JP2000314610A

JP2000314610A - 成形品の検査装置およびその検査方法

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Publication number: JP2000314610A
Application number: JP11123152A
Authority: JP
Inventors: Tetsuo Hiraguchi; 哲夫平口
Original assignee: Nok Corp
Current assignee: Nok Corp
Priority date: 1999-04-28
Filing date: 1999-04-28
Publication date: 2000-11-14
Anticipated expiration: 2019-04-28
Also published as: JP4238414B2

Abstract

(57)【要約】【課題】被成形品の検査装置に於いて、バリや不良変
形部等の不良部を幾何学的に解析して微細部でも正確に
判定出来るようにすることにある。【解決手段】被検査成形品Ｓの基準位置Ｘから第１の
仮想境界位置Ｙと第２仮想境界位置Ｚを求め、基準位置
Ｘから第１及び第２仮想境界位置Ｙ、Ｚまでの第１及び
第２距離を演算し、この第１及び第２距離の寸法の大き
さを設定値と対比して成形品の良否を判定する検査装置
及びその検査方法。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、成形品の成形バ
リ、成形不良および成形型ズレ等の成形品不良を判定す
る検査装置および検査方法に関する。特に、画像処理に
よる成形品のバリ、欠陥および成形型ズレによる成形品
の不良を検査判定する検査装置及び検査方法に関するも
のである。

【０００２】

【従来の技術】本発明に関する先行技術として図２１に
示す成形品のバリ検査機が存在する。この図２１は、成
形品としてＯリングのバリを検査する検査機の要部を示
すものである。図２１において、被検査物であるＯリン
グＳは、ゴム等の成形材料を成形機により成形すること
によつて生産される。この生産工程において、被検査物
であるＯリングＳを成形型から離型する関係から、成形
型は分割型に構成されている。

【０００３】この分割型で成形されるＯリングＳは、分
割型の分割面間（Ｏリングの径方向へ）にバリが発生す
る。このバリのうち内バリは、成形材料の充填の関係か
ら内面に大きく形成されるため、成形後の後工程である
仕上げ工程で切断されている。しかし、内周面に発生す
る欠陥等の成形不良はそのまま残存することになる。一
方、外バリは本来発生させないようにしているが、分割
面の摩耗や成形型の型ズレにより発生して成形品の不良
となることがある。また、上述のように型ズレにより不
良が発生することになる。このため、成形品の検査が必
要となる。

【０００４】図２１において、成形されたＯリングＳ
は、コンベア８０により移動供給されて撮影カメラ７１
の真下にセットされる。このＯリングＳは、撮影カメラ
７１に対して、平面状態にセットされた状態で撮影カメ
ラ７１に設けられているセンサによりＯリングに形成さ
れたバリＢを検出する。そして、ＯリングＳのバリがシ
ール機能上から問題にならない範囲内の長さであるか否
かを寸法測定し、合否を判定するものである。

【０００５】この合否の判定は、撮影カメラ７１とＯリ
ングＳとの間の側方に配置されているスポット照明機６
５から０リングＳに光を照射し、この照射した反射光を
撮影カメラ７１に設けられているセンサを介して光電変
換し、これをコンピュータ７２に設けられている演算回
路により演算してＯリングＳのバリＢの平面上の形状を
表示画面７３に投影する。そして、ＯリングＳのバリＢ
がＯリングＳとしてのシール能力に問題があるか否かを
目視判定するものである。このコンピュータ７２には表
示画面７３が設けられており、この表示画面７３にはバ
リＢの輪郭が黒く平面的に表示される。

【０００６】

【発明が解決しょうとする課題】図２２に示す表示画面
７３には、Ｏリングと分かり易くするために黒となる部
分を白くしたバリＢとが一体になつて表示された実際の
例である。この表示画面７３に表示された例から明らか
なように、実際には、ＯリングＳとバリＢとが共に黒く
表示されて区別が不明瞭となり、バリＢの長さを正確に
判定することが困難になる。特に、バリＢの長さがＯリ
ングの周面に一定に形成されている場合には，Ｏリング
ＳとバリＢとの区別が出来なくなり、バリＢがあるＯリ
ングＳでも、バリＢがないＯリングとして判定されるこ
とになる。このため、バリＢがある不良のＯリングＳ
が、バリＢが無いものとして良品に混入されて市場に発
送されることになる。

【０００７】また、上型と下型との型ズレによるＯリン
グＳの断面円形不良の場合にも、型ズレによるＯリング
Ｓの変形不良の部分が形状として検出されないので、不
良品として判定されること無く、次の工程に移動して良
品と一所に混入されることになる。さらに、ＯリングＳ
の内周面に成形上の欠陥部が発生しても、その大きさが
機能上問題となるか否か判定できないので、不良品であ
るかを判別することが困難になる。特に、小さい欠陥部
の場合には、問題があっても見逃されて良品と判定され
ることになる。

【０００８】本発明は、上述のような問題点に鑑み成さ
れたものであって、その技術的課題は、バリの長さによ
る不良や型ズレにより形成された変形部分の不良、さら
には、成形による欠陥部の不良を正確に算定して成形品
の良否を判定することにある。

【０００９】また、バリの長さ、欠陥部および変形部分
の大きさの良否を判定して成形工程における成形不良、
型締力および成形型の分割面の精度等を判定できるよう
にして成形機のチェックを出来るようにすることにあ
る。

【００１０】更に、成形品の不良部分の大きさを算定し
て良否を判定する検査方法を見え出すことにある。

【００１１】

【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するために成されたものであって、その技術的手段
は以下のように構成されている。

【００１２】請求項１に係わる本発明の成形品の検査装
置は、環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を検査する
検査装置であって、被検査成形品（Ｓ）を取り付けて回
動させる回動装置（６）と、回動装置（６）に取り付け
られた被検査成形品（Ｓ）の径方向から外周面または軸
方向から内周面に向けて配置されているとともにイメー
ジセンサ（４）を有する撮影カメラ（２）と、撮影カメ
ラ（２）の対向側に配置されて被検査成形品（Ｓ）の外
周面または内周面を撮影カメラ（２）側に照射する照明
装置（９）と、撮影カメラ（２）から入力の光電変換信
号を演算処理して被検査成形品（Ｓ）の外周面形状また
は内周面形状を判定する演算処理部（２４）とを具備
し、演算処理部（２４）は被検査成形品（Ｓ）の断面の
径方向中心線を通る外形の境界位置（Ｘ１）または被検
査成形品（Ｓ）の軸の中心位置（Ｘ２）である基準位置
（Ｘ）を求めるとともに基準位置（Ｘ）から被検査成形
品（Ｓ）の対象の検査位置を第１の仮想境界位置（Ｙ）
として求め、且つ基準位置（Ｘ）から第１の仮想境界位
置（Ｙ）の寸法と相違する位置を第２の仮想境界位置
（Ｚ）として求め、基準位置（Ｘ）から第１の仮想境界
位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１、Ｌ３）と基準位置
（Ｘ）から第２の仮想境界位置（Ｚ）までの第２距離
（Ｌ２、Ｌ４）を求めて第１距離（Ｌ１、Ｌ３）または
第２距離（Ｌ２、Ｌ４）の各値が設定値の範囲外のとき
不良と判定するものである。

【００１３】請求項２に係わる本発明の成形品の検査装
置は、環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を検査する
検査装置であって、被検査成形品（Ｓ）を取り付けて回
動させる回動装置（６）と、回動装置（６）に取り付け
られた被検査成形品（Ｓ）の外周面の接線方向で外周面
に向けて配置されているとともにイメージセンサ（４）
を有する撮影カメラ（２）と、撮影カメラ（２）の対向
側に配置されて被検査成形品（Ｓ）の外周面を撮影カメ
ラ（２）側に照射する照明装置（９）と、撮影カメラ
（２）から入力の光電変換信号を演算処理して被検査成
形品（Ｓ）の外周面形状を判定する演算処理部（２４）
とを具備し、演算処理部（１３）は被検査成形品（Ｓ）
の断面中心線を通る外形の境界位置（Ｘ１）を求めると
ともに中心線と直交する１方側の外形の半輪郭と半輪郭
と対応する被検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に
合わせて中心線と交差する位置を第１の仮想境界位置
（Ｙ）として求め、且つ中心線と直交する他方側の外形
の半輪郭と半輪郭に対応する被検査成形品（Ｓ）の全周
輪郭とを同位置に合わせて中心線と交差する位置を第２
の仮想境界位置（Ｚ）として求め、境界位置（Ｘ１）か
ら第１の仮想境界位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１）と
境界位置（Ｘ１）から第２の仮想境界位置（Ｚ）までの
第２距離（Ｌ２）との各最大値を各対応設定値と比較し
て第１距離（Ｌ１）と第２距離（Ｌ２）とが各対応設定
値の範囲外のとき不良と判定するものである。

【００１４】請求項３に係わる本発明の成形品の検査装
置は、環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を検査する
検査装置であって、被検査成形品（Ｓ）を取り付けて回
動させる回動装置（６）と、回動装置（６）に取り付け
られた被検査成形品（Ｓ）の外周面の接線方向で外周面
に向けて配置されているとともにイメージセンサ（４）
を有する撮影カメラ（２）と、撮影カメラ（２）の対向
側に配置されて被検査成形品（Ｓ）の外周面を撮影カメ
ラ（２）側に照射する照明装置（９）と、撮影カメラ
（２）から入力の光電変換信号を演算処理して被検査成
形品（Ｓ）の外周面形状を判定する演算処理部（２４）
とを具備し、演算処理部（２４）は被検査成形品（Ｓ）
の断面中心線を通る外形の境界位置（Ｘ１）を求めると
ともに中心線と直交する１方側の外形の半輪郭と半輪郭
に対応する被検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に
合わせて中心線と交差する位置を第１の仮想境界位置
（Ｙ）として求め、且つ中心線と直交する他方側の外形
の半輪郭と半輪郭に対応する被検査成形品（Ｓ）の全周
輪郭とを同位置に合わせて中心線と交差する位置を第２
の仮想境界位置（Ｚ）として求め、境界位置（Ｘ１）か
ら第１の仮想境界位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１）と
境界位置（Ｘ１）から第２の仮想境界位置（Ｚ）までの
第２距離（Ｌ２）を求めて境界位置（Ｘ１）から遠い第
１距離（Ｌ１）または第２距離（Ｌ２）の値から境界位
置（Ｘ１）に近い第２距離（Ｌ２）または第１距離（Ｌ
１）の値を差し引いた数字が設定値の範囲外のとき不良
と判定して判定した結果を選別機（３１）の制御部（１
５）へ出力するものである。

【００１５】請求項４に係わる本発明の成形品の検査装
置は、第１距離（Ｌ１）と第２距離（Ｌ２）とを被検査
成形品の周面に沿って複数箇所求め第１距離（Ｌ１）と
第２距離（Ｌ２）と対比して小さい値をバリ（Ｂ）と判
定するとともにバリ（Ｂ）の最大長さが設定値の値より
大きいとき第２順位の欠陥として判定するものである。

【００１６】請求項５に係わる本発明の成形品の検査装
置は、環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を検査する
検査装置であって、被検査成形品（Ｓ）を取り付けて回
動させる回動装置（６）と、回動装置（６）に取り付け
られた被検査成形品（Ｓ）の中心軸方向から内周面に向
けて配置されているとともにイメージセンサ（４）を有
する撮影カメラ（２）と、撮影カメラ（２）の対向側に
配置されて被検査成形品（Ｓ）の内周面を撮影カメラ
（２）側に照射する照明装置（９）と、撮影カメラ
（２）から入力の光電変換信号を演算処理して被検査成
形品（Ｓ）の内周面形状を判定する演算処理部（２４）
とを具備し、演算処理部（２４）は被検査成形品（Ｓ）
の内周面２点の境界位置を結ぶ仮想線の中心を通る垂直
線に内周面の半径を足して中心位置（Ｘ２）を求めると
ともに中心位置（Ｘ２）から内周面の境界である第１の
仮想境界位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ３）を全周に沿
って求め、且つ中心位置（Ｘ２）から第１の仮想境界位
置（Ｙ）までの距離のうち異常変形部の内周面の境界で
ある第２の仮想境界位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ４）
を求め、第１距離（Ｘ１）及び第２距離（Ｘ２）が設定
値より大きいとき不良と判定するものである。

【００１７】請求項６に係わる本発明の成形品の検査方
法は、環状を成す被検査成形品（Ｓ）の形状を検査する
検査方法であって、被検査成形品（Ｓ）を回動装置
（６）で回転しながら被検査成形品（Ｓ）の周面をイメ
ージセンサ（４）を有する撮影カメラ（４）で撮影し、
撮影カメラ（４）で撮影した光を光電変換信号に変えて
演算処理部（２４）に入力し、演算処理部（２４）で被
検査成形品（Ｓ）の外形の境界位置（Ｘ１）を求めると
共に被検査成形品（Ｓ）の断面の輪郭と被検査成形品
（Ｓ）の断面中心を通る中心線に対して中心線に直交す
る１方側の外形の半輪郭とを同位置に合わせて中心線と
交差する位置を第１の仮想境界位置（Ｙ）として求め、
次に被検査成形品（Ｓ）の断面の輪郭と被検査成形品
（Ｓ）の断面の中心を通る中心線に対して中心線に直交
する他方側の外形の半輪郭とを同位置に合わせて中心線
と交差する位置を第２の仮想境界位置（Ｚ）として求
め、境界位置（Ｘ１）から第１の仮想境界位置（Ｙ）ま
での第１距離（Ｌ１）を求め、境界位置（Ｘ１）から第
２の仮想境界位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ２）を求
め、境界位置（Ｘ）から近い距離（Ｌ１またはＬ２）の
値と遠い距離（Ｌ２またはＬ１）の値から近い距離（Ｌ
１またはＬ２）の値を引いた値の各最大値が前もつて入
力された対応設定値と対比して対応設定値より大きいと
きは不良品と判定するものである。

【００１８】請求項７に係わる本発明の成形品の検査方
法は、境界位置（Ｘ）から近い第１距離（Ｌ１）または
第２距離（Ｌ２）の値をバリ（Ｂ）の長さと判定し、バ
リ（Ｂ）の長さが対応設定値と対比して対応接定値より
大きいとき第２順位の欠陥として判定するものである。

【００１９】

【作用】本発明に係わる請求項１の成形品の検査装置
は、被検査成形品（Ｓ）を取り付けて回動させる回動装
置（６）を回転し、回動装置（６）に取り付けられた被
検査成形品（Ｓ）の内周面の軸方向または外周面の接線
方向に配置されているとともにイメージセンサ（４）を
有する撮影カメラ（２）で撮影する。この撮影カメラ
（２）は対向側に配置されて被検査成形品（Ｓ）の内周
面または外周面を撮影カメラ側に照射する照明装置（２
４）の光で被検査成形品（Ｓ）の透過、不透過による明
と暗との領域を明るさの変化量で求める。そして、撮影
カメラ（２）から入力の光電変換信号を演算処理部（２
４）で演算処理して被検査成形品（Ｓ）の内周面または
外周面形状を判定する。この判定時には被検査成形品
（Ｓ）の基準となる基準位置（Ｘ）を求めるとともに基
準位置（Ｘ）からの距離を測定し、この測定された寸法
のデータと演算処理部（２４）に入力されているデータ
の設定値とを対比して演算し、設定値の範囲外の時は不
良と判定する。この判定は基準位置（Ｘ）を求めて基準
位置から寸法を測定して判定するため不良を正確に判定
することが可能になる。

【００２０】本発明に係わる請求項２の成形品の検査装
置は、被検査成形品（Ｓ）を取り付けて回動させる回動
装置（６）を回転し、回動装置（６）に取り付けられた
被検査成形品（Ｓ）の外周面を外周面の接線方向に配置
されているとともにイメージセンサ（４）を有する撮影
カメラ（２）で撮影する。この撮影カメラ（２）は対向
側に配置されて被検査成形品（Ｓ）の外周面を撮影カメ
ラ側に照射する照明装置（２４）の光で被検査成形品
（Ｓ）の透過、不透過による明と暗との領域を明るさの
変化量で求める。そして、撮影カメラ（２）から入力の
光電変換信号を演算処理部（２４）で演算処理して被検
査成形品（Ｓ）の外周形状を判定する。この判定時に
は、演算処理部（２４）へ出力する設定値を前もつて記
憶された設定器（２５）からのデータを入力して対比す
る。この対比は、演算処理部（２４）で被検査成形品
（Ｓ）の断面中心線を通る外方形状の境界位置（Ｘ１）
を求めるとともに中心線と直交する１方側の外形の半輪
郭と被検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に合わせ
て中心線と交差する位置を第１の仮想境界位置（Ｙ）と
して求め、且つ中心線と直交する他方側の外形の半輪郭
と被検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に合わせて
中心線と交差する位置を第２の仮想境界位置（Ｚ）とし
て求める。そして、境界位置（Ｘ１）から第１の仮想境
界位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１）と境界位置（Ｘ
１）から第２の仮想境界位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ
２）との各最大値を前もって入力された各対応設定値と
比較して第１距離（Ｌ１）と第２距離（Ｌ２）とが各対
応設定値の範囲外のとき不良と判定するものである。

【００２１】この場合の演算処理部が、被検査成形品
（Ｓ）の境界位置（Ｘ）からのバリ（Ｓ）と型ズレによ
る不良変形部（Ｄ）との総和の最大値が検査基準の設定
値より大きければ不良品と見なすものである。これは、
バリ（Ｓ）と不良変形部（Ｄ）とに限定せずにこの両者
の総和が検査基準以上になれば、例えば、Ｏリングの場
合シール能力に影響するからである。

【００２２】本発明の請求項３に係わる成形品の検査装
置は、被検査成形品を回動装置に取り付けて回動しなが
ら被検査成形品の外周面をイメージセンサを有する撮影
カメラで撮影してその撮影データを光電変換信号に変換
する。この光電変換信号を演算処理装置で演算処理して
被検査成形品の外周面形状を判定する。この判定は、演
算処理部（２４）により被検査成形品（Ｓ）の断面中心
線を通る外形の境界位置（Ｘ１）を求めるとともに中心
線と直交する１方側の外形の半輪郭と被検査成形品
（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に合わせて中心線と交差す
る位置を第１の仮想境界位置（Ｙ）として求め、且つ中
心線と直交する他方側の外形の半輪郭と被検査成形品
（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に合わせて中心線と交差す
る位置を第２の仮想境界位置（Ｘ１）として求める。ま
た、境界位置（Ｘ１）から第１の仮想境界位置（Ｙ）ま
での第１距離（Ｌ１）と、境界位置（Ｘ１）から第２の
仮想境界位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ２）とを求めて
境界位置（Ｘ１）から遠い第１距離（Ｌ１）または第２
距離（Ｌ２）の値から境界位置（Ｘ１）に近い第２距離
（Ｌ２）または第１距離（Ｌ１）の値を差し引いた数字
が設定値より大きいとき不良と判定するものである。

【００２３】これは型ズレ不良を先ず検査するものであ
る。、例えば、被検査成形品（Ｓ）がＯリングの場合シ
ール能力に大きく影響するのは、分割面の型ズレによつ
て生ずる成形不良である。そして、バリ（Ｂ）が小さい
場合には型ズレ不良よりもシール能力として大きな問題
とならない。このため、第１に型ズレ不良を検査し、次
にバリ不良を検査する。そして、型ズレ不良が存在すれ
ば、バリ不良を検査するまでもなく被検査成形品（Ｓ）
として不合格となるからである。そして、この型ズレ不
良はシール能力としての根本問題なので判定結果を後工
程である選別機（３１）の制御部（１５）へ入力して良
品と不良品とを選別するものである。

【００２４】請求項４に係わる本発明の成形品の検査装
置は、第１距離（Ｌ１）と第２距離（Ｌ２）とを被検査
成形品周面に沿って各々求めるとともに、第１距離（Ｌ
１）と第２距離（Ｌ２）とを対比して小さい値をバリ
（Ｂ）と判定する。このバリ（Ｂ）を欠陥の第２順位に
して判定する請求項２に記載のものである。これは、バ
リ（Ｂ）も機能としての欠陥として見逃すことが出来な
い場合である。

【００２５】請求項５に係わる本発明の成形品の検査装
置は、被検査成形品（Ｓ）を回動装置（２０）で回転し
ながら被検査成形品（Ｓ）の内周面をイメージセンサ
（４）を有する撮影カメラ（４）で撮影する。この撮影
の処理は、反対側に配置の照明装置（９）の照射する光
を受けた被検査成形品（Ｓ）の明暗を撮影カメラ（４）
で撮影し、この光を光電変換信号に変えて演算処理部
（２４）に入力する。そして、演算処理部（２４）で被
検査成形品（Ｓ）の内周面の境界位置の２点を結ぶ仮想
線の中心を通る垂直線から測定基準位置となる中心位置
（Ｘ）を求める。この中心位置（Ｘ）から被検査成形品
（Ｓ）の内周面を測定して内径寸法の不良誤差ととも
に、内周面に発生した欠陥を測定し、内径寸法及び欠陥
部が設定値の範囲外であれば不良とするものである。こ
のため、欠陥分を正確に測定することが可能になる。

【００２６】請求項６に係わる本発明の成形品の検査方
法は、被検査成形品（Ｓ）を回動装置（２０）で回転し
ながら被検査成形品（Ｓ）の外周面をイメージセンサ
（４）を有する撮影カメラ（４）で撮影する。この撮影
カメラ（４）で撮影した光を光電変換信号に変えて演算
処理部（２４）に入力する。そして、演算処理部（２
４）で被検査成形品（Ｓ）の外形の境界位置（Ｘ１）を
求めると共に、被検査成形品（Ｓ）の断面の輪郭と被検
査成形品（Ｓ）の断面中心を通る中心線に対して中心線
に直交する１方側の外径の半輪郭とを同位置に合わせて
中心線と交差する位置を第１の仮想境界位置（Ｙ）とし
て求める。次に被検査成形品（Ｓ）の断面輪郭と被検査
成形品（Ｓ）の断面中心を通る中心線に対して中心線に
直交する他方側の外形の半輪郭とを同位置に合わせて中
心線と交差する位置を第２の仮想境界位置（Ｚ）として
求める。そして、境界位置（Ｘ）から第１の仮想境界位
置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１）を求めるとともに、更
に境界位置（Ｘ）から第２の仮想境界位置（Ｚ）までの
第２距離（Ｌ１）を求める。更に、境界位置（Ｘ）から
近い距離（Ｌ１またはＬ２）の値と遠い距離（Ｌ２また
はＬ１）の値から近い距離（Ｌ１またはＬ２）の値を引
いた値の各最大値が前もって入力されている対応設定値
と対比して対応設定値の範囲外のときは、不良品と判定
するものである。

【００２７】設定器（２５）には設定値として検査基準
値が入力されており、この検査基準値のデータと型ズレ
による不良変形部（Ｄ）の大きさとを対比して不良変形
部の大きさが大きい場合には不良品と判定する方法であ
る。

【００２８】請求項７に係わる本発明の成形品の検査方
法は、境界位置（Ｘ）から近い第１距離（Ｌ１）または
第２距離（Ｌ２）の値をバリ（Ｂ）の長さと判定し、バ
リ（Ｂ）の長さが対応設定値と対比して対応接定値より
大きいとき第２順位に演算して欠陥と判定する検査方法
である。この場合は、バリ（Ｂ）の大きさも考慮して検
査するものである。

【００２９】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係わる実施の形態
について成形機の検査装置の図面を基に詳述する。

【００３０】図１は、本発明の１実施の形態を示す成形
機の検査装置に関する側面図である。また、図２は図１
の平面図である。図１及び図２に於いて、１は検査装置
である。検査装置１は、撮影カメラ２と照明装置９と回
動装置６と演算処理装置２４と表示装置１９とから構成
されている。そして、Ｓは被検査成形品である。この被
検査成形品Ｓは、実施例としてＯリングの側面を示すも
のである。

【００３１】先ず、被検査成形品Ｓについて説明する。
図３に示す被検査成形品の自由形状のＯリングＳは、ゴ
ム材製であって、断面がＯ形状に形成されて全体が環状
を成している。このＯリングＳは、図３のように取り付
けられるため、外周面にバリＢや断面の円周面に不良変
形部Ｄがあるとシール能力が低下する。このため、Ｏリ
ングＳの外形面を検査することが必要になる。

【００３２】図４のＯリングＳは、成形に於いて上型と
下型とが型ズレして型ズレに伴う段部状の不良変形部Ｄ
が外周面に形成されたものである。更に外周面には不良
変形部Ｄの外周側にバリＢが不規則に形成されている。
これらは、不良品であって、成形型の分割面の摩耗、型
締め力、射出圧力の変動などによって生じることがあ
る。このＯリングＳの生産に於いて不良品に成形された
ものを良品と混入しない様にする必要がある。このた
め、この様な不良品を検査して除去しなければならなく
なる。

【００３３】ＯリングＳは、検査装置１の回動装置６に
取り付けられて、図１に示すように、回動装置６ととも
に回転する。このＯリングＳは、回動装置６に設けられ
たＯリングＳの内径が嵌合する軸型をした取付ジグ７に
嵌合させて取り付けられる。取り付けジグ７は回動装置
６に回動自在に設けられてモータにより回動するように
構成されている。このモータは連続回転するもの、また
は間欠に回転するものが利用される。

【００３４】一方、撮影カメラ２と照明装置９は、Ｏリ
ングＳの外周面に対して図２に示すような直線の位置関
係に取り付けられている。この撮影カメラ２は、図２及
び図５に示すように、照明装置９から照射される光をＯ
リングＳの外周面を介して受光し、撮影した画像上でＯ
リングにより遮られた部分の陰となる暗い光量とＯリン
グに遮られることなく透過した明るい光量との光量の変
化お受けることになる。この受光を光電変換して演算処
理部２４に入力し、演算結果を表示装置１９に表示され
る。尚、図５のＯリングＳは断面が円形に表示されてバ
リＢや不良変形部Ｄが認められないものであり、図４に
示すものとは反対に、判定結果が良品となるものであ
る。

【００３５】図６は、撮影カメラ２と演算処理部２４と
の構成を示すものである。図６に於いて、被検査成形品
であるＯリングＳは、被写体となり、撮影カメラ２によ
り撮影される。そして、撮影カメラ２は、レンズ３と、
レンズ３の後方にエリアセンサ４とを配置した構成に成
されている。更に、エリアセンサ４の白と黒との受光信
号から電気信号に変換するＣＣＤがもうけられている。
そしてエリアセンサ４の構成の１つとして図７に示すよ
うな水平走査回路１０と垂直走査回路１１とに構成され
ている。

【００３６】この２つの走査回路１０，１１を介して、
エリアセンサ４に投影された光は、トランジュサの光電
変換素子に当たり、電荷が蓄積れることになる。そし
て、蓄積された電荷量は、光の強さ及び照射されている
時間により決まる。更に光が当たって蓄積される電荷
は、信号線から電流または電圧で順次送信される。

【００３７】ＯリングＳのバリＢや不良変形部Ｄは、エ
リアセンサ４の素子間の間隔が正確に確認されているの
で、信号線より送り出されてきた電流または電圧パルス
の個数を数えることにより、光の当たっている影像の外
形寸法を計測することが出来る。

【００３８】また、エンド信号１２は、計測を終了した
ことを知らせる信号である。そして、信号の種類として
は、露光時間に関係する計測開始のスタート信号、並列
な信号を直列な信号に変化するクロックパルス、光電素
子からのビデオ信号などが送信される。

【００３９】これらの信号は、演算処理部２４に送信さ
れる。この信号は、光の当たっているセンサ信号の個数
を示しているので、このセンサ間隔を乗じて光電像の形
状長さを割り出し、倍率で割ってＯリングにどのような
形のバリＳや不良変形部Ｄが存在するか否かを演算処理
する。

【００４０】更に、作業者の目で分かるようにするため
に演算処理部２４で処理したものを表示回路部１７へ送
信して表示回路部１７によりＯリングの外形状態を目で
判断できるようにもされている。つまり、演算処理部２
４または表示回路部１７を介してＯリングＳの良否を判
定するものである。

【００４１】演算処理部２４を介して，ＯリングＳの良
否を判定したデータは、図１３に示すような後工程であ
る包装工程Ｐ前の選別機３１の制御部１５へ発信され
る。そして、制御部１５は選別機３１を制御して包装さ
れるＯリングＳの良否を選別し、包装されるＯリングＳ
に不良なＯリングが混入されるのを防止するものであ
る。

【００４２】次に、演算処理部２４について簡単に説明
する。図８は、演算処理部２４の構成を示すものであ
る。演算処理部２４はＣＰＵ２４０を中心にメモリ部２
４２と必要なデータを入力しておく設定部２５とから構
成されている。そして、前もつて記憶されているＯリン
グのバリＢの設定値や不良変形部Ｄの設定値は、設定部
２５からＩ／Ｏ装置２４６を介して入力される。また、
撮影カメラ２からの信号は、Ｉ／Ｆ２２を介してＡ／Ｄ
Ｃ２４４によりデジタル形式の信号に変換されてＣＰＵ
に入力できるように構成されている。さらに、ＣＰＵ２
４０で処理した信号はメモリ部２４２のデータを基にメ
モり部２４２に記憶されている制御プログラムを作動さ
せて、Ｄ／ＡＣ２４３によりデジタル形式選別機３１の
制御部１５を作動させるためにインターフェース回路Ｉ
／Ｆ２１を介して入力する。

【００４３】上述の各技術により図１に示す検査装置１
の回転装置６に取り付けられているＯリングＳは撮影カ
メラ２により撮影される。そして、撮影カメラ２から得
られたデータ信号により演算処理部２４から表示装置１
９へと処理される。図９はその処理状況説明するための
画像処理する図面である。

【００４４】この図９は、図４のＯリングＳのバリＢと
不良変形部Ｄを示す拡大図である。図９に於いて、Ｏリ
ングＳの径方向中心線を通る外形の境界位置Ｘ１はバリ
Ｂの外端に相当する。

【００４５】次に、図１０に示すようにＯリングＳの図
示する中心線と直交する上側の断面半円形の半輪郭に対
しＣＰＵ２４２または設定部２５に入力されているデー
タによる断面の径を示す寸法の円形の全輪郭を位置合わ
せをする。そして、全輪郭と中心線とが交差する点が第
１の仮想境界位置Ｙとする。さらに、同様にして図１１
に示すように、中心の下側の断面半円形の半輪郭に対し
設計した寸法の円形の全輪郭を位置あわせをして中心線
と交差する点を第２の仮想境界位置Ｚとする。

【００４６】そして、境界位置Ｘから第１の仮想境界位
置Ｙまでの距離を第１距離Ｌ１とする。また、境界位置
Ｘから第２境界位置Ｚまでの距離を第２距離Ｌ２とす
る。このとき、境界位置Ｘから第１距離Ｌ１または第２
距離Ｌ２のうち近い距離ＬｂがバリＳの長さ寸法とな
る。また、境界位置Ｘから遠い距離（欠陥長さ）Ｌｘの
寸法に対し境界位置Ｘから近い距離（バリ長さ）Ｌｂを
引いた寸法が型ズレによる不良変形部Ｄの距離寸法Ｌｄ
となる。この測定個所は、ＯリングＳの全周に対して測
定する場合、全周の複数箇所について測定を行う場合及
び１カ所について測定する場合がある。このうち全周ま
たは複数箇所を測定する場合は、中心線の中心点の両側
でＬ１とＬ２の寸法の大きさが大小に変化する。あるい
は変化しない箇所が存在する。このたっめ、バリ長さ寸
法Ｌｂと不良変形部Ｄの距離寸法Ｌｄとの最大値を設計
したときの許容寸法と対比して不良品の良否を判定す
る。これらの演算処理は撮影カメラ２からの光を光電変
換信号に変換して演算処理部２４で演算処理される。

【００４７】上述のバリ長さ寸法Ｌｂ及び不良変形部Ｄ
の距離寸法Ｌｄの許容寸法は、例えば、ＩＳＯ３６０１
Ｓグレード規格により設定されている。または、実験の
結果機能上問題のない範囲として決めた社内規格により
決定する場合もある。例えば、Ｏリングの場合には、バ
リ長さ寸法Ｌｂと型ズレの不良変形部Ｄの距離寸法Ｌｄ
は、ＯリングＳの線径ｄの大きさに対応して種々に決定
される。その例として線径ｄが１．８から２．６５ｍｍ
に対しバリ長さ寸法Ｌｂが０．１０ｍｍ、不良変形部Ｄ
の距離寸法Ｌｄが０．０８ｍｍ、さらに中間は省略し
て、ｄが５．３０から７．００ｍｍではＬｂが０．１５
ｍｍでＬｄが０．１３ｍｍと設定されるものである。

【００４８】ＯリングＳの表面に形成される欠陥の大き
さは、以下のような種々の方法で決定される。先ず第１
は、型ズレによる不良変形部Ｄの距離寸法Ｌｄの大きさ
のみにより決定する場合である。これは、欠陥部として
バリ長さ寸法Ｌｂがほとんど機能上問題とならない場合
でも、不良変形部Ｄの距離寸法Ｌｄは必ず問題となるか
らである。つまり、不良変形部Ｄの距離寸法Ｌｄ値が設
定値以上であれば不良とするものである。

【００４９】次に第２は、バリＢが発生して欠陥なるこ
とを考慮して、バリ長さ寸法Ｌｂと不良変形部の距離寸
法Ｌｄの合計が欠陥の大きさとするものである。この場
合は、バリの長さ寸法Ｌｂと不良変形部の距離寸法Ｌｄ
の合計値が設定値より大きくなれば不良と判定するもの
である。この場合は欠陥部の大きさが小さいときに、全
体を測定して、検査方法が簡素化できる利点がある。

【００５０】さらに第３は、バリ長さ寸法Ｌｂと不良変
形部の距離寸法Ｌｄを各々測定して各測定値Ｌｂ、Ｌｄ
を不良となる設定値と対比して不良の良否を判定するも
のである。尚、この方法では、検査測定中にバリＢの発
生がほとんど認められない場合に、上述の第１または第
２の方法に切り替えることが出来る信頼性と簡素化を選
択することが出来る。なお、バリＳのバリ長さ寸法Ｌｂ
の判定は、演算処理するとき、不良変形部の判定を第１
位とし、次にバリの長さ寸法Ｌｂを判定する順序によっ
てなされている。

【００５１】次に、被検査成形品Ｓの検査方法について
説明する。

【００５２】図１２は、検査装置１の画像処理における
検査手順のフローチャートである。被検査成形品である
ＯリングＳを回動装置６の取付ジグ７に嵌合して取り付
ける。次に、照明装置９から撮影カメラ２に対しＯリン
グＳの外周面を影像する様に照射する。そして、演算処
理部２４を含めた画像処理部では、撮影カメラ２で撮影
した画像上に、ＯリングＳにより光が遮られた暗い領域
と光が通過した明るい領域との明暗の変化量を光電変換
信号として求める（工程１）。この明暗の変化量で、変
化量が１／３から２／３、このましくは１／２変化した
位置をバリＢの境界位置Ｘ１として求める（工程２）。

【００５３】ＯリングＳの径方向で断面の中心線に対し
直交する図示の上方の断面の輪郭に円形を重ね合わせて
図示下方の円形を仮想線とする。そして、中心線と交差
する点を第１の仮想境界位置Ｙとして求める（工程
３）。

【００５４】上述と同様にして、ＯリングＳの径方向で
断面の中心線に対し直交する図示下方の断面の輪郭に円
形を重ね合わせて図示の下方の円形を仮想線とする。そ
して、中心線と交差する点を第２の仮想境界位置Ｚとし
て求める（工程４）。

【００５５】そして、演算処理部２４で境界位置Ｘから
近い仮想境界位置ＹまたはＺまでの距離寸法をバリ長さ
寸法Ｌｂとして求める（工程５）。次に、境界位置Ｘか
ら遠い仮想境界位置ＺまたはＹまでの距離寸法Ｌｘを求
めると共に、この遠い距離寸法Ｌｘからバリ長さ寸法Ｌ
ｂを引いたものを型ズレにより形成される不良変形部の
距離寸法Ｌｄとして求める（工程６）。

【００５６】この不良変形部のＤの距離寸法Ｌｄが演算
処理部２４の設定部２５に記憶されている上述の許容設
定値より越えるときは不良と判定される。不良変形部Ｄ
が円周に沿って複数測定されるときは、距離寸法Ｌｄの
最大値が判定基準とされる。また、ばりＢの長さＬｂが
不良判定として測定されるときには、不良変形部Ｄの判
定をした後に第２位として判定される。そのため、不良
変形部Ｄの長さが不良と判定されれば、ばりＢの長さが
判定されるまでもなく不良品となる（工程７）。

【００５７】以上のようにして第１の仮想境界位置Ｙと
第２仮想境界位置Ｚとを判定する検査判定方法により、
型ズレによる不良変形部Ｄの様な、微細で不明瞭な形状
でも正確に測定して判定することが出来る。また、ばり
Ｂの長さ寸法Ｌｂを測定して機能上問題となる長さなの
か否かも正確に判定することが可能になる。さらには、
この判定されたデータは、選別機３１の制御部１５へ出
力されて成形品の良品に不良品が混入されるのを効果的
に防止することが可能になる。

【００５８】図１３は、本発明の第２実施の形態を示す
成形品の検査装置に関する平面図である図１３に於い
て、検査装置１には回動装置６が設けられており、この
回動装置６には継手２７を介して取付ジグ７が取り付け
られるようになっている。この取付ジグ７には周面に円
形凹状の溝が軸方向に沿って複数形成され、取付部８を
構成している。そして、複数の取付部８には複数の各取
付部８に応じてＯリングＳが取り付けられる。

【００５９】この複数のＯリングＳは撮影カメラ２と照
明装置９との間に配置されている。そして、回動装置６
のモータ２６により回転されるＯリングＳは、撮影カメ
ラ２により測定して検査される。この撮影カメラ２と照
明装置９は第１実施の形態と同様に構成されている。こ
の撮影カメラ２は，レール５に案内されてＯリングＳの
配置間隔に応じて間欠に移動できるように構成されてい
る。尚、３５は照明装置の拡散板である。

【００６０】撮影カメラ２は、レール５に案内されて間
欠に移動し、ＯリングＳを１個ずつ撮影して検査する。
この撮影のためのＯリングの取付は、取付ジグ７の図示
右側に配置のハンドリング３４がＯリングＳをチャツク
して取付ジグ７へ移動し、各取付部８にＯリングＳを嵌
合して取り付ける。また、Ｏリングの検査が完了すれ
ば、ロボットの離脱装置１３により、１個ずつ取り出し
てシュータ３０により包装工程Ｐへ搬送する。

【００６１】シュータ３０の下降の包装工程Ｐ側は、包
装工程Ｐへの第１シュータ３２と不良品ボックスへの第
２シュータ３３とに分かれている。そして、演算処理部
２４からの合否判定信号を受けた制御部１５は、切替板
３６を切り替えることによつてＯリングの良品は、包装
工程Ｐ側へ移動出来るように第１シュータ３２へ切り替
える。また、反対に不良品は、第２シュータ３３へ移動
するように切り替えて不良ボックスへ投入できるように
する。

【００６２】また演算処理部２４により判定されたＯリ
ングの合否判定信号は成形機にフィードバック出来るよ
うに成形工程発信部４０と演算処理部２４とに結信され
ている。この成形工程発信部４０は、図示省略の制御部
１５ａにより成形圧力または型締め力等を制御する。

【００６３】図１４は、本発明に係わる第３の実施の形
態を示す成形品の検査装置の側面図である。図１４に於
いて、各構成は、図１に示すものとほぼ同様の構成であ
る。相違する点は、ラインセンサまたはエリアセンサを
設けた撮影カメラ２と対向する照明装置９がオイルシー
ルＳの図示軸方向の両側に配置されていることである。
そして、回転装置６の回転板６ａは透明材料、例えばガ
ラス板またはアクリル板により形成されている。この回
転板６ａは、照明装置６からの照射光を通過させてオイ
ルシールＳを投影できるように成されている。尚、第３
の実施の形態では、撮影カメラ２のイメージセンサはラ
インセンサでもエリアセンサでも利用することが可能で
ある。

【００６４】この検査装置で検査される被検査成形品
Ｓ、すなわち、オイルシールは、内周面に軸部材をシー
ルするためのリップが設けられている。このリップはメ
ス仕上げカットにより加工される。このため、成形不良
やメスカットによる円形不良及び成形時に内部に発生し
た欠陥不良が仕上げ加工により仕上げ表面に現れること
になる。

【００６５】図１５は、図１４に於いて撮影カメラ２に
より撮影したオイルシールＳのリップ部の内周面の撮影
画像である。図１５の右側はこの撮影視野の拡大した撮
影画像である。

【００６６】図１６は、図１５におけるオイルシールＳ
の内周面の任意の境界点ｂ１から水平方向にある他の境
界点ｂ２を求め仮想線を引く。この境界点ｂ１、ｂ２の
２点を結ぶ仮想線ｋの長さの中心点ｐを求めるととも
に、この中心点ｐから垂直線を引き内周面の境界点ｂ３
の交差点から半径の第１距離Ｌ３を測定して中心位置Ｘ
２を求める。図１７のＸ２が求めた中心位置である。こ
の中心位置Ｘ２を中心にしてオイルシールＳを回動装置
６により回転しながら内周面の第１仮想境界位置Ｙを全
周にわたり、例えば、０．１度から１度の範囲のうちの
設定角度θごとに第１距離Ｌ３をＬ３ａ，Ｌ３ｂ，Ｌ３
ｃ，・・・と測定する。この測定は、図１８に示すよう
にして１つの区間ごとに測定する。

【００６７】この内周面の測定は、好ましくは、全周に
わたり１０度から３０度、例えば２４度の区間に分け、
その区間おける中心位置Ｘ２から第１の仮想境界位置Ｙ
までの第１距離Ｌ３の最大値（Ｌ３ｍａｘ）と最小値
（Ｌ３ｍｉｎ）を求めてリップの真円度を判定する。ま
た、図１９に示すように、欠陥部Ｋにより形成される第
２距離Ｌ４の最大値（Ｌ４ｍａｘ）となる第２の仮想境
界位置Ｚまでの第２距離Ｌ４を求めて演算処理装置２４
に入力されているそれぞれに対応する設定値と対比して
欠陥部Ｋが不良であるか否かを判定する。更には、中心
位置Ｘ２から第１の仮想境界位置Ｙまでの第１距離Ｌ３
と欠陥部Ｋである第２仮想境界位置Ｚまでの第２距離Ｌ
４を求める。または、その第２距離Ｌ４から第１距離Ｌ
３を引いた差の欠陥部の寸法Ｔを求める。そして、この
求めた各距離Ｌ３，Ｌ４、または欠陥部の寸法Ｔの値が
演算処理装置２４に入力されている設定値と対比され
て、設定値の範囲外の時は欠陥部Ｋを不良と判定する。
この演算処理装置２４での処理構成は本発明の第１実
施の形態と同様であるので、その説明は省略する。

【００６８】図２０は、画像処理工程の処理フローチャ
ートである。図２０に於いて、工程１は、撮影カメラ２
と照明装置９との構成で光の透過、不透過によりオイル
シールＳの明暗領域の変化量を求める。工程２は、この
明の変化量が１／３から２／３，好ましくは１／２に変
化した位置を境界点ｂとする。工程３は、この境界点ｂ
１から他の境界点ｂ２を求めて両境界点ｂ１，ｂ２を結
ぶ仮想線ｋの距離を求める。そして、工程４は、この仮
想線ｋの水平方向の中心点ｐを求める。工程５は、仮想
線ｋに対して中心点を通る垂直線を引くとともに、垂直
線の境界点ｐ３からオイルシールＳの内径の半径値を足
して中心位置Ｘ２を求める。

【００６９】工程６は、この中心位置Ｘ２から境界点ｂ
３までの第１距離Ｌ３を設定角度ごとにＬ３ａ、Ｌ３
ｂ、Ｌ３ｃと全周にわたり求める。工程７は、オイルシ
ールＳの内周面の全周に沿って１０度から３０度ごとの
区間に分け、その区間における第１距離Ｌ３の点である
第１の仮想境界位置Ｙと欠陥部Ｋにより発生する第２距
離Ｌ４の第２仮想境界位置Ｚを求める。または、第２距
離Ｌ４から第１距離Ｌ３を引いて欠陥部Ｋの大きさを求
める。工程８は、工程７で求めた距離Ｌ３，Ｌ４の値ま
たはその差Ｔの値を演算処理装置２４の設定値と対比し
て設定値の範囲外の時は、不良と判定する。この工程が
各成形品ごとに繰り返して行われる。

【００７０】図１９は、欠陥部Ｋを測定した撮影画像で
ある。中心位置Ｘ２からの第１距離Ｌ１と第２距離Ｌ２
との差である欠陥部の寸法Ｔを求め、この寸法Ｔが前も
って入力されている設定値より大きい値のときは、欠陥
部Ｋが存在すると判定された部分である。

【００７１】以上のようにして、境界位置Ｘ１または中
心位置Ｘ２の基準位置Ｘを求めるとともに、この基準位
置Ｘから仮想境界位置Ｙ、Ｚまでの各距離Ｌ１，Ｌ２を
測定し、その測定値と前もって入力された設定値とを対
比演算することにより不良品等を判定することが可能に
なる。

【００７２】上述のように本発明の検査装置は、成形品
の周面に不良変形部Ｄ、欠陥部Ｋ、バリＢ等が明確に表
示されなくても、仮想境界位置によって位置を確認する
ことにより正確に判定することが可能となる。また、こ
の検査方法により欠陥部の重要な部分から判定できるの
で、誤判定することが無く、しかも検査の簡素化を図る
ことが可能になる。

【００７３】

【発明の効果】本発明の成形品の検査装置は、成形品の
測定する基準位置を求めるとともに、この基準位置から
第１の仮想境界位置及び第２の仮想境界位置までの各距
離を求めて設定値のデータと対比することによりバリや
欠陥部や不良変形部の良否を判定をすることができる。
特に、小さな変形部でも基準位置から割り出す測定によ
り正確に良否を検査できる効果が期待できる。

【００７４】また、従来の画像処理では白黒のみの表示
で欠陥部の判定が困難極めてきたが、基準位置から欠陥
部を測定することより高精度に測定することが可能とな
る。

【００７５】さらに、重要な順に判定して重要な箇所に
欠陥があれば、その後の判定を省略して検査の能率化を
図ることが可能になる。

【００７６】また、検査方法の手順が容易になり、不良
の個所を正確に発見することが可能になる。しかも、検
査の能率化を図ることが期待できる。さらに、重要な順
に欠陥部を測定するので、必要に応じて細かいところま
で確認して判定することが可能にする。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係わる１実施の形態を示す成形品の検
査装置についての側面図である。

【図２】図１の平面図である。

【図３】本発明の検査装置に用いられる被検査成形品の
取付状態図である。

【図４】本発明の検査装置に用いられる不良成形品の断
面図である。

【図５】本発明の検査装置で被検査成形品を画像処理し
た投影図である。

【図６】図１の撮影カメラから演算処理装置についての
作動回路の構成図である。

【図７】本発明に係わる画像処理における横スキャンの
断面図である。

【図８】図１の演算処理部の構成図である。

【図９】本発明に係わる被検査成形品の不良部の処理方
法を示す投影断面図である。

【図１０】図９の第１の仮想境界位置を検査測定する投
影図である。

【図１１】図２の第２の仮想境界位置を検査測定する投
影図である。

【図１２】本発明の画像処理に係わる検査手順のフロー
チャートである

【図１３】本発明に係わる第２の実施の形態を示す成形
品の検査装置の平面図である。

【図１４】本発明に係わる第３の実施の形態を示す成形
品の検査装置の側面図である。

【図１５】図１４の検査装置で被検査成形品を画像処理
した平面投影図である。

【図１６】図１５で検査処理のために中心点ｐを求める
平面投影図である。

【図１７】図１５で検査処理のために中心位置Ｘ２を求
める平面投影図である。

【図１８】図１５で検査処理のために円周に沿って角度
ごとに第１距離Ｌ３を求める平面投影図である

【図１９】図１５で検査処理のために第１距離Ｌ３と第
２距離Ｌ４を求めて欠陥部を判定する平面投影図であ
る。

【図２０】本発明の画像処理に係わる検査手順のフロー
チャートである。

【図２１】従来例の検査機の側面図である。

【図２２】図２０の検査機でＯリングを検査した画像処
理図である。

【符号の説明】

１検査装置２撮影カメラ３レンズ４イメージセンサ５レール６回動装置７取付ジグ８取付部９照明装置１０水平走査回路１１垂直走査回路１２エンド信号１３離脱装置１５制御部１５ａ制御部１７表示回路部１９表示装置２１Ｉ／Ｆ２２Ｉ／Ｆ２４演算処理装置２４０ＣＰＵ２４２メモリ部２４３Ｄ／ＡＣ２４４Ａ／ＤＣ２４６Ｉ／Ｏ装置２５設定部２６モータ２７継手３０シュータ３１選別機３２第１シュータ３３第２シュータ３４ハンドリング３５拡散板３６切替板４０成形工程発信部Ｄ不良変形部Ｋ欠陥部Ｌ１第１距離Ｌ２第２距離Ｌ３第１距離Ｌ４第２距離Ｌｂ近い距離（バリの長さ）Ｌｄ距離寸法（不良変形部の距離寸法）Ｌｘ遠い距離Ｐ包装工程ＳバリＴ欠陥部の寸法Ｘ基準位置Ｘ１境界位置Ｘ２中心位置Ｙ第１の仮想境界位置Ｚ第２の仮想境界位置ｂ境界点ｂ１境界点ｂ２境界点ｂ３境界点ｋ仮想線ｐ中心点６５スポット照明器７０バリ検査機７１撮影カメラ７２コンピュータ７３表示画面８０コンベア

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を
検査する検査装置であって、前記被検査成形品（Ｓ）を
取り付けて回動させる回動装置（６）と、前記回動装置
（６）に取り付けられた前記被検査成形品（Ｓ）の径方
向から外周面または軸方向から内周面に向けて配置され
ているとともにイメージセンサ（４）を有する撮影カメ
ラ（２）と、前記撮影カメラ（２）の対向側に配置され
て前記被検査成形品（Ｓ）の外周面または内周面を前記
撮影カメラ（２）側に照射する照明装置（９）と、前記
撮影カメラ（２）から入力の光電変換信号を演算処理し
て前記被検査成形品（Ｓ）の外周面形状または内周面形
状を判定する演算処理部（２４）とを具備し、前記演算
処理部（２４）は前記被検査成形品（Ｓ）の断面の径方
向中心線を通る外形の境界位置（Ｘ１）または前記被検
査成形品（Ｓ）の軸の中心位置（Ｘ２）である基準位置
（Ｘ）を求めるとともに前記基準位置（Ｘ）から前記被
検査成形品（Ｓ）の対象の検査位置を第１の仮想境界位
置（Ｙ）として求め、且つ前記基準位置（Ｘ）から前記
第１の仮想境界位置（Ｙ）の寸法と相違する位置を第２
の仮想境界位置（Ｚ）として求め、前記基準位置（Ｘ）
から前記第１の仮想境界位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ
１、Ｌ３）と前記基準位置（Ｘ）から前記第２の仮想境
界位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ２、Ｌ４）を求めて前
記第１距離（Ｌ１、Ｌ３）または第２距離（Ｌ２、Ｌ
４）の各値が設定値の範囲外のとき不良と判定すること
を特徴とする成形品の検査装置。
【請求項２】環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を
検査する検査装置であって、前記被検査成形品（Ｓ）を
取り付けて回動させる回動装置（６）と、前記回動装置
（６）に取り付けられた前記被検査成形品（Ｓ）の外周
面の接線方向で外周面に向けて配置されているとともに
イメージセンサ（４）を有する撮影カメラ（２）と、前
記撮影カメラ（２）の対向側に配置されて前記被検査成
形品（Ｓ）の外周面を前記撮影カメラ（２）側に照射す
る照明装置（９）と、前記撮影カメラ（２）から入力の
光電変換信号を演算処理して前記被検査成形品（Ｓ）の
外周面形状を判定する演算処理部（２４）とを具備し、
前記演算処理部（１３）は前記被検査成形品（Ｓ）の断
面中心線を通る外形の境界位置（Ｘ１）を求めるととも
に前記中心線と直交する１方側の外形の半輪郭と前記半
輪郭と対応する前記被検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを
同位置に合わせて前記中心線と交差する位置を第１の仮
想境界位置（Ｙ）として求め、且つ前記中心線と直交す
る他方側の外形の半輪郭と前記半輪郭に対応する前記被
検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に合わせて前記
中心線と交差する位置を第２の仮想境界位置（Ｚ）とし
て求め、前記境界位置（Ｘ１）から前記第１の仮想境界
位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１）と前記境界位置（Ｘ
１）から第２の仮想境界位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ
２）との各最大値を各対応設定値と比較して前記第１距
離（Ｌ１）と前記第２距離（Ｌ２）とが各対応設定値の
範囲外のとき不良と判定することを特徴とする成形品の
検査装置。
【請求項３】環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を
検査する検査装置であって、前記被検査成形品（Ｓ）を
取り付けて回動させる回動装置（６）と、前記回動装置
（６）に取り付けられた前記被検査成形品（Ｓ）の外周
面の接線方向で外周面に向けて配置されているとともに
イメージセンサ（４）を有する撮影カメラ（２）と、前
記撮影カメラ（２）の対向側に配置されて前記被検査成
形品（Ｓ）の外周面を前記撮影カメラ（２）側に照射す
る照明装置（９）と、前記撮影カメラ（２）から入力の
光電変換信号を演算処理して前記被検査成形品（Ｓ）の
外周面形状を判定する演算処理部（２４）とを具備し、
前記演算処理部（２４）は前記被検査成形品（Ｓ）の断
面中心線を通る外形の境界位置（Ｘ１）を求めるととも
に前記中心線と直交する１方側の外形の半輪郭と前記半
輪郭に対応する前記被検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを
同位置に合わせて前記中心線と交差する位置を第１の仮
想境界位置（Ｙ）として求め、且つ前記中心線と直交す
る他方側の外形の半輪郭と前記半輪郭に対応する前記被
検査成形品（Ｓ）の全周輪郭とを同位置に合わせて前記
中心線と交差する位置を第２の仮想境界位置（Ｚ）とし
て求め、前記境界位置（Ｘ１）から前記第１の仮想境界
位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１）と前記境界位置（Ｘ
１）から前記第２の仮想境界位置（Ｚ）までの第２距離
（Ｌ２）を求めて前記境界位置（Ｘ１）から遠い前記第
１距離（Ｌ１）または前記第２距離（Ｌ２）の値から前
記境界位置（Ｘ１）に近い前記第２距離（Ｌ２）または
前記第１距離（Ｌ１）の値を差し引いた数字が設定値の
範囲外のとき不良と判定して前記判定した結果を選別機
（３１）の制御部（１５）へ出力することを特徴とする
成形品の検査装置。
【請求項４】前記第１距離（Ｌ１）と前記第２距離
（Ｌ２）とを被検査成形品の周面に沿って複数箇所求め
前記第１距離（Ｌ１）と前記第２距離（Ｌ２）と対比し
て小さい値をバリ（Ｂ）と判定するとともに前記バリ
（Ｂ）の最大長さが設定値の値より大きいとき第２順位
の欠陥として判定することを特徴とする請求項２または
３に記載の成形品の検査装置。
【請求項５】環状をなす被検査成形品（Ｓ）の形状を
検査する検査装置であって、前記被検査成形品（Ｓ）を
取り付けて回動させる回動装置（６）と、前記回動装置
（６）に取り付けられた前記被検査成形品（Ｓ）の中心
軸方向から内周面に向けて配置されているとともにイメ
ージセンサ（４）を有する撮影カメラ（２）と、前記撮
影カメラ（２）の対向側に配置されて前記被検査成形品
（Ｓ）の内周面を前記撮影カメラ（２）側に照射する照
明装置（９）と、前記撮影カメラ（２）から入力の光電
変換信号を演算処理して前記被検査成形品（Ｓ）の内周
面形状を判定する演算処理部（２４）とを具備し、前記
演算処理部（２４）は前記被検査成形品（Ｓ）の内周面
２点の境界点（ｂ）を結ぶ仮想線（ｋ）の中心を通る垂
直線に前記内周面の半径を足して中心位置（Ｘ２）を求
めるとともに前記中心位置（Ｘ２）から前記内周面の境
界である第１の仮想境界位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ
３）を全周に沿って角度ごとに求め、且つ前記中心位置
（Ｘ２）から前記第１の仮想境界位置（Ｙ）までの距離
のうち異常変形部の内周面の境界である第２の仮想境界
位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ４）を求め、前記第１距
離（Ｌ３）及び第２距離（Ｌ４）が設定値の範囲外のと
き不良と判定することを特徴とする成形品の検査装置。
【請求項６】環状を成す被検査成形品（Ｓ）の形状を
検査する検査方法であって、前記被検査成形品（Ｓ）を
回動装置（６）で回転しながら前記被検査成形品（Ｓ）
の外形面をイメージセンサ（４）のある撮影カメラ
（４）で撮影し、前記撮影カメラ（４）で撮影した光を
光電変換信号に変えて演算処理部（２４）に入力し、前
記演算処理部（２４）で前記被検査成形品（Ｓ）の外形
の境界位置（Ｘ１）を求めると共に前記被検査成形品
（Ｓ）の断面の輪郭と前記被検査成形品（Ｓ）の断面中
心を通る中心線に対して前記中心線に直交する１方側の
外形の半輪郭とを同位置に合わせて前記中心線と交差す
る位置を第１の仮想境界位置（Ｙ）として求め、次に前
記被検査成形品（Ｓ）の断面の輪郭と前記被検査成形品
（Ｓ）の断面の中心を通る前記中心線に対して前記中心
線に直交する他方側の外形の半輪郭とを同位置に合わせ
て前記中心線と交差する位置を第２の仮想境界位置
（Ｚ）として求め、前記境界位置（Ｘ１）から前記第１
の仮想境界位置（Ｙ）までの第１距離（Ｌ１）を求める
とともに、前記境界位置（Ｘ１）から前記第２の仮想境
界位置（Ｚ）までの第２距離（Ｌ２）を求め、前記境界
位置（Ｘ）から近い距離（Ｌ１またはＬ２）の値と遠い
距離（Ｌ２またはＬ１）の値から近い距離（Ｌ１または
Ｌ２）の値を引いた値の各最大値が前もつて入力された
対応設定値と対比して対応設定値より大きいときは不良
品と判定することを特徴とする成形品の検査方法。
【請求項７】前記境界位置（Ｘ）から近い第１距離
（Ｌ１）または第２距離（Ｌ２）の値をバリ（Ｂ）の長
さと判定し、前記バリ（Ｂ）の長さが対応設定値と対比
して対応接定値より大きいとき第２順位の欠陥として判
定することを特徴とする請求項６に記載の成形品の検査
方法。