力信号処理部に供給するための試験用出力端子を
設けるようにしてもよい。このようにすれば、他の構成
要素や測定経路の特性の影響を受けない、各構成要素毎
の特性を試験することができる。

【００３２】＜変形例５＞また、上記実施形態において
は、複数の電子ボリュームが設けられたＬＳＩの特性試
験を行う場合を例に説明したが、試験対象であるＬＳＩ
内部の構成はこれに限られるものではない。例えば、Ｄ
／ＡコンバータやＡ／Ｄコンバータ、または、ＭＰＵや
ＤＳＰ等が設けられたディジタルＬＳＩの特性試験にも
本発明を適用することができる。

【００３３】図４は、ディジタルＬＳＩ２’の特性試験
を行うためのテスタ１’およびＤＵＴボード３’の構成
を示すブロック図である。なお、図４において、前掲図
１に示した各部と同様の部分については、図１と同様の
符号を付してその説明を省略する。

【００３４】図４において、テスタ１’内のＡＷＧ１
１’は、各々周波数ｆ１〜ｆｎを有する複数のディジタ
ル信号を発生し、これらの信号を合成して出力する手段
である。ＤＵＴボード３’内には、各々通過帯域の中心
周波数がｆ１〜ｆｎである複数のディジタル帯域フィル
タＦ１’〜Ｆｎ’が設けられており、ＡＷＧ１１’の出
力信号が、各ディジタル帯域フィルタＦ１’〜Ｆｎ’に
供給される。また、ディジタルＬＳＩ２’は、例えばデ
ィジタルミキサを含んて構成されており、ディジタル信
号を入力するための複数の入力端子Ｉ１’〜Ｉｎ’が設
けられている。そして、これらの各入力端子Ｉ１’〜Ｉ
ｎ’には、上記各ディジタル帯域フィルタＦ１’〜Ｆ
ｎ’を通過したディジタル信号がそれぞれ供給される。
すなわち、周波数ｆ１〜ｆｎを有する正弦波ディジタル
信号が、各入力端子Ｉ１’〜Ｉｎ’に供給される。

【００３５】出力信号処理部１２’内のＦＦＴ処理部１
２２は、上記ディジタルＬＳＩ２’の出力信号に対して
ＦＦＴを施し、出力信号に含まれる基本波成分ｆ１〜ｆ
ｎ、およびこれらの各基本波成分に対応した各高調波成
分２ｆ１、３ｆ１、…、２ｆ２、３ｆ２、…、２ｆｎ、
３ｆｎ、…、ならびにノイズ成分を求め、これらの各成
分を解析することによりディジタルＬＳＩ２’の各種特
性を求める。

【００３６】このように、本発明は、電子ボリューム等
のアナログシステムを備えたＬＳＩの特性試験だけでは
なく、ＤＳＰやＭＰＵ等のディジタルシステム、もしく
はＤ／ＡコンバータまたはＡ／Ｄコンバータ等を備えた
各種のＬＳＩや、これらが混在した、いわゆるミックス
ド・シグナルＬＳＩの特性試験にも適用することができ
る。

【００３７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
試験対象であるＬＳＩが複数の入力端子を備える場合で
あっても、各入力端子に対して、異なる周波数を有する
正弦波信号を同時に入力することができるから、従来の
手法と比較して、試験に要する時間を短縮することがで
きる。

【００３８】また、ＬＳＩが複数の入力端子を備える場
合であっても、各入力端子に正弦波信号を供給するため
の装置を入力端子の数と同数だけ設ける必要がないた
め、製造コストを低く抑えた回路試験装置によって、Ｌ
ＳＩの特性試験を行うことができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】 本発明の一実施形態である回路試験装置を備
えたテスタおよび試験対象であるＬＳＩの構成を示すブ
ロック図である。

【図２】 同実施形態の変形例に係る回路試験装置の構
成を示すブロック図である。

【図３】 同実施形態の変形例に係る回路試験装置の構
成を示すブロック図である。

【図４】 同実施形態の変形例に係る回路試験装置の構
成を示すブロック図である。

【図５】 従来のＬＳＩの特性試験の手法を説明するた
めの図である。

【符号の説明】

１……テスタ（回路試験装置）、２，２’……ＬＳＩ
（被試験装置）、３……ＤＵＴボード（信号供給手段、
回路試験用ボード）、１１……任意波形発生器（信号生
成手段）、１２……出力信号処理部、２１……加算器、
２２……出力端子、Ｆ１〜Ｆｎ、２０１……帯域フィル
タ（フィルタ）、Ｉ１〜Ｉｎ……入力端子、Ｖ１〜Ｖｎ
……電子ボリューム、１２１……デジタイザ、１２２…
…ＦＦＴ処理部、１２３……加算器、２００……高域フ
ィルタ、２０２……低域フィルタ、２０３……減算器、
３００……任意波形発生器、３０１……テスタ、３０２
……リレー、３０３……ＬＳＩ。

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 各々周波数が異なる２以上の信号を含む
   マルチトーン信号を生成して出力する信号生成手段と、 前記信号生成手段によって出力されるマルチトーン信号
   に含まれる前記各信号を、被試験装置に設けられた２以
   上の入力端子のそれぞれに供給する信号供給手段とを具
   備することを特徴とする回路試験装置。
2. 【請求項２】 前記信号供給手段は、各々異なる周波数
   の信号を通過させる２以上のフィルタを有し、前記信号
   生成手段によって出力されるマルチトーン信号を前記２
   以上のフィルタにそれぞれ供給するとともに、前記各フ
   ィルタを通過した信号を、前記被試験装置に設けられた
   ２以上の入力端子のそれぞれに供給することを特徴とす
   る請求項１に記載の回路試験装置。
3. 【請求項３】 各々周波数が異なる２以上の信号を含む
   マルチトーン信号を生成して出力する信号生成手段を具
   備する回路試験装置により、２以上の入力端子を有する
   被試験装置の試験を行う回路試験方法において、 前記回路試験装置の出力端子から出力された前記マルチ
   トーン信号から各々異なる周波数の信号を選択し、前記
   被試験装置の２以上の入力端子に各々供給する複数のフ
   ィルタを有する回路試験用ボードを用いて、前記回路試
   験装置と前記被試験装置との接続を行い、前記回路試験
   装置の信号生成手段から前記回路試験用ボードの各フィ
   ルタにマルチトーン信号を供給し、これに応答して該被
   試験装置から出力される信号を解析することにより該被
   試験装置の試験を行うことを特徴とする回路試験方法。