JP2000310594A - Method and apparatus for inspecting polymeric molded article - Google Patents

Method and apparatus for inspecting polymeric molded article

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JP2000310594A
JP2000310594A JP11119655A JP11965599A JP2000310594A JP 2000310594 A JP2000310594 A JP 2000310594A JP 11119655 A JP11119655 A JP 11119655A JP 11965599 A JP11965599 A JP 11965599A JP 2000310594 A JP2000310594 A JP 2000310594A
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light
polarized
polymer molded
molded article
film
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Mitsuo Fujii
三男 藤井
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CGA KK
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an inspection method and apparatus capable of automatically inspecting the surface treated state, component and quality such as thickness or the like of a polymeric molded article over the entire surface thereof. SOLUTION: The unpolarized light emitted from a lamp 3 is linearly polarized in the specific direction by a polarization plate 4 provided in parallel to a film 2 to be incident on the film 2. The transmitted light from the film 2 is split into a P-polarized component and an S-polarized component by the beam splitter of a polarization camera and both components are respectively detected by CCD image sensors 8,9. A CPU 12a compares the signal value of the P- polarized component with the signal value of the S-polarized component to find a polarized component ratio R corresponding to an angle of rotation. Since the angle of rotation changes corresponding to find a surface treated state, the polarized component ratio R is compared with the standard value of the film to which proper surface treatment is applied to enable the inspection of the surface treated state of the film.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、生産ラインなどに
おいて用いられる高分子成形品の検査方法および検査装
置に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method and an apparatus for inspecting a polymer molded article used in a production line or the like.

【0002】[0002]

【発明が解決しようとする課題】一般に、高分子成形品
例えば高分子フィルム(一例としてポリエステルフィル
ム)の表面は疎水性を有しており印刷性や接着性に劣っ
ている。そこで、高分子フィルムに対しコロナ放電処理
などの表面処理を施すことによりその表面を酸化させ
(カルボニル基を生成させ)て表面を親水性化させた
後、印刷や接着を行う方法が採られている。
Generally, the surface of a polymer molded article, for example, a polymer film (for example, a polyester film) has hydrophobicity and is poor in printability and adhesiveness. Therefore, a method has been adopted in which a polymer film is subjected to a surface treatment such as a corona discharge treatment to oxidize the surface (generate a carbonyl group) to make the surface hydrophilic, followed by printing or bonding. I have.

【0003】この表面処理は、高分子フィルムの生産時
に行われる。すなわち、生産された帯状の高分子フィル
ムは、コロナ放電処理のために高周波の高圧が印加され
た誘電体ロールと電極との間を通過し、その後この表面
処理の検査過程を経てロール状に巻き取られていくよう
になっている。従来、この表面処理の検査は、検査員が
ロール状に巻き取られた高分子フィルムの端に薬品を塗
ってその塗布状態を確認することにより行っていた。
[0003] This surface treatment is performed during the production of a polymer film. In other words, the produced strip-shaped polymer film passes between a dielectric roll and an electrode to which a high-frequency high voltage is applied for corona discharge treatment, and then is wound into a roll through an inspection process of this surface treatment. It is being taken. Conventionally, the inspection of the surface treatment has been performed by an inspector applying a chemical to the end of the polymer film wound in a roll shape and confirming the applied state.

【0004】しかしながら、このような検査方法では、
ロール状の高分子フィルムの巻取端について検査するだ
けであるので、巻き取られた高分子フィルムの途中に表
面処理が施されていない部分があってもその検出をする
ことは難しかった。また、この検査作業は非常に手間が
かかるものとなっていた。
However, in such an inspection method,
Since only the winding end of the rolled polymer film is inspected, it is difficult to detect even a portion of the wound polymer film that has not been subjected to surface treatment in the middle. In addition, this inspection work is very time-consuming.

【0005】また、例えば複数種類の高分子フィルムを
生産する生産ラインにおいてその段替え時に原料の配分
を誤った場合、あるいは生産された高分子フィルムの厚
みが不均一であった場合などにおいても、従来は高分子
フィルムの一部についてしか検査が行われていなかった
ので、十分な品質管理を行うことが難しかった。
[0005] Further, for example, in a production line for producing a plurality of types of polymer films, when the distribution of raw materials is incorrect at the time of the changeover, or when the thickness of the produced polymer film is uneven, Conventionally, only a part of the polymer film was inspected, so that it was difficult to perform sufficient quality control.

【0006】本発明は、上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的は、高分子成形品の表面処理状態、成分、
厚みなどの品質を自動的に且つその全面にわたって検査
可能な高分子成形品の検査方法および検査装置を提供す
ることにある。
[0006] The present invention has been made in view of the above circumstances, and has as its object the surface treatment state, components, and the like of a polymer molded article.
It is an object of the present invention to provide a method and an apparatus for inspecting a polymer molded article capable of automatically inspecting the quality such as thickness and the entire surface thereof.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載した高分子成形品の検査方法は、偏
光させた入射光を高分子成形品に透過させ、その透過光
のP偏光成分とS偏光成分とを検出し、両偏光成分の大
きさを比較することにより前記高分子成形品の品質を検
査することを特徴とする。
In order to achieve the above object, a method for inspecting a polymer molded article according to claim 1 is to transmit polarized incident light to the polymer molded article and to obtain a P of the transmitted light. It is characterized in that the polarization component and the S polarization component are detected, and the quality of the polymer molded article is inspected by comparing the magnitudes of both polarization components.

【0008】この検査方法によれば、所定の品質(表面
処理状態、成分、純度、厚みなど)を有する高分子成形
品と所定の品質とは異なる品質を有する高分子成形品と
の旋光度の違いを利用して、高分子成形品の品質の良否
を検査することができる。すなわち、偏光させた入射光
を高分子成形品に透過させると、その透過光は品質の良
否によりその偏光面の回転角が異なる。そこで、透過光
のP偏光成分とS偏光成分とを検出し、さらに、入射光
の強さがばらつくことなどによる影響を除くために両偏
光成分の大きさを比較することにより、旋光度の違いを
正しく検出することができる。この場合、表面処理状態
による旋光度の違いを利用して、高分子成形品について
表面処理が適正に施されているかどうかを検査すること
ができる(請求項2)。これにより、従来よりも容易且
つ確実に表面処理の検査ができる。
According to this inspection method, the optical rotation of a polymer molded product having a predetermined quality (surface treatment state, components, purity, thickness, etc.) and a polymer molded product having a quality different from the predetermined quality are determined. By utilizing the difference, the quality of the polymer molded article can be inspected. That is, when the polarized incident light is transmitted through the polymer molded article, the transmitted light has a different rotation angle of the polarization plane depending on quality. Therefore, by detecting the P-polarized light component and the S-polarized light component of the transmitted light, and comparing the magnitudes of the two polarized light components in order to eliminate the influence due to the variation of the intensity of the incident light, the difference in the optical rotation is obtained. Can be detected correctly. In this case, it is possible to inspect whether or not the surface treatment is appropriately performed on the polymer molded article by utilizing the difference in the optical rotation depending on the surface treatment state (claim 2). This makes it possible to inspect the surface treatment more easily and more reliably than in the past.

【0009】また、光源からの光を表面処理が施された
高分子成形品に入射し、その反射光のP偏光成分とS偏
光成分とを検出し、両偏光成分の大きさを比較すること
により、前記高分子成形品に表面処理が適正に施されて
いるかどうかを検査することもできる(請求項3)。
Further, light from a light source is incident on a surface-treated polymer molded product, and a P-polarized component and an S-polarized component of the reflected light are detected, and the magnitudes of the two polarized components are compared. Thereby, it can be inspected whether the surface treatment is properly performed on the polymer molded article (claim 3).

【0010】この検査方法によれば、非偏光の入射光を
表面処理が施された高分子成形品に入射させたときに、
表面処理が適正に施されていない部分と表面処理が適正
に施されている部分とにおける反射光の偏光の違いを利
用して、表面処理が適正に施されているかどうかを検査
することができる。すなわち、反射光に含まれるP偏光
成分とS偏光成分とを比較して両偏光成分の割合を検出
することにより、表面処理状態を判定することができ
る。
According to this inspection method, when unpolarized incident light is incident on a surface-treated polymer molded article,
Using the difference in the polarization of reflected light between the part where the surface treatment is not properly performed and the part where the surface treatment is properly performed, it is possible to inspect whether the surface treatment is properly performed. . That is, the surface treatment state can be determined by comparing the P-polarized light component and the S-polarized light component included in the reflected light and detecting the ratio of both the polarized light components.

【0011】上記透過光を用いた高分子成形品の検査方
法を具体化する検査装置は、光源からの光を偏光させて
高分子成形品への入射光とする投光手段と、前記入射光
に対する前記高分子成形品からの透過光のうちP偏光成
分を検出するP偏光受光手段と、前記入射光に対する前
記高分子成形品からの透過光のうちS偏光成分を検出す
るS偏光受光手段と、前記P偏光受光手段により検出さ
れたP偏光成分と前記S偏光受光手段により検出された
S偏光成分とを比較することにより前記高分子成形品の
品質を判定する判定手段とを備えた構成とすることが好
ましい(請求項4)。
[0011] An inspection apparatus that embodies the method for inspecting a polymer molded article using the transmitted light includes a light projecting unit that polarizes light from a light source to make incident light on the polymer molded article, A P-polarized light receiving means for detecting a P-polarized component of the transmitted light from the polymer molded article, and an S-polarized light receiving means for detecting an S-polarized component of the transmitted light from the polymer molded article with respect to the incident light Determining means for comparing the P-polarized light component detected by the P-polarized light receiving means with the S-polarized light component detected by the S-polarized light receiving means to determine the quality of the polymer molded article; (Claim 4).

【0012】この構成によれば、投光手段により光源か
らの光に所定の偏光をもたせ、判定手段によりP偏光受
光手段により検出されたP偏光成分とS偏光受光手段に
より検出されたS偏光成分とを比較した結果に基づいて
高分子成形品の品質の良否を非接触で自動的に検出する
ことができる。
According to this structure, the light from the light source is given a predetermined polarization by the light projecting means, and the P-polarized light component detected by the P-polarized light receiving means by the determining means and the S-polarized light component detected by the S-polarized light receiving means. The quality of the polymer molded article can be automatically detected in a non-contact manner based on the result of comparison with the above.

【0013】この場合、判定手段を、前記高分子成形品
に表面処理が適正に施されているかどうかを判定するよ
うに構成すると良い(請求項5)。この構成によれば、
表面処理の不具合部分を容易且つ確実に検出可能とな
る。
In this case, it is preferable that the determining means is configured to determine whether the surface treatment is properly performed on the polymer molded article. According to this configuration,
A defective part of the surface treatment can be easily and reliably detected.

【0014】また、上記反射光を用いた高分子成形品の
検査方法を具体化する検査装置は、光源からの光を表面
処理が施された高分子成形品への入射光とする投光手段
と、前記入射光に対する前記高分子成形品からの反射光
のうちP偏光成分を検出するP偏光受光手段と、前記入
射光に対する前記高分子成形品からの反射光のうちS偏
光成分を検出するS偏光受光手段と、前記P偏光受光手
段により検出されたP偏光成分と前記S偏光受光手段に
より検出されたS偏光成分とを比較することにより前記
高分子成形品に表面処理が適正に施されているかどうか
を判定する判定手段とを備えた構成とすることが好まし
い(請求項6)。
In addition, the inspection apparatus which embodies the method for inspecting a polymer molded article using the reflected light is a light projecting means for converting light from a light source into incident light on the surface-treated polymer molded article. And P-polarized light receiving means for detecting a P-polarized light component of the reflected light from the polymer molded article with respect to the incident light; and detecting an S-polarized light component of the reflected light from the polymer molded article with respect to the incident light. The S-polarized light receiving means and the P-polarized light component detected by the P-polarized light receiving means are compared with the S-polarized light component detected by the S-polarized light receiving means so that the polymer molded article is appropriately subjected to the surface treatment. It is preferable to provide a configuration including a determination unit that determines whether the operation is performed.

【0015】この構成によれば、投光手段により光源か
らの光を非偏光の状態で高分子成形品に入射させ、判定
手段によりP偏光受光手段により検出されたP偏光成分
とS偏光受光手段により検出されたS偏光成分とを比較
した結果に基づいて表面処理状態を自動的に検出するこ
とが可能となる。
According to this structure, the light from the light source is incident on the polymer molded article in a non-polarized state by the light projecting means, and the P-polarized light component detected by the P-polarized light receiving means and the S-polarized light receiving means by the judging means. It is possible to automatically detect the surface treatment state based on the result of comparison with the detected S-polarized light component.

【0016】さらに、上記した各検査装置において、P
偏光受光手段およびS偏光受光手段をライン走査可能な
偏光カメラとして構成すると良い(請求項7)。この構
成によれば、偏光カメラが高分子成形品をライン走査す
ることにより、高分子成形品の全面について表面処理状
態などの品質を高速に検査することができる。
Further, in each of the above inspection devices, P
Preferably, the polarized light receiving means and the S polarized light receiving means are configured as a polarization camera capable of line scanning. According to this configuration, the quality of the surface treatment state and the like of the entire surface of the polymer molded article can be inspected at high speed by performing the line scanning of the polymer molded article by the polarization camera.

【0017】[0017]

【発明の実施の形態】(第1の実施形態)以下、高分子
フィルムの表面処理検査を行う本発明の第1の実施形態
(請求項1、2、4、5、7に対応)について図1およ
び図2を参照しながら説明する。図1には、表面処理検
査装置の全体構成が模式的に示されている。この図1に
示す表面処理検査装置1は、高分子成形品である透明な
高分子フィルム例えばポリエステルフィルム2(以下、
フィルム2と称す)の生産ラインなどに設置されてお
り、生産されたフィルム2にコロナ放電処理などの表面
処理を施した後の当該表面処理状態などを検査するもの
である。このコロナ放電処理は、一般に疎水性を有する
高分子フィルムの表面を親水性化し印刷性や接着性を高
めるための処理である。フィルム2は、表面処理検査装
置1の中を例えば図1に示す矢印A方向にほぼ一定の速
度で通過し、その後図示しない巻取機によってロール状
に巻き取られるようになっている。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS (First Embodiment) Hereinafter, a first embodiment (corresponding to claims 1, 2, 4, 5, and 7) of the present invention for performing a surface treatment inspection of a polymer film will be described. 1 and FIG. FIG. 1 schematically shows the entire configuration of the surface treatment inspection apparatus. The surface treatment inspection apparatus 1 shown in FIG. 1 is a transparent polymer film such as a polyester film 2 (hereinafter, referred to as a polymer molded product).
The film 2 is installed on a production line or the like, and inspects the surface treatment state after the produced film 2 is subjected to a surface treatment such as a corona discharge treatment. This corona discharge treatment is generally a treatment for making the surface of a polymer film having hydrophobicity hydrophilic to enhance printability and adhesiveness. The film 2 passes through the surface treatment / inspection apparatus 1 at a substantially constant speed, for example, in the direction of arrow A shown in FIG. 1, and is then wound up in a roll shape by a winder (not shown).

【0018】表面処理検査装置1には、このフィルム2
を挟んで対向する状態で、投光手段に相当するランプ3
および偏光板4と、偏光カメラ5とが設置されている。
そして、フィルム2に対し投光可能に設置されたランプ
3(本発明における光源に相当)から出た非偏光の光
は、当該フィルム2と平行となるように設けられた偏光
板4によって特定の方向を向く直線偏光とされた後、入
射光としてフィルム2に入射するようになっている。
The surface treatment inspection apparatus 1 includes the film 2
Lamp 3 corresponding to the light projecting means
In addition, a polarizing plate 4 and a polarizing camera 5 are provided.
Then, unpolarized light emitted from a lamp 3 (corresponding to a light source in the present invention) provided so as to be capable of projecting light onto the film 2 has a specific polarization by a polarizing plate 4 provided in parallel with the film 2. After being turned into linearly polarized light, the light enters the film 2 as incident light.

【0019】偏光カメラ5は、レンズ6、偏光ビームス
プリッター7、P偏光受光手段としてのCCD画像セン
サ8、S偏光受光手段としてのCCD画像センサ9、P
偏光増幅器10、S偏光増幅器11を備えて構成されて
いる。フィルム2を通過した透過光は、レンズ6により
集光された後偏光ビームスプリッター7を通過すること
により、P偏光成分(偏光ビームスプリッター7の入射
面に平行な直線偏光成分)とS偏光成分(偏光ビームス
プリッター7の入射面に垂直な直線偏光成分)とに分け
られ、それぞれCCD画像センサ8と9に入射される。
CCD画像センサ8と9の出力信号は、それぞれP偏光
増幅器10とS偏光増幅器11を介して、判定装置12
に出力される。
The polarization camera 5 includes a lens 6, a polarization beam splitter 7, a CCD image sensor 8 as P-polarized light receiving means, a CCD image sensor 9 as S-polarized light receiving means, P
It comprises a polarization amplifier 10 and an S polarization amplifier 11. The transmitted light that has passed through the film 2 is condensed by the lens 6 and then passes through the polarization beam splitter 7, whereby a P polarization component (a linear polarization component parallel to the incident surface of the polarization beam splitter 7) and an S polarization component ( (A linearly polarized light component perpendicular to the plane of incidence of the polarizing beam splitter 7) and incident on CCD image sensors 8 and 9, respectively.
The output signals of the CCD image sensors 8 and 9 are passed through a P polarization amplifier 10 and an S polarization
Is output to

【0020】その判定装置12(本発明における判定手
段に相当)は、マイクロコンピュータを主体に構成され
ており、CPU12a、ROM12b、RAM12c、
P用フレームメモリ12p、S用フレームメモリ12
s、入力インターフェース12d、出力インターフェー
ス12e、キーボード12f、CRT12gなどを備え
ている。
The judging device 12 (corresponding to the judging means in the present invention) is mainly composed of a microcomputer, and includes a CPU 12a, a ROM 12b, a RAM 12c,
P frame memory 12p, S frame memory 12
s, an input interface 12d, an output interface 12e, a keyboard 12f, a CRT 12g, and the like.

【0021】次に、本実施形態の作用について図2も参
照しながら説明する。ランプ3(例えば蛍光管やハロゲ
ンランプ)からの非偏光の光は、偏光板4によって直線
偏光とされ、フィルム2に連続して入射される。この入
射光は表面処理が施された透明のフィルム2を透過する
際、そのフィルム2の有する旋光性によって偏光面が回
転する。また、直線偏光が楕円偏光へと変化する。この
場合、フィルム2に表面処理が適切に施されている部分
と、表面処理が適切に施されていない部分とでは、偏光
面の回転角(旋光度)が異なる。この旋光度の違いは、
フィルム2にコロナ放電処理などを施すことにより、そ
の表面構造の一部がカルボニル基に置き換わるなどし
て、フィルム2表面の光学的異方体としての構造が変化
するために生じる。従って、表面処理検査装置1は、こ
の旋光度(および楕円偏光への変化度合)をフィルム2
からの透過光に含まれるP偏光成分とS偏光成分との比
率として検出することにより、フィルム2の表面処理状
態を検査可能となる。
Next, the operation of the present embodiment will be described with reference to FIG. Non-polarized light from a lamp 3 (for example, a fluorescent tube or a halogen lamp) is converted into linearly polarized light by a polarizing plate 4 and continuously incident on the film 2. When this incident light passes through the transparent film 2 that has been subjected to the surface treatment, the polarization plane rotates due to the optical rotation of the film 2. Also, the linearly polarized light changes to elliptically polarized light. In this case, the rotation angle (optical rotation) of the polarization plane is different between the portion where the film 2 is appropriately subjected to the surface treatment and the portion where the surface treatment is not properly performed. This difference in optical rotation is
When the film 2 is subjected to a corona discharge treatment or the like, a part of the surface structure is replaced with a carbonyl group, and the structure as an optically anisotropic body on the surface of the film 2 is changed. Therefore, the surface treatment inspection apparatus 1 compares the optical rotation (and the degree of change to elliptically polarized light) with the film 2
By detecting the ratio between the P-polarized light component and the S-polarized light component contained in the transmitted light from the camera, the surface treatment state of the film 2 can be inspected.

【0022】この検査原理に基づいて、表面処理検査装
置1は具体的に以下のように表面処理の検査を行うよう
になっている。すなわち、偏光カメラ5内の偏光ビーム
スプリッター7によりフィルム2からの透過光がP偏光
成分とS偏光成分とに分けられる。偏光カメラ5は、こ
れらP偏光成分とS偏光成分とをCCD画像センサ8と
9とで受光する。そして、CCD画像センサ8と9は、
フィルム2の進行方向Aと直交する方向のラインを撮像
する画素の出力信号を、順次、それぞれP偏光増幅器1
0とS偏光増幅器11により所定レベルまで増幅した
後、入力インターフェース12dを介してCPU12a
に転送する。
On the basis of this inspection principle, the surface treatment inspection device 1 specifically performs the inspection of the surface treatment as follows. That is, the transmitted light from the film 2 is divided into a P-polarized component and an S-polarized component by the polarization beam splitter 7 in the polarization camera 5. The polarization camera 5 receives the P-polarized light component and the S-polarized light component by the CCD image sensors 8 and 9. And the CCD image sensors 8 and 9
The output signals of the pixels for imaging the line in the direction perpendicular to the traveling direction A of the film 2 are sequentially output to the P-polarization amplifier 1 respectively.
After amplification to a predetermined level by the 0 and S polarization amplifiers 11, the CPU 12a
Transfer to

【0023】CPU12aは、ROM12bに予め格納
されている検査用プログラムに従って図2に示す処理を
リアルタイムで実行する。すなわち、上記ライン上の同
一座標点におけるP偏光成分の信号値とS偏光成分の信
号値とを入力し(ステップS1、S2)、入力したP偏
光成分の信号値とS偏光成分の信号値とを比較し演算に
よりその偏光成分比率Rを求める。P偏光成分の信号値
とS偏光成分の信号値は、入射光の強さなどの影響によ
りその絶対的な大きさは変化するものの、旋光度などに
対応する偏光成分比率Rは入射光の強さなどに関わらず
フィルム2の表面処理状態に応じた値となる。
The CPU 12a executes the processing shown in FIG. 2 in real time according to an inspection program stored in the ROM 12b in advance. That is, the signal value of the P-polarized light component and the signal value of the S-polarized light component at the same coordinate point on the line are input (steps S1 and S2), and the input signal value of the P-polarized light component and the signal value of the S-polarized light component are inputted. Are compared and the polarization component ratio R is obtained by calculation. Although the absolute value of the signal value of the P-polarized light component and the signal value of the S-polarized light component change due to the intensity of the incident light, etc., the polarization component ratio R corresponding to the optical rotation etc. Regardless of the size, the value depends on the surface treatment state of the film 2.

【0024】ROM12bには、適切な表面処理が行わ
れたフィルム2についての標準的な偏光成分比率Rの下
限値NLと上限値NHとが記憶されている。CPU12
aは、演算により求めた偏光成分比率Rが下限値NLと
上限値NHとに挟まれた許容範囲内にあるかどうかを判
断し(ステップS4)、許容範囲内と判断した場合(Y
ES)には、ステップS5において検査終了か否かを判
断する。ここで、キーボード12fから検査終了命令が
入力された場合(YES)には検査処理を終了し、検査
終了命令が入力されていない場合(NO)にはステップ
S1に戻って、次の座標点について同様の処理を繰り返
す。一方、CPU12aは、ステップS4で許容範囲外
と判断した場合(NO)には、例えば警報ブザーや警報
ランプなどによる報知処理、偏光成分比率Rや発生時刻
などのCRT12gへの表示およびRAM12cへの記
憶などの異常処理を行い(ステップS6)、前記ステッ
プS5に移行する。
The ROM 12b stores the lower limit value NL and the upper limit value NH of the standard polarization component ratio R for the film 2 on which an appropriate surface treatment has been performed. CPU 12
a determines whether or not the polarization component ratio R obtained by the calculation is within an allowable range between the lower limit value NL and the upper limit value NH (step S4), and determines that the ratio is within the allowable range (Y).
In ES), it is determined in step S5 whether or not the inspection has been completed. Here, when the inspection end command is input from the keyboard 12f (YES), the inspection process is ended, and when the inspection end instruction is not input (NO), the process returns to step S1 to return to the next coordinate point. The same processing is repeated. On the other hand, if the CPU 12a determines that it is out of the allowable range in step S4 (NO), for example, a notification process using an alarm buzzer, an alarm lamp, or the like, a display of the polarization component ratio R and the occurrence time on the CRT 12g and a storage in the RAM 12c are performed. And the like (Step S6), and the process proceeds to Step S5.

【0025】この異常処理において記憶されたデータ
は、製品管理データとして使用でき、例えば、巻き取ら
れた1ロールのフィルム2の生産中に検出された表面処
理異常の発生数に応じて、そのフィルム2をランク分け
することが可能となる。
The data stored in this abnormal processing can be used as product management data. For example, according to the number of occurrences of surface treatment abnormalities detected during the production of the rolled-up film 2, the film can be used. 2 can be ranked.

【0026】また、上記検査処理において、CPU12
aは、偏光カメラ5から転送されてくるP偏光成分の信
号値、S偏光成分の信号値をP用フレームメモリ12
p、S用フレームメモリ12sに格納することなく、各
座標点毎に直ちに偏光成分比率Rを求め検査するように
なっている。しかし、1ライン分のP偏光成分の信号値
とS偏光成分の信号値を、それぞれP用フレームメモリ
12pとS用フレームメモリ12sに格納し、その後フ
レームメモリ12p、12sから順次信号値を読み出し
て検査処理するようにしても良い。
In the above inspection process, the CPU 12
a indicates the P-polarized light component signal value and the S-polarized light component signal value transferred from the polarization camera 5,
The polarization component ratio R is immediately obtained and inspected for each coordinate point without being stored in the frame memory 12s for p and S. However, the signal values of the P polarization component and the S polarization component for one line are stored in the P frame memory 12p and the S frame memory 12s, respectively, and then the signal values are sequentially read from the frame memories 12p and 12s. An inspection process may be performed.

【0027】以上述べたように、本実施形態によれば、
直線偏光を有する光をフィルム2に入射し、その透過光
に含まれるP偏光成分とS偏光成分との偏光成分比率R
を得ることにより、フィルム2の表面処理状態を検査す
ることができる。これにより、従来人手に頼っていた表
面処理の検査を自動的化することができる。また、この
検査は非接触で行われるので、製品であるフィルム2を
検査のために薬品などで汚すことがなくなる。
As described above, according to the present embodiment,
Light having linear polarization is incident on the film 2 and the polarization component ratio R of the P-polarization component and the S-polarization component contained in the transmitted light.
Thus, the surface treatment state of the film 2 can be inspected. This makes it possible to automate the inspection of the surface treatment that has conventionally depended on manual labor. Further, since this inspection is performed in a non-contact manner, the film 2 as a product is not stained with a chemical or the like for the inspection.

【0028】この場合、フィルム2の表面処理状態によ
る旋光度(および楕円偏光への変化度合)の違いは、P
偏光成分とS偏光成分との偏光成分比率Rに基づいて検
出されるので、フィルム2への入射光の強さなどの影響
を排除でき、表面処理の不具合部分だけを確実に検出可
能となる。また、帯状のフィルム2をライン走査すると
ともに、CPU12aがリアルタイムで検査を行うの
で、フィルム2の全表面について検査可能となり、僅か
な面積の不具合部分についても確実に検出することがで
きる。
In this case, the difference in the optical rotation (and the degree of change to elliptically polarized light) depending on the surface treatment state of the film 2 is P
Since the detection is performed based on the polarization component ratio R between the polarization component and the S polarization component, the influence of the intensity of the light incident on the film 2 and the like can be eliminated, and only the defective portion of the surface treatment can be reliably detected. In addition, since the belt-shaped film 2 is line-scanned and the CPU 12a performs the inspection in real time, the entire surface of the film 2 can be inspected, and a defective portion having a small area can be reliably detected.

【0029】さらに、透過光の旋光度は、フィルム2に
ついて上述した表面処理状態以外の品質、例えばフィル
ム厚、成分、純度(不順物の混入度)などによっても変
化する。従って、表面処理検査装置1は、表面処理の不
具合部分に加え、フィルム厚の不均一部分、不純物が混
入した部分なども検出することができる。また、複数種
類の高分子フィルムを生産する生産ラインにおいて、異
なる種類への段替え時に原料の配分を誤ったことなども
直ちに検出可能となる。そして、上述した製品管理デー
タやリアルタイムで測定される偏光成分比率Rを利用す
ることにより、旋光度の変化として検出可能な様々な品
質について品質管理を容易且つ確実に行うことが可能と
なる。
Further, the optical rotation of the transmitted light varies depending on the quality of the film 2 other than the above-mentioned surface treatment state, for example, the film thickness, the composition, the purity (the degree of mixing of irregular substances) and the like. Therefore, the surface treatment inspection device 1 can detect a nonuniform portion of the film thickness, a portion mixed with impurities, and the like, in addition to a defective portion of the surface treatment. Further, in a production line for producing a plurality of types of polymer films, it is possible to immediately detect, for example, an erroneous distribution of raw materials when switching to a different type. By using the above-described product management data and the polarization component ratio R measured in real time, it is possible to easily and reliably perform quality control on various qualities that can be detected as a change in optical rotation.

【0030】(第2の実施形態)次に、本発明の第2の
実施形態(請求項3、6、7に対応)について図3を参
照しながら図1と異なる部分について説明する。図3に
は、表面処理検査装置の全体構成が模式的に示されてい
る。この図3において、表面処理検査装置13は前述し
た表面処理検査装置1と投光手段を異にする。ランプ3
と偏光カメラ5とはフィルム2に対し表面処理が施され
た同一面側(図3では右側)に設けられ、ランプ3から
の非偏光の光(P偏光成分とS偏光成分とが等しい光)
がフィルム2に対し所定の入射角θを有するように配設
されている。また、偏光カメラ5は、この入射光に対し
フィルム2で反射された所定の反射角θを有する反射光
を検出可能に配設されている。
(Second Embodiment) Next, a second embodiment of the present invention (corresponding to claims 3, 6, and 7) will be described with reference to FIG. FIG. 3 schematically shows the entire configuration of the surface treatment inspection apparatus. In FIG. 3, the surface treatment / inspection device 13 differs from the surface treatment / inspection device 1 described above in light emitting means. Lamp 3
And the polarizing camera 5 are provided on the same side (the right side in FIG. 3) of the film 2 on which the surface treatment has been performed, and the unpolarized light (light having the same P-polarized component and S-polarized component) from the lamp 3
Are disposed so as to have a predetermined incident angle θ with respect to the film 2. The polarization camera 5 is provided so as to be able to detect reflected light having a predetermined reflection angle θ reflected by the film 2 with respect to the incident light.

【0031】上記構成によれば、フィルム2表面で反射
された反射光は、その入射角θやフィルム2の表面状態
などに依存して偏光された状態となる。そして、入射角
θが一定とされるので、フィルム2の表面処理状態によ
って偏光の大きさ(偏光度)が決定される。従って、表
面処理検査装置13は、フィルム2からの反射光の偏光
度を反射光に含まれるP偏光成分とS偏光成分の比率と
して検出することにより、フィルム2に表面処理が適切
に施されているかどうかを検査可能となる。
According to the above configuration, the light reflected on the surface of the film 2 is polarized depending on the incident angle θ, the surface state of the film 2 and the like. Then, since the incident angle θ is constant, the magnitude of the polarized light (the degree of polarization) is determined depending on the surface treatment state of the film 2. Therefore, the surface treatment inspection device 13 detects the degree of polarization of the reflected light from the film 2 as the ratio of the P-polarized light component to the S-polarized light component included in the reflected light, so that the film 2 is appropriately subjected to the surface treatment. It can be checked whether or not there is.

【0032】表面処理検査装置13による具体的な表面
処理の検査処理については表面処理検査装置1と同様と
なる。この場合、ROM12bには、適切な表面処理が
行われたフィルム2についての標準的な偏光成分比率R
の下限値NL′と上限値NH′とが記憶されている。ま
た、反射光の偏光度は波長によっても若干変化するの
で、ランプ3は単波長を有する光源を用いるのが好まし
い。
The specific surface treatment inspection processing by the surface treatment inspection device 13 is the same as that of the surface treatment inspection device 1. In this case, the ROM 12b stores a standard polarization component ratio R for the film 2 on which an appropriate surface treatment has been performed.
Are stored as the lower limit value NL 'and the upper limit value NH'. Further, since the degree of polarization of the reflected light slightly changes depending on the wavelength, it is preferable to use a light source having a single wavelength as the lamp 3.

【0033】本実施形態によっても表面処理状態の検出
について第1の実施形態と同様の効果を得ることができ
る。また透明でない高分子フィルムまたは透過性が低い
高分子フィルムについても検査可能となる。さらに、フ
ィルム2への入射角θは、表面処理が施されていないフ
ィルム2に対するブリュースター角、または表面処理が
適正に施されたフィルム2に対するブリュースター角を
設定することが好ましい。この入射角θの設定により、
フィルム2表面での反射光に偏光が大きく現れるので、
反射光の偏光成分比率Rが大きくなり検出感度が上が
る。従って、表面処理状態の違いを判別し易くなり、精
度の高い検査が可能となる。
According to this embodiment, the same effect as that of the first embodiment can be obtained for detecting the surface treatment state. In addition, a non-transparent polymer film or a polymer film having low permeability can be inspected. Furthermore, it is preferable that the incident angle θ to the film 2 is set to a Brewster angle with respect to the film 2 that has not been subjected to the surface treatment or a Brewster angle with respect to the film 2 that has been appropriately subjected to the surface treatment. By setting this incident angle θ,
Since a large amount of polarized light appears in the reflected light on the surface of the film 2,
The polarization component ratio R of the reflected light increases, and the detection sensitivity increases. Therefore, it is easy to determine the difference in the surface treatment state, and a highly accurate inspection can be performed.

【0034】(その他の実施形態)なお、本発明は上記
し且つ図面に示す各実施形態に限定されるものではな
く、以下のような拡張または変更が可能である。CPU
12aは偏光成分比率Rを予めROM12bに記憶され
た標準値と比較することにより表面処理状態を検査した
が、その場合適切な表面処理が行われたフィルム2につ
いてティーチングを行って偏光成分比率Rの適正値を
得、前記標準値に替えてその適正値を用いても良い。
(Other Embodiments) The present invention is not limited to the embodiments described above and shown in the drawings, and the following expansions or modifications are possible. CPU
12a inspects the surface treatment state by comparing the polarization component ratio R with a standard value stored in advance in the ROM 12b. In this case, teaching is performed on the film 2 on which an appropriate surface treatment has been performed to determine the polarization component ratio R. An appropriate value may be obtained, and the appropriate value may be used instead of the standard value.

【0035】第2の実施形態において、入射角と反射角
とは同じ角度θに設定したが、異なる角度に設定しても
良い。また、高分子成形品としては高分子フィルムに限
らず、光が透過(第1の実施形態)または反射(第2の
実施形態)可能な成形品であれば同様に適用できる。ま
た、ポリエステルのみならず、ポリエチレン、ポリプロ
ピレンなどにも同様に適用できる。
In the second embodiment, the incident angle and the reflection angle are set to the same angle θ, but may be set to different angles. Further, the polymer molded article is not limited to the polymer film, but may be similarly applied to any molded article that can transmit light (first embodiment) or reflect light (second embodiment). In addition, the present invention can be similarly applied to not only polyester but also polyethylene and polypropylene.

【0036】[0036]

【発明の効果】以上説明した通り本発明の高分子成形品
の検査方法および検査装置によれば、高分子成形品の表
面処理状態、成分、純度、厚さなどの品質に応じて透過
光の旋光度が異なる性質を利用して、高分子成形品の品
質が適正かどうかを検査するので、検査を自動化するこ
とができる。この場合、ライン走査可能な偏光カメラを
用いて旋光度を計測することにより、高分子成形品の全
面についての検査が可能となる。
As described above, according to the method and apparatus for inspecting a polymer molded article of the present invention, the transmitted light can be controlled in accordance with the surface treatment state, component, purity, thickness and the like of the polymer molded article. Since the quality of the polymer molded article is inspected for the appropriateness by utilizing the properties of different optical rotations, the inspection can be automated. In this case, by measuring the optical rotation using a polarization camera capable of line scanning, the entire surface of the polymer molded article can be inspected.

【0037】また、高分子成形品の表面処理状態に応じ
て反射光の偏光度が異なる性質を利用して、高分子成形
品に表面処理が適正に施されているかどうかを検査する
こともできる。この場合には、透明でない高分子成形品
についても検査可能となる。
It is also possible to inspect whether the surface treatment of the polymer molded article is properly performed by utilizing the property that the degree of polarization of the reflected light varies depending on the surface treatment state of the polymer molded article. . In this case, it is possible to inspect a non-transparent polymer molded product.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1の実施形態を示す表面処理検査装
置の模式的な全体構成図
FIG. 1 is a schematic overall configuration diagram of a surface treatment inspection apparatus according to a first embodiment of the present invention.

【図2】検査処理のフローチャートFIG. 2 is a flowchart of an inspection process.

【図3】本発明の第2の実施形態を示す図1相当図FIG. 3 is a view corresponding to FIG. 1, showing a second embodiment of the present invention;

【符号の説明】[Explanation of symbols]

図面中、1、13は表面処理検査装置(高分子成形品の
検査装置)、3はランプ(光源、投光手段)、4は偏光
板(投光手段)、8はCCD画像センサ(P偏光受光手
段)、9はCCD画像センサ(S偏光受光手段)、12
は判定装置(判定手段)である。
In the drawings, reference numerals 1 and 13 denote surface treatment / inspection devices (inspection devices for polymer molded products), 3 denotes lamps (light sources and light emitting means), 4 denotes polarizing plates (light emitting means), and 8 denotes CCD image sensors (P-polarized light). Light receiving means), 9 is a CCD image sensor (S-polarized light receiving means), 12
Denotes a determination device (determination means).

Claims (7)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 偏光させた入射光を高分子成形品に透過
させ、その透過光のP偏光成分とS偏光成分とを検出
し、両偏光成分の大きさを比較することにより前記高分
子成形品の品質を検査することを特徴とする高分子成形
品の検査方法。
1. A polymer molded product by transmitting polarized incident light through a polymer molded product, detecting a P-polarized component and an S-polarized component of the transmitted light, and comparing the magnitudes of both polarized components. A method for inspecting a polymer molded article characterized by inspecting the quality of the article.
【請求項2】 前記高分子成形品について表面処理が適
正に施されているかどうかを検査することを特徴とする
請求項1記載の高分子成形品の検査方法。
2. The method for inspecting a polymer molded article according to claim 1, further comprising inspecting whether the surface treatment is properly performed on the polymer molded article.
【請求項3】 光源からの光を表面処理が施された高分
子成形品に入射し、その反射光のP偏光成分とS偏光成
分とを検出し、両偏光成分の大きさを比較することによ
り、前記高分子成形品に表面処理が適正に施されている
かどうかを検査することを特徴とする高分子成形品の検
査方法。
3. Light from a light source is incident on a surface-treated polymer molded product, and a P-polarized component and an S-polarized component of the reflected light are detected, and the magnitudes of both polarized components are compared. A method for inspecting whether or not the surface treatment is properly performed on the polymer molded article.
【請求項4】 光源からの光を偏光させて高分子成形品
への入射光とする投光手段と、 前記入射光に対する前記高分子成形品からの透過光のう
ちP偏光成分を検出するP偏光受光手段と、 前記入射光に対する前記高分子成形品からの透過光のう
ちS偏光成分を検出するS偏光受光手段と、 前記P偏光受光手段により検出されたP偏光成分と前記
S偏光受光手段により検出されたS偏光成分とを比較す
ることにより前記高分子成形品の品質を判定する判定手
段とを備えて構成されていることを特徴とする高分子成
形品の検査装置。
4. A light projecting means for polarizing light from a light source into incident light on a polymer molded article, and a P for detecting a P-polarized light component of transmitted light from the polymer molded article with respect to the incident light. Polarized light receiving means, s-polarized light receiving means for detecting an s-polarized light component of transmitted light from the polymer molded article with respect to the incident light, p-polarized light component detected by the p-polarized light receiving means, and the s-polarized light receiving means And a determination means for determining the quality of the polymer molded article by comparing the S-polarized component detected by the method.
【請求項5】 前記判定手段は、前記高分子成形品に表
面処理が適正に施されているかどうかを判定することを
特徴とする請求項4記載の高分子成形品の検査装置。
5. The apparatus for inspecting a polymer molded article according to claim 4, wherein said determination means determines whether or not the polymer molded article has been properly surface-treated.
【請求項6】 光源からの光を表面処理が施された高分
子成形品への入射光とする投光手段と、 前記入射光に対する前記高分子成形品からの反射光のう
ちP偏光成分を検出するP偏光受光手段と、 前記入射光に対する前記高分子成形品からの反射光のう
ちS偏光成分を検出するS偏光受光手段と、 前記P偏光受光手段により検出されたP偏光成分と前記
S偏光受光手段により検出されたS偏光成分とを比較す
ることにより前記高分子成形品に表面処理が適正に施さ
れているかどうかを判定する判定手段とを備えて構成さ
れていることを特徴とする高分子成形品の検査装置。
6. A light projecting means for using light from a light source as incident light on a surface-treated polymer molded article, and a P-polarized light component of reflected light from the polymer molded article with respect to the incident light. P-polarized light receiving means for detecting, S-polarized light receiving means for detecting an S-polarized component of the reflected light from the polymer molded article with respect to the incident light, P-polarized light component detected by the P-polarized light receiving means, and S Determination means for determining whether or not the surface treatment has been properly performed on the polymer molded article by comparing the S-polarized light component detected by the polarized light receiving means. Inspection equipment for polymer molded products.
【請求項7】 P偏光受光手段およびS偏光受光手段は
ライン走査可能な偏光カメラとして構成されていること
を特徴とする請求項4ないし6の何れかに記載の高分子
成形品の検査装置。
7. The apparatus for inspecting a polymer molded product according to claim 4, wherein the P-polarized light receiving means and the S-polarized light receiving means are configured as a line-scanning polarization camera.
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